面阵激光光束分析仪

LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理，将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统，可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性，探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性，研究器件吸收与电荷生成的微区特性，以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点： 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格：系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例： 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图， 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图， 图示空间分辨率为50um。

面阵激光光束分析仪Spiricon 公司于1978 年在美国犹他州洛根市成立，提供产品覆盖深紫外（13nm）到远红外(3000m)，可为光刻、激光器制造、激光精密加工、光通讯、太赫兹等应用提供合适的光束分析系统解决方案。Spiricon 公司在光束质量分析仪领域拥有多项专利，尤其是Ultracal ™ 逐点背景噪声扣除技术，协助制定了ISO 11146-3 号光束质量分析精度标准文件。2006 年加入激光量测领域领导者Ophir 集团公司，面向激光器制造、激光加工、军事、医疗和科研等领域用户，从而可以提供更加全面的单元和可定制激光量测系统方案。Spiricon国内独家代理商请认准先锋科技。 Spiricon 公司激光光束分析系统包含三大部分：CCD 相机、专业光束分析软件及各种应用附件。◆ CCD 相机（光束质量分析系统的关键）在连续或脉冲模式下，激光打在CCD 相机的芯片上，通过相机本身的光电转换，将光信号转换成电信号输出。◆专业光束分析软件（光束分析系统数据/ 图像处理与运算的核心）测量前：应用Ultracal ™ ，消除背景噪声；测量中：接收相机输出的电信号，并通过精确地运算从而得出符合ISO 标准的光斑大小、峰值中心、几何中心、高斯拟合度等参数；测量后：测量数据与图像的保存；可根据不同的用途，软件分为标准版、专业版和企业版三种。◆附件（光束分析系统的拓展）单独CCD 相机无法完成市场上全部激光的光束质量分析要求，这就有时候需要我们增加不同附件来完善CCD相机的功能：光斑大小可以用缩束/ 扩束器进行调节；激光功率/ 能量密度可以用分光器/ 衰减器进行降低；硅材质相机对于紫外线相应灵敏度降低，造成测量结果偏差大，用紫外转换器将紫外线转化成可见光，可以完全解决这一问题。

相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器, 直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像, 传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析 仪是目前使用最多的光斑分析仪,可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光,可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成:&bull 相机。相机确定了可测量的波长范围:硅基 CCD 相机通常为 190nm ~ 1100nm；InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；热释电面阵相机则可覆盖 13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的最大尺寸,而像素尺寸则决定了能够测量的最小光斑尺寸；通常需 要 10 个像素体现—个光斑完整的信息。&bull 光束分析软件。软件除了采集数据并按照各种数学模型进行分析计算外,更为重要的是确保光束分析计量的准确性。Spricon 公司采用 Ultra CALTM 技术扣除 相机的起伏背景,确保在各种强度下得到的光斑都具备定量准确性；丰富的光斑识别、手动及自动选区功能,避免光斑品质计算中引入过大 误差甚至出现伪结果:例如对多模(多瓣)光束的自动分析。&bull 附件。几乎所有的激光器的强度都超过相机的饱和强度甚至损伤國值,高品质的衰减附件可确保在保持光束品质的情况下衰减强度；扩束、缩束、放大、 投影成像等高品质成像系统使得尺寸—定的传感器可以适应不同的光斑。1、硅基 CCD 相机 SP928/SP907 SP300/SP920G LT665 L11059主要特点： &bull 相应灵敏度高 &bull 不同感光面尺寸可供选择 &bull USB2.0/USB3.0/ Gigbit Ethernet 三种接口方式 &bull C-Mount 接口,可选择衰减片、分光片等多种附件主要应用领域：&bull 半导体激光器&bull HeNe 激光器 &bull 紫外激光加工设备 技术参数：相机型号SP930SP928LT665L11059波长范围190-1100nm190-1100nm190-1100nm190-1100nm芯片尺寸7.1mmX5.3mm12.5X10mm35mmX24mm像元大小4.4μm X4.4μm4.54μmX 4.54μm9.0μm X9.0μm分辨率1928X14481928X14482752X21924008X2672动态范围56dB56 dB54 dB59 dB灵敏度1.2nW/cm21.2nW/cm20.3nW/cm20.17nW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )0.15mw/cm2软件配置BeamGage Pro接口方式USB3.0USB3.0USB3.0USB2.0特点通用 / 高动态 范围高动态范围 / GigaE大面阵 / 高分辨率超大面阵2、镀磷光材料 CCD 相机SP928-1550 硅材料 CCD 相机的长波截止波长 为 1100nm (对于较强的光可响应至 1300nm ) 。通过在芯片表面镀上转换 磷光材料,能够探测光通讯广泛使 用的 1550nm 左右激光。主要特点：反斯托克斯磷层吸收 1440-1605nm 近红外光,进而产生的可见光在硅基芯 片上进行成像。主要应用领域： &bull 光通讯； &bull OPO 激光等相机型号 主要参数SP928-1550LT665-1550波长范围1440-1605nm1440-1605nm芯片尺寸7.1mmx5.3mm12.5mmx10mm像元大小4.4μm x4.4μm4.54μm x4.54μm分辨率1440x16052752x2192动态范围30 dB30 dB灵敏度50μW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )软件配置BeamGage STD or PRO接口方式USB3.03、近红外 InGaAs 相机 SP1201/1203 XC-130主要特点： 量子效率高, 暗电流小, 灵敏度高, 爆光时间范围宽。主要应用领域： 空间遥感、夜视、侦察与监视、遥感系统、 红外成像制导、 光电对抗等相机型号SP1203SP1201XC-130波长范围900 - 1700nm芯片尺寸9.6x7.6mm像素大小15μm x15μm30μm x30μm分辨率640x512320x256动态范围68dB59dB68dB( 低增益 )/ 60dB(高增益 ) 饱和强度12.6uW/cm2@1064nm8.9uW/cm2@1550nm12.6uW/cm2@1064nm8.9uW/cm2@1550nm 1.3uW/cm2 @ 1550nm芯片制冷TEC 制冷TEC 制冷TEC 制冷强制散热顺率60Hz60Hz100Hz爆光时间10μs - 50ms150μs - 10ms1μs - 400s软件配置BeamGage ProBeamGage ProBeamGage Pro接口GigEGigEUSB2.0 4、热释电阵列相机 Pyrocam IV Pyrocam IIIHR主要特点： 13-355nm&1.06-3000μm 超宽波长覆盖。主要应用领域： CO2 激光,光通讯,太赫弦,自由电子 激光器等。 配合 M² 分析软件及自 动导轨,可以测量 M² 因子。相机型号Pyrocam III HRPyrocam IV波长范围13-355nm&1.06-3000μm13-355nm&1.06-3000μm芯片尺寸12.8mmx12.8mm25.6mmx25.6mm像元大小75μm x75μm75μm x75μm分辨率160x160320x320灵敏度64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)损伤國值8W/cm2(CW)600mJ/cm2(1ms Pulse)8W/cm2(CW)600mJ/cm2(1ms Pulse)软件配置BeamGage Pro接口方式GigEGigE

激光光束分析仪(Laser Beam analysis)除了激光功率 / 能量外,激光在传输方向横截面的强度分布以及激光的传输特性,也是激光器应用中决定性的因素:绝大多数应用需要根据激光的传输特性(M2 )来设计光路；定量科学实验和高品质激光加工都需要实际测量激光焦点的分布。同时,很多激光器在使用中,泵浦源或光学器件衰减首先体现在激光光斑的变化上,定期测试激光光斑有助于提前发现衰减倾向,及早维护,降低维护成本、缩短停机时间,预防激光器性能突变导致产线灾害。激光的截面强度分布的测量(光斑分析)通常采用光束分析仪,而传输特性通常用 M2 表征,由 M2 测试仪按照 ISO 标准进行测量。Spiricon 公司是业内久负盛名的激光光束分析仪和 M2 生产厂家,自上世纪十年代末开始研发提供激光光束品质分析仪,并参与制定了光斑测量的ISO11146-3 标准。产品种类覆盖 CCD 相机式光束分析仪、InGaAs 面阵相机光束分析仪、热释电晶体面阵光束分析仪、狭缝扫描式光束分析仪、全自动M2 测量仪、高功率激光聚焦测试仪等,波长覆盖 13nm ~ 3000μm,广泛应用于激光器制造、激光精密加工、光通讯、太赫弦、激光科学研究等领域。Spiricon 公司 2006年加入 OPHIR 集团,使后者成为激光测量全系解决方案的供应商。相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器, 直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像, 传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析 仪是目前使用最多的光斑分析仪,可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光,可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成:&bull 相机相机确定了可测量的波长范围:硅基 CCD 相机通常为 190nm ~ 1100nm；InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；热释电面阵相机则可覆盖 13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的最大尺寸,而像素尺寸则决定了能够测量的最小光斑尺寸；通常需 要 10 个像素体现—个光斑完整的信息。&bull 光束分析软件软件除了采集数据并按照各种数学模型进行分析计算外,更为重要的是确保光束分析计量的准确性。Spricon 公司采用 Ultra CALTM 技术扣除 相机的起伏背景,确保在各种强度下得到的光斑都具备定量准确性；丰富的光斑识别、手动及自动选区功能,避免光斑品质计算中引入过大 误差甚至出现伪结果:例如对多模(多瓣)光束的自动分析。&bull 附件几乎所有的激光器的强度都超过相机的饱和强度甚至损伤國值,高品质的衰减附件可确保在保持光束品质的情况下衰减强度；扩束、缩束、放大、 投影成像等高品质成像系统使得尺寸—定的传感器可以适应不同的光斑。硅基CCD 相机主要特点&bull 相应灵敏度高&bull 不同感光面尺寸可供选择&bull USB2.0/USB3.0/ Gigbit Ethernet 三种接口方式&bull C-Mount 接口，可选择衰减片、分光片等多种附件主要应用领域&bull 半导体/ 光纤等激光器光斑分析&bull 激光加工设备&bull 生物医疗激光分析等相机型号SP300SP928LT665L11059波长范围190-1100nm190-1100nm190-1100nm190-1100nm芯片尺寸7.1mmX5.3mm12.5X10mm35mmX24mm像元大小4.4μm X4.4μm4.54μmX 4.54μm9.0μm X9.0μm分辨率1928X14481928X14482752X21924008X2672动态范围56dB56 dB54 dB59 dB灵敏度1.2nW/cm21.2nW/cm20.3nW/cm20.17nW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )0.15mw/cm2软件配置BeamGage Pro接口方式USB3.0USB3.0USB3.0USB2.0特点通用 / 高动态 范围高动态范围 / GigaE大面阵 / 高分辨率超大面阵镀磷光材料 CCD 相机硅材料 CCD 相机的长波截止波长为 1100nm (对于较强的光可响应至 1300nm ) 。通过在芯片表面镀上转换磷光材料,能够探测光通讯广泛使 用的 1550nm 左右激光主要特点反斯托克斯磷层吸收1440-1605nm 近红外光，进而产生的可见光在硅基芯片上进行成像。主要应用领域光通讯，OPO 激光等。相机型号 主要参数SP928-1550LT665-1550波长范围1440-1605nm1440-1605nm芯片尺寸7.1mm根5.3mm12.5mm根10mm像元大小4.4μm 根4.4μm4.54μm 根4.54μm分辨率1440根16052752根2192动态范围30 dB30 dB灵敏度50μW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )软件配置BeamGage STD or PRO接口方式USB3.0红外信号上转换至可见光信号的过程是非线性的，也即针对这类镀磷的相机，芯片感测到的信号并不正比于输入的红外光强信号。Spiricon基于大量的实验测量了转换效率的非线性特性，研究了校正算法并将这一算法植入BeamGage 软件中，确保软件的到的结果真实可靠。近红外 InGaAs 相机　　　XC-130　SP1201/1203主要特点：量子效率高, 暗电流小, 灵敏度高, 爆光时间范围宽。主要应用领域：空间遥感、夜视、侦察与监视、遥感系统、红外成像制导、 光电对抗等。相机型号SP1203SP1201XC-130波长范围900 - 1700nm芯片尺寸9.6根7.6mm像素大小15μm 根15μm30μm 根30μm分辨率640根512320根256动态范围68dB59dB68dB( 低增益 )/ 60dB(高增益 )　12.6uW/cm212.6uW/cm2　饱和强度@1064nm@1064nm1.3uW/cm2 @ 1550nm　8.9uW/cm28.9uW/cm2　　@1550nm@1550nm　芯片制冷TEC 制冷TEC 制冷TEC 制冷强制散热顺率60Hz60Hz100Hz爆光时间10μs - 50ms150μs - 10ms1μs - 400s软件配置BeamGage ProBeamGage ProBeamGage Pro接口GigaEGigaEUSB2.0YAG 激光 红外光纤出光 THz 激光 自由电子激光

Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片）激光光束分析仪,激光光斑分析仪,M2分析仪,光束质量分析仪,相机式光束质量分析仪,狭缝扫描式光束分析仪,M方测量仪

美国DataRay公司提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；同时与个人电脑连接对分析的结果提供二维或三维的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果，是激光生产和和科研的好&ldquo 医生&rdquo 。BeamMap2和Beam'R2扫描式激光光束分析仪主要特点：· 三维检测和显示(Beam'R2仅可X-Y扫描)· 适用于：CW或脉冲频率100kHz的激光· 波长范围：190nm到4um· 功能：实时激光焦点、光斑、发散角、准直、对准、M2 分析· 专利的实时多平面采样分析· 分辨率：0.1umNEW1、新的双探头设计一个BeamMap2或Beam'R2可测量波长范围扩大到：190 m到2400nm2、即将推出新的热电探头，更可将波长范围扩张到190nm到100um

Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供最佳的测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB最大帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片） 光斑分析仪，广谱光束分析仪，激光光束质量分析仪

红外激光光束分析仪产品特点●远场和近场光斑均可测量●兼容连续和脉冲激光器●实时测量，支持数据和视频输出●68dB高动态范围 MAGRay技术参数表 波长范围 2~20um 相面尺寸 7.04x5.24mm 像元尺寸 22um 阵列规格 320x240 灵敏度 常规0.04mW/cm2:高量程8mW/cm2 动态范围 2500:1 测量功率 常规0.1W/cm(损坏功率2W/cm) 高量程20W/cm(损坏功率400W/cm) 可外加衰减片提高量程和损坏功率 帧率 50Hz 数据接口 以太网 外观尺寸 53mm(长)x45mm(宽)x43mm(高) 供电接口 DC12V 重量 120g 安装接口 M3螺纹

所属类别： » 光学/激光测量设备 » 激光光束质量分析仪所属品牌：德国Cinogy公司1.5万元人民币！ 高 品质激光光束分析仪！ 让所有需要分析激光光束的客户均能用上最专业的激光光束分析仪！ 以往激光光束质量分析仪偏高的价位使很多激光生产商及激光使用者望而却步。仔细分析其价格构成不难发现，传统光束质量分析仪提供非常多复杂但不实用的功能，绝大多数用户在使用中可能永远用不到这些功能。但目前各光束分析仪公司均将全部光束分析功能打包集成在一套软件中进行销售，导致客户等于是白白为这些可能永远用不上的功能而付费。 为满足普通用户的需求，德国著名光束质量分析仪厂商Cinogy公司日前推出了其划时代的 Cost-Effective激光光束分析仪 CinCam CMOS系列激光光束分析仪。 CinCam CMOS采用1288 x 1032像素高分辨率百万像素高灵敏度CMOS相机，动态范围2500：1，USB2.0高速传输组件，硬件性能上毫不妥协！ USD直接供电、体积小巧（36mm x 36mm x 24mm）、重量轻（45g），使用更轻松！ 为满足不同层次客户的要求，CinCam CMOS配套软件RayCi提供两个版本可供客户选择。分别是全功能版RayCi-Standard及基本版RayCi-Lite。RayCi-Standard全功能版提供所有光束分析仪应具备的分析功能，适合各种专业做激光研究的客户使用。基本版RayCi-Lite则提供各种光束分析所需各种基本分析及显示功能，可以为客户节省下绝大部分软件成本。 各种配件：CinCam CMOS激光光束分析仪采用标准的C-Mount设计，使各种附件的安装变得极为简单： l 紫外转换器（UV-Converter: 100nm-320nm）可实现紫外激光光束分析l 红外转换器（IR-Converter: 1495nm-1595nm）可实现红外波段光束分析。l 各种衰减器（Neutral Density Filter）l M^2测量用导轨l 扩束镜，缩束镜l 其他定制型光学器件CinCam CMOS激光光束分析仪可以被广泛用于：l Laser beam analysis of cw and pulsed lasers,l Quick control of laser modes and adjustment errors,l Test equipment for scientific research,l Near-Field and Far-Field analyses of lasers, LED devices and other light sources,l Integration in optical systems.相关产品惊爆价！1.5万元 激光光束分析仪CinCam CCD系列光束分析仪CO2激光光束分析仪M2（激光光束质量因子）测量系统35mm大口径激光光束分析仪

多扫描刀口光束质量分析仪 专利技术：层析成像重建2 D/3D图像多功能：测量光束轮廓，光束尺寸，光束形状，位置和功率灵活性：宽谱范围（190nm-1990nm）精确度：光束尺寸3um到9mm，0.1um分辨率紧凑结构：基于USB2.0气箱，测量头，软件 多扫描刀口光束质量分析仪主要特点：12位A/D转换（新）同时对所有模式高分辨率采样实时光束轮廓，光束尺寸，高斯型实时光束2D/3D绘制光束图心、椭圆率、功率测量直接以Excel记录数据保存图片和快照文件自动通过/未通过分析报告窗口化控制应用程序 多扫描刀口光束质量分析仪专利技术：光束分析仪提供了一个桥接技术，使CCD相机可产生三维强度重建，能够同时在高分辨率和巨大的动态范围下测量非常小的斑点。 多扫描刀口光束质量分析仪系统介绍光束分析仪提供了范围广泛的图形化演示和激光光束参数的分析。光束轮廓和宽度光束分析仪的控制软件同时从两个正交的刀口显示两个轮廓曲线，或更清晰地显示单独一个轮廓的细节。 这些主要的曲线，位于头基部45度，被称为“V”和“W”。 图表模式经常需要监测的光束宽度（或者波束位置）作为时间的函数。在图表模式，这些参数可以在带状图格式查看，显示长期随时间变化的稳定性或漂移。测得的数据可以在屏幕上查看，保存或打印，以便进一步分析。 光斑二维三维分布图投影功能提供二维和光束强度分布的三维图，并可由重建断层扫描创建。 功率测量光束功率可以显示为一个数字读出器，或一个条型显示或与一个模拟的“针”的组合。电源显示单位可以选择为mW，uW或dBm。 光束位置和椭圆度 更多软件特性- 通过/失败测试，可以对测量结果的特定容差范围内进行验收。 - 数据记录到一个文本文件或Excel文件 - 现场快照文件重放使结果得到完整分析 - 平均设置，缩放 - TCP / IP通信协议和远程控制 - 数据通过RS-232连接到另一台计算机传输 - 从机模式要求控制测量 - 屏幕图像可以保存为BMP/ JPG文件或打印出来 - 在用户的应用程序的ActiveX软件集成 多扫描刀口光束质量分析仪型号选择：BA3-Si 3-刀片, Si探测器 5mm圆BA7-Si 7-刀片, Si 探测器 9mm 方BA3-UV 3-刀片, UV-Si 探测器 5mm 圆BA7-UV 7-刀片, UV-Si 探测器 9mm方BA3-IR3 3-刀片, InGaAs 探测器 3mm 圆BA3-IR3E 3-刀片, InGaAs Enhanced 3mm 圆BA7-IR3 7-刀片, InGaAs 探测器 3mm 圆BA7-IR3E 7-刀片, InGaAs Enhanced 3mm 圆BA3-IR5 3-刀片, InGaAs 探测器 5mm 圆BA7-IR5 7-刀片, InGaAs 探测器 5mm 圆

狭缝扫描波长范围： 190-1100nm 800-1800nm 1.5-3.5um分辨率 2umzhui小光束 100um扫描区域 5*7mm-Si 3mm-Ge 3mm-InGAS结合二维运动台 23*43mm典型应用à 激光/二极管激光表征à 激光组件开发、对准、表征、生产测试和品控。à 如下应用的激光器和激光器组件：- 磁盘/晶圆表征- 激光打印/打标- 医疗激光- 条形码扫描仪等。即时的：à X-Y 轮廓测量à 发散角à 椭圆、质心、高斯拟合à 相对功率特征：à 光束尺寸 100um至 45 mmà 分辨率 2um 或 范围的0.5 %à 190 nm 至 3.5um 可项à M2 测量附件à 符合 ISO 11146à 适用于密闭空间的窄探头à 前置光阑à 宽动态范围à 功能强大、直观的软件à 升级选项，BeamScope-P7 至 USB 2.0配件和选项à M2 测量附件-USB 2.0à UV - NIR 选项 190 至 3.5 μmà 2-D 扫描平台，用于 23 x 45 mm 轮廓分析 BeamScope-P8 系统包括：一个紧凑测头、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 线缆、用户手册和适用于 Windows XP、Vista 或 Windows7 的软件。工作原理：线性扫描探头带有单个针孔、单个狭缝或正交 X-Y 狭缝。这种线性扫描满足 ISO 11146 激光轮廓标准的严格要求。穿过狭缝的光落在硅（190 至 1150 nm）或锗（800 至 1800 nm）探测器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析仪之前，没有市售的狭缝扫描或刀刃扫描光束分析仪符合 ISO 11146 标准。该标准要求在与传播轴正交的平面上进行扫描。鼓式扫描仪不符合标准。 DataRay 独特的线性扫描探头的设计完全符合标准。]获取狭窄区域的光束轮廓BeamScope-P8 使曾经难以测量的光束轮廓的测量不仅成为可能，而且变得简单。独特的探头式扫描头可轻松观察透镜、反射镜和滤光片之间狭窄的轴向间隙。它能够探测窄至 12 毫米的沿轴空间，开创了一个全新的应用场景。没有来自光学元件或滤光片的光束失真光束不会因辅助光学元件或滤光片而失真，因为 BeamScope-P8 在分析大多数类型的激光器时不需要它们。 AUTO GAIN 功能可以连续调整探测器放大器增益，以确保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益范围。可以从单个扫描头测量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。结合新的 2-D 运动台附件扫描高达 23 x 45 mm 的光束区域。前置光阑前置光阑使您能够准确地看到光束被测量的位置。如果您可以靠近光源，快速发散和快速聚焦的光束很容易捕获。现在测量激光二极管阵列、微透镜源、宽条纹激光器等比以往任何时候都更容易。可用的光阑可以在针孔孔径上容纳高达 100 W/mm2 的功率密度。 （zhui大总功率 = 0.5 W）在几分钟内将孔径从狭缝变为针孔。这赋予了 BeamScope-P8 成为光束分析仪中良好的价值。带 USB 2.0 的笔记本电脑便携性BeamScope 将接口插入您的笔记本电脑上的 USB 2.0 端口，以提供占用空间小的便携式设备。 研发、品控和生产的良好选择研发用户将感受全面的分析功能。 QA 和生产工程师会喜欢将测试配置保存为 JOB 文件并在屏幕上指示通过/失败的功能。良好的 M2 测量BeamScopeTM P8 可选 M2DU-P8 附件不同于市场上的任何其他附件。没有复杂的调整，但用户可以实现高度可重复的测量。该软件会自动在腰部区域进行更频繁的测量，以准确确定真实的束腰直径。23 x 45 mm 2-D 扫描台DataRay 新的光束分析创新技术可在高达 23 x 45 毫米的光束区域上提供非凡的 0.2%（512 x 512 像素）分辨率，小至 5 x 5um (HxV)。二维扫描结果显示在用于区域图像分析的集成成像软件中。光束范围P8产品规格 [如有更改，恕不另行通知.]可测得对象CW 或脉冲激光 5kHz 脉冲重复率 @ 5% 占空比。 PRR越高越好。测量光束功率请参阅下面注释中的图表。 例如。 6 uW 至 3 W，对于 1 mm 直径 (1/e2 ) 高斯光束 @ 633 nm，5um 狭缝。光学动态范围55 dB (= 300,000:1) [75 dB 使用中性密度 2.0的衰减片]最大扫描形状区域针孔（PA系列）单狭缝（SS系列）X-Y 狭缝（XY 系列）二维运动台 (M2B) 重要提示：为了准确测量，光束宽度应 0.5 x 扫描尺寸使用 /EPH 扩展探头时，以下 23 毫米的尺寸变为 35 毫米。形状 交叉扫描 x 扫描长度线扫描 针孔直径 x 23 mm矩形 7* x 23 毫米，（* 5 用于 Ge，3 用于 InAs）梯形 5* x 15/5 mm，（* 3 用于 Ge，2 用于 InAs，3.5 x 13.5/6.5 用于 XYPl5）矩形 45 x 23 毫米扫描区域图像。 在该区域扫描针孔。可测量的光束直径/宽度100um 至 ~ 25 毫米。 定义为 1/e2 直径，= 高斯光束峰值的 13.5%）测量分辨率2um 或测量光束直径的 0.5 %，以较大者为选项测量精度±±2um或者测量光束直径的 ±2%测量的光束轮廓X & Y 线性和对数轮廓显示模式测量的轮廓参数高斯光束直径高斯拟合二次力矩光束直径刀口光束直径质心的相对和绝对位置，椭圆度 + 主轴方向光束漂移显示 显示的配置文件仅 X、仅 Y、X 和 Y二维图（10,16 或 256 色）重构见注 13-D 绘图（10,16 或 256 色）重构见注 1 更新率1 到 2Hz。 取决于 PC 处理器速度、扫描的配置文件和选定的选项数据分析通过/失败平均标准差 在所有测量参数上，在屏幕上，以可选的通过/失败颜色显示 光束直径运行平均和累积平均选项 在累积平均屏幕上功率测量单位为 mW、dBm、dB、% 或用户输入（相对于用户提供的参考测量。）光源到狭缝距离最小 1.0 毫米孔径大小狭缝针孔 重要提示：有关可测量的光束尺寸，请参见扫描区域（前述），请参见注释 2 2.5、5、10、25 和 100um 宽 7 毫米长（5 um 狭缝的平面版为 5 毫米长）5, 10, 25 和 50um 直径（更大或更小的针孔，特殊订单）见注 2 波长范围硅探测器锗探测器砷化镓 190 to 1150 nm 800 to 1800 nm 1.5 to 3.5 μm安装?-20 & M6 螺纹安装孔温度范围（包括附件）操作贮存 10oto 35℃5 to 45℃最低电脑要求 PC 或 Intel-MacUSB2.0 端口，Windows XP、Vista 或 Windows 7； 1024 MB 内存； 10 MB 硬盘空间； 1024 x 768 显示器。 注：1. 2-D 和 3-D 轮廓是通过 X-Y 扫描“重建”的，假设测量的 X 光束轮廓对于所有 Y 值都相同，并且测量的 Y 光束轮廓对于所有值X都相同。2. 在单缝或针孔模式下，缝/针孔宽度应小于等于被测光束直径的1/3。对于倾斜±45° 的 X-Y 狭缝对，该比率约为 1/5。3. 在刀刃模式下，狭缝宽度应大于等于光束直径的 3 倍。对于以±45° 倾斜的 X-Y 狭缝对，该比率是不小于光束直径的4.3 倍。功率限制。该图允许您简单地确定 BeamScope 可以在没有额外衰减的情况下测量的近似最大光功率。该限制是探测器电流限制。PxS 是以瓦特为单位的功率限制。计算激光波长的功率极限：该图显示了直径为 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狭缝的近似饱和光束功率（以 mW 为单位）与波长的关系。1) 确定波长的标绘值 PS mW。 （例如 633 nm 时为 70 mw）2) 对于不同的狭缝或光束，将 PS 乘以：0.05.(光束直径，μm)/(狭缝宽度，μm)3) 对于针孔，将 PS 乘以0.05 x（光束直径，μm）2 /（针孔直径μm）2

武汉东隆科技有限公司（ETSC Technologies Co.）是美国Coherent（相干）公司在中国区的指定一级代理，专业售后，并备有库存，欢迎您的来电垂询！ 功能概述：基于CMOS相机的激光光斑分析仪。可测量连续和脉冲激光的2D和3D轮廓，光束的位置。光谱范围190-1100nm，分辨率1280*1024，提供衰减器配件。技术参数：型号LaserCam-HR II-2/3inch分辨率1280*1024像素大小6.5um*6.5um探测器有效尺寸8.3*6.6mm光谱测量范围190-1100nm(without LDPF)400-1100nm(with LDPF)190-355nm(with BIP-12F)像素位深14 bit曝光时间设置1-500ms推荐测量光斑尺寸0.2-6mm可测激光类型CW/Pulse订购号1282870

美国DataRay公司提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；同时与个人电脑连接对分析的结果提供二维或三维的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果，是激光生产和和科研的好&ldquo 医生&rdquo 。激光光束分析仪WinCamDTM激光光束分析相机最新波长扩展至2-16um主要特点：· · 分辨率：5&mu m· SNR=1,000· 25,000:1自动曝光.· 自动抓拍或外部同步抓拍脉冲激光· TaperCamDTM 可照相10x14或15x20mm· 1310nm可选· WinCamD-IR用于C&L通讯波段· USB直接供电，无需额外电源· M2 测量组件(可选)主要技术指标： 型号 芯片面积 像素尺寸 特点 BladeCam 6.6 × 5.3 mm CMOS 5.2 &mu m pixels 超薄设计仅16.5mm WinCamD-UCD12 6.3 × 4.8 mm CCD 4.65 &mu m pixels 普通应用 WinCamD-UCD23 8.8 × 6.6 mm CCD 6.45 &mu m pixels 大面积 WinCamD-UHR 6.6 × 5.3 mm CMOS 5.2 &mu m pixels 高精度，连续激光 WinCamD-UHS 6.5 × 4.9 mm CMOS 9.9 &mu m pixels 高速

仪器简介：上海瞬渺光电全线代理美国Edmund Optics爱特蒙特的光学产品, 主要的产品如下: 1.高精度的光学透镜,棱镜 2.光学机械装置 3.光电子装置 4.计算机视觉系统(lens grinding and polishing, metal machining) 5.高精度的CCD光学元件 6.平面.球面镜,光学光圈 爱特蒙特光学（Edmund Optics）公司自1942年开始设计生产多元素透镜、透镜镀膜、成像系统以及光学机械设备以来，现如今已成为全球最主要的工业光学器件、元件供应商。爱特蒙特光学（Edmund Optics）公司产品繁多，其中包括光学方面：分束器，晶体光学，光纤，滤波片，光栅，透镜，起偏器以及棱镜；机械方面：光圈，电路试验班组成，底座和地盘，以及其他相关附件；激光器方面：氩离子激光器，光纤耦合激光器，氦氖激光器，激光器福建，激光探测器等；视觉系统方面：紫外照相机，近红外照相机以及高速照相机等；光学工具：调准用示波器，目镜、物镜和适配器，放大镜，显微镜等。还有计算机视觉系统(lens grinding and polishing, metal machining) ，高精度的CCD光学元件。技术参数：波长范围 300-1100nm (400-1100nm with LDFP) 感光面积 8.5 x 6.8mm (2/3英寸) 光束直径 0.20mm min, 6.0mm max (1/e-2) 外观尺度误差 ±1%(typical), ±5% Max 脉冲触发 TTL, rising or falling edge 帧率 27Hz (Live Mode), 10Hz (with calculations) 峰值噪声 24nW/cm2 (at 632.8nm) 连续光饱和功率密度 40mW/cm2 (at 632.8nm with LDFP) 脉冲光饱和能量密度 8mJ/cm2 (at 1.06µ m without LDFP) 损伤阈值 32mJ/cm2(at 1.06µ m without LDFP) 电快门 固定值10ms 镜头接口 C-Mount 信噪比 60dB Gamma 1.0 增益 优化的线形动态范围 (不可调) 操作系统 Windows 98, NT 4.0, 2000 XP 外观尺寸 68.1 x 79.3 x 40.9mm (with LDFP) 重量 110 grams 工作温度 -20～60°C主要特点：特点： 10bit USB2.0数据接口 1280 x 1024，6.7um像素CMOS感应面 高灵敏度和动态范围 可直观化软件界面 该光束质量分析仪采用顺序扫描式照相机探测，光谱覆盖范围300-1100nm。具有高的信噪比和线形响应，精确的脉冲光和连续光光斑尺寸和均匀性测量。应用软件提供背景提取，减少固有模式噪声，提高测量精度。基于图象提供分析功能有：中心定位、峰值光强位置、指向稳定性、相对功率/能量、峰值功率/能量密度、光束发散角、椭圆度、光强分布均匀性、高斯拟合、光束直径/宽度等。 该系统配置包含相机、数据线、相机支架及应用软件。另外，相机还带有低失真平片LDFP以减少环境光干扰，并保护探头。提供激光级的衰减2500:1。用户还可以通过选择其他固定或可变衰减器，增加使用功率范围。

技术参数：紫外激光光束分析仪(UV - Laser Beam Profiler) 可用于准分子激光器和 Nd：YAG 激光器的高次谐波相机系统：&bull 高动态范围&bull 高分辨率紫外转换器&bull Homogeneity up to 98 % over active area &bull 延迟时间短&bull 损伤阈值高达15 J/cm² &bull 单脉冲探测频率达1 KHz(由转换器的延迟时间决定) Laser Wavelength beam size F2 157 nm ArF 153 nm NdYag 5th 213 nm 1mm 5x4 9x6 13x9 18x13 27x20 35x27 43x32 50x38* KrF 248 nm Laser spot NdYag 4th 266 nm XeCI 308 nm ML5222 10x direct ML5201 ML5202 ML5203 ML5204 ML5205 ML5206 ML5207 XeF 351 nm ML5223 20x NdYag 3rd 355 nm ML5224 40x * (larger sizes available on request, up to 200 mm Software ML1201 beamlux II advanced Camera ML3720 1/2&rdquo CCD 782 x 582 ML3743 2/3&rdquo CCD 1392 x 1040 主要特点：Features &bull 可测量所有的准分子激光器&bull 在线质量控制&bull real time evaluation of the laser with 1/10th of a second &bull Synchronizes up to three cameras simultaneously for measurement of raw beam and processing plane &bull TCP/IP remote control to control your laser system from your desk

天津瑞利光电科技有限公司优势经销以色列Ophir Optronics激光光束分析仪NanoScan产品型号：NanoScan关键字：OPHIR激光光束分析仪NanoScan关键字描述：产品介绍：测量从紫外到远红外（190nm到100μm）的任何波长即时实时显示结果 发现光束不到300毫秒，可达20Hz由于NanoScan定义明确的Z轴基准面，腰部位置可确定在±25μm范围内测量脉冲和CW激光对于脉冲束，测量并报告脉冲率从小到7μm的光束，可以直接测量，保证精度和精度通过平均可以实现额外的高信噪比Z轴腐蚀性测量可通过内置机械线性平台控制获得使用软件附带的简单M2向导可获得M2传播比值。任何光束结果都可以随时间绘制和监控可以监视功率水平以及空间测量，以确定是否通过波束调整引入损耗将结果记录到文本文件以进行独立分析使用PRO版本软件和扫描头提供的可选ActiveX Automation命令自动化系统扫描头配置包括硅，锗和热释电版本，适用于各种波长和激光功率级别。NanoScan软件有两个版本：标准版和专业版，包括一系列广泛的ISO定量测量，M2向导和测量激光功率的能力。参数：总线接口：USB 2.0信号数字化：16bit数字化时钟：max.20MHz更新速率：max.20Hz数据传输：批量传输模式板载内存：64MB mDDR SDRAM湿度：90％，无凝结扫描头尺寸：3.03”（7.68cm）L X 2.5”（6.35cm）电源：USB 2.0总线供电CPU时钟：300MHz内存时钟：264MHz扫描电机：刷直流，max.4W工作温度：0 ... 50°C重量：434克（15.3盎司）随着我国工业自动化水平、高科技产品的高速发展，我们意识到引进新技术和高科技产品的重要性。所以，瑞利光电自成立之初便凭借着对国内和国际市场的深入调研和了解，在经营理念、管理制度、贸易接洽、人才任用等方面都拥有较大的竞争力，并确立了明确的战略目标。

激光光束分析仪MAGRay640，可对0.4~1.7μm区间波长的激光光斑进行成像和分析，用于测量和实时监控中长波红外激光器的光斑尺寸、二维/三维能量分布、发散角、椭圆度、光束指向稳定性、束腰位置和大小，以及光束质量因子M2等。

激光光束分析仪MAGRay320，可对0.4~4μm区间波长的激光光斑进行成像和分析，用于测量和实时监控中长波红外激光器的光斑尺寸、二维/三维能量分布、发散角、椭圆度、光束指向稳定性、束腰位置和大小，以及光束质量因子M2等。

激光光束分析监测器（BWA-MON）系统，可以真正地做到对不管是低能量还是高能量的连续激光和脉冲激光的激光光束进行实时测量、分析和监控。该系统的设计遵循了国际标准ISO11146和ISO13694中对激光、激光设备以及激光光束度量的要求。在所有激光应用中，激光光束轮廓剖面图对很多的激光应用都提供有价值的信息。通过监控这些激光束空间轮廓、圆形度、环心、象散、M平方值等，你可以提前得到关于激光及其光学传输系统任何问题的预警。BWA-MON系统可以提高加工质量，加工稳定性以及减少废料。另外，因为焦点位置可以实时监控，处于闭环控制，对于易受热透镜效应影响的系统可以通过闭环补偿减小其影响。 BWA-MON正在申请专利，使用时连接上持有HAAS LTI专利的BWA-CAM（美国专利号8,237,922），无需移动部件便可测量激光聚焦束腰。(而在此之前，市面上其他的激光光束分析装置，都要使用一些移动或旋转的配件，来实现对激光M平方的实时测量，它们无法满足在线实时的监测应用。) BWA-MON适用于大部分的激光波长和应用，无需移动的配件就可以对激光束及其光学参数实时测量和分析。 BWA-MON是Hass公司的产品，Hass公司在这方面有三十多年的专业光学传输经验。这套监测系统可以用在处理材料的过程中，包括切割、钻孔、焊接、打标或其他任何一种应用。图1：基本的BWA-MON光学设计 BWA-MON的工作流程如下：一束激光进入棱镜，少数光通过第一个反射面进入BA-CAM。大多数的激光束会通过棱镜进入加工镜头。少数光通过第二个反射面进入BWA-CAM，形成实际加工光束的影像，被高度衰减处理过。有这种反射面的可以是道威棱镜、里斯里棱镜、或者一个薄的平行平板。衰减的激光束透过棱镜进入BWA-CAM，激光束腰可以通过一系列的主要感应区域（ROI）观测到。激光束腰位于一系列点的中间（如图五）。每一个点都是激光束腰的横截面图，基本在同一个水平面上。软件能够自动追踪并测量ROI的大小，以精确地进行M平方值计算。图2：BWA-MON适用于大功率激光焊接 BWA-CAM能够测量经过所有聚焦透镜的激光束腰。加工光束和经过第二个反射面的光束有效焦距不同，在棱镜和BWA-CAM中添加一个负透镜解决了此问题。 图1为最常见的低功率BWA-MON光路图。在这个图示中，道威棱镜用来将光线分别传输到加工镜头和BWA-CAM。 BWA-CAM能在一秒内测量出激光的M平方值，在其最高的分辨率下，约333到500毫秒内，系统可以达到帧率为2到3帧每秒的测量结果。这使通过无光源测量激光束腰的应用变为可能。软件能同时分析光束的空间截面，得以快速地计算出激光M平方值。图3为一个感应区域（ROI）的示意图，通过软件分析BWA探测器的数据。图3：在空间内有延迟的激光束腰切片的图解。 Figure 2图2为一个大功率焊接BWA-MON的光路图。在此情况下，只有一个BAW-CAM来监控激光束腰。BA-CAM也可以被放置在第一个反射面后面，这里没有被描述出来。通过一个楔形透镜，透过光束产生一个角度偏差，防止加工过程中的反射光。位于BWA-MON中的聚焦透镜同样地倾斜。图4：BWA-CAM和BA-CAM汇总数据界面 如果加工系统要求高功率同轴，则图7为满足该需求的光路图。 图4显示了BWA-MON利用的两个照相机（BA-CAM和BWA-CAM）的数据画面。上面的画面来自BA-CAM，用于测量原始激光束，下面的画面是聚焦光束，显示了15个ROI点。右边的汇总数据提供了用户选择的剖面或M平方的参数。右边作为质量控制（通过或失败）的图表，变为红色表明用户选定的质量控制参数超出了范围。图5：BWA-CAM帧捕获器的变焦拍了来自一束聚焦激光的15个感应区域。 图5显示了BWA-CAM影像捕获器的页面，是来自一束聚焦激光的15个聚焦的感应区域。从图中可以看到聚焦激光的进入和淡出（从左至右）。所有的这些画面都在CMOS感应器上同时并实时生成。正是有了这些感应区域，软件才能分析光斑的尺寸、发散、像散、束腰位置，瑞利长度以及M平方值。 图6：BA-CAM和BWA-CAM质量控制设定界面 图6为激光束剖面图参数据的示例，用户可以自定义选定参数值的上限和下限。如果有参数超出了用户选定的范围，会在对应位置标出，数据的颜色也会从绿色变为红色。如果某一项值超过范围，系统可以通过接收一个USB输出的信号关闭系统。对于需要精确控制激光的光学系统，系统参数的误差要求非常严格。例如高功率光学系统中，如果有一些参数超出了范围，用户可以在其对系统造成致命影响之前关掉系统。 图7：同轴高功率BWA-MON配置图8：BWA-CAMM平方面曲线界面 图8为BWA-CAM的M平方测量，在这个界面，可以看到由BA-CAM和BWA-CAM共同测量的M平方值，或者单独由BWA-CAM测量的M平方值。X轴显示了已知使用聚焦透镜的聚焦位置，Y轴是激光束腰直径的值。激光束腰的位置和瑞利长度有注解以供参考，透镜上的激光像散和激光光斑尺寸显示在曲线右方的数据栏中。图9：BA-CAM和BWA-CAM数据记录界面 图9为数据记录的界面，用户可以实时地选择符合ISO11146和ISO13694要求的激光束参数进行追踪。记录的数据可以帮助用户在[页面设定]参数的上限值和下限值，同样也为其他类型的测量提供了最原始的数据。图10：光纤直径为200微米的4KW连续光纤激光。 BWA-CAM不仅适用于低功率的激光，也适用于大功率几千瓦的激光设备。图10显示的BWA-CAM的屏幕点功率为4Kw连续波光纤激光，传输光纤为200μm，聚焦透镜焦距200mm。图11：BWA-CAM上显示传输光纤（左图）与激光源光纤没有对准，产生包层模Cladding Mode，右图为千瓦级的100μm激光光纤，光纤耦合对准很好。 BWA-CAM不仅可被用于测量关键的M平方参数，还可以作为帮助检查激光器、光学系统或者两者组合时光路是否正确的诊断工具。图11显示了一个千瓦级连续光纤激光系统，传输光纤与激光源光纤没有对准。左图为包层模Cladding Mode在100微米直径的光纤中。右图为同一个光纤，利用BWA-CAM将其扭动调节，使达到最佳的对齐位置。图12：变焦拍摄直径532纳米光纤激光，显示了一个三轴检流计系统的严重缺陷。 在某些情况下，一个光学系统可能会意外地显示出一个很大的图像点。图12便是这样，它是一个三轴扫描系统，利用532nm的传输光纤，在加工过程中光斑的尺寸应该比图示的小两倍才正确。BWA-CAM清晰的展示它的慧差，光斑的严重慧差表明这个三轴系统光路没有调准。图13：1064nm光纤激光，显示三轴扫描系统的散光现象。 图13展现了另一种情形，1064nm光纤激光，通过三轴扫描系统聚焦，焦点比标准参数大两倍。在这种情况下，可以看出偏差缘于像散，原因是3轴扫描系统未对准。 无论是基本的激光M平方值测量，还是制造业中严格的材料加工应用，或是激光光学系统的故障排除，HAAS激光技术公司现在正在申请专利的BWA-CAM是一款简单、易于集成、易于使用并解决这些问题的最好产品！

仪器简介：CO2 激光光束分析相机 ML7400 是一个新型的光束分析相机。它包括一个高分辨率的相机和一个红外(IR)转换器。它可用于监测光谱范围在8 µ m &ndash 30 µ m高能量连续或者脉冲激光器。该系统可用于功率密度高达1KW/cm2的情况下，而无需加额外的衰减器件。该系统符合ISO标准，可进行在线检测。技术参数：CO2激光光束分析仪参数: Image Converter Spectral range: 8 &ndash 30 &mu m Clear aperture: 21 mm2 Sensor dynamic: 50 : 1 Sensor resolution: 100 &mu m Intensity range: 20 W/cm2 &ndash 1000 W/cma Damage threshold: 2000 W/cm2 Input power (cw): 200 W / 250 W (60 s) with additional attenuation 1000 W Response time: 67 ms (50%) Camera System Pixel # 752 x 582 Measuring Rate: up to 25 fps Interface: Firewire Mechanical dimensions: 267 x 125 x 71 mm3 Weight: 1.7 kg Electrical requirements: 230 V 50 Hz 300 W Housing temperature: max. 50° C主要特点：&bull 在线测量连续或者脉冲CO2激光器of CW and pulsed CO2 Lasers &bull 高分辨率&bull 单脉冲探测&bull 用户自定义装置

2013激光光束断面分析选购指南WinCamDTM-UCD1214-bitWinCamDTM-UCD1516-bitWinCamDTM-UCD2314-bitWinCamDTM-UHRBladeCamTM-HR 10-bit CWWinCamDTM-XHRBladeCamTM-XHR 10-bit CWWinCamDTM-FIR2-16-HR 14-bit传感器1.4MPixel4.65x4.65μm1360x10241.9MPixel4.4x4.45μm1600x12001.4MPixel6.45x6.45μm1360x10241.3MPixel5.25.2μm1280x10243.1MPixel3.2x3.2μm2048x1536307kPixel17x417μm640x480传感技术成像范围1/2" CCD6.3x4.8mm1/1.8" CCD7.1x5.4mm2/3" CCD8.8x6.6mm1/2" CMOS6.6x5.3mm1/2" CMOS65x4.9mmSi Microbolometer13.4x10.8mmTaperCamDTM-UCD12:14.4x10.8mm active area FO TaperTaperCamDTM-20-15-UCD23:20x15mm active area FO TaperN/A接口USB2.0供电口连续或脉冲连续，脉冲，自动触发连续连续/有限脉冲快门单脉冲采样率同步旋转式Rolling T≈10msTo25 kHzN/A1-355nm355-1150nm355-1350nm1480-1605nm2-16um 需配合使用UV转换器N/A标准N/A扩展范围-1310版本N/A需配合实验CamIR适配器N/AN/AYesX-YprofilesYes最佳分辨率~1μm~3μm最小光束直径47μm44μm65μm52μm32μm170μm最大高斯束腰~3.2mm~3.6mm~4.42mm~3.6mm~3.6mm~6.8mm功率范围配合必要的配件，可达数瓦（焦耳），取决于光束直径、衰减和采样率刷新率可达10Hz以上，取决于拍摄单元和分辨率9HzM2测量可以使用附件M2DU-WCDN/A定焦转动光源或相机，使用附件M2DU-WCD汇聚/发散/准直已知与束腰距离，或使用高斯光束发散镜时，可选择M2DU-WCD动态范围使用附加衰减片或取样器可以达到更大范围联系我们信噪比≥1000：1≥100：1最大光是面积见下列表格WinCamDTM-UCD12WinCamDTM-UHR/XHRBladeCamTM-HR/XHRWinCamDTM-UCD15WinCamDTM-UCD23TaperCamDTMSeriesNIR Converter UV转换器WinCamDTM-FIR2-16-HRBeamScopeTM-P8狭缝或针孔可在狭窄空间中使用的探头Beam' RTM2 X-Y狭缝扫描|狭缝及刀片模式双探测器可选BeamMapTM2实时X-Y-Z和角度分析双模式选择探测器分析或成像精确，12bit率多功能X-Y探头可选二维+M2精确的XYXYZ会聚，准直性，M2接口USB 2.0USB 2.0 供电连续或脉冲连续，脉冲重复频率大于5kHz连续，脉冲重复频率大于100kHz,取决于光束直径190-1150nm800-1800nm1000-2500nm1.5-3.9μm190-2500nm硅探测器锗探测器(650-1800nm)砷化铟镓探测器N/A扩展范围砷化铟镓探测器，直径3mm砷化铟镓探测器-直径3mmN/AN/A硅/砷化铟镓双头探测器线分析YesX ProfileYesX-Y ProfileYesX-Y-Z Profile,θ-ΦN/A是，享有专利面积成像Yes-with P8-2DN/A最佳分辨率0.5μm(2.5μm with P8-2D)0.1μm最小光斑直径100μm0.5μm最大光斑直径如下图所示可承受能量范围配合必要的配件，可达数瓦(焦耳),取决于光束直径、衰减和采样率刷新速率1 to 2 Hz (P8-2D stage,0.01 Hz)5 Hz 实时聚焦点M2测量Yes-使用M2DU-BR附件可以-实时会聚/发散Yes-使用M2DU-BS8附件Yes-使用M2DU-BR附件可以-会聚光束时自动准直ColliMateTM head增益42.5dB36 dB扫描和图像为真实尺寸，单位是mm BeamScopeTM-P8(配P8-2D适配器)最大1000x1000像素

总览BeamOn U3是一种光束测量系统是一种光束测量系统，用于实时测量单束或多束的位置、功率和轮廓。该系统是用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它提供了激光光束参数的广泛的图形表示和分析能力，如:光束宽度、形状、位置、功率和强度轮廓。BeamOn是一个USB3.0设备级的软件驱动设备，驻留在用户提供的主机中。它是一个用户友好的系统，提供图形和数字信息，以直观地解释数据。BeamOn U3视频设备和软件可以集成到各种兼容的PC电脑平台或笔记本电脑上，在Windows操作系统下运行，满足实验室或工厂的各种自动激光分析需求。Duma BeamOn U3-E 激光光束分析仪 350-1350nm (VIS NIR),Duma BeamOn U3-E 激光光束分析仪 350-1350nm (VIS NIR)通用参数特点及应用创新的光束轮廓仪 （1/1.2”）&bull 40Hz&bull 高分辨率 （2.35 MPixel） 16 位动态范围&bull USB 3.0 接口&bull 带有内置电动滤轮和全套附件的完整测试站&bull 用于多光束分析的多个有效区域&bull 多功能 – 测量轮廓、功率和位置产品参数激光器类型连续或脉冲光束宽度分辨率1μm或更高分辨率（H x V像素）1936x 1216光斑尺寸⌀ 75 μm - ⌀ 6 mm光谱响应350-1350 nm (VIS NIR)光敏面尺寸11.34x7.13，传感器可分为多个活动区域，最多可并行工作400个扇区（新增）增益控制x1一x400动态范围60 dB,16 bit快门速度32 us to 2sFrame Rate 帧速40 fps (8 bit)30 fps (16 bit)AIO (64x40) 397 fps, AOI (120x80) 240 fps, AOI (240x160) 190 fps像素大小5.86 um x 5.86umPixel Bit Depth像素位深16 bits光束宽度精度±1.5%同步性-Software trigge软件触发曝光和增益控制可通过GUI编程配件-IR Edge Filter-SAM3-C-RDC-C-Mount Filter电源要求~2W（通过USB 3.0接口）外壳尺寸（长x宽x高）（mm）64x 46x 73.5重(标准值)300 g最低硬件要求CPU i5 1.6 GHz,4 GBRAM界面USB 3.0,windows 7/8/10(32&64 bit)机械接口后置安装：探测器平面上2个6 mm深的同心相对8-32 UNC 光学附件和filters：C型安装(filters: C-mount)Built-in Automatic filter wheel内置自动衰减轮With mounted filters: ND8, ND200, ND1000, one unpopulated.mounted filters:：ND8、ND200、ND1000，一个空置波长6339801310Saturation 饱和20 µ W/mm² 100 µ W/mm² 0.2 W/mm² SensitivityBetter than 1 nanoW/mm² Better than 1 nanoW/mm² 200 µ W/mm² 尺寸实时计算和显示光束轮廓、光束尺寸、高斯拟合和顶端TCP/IP、DLL通信协议通过/未通过测试多波束分析多达 400 个独立光束分析(Up to 400 Independent Beams Analysis)同步独立光束轮廓每个光束的能量中心的插入表格格式的详细测试报告订购信息BeamOn U3-Rev E：一台350–1350 nm的相机，配有电动内置滤镜轮(motorized built-in filter wheel,)，1.8米长的USB3.0电缆，CD/闪存盘上的应用软件，安装柱，35 mm遮光罩，用于环境光遮挡，携带箱。SAM3-C：高功率激光衰减附件（高达20W）IR边缘过滤器：用于IR边缘的C型安装过滤器。RDC：光束衰减器附件 Attachment for beam reducer （比例2x1）

主要特点：n 专门测量超大光斑的CCD光斑分析仪n 实时检测光束尺寸和高斯拟合n 实时显示光束2D/3D图像n 用户可选3个ROI区域n IPL光束特性，对角线60mm的矩形n 光束分析精度达μm级n 可自动计算所选各个矩形的功率n 多个系统操作n 可回放视频和快照主要应用：n 超大光斑分析的实时光束轮廓及宽度测试n 超大光斑位置和功率测试n 激光和强脉冲光的质量控制n 监控多个光束的质心及距离测量技术参数：Spectral rangeVIS: 350-1310nmPower levelUp to 100J/cm2 (or 100W/cm2)Max frame rate25HzImage Resolution720X576Shutter speed1/50 to 1/100,000sec, 9 stepsGain control6dB to 60dB 16 stepsNullIn CW Null mode function is availableto automatically subtract backgroundOptical dynamic rangeup to 1X1010 using ND1000 filter andsoftware controlled electronic shutterand gainDamage threshold100J/cm2Sensitivity0.1μW/cm2 at 633nm (VIS-NIR)Saturation100W/cm2 with NG1000 FilterOperation with pulsed lasersAbility to capture and replay images fromslowly pulsing lasers (1-100Hz) whilefiltering out frames with no laser pulse.Provision for displaying single shut pulses.TriggeringIn pulsed mode set threshold by slide barto display frames with captured pulsesMinimal beam size?5mmSensor active area58mmX45mmSensor weight1.1 kg with cable

产品概述：KEWLAB qBeam-2M-FW 激光光束分析仪轻便灵活，可以实现高敏感度、高分辨率的实时测量。应用软件简单易用，可测量波束宽度、形状、位置、功率、强度等多种参数，并且拥有光束发散度计算、M2值计算分析等额外功能。转轮包含三个ND滤光片（ND4/ND9/ND10），用户可通过转轮轻松转换滤光片。滤光片可以重叠来实现理想状态下的衰减。 产品特征：• 轻便灵活• 实时波束大小和高斯回归• 实时2D/3D波束曲线• 可达3μm的像素间距• 可测小达60μm的光斑• 内置滤光片转轮 软件特征：• 简单易用• 二次矩，高斯回归，刃锋等• 波束发散度计算• M2值计算 主要应用：• 激光波束分析：轮廓、波束大小、位置、发散度、M2• 激光的QC• 监测多波束的中心点 产品技术参数：型号qBeam-2M-FW 激光光束分析图纸 探测器类型CMOS像素大小3μm感光尺寸5.76mm x 3.24mm最大分辨率1920(H) x 1080(V) 2百万像素最小光斑尺寸60微米波长范围350-1100nm敏感度~1.2nWatt/mm2 @ 632.8nm / ~0.5mWatt/mm2 @ 1310nm饱和强度~5μWatt/mm2 @ 632.8nm可调参数曝光时间, 图像大小快门可达50Hz(根据图像大小)损伤阈值全部滤光片50W/cm2滤光片*ND4:透射率 14%@632.8nm / ND9:透射率 0.5%@632.8nm / ND10:透射率 0.03%@632.8nm电源5V DC, 通过USB工作温度-10℃-70℃储存温度-20℃-85℃相关配件缩束器~x2, 可用于测量更大的激光光束, 光束最高功率可到1kW C-mount 安装配件方便安装其他光学配件 50/100mm 套筒微软操作系统XP/7/8/10应用拓展类型DLL 更多激光光束分析仪产品，请移步KEWLAB中国。

产品概述：KEWLAB qBeam-2M-FW 激光光束分析仪轻便灵活，可以实现高敏感度、高分辨率的实时测量。应用软件简单易用，可测量波束宽度、形状、位置、功率、强度等多种参数，并且拥有光束发散度计算、M2值计算分析等额外功能。转轮包含三个ND滤光片（ND4/ND9/ND10），用户可通过转轮轻松转换滤光片。滤光片可以重叠来实现理想状态下的衰减。 产品特征：• 轻便灵活• 实时波束大小和高斯回归• 实时2D/3D波束曲线• 可达3μm的像素间距• 可测小达60μm的光斑• 内置滤光片转轮 软件特征：• 简单易用• 二次矩，高斯回归，刃锋等• 波束发散度计算• M2值计算 主要应用：• 激光波束分析：轮廓、波束大小、位置、发散度、M2• 激光的QC• 监测多波束的中心点 产品技术参数：型号qBeam-2M-FW 激光光束分析图纸 探测器类型CMOS像素大小3μm感光尺寸5.76mm x 3.24mm最大分辨率1920(H) x 1080(V) 2百万像素最小光斑尺寸60微米波长范围350-1100nm敏感度~1.2nWatt/mm2 @ 632.8nm / ~0.5mWatt/mm2 @ 1310nm饱和强度~5μWatt/mm2 @ 632.8nm可调参数曝光时间, 图像大小快门可达50Hz(根据图像大小)损伤阈值全部滤光片50W/cm2滤光片*ND4:透射率 14%@632.8nm / ND9:透射率 0.5%@632.8nm / ND10:透射率 0.03%@632.8nm电源5V DC, 通过USB工作温度-10℃-70℃储存温度-20℃-85℃相关配件缩束器~x2, 可用于测量更大的激光光束, 光束最高功率可到1kW C-mount 安装配件方便安装其他光学配件 50/100mm 套筒微软操作系统XP/7/8/10应用拓展类型DLL 更多激光光束分析仪产品，请移步KEWLAB中国。

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光束质量分析仪 超高性价比光斑分析仪，产品多样，适合各类工业和科研用户，价格低至两万，支持定制！具体产品Knife-Edge Beam Analyzer（狭缝扫描式光束质量分析仪）多重扫描狭缝式光束分析仪连续波激光的高精度光束诊断。宽的光谱范围，从深紫外到2700nm。宽动态围，光束大小尺寸测量低至2μm和高达10mm，分辨率0.1um。新的USB版本拥有更强的操作，包括:USB 2.0接口，12 bit 装置，同时对所有叶片高分辨率采样，适用于Windows 7（32或64位）操作系统。数据流通过TCP / IP通信协议或RS232。ActiveX软件集成到客户的应用程序上是可行的。系统有一个外部USB 2.0接口，一个测量头，一套2xNG Schott着色过滤器(NG4 ，NG9)在封装里为了Si和UV-Si探测器，一个安装手册，Windows应用软件光盘上,手提箱。 Beam Analyzer Touch多重扫描狭缝式光束分析仪新的小封装和强大的独立单元，内置触摸屏和测量头。专利技术(独特的层析图像重建2D/3D图像)，测量光束剖面，光束尺寸，形状、位置和能量。宽光谱范围从190nm到2700nm，光束大小从2um到10mm，分辨率 0.1 um。包括：工业单位7英寸触摸液晶屏，分辨率800 x400，对比度350:1,Windows 7 pro、4 xRS - 232、2 xLAN端口。规格参数： BeamOn: CCD Camera Laser Beam ProfilingCCD型光斑质量分析完整的激光光束分析系统，有CCD摄像机头、一套3xNG Schott着色过滤片(NG4、NG9， NG10)在封装里，USB 2.0连接附件，软件磁盘，携带箱子，用户手册。BeamOn系统是一个光束诊断测量系统，对连续或脉冲激光光束进行实时测量。它测量激光光束参数,如:强度分布，波束宽度、形状、位置和能量。软件还提供了对光束分析设置和结果的报告功能。BeamOn提供USB附件、可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)的软件驱动设备，在Windows 7 (32或64位)，Windows 8操作系统的电脑上可以运行。 BeamOn LAIPL(强脉冲光)和大激光光束分析仪完整的激光光束分析系统，内置一组5xND (ND8、ND64、 ND200、ND400和ND1000)过滤片及过滤片滑块，USB 2.0附件，软件磁盘上，手提箱，用户手册在CD上。BeamOn LA系统是一个光束诊断测量系统，实时测量连续或脉冲激光束。它测量激光光束参数，如:强度分布，光束宽度、形状、位置和能量。软件还提供了光束分析设置和结果报告功能。该系统是一个基于USB接口，软件驱动的设备，它可以连接到一个笔记本(或台式)通过高速USB 2.0端口和在Windows 7/8操作系统(32或64位)的电脑上运行。 BeamOn WSR宽光谱范围190 nm - 1600 nm CCD光束分析仪完整的激光光束分析系统，由CCD摄像机头、一组4xND过滤片(ND8，ND64、ND200和ND1000)在封装里、USB 2.0接口，软件磁盘上，手提箱，用户手册在CD上。BeamOn WSR系统是一个光束诊断测量系统，对连续或脉冲激光光束进行实时测量。测量激光光束参数，如:强度分布，波束宽度、形状、位置和能量。软件还提供了光束分析设置和结果报告功能。该系统是基于一个USB接口，软件驱动的设备，它可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)，可以在Windows 7/8操作系统(32或64位)上运行。 BeamOn HR1.4M像素CCD光束分析仪，12bit分辨率。一个完整的测试站测量剖面、能量和位置，包括连续波和脉冲光束。基于对笔记本电脑的USB 2.0接口。提供一套完整设备对于较大的光束和高功率衰减。BeamOn HR系统是一个光束诊断测量系统，实时测量连续波或脉冲激光光束。它提供了激光参数，如：光束宽度、形状、位置、能量和强度分布。软件还提供了光束分析设置和结果的报告功能。BeamOn HR基于USB 2.0 CCD摄像机，软件驱动的设备,它可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)，并且可以在Windows 7操作系统(32和64位) 电脑上运行。 BeamOn2/3一个紧凑的有很大的感应区域的CCD激光光束质量分析仪一个完整的激光分析的系统，由2/3”CCD摄像头，一组3着色过滤片(ND8，2 xN16)封装、USB 2.0连接，软件在磁盘上，携带箱。BeamOn 2/3”CCD系统是一个光束诊断测量系统，实时测量连续或脉冲激光光束。2/3”CCD传感器可以覆盖更大的光束，8.5mm*6.35mm大小的有效面积，像素尺寸11.6μm*11.2μm。它测量激光光束参数，如：光束宽度、形状、位置、能量和强度分布。BeamOn 2/3 是USB软件驱动的设备,它可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)，并且可以在Windows XP/2000/7 操作系统(32或64位) 电脑上运行。 uBeamμBeam: 微小光束分析仪μBeam是光束诊断测量系统，实时测量并显示小型连续波或脉冲激光器在次微米范围内，光纤和激光二极管光束分析。主要功能包括：测量光束小于0.5μm(FWHM)，处理连续波或脉冲，有长的工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，光学放大快速光束发现。这是一个软件驱动的设备，通过USB2.0接口与任何主机PC连接，在Windows 2000，XP，Vista，Win7（32或64位）运行。μBeam应用在CD pickup，激光二极管，调节小镜片和光学组件，各种光束参数的评估与测试。高功率版本的μBeam也是可用的，使用SAM-HP光束采样机。 BeamOn LongBow远程光束分析 BeamOn Long-Bow是一个测量站，包括CCD光束分析仪，辅以高放大光学和计算机技术。这是一个强大的光束诊断测量系统，实时测量并显示连续波或脉冲激光器。该系统是一个成像光束分析器为检查反射光束。BeamOn Long-Bow在传感器的应用，从远程目标的光束反射，各种光束参数的评估和测试。测量的主要参数有：强度剖面，光束宽度，位置和形状。该系统拥有强大的光学变焦和校准功能。这是一个软件驱动的设备，通过USB接口与任何主机PC连接，在Windows XP，Vista，Win7（32或64位）运行。

大面积CMOS光束分析仪TaperCamD-LCM 具有达 25 x 25 mm 的有效面积、4.2 M像素数、12.5 x 12.5 μm（有效）像元尺寸、全局得光学和电子触发快门以及 2500:1 的信噪比，TaperCamD-LCM属于USB 端口供电的激光束分析设备中，有效区域较大的。通过将 WinCamD-LCM 的高信噪比和全局快门与高质量光纤锥相结合，TaperCamD-LCM 提供了一个非常紧凑、易于使用的解决方案，适用于测量各种大型连续及脉冲激光。TaperCamD-LCM 与 DataRay 的全功能、高度可定制、以用户为中心的软件（无许可费用、无限制安装和免费软件更新）结合。非常适合以下应用：连续和脉冲激光轮廓分析；激光系统的现场服务；光学组装；仪器校准；光束漂移和记录；研究开发； OEM集成；和质量控制。系统特点355 至 1150 nm (CMOS)4.2 M像素，2048 x 2048分辨率，25 x 25mm有效区域12.5 μm（有效）像素2,500:1 信噪比60 fps @ 512 x 512、30 fps @ 1024 x 1024、12 fps @ 2048 x 2048USB 3.0供电HyperCal™ – 动态噪声和基线校正软件包括 2" NDXL ND 滤镜带光学和 TTL 触发的全局快门电子自动快门，85μs 至 2s (44 dB)12 位 ADC隔离脉冲触发器多台相机的并行捕捉相对功率分布显示

BeamOn LA超大尺寸光斑光束质量分析仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。BeamOn LA是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲大尺寸激光光束。可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0口连接到电脑，在windows 7/8操作系统上运行。主要参数：参数值光谱范围VIS-NIR 350-1310nm功率值最高100 J/cm2 (or 100W/cm2)最大帧速25Hz图像分辨率720 x 576快门速度1/50 to 1/100000 sec, 9 steps增益控制6dB to 60dB, 16 steps归零在连续归零模式功能，自动减去背景动态范围使用ND1000滤光片最高1x1010，软件控制电子快门和增益损伤阈值100 J/cm2灵敏度0.1μW/cm2@633nm (VIS-NIR)饱和100 W/cm2使用ND1000滤光片，同时滤除没有激光脉冲的帧频。脉冲激光工作可以获取和回放1-100Hz慢脉冲激光，滤除没有激光脉冲帧频，可以显示单发脉冲触发在脉冲模式，软件上设置滑条阈值，显示有脉冲光的帧最小光斑尺寸5mm直径传感器有效面积58mm x 45mm重量1.1 kg功耗2.6 W型号：●BeamOn LA VIS-NIR：光谱范围350-1310nm●BeamOn LA UV-NIR：请询问我公司咨询主要应用：●大尺寸激光光斑分析：轮廓、光斑尺寸、位置、功率●激光器和IPL质量控制●监控多光束之间中心和距离

Duma光束质量分析仪 Duma光束质量分析仪简介：上海瞬渺在原有的产品线--波前探测器、光束质量分析仪、激光观察镜、红外显示卡、激光热感纸、激光功率计、激光能量计、激光探测器和红外CCD相机等基础上引进了以色列DUMA公司激光光束定位系统、光束分析系统、多通道功率计和视频显微镜测量成像系统，极大地丰富了原先的产品线，有效地保证了客户实验方案的整体化解决。DUMA光子主要由四条产品线构成：包括激光光束定位系统、光束分析系统、多通道功率计和视频显微镜测量成像系统。 产品有: 1、光束位敏与功率测量系统 2、激光功率及位置测量系统 3、光束角辐射强度分析仪器 4、连续激光M2因子探测系统 5、连续光束多通道光功率探测系统 6、光束位置和角位移探测系统 7、快速光束位敏探测系统 8、8通道激光功率探测系统 9、连续和脉冲光束显微分析仪 Duma光束质量分析仪优点特性 · 操作简单、测量快速、可实时控制激光的发射时间； · 个人计算机可方便的接入到各种功率测量设备中； · 通用性强设有8个可插拔的探针探头，探测类型包括：硅、增强紫外光、砷化镓铟； · 使用方便具有多种外型结构（ISA/PCI/PCMCIA卡）和标准单元； · 测量光谱范围宽（从紫外到红外）； · 测量精度小于1 nW； · 快速单信道1 KHz带宽 。 主要应用软件 · 显示测量功率软件（数据显示和图型显示）； · 光功率长期稳定监测（带状图表显示）； · 显示各种不同的测试结果； · 各信道间测量数据比较； · 超强纠错能力和打印功能； · 用户动态链接功能（应用于闭环）； · 利用RS232口链接到另外终端。Duma光束质量分析仪技术参数：BeamOn： · 测量激光束光斑大小、位置、功率和光强分布 · 既可测连续光，又可测脉冲光 · 波长最小可达190nm，最大可达1550nm · 探测器面积：6.47× 4.83nm型号： BeamOn-VIS 带PCI板卡或USB2.0的相机(波长范围：350－1100nm)，支架，衰减片，软件 BeamOn-IR-1310 带PCI板卡或USB2.0的相机(波长范围：350－1310nm)，支架，衰减片，软件 BeamOn-UV 带PCI板卡或USB2.0的相机(波长范围：190－1100nm)，支架，衰减片，软件 BeamOn-IR-1550 带PCI板卡或USB2.0的相机(波长范围：350－1100nm，1550nm± 50nm)，支架，衰减片，软件Duma光束质量分析仪主要特点：µ Beam： · 测量微米级大小光束（0.5um） · 高分辨率CCD（80万像素） · 物镜放大倍数：100x、50x、20x、10x · 波长：350nm-1310nm Duma光束质量分析仪型号： µ Beam-X-USB2.0 相机，USB2.0接口，物镜，软件 µ Beam-X-SA 相机，显示模块，物镜，软件 X x10、x20、x50、 x100等不同倍率的物镜