快速稳态瞬态荧光仪

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo900系列全功能稳态/瞬态荧光光谱仪参数指标型号OmniFluo960主要功能稳态测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围/稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪激发光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@300nm600g/mm BLZ@500nm 通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

本系统主要是针对光电器件的动力学分析，利用周期性的脉冲单色光源，产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析，得到光生电的响应时间，如上升 / 下降时间，瞬态光电流与 瞬态光电压曲线 , 从而可以分析器件内部的动力学过程，如载流子的迁移率、载流子的寿命、 载流子的扩散长度等。产品特点：■ 支持多路激光器■ 系统采用显微光路，多种物镜可以切换■ 样品台三维可移动，方便光斑与样品重合■ 支持探针台结构■ 支持高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μszolix瞬态光电性能测试系统DSR800适用范围：■ 钙钛矿太阳能电池，有机太阳能电池，有机无机杂化太阳能电池，薄膜太阳能电池，燃料敏化太阳能电池■ 金属半导体异质结器件■ 光电传感器件测量模式：■ 稳态IV测试(Steady State Current-Voltage Characterization)■ 瞬态光电压/光电流测试(Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 开路光电压衰减/电荷抽取(Open-Circuit Voltage Decay/Time-Resolved Charge Extraction)■ 电压调制瞬态光电压/光电流(Electrical Modulated Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 自定义测量模式(Customized Measurement)配置参数：更多配置说明咨询销售激光光源a纳秒激光器：可选波长：375nm-1310nm范围内多种波长可选，具体咨询销售半导体激光器：可选波长：266nm-2200nm范围内多种波长可选，具体咨询销售高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μs 显微镜模块4个显微镜安装孔，支持多个显微物镜切换内置LED照明模块 多个显微物镜：10x ,20X ,50X等 数据采集模块时间分辨率：4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选通道：2/4通道可选 采样率：2.5 GS/s 记录长度：10M 输入阻抗：1MΩ，50Ω 样品台探针台适正面电极或者异面电极的样品3M夹子样品台适用于：间距为2.54mm的背电极样品 支持定制样品台，适用多种器件结构IPCE测试（扩展功能）波长范围300-1100nm，可以扩展到1700nm功能：光谱响应度，量子效率，单色光IV特性a，根据不同寿命测试需要选择不同类型的，如测试上升或者下降沿需求为μs量级，选择纳秒激光器。zolix瞬态光电性能测试系统DSR800 应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线，点线是实测曲线，实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器，样品感光面积10mm×10mm，下降时间2.99μs ；样品2 氮化镓，样品感光面积1mm2，下降时间82ns ；样品3，氮化镓器件，样品感光面积0.04mm2，下降时间6ns。■ 光伏器件表征大功率LED 光源作为白光偏光光源，也可以选择不同波长LED 光源。对于瞬态测试，532nm 纳秒脉冲激光作为脉冲光源。硅基太阳能电池在无偏置光情况下瞬态光电压信号随脉冲光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电压信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电流信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池器件微分电容和偏置光电压的关系曲线硅基太阳能电池器件电荷量和偏置光电压的关系曲线

SmartFluo系列稳态荧光光谱仪SmartFluo-QY是卓立汉光公司第一台基于单光子计数技术的一体式稳态荧光光谱仪。SmartFluo-QY经过了卓立汉光近20年的光学系统优化设计，并采用了“单光子计数器”作为数据采集装置，具备了对极微弱荧光信号的探测能力，通过纯水拉曼测试信噪比可达到3000:1以上。SmartFluo-QY可以实现宽光谱探测范围，能够满足包括物理、化学、生物学、医学、半导体材料学、环境学等各种科研及工业应用的荧光测量要求。 SmartFluo系列稳态荧光光谱仪应用领域举例：l 生物化学：细胞毒性，离子浓度定量分析，细胞增殖，DNA定量，化学定量分析等l 环境监测：各种微量药物残留检测，水质评测，食品安全监管，污染物分析等l 药物开发及药理学：常规药物分析，蛋白质新药开发，生物体系中的药物作用机理，喹诺酮类药物，du品检测，高通量筛选等l 食品科学与农业：食品保质期评估，细菌生长测量，杀虫剂分析，食品质量控制等 挑战灵敏度极限——“单光子计数技术”“单光子计数技术”是利用在弱光下光电倍增管输出信号自然离散化的特点，采用精密的脉冲幅度甄别技术和数字计数技术，把淹没在背景噪声中的弱光信号提取出来。当弱光照射到光电子阴极时，每个入射光子以一定的概率（即量子效率）使光阴极发射一个电子，这个光电子经倍增系统的倍增，最后在阳极回路中形成一个电流脉冲，通过负载电阻形成一个电压脉冲，这个脉冲称为单光子脉冲。而“单光子计数技术”可测得低至单个不重叠的光子能量脉冲，通过精密的鉴别手段进行工作，从而实现探测“单光子”级别微弱信号的目的。系统灵敏度SmartFluo-QY中采用的单光子计数技术，提供了峰值计数速率超过100Mcps，标准条件下水拉曼信噪比达到3000:1以上的测试结果，相比较于常规的荧光光谱仪，灵敏度提高了10-100倍，更有利于微弱发光样品的检测，可以检出低至1×10-15mol/L浓度的荧光素。其所具备的高灵敏度为各种普通荧光及微弱荧光信号检测提供了可靠保障。光谱范围激发光源采用150W氙灯，提供紫外-近红外波段的高效激发能量；荧光检测采用高灵敏度的“单光子计数技术”，检测范围为185-670nm或185-900nm。 杂散光对于实验样品尤其是微量样品测试，杂散光抑制是影响信噪比的至关重要的因素。SmartFluo-QY的光路及结构设计，极大的降低了杂散光对信号的干扰，可达到10-5杂散光抑制比。 光谱校正未经校正的光谱图由于存在光源光谱及光路系统的光学传递函数等各项因素的干扰，会造成难以预测的谱线失真，进而影响最终的光谱结论。SmartFluo-QY使用内置标准探测器模块以及出场测试的校正数据，为整个系统提供光谱校正支持。SmartFluo-QY的激发光部分包含了保准参考探测器，在每次测量时均经过标准参考探测器校正，保证150W氙灯在各个波长激发能量的一致性；SmartFluo-QY的荧光检测部分在出厂时都经过标准光源校正光谱响应度，将发射谱的光学部件与探测器的光谱响应度借由标准光源作修正得到绝对的系统光谱响应度曲线，荧光普在各波长的强度因此具有可比性，提供更详实的图谱数据，做出更为正确的分析。 光谱分辨率与激发光强控制SmartFluo-QY的激发和荧光分光器各采用一套300mm焦长的高分辨率单色仪光路，激发光源可通过自动光阑灵活调整5%-100%的光通量，激发波长最小带宽可达到0.1nm，荧光检测可分辨0.1nm荧光峰，优良的机械性能确保了波长重复性高达0.1nm。强化的软件功能专门设计的配套软件，为用户提供对SmartFluo-QY硬件的完整控制、多种测量方案选择、数学算法处理等多项强大功能。SmartFluo-QY的配套软件以数据为中心设计，用户只需要关注实验操作流程，软件将协助完成大部分数据采集与分析工作。测量模式激发光谱扫描荧光发射光谱扫描同步光谱扫描电致发光光谱扫描偏振光谱扫描三维荧光扫描动力学扫描荧光量子产率测量数据处理及显示数学算法（+，-，×，÷）光谱校正（实时校正或后处理）归一化处理光谱平滑处理擦除射线色度坐标量子产率计算2D、3D显示定义扩展扫描方式控制特性激发及发射波长自由选择自定义光谱扫描范围激发及发射带宽自由选择积分时间自由设置偏振角度选择（需配相应附件）自动样品台控制（需配相应附件）实时光谱校正吸收光谱测量控制（需配相应附件）动力学测量控制磷光寿命测量控制运行方案存储及重复测量三维荧光测量控制同步光谱测量在同步光谱测量中，激发单色仪和发射单色仪以用户预设的偏移量做同步扫描，可以应用于区分和识别混合物质样品中的荧光组分。荧光量子产率测量荧光量子产率（Quantum Yields）是荧光物质的重要发光参数之一，定义为荧光物质吸光后所发射的光子数与所吸收的激发光的光子数之比值。与传统的对比测试法不同，SmartFluo-QY采用积分球对样品进行绝对量子产率的测量，测量结果更准确可靠。采用四步测量方法，可消除激发光二次吸收对测量结果的影响，进一步提高了测量结果的准确性附件l 比色皿样品架主机标配的的样品架及比色皿；可用于液体样品测量，带有一维水平调节（±6.5mm）和Z轴旋转调节（360°），可安装比色皿尺寸：45(高)×12.4×12.4mm。 l 固体、粉末样品架用于固体、粉末样品的测量，也可安装比色皿用于液体样品的测量，样品架特别设计，确保激发光不直接进入荧光接收单色仪，可以有效减少杂散光，提高信噪比；带有一维水平调节（±6.5mm）和Z轴旋转调节（360°），可安装比色皿尺寸：45(高)×12.4×12.4mm。l 水浴恒温样品架用于液体样品恒温测量（不包含水循环温控装置），通过外置控制器控制水流和水温，使样品支架内保持恒定温度；带有一维水平调节（±6.5mm）和Z轴旋转调节（360°），可安装比色皿尺寸：45(高)×12.4×12.4mm。l 积分球附件用于荧光量子产率测量，内置于主机样品室内，不额外占用空间；可用于液体、固体、粉末等各种样品测量。l 偏振测量附件用于测量荧光偏振角度（0-90°）和荧光各向异性，使用波长范围：230-2000nm。可有效用于医学与生化领域的抗原-抗应、生物细胞、蛋白质、酶等的测量。主要技术参数结构设计： 采用一体式结构设计，机电分离无干扰光源： 150W 连续氙灯光源（230-1800nm） 单色仪： 300mm 焦距，CT 结构，三光栅塔台设计， 低杂散光标配光栅（激发）： 1200g/mm@300nm 标配光栅（发射）： 1200g/mm@500nm 选配光栅： 可选配多光栅激发光谱覆盖范围： 200-600nm（标配） 发射光谱覆盖范围： 200-1000nm（标配） 滤光片轮： 标配六档自动滤光片轮光谱分辨率： 0.1nm（@1200g/mm，435.83nm） 光谱带宽： 0.1-30nm（取决于光栅刻线数和狭缝宽度） 波长准确度： ±0.2nm（@1200g/mm） 扫描速度： 100nm/s 积分时间： 10s-200s 光谱探测器： R1527P（蓝敏，200-670nm） R928P（红敏，200-870nm） R2658P（NIR，200-1010nm） 参考探测器： 紫敏硅探测器（200-1100nm） 偏振测量附件： 可选配，0-90°，230-2000nm 水拉曼信噪比： 3500:1（蓝敏） 2000:1（红敏） 仪器尺寸（主机）： 840×620×330mm(L*H*W) 仪器重量：

TPL300-稳态/瞬态荧光光谱系统采用稳态、瞬态一体化设计，其结构紧凑、稳定性好。可实现稳态、瞬态荧光光谱测量、荧光寿命测量。配有专业数据采集软件、数据分析软件。可实现稳态/瞬态三维数据采集、数据拟合等系统主要技术指标● 稳态荧光模块1） 光谱探测器∶光谱仪+PMT或CCD 2） 光谱采集模式∶波长扫描或CCD一次成谱3）光谱探测范围∶250-900nm；900-1700nm ●瞬态TCSPC模块∶1） 时间窗口∶50ns-5μs，5μs-1ms（取决于激光重复频率）2） IRF（仪器响应函数）∶200ps 3） 时间分辨率：50ps 4） 可见光谱探测范围：350nm-900nm,35%@500mm 5） 近红外光谱探测范围：900nm-1700nm,25%@1550nm●可选配激光器1）波长∶405nm2）光纤耦合输出3）脉冲宽度：100ps4）重复频率可调：0.1MHz-40MHz 5）峰值功率：200mW 6）平均功率：0.4mW@40MHz●配备液态样品池，薄膜样品架和粉末样品夹具●磷光（长寿命）检测拓展模块∶1） 光源闪烁光源2）激发波长选择单色仪3）探测模式∶单点检测器配门控光子计数模式4）检测时间窗口范围∶可将时间窗口范围拓展至秒●数据采集软件∶可实现稳态/瞬态三维数据采集应用实例样品：样品CdSe

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo900系列全功能稳态/瞬态荧光光谱仪参数指标型号OmniFluo960主要功能稳态测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围/稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪激发光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@300nm600g/mm BLZ@500nm 通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

产品简介： FLS1000是一款最先进，测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度30,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

产品关键词：稳瞬态荧光光、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、电致瞬态、TREL、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、变温荧光、时间分辨光致荧光光谱、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、超快光谱、动力学扫描、多发射谱扫描、多同步扫描▌ 产品简介光电一体化时间分辨光谱仪HiLight是东谱科技自主研发的业内首款光电一体化时间分辨光谱仪（又称光致/电致稳瞬态/时间分辨荧光光谱仪TRPL），该设备拥有光致和电致荧光光谱模块，可以对各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）和电致发光样品进行全面的稳、瞬态测试分析，可在200 nm 至5500 nm、宽波长、2.5 ns至1200 s宽时域范围上对微弱发光信号进行精准测量。基于其光电一体的独特优势，HiLight可同时用于材料与器件的研究，从而极大地拓展了传统荧光光谱仪的适用范围。基于模块化的设计理念，HiLight可以提供灵活的配置方案，以适应多样化的测试需求，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 模块化设计，可选配置丰富灵活，易升级维护；□ 光电一体，同时适用于材料与器件； □ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射电致荧光/磷光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光时间分辨电致发光光谱变温荧光比较荧光电致发光响应时间低温荧光时间相关动力学多维光谱显微荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器电致发光部件SMU电压范围±15 V电流范围±40 mA电压设置分辨率10 mV电流设置分辨率10 μA电压测量分辨率1 mV电流测量分辨率1 μA瞬态电致发光驱动源输出电压范围-10V~+10V电压分辨率16 bits信号频率范围10 mHz~10 MHz驱动电压信号类型脉冲、正弦波、三角波、方波等水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 荧光粉□ 上转换材料□ TADF□ 光伏材料□ 荧光微球□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件▌ 产品型号型 号特 点光电一体化时间分辨光谱仪HiLight 990 模块化，可选配置功能；升级与拓展功能强稳瞬态荧光光谱仪HiLight HS15 一体机；稳态和瞬态荧光功能荧光寿命测量仪HiLight T30 寿命测量功能；可选滤光片分光瞬态电致发光光谱仪HiLight E60瞬态电致发光功能荧光光谱仪HiLight S20稳态和磷光功能

Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的荧光行业先进经验以及制造高水平和功能多样性的荧光光谱仪的顶峰。相较于其他科研级荧光光谱仪，Fluorolog-QM 以其全波长范围内卓越的反射性能以及众多的光源和检测器选择方案，全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围至5500nm，以及显微镜、X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案等优势，为荧光测试提供无与伦比的高灵敏度和无限拓展性。“仪器性能、通用性及操作便捷性的飞跃提升”l 反射式光路设计，保证全波长范围准确聚焦，无需调整光路，性能全优化，这是高灵敏度的保证l 具备优势的杂散光抑制比，像差校正长焦长单色仪（单级：350 mm，双级：700 mm）l 配备专业分析软件，满足所有稳态和寿命测试需求，具有多种新型寿命拟合功能l 扩展波长范围，光路由气氛保护，保证深紫外到近红外区域的检测l 可同时连接4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测试l 即插即用，100 MHz脉冲光源，强化TCSPC寿命功能l 近红外稳态和磷光寿命检测波长至5500 nml 优化的光学设计，氙灯光源扩展深紫外激发（低至180 nm），无臭氧高灵敏度Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙灯光源配合椭球形反射镜，实现70%超高聚光效率，并可将光束聚焦在单色仪狭缝处极小的点上，可更快速地激发样品，减少光源功率过大带来的高能耗与高热量，维护成本也显著降低。Fluorolog-QM采用了像差校正的单色仪，该单色仪针对光通量与杂散光进行了优化，也保证了Fluorolog-QM的高灵敏度。全反射式聚焦光路，使得全光谱范围（180~5500nm）准确聚焦样品表面，保证了Fluorolog-QM的高灵敏度。高分辨率Fluorolog-QM系列荧光光谱仪使用350 mm焦长非对称Czerny-Turner设计单色仪，带有电动三光栅塔轮和电动转折镜，超过30种光栅可选。通过电脑控制高精度微步电机和优化后的光栅相结合，实现小至0.01 nm步进，与光学设计、长焦长、全反射光学和抑制光学像差相结合，可实现优于0.1nm的高光谱分辨率。杂散光抑制显著Fluorolog-QM系列荧光光谱仪，配备50 mm焦长非对称式Czerny-Turner单色仪，采用光路像差校正，分别针对激发、发射侧独立优化，确保高杂散光抑制能力，获得荧光信号。单级单色仪具有1×10-5的高杂散光抑制比，为了实现更高的灵敏度和光谱性能，Fluorolog-QM还可配置两个350 mm焦长的单色仪，从而实现 700 mm焦距和1×10-10杂散光抑制比，相较于其他荧光光谱仪，HORIBA 双级中间狭缝光学设计（软件控制），进一步优化分辨率和杂散光抑制比。满足不同测试需求的多种硬件配置解决方案Fluorolog-QM系列采用开放式的结构设计，可实现无限扩展，满足未来任何可能的荧光应用需求。您可以通过选择光源、光栅和检测器以及大量可用的附件来优化最初配置。可选配置多种多样!可同时连接4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测试。配合TCSPC，MCS，SSTD和真实门控技术，保证了全光谱稳瞬态（皮秒~秒及长余辉测试）、磷光光谱（延迟光谱）测试功能。TCSPC寿命测量Fluorolog-QM 系列轻松扩展TCSPC 寿命测试系统。利用先进的TCSPC 激发光源，电子计时单元和检测器，Fluorolog-QM 可提供快速的测试，强大的通用性。l 所有的稳态/ 时间分辨控制，采集和分析都在FelixFL 软件中进行。l 超过40 年的TCSPC 研发和生产经验l 100 MHz操作系统，实现毫秒内完成采集l 根据寿命测试时间范围，软件自动控制脉冲光源频率l TCSPC 寿命测试范围从5 ps到sl FelixFL软件包实现稳/瞬态采集l 可测量TCSPC寿命、时间分辨各向异性和时间分辨发射光谱（TRES）l 超过60个先进的脉冲LED和脉冲激光可供选择l 配合HORIBA倍频器，扩展皮秒超连续激光器的多用途—研究蛋白时间分辨的强大工具l 寿命衰减曲线分析包具有多种拟合模型，包括最大熵法(MEM)寿命分布程序近红外解决方案（适合热点研究应用：稀土、量子点、AIE、近红外二区探针等）SSTD磷光检测模式是所有Fluorolog-QM系统的标配功能，为近红外样品的近红外发光研究提供解决方案。SSTD测试速度比传统的MCS技术快8倍，并且不受检测器类型限制（MCS技术只能配合PMT检测器），从而扩展寿命检测范围至5500nm。Fluorolog-QM可配备多个光源和检测器，以覆盖最宽波长范围的稳态光谱，荧光和磷光寿命测试需求。可参考以下配置:l 配置R928 PMT、NIR PMT（H0330或R5509-73市场主流型号）、InGaAs和InSb检测器的双发射单色仪覆盖范围从185 nm到5500 nml 用于稳态光谱的连续氙灯l 20 Hz Q调制开关/OPO激光器，用于210 nm到2200 nm的可调激发l 180 nm到5500 nm的稳态光谱l 单脉冲实时采集技术(SSTD)用于测量从185 nm到5500 nm范围内的磷光衰减多种近红外荧光测试解决方案NIR PMT检测器NIR PMT检测器具有超高灵敏度，同时适用于稳态和TCSPC寿命测量，目前TCSPC电子设备是获得皮秒到纳秒荧光寿命的选择选择。4款NIR PMT，满足宽光谱覆盖范围l 300~1400 nm，液氮制冷l 300~1700 nm，液氮制冷l 950~1400 nm，电制冷l 950~1700 nm，电制冷固态光电二极管近红外检测器HORIBA可提供多种光电二极管，包含LN制冷，检测范围可扩展至5500 nm。l InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nml InAs: 1000~3450 nml InSb: 1500~5500 nmNIR 寿命测量波长范围可达5500 nm!以上列出所有检测器均可在单脉冲磷光(SSTD)模式中用于NIR发光寿命测量，寿命测量范围可从1微秒至秒。SSTD技术具有超快检测速度和超高的信噪比:l 可调超高频闪烁氙灯，用于荧光寿命测试l 第三方脉冲Q调制激光器l 相较于NIR PMT，固态近红外检测器提供更高性价比的磷光检测方案。强大的FelixFL软件Fluorolog-QM 荧光光谱仪集成FelixFL软件，实现仪器硬件和附件控制。FelixFL作为新型软件平台，界面友好，操作简单，可用于所有稳态及时间相关光谱的采集和分析。通过USB接口连接，FelixFL即可拥有全套数据采集支持，实现控制所有系统配置和运行多种操作模式。高级运算FelixFL软件提供多种定制化功能，包括量子产率、吸收、FRET，色坐标计算，以及单壁碳纳米管结构参数等。这对扩展（例如积分球和吸收附件）数据分析非常方便，并且对于一些荧光应用也不可或缺，例如分子间相互作用（FRET）和材料表征。l 单壁碳纳米管结构计算l 色坐标计算l 吸收计算器l 绝对量子产率l FRET荧光共振能量转移多种附件可选Fluorolog-QM系列具有最全面的配件系统，研究人员可以根据实验需求，不断扩展仪器功能l 绝对量子产率测量积分球附件l 偏振附件l 吸收/透射附件l 微量比色皿：250 μl 微量样品池；500μl 比色皿5×5 mml 2位和4位磁力搅拌控温样品支架l 4位磁力搅拌样品支架l 液氮或液氦低温恒温器l 固体样品架，测试角度360°可调，满足样品前表面荧光测量，适用于薄膜，粉末，颗粒，纸张，纤维和显微载玻片等样品测量l 自动滴定仪双注射，双阀l Hi-tech SFA-20超快停留动力学附件l 密封防刮标准水样品，用于水拉曼S/N验证l 发射校正因子附件l 激发校正因子附件l 上转换激光附件l 20 μl HPLC 流动样品池l X射线源l 显微镜l 高温附件l 变温量子产率

产品介绍：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪是南京大展仪器生产的一款热分析仪器，采用瞬态热源法，具有测量速度快，测试广泛广，采用双向的控制系统，操作便捷，并且配有软件分析，可以直接出数据报告，采用全新的外形设计，简约小巧。测试方法：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。测试范围：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。性能优势：1、测量方法。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用非稳态法中的瞬态热源法，与其他测试方法相比，测量速度更快，准确性高。2、测量速度快。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪能够在5~160s内测量出导热系数，提升实验的效率。3、多功能性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪适用于不同类型材料的导热系数测试，其中包括：液体、固体、金属、膏体、胶体、薄膜、粉末和复合材料等等，适用性广泛。4、易用性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用双向操作控制系统，仪器和计算机同时操作，彩色触摸屏操作，使得使用和操作设备变得简单和便捷。5、数据准确性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪拥有配套的分析软件，能够提供准确可靠的导热系数测试数据，可直接提供数据报告。6、重复性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪对样品实行无损检测，样品可以重复使用。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃（可拓展到-40~300℃）探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

简介：瞬态光电流（TPC)/瞬态光电压（TPV）测量系统主要用于太阳能电池在稳态，瞬态以及交流条件下的光电性能测量（载流子迁移率测量Photo-CELIV，瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测）为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子浓度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：载流子迁移率量测 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 应用案例：1.第三代太阳能电池的表征2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain

荧光上转换系统 FluoMax是研究溶液、固体样品和hin薄膜中的荧光动力学的关键系统。它的时间窗为2ns，具有低于100fs的固有时间分辨率。该检测方法依赖于利用飞秒光选通技术对非线性光学晶体进行和频生成。FluoMax的光谱范围覆盖了可见光和近红外区域。它被设计用于匹配任何类型的飞秒钛蓝宝石振荡器(1 - 100mhz, SC版本)和再生放大器(0.5 - 10kHz, MP版本)。 高性价比 操作简单 拓展光谱 由光谱学专家设计 多样化的工具和配件探测荧光波长范围(350-1300 nm)100fs内在时间分辨率 全电脑操作 时 间 窗 口 2 n s （标 配） 4ns（可选） 排放各向异性测量 超高信噪比 激光诱导荧光是由飞秒激光脉冲产生，并指向一个光学非线性晶体。只有在存在延迟飞秒栅脉冲时，非线性晶体才会产生和频辐射。由于光学延迟扫描的结果，荧光上升或衰减动力学被测量在一个波长由单色仪和非线性晶体调整。系统灵敏度取决于荧光激发光的平均功率、脉冲重复率、发射寿命的样本,转换有效率光谱仪的暗计数的光子计数系统,和测量时间。有机化学:合成化合物中的电荷转移 瞬态排放获得动力学与FluoMax-MP TAA-based有机化合物在溶液中与激发Clark-MXR CPA2010™ 倍频输出。用2uj, 1kHz, 388 nm脉冲激发。时间动力学拟合(实线)是用复指数函数和高斯函数进行的。

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。

高精度和高性能的OLED（钙钛矿(Q)LED,QLED）瞬态响应测量。M6200OLED瞬态EL/PL测试系统是为测试OLED器件的瞬态电致发光、时间分辨光致发光等瞬态响应特性而设计的。瞬变电致发光测试系统采用电脉冲发生器作为激励源，时间分辨电致发光测试系统采用高速脉冲激光器。它是研究电荷迁移率、响应时间和载流子寿命等载流子动力学的有用工具。-瞬态电致发光（Tr-EL)-时间分辨光致发光(TR-PL)-低温测量-光谱测量-长余辉测试

瞬态平面热源法导热系数测试系统——变温变真空多试样一、简介瞬态平面热源法作为一种绝对导热系数测量方法，在理论上可以达到很高测量精度。在被测试样尺寸和其它要素满足测试方法规定的边界条件时，导热系数的测量范围理论上可以没有限制。因此，对于均质材料，采用瞬态平面热源法不失为一种操作简便和测量精度高的有效方法，在温度不高范围内（-196℃～200℃），这种方法可以作为一种标准方法来使用，并与其它导热系数测试方法一起形成有效的补充和相互比对，甚至可以用于校准其它测试方法。瞬态平面热源法已具有国际标准测试方法，即ISO 22007-2:2008 Plastics-Determination of thermal conductivity and thermal diffusivity-Part 2: Transient plane heat source (Hot Disk) method。依阳公司生产的瞬态平面热源法导热系数测试系统是一种多功能测试设备，具有测试块状和分体材料以及薄膜材料的功能，同时还配备了真空腔装置、循环油浴温度控制系统、气体压强控制系统和多通道扫描开关装置，从而实现了在不同温度和气氛压力下对多个试样同时进行测量。二. 特点（1）变温测试采用冷热循环油浴增压泵流出的硅油作为加热介质流经装载有试样的真空腔体壁，真空腔体放置在厚实的隔热材料套中，使得被测试样可以精确的按照循环油浴温度进行恒温控制，充分利用了循环油浴±0.05℃的高精度温度控制功能，保证了试样温度的均匀性和稳定性。并且，可以通过计算机控制循环油浴的设定温度来自动实现不同温度下的试样热导率测量。试样温度变化范围取决于恒温油浴的温度变化范围，一般温度变化范围为-40℃至250℃。同时还可以配备低温制冷机系统，从而实现温度达到液氦温度区间的材料导热系数测试。 （2）变气压测试工程材料，特别是孔隙率较大的低密度材料，它们所处的气氛压强会严重影响材料的导热系数。同时，空气中的水份也会使得材料的导热系数发生改变。所以，为了准确测量材料的导热系数，所有导热系数测试方法都对被测试样的气氛环境有严格规定，通常要求是一个标准大气压下的高燥空气环境。另外，在宇航空间用工程材料中，距离地球表面不同高度时气氛压强的不同也会导致材料不同的导热系数。为了规范测试气氛环境和模拟出准确的所需气氛压强，导热系数测试系统配备了依阳公司独自研发的具有人工智能的高精度气氛压强控制系统，使得放置试样的真空腔内的气压精确恒定在所需的气压设定点上，实现了不同气体成分在不同气压下的实验环境模拟。试样环境气氛可以是空气和其他任何气体，气压控制范围为3Pa至1个标准大气压，气压的波动率全量程范围内都小于±1%。 （3）多试样同时测量瞬态平面热源法作为一种非稳态法，在理论上有很快的测试时间，但这里所谓的测试时间是指纯粹的通电测试时间，并不包括达到测试模型边界条件要求（被测试样温度均匀）所需要的时间。被测试样热导率越小，试样达到温度均匀所需要的时间越长。一般规定，两次测试的间隔时间至少是测量时间的36倍。如果测量低导热材料（热导率约为0.03 的隔热材料），通常的测试时间为180秒以上，那么重复性测试的时间间隔至少要108分钟。这就意味一个完整的测试过程至少需要近2个小时，而大部分时间是在等待试样温度达到稳定，这还不包括变温过程中温度控制时的恒温时间。由此可见，在测量较低热导率材料过程中，整个测试过程和测试效率并不是很高，与其它稳态法旗鼓相当。为了进一步提高瞬态平面热源法的测试效率，我们增加了一个程序控制的多通道扫描开关，即采用多探头多试样同时测量技术，充分利用试样温度稳定这段等待时间，既保证了每个独立试样的有效测试时间间隔，又能最大限度提高样品测试数量，提高测试效率。 （4）试样多样化安装为了满足固体、粉体和膏状等不同形式材料的导热系数测量，瞬态平面热源法导热系数测试系统配备了专门设计的试样容器。 （5）各向异性导热系数测量为了适用于多层材料、纤维增强塑料等各向异性样品的热传导性能的测试，瞬态平面热源法导热系数测试系统配备了专门设计的测试软件，可进行厚度和面内方向的导热系数测量。（6）薄膜材料导热系数测量瞬态平面热源法导热系数测试系统还可用于单层薄膜样品如织物、高聚物薄膜、陶瓷薄膜、纤维材料、纸和陶瓷上的溅射金属涂层等材料的导热系数测试。样品厚度范围为0.01～2 mm，导热系数测试范围0.005～10 W/mK 三. 技术指标（1）温度变化范围：-269℃～250℃（依据所用温度环境装置）。（2）气压控制范围：3Pa～个标准大气压，气体可以是空气、氮气等，波动率小于±1%。（3）通道数：4线制连接，共8个通道。手动切换和计算机程控切换，最多可同时测量8组试样。（4）试样形式和尺寸：最大试样尺寸为50mm×50mm×40mm。（5）试样形式：固体、粉体、膏状物、薄板和薄膜等。（6）导热系数测量范围：0.005～500W/mK。（7）导热系数测量精度：优于±5%。（8）导热系数测量重复性：优于±7%。（9）薄板试样测试：薄板厚度范围0.1～10mm，导热系数测量范围为10～500 W/mK。（10）薄膜试样测试：薄膜厚度范围为0.01～2 mm，导热系数测试范围0.005～10 W/mK。 四. 应用（1） 瞬态平面热源法薄板试样测试方法对于薄板或薄片状材料，瞬态平面热源法中有专门的测试模型用于导热系数测量，所测试的导热系数是试样整体的导热系数，而不是面内方向的导热系数。如下图所示，测量时先选择两块厚度一致的样品，精确测量样品厚度后，将两块薄板样品分别放置于探头的两边，然后用两块相同材质的绝热隔热材料压紧，使探头与样品之间没有空隙，以保证探头产生的所有热量均为样品所吸收。薄板样品的直径或边长一般应大于50mm。每片样品的厚度可以从0.2mm至8mm不等，这取决于探头半径。薄板试样测试方法与块状试样测试方法有些类似，主要的区别有两点：被测薄板试样的外侧要用绝缘低导热材料压紧，使得试样四周的热损失与探测器加热量相比非常小。在试样中的热流传递主要在薄板试样面内方向上进行，所以瞬态平面热源法薄板测试模型假设试样是无限大平板热传递模型。 （2） 瞬态平面热源法薄膜试样测试方法对于薄膜材料（电绝缘），瞬态平面热源法中采用了薄膜测试模型用于导热系数测量，所测试的导热系数是试样整体的导热系数，而不是面内方向的导热系数。测试时，探头被放置于两片样品和导热性能良好的背景材料之间。测量时，根据薄膜材料的接触热阻的数据计算得到样品的导热系数。如下图所示，测量时先选择两片厚度一致的薄膜样品，精确测量薄膜样品厚度后，将两块薄膜样品分别放置于探头的两边，然后用两块相同的不锈钢块压紧，使探头与样品之间没有空隙，以保证探头产生的所有热量均为样品所吸收。 需要注意的是，在瞬态平面热源法薄膜导热系数测量过程中，被测试样一般没有加载力或加载力很小，对于试样的加载也是为了让被测试样贴紧探头减少探头与被测试样之间的热阻。 （3）不同气压下的导热系数测量硬质聚氨酯泡沫塑料试样，环境温度25℃，每个气压点上至少进行十次重复性测量，采用HOTDISK 4921探头，加热功率0.01～0.006W，加热时间160秒和320秒。（4）不同温度导热硅脂导热系数测量导热硅脂试样，测试温度25～150℃，每个温度点上至少进行10次重复性测量，采用4921探头。

产品介绍： 太阳能光催化使用的一般都是半导体光催化剂,其光催化的基本过程一般分为以下几个过程：电子空穴的产生、捕获、复合、迁移及反应。光催化剂中光生载流子的动力学过程往往进行得非常快，稳态的测试和表l正方法常常难以满足实验的要求。例如对于TiO2催化剂，其光生载流子的某些动力学过程的特征时间尺度在ns、μs量级，还有些超快动力学过程在ps、fs时间量级内就完成了。因此，对于半导体光催化剂中光生载流子动力学过程的研究，常常需要采用快速或超快的时间分辨分析测试技术 。瞬态光电压技术, 可以用来研究光生电荷分高的动力学信息，包括：光生电荷分寓过程中的漂移和扩散过程、漂移过程一般指发生在颗粒内的快速分高过程；而主扩散过程一般为长时间范围内颗粒间的电荷传输。另外，通过分析瞬态光电压谱的形状、时间尺度、符号、强度等方面可以得到光生电荷分离和复合的快慢、分离方向、分离模式、分离程度等一系列信息。瞬态表面光电压技术是研究纳秒时间尺度上光生电荷行为的一种有效手段,具有非接触,无损等优点,它能够直接反映出光生电荷的分高方向，分高效率，电荷寿命等动力学信息。对于光催化反应，通过表面光伏方法分析光生电子一空穴对的分离与传输过程，能够探索引起电荷复合的机制，为提高电荷分高效率提供指导。

仪器简介： 美国高分辨深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS。 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具有很高检测灵敏度的实验方法，能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。通过对样品的温度扫描，给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度（即能量）分布的DLTS谱，集成多种全自动的测量模式及全面的数据分析，可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布。 也可用于光伏太阳能电池领域中，分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。 感谢中国科学院宁波材料研究所,国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 南昌大学 西安电子科技大学成为此设备的专业用户！！ 此设备在全球用户众多，比欧洲设备性能价格比高，是研究材料深能级领域的理想工具！！使用闭循环液氦制冷机，从低温到高温只需要升温一次，就能完全得到所有频率的曲线，不同频率不再需要再做一次升降温, 这是其它设备所不具有的功能！Semetrol 的DLTS系统温度范围：25K - 700K，液氦制冷，性能价格比高系统配置:DLTS数据采集及分析软件 (DLTS, ODLTS, DDLTS)Semetrol型快速电容测试器自动电容零点界面数据采集卡及中断箱 ODLTS穿导件机柜安装硬件及电缆设备机柜GPIB 接口卡电脑是双核, 2GB 内存, 19”显示器. USB 接口, CD书写用于数据传输.可调节探针(2)闭环液氦制冷机 (25-700K)温度控制器 电容测试器指标:型号: Semetrol电容零点界面: Yes全自动电容补偿: Yes全自动范围设置: Yes响应时间: ~25μsec补偿范围: 256pF测试频率: 1MHz测试信号级别: 15, 30, 50, 100 mV电容范围: 2000pF灵敏度: 1fF电压范围: +100V to –100V (Boonton) +10V to –10V (数据采集卡)灵敏度: 1mV (电压小于 20V时), 10mV (电压大于 20V时) 0.3mV (数据采集卡)脉冲宽度: 15ms to 0.1sec (Boonton内置偏压) 5μs to 0.1sec (数据采集卡)脉冲幅度: 到 200V, slew rate 20V/ms (Boonton) 到 20V, slew rate of 20V/μs (数据采集卡)电流: 5mA 数据采集卡瞬时记录:采样速率: 可至 1μs. 一般使用 50μs 采样次数: 10,000.记录分辨率: 50ns暂时分辨率, 优于 50aF 电容分辨率过滤: 全自动检测及正弦噪音消除

产品介绍：DZDR-S是南京大展检测仪器生产一款瞬态热源法导热仪，采用全新的外形设计，简约小巧，配备天平，具有测量速度快，操作简单。测试方法：瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。性能优势：1.测试范围广泛，测试性能稳定；2.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；3.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；4.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；5.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；6.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；7.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；8.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；9.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；10.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；11.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；12.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

本系统主要是针对光电器件的动力学分析，利用周期性的脉冲单色光源，产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析，得到光生电的响应时间，如上升 / 下降时间，瞬态光电流与 瞬态光电压曲线 , 从而可以分析器件内部的动力学过程，如载流子的迁移率、载流子的寿命、 载流子的扩散长度等。产品特点：■ 支持多路激光器■ 系统采用显微光路，多种物镜可以切换■ 样品台三维可移动，方便光斑与样品重合■ 支持探针台结构■ 支持高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μszolix瞬态光电性能测试系统DSR800适用范围：■ 钙钛矿太阳能电池，有机太阳能电池，有机无机杂化太阳能电池，薄膜太阳能电池，燃料敏化太阳能电池■ 金属半导体异质结器件■ 光电传感器件测量模式：■ 稳态IV测试(Steady State Current-Voltage Characterization)■ 瞬态光电压/光电流测试(Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 开路光电压衰减/电荷抽取(Open-Circuit Voltage Decay/Time-Resolved Charge Extraction)■ 电压调制瞬态光电压/光电流(Electrical Modulated Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 自定义测量模式(Customized Measurement)配置参数：更多配置说明咨询销售激光光源a纳秒激光器：可选波长：375nm-1310nm范围内多种波长可选，具体咨询销售半导体激光器：可选波长：266nm-2200nm范围内多种波长可选，具体咨询销售高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μs 显微镜模块4个显微镜安装孔，支持多个显微物镜切换内置LED照明模块 多个显微物镜：10x ,20X ,50X等 数据采集模块时间分辨率：4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选通道：2/4通道可选 采样率：2.5 GS/s 记录长度：10M 输入阻抗：1MΩ，50Ω 样品台探针台适正面电极或者异面电极的样品3M夹子样品台适用于：间距为2.54mm的背电极样品 支持定制样品台，适用多种器件结构IPCE测试（扩展功能）波长范围300-1100nm，可以扩展到1700nm功能：光谱响应度，量子效率，单色光IV特性a，根据不同寿命测试需要选择不同类型的，如测试上升或者下降沿需求为μs量级，选择纳秒激光器。zolix瞬态光电性能测试系统DSR800 应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线，点线是实测曲线，实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器，样品感光面积10mm×10mm，下降时间2.99μs ；样品2 氮化镓，样品感光面积1mm2，下降时间82ns ；样品3，氮化镓器件，样品感光面积0.04mm2，下降时间6ns。■ 光伏器件表征大功率LED 光源作为白光偏光光源，也可以选择不同波长LED 光源。对于瞬态测试，532nm 纳秒脉冲激光作为脉冲光源。硅基太阳能电池在无偏置光情况下瞬态光电压信号随脉冲光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电压信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电流信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池器件微分电容和偏置光电压的关系曲线硅基太阳能电池器件电荷量和偏置光电压的关系曲线

优势特点表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。 瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。产品应用光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。详细介绍瞬态表面光电压实验光源为激光器, 激光脉冲半宽为5 ns, 激光波长为355 nm. 脉冲激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器(100 MΩ的输入阻抗, 1 kΩ输出阻抗的放大器)放大进入500MHz 的数字示波器(Tektronix)进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极(直径为5 mm, 透光率为70%), 云母(厚度约10 μm), 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于Ti O?电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。规格参数1) 瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为 2)可分析样品为催化剂粉末材料,采用三明治结构样品池3) ※可分析样品为光电器件，在溶液状态下分析TPV信号，测试样品的表面光电压信号和电子扩散长度；4)※Nd:YAG激光器：脉冲宽度：8ns @1064 nm, 7ns@532 nm, 6nm@355 nm，6nm@266 nm；光斑尺寸：7 mm 激光输出能量：200 mJ@1064 nm, 100 mJ@532 nm, 40 mJ@355 nm，20mJ@266 nm 频率1~20Hz；稳定性3%，RMS1ns 5)前置放大器，2通道，DC~350MHZ带宽，升降时间1ns，噪音6.4nv/HZ；6)数字荧光示波器，500 MHz 带宽，2 条模拟通道，所有通道上实时采样率高达 5 GS/s，所有通道记 10k 记录长度，3,600 wfms/s 连续波形捕获速率，高级触发套件，前面板 USB 主机端口，可以简便地存储和传送测量数据25 种自动测量标配 FFT，多语言用户界面，自动检测异常波形， 接口支持有源探头、差分探头和电流探头，自动定标和确定单位，配备 USB 主控端口，可以轻松将测量信息存储和传输到个人计算机中，个人计算机通信软件使您能够轻松将屏幕图像和波形数据拖入独立桌面应用程序或直接拖入 Microsoft Word 和 Excel。7)※光功率计，测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw，四挡量程自动分辨，可切换光功率密度，配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能，可以根据参数自动计算出光源强度和产氢效率，计算输出：光催化反应产氢速率mol/s ，入射光子数，平均产氢量子产率百分比，平均光-氢能量转化效率百分比。8)配置不锈钢粉末样品池，石英溶液样品池各一套，分别用于粉末样品和器件样品分析。9)所有光路均置于封闭暗箱内，无外届光源影响分析测试，内部配有导轨、反射镜、精密升降台平台，可以实现水平光路，也可以实现垂直光路。10)系统包含光学平台（900*1200mm）、暗箱、品牌电脑、控制及数据采集软件。11)※专用瞬态定制软件，专用的硬件、软件降噪算法，实时采集并分析数据出谱图，分别完成粉末样品和溶液样品的分析。12)安装、调试及技术培训，培训内容包括仪器的技术原理、操作、数据处理、基本维护等。

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！FluoTime 300“ EasyTau”是一款用于稳态，寿命和磷光测量的全自动的高性能荧光光谱仪。FluoTime 300包含测量稳态光谱和荧光衰减曲线所需的完整光学和电子元件，凭借时间相关单光子计数（TCSPC）或者多通道测量（MCS）技术，有效记录稳态光谱以及几皮秒到几秒的荧光衰减。该系统光源采用皮秒脉冲二极管激光器，LED或氙灯（连续和脉冲）。多种单光子探测器选项可实现从UV到IR范围的各种系统配置。该系统极限灵敏度水拉曼信噪比为29000：1。FluoTime 300可用于研究从几皮秒到几秒的荧光和磷光衰减过程，并且拥有丰富的升级附件可选，是大多研究和分析不可或缺的标准系统。应用领域:时间分辨荧光/磷光光谱稳态荧光光谱单线态氧荧光上转换研究荧光各向异性测试量子产率测试光化学研究LED，OLED，量子点研究特点：模块化的全自动系统设计时间分辨和稳态双工作模式简单易用的向导式软件和第三方开发工具荧光寿命时间测量范围从ps-ms灵敏度可达26000：1（水拉曼信噪比）参数：光学结构l L型工作模式l 稳态、TCSPC和MCS灵敏度l 典型信噪比优于29000:1 (PMA 175探测器)，激发和发射光路中使用双单色仪，基于水拉曼光谱，激发波长350nm，光谱带宽5nm，积分时间1s荧光寿命范围l 40ps到10μs，采用PMT探测器和TCSPC模式的计数模块；l 10 ps 至 10 µ s，配有 Hybrid 检测器、TCSPC 电子元件和合适的激光器；l 10 ps 至 10 µ s，配有 MCP-PMT 检测器、TCSPC 电子元件和合适的激光器；l 大于几百ms，采用任何探测器和MCS模式的计数模块。激发光源l 皮秒脉冲二极管激光器或LED，波长从260nm-1990nm可选，重复频率高达80MHz，共用驱动单元l 高功率和紫外激光器（VisUV、VisIR）l 亚微秒脉冲氙灯l 300W CW同轴氙灯l 支持外部激光器，如钛宝石激光器、脉冲DPSS或白光激光器单色仪l Czerny-Turner结构l 聚焦长度：300mm，单出口或者双出口；双单色仪焦距长度为2 x 300 mm，单出口或双出口（发射端的+、-模式切换）；l 1200g/mm光栅，闪耀波长为500nm；600g/mm光栅，闪耀波长为1250nm；（其他光栅可选）；l 狭缝宽度在0mm至10mm之间可调（连续可调，完全电动），色散2.7 nm / mm（单单色仪，聚焦长度300mm）l 杂散光抑制比典型值1:10-5（单单色仪），1:10-8（双单色仪）。探测器l 光电倍增管PMT系列，185~920nm可选；l 微通道光电倍增管MCP-PMT系列，185~910nm可选；l 紫外/可见光-近红外PMT波长范围为200nm至1010nm；l 近红外光电倍增管NIR-PMT系列，950~1700nm可选；l 混合式光电倍增管Hybrid-PMT系列，200~900nm可选。软件l 操作简单，功能全面，基于Windows系统的分析软件；l 在工作区数据归档，数据导出功能和数据运算；l 使用向导进行标准化测量的辅助模式；l 完全控制所有硬件参数的定制模式；l 用于常规测量自动化的脚本模式；l 远程执行脚本（将自动化扩展到第三方设备）；l 荧光寿命光谱分析基于数卷积处理，高至五阶指数的衰减函数，含杂散光校正，寿命分布曲线，各向异性测试，全局分析，严密错误分析等功能。

瞬态光电流/瞬态光电压测量系统（TPC/TPV），用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

产品介绍：DZDR-S瞬态导热系数测定仪是南京大展检测仪器推出一款新导热仪，采用瞬态热源法，具备测量速度快、测试范围广，采用全新的外形设计，简约小巧，双向操作系统，操作便捷性高等优势。测试范围：DZDR-S瞬态导热系数测定仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。测试方法：DZDR-S瞬态导热系数测定仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。性能优势：1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；3.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；4.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；5.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；6.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；7.探头上的数据采集使用了数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；8.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃（可拓展到-40~300℃）探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

飞秒瞬态吸收光谱仪 瞬态吸收光谱仪通过用“泵浦”脉冲激发分子系统,延迟后用探测脉冲获取系统信息的方式来研究分子特性。 我司瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择“泵浦”和“探测”脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。 特点&优势 1. 探测液体、固体以及薄膜中的瞬态吸收和模拟发射，分辨率可达100fs。 2. 全电脑控制 3. 宽波长范围瞬态谱的获得（200-1000nm） 4. 4ns时间窗口（-DP 选项），8ns（-DDP选项） 5. 瞬态吸收各向异性测量 6. 双光束规格（-U选项）提供超高信噪比表现 技术规格 激发 SHG THG Rainbow 20F 泵浦光谱范围 230-12,00nm 探测光源 连续白光 探测光谱范围 300-750nm；240-620nm and 380-1100nm optional 扫描范围 2ns，1fs resolution； （4ns，2fs optional） 时间分辨 ＜1.7 X pump pulsewidth 噪音级别 1.3 x 104OD typical 软件 Standalone and Lab ViewTM 尺寸 89L*64W*25H cm 重量 34Kg 输入参数 能量 ＞0.3mJ 脉冲宽度 30—150fs 光束直径 5---10mm （near TEM） 偏振 Linear，horizontal 重复率 0.3---3kHz 波长 750---850nm 光束高度 110nm 应用领域 1.三线态吸收2.分子动力学3.材料科学4.光催化5.激光晶体6.太阳能晶体

产品介绍： DZDR-S 导热系数测试仪是采用了瞬态平面热源法，仪器由南京大展检测仪器研发、生产，采用了一体化的机型设计，能够实现一键测量，同时进口芯片，测量速度快5~160s出结果，操作简单。测量范围: DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪测试样品种类较多，包括：金属、陶瓷、合金、矿石、聚合物、复合材料、纸、泡沫和玻璃钢面板复合板材等。测试方法介绍： DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量导热系数，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便，可以选配有粉末测试容器、液体杯。优势特点：1、直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2、主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；3、探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；4、智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；5、仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；5、强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。测试步骤：技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套