界面红外反射吸收仪

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

仪器简介：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱技术参数：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱主要特点：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）是采用红外反射成像技术扫描系统，被广泛用于材料鉴定分析，也适用于油画，壁画，唐卡等艺术品修复及研究，文物保护，考古发掘研究。我们的用户：斯坦福大学，剑桥大学，牛津大学，伦敦苏富比拍卖行，伦敦大学学院，大英博物馆，英国国家美术馆，荷兰国立博物馆（Rijksmuseum），美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆，洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆，挪威国家博物馆，梵高美术馆，德国汉堡美术馆，纽约大学美术学院，法国Arcanes，等等Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射扫描成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部机械微动扫描光学机构和红外面阵列传感器，在900-1700um的红外光谱波段，生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。 Apollo红外反射成像仪的扫描系统可以用于研究艺术作品的各个方面。不仅可以研究作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以实现多个光谱波段下的图像采集分析，高达65000级灰度图像，可以轻松区分不同物质和材料。如果您想采集到用于细节分析，目标识别鉴定等应用高对比度和高分辨率的红外反射图像，Apollo（阿波罗）是适合您的红外反射扫描成像系统Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-25分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，适用于制备、改性和研究Langmuir膜。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)与标准槽体的尺寸相同，槽体中配备一个蓝宝石窗口，可通过波长大于200 nm的光线(适用于可见光或紫外光谱)，便于观察表界面的情况。该系列共有五款产品，对于某些尺寸的槽体，可配置带有玻璃窗口的倒置显微镜。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响3. 技术参数4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）.8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：4.2.1 联用或相关分析技术1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围生物膜及生物分子间的相互作用细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）构象变化及反应药物传输及行为有机及无机涂料具有光学、电学及结构特性的功能性材料新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等表面反应聚合反应免疫反应、酶-底物反应生物传感器、表面固定催化剂表面吸附和脱附表面活性剂及胶体配方科学胶体稳定性乳化、分散、泡沫稳定性薄膜的流变性扩张流变界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

缎带型Langmuir/LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。缎带型Langmuir/LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备。与常规型的L/LB膜分析仪相比，KSV NIMA L/LB缎带型膜分析仪可以提供更高的表面压力。使用缎带取代滑障，可以制备更规整的单分子层膜，同时更高的堆积密度，可以提供许多新的应用前景。缎带型Langmuir/LB膜分析仪主要有两款：缎带型Langmuir膜分析仪和缎带型LB膜分析仪。通过简单的更换槽体，任何KSV NIMA Langmuir或LB膜分析仪均可更换为缎带型膜分析仪，同理也可将缎带型膜分析仪更换为常规型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响缎带型Langmuir/LB膜分析仪几乎与常规型的膜分析仪的工作原理一致，唯一的区别是缎带型Langmuir/LB膜分析仪的压缩机理为缎带，而常规型的为滑障。缎带插入亚相中，将单分子层封闭起来，提供完美的膜限制空间。KSV NIMA缎带型膜分析仪的机理如下：图2 缎带型Langmuir/LB膜分析仪工作原理：1. 压缩； 2. 扩张3. 技术参数3.1 缎带式LB膜分析仪（KN 2005）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 总槽体表面积： 322 cm2 5. 最大扩展槽体表面积： 148.4 cm2 6. 最小压缩槽体表面积： 40.5 cm2 7. 滑障速度: 0.1-270 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. 总亚相容积：387 ml15. 测试槽（过吊带中线）亚相容积：226 ml16. 镀膜井尺寸：20 x56 x 65 mm（长 x 宽 x高）17. 最大基材尺寸：3 x 52 x63 mm或2英寸 18. 最大镀膜冲程： 80 mm19. 镀膜速度：0.1 – 108 mm/min20. 电源： 100...240 VAC21. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett/Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 对称缎带压缩为标准的均匀压缩方法。6. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

缎带型Langmuir/LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。缎带型Langmuir/LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备。与常规型的L/LB膜分析仪相比，KSV NIMA L/LB缎带型膜分析仪可以提供更高的表面压力。使用缎带取代滑障，可以制备更规整的单分子层膜，同时更高的堆积密度，可以提供许多新的应用前景。缎带型Langmuir/LB膜分析仪主要有两款：缎带型Langmuir膜分析仪和缎带型LB膜分析仪。通过简单的更换槽体，任何KSV NIMA Langmuir或LB膜分析仪均可更换为缎带型膜分析仪，同理也可将缎带型膜分析仪更换为常规型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响缎带型Langmuir/LB膜分析仪几乎与常规型的膜分析仪的工作原理一致，唯一的区别是缎带型Langmuir/LB膜分析仪的压缩机理为缎带，而常规型的为滑障。缎带插入亚相中，将单分子层封闭起来，提供完美的膜限制空间。KSV NIMA缎带型膜分析仪的机理如下：图2 缎带型Langmuir/LB膜分析仪工作原理：1. 压缩； 2. 扩张3. 技术参数3.1 缎带式Langmuir膜分析仪（KN 1007）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试4. 槽体表面积（扩展）： 148.4 cm25. 槽体表面积（压缩）： 40.5 cm26. 槽体内部尺寸：358 x 90 x 10 mm（长 x 宽 x高）7. 滑障速度: 0.1-270 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. Langmuir测试槽亚相容积：322 ml15. 电源： 100...240 VAC16. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett/Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 对称缎带压缩为标准的均匀压缩方法。6. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

由于镀金膜表面质地非常软，需在外层镀上保护膜以防刮防潮， 镀金外反射镜采用金膜表面镀二氧化硅，这种既能保护膜层又能保证金膜的性能。0.75μm-20μm波段反射率大于96%。

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

LS膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。LS（Langmuir-Schaefer）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，是LS膜的沉积领域应用最广泛的一款全球领先设备。LS膜分析仪基本组件与LB膜分析仪相同，但将原有垂直镀膜头更换为水平镀膜头组件，在所需的堆积密度下，镀膜头可以用来将Langmuir膜水平转移到固体基材上，Langmuir膜的密度，厚度及均匀性等性质将会保留，从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。常规的LS膜分析仪包含三种型号的槽体：小型、中型、大型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响LS膜沉积过程是将样品从单分子层中水平拉出（图2），通过反复沉积技术可制备多层LS膜，亲水性及疏水性样品均可在液相或气相中沉积为单分子层。图2 LS沉积过程示意图3. 技术参数3.1 小型LS膜分析仪（KN 2001）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 槽体表面积： 98 cm2 5. 槽体内部尺寸：195 x 50 x 4 mm（长 x 宽 x高）6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min7. 滑障速度精度: 0.1 mm/min8. 测量范围：0-150 mN/m9. 天平最大负荷: 1 g，可三维 10. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）11. 传感精度: 4 μN/m12. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒13. Langmuir测试槽亚相容积：39 ml14. Langmuir-Blodgett测试槽亚相容积：57 ml15. 镀膜井尺寸：20 x30 x 30 mm（长 x 宽 x高）16. 最大基材尺寸：3 x 26 x26 mm或1英寸 17. 最大镀膜冲程： 80 mm18. 镀膜速度：0.1 – 108 mm/min19. 电源： 100...240 VAC20. 频率： 50...60 Hz3.2 中型LS膜分析仪（KN 2002）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 槽体表面积： 273 cm2 5. 槽体内部尺寸：364 x 75 x 4 mm（长 x 宽 x高）6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min7. 滑障速度精度: 0.1 mm/min8. 测量范围：0-150 mN/m9. 天平最大负荷: 1 g10. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）11. 传感精度: 4 μN/m12. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒13. Langmuir测试槽亚相容积：109 ml14. Langmuir-Blodgett测试槽亚相容积：176 ml15. 镀膜井尺寸：20 x56 x 60 mm（长 x 宽 x高）16. 最大基材尺寸：3 x 52 x56 mm或2英寸 17. 最大镀膜冲程： 80 mm18. 镀膜速度：0.1 – 108 mm/min19. 电源： 100...240 VAC20. 频率： 50...60 Hz3.3 大型LS膜分析仪（KN 2003）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 槽体表面积： 841 cm2 5. 槽体内部尺寸：580 x 145 x 4 mm（长 x 宽 x高）6. 滑障速度: 0.1-270 mm/min7. 滑障速度精度: 0.1 mm/min8. 测量范围：0-150 mN/m9. 天平最大负荷: 1 g10. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）11. 传感精度: 4 μN/m12. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒13. Langmuir测试槽亚相容积：336 ml14. Langmuir-Blodgett测试槽亚相容积：578 ml15. 镀膜井尺寸：20 x110 x 110 mm（长 x 宽 x高）16. 最大基材尺寸：3 x 106 x106 mm或4英寸 17. 最大镀膜冲程： 80 mm18. 镀膜速度：0.1 – 108 mm/min19. 电源： 100...240 VAC20. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Schaefer槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 居中的镀膜井有利于单分子层LS沉积的均一性。8. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。9. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）构象变化及反应 药物传输及行为l 有机及无机涂料具有光学、电学及结构特性的功能性材料新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应聚合反应免疫反应、酶-底物反应生物传感器、表面固定催化剂表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体配方科学胶体稳定性乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性扩张流变界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围：200nm-400nm

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

交替型LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，是LB膜的沉积领域应用最广泛的一款全球领先设备。LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头，在所需的堆积密度下，镀膜头可以用来将Langmuir膜转移到固体基材上，镀膜井可以在Langmuir膜下为固体样品提供空间。将Langmuir膜转移到样品上，密度，厚度及均匀性等性质将会保留，从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。与其他有机薄膜沉积技术相比，LB沉积方法受功能性分子的分子结构限制影响很小，这意味着LB技术是唯一能够进行自下向上的一种组装方法。交替型LB膜分析仪为我公司LB膜分析仪系列中的一款特色产品。它可用于两种材料的交替层镀膜，包括两个槽体，两个表面压力传感器和两对滑障。该槽有两种尺寸，标准型和大型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响LB膜沉积过程是将样品从单分子层中垂直拉出（图2a），通过反复沉积技术可制备多层LB膜（图2b），亲水性及疏水性样品均可在液相或气相中沉积为单分子层。图2 (a). LB沉积过程示意图；(b). 多层单分子膜的制备交替型LB膜分析仪的镀膜过程如图3所示。当使用两个单分子层压缩沉积池和一个空白沉积池时，可实现交替镀膜，浸渍过程可在3个沉积池中选择任意路径多次循环（图3a）；在共同的亚相（浅蓝色）上方，有两种不同的单分子层（紫色和深蓝色）（图3b）；上臂将样品向下通过单分子膜，由下臂接住样品。沉积循环也可从亚相开始，进行第一层镀膜（图3c）；下臂可根据需要旋转到另一单分子层的沉积池或空白沉积池中，改变沉积池（图3d）；下臂提起样品，传递给上臂（样品从任意一侧通过两个单分子层中任意一个），进行第二层镀膜（图3e）。图3 (a). 交替沉积池构造示意；(b). 样品在在夹具上；(c). 第一层镀膜；(d). 改变沉积池；(e). 第二层镀膜3. 技术参数3.1 大型交替LB膜分析仪（KN2004）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试4. 槽体表面积： 930 cm2 (*2)5. 槽体内部尺寸：775 x 120 x 10 mm（长 x 宽 x高, *2）6. 温度范围：-10 oC – 60oC7. 滑障速度: 0.1-200 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. Langmuir-Blodgett测试槽亚相容积：6000 ml15. 镀膜井尺寸：半圆形,半径133mm, 深度128mm16. 最大基材尺寸：3 x 129 x114 mm或4英寸17. 镀膜速度：0.1 – 85 mm/min18. 电源： 100...240 VAC19. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。8. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。9. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

交替型LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，是LB膜的沉积领域应用最广泛的一款全球领先设备。LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头，在所需的堆积密度下，镀膜头可以用来将Langmuir膜转移到固体基材上，镀膜井可以在Langmuir膜下为固体样品提供空间。将Langmuir膜转移到样品上，密度，厚度及均匀性等性质将会保留，从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。与其他有机薄膜沉积技术相比，LB沉积方法受功能性分子的分子结构限制影响很小，这意味着LB技术是唯一能够进行自下向上的一种组装方法。交替型LB膜分析仪为我公司LB膜分析仪系列中的一款特色产品。它可用于两种材料的交替层镀膜，包括两个槽体，两个表面压力传感器和两对滑障。该槽有两种尺寸，标准型和大型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响LB膜沉积过程是将样品从单分子层中垂直拉出（图2a），通过反复沉积技术可制备多层LB膜（图2b），亲水性及疏水性样品均可在液相或气相中沉积为单分子层。图2 (a). LB沉积过程示意图；(b). 多层单分子膜的制备交替型LB膜分析仪的镀膜过程如图3所示。当使用两个单分子层压缩沉积池和一个空白沉积池时，可实现交替镀膜，浸渍过程可在3个沉积池中选择任意路径多次循环（图3a）；在共同的亚相（浅蓝色）上方，有两种不同的单分子层（紫色和深蓝色）（图3b）；上臂将样品向下通过单分子膜，由下臂接住样品。沉积循环也可从亚相开始，进行第一层镀膜（图3c）；下臂可根据需要旋转到另一单分子层的沉积池或空白沉积池中，改变沉积池（图3d）；下臂提起样品，传递给上臂（样品从任意一侧通过两个单分子层中任意一个），进行第二层镀膜（图3e）。图3 (a). 交替沉积池构造示意；(b). 样品在在夹具上；(c). 第一层镀膜；(d). 改变沉积池；(e). 第二层镀膜3. 技术参数3.1 常规交替型LB膜分析仪（KN2006）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 槽体表面积：587 cm2 (*2)5. 槽体内部尺寸：782 x 75 x 5 mm（长 x 宽 x高, *2）6. 滑障速度: 0.1-200 mm/min7. 滑障速度精度: 0.1 mm/min8. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）9. 天平最大负荷: 1 g10. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）11. 传感精度: 0.1μN/m12. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒13. Langmuir-Blodgett测试槽亚相容积：1400 ml14. 镀膜井尺寸：半圆形,半径75 mm, 深度74 mm 15. 最大基材尺寸：3 x 30 x 50 mm 16. 镀膜速度：0.1 – 85 mm/min17. 电源： 100...240 VAC18. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。8. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。9. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。仪器性能n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

仪器简介：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱技术参数：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱主要特点：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱

一,光纤耦合气体吸收池（H13C14N）远程光学气体传感器和校准器 1255-1351nm/1525-1565nm气体吸收池是一种精密滤波器，其吸收波长由特定的分子能级决定。H13C14N分子吸收光谱为国家标准机构所认可，将其作为C波段的主要波长参考(1530nm-1565nm)。 我们提供的H13C14N气体吸收池，是经过美国国家标准技术研究所（NIST）认证的可追溯性校准器。气体吸收池是硬密封的且使用寿命长，具有先进的光学设计和急低的干涉伪影。我们提供两种标准气压:100托和25托的气体吸收池，分别符合NIST的SRMs 2519和2519a标准。气体吸收池有两种标准尺寸——光程长度分别是5.5cm和16.5cm。通常，光程长度会影响吸收谱线深度的测量，而压力会改变吸收谱线的宽度。关于这款气体吸收池，如有需要，您可以订购全光纤耦合（单模光纤，带或不带连接器均可）气体吸收池，或在一端内置贴装InGaAs光电探测器。我们还提供各类定制气体吸收池，请联系我们提出您的具体要求。光纤耦合气体吸收池（H13C14N）远程光学气体传感器和校准器 C波段 ,光纤耦合气体吸收池（H13C14N）远程光学气体传感器和校准器 C波段技术参数产品特点密封 10年使用寿命楔形窗口和涂层光学器件，可将干扰伪影降至最低坚固的小型化封装(5.5cm光程长度) 可自定义气压成本低全C波段覆盖产品应用远程光学气体传感系统碰撞测试气体探测器可调激光校准OSA或可调滤波器校准波长/频率锁定规格气体管路:波长范围 nm1525 to 1565波长精度2 pm ± 0.2pm (拓展不确定性)吸收谱线深度3 dB3.2 (16.5cm 典型值)(R8 line)1.1 (5.5cm 典型值)谱线宽度 pm68 (100 Torr 典型值)(R8 line FWHM, 对数分度)16 (25 Torr 典型值)温度依存性 pm0.01/°C定制气压 (25 °C) Torr1 to 150 ± 10%碳同位素13 标准 (nat.同位素可选丰度)气体吸收池:元胞传输 %50 从光纤到光纤纹波 (P-P) dB0.1 P-P 任意2nm范围气体吸收池寿命 年10工作温度 °C+5 to +70存储温度 °C-40 to +80接头类型FCAPC, SCAPC, FCPC,SCPC, 无，PD (光电探测器)光电探测器:净响应度 A/W0.5电容 (0V) pF4 典型值并联电阻 MΩ51. 25 °C 规格如有更改，恕不另行通知2. 25托气体吸收池最精确线的拓展不确定性，具体见下页表格。3. 适用于分辨率优于线宽的仪器。使用分辨率低的仪器可能会低估吸收率。二 ,C波段波长校准器 C2H2乙炔气体吸收池 1510-1540nm二 ,C波段波长校准器 C2H2乙炔气体吸收池 1510-1540nm气体吸收池是一种精密滤波器，其吸收波长由特定的分子能级决定。乙炔的吸收光谱为国家标准机构所认可，将其作为1510~1540nm的主要波长参考。我们提供的乙炔气体吸收池，是经过美国国家标准技术研究所（NIST）认证的可追溯性校准器。气体吸收池是硬密封的且寿命长，具有先进的光学设计和急低的干涉伪影。我们提供20托、50托的标准压力气体吸收池（符合NIST的SRM2517A的标准），同时也提供光程长度5.5cm，路径外壳3cm的200托和400托气体吸收池。光程长度通常会影响吸收谱线深度的测量，而压力会改变吸收谱线的宽度。 关于这些气体吸收池，如有需要，您可以订购全光纤耦合（单模光纤，带或不带连接器均可）气体吸收池，或在一端内置贴装InGaAs光电探测器。我们还提供各类定制气体吸收池，请联系我们提出您的具体要求。C波段波长校准器 C2H2乙炔气体吸收池 1510-1540nm,C波段波长校准器 C2H2乙炔气体吸收池 1510-1540nm产品特点密封10年使用寿命楔形窗口和镀膜光学器件，可将干扰伪影降至最低最小的光纤耦合器 – 3cm光程长度可提供定制气压成本低覆盖S和C波段产品应用远程光学气体传感系统可调谐激光校准OSA或可调谐滤波器校准波长/频率锁定气体颠簸测试技术参数 规格规格气体管路:波长范围nm1510 to 1540波长精度2pm ± 0.3pm (扩展不确定度)吸收谱线深度3 (P9 line)dB8 (3cm 典型值)8 (5.5cm, 20 Torr 典型值)12 (5.5cm, 50 Torr 典型值)谱线宽度 (50%, 对数分度)pm40 (400 Torr 典型值)(P9 line)20 (200 Torr 典型值)7pm (50 Torr 典型值)5pm (20 Torr 典型值)温度依存性pm0.01/°C气体吸收池:元胞传输模型%50 从光纤到光纤纹波 (P-P)dB0.1 P-P 任意2nm范围气体吸收池寿命年10工作温度°C0 to +70存储温度°C-40 to +85接头类型FCPC, FCAPC, SCPC,SCAPC,光电探测器:无, PD (光电探测器)净响应度A/W0.5电容(0V)pF4（典型值）并联电阻MΩ51. 25 °C 规格如有更改，恕不另行通知2. 50托气体吸收池最精确线的拓展不确定性，具体见下页表格。3. 适用于分辨率优于线宽的仪器。使用分辨率低的仪器可能会低估吸收率。三 ,3m全光纤光纤耦合型气体吸收池 740-2400nm（低成本，免对准光路）三 ,3m全光纤光纤耦合型气体吸收池 740-2400nm（低成本，免对准光路）长光程气体吸收池应用于多种谱分析检测。主采具有优良学稳定性的赫里克 特气室（ 特气室（ Herriot Gas Cell），辅助与高稳定性的光学封装结构，主要由气室腔体、 凹面反射镜），辅助与高稳定性的光学封装结构，标准光纤接头、功率探气体进出口以及防震底座等组成。独te的悬浮路设计，具有优异的震动和温度稳定性，可以在各种复杂环境中工作非常适合气体线实时检测。具备超低系统噪声，可应用于痕量气体分析。COx 气体吸收池应用于CO、CO2 气体光谱分析检测。3m全光纤光纤耦合型气体吸收池 740-2400nm（低成本，免对准光路）,3m全光纤光纤耦合型气体吸收池 740-2400nm（低成本，免对准光路）产品特点● 光纤信号输入、光信号输出● 气室结构稳定抗震动，外部挤压对环境温度变化不敏感● 无源控制● 气室体积小、结构紧凑便于携带● 有效光程长，噪声小产品应用● 大气污染物监测● 燃煤烟气排放监控● 垃圾焚烧排放监控● 化工园区污染物监测通用参数吸收池参数：参数技术规格有效光程3m波长范围740-820nm/1300~1700nm/1900-2400nm透射率＞20%输入最大光功率500mW光纤类型长飞 易贝超qiang弯曲不敏感光纤输出类型长飞 易贝超qiang弯曲不敏感光纤反射镜介质膜耐压范围≤0.3MPa气体接口φ6 直通气体容积约为 10mL外型尺寸见图 1产品总重约为 450g壳体材质6061工作温度-20℃ ~ +70℃存储温度-40℃ ~ +85℃四 ,中空光纤式气体吸收池 (紫外到长波红外)四 ,中空光纤式气体吸收池 (紫外到长波红外)气体吸收池包括光学窗口、光纤端口和气体端口。通过其中两个模块，您可以将中空光纤转化为台式气体吸收池，用于吸收光谱或基准波长应用，只需更换不同路径长度的光纤即可。中空光纤式气体吸收池 (紫外到长波红外),中空光纤式气体吸收池 (紫外到长波红外)通用参数主要特征极其简单和稳固的对齐方式波长范围:紫外到长波红外光程长范围:0.1至5m低样品量: 10mL 体积小巧；灵活布局空芯光纤横切面组件楔形光学窗口(材料范围)FC-SMA光纤接口Swagelok式或倒钩式气体配件30mm网箱孔和固定螺钉光学工作台或外壳的安装孔 对齐相对较大的光纤直径(内径= 0.2–1.5mm)和单通道配置能够轻松获取“第一束光”。在某些情况下，您可以将光束准直并将激光器安装在一端，然后将探测器安置在另一端。 标准套件= 2个气块+ 1个中空光纤非光学零件不锈钢光纤涂层选项铝(紫外线)银色(可见光和近红外)碘化银(中红外) 多功能系统气体吸收池套件可以配合使用Guiding公司的一系列空心光纤波导。其中有不同的样品体积，路径长度和波长范围可供选择。变量 内径200 - 1500 µ m光程长0.1-5.0 m样本量0.01 - 9mL标准光纤波长范围(其他选项可根据要求提供)紫外:0.1-0.45 µ m可见光和近红外:0.4 - 1.1 µ m短波近红外:1.5-5 µ m中波红外: 3 -10 µ m中长波红外:5-12 µ m长波红外:8-16 µ m标准抗反射涂层楔形窗户(其他选项可根据要求提供)可见光-AR:0.35 - 0.7 µ m短波红外-AR: 1.65 - 3 µ m中波红外-AR: 3 - 5 µ m长波红外-AR: 7- 12 µ m 五 ,30米长光程气体吸收池 0.3-12um五 ,30米长光程气体吸收池 0.3-12um根据可调谐半导体激光吸收光谱技术(TDLAS),采用Herriott 池凹面反射镜构建成多反腔长光程气体池，反射镜片采用高质量的金、银和保护层镀膜，具有高的反射率。 以紧凑的设计提供了相对较长的吸收光路，高精细度的光学腔气体池整体都采用优质耐腐材质制造，根据检测形式可采用封闭式和开放式二种，用于各种气体浓度的检测分析。 可直接安装标准光源准直零件，不必外加反射镜、转接调节件来对光，使用特别方便。产品适用于工业产品应用开发、 高灵敏度气体分析、各大院校、科学研究、在线环境监测等。30米长光程气体吸收池 0.3-12um,30米长光程气体吸收池 0.3-12um产品特点● 采用凹面发射聚焦光路设计、镜面镀增透膜、和保护膜、 防震安装底座，具有光路稳定、直接接入准直光源，使用简便。● 配置气池温度和压力显示功能，便于控制气池温度和压 力，操作安全。● 采用不锈钢、优质铝合金氧化处理、石英玻璃材质制造， 配有 O 型密封圈，具有很好的密封性和实时观察；配备标准气体接头，方便各种场合使用。产品应用● 工业环境中的监测任务● 科学研究中的红外吸收光谱● 工业在线监测技术参数HT-30L 技术参数 有效光程30 米光束直径≤3mm镜面镀层镀金和保护膜波长范围0.3 - 12um气池容积0.6L(一个标准大气压)工作气压-100KPa 100KPa窗口材料CaF2气体接头φ6 快接头外形尺寸0.36X0.14X0.13(M)备注：气体池需安放在稳定的工作台，在前端面电源光纤接入FC/APC 接口，开启入射电源，光束在池内反射镜之间多次发射，从后端面出光孔射出。警告： 1.请勿拆卸气体密封件和出入光的固定零部件。2.眼睛不可直视出光孔。六, 3或15米长光程气体吸收池 750-3000nm根据可调谐半导体激光吸收光谱技术(TDLAS),采用Herriott池凹面反射镜构建成多反腔长光程气体池，反射镜片采用镀高质量的金、银和保护层镀膜，具有高的反射率。以紧凑的设计提供了相对较长的吸收光路，高精细度的光学腔气体池整体都采用优质耐腐材质制造，适用于工业产品应用开发、高灵敏度气体分析、各大院校、科学研究、在线环境监测等。可直接安装标准光源准直器，接口M11X0.5螺纹。不必外加反射镜、转接调节件来对光，使用特别方便。15米长光程气体吸收池 750-3000nm,15米长光程气体吸收池 750-3000nm产品特点● 气室结构超稳定，抗振能力强● 体积小，结构紧凑，携带方便。● 15米长光程有效光路。● 输入和输出与标准单模光纤耦合产品应用● 工业环境中的监测任务● 科学研究中的红外吸收光谱● 工业在线监测技术参数有效光程15米光束直径≤3.5mm镜面镀层镀金/银和保护膜波长范围750--3000nm气池容积0.8L(一个标准大气压)工作气压-100KPa-----100KPa窗口材料CaF2气体接头φ6 快接头外形尺寸0.34X0.10X0.12(M)产品接入操作：1、接入气体压力表12V直流电源；七,5米长光程小型化Mini中红外光纤气体吸收池 3-12um（HC-5-MIR）七,5米长光程小型化Mini中红外光纤气体吸收池 3-12um（HC-5-MIR）HC-5-MIR 5米长光程气体吸收池可应用于光谱分析检测，坚固，紧凑的气室采用了中空光纤盘绕，其排列非常简单。在中空纤维中，探测光束和分析物重叠，从而实现了灵敏的激光吸收光谱，并以最小的样品量进行痕量气体和同位素分析。5米长光程小型化Mini中红外光纤气体吸收池 3-12um（HC-5-MIR）,5米长光程小型化Mini中红外光纤气体吸收池 3-12um（HC-5-MIR）产品特点● 低样品量：10 mL● 敏感性分析：1 picomole● 中等路径长度：例如5、10 m● 紧凑的尺寸● 简单而强大的对齐方式● 各种波长范围，包括整个中红外范围组成部分：内涂反射涂层的中空光纤AR涂层，楔形光学窗Barbed or Swagelok型气体接口兼容30 mm笼式安装系统带有车载显示器的集成压力传感器（光纤两端的传感器）产品应用● TDLAS 测量系统● 超高精度气体检测仪表通用参数气室参数波长范围3 - 12 µ m内孔直径1.5 mm路径长度5 m取样容积9 mL光通量 5 %输出发散角度30 mRad工作压力0.001 - 1.0 Atm压力传感器精度0.01 Atm接触液体的部件不锈钢碘化银可选变量内孔直径200 - 1500 µ m路径长度0.3–5.0 m取样容积0.03 - 9 mL有一系列的窗口选项可供选择，包括楔形涂层和/或AR涂层Silica: 0.35 - 0.7 µ mBaF2: 0.2 - 11 µ mZnSe: 2 - 13 µ m八 ,中红外5米光程简波宽带气室 2-12um八 ,中红外5米光程简波宽带气室 2-12umLD-PD简波宽带气室主要针对红外傅里叶等光谱技术应用。气室结构采用简波气室结构，探测光为中远红外非相干光源，针对高温和耐腐蚀需要，以方便被测气体的测量，开发了主体和光学组件均采用经过防腐蚀处理的特殊金属材料，可以在湿热腐蚀气体条件下长期稳定可靠工作，对包括SO2,NOX，VOCS,NH3,O2,CO,CO2,HCL,H2O等主要气体成分做精确的测量和分析，在包括主要大气污染物监测，燃烧煤烟气排放监控，垃圾焚烧排放监控，化工园区污染物监测以及工业在线控制等领域有广泛应用前景。中红外5米光程简波宽带气室 2-12um,中红外5米光程简波宽带气室 2-12um产品特点● 简波气室结构，稳定，可靠● 光程为5m，长光程，低噪声● 产品输入光束的设计大小为φ9mm，● 发散半角为6.54°，拉赫不变量为 1.07radmm产品应用● 中红外TDLAS气体测量系统● 对大气痕量气体检测● 垃圾焚烧排放监控● 化工厂污染物排放检测技术参数中红外5米光程简波宽带气室产品参数参数技术规格有效光程5.2m气体容积约为1.3L外型尺寸123mm×109mm×177mm气体接口NPT 1/8管螺纹插损≤5dB输入最大光功率500mW可承受最高温度200℃---长时，250℃---瞬时玻窗BaF2产品总重约为2150g九,10米光程中红外小型化气室 1960-2400nm九,10米光程中红外小型化气室 1960-2400nm10米光进电出气体吸收池应用于多种气体光谱分析检测。气室的光路结构使用自主Zhuan利设计、具有优良光学稳定性的扁波气室（SlimBoss Gas Cell），辅助与高稳定性的光学封装结构，主要由气体腔体、反射镜、标准光纤接头、气体进出口以及防震底座等组成。独te的悬浮光路设计，具有优异的震动和温度稳定性，可以在各种复杂的环境中稳定工作，非常适合各种气体在线实时检测。具备低系统噪声，可应用于痕量气体分析。10米光程中红外小型化气室 1960-2400nm,10米光程中红外小型化气室 1960-2400nm产品特点● 气室结构稳定抗震动，抗外部挤压● 气室体积小、结构紧凑、便于携带● 有效光程长● 输入均采用标准单模光纤，输出采用ＰＤ或者光纤形式● 工业在线控制产品应用● 大气污染物监测● 燃煤烟气排放监控● 垃圾焚烧排放监控● 化工园区污染物监测技术参数参数技术规格有效光程10m波长范围1960-2400nm插入损耗≤2dB输入最大光功率2mW光纤类型nufern SM1950光纤输出类型PD反射镜介质膜耐压范围≤0.3MPa气体接口Φ6直通气体容积约为69mL产品总重约为450g壳体材质6061工作温度-20℃-70℃存储温度-40℃-85℃PD参数参数符号Min典型值Max单位储存温度Tstg-50-+ 125°C工作温度Top-402585°CPD反偏电压VR--1V焊接温度Tsold/t260/10--°C/s波长范围λp900-2600nm光敏面Φ0.3mm响应度Re=λp1--A/W暗电流ID(TC=+25°C/VR=0.5V)0.4-4uA电容CJ(VR=1V，f=1MHz)-50100pF十 ,40米长光程气体吸收池 1300-1700nm十 ,40米长光程气体吸收池 1300-1700nm筱晓光子的40米长光程气体吸收池采用全光纤结构设计。光纤输入和光纤输出单元用于各种气体的光谱分析和检测。气体吸收池的光学结构采用自主Zhuan利设计，具有优异的光学稳定性、辅助性和高稳定性的光学封装结构，主要由气体腔、反射镜、标准光纤连接器、气体进出口、防震座等组成。独te的悬浮光路设计，具有优异的振动和温度稳定性，能在多种复杂环境中稳定工作，非常适合各种气体的在线实时检测。系统噪声低，可用于痕量气体分析。40米长光程气体吸收池 1300-1700nm,40米长光程气体吸收池 1300-1700nm产品特点● 气室结构超稳定，抗振能力强● 体积小，结构紧凑，携带方便。● 40米长光程有效光路。● 输入和输出与标准单模光纤耦合产品应用● 工业环境中的监测任务● 科学研究中的红外吸收光谱● 工业在线监测技术参数技术参数技术参数单位指标工作波长nm1300~1700有效光程m40光纤特性锥形弯曲不敏感连接头FC/APC材质SUS304镀膜镜片HR介质膜气体进出孔NPT1/8插入损耗＜3dB@1550nm反向击穿压力＜0.35MPa重量1.7Kg尺寸89x304x49mm容量450ml操作功率1W锥形弯曲不敏感光纤标称特性和公差参数指标截止波长920nm最大衰减2.1dB/km包层直径125um涂层直径250um芯包层同心度≤0.5um模场直径9.5um1Turnx15mm Diameter@1550nm＜0.5dB1Turnx15mm Diameter@1625nm＜1.0dB1Turnx20mm Diameter@1550nm＜0.1dB1Turnx20mm Diameter@1625nm＜0.2dB1Turnx30mm Diameter@1550nm＜0.03dB1Turnx30mm Diameter@1625nm＜0.1dB绝对最大值参数参数单位最小值典型值最大值气室温度℃-2025﹢85轴向拉力N--5N侧拉力N--2.5N光纤弯曲半径mm16工作温度℃-40+85十一, 氧气20米长光程气体紧凑型吸收池（700-800nm）十一, 氧气20米长光程气体紧凑型吸收池（700-800nm）氧气气体长光程气体吸收池应用于氧气气体的光谱分析和检测。主体采用具有优良光学稳定性的赫里克特气室（ Herriot Gas Cell），辅助与高稳定性的光学封装结构，主要由气室腔体、 凹面反射镜，标准光纤接头、光探测器，气体进出口以及防震底座等组成。独te的悬浮路设计，具有优异的震动和温度稳定性，可以在各种复杂环境中工作，非常适合气体线实时检测。具备超低系统噪声，可应用于痕量气体分析。氧气20米长光程气体紧凑型吸收池（700-800nm）,氧气20米长光程气体紧凑型吸收池（700-800nm）产品特点● 光纤信号输入、光探测器电信号输出● 气室结构稳定抗震动，外部挤压，对环境温度变化不敏感● 光纤准直器和探测器直接集成在气室中，无需光路调节，操作简单● 气室体积小、结构紧凑便于携带● 有效光程长，噪声小产品应用● 超高精度气体检测仪表● TDLAS抽取式分析技术参数参数技术规格有效光程20米气体容积571ml波长范围700-800nm镜片镀层AR 介质膜（99.8%)光学接口FC/APC气体接口Φ6快速插头插入损耗≤3dB@760nm 22℃输入最大光功率500mW@760nm工作温度-10℃-﹢85℃外形尺寸339mm*89mm*104mm产品总重2700g存储温度-40℃-﹢85℃耐压0.7MPa内置光电探测器参数参数符号条件指标单位截止频率FcVR=10V25MHz反向电压Vr-≤20V响应度S750nm 22℃0.5A/W暗电流IDTc=22℃，VR=10V≤2nA结电容CtVR=10V,f=1MHz3pF使用方法：与我们的电压转换模块配套使用，连接如下：

原位红外反应系统是利用傅里叶变换红外光谱仪对催化剂或物料在多环境下的性能进行原位评价的设备，对催化剂/物料在多种条件下性能进行原位评价的仪器。可方便地跟踪鉴定反应中间态和产物，从而为催化反应体系反应机理的考察给出直接的证据。原位红外漫反射主要用于气固相催化的表征和催化反应的研究，如催化剂表面羟基的鉴别、催化剂表面物种吸附态研究、催化剂表面酸碱性的表征。该反应系统可应用于真空到高压环境，温度高达500°C（真空下），是研究多相催化、气固相互作用、光化学反应和氧化机理等方向的理想选择。目前已应用于光催化降解气相有机物、热催化（CO+H2、CO2+H2）等领域的气固界面反应的红外光谱研究。 产品参数：池体主要采用316L不锈钢材质，最高耐温500℃，耐压3Mpa；/ 哈氏合金材质，最高耐温800℃，耐腐蚀；反应池可以配备高精度触摸屏温控仪进行精确控温和加热，同时利用冷却循环装置对反应池外部进行降温；反应池腔帽有三个窗口，其中两个为红外窗口，另一个为石英窗口，用于引入外部光源（光催化激发光源）或作为观察窗口使用；提供三个入口/出口，用于抽空池体和引入气体,可在反应池中形成VOCs、CO2等反应气,反应尾气先通入安全瓶再经特定溶液吸收后排 至室外,各路气体均通过质量流量计来控制流量,反应气路操作界面方便友好，易于操作；可定制各类光学窗口，可选配高温拉曼池盖。详情可登录合肥原位科技有限公司网站。

GW-1050赫里奥特长光程气体池是采用Herriott 光路结构设计而成，不同于White结构，它更适用于光程更长的激光光源场合。光进入气体池后会经过多次的反射才被射出，一般延长了几倍或者几十倍的光路，光程一般在2米以上，光程长度为物理长度的几倍或几十倍。可应用于烟气分析、工业过程气体检测等领域。可选配温度控制系统以及压力检测传感器。测量范围 6-16米可选技术原理 近中红外波段应用领域 光谱分析、气体检测、气体实验产品特性1、产品设计专业性：敢为有专业的光学工程师以及实验室，每个产品都精心设计。可靠性：长达时间的气体池设计经验，国内遥遥领先。稳定性：累计为超过100家科研院所以及企业定制产品，行业应用数不胜数。2、加工工艺光学冷加工：精密光学加工，精确测量光学镀膜：金属膜、介质膜全覆盖腔体加工：第五代CNC一体式加工工艺腔体表面处理：阳极氧化、多彩电镀、特氟龙等可选组装调试：可见光预调、高低温老化、目标光精调、整机测试。3、随心选配多种接口：不锈钢卡套、快拧、自锁式快插等多接口可选。 多种窗片：JGS1、JGS2、GaF2、BaF2、ZnSe、Krs-5......多种材料：A型整体特种铝合金/B型铝合金+石英腔体/C型奥氏体不锈钢整体技术指标系列GW-1050系列产品型号GW-1050A-XXM使用波段 红外：700nm-10um光程长6812 16定制外形尺寸519*75*88mm内腔尺寸 Φ56*298容积655ml进出气口尺寸Φ6卡套进出光孔接头FC/APC或空间光温度传感器（选配）PT100（Φ4*30mm）压力传感器（选配）扩散硅压力传感器（G1/8G管螺纹）窗口透射镜片默认GaF2耐压0.15MPa耐温≤60℃腔体材料特种铝合金+石英可选配件三维调整架+光纤准直器 注：1，XX代表光程长度，单位默认为cm；2，无特殊说明，尺寸误差在±0.5mm；3，尺寸标注默认为：长*宽*高（cm）或直径*长（mm）4，以上仅为常规型号尺寸，定制或不同型号产品以实物为准。 技术原理1-技术原理气体池是专为气体检测而设计的光学器皿装置，气体检测的原理遵照朗伯--比尔(Lambert-Beer)吸收定律。光源发出的红外光窗片进入气室，光分别穿透气体池后由探测器接收。通过对信号进行分析，可以得出气体中相关组分的浓度。2-光路示意多次反射型气体池，光程一般比较长，光程长度为物理长度的几倍或几十倍。光经过气体池入光口射入，穿透窗片进入气体池，与气体内部的多组镜片进行多次词折返，同时与气体池的气体发生多次吸收反应后经过窗片从出光口射出。3-机械结构 敢为科技的所有产品均是基于产品化思路而开发的，所以机械结构的设计原则首先是结构稳定可靠、安装精密标准、维护简单方便4-尺寸示意注：该尺寸图仅为该系列一种型号的示意图，具体产品详询业务经理或者技术人员。5-温压控制温度控制：可选配气体池专用温度控制系统：包含加热装置、温度传感器、温度控制器。压力检测：可选配气体池专用数显输出二合一的压力传感器。 应用场景GW-1050赫里奥特长光程气体池，体积小巧，设计精密。可应用于波长标定、傅里叶光谱仪检测、激光分析等实验领域。

红外吸收光谱仪AIM-8800显微镜系统化学有机物分析仪商品描述AIM-8800 红外显微镜系统 自动化的红外显微镜可方便的控制样品台移动，光圈设置以及聚焦，所有操作都可通过电脑软件完成，同时它支持显微透射、显微反射和显微ATR测量模式，这大大扩展了AIM-8800的应用领域，在仪器设计时不但精心考虑到了测量微小样品时还能获得高的灵敏度，同时考虑到了易用性和操作的简单化。AIM-8800红外显微镜代表了新一代红外显微镜的设计理念。 通过AIM View实现对红外显微镜的全面控制自动光阑—根据样品大小最大程度的利用红外能量光阑为电机控制，其大小和角度可利用鼠标操作，进行自由设定。只需在样品目标区域上拖拽光阑框，即可对光阑进行设定，并在之后的测量中自动记忆，保持不变。自动X-Y样品台—简化样品精确定位多达10个样品位置和2个背景位置可自动置于储存空间中，样品台可以小到1µ m的步长进行精确移动，以实现高质量mapping成像。自动聚焦—仅需点一下鼠标再也不用进行费时费力的手动样品聚焦调节了，仅仅轻松的点一下鼠标，就能自动实现对样品的良好聚焦。自动定中心—观察寻找样品，再也简单不过了！在可见的观察屏幕界面的任何位置双击，可将该位置点自动移动到视野中央。备注：AIM View是控制岛津AIM-8800红外显微镜的软件的注册商标) 高灵敏度，免维护MCT检测器高灵敏度---当然！！AIM-8800可以在最苛刻的真实红外显微实验条件下得到的良好质量的光谱数据。而且，使用了带玻璃杜瓦瓶的高灵敏度MCT探测器，可不必进行每一到两年的重新抽真空（使用金属杜瓦瓶的MCT探测器为保持性能，往往会有此要求） 准确货期&价格请与客服咨询为准！谢谢！

适用范围用途：用于环境空气质量中甲烷的连续监测，也可以用于甲烷气体衡量，微量分析。适用场合：主要应用于低浓度烟气排防放，垃圾焚烧，电厂，钢厂等场合的环境空气监测。仪器原理仪器采用气体相关红外吸收法。基本工作原理为：CH4对特定波长的红外辐射有吸收特性，其吸收强弱与CH4浓度呈现一定关系。检测方法为：来自红外光源的红外线依次通过旋转轮中的CH4与N2滤波器，然后经窄带干扰滤光片进入光室。通过滤光中的CH4滤光器红外线被吸收，不能在光室中再吸收样气中的 CH4而形成参比光强，通过滤光轮中N2滤光器，红外线不被吸收而照在光室的样气上，样气中CH4吸收红外辐射，形成测量光强穿过光室照在红外检测器上。通过两者的光强比，利用朗伯-比尔定律计算出样气中CH4的浓度。仪器特点●采用7寸全触摸彩屏，监测值可在mg/m3,ug/m3,nmol/mol,umol/mol,ppm,ppb间任意切换。●中文菜单式操作界面，操作简单。● 具有自动量程转换功能。●监测值可图形显示，图形曲线自由缩放。●具有温度压力自动补偿功能。●采用自适应优化算法，使响应时间和信噪比达到最最佳。●支持远程校准，远程诊断内部工作参数。●海量历史数据储存，一年有效数据，查询与输出功能（每5min一条）。●具有各种参数报警功能。●特殊工艺制作的相关轮，可长期使用。

本系统可以测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、镀膜等）、和各种材料（溶液、玻璃等）等吸收、透射和反射光谱。系统型号系统特点7-TRASpec I扫描型7-TRASpec MMini 摄谱型技术指标光谱范围：200-2500nm (可根据实际需要选择）光电源电流漂移： 0.04%/h波长准确度：± 0.2nm光谱分辨率：0.1nm光谱带宽：0.2-10nm 可调系统特点用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器或CCD模块化设计，结构灵活，方便升级