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快速扫描纳米红外仪

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快速扫描纳米红外仪相关的耗材

  • 超高分辨TERS针尖增强拉曼探针/Nano IR纳米红外探针
    NEXT-TIP SL公司成立于2012年,是西班牙研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针增强拉曼探针和纳米红外探针,基于纳米粒子沉积技术,形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层,具有超高的横向分辨率,大大提高了使用寿命。TERS针增强拉曼探针Next-Tip TERS 探针的出色性能与其形态特征有关。这些探头的设计经过开发,具有优异的 AFM 性能和超强的拉曼信号。突破针增强拉曼探针的限制:&bull 高可靠性,使用户能够专注于样品的表征。&bull 高达3 nm的超高分辨率&bull 超高灵敏度,可获得完全清晰/稳定的光谱,质量优于传统TERS。增强因子和对比度增强系数 (EF) 值是根据探针针的增强电场来量化拉曼信号的增强的参数。这个参数基于对比度值。对比度值根据在同一点的近场和远场扫描收集的实验数据计算。金TERS探针保证对比度高于20,银TERS探针保证对比度高于40,使得Next-Tip TERS 探针的增强系数高达105 -106。寿命银镀层的TERS探针由另一层金纳米粒子保护,以避免氧化和污染,保持等离激元的效应。致密的金纳米颗粒涂层提升了金属层厚度,大大提高了探针的耐用性。此外,纳米颗粒沿探针表面形成的不规则结构延长了其测量的寿命。性能可控的涂层沉积过程可实现坚固探头的高可重复性和高分辨率。此外,这种涂层工艺可以在针的点放置一个或两个纳米颗粒,实现超高空间分辨率。测量显示 AFM 分辨率小于5 nm,TERS 分辨率小于10 nm。TERS针增强拉曼探针类型高分辨率TERS在锐的硅基针上附着尤其致密,不规则和锐的纳米颗粒涂层,可获得超高空间分辨率和高质量的成像。基础TERS: 通过致密、不规则、颗粒状坚固的纳米颗粒涂层,用优化的涂层产生超强的拉曼信号,获得准确的成像和光谱数据。各型号参数对比银芯基础TERS探针高分辨金TERS探针高分辨银芯TERS探针型号NT-EASY-TERS-70银NT-EASY-TERS-300银NT-TERS-E-85金NT-TERS-E-335金NT-TERS-E-85银NT-TERS-E-335金共振频率(kHz)703008533585335力常数(N/m)2262.8452.845悬臂长度(μm)240160240160240160TERS针增强拉曼探针 测量结果1L MoS2/AuCNT/Graphene Oxide单层过渡金属二硫化物(TMDC)拉曼激发模式高精度表征参考文献:Alvaro Rodriguez, Matěj Velický , Jaroslava &Rcaron áhová, Viktor Zólyomi, János Koltai, Martin Kalbá&ccaron , and Otakar Frank. Activation of Raman modes in monolayer transition metal dichalcogenides through strong interaction with gold. Phys. Rev. B 105, 195413 – Published 10 May 2022. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.105.195413Nano IR纳米红外探针纳米红外光谱的原理是基于一个锐的金属涂层前沿,激发激光束落在该前沿上。探针针的电磁场由于局部表面等离激元共振和避雷针效应的共同作用而具有局域限制和增强的效果。更强的纳米红外信号Next-Tip探针得到的红外信号比常用AFM探针高出几倍(约5倍)。下图显示了使用相同带宽激光源的两种探针在硅上获取的未标准化的近场振幅光谱。更高的纳米红外信噪比与使用标准的探针得到的光谱相比,使用Next-Tip探针得到的光谱具有更小的背景干扰,从而得到更高的SNR和更清晰的光谱。下图显示了使用两种探头在13.6秒内记录的PMMA的三阶解调纳米红外吸收光谱。Nano IR纳米红外探针类型各型号参数对比象鼻形金字塔形型号NT-IR-E-85NT-IR-E-335NT-IR-P-75NT-IR-P-330共振频率(kHz)8533575330力常数(N/m)2.8452.842悬臂长度(μm)240160225125
  • 多功能纳米压痕仪配件
    多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量,精确给出硬度,弹性模量,杨氏模量等材料力学性能。多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计,可广泛集成原子力显微镜,光学显微镜,激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器,为用户提供综合性材料微观力学测试方案。多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪,它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量(杨氏模量),负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度,弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌,采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块,实现对材料表面进行其它测量。4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能,具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块,能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像,并能够全自动测量,可以批量处理分析测量结果。
  • 纳米操纵系统
    在扫描电镜、聚焦离子束和双束 系统上进行纳米操纵和测量的最 佳方案. 主要应用 纳米结构的电学测量和表征 纳米结构的力学测量和表征 微米纳米尺度组装 透射电镜、拉曼和其它分析仪器 的样品制备 表面科学实验和研究 纳米连接技术研发 原位纳米尺度样品定位
  • 电子曝光机(纳米图形发生器)
    微纳米图形的制作已成为半导体器件、微机电系统和纳米科学等研究中的基本手段。但传统设备昂贵、庞大,NanoPattern图形发生器可以利用电子束/离子束/探针具有容易控制和分辨率高的特点方便地获得微纳米图形。而且不像普通光刻机需要先制作掩膜,并且有更高的分辨率和灵活性。NanoPattern图形发生器可利用扫描电镜/聚焦离子束/扫描透射电镜的外接扫描口、束流测量装置和二次电子检测输出等而使其升级获得微纳米图形制作的功能并且不损失电镜原来的任何功能。结合扫描电镜/聚焦离子束/扫描透射电镜上的其他功能如电子
  • 多功能纳米硬度计配件
    孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量,精确给出硬度,弹性模量,杨氏模量等材料力学性能。多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计,可广泛集成原子力显微镜,光学显微镜,激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器,为用户提供综合性材料微观力学测试方案。多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪,它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量(杨氏模量),负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度,弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌,采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块,实现对材料表面进行其它测量。4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能,具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块,能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像,并能够全自动测量,可以批量处理分析测量结果。
  • 电镜纳米螺旋标尺
    产品特点:金纳米螺旋标尺(L,R)是手性的纳米标记物,尤其适合于3D断层扫描,电子显微镜(EM)或冷冻电镜。我们的手性标记物显示纯手性(L或R),由于高对比度和金纳米颗粒的精准排列,可以很容易地被电镜检测到。金纳米螺旋标尺(L,R)是用DNA折纸技术制备,金纳米颗粒(10nm)被排列成纳米螺旋(螺距57nm 长110nm 直径34nm)。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:在透射电镜载网中:样品放在干燥的透射电镜载网上使用,以提高由银增强放大了的螺旋效果。样本存储在石蜡膜覆盖的塑料孔中进行运输。保质期是6个月。在缓冲液中:该纳米螺旋储存在缓冲液(1X TE,11mM MgCl2)中运输。样本量约为30μL,这个量足以用于10个以上的TEM。样品保存于低温的保温盒中进行运输。适当的储存条件下(避光,4℃),保质期为3个月。
  • Kleindiek纳米操纵仪配件
    Kleindiek纳米操纵仪配件是为外部电子显微学制备样品而设计的超精密样品拾取装卸系统,它在纳米尺度灵活微操纵样品。Kleindiek纳米操纵仪配件安装安装有一根微夹钳,一个四轴辅台,在表面有一个允许快速接近的小型CCD摄像头。Kleindiek纳米操纵仪是由安装在一个超小型平台上的一个四轴辅台构成。在辅台上安装了一个微夹钳,促进提取。操作该辅台将预切样品放置在微夹钳下。在这之后,微夹钳夹住样品并轻轻地固定住样品,固定要足够牢固,只要使辅台向旁边下落,就可以将样品从大量材料提取出。一旦分离,在TEM网格上,将样品与SEM兼容胶水接触,并且用离子束固化。Kleindiek纳米操纵仪配件规格:取样室兼容平台上的辅台最大样品尺寸:30mm行程:X和Y =10mm行程:Z轴为3mm行程:R =360°(无限)速度:可达1mm/秒分辨率:笛卡尔运动没有反弹或翻转是大多数SEM和FIB工具的简单取样室装置几乎不受震动影响微夹钳运输和组装微型物体的高分辨率夹持器抓握区域:(5至10 μm)分辨率:20nm夹持力:5至5000μN(变量)最大跨度范围:20?40 μmSemCam样品表层的小相机允许快速接近包括显示器和LED照明
  • 纳米颗粒分析仪配件
    纳米颗粒分析仪配件用于观测和分析液体中的微小颗粒的布朗运动速率与尺寸分布相关,采用纳米颗粒跟踪分析(NTA)技术,通过激光散射装置(纳米观测)与超显微镜ultra-microscope和NTA软件的相结合,生成纳米颗粒图像,是全球领先的纳米粒度分析仪。纳米颗粒分析仪配件 纳米观测原理纳米颗粒分析仪使用纳米透视Nano-Insight 激光散射模块,可以通过顶眼超显微镜观测到液体中的纳米粒子。采用不同激光散射颗粒在矩阵中表现为模糊点。模糊点根据其各自的布朗运动而移动。液体中有不同的布朗运动粒子。小粒子比大粒子受到相邻粒子的影响更少。因此,在超显微图像中,较大的粒子有大的模糊外观。 NTA能够追踪粒子的相应路径。纳米观测模块纳米观测模块的设计,可以使其安装在超显微镜,顶眼纳米的底板。可以通过Mishell软件来控制该模块。Mishell软件控制着纳米观测模块以及照相机。根据应用决定在纳米观测模块装备一个或多个激光器。激光器以一种特殊的方式排列。左侧图片上展示的是纳米观测图。较小的粒子比较大的粒子移动更快。我们用摄像机同时跟踪每个粒子。顶眼超显微镜顶眼超显微镜将进入模糊点的散射光可视化。用适当的时间分辨跟踪,模糊云可被分配并与各自的粒径相关。粒子的布朗运动图像是唯一的。下面将给出例子。每个模糊点代表单个粒子。NTA 软件上图展示的是NTA分析的典型图像。散射激光被捕获到模糊点,要根据时间函数跟踪模糊点。我们跟踪每个模糊点。跟踪每个粒子的方法,得到的技术结果是高分辨率。我们正在寻找与图像相关的量,当我们知道相关的量后,我们就可以极其精确地确定各种粒子的浓度。该技术将会带起许多可能的应用。例如,可能也可以使用荧光激光器。使用荧光激光器,可以瞄准复杂的基质里的一个粒子。该技术带来的好处是,用户可以在视觉上检查并且通过观察相应图像验证所有可能的应用。MiNan是Mishell® 内的一个模块- 扩展图像分析软件包,被认为是市场上最先进的图像分析软件。MiNan是一个子程序,可以进行Morphious纳米粒子分析的全部描述。MiNan是自带Morphious纳米系统的软件,研发用于纳米粒子的可视化以及纳米粒子的大小、形状(形态)和浓度的测量。每个粒子是一个个体,但通过观测扩散同时被分析。这种一个粒子后接一个粒子的方法产生高分辨率的结果,即粒子的尺寸分布和浓度分辨率高,同时视觉验证让用户对数据有了额外的信心。当荧光模式检测标记粒子时,粒子尺寸和浓度,蛋白质聚集和粘度都可以被分析。纳米颗粒分析仪配件应用?在制药或复合产业研发药物?用于病毒筛查?用于开发纳米生物标记物或毒物筛查?用于蛋白质聚集的动力学模型研究?用于通过膜泡的表征研究疾病?用于促进纳米复合材料的发展纳米颗粒分析仪配件特色?在同一时间多粒子高通量表征?实时视觉展示粒子,允许用户评估试验,无需额外复杂性?方便和易于使用的软件,允许用户通过宏设置任何实验?添加像高通量自动采样器,泵或加热和制冷配件?自适应模块化系统构建任何复杂的应用程序,操作轻松舒适?超级高效和购买成本低?该系统提供高分辨率的粒度特性来研究复杂的多分散矩阵?激光波长可选择?通过给过滤器添加电动轮,得到自适应荧光分析纳米颗粒分析仪配件参数?尺寸10 nm - 2000 nm*?浓度 106 - 109 粒子/ mL?荧光检测纳米颗粒分析仪配件规格温度范围15-40 °C电源230V AC/115V AC, 50/60 Hz摄像机USB3 CMOS分辨率:1936x1216 161帧/秒,像素尺寸5.86μm:颜色校准模块功耗18W激光波长405nm(紫色),488nm(蓝),532nm(绿),642nm(红色)尺寸范围从10 nm到2000 nm (取决于材料)焦点电脑控制电动调焦个人计算机SDD亿康II SDSSDHII-120G-G25HDD西数蓝WD10EZEX1 TB|主板千兆字节GA-Z97X-UD3H|内存金士顿骇客神条怒黑| HX318C10FBK2/1616 GB DDR3-RAM处理器英特尔® 酷睿™ i7 i7-4790K四核4×4.0 GHz显卡 PNY VCQK2200-PB 4GB电源 酷冷至尊G750M 750w机箱 酷冷至尊黑软件Windows® &(或更高).由Mishell® 供电Mishell是Microptik BV公司的注册商标。Windows是微软公司的注册商标。MiNan尖端程序在Mishell下运行,以充分体现由Morphious纳米获得的纳米粒子尺寸(长×宽×高)20 x 18 x 30 cm重量10.5 kg
  • 大和电子科技 扫描电镜用条形光阑
    用途:扫描电镜光阑尺寸:如图所示后期处理: ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点: ■没有毛刺、突起、倾斜的高精密加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化,加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 ■ 实现批量化的生产加工,而且加工的质量稳定,品控体系严格交货期:根据产品规格另作商量,一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商,从事耗材制作50余年。除了上述的扫描电镜光阑外,我们可以制作用于透射电镜、聚焦离子束和X射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001mm。欢迎您的咨询,期待为您服务!
  • 纳米X射线显微镜
    超高分辨率非破坏性3D成像 Nano XCT-100是世界唯一的对微米体积样品进行3D观察的实 验室超高分辨率CT扫描系统。精密的X射线聚焦光学系统提供了 50nm的成像分辨率,将X射线CT的能力大大延伸至纳米尺度。当吸 收衬度很低时,集成的Zernike相位衬度成像技术增强了所有边缘和 界面的可视性。nanoXCT-100提供了可靠的3D体积信息,而其它截 面成像技术和破坏性方法只能获得部分信息。 应用: - 生命科学和生物医学研究 - 半导体封装技术开发和失效分析 - 先进材料科学研究 - 石油天然气勘探分析
  • 扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 扫描电镜专用场发射电子源9215736
    场发射电子源921 5736 ,这个型号的场发射灯丝,适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 台式扫描电子显微镜配件 FPMIC-sem1
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点:具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 台式扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点:具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 纳米位移平台
    纳米位移平台,真空纳米位移台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的纳米位移平台,真空纳米位移台,纳米位移台.这款纳米位移平台是美国进口的高速高精度真空纳米位移台,它采用先进技术设计, 具有单轴或精密的双轴配置两种选择, 适合高真空环境和非磁性定位应用.美国进口高精度低价格系列纳米定位台,采用了陶瓷伺服电机驱动,非常适合要求精度达到纳米或压纳米的高精度和高重复精度的应用,例如:精密生命科学仪器、显微成像、纳米准直、微纳加工、光学精确定位等。X-TRIM 系列纳米位移台特色 10nm分辨率非接触线性编码系统双驱动任选:线性伺服或压电驱动高密度滚珠传导增加稳定性超紧凑的单轴或双轴纳米位移台紧凑型封装可真空使用超强工作能力,大吞吐量采用无铁芯直接驱动直线电机,驱动轴位于纳米位移台的中心线, 这种设计消除了非中心驱动导致的偏航,空回等问题.纳米位移台集成了一个高分辨率(12.5nm)非接触式线性编码器,它为闭环的伺服系统工作操作提供了精密反馈, 它的标准配置就可以提供纳米精度的定位.纳米位移平台使用能够了精密的滚珠导向系统确保了位移平台高精度性能和严格的轨迹控制。纳米位移平台也适合OEM使用,它具有较低抛面和较小尺寸,采用模块化设计,用户可堆叠使用创建多轴多部件系统。这款纳米位移平台使用了非接触式直接驱动技术,提供坚固,精确,高速的定位,满足高频率大工作量的需要。纳米定位平台使用了先进的无铁直线电机直接确定技术,确保最优异的纳米级定位性能。这款纳米定位台提供了高速度,高精度,高分辨率,高性能的卓越表现。它与传统的丝杠驱动或压电驱动相比,具有更大的工作效率和吞吐量。参数行程(mm): 25和50mm(单轴或双轴)驱动系统: 无铁芯直线电机或陶瓷伺服电机最大加速度: 由负载决定最大速度: 200mm/s (无负载时)最大推力: 24N最大负载: 2Kg精度: +/-1um/25mmTTL分辨率: 1-100nm/脉冲构造材料: 铝合金主体, 灰色氧化镀膜重复精度: 5倍精度XT 25XT 50XT 2525XT 5050Travel Length (mm)25 mm50 mm25 x 25 mm50x 50 mmTrajectory ControlAccuracyLinear Encoder± 1.0 &mu m± 2.0 &mu m± 2.0 &mu m± 4.0 &mu mStraightness/Flatness± 1.0 &mu m± 1.0 &mu m± 2.0 &mu m± 2.0 &mu mYaw/Pitch/Roll5 arc-sec5 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec2 axis systemOrthogonalityStandard GradeNANA5 arc-sec5 arc-secHigh PrecisionNANA2 arc-sec2 arc-secExtra High PrecisionNANA1 arc-sec1 arc-sec
  • 扫描电镜专用场发射电子源9213915
    场发射电子源9213915/9217251,这两个灯丝的外形一样,适用的扫描电镜型号不同,需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 纳米显微操纵仪
    纳米显微操纵仪由微操纵仪、控制器、控制电源及操纵杆组成,微操纵仪的驱动是由压电陶瓷构成的纳米马达来实现的,从而保证能够进行纳米级精确移动。整个微操纵装置体积非常小,即使是操作精度高达几纳米也不会产生后座力及漂移。微操纵仪可直接在样品室内接触、操纵样品,从而使对样品的物性分析成为可能,而且多个操纵仪的联合使用可从事微纳尺度的样品的加工和组装。操纵仪有以下型号以适用于不同的环境:MM3A-LMP用于光镜;MM3A-EM用于电镜;MM3A-UHV用于超高真空环境;MM3A-LT用于低温环境。
  • 线性硅纳米印章(纳米图案硅片)
    LightSmyth提供了大量的纳米加工单晶硅衬底,为工业和学术机构提供了一个低成本的纳米光子学研究入口。基底可用于光学、光子学、生物学、化学、物理学(如中子散射)、聚合物研究、纳米印迹、微流体学等领域。如果需要,基板可以涂上金属或介质涂层。大多数地表特征具有略微梯形的横截面轮廓,具有直线平行的台地和沟渠。晶格状结构也可用。提供了许多特征尺寸和沟槽深度。基板的扫描电镜图像可以在装运前拍摄,以验证准确的轮廓。产品特点Nanopatterned Silicon StampsII-VI offers a large variety of nanomachined single crystal silicon substrates providing a low-cost entry into nanophotonics research for industry and academic institutions. The substrates may be used in a variety of applications in optics, photonics, biology, chemistry, physics (e.g. neutron scattering), polymer research, nanoimprinting, microfluidics and others. If desired, the substrates can be coated with metallic or dielectric coating. Most of the surface features have slightly trapezoidal cross-section profiles with straight parallel mesas and trenches. Lattice-like structures are available as well. A number of feature sizes and trench depth is available. SEM images of the substrates may be taken prior to shipment to verify the exact profile.Dimensions shown in the table represent target value. Period has accuracy better than 0.5% while groove depth and the width of line and space may differ from the target values by 15%. SEM are given for illustration purposes. If more precise dimensional information is required, we may provide an SEM of the specific piece of nanostamp you order as an optional service通用参数(LightSmyth Nanopatterned Silicon Stamps 纳米图案硅片)描述数据基材宽度高度误差标准公差±0.2 mm净孔径(CA)距基板边缘0.5 mm(图案可延伸至基板边缘)基底厚度0.675 ± 0.050 mmCA的表面质量P/N以“p”结尾:划痕/挖:最大划痕宽度,最大最大直径。可提供高达20/10的规格CA的表面质量P/N以“-S”结尾:由于表面质量而打折的等级。至少有80%的可用面积。可能出现80/100划痕/挖痕/颗粒和不规则基底形状CA外表面质量无要求Material材料单晶硅,反应离子刻蚀2D NanostampsPart Number周期Period(nm)晶体类型Lattice Type槽深Groove Depth(nm)特征宽度Feature Width(nm)Size(mm)S2D-18B2-0808-350-P600Rect Post3502758.0 x 8.3S2D-18B3-0808-350-P700Rect Post3503508.0 x 8.3S2D-18C2-0808-350-P600Hex Post3502408.0 x 8.3S2D-18C3-0808-150-P700Hex Post1502908.0 x 8.3S2D-18C3-0808-350-P700Hex Post3502908.0 x 8.3S2D-18D3-0808-350-P700Hex Hole3502008.0 x 8.3S2D-24B2-0808-150-P600Rect Post 1501958.0 x 8.3S2D-24B2-0808-350-P600Rect Post 3501958.0 x 8.3S2D-24B3-0808-150-P700Rect Post 1502608.0 x 8.3S2D-24B3-0808-350-P700Rect Post 3502608.0 x 8.3S2D-24C2-0808-150-P600Hex Post1501658.0 x 8.3S2D-24C2-0808-350-P600Hex Post3501658.0 x 8.3S2D-24C3-0808-150-P700Hex Post1502208.0 x 8.3S2D-24D2-0808-150-P600Hex Hole1501808.0 x 8.3S2D-24D2-0808-350-P600Hex Hole3501808.0 x 8.3S2D-24D3-0808-150-P700Hex Hole1502908.0 x 8.3S2D-24D3-0808-350-P700Hex Hole3502908.0 x 8.3
  • 单轴检流计光学扫描仪
    单轴检流计光学扫描仪Single Axis Galvanometer Optical Scanners±10° 的光学扫描设计用于在较快扫描速度下稳定定位紧凑的外形适合空间敏感型应用单轴检流计光学扫描仪适用于需要在一个轴上进行光束转向的应用。这些检流计设计为具有紧凑的外形和长寿命轴承,以便在空间敏感的应用中进行高速、高性能的扫描。这些检流计占用的空间很小,因此可以轻松集成到 OCT 系统等大型光学系统中。单轴检流计光学扫描仪采用镀银反射镜,以便在从可见光到红外的输入光束上获得带宽性能。它们的 ±10V 直流模拟命令输入可实现 ±10° 的光学扫描。#11-762包括 6210H 系列检流计(含 5mm 反射镜装配件)、671 系列伺服驱动器,以及从检流计到伺服系统的互连缆线。若要操作驱动板,需要使用电源(#66-911) 和电源线 (#88-170) 此两者单独出售。注意:提供安装座#11-763来安装#11-762。强烈建议操作过程中将散热器与伺服驱动器板连接。热油脂提高伺服驱动板和散热片(不包括)之间的热传导。运行驱动板需要一个正极的和负极电源(不包括)。标题产品编码6210H 5mm Mirror Single Axis Galvanometer Scanner, Protected Silver#11-762
  • 随身扫描仪
    随身扫描仪轻巧便携,自带闪存,内置锂电池,快速扫描,用于各种室外工程场合。操作系统:Windows 98/Me/2000/XP 内存:2MB扫描速度:4-8秒每页光学分辨率最高达:200×200 dpi扫描宽度:205mm可扫描100页A4纸扫描模式:单色(黑色及白色)电源:内置锂电池,usb充电尺寸:205长×12.7宽mm
  • 脂质体扫描电镜观察窗样品舱
    脂质体样品扫描电镜(SEM)观察不可或缺的工具!实现液体中颗粒原始状态下的高分辨成像和成分分析,其好处是:1、克服传统干燥处理中出现的颗粒团聚问题,真实反映液体中颗粒的状态;2、采用高真空模式分析密封在样品座内的液体样品,克服了含水样品直接分析(ESEM模式或Low Vacuum模式)对电镜部件造成污染的问题;3、通过密封磁性物质,避免电镜部件被污染。应用领域:生物和制药纳米药物尺寸、分散性与浓度分析;表面形态分析脂质体尺寸/分布/浓度产品原理超薄窗采用半导体工艺制造,表面经处理后,可具亲水性、憎水性或双性兼具,以满足不同的应用需求;分析时,所观察的样品自动紧贴超薄窗,从而能获得最佳的图像分辨率。液体样品池集成了微流体、高精密探针、防泄漏设计,液体样品池可控制、监控微环境状态。通过计算流体动力学模拟优化,获得最佳微流体传输模型。采用特殊的机械设计,提高使用效率,1分钟内即可完成样品安装。产品性能适用性好。适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜,亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。使用简便采用特殊的机械设计,样品安装1分钟内完成。可灵活定制可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。分辨率高最高放大倍率可达20万倍,可清晰观察小至10nm的颗粒。率先应用电子束测试原始流体和液体样品。检测、监控原始状态(尤其液态)下的喷涂材料。液体样品原位观察和干燥后观察的结果比较
  • STED纳米标尺
    产品特点:作为第一个超高分辨率显微技术的STED方法彻底改变了光学显微镜。适用于STED的校准探针--GATTA-STED纳米标尺也终于面世。标尺带有高量子效率的荧光标记染料ATTO 647N。两个荧光分子之间的距离固定,我们提供的尺寸包括:30nm,50nm,70nm和90nm。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺产品参数:
  • 微阵列芯片扫描仪配件
    微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片,蛋白质芯片等微阵列芯片而设计,是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片,如DNA芯片,蛋白质芯片和细胞和组织,并适用于各类型的应用研究,如基因表达,基因分型,aCGH,芯片分析片内,微RNA检测的SNP,蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统,兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm(玻璃基板,塑料,透明和不透明),可以扫描生物芯片,有3 1.mu.m/像素的分辨率,同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟(10.mu.m/像素,最大扫描区域),InnoScan900是市场上最快的扫描器,扫描速率可调节,达10到35行每秒。微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管(PMT),非常敏感,整个工作范围(0至100%)线性完美,允许用户简单地改变PMT,调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统,提供的是不敏感的基板的变形,整个扫描表面上完美,均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能,特别是在灵敏度和信噪比方面。微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序,四扫描器(710,710 U,900 U和900)。该Innoscan® 900和900AL系列(磁带自动加载机)是专为现在和未来的高密度微阵列发展。
  • STORM纳米标尺
    产品特点:该方法STORM或dSTORM是在光学显微镜中最常用的超分辨率技术之一。GATTA-STORM系列的纳米标尺是现在这项技术的理想校准探针。为了模拟你的STORM或dSTORM测量值作为传真尽可能标尺携带常用染料的AlexaFluor 647.我们提供的尺寸标记到标记距离30nm,50nm和94nm。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
  • 纳米升降台
    纳米升降台,纳米升降平台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的纳米升降台,纳米升降平台,精密升降台。这款纳米升降台是美国进口的短行程的精密升降台,Elevator Stage,纳米升降平台特别适合竖直的Z轴应用,它具有极佳的上下定位功能,超高分辨率,超高重复精度和机械稳定性。产品特色:这款纳米升降台采用高密度交叉滚珠导向系统用于竖直导向,确保最大的稳定性。单立柱式的X滚珠导向系统提供了适度的高刚性,使得这款纳米定位台具有极小的滞后和相当大的承载能力。纳米升降台应用:这款纳米定位台比较适合对Z轴垂直升降精度较高要求的应用。比如,光学成像系统中焦平面的准直,半导体测试,视频测量等。纳米升降台参数行程:4mm驱动系统:无刷伺服-丝杆驱动最大速度:20mm/s最大负载;10kgTTL分辨率:100nm, 50nm, 25nm, 12.5nm, 10nm, 1nm重复精度:5x分辨率
  • 纳米 cHiPLC 色谱柱 804-00003
    纳米 cHiPLC 色谱柱纳米 cHiPLC 色谱柱仅限研究使用,不可用于诊断程序。SCIEX 纳米 cHiPLC 色谱柱旨在实现耐用性和易用性。 我们的制造流程采用独特的溢流口结构,可以将固定相微粒保留在色谱柱中。这些堰的重现性更高,而其死体积几乎为 0 (~13 pL)。相比于 nanoLC 色谱柱(采用熔融石英管制造而成,再加上由烧结的固定相微粒制成的筛板),cHiPLC 色谱柱更加耐用,而且更加容易操作和连接,不会产生死体积。简单:即插即用型芯片提升了简易性,并具备纳米柱的性能可扩展:在多用户实验室内快速切换工作流程和项目的灵活性每次:每天、柱间以及实验室间的结果均可重现色谱柱设计我们精心设计了捕集器-芯片和分析色谱柱-芯片,旨在实现相当于甚至优于填充毛细管的分离效果。利用熔融石英,可以使用圆柱形通道填充 nanoLC 色谱柱和捕集器。我们的 cHiPLC 色谱柱采用独特的堰结构,而非由熔融固定相微粒制成的传统筛板,可以将固定相微粒保留在色谱柱中。这些堰的重现性更高,而其死体积几乎为 0 (~13 pL)。此外,筛板材料上可能发生的样品组分吸收在这些类型的结构上并不会出现。获得专利的连接系统与每块芯片之间的连接通过获得专利的连接系统实现,该连接系统可以连接七个通往外部的通道,且死体积小于 1 nl。用于连接芯片的力为预设,因此用户每次更换芯片时,都能实现专门的防泄漏连接,无需用户进行任何调整。提升的柱间重现性除了在短短几秒内更换 nanoLC 色谱柱或捕集器的简易性外,使用我们的 cHiPLC 色谱柱也可提升柱间重现性。所有芯片均完全一样,而且我们的填充程序可以确保在 nanoLC 内实现最佳的柱间重现性。对于需要在多个色谱柱间长期保证保留时间稳定性的应用中,这一点非常重要。示例应用包括,结合使用保留时间与精确质量进行肽/蛋白质鉴定,以及使用编程 MRM 在生物标记物验证中进行肽定量。订货信息:纳米 cHiPLC 色谱柱和捕集柱具有多种固体相和柱长可选。cHiPLC 色谱柱部件号纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ChromXP C18-CL 3μm 120A804-00001纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ChromXP C18-CL 3μm 300A804-00003纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ChromXP C18-CL 5μm 120A804-00002纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ChromXP C18-CL 5μm 300A804-00004纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ReproSil-Pur C18-AQ 3μm 120A804-00011纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ChromXP C8-CL 3μm 120A804-00005纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm ChromXP C4-CL 5μm 300A804-00018纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm 石墨化碳 3μm 250A804-00020纳米 cHiPLC 色谱柱 75μm x 15cm HALO HILIC804-00022捕集柱部件号纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ChromXP C18-CL 3μm 120A804-00006纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ChromXP C18-CL 3μm 300A804-00008纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ChromXP C18-CL 5μm 120A804-00007纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ChromXP C18-CL 5μm 300A804-00009纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ReproSil-Pur C18-AQ 3μm 120A804-00016纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ChromXP C8-CL 3μm 120A804-00010纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm ChromXP C4-CL 5μm 300A804-00019纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm 石墨化碳 3μm 250A804-00021纳米 cHiPLC 捕集柱 200μm x 0.5mm HALO HILIC804-00023基于芯片的微粒捕集器(堰)(位于自动进样器和 cHiPLC nanoflex 之间)800-00354跨接器芯片部件号直接进样跨接器芯片800-00408捕集-洗脱跨接器芯片800-00389双柱跨接器芯片800-00421
  • SIM纳米标尺
    产品特点:GATTA-SIM系列的纳米标尺可以用于检测您的SIM系统的分辨率。该纳米标尺带有两个荧光标记,这些荧光标记都是来自于密集排列的高量子效率的染料分子。两个荧光标记之间的距离固定,尺寸包括120nm,140nm和160nm。我们为您提供带有以下颜色的不同尺寸的纳米标尺,包括:红色(ATTO 647N),黄色(Alexa Fluor 568)或蓝色(Alexa Fluor 488)。纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
  • 银纳米线-银纳米线 联系我们
    参数:Agnws-120平均直径/纳米:120平均长度/微米:20银纯度(%):99.5浓度(毫克/毫升):20Agnws-200平均直径/纳米:200平均长度/微米:25银纯度(%):99.5浓度(毫克/毫升):20Agnws-300平均直径/纳米:300平均长度/微米:30银纯度(%):99.5浓度(毫克/毫升):20Agnws-400平均直径/纳米:400平均长度/微米:30银纯度(%):99.5浓度(毫克/毫升):20Parameter:Agnws-120Average Diameter/nm:120Average Length/um:20Silver Purity (%):99.5Concentration (mg/ml):20Agnws-200Average Diameter/nm:200Average Length/um:25Silver Purity (%):~99.5Concentration (mg/ml):20Agnws-300Average Diameter/nm:300Average Length/um:30Silver Purity (%):~99.5Concentration (mg/ml):20Agnws-400Average Diameter/nm:400Average Length/um:30Silver Purity (%):~99.5Concentration (mg/ml):20
  • 纳米单晶硅衬底2D线性纳米棒LIGHTSMYTH
    纳米单晶硅衬底2D线性纳米棒LIGHTSMYTH屹持光电提供各种纳米单晶硅衬底2D线性纳米棒,为工业和科研提供低成本的纳米光子学研究。基板可用于光学、生物学、化学、物理学(例如中子散射)、聚合物研究、纳米压印、微流体等各种应用。如果需要,可以用金属或介电涂层涂覆基底。大多数表面特征具有略微梯形的横截面轮廓,具有直平行台面和沟槽。也可以使用格状结构。提供多种特征尺寸和沟槽深度。可以在发货之前拍摄基板的SEM图像以验证确切的轮廓。表中显示的尺寸代表目标值。周期的精度优于0.5%,而沟槽深度和线和空间的宽度可能与目标值相差15%。SEM用于说明目的。可定制更精确尺寸信息。纳米单晶硅衬底2D线性纳米棒LIGHTSMYTH规格描述值基材宽度和高度公差标准公差±0.2 mm通光孔径(CA)距基板边缘0.5 mm(图案可延伸至基板边缘)基材厚度0.675±0.050mmCA表面质量P / N “-P”:60/40,最高20/10CA表面质量P / N “-S”:80/100CA外表面质量无要求材料单晶硅,反应离子蚀刻1、线性纳米棒(线+间隔)P/N周期(nm)凹槽深度(nm)工作周期1线宽度2(nm尺寸3(mm)SNS-C72-1212-50-P1395050%69.512.5×12.5×0.7SNS-C72-2525-50-P1395050%69.525×25×0.75SNS-C36-1212-110-P27811050%13912.5×12.5×0.7SNS-C24-1212-110-P416.611050%20812.5×12.5×0.7SNS-C20-0808-150-D45-P50015044%2208×8.3×0.7SNS-C20-0808-350-D45-P50035044%2208×8.3×0.7SNS-C20-0808-150-D60-P50015060%3008×8.3×0.7SNS-C20-0808-350-D60-P50035060%3008×8.3×0.7SNS-C18-2009-110-D50-P555.511050%27820×9×0.7SNS-C18-2009-140-D50-P555.514050%27820×9×0.7SNS-C18-2009-110-D29-P555.511029%15820×9×0.7SNS-C18-2009-140-D29-P555.514029%15820×9×0.7SNS-C16.7-0808-150-D45-P60015043%2608×8.3×0.7SNS-C16.7-0808-350-D45-P60035043%2608×8.3×0.7SNS-C16.7-0808-150-D55-P60015055%3308×8.3×0.7SNS-C16.7-0808-350-D55-P60035055%3308×8.3×0.7SNS-C16.5-2912-190-P60619050%30329×12×0.7SNS-C16.5-2912-190-S460619050%30329×12×0.7SNS-C16.5-2924-190-P60619050%30329×24.2×0.75SNS-C14.8-2410-170-P67517032%21824×10×0.7SNS-C14.8-2430-170-P67517032%21824×30.4×0.75SNS-C14.3-0808-150-D45-P70015047%3308×8.3×0.7SNS-C14.3-0808-350-D45-P70035047%3308×8.3×0.7SNS-C14.3-0808-150-D55-P70015055%3758×8.3×0.7SNS-C14.3-0808-150-D55-P70015055%3758×8.3×0.7SNS-C12-1212-200-P833.320050%41612.5×12.5×0.7SNS-C12-2525-200-P833.320050%41625×25×0.75SNS-C11.7-1212-200-P85520050%42812.5×12.5×0.7SNS-C11.7-2525-200-P85520050%42825×25×0.75纳米单晶硅衬底2D线性纳米棒LIGHTSMYTH1 占空比表示线(台面)宽度与周期的比率。2 表示台面的宽度值。3 第二维对应于凹槽长度。4 以“-S”结尾的是“科研”等级。它至少有80%的可用面积。可能存在高达80/100表面质量值。5 可提供更大的自定义尺寸2、2D纳米图案(矩形和六边形网格)P/N周期(nm)格子类型凹槽深度特征宽度(nm)尺寸(mm)S2D-24B3-0808-150-P700矩形1502608×8.3×0.7S2D-24B3-0808-350-P700矩形3502608×8.3×0.7S2D-18B3-0808-150-P700矩形1503508×8.3×0.7S2D-18B3-0808-350-P700矩形3503508×8.3×0.7S2D-24C2-0808-150-P600六角1501658×8.3×0.7S2D-24C2-0808-350-P600六角3501658×8.3×0.7S2D-18C2-0808-150-P600六角1502408×8.3×0.7S2D-18C2-0808-350-P600六角3502408×8.3×0.7S2D-24C3-0808-150-P700六角1502208×8.3×0.7S2D-24C3-0808-350-P700六角3502208×8.3×0.7S2D-18C3-0808-150-P700六角1502908×8.3×0.7S2D-18C3-0808-350-P700六角3502908×8.3×0.7S2D-24D2-0808-150-P600六角孔1501808×8.3×0.7S2D-24D2-0808-350-P600六角孔3501808×8.3×0.7S2D-18D3-0808-150-P700六角孔1502008×8.3×0.7S2D-18D3-0808-350-P700六角孔3502008×8.3×0.7S2D-24D3-0808-150-P700六角孔1502908×8.3×0.7S2D-24D3-0808-350-P700六角孔3502908×8.3×0.7rect posthex posthex hole相关产品:脉冲压缩透射光栅高功率光束组合光谱衍射光栅光通信透射衍射光栅纳米单晶硅衬底2D线性纳米棒
  • 碳纳米管
    碳纳米管碳纳米管又称巴基管,作为一堆纳米材料,碳纳米管具有非常优异的力学、电学、化学性能且质量轻、韧性好。可用于碳纤维材料,复合材料的增强剂、场效应晶体管材料,电子发射源,化学传感器等。
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