介电常数高频测试仪

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 25kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2% 频率范围 10MHz～60MHz 固有误差 ≤6％±满度值的2% 工作误差≤8％±满度值的2%电感测量范围 14.5nH～8.14H直接测量范围 1-460P 主电容调节范围 40～500pF 准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 信号源频率覆盖范围频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε'r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε'r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε'r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε'r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 使用平行板法测量介电常数 当使用阻抗测量仪器测量介电常数时，通常采用平行板法。平行板法在ASTM D150标准中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成一个电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，两个电极配备在夹持介电材料的测试夹具上。阻抗测量仪器将测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后由软件程序计算出介电常数和损耗角正切。 当简单地测量两个电极之间的介电材料时，在电极边缘会产生杂散电容或边缘电容，从而使得测得的介电材料电容值比实际值大。边缘电容会导致电流流经介电材料和边缘电容器，从而产生测量误差。 使用保护电极，可以消除边缘电容所导致的测量误差。保护电极会吸收边缘的电场，所以在电极之间测得的电容只是由流经介电材料的电流形成，这样便可以获得准确的测量结果。当结合使用主电极和保护电极时，主电极称为被保护电极。接触电极法 这种方法通过测量与被测材料（MUT）直接接触的电极的电容来推导出介电常数。 介电常数和损耗角正切通过以下公式 计算: 其中Cp: MUT的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介电常数 =8.854 x 10-12 [F/m] 接触电极法不需要制备任何材料，而且测量操作非常简单，因此得到zui广泛的使用。不过在用这种方法进行测量时，如果没有考虑到空气间隙及其影响，那么可能会产生严重的测量误差。 当电极直接接触 MUT 时，MUT 与电极之间会形成一个空气间隙。无论 MUT 两面组成得多么平坦和平行，都不可避免会产生空气间隙。这个空气间隙会导致测量结果出现误差，因为测量的电容实际上是介电材料与空气间隙串联结构的电容。 通过用薄膜电极接触介电材料的表面，可以减小空气间隙的影响。虽然需要进行额外的材料制备 (制作薄膜电极)，但可以实现zui准确的测量。 ※非接触电极法 非接触电极法从概念上来说融合了接触电极法的优势，并避免了其缺点。它不需要薄膜电极，但仍可解决空气间隙效应。根据在有 MUT 和没有 MUT 时获得的两个电容测量结果推导出介电常数。 理论上，电极间隙 (tg)应比 MUT的厚度 (tm) 略微小一点。换句话说，空气间隙(tg-tm) 应远远小于 MUT 的厚度(tm)。要想正确执行测量，必须满足这些要求。zui少要进行两次电容测量，以便使用测量结果计算介电常数。 平行板测量法的比较 方法： 接触电极 (不使用薄膜电极) 非接触电极 接触电极 (使用薄膜电极) 精度 低 中 高 适用的MUT 具有平滑表面的固体材料 具有平滑表面的固体材料 薄膜电极必须应用到表面 操作 1次测量 2次测量 1次测量 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 标签：介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 绝缘介电常数测试仪

仪器简介：日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。 AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔。技术参数：频率范围：1G~10GHz 同轴共振腔： 介电常数Epsilon：1~30，准确度：+/-1%， 介电损耗tangent delta：0.05~0.0001，准确度：+/-5%主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 日本AET 公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置 , 只需裁成小长条状即可量测精确的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值非常精准。 用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。

高频/音频介电常数测试仪高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。　　1．测试注意事项　　a．本仪器应水平安放；　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。　　2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）　　技术参数：　　1．Q值测量　　a．Q值测量范围：2～1023。　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。　　c．标称误差　　频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH　　3．电容测量：1~205　　主电容调节范围：18～220pF　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明　　4. 信号源频率覆盖范围　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。　　6．B-测试仪正常工作条件　　a. 环境温度：0℃～+40℃；　　b．相对湿度 lt 80％；　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz高频/音频介电常数测试仪特点；　　1、桥体内附电位定位机器及指零仪，外边接线很少；　　2、电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保障测量的稳定性；　　3、仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰；　　4、仪器内部电阻及电容元件经老化处理，使仪器技术性能稳定可靠；　　5、内附高压电源；　　6、内附标准电容，损耗低。高频/音频介电常数测试仪电容测试仪的特性：　　1、采用侧附式新型电磁线圈，测量时勿需拆卸真空泡。　　2、测量结果量化，可直接与相关行业标准接轨，准确判断被试品优劣。　　3、大屏幕液晶显示，全中文式菜单操作，操作直观、简单、方便。　　4、测量结果精度高，稳定性好。　　5、具有测量工作量小、快捷简便、性能稳定、测量准确、故障检出率高等特点。此外，它的电流测量单元还可兼作CVT、避雷器等电器设备的测量之用，具有一机多能的功能。高频/音频介电常数测试仪操作规程：　　1、须有专人负责保管、使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。　　2、每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。　　3、接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。　　4、测量试品前应先对试品进行高压试验，在电桥工作电压下无噪声、电离等现象出现，然后才能进行测试。　　5、对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。　　6、测试时操作人员必须思想集中，工作前做好准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。　　7、在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。高频/音频介电常数测试仪数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.000 3，数量级0.0002的介对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的晶度时，可采用试样上不加电的系统。对于相对电容率不都过10的管状试样，醉方便的电是用金属筋、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电 烧管上可采用烧熔金属电。电可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分氮周上。

高频/音频介电常数测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪* 我要求购：* 我的姓名：* 我的单位：* 我的电话：* 我的邮箱：我的地址：所属省份北京市天津市河北省山西省内蒙古自治区辽宁省吉林省黑龙江省上海市江苏省浙江省安徽省福建省江西省山东省河南省湖北省湖南省广东省广西壮族自治区海南省重庆市四川省贵州省云南省西藏自治区陕西省甘肃省青海省宁夏回族自治区新疆维吾尔自治区香港特别行政区澳门特别行政区台湾省其它所属城市所属地区* 信息有效期：10天20天一个月三个月半年 信息展示过期后将自动下线，如还需采购可重新发布信息具体要求：* 验证码： 看不清？

高频、工频介电常数测试仪《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。质损耗测试系统主要性能参数一览表 BH916测试装置 GDAT高频Q表平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz 、 频率指示误差3×10-5±1个字间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF 夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023 标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份 高频、工频介电常数测试仪 概述1-1电桥简介: BQS-37a型高压电桥也叫QS-37a是本公司推出的新一代高压电桥，主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数（ε）。符合GB1409及GB5654,其采用了西林电桥的经典线路，内附0-2500的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容线路。 1-2电桥的特点； l桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性 l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF 高频、工频介电常数测试仪 技术指标2-1测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 2-2电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)2-3工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。 I=ω V C 2-4辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）2-5指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格 电流灵敏度不低于2×10-9 A/格二次谐波 减不小于25dB三次谐波 减不小于50dB 高频、工频介电常数测试仪 电桥工作原理BQS-37a型高压电桥采用典型的西林电桥线路。C4桥臂在基本量程时，与R4桥臂并联，测量数值为正损耗因数。结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的辅助平衡，消除寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪器与内层屏蔽（S）组成。自动跟踪器由电子元器件组成。它在桥顶B处取一输入电压，通过放大后，在内屏蔽（S）产生一个与B电位相等的电压。当电桥在平衡时，A,B,S三点电位必然相等，从而达到自动跟踪的目的。本电桥在平衡过程中，辅桥采用自动电位跟踪，在主桥平衡过程的同时，辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态，用户只要对主桥平衡进行操作就能得到可靠的所需数据。同时也有效的抑制了电压波动对平衡所带来的影响。在指零部分，采用了指针式电表指示，视觉直观，分辨清楚，克服了以往振动式检流计的缺点 3-1 桥体的组成电桥各臂的组成一臂：由被测对象Cx组成Z1。二臂：由高压标准电容器Cn组成Z2。第三臂：由十进电阻器10×（1000＋100＋10＋1＋0.1）欧姆和滑线电阻（0-0.13）欧姆组成Z3。第四臂：由十进电容臂10×（0.1＋0.01＋0.001＋0.0001）uf和可变电容器100pF组成C4再与电组R4并联组成Z4。 3-2计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4 当R4=1K/πtgδ=0.1C4 我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。3-3 公式说明.频率对介质损耗正公式：本电桥额定的工作频率f=50Hz，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正：tg=f’tgδ / f式中：f 为额定工作频率（f=50Hz）f’ 为实际工作频率tgδ 电桥测得损耗值tgδ 为被测试品介质损耗角正切的实际值 高频、工频介电常数测试仪安全操作规程1. 本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。2. 每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。3. 接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。4. 测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。5. 对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。6. 测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。7. 在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。 高频、工频介电常数测试仪操作方法 5.1 测试前的准备工作①按图（3）所示，连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。②检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。③检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。④检查电桥的灵敏度开关是否已回另位。⑤检查试品的绝缘强度，应符合大于2U+1的标准。⑥对试品施加试验电压（按部标或国际所规定的专业标准进行）。 5.2 试品的测试①在不知道被测试品的大概容量及损耗时，可先施加少许的电压，找到粗平衡点后，再把工作电压升到所需的值，然后再寻找细平衡点。②在测量时，灵敏度开关是按从小到大的规律来调节的。③在测量时，R3开关时按从左至右的规律来调节的。④在测量时，C4开关时按从右至左的规律来调节的。⑤整个测量步絮：首先检查接线无误后，方可通电试验。第二升起试验电压，并调节灵敏度开关，使UA表头有明显的指示。此时表明电桥没有平衡。第三调节R3开关，顺序从左至右。这时通过观察表头来观察电桥的平衡状况。如表头已回另，可再加大灵敏度。应总保持能明显地观察到调节R3时，电桥的平衡状况。第四在某一点上用户会发现，调节R3已无法使表头再回到另位。这时可调节C4开关，顺序时从右至左，把表头指针调节到小位。第五用户在调节C4到某一点时又会发现无法将指针调回另位。这时又要去调节R3开关，调节的位数是上一次调节R3的后位，然后又会出现第四点时的问题，又必须要调节C4开关．．．就这样来回往复地调节R3和C4两组开关，直至灵敏度开关时，并指针回另（或指另仪指示到小）。表明电桥已达到平衡。 ⑥测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值。 高频、工频介电常数测试仪装置成套性1．BQS-37a型高压电桥 一台 2. 试验电极 一台3．使用说明书 一份4．电源线 一根5．测试线 两根

仪器简介：日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔，空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。开放式同轴共振腔适用于不同形状样品，包括薄膜样品的非破坏性测量，使用简易的逐步操作，内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测。技术参数：频率范围：800M~9.4GHz 同轴共振腔：Epsilon：1~15，准确度：+/-1%， tangent delta：0.1~0.001，准确度：+/-5%共有三种同轴共振腔，每个腔可测五个频点:TyPe A： 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz ；TyPe B: 1/3.1/5.2/7.3/9.4GHz ；主要特点：应用领域： 薄膜材料，半导体材料，电子材料（包括CCL和PCB），化学品，陶瓷材料，纳米材料，光电材料等。不仅可测试固体，而且可测试液体，粉末等。日本AET微波(高频)介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。

高频/音频介电常数介质损耗测试仪操作规程：　　1、本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。　　2、每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。　　3、接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。　　4、测量试品前应先对试品进行高压试验，在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试(若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做)。　　5、对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。　　6、测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。　　7、在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿,待检查排除故障后，再进行高压测量工作。高频/音频介电常数介质损耗测试仪使用方法　　高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。　　1．测试注意事项　　a．本仪器应水平安放；　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。　　2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）　　技术参数：　　1．Q值测量　　a．Q值测量范围：2～1023。　　b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。　　c．标称误差　　频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：　　固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%　　工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%　　2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH　　3．电容测量：1~205　　主电容调节范围：18～220pF　　准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%　　注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明　　4. 信号源频率覆盖范围　　频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,　　5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。　　6．B-测试仪正常工作条件　　a. 环境温度：0℃～+40℃；　　b．相对湿度 lt 80％；　　c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。高频/音频介电常数介质损耗测试仪四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法：　　一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：　　1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接 　　2、轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，(四片铜片每片间夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片)，将断针从铜片卡口座里取下即可 　　3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接 　　4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝 　　5、将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部。高频/音频介电常数介质损耗测试仪总有机碳分析仪的测定方式主要有三种类型。湿法氧化-非色散红外检测，该方式是在样品经过酸性过钾氧化之前经磷酸处理待测样品，去除无机碳后测定TOC的浓度。但湿法氧化对于含腐殖酸等高相对分子质量化合物的水体氧化不充分。紫外-湿法氧化-非色散红外检测，该方式是紫外氧化和湿法氧化两者的协同作用，针对紫外氧化法无法用于高含量TOC的复杂水体，两者的协同可以测量污染较重的水体。高温催化燃烧氧化-非色散红外检测，样品中有机碳在高温催化氧化条件下转化为二氧化碳后经非色散红外（NDIR）检测，因髙温燃烧相对彻底，适用于污染较重水体或是复杂水体，但需考虑样品的高盐分对于测定结果的影响问题。此外紫外氧化-非色散红外检测、电阻法、紫外吸收光谱、电导法等方式均因稳定性差或对颗粒状、高相对分子质量有机物氧化不完全而未能用于土壤学领域。将土壤、沉积物样品处理成为溶液样品时需要考虑一定粒度的漂浮物或可沉固体物质的处理问题。高频/音频介电常数介质损耗测试仪市面上常见的TOC分析仪都有两大基本功能：　　一，先将水中的总有机碳充分氧化，生成二氧化碳CO2；　　二，测试新产生的CO2.不同和型号的TOC分析仪的区别在于实现这两大基本功能的方法不同。　　常用的氧化技术有：燃烧氧化法、紫外线氧化法以及超临界氧化法；而对CO2的检测方法又分：非分散红外线检测，直接电导率检测以及选择性薄膜电导率检测。

ZJD系列高频介质损耗介电常数测试仪一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗直读功能有介质损耗系数精度万分之一介质损耗测试范围0.0001-1介电常数直读功能有介电常数精度千分之一介电常数测试范围0-1000LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm

满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法。 高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。 附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表 BH916测试装置 GDAT高频Q表 平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz、 间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字 夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500 测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF 夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023 标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份

冠测高频介电常数及介质损耗测试仪GCSTD--A/B主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

液体高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bd主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

固体绝缘高频介电常数测试仪GCSTD-A/Ba主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

中科微纳高频介电常数测试仪GCSTD-AB主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

新款高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bc主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

电瓷高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bf主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

复合材料高频介电常数测试仪GCSTD-A/Bh主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

GDAT高频介电常数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH?源频率覆盖范围AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。

结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。

高频液体介电常数测试仪GCSTD-FcGCSTD-F技术参数： 1、测试量程：两个量程：1~20和1~2002、准确率误差优于±2%，3、重复性和线性优于±0.2%4、外置圆柱形电极（探头）信号5、测量频率： 10kHz频率正弦波6、在量程1~20的范围内均方根振幅约为7伏特7、量程1~200时为0.7伏特 主要特点： 　　电极结构是开放的，容易清洗。它是由两个用316不锈钢制造的精密圆筒构成的。圆筒间距是通过六个尼龙螺丝固定的。如果电极初次用于低介电常数的烃类液体，我们推荐在丙酮或乙醇溶剂中搅动清洗电极，然后用清洁空气轻微干燥。任何残留在电极上的液体都会影响测量的准确性。如果用电极测量特殊组分液体，则清洗以前被干燥在筒壁上的任何可能的残液是非常重要的。去除这些残留物的最有效方法是将电极浸没在相应溶剂中用超声波清洗器清洗。因为电极材料是不锈钢，尼龙和特富龙，所以几乎可以用任何溶剂清洗。注意：电极不能被分解清洗！测量准确度完全依赖于电极几何空间的保持，拆解和重新组装将不可避免地引起其空间结构的变化

冠测仪器高频损耗介电常数测试仪GCSTD-AB.2主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

冠测仪器液体高频介电常数测试仪GCSTD-FI.2GCSTD-FI满足标准： GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法产品介绍：液体高低频介电常数测试仪通常包括一个测试腔、一个信号发生器和一个测量电极。测试腔用于容纳被测液体，信号发生器用于产生不同频率的电信号，测量电极用于测量液体在不同频率下的电容或电阻。产品应用：液体高低频介电常数测试仪是一种用于测量液体在不同频率下的介电常数的仪器。这种仪器通常用于研究液体的电学性质，如电导率、电容率等。技术参数： 1、测试量程：两个量程：1~20和1~2002、准确率误差优于±2%，3、重复性和线性优于±0.2%4、外置圆柱形电极（探头）信号5、测量频率： 10kHz频率正弦波6、在量程1~20的范围内均方根振幅约为7伏特7、量程1~200时为0.7伏特 主要特点： 　　电极结构是开放的，容易清洗。它是由两个用316不锈钢制造的精密圆筒构成的。圆筒间距是通过六个尼龙螺丝固定的。如果电极初次用于低介电常数的烃类液体，我们推荐在丙酮或乙醇溶剂中搅动清洗电极，然后用清洁空气轻微干燥。任何残留在电极上的液体都会影响测量的准确性。如果用电极测量特殊组分液体，则清洗以前被干燥在筒壁上的任何可能的残液是非常重要的。去除这些残留物的最有效方法是将电极浸没在相应溶剂中用超声波清洗器清洗。因为电极材料是不锈钢，尼龙和特富龙，所以几乎可以用任何溶剂清洗。注意：电极不能被分解清洗！测量准确度完全依赖于电极几何空间的保持，拆解和重新组装将不可避免地引起其空间结构的变化。北京冠测是集业设计、开发、销售于一体的技术性 企业，注于新型材料试验机的研制、材料检测技术的提高及材料试验方法的创新。公司仪器研发部拥有行业内高效的研发力量及技术团队，长期与高校实验室合作，并联合研发沿的测试技术，是对推动我公司在材料检测技术的提高和试验方法创新的重要技术保证力量。公司主要致力于材料电性能、力学性能、燃烧性能、热物理性能、磨擦性能及行业用仪器的研发与销售，能够为客户进行业的检测实验室建设提供全面解决方案公司具有完善的是售后服务体系，产品销售全国并出口，质优价廉，得到客户的一致认可

高频介电常数测试仪10K-70MHZ液体置换方法——当浸泡介质为一种液体，同时没有使用保护时，应平行板系统结构，以使得绝缘高电位板可以在两个平行低电位或接地板之间平行和等距离进行固定，其中接地板用试验池的相对内壁设计成容纳液体。该结构使得电极系统基本为自我屏蔽，但是通常要求双份试验样本。液体的精确温度测量必须作出规定（9,10）。试验池应为镀黄铜和金结构。高电位电极应可以移动来进行清洗。面必须接近为光学平面，同时尽可能平行。在≤1MHz频率下测量用合适液体池见试验方法D1531的图4所示。该试验池的尺寸变化是有必要的，以提供用于不同厚度或尺寸的薄板样本测试，但是这种变化应不能让充满标准液体的试验池电容降低到小于100pF.。在1~约50MHz频率下进行测量时，试验池尺寸必须大大地减小，同时导线必须尽可能短且直。当在50MHz频率下进行测量时，带液体的试验池电容应不超过30或40pF。受保护平行板电极优点是单个样本可以进行*准确地测量。另外液体电容率的先前知识不作要求，因此其可以直接测量得出（11）。如果试验池结构带一个测微计电极，厚度差异很大的样本可以进行*准确地测量，因为电极可以调节至某一只比样本厚度稍微大一点的间距。如果液体电容率接近样本电容率，样本厚度测定误差影响可以降至小。在测量极其薄的膜层时，使用一种接近匹配液体和一种微米试验池，则将允许获得很高的准确度。高频介电常数测试仪10K-70MHZ两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。8.4 液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。8.5 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5%+0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1%+0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2%+0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5%+0.1pF)，耗散因子达到±(2%+0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量精确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量精确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定精确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。高频介电常数测试仪10K-70MHZ测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。高频介电常数测试仪10K-70MHZ测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。10.1.3 液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。10.1.4 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染。高频介电常数测试仪10K-70MHZl 信号源: DDS数字合成信号，频率范围10KHZ-70MHZ；l 信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数；l Q值测量范围：1～1000；l Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；l 电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；l 电容直接测量范围：1pF～2.5uF；l 主电容调节范围：30～540pF；l 准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%； l 合格指示预置功能范围：5～1000；l 环境温度：0℃～+40℃；l 消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz；2) 测试夹具：S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：l 数显式微杆；l 平板电容器；l 极片尺寸： 38mm/50mm(二选一)；l 极片间距可调范围：≥15mm；l 夹具插头间距：25mm±0.01mm；l 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）；

一、 概述1.1产品特点　　介电常数介质损耗测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 介电常数介质损耗测试仪是北京中航鼎力仪器设备有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。测试仪主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。。介电常数及介质损耗测试仪的电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数介质损耗测试仪特有的谐振点频率自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、 结构特征与工作原理1、系统组成　　介电常数介质损耗测试仪由S916测试装置（夹具）、LJD-C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入LJD-C)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最jia解决方案。1. 基于串联谐振原理的《LJD-C高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，随之带来了频率、电容双扫描(LJD-C)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率100KHz-160MH，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 2、《AS916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。AS916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 3、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（AS916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组，共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家1主机LJD-C1台中航鼎力测试装置（夹具）AS9161台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书一．LJD-C（1）Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差频率范围 100kHz～10MHz；固有误差 ≤5％±满度值的2％；工作误差 ≤7％±满度值的2％；频率范围 10MHz～160MHz；固有误差 ≤6％±满度值的2％；工作误差 ≤8％±满度值的2％。（2）电感测量范围：4.5nH～140mH （3）电容测量：18~240pF项 目 直接测量范围 1～460pF 主电容调节范围 30～500pF准 确 度 150pF以下±1pF；150pF以上±1％（4）信号源频率覆盖范围项 目频率范围 100kHz～160MHz频率分段（虚拟） 0.1～0.999999MHz1～9.99999MHz10～99.9999MHz100～160MHz 频率指示误差 3×10-5±1个字（5）Q合格指示预置功能 预置范围：5～1000。（6）Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V， 50Hz±2.5Hz。二.AS916测试夹具平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围100KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围18-240pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)Q测试范围2～1023 四、标准电感电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率10.1μH±0.05μH2005pF20~7050MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3715MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.65MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.1MHz10（选配）50nH±5% 1505pF70-120 100MHz

高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A主要技术特性：1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mmD374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。高频阻抗分析仪介电常数测试仪HRJD-A边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。Ce=边缘现象或边缘电容，Cg=每个电极外表面的接地电容，CL=连接导线之间的电容，CLg=接地导线的电容，CLc=导线和电极之间的电容。只有要求的电容Cv是与外部环境无关，所有其它电容都在一定程度上取决于其它目标的接近度。有必要在两个可能的测量条件之间进行区分，以确定不期望电容的影响。当一个测量电极接地时，情况经常是这样的，所述的所有电容与要求的Cv并联，除了接地电极的接地电容及其导线之外。如果Cv放入一个试验箱之内，同时试验箱墙壁具有保护定位，连接到试验箱的导线也受到保护，则接地电容可以不再出现，此时在a-a'处的电容看起来只包括Cv和Ce。对于某一给定电极布置，当电介质为空气时，可以计算得出边缘电容Ce，同时该计算值具有适当的精度。当某一样本放置在电极之间时，边缘电容值可能发生变化，此时要求使用一个边缘电容修正值，该修正值可见表1给出的信息。在许多条件下，已经获得了经验性修正值，这些修正值见表1所示（表1适用于薄电极场合，例如箔片）。在日常工作中，当较佳精度不作要求时，很方便使用无屏蔽的两电极系统，同时进行适当的修正。因为面积（同时因此Cv）以直径平方级增大时，然而周长（同时因此Ce）随着直径线性增大时，由于忽略边缘修正导致的电容率百分比误差随着样本直径增大而减小。然而，为进行准确得测量，有必要使用受保护的电极。6.2 受保护电极——在受保护电极边缘的边缘现象和杂散电容实际上可通过增加一个按图7和图8所示的保护电极来消除。如果试验样本和保护电极越过受保护电极的延伸距离至少为2倍的样本厚度，同时保护间隙非常小，受保护区域的电场分布将与当真空为电介质时存在的分布相同，同时这两个静电容的比值为电容率。而且，激活电极之间的电场可以进行定义，真空电容也可以计算得出，其精度只受到尺寸已知的精度的限制。由于这个原因，受保护电极（三终端）方法将用于作为仲裁方法，除非另有协定。图8显示了一种完整受保护和屏蔽电极系统的图解。尽管保护通常被接地，所示布置允许接地或测量电极，或者没有电极能容纳被使用的特殊三终端测量系统。如果保护接地，或者连接到测量电路中的一个保护终端上，测量的电容为两个测量电极之间的静电容，无保护电极和导线的接地电容与要求的静电容进行并联连接。为消除该误差源，采用一个屏障连接到保护上来包围无保护电极，如图8所示。除了那些总是不方便或不实际的，且限制频率小于几兆赫兹的保护方法之外，已经设计出使用特殊电池和程序的技术，采用两终端测量，精度相当于受保护测量所获得的精度。此处所述方法包括屏蔽测微计电极（7.3.2）和液体置换方法（7.3.3）。6.3 样本几何形状——为测定某一材料的电容率和耗散因子，优选薄板样本。圆柱形样本也可以使用，但是通常具有较低的精度。电容率较大不确定度来源是样本尺寸测定，特别是样本厚度测定。因此，厚度应足够大以允许其测量值具有要求的精度。选择的厚度将取决于样本生产的方法和可能的点到点变化。对于1%精度，厚度为1.5mm(0.06in)通常是足够的，尽管对于较大的精度，要求使用一个较厚的样本。当使用箔片或刚性电极时，另一误差源是电极和样本之间的不可以避免的间隙。对于薄样本，电容率误差可大至25%。类似误差在耗散因子中也会产生，尽管当箔片电极涂覆了一种油脂时，两种误差不可能具有相同的大小。为在薄样本上获得较准确的测量值，使用液体置换方法（6.3.3）。该方法降低了或*消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定，测量时，在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量，厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖，同时如果已知材料密度，可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置，将没有困难测量电容为10pF，分辨率为1/1000的样本。如果将要测试一个低电容率的厚样本，则可能将需要直径大于等于100mm，以获得要求的电容精度。在测量较小值的耗散因子时，关键点是电极的串联电阻应不会有助于产生相当大的扩散因子，同时测量网络没有大电容的电阻应与样本进行并联连接。这些观点的靠前点是偏好厚样本；第二点建议大区域的薄样本。测微计电极方法（6.3.2）可用于消除串联电阻的影响。使用一个受保护样本固定架（图8）来将外部电容降至较低。

冠测仪器高频介电常数测试仪GCSTD-D2满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB／T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法ASTM D150／IEC 60250固体电绝缘材料的（恒久电介质）的交流损耗特性和介电常数的测试方法试验方法：接触法：适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料非接触法：适用于上下表面不平整、不光滑材料电极类型：固定电极-测量电极φ38mm／φ50mm（标配电极1套，标配为38mm）液体电极-液体容量15ml粉体电极-根据样品量可配专用电极试样类型：固体、液体、粉体、膏体／规则物或者不规则物性能特点：测试频率20H2～2MHz，10mHz步进测试电平10mV～5V，1mV步进基本准确度0.1％最高达200次／s的测量速度320x240点阵大型图形LCD显示五位读数分辨率可测量22种阻抗参数组合四种信号源输出阻抗10点列表扫描测试功能内部自带直流偏置源外置偏流源至40A（配置两台TH1776）（选件）电压或电流的自动电平调整（ALC）功能V、1测试信号电平监视功能图形扫描分析功能20组内部仪器设定可供储存／读取内建比较器，10档分选及计数功能多种通讯接口方便用户联机使用2m／4m测试电缆扩展（选件）中英文可选操作界面可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序测试材料：无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阳抗参数评估和性能分析。半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

液体高低频介电常数测试仪ZKSTD-FI满足标准： GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法产品介绍：液体高低频介电常数测试仪通常包括一个测试腔、一个信号发生器和一个测量电极。测试腔用于容纳被测液体，信号发生器用于产生不同频率的电信号，测量电极用于测量液体在不同频率下的电容或电阻。产品应用：液体高低频介电常数测试仪是一种用于测量液体在不同频率下的介电常数的仪器。这种仪器通常用于研究液体的电学性质，如电导率、电容率等。技术参数： 1、测试量程：两个量程：1~20和1~2002、准确率误差优于±2%，3、重复性和线性优于±0.2%4、外置圆柱形电极（探头）信号5、测量频率： 10kHz频率正弦波6、在量程1~20的范围内均方根振幅约为7伏特7、量程1~200时为0.7伏特 主要特点： 　　电极结构是开放的，容易清洗。它是由两个用316不锈钢制造的精密圆筒构成的。圆筒间距是通过六个尼龙螺丝固定的。如果电极初次用于低介电常数的烃类液体，我们推荐在丙酮或乙醇溶剂中搅动清洗电极，然后用清洁空气轻微干燥。任何残留在电极上的液体都会影响测量的准确性。如果用电极测量特殊组分液体，则清洗以前被干燥在筒壁上的任何可能的残液是非常重要的。去除这些残留物的最有效方法是将电极浸没在相应溶剂中用超声波清洗器清洗。因为电极材料是不锈钢，尼龙和特富龙，所以几乎可以用任何溶剂清洗。注意：电极不能被分解清洗！测量准确度完全依赖于电极几何空间的保持，拆解和重新组装将不可避免地引起其空间结构的变化。

玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。

高频介电常数介质损耗测试仪一、概述 LJD-C介质损耗及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。LJD-C介质损耗及介电常数测试仪是中航鼎力公司 研制的产品。它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达160MHz，信号源具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性，主电容调节用步进马达控制，频率和电容值可设置，电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示。在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明 4．信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz, 5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。 6．-B测试仪正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。 三、工作原理 1．“Q”的定义 LJD-C测试仪是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。 或 … … … … … … … … … … … (1) 图 一在图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时： 或 … … … … … … … … … … … … (2) 回路中电流 … … … … … … … … … … … … … … … … … (3)故电容两端的电压 … … … … … … … … … … … … … (4) 即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。 -B测试仪就是按上述原理设计的。 2．-B测试仪整机工作原理（见图二）图 二 LJD-C型测试仪的工作原理框图如图二所示。它以ATM128单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS数字直接合成信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU去进行数据处理。调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。 工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带、，都显示液晶屏上，如图三所示。图 三整个显示屏共分为四行 行：左边 信号源频率指示，共6位 右边 信号源虚拟频段指示（1-4）第二行：左边 调谐电容指示值，4位 右边 电感指示值，4位第三行：左边 Q值指示值 右边 Q值合格比较状态 第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示右边上部 Q值量程范围指示 右边下部 Q值调谐光带指示 四、结构特性 LJD-C测试仪采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图四面板示意图。 A．前面板各功能键说明： 四 LJD-C测试仪前面板和外形示意图1．工作频段选择/1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 工作频段选择/2按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值低一档量程选择（手动方式时有效）/3按键；先按12键后,再按此键，功能为数字键3。4．Q值高一档量程选择（手动方式时有效）/4按键；先按12键后,再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．谐振点电容搜索/6按键，按此键后，电容指示不断在变化、步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现D对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．数字键9，先按12键后有效。10．数字键0，先按12键后有效。11．小数点键, 先按12键后有效。12．复合键频率/电容按键， 次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键即可。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，要输入180.5P，输入1805，有效数后为0的，可以不输入0直接再按一下此键结束输入。13．频率调谐数码开关。14．电容调谐数码开关。15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱，AS28563A后边两个为电感接入端，前边两个为外接电容接入端。18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明 图 五 LJD-C测试仪后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V。2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。五、使用方法高频LJD-C测试仪是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使-B测试仪测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放。b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟。c．调节主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调。d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫。f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量(基本测量法) A．直接法 a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．选择适当的工作频段和工作频率； c．先调调谐电容器到谐振点，即LJD-C测试仪读数达 ，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值(Qt)，则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正： C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。B．变容法a．照直读法“a-d”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；b．调节主调电容数码开关，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数ΔC。 倘要得到精确结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为： C. 变频法a．按直读法“a-d”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0。b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf。这时回路的真实QT为： 考虑到线圈的分布电容时，线圈的有效Q值为： 变频法测量Q值一般表达式(未考虑分布电容)： 注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时-B测试仪读数，Q2是偏调后-B测试仪读数。3．高频线圈电感值的测量a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上，接触要良好；b．根据线圈大约电感值，按所需选一个合适的频率以保证能谐振；c．如要得到真实电感数(LT)，必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数，也可按以下公式计算求得： f被测电感小于1μH时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0”(QBG-3D L0=26nH)。4．高频线圈分布电容C0的测量A．倍频率法如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。将被测线圈按在“Lx”接线柱上，调调谐电容器到 电容数值，调讯号源频率到谐振，令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2(f2=n f1)，再调电容器度盘到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量(测量时微调电容到零)。 如取n=2，则为：C0=（C1－4C2）/ 3若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。 B．自然频率法(此法可获得较准确的结果) a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到 电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1； d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点； f．将被测线圈接在"Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些。 g．再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振； h．重复步骤“f”、“g”直到某一频率，被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：C0=C1 (f1／f2)2 注：测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。 5．电容器容量的测量 A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测量a．选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；b．将调谐电容器调到 值附近，令这个电容是C1，如未知电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的分辨率；c．调讯号源的频率，使测试回路谐振，令谐振器Q的读数为Q1；d．将被测电容接在“Cx”两端，调节调谐电容器，使测试电路再谐振，令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。被测电容的有效电容为 Cx= C1－C2电容器损耗角正切为 电容器的有效并联电阻为 C0为回路谐振电感的自身电容。B．大于调谐电容量的电容器用可替代法测量a. 取一只适当容量的标准电容量，其容量为C3，将它接在“Cx”接线柱上。b．按5A／a-c各测试步骤；c．取下标准电容器，将被测电容接到"Cx”接线柱，调节调谐电容器到谐振，此时主调电容量读数为C2，则Cx可由下式得到： Cx=C3+ C1－C26．Q合格范围预置功能使用Q合格范围预置功能特别适用于工厂需大批量测试某同一规格元件的Q值，当该元件Q值超过某一给定值或在一定范围内即为合格，这时液晶显示屏显示“OK”，仪器同时呜叫提醒，这样可减轻工人视力疲劳，同时大大加快了测试速度。Q合格范围预置的步骤（例150-170）：a．选择要求的测试频率；b．用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出呜叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”。 c．再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了。d．换上要测试的器件，微调谐振电容至谐振点，如果该器件的Q值在设定范围内（例150-170），Q合格指示“comp OK”，同时仪器发出呜叫。如果该器件的Q值设定超出该范围，Q合格指示“comp NO”，如需取消已设置的合格值，只要再按一下设置键即可。7．谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．主调电容调到约中间位上；c．按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“FSWEEP”，仪器就进入搜索状态。仪器从 工作频率一直搜索到 工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，显示屏左下部显示“CSWEEP”，仪器从最小电容一直搜索到 电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。LJD-C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／档)，在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快。当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度。当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。六、维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-2电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号，测试频率Q读数，电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-2电感组是供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频LJD-C测试仪是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。3．电感组 LKI-2电感组是供测试作辅助用的，它含有10个屏蔽罩屏蔽的电感。这些电感具有较高的Q值。各电感的电感量等数据如附表一。附表一 LKI-2电感组，LJD-C选配电感电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值10250mH±55015pF925mH±57010pF85mH±510010pF71mH±510014pF6250μH±51509pF550μH±515012pF410μH±51507pF32.5μH±51507pF20.5μH0.05μH2005pF10.1μH0.05μH1005pF配 七、产品的交收检验1．检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃ 相对湿度50％；b．供电电源：220V±10V 50Hz±1Hz；c．被检设备要预热30分钟以上。2．检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3．Q值指示检验a．检验设备：BQG-2标准线圈一套；b．把标准Q值线圈接入LJD-C测试仪电感接线柱上；c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．LJD-C测试仪的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条固有误差所规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源。 b．设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；图 六c．电容测试仪技术指标 测试范围：10-550pF、±5pF； 测试精度：10-550pF±0.1％、±5pF±0.05pF；d．调谐电容器刻度盘上指示值与电容测试仪指示值之间误差应符合二.3.条规定。5．频率指示误差检验a．设备连接如图七所示图 七b．从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端；c．频率计数器技术要求 测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6； 测量灵敏度：30mV；d．测试线要求：高频电缆$YV-50-3；e．-B测试仪频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4.条规定。附：贴片元件测试夹具使用方法当采用我公司生产的QBG-3D/3E及LJD-C测试仪及配上相应的贴片元件测试夹具时可对贴片电容及贴片电感进行电容量、电感量及Q值、tgδ值的测量，测量时只要将测试夹具接入相应的Lx或Cx接线柱内，然后按说明书中“3”高频线圈电感值的测量及“5”电容器电容量的测量方法进行测量。注意：因贴片元件尺寸较小，规格又不尽相同，因此放入夹具时应保持尽量居中并保证接触良好。在测量小电感时，为了测试值的正确性，测得的读数应减去仪器的测试回路的剩余电感值，QBG-3D约27nH，QBG-3E约26nH，LJD-C约7nH（包括测试夹具）。

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪：GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF，精准度150pF以上±1％ 150pF以下±1.5pF； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A： 频率范围10kHz～50MHz频率分段(虚拟)10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。Q表正常工作条件环境温度：0℃～+40℃； 相对湿度80％电源220V±22V，50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W；净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm：380×132×280 8．产品配置：a. 测试主机一台；b. 电感9只；c. 夹具一套 电感：线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz，50MHz233，2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料： 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司