塞系数电阻分析系统

塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-Cryo（超低温版）测试参数：电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数温度范围：4K-300K（-269℃—室温）低温技术：低温制冷机作冷源，无需消耗液氮/液氦概 述:本系统采用低温制冷机作冷源，无需使用液氮/液氦，实现固体材料低温区（4K-300K -269℃—室温）的电学性能（电导率/电阻率，热电势率/塞贝克Seebeck系数）和可选热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量单元。系统设计思想 在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上，集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计，测试样品更换过程变得快捷、方便。基本系统硬件结构包括：样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境，以及测量相关的软硬件控制中心。样品室样品室连接在样品架组件上，通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态，样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件，再通过测试平台把冷量传递给样品，使样品降温。样品测量采用样品托的方式。温度控制采用制冷机直接冷却样品的方式，通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响，又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温度控制。温控范围：4.0K-300K连续控温；温度稳定性：±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。全球甄选一流供货商，保证系统品质达到最高！CTA系统硬件组成：美国吉时利 Keithley（数据采集系统）德国 W.HALDENWANGER （高温陶瓷系统）英国摩根Morgan（高温特种材料）美国通用电气GE（光波加热元件）瑞典康泰尔 Kanthal （加热元件）美国精量电子 MEAS（传感器）日本IKO （精密轴承）日本住友Sumitomo （低温制冷机系统）塞贝克系数测量单元电阻率测量单元技术参数电阻率测量单元测量范围：10 μS/m～10 S/m测量精度：优于1%样品尺寸：长：4～20mm；宽：1～3mm；高：1～3mm塞贝克系数测量单元测量范围：1μV/K～1V/K测量精度：优于6%样品尺寸：长：5～20 mm；宽：2～3 mm；高：2～3 mm

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3 ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 设备特点：◆ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；◆ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；◆ 欧姆接触自动检测功能（V-I图）；◆ 可以用适配器来测量薄膜；◆ 可定制高阻型。 参数配置：型号ZEM-3M8ZEM-3M10温度范围50-800℃50-1000℃样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL加热方式红外加热气氛高纯氦气（99.999%） 样品温差 MAX.50℃ 测量方式电脑全自动测量工作原理图： 设备结构： 样品腔部分： 应用方向：对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。可选功能： 薄膜测量选件 2. 低温选件（温度范围-100℃到200℃）3. 高阻选件（高到10MΩ）测试数据烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果发表文章1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.用户单位清华大学中国科学技术大学上海交通大学复旦大学南方科技大学武汉理工大学中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院大连化学物理研究所......附：热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备

热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小，单位是V/K。　　近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。　　为了应对一系列挑战性的应用，Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。特点LSR—3测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻（电阻率）可以测量圆柱形或棱柱形的样品，长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体，测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性先进的32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间，下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度，在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度，然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以高的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。 四端法测量电阻，样品两端通入恒定电流（I），测量样品电压的变化，可以测量出电阻系数。温度范围*-100°C——500°C RT —— 800/1100/1500°C 测试方法Seebeck系数: 静态直流法电阻: 四端法气氛惰性、还原性、氧化性气氛， 真空样品尺寸直径或方形：2 —— 4 mm 长度：6 mm——23 mm引线间隔4, 6, 8 mm冷却水需要* 可更换炉体

3000TC测试系统是国内少有的专用精密电阻合金电阻温度系数自动测试系统，准确度和自动化程度高、选择性和扩充性强、软件功能齐全。系统依据规程GB/T 6148-2005，根据测试点自动设置和控制温度源及测试系统，快速批量测试 NiFe、6J13、6J12、6J40、TN、卡玛等产品。系统可大幅提高合金产品的测试速度和稳定性，有效考察合金丝材生产质量，提高生产和开发效率。自动测试系统除装配，接线和参数设置外，其余过程如∶测试、数据采集、数据处理、报表生成、记录打印以及数据存储全自动化。现已广泛应用于川仪、江阴合金、千里马、联德电子等多家丝材生产企业。1．系统特点(1) 测试范围∶系统可同时满足mΩ~MΩ级的测试(2) 测试时间：≤20分钟/温度点（室温以上）；≤50分钟/温度点（-60℃）(3) 自动化程度高：可同时实现多对同型号或不同型号样品1～10支精密合金电阻温度系数的数据采集、数据处理、温度系数曲线、报表生成与打印以及数据存储的自动化测试(4) 依据规程∶GB/T6148-2005精密电阻合金电阻温度系数测试方法2．技术参数(1) 测试产品∶NiFe、6J13、6J12、6J40、TN、卡玛等(2) 产品形状及规格∶丝材φ（0.023~7.5）mm，带材(3) 温度计最小分度值∶≤0.001℃（二等）(4) 电阻测试灵敏度不低于2×10-6(5) 温场均匀性：≤0.01℃ (6) 温场波动度：≤0.005℃/30Min (7) 扫描开关寄生电势：≤0.2μv (8) 测试温度范围：-60~150℃，可扩展(9) 测试支数∶1～10支

Maestro Z/ZHT 高通量TEER跨膜电阻分析系统研究案例-从炎症和血管内皮通透性角度来看镰状细胞病 作为一类遗传性红细胞疾病，镰状细胞病每年在美国会波及7-10万人。这些病变的红细胞会堵塞在细小的血管内而过早死亡，从而导致人体内红细胞缺乏且血液流动减缓，并诱发疼痛及其它并发症。Manu O. Platt 教授研究了镰状细胞诱发炎症所致血管通透性变化的机理。 作者先将大动脉内皮细胞和人脑微血管内皮细胞分别用单层培养的方式构成融合屏障，然后用不同的细胞因子开展刺激，同时用Maestro Z系统去检测阻抗值的相应变化，它使用低频电流去测试培养的细胞间阻抗，给予我们实时评估屏障通透性功能的能力。 当加入TNF-α后，阻抗值的确发生了降低，意味着那时样本的通透性有所增加。那么血管生成素这种保护性细胞因子能否逆转这种变化呢？使用Maestro Z系统，作者发现：TNF-α处理2h后加入angiopoietin（血管生成素），能够将人大动脉内皮细胞的屏障功能恢复到基线水平；而微血管内皮细胞则能被恢复到基线之上。这些数据充分证明了血管生成素的恢复性作用。◆ ◆ ◆ ◆实时真阻抗细胞动态检测仪◆ ◆ ◆ ◆PART I 什么是真阻抗细胞检测 阻抗指贴附细胞对检测电流所起的阻碍作用。Maestro Z的真阻抗技术采用不同频率的交流电来检测细胞的阻抗变化。该技术不但可以检测因细胞数量变化导致的阻抗变化，还能实时检测因细胞形态、通透性变化而导致的细微阻抗变化。PART II Maestro Z的特点一体化设计 该仪器无需额外占用培养箱空间。专门设计的样本仓可以屏蔽外界电磁和机械噪音，避免培养箱开关门等额外操作导致检测结果偏差。真阻抗检测技术 该平台延续了Axion BioSystems公司成熟的高信噪比电生理检测技术，采用不同频率交流电，可用来检测细胞细微阻抗变化。友好易用的软件 操作软件提供实时数据记录，自动数据分析，自动数据报告生成。除此之外，还提供自动扣除本底，Nomalization等高阶数据分析，免除繁琐的手工计算。软件还符合FDA 21 CFR Part 11条款，兼容企业在GXP方面合规要求。数据安全性 自带数据储存，无惧电脑宕机，确保重要数据安全。PART III 应用方向简介 样本类型：悬浮细胞，贴壁细胞，3D培养细胞，类器官等 实时记录细胞增殖、凋亡过程，建立专属功能档案细胞毒性动态研究癌细胞浸润、迁移能力，划痕实验癌症免疫疗法，肿瘤免疫学，细胞治疗病毒学研究跨内皮/上皮细胞电阻（TEER）研究G蛋白偶联受体（GPCR），信号通路研究细胞愈合能力测试 想要了解更详细特点，快来联系我们吧！ Axion BioSystems ImagineExploreDiscover 长按识别二维码关注

ZST-212体积电阻系数和表面电阻系数的测定仪器一、概述本仪器是依据GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》（等同IEC 60093：1980）、GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的实验方法》（等同IEC 60167:1964）等而设计和制造的。体积电阻率和表面电阻率的测定仪器用于测量固体绝缘材料的绝缘电阻、表面电阻和体积电阻；该北京中航时代检测仪器器具有测量精度高、性能稳定、操作简单等优点，体积电阻率和表面电阻率的测定仪器器的最高量程1016Ω电阻值。二、功能特点1.本仪器采用PLC控制，触控屏显示，测试过程全自动，主要用于电工用塑料、层压制品、薄膜等绝缘材料的表面电阻率、体积电阻率的测量。2.触控屏人机界面，数显电阻值，自动计算电阻率。3.表面电阻和体积电阻的测量可通过屏幕按钮一键切换，测量接线无需转换。4.测试信号采用三同轴屏蔽线缆输入，测试精度高。5.电阻量程档位自动切换，北京中航时代检测仪器试验过程全自动。6.测试仪器和屏蔽箱一体化，无需外接线。三、主要技术参数1.电阻测量范围：1×105～1×1016 Ω2.电阻测量误差：1×105～1×1010 Ω±5%；1×1010～1×1013 Ω±20%3.测试电压：10/50/100/250/500/1000V4.直流电压误差：±2%5.电源：220V 10A 50Hz6.消耗功率：约10W7.环境温度： 0～40℃8.相对温度：≤70%9.外形尺寸： 410mm×370mm×560mm10.重量： 约30kg四、测试步骤1.打开设备电源开关，预热10分钟。2.打开屏蔽箱门，将被测试品放置在三电极中间位置，试品应全部覆盖不保护电极。3.按照图×的接线方式接好线，右侧蓝色线接被保护电极，中间黑色线接不保护电极，左侧黑色线接保护电极。4.调整保护电极的位置，使保护电极和被保护电极之间的间隙均匀。5.关闭屏蔽箱门，设置换挡时间（默认2s），电化时间（默认60s），厚度。6.同一个试品需要测量表面电阻和体积电阻时，一定要先测表面电阻后测体积电阻。将“表面/体积”档位开关至需要的档位。7.按启动按钮，观察电阻值和档位的变化，当档位稳定开始电化计时，电化时间到后记录电阻值。8.测试样品结束，观察高压指示灯灭，打开试验箱，换取试品，北京中航时代检测仪器重复步骤2～7。9.试验结束，关闭电源，用绸布盖住设备，保持清洁。五、注意事项1.使用前务必详阅此说明书，并遵照指示步骤，依次操作。2.设备必须在环境温度0～40℃，湿度不大于70%的环境下进行。3.机壳必须可靠接地。4.开机后必须预热不少于10分钟。5.试品尺寸必须大于不保护电极面积。6.试品必须放在屏蔽箱内并关上门进行测试。7.同一个试品需要测量表面电阻和体积电阻时，一定要先测表面电阻后测体积电阻。8.同一试品采用不同电压测试时，应先用低电压测试，再用高电压测试。北京航天纵横检测仪器反之会使测试结果出现较大误差。9.绝缘电阻越大，电化时间需要越长才能够趋于稳定，一般取值60s，也可根据实际情况自行设定。10.针对同一试品两次以上的测试，务必要确保两次测试时的环境条件（如：温度、湿度等）及测试条件（如：充放电时间）一致，北京中航时代检测仪器且有足够长的时间间隔。11.测试电压取1000V时，测试电阻值1×107Ω～1×1016Ω，电压取100V时，测试电阻值1×106Ω～1×1015Ω，电压取10V时，测试电阻值1×105Ω～1×1014Ω。六、标准配置主机1台电源线1根测试线3根接地线1根使用说明书1份合格证1张七、校验方法1电压校验1.1将触控屏上“体积/表面”档位开关至“体积”档，中间黑色线接电压表的正极，屏蔽箱内部壳体接线柱接电压表负极。1.2在触控屏设置界面设置所要校验的电压值（1000V/500V250V/100V）。1.3按启动按钮，待电压稳定后读取电压表的数值并记录。2 电阻校验2.1将将触控屏上“体积/表面”档位开关至“体积”档，中间黑色线接标准电阻的一端，右侧蓝色线接电阻的另一端，北京航天纵横检测仪器左侧黑色线接电阻的屏蔽端。2.2按照标准电阻的额定电压值选择直流电压档位，按启动按钮，待电阻值稳定后读取数据并记录。八、可能影响测量结果的各种因数1、测量时间对测量结果的影响 在测量电线电缆、大型电机、变压器等大容量电器时，由于被测器件中存在较大的分布电容以及绝缘材料的介质吸收与极化现象，其充电时间常数可能高达数十分钟，在测量开始时，电容性电流占主导地位，电阻示值很小，随着电容电流逐渐衰减，仪表电阻示值呈缓慢上升，这是正常现象（如果电阻示值很快稳定，反而说明在测量开始时电导性泄漏电流就在在测量电流中占主导地位，这是被测对象因受潮而导致绝缘不良的一个主要特征）。为了取得一个比较确定的测量结果，北京航天纵横检测仪器通常对被测器件规定一个特定的测量时间（如电线电缆规定为1分钟），可以通过设置仪器的定时器获得所需的定时时间。2、重复测量对测量结果的影响 在测量电线电缆、大型电机、变压器等大容量电器的绝缘电阻时，如在短时间内进行重复测量，则二次测量示值将明显比第一次测量示值高，这是由于被测器件中存在第一次测量所施加的残余电荷的缘故。这些器件充电时间很长，同样，放电时间也很长，在没有充分放电的情况下重复测量，充电效果是叠加的，其等效作用是延长了后一次测量实际上的测量时间，电阻示值自然较高。北京航天纵横检测仪器因此，测量结果应以第一次测量为准，如要进行第二次测量则必须对被测器件进行充分放电后（一般为数十分钟至数小时）才能进行。3、测量电压对测量结果的影响 不同的测量电压可能会导致不同的测量结果，通常是测量电压越高，漏电流越大，电阻值越小，具体原因见 4.4.4节。4、环境温度对测量结果的影响 电线电缆、电力器件、半导体元件等被测对象的绝缘电阻（或漏电流）有很大的温度系数，如硅二极管，环境温度每增加8-10 ℃，其反向漏电流就要增加一倍，绝缘电阻值降低一倍。为了取得一个比较确定的测量结果，通常对被测器件规定一个特定的测量环境温度，在其他温度下的测量结果，可以通过一定的公式换算到特定温度下的绝缘电阻。在超高阻及微电流测量中还必须保证环境温度的稳定性，北京航天纵横检测仪器在研发实践中发现，在变化的温度场中（ 如普通空调开启与停止之间有1-2℃的温度变化 ），测试导线（聚乙烯介质的同轴电缆）会产生10-13A - 10-12A 数量级的干扰电流（由于材料的热释电效应引起），试验室建议采用连续送风的中央空调或变频式空调。5、环境湿度对测量结果的影响 环境湿度对超高阻（1013Ω）测量、绝缘材料表面电阻率测量、防静电工程表面电阻测量影响很大，这是由于绝缘材料表面吸湿效应所致。虽然3.1.1.2节中规定了仪表的正常工作条件为相对湿度不大于80%（无凝露），但这仅对仪表本身而言，在超高阻测量的情况下，被测对象（包括检定仪表用的高值标准电阻器）对环境湿度的敏感程度要远远高于仪表本身。因此在进行上述测量时环境湿度应不大于60% RH，进行高绝缘电阻试验的试验室通常应备有空气抽湿装置。6、环境干扰对测量结果的影响 环境干扰对超高阻（1012Ω）、微弱电流（10-11A）测量结果的稳定性影响较大，用户应设法避免的环境干扰包括:a)电磁场干扰：高压交流输电线，大型电机、变压器、电磁铁、中频及高频加热装置以及产生电脉冲、电火花的干扰源包括手电钻、电吹风、电焊机、以及大功率电器的启动与停止，都可能造成测量结果不稳定。b)机械振动：仪表及被测对象应保持静止，机械振动会在电路中产生压电效应、摩擦生电效应以及被测物与仪表之间分布电容的变化，影响测量结果的稳定性，尤其要保证被测对象及测量导线的绝对静止，在进行超高阻（1013Ω）、极微弱电流（10-12A）测量时，建议采用带有双重屏蔽层的低噪声电缆作测量导线，北京航天纵横检测仪器采用以空气为绝缘介质的金属硬管空气电缆。c)人体感应：因为人体与仪表及被测对象存在分布电容，且不可避免带有电荷，操作人员的走动、肢体移动都会引起周围电场的变化，导致仪表读数上下跳动。d)空气中正负离子的干扰：在测试现场，某些能造成空气电离的装置如正、负离子发生器，空气净化器等会对测量结果造成较大影响，实验表明，北京航天纵横检测仪器在进行超高阻（1013Ω）、极微弱电流（10-12A）测量时，由空调、去湿机的压缩机，或电风扇引起的空气流动、摩擦所产生的微弱电荷都会给测量结果带来明显影响。 使用本仪表中的滤波器可以在一定程度上提高仪表读数的稳定性，杜绝环境干扰的最好办法是将被测对象整体静置在金属屏蔽盒内，并保持与屏蔽盒绝缘良好，屏蔽盒与仪表的屏蔽端连接。九、典型用户：广东腐蚀科学与技术创新研究院华为技术有限公司格力电器股份有限公司惠州市同益尖端新材料有限公司大连理工大学北京化工大学上海东洋油墨有限公司上海空间电源研究所青岛中集新材料有限公司瑞声科技控股有限公司十、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验

薄膜热电参数测试系统RS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。● 测试环境温度范围达到81K~700K。● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。● 真空度≤10Pa● 塞贝克系数测量范围：S≥8uV/K；分辨率≤±7● 采用四线法测量电阻率。● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。

绝缘漆体积表面电阻系数测定仪GB/T 31838《固体绝缘材料介电和电阻特性》目前发布以下部分:一第1部分:总则 一第2部分:电阻特性(DC方法)体积电阻和体积电阻率 一第3部分:电阻特性(DC方法)表面电阻和表面电阻率 一第4部分:电阻特性(DC方法)绝缘电阻。&bull 显示采用4.3寸高分辨率TFT屏显示，操作简单&bull 机身小巧，功能强大测试性能卓越&bull 回读电压精度0.5%±1V&bull 绝缘电阻最大精度 1%快速测试&bull 最小测试周期仅需200ms恒压测试&bull 采用恒压测试法快速测量绝缘电阻丰富的接口配置&bull HANDLER口&bull RS-232接口&bull 以太网接口&bull U盘接口&bull 可连接上位机软件操作供电&bull 110v~240 V双模式供电&bull 电源频率47Hz~63Hz&bull 最大功耗 50W本部分为GB/T 31838 的第3部分。本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC62631-3-2:2015《固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-2部分:确定电阻特性(DC方法)表面电阻和表面电阻率的一般方法》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:-GB/T10580-2015固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件(IEC 60212:2010，IDT) 绝缘漆体积表面电阻系数测定仪2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 2828.1-2003计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(ISO 2859-1 1999,IDT)GB/T 2829-2002周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)MT 76液压支架(柱)用乳化油、浓缩物及其高含水液压液3 术语和定义下列术语和定义适用于本标准,3.1软管hose由内胶层、增强层以及外胶层组成的可屈挠的管。3.2软管总成hose kit两端装配有金属接头的软管。3.3编织软管braided hose增强材料以编织形式制成的软管。3.4缠绕软管spiraled hose增强材料以缠绕形式制成的软管。3.5设计工作压力design working pressure设计规定的软管可供使用的工作压力。3.6许用工作压力allowable working pressure软管可在液压支架工况条件下使用的工作压力。3.7脉冲压力impulse pressure设计的产生突然变形的周期性压力。绝缘漆体积表面电阻系数测定仪MT/T98--20063.8管接头pipe coupling通过扣压或挤压方式,永久性地装配到软管两端的金属连接件。3.9长度变化change in length在规定的压力和介质作用下软管长度变化的程度,以百分数表示。4试验系统要求4.1一般要求4.1.1工作液采用MT76中所规定的乳化油或浓缩物与中性软水按5，95质量比配制的高含水液压液。脉冲试验允许采用20号机械油。4.1.2脉冲试验工作液温度允许从冷态(室温)开始,工作液为高含水液压液时温度应控制在(35±4)℃范围 工作液为20号机械油时温度应控制在(93±5)℃范围。4.1.3系统的过滤精度不应低于0.125 mm,并应设有磁过滤装置。4.2测量要求4.2.1测量时应同时记录所有测试量相关仪表的指示值,可重复测量的参数测量次数应不少于三次，取其算术平均值为测量值。4.2.2各参数指示值的有效位数按计量仪表的最小分度值读取,最少应保留一位小数。当仪表指针摆动时,指针摆动不应超过示盘的三个最小分度值,取其中间值的读数为指示值。4.3测量精度测量精度采用表1中C级精度，表1测量精度测量等级ABC流量,%±0.5±1.5±2.5压力,≥2x10°Pa,表压.%±0.5±1.5±2.5温度,K±0.5±1.0±2.05试验方法5.1密封性能试验5.1.1高压密封的试验压力为软管许用工作压力(见表2、表3),试验三次,每次1min,软管总成不应渗漏和损坏。5.1.2低压密封的试验压力为1.0MPa,试验三次,每次5min,软管总成不应渗漏。表2钢丝编织软管性能参数公称内径设计工作压力许用工作压力最小弯曲半径试件长度(不含接头)绝缘漆体积表面电阻系数测定仪5.3.8如脉冲试验由于不可避免的原因停机24h以上,重新开始试验时,在接头连接处可能会出现轻微渗漏,这一现象如在30min内自动消失,则不视为试验失效。5.3.9记录破坏时的周期数,如未发生破坏则记录所完成的周期数。5.4爆破试验5.4.1选择按5.4.3规定的升压速率,将软管总成充压至最小爆破试验压力(为设计工作压力的4倍),保压1min,不应出现渗漏和其他异常现象,继续升压至爆破为止,记录爆破试验压力值。5.4.2在进行爆破试验时,管接头拔脱或在距离接头25mm内出现爆破时应视为软管总成的损坏,对软管可重新进行此项试验,但应在原始记录中记录失效形式,部位和试验压力。5.4.3不同软管爆破试验压力的升压速率按下述要求进行:a)爆破试验压力在12.5~40MPa之间时,升压速率为0.35~1.17 MPa/s或在90s内达到爆破试验压力 b)爆破试验压力大于40MPa时,采用一恒定的升压速率,在120s内达到最终的试验压力。5.5低温弯曲性能试验5.5.1软管总成应在(一40士2)℃下平直冷冻24h,在此温度下,沿一直径为最小弯曲半径(最小弯曲半径见表 2、表 3)2 倍的圆盘上匀速弯曲,在(10±2)s的时间内匀速地弯曲一次。5.5.2软管公称内径小于或等于22 mm时弯曲 180° 软管公称内径大于22mm时弯曲90°。在弯曲后，使试件恢复到室温,再对试件以设计工作压力的2倍保压5min,不应出现渗漏、龟裂及其他异常现象。5.6阻燃试验5.6.1将一根 300mm的软管(试件)水平放置在试验箱内的试架上,酒精喷灯燃烧器与软管的相对位置应符合图6要求,软管外缘与酒精燃烧器的距离为(50±2)mm,酒精喷灯燃烧器底座与水平方向成45°角。燃烧器和阻燃试验装置见图6、图 7.绝缘漆体积表面电阻系数测定仪采用高性能微处理器控制的绝缘电阻测试仪。输出电压1-1000v连续可调，可以测试5*102Ω～1*1016Ω的直显电阻/电阻率（超出显示电流换算可到20次方），最大显示99999数,测试速度可达5次/秒。仪器拥有专业分选功能，具有10组设置存储数据，多样分选讯响设置，配备Handler接口，应用于自动分选系统完成全自动流水线测试。内置RS232接口及LAN接口，用于远程控制和数据采集与分析。计算机远程控制指令兼容SCPI（Standard Command for Programmable Instrument仪器标准命令集），高效完成远程控制和数据采集功能高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻；与恒温水浴配套后，还能测量不同温度下的塑料电线电缆（无屏蔽层）的绝缘电阻，该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点，仪器的最高量程 1000T(16次方)超出16次方显示电流通过换算最大可到20次方电阻值（测试电压为 1-1000V）。 本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备，该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。产品特点：+ 可以测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。+ 的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。+ 采用锁相技术，精度超过大型测试设备。+ 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜。主要技术参数： + 位置定位精度：单向 0.05 μm；双向 1 μm+ 大扫描区域：100 mm × 100 mm 典型值+ 局部测量精度：5 μm（与该区域的热传导有关）+ 信号测量精度：100 nV（采用高精度数字电压表）+ 测量结果重复性：重复性误差优于3%+ 塞贝克系数测量误差： 3% (半导体)； 5% (金属)+ 电导率测量误差： 4%+ 测量速度：测量一个点的时间4-20秒应用领域：1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量2、测量功能梯度材料的梯度3、观察材料退化效应4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移5、固体电介质材料中的传导损耗6、阴材料的电导率损耗7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化8、样品的质量监控系统组成部分+ 三矢量轴定位平台及其控制器+ 定位操纵杆+ 加热、测温探针+ 力学接触探测系统+ 模拟多路器+ 数字电压表+ 锁相放大器+ 摄像探测系统+ 带有专用控制软件和数据接口的计算机+ 样品台与样品夹具样品夹具加热测温探针部分测试数据1、塞贝克系数测量Bi2Te2.85Se0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布（数据来源，PANCO实验室）2、接触电阻测量存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻。接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到，图中ΔR正比于接触电阻。（数据来源，PANCO实验室）全球部分用户名单：Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research LabSimens Company Gwangju Institute of Science and Technology Hamburg University Munich University

SBA 458 是德国耐驰公司专为热电材料领域开发的塞贝克系数测量仪，可精确测量热电材料的塞贝克系数和电导率。SBA 458 采 用特殊的立式顶部装样结构，在保证测量精度的同时，极大地降低了样品制备要求，测量操作更加简便，可靠性更高。 NETZSCH SBA 特性：• 独特测量模式，支持更多样品尺寸，最高温度可至 1100°C• 立式顶部装样，样品更换方便，样品与传感器接触更可靠，可兼容多种样品形状• 独特的双加热器系统，可在样品两端交替加热，能够监测到样 品不均匀等现象• 热电偶位置固定，预设接触力，可避免样品或热电偶滑动。热 电偶带有护套，防止与样品粘连。• 无需测量热电偶距离，排除潜在误差源，提高测试结果的准确度和重复性SBA 458 Nemesis 技术参数• 温度范围：-125 … 800°C/1100°C• 塞贝克系数范围：10 ... 2000μV/K• 电导率范围： 0.05 ... 150000S/cm• 热电偶：Inconel 铠装 K 型热电偶• 样品形状：方形、矩形、圆形、条状• 样品尺寸：圆形 ? 12.7 … 25.4mm 长度 12.7 … 25.4mm 宽度 2.0 … 25.4mm 厚度 100nm … 3mm• 真空度：10-2 mbar • 样品气氛：氧化、还原、惰性SBA 458 - 软件功能 SBA 458 的软件包含测试软件与分析软件两部分，运行于 Windows7 与 Windows10、32 位或 64 位平台下。可以控制测试在设定的温度区间内进行，易于操作和对数据进行处理。测量软件的主要功能有：• 编辑测量参数（可包含任意段的温度步阶）• 室温下的预测试（质量检查）• 按设定温度程序执行测量。• 可同时测试电导率与塞贝克系数，也可选测两者之一。 分析软件的主要功能有：• 塞贝克系数与电阻率曲线查看• 多条曲线比较• 单独查看每个温度点下的质量控制曲线• 删除某些温度点的测试结果• 修改样品尺寸，重新计算电导率• 塞贝克系数与电导率曲线拟合，导入 LFA 的热导率数据，最终计算 ZT 值• 各类数据与图谱的导出

FT-355材料高温电阻率测试系统一、概述：材料电阻、电导率和电阻率，并配合温度试验箱结合高温治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决材料的电导率对温度变化测量要求，软件实时绘制出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线图谱，及过程数据值的报表分析.二、适用行业：用于：企业、高等院校、科研部门对导体/半导体/绝缘材料电阻、电阻率和电导率数据测量需求.因测试方法和测试材料类型不同，可以选择组合配置，三.参数资料 FT系列电阻率测试主机选购规格/型号FT-355AFT-355BFT-355C1.电阻范围10-8～2×104Ω10-6～2×106Ω104Ω～1×1016Ω方块电阻范围 10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围10-8～2×104Ω-cm10-6～2×106Ω-cm104Ω～1×1016Ω-cm电导率 10-4～5×108s/cm10-4～5×107s/cm4.测试电流范围100uA.1mA.10mA.100mA.1A.10A.0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA20uA,2uA,200nA,20nA,2nA,200pA,20pA5.电流精度±0.1%读数±0.1读数6.电阻精度≤0.3%≤0.3%1G ±1% ≥1G ±3% ≥1T ±10% ≥10T ±20% (标准电阻)7.测试电压0-2V 0-32V 0-1000V 7.测试方法四端法四探针法三环电极法8.材料类型导电材料半导体材料绝缘材料PC软件界面电阻、电阻率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、电导率，曲线图谱方阻、电阻率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、电导率，曲线图谱电阻、电阻率、温度、单位换算、电流、电压，曲线图谱高温电极高温四端法夹具1套高温四探针夹具1套高温三环电极1套样品尺寸大小建议小于150*150mm建议20*10mm；可定制直径100mm；可定制FT系列温度试验箱型号规格FT-002FT-003温度范围常温-200℃常温-300℃9.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz试验空间尺寸250*250*250mm13.温度精度 冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C高温材料 内胆采用304不锈钢材质，箱体表面烤漆标配外（选购）：电脑和打印机1套；2.标准电阻1-5个；

FT-351高温四探针电阻率测试系统一、概述：采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。四、技术参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6×106cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10. 温度： 1200℃可调节；冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C11、升温速度：9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃；功率：3kw.12、炉膛材料：采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征。13.专用测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！14.选购：电脑和打印机还有如下相关产品：FT-351高温四探针电阻率测试系统；FT-352导体材料高温电阻率测试系统； FT-353绝缘材料高温表面和体积电阻率测试系统 ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；智慧之原

1.北京中瑞祥动静态电阻应变仪 型号：ZRX-29708本测试分析系统适用静态和频率低于2000HK的动态应变测试中。主机各测点可分别配接不同的传感器，同时测量应变、位移、载荷、压力等多种物理量。内置速ARM处理器，使其测量度更，实时性更好。每通道立A/D各通道同步采样、传输、实时显示、实时存盘。强大的软件能，可广泛应用于土木程、桥梁、建筑、机械结构、材料意点变形的应力分析ZRX-29708产品特点：1、.每通道立AD变换器,采集、显示、存盘实时同步行。2、主机测点：8点；扩展每台计算机多可控制128个测点同步作。3、测量范围：应变 ±38000με； 4、零点不平衡范围：±38000με；5、分辨率：应变：1με；拉压力及位移：0.01%/F.S；6、桥压电阻：60~1KΩ 7、桥压：DC 2V；8、作方式：计算机外控9、模块通讯距离大于100m,（级联）10、组桥方式：1/4桥、半桥、桥；11、直接输入电压信号12、接口：USB2.0 RS485(级联)13、.采样频率：200Hz14、A/D分辨率：24位15、编程环境：VC++16、采样速率（Hz）：1、2、5、10、20、50、100、200、500、1000、200017、参数设置、平衡、数据的实时显示、分析、存盘、应变花计算等。18、数据显示方式：表格/图形；19、采集方式：手动、自动、连续、定时、触发；20、测量参数：应变、位移、载荷、压力；温度21、确捕捉峰值22、非线性：±0.02%F.S（预热半小时）；23、零点漂移：±3με/4小时；（预热半小时）24.温度漂移: 小于1μV/℃（25、作环境：温度-30~60℃；湿度小于85%（不结露）26、电源：AC 220V(±10%) 50Hz；耗：约 20WZRX-29708软件能1.采集方式：手动采集、连续采集、监测采集、触发采集。2.测量方式：应变片、传感器。3.测量单位：με、kg 、N、kN、t、MPa、mm、℃。4.参数设置：测点参数设置、频谱参数设置、应变花设置。5.采样频率：1Hz、2Hz、5Hz、10Hz、20Hz、50Hz、100Hz、200Hz、500Hz、1000Hz、2000Hz。6.窗口排列方式：层叠、水平、排列图标。7.自动平衡控制：自动平衡、保持平衡文件、调入平衡文件、调入上次平衡文件。8.显示控制：表格、T-Y图、X-Y图、棒图、综合显示，可单窗口/多窗口显示。9.通讯方式：USB2.0。10.数据转换格式： Txt /Excel文档。11.数据回放：表格回放、T-Y图回放、X-Y图回放、棒图回放。12.数据分析：数据查询、频谱分析和应变花计算（应变花数据列表、应变花图形显示、应变花数据存盘）。13.光标：单光标、双光标。14.配套分析软件强大、能面、面兼容视窗Vista/ WinXP /Win7操作系统。2.北京中瑞祥台式氨氮检测仪 型号：ZRX-29707术标： 　　　　　　　　　　　1.测量范围：0.02-10mg/L2.电源电压：220V 3.分辨率：0.01mg/L 4.重复性：≤3% 5.线性误差：±（3％FS）3.北京中瑞祥柴油总污染物测定仪 型号：ZRX-29706ZRX-29706用途及适用范围： 柴油中总污染物测定仪是我公司按照新标准符合GB/T 33400-2016《中间馏分油、柴油及脂肪酸甲酯中总污染物含量测定法》标准设计制的。用于标准规定的中间馏分油、脂肪酸甲酯体积分数不大于30%的柴油及纯脂肪酸甲酯（BD100）中总污染物含量的测定方法。也用于20℃运动黏度不大于8 mm2/s，或40℃运动黏度不大于5 mm2/s的样品，及总污染物含量为12 mg/kg～30 mg/kg的样品，并规定了密度；也适用于总污染物含量出该范围的样品，其密度未作规定。是炼油企业和检测机构测定柴油中总污染物含量产品。ZRX-29706主要术规格及参数1、作电源：AC220V±10%，50Hz2、真空度：压力2KPa～5KPa（压力表对应压力为-0.099MPa～ -0.096Mpa）3、过滤器容积：500ml4、滤膜直径：47mm；孔径0.7μm【性能特点】1、特制的过滤器，容量大2、滤膜垫板孔径均匀，保护滤膜不受损3、配真空泵，真空抽虑压力系统平衡稳定4、压力装置，控制可靠，调节方便4.北京中瑞祥土壤墒情测定仪 水分 盐分 温度 型号：ZRX-29702、ZRX-29702性能特点1、小巧美观，手持式设计。2、4.0寸彩触摸屏 Android 5.1 操作系统，中文操作界面，美观大方，易于操作。3、1GB运行内存、16G外存储、支持32GB（micro SD），海量数据存储能力。4、可设置定时采集和手动采集，采集数据可直接上传平台，用户可以通过登录平台和手机APP查询监测数据。4、内置GPS定位模块，可实时传输位置信息。5、内置6000mAh大容量锂离子电池。6、具有RJ45接口，4G网通模块，WIFI接口。二、ZRX-29702土壤水分术参数1、水分单位：%（m3/m3）2、含水率测试范围：0～3、响应时间：≤2秒4、分辨率：0.1%5、相对百分误差：≤2%三、ZRX-29702土壤盐分术参数1、测量范围：0.00～20.00ms/cm2、测量度：EC±2℅满刻度3、分辨率：0.01ms/cm4、温度补偿：0～50℃四、土壤温度术参数1、温度单位：℃2、测试范围：-40～100℃3、度：±0.5℃4、分辨率：0.1℃5.北京中瑞祥胶体金检测仪 瘦肉检测仪 型号：ZRX-29701、ZRX-29701概述胶体金检测仪，采用8寸彩色触摸液晶显示屏，可应用于化妆品保健品抗生素激素，瘦肉，畜牧、水产品、牛奶、蛋类抗生素激素，粮食真菌毒素，非法添加物、农药残留等采用胶体金检测卡检测的数据分析，实现定性数据定量化。可将胶体金检测结果数字化图像化保存，实现检测数据与监控系统现场联网传送，使检测数据更加科学，避免人为判读成的误差。带内置锂电池可现场直接作。二、ZRX-29701能及术1、采用清CCD读取，自动扫描分析，自动区分无效卡和有效卡。对所有胶体金检测卡即插即读，无需自动或手动样。2、采用8寸清彩色触摸屏幕，Intel芯片，速处理器，内存2G,储存器32G,分辨率1280x800，中文显示，采用windows系统，智能中英文输入、触摸、手写输入能。带鼠标及键盘，具有视频学习能。3、检测直接快速，自动判断检测结果和含量。4、带大容量数据保存能，可保存检测数据和胶体金实测图像，32G储存容量，保存数据可达10条以上。5、仪器具有自动保存检测结果，胶体金检测图像及判断结果，并能随意查询保存的记录。6、带无线WiFi、蓝牙、3G/4G无线网络，检测数据即时云传输，实现大数据云端管理。7、仪器采用开放式平台设计，可实现能自动升级和远程管理。8、带文件编辑系统能，可以在仪器上实现文件编辑处理和快速邮件发送。9、带微型打印机，实现检测报告打印。也可接通用喷墨、激光打印机，实现A4纸打印。10、测量速度：＜1s11、检测度：CV值小于1%（标准卡），批间误差＜3%，灵敏度于0.001.12、检测输出：色度检测，CT比值检测，T线检测，C线检测等自动判断能。13、通讯接口： USB 14、网络通讯： wifi、蓝牙、3G/4G无线通讯15、耗：小于10W，待机72小时，连续操作6小时16、作电源:220V、内置锂电池供电、5V直流电源供电。17、检测项目检测范围 检测项目畜禽、水产、蛋抗生素激素 盐酸克伦特罗、沙丁胺醇、莱克多巴胺、苯乙醇胺A、呋喃唑酮、呋喃妥因、呋喃西林、呋喃它酮、孔雀石绿、氯霉素、五氯酚钠、磺胺、土霉素、喹诺酮、头孢氨苄、内酰胺类、四环素、硝基米唑（甲硝唑）、庆大、链霉素、甲氧卞胺嘧啶、喹乙醇、红霉素、青霉素、奎乙醇代谢物、林可霉素、新霉素、卡那霉素、泰乐菌素、替米考星、甲砜霉素、氟苯尼考等粮油真菌毒素 黄曲霉毒素B1\M1、赭曲毒素、伏马毒素、玉米赤霉烯酮、呕吐毒素、T2毒素等化妆品激素抗生素 氯霉素、卡那霉素、大观霉素、新霉素、链霉素、内酰胺类、地塞米松、磺胺、喹诺酮、林可霉素、己烯雌酚、雌二醇、雌三醇、甲硝唑、糖皮质激素、四环素、阿维菌素保健品 西地那非、西布曲明、苯二氮、苯巴比妥、甲基睾酮、氢氯噻嗪、氯丙嗪、可乐定蜂蜜激素抗生素 氯霉素、喹诺酮、磺胺、青霉素、四环素、链霉素、黄曲霉毒素B1、玉米赤霉烯酮、喹乙醇、T2毒素、呕吐毒素等火锅底料 罂粟壳、喹诺酮等牛奶 三聚氰胺、内酰胺类抗生素、四环素、氯霉素、金霉素、土霉素、黄曲霉毒素M1、喹诺酮、磺胺、青霉素、庆大霉素、卡那霉素、羊奶掺假、林可霉素、新霉素、大观霉素、替米考星、红霉素、链霉素、甲氧苄氨嘧啶、头孢氨苄、泰乐菌素、地塞米松等农药残留 除草剂乙草胺、毒死蜱、百菌清、克百威、多菌灵、阿维菌素、吡虫啉、菊酯、豆芽无根水6.北京中瑞祥残余应力检测仪 型号：ZRX-29700ZRX-29700设备简介：本仪器主要采用盲孔法行各种材料和结构的残余应力分析和研究，还可作为在静力强度研究中测量结构及材料意点变形的应力分析仪器。如果配用相应的传感器，也可以测量力、压力、扭矩、位移和温度等物理量。盲孔法应力检测仪属于有损检测，既在被测构件上打个直径1.5mm深度0.5-2.0mm的小盲孔，利用应变片的感应行测试和分析。使用方便，操作简单ZRX-29700设备特性：1、采用速ARM9单片机作为中央处理机，可同时运行四线程固化程序，保证设备流畅运行。2、选用度测量放大芯片，可自动化测出残余应力值的大小及方向3、测量过程中数码管可直接显示ε1、ε2、ε3（0°、45°、90°）的应变值和计算后的残余应力值δ1、δ2及主应力方向的夹角度数θ，可通过按键意切换查看。 4、设备自设清零键，确保钻孔之前因外因素成的零点漂移5、设备采用三方向立数据采集和计算的方式，并通过数字滤波及硬件滤波等综合抗干扰术，确保打孔时测量数据的准确及稳定。 6、本仪器配有台微型速打印机，可现场打印出三个方向的应变值及计算后的残余应力值及主应力方向的夹角度数。 7、可以根据被测件的弹性模量、泊松比、应变花的灵敏度系数、中心R，设置相应的释放系数A、B值，（出厂时释放系数默认为：A=＋0.250，B=-0.720）ZRX-29700详细参数1. 测量点数：单点测。 2. 应变测量范围：0~±32767με。 3. 分辨率：1με/字。 4. 适用应变片阻值：120Ω±0.5 5. 供桥电压：直流2.0V，交流纹波小于0.1mv 6. 基本误差限：≤±0.1％±1με 7. 稳定性：（在预热30分钟后） a) 零点漂移：= ±2με/h b) 读数值变化：≤±0.1％＋3/h。 c) 温度变化： 温度对零点漂移的变化：≤±1με/℃。 温度对读数值的变化：≤＋0.02％F.S/℃。 8. 电阻平衡范围：≥0.5％（应变片灵敏度系数为2.08（可调），使用120Ω应变片)。 9. 显示方式为八位数码管显示SXXXXX.XX（其中5位整数位，2位小数位，S为符号)， 显示应变值时无小数位。 10. 电源：交流 50HZ 220V±10％ 。 11. 作环境： a) 温度：-20~40℃。 b) 相对湿度：42％~92％。 钻孔装置（选配）1、采用60度、90度、可调钻孔装置可以在不同构建的平面、曲面、角焊缝、对接焊缝、拐角等处方便灵活的行钻孔2、配置倍显微镜使对中度确到1‰3、钻孔转速可调节，转速快慢可意控制。4、强磁钢吸附，代替了普通钻孔装置胶水粘贴的麻烦钻孔直径：￠1.0~￠3.0mm对中度：0.025 mm打孔深度: 随机调节7.北京中瑞祥双管石油产品蒸馏测定仪 型号:ZRX-29698、ZRX-29698用途及适用范围本仪器是根据中华人民共和标准GB/T6536《石油产品蒸馏测定法》规定的要求设计制的，适用于按GB/T6536的标准对汽油、航空汽油、喷汽燃料、特殊沸点的溶剂、石脑油、柴油、馏分燃料和相似的石油产品的蒸馏测定。二、ZRX-29698主要术参数及术特点（）主要术参数⑴ 作电源： AC220V±10%，50Hz。⑵ 电炉加热率：1000W×2。⑶ 量筒容积： 100 mL，分度1 mL。⑷ 蒸馏烧瓶： 125mL，符合GB/T6536的要求。⑸ 温度计： 浸棒式，刻度范围分别（-2～+300）℃和（-2～+400）℃两种，分度为1℃。⑹ 电炉活动板： 碳化硅板制，孔径分别为φ38㎜、φ50㎜。⑺ 温控仪: ① 控温范围： （室温+10～80）℃意设置。② 控温度： ±0.5℃。③ 温度显示方式： LED数字显示。⑻ 环境温度： ≤+30℃。⑼ 相对湿度： ≤85%。（二）ZRX-29698主要术特点1、蒸馏加热分由二套立电路控制箱组成，用户按不同要求，对每套控制箱的加热率可以意调节。2、控制箱用冷轧钢板制成，上前面有观察窗，内安装电炉。箱体下安装电路控制分。3、电炉分由碳化硅炉盘、1000W/220V电热丝以及耐温的碳化硅板等组成。电炉位置可通过控制箱上的升降调节旋钮调节度，用以调整蒸馏烧瓶与冷凝管口的相对位置。其加热率是通过电压调节旋钮加以控制。4、冷凝水箱用厚不锈钢板制成，内置加热、制冷、测温和搅拌装置，是两套蒸馏冷凝系统共用的水箱。冷凝管两套，立使用。8.北京中瑞祥粮食新鲜度检测仪 型号：ZRX-29697ZRX-29697产品概述ZRX-29697粮食新鲜度检测仪，采用7寸彩色液晶显示，多项目多通道检测，是台综合快速检测仪器，可快速检测粮食的新鲜程度。适合、粮食、以及在实验室和商品流动检测车中使用。ZRX-29697产品特点采用7.0寸分辨率彩色液晶触摸屏中文显示，界面直观，操作便捷。智能中文输入能，可通过智能键盘和触摸笔直接输入中文，使检测记录更加详细直观。带有嵌入式微型热敏打印机，直接打印每个检测通道的测试报告，报告详细直观，内容包含通道号、浓度、中文样品名、检测日期、检验员、检测单位。仪器采用光路自校正系统，实现开机自校，省略校0和100的步骤。仪器既可显示吸光值又能显示透光值，便于开展其它实验使用。自动显示样品中检测项目的浓度。 仪器具有自动保存检测结果，并能随意查询保存的记录。带有检测软件，实现数据管理、数据联网、查询、浏览、分析、统计、打印和发布信息。同时可与三方软件公司行系统集成和联网。ZRX-29697术标1、彩色液晶触摸大屏尺寸：7.0寸 2、波长范围：410、510、630nm3、吸光值显示范围：0.000-4.0004、透光值显示范围：0.00-100.00%4、透光值分辨率：0.01%5、吸光值分辨率：0.0016、透射比准确度：±2.0% 7、透射比重复性：≤0.2% 8、稳定性：≤0.2%（3分钟） 9、检测通道：24个10、粮食酸价检测下限：0.5mg KOH/100g11、粮食过氧化值:0.5-2800 mg KOH/100g12、粮食硝酸盐：50-3000mg/kg13、通讯接口： USB 14、作电源：220V±10% 9.北京中瑞祥紫外臭氧检测仪 型号:ZRX-29696ZRX-29696紫外臭氧检测仪，是根据臭氧对254nm波长的紫外光存在大吸收，并由比耳——朗伯定律光强与浓度的对数值成正比原理设计而成，并为了克服零点漂移，采用了经典的双光路系统，度达±0.01mg/L,测量范围由0.01~200mg/L。适用于各种浓度的臭氧气体测量。用于臭氧发生器出口的浓度测量， 可连续在线检测臭氧发生器出口管道中臭氧浓度。 主要用于连续检测各种业环境下的臭氧气体， 也可用于检测运行中的管道、容器等环境的臭氧气体。 广泛应用于制药、化、市、污水处理等行业，对臭氧发生器出口浓度和臭氧发生器产量测量. 相关产品： 1：紫外臭氧检测仪：0.01-100mg/L 0.01-200mg/L 2：度紫外臭氧浓度检测仪：0.01-20ppm 紫外臭氧检测仪，度紫外臭氧浓度检测仪特 点： 1、 宽量程：0.01-100mg/L 0.01-200mg/L：0.01-20ppm（度）2、 外长寿命紫外发光灯管 (254nm)，使用寿命是普通紫外灯管的2-3倍(10000小时以上) 3、 彩色触摸显示屏操作，数据存储256组。4、 在使用过程中设备自动校零，切自动成，了浓度的准确性并且避免了零漂 5、用于臭氧发生器出口臭氧浓度检测，可连续在线实时检测，无需手校零，可内侵入臭氧发生器 6、有用户校正能，性能及光源系统要优于外分析仪，价格也优惠于外分析仪 7、测量原理：紫外吸收法 紫外臭氧检测仪，度紫外臭氧浓度检测仪 术 参 数： 1.量程范围：0～200mg/L(0～40mg/L，0～100mg/L可选，固定量程)，0.01-20ppm（度） 2.显示分辨率：0.01mg/L 量程根据用户订做 3.彩色大屏幕显示浓度和触摸操作，有数据存储和查询能。同时显示温度和湿度 4.准确率：3% 5.输入气体压力：大0.1MPa 6.输入气体流量：1-5L/min(接旁路1L/min) 7.电源：AC 220V 50Hz 8.尺寸：320mm(长)×230mm(宽)×170mm() 9.气体输入口、输出口管内径4mm，外径6mm 10.做为内嵌入式仪表开孔尺寸：152mm×76mm. 10.北京中瑞祥农药残留速测仪 农残检测仪 型号：ZRX-29695ZRX-29695产品概述 ZRX-29695农药残留速测仪，采用7寸彩色触摸显示屏，具有数据传输和联网能的新代农药残留速测仪。仪器根据家标准《GB5009.199-2003》和农业《NY/T448-2001》标准的术要求设计。可对蔬菜水果、水、粮食、新鲜茶叶中有机磷和氨基甲酸酯类农药的含量行快速的检测。该仪可广泛应用于各级蔬菜检测中心、集贸市场、市、环保、蔬菜种植基地、饭店等单位对果蔬中农药残留的测定。ZRX-29695产品特点采用7.0寸分辨率彩色液晶触摸屏中文显示，操作声音提示。智能中文输入能，可通过智能键盘和触摸笔直接输入中文，使检测记录更加详细直观。仪器带有72种常规样品名，直接点击选择,也可在仪器中直接中文编辑修改。并可与电脑联机实现72种菜名批量导入修改。带有嵌入式微型热敏打印机，直接打印每个检测通道的测试报告，报告详细直观，内容包含通道号、抑制率、结果、中文样品名、检测日期、检验员、检测单位。自动识别通道内是否有检测样品能，有样品通道自动检测，无样品通道不检测不打印。仪器采用光路自校正系统，实现开机自校。光路校正带自诊断系统及通道故障提示。仪器既可显示吸光值又能显示透光值，便于开展其它实验使用。反应时间和自动判定标准意设定，设定范围宽，便于实际应用。具有大容量自动保存检测结果，并能随意查询保存的记录。乙酰胆碱酯酶和丁酰胆碱酯酶试剂均可使用，符合家标准和农业标准的要求。仪器带有通讯接口,方便数据储存和移动,可与电脑实现快速连接带有检测软件，可由软件控制操作，实现数据网络上传、管理、查询、浏览、分析、统计、打印和发布信息。同时可与三方软件公司行系统集成和联网。ZRX-29695术标1、彩色液晶触摸大屏尺寸：7.0寸 2、吸光值显示范围：0.000-4.000A3、透光值显示范围：0.00-100.00%T4、透光值分辨率：0.01%T5、吸光值分辨率：0.001A6、透射比准确度：±2.0% 7、透射比重复性：≤0.2% 8、稳定性：≤0.3%（3分钟）9、抑制率显示范围：0- 10、抑制率测量范围： 0- 11、抑制率准确度：±10% 12、抑制率重复性：5% 13、检测通道： ZRX-29695-8个，HAD-1217C-12个，HAD-1617C-16个，HAD-2417C-24个，HAD-3217C-32个14、波长：410nm15、通讯接口：RS232\USB16、作电源：220V±10%

广东熔炼方块电阻测试仪，烧结四探针软件测试系统涂覆电导率测试仪， 涂布层电阻测试仪 FT-361超低阻双电四探针测试仪 一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.二、广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 三、参数资料1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA.4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.

FT-352导体材料高温电阻率测试系统一、概述：采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析材料质量的一种重要的工具。导体材料高温电阻率测试系统二、适用行业：广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量.三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.导体材料高温电阻率测试系统四、技术参数资料一、电阻测量范围： 1、电阻率： 1×10-8～2×106Ω-cm 电 阻：1×10-8～2×106Ω电导率：5 ×10-6～1×108ms/cm分辨率： 最小0.1μΩ 测量误差±（0.05%读数±5字） 2、测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV 3、⑴电流输出：直流电流 0～10000mA 连续可调，由交流电源供电。 ⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,10A量程可自动转换或者人工设定. ⑶误差：±0.2%读数±2字4. 主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ 10. 温度： 1200℃可调节；冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C11、升温速度：9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃；功率：3kw.12、炉膛材料：采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征。13、带PC测试软件，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！14.选购：电脑和打印机

生物电阻抗分析仪Sciospec ISX-3是一款高速高精度且低成本的多频电阻抗分析仪。标准配置的多频电阻抗分析仪ISX-3配备了Sciospec的IF前端，具有4端口BNC接口，支持简单的2点测量，以及3和4电极配置，且配备医用级安全电源。从DC-10MHz的测量范围内，动态范围为180dB(Ohm…GOhm)，基本精度达到0.01%。 生物电阻抗分析仪关键参数紧凑型单通道阻抗分析仪中频前端 100 mHz...10兆赫，欧姆...汤姆频率可扩展至 40 MHz 甚至 100 MHz2、3 和 4 电极配置高分辨率（每次扫描高达 2048 个频率）基础精度为 0.01%+/- 1 V 直流偏置用于特定应用程序前端的扩展端口通过同步输入/输出连接器实现超快速硬件同步（可选）通过全速 USB、以太网或无线局域网轻松连接基于PC的控制和数据分析（包括Sciospec软件套装）Sciospec COM接口，用于从Java，C，Python，LabView，Matlab等进行完整的仪器控制。生物电阻抗分析仪强力选项监控模块，适用于常见的温度传感器类型前面板连接器：BNC、SMA、MCX、DSUB、定制用于顺序多通道功能的内部多路复用器选项用于外部传感器和其他硬件的IOport数字接口连接器，两个额外的NTC温度测量端口无线接口医疗级电源定制电流和电压范围第二通道选项 生物电阻抗分析仪拓展接口①多电极阵列阻抗测量多电极阵列(MEAs)在电生理学研究中得到了广泛的应用，它是细胞培养阻抗测量的重要标准之一。使用Sciospec MEArack，您可以获得一个简单且经过验证的解决方案来实现测量，无需任何复杂的自定义布线设置。手动通道切换以及复杂第三方多路复用器集成在自制芯片适配器上。生物电阻抗分析仪特点：完全集成图形用户界面在Sciospec软件可选自定义芯片开发外形小巧紧凑适配多电极阵列(MEAs)和其他传感器/生物芯片高达64通道模拟多路复用器60个弹簧负载的金电极触点布局广泛适用于不同种类的现有芯片具有与显微镜和其他光学设备结合使用的底部和顶部窗口通过扩展端口轻松装置② ECIS 8孔阵列阻抗测量ECIS CULTUREWARE 8孔阵列是一个非常普遍的选择，用于广泛的基于阻抗的细胞实验，如细胞生长，细胞迁移，损伤/愈合，屏障功能，毒素筛选，粘附和增殖研究。有了Sciospec ECISadapter，您可以将您的ECIS实验提升到一个新的水平:更快的速度，更高的分辨率，更多的可能性。利用Sciospec阻抗分析仪在您现有的ECIS阵列的全部力量。ECISadapter只需插入兼容的scISPec阻抗分析仪，如ISX-3，您就可以使用了。用于安装扩展端口系统的ECIS 8孔阵适配器(例如ISX-3)8通道每2线配置(8个工作电极W和1个公共对电极)布局适合宽范围的ECIS 8孔阵列玻璃底可与显微镜及其他光学设备结合使用，通过扩展口方便安装完全集成图形用户界面在Sciospec软件Sciospec ECISadapter兼容来自ECIS Cultureware系列的8阵列，如下:ECIS cultureware 8W1E PETECIS Cultureware 8W1LE (8W1CXE) PETECIS Cultureware 8W2LE PETECIS Cultureware 8W2X1EECIS Cultureware 8W10E PETECIS Cultureware 8W10E+ PETECIS Cultureware 8W20idf PETECIS Flow Array 1 Channel µ -Slide with 8x1E (1F8x1E) PC③ 多路复用器SlideChipAdapterSciospec SlideChipAdapter是一个50通道多路复用器，与所有支持ExtensionPort接口的Sciospec阻抗分析仪兼容。没有混乱的电缆，配置多功能和坚固的滑动接触连接器，综上所述，SlideChipAdapter是多路阻抗传感器的解决方案。50通道多路适配器是研究人员的一个强大的工具-设计自己的芯片-研究不同的芯片设计-开发行业应用程序(如移动健康监控，医疗设备)基于多通道芯片的阻抗测量再简单不过了。只要把芯片粘在载体上，你就可以出发了。该芯片适配器完全集成到您的Sciospec阻抗分析仪的测量和分析软件中，因此您的基于芯片的实验将像您的Sciospec阻抗分析仪一样灵活。上海昊量光电设备有限公司与德国sciospec公司在生物阻抗测量，生物医学等领域展开了深入的合作。近年来，我们支持了国内进行前沿研究的科研用户，填补了医学生物阻抗分析仪和断层成像仪的市场空白。上海昊量光电设备有限公司与德国sciospec的国内独jia代理授权，体现了德国sciospec公司对上海昊量光电设备有限公司市场销售的专业度及售后技术支持力量的高度认可。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

innoLab20C电导率/电阻率/TDS/盐度 测试仪英国 PRIMASCI innoLab20C台式电导率/电阻率/TDS/盐度 测试仪 实验室电导率分析仪 水的电导率是水传导电流的能力，单位为μS/cm或mS/cm。水的电导率随温度升高而增加。水温每增加1℃，电导率增加25℃时的2%左右。为使结果便于比较，通常将测定值校正到25℃时的电导率报出结果。在电场作用下，水中离子所产生电导的强弱（以电导率表示），用电导仪可直接测出。产品特点：100*74mm超大LCD显示屏幕，120度大视角。防刮抗磨损屏幕，防泼水按键/面板。可测定μs/cm,ms/cm,MΩ*cm TDS,℃,℉超大量测范围：0-500 ms/cm。最小读值：0.001 μs/cm，适合纯水段使用。自动切换电导率量测范围。自动量程1点标定/手动量程多点标定。具有HOLD读值锁定功能。读值稳定STABLE指示。温度偏移调整。100组量测数值存储功能。可选择10分钟自动关机功能。内建可充电锂电池（1300mAh），确保不断电操作。专利的两侧通用电极支架和伸缩电极夹头。典型应用：纯水、锅炉水、污水监控、电镀上海sleic innoLab20C台式电导率/电阻率/TDS/盐度 测试仪 实验室电导率分析仪技术规格：电导率/TDS测量范围：0-5.000 μs/cm温度补偿范围：-5.0~+120℃；自动/手动0-50.00 μs/cm校正方式：自动量程1点标定/手动量程多点标定0-500.0 μS/cm参考温度：15-30℃（出厂设定25℃）0-5000 μs/cmTDS系数：0.40-1.000-50.00 ms/cm 盐度系数：0.650-500.0 ms/cm 电极常数：0.01，0.1，1，10分辨率：0.001, 0.01 μs/cm（ppm）温度系数：0.00-9.99%（出厂设定2.00% KCI）0.1，1 ms/cm（ppm）超纯水非线性补偿：有0.01，0.1 ms/cm (ppt)记忆功能：100组数据记忆精确度：1% F.S.自动关机：可选（无动作后10分钟）电阻率测量范围：0-100.0 MΩ*cm电源：AC 100-240V；内建可充电锂电池（1300mAh）分辨率：0.1 MΩ*cm电极支架：300mm/&Phi 6mm温度测量范围：-5.0~120.0℃/23.0~248.0℉电极夹具：145mm-220mm分辨率：0.1℃/0.1℉外形尺寸：150*194*56mm(W*L*H)精确度：0.3℃/0.5℉重量：1.0千克档位切换：自动/手动 描述石墨材质两极式电导率电极, 內建温度补偿 K= 1.0, 电极尺寸:12 x120mm，8 Pin 接头，线长: 1米。玻璃材质两极式电导率电极, 內建温度补偿 K= 10, 8 Pin 接头，线长: 1米。钛合金材质两极式电导率电极, 內建温度补偿 K= 0.1，8 Pin 接头，线长: 1米。钛合金材质两极式超纯水电导率电极, 內建温度补偿 K= 0.01，8 Pin 接头，线长: 1米。超纯水电导率流通槽； 材质 :POM 英国PRIMASCI innoLab20C台式电导率/电阻率/TDS/盐度 测试仪

物理特性薄膜表征系统，高度集成且易于使用的测量平台。 薄膜的物理性质不同于大块材料，因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强！ 增强表面散射的影响（a）附加边界散射（b）超薄层的量子约束（c） LINSEIS薄膜物性分析仪是表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统，使用正在申请专利的测量系统设计，可提供高质量的结果。 组件 基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片，以及提供所需环境条件的测量室。 根据应用，该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行，并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。 预制测量芯片 该芯片将用于热导率测量的3 ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4点Van-der-Pauw技术相结合。 赛贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备，可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD（例如热蒸发，溅射，MBE），CVD（例如ALD），旋涂，滴铸或喷墨打印制备的样品。 该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同（平面内）方向，并且具有很高的可比性。 基本测量单元 ： 测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数： • λ - 热传导系数 (稳态法/平面内方向) • ρ - 电阻率 • σ - 电导率 • S - 赛贝克系数 • ε – 发射率 • Cp - 比热容 磁测量单元 可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下： • AH - 霍尔常数 • μ –迁移率 • n -载流子浓度 薄膜材料性能有别于块体材料之处 - 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，压强 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … 采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。

ZHDL-S 瞬态平面热源法导热仪简介ZHDL-S是利用瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量热导率，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便。该仪器操作方便，方法简单易懂，不会对被测样品造成损坏。二、工作原理 瞬态平面热源技术(TPS)是用于测量导热系数的一种新型的方法，由瑞典Chalmer理工大学的Silas Gustafsson教授在热线法的基础上发展起来的。它测定材料热物性的原理是基于无限大介质中阶跃加热的圆盘形热源产生的瞬态温度响应。利用热阻性材料做成一个平面的探头，同时作为热源和温度传感器。合金的热阻系数一温度和电阻的关系呈线性关系，即通过了解电阻的变化可以知道热量的损失，从而反映了样品的导热性能。该方法的探头即是采用导电合金经刻蚀处理后形成的连续双螺旋结构薄片，外层为双层的绝缘保护层，厚度很薄，它令探头具有一定的机械强度并保持与样品之间的电绝缘性。在测试过程中，探头被放置于样品中间进行测试。电流通过探头时，产生一定的温度上升，产生的热量同时向探头两侧的样品进行扩散，热扩散的速度依赖于材料的热传导特性。通过记录温度与探头的响应时间，由数学模型可以直接得到导热系数。三、测试对象金属、陶瓷、合金、矿石、聚合物、复合材料、纸、织物、泡沫塑料（表面平整的隔热材料、板材）、矿物棉、水泥墙体、玻璃增强复合板CRC、水泥聚苯板、夹心混凝土、玻璃钢面板复合板材、纸蜂窝板、胶体、液体、粉末、颗粒状和膏状固体等等，测试对象广泛。仪器特点1、仪器参考标准：ISO 22007-2 20082、测试范围广泛，测试性能稳定，在国内同类仪器中，处于中上水平；3、直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；4、不会和静态法一样受到接触热阻的影响；5、无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；6、对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；7、探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；8、样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；9、探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；10、主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加精确；11、仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；12、智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；13、强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。五、技术参数： 测试范围:0.0001—300 W/(m*K)测量样品温度范围:室温—130℃探头直径：一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头30mm精度:±3%重复性误差:≤3%测量时间:5~160秒电源:AC 220V整机功率：﹤500w样品温升﹤15℃测试样品功率P： 一号探头功率01w；二号探头功率014w三号探头功率014w 样品规格：一号探头所测单个样品（15*15*3.75mm） 二号探头所测单个样品 (30*30*7.5mm) 三号探头所测单个样品 (60*60*2mm）注：1号探头所测的是厚度较薄的低导材料，3号探头测试导热系数50以上的材料；如所测样品表面光滑平整且具有粘性可将样品进行叠加。六、与其他方法相比更快速、更简单、更全面瞬态平面热源法激光法热线法保护平板法测量方法非稳态法非稳态法非稳态法稳态法测量物性直接获得导热系数和热扩散率直接获得热扩散率和比热，通过输入的样品密度值计算得到导热系数直接获得导热系数直接获得导热系数适用范围固体、液体、粉末、膏体、胶体、颗粒固体固体、液体固体样品制备无特殊要求，制样简单制样繁杂制样简单，有特定要求样品尺寸较大测量准确度±3%,蕞好可达到±0.5%蕞好可达到±10%蕞好可达到±5%蕞好可达到±3%物理模型平面热源接触式测量，只要有限面接触良好热源非接触式线热源，必须线模型接触良好热源接触式，需面接触良好热导范围[w/(m*k)]0.005-30010-5000.005-100.005-5测量时间5-160S几分钟几十分钟数小时价格¥ ¥ ¥ ¥ ¥ ¥ ¥ ¥ ¥ ¥ 七、操作方法简单易懂

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

在线方块电阻测试仪 EddyCus TF inline在线方块电阻测试仪可以测量薄层的性能，如金属层厚度，薄层电阻，辐射系数，残余水分或在各种基材上的非接触克重。相关基材有玻璃、箔、纸、晶圆片、塑料或陶瓷。通过常驻测量或触发事件进行监测，以在快速移动的涂层过程中获得等距离的结果。检测解决方案可以在大气或真空条件下实施。基于电涡流技术的检测过程高采样率更高。可以使用客户的软件为过程控制系统提供测量结果。此外，SURAGUS还提供监控软件EddyCus EC Control，可视化、存储和分析计量数据。在线方块电阻测试仪产品优势：非接触式实时测量高测量速度高达1000次/秒。传感器固定安装或传感器横贯安装每个系统集成1 - 99个监控通道在大气或真空的过程控制在许多应用中，非常接近衬底边缘的测量是可能的在变化的环境中通过温度补偿测量的长期稳定性与测试材料之间的距离较大(例如60毫米/ 2.4英寸的间隙)覆盖导电层或封装衬底的表征众多软件集成分析在线方块电阻测试仪测量内容及范围：薄层电阻: 0.1 mOhm/sq up to 1 kOhm/sq金属厚度: 2 nm – 2 mm (根据材料电导率)电阻率: 0.1 mOhm cm – 1 ohm cm残余水分(用非接触式介电常数测量湿层)电各异性: 0.33 to 3 (higher on request)关联属性克重: 0.1 to 1,000 g/sqm辐射系数: 0.005 to 0.2EddyCus TF非接触式方块电阻在线监测系统可在生产过程中直接对方块电阻进行高速、非接触式测量。典型的工艺包括PVD, CVD，在晶圆，箔，纸，聚合物或其他基板上的电沉积或常规沉积工艺。特别是这些工艺包括溅射、蒸发、外延或电镀工艺。此外，这也涉及喷涂，槽模涂层或电子印刷过程。此外，片状电阻增强过程，如薄膜的退火和掺杂或印刷电子产品的烧结，受益于电气完整性的在线监测。氧化、蚀刻、抛光以及清洗和干燥过程的影响也是这种测试技术广泛应用范围的一部分。薄片电阻值通常转移到MES系统，以保证质量，特别是过程控制。 在线方块电阻测试仪规格指标：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

在线方块电阻测试仪 EddyCus TF inline在线方块电阻测试仪可以测量薄层的性能，如金属层厚度，薄层电阻，辐射系数，残余水分或在各种基材上的非接触克重。相关基材有玻璃、箔、纸、晶圆片、塑料或陶瓷。通过常驻测量或触发事件进行监测，以在快速移动的涂层过程中获得等距离的结果。检测解决方案可以在大气或真空条件下实施。基于电涡流技术的检测过程高采样率更高。可以使用客户的软件为过程控制系统提供测量结果。此外，SURAGUS还提供监控软件EddyCus EC Control，可视化、存储和分析计量数据。 在线方块电阻测试仪产品优势：非接触式实时测量高测量速度高达1000次/秒。传感器固定安装或传感器横贯安装每个系统集成1 - 99个监控通道在大气或真空的过程控制在许多应用中，非常接近衬底边缘的测量是可能的在变化的环境中通过温度补偿测量的长期稳定性与测试材料之间的距离较大(例如60毫米/ 2.4英寸的间隙)覆盖导电层或封装衬底的表征众多软件集成分析 在线方块电阻测试仪测量内容及范围：薄层电阻: 0.1 mOhm/sq up to 1 kOhm/sq金属厚度: 2 nm – 2 mm (根据材料电导率)电阻率: 0.1 mOhm cm – 1 ohm cm残余水分(用非接触式介电常数测量湿层)电各异性: 0.33 to 3 (higher on request)关联属性克重: 0.1 to 1,000 g/sqm辐射系数: 0.005 to 0.2EddyCus TF非接触式方块电阻在线监测系统可在生产过程中直接对方块电阻进行高速、非接触式测量。典型的工艺包括PVD, CVD，在晶圆，箔，纸，聚合物或其他基板上的电沉积或常规沉积工艺。特别是这些工艺包括溅射、蒸发、外延或电镀工艺。此外，这也涉及喷涂，槽模涂层或电子印刷过程。此外，片状电阻增强过程，如薄膜的退火和掺杂或印刷电子产品的烧结，受益于电气完整性的在线监测。氧化、蚀刻、抛光以及清洗和干燥过程的影响也是这种测试技术广泛应用范围的一部分。薄片电阻值通常转移到MES系统，以保证质量，特别是过程控制。 在线方块电阻测试仪规格指标： 更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的网站了解更多的产品信息，或直接咨询。

赛热达SAITHEDA-1800度高温马弗炉|箱式电阻炉实验室1800度马弗炉运用的注意要点：在运用马弗炉的时分要注意的问题是比较多的，通常情况下来说主要有以下六点，本文为您简要介绍一下每一个注意事项，希望对想要了解马弗炉运用的人有所协助。 ① 一定要使得炉膛里边洁净，快速的处理掉马弗炉里边的氧化物等物质。 ② 按照技术的需求，一定要经常检查马弗炉与控制器的各接线的连线是不是无缺，指示仪的指针在滚动的时分是不是有卡住的情况产生，一起运用电位差计校对仪表由于弹片等原件的疲劳、平衡破坏等呈现的差错增大的情况。 ③ 热电偶不该该在温度比较大的时分突然地拔出，防止呈现外套炸裂的情况。 ④ 马弗炉与控制器一定要在湿度小于85、不存在导电尘埃以及爆炸性气体或者是腐蚀性气体的地方运行。所有的沾有油脂的金属在加热的过程中，拥有很多挥发性的气领会腐蚀电热元件的外观，有或许导致元件不能够运用或者是运用时刻大量缩短。所以说在加热的时分应该进行密封。 ⑤ 马弗炉控制器是在0-40摄氏度的范围里边进行运用。 ⑥ 在运用马弗炉或者是长期不用的时分一定要采纳烘炉的操作。马弗炉烘炉的时刻是在200摄氏度的时分继续4个小时。规格参数：型号SAITHEDA-1800温度参数1800℃电压AC220V额定温度1800℃长期工作温度1700℃炉内温场均匀性±5℃（根据加热室大小而定）测温元件及测温范围B铂铑铂程序曲线段30段升温速度1℃/h-20℃/min，建议3-10℃/min发热原件1800型硅钼棒保温材料进口高纯氧化铝纤维板冷却方式双层炉壳，风冷炉体温度≤50度保修范围及期限电炉免费保修一年，发热元件不保修（三个月内自然损坏免费更换）炉膛尺寸100-100-100mm功率5KW

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

材料阻抗测试设备MIA简介 [系统简介] 材料的基础物性研究是产品产业化的根基，当一种材料需要产业化的时候，我们必须尽可能大范围地，高精度地掌握它的大部分特性，以免因为错误的数据而影响了后期产业化的方向，造成不必要的损失。 MIA系列是东阳特克尼卡株式会社与ZURICH联合开发，面向各种介电材料的交流阻抗评测系统。该系统搭配了独有的OSL补偿系统，实现了高达0.2%的测量误差精度。 [系统图片] [测试项目，关键词] 介电材料，交流阻抗，电容测量，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体 [系统特征] • 可对应最大1T?的样品- 适用于介电材料，配位化合物，离子导电材料，调色剂，有机半导体等• 高精度- 基础测量精度0.2%- 带有OSL校正• 专用软件- HIMS全自动控制测量软件- Z-View等阻抗分析软件• 各种专业配件- 适用于各种不同材料形态尺寸样品的夹具选配件- 适用于各种气体氛围，环境和温度的选配件 [系统规格] 样品接触方式2端接触频率范围1mHz ～5MHz基本测量精度0.20%阻抗测量范围100Ω ～ 1TΩ电容测量范围1pF ～ 1mF介电损耗（tanδ）测量范围0.0001 ～ 1000施加电压（AC + DC Vpp）-10V ～ +10V校正功能OSL控制软件附带HIMS软件，PC控制 [选配件] • 电压放大功能- 最高DC：±4kV、AC：800Vpp，带特殊保护装置。• 样品夹具/温度控制型号TTPXLN-Z2恒温箱＋SH2-ZHT-22-1000UHT-22-1200名称低温探针台广域温度控制台耐热样品台桌面型烘箱超高温烘箱温度控制范围4.2K ～ 425K80K ~ 473K-60℃ ～ +150℃100℃ ～ 1,000℃100℃ ～ 1,200℃※根据型号冷媒不同样品接触方式探针上下夹扣上下电极上下夹扣上下夹扣氛围气体控制真空，气体置换真空，气体置换规格不同不同对应流气量控制流气量控制 [测试图例]

大容量测试：接地电阻64A/600mΩ、32A/600mΩ，开路电压低于12V。 　　自动化测试：分析仪具有自动化和信息化接口功能，支持与条形码扫描器、服务器、自动化测试装置等外设联合使用，实现安规检测的自动化测试。 　　智能化管理：分析仪具有条形码识别、测试程序匹配、测试条件控制的智能程控功能，具有测试数据存储(本地U盘)、服务器数据交换(网络接口或RS232接口)、数据分析(ESRS软件)等信息化管理功能，可满足现代化生产线MES管理的要求。 　　开放式扩展：分析仪具有丰富的扩展功能，包括IN-PAD平板电脑、ESRS测控软件、条码扫描器等部件选配。关于艾诺青岛艾诺智能仪器有限公司成立于1993年，主要从事电气安全性能测试仪器、交流直流电源、航空专用电源设备、精密测量仪器和自动化测控系统等仪器设备的研发与生产。艾诺仪器公司在中国青岛和济南两地分别建立有两个事业部。二十多年来艾诺仪器公司始终真诚服务于家用电器、电机马达、信息设备、开关电源、电力电子、医疗器械、灯具照明、新兴能源、汽车及高铁等工业企业的生产线和实验室，艾诺品牌赢得了国家省市质检机构、专业认证企业等顾客的长久信赖，艾诺产品还广泛应用于飞机制造和维修、机场机库等领域。青岛艾诺智能仪器有限公司建立了遍布全国的营销服务网络，在深圳、顺德、宁波、苏州、北京、成都、西安等地设立了办事处和服务站。同时，通过遍布世界各地的经销商与服务机构，艾诺产品已经远销世界各大洲几十个国家。 我公司主要经营：安规测试仪器；变频电源；电参数测量仪；电机测试仪器；直流电子负载我们的地址：青岛市崂山区株洲路134号电话：联系手机： 期待您的咨询

ST2241接地电阻、土壤电阻率测试仪 一、结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2241接地电阻.土壤电阻率测试仪是现场测量接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压的接地系统勘察、验收综合测试仪器。符合国标GB/T 17949.1-2000《接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则1部分：常规测量》。 2.2 仪器成套组成：ST2241接地电阻.土壤电阻率测试仪，由主机、电脑监控软件、土壤分层分析软件、测试线、辅助接地棒、通讯线等组成。 2.3优势特征：1) 测试仪设计，符合国标和行业规范，符合国标GB/T 17949.1-2000《接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则1部分：常规测量》2) 带智能化电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。3）USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式！4）可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。避免传统机械开关式性能不稳、寿命有限等缺陷。7）可拓展功能：测试仪除了当土壤电阻率测试仪用，电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为交流四探针测试仪。 2.4适用范围：其广泛应用于电力、电信、气象、油田、建筑、防雷及工业电气设备等的接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压测量。三、技术参数3.1．基准条件和工作条件影响量基准条件工作条件备注辅助接地电阻值＜100Ω＜100kΩrC、rP测R时电极间距a＞5da＞5d----测ρ时电极间距a＞20ha＞20h----环境温度23℃±1℃-10℃～40℃----环境湿渡40%～60%＜80%----3.2．一般规格参数功 能二三四线测量接地电阻、土壤电阻率；接地电压、交流电压测量 电 源DC 8.4V (2节充电锂电池)量 程接地电阻：0.00Ω～100.0kΩ土壤电阻率：0.00Ωm～1kΩm（再乘以系数2πa）测量方式精密4线、3线法测量、简易2线测量接地电阻短路测试电流AC ±20mA max开路测试电压AC ±20V max测试电压波形方波（1KHz）电极间距范围可设定1m～10m标准测试线4条： 20m长2条，10m长2条简易测试线2条：黄色1.0m，绿色1.0m各1条辅助接地棒4根：φ10mm×150mm线路电压AC 600V以下测量USB接口具有USB接口，软件实时监控，存储数据可以上传电脑，保存打印 ，土壤分层分析等功能通 讯 线USB线1条，长1.5m辅助接地测试具有辅助接地电阻值测试功能，但要满足 R+rC R+rPR是测量的接地电阻工作温湿度-10℃～40℃； 存放温湿度-20℃～60℃； 3.3．基准条件下基本误差及性能指标测量功能测量范围精度分辨力接地电阻(R)0.200Ω～2.000Ω±5%rdg±5dgt0.001Ω02.00Ω～20.00Ω±2%rdg±3dgt0.01Ω020.0Ω～200.0Ω±2%rdg±3dgt0.1Ω0200Ω～2000Ω±2%rdg±3dgt1Ω02.00kΩ～20.00kΩ±5%rdg±5dgt10Ω土壤电阻率(ρ)根据R的测量范围而定(ρ=2πa(R÷100) a:1 m～100m；π=3.14)(ρmin= 1.256Ωm ,ρmax= 125.6KΩm )接地电压AC 0.0～600V±2%rdg±3dgt0.1V注：1. rC或rP较大时的附加误差≤±3%rdg±5dgt。(rC max＜50kΩ；rP max＜50kΩ)3.4.外形尺寸：仪器主机：长×宽×总高=250mm×130mm×50mm旅行箱：长×宽×总高=400mm×300 mm×150mm重 量=10Kg3.5.充电器电源：功耗：输入:220V±10% 50Hz查看《ST2241接地电阻、电阻率测试仪技术使用说明书》