二次元映像测试仪

2008年12月19日，中国分析测试协会(以下简称“协会”)第六届二次理事会在北京铁道大厦隆重召开，来自全国各地近70位理事参加了本次会议。中国分析测试协会第六届二次理事会会议现场　　协会秘书长张渝英女士主持了上午时段的会议，并首先向各位理事通报了会议整体情况及会议日程。协会秘书长张渝英女士主持会议 协会理事长张泽院士作工作报告　　协会理事长张泽院士代表协会第六届理事会作了工作报告，报告内容分为两个主要部分：2008年工作总结、2009年工作思路与重点。张理事长在报告中谈到：2008年，是我国很不平凡的一年，在为国家重大需求做贡献方面，协会做了大量功不可没的工作——“5.12汶川大地震”发生后，协会及时成立抗震救灾专项行动工作组，为灾区提供技术措施及仪器设备应急服务、组织制定了生物多胺检测国家标准、奔赴灾区第一线提供技术支撑、组织动员各会员单位捐款捐物；积极为奥运做技术支持，相关会员单位承担了《奥运食品中违禁药物检测急需标准物质的研制》工作、承接奥运场馆质量监控监督任务、培训兴奋剂检测人员等；在确保民生食品安全方面也做了诸多工作，如应对“三鹿奶粉事件”，组织有关单位紧急攻关，制定出三聚氰胺快速检测方法并成为国标。　　2008年，协会在科技部的领导下，在加强自身建设方面做了以下几方面的工作：　　将协会办事机构由原先的五个调整为七个，增加了学术交流部及技术与标准部；　　成立了“全国仪器分析测试标准化技术委员会”(以下简称“标准化技术委员会”)，标准化技术委员会由国家标准化管理委员会(以下简称“国家标准委”)批准筹建，设有仪器、试剂、分析方法和数据规范四个工作组，协会副理事长张玉奎院士任主任委员，主要工作内容为：仪器分析测试及其控制、科研用试剂、检测与分析方法、实验室信息管理与数据系统等方面的标准化工作；　　成立了“全国分析检测人员能力培训委员会”(以下简称“培训委员会”)，由科技部条财司和国家认监委领导，设两个办公室：第一办公室设在中国分析测试协会，负责理化性能分析检测培训的组织，第二办公室设在国家认监委认证认可技术研究所，负责产品专用性能的检测培训的组织工作；　　为加强分析测试学术交流，促进分析测试科学技术向纵深发展，规范活动形式，制订了“中国分析测试协会分支机构管理暂行办法”。　　展望2009年，协会将重点进行如下工作：办好“BCEIA2009(第十三届北京分析测试学术报告会及展览会)”；开展分析方法和标准的整理、比对和推荐工作；加速建立分析检测人员培训管理办法；深入开展咨询和中介服务工作；完善协会运行机制；充分发挥理事会、会员单位作用，做好各项工作。　　协会副理事长王顺昌先生简要介绍了“分支机构管理暂行办法”，该办法在本次会议中被审议通过。协会副理事长王顺昌先生介绍“分支机构管理暂行办法”　　协会组织部姜国栋先生介绍了“2008年中国分析测试协会优秀青年工作者”的产生过程及入会单位的筛选条件。协会组织部姜国栋先生作工作说明　　协会咨询部张经华先生作完“2008CAIA奖（中国分析测试协会科学技术奖）”评选说明后，协会副理事长丁辉先生宣读了获奖名单，中国科学院上海应用物理研究所、南京大学、北京师范大学化学学院等24家获奖单位代表上台领奖。协会咨询部张经华先生作“2008CAIA奖”评选说明协会副理事长丁辉先生宣读“2008CAIA奖”获奖名单“2008CAIA奖”三等奖获奖代表与协会领导合影“2008CAIA奖”二等奖获奖代表与协会领导合影“2008CAIA奖”一等奖获奖代表与协会领导合影　　会议的讨论环节，各理事踊跃发言，纷纷为协会的工作建言献策。众多理事对标准化技术委员会、培训委员会的具体工作内容及“CAIA奖”的评选标准、评选办法尤为关注，并特别提到希望协会能够及时将会员单位的工作进展和成果反映给有关政府部门。理事长张泽院士对各理事的意见建议表示欢迎，并提到今后“CAIA奖”评奖过程将更加公开透明，争取让更多分析测试相关单位参与进来，并充分考虑分析测试技术本身的进展，同时声明将改善协会办事机构与各理事单位的联系沟通渠道。　　下午的会议由理事长张泽院士主持，会议先行通过理事名单调整决定及9家企事业单位的入会申请。外资在华企业首次批准成为协会会员。中国分析测试协会第六届二次理事会会议现场　　鉴于大家对标准化工作十分关注，常务理事、国家标准委副主任方向先生特向理事们介绍了与分析测试相关的标准化工作进展。方向先生提到：我国刚成为ISO常任理事国，标准化工作得到前所未有的重视，近期标准化工作的三件大事是——出台技术标准发展战略、完善标准体系、完善《标准化法》；标准化技术委员会定位在建立仪器分析测试方法，而这将是国家标准委的支持重点；分析测试仪器相关标准严重缺失，相关标准的建立不仅是基础工作，还能很好的规范市场。协会常务理事、国家标准化管理委员会副主任方向先生发言　　协会技术与标准部李红梅女士则向大家介绍了标准化技术委员会的筹办进展、基本工作方式、基本模式及与各理事单位的关系。李红梅女士呼吁：标准的制定需要很多技术功底扎实的专家来支持，需要充分依赖中国分析测试协会，结合协会会员和理事单位的优势力量进行，希望各会员单位多参与和关注技术委员会的工作。协会技术与标准部李红梅女士发言　　最后，协会会展部马锡冠先生向大家通报了“BCEIA2009”相关情况。“BCEIA2009”准备工作正紧张有序地进行，相对往届BCEIA而言，“BCEIA2009”有两个重大变化：一是举办地点改在国家会议中心，硬件条件大为改善，可同期同地举办多场会议；二是将提高学术报告的整体水平。目前，展位预订率已超过90%。协会会展部马锡冠先生通报“BCEIA2009”相关情况　　　　附录：　　中国分析测试协会成立于1986年，是国家民政部批准登记的专业性社会团体，业务主管单位是中华人民共和国科学技术部。协会主要开展：承担分析测试方面的技术咨询和服务、举办“北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA)”、主办和出版分析测试科技期刊、设立“中国分析测试协会科学技术奖(‘CAIA奖’)”和技术开发基金、接受政府有关部门委托任务等方面的工作。　　相关链接：　　中国分析测试协会　　BCEIA2009　　“2008中国分析测试协会科学技术奖(‘CAIA奖’)”获奖名单　　　关于征集全国仪器分析测试标准化技术委员会委员的函

仪器信息网讯 2012年12月4日，中国分析测试协会(以下简称“协会”)第七届理事会第二次全体会议在北京中苑宾馆召开，来自全国各地的理事约100人出席了本次会议。中国分析测试协会第七届理事会第二次全体会议现场　　会议流程包括：协会理事会换届选举工作、新一届理事会领导成员以及办事机构等情况介绍 2012年协会工作总结，2013年工作重点展望 2012年申请入会单位审议 2012年协会科学技术奖(CAIA奖)颁奖 协会新网站发布。会议由副理事长兼秘书长张渝英主持。中国分析测试协会副理事长兼秘书长张渝英主持会议　　首先，协会主管部门科技部人事司处长杨素荣介绍了科技部主管的社团情况及社团近期的重点工作。科技部人事司处长杨素荣中国分析测试协会理事长张泽　　随后，协会理事长张泽作2012年工作报告，报告内容包括2012年完成的主要工作、2013年工作重点。　　2012年完成的主要工作：　　(1)积极筹备第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2013)。BCEIA 2013定于2013年10月23日至26日在北京展览馆举办，已有90%以上展台被预定。同期举办学术报告会，主题确定为“分析科学创造未来”，大会主席为中科院院士江桂斌，副主席为张泽和张玉奎，学术报告会分为大会报告、分会报告会、专题报告会、应用技术报告会等。　　(2)分析测试标准化工作取得较大进展。6项标准获国标委批准立项，是历年来标准立项最多一次 2项国标送审稿通过审查 《高纯试剂试验方法通则》报批稿获得“2012年全国化学标准化技术委员会化学试剂标准化成果”一等奖。　　(3)举办和参加各种会议，促进学术和工作交流。　　(4)采取多种方式，做好咨询服务。完成2012年“CAIA奖”评审工作，本年度“CAIA奖”共评出25项奖项，其中，一等奖6项、二等奖7项、三等奖8项 组织开展仪器评议工作 为企业创新产品进行技术鉴定 开展国产科学仪器应用于示范实验室工作等。　　(5)开展全国分析测试技术人员技术能力的培训考核工作。发布技术考核大纲3项，出版技术培训教材4本，累计完成1239人次的辅导考核与发证工作，共涉及21项技术和32向标准。　　(6) 以网络建设为依托，推动各项工作。　　(7)积极申请和承担国家项目，提高服务水平和能力。完成2009年国家质检总局公益性项目《重点分析仪器性能测试技术标准研制》验收结题 与钢铁研究总院合作完成科技条件工作项目《科学仪器设备创新能力调研》 完成2013年国家质检总局公益项目《重点分析仪器性能测试技术标准研制(Ⅱ)》申报工作 配合北京理化测试中心进行申报北京是财政项目《国产科学仪器应用培训体系建设与示范》，协会承担其中《国产仪器与分析测试行业发展需求分析》任务。　　(8)为实施重大科学仪器开发专项提供参考依据。为支撑“国家重大科学仪器设备开发专项”顺利实施，为有关决策提供可靠依据，科技部下达了由中国分析测试协会和钢铁研究总院共同承担的《科学仪器设备创新能力调研》项目，“凝练国家重点支持的科学仪器设备目录”是该项目的重要课题。　　展望2013年，协会将重点进行如下工作：努力办好BCEIA 2013 进一步推进全国仪器分析测试标准化技术委员会工作，联合会员单位开展技术交流和标准宣贯工作 根据国家科技创新、社会公共安全等方面对分析测试的需求，举办形式多样的交流会，促进会员单位的合作与发展 组织符合条件的会员单位加入全国分析测试人员培训考核工作，扩大培训力量和覆盖面等。中国工程院院士、中国检验检疫科学研究院庞国芳　　会议期间还邀请了中国工程院院士、中国检验检疫科学研究院庞国芳做题为《追踪近20年SCI论文见证世界农药残留检测技术进步》的报告。报告中，庞国芳通过对15个SCI杂志、近20年(1991~2010) 的3505篇食用农产品中农药残留检测技术论文进行统计，对比分析了各国论文总量、样品制备技术、检测技术、质谱检测技术、SCI论文影响力等发展情况。　　接着，协会组织部尹碧桃向参会理事介绍了2012年申请入会单位的情况。协会咨询部张经华介绍了CAIA奖的历史及2012年评选情况。副理事长丁辉宣读了2012年“CAIA奖”获奖名单，协会负责人张泽、张玉奎、张渝英、吴波尔、庄乾坤、李红梅为获奖者颁奖。中国分析测试协会副理事长丁辉中国分析测试协会咨询部张经华中国分析测试协会组织部尹碧桃2012年“CAIA奖”颁奖中国分析测试协会新网站启动仪式与会代表合影留念　　2012年“中国分析测试协会科学技术奖(CAIA奖)”获奖名单

二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜(SEM)中最基本、最常用的两种信号，对于很多扫描电镜使用者而言，二次电子可以用来表征形貌，背散射电子可以进行原子序数表征已经是基本的常识。然而，二次电子、背散射电子与衬度的关系并非如此简单。今天，我们就来深入的了解一下SE、BSE的细分类型，各自的特点，以及它们和衬度之间的关系。二次电子 二次电子是入射电子与试样中弱束缚价电子产生非弹性散射而发射的电子，一般能量小于50eV，产生深度在试样表面10nm以内。二次电子的产额在很大程度上取决于试样的表面形貌，因此这也是为什么在很多情况下大家把SE图像等同于形貌像。然而，这种说法并不严谨。二次电子（SE）和其它衬度的关系 二次电子的产额其实和成分也有很大的关系，尤其是在低原子序数(Z20)时，二次电子也能够清晰的反映出成分之间的差异。图1中显示的就是SE产额随原子序数Z的关系。 图1 SE产额随原子序数Z的关系 这类实际例子非常多，如图2中的碳银混合材料，SE像不但可以区分出碳和银的成分差异，而且相对BSE图像来说具有更多的形貌细节。图2 碳银混合材料的SE、BSE图像以及碳、银电子产额 所以，如果对于低原子序数试样，或者原子序数差异非常大时，若要反映成分衬度，并不一定非要用BSE像，SE像有时也可获得上佳的效果。 除了成分衬度外，SE还具有较好的电位衬度，在正电位区域SE因为收到吸引而使得产额降低，图像偏暗，反之负电位区域SE像就会偏亮。而BSE因为本身能量高，所以产额受电位影响小，因此BSE像的电位衬度要比SE小的多。图3 另外，如果遇上试样的导电性不好，出现荷电效应或者是局部荷电，这也可以看成是一种电位衬度。这也是当出现荷电现象的情况下，相对SE图像受到的影响大，BSE图像受影响则比较小。这也是为什么在发生荷电现象的情况下，有时可以用BSE像代替SE像来进行观察。 至于通道衬度，一般来说因为需要将样品进行抛光，表面非常平整，这类样品基本上没有太多的形貌衬度。SE虽然也能看出不同的取向，但是相比BSE来说则要弱很多，所以一般我们都是用BSE图像来进行通道衬度的观察。图4 SE和衬度的关系，总结来说就是SE的产额以形貌为主，成分为辅，容易受到电位的影响，取向带来的差异远不及BSE。在考虑具体使用哪种信号观察样品的时候，可以参考表1，SE和BSE特点刚好互补，并没有孰优孰劣之分，需要根据实际关注点来选择正确的信号进行成像。 表1SEBSE能量低高空间分辨率高低表面灵敏度高低形貌衬度为主兼有成分衬度稍有为主阴影衬度弱强电位衬度强弱抗荷电弱强 二次电子的分类 刚才简单介绍了SE和衬度的一些基本关系，接下来我们细谈一下SE的分类。因为不同类型的二次电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，使得不同SE探测器采集的SE像会有非常大的差异。因此，为了能在电镜拍摄中获得最佳的效果，我们有必要对SE的类别进行详细的了解。 如果按照国家标准来进行分类的话，SE主要分为四类，分别是：SE1：由入射电子在试样中激发的二次电子；SE2：由试样中背散射电子激发的二次电子；SE3：由试样的背散射电子在远离电子束入射点产生的二次电子；SE4：由入射束的电子在电子光学镜筒内激发的二次电子。 国标这样定义完全正确，然而这样的分类对于在实际电镜操作中并没有太多指导意义。为什么呢？因为不管是什么类别的SE都是属于低能电子，探测器在采集的时候往往也不能对其加以区分。那么，我们现在可以换个思路来理解一下这几种二次电子。由于SE4对成像不起作用，我们在此不进行讨论。A. SE1： 由原始电子束激发，因此其作用深度最浅，对表面最为敏感，我们知道SE本身也有成分衬度，所以SE1也非常能体现出极表层的成分差异。 其次，正因为SE1信号来自于样品的极表面，作用体积小，所以其出射角度应该相对比较高。因此，SE1的分辨率应该是所有类型中最好的。 再者，正是因为SE1的出射高度都是高角，所以其产额不易受到试样表面凹凸不平的影响，因而其分辨率虽好，但是立体感则相对比较弱。B. SE2和SE3： 由BSE激发产生的SE。因为BSE本身作用区域较大，所以在回到试样表面再次产生的SE的作用范围要比SE1大的多，正因如此， SE2和SE3的分辨率也弱于SE1。 其次，SE2和SE3是被位于试样深处的BSE激发，它们的产额在很大程度上取决于试样深处的BSE，而且它们作用区域较深，也更能体现出试样深处的成分信息。 再者，SE2和SE3由不同方向的BSE产生，因此其出射角度相对也较为广泛，从高角到低角均有分布。C. 另外，我们需要再考虑到荷电因素，荷电本身的负电位会将产生的SE尽量推向高出射角方向出射，所以受到荷电影响的电子也一般分布于较高的出射角。 SE1分布在高角、SE2和SE3分布在各个角度，荷电SE分布在高角。这样一来，我们把SE1、SE2、SE3原来按产生的类型分类转化为更加实用的按照出射角度进行分类。即：高角电子以“SE1+荷电SE”为主，低角电子以“SE2+SE3”为主。不同出射角度的SE有着截然不同的特点，我们分别来看一下。A. 轴向SE： 轴向SE是以接近90° 出射的二次电子，其中以SE1所占比例最高。由于作用体积最小，分辨率相应也是最高，且具有最高的表面敏感度，因此可以分辨极表面的成分差异，但是同时对一些并不希望看见的表面沉积污染或者氧化等，也会一览无遗。同时，因为轴向SE中所含的荷电SE也相应最多，所以，一方面对电位衬度最为敏感，另一方面受到荷电的影响也最为严重。B. 高角SE 高角SE是以较高角度出射的二次电子，也是以SE1为主，不过相对轴向SE中所含SE1而言数量稍低。高角SE的分辨率、表面灵敏度、电位衬度相对轴向SE而言也有所降低，不过由于荷电SE占比减少，所以和轴向SE相比，高角SE受到的荷电现象影响较小。高角SE和轴向SE都是向上出射，所以图像的立体感都比较差。C. 低角SE 低角SE是以较低角度出射的二次电子，其中SE2、SE3占有较高比例。所以低角SE反映的是试样较为深层的信息，表面灵敏度低，作用体积大，分辨率也不及高角SE和轴向SE。不过低角SE的图像立体感很好，抗荷电能力也比前两者强。 不同类型二次电子的特点 这样，我们就将原来只能从定义的角度进行区分的SE1、SE2、SE3，转变成出射角度不同的轴向SE、高角SE和低角SE。而按照角度进行分类之后，在实际探测信号时是完全可以对其进行区分的，我们会在之后的篇幅中对其进行详细的介绍。这样，我们现在可以总结一下几种类型SE的特点，如表2。表2轴向高角低角出射角度接近90°大角度小角度凹坑处的观察有信号有信号信号弱分辨率最好很好一般表面灵敏度最好很好较弱立体感差差很好成分衬度极表面成分表面成分较为深处电位衬度强强弱抗荷电能力弱较弱强 很多人都用过场发射扫描电镜，对样品室内SE探测器得到的低角SE2信号，与镜筒内SE探测器得到的高位SE1信号的图像对比会深有感触，很明显两者的立体感相差很大，见图5。图5 低角SE图像（左）和高角SE图像（右） 但是对镜筒内的SE信号再次拆解为高角SE和轴向SE可能会觉得很陌生，虽然前面我们已经对二者进行了介绍，但是毕竟不够直观。我们不妨看看图6，两张图都是使用镜筒内探测器获得，分辨率和立体感都很类似，总体效果非常接近，但是轴向SE（左图）受到小窗口聚焦碳沉积的影响，而同时获得的高角SE（右图）的碳沉积影响则轻微很多。 图6 轴向SE图像（左）和高角SE图像（右） 图7的样品为硅片上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，轴向SE的灵敏度明显高于高角SE。图7 硅片上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右）图8的样品为绝缘基底上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，可以看到轴向SE受到荷电的影响也要高于高角SE。图8 绝缘基底上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右） 总结一下，我们将二次电子拆解成轴向、高角和低角三个不同的类型，它们没有优劣之分，均有自己的特点，有优点也有缺点。我们只有在实际操作时发挥出每种信号的优势，才能获得最适合的图像。 好了，关于SE的分类相对比较简单，相信您已经完全理解，我们将在下一篇中详细说一下BSE。 为了更好的理解这篇的内容，让我们通过几张SE图像来实际感受一下不同类型SE之间的差异吧！ 您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？我们将会在下一期文章中公布答案哦！0102030405

德祥圆满参展&ldquo 2010广州分析测试仪器展(CECIA)&rdquo 2010广州分析测试仪器展(CECIA)于5月24-26日在广州锦汉展览中心举办，德祥携手众多国际知名仪器品牌隆重参展。 5月24日，德祥中国区总经理朱智华做客高端访谈栏目，接受了CCTV.com招商与易展网联合举办的高端访谈栏目的专访。（新闻链接：易展对话：德祥中国区总经理朱智华 http://www.18show.cn/news/d389730.html）德祥展位人流络绎不绝德祥中国区总经理朱智华做客高端访谈栏目德祥产品专家为用户提供现场支持 德祥众多参展仪器德祥将日益完善其在食品，制药，石化，环保等各个领域的解决方案，一如既往为新老用户提供*的产品与服务，随时静候您的垂询。更多后续报道或产品详情，敬请登陆www.tegent.com.cn客服热线：4008 822 822

2008年5月23日中国分析测试协会组织“中国分析测试协会抗震救灾专项行动工作组”，召开了第二次抗震救灾专题会议。会议由秘书长张渝英研究员主持，有关方面专家、企业负责人共20多人参加了会议。会议现场　　张渝英同志首先传达了科技部领导对协会紧急组织抗震救灾工作的指示精神：协会的行动方案反映了灾区的迫切需要，将纳入科技部的统一救灾方案实施。科技部领导的肯定，坚定了大家积极投入紧急行动支援灾区的信心。　　同时，会上检查了21日会议部署的工作，并进一步明确了目标和要求 根据22日灾区新提出的生物腐败引起的水源污染问题，紧急启动生物多胺、致病源菌、粪大肠杆菌的快速检测方法研究工作。　　水源检测及应对处理方案等资料编制组，已收集到12家生产检测水源仪器厂家的相关信息，并得到他们全力支援抗震救灾的承诺 整理出水源净化技术实用手册，尽量做到简明易懂，操作性强。同时，选出100多家有水质检测认证的质检单位的信息，他们大都在四川、重庆、陕西、甘肃以及北京、上海等城市。目前正落实单位和人员的有关信息。会议要求下周一该组将上述资料完善、整理成册，随时准备送往灾区。　　生物多胺、致病源菌、粪大肠杆菌的检测关系到灾区几百万同胞的生命安全，会议指定国家生物医学分析中心、北京理化分析测试中心和牛牛基因公司联合，紧急启动生物多胺、致病源菌、粪大肠杆菌的快速检测技术方法攻关工作，争取尽快把有关解决方案发送灾区。(今天发稿时已获信息，有关解决方案已于24日发送灾区有关单位。)与会者在会议上讨论并作记录　　参加会议的全体同志，以及相关单位的科技人员，怀着与灾区人民共患难的心情，以高度的责任感，争分夺秒，不分昼夜地投入战斗，为抗震救灾做着自己的贡献。　　中国分析测试协会　　2008.5.26.

详细信息 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告（第二次） 上海市-杨浦区 状态：公告 更新时间： 2023-12-11 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告（第二次） 2023年12月11日 17:58 公告信息： 采购项目名称 复旦大学二次离子质谱仪设备 品目 货物/设备/仪器仪表/教学仪器 采购单位 复旦大学 行政区域 上海市 公告时间 2023年12月11日 17:58 获取招标文件时间 2023年12月12日至2023年12月19日每日上午:8:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:00（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥0 获取招标文件的地点 复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn） 开标时间 2024年01月03日 09:30 开标地点 1）投标人应在投标截止时间之前，按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交（上传）至电子采购平台。 2）开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行，所有投标人应登录到系统内参加开标，并在规定时间内进行投标文件解密。 预算金额 ￥430.000000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 邢楠、黄梦如、陈豪 项目联系电话 021-52555810 采购单位 复旦大学 采购单位地址 中国上海邯郸路220号 采购单位联系方式 何老师 ，021-65645530 代理机构名称 上海中世建设咨询有限公司 代理机构地址 中国上海市曹杨路528弄35号 代理机构联系方式 邢楠、黄梦如、陈豪，021-52555810 附件： 附件1 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(2)-招标采购详情--____（第二次）.pdf 项目概况 复旦大学二次离子质谱仪设备 招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn）获取招标文件，并于2024年01月03日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：1069-234Z20234470（HW2023111401） 项目名称：复旦大学二次离子质谱仪设备 预算金额：430.000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：421.000000 万元（人民币） 采购需求： 包件号 名称 数量 简要技术规格 备注 1 二次离子质谱仪设备 1套 应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征，支持原位实时动态分析。 预算金额：人民币430万元 最高限价：人民币421万元 合同履行期限：交货期：2024年12月30日前交付。 合同履行期限：交货期：2024年12月30日前交付。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： / 3.本项目的特定资格要求：1） 投标人应为符合《中华人民共和国招标投标法》规定的独立法人或其他组织；2） 投标人应为投标产品的制造商或其合法代理商，代理商投标应提供投标产品的制造商针对本项目的正式授权；3） 投标人须在投标截止期之前在国家商务部认可的机电产品招标投标电子交易平台（以下简称机电产品交易平台，网址为：http://www.chinabidding.com）上完成有效注册；4） 本项目不允许联合体投标；5） 本项目不接受分包和转包。 三、获取招标文件 时间：2023年12月12日 至 2023年12月19日，每天上午8:00至12:00，下午12:00至17:00。（北京时间，法定节假日除外） 地点：复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn） 方式：通过复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn）点击“校外用户登录”在线获取招标文件，逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料：有效授权委托书及被授权人身份证。 售价：￥0.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2024年01月03日 09点30分（北京时间） 开标时间：2024年01月03日 09点30分（北京时间） 地点：1）投标人应在投标截止时间之前，按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交（上传）至电子采购平台。2）开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行，所有投标人应登录到系统内参加开标，并在规定时间内进行投标文件解密。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1）投标人在投标前应在____（https://____）或机电产品招标投标电子交易平台（https://www.chinabidding.com）完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 2）本项目采用电子化采购线上方式进行。系统登录方法：进入https://czzx.fudan.edu.cn网站，点击校外用户登录。 3）投标文件需使用到CA加密和解密，操作步骤需严格按照复旦大学采购与招标管理系统的要求进行。 4）有兴趣的潜在投标人可从招标人得到进一步的信息和查阅招标文件。 复旦大学采购与招标管理系统使用技术咨询：400-808-5975转2 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：复旦大学 地址：中国上海邯郸路220号 联系方式：何老师 ，021-65645530 2.采购代理机构信息 名 称：上海中世建设咨询有限公司 地 址：中国上海市曹杨路528弄35号 联系方式：邢楠、黄梦如、陈豪，021-52555810 3.项目联系方式 项目联系人：邢楠、黄梦如、陈豪 电 话： 021-52555810 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容：二次离子质谱 开标时间：2024-01-03 09:30 预算金额：430.00万元 采购单位：复旦大学 采购联系人：点击查看 采购联系方式：点击查看 招标代理机构：上海中世建设咨询有限公司 代理联系人：点击查看 代理联系方式：点击查看 详细信息 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告（第二次） 上海市-杨浦区 状态：公告 更新时间： 2023-12-11 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告（第二次） 2023年12月11日 17:58 公告信息： 采购项目名称 复旦大学二次离子质谱仪设备 品目 货物/设备/仪器仪表/教学仪器 采购单位 复旦大学 行政区域 上海市 公告时间 2023年12月11日 17:58 获取招标文件时间 2023年12月12日至2023年12月19日每日上午:8:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:00（北京时间，法定节假日除外） 招标文件售价 ￥0 获取招标文件的地点 复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn） 开标时间 2024年01月03日 09:30 开标地点 1）投标人应在投标截止时间之前，按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交（上传）至电子采购平台。 2）开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行，所有投标人应登录到系统内参加开标，并在规定时间内进行投标文件解密。 预算金额 ￥430.000000万元（人民币） 联系人及联系方式： 项目联系人 邢楠、黄梦如、陈豪 项目联系电话 021-52555810 采购单位 复旦大学 采购单位地址 中国上海邯郸路220号 采购单位联系方式 何老师 ，021-65645530 代理机构名称 上海中世建设咨询有限公司 代理机构地址 中国上海市曹杨路528弄35号 代理机构联系方式 邢楠、黄梦如、陈豪，021-52555810 附件： 附件1 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(2)-招标采购详情--____（第二次）.pdf 项目概况 复旦大学二次离子质谱仪设备 招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn）获取招标文件，并于2024年01月03日 09点30分（北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号：1069-234Z20234470（HW2023111401） 项目名称：复旦大学二次离子质谱仪设备 预算金额：430.000000 万元（人民币） 最高限价（如有）：421.000000 万元（人民币） 采购需求： 包件号 名称 数量 简要技术规格 备注 1 二次离子质谱仪设备 1套 应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征，支持原位实时动态分析。 预算金额：人民币430万元 最高限价：人民币421万元 合同履行期限：交货期：2024年12月30日前交付。 合同履行期限：交货期：2024年12月30日前交付。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求： 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定； 2.落实政府采购政策需满足的资格要求： / 3.本项目的特定资格要求：1） 投标人应为符合《中华人民共和国招标投标法》规定的独立法人或其他组织；2） 投标人应为投标产品的制造商或其合法代理商，代理商投标应提供投标产品的制造商针对本项目的正式授权；3） 投标人须在投标截止期之前在国家商务部认可的机电产品招标投标电子交易平台（以下简称机电产品交易平台，网址为：http://www.chinabidding.com）上完成有效注册；4） 本项目不允许联合体投标；5） 本项目不接受分包和转包。 三、获取招标文件 时间：2023年12月12日 至 2023年12月19日，每天上午8:00至12:00，下午12:00至17:00。（北京时间，法定节假日除外） 地点：复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn） 方式：通过复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn）点击“校外用户登录”在线获取招标文件，逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料：有效授权委托书及被授权人身份证。 售价：￥0.0 元，本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间：2024年01月03日 09点30分（北京时间） 开标时间：2024年01月03日 09点30分（北京时间） 地点：1）投标人应在投标截止时间之前，按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交（上传）至电子采购平台。2）开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行，所有投标人应登录到系统内参加开标，并在规定时间内进行投标文件解密。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1）投标人在投标前应在____（https://____）或机电产品招标投标电子交易平台（https://www.chinabidding.com）完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 2）本项目采用电子化采购线上方式进行。系统登录方法：进入https://czzx.fudan.edu.cn网站，点击校外用户登录。 3）投标文件需使用到CA加密和解密，操作步骤需严格按照复旦大学采购与招标管理系统的要求进行。 4）有兴趣的潜在投标人可从招标人得到进一步的信息和查阅招标文件。 复旦大学采购与招标管理系统使用技术咨询：400-808-5975转2 七、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称：复旦大学 地址：中国上海邯郸路220号 联系方式：何老师 ，021-65645530 2.采购代理机构信息 名 称：上海中世建设咨询有限公司 地 址：中国上海市曹杨路528弄35号 联系方式：邢楠、黄梦如、陈豪，021-52555810 3.项目联系方式 项目联系人：邢楠、黄梦如、陈豪 电 话： 021-52555810

上一章（电镜学堂 |细谈二次电子和背散射电子（一））中我们详细的介绍了不同类型的二次电子的特点以及它们与衬度的关系，今天让我们来认识一下扫描电镜中另一个极其重要的信号----背散射电子（BSE）。背散射电子 背散射电子是入射电子在试样中受到原子核的卢瑟福散射而形成的大角度散射后，重新逸出试样表面的高能电子。由于背散射电子的能量相对较高，其在试样中的作用深度也远深于二次电子，通常而言是在0.1-1μm左右。在很多情况下，大家把BSE像简单的认为是试样的成分衬度，但是这种说法并不完全正确。背散射电子（BSE）和衬度之间有些什么关系？A. BSE的成分衬度 背散射电子的产额和成分之间的确存在非常紧密的关系，在整个原子序数范围内，BSE的产额都是随原子序数的增大而提高，而且差异性高于SE（见图1）。所以，这也是大家都用BSE图像来进行成分观察的最主要原因。图1 铜包铝导线截面的SE、BSE像和铝、铜电子产额 不过，这并不意味着BSE的产额仅仅就取决于原子序数，它和试样的表面形貌、晶体取向等都有很大的关系，甚至在部分情况下，BSE在形貌立体感的表现上还要更优于二次电子。B. BSE的形貌衬度 试样表面形貌的起伏同样会影响BSE的产额，只不过BSE产生的深度相对SE更深，所以对表面的细节表现程度不如二次电子。不过，如果对表面形貌不是特别关注的情况下，可以尝试使用BSE图像来进行形貌表征。特别是在存在荷电现象的时候，由于BSE不易受到荷电的干扰，较SE像会有更好的效果（见图2）。在前一章的SE章节中，我们已经介绍过这部分内容，这里不再赘述。图2（左图）5kV， SE图像 （右图）15kV，BSE图像C. BSE的阴影衬度 在进行形貌观察的时候，有时候需要的是图像的立体感。立体感主要来源于在一个凹坑或者凸起处，对其阴阳面的进行判断。在这方面，大角度的SE和BSE因为对称性的关系，在阴阳面的产额及实际探测到的信号量完全一样，所以体现立体感的能力相对较弱。低角SE2信号反而可以较好的体现图像的立体感，处于样品室侧方的ETD探测器在采集低角SE信号时，朝向探测器的阳面信号不受阻碍，背向探测器的阴面的上部分的SE可以绕行后被探测器接收，而下部分则由于无法绕行从而产额降低，此时阴阳面原本产额相同的低角SE信号，在实际采集的过程中发生了接收数量的不一致，从而在图像上表现出阴阳面的亮度不同，我们把这种现象称之为阴影效应。图3 ETD的阴影效应当凸起区域比较高时，阴影效应会显得比较明显，而随着凸起区域高度的逐步降低，当处于阴面的低角SE能够完全绕行时，此时阴影效应就会变得非常微弱。而基于BSE不能绕行的特点，在这种情况下则可以增强阴影效应。BSE产生后基本沿着出射方向传播，不易受到其它探测器的影响。阴阳面的实际BSE产额是相同的，但是如果探测器不采集所有方向的BSE，而是只采集一侧的BSE，阴阳面收集到信号的差异就会变得非常大，而且由于BSE不能像SE那样会产生绕行，所以这种差异要远高于SE。换句话说，利用非对称的BSE得到的阴影效应要强于ETD的低角SE。图4 不同方向接收到的BSE强度及叠加算法除了形貌衬度之外，我们已经在上一章节已经介绍过。对于电位衬度，SE要强于BSE；对于通道衬度，BSE则要优于SE。我们现在再回到SE和BSE的关系上，简单总结一下，BSE以成分为主，兼有一定的形貌衬度，电位衬度较弱，不过通道衬度较强，抗荷电以及阴影衬度也都强于SE，详见表1。表1BSESE能量高低空间分辨率低高表面灵敏度低高形貌衬度兼有为主成分衬度强弱阴影衬度非对称很强低角有电位衬度弱强抗荷电强弱图5 断口材料的SE和BSE图像及衬度对比背散射电子如何分类？在明确了BSE和衬度之间的关系以及与SE的对比之后，接下来介绍一下BSE的分类。不同类型的背散射电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，为了能在以后电镜观察中获得最适合的条件，我们也要对BSE细致的分类，并对其各自的特点进行详细的了解。 BSE有弹性散射和非弹性散射之分，弹性散射的BSE能量接近入射电子的能量，非弹性散射的BSE能量要稍低一些，从200eV到接近入射电子能量均有分布。从发射角度来说，从很低的角度到很高的角度也都有分布。无论是能量分布上，还是空间分布上，BSE都表现出不同的特点，在此进行逐一说明。A. 高角BSE： 高角BSE是以接近90° 出射的背散射电子。此类BSE属于卢瑟福散射中直接被反射的情况，经过样品原子散射碰撞的次数也少，且和原子序数衬度也存在最密切的关系。高角BSE相对所包含的原子序数衬度最高，相对作用深度也较小，且和形貌关系较小。因此，高角BSE可以体现最纯的成分衬度。另外，当试样表面有不同取向时，不同取向的原子密度不同，也会影响直接弹性散射的概率。所以，高角BSE也能够很好的体现通道衬度。 因而，在多相的情况下，高角BSE可以表现出最强烈的没有其它衬度干扰的成分衬度；在试样抛光平整的情况下，高角BSE也可表现出对表面很敏感的通道衬度。 不过由于高角BSE的出射角的角度要求很高，因此其立体角很小，所以在所有BSE中相对来说占比也较少，信号相对偏弱。B. 中角BSE： 中角BSE是指那些能进入到镜筒内但达不到高角角度的BSE，角度一般不低于60°。中角BSE由于出射角度降低，因此在其中混有的非弹性散射BSE相对高角BSE而言有所提高，在试样表面的作用深度有所增加，其产额随形貌不同开始受到较大的影响。 中角BSE已经开始兼具成分和形貌衬度，不过由于出射角度依然比较大，作用深度也并不深，分辨率也没有受到太大的影响，依然可以维持在较高水平。而且，由于BSE的抗荷电能力要明显强于高角SE和轴向SE，因此，中角BSE可以作为它们的一个很好的补充。不过中角BSE和高角SE、轴向SE存在一个共同的问题，就是立体感同样不如低角信号。C. 低角BSE 低角BSE是以较低角度出射的背散射电子，通常在20°～60°之间。低角BSE的出射角度进一步降低，因此非弹性散射的电子所占比例也进一步提高，作用深度有了较为明显的加深。相应的，低角BSE的成分衬度较之前二者有了一定的弱化，而对形貌衬度的体现则会进一步的加强。 因此，低角BSE是属于兼具成分和形貌衬度，但是相对能够体现的表面细节不多，且图像分辨率有所降低。不过其抗荷电能力却有了进一步的提高，因此在荷电效应很强时，也可以作为形貌像的重要补充。 以上是按照BSE的出射角度来进行分类，我们把这三种BSE先简单的总结一下，如表2。表2低角中角高角形貌衬度降低成分衬度提高表面灵敏度提高立体感降低抗荷电降低分辨率提高信号强度降低图6 不同角度BSE的衬度对比 前面我们都是按出射角度来进行区分BSE，接下来，我们再看两种比较特别的类型。D. Topo-BSE Topo-BSE是指非对称的低角BSE，具有较为强烈的阴影衬度。由于低角BSE在所有角度BSE中对形貌最为敏感，再根据前面提到的BSE的阴影衬度，将两者结合起来，便可产生强烈的阴影衬度。 例如，对于试样上的一个凸起来说，各个方向产生的BSE信号是对称的，但是低角BSE产额和其形貌有关。如果只采集特定方向的低角BSE，那么朝向这个特定方向的信号量接收就要偏多，而背向这个方向的信号就明显偏少，反映在图像上就会出现明显的阴阳面，从而提高了图像的立体感。 Topo-BSE因为不会像SE那样产生绕行，所以其立体感要优于低角SE。而且，因为Topo-BSE比SE更不容易受到荷电影响，所以对于导电性差的试样，往往会有非常好的效果，如图7。图7 黄铁矿样品（左图）没有荷电，立体感强；(右图)立体感稍弱，且有一定的荷电 试样本身并不会产生这种不对称性，这种不对称性主要是人为故意造成，常用的方法有双晶体或五分割等不对称的BSE探测器的算法、对称BSE探测器的Topo模式采集、试样台的倾斜、以及其它的一些特殊技术。这部分内容将在以后的章节中再为大家详细介绍。E. Low-Loss BSE出射角度不同外，BSE的能量分布也大相径庭，从比较低的能量到接近原始电子束的能量范围内均有分布，如图8。图8 BSE的能量分布其中相对比较特殊的就是非常接近原始电子束能量的弹性散射电子。这些能量非常接近原始电子束的背散射电子，因为几乎都是弹性散射，没有受到能量损失，所以它们最大的特点就是作用深度很浅。因为只有作用深度浅，它们才有较大的概率不受到试样原子的非弹性散射。 所以，我们将这类背散射电子称之为Low-LossBSE，能够反映非常表面的成分的变化，而且出射角度相对较高，因而不容易受到形貌的影响。图9 3kV、2kV和1kV电子束在硅基底内的穿透深度BSE的作用深度要比SE深的多，所以BSE信号对试样表面的灵敏度远不及SE。若要提高BSE的灵敏度，通常需要降低加速电压。以Si基底样品为例，使用的加速电压从3kV降到2kV、1kV，其作用深度分别为80nm、35nm和15nm，如图9。虽然表面灵敏度得到了提高，但是依然无法和SE相提并论，而且加速电压的下降导致了BSE信号的急剧下降。此时，让我们来看Low-Loss电子的作用深度，当加速电压为3kV的电子打到Si基底试样上，如果不进行能量过滤，作用深度在80nm；而能量在2.9keV-3keV的BSE电子，即能量损失在100eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为5nm；如果能量在2.95keV-3keV，即能量损失在50eV以内的Low-Loss BSE电子，作用深度仅为2-3nm，见图10。这样的表面敏感度已经堪比二次电子。图10 3kV入射到硅基底上，不同能量的BSE的作用深度所以Low-Loss BSE是对表面极为敏感的背散射电子，有着和SE相当的表面敏感度。对于那些非常关注表面灵敏度的应用需求上，Low-Loss BSE可以起到极其重要的作用。让我们来看一个实例，二维材料中的石墨烯的观察。众所周知石墨烯的厚度非常薄，如果作用深度比较大的话衬度就会变得很弱，所以我们通常都是用低电压的SE来进行成像。如图11中的低角SE和高角SE图，一般很少有人会选择BSE来对二维材料进行成像，因为常规BSE作用深度较深，衬度非常弱。图11 二维材料，（左图）低角SE图，（中图）高角SE图，（右图）常规BSE图然而，试一下用Low-Loss BSE成像，却得到了出乎意料的效果。使用Low-Loss BSE成像，相当于用极浅的信号将非常薄的石墨烯和基底区分开，此时体现出了极佳的衬度。Low-Loss BSE表面灵敏度远优于常规BSE和低角SE，几乎和高角SE的成像效果不相上下。 图12 二维材料,Low-Loss BSE不同类型背散射电子有些什么特点？我们将通常大家并不注意区分的BSE信号，也根据出射角度的不同，将其分成高角BSE、中角BSE和低角BSE，根据低角BSE接收时的对称性分出Topo-BSE，再根据BSE的能量分布分出对表面极为敏感的Low-Loss BSE。这五类BSE信号会有不同的办法加以区分和接收，这将在以后的章节中为大家说明。我们把这五种BSE的特点，归纳如表3。表3高角BSE中角BSE低角BSETopoBSELow-LossBSE形貌衬度弱中强很强弱成分衬度强中中弱强通道衬度中中强弱弱表面敏感度高中低低很高立体感很低中中高很低阴影衬度无无部分条件有强无抗荷电中中很强很强强分辨率很高高低低中信号强度弱中强强弱好了，今天的介绍就到此为止，同样留下几个小问题，答案将留待下一章揭晓！问题：以下是不同类型背散射电子图片，你能说出分别是由哪种BSE成像吗？ 010203上一期答案问题：您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？01低角SE 分辨率的不同 高角SE02低角SE 立体感的不同 高角SE03高角SE 荷电的不同 低角SE04高角SE 对表面灵敏度或深度信息的不同 低角SE05低角SE 受到电位影响电位衬度的不同 高角SE

在2012年以前，汪福意研究员一直带领团队通过有机质谱，如电喷雾电离质谱(ESI-MS)、基质辅助激光解析电离质谱(MALDI-MS)等进行药物相互作用组学研究、抗肿瘤药物的研究和开发等工作。一次与生物学家偶然的讨论给汪福意带来了启发，他萌生了使用高空间分辨率的二次离子质谱成像进行化学生物学和分子生物学研究的念头。中科院化学所领导对于他的想法非常赞成，在中国科学院和国家自然科学基金委的大力支持下，该团队在2012年购置了一台飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)仪，从此汪福意研究员和他的团队开始了生命科学领域SIMS成像新技术和新方法的研究工作。　　SIMS与其它质谱相比有什么特点?SIMS在哪些领域的应用中具有显著优势?汪福意团队用SIMS这个“庞然大物”在生命科学领域进行了哪些研究?国际上的SIMS相关领域有哪些前沿的创新?日前，仪器信息网编辑围绕二次离子质谱的应用，在中国科学院化学研究所采访了汪福意研究员。汪福意研究员离子源的发展把SIMS带到了生命科学门口　　二次离子质谱(Secondary ion mass spectroscopy，SIMS) 的原理是利用聚焦的一次离子束轰击样品表面，使样品中的化学物质溅射产生二次离子，通过质量分析器后进入检测器记录离子的荷/质比，获得样品表面化学成分的结构信息。配合对样品表面的扫描和溅射剥离，还可获得样品的二维/三维化学成像。SIMS能检测元素周期表中所有元素及其同位素，质量分辨率较高(对29Si的质量分辨率大于11000)，检测限达到ppm到ppb级。SIMS成像的横向分辨率小于100 纳米 基于溅射源的性能，纵向分辨率可达1 纳米。　　根据一次离子束运行方式和质量分析器的不同，SIMS又分为NanoSIMS和ToF-SIMS。NanoSIMS的质量分析器为单聚焦或双聚焦磁质量分析器，其一次离子束为单原子或双原子离子，如Cs+和O2+。聚焦的离子束以连续方式轰击样品表面，溅射产生低质量数的离子碎片。基于这些特点，NanoSIMS多用在天体化学、天体年代学、地质沉积学、地矿探测和材料科学，特别是半导体材料研究等领域。顾名思义，ToF-SIMS的质量分析器为飞行时间质量分析器，其一次离子束以脉冲方式轰击样品表面，电离能量较为温和，与NanoSIMS相比，产生的碎片离子具有较高的质量数。ToF-SIMS的一次离子束经历了长达半个世纪的发展，从早期的Ga+、Aun+ (n = 1 – 5), 到后来更易于聚焦的Bin+ (n = 1, 3), 再到现在的C60+、Arn+ (n 高达4000)等团簇离子。团簇离子源的诞生，使ToF-SIMS 离子化产生的离子的质荷比更高，甚至可获得大分子量物质的准分子离子。因而SIMS数据包含的结构信息更为丰富，这对复杂生物体系的研究具有非常重要意义。可以说，正是离子源的发展将SIMS带到了生命科学研究的门口。　　由日本京都大学教授Jiro Matsuo (松尾次郎)发明的氩气团簇离子源是SIMS技术领域一个里程碑式的事件。氩离子团簇包含上千个氩原子，其离子半径可以通过增加或减少亚原子数目进行调控，最多可达4000个氩原子。氩团簇离子源既可作为溅射源用于生物样品如细胞和生物组织的溅射剥离，也可作为分析源进行生物样品的表面分析。因而，配备氩团簇离子源的ToF-SIMS在生命科学研究领域得到越来愈多的青睐。　　随着一次离子源团簇离子的直径变大，SIMS成像的空间分辨率也会相应降低。对此，汪福意说：“应用SIMS成像进行生物研究的时候，找到离子碎片大小和空间分辨率的平衡非常重要，也就是说在获得质量数较大的、结构信息丰富的碎片离子的前提下尽量保证质谱成像的空间分辨率。”　　在团簇离子源发明之前，SIMS在生命科学领域的应用受到限制，因为强调生物大分子结构解析的生物学研究无法从SIMS产生的小碎片离子中得到足够有用的信息。在上个世纪90年代，开始有人尝试基于SIMS在同位素质谱研究中的优势，从生物代谢的角度去了解生物合成过程。汪福意提到：“在这方面，哈佛大学医学院有一支有名的研究团队，他们自己搭建SIMS装置，研究的重点就是利用SIMS成像探索生物合成和生物代谢过程，如DNA的合成、复制与转录。这种研究不是关注高质量数的离子碎片，只需要获得N-15和C-13等同位素标记的碱基碎片在细胞核内的分布信息，就可以分析研究由化学刺激或抑制作用导致的生化过程。”该研究组利用SIMS在细胞生物学前沿领域的研究中取得了很多高影响力的研究成果，对SIMS在生命科学研究领域的应用起到了极大的促进作用。“强强联手”，SIMS与显微技术共缔超高分辨细胞成像　　作为传统意义上的无机质谱，SIMS与有机质谱都可以应用于生物组织成像研究。“能够用于组织成像的质谱技术有不少，但并没有哪类技术能被取代。利用MALDI-MS、DESI-MS等有机质谱技术进行生物组织成像分析比SIMS更快捷和简单，而SIMS在空间分辨率上的优势是其它质谱成像技术无法超越的。”在介绍不同质谱技术在生物组织成像中的应用和区别时，汪福意说：“SIMS不擅长分析生物大分子，如果想进行多肽、蛋白质或大DNA片段分析，有机质谱是更好的选择。SIMS的空间分辨率很高，即使是用氩团簇离子源也能达到微米、甚至亚微米级的空间分辨率，能够进行单细胞或亚细胞器的成像分析。仪器厂商都在提高质谱成像空间分辨率方面下了功夫，但到目前为止还是SIMS成像的空间分辨能力更有优势。”　　在研究金属抗肿瘤候选药物细胞摄入和分布时，SIMS成像可以通过特征生物碎片，如磷脂碎片和DNA脱氧核糖碎片指示亚细胞器的位置，进而确定金属药物在细胞中的定位和分布。但是，在这些特征生物碎片离子的信号较弱或其指代的生物信息并不唯一时，仅仅基于SIMS离子信号的药物亚细胞器定位可能出现误差。在这种情况下，结合亚细胞器荧光染色的光学显微镜成像可以弥补SIMS信号低，不能准确定位的劣势。常与SIMS结合使用的光学显微镜有激光共聚焦显微镜和超高分辨率的受激辐射耗尽(Stimulated Emission Depletion，STED)显微镜技术。二者的区别在于空间分辨率：激光共聚焦显微镜的空间分辨率在亚微米级，STED荧光显微镜分辨率可以达到30纳米。　　通过这种光学显微镜成像与SIMS化学成像相结合的方法，汪福意团队发现他们自主研发的一种有机金属钌抗肿瘤化合物可同时定位在细胞膜和细胞核上，证实了他们在分子水平上的研究结果，即该化合物可以同时作用于细胞膜上的受体激酶和细胞核内的DNA，具有潜在的双靶向特性。　　利用SIMS与光学显微镜成像的融合，在完成金属抗肿瘤化合物在细胞中的分布研究之后，团队又进行了金属药物损伤DNA在细胞内与蛋白质相互识别、相互作用的机理研究。　　“我们用顺铂等金属抗肿瘤药物中的金属离子指示药物损伤的DNA，用光学显微镜来定位抗体染色或融合荧光蛋白定位DNA结合蛋白。如果光学成像信号与SIMS化学成像信号完全重叠的话，说明它们在细胞水平能相互识别和相互作用。”汪福意表示，这个研究工作能够证实从分子水平研究获得的药物分子作用机制的猜想，“很多人在体外生理模拟环境中做这类研究，但细胞水平上药物损伤DNA与蛋白质相互识别和相互作用的研究还没有文献报道。”目前该工作进展顺利，团队还将继续研究DNA结合蛋白与药物损伤DNA的相互识别可能导致的细胞凋亡等生物过程。　　在用SIMS成像与光学显微镜成像联用，研究细胞内和细胞间生物分子相互识别时，必然需要先后使用两类仪器寻找、定位样品板上微小区域内的同一个或几个单细胞。而在1平方厘米甚至更大面积的样品板上准确定位同一个微米级的细胞，是个不小的技术难题。为了解决这一制约研究进展的技术问题，汪福意团队在硅片或玻璃样品板上以光刻方式刻写上200微米的方形网格，并给每个格子一个标号，制备了一种简单、实用的可寻址样品板。这样对于相同网格内单个细胞的成像数据进行叠加处理就变得简便易行。“通过光刻网格定位单细胞仅是一个很小的技术改造，但确实给我们的研究带来很多方便。”汪福意介绍到。(图)ToF-SIMS与共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)成像联用时的可寻址细胞定位借力微流控技术实现液相反应体系的SIMS实时原位分析　　SIMS是基于高真空的分析技术，分析室内真空度极高，无法分析液态样品，生物样品一般都是采取冷冻干燥或树脂包埋等方式处理后再进行SIMS分析。在2010年前，没有人尝试过用SIMS分析液体样品，直到美国太平洋西北国家实验室的两位华人科学家朱梓华(Zhu Zihua)和于晓英(Yu Xiaoying) 开始研究真空兼容的微流控技术和装置。　　汪福意从2013年初开始与两位科学家合作，进行基于微流控技术的液相SIMS技术研究。其研发技术的核心是真空兼容微流控装置，在留有微通道的聚合物基底上嵌入100纳米厚度的氮化硅薄膜，两端连接上微流控管道，通过一次离子束的轰击可在薄膜上打出2微米的小孔。由于小孔直径很小，即使在高真空中，液体的表面张力也能将微流控池内的液体限制在小孔内。这时的小孔内液面即为分析表面，用一次离子束轰击液面溅射出带电离子，即可进行反应池内化学反应的原位实时分析。　　由于液体表面可以实时更新，所以该装置可以测定瞬时反应中间体。在氮化硅薄膜上镀上一层金属电极，在反应池内嵌入对电极和参比电极，即可构成三电极电化学反应系统，加上电压之后，可进行电化学氧化还原反应过程的原位实时检测。对于液相SIMS分析技术，汪福意评价说：“这样的分析对研究化学和生物反应很有帮助，能让我们更深入地了解化学、生物反应过程。实时和原位分析的优势是能够捕捉到一些转瞬即逝的中间产物。” 据了解，国内外都有不少科学家致力于用电喷雾电离(ESI)和解析电喷雾电离(DESI)等质谱技术进行反应中间体研究，而用SIMS进行(电)化学反应过程和中间体研究的团队相对较少。汪福意团队还将利用此装置开展电池的充放电反应和均相或液相催化反应研究。　　SIMS研究固体样品，无论是矿物质、材料还是生物质冻干切片都是分析其最终状态，而液相SIMS技术让研究活细胞的生物化学过程，如神经递质的释放等成为可能。增进交流与学科交叉，铺就SIMS发展之路　　凭借超高的空间分辨率，发挥在药物及代谢物成像研究和生物反应中间产物分析中的优势，SIMS理应在生物研究领域大有作为。然而，国内用于研究的SIMS仪器数量仍然不多，包括地学和材料分析在内也仅有二十多台。据汪福意分析，目前ToF-SIMS的价格在800万左右，NanoSIMS的价格更高，价格昂贵是限制其广泛应用的主要因素。另外，SIMS仪器维护较为复杂，维护费用高，样品制备等过程对技术要求也比较高，也是制约SIMS广泛应用的因素。　　汪福意对今后SIMS的应用发展并不担忧，他说：“国家在仪器研发和应用研究方面的投入越来越大，相信以后会有更多的实验室引进SIMS仪器。” 在十二五国家重大科研仪器研制项目中，有两个项目涉及二次离子质谱，分别为“高分辨多功能化学成像系统”和“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”。汪福意参加了中科院化学所万立骏院士领衔的 “高分辨多功能化学成像系统”的研究，负责SIMS和高分辨光学显微镜技术联用成像子系统的研究工作 北京离子探针中心刘敦一研究员领导的 “同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”项目主要研制和开发用于高精度同位素丰度分析的TOFSIMS新技术。　　我国在二次离子质谱在地球科学领域的应用研究与国际上同类研究的水平相当，在一些领域甚至处于国际领先水平。“但是在生命科学领域的应用研究与国际同行相比仍然有较大的差距，推进SIMS在生命科学研究领域的应用需要国内同行共同努力。”汪福意和其他二次离子质谱领域的专家们在不断加强与国际SIMS应用研究同行的联系与交流。他们把每两年一届的国际二次离子质谱大会看作一个让国内研究学者直接接触国际前沿SIMS技术的绝佳平台，在中国物理学会质谱分会等组织的支持下，中国二次离子质谱研究的专家学者们也一直致力于申请该会议的主办权。采访编辑：郭浩楠　　后记：今年10月“第六届中国二次离子质谱会议”将在大连举办。汪福意研究员是此会议学术委员会的共同主席，他与其他SIMS领域的科学家们共同邀请到一些国际SIMS专家来介绍他们的前沿技术和最新研究成果，与国内研究者们共同探讨SIMS技术及应用。正在或有意应用SIMS技术进行科学研究的科学家们希望通过会议或其他各种形式与国内外同行交流、沟通，寻求与其它学科的交叉合作。　　生命科学领域的科学家可能并不完全了解SIMS技术，也不太清楚SIMS技术能解决生命科学研究中的哪些具体问题 而SIMS分析的研究者也可能不太了解生命科学的研究焦点，彼此存在“背靠背”的窘境。希望更多的科学家能够了解SIMS技术，实现多领域跨学科合作以解决更多生命科学难题。附件：汪福意研究员简历　　学习经历　　1999年6月 武汉大学化学系毕业，获理学博士学位　　1991年6月 华中师范大学化学系毕业，获理学硕士学位　　1983年7月 华中师范大学化学系毕业，获理学学士学位　　工作经历　　2007 – 至今 中国科学院化学研究所“百人计划” 研究员、课题组长、博士生导师、北京质谱中心主任　　2002 – 2007 英国爱丁堡大学化学系　英国研究基金会(RCUK) Research Fellow　　2000 – 2002 英国爱丁堡大学化学系　英国皇家学会皇家奖学金Research Fellow　　1997 – 1999 华中师范大学分析测试中心　副教授，副主任　　1991 – 1997 华中师范大学分析测试中心　讲师，无机分析部主管　　1983 – 1988 湖北咸宁师范高等专科学校　助教，讲师　　学术任职　　中国物理学会质谱分会常务理事、有机质谱专业委员会委员 (2008.9 – 2012.8)，生物质谱专业委员会副主任委员(2012.8 –)　　中国生物化学与分子生物学学会蛋白质组专业委员会委员 (2011.4 –)　　美国化学会会员　　中国化学会会员　　国际生物无机化学学会会员

注射针尖穿刺力测试仪在制药与包装行业中，注射针尖作为药物传递的直接媒介，其性能的稳定与安全性直接关系到患者的健康与安全。随着医疗技术的不断进步和药品包装的多样化发展，注射针尖在各类薄膜、复合膜、电池隔膜、人造皮肤乃至药品包装用胶塞、组合盖、口服液盖等材料的穿刺应用日益广泛。这些材料不仅需要具备良好的阻隔性以保护药品免受外界污染，还需在针尖穿刺时展现适宜的力学特性，以确保药物输送的顺畅与安全。注射针尖在制药包装行业的应用概述在制药过程中，注射针尖常被用于穿透药品包装材料，以实现药物的精准注入或抽取。无论是液体药品的密封瓶、预充式注射器，还是复杂的医疗装置，都离不开注射针尖的高效与准确。同时，随着环保和可持续性理念的深入人心，制药包装材料正逐步向轻量化、可降解方向发展，这对注射针尖的穿刺性能提出了更高的要求。为何需要注射针尖穿刺力测试仪鉴于注射针尖在制药包装中的核心作用，其穿刺性能的优劣直接影响到产品的使用体验和药品的安全性。因此，对注射针尖在不同材料上的穿刺力进行测试显得尤为重要。注射针尖穿刺力测试仪应运而生，它专为评估针尖在穿透各种材料时所需的力值及拔出时的阻力而设计，能够有效帮助制造商、质检机构及研究人员评估材料的适用性，优化产品设计，确保产品质量。广泛应用领域注射针尖穿刺力测试仪广泛应用于质检中心、药检中心、包装厂、药厂、食品厂等多个领域，成为保障产品安全与质量的重要工具。通过精确测量不同材料在穿刺过程中的力值变化与位移情况，可以深入了解材料的物理特性，为材料选择、工艺改进及质量控制提供科学依据。测试原理详解注射针尖穿刺力测试仪的测试原理基于力学原理与精密测量技术。测试时，首先将待测样品装夹在仪器的两个夹头之间，通过精确控制两夹头的相对运动，使标准要求的穿刺针以设定速度刺入样品。在穿刺过程中，仪器会实时记录并显示穿刺力及拔出力的变化曲线，同时监测针尖的位移情况。这些数据不仅反映了材料对针尖的抵抗能力，还能揭示材料内部的力学结构特性，为材料性能评估提供全面而准确的信息。

日前，圣湘生物发布公告称，公司拟与关联方成立合资公司，并将亏损参股公司21.69%的股权转让至合资公司旗下。公司合计投资金额为人民币5333万元。　　圣湘生物表示，将依托合资公司作为整体运营，进一步聚焦于快速药敏检测领域，加速促进产业研究、应用开发及商业转化。　　记者注意到，在新冠检测红利消失后，圣湘生物业绩连跌，2023年公司提出“二次创业”的口号，拓展业务范围，寻求业绩增量。今年一季度，圣湘生物在多赛道、多领域的布局初显成效，业绩实现大幅回升。　　投资布局快速药敏检测　　圣湘生物深耕检测领域。根据5月8日发布的最新公告，公司拟与关联方湖南湘江圣湘生物产业基金合伙企业(有限合伙)(以下简称“产业基金”)共同投资合资公司湖南圣微速敏生物科技有限公司(以下简称“湖南圣微速敏”)，其中，公司合计投资金额为人民币5333万元。　　具体而言，公司以0元的对价取得湖南圣微速敏39.9985%的股权，对应注册资本399.985万元，目前尚未实缴。同时，公司拟将参股公司First Light21.69%的股权转让至湖南圣微速敏下属全资子公司，转让对价为221.58万美元。　　股权转让交易完成后，湖南圣微速敏新增注册资本人民币1.2333亿元，公司按39.9985%的持股比例认购其中新增注册资本人民币4933.015万元，公司合计投资金额为人民币5333万元。　　资料显示，First Light成立于2006年，专注于抗生素药物敏感性的快速检测产品开发，具有在快速药敏细分领域全球领先的创新性和技术基础。截至2023年12月31日，First Light总资产683.86万美元，净资产-400.51万美元，2023年营业收入166.99万美元，净利润-667.44万美元。　　据了解，First Light开发的Multi Path平台是一款兼具单分子免疫检测、微生物鉴定以及快速抗生素药敏测试三种功能的POCT检测仪(小型封闭式一体化检测仪)。其自主研发的独特快速药敏技术能够解决目前检测病原体抗生素敏感所需时间长、失败率高的痛点，有助于改善抗生素错用、滥用的根本性临床问题。　　圣湘生物表示，基于产业基金与公司在药敏检测领域未来发展前景及商业开发的共同认知，后续将依托湖南圣微速敏作为整体运营，进一步聚焦于快速药敏检测领域，加速促进产业研究、应用开发及商业转化。　　一季度业绩止跌回升　　圣湘生物是一家集诊断试剂、仪器、第三方医学检验服务为一体的体外诊断整体解决方案提供商，曾因第一时间研发出新冠病毒核酸检测试剂产品实现业绩大增并成功上市。　　资料显示，圣湘生物成立于2008年，2020年8月28日登陆科创板。2020年，公司实现营业收入47.63亿元、归母净利润26.17亿元，同比分别增长12倍、65倍。　　随着新冠疫情消退，圣湘生物的业绩降幅明显。数据显示，2021年至2023年，公司的营业收入分别为45.15亿元、64.5亿元、10.07亿元；归母净利润分别为22.43亿元、19.37亿元、3.64亿元，连续三年下滑。　　圣湘生物也试图通过并购和产业投资拓展检测领域业务。　　2021年，圣湘生物曾计划收购体外诊断第一股科华生物（002022），但由于后者陷入百亿仲裁案而“告吹”。2021年6月，公司收购基因测序仪公司真迈生物14.77%的股权，成为其第二大股东。　　2023年上半年，圣湘生物还通过产业投资寻找机会。当年，公司设立了湖南湘江圣湘生物产业基金，首期募集规模4亿元，专门用以投资生物医疗产业链上下游相关产业，涉及体外诊断、生物医药、生物科技、大健康等领域公司。　　2023年提出“二次创业”后，圣湘生物将病毒性肝炎检测、血液筛查、呼吸道检测、生殖道感染检测当作“第二增长曲线”的主要战略产线。在一系列动作之下，2023年四季度，圣湘生物的营收规模环比开始回升。　　2024年一季度，圣湘生物业绩大幅增长，一季报显示，报告期，公司实现营业收入3.91亿元，同比增长100.31%；归母净利润8102.47万元，同比增长35.01%；扣非净利润7375.57万元，同比增长1962.06%。　　对于一季度业绩增长，公司表示，主要系报告期内公司凭借早期前瞻性战略规划与投入布局，在多赛道、多领域逐渐进入发力期，相关业务收入同比快速增长所致。

谋求共创共赢高质量发展上海智城二次创业整装再出发“针对越来越成熟的市场，上海智城作为创建于上世纪九十年代科学仪器领域的科技型制造企业，必须本着共创共赢，高质量发展理念，在更高的起点上，整装再出发，进行二次创业“。在2023年4月8日上海智城分析仪器制造有限公司全国代理商大会上，公司创始人沈水兴如是说到。沈水兴表示，智城将继续秉持以智为本，崇尚科技，坚持创新，稳健经营，与代理商共赢发展的理念，瞄准现代生物技术的前沿，加大资金投入和新品研发力度，向市场源源不断地提供高技术、高颜值，高适应性的实验室科学仪器，助力于中国生命科学事业的发展，竭尽全力为之作出新的贡献！沈水兴面对来自全国30多个省市，40多个地区的上海智城150多位优秀代理商代表以及公司“360+2”阳光服务团队的全体售后工程师感慨而言，今天是我们经历三年“愁多知夜长”后，迎来的首个乘兴而行之年。疫情的阻隔妨碍了彼此间的沟通，也切断了彼此间的相聚和言欢，但尽管如此，智城仍能感受到在座各位代理商朋友，在过去三年里给予的源源不断的支持和帮助。去年的三、四月因疫情影响，企业数度停工和停产，但智城公司在这样严峻的经营环境下，能临危不乱，稳健经营，销售业绩保持了稳中有升的态势，这一成绩的取得正是得益于在座各位代理商朋友的倾心帮助和鼎力支撑。在此，他代表公司全体员工向各位代理商朋友表示衷心地感谢和最崇高的敬意！应与会人员要求，会议安排了新产品的培训课程。来自智城产学研“专家工作站”的几位专家、教授向代理商分别介绍了ZWYC-290Z型数据监控型细胞智能培养振荡器和ZWYC-293G型高通量细胞培养振荡器等新产品的技术和应用，深入浅出的讲解受到了代理商朋友的热烈欢迎。下午圆桌会议由上海智城销售总监周经理主持。沈水兴介绍了公司第二次创业的规划以及研发团队的工作计划，并强调智城第二次创业的目标就是瞄准世界科学仪器的高技术前沿，谋划高起点、高质量的发展，既要着力于产品的升级优化，更要研制开发，尽快推出市场急需，用户期待的系列高技术、高品质产品。会上，来自哈尔滨、贵州、浙江、江苏四个地区的代理商代表进行了交流发言，共享在品牌营销，市场拓展，新品推广，客户维护，稳健营销等方面的所得所悟。这些抛砖引玉的典型发言点燃了一场如何稳健经营，如何共享共赢，如何百尺冲杆的头脑风暴。代理商们纷纷表示，在合作共赢的智城第二次创业大舞台上，凝心聚力，携手共进，把唱功和做功提升到一个新高度！2023年4月8日上海智城分析仪器制造有限公司全国代理商大会在智城本址隆重召开。来自全国30多个省市，40多个地区的上海智城约150位优秀代理商代表以及公司“360+2”阳光服务团队的15名售后工程师出席了会议。

p　　经李克强总理批准，国务院日前印发《关于开展第二次全国污染源普查的通知》(以下简称《通知》)，决定于2017年开展第二次全国污染源普查。《通知》要求，任何地方、部门、单位和个人都不得迟报、虚报、瞒报和拒报普查数据，不得伪造、篡改普查资料。各级普查机构及其工作人员，对普查对象的技术和商业秘密，必须履行保密义务。据了解，上次全国污染物普查在2007年，依据《全国污染源普查条例》规定每10年开展一次普查。/pp　　释疑/pp　　strong1 全国污染源普查些什么?/strong/ppstrong　　包括农业工业生活污染源等/strong/pp　　《通知》明确，开展普查掌握各类污染源的数量、行业和地理分布情况，了解污染物产生、排放和处理情况，建立健全重点污染源档案、污染源信息数据库和环境统计平台，凡在中国境内有污染源的单位和个体经营户均属普查对象。包括：工业污染源、农业污染源、生活污染源、集中式污染治理设施、移动源及其他产生、排放污染物的设施。普查内容包括基本信息、污染物种类和来源、污染物产生和排放情况、污染治理设施建设和运行情况等。/pp　　普查的标准时点为2017年12月31日，时期资料为2017年度资料。/pp　　本次普查共分为三个阶段进行，第一阶段，2016年第四季度至2017年底，开展普查前期准备工作，重点做好普查方案、技术规范的编制和完善、开展普查工作试点以及培训宣传等工作。第二阶段，从2018年初开始，各地组织开展普查和数据库建设，年底完成普查工作。第三阶段，2019年，组织对普查工作进行验收、数据汇总和结果发布。/pp　　strong2 普查对象应有哪些义务?/strong/ppstrong　　不得阻挠调查隐匿篡改记录/strong/pp　　国家机关、社会团体以及与污染源普查有关的单位和个人，应当依照《中华人民共和国统计法》《全国污染源普查条例》等有关法律、法规及《通知》精神，积极参与、配合污染源普查工作。污染源普查对象有义务接受污染源普查机构和污染源普查人员依法进行的调查，应当如实、按时填报污染源普查报表，不得虚报、瞒报、拒报和迟报污染源普查数据。/pp　　污染源普查对象应当及时提供与污染源普查有关的资料。在县级以上各级政府普查机构派出的普查人员依法进行调查时，应当积极配合，如实反映情况、提供数据，不得拒绝、推诿和阻挠调查，不得转移、隐匿、篡改、毁弃原始记录、统计台账、普查报表、会计数据及其他相关数据。普查对象不履行相关义务的，将承担相应的法律责任。/pp　　strong3 此次普查的难点有什么?/strong/ppstrong　　要进一步分析环境污染状况/strong/pp　　污染源普查除具有经济普查、人口普查和农业普查等全国性普查的一般性特点外，还有两个突出特点：一是涉及面广，只要有生产生活活动，都会有污染物的产生，而这些活动又涉及不同的部门、行业，涉及不同的利益主体，而有关各类活动主体的信息分散在不同的管理部门，必须充分调动和发挥各部门的力量，这项工作才能做好，才能有成效。从这个意义上来说，普查实施对多部门统筹协调的要求非常高。/pp　　污染源普查的另一个特点是：专业性强，技术要求高。本次普查不仅要查清全国工业污染源、农业污染源、生活污染源、集中式污染治理设施、移动源及其他产生、排放污染物的设施等各类污染源的数量、行业和地区分布，主要污染物种类及其排放量、排放去向、污染治理等情况，还要进一步分析掌握现阶段我国环境污染状况、污染对环境影响范围和程度、污染变化趋势，以及污染的治理能力和现状。/pp　　strong4 如何保证普查数据准确?/strong/ppstrong　　多数据对比保障“不能造假”/strong/pp　　为保障普查数据的准确性，将建立数据质量控制体系，制定数据质量管理技术规定和相关工作细则等制度，从普查方案设计、普查人员选调和培训、污染源清查、普查表填报、普查数据审核汇总、处理和上报的全过程进行质量监控。提升卫星遥感、无人机等调查手段和互联网、移动终端等信息化技术的应用，同时将普查数据与其他相关领域的关联数据信息进行比对验证，在提高普查效率、减少被调查对象负担和调查成本的同时，保障普查数据的质量。/pp　　全面贯彻实施依法普查的要求，依法追究各类主体数据造假责任，从顶层设计上建立“不敢造假”的制度环境。在普查过程中，通过与宏观社会经济数据、卫星遥感调查数据、环境监测数据和环境统计历史数据及其他专项调查数据相比对，使各类主体“不能造假”。/pp　　链接/pp　　全国首次普查污染源592万个/pp　　记者了解到，首次全国污染源普查是2007年度，距今已过去10年时间。这也是中国第一次采取全国普查的方式来摸清环境家底。/pp　　2010年2月6日，环保部、国家统计局、农业部经过两年多的努力发布了第一个全国污染源普查公报。/pp　　公报显示，全国普查对象总数为592.6万个，包括工业源157.6万个、农业源289.9万个、生活源144.6万个、集中式污染治理设施4790个。/pp　　各类源废水排放总量2092.81亿吨，废气排放总量637203.69亿立方米。主要污染物排放总量：化学需氧量3028.96万吨，氨氮172.91万吨，石油类78.21万吨，重金属(镉、铬、砷、汞、铅)0.09万吨，总磷42.32万吨，总氮472.89万吨 二氧化硫2320.00万吨，烟尘1166.64万吨，氮氧化物1797.70万吨。/pp　　从普查结果反映出的环境问题看，既有过去熟知的一些情况，如工业污染结构突出，集中在少数行业，经济发达地区污染物排放总量大等，也有不少通过普查反映出来的突出问题，如农业源对水污染的影响大，机动车排放污染物对城市大气污染影响大，污泥和垃圾渗滤液无害化处理率低，固体废物产生量大等问题。/p

项目编号：JXXMYT2022-03-C11425-1项目名称：鹰潭市综合检验检测中心涉粮检验仪器设备采购（第二次）采购方式：公开招标预算金额：2100000.00 元最高限价：2037000.00采购需求：采购条目编号采购条目名称数量单位采购预算（人民币）技术需求或服务要求鹰购2022F000572005旋转蒸发仪2套200000.00元详见公告附件鹰购2022F000572007气相色谱仪1台600000.00元详见公告附件鹰购2022F000572006气相色谱-质谱联用仪1台800000.00元详见公告附件鹰购2022F000572008液相色谱原子荧光联用仪1台500000.00元详见公告附件合同履行期限：中标人须在成交通知书发出之日起7个工作日内与招标人签订采购合同，合同生效之日起45天内到货安装、调试完毕并验收合格交付使用。本项目不接受联合体投标。

二次有机气溶胶(SOA)，是大气细颗粒物(PM2.5)的重要组分，对空气质量，全球气候变化和人体健康有着重要的影响。近年来，越来越多的研究证明有机前体物在云雾滴和含水气溶胶中的液相化学转化是二次有机气溶胶生成的重要途径。由于植物排放前体物(如植物挥发、生物质燃烧)比化石燃料源(如燃煤、机动车排放)前体物的极性更强、更亲水，过去的研究多聚焦于植物排放前体物转化生成液相二次有机气溶胶(aqSOA)的过程，缺乏对液相二次有机气溶胶中人为化石燃料源贡献的精准量化。 　　中国科学院广州地球化学研究所和瑞典斯德哥尔摩大学、日本中部大学合作，通过测定液相二次有机气溶胶单体分子的碳十四(14C)同位素，给出了化石源碳对中国大气中液相二次有机气溶胶生成巨大贡献的关键科学证据。相关研究成果于近日以Large contribution of fossil-derived components to aqueous secondary organic aerosols in China为题在线发表在Nature communications上。 　　14C同位素的半衰期约为5730年，经过漫长地质演化，煤、石油、天然气等化石燃料中的14C已完全衰变，而生物质的14C丰度，却和当前大气基本保持一致。因此，14C可以准确量化液相二次有机气溶胶分子中生物碳源和化石碳源的相对占比。研究团队在位于珠三角西南部的鹤山大气环境监测超级站采集了一整年的大气细颗粒物(图1)，以大气颗粒物中草酸为主的一系列小分子有机酸作为液相二次有机气溶胶的示踪物。14C分析显示，当鹤山站的气团起源于内陆时，液相二次有机气溶胶标志性化合物的化石来源碳占比达到了55%到70%(图2)。相反，当气团起源于南海沿岸时，液相二次有机气溶胶分子中的生物来源碳占比可达近70%，这与内陆气团形成了鲜明对比(图2)。在我国几个重点城市群，研究人员同样观测到化石来源碳在冬季对液相二次有机气溶胶形成的巨大贡献。 　　过去基于整体气溶胶组分的14C分析结果，大多认为有机气溶胶主要由生物质来源碳贡献。该研究表明，在中国典型城市，液相二次有机气溶胶分子可大量来源于化石燃料。这一认识对更好地模拟二次有机气溶胶生成、评价其气候和环境效应，以及更精准地控制空气污染，具有重要意义。 　　相关研究工作获得国家自然科学基金重点项目、“一带一路”科学组织联合研究专项项目等的支持。图1 研究区位置及采样活动中的后向气流轨迹、气溶胶光学厚度(AOD550)和气溶胶基础表征参数。图2 沿海背景和大陆气团中草酸的二维双碳同位素(δ13C、Δ14C/Fm)特征。

产品名称：几何尺寸测量仪产品品牌：EVM-G系列产品简介：本系列是一款高精度影像测量仪，结合传统光学与影像技术并配备功能完备的2.5D测量软件。可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像传输到电脑中作各种量测，并将测量结果存入电脑中以便日后存档或发送电子邮件。其操作简单、性价比高、精确度高、测量方便、功能齐全、稳定可靠。适用于产品检测、工程开发、品质管理。在机械加工、精密电子、模具制造、塑料橡胶、五金零件等行业都有广泛使用。产品参数：u 变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X~4.5X，视频总放大倍率40X~400X连续可调，物方视场：10.6-1.6mm，按客户要求选配不同倍率物镜。u 摄像机：配备低照度SONY机芯1/3′彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。u 底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。u 光栅尺：仪器平台带有高精度光栅尺（X,Y,Z三轴），解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。u 光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。u 导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高，移动平稳轻松。u 丝杆：X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动，避免了丝杆传动的间隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动，提高工作效率。 工作台仪器型号EVM-1510GEVM-2010GEVM-2515GEVM-3020GEVM-4030G金属台尺寸(mm)354×228404×228450×280500×330606×466玻璃台尺寸(mm)210×160260×160306×196350×280450×350运动行程(mm)150×100200×100250×150300×200400×300仪器重量(kg)100110120140240外型尺寸L*W*H756×540×860670×660×950720×950×1020 影像测量仪是建立在CCD数位影像的基础上，依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后，变成了具有软件灵魂的测量大脑，是整个设备的主体。它能快速读取光学尺的位移数值，通过建立在空间几何基础上的软件模块运算，瞬间得出所要的结果；并在屏幕上产生图形，供操作员进行图影对照，从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。影像测量仪是一种由高解析度CCD彩色镜头、连续变倍物镜、彩色显示器、视频十字线显示器、精密光栅尺、多功能数据处理器、数据测量软件与高精密工作台结构组成的高精度光学影像测量仪器。仪器特点采用彩色CCD摄像机；变焦距物镜与十字线发生器作为测量瞄准系统；由二维平面工作台、光栅尺与数据箱组成数字测量及数据处理系统；仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能，特别是工件摆正功能非常实用；与电脑连接后，采用专门测量软件可对测量图形进行处理。仪器适用于以二维平面测量为目的的一切应用领域。这些领域有：机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器，磁性材料、精密五金、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、计算机（电脑）、液晶电视(LCD)、印刷电路板（线路板、PCB）、汽车、医疗器械、钟表、螺丝、弹簧、仪器仪表、齿轮、凸轮、螺纹、半径样板、螺纹样板、电线电缆、刀具、轴承、筛网、试验筛、水泥筛、网板（钢网、SMT模板）等。ISO国际标准编辑影响影像测量仪精度的因素主要有精度指示、结构原理、测量方法、日常不注意维护等。 中国1994年实行了国际《坐标测量的验收检测和复检测量》的实施。具体内容如下：第1部分：测量线性尺寸的坐标测量机 第2部分：配置转台轴线为第四轴的坐标测量机 第3部分：扫描测量型坐标测量机 第4部分：多探针探测系统的坐标测量机 第5部分：计算高斯辅助要素的误差评定。 在测量空间的任意7种不同的方位，测量一组5种尺寸的量块，每种量块长度分别测量3次所有测量结果必须在规定的MPEE值范围内。允许探测误差(MPEP)：25点测量精密标准球，探测点分布均匀。允许探测误差MPEP值为所有测量半径的值。ISO 10360-3 (2000) “配置转台轴线为第四轴的坐标测量机” ：对于配备了转台的测量机来说，测量机的测量误差在这部分进行了定义。主要包含三个指标：径向四轴误差(FR)、切向四轴误差(FT)、轴向四轴误差(FA)。ISO 10360-4 (2003) “扫描测量型坐标测量机” ：这个部分适用于具有连续扫描功能的坐标测量机。它描述了在扫描模式下的测量误差。大多数测量机制造商定义了"在THP情况下的空间扫描探测误差"。在THP之外，标准还定义了在THN、TLP和TLN情况下的扫描探测误差。 沿标准球上4条确定的路径进行扫描。允许扫描探测误差MPETHP值为所有扫描半径的差值。THP说明了沿已知路径在密度的点上的扫描特性。注：THP的说明必须包括总的测量时间，例如：THP = 1.5um (扫描时间是72 秒)。ISO 10360-4 进一步说明了以下各项定义：TLP: 沿已知路径，以低密度点的方式扫描。THN: 沿未知路径，以高密度点的方式扫描。TLN: 沿未知路径，以低密度点的方式扫描。几何尺寸测量仪工作原理影像测量仪是基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量的功能，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异的功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰影像下辅助测量需要，亦可加入触点测头完成坐标测量。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置或使用夹具的情况下进行批量测量与SPC结果分类。全自动影像测量仪编辑全自动影像测量仪，是在数字化影像测量仪(又名CNC影像仪)基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器。其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能，融合机器视觉软件的设计灵性，属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标扫描测量与SPC结果分类，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速、更便捷、更的测量需要，解决制造业发展中又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式，并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图，实现点哪走哪的全屏目标牵引，测量结果生成图形与影像地图图影同步，可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差，并对其进行标定，从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪有着友好的人机界面，支持多重选择和学习修正。全自动影像测量仪性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。选购方法编辑有许多客户都在为如何挑选影像测量仪的型号品牌所困扰，其实最担心就是影像测量仪的质量和售后。国内影像测量仪的生产商大部分都集中在广东地区，研发的软件功能大部分相似，客户可以不用担心，挑选一款能够满足需要测量的产品行程就行了。根据需要来选择要不要自动或者手动，手动的就比较便宜，全自动的大概要比手动贵一倍左右。挑选影像测量仪最重要看显像是不是清晰，以及精度是否达标(一般精度选择标准为公差带全距的1/3~1/8)。将所能捕捉到的图象通过数据线传输到电脑的数据采集卡中，之后由软件在电脑显示器上成像，由操作人员用鼠标在电脑上进行快速的测量。有的生产商为了节约成本可能会采用国产的，造价比较低，效果就稍微差点。常见故障及原因编辑故障1)蓝屏；2)主机和光栅尺、数据转换盒接触不良造成无数据显示；3)透射、表面光源不亮；4)二次元打不开；5)全自动影像测量仪开机找不到原点或无法运动。原因由于返厂维修周期长，价格昂贵，最重要的是耽误了客户的正常的工作。造成问题出现的原因很多，但无外乎以下原因：1)操作软件文件丢失或CCD视频线接触不良；2)光栅尺或数据转换盒损坏；3)电源板损坏；4)加密狗损坏或影像测量仪软件操作系统崩溃。以上问题可能是只出现一个，也有可能几个问题一起出现。软件种类编辑二次元测量仪软件在国内市场中种类比较多，从功能上划分主要有以下两种：　　二次元测量仪测量软件与基本影像仪测量软件类似，其功能特点主要以十字线感应取点，功能比较简单，对一般简单的产品二维尺寸测量都可以满足，无需进行像素校正即可直接进行检测，但对使用人员的操作上要求比较高，认为判断误差影响比较大，在早期二次元测量软件中使用广泛。　　2.5D影像测量仪在影像测量领域我们经常可以听到二次元、2.5次元、三次元等各种不同的概念，所谓的二次元即为二维尺寸检测仪器，2.5次元在影像测量领域中是在二维与三维之间的一种测量解决方案，定义是在二次元影像测量仪的基础上多加光学影像和接触探针测量功能，在测量二维平面长宽角度等尺寸外如果需要进行光学辅助测高的话提供了一个比较好的解决方案。仪器优点编辑1、装配2个可调的光源系统，不仅观测到工件轮廓，而且对于不透明的工件的表面形状也可以测量。2、使用冷光源系统，可以避免容易变形的工件在测量是因为热而变形所产生的误差。3、工件可以随意放置。4、仪器操作容易掌握。5、测量方便，只需要用鼠标操作。6、Z轴方向加探针传感器后可以做2.5D的测量。测量功能编辑1、多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形，提高测量精度；2、组合测量、中心点构造、交点构造，线构造、圆构造、角度构造；3、坐标平移和坐标摆正，提高测量效率；4、聚集指令，同一种工件批量测量更加方便快捷，提高测量效率；5、测量数据直接输入到AutoCAD中，成为完整的工程图；6、测量数据可输入到Excel或Word中，进行统计分析，可割出简单的Xbar-S管制图，求出Ca等各种参数；7、多种语言界面切换；8、记录用户程序、编辑指令、教导执行；9、大地图导航功能、刀模具专用立体旋转灯、3D扫描系统、快速自动对焦、自动变倍镜头；10、可选购接触式探针测量,软件可以自由实现探针/影像相互转换，用于接触式测量不规则的产品,如椭圆、弧度 、平面度等尺寸；也可以直接用探针打点然后导入到逆向工程软件做进一步处理！11、影像测量仪还可以检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度；12、平面度检测：通过激光测头来检测工件平面度；13、针对齿轮的专业测量功能14、针对全国各大计量院所用试验筛的专项测量功能15、图纸与实测数据的比对功能维护保养编辑1、仪器应放在清洁干燥的室内（室温20℃±5℃，湿度低于60%），避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，影响仪器性能。2、仪器使用完毕，工作面应随时擦干净，再罩上防尘套。3、仪器的传动机构及运动导轨应定期上润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。4、工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦干净。绝不能用有机溶剂擦拭油漆表面，否则，会使油漆表面失去光泽。5、仪器LED光源使用寿命很长，但当有灯泡烧坏时，请通知厂商，由专业人员为您更换。6、仪器精密部件，如影像系统、工作台、光学尺以及Z轴传动机构等均需精密调校，所有调节螺丝与紧固螺丝均已固定，客户请勿自行拆卸，如有问题请通知厂商解决。7、软件已对工作台与光学尺的误差进行了精确补偿，请勿自行更改。否则，会产生错误的测量结果。8、仪器所有电气接插件、一般不要拔下，如已拔掉，则必须按标记正确插回并拧紧螺丝。不正确的接插、轻则影响仪器功能，重则可能损坏系统。测量方式编辑1、物件被测面的垂直测量2、压线相切测量3、高精度大倍率测量4、轮廓影像柔和光测量5、圆及圆弧均匀取点测量精密影像测绘仪测量软件简介：绘图功能：可绘制点、线、圆、弧、样条曲线、垂直线、平行线等，并将图形输入到AutoCAD中，实现逆向工程得到1:1的工程图。自动测绘：可自动测绘如：圆、椭圆、直线、弧等图形。具有自动寻边、自动捕捉、自动成图、自动去毛边等功能，减少了人为误差。测量标注：可测量工件表面的任意几何尺寸，不同高度的角度、宽度、直径、半径、圆心距等尺寸，并可在实时影像中标注尺寸。SPC统计分析软件：提供了一系列的管制图及多种类型的图表表示方法,使品管工作更方便，大大提升了品质管理的效率。报表功能：用户可轻易地将测量结果输出至WORD、EXCEL中去，自动生成检测报告，超差数值自动改变颜色，特别适合批量检测。鸟瞰功能：可察看工件的整体图形及每个尺寸对应的编号，直观的反应出当前的绘图位置，并可任意移动、缩放工件图。实时对比：可把标准的DXF工程图调入测量软件中与工件对比，从而快速检测出工程图和实际工件的差距，适合检测比较复杂的工件。拍照功能：可将当前影像及所标注尺寸同时以JPEG或BMP格式拍照存档，并可调入到测量软件中与实际工件做对比。光学玻璃：光学玻璃为国家计量局检验通过之标准件，可检验X、Y轴向的垂直度，设定比例尺，使测量数据与实际相符合。客户坐标：测量时无需摆正工件或夹具定位，用户可根据自己的需要设置客户坐标（工件坐标），方便、省时提高了工作效率。精密影像测绘仪仪器特点：经济型影像式精密测绘仪VMS系列结合传统光学与数字科技，具有强大的软件功能，可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化，并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中，以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。在机械、模具、刀具、塑胶、电子、仪表等行业广泛使用。变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X～4.5X，视频总放大倍率：40X～400X，可按客户要求选配不同倍率物镜。摄像机：配备低照度SONY机芯1/3”彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。光栅尺：仪器平台带有高精密光栅尺（X、Y、Z三轴）,解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高、移动平稳轻松。丝杆：X、Y轴工作台均使用无牙光杆磨擦传动，避免了丝杆传动的背隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动提高工作效率。

p　　为贯彻落实《国务院关于开展第二次全国污染源普查的通知》(国发〔2016〕59号)精神，做好第二次全国污染源普查试点工作，按照《第二次全国污染源普查方案》(国办发〔2017〕82号)开展普查试点的要求，环保部近日印发了《第二次全国污染源普查试点工作方案》。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201802/noimg/74de04de-633d-45b5-bd38-9e44b056c821.jpg" title="污染源普查.png"//pp　　全文如下：/pp style="text-align: center "　　第二次全国污染源普查试点工作方案/pp　　为贯彻落实《国务院关于开展第二次全国污染源普查的通知》(国发〔2016〕59号)精神，指导第二次全国污染源普查试点工作，按照《国务院办公厅关于印发第二次全国污染源普查方案的通知》(国办发〔2017〕82号)关于开展普查试点的要求，制订本方案。/pp　　一、试点目标/pp　　验证并完善第二次全国污染源普查各类技术规定、报表制度与数据处理系统(含软硬件环境)等，为普查工作的全面实施提供基本保障。/pp　　二、试点范围/pp　　按照地方自愿原则，综合考虑污染源分布特征、地区代表性等因素，确定试点地区如下：/pp　　(一)选取河北省武安市、山西省晋城市、内蒙古自治区呼和浩特市土默特左旗、辽宁省沈阳市浑南新区、黑龙江省齐齐哈尔市、江西省赣州市崇义县、山东省菏泽市巨野县、河南省荥阳市、湖南省衡阳市、重庆市北碚区、云南省昆明市、陕西省铜川市、甘肃省金昌市永昌县和新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市，全面开展试点工作。/pp　　(二)选取山西省长治市襄垣县重点进行工业污染源、农业污染源、生活污染源普查试点 江苏省宜兴市重点进行工业污染源、生活污染源、集中式污染治理设施普查试点 四川省乐山市五通桥区重点进行工业污染源普查试点。/pp　　三、主要内容/pp　　(一)普查组织实施/pp　　验证普查员和普查指导员选聘、宣传与培训、入户登记调查组织和第三方选聘等重点工作组织实施流程的可操作性。/pp　　(二)普查技术方案/pp　　验证并修改完善各类普查技术规定、报表制度、质量控制相关技术文件。/pp　　(三)数据处理系统/pp　　测试联网直报对网络带宽、软硬件支持工具的需求，测试软硬件的稳定性并提出优化建议。/pp　　(四)重点研究的问题/pp　　1.普查分区管理、地理空间公共基底数据用于污染源空间定位的可行性。/pp　　2.各类普查技术规定与报表制度的可行性。/pp　　3.数据处理流程、清查和普查数据采集软件工作可行性，验证软件系统完整性和功能便捷性。/pp　　4.验证普查员入户调查操作规程，探索第三方机构参与普查管理机制。/pp　　5.验证污染源普查质量控制、质量核查相关工作技术文件可行性。/pp　　四、工作安排/pp　　试点工作分为试点准备阶段、全面试点阶段和总结验收阶段。各阶段任务和安排如下：/pp　　(一)试点工作准备/pp　　各试点地区尽快根据本方案组织制订本地区第二次全国污染源普查试点工作实施方案，落实人员、经费、设备等试点工作保障条件。2018年3月底前完成普查员、普查指导员选聘等工作。/pp　　(二)全面试点阶段/pp　　2018年4月底前，各试点地区完成普查清查、核定污染源普查基本单位名录。/pp　　2018年6月底前，完成试点地区入户调查、数据审核汇总工作。/pp　　各试点地区省级普查机构要组织开展对试点清查和全面入户调查工作的技术指导和质量核查，国家普查机构对试点工作开展情况和数据质量开展抽样核查与评估。/pp　　(三)总结验收阶段/pp　　2018年7月底前，各试点地区完成试点工作总结，国家普查机构完成试点工作验收。/pp　　五、组织实施/pp　　国家普查机构统一组织第二次全国污染源普查试点工作。各省(区、市)污染源普查机构应加强对污染源普查试点工作的指导和监督。建立试点工作月报制度。各试点地区在每月底前将试点工作进展情况报国家普查机构。/pp　　各试点地区应按照试点工作要求，认真做好普查的宣传动员和组织实施工作，对于试点工作中遇到的困难和问题，及时采取措施并反馈国家普查机构，确保试点各项工作顺利开展。/pp　　各级污染源普查机构和普查工作人员要高度重视，认真组织，高质量完成试点工作。/p

据韩媒11月15日报道，近日，韩国三星电子在美国进行第六代移动通信(6G)试验。三星电子计划通过试验确认是否可以用6G智能手机与基站进行中远程通信。2020年7月，三星电子曾发布6G白皮书，力争比竞争对手更快开发出被认为是新一代移动通信技术的6G技术，并抢占先机。为此，三星研究中心(Samsung Research)新设新一代通信研究中心，探索6G技术。无独有偶，11月16日，工信部发布《“十四五”信息通信行业发展规划》（以下简称《规划》），其中将开展6G基础理论及关键技术研发列为移动通信核心技术演进和产业推进工程，提出要构建6G愿景、典型应用场景和关键能力指标体系，鼓励企业深入开展6G潜在技术研究，形成一批 6G核心研究成果。在6GANA（6G Alliance of Network AI）第二次会议上，中国工程院院士邬贺铨指出，每当新一代移动通信开始商用时，更新一代移动通信的研究就开始启动，它需要十年时间经过需求提出、标准提出、技术准备、试验才能走到商用，因此现在启动6G研究正当时。0.1~1Gbps、1百万/Km2连接数密度、数十Tbps/Km2流量密度、毫秒级端到端时延、500+Km/h移动性是对5G提出的性能指标需求。有专家观点称，上述特征依然是6G需要关注的指标，但6G的需求绝不仅限于此。在5G产业高速发展的今天，测试能力始终是产品研发能力提升的关键一环。我国于2019年正式发放5G商用牌照，目前5G技术正处于逐步转向大规模应用的阶段，在此过程中，通信设备厂商、天线厂商以及模块厂商等都需要加大对测试设备的采购，以确保其生产的产品符合新一代移动通信技术的要求规范。开展6G技术研究也不例外。在6G技术研究过程中，无论是标准制定，或是在研发生产，还是在规模制造，都高度依赖通信测试仪器仪表的及时就位，特别是在标准制定落地环节，通信测试仪器仪表更是起到了决定性的作用。其中，信号发生器可以测量所需的信号；电压测量仪可以用来测量电信号的电压、电流、电平等参量；频率、时间测量仪器可以测量电信号的频率、时间间隔和相位等参量；信号分析仪器可以观测、分析和记录各种电信号的变化；电子元器件测试仪器可以测量各种电子元器件的电参数；电波特性测试仪器可以测量电波传播、干扰强度等参量；网络特性测试仪器可以测量电气网络的频率特性、阻抗特性、功率特性等。通信测试仪器仪表是通信测试产业链中重要的一环，渗透于产业链各个环节。上游主要是各类金属材料、电子元器件、集成电路、显示单元及机电零部件配件；中游主要包括各类测试仪表制造；下游为应用行业，具体包括电信运营商、终端厂商、科研院所、卫星通讯等。在一个成熟的通信产业环境中，通信测试的作用往往不会体现得很明显，作为幕后英雄默默支撑产业发展，但是，当通信产业发展升级时，通信测试将起到不可或缺的作用。2015年我国通信测试仪表市场规模为93.46亿元，2020年我国通信测试仪表市场规模增长至179.34亿元，2015年以来我国通信测试仪表规模复合增速为13.92%。在6G网络中，频谱接入的趋势是以低频段为基础，高频段按需开启，实现低频段、毫米波、太赫兹和可见光多频段共存与融合组网，在覆盖、速率、安全等方面满足不同的用户需求。随着6G技术研究的开启，借助先进的测试测量仪器、屏蔽箱和测试软件，下游厂商设计人员能够探索新的信号、场景和拓扑结构，进一步验证设备与方案的商用能力，因此通信测试变得更为重要，在这之中通信测试仪器仪表将成为其中关键一环，必不可少。未来，运营商、设备商、芯片商以及终端解决方案商都将迎来对通信测试仪器仪表的大规模需求。

成果名称磁电阻特性测试仪(EL MR系列)单位名称北京科大分析检验中心有限公司联系人王立锦联系邮箱13260325821@163.com成果成熟度□研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产合作方式□技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介：本仪器专门为材料磁电阻特性测试而设计的，采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连，数据采集迅速准确；用户界面直观友好，极大地方便了用户的使用。MR-150型采用电磁铁产生强磁场，高精度名牌仪表采集数据，精度高稳定性好适合科研中各类样品的磁电阻特性测试。MR-4型采用亥姆霍兹线圈产生磁场，无剩磁。采用高精度名牌仪表采集数据，精度高稳定性好适合科研中AMR、GMR、TMR各类样品的磁电阻特性测试。MR-2型采用集成化主机和多通道USB接口数据采集卡采集数据，稳定性好适合科研教学中性能较好的磁电阻样品测试。MR-1型采用手动调节磁场和人工读数，适合与大中专院校本科生研究生的专业实验中使用。主要技术参数:一、系统控制主机：内含可1路可调恒流源（0.3mA~50mA）、2路4 1/2数字电压表和1块USB接口24bit数据采集卡；功耗50W。二、自动扫描电源：0~± 5A，扫描周期8~80s。三、亥姆霍兹线圈：0~± 160Gs。四、测量专用检波与放大电路技术参数：输入信号动态范围为± 30 dB；输出电平灵敏度为30mV / dB；,输出电流为8mA；转换速率为25 V /&mu s；相位测量范围为0~180° ；相位输出时转换速率为30MHz；响应时间为40 ns～500 ns；测量夹头间隔10mm。五、计算机为PC兼容机，Windows XP或Windows 7操作系统。 六、数据采集软件在Windows XP和Windows 7操作系统均兼容。应用前景：本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。目前该仪器已经应用在北京科技大学材料学院及哈尔滨工业大学深圳研究生院的研究生实验教学及课题组科研测量中，取得良好的成效。知识产权及项目获奖情况：本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术，曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。

p　　strong仪器信息网讯/strong 2019年3月30日， 中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议在北京友谊宾馆贵宾楼召开。会议由中国仪器仪表学会副理事长吴朋主持，出席会议理事113人，监事会及各分支机构秘书长列席了本次会议。仪器信息网作为支持媒体和理事单位参加了本次会议。/pp　　此次会议听取了中国仪器仪表学会张彤副理事长兼秘书长做的《2018年工作总结和2019年工作重点报告》 中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华向大家宣读了法人委托函 中国仪器仪表学会秘书处财务总监郝英俊向理事们通报了《2018年中国仪器仪表学会财务报告》。大会审议表决通过了增补郭云彩、李彤、徐地华三位同志为中国仪器仪表学会第九届理事会理事的议案。随后，中国仪器仪表学会副秘书长张建向理事们宣贯了《面向建设世界科技强国的中国科协规划纲要》 张彤副理事长兼秘书长宣读聘任张建、沙旋两位同志为学会秘书处副秘书长。最后由上海交通大学仪器系主任崔大祥教授向理事们介绍了承办2020学会学术年会的情况。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/d6df3d88-ce98-4e3e-bbc9-1a993abc0c0f.jpg" title="图1.jpg" alt="图1.jpg"//pp style="text-align: center "　　会议现场/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/e43159c4-6c5c-46dd-a40a-d3e4f8ccdac2.jpg" title="图2.jpg" alt="图2.jpg"//pp style="text-align: center "　　中国仪器仪表学会张彤副理事长兼秘书长作《2018年工作总结和2019年工作重点报告》/pp　　报告从“数字看2018”、“会员组织力”、“学术引领力”、“战略支撑力”、“科普传播力”、“国际影响力”六大方面对中国仪器仪表学会2018年的工作作了总结。2018年中国仪器仪表学会的工作可谓是硕果满满，在2018年，中国仪器仪表学会获得了中国科协“世家一流学会建设项目”二等奖，学会党支部被中国科协科技社团党委评为“九星”级党组织。2019年，中国仪器仪表学会将从学会内部建设、会员服务产品以及学术活动等多方面继续开展工作。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/f9874277-c08a-41bd-aa5b-7fadba99817b.jpg" title="图3.jpg" alt="图3.jpg"//pp style="text-align: center "　　中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华宣读法人委托函/pp　　中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华受中国仪器仪表学会理事长尤政委托宣布中国仪器仪表学会副理事长兼秘书长张彤担任中国仪器仪表学会法定代表人。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/2a1d5492-ff11-4bfd-b15c-e457b7bb9ab7.jpg" title="图4.jpg" alt="图4.jpg"//pp style="text-align: center "　　中国仪器仪表学会秘书处财务总监郝英俊作《2018年中国仪器仪表学会财务报告》/pp　　报告中指出，2018年中国仪器仪表学会会费收入占总收入的比例偏低，在对项目资金管理上的监管以及对分支机构的财务管理监督缺乏力度，2019年将会针对现存问题不断作出完善。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/aea32967-c000-4d3d-82b6-f1a6e04dd91a.jpg" title="图5.jpg" alt="图5.jpg"//pp　　中国仪器仪表学会副秘书长张建宣贯《面向建设世界科技强国的中国科协规划纲要》/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/348f2447-91a9-43bf-bda2-91aed2cd7699.jpg" title="图6.jpg" alt="图6.jpg"//pp style="text-align: center "　　上海交通大学仪器系主任崔大祥教授/pp　　崔教授在会议上作了《申请承办中国仪器仪表学会2020年会暨仪器院长论坛汇报》，最终会议现场以掌声表决通过上海交通大学承办中国仪器仪表学会2020年学术年会。/pp　　至此，中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议圆满完成各项议程!/p

2月22日国家重大科学仪器设备开发专项项目《齿轮传动形性测试仪的开发和应用》正式启动。参加启动会的单位有贵阳新天光电科技有限公司、北京工业大学、贵州华工工具注塑有限公司、北京北齿有限公司及相关技术、财务、管理等领域的专家和用户代表。　　启动会上，贵阳新天光电科技有限公司董事长、项目负责人卢继敏介绍了贵阳新天光电的发展沿革和发展规划，以及本项目在企业发展中的作用，提出了实施本项目的措施要求并宣布成立项目总体组 项目专家组 用户委员会及技术、管理、财务专家组成的项目监理组。　　中国工程院叶声华院士、合肥工业大学费业泰教授对项目将性能测量引入，扩大测量领域的创新点及四个产学研用单位的研发基础和项目技术基础给予充分肯定，并希望项目争取提前完成，早日拿出具有自主知识产权、具有特色的仪器产品替代进口。　　中国科学院光电研究院周维虎研究员、北京理工大学赵维谦教授分别介绍了组织实施管理国家重大仪器开发专项的经验和实施中的注意事项，特别是应用开发中产生新的应用方案要集成到项目中去，要考虑通用性和软件升级及二次开发，多听取用户使用意见改进完善最后标准化 并对项目管理中监理、管理体系、资金投入提出了要求。　　杰牌控股集团有限公司董事长陈德木、江苏上齿集团有限公司董事长张焰庆、杭州前进齿轮箱集团副总经理刘伟辉、杭州依维柯汽车变速器有限公司总经理冯建荣、上海振华重工集团齿轮研究所所长钟明等专家结合企业的实际，从行业需求的角度对开展齿轮传动形性测量的必要性、紧迫性进行了介绍并建议在设计开发和制造仪器中要重视原材料、基础部件的选用，重视工艺流程的试验评审和确定，保证质量稳定性有助于市场竞争力，成为&ldquo 专、精、特&rdquo 系列产品。　　与会专家对项目实施方案、项目实施基础、项目产品前景等给予了充分肯定，并对项目的开展给予了指导咨询。

橡胶密封件通常需要使用硅油以增加润滑性，使其在贮存及运输过程中减少因摩擦产生的微粒，便于胶塞的分装与压塞。但过多的硅油可能会影响药品质量和安全，因此对其进行控制是非常有必要的。现行国家药包材标准中仅有预灌封注射器用橡胶活塞产品设置有硅油量检测项目，其余橡胶密封件产品标准均未设置，应填补此空白。本标准起草过程中参考《国家药包材标准》中硅油量测定方法以及ISO国际标准、《美国药典》和《欧洲药典》。重点说明的问题 1.规定了检测橡胶密封件表面硅油量所用仪器，包括傅里叶变换红外光谱仪，明确仪器需配备液体池附件。 2. 确定了供试品的制备方法。为保证使用仪器可准确测量，对样品的数量、溶剂比例及整个提取过程做了相应规定要求。对于测试含量超过标准曲线上限的样品应进行稀释后进样。3. 测试方法的选用。考虑到企业自身仪器配置的不同，收载了透射法和衰减全反射法两种测试方法，满足不同需求。4. 设置了两种结果表示方式。考虑到企业不同需求，分别采用两种结果表示方式评价橡胶密封件表面硅油量。5. 本标准为方法标准，限度规定见相关通则项下。附件：4222 橡胶密封件表面硅油量测定法草案公示稿（第二次）.pdf

p　　2018年3月7日，北京市人民政府组织召开北京市第二次全国污染源普查启动会议，发布《北京市第二次全国污染源普查实施方案》，明确了普查时点、对象、范围和内容，并部署安排下一步工作，这标志着我市第二次全国污染源普查工作全面启动。/pp　　会上，北京市第二次全国污染源普查领导小组组长、北京市副市长杨斌强调，一要提高政治站位，深刻认识污染源普查工作的重要意义。深入学习贯彻党的十九大精神，以习近平新时代中国特色社会主义思想为指引，牢牢把握新时代特征，全面准确统计污染源普查数据，为打赢污染防治攻坚战奠定基础。二要严肃落实责任，建立健全污染源普查的工作体系。各区、各部门要严格按照污染源普查实施方案要求，充分发挥各方优势，有序、有力、有效做好各项工作。三要严明普查要求，确保污染源普查数据真实准确。坚持依法依纪普查，严格工作标准，做好补充专项调查。四要着眼长效机制，扎实做好污染源普查后续工作。坚持系统的思维、发展的眼光，来认识、推进污染源普查后续工作，强化成果运用。/pp　　环境保护部第二次全国污染源普查工作办公室主任洪亚雄参加会议并讲话，对北京市第二次全国污染源普查前期准备工作表示肯定并对下一步普查工作提出明确要求。他表示北京地位重要，工作有指向性，污染源普查前期工作扎实，成效突出。北京是继内蒙、江西之后全国第三个召开工作启动会的省份，会议自上而下，直接部署到全市街乡镇层面，责任层层落实到位，效果非常好。希望能够保持良好势头，按照国务院统一部署，进一步统一思想，提高认识，突出抓好重点工作任务，全面落实普查工作要求，确保普查工作有序推进，继续发挥牵头带动作用。/pp　　全国污染源普查每十年一次。此次普查将全面、系统、准确地掌握本市各类污染源的数量、结构和分布状况，掌握区域、流域、行业污染物产生、排放和处理情况，建立健全重点污染源档案、污染源信息数据库和环境统计平台，为改善本市环境质量、防控环境风险、决胜全面建成小康社会和建设国际一流和谐宜居之都提供依据和支撑。/pp　　此次普查标准时点为2017年12月31日，时期资料为2017年度资料。普查对象为本市行政区域内有污染源的单位和个体经营户。普查范围包括工业污染源，农业污染源，生活污染源，集中式污染治理设施，移动源及其他产生、排放污染物的设施。基于我市以环境质量改善为目标的城市管理和污染防治需要，结合北京实际，在国家普查内容的基础上增加相关专项补充调查。我市污染源普查工作分为“前期准备、清查建库、全面普查、总结发布”四个阶段，宣传动员、质量保证贯穿实施全过程。2017年开展前期准备等工作，2018年完成前期准备、清查建库和深入开展普查工作，2019年完成工作总结并发布普查结果。/pp　　按照“国家统一部署，市、区分级负责，部门分工协作，街乡镇组织实施，各方共同参与”的基本原则，普查质量管理覆盖普查全过程。各行业主管部门要按照各自环境保护工作职责做好污染源普查工作，各级政府要对各自辖区内污染源普查质量和结果负责，多方配合，分级负责，实现本市污染源普查工作的精细化、全面化和高效化管理。/p

5月12日，国务院关税税则委员会发布关于第二批对美加征关税商品第二次排除清单的公告。根据《国务院关税税则委员会关于试行开展对美加征关税商品排除工作的公告》（税委会公告〔2019〕2号），经国务院批准，国务院关税税则委员会公布第二批对美加征关税商品第二次排除清单，对第二批对美加征关税商品，第二次排除其中部分商品，自2020年5月19日至2021年5月18日，不再加征我为反制美301措施所加征的关税。对已加征的关税税款予以退还，相关进口企业应自排除清单公布之日起6个月内按规定向海关申请办理。第二批对美加征关税的其余商品，暂不予排除。未列入第一批、第二批对美加征关税商品排除清单的商品，企业可根据《国务院关税税则委员会关于开展对美加征关税商品市场化采购排除工作的公告》（税委会公告〔2020〕2号），申请市场化采购排除。第二批对美加征关税商品第二次排除清单序号EX①税则号列②商品名称125070010高岭土225120010硅藻土325199091化学纯氧化镁425262020已破碎或已研粉的天然滑石525309020稀土金属矿626161000银矿砂及其精矿7ex26169000黄金矿砂8ex28046190其他含硅量＞99.9999999%的多晶硅（太阳能级多晶硅、多晶硅废碎料除外）928100020硼酸1028181090其他人造刚玉1128401100无水四硼酸钠1228401900其他四硼酸钠13ex28439000贵金属汞齐14ex28439000其他贵金属化合物（不论是否已有化学定义），氯化钯、铂化合物除外15ex28444090其他放射性元素、同位素及其化合物（子目2844.10、2844.20、2844.30以外的放射性元素,同位素）,含这些元素、同位素及其化合物的合金、分散体（包括金属陶瓷）、陶瓷产品及混合物。以下除外：铀-233及其化合物（包括呈金属、合金、化合物或浓缩物形态的各种材料）；氚、氚化物和氚的混合物，以及含有上述任何一种物质的产品[氚-氢原子比 1‰的，不包括含氚（任何形态）量 1.48× 103GBq的产品]；氦-3（3He）、含有氦-3的混合物（不包括氦-3的含量 1克的产品）；发射α粒子，其α半衰期为10天或更长但小于200年的放射性核素（1.单质；2.含有α总活度为37GBq/kg或更大的任何这类放射性核素的化合物；3.含有α总活度为37GBq/kg或更大的任何这类放射性核素的混合物；4.含有任何上述物质的产品，不包括所含α活度小于3.7GBq的产品）1628459000税目2844以外的其他同位素及其化合物1728500012氮化硼1829032990其他无环烃的不饱和氯化衍生物1929033990其他无环烃的氟化、溴化或碘化衍生物2029051990其他饱和一元醇21ex290539901,3-丙二醇2229054400山梨醇序号EX①税则号列②商品名称23ex29159000其他饱和无环一元羧酸及其酸酐[（酰卤、过氧）化物,过氧酸及其卤化、硝化、磺化、亚硝化衍生物]，茅草枯、抑草蓬、四氟丙酸和氟乙酸钠除外2429182900其他含酚基但不含其他含氧基羧酸及其酸酐等衍生物25ex29269090己二腈26ex29319000硫酸三乙基锡,二丁基氧化锡等（包括氧化二丁基锡,乙酸三乙基锡,三乙基乙酸锡）2729333100吡啶及其盐28ex29336990西玛津、莠去津、扑灭津、草达津等（包括特丁津、氰草津、环丙津、甘扑津、甘草津）2929371210重组人胰岛素及其盐3038030000妥尔油31ex38089400医用消毒剂3238112100含有石油或从沥青矿物提取的油类的润滑油添加剂3338180019经掺杂用于电子工业的,已切成圆片等形状，直径＞15.24cm的单晶硅片3438180090其他经掺杂用于电子工业的化学元素,已切成圆片等形状；经掺杂用于电子工业的化合物355603129025g＜每平米≤70g其他化纤长丝无纺织物365603131070g＜每平米≤150g浸渍化纤长丝无纺织物375603139070g＜每平米≤150g其他化纤长丝无纺织物38ex59119000半导体晶圆制造用自粘式圆形抛光垫3968042110粘聚合成或天然金刚石制的砂轮4068042190粘聚合成或天然金刚石制的其他石磨、石碾及类似品4168151000非电器用石墨或其他碳精制品4269091100实验室、化学或其他技术用陶瓷器4369091200莫氏硬度为9或以上的实验室、化学或其他技术用品4470071110航空航天器及船舶用钢化安全玻璃4573181510抗拉强度在800兆帕及以上的螺钉及螺栓，不论是否带有螺母或垫圈4674101100无衬背的精炼铜箔4774101210无衬背的白铜或德银铜箔4874102110印刷电路用覆铜板4975052200镍合金丝5075062000镍合金板、片、带、箔5175071200镍合金管序号EX①税则号列②商品名称5276082010外径不超过10厘米的铝合金管5381089040钛管5485013100输出功率不超过750瓦的直流电动机、发电机5585015200输出功率超过750瓦，但不超过75千瓦的多相交流电动机5685044014功率小于1千瓦，精度低于万分之一的直流稳压电源5785044091具有变流功能的半导体模块（静止式变流器）5885052000电磁联轴节、离合器及制动器5985073000镍镉蓄电池6085112010机车、航空器及船舶用点火磁电机、永磁直流发电机、磁飞轮6185113010机车、航空器及船舶用分电器及点火线圈62ex85143000电弧重熔炉、电弧熔炉和电弧融化铸造炉（容量1000-20000立方厘米,使用自耗电极,工作温度1700℃以上）6385168000加热电阻器6485177060光通信设备的激光收发模块6585258011特种用途的电视摄像机6685258021特种用途的数字照相机6785261010导航用雷达设备68ex85261090飞机机载雷达（包括气象雷达,地形雷达和空中交通管制应答系统）6985291010雷达及无线电导航设备用天线或天线反射器及其零件7085299050雷达设备及无线电导航设备用的其他零件7185371011用于电压不超过1000伏线路的可编程序控制器72ex85371090数字控制器（专用于编号84798999.59电动式振动试验系统）7385392120火车、航空器及船舶用卤钨灯7485392190其他卤钨灯7585394900紫外线灯管或红外线灯泡7685407910调速管77ex85437099飞行数据记录器、报告器7885439021输出信号频率小于1500兆赫兹的通用信号发生器用零件79ex85489000非电磁干扰滤波器注：①ex表示排除商品在该税则号列范围内，以具体商品描述为准。②为《中华人民共和国进出口税则（2020）》的税则号列。延伸阅读：中国公布第一批对美加征关税商品第二次排除清单

药用PVC硬片的耐冲击性能检测是一个关键的质量控制步骤，以确保药品包装的完整性和保护药品免受运输和处理过程中的冲击。落镖冲击测试仪和落球冲击测试仪都是用于评估材料耐冲击性能的设备，但它们在设计和应用方面存在差异。落镖冲击测试仪落镖冲击测试仪通常用于评估软包装材料如薄膜、复合膜等的抗冲击穿透能力。它使用一个或多个特定重量和形状的落镖，从一定高度落下冲击试样。这种测试方法更多地侧重于材料的抗穿透性能，适用于检测软包装材料在实际使用中抵抗尖锐物体冲击的能力。落球冲击测试仪落球冲击测试仪则通常用于测试硬质塑料材料如药用PVC硬片的冲击强度。它使用一定质量的球体从预设高度自由落体，冲击试样，以此来模拟实际使用中可能遇到的冲击情况。落球冲击试验可以检测药用PVC硬片的耐用性、硬度、强度和韧性等性能。比较与选择在选择落镖冲击测试仪还是落球冲击测试仪时，需要考虑以下因素：材料特性：药用PVC硬片作为一种硬质塑料材料，更适合使用落球冲击测试仪进行测试。测试目的：如果测试目的是评估材料的耐冲击能力以及硬度和强度，落球冲击测试仪可能更为合适。标准遵循：应参考相关的医药包装材料测试标准或国际标准，如YBB00212005-2015等，这些标准可能指定了特定的测试方法。设备能力：确保所选设备能够满足药用PVC硬片的测试要求，包括试样尺寸、冲击高度和能量等。结论根据上述信息，对于药用PVC硬片的耐冲击性能检测，落球冲击测试仪 更为适合，因为它专门设计用于评估硬质塑料材料的冲击强度，并且符合药用PVC硬片的测试标准和要求。

仪器信息网讯 2012年5月20日上午，中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京市理化分析测试中心理化楼5层会议室组织召开了“科学仪器发展高层沙龙第二次活动”。会议现场　　据悉，为深入探讨我国科学仪器发展机遇与挑战、产业发展瓶颈、阻碍行业发展主要问题，以及当前发展的优势与动力等相关议题，2012年3月22日，中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京理化分析测试中心举办了“科学仪器发展高层沙龙的第一次活动”。中国仪器仪表学会分析仪器分会副理事长兼秘书长刘长宽先生主持会议国家科技部科研条件与财务司孙增奇处长出席会议　　“科学仪器发展高层沙龙的第二次活动”则主要围绕企业发展中研发、管理、生产、销售、人才等问题展开谈论，中国仪器仪表学会分析仪器分会相关领导、国产仪器知名公司高层等20余人出席了会议。中国仪器仪表学会分析仪器分会理事长闫成德先生发言　　闫成德先生主要就举办此次活动的初衷、目的进行了阐述，并希望与会人员能够畅所欲言，为解决当前仪器行业所面临问题添砖加瓦，将这一活动办得高效率、有意义。原AB SCIEX公司中国区总裁、职业经理人刘文玉先生发言　　刘文玉先生结合自己多年的外企工作经验，详细讲述了自己对于研发、生产和营销服务的认识，并通过对3种心态和3种智慧的解释，号召大家一起为行业把脉，诊断出病因，集体合作起来解决问题。赛默飞世尔公司顾问　　　　　　　　　　　北京吉天仪器有限公司　　　　　职业经理人孙建一先生　　　　　　　　　　　董事长刘明钟先生　　　北京普析通用仪器有限责任公司　　　　　　　　　上海光谱仪器公司　　　　　　董事长田禾先生　　　　　　　　　　　　　总经理陈建钢先生　　　　北京创新通恒科技有限公司　　　　　　　　北京普立泰科科技有限公司　　　　　　总经理崔万臣先生　　　　　　　　　　　　总经理田丽娟女士　　　　北京雪迪龙科技股份有限公司　　　　　　　　北京华夏科创科技有限公司　　　　　　董事长敖小强先生　　　　　　　　　　　　　总经理张新民先生　　　　　　仪器信息网　　　　　　　　　　　　　国家科学仪器应用示范中心　　　　　总经理唐海霞女士　　　　　　　　　　　　　　陈舜琮主任 　　会上，与会人员积极发言，或畅谈自身多年工作体会，或评述当前仪器行业现状，或以自身企业现身说法，纷纷为解决我国仪器行业及国内生产企业所面临的研发、管理、生产、销售、人才等问题出谋划策，特别是关于创新研发的问题，讨论尤其热烈，现场气氛十分活跃。

p style="text-align: justify text-indent: 2em "【作者按】上一篇详细介绍了物质的组成以及高能电子束轰击样品产生二次电子和背散射电子的过程。并对与扫描电镜成像有关的各种衬度信息做了较为详细的阐述。【span style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strong延伸阅读：/strong/spana href="https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong二次电子和背散射电子的疑问（上）/strongstrong/strong/span/a】/pp style="text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子都呈现出怎样的样品信息？如何利用这些信息对样品进行分析？在表面形貌像的形成过程中起怎样的作用？对表面形貌像的细节分辨有何影响？是否存在假象？这些问题都将在本文加以详细的探讨。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong二次电子与背散射电子成像/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统观点认为：二次电子带有样品的表面形貌信息，形成样品的表面形貌像；背散射电子给出样品的成分信息，是形成样品成分像的主要信号源。这种观点是否片面？会不会产生假象？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面将围绕这些问题展开讨论。/pp style="text-align: center text-indent: 2em "strong一、二次电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子源自高能电子束对样品原子核外的介电子激发。能量低（ 50ev）、溢出深度浅（ 10nm）、溢出样品表面的分布不均。与样品表面夹角较大的二次电子（高角度二次电子），在样品中行走的自由程较短，溢出几率高，溢出量也较多。与样品表面夹角较小的二次电子（低角度二次电子），由于在样品中的自由程较长，因此损耗大、溢出几率较低、溢出量也较少。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/408e3c43-65b2-463f-9615-0a91b6981fd2.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "一直以来对于二次电子的认识存在很多问题，下面将选取以下几个问题来进行详细的探讨：二次电子主要来自核外的那一层电子激发？是形成表面形貌像的最佳选择吗？为啥易受荷电影响？会产生假象吗？有无Z衬度信息？SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？电位衬度和二次电子有什么关联？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.1二次电子主要来自原子核外那一层？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统观念认为介电子（最外层）最容易被激发，所以二次电子主要来自最外层。那么一个疑问是：如果最外层电子是二次电子的主要来源，那么大量的特征X射线来自那里？ /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "我们先看一个加速电压的变化对能谱谱线强度影响的实例。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/599eb752-6862-4d29-b3ad-0000bf07d804.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "能谱谱线的峰位对应着电子结合能，结合能对应电子层。那一层电子激发多，对应峰位的谱峰就高。从上面两张谱图可以看到，加速电压的增加，铜和锌的K线占比也增大。这说明加速电压增加，结合能高的K层电子，激发量的占比也增加。 因此从能谱看，似乎二次电子主要源于核外那一层电子并不固定，而是与加速电压和轨道电子激发能（结合能）的比值（过压比）有关。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "但是有充分的事例表明，特征X射线与二次电子在激发量上存在巨大的差距，这意味着内层电子的激发量极少。因此推测内层电子的激发与最外层电子的溢出可能并不是一个体系，即与特征X射线激发有关的内层电子，是以光电子形式溢出样品。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "故二次电子可能只能来自最外层轨道也就是介电子层。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "所谓光电子就是指由光电效应产生的电子。即轨道电子全面接收入射电子的能量，克服轨道结合能的影响而溢出。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "光电子的最大初动能与光的频率（能量）有关。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongEk=hv-A h是普朗克常数，v是频率，A是逸出功/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "主流观念认为内层电子的激发在过压比为3-4时达最佳。个人观点：不同元素这个值也不同，10左右都存在最佳激发的可能。充分认识到这一点，将有利于能谱测试时，对加速电压的选择。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2二次电子是否是形成样品表面形貌像的最佳信息源？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "传统理念认为二次电子是形成样品表面形貌像信息源的最佳选择。这个观点基于以下两点：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 二次电子能量弱，在样品中自由程短，浅表层溢出，横向扩散极小，因此对表面细节的影响小，含有表面信息多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 二次电子的溢出量随平面斜率变化较大，边缘处溢出最多，由此形成二次电子衬度及边缘效应。样品的表面形貌可看成不同斜率的平面组合，因此二次电子衬度就带有大量形貌信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/9bc7d100-8ccc-4ea6-bceb-992f0df9311d.jpg" title="3.png" alt="3.png"/br//pp style="text-indent: 2em text-align: justify "二次电子衬度是否是形成样品表面形貌像的主导因素？二次电子形成的表面形貌像细节是否就一定最丰富？/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.1 样品表面形貌像是否取决于二次电子衬度？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "先看一个实例：用日立regulus8230的样品仓探头（L）和镜筒内探头（U）分别对硅片上刻蚀的倒金字塔图形进行观察。由于EXB系统的分离，使探头（U）接收的信息为较纯的二次电子。样品仓探头（L）因位置原因含有大量背散射电子。结果如下：/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/171072a0-5b72-45d7-9e7b-562a06ac0a5a.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由上例可见，图像中二次电子衬度充足但表面形貌像并不好， 形貌衬度（参见上篇）充足形成表面形貌像才十分的优异。因此形貌衬度才是形成形貌像的基础。形貌衬度的主要形成因素，依所观察样品的特性及所需获取的样品信息不同，分为两个层面：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "层面一：样品做低倍观察或样品表面起伏较大。探头、样品、电子束三者夹角将是影响形貌衬度的主导因素。大工作距离下使用侧向的样品仓探头获得表面形貌像，细节更丰富。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dadb4366-061a-4b04-939b-6071ade9322b.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "层面二：高倍观察样品的几纳米细节。这些细节起伏小，采用不同角度的电子信息形成的形貌衬度即满足要求。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "小工作距离下选择镜筒探头从顶部获取较多的二次电子信息，减少信息扩散对细节的影响，是形成形貌像的关键。此时测试条件的选择，应当以尽可能多的获取低角度信息为目标。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/024fc5d0-42ae-4342-9376-1f2c0d6614cc.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "镜筒探头（U），利用不同角度的信息形成形貌衬度，只能面向起伏较小的样品细节，对较大细节的观察效果差。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4b96227b-8219-4354-9919-c6063716e8dc.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "探头（U）位于顶部，造成形貌衬度不足，无法分辨亮、暗衬度的空间形态。探头接收的二次电子占主导地位，二次电子衬度的影响使得斜面与平面有明显的亮、暗差异。亮部易被误认为是另一种物质所形成的Z衬度。采用探头（L）进行观察，情况刚好相反，故真实的孔洞信息表现充分。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strongB)二次电子的边缘效应也会对某些样品的细节分辨提供帮助/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em "两张不同材料的多层膜照片，各膜层的材料相近，Z衬度较差。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/30cfea12-6d69-4487-b960-7ebe49305d3a.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上几个实例表明：形成样品表面形貌像的基础是形貌衬度，而非二次电子衬度。二次电子衬度会带来形貌假象，但也会帮助我们观察并区分一些特殊的样品信息。不同的样品信息适合用不同的衬度信息来表现，故辩证的关系无处不在。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2.2二次电子对图像细节分辨能力的影响/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "形貌衬度是形成扫描电镜表面形貌像的基础，其他的各种衬度信息叠加在形貌衬度上，才能形成完整的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论表面形貌像是如何构成的，信息源都是二次电子和背散射电子。其在样品表面的溢出区大小，必然会对表面形貌像的细节分辨产生影响。电子信息的能量越大、影响也越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子能量弱，对样品表面细节影响小，是对松散样品（如介孔、气凝胶）的几纳米细节观察的首选信息。它的含量越大这类信息表现得就越充分。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/31aa0262-e51d-443f-a364-08789d18ec66.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "低倍下，观察细节受信号扩散的影响减弱，充足的形貌衬度将成为主体。此时选择样品仓探头从侧面观察，结果更佳。/pp style="text-align:center"span style="text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/a3eed5c6-6b8c-406f-841c-5d6e833fe40b.jpg" title="6.png" alt="6.png"//span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上多个实例表明，形成样品表面形貌像的基础在于形貌衬度。其余的各种衬度信息叠加在形貌衬度之上共同形成完整的表面形貌像。不同的信息需求必须采用不同的应对方案，才能获取最佳的测试结果，这是一个辨证的关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3 荷电现象与二次电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面因电荷累积形成静电场，影响电场及周边电子信息的正常溢出，产生所谓的荷电现象（这一现象今后将有专文探讨）。二次电子由于能量弱因此更容易被该静电场所影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/spanbr//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/f0392819-a938-40e5-8c23-1632be9b39e1.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "荷电场对高角度二次电子的溢出影响更为明显，因此样品信息中高角度二次电子含量越多，图像的荷电现象会更严重。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面以介孔硅KIT-6图像为例来说明。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/e8c31c1e-1dfe-47c7-9c45-6cbc63323c92.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-indent: 2em "采用样品仓探头接收样品信息，工作距离也会影响荷电现象。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/3ee8d1e3-a752-4eb9-ab69-a1abc9e4de99.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.4二次电子是否拥有Z衬度信息？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "同一个加速电压下，样品的不同密度及原子序数，二次电子的激发量还是存在衬度差异，但该衬度差异不如背散射电子强烈。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/ade275e0-9420-49b5-8370-039102e48b70.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.5 SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？对测试结果有啥影响？/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依据目前各电镜厂家的描述：SE1指的是电子束直接激发并溢出样品表面的二次电子，SE2是样品内部各种散射电子激发并溢出样品表面的二次电子，SE3\SE4是散射电子、入射电子所激发的样品仓内的各种二次电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE1是形成高分辨表面形貌像的关键信息。其扩散范围小，基本在电子束直径的周边，对样品表面形貌细节影响也最小。同等条件下该信息含量越充足，图像清晰度及细节分辨力越优异。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE2离散度较高，加速电压越高其产额和离散度也会越大。当SE2成为样品表面形貌像的主导信息时，表面形貌像的图像分辨力会大大降低。这是过高加速电压图像分辨能力差的主要缘由。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " SE3\SE4是杂散信息，产额越多对结果影响越大。电镜厂家在镜筒设计过程中都会将这一因素的影响压倒最低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "选择加速电压时要充分考虑其对SE1\SE2产额的影响。在满足测试所需的电子束发射亮度的情况下，加速电压越低越好。要获得这样的结果，扫描电镜的本证亮度就要大。（可参看经验谈1）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.6二次电子与电位衬度/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品表面的少量静电场会引发该处信号异常溢出，当静电场弱小到不对图像的形态产生影响时，就形成了所谓的电位衬度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电位衬度主要影响的是能量较弱的二次电子，对背散射电子的溢出量影响较小。电位衬度可以在材料缺陷的分析上提供帮助。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面是我在为某单位进行样品测试时遇到的两个实例。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4ac1d2e5-0460-4c65-8665-53c12c818eeb.jpg" title="10.png" alt="10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从左至右，探头选择依次是U\UL\L，背散射电子含量依次增多。但图像Z衬度却反常的依次减弱，直至消失。因此考虑这是否是少量有机物形成轻微荷电场所产生的电位衬度，并不是我们日常所见到的Z衬度信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "放大后看到有亮点经电子束轰击后消失，图像缩小可看到明显碳污染的存在，故可判断该现象是有机物污染所形成。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/1b672cd4-42ee-463f-83bd-eba4761cab2f.jpg" title="11.png" alt="11.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上述现象如同上例所存在的探头切换时Z衬度的异常变化，只是高倍轰击并没有出现碳沉积现象。说明此处异常亮并非有机物附着形成，可能已经被有机物氧化，能谱分析此处氧含量偏多。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "用户对设备清洗后这些现象都消失。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong二、背散射电子/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "与入射电子束方向相反的散射电子，称为背散射电子。其能量与入射电子相当，在样品中扩散范围较大，加速电压越大扩散体也越大，对图像细节影响也越大。背散射电子在样品表面溢出范围也不均衡。由于高角度背散射电子形成几率小，因此溢出量少，低角度背散射电子产生的几率较高，因此溢出量较多。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dd47d4a8-592f-477d-8a4c-2dec993cd022.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子图像拥有如下特点：Z衬度与晶粒取向衬度好、受荷电影响小、信号扩散区大、极表层信息缺乏、电位衬度较差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1背散射电子和二次电子的图像对比：/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c95317fd-f9ce-4958-8c78-563d172684fa.jpg" title="13.png" alt="13.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2背散射电子进行的晶粒结构及取向分析/strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/7aeb4551-2ef4-47d5-91fb-99fc1df796e7.jpg" title="14.png" alt="14.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子的溢出量不仅受到样品原子序数及密度的影响，晶体材料的晶体结构及取向也会对背散射电子的溢出量及溢出方向产生影响，形成的晶粒取向衬度（电子通道衬度）更明析。但是要形成足够的衬度差异，需要晶粒存在较大的取向差、足够的体积、密度及整体平整度。要获取该种类的样品信息，样品平整度处理十分重要。切割、抛光处理是常备的制样方式。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "利用背散射电子衍射（EBSD）所形成的菊池花样对晶粒取向及构造进行分析，所获得的取向精度得到极大的提升，达到0.1° ，分析内容也更为充分。是目前利用扫描电镜进行晶粒结构和取向分析最权威、最充分且是最常用的技术手段。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/5e34d2af-f814-40d7-9c7a-b8be561439d8.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "无论是直接利用背散射电子获取晶粒取向衬度还是通过EBSD来对晶粒进行观察和分析，信息源都是背散射电子。离开背散射电子，扫描电镜将无法充分的进行晶体材料结构及取向分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.3背散射电子图像的分辨力/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压、样品特性、信息需求、探头的性能和位置都影响着背散射电子图像的分辨力。在谈论图像分辨力时不能脱离条件的限制。比如观察样品的Z衬度信息，背散射电子形成的图像比二次电子形成的图像拥有更好的细节分辨；要观察样品内部的信息，加速电压低了是无法观察到的； YAG材质的探头比半导体材质的探头更适合低加速电压观察，样品表面信息分辨好。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "但总体来说背散射电子在样品中的扩散比二次电子来的大。对样品表面形貌像的细节干扰较强、较为明显。背散射电子含量越大，高倍率图像的清晰度也越差。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong三、结束语/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子是扫描电镜形成样品表面形貌像的两个重要信息源。但形成表面形貌像的基础却是探头所获取的样品表面各种信息的衬度，而不是选用了那个信息源。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如同用不同颜色的光去观察一个物体。无伦选用哪种颜色的光，形成物体图像形态的关键都是对物体的观察角度。不同的观察角度，图像的形态不同。而不同颜色的光只是给这个物体染上了颜色。不同亮度的光可以在一定程度上影响物体图像细节的辨晰度，却无法影响物体图像的形态。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 图像上的明、暗差异被称为图像衬度，是形成图像的基础。噪点及亮度、对比度的调整也会对其产生影响，但与成像有关的是各种信息衬度。图像的衬度主要由各种信息的衬度所形成。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度（电子通道衬度）、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度是形成扫描电镜图像的几个主要衬度信息。其中形貌衬度是基础，其余的衬度信息叠加在该衬度之上，共同形成扫描电镜的各种图像。不同的样品表面信息需要用不同的衬度信息来表现，才能获得最佳的效果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 样品表面形貌的高低位置差异形成扫描电镜图像的形貌衬度。形貌衬度主要受探头接收样品信息的角度影响。对形貌衬度产生主要影响的因素分为两个层次：/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.倍率越低，形貌的高低位置差异越大，要求的形貌衬度较大，探头、样品和电子束三者间形成一定的夹角才能满足形貌衬度的形成需求。此时这个夹角就是关键因素，对样品仓探头的充分运用才能保证我们获取更为丰富的表面形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.高倍下形貌高低位置差异减少。对形貌衬度的要求较小，样品信息的溢出角度所形成的形貌衬度即满足形貌像的需求，此时信息扩散对细节的影响成为主导因素。采用小工作距离、镜筒探头这一组合观察时，接收的二次电子较多，对形貌细节的影响较少，此时形成形貌衬度的主导因素是样品的低角度电子信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子做为形成样品表面形貌像的信息源，必然会对表面形貌像形成影响，其影响主要表现在信号扩散对细节的掩盖，相对来说二次电子对样品表面细节的影响较小。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子和背散射电子形成的各种衬度信息（Z衬度、晶粒取向衬度、边缘效应、二次电子衬度电位衬度等）是我们进行样品表面形貌观察及分析的重要依托。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子有利于减少信号扩散的影响，其电位衬度、边缘效应、二次电子衬度极为充分，利于展示样品的某些特殊信息，但这些衬度也会带来一些假象。必须辩证的认识，合理的使用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二次电子的溢出量容易受到样品表面荷电场的影响，形成样品表面的荷电现象。高角度二次电子更加容易受到荷电场的影响，它的含量越大，样品表面的荷电现象越严重。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "背散射电子有利于表现Z衬度、晶粒取向衬度等信息。因其本身能量较大，溢出量不易受样品表面荷电场的影响，被视为应对样品荷电现象的有效方法之一。但也正是因为能量较大，在样品中扩散范围也相对较大，使得高倍时图像清晰度较差，不利于低于20纳米的样品细节的展现。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "我们在运用二次电子和背散射电子作为信号源来形成样品表面形貌像时，应当依据样品特性以及所需获取的信息特性，对症下药用辩证的思维方式来指导我们选择合适的测试条件。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "华南理工出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 清华大学出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 北京天美高新科学仪器有限公司 高敞 2013年6月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong 作者简介：/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 100px height: 154px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/057cf6d3-2db1-4141-b27e-367cdc453e09.jpg" title="林中清.jpg" alt="林中清.jpg" width="100" height="154" border="0" vspace="0"/林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。/ppbr//p

2016年3月17日16：00时，江苏汉邦科技有限公司工会委员会第二次会议在三楼多功能厅召开，会议对今年及今后一段时期工会主要工作进行了部署。会议的主要目的是密切联系职工，认真听取和反映职工意见和要求，关心职工生活，帮助职工解决生活困难，全心全意为职工服务。 会议共有工会委员10人，部门代表8人参加，由工会主席郁万中同志主持。会议首先带领大家学习了《工会法》，总结回顾了今年以来工会开展的主要工作。 会议上听取各部门职工代表发言和部分工会委员的意见，集中讨论工会要开展的工作内容，参会人员畅所欲言，在融洽气氛中共收集到31条意见和建议，其中二胎福利、开展各项集体活动、儿童娱乐场电影票等外联项目、年假制度改革、改进工作餐建议、开展内外部培训、各项竞技比赛、工作环境改进、增加有效体检项目、申请采购数据库等有效意见，我们工会委员会进一步对以上可行性建议意见进行讨论和修改，制定方案并提交公司高层审议。 对会议上各代表（委员）的积极发言表示感谢，感谢大家一直以来对工会工作的支持与肯定，我们也将进一步保障职工的合法权益，增强企业的凝聚力，努力完成生产任务和工作任务，参与企业民主管理，全心全意为企业和职工服务，努力开创工会工作新局面。

前三章我们详细介绍和分析了在各种模式下，二次电子和背散射电子以及各种衬度之间的特点，本章节内我们会对这些内容行回顾和总结。前三个章节请参看：细谈二次电子和背散射电子（一）细谈二次电子和背散射电子（二）细谈二次电子和背散射电子（三） 信 号 类 型 二次电子（SE）按照其产生的原理可以分成 SE1、SE2、SE3 和 SE4，但是在实际使用的时候会发现难以对 SE1～SE4 进行严格的区分，因此我们把 SE 分成更加实用、更容易从操作上掌握的低角 SE、高角 SE 和轴向 SE 这三种 SE 信号。 背散射电子（BSE）根据角度不同将其区分为低角 BSE、中角 BSE、高角 BSE；又从对称性的角度分离出非对称的 Topo-BSE；以及从能量的角度分离出Low-Loss BSE 信号，分为了五种 BSE 信号。 以上3种 SE 信号和5种 BSE 信号，加上本章介绍的减速模式下的信号SE+BSE (BDM) ，一共有九种信号。这九种信号往往需要不同的电镜条件，也有不同的衬度特点，各自信号有着独特优势的同时也存在相应的缺点，具体请参见表1。表1信号衬度工作距离分辨率表面敏感度抗荷电能力景深立体感二次电子（SE）低角SE形貌为主均可一般好好好高角SE形貌、电位为主短好好差差轴向SE形貌、电位为主短好很好差差背散射电子（BSE）低角BSE成分、形貌、通道、阴影分析距离差差很好好中角BSE成分、形貌、通道短好一般好一般高角BSE成分、通道短好好好差TopoBSE形貌、阴影较短一般差很好很好Low- LossBSE成分短好很好好差减速模式下Signal(BDM)形貌、成分很短很好很好好差 衬 度 类 型 前面我们详细了解各个信号在衬度上的特点，那接下来我们反过来思考一下：为了获得各种类型的衬度，或者针对不同的试样和不同的目的，应该如何选择合适的信号进行采集以获得最佳的效果呢？1. 对于不追求超高分辨率的形貌衬度图像，立体感有时显得格外重要。此时，可以优先选择 Topo-BSE 信号来获得极具立体感的衬度；其次可以选择低角 SE 以及低角 BSE 信号。2. 如需获得高分辨的形貌衬度图像，应该优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号，其次可以选择中角 BSE 信号。3. 如需获得非常纯的成分衬度图像，而不希望有其它衬度的干扰，可以优先选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号。4. 如需获得兼有形貌和成分衬度的图像，可以选择低角 BSE、中角 BSE 信号，有时候减速模式下的信号也可以兼有形貌和成分衬度。5. 如需获得非常表面的成分衬度，如表面污染，二维材料等，可以优先选择轴向 SE、高角 SE 信号，其次可以选择 Low-Loss BSE 以及减速模式下的电子信号。6. 如果不想获得非常敏感的形貌，比如抛光质量不够理想的金相试样，想要进一步减弱划痕影响，可以选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号，其次选择中角 BSE 信号。7. 如需获得较深处的成分信号，除了提高加速电压之外，也应该优先选择低角 BSE 和低角 SE 信号。8. 如需获得不同晶粒取向的通道衬度，优先选择立体角最大的低角 BSE 信号。9. 对于很多半导体试样，如果要想获得电位衬度，优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号。10. 如需降低荷电效应影响，优先选择 Topo-BSE 和低角 BSE 信号，其次选择低角 SE 和中角 BSE，而避免高角和轴向 SE 信号。归纳一下，参见下表2。表2场景推荐1推荐2分辨率不高的形貌衬度Topo-BSE低角SE低角BSE分辨率较高的形貌衬度轴向SE、高角SESignal (BDT)中角BSE无形貌干扰的成分衬度Low-Loss BSE高角BSE兼有形貌和成分衬度低角BSE中角BSESignal (BDT)极高的表面敏感度轴向SE高角SELow-Loss BSE减弱形貌的干扰高角BSELow-Loss BSE中角BSE深层信息低角BSE低角SE通道衬度低角BSE电位衬度轴向SE高角SE降低荷电Topo-BSE低角BSE低角SE中角BSE̷̷ 这里只列举了一些常见的情况，对于不同的试样或者观察目的，我们要根据这些信号的特点进行灵活运用。甚至当只采集一个信号达不到目的时候，要利用探测器信号混合功能来进一步获得更理想的效果。 信号和探测器的选择 电镜观察中存在这么多的信号，那究竟用什么类型的探测器来区分这些信号呢？对于现在大部分场发射电镜来说，四探测器已经成为一个标准化的配置，即样品室一个ETD探测器，一个极靴下方的BSE探测器，镜筒内有两个探测器。样品室的两个探测器基本上差别不大，镜筒内的探测器会根据物镜的类型以及各厂家的一些特殊技术而有所差别。不过论共性而言，镜筒内的两个探测器，普遍一个位置相对较高，一个位置相对较低。 一台电镜根据自身的设计情况以及工作条件，能够分离出九种电子信号中的部分信号。粗略的进行归纳，可以总结为下表3。（不过需要注意的是，虽然有的探测器在表格中显示可以采集多种信号，但是这只是对大部分电镜做的一个归纳。对于一台具体的电镜而言，并不一定能够实现所有功能）。表3信号推荐探测器1推荐探测器2低角SEETD高角SE镜筒内低位探测器镜筒内高位探测器轴向SE镜筒内高位探测器低角BSE样品室BSE探测器中角BSE镜筒内低位探测器高角BSE镜筒内高位探测器Low-Loss BSE镜筒内能量过滤探测器Topo-BSE特殊优化的ETD非对称样品室BSE探测器 总 结 最后用一首七律对所有章节的内容进行一个总结，希望大家能够对 SE、BSE 信号以及各种衬度之间的关系能够有更深刻的理解，在电镜观察中获得更好的结果。《七律》粉末块体千百状用心制备导电亮半明半暗亮线条积分或能荷电抗二次背散各有用巧用二者图成双高低角度大不同多种模式减速场磁场浸没龙卷降吸汲电子扶摇上电磁静电复合式汇聚角度随能量非是高能分辨强低压窥得俏模样各类衬度分清楚图文相谶好文章元素结构何取向结晶参杂非所长光谱质谱原位解所见所得 All In One上一期答案问题：这是电池隔膜试样的图片，你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗？两张图都是在减速模式下拍摄：左图为低角电子，背散射相对占主要部分，表现出形貌衬度，因为材质均匀，所以没有明显的成分衬度；右图为高角电子，二次电子占主要部分，表现为比较明显的电位衬度和形貌衬度。

“一打开水龙头，我就吓一跳，放进盆里的水怎么会有杂质?”上海市杨浦区殷行路一小区业主抱怨道。　　原来，不久前，物业贴出了清洗小区水箱的通知，清洗结束后，业主们却发现，水龙头里流出的水依然有杂质，当天小区里约400户住户无法使用饮用水。　　据了解，在上海等大城市，一般六层以上民用建筑的供水都使用水箱二次供水，也就是说，约有60%的人都在饮用二次供水。然而，根据记者的调查，清洗水箱———这一关系到小区业主饮水安全的隐性物业服务，如今却在很大程度上遭遇“捣浆糊”(上海方言，意指打马虎眼、敷衍———编者注)，而水质检测、监督等环节也存在漏洞。怎样才能让老百姓喝上安全的水，已成为城市管理中一个迫切需要解决的问题。　　“看得到杂质，肯定不符合标准”　　租住在上海市机场新村小区的一位房客向有关部门投诉，不久前，他发现自来水管放出的水中含有丝蚯蚓状的小红虫等肉眼可见的杂质，便向物业管理公司反映情况，但大半个月过去了，问题迟迟没有得到解决。　　无独有偶。在上海康城、春申景城、天山河畔花园、东方城市花园等多个小区的业主论坛上，记者也看到了关于水里有杂质、红虫，或者是异色异味等问题的议论，有业主拆下了家里水龙头的滤网，发现上面有不少杂质。　　仙霞路一小区的业主周先生告诉《法制日报》记者，他所住的小区是上世纪90年代末建成的住宅楼，用的是水泥面的水箱，业主们一直对用水水质怨声载道，当他们对楼顶水箱进行实地探查时，被里面的景象惊呆了：水箱内部青苔成片、铁锈成团———平时用的，竟然是如此脏水。　　上海市黄浦区卫生监督所综合执法一科科长俞爱群告诉记者，该所在对水厂、水箱、现制现售水、管道水等的监督中，市民投诉水箱的水浑浊、有虫等问题最多。　　上海市卫生监督所产品卫生监督科副科长应亮表示，“如果在水中看得到杂质，肯定不符合卫生标准，这样的水是不能饮用的”。　　“红虫就是水蚯蚓，一般在中污带生存。”上海水产大学水产养殖学科教授王武介绍说，水蚯蚓的出现说明自来水已经受到一定程度的污染。但水质的污染程度是否会引起腹泻等问题，还需要看水蚯蚓的数量，并对水中的大肠杆菌等进行检测后才能知道。　　有业内专家指出，屋顶水箱是供水二次污染中很重要的一个污染源，因为不少水箱是半开放式甚至开放式的，特别是一些水箱因为内壁材料不佳，就容易滋生微生物。一旦负责清洗水箱的房管或物业部门疏忽，就可能导致水质污染问题。　　“究竟洗没洗，居民根本不知道”　　市民李女士向《法制日报》记者反映，她所住的小区尽管每隔一段时间，就能看到小区物业贴出“因清洗水箱而停水”的告示，但究竟洗没洗，居民根本不知道。有一次清洗水箱时，她特别注意了一下，发现水箱里连水都没放出来，“这种情况下，又不可能爬上去看。水箱里的情况到底如何，恐怕只有物业自己知道”。　　据了解，水箱的清洗消毒有着严格的要求和规定。“按照相关规定，二次供水应每季度清洗一次，现在大都降低到了一年两次的标准。”业内人士介绍说，即便如此，还有物业在清洗次数上打折扣，有的一年洗一次，更有甚者两年清洗一次，还有不少物业在清洗过程中“捣浆糊”。由于清洗水箱所需的药水、人工、工具都是成本，为了省下这笔费用，一些物业就派人放一下水做样子。其实物业费里已包括了清洗费，能节省一次，对物业来说也就是“盈利”。　　根据规定，水箱清洗后要由超过一定比例的业主签名认可，水质要经疾病预防控制中心检测并公示检测结果，但时下没有几个小区能做到这点。　　上海物业管理行业协会副秘书长王青兰坦言，“检测水样作为监督环节，在实际效果中有些形同虚设”。她表示，取样地点应来自于使用者家中，同时在清洗完成后的48小时内审核比较准确。然而，现在水样从何而来，送水过程有无“调包”，都存在漏洞，“肯定不排除物业公司在清洁过程中存在不正规的操作方式”。　　“有没有机构专门监督物业”　　“如果物业公司不能及时清洗水箱，有没有机构专门监督他们?”有上海市民提出这样的问题。　　记者查阅了1993年制定颁布的《上海市二次供水水箱清洗消毒要求》后发现，该要求对于水箱清洗工作中涉及的清洗消毒人员的资格、清洗程序以及水箱周边环境卫生、清洗药物和工具的保管等问题，都有十分细致和明确的规定。　　而根据1995年制定颁布的《上海市生活饮用水二次供水卫生管理办法》，对没有按照规定对水箱进行消毒和清洗的房屋管理单位，除责令其限期整改外，还可并处1000元以上10000元以下的罚款。然而，事实上，15年来，真正被处罚过的单位寥寥无几。　　据了解，目前上海中心城区的水箱数量大约是11.4万个，而眼下上海市对二次供水进行的监督检查，主要由各区县卫生监督所进行抽检，抽检量为几千个水箱，因此难以做到对所有小区每个水箱的全覆盖检查。现场监督抽检也主要是对消毒剂指标和浑浊度指标的检测，但二次供水的其他检查环节，包括水样送检在内，是依靠物业公司的自身运作来完成的。　　上海市卫生监督所相关工作人员表示，水箱的清洗消毒监管应该依靠社会各方面齐抓共管。目前，对闵行区的试点工作已经展开，对水箱清洗消毒的工作由区卫生局、房地局、自来水公司联合进行公示。此外，徐汇区也开始尝试聘请社区医院的预防和保健人员以及房地局人员做协管员，并请业委会派员加入到监管中。

p　　致远电子2001年成立，原本是一家从事嵌入式产品开发的公司。可在2012年开始决定进入测试测量仪器领域后，第一个功率分析仪产品，从定义到产品下线，只用了一年多的时间，随后，更是连续推出了示波器、逻辑分析仪、电子负载、CAN总线分析仪、以及ZST光伏逆变器检测仪等等测试仪器，逐渐在测试测量行业崭露头角。最近，电子工程专辑记者有机会采访了广州致远电子有限公司研发副总刘英斌，他见证了致远测试仪器的起步与发展。/pp style="text-align: center "img width="450" height="338" title="3.jpg" style="width: 450px height: 338px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201707/insimg/a76d6372-d292-4c5a-8a9e-a5857b27252f.jpg" border="0" vspace="0" hspace="0"//pp style="text-align: center "strong广州致远电子有限公司研发副总 刘英斌/strongp　　strong缘起/strong/pp　　一直以来，国产测试仪器都是给人一种高性价比，档次不高的印象。致远电子是做嵌入式产品开发的，在开发过程中需要用到不同的测试仪器，“我们会购买不同厂商的仪器，不论是国内厂商的，还是国外厂商的，但很多时候，我们觉得买到的仪器都不太合用。”刘英斌对电子工程专辑记者表示。/pp　　“以前，我们去买安捷伦的那些仪器，其中一个示波器花了5、6万元，附带的一个小推车就卖我们7、8千元，”他回忆说，“当时我们就觉得，高端测试仪器好像被国外厂商垄断了，我们是不是应该做点什么?”/pp　　同时，从致远电子购买的国内厂商生产的一些仪器来看，刘英斌认为国内厂商做产品不够用心，产品大都是能用，但并没有把性能完全发挥出来，在高端测试仪器里面基本没有话语权。/pp　　因此，他们开始决定进入测试测量行业，而且一开始就决定做客户想要的产品。/ppstrong　　行动/strong/pp　　致远电子最熟悉的莫过于工业领域，因为不管是他们的嵌入式产品、无线通信产品，还是CAN总线产品，基本上都是应用在工业市场。因此，他们从工业领域里常用的功率分析仪入手了。/pp　　刘英斌表示，“我们先安排了3到5个人去做市场调研，然后把功率分析仪的所有功能和需求细化出来。我们根据这些需求分析，哪些功能是我们现在就可以提供的，比如基础模块 哪些是跟设备相关的，需要重新开发的?”/pp　　他进一步解释称，基础模块就是指以太网、USB驱动、触摸屏、操作系统等所有产品都会用到的技术。跟设备相关的模块和技术，如果是功率分析仪的话，就是指1459算法以及其他的一些功率算法等等。/pp　　在明确了需求后，“我们会将基础模块部分安排到公司的嵌入式团队去处理，而跟设备相关的核心技术和产品应用相关的功能则由功率分析仪的团队负责开发。这个团队大概20人左右。”/pp　　由于致远电子在嵌入式领域有十多年的研发积累，也由于他们这种模块化的分工合作方式，“我们很快就推出了我们的功率分析仪产品。当时功率分析仪做得最好的就是横河和福禄克，他们占了大部分的市场，而现在，我们抢了国内大部分的市场，在功率分析仪市场我们起码占了1/3以上的市场，成为高端功率分析仪的国产厂家”刘英斌自豪地表示。/ppstrong　　突破/strong/pp　　当然，致远电子并没有在做出功率分析仪以后就止步了，他们随后，还开发出了电能质量分析仪、CAN总线分析仪，以及具有数据挖掘功能的示波器等等测试仪器。/pp　　谈起这些，刘英斌特意指出，他们做的测试仪器跟其他国产仪器有很大的不同，“我们主要针对工业市场，其他国内仪器厂商更多面向学校市场。”/pp　　他拿功率分析仪来说，“跟国外厂家比，我们更偏重硬件，我们是全硬件架构处理。”/pp　　功率分析仪和示波器、万用表的最大区别就是能同时分析电压和电流信号，从而实现对功率信号的分析，如果要实现对功率的准确分析，则必须准确测量电压和电流信号，并且需要同时实现对电压和电流信号的采样，电压和电流信号经过ADC数字化过程中每一个采样点都必须发生在同一时刻，否则就无法实现同步测量。/pp　　“为了实现严格的同步测量，在功率分析仪内部，我们的方法就是采用一个更高频率的同步时钟，比如高稳定性温度补偿的100MHz同步时钟，以避免温度变化带来的时钟漂移所引入的误差，严格保证ADC对各通道电压和电流的同步测量，减少了电压电流的相位误差的引入，从而保证了功率测量的精度。”刘英斌强调。/pp　　说到示波器方面的突破，他更是兴奋，“是德科技曾宣称其示波器是100万次刷新率，以前我们觉得这是一个不可逾越的门槛。后来，我们经过仔细分析，发现是德科技是自己开发了一个芯片来实现的，的确做的很快，但也带来了副作用，那就是示波器的存储容量受到芯片的固化，一般是2M，最多扩展到8M。”/pp　　他进一步阐述，“我们后来经过思考后，想到了另外一个办法来实现100万次的刷新率，那就是有FPGA加DSP的方式来实现。比如我们这台ZDS4054示波器，不仅具有100万次的刷新率，还拥有512M的大数据存储。这是因为我们采用了5个FPGA和1个DSP，我们所有的运算都是用FPGA的硬件来算的，而其他厂家更多的是通过DSP来进行运算，这样我们的仪器可以带给用户更好的使用体验。”/pp　　由于具有了100万次的高刷新率和512M的大数据存储，ZDS4054示波器可以实现“大数据捕获-异常捕获-测量-搜索与标注-分析-找到问题”这样全新的测试分析过程，开创了示波器在数据挖掘与分析新时代。/pp　　ZDS4054示波器支持51种参数测量，还支持30多种免费的协议解码。协议解码功能虽然很多测试测量仪器都有，但他们基本都是收费的。/pp　　当然，他承认这么用FPGA加DSP的架构成本会提高很多，但用户体验会好很多。/pp　　“其实客户最在意的是整体价格和硬指标，而我们的售价跟是德科技和泰克差不多，硬指标差不多或者更高，这样客户也能接受。”刘英斌谈到致远电子测试仪器的竞争力时表示。/ppstrong　　未来/strong/pp　　在刘英斌看来，国产仪器的未来一片光明，因为中国的市场很大，比如说国家在号召《中国制造2025》，如果要配合这个战略的话，会需要很多仪器。/pp　　不过他也指出，国产测试仪器厂商需要走向行业，做针对行业应用的仪器会更有市场。/pp　　他举例说，“以前功率分析仪只有横河和福禄克在做，但现在，除了我们，是德科技和泰克也开始做了。”这说明，他们也看到了这块市场的潜力。/pp　　他承认国内仪器厂商做产品会受到一些制约，比如说芯片，高端仪器需要的ADC芯片基本都是属于禁运范围。/pp　　“做测试仪器，最关键的还是创新，最好不要跟别人去比价格，拼BOM成本。”刘英斌指出。/pp　　对于创新，他的理解是给用户带来价值，解决用户的问题。“比如CAN分析仪，以前用示波器来测CAN总线，只是把CAN总线的高低电平测出来，然后分析。现在我们把眼图、反射特征等实用功能都整合进去，把好几个仪器的功能融合在一起，这样一个仪器就可以给客户提供一个完整的测试。最关键的是我们会把我们的经验，加上我们的一些测试手段，全部融合到我们的应用里面去，让客户很容易找到问题所在。”/pp　　他表示，未来致远电子会沿着时代的脉搏，推出对客户更有价值的测试产品。/pp /p/p