防溢流探头测试仪

探头初粘力测试仪产品介绍：探头式初粘力试验仪 胶带探针式初粘力试验仪 全程自动 触屏显示又叫探针式初粘力试验机（Probe Tack Tester），是胶带初粘力测试的方式之一，主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试，产品满足ASTM D2979 的规范等标准，适合各类研究机构、胶粘剂企业、不干胶等检验检疫机构等。测试原理：使用5mm直径研磨的平面探头压在黏胶面，完全接触之后，再反方向恒速完全分离所产生的 大力，这个 大力值即为所测试样的初粘力，机器会记录离开时 大拉力数值。 探头初粘力测试仪全程自动 触屏显示特点：1.数据收集系统具有即又易用的特点，是当前先进的测量仪器。2.采用微电脑控制技术，，精度高，操作简便。3.采用高精度传感器，度可以达到重量感应器标准的+0.1%。4.先进的静音电机和滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确。5.高清晰LCD显示，操作一目了然6.连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，直接及时打印.7.具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便。8.无级调速可在1—800范围内任意设定精度探头初粘力测试仪技术参数：1.负荷范围：0－20N2.精 度：0.5级3.分 辨 率：0.01N4.试验速度：24 ipm (英寸/分)，61cpm (公分/分)，610 mm/min（0.001～800mm/min可调 ）5、试验行程：600mm（标配）或1000mm（可定做）6、速度控制范围：1mm/min～800mm/min7、试验机尺寸：530*266*1450或1810 mm8、供电电源：220V，50Hz9、重量:75kG 探头式初粘力试验仪 胶带探针式初粘力试验仪 全程自动 触屏显示标准配置：主机、电源线、探头一副、试验板3片，夹持辅具一副。

探头式初粘力试验仪、胶带探针式初粘力试验仪、探针式初粘力试验机探头初粘力测试仪粘附力分析仪济南恒品HP-TCN-A产品介绍：探头式初粘力试验仪 胶带探针式初粘力试验仪 全程自动 触屏显示又叫探针式初粘力试验机（Probe Tack Tester），是胶带初粘力测试的方式之一，主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试，产品满足ASTM D2979 的规范等标准，适合各类研究机构、胶粘剂企业、不干胶等检验检疫机构等。测试原理：使用5mm直径研磨的平面探头压在黏胶面，完全接触之后，再反方向恒速完全分离所产生的 大力，这个 大力值即为所测试样的初粘力，机器会记录离开时 大拉力数值。 探头初粘力测试仪粘附力分析仪济南恒品HP-TCN-A显示特点：1.数据收集系统具有即又易用的特点，是当前先进的测量仪器。2.采用微电脑控制技术，，精度高，操作简便。3.采用高精度传感器，度可以达到重量感应器标准的+0.1%。4.先进的静音电机和滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确。5.高清晰LCD显示，操作一目了然6.连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，直接及时打印.7.具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便。8.无级调速可在1—800范围内任意设定精度探头初粘力测试仪粘附力分析仪济南恒品HP-TCN-A技术参数：1.负荷范围：0－20N2.精 度：0.5级3.分 辨 率：0.01N4.试验速度：24 ipm (英寸/分)，61cpm (公分/分)，610 mm/min（0.001～800mm/min可调 ）5、试验行程：600mm（标配）或1000mm（可定做）6、速度控制范围：1mm/min～800mm/min7、试验机尺寸：530*266*1450或1810 mm8、供电电源：220V，50Hz9、重量:75kG 探头式初粘力试验仪 胶带探针式初粘力试验仪 全程自动 触屏显示标准配置：主机、电源线、探头一副、试验板3片，夹持辅具一副。探头式初粘力试验仪、胶带探针式初粘力试验仪、探针式初粘力试验机

Polyken Probe TackThe Polyken™ Probe Tack from ChemInstruments makes it easy to measure the tack of pressure sensitive adhesives. A precision ground 5.0 mm diameter flat probe contacts the adhesive, reverses direction and pulls away from the adhesive. The maximum force required to break the adhesive bond is recorded and displayed.The Polyken? Probe Tack adhesive testing machine meets the standards set forth in ASTM D2979. Machine speed is 24 ipm (61 cpm), probe diameter of 5 mm and an annular ring weight that applies 9.79 +/-0.10 kPa of force. An automatic test cycle produces a 1 second dwell time from the beginning of contact to the end of contact.ChemInstruments 的 PT-1000 PolykenTM Probe Tack Tester是专门设计来测量胶带的Tack的仪器。符合ASTM D2979 的规范。5mm直径精密研磨的平面探头压在黏胶面，再反方向拉上来。机器会记录离开黏胶的最大拉力数值。速度是 24 ipm (吋/分)，61cpm (公分/分)探头直径5mm, 重量9.79± 0.10 Kpa；设定接触胶面後自动停留一秒钟之後就回头上拉。使用5磅(2公斤)的load cell, 可测出很黏到不黏大範围的数据。搭配 EZ-LAB 软件可以画出分佈图形。精确度 load cell 全域的 ± 0.1 %；额定电压 120V 或240V；注意：插电之前需在确认内部并无凝结水气。选购项目：建议购买EZ-Lab 数据收集系统。非常方便，本公司其他仪器也可以用。EZ-link, 配合的线路。EZ-LAB数据收集系统Cheminstruments的数据收集系统是非常方便的处理力量测试的软体。此系统不但读取仪器测到的每一个测试的力量，用数字显示出来，同时储存在电脑记忆体里。显示每一组测试的最大值、最小值和平均值。最多可储存20组测试数字，操作者可以回查之前测到的数据。数据可以透过 RS-232 装置输出到电脑。可以选择 用 克、公斤、磅或 Newton来显示。每秒钟可以纪录400点数据来计算，是非常精细的测试仪器。再外接电脑及搭配 EZ-LAB 软体，还可做到遥控及加强模式之数据收集功能尺寸：高 22吋(56公分）宽 14吋(36 公分）深 18吋(46 公分)重 55磅(25 公斤）

MPA4（Multi Probe Adapter）系统是德国CK公司皮肤测试仪的一个多功能测试平台，可连接最多四个相同或不同的皮肤测试探头。每种探头均有不同的分析软件和显示方式。可选配的探头包括：Corneometer CM825（水分测试探头）Mexameter MX18 （黑色素和血红素测试探头）Tewameter TM Hex（水分流失测试探头TEWL）Colorimeter CL400（皮肤颜色测试探头）Skin-pH-Meter PH905 （酸碱度测试探头）Glossymeter GL200 (皮肤光泽度测试探头)Frictiometer FR700（皮肤摩擦力测试探头）、Skin-Thermometer ST500（皮肤表面温度测试探头）、Temperature ＆ Rel. Air humidity (环境温度湿度测试探头)欢迎致电：010-62186640

Antsci Skin-FX皮肤测试仪，多探头皮肤功效测试仪，多功能皮肤功效测试仪，水分测试仪，弹性测试仪，是Antsci系列新推出的多探头皮肤测试仪器，无线连接，拥有全面的分析系统和数据库系统，能够分别单一测试水分、弹性、黑色素、pH、油脂等数据，又能综合测试美白、抗衰老、敏感肌肤、防晒等由多种因素影响的综合评测。语言操作包含中文在内的多种语言，还有符合亚洲人皮肤的数据库，更贴近国人的皮肤状态。多探头皮肤功效测试仪，拥有10.1英寸高清触摸显示屏，500万前置摄像头自动对焦。无线探头快速检测，轻松实现水分、弹性、油脂、pH、黑色素、头皮等高效检测，提供完善的皮肤测试流程，并给予防晒、抗衰、紧致、美白、保湿、平衡油脂、舒缓防敏等各种解决方案。ANTSCI Skin-FX能够提供一个完善的皮肤测试流程，增加向客户揭示未知问题领域的机会、提供一个完善的皮肤测试流程，并给予各种解决方案，定义最适合的皮肤护理。帮助研发人员做出正确的决定并给出理想的护肤方案。 ANTSCI Skin-Fx皮肤功效测试仪能够帮助并解决化妆品企业、科研教学、研究机构、医美、大健康产业等行业关于功效宣称的数据缺失，帮助企业建立并完善产品功效数据分析和数据库建立。

四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

1、 ~CSI-Z105人工血管探头破裂强度测试仪一、仪器特征本设备是检验生产厂家产品性能的检测设备。由可编程控制器，触摸屏，力值传感器，传动装置，机载打印机等组成，提供中英文菜单显示，具备人机对话设定各项参数自动运行测试模式。并由打印机打印出测试数据及结果以供分析。2、 测试目的用平坦的环形夹具将被测试人工血管样品的一片固定在开口上，将一个带球形探头的探针穿过样品，直到破裂。测试标准：YY0500-2021中 A.5.3.6三、技术参数：操作界面：简体中文/英文力值范围：0-50N（可根据需求设定）移动速率范围：0-500mm/min可任意设置破裂强度单位：KN时间计时器：触摸屏显示产品净重：50kg外形尺寸：430×290×1400（mm）电 源：AC90V-240V/50Hz（自适应宽电压）整机功率：750W可编程控制器：PLC控制系统触摸屏：7寸威纶通彩色触摸屏测力机构：内置打印机：嵌入式打印机探头破裂强度的测试1 原理用平坦的环形夹具将被测试人工血管样品的一片固定在开口上，将一个带球形探头的探针穿过样品，直到破裂。在测试中不断测量负载。2 仪器仪器应包括 :a) 具有恒定的拉伸速率，能在加压模式下工作或装有适合的加压保持架，精度±5%。b) 具有样品夹持环和可移动的探头针。样品夹持装置的中央孔径的直径为11.3mm 可移动探头针为直径9.5mm的半球体。3 取样YY0500-2021/1S0 7198:19984 测试程序如样品是管状血管移植物，沿血管样品的纵轴方向截取一段并抚平裁成厚度均匀的一片。将样品放在测试仪器的开口上，使其完全覆盖在薄膜上，如果有皱褶 ，在不扭曲编制结构的情况下将皱褶抚平。放下压环。调整压环底座或探针，无论是对于拉力机的夹具还是其他配件，使开口和探针在同心位置。降低探针到和样品接触。移动探针直到样品破裂。记录探针的直径，移动速度，和每个样品破裂时的负载5 结果的表达以毫米为单位表示探针的直径，以毫米每分为单位表示探针的移动速度，以千牛为单位表示破裂强度6 测试报告和附加说明测试报告应包括血管样品的破裂压力的平均值和标准偏差、探针直径、移动速度7规定的细节。附加说明应规定的被记录下来

质构仪探头质构仪探头是质构仪对样品进行物性测试仪时的关键部件。探头选择是否得当对实验结果产生直接影响。通常压缩测试需要圆柱形探头与样品作用，剪切实验需要针对性选择刀具探头与样品作用。很多人在购买质构仪+物性测试仪的时候，总觉设备厂家配置的探头越多越好，因此没有职业准则的商家就配备一堆堆的探头，柱形探头配备15-20个，球型探头5-10个等等，这些探头根本无需配置这么多，类型您购买一个洗菜盆，没有必要把所有的尺寸都买一个回家吧，一是用不上，而是没有必要占地方，柱形探头从针型探头，1毫米到100毫米都有，没有必要1毫米，2毫米，3毫米，4毫米等等都配一个吧，通常来讲，针型一个，2毫米柱形1个， 5毫米一个，36毫米一个，75毫米五个足够了，球形探头1个，锥形探头45度一个就足够了，把钱花来多配一些有针对性的探头，如做肉品，必须配TA/BS的柔嫩度探头，TA/VB模拟牙齿的剪切探头，面条必须配TA/LKB的面条硬度测试探头,本文推荐一下常规的探头选择。通用探头有以下几类：一、柱形探头该系列探头从直径2mm---100mm，型号为TA/2---TA/100。该系列探头可广泛用于各种样品的感官检测。如：肉制品、面制品、医药、化妆品等行业。可测量弹性、延展性、硬度、回复性、坚实度等数据。二：针型探头该探头型号为TA/2N可用于样品的穿刺实验。包括水果等带硬皮的样品。可测量表皮强度、穿刺强度等数据。三、球形探头该系列球形探头直径从6.25mm-25.4mm，型号为TA/0.25S---TA/1S.可测马铃薯片或薯条的脆裂性，也可测水果、奶酪和包装材料的表面硬度.四、锥形探头该系列探头包括30o,40o,45o,60o四种角度，型号为TA/30C、TA/40C、TA/45C、TA/60C。 该系列探头可测黄油、人造黄油和其他粘延性食品。用于样品的穿透性实验，可测量稠度等流变特性。

产品介绍：GS4210-Ex-N 烟气采样探头（防爆型）是华电智控根据防爆的气体监测场合的需求自主研发的一款防爆型采样探头，探头自带精细过滤功能，防止后续气路堵塞，自带加热功能，防止冷凝。该产品已获得防爆合格证，可以有效应用在石油化工、喷涂、橡胶、医药、印刷包装等气体检测的防爆监测场合。规格参数：1. 采样温度：600℃ Max2. 采样压力：0.4~3BarMax.3. 环境温度：-20℃~40℃4. 探头加热温度：120~180℃5. 过滤精度：5um6. 探头加热电源：220VAC 50Hz/ 400W7. 预热时间:小于45min8. 防爆等级：ⅡC T4性能特点：1. 探头自带精细过滤功能，防止气路堵塞。2. 过滤器及滤芯均采用耐腐蚀材质制成，可满足腐蚀气体监测的使用条件；3. 内置加热单元，加热温度可调，有效防止气体冷凝；4. 维护工作量低，无需使用专业工具即可更换滤芯；5. 独特的内部结构设计，体积小，重量轻，且有效减少取样过程中的死体积；6. 内含反吹控制装置，可有效对探杆和探头过滤器进行反吹，避免堵塞，减少日常维护。

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。四探针电阻率/方阻测试仪 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪

探头式初粘力测试仪、胶带初粘力测试仪、粘合剂类初粘力测试仪HP-TCN-A探头式初粘力测试仪又叫探针式初粘力试验机（Probe Tack Tester），是胶带初粘力测试的方式之一，主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试，产品满足ASTM D2979 的规范等国际标准，适合各类研究机构、胶粘剂企业、不干胶等检验检疫机构等。测试原理：使用5mm直径精密研磨的平面探头压在黏胶面，完全接触之后，再反方向恒速完全分离所产生的最大力，这个最大力值即为所测试样的初粘力，机器会记录离开时最大拉力数值。产品特点：1.数据收集系统具有即精确又易用的特点，是当前先进的测量仪器。2.采用微电脑控制技术，，精度高，操作简便。3.采用高精度传感器，精确度可以达到重量感应器标准的+0.1%。4.先进的静音电机和精密滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确。5.高清晰LCD显示，操作一目了然6.连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，直接及时打印.7.具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便。8.无级调速可在1—800范围内任意设定精度技术参数：1.负荷范围：0－50N2.精 度：0.5级3.分 辨率：0.001N4.试验速度：24 ipm (英寸/分)，61cpm (公分/分)，610 mm/min（0.001～800mm/min 可调 ）5、试验行程：600mm（标配）或1000mm（可定做）6、速度控制范围：1mm/min～800mm/min7、试验机尺寸：530*266*1450或1810 mm8、供电电源：220V，50Hz9、重量:75kG探头式初粘力测试仪标准配置：主机、电源线、探头一副、试验板3片，夹持辅具一副。探头式初粘力测试仪、胶带初粘力测试仪、粘合剂类初粘力测试仪

LST-331四探针方阻电阻率测试仪 一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.二.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围：适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四、.型号及参数 规格型modelLST-3311.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度≤0.3%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤4%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 五、标准配置外订购明细：序号型号品名单位数量备注1340-CSX测试线套1209A标准电阻个1-5选购规格和数量306A四探针测试平台套1含探头1个406B四探针探头个1方型或直线型选购5340-TTZ镀金弹簧铜针4根组14根为一组6340-WTZ弹簧钨针4根组14根为一组7340-RJ分析软件套18PC电脑+打印机套1依据客户要求配置9300-JL检测技术服务份1计量证书1份10WDCGQ温度传感器套1常温-125度331-YB延保服务 年1-3

FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-2～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

1.双电测四探针法测试薄层样品方阻计算和测试原理如下：直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：四探针测试结构当电流通过1、2探针，4、3探针测试电压时计算如下：从以上计算公式可以看出：方阻RS只取决于R1和R2，与探针间距无关．针距相等与否对RS的结果无任何影响，本公司所生产之探针头全部采用等距，偏差微小，对测试结果更加精准。操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针双电方阻测试步骤上述步骤中1项，使用前期准备把被测物测试所需要之参数数据设定：依据不同之测试样品，选择被测试电流，电流设置：按方向键移动光标至“电流”功能，按“设置”键进入；再按“左右”方向键选择电流数据，选择完毕后按“确定”键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.探针间距数据的输入，探针间距出厂时已经标定，无需再次测量，探针头上有详细的探针数据资料，探针间距的设置：将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入，通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认；按照以上方法和步骤设定”厚度“，注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中，自动修正，无需再次输入和查询表格。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时，在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值

产品介绍： 隔爆烟气采样探头，内置温度控制并附有防爆接线盒，方便调节控制温度。防爆接线箱通过连接支架与探头连为一体，便于安装，产品广泛用于需要防爆的化工冶金等场合。 产品已获得由国家防爆电气质量检验中心颁发的防爆合格证。可以有效得应用在环保、化工、冶金、电厂、垃圾焚烧厂以及VOCs 气体检测等需防爆的采样场合。适用于1 区、2 区危险场所，20 区、21 区、22 区危险场所；ⅡA、ⅡB、ⅡC 类爆炸性环境，可燃性粉尘环境；户内户外均可安装。性能特点： 1. 具有全程伴热功能，具备自动控制温度，自动标定等功能； 2. 过滤器和过滤芯采用钛合金材质，在高温高湿高尘环境下具有很高的稳定性； 3. 无需使用专业工具便能更换滤芯；低维护量； 4. 可定期自动对采样探头进行反吹，防止烟尘堵塞探头探管。规格参数： 1. 采样温度：＜600℃ 2. 样品压力：＜0.6Mpa 3. 加热温度：0-200℃可调 4. 工作温度：-20~60℃ 5. 过滤精度：2μm 6. 防爆等级：Ex d IIC T4 Gb

恒品HP-TCN-F探头式浮力测试仪探头式浮力测试仪主要用于各种类产品的微小浮力测试，适合各类研究机构、企业、检验检疫机构等。恒品HP-TCN-F探头式浮力测试仪测试原理：使用精密研磨的平面探头压在试验面，完全接触之后，恒速向下压,压入水下后,自动返回,传感器产生的最大力，这个最大力值即为所测试样的最大浮力.恒品HP-TCN-F探头式浮力测试仪产品特点：1.数据收集系统具有即精确又易用的特点，是当前先进的测量仪器。2.采用触摸屏控制，控制技术，精度高，操作简便。3.采用高精度传感器，精确度可以达到重量感应器标准的0.0001g。4.先进的静音电机和精密滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确。5.高清晰LCD显示，操作一目了然6.连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，可打印.7.具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便。8.无级调速可在1—800范围内任意设定精度恒品HP-TCN-F探头式浮力测试仪技术参数：1.负荷范围：0－120g2.精 度：0.5级3.分 辨 率：0.0001g(0.1mg)4.试验行程：500mm（标配）5、速度控制范围：1mm/min～800mm/min6、试验机尺寸：530*266*16507、供电电源：220V，50Hz8、重量:75kG9、标配探头:20mm(可选其他直径)探头式浮力测试仪标准配置：主机、电源线、探头一副。

初粘力测试仪、探头式初粘力测试仪、探针式初粘力试验机HP-TCN-A探头式初粘力测试仪又叫探针式初粘力试验机（Probe Tack Tester），是胶带初粘力测试的方式之一，主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试，产品满足ASTM D2979 的规范等国际标准，适合各类研究机构、胶粘剂企业、不干胶等检验检疫机构等。测试原理：使用5mm直径精密研磨的平面探头压在黏胶面，完全接触之后，再反方向恒速完全分离所产生的最大力，这个最大力值即为所测试样的初粘力，机器会记录离开时最大拉力数值。产品特点：1.数据收集系统具有即精确又易用的特点，是当前先进的测量仪器。2.采用微电脑控制技术，，精度高，操作简便。3.采用高精度传感器，精确度可以达到重量感应器标准的+0.1%。4.先进的静音电机和精密滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确。5.高清晰LCD显示，操作一目了然6.连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，直接及时打印.7.具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便。8.无级调速可在1—800范围内任意设定精度初粘力测试仪、探头式初粘力测试仪、探针式初粘力试验机技术参数：1.负荷范围：0－50N2.精 度：0.5级3.分 辨率：0.001N4.试验速度：24 ipm (英寸/分)，61cpm (公分/分)，610 mm/min（0.001～800mm/min 可调 ）5、试验行程：600mm（标配）或1000mm（可定做）6、速度控制范围：1mm/min～800mm/min7、试验机尺寸：530*266*1450或1810 mm8、供电电源：220V，50Hz9、重量:75kG探头式初粘力测试仪标准配置：主机、电源线、探头一副、试验板3片，夹持辅具一副。初粘力测试仪、探头式初粘力测试仪、探针式初粘力试验机

四探针 方阻 电阻率测试仪双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 四探针 方阻 电阻率测试仪规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针 方阻 电阻率测试仪FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester一.应用说明Widely used：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述Description：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.规格型号/ modelFT-341 FT-342 FT-343FT-345 FT-346FT-3471.方块电阻sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm6.显示读数display屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivityFT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪.型号及参数Models and technical parameters规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围Sheet resistance 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率范围Resistivity 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×105Ω-cm6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement温馨提示：半导体材料测量，我们提供四探针法，低阻，高阻，双电组合法，普通单电法，以及高温电阻率测试仪系列，欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器温馨提示：半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测到7次方至9次方；，双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方，单电测四探针测试仪-5次方到5次方，我们解决半导体材料电性能测量问题，上述都是我们产品，欢迎和我们交流—瑞柯仪器双电测四探针测试仪

1.恒奥德仪器袖珍式紫外照度计 HAD-U20选配相应测试波段的紫外测试探头 应用于紫外光源、消毒杀菌、光照治疗、老化、探伤、光刻、光固化、育种、植物栽培、日光紫外指数评价等领域的测量。指标：测试功能：紫外辐射照度传感器： 可根据客户要求选配相应测试波段的紫外测试探头，选配的探测器规格如下：SUVA、SUVB、SUVC、SUV365、SUV254nm中任意壹种探测器。（可进行定制）感光面积：Φ6mm测试范围：SUVA、SUVB、SUV365其测试范围为1-50000μw/cm2；SUV254、SUVC其测试范围0.1-20000μw/cm2；测量精度：一级显示方式：4位背光液晶显示锁定功能：数据显示保持功能，方便读数；数据锁定及存储功能：可存储不少于30组数据。通讯：USB接口供电：两节AA电池 标配：主机、探头、电池 2.超细电动薄层喷雾器/电动薄层喷雾器/薄层喷雾器 型号：SKZ-TS-I薄层色谱板的喷雾显色与衍生 主要1、超细喷雾，喷孔仅0.2mm；2、使用进口压缩机，体积小，噪音小，故障少。 主要组成：1、不锈钢喷笔；2、进口空气压缩机：含主机与管线。 用途：薄层色谱板的喷雾显色与衍生。 1、显色剂容器容积：50ml；2、喷程：无风80cm，建议喷程25-40 cm；3、空压机压力：大100PSI，喷雾压力10-30PSI（1-2公斤）； 3.石油产品运动粘度测定仪 型号：HAD-L265C 一、HAD-L265C用途及适用范围本仪器的制造符合中华人民共和国行业标准SY/T5651《石油产品运动粘度试验器技术条件》所规定的要求。本仪器适用于按中华人民共和国标准GB/T265《石油产品运动粘度测定法和动力粘度计算法》的规定，测定液体石油产品（指牛顿液体）在某一恒定温度条件下的运动粘度。 二、HAD-L265C主要技术规格及技术参数1、工作电源： AC220V±10%、50Hz。2、加热装置： 电加热，功率2000W。3、搅拌电机： 功率15W，转速 1200r/min。4、控温范围： 室温～100℃。5、控温精度： ±0.1℃。6、计算器： 能够计时，并对油品的粘度值进行计算。7、浴缸： 双层浴缸，采用φ300×330mm的硬质玻璃缸。 8、孔数： 4孔 4.多功能电阻焊测试仪 电阻焊测试仪 电阻焊压力电流测试仪 型号：HAD-1 多功能电阻焊测试仪是综合性的电阻焊测试仪器。其不仅可测试电阻焊过程 中的非正弦大电流，还可测试电阻焊压力参数；不仅可测试上述参数的稳态数值，还可测试点凸焊　 与压力的瞬态参数并显示、储存其波形。不仅可测试点焊、凸焊的相关参数，还可测试缝焊、储能焊 　　与逆变焊的参数。　　仪器采用便携形式，，并配有高效的镍氢充电电池，用户使用方便。 （二） 技术指标： l （点凸焊部分）： 1. 测量电流范围： 0．5 － 5KA 及5 － 50KA两档； 2. 测量电流误差： ±3% FS． (分辨率 0．4%) ； 3. 测量周波范围： 0－99．5周波； 4. 测量周波误差： 0．5周波 (分辨率0.5周波) ； 5. 测量导通角范围： 30－180°。 l （储能焊及逆变焊部分）： 1. 测量时间范围： 2－100ms(储能焊)、40－2000ms(逆变焊)； 2. 测量时间误差： ±3 % FS． (分辨率 1ms (储能焊)、2ms (逆变焊)) ； 3. 测量电流范围： 0．8 － 8KA 及8 － 80KA两档； 4. 测量电流误差： ±3% FS． (分辨率 0．4%) 。 l （缝焊部分）： 5. 测量时间范围： 1－6000周波（2min）； 6. 测量时间误差： ±1.5% FS． (分辨率 1周波)； 7. 测量电流范围： 0．5 － 5KA 及5 － 50KA两档； 8. 测量电流误差： ±3% FS． (分辨率 0．4%) 。 l （压力测量部分）： 1. 压力测量范围： 20– 1000kg 及40 － 2500 kg两档； 2. 压力测量精度： 2.5% FS.±1LSB； 3. 压力测量分辨率： 0.1%。 l （通用部分）： 1. 电源电压： 9VDC （镍氢可充电电池）； 2. 开机功耗： 600 mw ； 3. 关机功耗： 1 mw ； 4. 瞬态数据储存量： 30KB； 5. 使用温度范围： 0－35°C。 6.石油产品硫含量测定仪 型号：HAD-L380 标准GB/T380《石油产品硫含量测定法(燃灯法)》所规定的要求设计的，本仪器适用于按GB/T380标准所规定的方法测定雷德蒸气压力不高于600毫米汞柱的轻质石油产品(汽油煤油等)牧蚝俊� HAD-L380主要技术参数 1、工作电源： AC220V±10％；50Hz。2、试样数量： 独立三组或五组，每组可单独试验。3、真空泵： 每组真空抽气量可独立调节，4、燃灯调节： 每组燃灯可独立上下调节，调节范围不小于15㎜。5、环境温度： -10℃～40℃。6、相对温度： ≤85％。7、整机功耗： 不大于50W。 5.食品甲醛检测仪 型号：HAD-Q2 指标1、彩色液晶触摸大屏尺寸：4.3寸2、吸光值显示范围：0.000-4.0003、透光值显示范围：0.00-100.00%4、透光值分辨率：0.01%5、吸光值分辨率：0.0016、透射比准确度：±2.0% 7、透射比重复性：≤0.2% 8、稳定性：≤0.3%（3分钟） 9、检出限：1.0mg/kg10、检测范围：0-500 mg/kg11、通讯接口：RS232、USB12、多种工作电源：内置锂电池、交流220V、直流5V 6.白度仪 型号：HAD-DNB HAD-DNB技术参数零点漂移：≤0.1%；示值漂移：≤0.1%；示值误差：≤0.5%；重复性误差：≤0.1%；镜面反射误差：≤0.1%；试样尺寸：测试平面不少于Φ30mm（或Φ19mm），试样厚度不超过40mm；电源：交流220V ± 10％, 50Hz，0.4A。工作环境：温度0～40℃，相对湿度85％；尺寸及重量： 375×264×400（mm），16kg。

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪应用说明：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA.μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA、1μA、10μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1% ±0.2% ±0.2% ±0.3% ±0.3% ±0.3% 5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5% 6.显示读数屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.111.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.材料电阻测试步骤：操作步骤及流程本机可以依据不同测试产品选择配置不同的测试治具，以下举例操作说明在开机界面按下按键板上的“显示”键，进入测量界面。如图1如图2，在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键，当测材料电阻率时，请选择 “材料”按键 ，进入材料测试主界面. 在该界面下通过按下按键板上的上下左右键，可以移动蓝色光标选择相应的参数。如图2，将移动到某一参数的位置，按下“设置”键，光标将变为深蓝色。此时通过上下左右键和数字键可以对相应的参数进行设置，设置完毕后按“确定”键返回。接线方式，把主机与夹具连接线，连接好并固定住，取试样，试样试验前的处理依据标准进行，把样品放于固定治具夹口内，把HD和LD接口分别与治具接口连接（不分顺序）如图3；另外两个接口与探头接线位置连接，后，放入被测样品，输入高度数据（为探针之间的间距），其他数据为样品本身尺寸。试样固定住后，加压探头探针至被测样品表面，带数据稳定后读数. 按下“放大”键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大待参数设置完毕，开始测量，把测试获得的数据写入试验报告中以下设置和功能属于配置操作软件机型使用，如您购买的无电脑操作软件的话，请勿设置.接口：可选择“USB”和“232”两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。测试功能：可选择：“RρK”（显示电阻，电阻率，电导率），“R”（只显示电阻），“ρ”（只显示电阻率，“K”（只显示电导率）3种显示模式。

埋地钢质管道阴极保护邦信ER腐蚀速率探头BX-ER100/6技术参数●标准材质：碳钢（可定制）●防腐层破损点面积：0.4cm2 1.0cm2 10cm2●试片标准厚度：100-500μm（可定制）●电缆长度：6m或12m（可定制max30m）●执行标准：ANSI/NACE RP0104-2004 The Use of Coupons for Cathodic Protection Monitoring Applications产品说明该产品用于交直流杂散电流引起的管道腐蚀速率监测以及阴极保护有效性的验证。可以监/检测：探头试片腐蚀速率、通电电位、极化电位、交流电压、直流电流密度、交流电流密度、防腐层破损点扩散电阻等参数。河南邦信ER腐蚀速率探头是一个精密的电子产品，使用一个试片模拟防腐层缺陷。该产品安装在临近管道的土壤中，探头试片通过测试桩与管道电连接。使用配套的BXICL-02i数据记录仪测量该探头试片的电阻变化可以得到试片的腐蚀速率（该过程无需开挖、取出试片）。此外，该数据记录仪还可以测量和记录管道电位、交流电压、电流密度、扩散电阻等参数。BXICL-02i数据记录仪可以安装在阴极保护测试桩中。BXICL-02i数据记录仪的数据可以通过接口导入计算机，也可以使用GSM/GPRS网络无线传输。 注意事项：1、产品易碎，搬运时要小心轻放，以免摔碎，震裂探头，不许扯拉电缆线作搬运工具。2、在埋设以前应置放于阴凉干燥处，避免阳光爆晒和雨淋。3、避免与其它化学药品放在一起。河南邦信防腐材料有限公司阴极保护厂家

HP-TCN-A探头式初粘力测试仪又叫探针式初粘力试验机（Probe Tack Tester），是胶带初粘力测试的方式之一，主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试，产品满足ASTM D2979 的规范等国际标准，适合各类研究机构、胶粘剂企业、不干胶等检验检疫机构等。测试原理：使用5mm直径精密研磨的平面探头压在黏胶面，完全接触之后，再反方向恒速完全分离所产生的力，这个力值即为所测试样的初粘力，机器会记录离开时拉力数值。 产品特点：1.数据收集系统具有即精确又易用的特点，是当前先进的测量仪器。2.采用微电脑控制技术，，精度高，操作简便。3.采用高精度传感器，精确度可以达到重量感应器标准的+0.1%。4.先进的静音电机和精密滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确。5.高清晰LCD显示，操作一目了然6.连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，直接及时打印.7.具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便。8.无级调速可在1—800范围内任意设定精度技术参数：1.负荷范围：0－50N2.精 度：0.5级3.分 辨率：0.001N4.试验速度：24 ipm (英寸/分)，61cpm (公分/分)，610 mm/min（0.001～800mm/min 可调 ）5、试验行程：600mm（标配）或1000mm（可定做）6、速度控制范围：1mm/min～800mm/min7、试验机尺寸：530*266*1450或1810 mm8、供电电源：220V，50Hz9、重量:75kG探头式初粘力测试仪标准配置：主机、电源线、探头一副、试验板3片，夹持辅具一副。

质构仪探头-化工医用探头 TA/IS定量喷雾吸入器测试可用于对定量器定量效果及推进药片能力测定评估。定量喷雾吸入喷雾器通过释放精确性，可多次重复性的药量给肺部，从而达到治疗效果。在治疗过程中，病人对喷雾的吸收状态取决于定量器，因此需要对定量器定量效果及推进药片能力测定并改良是十分有必要的。

四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤4%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；与智慧之原 四探针测试仪四探针测试仪

1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针双电方阻测试步骤上述步骤中1项，使用前期准备把被测物测试所需要之参数数据设定：依据不同之测试样品，选择被测试电流，电流设置：按方向键移动光标至“电流”功能，按“设置”键进入；再按“左右”方向键选择电流数据，选择完毕后按“确定”键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.探针间距数据的输入，探针间距出厂时已经标定，无需再次测量，探针头上有详细的探针数据资料，探针间距的设置：将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入，通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认；按照以上方法和步骤设定”厚度“，注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中，自动修正，无需再次输入和查询表格。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时，在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值

质构仪探头-食品类专用探头 TA/SPR该抗拉强度试验台，可测面条的断裂强度和拉伸弹性，面条两端嵌入上下两辊子的中缝并旋转2-3周以防面条滑动。辊子的设计确保了测试时样品不致裂开、剪断、，并使拉断点只发生在中间的拉伸测试部分。

四探针测试仪产品名称：四探针测试仪产品型号：HCTZ-2S品牌：北京华测 一、产品介绍HCTZ-2S四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。HCTZ-2S双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。二、四探针测试探头1、使用几何尺寸十分精确的红宝石轴承，量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内运动，持久耐磨，测量精度高、重复性好。A.探头间距1.00㎜B.探针机械游率：±0.3%C.探针直径0.5㎜ D.探针材料：碳化钨，常温不生锈E探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。 2、手动测试架手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。 三、产品应用HCTZ-2S四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。四、产品特点 1.TVS瞬间抑制防护技术：光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到作用。华测的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的jue对防护。 2.本仪器的特点是主机配置三个数字表，在测量电阻率的同时，一块数字表适时监测全程的电流变化，及时掌控测量电流，一块显示2、3探针间的测量电压，另一块是显示当前1、4探针测量使用的电压，可以适当调整测量电压避免材料耐压不够而电压击穿被测材料。 3.主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些薄层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护薄膜。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值，以及电流抗干扰的屏蔽。 4.探针采用碳化钨硬质合金，硬度高、常温不生锈，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配测量软件，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均匀度，给测量带来很大方便。软件平台5.HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流。6.仪器通过USB转RS232连接线与电脑连接，软件可对四探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线，兼容性：适用于通用电脑7.测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性和安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复。兼容XP、win7、win10系统。五、软件功能具有试验电压设置功能；可选择试验标准可选择是否自定义或自动试验截止条件：时间/电压/电流 语音提示:可选择是否语音提示功能。统计报告：可自定报表格式可生出PDF、CSV、XLS文件格式分析功能：可对测试的数据进行统计。zui大/最小值、平均值等。 六、技术参数测量范围电 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω电阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□数字电压表量程：20.00mV~2000mV误差：±0.1%读数±2字数控恒流源量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A误差：±0.1%读数±2字四探针探头碳化钨探针：Ф0.5mm，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调薄膜方阻探针：Ф0.7mm，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调 七、注意事项1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针