全反射式膜厚测量仪

SGRM-200反射率测量仪--代理西格玛产品

QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器，操作简单，极易上手，应用广泛，快速准确的提供各种薄膜厚度的测量，如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。产品特点 多参数测量可测量材料厚度、折射率（Refractive Index）、 消光系数（Extinction Coefficient）和反射率。 各种形状样品测量可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。 软件功能丰富友善的用户界面以及灵活丰富的软件功能，各种丰富的数据分析及查看功能。 简单、易用测量流程简单，用户极易上手建立测量程式。 产品参数 ★Si基底上对厚度约500nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差 定制功能可根据客户需求搭配自动运动平台可根据客户需求配置小光斑

产品特点： ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。? 宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch（电子制冷）CCD 512ch（电子制冷）PDA 512ch（电子制冷）光源规格D2（紫外线）、12（可见光）、D2+12（紫外-可见光）12（可见光）电源规格AC 100V±10V 750VA（自动样品台规格）尺寸4810（H）×770（D）×714（W）mm（自动样品台规格之主体部分）重量约96kg（自动样品台规格之主体部分） 应用范围： FPD -LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围： 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析

产品特点： ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。? 宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch（电子制冷）CCD 512ch（电子制冷）PDA 512ch（电子制冷）光源规格D2（紫外线）、12（可见光）、D2+12（紫外-可见光）12（可见光）电源规格AC 100V±10V 750VA（自动样品台规格）尺寸4810（H）×770（D）×714（W）mm（自动样品台规格之主体部分）重量约96kg（自动样品台规格之主体部分） 应用范围： FPD -LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围： 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析

光反射薄膜测厚仪原产国：美国薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。 应用领域理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；□ MEMs厚层薄膜(100μm up to 250μm)；□ DVD/CD涂层；□ 光学镜头涂层；□ SOI硅片；□ 金属箔；□ 晶片与Mask间气层；□ 减薄的晶片( 120μm)；□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；□ 薄膜工业的在线过程控制；等等… 软件功能丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的微米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Nano TR遵循国际校准标准 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Nano TR温度范围RT，RT … 300°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度30nm … 20μm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns光束直径 100μm激光功率 100mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制，支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；三、产品应用 RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数

便携式交通标志逆反射系数测量仪美国RoadVista-932便携式交通标志逆反射系数测量仪是为现场作业及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。 用于测试反光材料的逆反射系数值(RA) , 包括夜间道路安全标识颜色标准(CIE 1931xy)、高亮度反光安全服及其他反光材料。便携式交通标志逆反射系数测量仪932系列应用技术使得使用者在轻松的按下测试按键后,准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外, 一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角让美国RoadVista-932便携式交通标志逆反射系数测量仪易于各种反光材料的测试, 包括在EN 471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista-932内置蓝牙发射器及USB接口. 通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控。此外, 内置的记忆体可存储超过32000组测试数据.内部的光感应器, 符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求, 符合CIE标准的人眼反应系数. 光感应器与CIE照明标准”A”光源联接使用. 美国RoadVista-932便携式交通标志逆反射系数测量仪使用国际标准的光度滤光器, 精确测量时仅使用1个白色校准板, 而不需要设定任何修正系数。Roadvista便携式交通标志逆反射系数测量仪具有以下特点●简易操作，可测试各种类型的反光材料●符合 ASTM, CIE, ANSI, BS, EN & DIN 技术规范●观测角0.2°to 2.0°连续可调●入射角-45° to +45°连续可调●世界通用的标准 “A”光源●仅需一块校正板，无需任何校正参数●独立的电源供应器和电池●数字触摸彩屏显示●内置蓝牙发射器●USB接口●内置均值计算器●内置可存储32000组测试数据的记忆体●原装发泡箱

厂家授权代理商——岱美仪器技术服务（上海）有限公司岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内于16年已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

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逆反射测量仪美国Roadvista932逆反射测量仪是为现场操作及实验室分析设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下逆反射测量仪测试按键后，即可准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射测量仪内置蓝牙使用。Roadvista932逆反射测量仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数。逆反射测量仪产品特点：● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2°~2.0°连续可调● 入射角-45°到+45°连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体逆反射测量仪技术参数：● 入射角：-45°到+45°连续可调；● 观测角：0.2°到2°● 光源孔径张角：0.1°；● 光感应器孔径张角：0.1°；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107逆反射测量仪测试规范● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：0-20000 cd/lx/m2 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0°-50°● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）逆反射测量仪符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。

‍‍Roadvista 932交通标志逆反射系数测量仪美国Roadvista932交通标志逆反射系数测量仪是为现场操作及实验室分析设计的便携式交通标志逆反射系数测量仪。交通标志逆反射系数测量仪932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下交通标志逆反射系数测量仪测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932交通标志逆反射系数测量仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。交通标志逆反射系数测量仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2°~2.0°连续可调● 入射角-45°到+45°连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数● 入射角：-45°到+45°连续可调；● 观测角：0.2°到2°● 光源孔径张角：0.1°；● 光感应器孔径张角：0.1°；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：0-20000 cd/lx/m2 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0°-50°● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准交通标志逆反射系数测量仪符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。‍‍

品牌：久滨型号：JB-106名称：逆反射系数测量仪一、产品概述：　　JB-106型逆反射系数测量仪（逆反射测量仪、反光标识检测仪），是依据国家相关标准研制开发的测量仪器，该仪器的特点是固定角度即观察角为0.2°，入射角-4°，在此几何条件下，测量各种逆反光材料值，这一测量值也是表征这类逆反射材料的关键数据。二、符合标准： 符合GB/T26377-2010,JJG059-2004，GB23254-2009。三、优势及特点： 仪器采用精密设计的光学传感系统，配以32位单片微机作为数据处理核心，采用彩色液晶屏作为显示器件，汉字提示，清晰直观，简单易用。测试数据可以存储、查询。 仪器内部自带可更换充电电池，使用方便。仪器还可选配打印机及WIFI功能。四、测量原理： 在一定几何条件下，在单位光照下，反光材料在单位面积上产生的亮度值。采用逆反射系数来表示，单位：cd/lx/m2。五、技术指标：1.测量范围：0～1999 cd/lx/m22.不确定度：5%3.观察角：0.2°4.入射角：-4°5.光源：暖白光LED光源6.接受器：V（λ）校正7.适用环境温度：-10°～ 40°8.相对湿度：80%9.外形尺寸：200x155x59 mm10.电源：9V/800mAh锂离子充电电池（可更换）

耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的纳米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Pico TR遵循国际校准标准 耐驰 PicoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Pico TR温度范围RT，RT … 500°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度10 … 900nm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 0.5ps光束直径 45μm激光功率 20mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

标准规范：AASHTO TP111产品简介：车载逆反射测量仪LTL-M 在模拟30m距离以高精度级别测量各种道路标线。LTL-M安装在汽车上以正常行驶速度测量道路标线的逆反射性能，并提供道路标线状态的全景图，且能够获得±5%的测量精度。车载逆反射测量仪LTL-M 采用新的传感器技术，是稳健、可靠和先进的仪器。这项技术通过为车辆行驶内置光学补偿来确保高精度的测量，而不是依靠系统的几何变化。车载逆反射测量仪LTL-M 由三部分组成：● 安装在汽车外侧的传感器，包括照相机、闪光灯和GPS● 放置在汽车里的处理器● 放在驾驶员旁边的GUI（图形用户界面）平板电脑GUI平板电脑车载逆反射测量仪LTL-M 可测量干燥、潮湿环境下的RL（夜间可见度）和白天对比度，也可记录线几何和缺少或者有故障的道路猫眼（RRPMs）。该仪器无需调整就可测量各种类型和颜色、断面高度高达15mm的道路标线，测量期间可以提供给司机暂停和标记测量的选项。该仪器带有内置的GPS,也可以配置相机，这样可以精确定位并从视觉上检查问题区域。LTL-M视频图像测量结果、GPS数据和其他已记录的数据会自动存储到LTL-M自带的计算机中。如果需要，该系统在操作期间将会提供给司机暂停和标记测量的选项。随机软件能够生成一个易读的测量报告，可以将测量数据导出到EXCEL。当有更高级的道路标线分析软件推出时，LTL-M也可以进行软件升级。车载逆反射测量仪LTL-M 符合以下标准：EN 1436和ASTM E1710和EM 463-1车载逆反射测量仪LTL-M 特点简介：● 提供标线的全宽度连续测量● 测量日间对比度，干燥和潮湿的环境下的夜间可见度RL● 测量范围1*1米，能够同时测量两条标线● 精度和手持式逆反射测量仪一样● 通过平板电脑控制仪器和标定，无线方式数据传输● 测量平滑型和断面型标线，高度达25毫米，能测试的最大断面15mm● 测试过程中随时进行标记，显示和存储日期和时间● 记录道路猫眼（RRPMs）● 记录线几何形状和标线单位off-set● 提供1米到无限距离之间的平均值● 当车辆颠簸时，测试仪能够根据颠簸情况自动上下调整，以确保测试角度正确车载逆反射测量仪LTL-M 技术参数：光学参数测量区域：● 宽度： 1000mm/39.4inch● 到路面的照射角： 1.24°● 到路面的观测角 ： 2.29°照射角范围：● 水平： 0.33°● 垂直： 0.17°● 观察角范围： ±0.17°● 同等观察距离： 30m● RL范围(mcd?m-2?|x-1)： 0-2000仪器尺寸：● 长度： 500 mm/19.7 inch● 宽度： 200 mm/7.9 inch● 高度： 300 mm/11.8 inch● 重量： 15 Kg/33 lbs车载逆反射测量仪LTL-M 校准标准：车载逆反射测量仪LTL-M 已经在DELTA经过认证的国家级实验室标定，完全符合PTB（联邦物理技术研究院，德国）和NIST（国家标准技术研究院，美国）颁布的标准，推荐的仪器日常标定可以简单而方便的进行。Delta在仪器产地提供标准服务和在经认证的国家级实验室对标定块进行重新标定。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

‍‍Roadvista反光标志逆反射系数测量仪美国Roadvista932反光标志逆反射系数测量仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932反光标志逆反射系数测量仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2度TO2.0度连续可调● 入射角-45度到+45度连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数● 入射角：-45度到+45度连续可调；● 观测角：0.2度到2度● 光源孔径张角：0.1度；● 光感应器孔径张角：0.1度；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：（cd/lx/m2）:0-20000 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0度-50度● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重，近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全，里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局，纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。‍‍

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

‍RoadVista 932 手持式逆反射系数测量仪‍‍RoadVista 932 是一款手持式逆反射设计用于在现场或在实验室或QA / QC环境中使用。它的设计充分体现了回射（RA）和路标，能见度高安全性服装和其他材料回射夜间（CIE1931xy）的颜色。该专利（美国专利号7961328）的设计可以让你只按一个按钮就可知道，在大多数司机看来你的后向反射镜将究竟如何光明，以及确定颜色落在定义的颜色框内。‍可调节的进入角和观察允许大部分后向反射器，其中包括完整的高知名度衣物的反光测试EN ISO 20471和ANSI / ISEA 107的完整的特征。型号932配备了一个蓝牙无线接口和USB电脑接口标准既允许仪器和数据记录的远程操作。内部存储器能够存储超过32000测量的能力。敏感光传感器符合ASTM E1709和ASTM E2540要求与CIE标准人眼结合CIE光源“A”灯响应。我们的光度过滤器配合是竞争者无法比拟的，并允许使用不带校正因子的单一白色参考标准的其他颜色的极其精确的测量。特征 措施所有类型的逆反射材料的一个单次测符合CIE 54.2, ANSI/ISEA 107, EN ISO 20471, EN 12899-1, DIN 67520, ASTM E1709 和 ASTM E2540 的要求根据ASTM D4956 执行所有的几何形状完整的检查观察角度调节从0.2° 到2.0°入射角调整从-45° 到+45°适光校正的检测器和源“A”仅需要一个参考标准而没有任何校正因子自包含市售电池或市电图形TFT-彩色触摸屏显示内置蓝牙无线功能USB 电脑接口内置平均超过32000测量内部存储泡沫内衬手提箱数据管理软件(DMS)，允许用户迅速地从仪器通过数据管理和报告生成的USB连接将数据传输到电脑

我们制造了四个高功率版本的AAA级全反射太阳模拟器。 我司专有的全反射设计使用镀金属的镜面，并能使整个光谱通过，而毫不妥协。与基于折射的系统相比，这是明显的优势，基于折射的系统受到所使用的透明材料的特性的限制。特征l AAA级太阳能模拟器l 氙气短弧灯l 全反射光学系统l 无色差l 各种可用的过滤器l 模块化设计l 许多可选组件 应用领域l 光伏测试l 暴露测试l 轻度漂白l 高紫外线测试 不均匀性Part No.Model No.Class ATarget Diameters (cm)*Class BTarget Diameters (cm)1 Sun0.5 Sun2 Sun1 Sun0.5 Sun2 Sun165-9002SS0.5kW7.512.46.39157.5165-9001SS1kW12.7188.91521.510.5165-9007SS1.6kW1622.611.2202713.5165-9008SS2.5kW20.328.714.2243417*Target diameters are specified for AM1.5G SUNS, for other power levels the maximum ach光谱匹配Range (nm)ASTMAM 1.5GSciencetech FRSS AM 1.5GASTM AM 0Sciencetech FRSS AM 0 + 25% of Standard300-4008.00%7.30%PASS400-50018.40%21.81%16.40%17.70%PASS500-60019.90%20.65%16.30%17.00%PASS600-70018.40%17.81%13.90%14.10%PASS700-80014.90%13.00%11.20%10.50%PASS800-90012.50%11.00%9.00%9.20%PASS900-110015.90%15.73%13.10%14.00%PASS1100-140012.20%10.20%PASS 技术规格Collimation Angle (± degrees)3Typical Power Output (mW/cm2) (at target )100Uniformity2%Uniformity ClassificationA (ASTM E927-05)Temporal Instability2%Temporal Instability ClassificationA (ASTM E927-05)Spectral MatchSee tableSpectral Match ClassificationA (ASTM E927-05)Working Distance (cm)Depends on modelLamp Power Requirements500-2.5kWLine Regulation Requirement0.01% 可以根据您的要求配置全反射式太阳模拟器。 均质器可以自定义为包括计算机可控制的百叶窗，或可变焦点选项，使您可以将均匀平面放置在距模拟器输出不同的工作距离处。 有许多过滤选项可用。 一些滤波器选项通过内置滤波器抽屉添加到光束线上。 其他过滤选项需要增加一个光束转向过滤器支架。 还提供一系列太阳能电池卡盘，包括真空夹，热电或水冷却，微型定位器以及完整的IV测试软件和硬件等选件。 可以将SS0.5k*SS1.6k型号安装在垂直支架上，以进行向下操作。 请注意，SS2.5k型号必须安装在桌子上，以便朝下操作。 配置选项Homogenizer Configuration Options(SSES) High Power Computer Controlled Shutter165-8005(SSVF-SS) Variable Focus165-8011Homogenizer output window (G1 Quartz) for sealedContacthomogenizer optionHomogenizer output window (Si-UV) for sealed ho-Contactmogenizer optionOutput Flange Options(CTBT-SS) Beam turning mirror165-8018(CTBT-RF) Dichroic beam turning assembly165-8034Body Options(BASE-SS) Base assembly for vertical stand165-8030(BASE-SS-ROLL) Solar simulator base assembly with casters165-8048Sample Tray Options(SAMP-STD) Standard solar simulator and clamp assemblysample plate165-9006A range of solar cell chucks and sample holding accessories are availablecooling andBrowse chucksComplete Package Options(DFS-SS) Downward facing stand package SS0.5-1.6k simulators. (Includes CTBT-SS,BASE-SS and SAMP-STD).for160-8016(DFS-2.5SS) Downward facing stand package for SS2.5k.165-8050 滤镜选项我司每个全反射太阳能模拟器都包括一个FH-SS过滤器托盘。 FH-SS过滤器托盘*多可容纳2个过滤器，并位于模拟器光束均化器中。 通过将产品（FH-SS-ADD）添加到您的订单中，可以增加两个过滤器插槽。 Item Number Description Filter HolderFT-75-3 3" filter holder for SS style filters, 2.5mm thick max Spectral Filters • near 0 degree incidence • 3M diameter, mounted in FT filter mountMF-34-FT-3 75mm Mesh 34% Neutral Density Filter with Holder MF-49-FT-3 75mm Mesh 49% Neutral Density Filter with HolderMF-71-FT-375mm Mesh 71% Neutral Density Filter with HolderHPF-BB-NIR-FT-3 Hot Mirror for UV ApplicationsHPF-LP-VIS-FT-3Visible longpass filterHPF-LP-NIR-FT-BInfrared longpass filterHPF-BB-VIS-FT-3Visible blocking filterHPF-LP-UVA-FT-3UVA longpass filterHPF-BB-UVB-FT-3UVB band blocking filterHPF-BP-VIS-FT-3Visible bandpass filter, 0 DeeHPF-LP-420-FT-3420nm longpass filterAir mass filters - near 0 degree incidenceAMO-FT-3 Air Mass AMO Filter for SS Series Solar (Standard Range)* AM1.0D-FT-3 Air Mass AM1.0D Filter for SS Series Solar (Standard Range) AM1.5G-FT-3 Air Mass AM1.5G Filter for SS Series Solar (Standard Range) AM1.5D-FT-3 Air Mass AM1.5D Filter for SS Series Solar [Standard Range) AM2.0D-FT-3Air Mass AM2.0D Filter for 5S Series Solar (Standard Range)*Using AMO filter reduces the target size achievable for 1 sun class A Homogenizer IR Water filter100-8018IR Watftr Filter, 3U Stainless Fusftd SHica Windows beam turning filters - 45 degree - used with CT6T*RF640-8004 Pass VIS, Block UVJR - CTBT option 640-8008 Pass IR, Block UV Block VIS640-8011Payy UVA+B, Bk V1S+IR - CTBT optionPPE Accessories720-0159(UV-Glasses-Drk) Dark safety glasses

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

Roadvista反光标志逆反射系数测量仪美国Roadvista932反光标志逆反射系数测量仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932反光标志逆反射系数测量仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2度TO2.0度连续可调● 入射角-45度到+45度连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体技术参数● 入射角：-45度到+45度连续可调；● 观测角：0.2度到2度● 光源孔径张角：0.1度；● 光感应器孔径张角：0.1度；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：（cd/lx/m2）:0-20000 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0度-50度● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重，近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全，里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局，纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。

光化学反射指数(PRI)测量仪可在近地面对植物冠层光化学反射指数（PRI）进行长期定位监测，是研究植物冠层水平叶黄素循环的理想手段。PRI测量仪制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，适合多处布点。 工作原理光化学反射指数（PRI）是由冠层对532nm的反射率与570nm的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来计算冠层对这两个波长的反射率。向上的PRI传感器检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过了余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。向下的PRI传感器也是检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在35°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域研究植物冠层光能利用效率估算生态系统总初级生产力研究碳通量的空间分布研究冠层干旱、疾病或其他胁迫 技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围绿光检测器 532 nm，半峰宽（FWHM）10 nm黄光检测器 570 nm，半峰宽（FWHM）10 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围S2-421-SS (向上): 180°S2-422-SS (向下): 35°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射盖的阳极铝IP防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-421-SS (向上): 直径30.5 mm, 高37 mm；S2-422-SS (向下): 直径23.5 mm, 高43 mm重量（包含5米缆线）S2-421-SS (向上): 140 g；S2-422-SS (向下): 110 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套（高耐水性、高紫外线稳定性、在寒冷条件下的灵活性）；引线；不锈钢（316），ZL6立体声接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器：S2-421-SS向上半球视野传感器，S2-422-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有归一化植被指数(NDVI)传感器可选购。相关产品SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪产地与厂家：美国METER公司

一、标线逆反射系数测量仪BX-II产品简介：逆反射标线测量仪是测量反光标线光学性能的专用仪器。标准GB/T16311-2004《道路交通标线质量要求和检测方法》，交通行业标准JT/T280-2004《路面标线涂料》都对反光标线夜间可见度的光学性能规定了技术指标，逆反射标线测量仪为控制施工质量提供了测量仪器。二、标线逆反射系数测量仪BX-II技术参数：◆测量范围： 0～1999 (单位：cd/lx/m² ) ◆确定度： 5% ◆观察角： 1.05° ◆入射角： 88.76° ◆光源色温： A光源 色温2856K ◆接受器： V&fnof 校正 ◆适用环境溫度： -20°～ 50° ◆一次充电连续工作时间： 10小时◆外形尺寸：780X420X180mm◆重量：10kg三、标线逆反射系数测量仪详细描述：反光标线亮度，国际上用逆反射系数来表示，单位mcd/lx/m2。其物理意义是：在单位光照条件下，单位面积上产生的亮度值。将仪器置于被测标线的上面，该仪器以数字的形式显示出逆反射系数值，它反映了行车条件下司机对标线反光亮度的客观评价。该仪器由测量主机、电源、充电器、标准板组成。四、标线逆反射系数测量仪产品特点：◆能分白天、夜间、野外、室内，全天候测量； ◆仪器操作简单，以直观的数字显示出逆反射系数值； ◆仪器配备一套标准板，采用数据传递方式进行标定，准确度高； ◆测量几何条件为观察角1.05°，入射角88.76°，符合**标准《道路交通标准质量要求和检测方法》； ◆仪器体积小，重量轻，携带方便

美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k， 采用 r-θ 极坐标移动平台，可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度， 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸，盒对盒系统可以很容易的自动转换，匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚亚酰胺多晶硅 非晶硅 硅免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪

FT-100 薄膜厚度测量仪薄膜厚度测量范围 （Thickness Range）: 1 nm - 1.8 mm波长范围 （Wavelength Range）: 200 nm - 1700 nm精度 （Precision）: 0.01 nm or 0.01%稳定性 (Stability): 0.02 nm or 0.03%光斑大小 （Spot Size）: Depends on objective (4 um to 200 um. 2mm） 功能： 测量薄膜厚度、光学常数，反射率和透过率单层膜或多层膜叠加层； 适用于几乎所有透明，半透明，低吸收系数的薄膜测量，包括液态膜或空气层。测试条件： 平面或曲面可配XY平台实现全样品膜厚 mapping 可集成于以上测试平台 （ 三维轮廓仪，微纳米压痕/划痕仪，摩擦磨损仪等）