射线残余应力分析仪

JH-30残余应力检测仪应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力定量测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合于各种环境下工厂和工程现场测量。JH-30残余应力检测仪特点1.数码管显示应变和残余应力高亮8位数码显示，可通过面板按键切换显示，实时查看应变和残余应力值及方向。2.操作简单只需输入被测工件的材料相应的释放系数A，B值，即可自动计算残余应力。自带温度补偿装置，自动清零，无需复杂的软件设置。3.在线打印在线油墨打印测量应变值和残余应力数据，可作为检验依据长期保存。JH-30残余应力检测仪技术指标1、工作环境：a)温度：-20-40℃b)相对湿度：42%-92%；2、应变测量范围：±12800με3、应力测量范围：±2688MPa4、分辨率：1με/字，测量精度高达0.1MPa；5、适用应变片阻值：120Ω±0.56、供桥电压：DC2V,纹波小于0.1mV；7、灵敏系数：±9.999线性可调；8、基本误差限：≤±0.2%9、零漂：≤±2με/小时10、读数值变化：±0.13με/小时11、温漂：≤±0.02%F.S/℃12、可以根据被测工件的材料随意设置相应的释放参数；13、仪器采用八位高亮数码管显示，可任意切换显示应变和应力；14、配有智能打印机。可实时打印三个方向的应变值及计算后的残余应力值δ1、δ2及主应力方向角度θ；15、设有RS232接口，可方便以后软件升级；16、可配置JHZK残余应力精密打孔装置提高测量精度；17、钻孔直径：φ1.0～φ3.0mm18、电源：交流50HZ220V±10%

JH-30残余应力检测仪应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力定量测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合于各种环境下工厂和工程现场测量。JH-30残余应力检测仪特点1.数码管显示应变和残余应力高亮8位数码显示，可通过面板按键切换显示，实时查看应变和残余应力值及方向。2.操作简单只需输入被测工件的材料相应的释放系数A，B值，即可自动计算残余应力。自带温度补偿装置，自动清零，无需复杂的软件设置。3.在线打印在线油墨打印测量应变值和残余应力数据，可作为检验依据长期保存。JH-30残余应力检测仪技术指标1、工作环境：a)温度：-20-40℃b)相对湿度：42%-92%；2、应变测量范围：±12800με3、应力测量范围：±2688MPa4、分辨率：1με/字，测量精度高达0.1MPa；5、适用应变片阻值：120Ω±0.56、供桥电压：DC2V,纹波小于0.1mV；7、灵敏系数：±9.999线性可调；8、基本误差限：≤±0.2%9、零漂：≤±2με/小时10、读数值变化：±0.13με/小时11、温漂：≤±0.02%F.S/℃12、可以根据被测工件的材料随意设置相应的释放参数；13、仪器采用八位高亮数码管显示，可任意切换显示应变和应力；14、配有智能打印机。可实时打印三个方向的应变值及计算后的残余应力值δ1、δ2及主应力方向角度θ；15、设有RS232接口，可方便以后软件升级；16、可配置JHZK残余应力精密打孔装置提高测量精度；17、钻孔直径：φ1.0～φ3.0mm18、电源：交流50HZ220V±10%

金属材料在机械加工和热加工的过程中都会产生不同的残余应力。残余应力的存在对材料的力学性能有着重大的影响，因此，残余应力的检测对于热处理工艺、表面强化处理工艺、消除应力工艺的效果及不良品的控制分析等都有很重要的意义。南京聚航科技有限公司技术先进，服务周到，可针对各类试件、工件提供专业的残余应力检测技术服务。服务方式可根据客户情况，选择将试件邮寄或者我方人员上门两种方式。聚航科技为您提供专业的盲孔法残余应力检测、环芯法残余应力检测、切条法残余应力检测、磁测法残余应力检测等测试服务。根据客户所述说的残余应力检测需求专门为客户提供详尽的检测方案。并根据国内外相关标准，提供测试报告，为客户进行应力分析。我公司所用的测试仪器经省级计量机构检定精度达到0.1级。南京聚航科技有限公司残余应力检测事业部推出的残余应力检测服务是针对机械制造行业中产品毛坯-粗加工-热处理-半精加工-精加工-成品等全过程或某重要工艺的残余应力参数检测服务，金属非金属都可，可以帮助客户建立起一套属于自己产品的残余应力数据库，完善企业产品合格检测标准，让客户充分了解到工艺全流程或重点工艺加工处理后的产品残余应力水平，缩短产品研发时间、优化产品结构和工艺、改善产品安全性能、保证质量、降低成本、完善产品质量管控手段、提高客户产品的成品率、增强产品竞争力。南京聚航科技有限公司遵循保密原则，充分保障客户的商业、技术秘密。南京聚航科技有限公司残余应力检测技术服务行业有：航空：航空飞行器的框架、发动机机匣、涡轮盘、薄壁件等；航天：航天飞行器薄壁件、舱体、支架等； 兵器：装甲钢、铝合金车体、齿轮箱、弹壳、雷达等；轨道交通：车体、转向架、底架横梁等； 其他行业：汽车、机械、船舶、电子等。

JHMK多点残余应力测试仪器JHMK多点残余应力测试仪器是由JHYC静态应变仪和JHZK精密钻孔装置共同构成的盲孔法残余应力测量系统，在软件进行设置后，自动实时计算残余应力，并实时显示和保存应力应变数值，使测量直观明了，精度高。JHMK多点残余应力测试仪器应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力多点测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合科研和要求较高的现场测量。JHYC静态应变仪功能特点1.测量能力：各种材料的应力应变、盲孔、环芯、切割法残余应力测试。2.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。3.可满足教学、工程技术和科研的需求，仪器检定指标达到0.1级。4.仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。5.适合各种应变花，设置简单方便，并自动保存设置参数。6.硬件全量程自动平衡，不损失测量范围，程控调零。7.自动实时计算、记录残余应力释放曲线，并生成残余应力报告；8.测量过程中可在被测材料上钻孔、电焊、等离子切割等。现场抗干扰能力强。如果想要咨询更多信息，可搜南京聚航网查看详情，电联聚航。

JHMK多点残余应力检测仪JHMK多点残余应力检测仪是由JHYC静态应变仪和JHZK精密钻孔装置共同构成的盲孔法残余应力测量系统，在软件进行设置后，自动实时计算残余应力，并实时显示和保存应力应变数值，使测量直观明了，精度高。JHMK多点残余应力检测仪应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力多点测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合科研和要求较高的现场测量。JHYC静态应变仪功能特点1.测量能力：各种材料的应力应变、盲孔、环芯、切割法残余应力测试。2.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。3.可满足教学、工程技术和科研的需求，仪器检定指标达到0.1级。4.仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。5.适合各种应变花，设置简单方便，并自动保存设置参数。6.硬件全量程自动平衡，不损失测量范围，程控调零。7.自动实时计算、记录残余应力释放曲线，并生成残余应力报告；8.测量过程中可在被测材料上钻孔、电焊、等离子切割等。现场抗干扰能力强。如果想要咨询更多信息，可搜南京聚航网查看详情，电联聚航，025---8431---2185

SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪日本堀场SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪备件样品杯样品膜油中硫分析仪SLFA imageHORIBA的SLFA系列油中硫分析仪多年来一直是石油工业中的多数选择。我们不断的改进仪器性能，拓展仪器的适用性，来满足用户的要求。我们的X射线荧光硫分析仪符合美国ASTM D4294和ISO 8754 ，同时提供最符合成本效益的石油中的硫测量。SLFA - UV21系列操作简便，具有无与伦比的精度和准确性，符合ASTM标准D5453紫外荧光技术和ISO 20846 ，具有极佳的灵敏度，提供了更低水平级别的硫元素的测定。荧光X射线油中硫分析仪SLFA-60SLFA-60 X-ray Fluorescence Sulfur-in-Oil AnalyzerHORIBA introduces the new standard of transportable sulfur-in-oil analyzers, the SLFA-60. This instrument introduces new software and hardware features to meet the growing changes in the petroleum industry. The instrument has expanded storage of calibration curves and data can be exported using USB output.SLFA-2100/2800SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪是专为满足近期低硫燃料，柴油和RFG中硫元素新的检测要求。

chemplex样品杯耗材删除美国ChemplexX射线光谱仪配件耗材删除XRF样品膜Chemplex 106耗材删除美国Chemplex XRF薄膜样本支撑窗CAT. No.3014（美国XOS适用）耗材删除美国Chemplex XRF样品杯（适用布鲁克s8）耗材删除详细说明【产品描述】　　1、产品名称：X射线荧光分析专用薄膜(麦拉膜)　　2、品牌：牛津　　3、产品规格：100mx75mm/卷　　4、适用于台式荧光分析仪，试用型号：LabX3000、LabX3500、X-Supreme8000、MDX1000　　5、其他说明：适用于测量液体里元素含量应用【产品描述】　　1、产品名称：手持式荧光分析仪专用XMET样品膜，麦拉膜　　2、品牌：牛津仪器　　3、产品规格：100mx75mm/卷　　4、适用于手持式荧光分析仪，试用型号：XMET5000、XMET5100、XMET7000、XMET7500、XMET7000e　　5、其他说明：Rohs有毒有害物质测试、土壤分析

多功能射线检测仪 900型多功能射线检测仪是市面上有售的性能价格比最好的数字盖革计数器。它是在2002年最新设计的成果，符合人体工程学的设计。在功能十分强大，可以提供可靠和精确的测量数据。900型多功能数字辐射仪体积小，重量轻，十分坚固，可检测&alpha 、&beta 、&gamma 和&Chi 射线，采用美国标准局制造的辐射传感器，此传感器是目前市场上性能最好的辐射传感器。 使用场合 多功能射线检测仪可广泛用在制药厂，实验室，发电厂，采石场，紧急状况营救站，金属处理厂，地下油田和供油管道装备，环境保护等部门，用于： 1.检查局部的辐射泄露和核辐射污染 2.检查周围环境的氡辐射 3.检查石材等建筑材料的放射性 4.检查有核辐射危险的填埋地和垃圾场 5.检测从医用到工业用的X射线仪器的X射线辐射强度 6.检查地下水镭污染 7.检查地下钻管和设备的放射性 8.监视核反应堆周围空气和水质的污染 9.检查个人的贵重财产和珠宝的有害辐射 10.检查瓷器餐具玻璃杯等的放射性 11.精确定位辐射源 12.家居装饰的检测 功能介绍 仪表符合人机工程学原理的外形，手感舒适 操作面板为10个薄膜开关，功能丰富，防尘防雨（不可浸入水里使用） 操作方便，只要按一个键，马上开始检测并显示大量的数据 通过辐射类型选择开关，可以分别测量&alpha 、&beta 、&gamma 射线的辐射值 可以显示当前的辐射值和所设定时间的平均辐射值 大屏幕显示，可以在同一屏幕上获得足够的信息 屏幕带时间和日期显示，待机时仍然显示时间和日期 屏幕带电池电压的显示，避免在使用过程中电量突然不足 使用锂电池，保证电池10年的使用寿命 可以设定采样时间和采样间隔，自动存储采样数据到仪表自带的大容量存储器 提供电脑接口，采样数据可以传输到电脑用专用软件进行分析 提供一个数据分析软件，功能丰富，可以显示，存储并分析辐射计获得的数据 每一个仪表都经过美国辐射保护委员会的检测，并带有唯一的检测号码 只需要每5年进行一次校准 小型化抗冲击设计，携带方便 技术参数 测量射线种类 &alpha 、&beta 、&gamma 和&Chi 射线 能量响应：&gamma &ge 20Kev；&beta &ge 0.2MeV；&alpha &ge ４MeV 测量范围 0.05 µ Sv/h - 10000 µ Sv/h 灵敏度 在1uSv/h的钴60下，108个脉冲. 或1000 cpm/mR/hr 射线选择开关 &gamma ，&beta +&gamma ，&alpha +&beta +&gamma 盖格管尺寸 长度38mm,直径9mm 模拟输出端口 RS232串行端口 显示 大屏幕LCD显示，可显示数字和棒图 报警功能 带声音报警功能 精度 1% 内部存储容量 2K 工作温度 -40℃ 到 75℃ 尺寸 163 mm× 72 mm× 30 mm 使用寿命 10年（常温下使用） 锂电池工作寿命 10年

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#（SKY-160） 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-160# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴

X射线透射显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅（0-250MP）薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线（上海光源透射成像/能谱线站）、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度： 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品（30-500nm），但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 透光度： 对于X射线用窗口，500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果，对于软X射线（例如碳边吸收谱），100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性： 真空适用性数据如下： 　 薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度： 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定（粗糙度小于1nm），对于X射线应用没有任何影响。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 同步辐射X射线（紫外或极紫外）透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜（薄膜直接沉积在窗口上）。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献：PRL

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯SC-3345 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-3345 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT. NO 高 内径 外径 容积 数量SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100个/包

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#（SKY-160） 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-160# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴

美国Chemplex样品杯XRF样品杯，又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯，是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型：XRF样品杯Sample Cups品牌：美国Chemplex型 号：所有型号（欢迎来电索取产品目录）产 地：美国一、产品介绍： Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯！ Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念，在内部生产，Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！主要有：高纯度聚脂样品杯，铝制样品杯，样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜，还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性： 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用，有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z、Xlt794、Xlt898；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。）三、Chemplex产品系列： 注册商标有：Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列：1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列：TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯，TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列：双开口端XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号：1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号：2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形）样本杯技术。产品编号：3106、3110、3115、3120。

离型膜残余力压条 剥离力压块，不锈钢压块，可根据客户要求定制重量尺寸产品用途:用于残余力测试，剥离力测试时标准克重下压放测试样品。产品规格：35*35*210mm产品规格:长200*宽50mm*25mm20g/cm2型或者其他规格产品重量:2kg±5g或其他规格产品尺寸:可按客户要求定制产品材质:SUS#304不锈钢或镀铬备注:可定做不同规格的压块

X射线荧光分析 Internal Standards for XRF Analysis美国Vhg Labs佰汇兴业（北京）科技有限公司地址：北京市海淀区西八里庄路69号 西楼201室美国VHG Labs标准物质&mdash 佰汇兴业（北京）独家供应 佰汇兴业（北京）科技有限公司是美国VHG Labs中国区独家服务机构，是专业从事检验检测设备和消耗材料的高新技术企业。公司主要提供国际先进的科学试验检测设备和国际知名品牌的标准样品、化学制剂及消耗品。产品服务于各类科研院所，各大学实验室，中石油、中石化以及相关行业的研发中心、实验室等。VHG Labs 是世界最大的生产金属油基和水基标准样品的公司，为分析化学领域提供高质量的产品和服务。VHG Labs 的金属有机标样通过 ICP、AA、RDE、DC、XRF 等仪器来分析测定油和有机溶剂中的金属。另外，还提供符合 ASTM 标准的含硫、氯和金属标样用于石油类产品的检测。VHG Labs符合ASTM、NIST 等国际标准,通过ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005认证,所有产品配有全面分析证明书（Certificate Of Analysis，COA）美国VHG Labs主要产品如下：石油类标准样品 Pertoleum Standards标准废油分析 Standards for Used Oil Analysis废油分析 PTP Program for Used Oil Analysis单元素磨损金属有机标准 Single-Element, Wear Metal Metallo-Organic Standards多元素金属磨损标准 Multi-Element Wear Metal Standards内部标准 Internal Standards金属添加剂标准 Metal Additive Standards基体空白和溶剂 Matrix Blanks and Solvents稳定磨损金属标准 Stabilizer for Wear Metal Standards多元素冷却剂标准 Multi-Element Coolant Standard燃料稀释标准 Fuel Dilution Standards裂纹检测的参考标准 Crackle Test References卡尔费休滴定认证参考标准 Karl Fischer Titration Certified Reference Standards烟尘含量标准 Soot Content Standards氮、硫、氯金属标准 Standards for S, N, Cl and Metals单元素无硫金属有机标准 Single Element Sulfur-Free Metallo-Organic Standards金属有机标准 Metallo-Organic ConcentratesX射线荧光分析 Internal Standards for XRF Analysis喷雾抑爆剂AA分析 Ionization Suppressant for AA Analysis氮标准 Nitrogen Standards硫和金属油标 Sulfur and Metals in Oil Standards聚硫石油标准 Polysulfide Oil StandardsSulfur in Mineral Oil StandardsSulfur in Diesel Fuel StandardsSulfur in Isooctane StandardsSulfur in Kerosene StandardsSulfur in Crude Oil StandardsSulfur in Residual Oil Standards基体油和溶剂 Matrix Oils and Solvents硫和氯的标准 Sulfur and Nitrogen Standards紫外荧光硫标准 Sulfur Standards for UV Fluorescence标准比色法硫标准 Sulfur Standards for Ratiometric Colorimetry硫醇和硫化氢标准 Mercaptan and Hydrogen Sulfide Standards含硫化合物的选择性检测 Sulfur Compounds by Selective Detection氯油标准 Chlorine in Oil Standards标准汽油中的含铅量分析 Standards for Lead in Gasoline Analysis油品物理测试标准 Petroleum Physical Test Standards闪点参考资料 Flash Point Reference Materials粘度参考资料 Viscosity Reference Standards倾点参考资料 Pour Point Reference Materials浊点参考资料 Cloud Point Reference Materials冰点参考资料 Freezing Point Reference Materials蒸馏标准 Distillation StandardsTAN和TBN参考资料 TAN and TBN Reference Materials水/酸基标准样品 Aqueous Standards单元素标准 Single Element StandardsA+单元素标准 A+ Single Element StandardsNIST的高性能ICP-AES标定 NIST High Performance ICP-AES ProtocolSpeciation Standards同位素标准 Isotopic Standards原子吸收标准 Atomic Absorption Standards基体改进制、电离缓冲器和释放剂 Matrix Modifiers, Ionization Buffers and Releasing Agents离子色谱法和湿化学标准 Ion Chromatography and Wet Chemistry Standards阴离子标准 Anion Standards阳离子标准 Cation Standards洗脱液Eluents多离子标准 Multi-Ion Standards湿化学标准水质分析 Wet Chemistry Standards for Water Analysis水质量检验样品 QC Check Samples for Water Supply (WS)水污染质量检验样品 QC Check Samples for Water Pollution (WP)多元素标准的 ICP-AES 和 ICP-MS 分析 Multi-Element Standards for ICP-AES and ICP-MS 多元素标准 Multi-Element StandardsICP-MS调节、优化和内部标准 ICP-MS Tuning, Optimization and Internal Standards普通环境标准 General Use Environmental Standards微量金属元素检验样品 QC Check Samples for Trace Metals国际环境标准 International Environmental Standards饮用水，TCLP和污水标准 Drinking Water, TCLP and Water Pollution StandardsSecond Source Standards Pair-MatchedSpiking SolutionsEPA Method Standards Cross Reference ChartEPA Methods 200.7 & 6010 for ICP-AESEPA Methods 6010 & CLP for ICP-AESEPA Method 200.8 for ICP-MSEPA Method 6020 and CLP for ICP-MS固体标准样品 Solid StandarsX射线荧光光谱法标准，符合RoHS/WEEE XRF Standards for RoHS/WEEESolid Standards (S & N)Binder和成型材料，研磨添加剂 Binder and Briquetting Materials, Grinding AdditivesSoils for QC & Reference分析仪器配件及耗材 Instruments Consumables自动杯和管 Autosampler Cups and TubesICP 和 ICP-MS 耗材 ICP and ICP-MS Consumables蠕动泵管 Tubing for Peristaltic PumpsFlaring Tool for Peri-Pump TubingMixing Tees for Sample IntroductionNebulizers and Sample DeliveryTorches, Spray Chambers & AccessoriesICP-MS法锥 ICP-MS ConesICP-MS法锥维修工具包 ICP-MS Maintenance KitAA 和 GFAA 消耗品 Consumables for AA and GFAAGFAA管及耗材 GFAA Tubes & Parts氢化物和汞冷蒸汽用品 Hydride and Hg Cold Vapor Supplies空心阴极灯 Hollow Cathode LampsX 射线荧光光谱消耗品 Consumables for XRFXRF样品杯 XRF Sample CupsXRF样品杯薄膜 Thin Film for XRF Sample CupsXRF配件 Accessories & Tools for XRF气相分析消耗品 Consumables for Gas Analysis石墨坩埚 Graphite Crucibles

富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140符合GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所规定的要求技术参数1、分析范围：50PPM-5%。2、分析范围宽度： S % max—S % min≤5%； 例如石油：S：0.001~5%。3、固有误差、分析精度:石油,符合国家标准GB/T 17040 , 同时符合美国国家标准ASTM D4294的相关要求。4、系统分析时间： 1～999秒，推荐值为60秒。5、检测限：10ppm6、使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%，7、供电电源：220V±20V，50Hz，整机功耗：

XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-7332 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 规格：双开端口特点：进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签CatalogNoOD(mm)ID(mm)H(mm)V(ml)SC-7332323038.518

X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商：美国ARMI公司主要分析方法：X射线荧光法用途：校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质，是封装在PE或PVC材料中，用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%

纯铍加工品/铍封装一、成分 Be98%、及以上二、He泄露率 5×10-9以下[Pa・m3/s]三、标准尺寸 圆形φ10mm～φ90mm公差±0.2mm正方形宽度：0～120mm，长度～120mm公差±0.2mm，（75mm以上尺寸±0.5mm）各种形状及尺寸定制板厚板厚公差t0.03～0.10mm±0.01mmt0.10～0.30mm±0.05mmt0.30～2.0mm±0.1mm四、铍（Be) 材料在X射线中的优势 ※ 优异的X线穿透性，硬X射线：波长较短为0.05-0.1Å ，软X-射线：波长较长为0.1-10Å 。波长在0.001-2.5Å范围的为X射线，波长较短，难以穿透高密度物质，低密度的铍（Be）可以实现极强的穿透能力。吸收系数约低，意味着穿透能力越强。故：在波长为0.1-数Å的X-射线中 Be元素的穿透力大大强于Al元素※ X线照射所产生的二次放射线较少。※ 软X射线产生高密度离子，高效快速消除静电。五、铍元素的特征※ 重量轻，刚性大是铝密度的2/3，弹性系数是其3~4倍。※ 耐热性优异，在轻量金属中，融点最高。※ 声音传播速度快，音色通透明亮，“纯铍振膜”多被顶级音响及耳机采用。※ X射线的穿透率高，系数说明。铍元素 Be铝元素 Al鉄 Fe原子号41326原子量9.01326.9855.85结晶构造六方最密充填面心立方α,δ:体心立方γ:面心立方密度 [g/cm3]1.842.697.86弾性係数 [kN/mm2]27575205融点 [℃]1,2856601,530比热 [J/(kg・K)]1,779921461热传导率 [W/(m・K)]18022275线性膨胀系数 [/K]11.6×10-623.6×10-611.7×10-6声音的传播速度 [m/s]12,6006,4205,950抗拉强度[N/mm2]275-635100-490600-650屈服强度 [N/mm2]205-410100-410205-235延伸率 [%]1-203050-60六、应用领域※ 医疗行业※ 光电离 ※ X线分析设备 ※ X线安检设备 ※ 电子显微镜※ 同步辐射实验室※ 伽马射线探测

唐海红 13120400643451B多功能射线检测仪451B多功能射线检测仪 主要技术指标： ◆ 可探测的射线：4MeV的&alpha 射线， 100keV的&beta 射线， 7keV的&gamma 和X射线 ◆ 量程：0～500mSv/h ◆ 不确定度：± 10% ◆ 探头：349ml的电离室，可同时测量剂量率和剂量 ◆ 自动特性：自动调零、自动量程、暗时自动打开背景灯 ◆ 响应时间：0～500mSv/h量程范围内最短响应时间为2秒 ◆ 通讯接口：RS-232接口 ◆ 电源：两节9V电池，可操作200小时 ◆ 预热时间：1分钟 ◆ 环境条件：温度：-40～+70℃ ◆ 相对湿度：0～100% ◆ 体积：10× 20× 10cm ◆ 重量：1.11kg ◆ 0-50µ Sv/h、0-500µ Sv/h、0-5mSv/h、0-50mSv/h、0-500mSv/h五量程自动转换 应用领域 451B型电离室巡测仪是一种手持式电池供电的仪器，是为在恶劣环境和正常环境可使用而设计的。451B型是用来测量&alpha 、&beta 、&gamma 和X射线。451B型测量仪采用了微型处理器和液晶显示技术，并有一个用钢丝网保护树酯窗口的电离室，和一个完整的&beta 射线-屏蔽，这个屏蔽也可以为光量子测量提供一个平衡厚度。握持舒适的手柄，有一个大直径的软垫握套，是为减少长时间使用时造成的疲劳设计的。测量仪外壳由重量轻、强度高的材料所构成，且密封防潮。

针对计算机硬件的更新换代，一些旧版本操作系统，已不能满足 客户需要。针对这种情况，我公司可根据现有的X射线能谱仪，进 行系统升级或更新。必要时也可更新探头构成新能谱系统。 改造工作采用新的设计思想，在使用原有探测器并保持原有能 谱分辨率的基础上研制了除探测器和前置放大器以外的所有部 件。同原仪器相比，改造后的系统充利用了当今已高度发展了 的计算机技术和电子技术。系统整体性能有所提高，运算速度 快，操作方式简单。而且因采用通用机系列，使你再无难维修 的烦恼。主要软件功能 1、谱数据的实时采集与显示。实时计数率显示。 2、自动背底扣除，任意多点手动扣背底及背底拟合等多种背底扣 除方法。 3、全自动定性分析。 4、全标样、部分标样和无标样定量分析。 5、厚样品和薄样品分析。 6、由元素周期表接口设置感兴趣区域、氧化物表达式，操作 方便。 7、方便的增益、零点校正。 8、返送到电镜观察屏上的面分布和线扫描功能。 9、同时一次收集多个元素面分布或线扫描图到计算机内并精确叠 加到二次电子图象上(须配电镜联机图象处理系统)。 10、可与电镜联机图象处理系统共用一台计算机构成能谱图象 系统。

AT6130射线检测仪简单介绍 AT6130射线检测仪 X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 一、AT6130射线检测仪的技术参数 ： X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 内部测量误差:± 20% 二、主要特点 1 尺寸小，重量轻 2 对话式操作模式 3 剂量，剂量率或流量密度阈值超标视听报警 4 剂量率变化迅速响应（开始新测量） 5 固定场中可选&beta 和&gamma 辐射测量 6 场条件下操作温度范围广（IP65） 7 电离辐射源&gamma 谱图可听信号跟踪 8 最大可存带有测量日期及时间的测量结果1000个 9 LCD可显示测量结果、当前日期及时间充电状态 10 可由IrDA软件将数据传输到电脑 三、仪器介绍 外观小巧的手持式辐射测量仪。 可测X射线同位素及&gamma 射线辐射剂量，&beta 射线颗粒流量密度。 四、应用： 辐射放射研究，应急监测，民防，消防，海关，潜在非法辐射源监测，工业、医药及其它企业剂量测量，钞票污染监测 五、标准配置： 测量主机AT6130（AT6130A，AT6130B），仪器专用包，操作手册，电池。 可选配件：读数器，应用软件，全套蓄电池充电器.

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO：1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

X射线样品台配件是X射线衍射仪高温附件适合多种应用，温度范围高达-196度（液氮）到1500摄氏度，是X射线高温样品台。X射线样品台配件特点结构紧凑，温度可变，温度可选范围高达零下196摄氏度到1500摄氏度，适合所有类型的显微镜，材料科学，光谱测量和电子研究。尺寸仅为13x13x2cm，可用于真空环境或空气以及其他气体环境。温度控制精度高达0.1摄氏度，可编程控制所有类型的时间和温 度。我们还能给X射线衍射仪高温附件提供窗口（包括光学窗口和X射线窗口），用于真空环境，从而使得样品台用于任何显微镜，傅立叶变换红外光谱仪FTIR,烂漫和X射线衍射仪装置。X射线样品台配件应用X射线衍射，拉曼光谱，材料科学，张力测量，热分析，SEM,TEM， FTIR，SAXS。X射线高温样品台配件温度范围范围1： 室温-60摄氏度范围2： -5到99摄氏度范围3：-25到120摄氏度范围4：-40到120摄氏度范围5：-196到420摄氏度范围6：-196到600摄氏度类型7：室温到1000摄氏度类型8：室温到1200摄氏度类型9：室温到1200摄氏度类型10：室温到1400摄氏度类型11：室温到1500摄氏度X射线样品台配件参数尺寸：13x13x2cm电源：115-220V, AC重量： 约800g温度分辨率：0.1摄氏度材料：铝质Felles公司专卖X射线样品台,X射线衍射仪高温附件,X射线高温样品台。

451B多功能射线检测仪仪器简介：451B /451P应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。451B/451P适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。技术参数：检测器（电离室）230 cc 容积加压的空气电离室（451P）349 cc 容积加压的空气电离室（451B）技术指标测量范围: （451P）　　　0～500&mu R/h或0～5&mu Sv/h　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h　　　0～50mR/h或0～500&mu Sv/h　　　0～500mR/h或0～5mSv/h　　　测量范围: （451B）　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h　　　0～5R/h或0～50mSv/h　　　0～50R/h或0～500mSv/　　　精度 : 小于 10%（在任何范围读数）　　　校准源：137 Cs　　　开关 : 开/关和模式　　　451B 型电离室多功能射线仪具有　　　451P的全部特性，还可直接与计算机通讯，增强仪器功能。主要特点：451B多功能射线检测仪451B多功能射线检测仪高灵敏度&mu R测量剂量和剂量率得到的剂量等于能量响应（SI）单位快速响应测量泄露，扩散，针孔环境改造，抗疲劳把手和手腕带Windows下Excel进行数据处理和选择操作参数低噪音室，斜线提供快速的背景读数选择明亮的，明显的颜色自动特性: 自动调零点，自动距离休正，自动背景照明能量：451B 型电离室多功能射线仪&alpha 大于4 MeV　&beta 大于100 KeV　&gamma 大于7 KeV

InXight X射线成像模块InXight是Xeuss 3.0的X射线成像可选模块，它可以在X射线散射测量和X射线成像之间进行快速自动切换。这大大提高了Xeuss 3.0仪器的测试能力，测量尺寸范围从埃米级到毫米级。全面认识您的样品对聚合物，泡沫，复合材料，生物材料等新应用的开发，不仅需要了解他们的材料结构，还需要评估生产过程和使用条件的影响。通过测量加工材料或异质材料的宏观结构，结合Xeuss 3.0散射测量，其中InXight模块有助于理解宏观结构的非均质性和纳米或原子结构之间的关系。大面积X射线探测视野以及低至几十微米的分辨率，是进行局部区域测量的理想选择。通过快速切换测量配置，InXight可以在进行原位动态研究时同时采集X射线图像和X射线散射图谱。分析的典型材料包括聚合物、复合材料、玻璃或薄的无机样品。X射线源在散射和成像之间的自动快速切换InXight正在申请专利的测量配置包括一个X射线成像源，该X射线成像源产生一个锥形光束，大范围照射位于Xeuss 3.0样品台上的样品，并将X射线透射图像投射到Q-Xoom探测器上。 X射线源快速自动切换，可确保在同一样品上连续自动进行X射线散射和X射线成像。InXight X射线成像模块 具有InXight X射线成像模块的Xeuss 3.0 获取从埃米级到毫米级的样品结构信息 通过成像选取目标，研究散射信息 在原位SAXS/WAXS实验过程中，结合X射线成像可监测样品变化。

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1430# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO1430# 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列：带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1430 ： 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 100

FJ403型个人剂量率仪主要用来检测&gamma 和X射线对人体照射的计量当量和剂量率当量率。该仪器以GM计数管为探测器，有灵敏度高，体积小，功能多等优点。适于核设施，核及辐射技术应用部门，科研等单位的个人计量检测，户外应急检测，也可用于辐射场调查和侦测探测辐射: &gamma 射线和X射线个人剂量当量：0.01uSv/h-9999mSv个人剂量当量率：0.01uSv/h-200mSv/h响应时间：1S-300S固有误差：小于5%相对误差；小于20%能量响应：小于30%外形尺寸：75mm× 52mm× 21mm重量：小于90g

451B多功能射线检测仪主要技术指标： ◆ 可探测的射线：4MeV的&alpha 射线， 100keV的&beta 射线， 7keV的&gamma 和X射线 ◆ 量程：0～500mSv/h ◆ 不确定度：± 10% ◆ 探头：349ml的电离室，可同时测量剂量率和剂量 ◆ 自动特性：自动调零、自动量程、暗时自动打开背景灯 ◆ 响应时间：0～500mSv/h量程范围内最短响应时间为2秒 ◆ 通讯接口：RS-232接口 ◆ 电源：两节9V电池，可操作200小时 ◆ 预热时间：1分钟 ◆ 环境条件：温度：-40～+70℃ ◆ 相对湿度：0～100% ◆ 体积：10× 20× 10cm ◆ 重量：1.11kg ◆ 0-50µ Sv/h、0-500µ Sv/h、0-5mSv/h、0-50mSv/h、0-500mSv/h五量程自动转换 应用领域 451B型电离室巡测仪是一种手持式电池供电的仪器，是为在恶劣环境和正常环境可使用而设计的。451B型是用来测量&alpha 、&beta 、&gamma 和X射线。451B型测量仪采用了微型处理器和液晶显示技术，并有一个用钢丝网保护树酯窗口的电离室，和一个完整的&beta 射线-屏蔽，这个屏蔽也可以为光量子测量提供一个平衡厚度。握持舒适的手柄，有一个大直径的软垫握套，是为减少长时间使用时造成的疲劳设计的。测量仪外壳由重量轻、强度高的材料所构成，且密封防潮。

这款电镜X射线发生器是专门为电子显微镜设计的X射线发生器，广泛用于电子显微镜的X射线荧光光谱分析，是理想X射线荧光光谱X射线发生器。电镜X射线发生器紧凑的设计和滑动安装允许与样品非常接近。 专利的多毛细管光学聚焦x射线激发下降到10μ的样品斑点尺寸。 Xb提供10μm和40μm的斑点尺寸。 集成的高压电源最大功率为50瓦（35-50千伏，取决于阳极材料为1.0毫安）。 紧密耦合提供与传统“桌面”或“独立”单元相当的XRF分析结果。 Xb被设计成不干扰电子显微镜的正常操作，包括在同一样品上使用电子束，同时收集所有元素。不需要特殊的冷却电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用Xb低ppm级别的元素可以轻松识别，量化，甚至产生痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。电镜X射线发生器应用：艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品电镜X射线发生器规格?X 规格阳极类型侧窗目标材料Ag，Cu，Mo，Rh＆W加速电压0-50kV光束电流最大1mA阳极点尺寸10，20，40μm准直器尺寸专利聚毛发聚焦光学源过滤器可应要求提供冷却要求风机冷却功率 100瓦控制/安全可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示，内部互锁快门。 联锁到SEM，键控上电开关，HV-On灯，警示灯