非接触式五轮仪

ZC-104多功能速度仪(非接触多功能速度仪、GPS速度仪)一． 概述ZC-104多功能速度仪[以下简称本仪器]是淄博卓川电子科技有限公司针对中国国情、根据国家强制性标准GB7258-2017《机动车运行安全技术条件》开发研制，适用于GB21861-2014《机动车安全检验项目和方法》和GB18565-2016《营运车辆综合性能要求和检验方法》的要求适用于机动车安全性能检测站,可以作为便携式制动性能测试仪动态检测和汽车行驶记录仪检定装置检测仪。本仪器采用了进口GPS传感器和高速信号采集系统,选用大屏幕点阵液晶显示、中文操作菜单、微型汉字打印机、标准RS232联网接口。 二． 测试项目车速实验、道路试验、定位实验、制动实验、加速实验。 三． 性能参数l 系统功耗：25Wl 内置电源：DC7.6v l 外接电源：DC12Vl 标准9针RS232接口，波特率9600，数据位8位，停止位1位，无校验。l 使用温度：0-40℃l 环境湿度：30-80%序号项 目测 量 范 围准确度1速度0～300.000 km/h±0.5%2距离0～99999.999 m±0.5%3时间0～9999.999 s±0.5%4经度0～180.00000°±0.5%5纬度0～90.00000°±0.5%6海拔-999.9～999.9 m±0.5%7MFDD0～9.99 m/s2±1%8最D减速度0～9.99 m/s2±1%9平均减速度0～9.99 m/s2±1%10平均加速度0～14.99 m/s2±1%km/h：公里/小时 m：米 mm：毫米 s: 秒 ms:毫秒

中图仪器SuperViewW光学非接触式粗糙度3D轮廓仪采用白光干涉技术，结合具有抗噪性能的3D重建算法，具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精密器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。并且其特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。SuperViewW光学非接触式粗糙度3D轮廓仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域SuperViewW光学非接触式粗糙度3D轮廓仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：FRT公司(FriesResearch& TechnologyGmbH)由物理学博士Dr.ThomasFries于1995年创立,位于德国科隆市郊BG高科技园区,是生产光学表面测量仪器的专业公司.FRT公司拥有世界先进的纳米测量技术和专利,1996年获得德国创新技术企业奖,1998年和2001年分别成立了FRT美国和FRT瑞士分公司.FRT与强大的伙伴合作,在表面测量领域处于绝对先锋.产品包含非接触式电子扫描测量仪器系列,原子力扫描测量显微镜系列，超声波原子力扫描，干涉仪，测量软件系列和特殊工艺控制测量装置等,用于测量面形轮廓,表面粗糙度,表面形貌,薄膜厚度，材料特性等.测量原理是传感器扫描非接触测量,特点是测量速度快,纳米高精度测量,可测量大口径和大厚度的零件，排除了损害零件和在零件上留痕迹的风险等.技术参数：●测量范围：2-140mm●透镜厚度测量范围：2-50mm，最大偏差+/-300um●系统分辨率：1/3200º 主要特点：●白光色差测量传感器●非接触无损测量●用于抛光或未抛光的球面、非球面测量●面形、轮廓、粗糙度测量●高精密气浮旋转工作台，HEIDENHAIN旋转编码器

中图仪器SuperViewW非接触式表面粗糙度白光干涉光学轮廓仪以白光干涉技术为原理，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW非接触式表面粗糙度白光干涉光学轮廓仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperViewW非接触式表面粗糙度白光干涉光学轮廓仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW光学3D表面轮廓仪复合型EPSI重建算法解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量。它通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

Zeta&trade -20是一个高度集成的光学轮廓显微镜，可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境，具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。产品描述Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌量测系统。该3D光学量测系统由ZDot技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙纹理，以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-20台式光学轮廓仪集六种不同的光学量测技术于一身，是一款可灵活配置且易于使用的系统。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-20也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷的自动检测。Zeta-20通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能来支持研发和生产环境。主要功能● 配合ZDot及多模式光学组件，光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用● 用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜● ZDot：同时采集高分辨率3D扫描数据和样品表面真彩色图像● ZXI：采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪 ZIC：亚纳米级粗糙度表面的定量3D数据的干涉对比● ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析● ZSI：z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法● ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率● AOI：自动光学检测，并对样品上的缺陷进行量化● 生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量主要应用● 台阶高度：纳米级到毫米级的3D台阶高度● 纹理：光滑表面到粗糙表面的粗糙度和波纹度测试● 翘曲：2D或3D翘曲和形状● 应力：2D或3D薄膜应力● 薄膜厚度：30nm到100μm的透明薄膜厚度● 缺陷检测：捕获大于1μm的缺陷● 缺陷复检：KLARF文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌台阶高度Zeta-20能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-20能够使用ZDot或ZFT测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-20测量3D纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲，形状Zeta-20可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-20还可以测量结构（例如透镜）的3D高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-20能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-20通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-20能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D量测功能结合使用时，Zeta-20可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-20缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-20检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-20还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。光伏太阳能电池Zeta-20光学轮廓仪非常适合太阳能电池应用，因为它支持测量同时具有非常低和非常高反射率材料的表面。该系统可以量化蚀刻后纹理——反射率不到1%的金字塔结构，这对太阳能电池的光捕获能力至关重要。与这些纹理相邻的是反射率大于90%的银浆接触线。具有ZDot和高动态范围测量技术的Zeta-20可以同时测量反射率非常低和非常高的区域，量化银浆线的高度、宽度和沉积银浆体积，从而确定电阻数值。此外，Zeta-20还可用于测量来料硅片的粗糙度、隔离沟道深度、样品翘曲度、应力和3D缺陷，使用ZFT还可以测量氮化物膜厚度。半导体和化合物半导体封装Zeta-20支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线 (RDL)、凸点下金属化 (UBM) 高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸 (CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。印刷电路板 (PCB) 和柔性 PCBZeta-20 的高动态范围模式可实现从纳米级到毫米级的表面粗糙度和台阶高度测量，无需更改配置。它可以处理高反射率薄膜（例如铜）以及 PCB 上常见的透明薄膜。Zeta-20支持盲孔、线痕和热压焊的关键尺寸测量（高度和宽度）以及表面粗糙度。激光烧蚀Zeta-20 可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。Zeta-20可以测量柔性电路和晶圆上创建的高深宽比孔的台阶高度。它还可以测量太阳能电池隔离沟道的深度和宽度，从而提高器件效率。微流体Zeta-20能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-20可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-20非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-20可以测量高高宽比台阶，例如生物技术器件的深孔的深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。数据存储Zeta-20 CM专门用于测量磁盘边缘几何图形和检查污染或损坏。在磁盘的边缘，顶面表面和侧面之间的转变必须具有光滑的斜切面，否则磁盘边缘的扰动可能导致读写头在磁盘上遭受毁灭性的撞击。该系统配置包括一个倾斜样品台，用于在边缘测量和检测期间旋转圆盘。适用行业● 太阳能：光伏太阳能电池● 半导体和化合物半导体● 半导体WLCSP（晶圆级芯片级封装）● 半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）● PCB（印刷电路板）和柔性PCB● MEMS（微机电系统）● 医疗器械和微流体器件● 数据存储● 大学，实验室和研究所● 还有更多：请联系我们以探讨您的需求选配件ZFT：Zeta薄膜厚度Zeta-20拥有集成式宽频光谱仪，用于测量厚度30nm至100µ m的透明薄膜。它能够测量单层或多层堆叠薄膜的厚度，用户从材料库中选择折射率值。可绘制样品上的薄膜厚度分布图，以确定样品的均匀性。ZFT可运用在一些反射率极低的表面，例如反射率低于0.1%的太阳能电池。很多薄膜厚度测量机台难以从这些类型的表面上获得信号，因为它们依赖于镜面反射光来计算相位变化或其他参数。宽频白光和垂直入射光源可支持该机台用于各种低反射率光学透明薄膜。ZXI：Zeta干涉测量技术Zeta-20 与压电载台及干涉物镜结合使用，可支持相位扫描干涉测量法 (PSI) 和垂直扫描干涉测量法 (VSI)。PSI 支持快速测量几埃到数百纳米的台阶高度。VSI支持从数百纳米到数百微米的台阶高度测量。无论物镜数值孔径的大小，两者的分辨率均好于纳米级。ZIC：Zeta 干涉对比Zeta-20 采用诺马斯基光差分干涉对比显微法来提供精细表面细节的增强影像。诺马斯基光差分干涉对比显微法采用偏振和棱镜来更改相位，从而增强样品表面坡度的变化。这能让超光滑表面上的缺陷可视化，例如单层污染物。ZIC 扫描模式可通过将坡度变化与其他技术测量的粗糙度相关联，将这些图像转化为亚纳米级粗糙度的定量测量。ZSI：Zeta 剪切干涉测量法Zeta-20剪切干涉测量技术 (ZSI) 通过改变相位来强化ZIC测量。采集具有不同相位的多幅影像，然后通过先进的算法加以处理，以生成具有埃级分辨率的表面形貌的定量测量。该技术无需干涉物镜和z方向载物台扫描，即可完成从几埃到80nm的高分辨率测量。物镜提供多种物镜，包括 1.25 倍至 150 倍的常规物镜、长工作距离物镜、超长工作距离物镜、折射率校正物镜、透射式物镜、液体浸没式物镜和垂直扫描干涉物镜。耦合器Zeta-20 可配置四种不同的光耦合器，以改变光学放大倍率。该系统可配置 1 倍耦合器，以保持初始放大倍率，或配置 0.35 倍、0.5 倍或 0.63 倍耦合器，以提高放大倍率。物镜转台Zeta-20可配置 5 位或 6 位手动转台，以及一个用于自动物镜识别 的物镜传感器。该系统还可以配置一个可实现全自动操作的 6 位自动转台。样品光照Zeta-20采用双高亮白色LED作为标准光照。通过样品载台的背光也可增强光线用来测试具有挑战性的透明样品。Zeta-20还支持使用侧光源的暗场照明。样品台Zeta-20可以配置各种样品台以提高系统性能。在 ZDot或 ZXI 测量模式下测量纳米级台阶高度，可以添加压电 Z 轴平台提高 z 分辨率。Z 样品台可以安装在转环上，使测量头能够围绕样品旋转，从而改变表面入射角。XY样品台可配置手动100或300 毫米行程，或电动150或200毫米行程。可以将手动旋转样品台添加到 XY 样品台上。可添加手动调节的倾斜样品台，从而调平样品载台，以便进行干涉测量。样品载台Zeta-20可提供支持各种应用要求的载台。太阳能样品需要搭配156毫米的样品载台，或太阳能倾斜边缘载台以便倾斜样品，测量其边缘。背光载台可用于透明衬底，以支持透射照明。可提供 300 毫米的晶圆载台。如果我们没有您需要的载台，请联系我们提出您的需求。防震台Zeta-20的系统底座内置被动防震脚。如需额外防震，还可以提供被动或主动台式防震台。台阶高度和薄膜厚度标准片Zeta-20使用由 VLSI 提供的可追踪台阶高度的 NIST 薄膜和厚膜标准片。这些标准片在蚀刻的石英台阶上覆盖了铬涂层。可提供8纳米至250微米的台阶高度。现有经过认证的多台阶标准片具有8、25、50 和100µ m的名义台阶高度。该标准片具有用于XY校准的各种间距的图形。适用于ZFT的经过认证的厚度标准片由一个可供参考的硅表面和名义厚度为270nm的二氧化硅薄膜组成。还有可供参考的粗糙度和镜面样品等。多点测量功能多点测量功能利用电动XY样品台能让用户对样品上的测量位置进行设计。该系统会自动测量每个点位，并在用户定义的文件夹中保存结果。还会生成一份统计数据输出报告来概括结果。高级序列软件包括图形识别可自动对齐样品。可全自动测量，免受操作员失误的影响。在样品台上嵌入标准片后，可启用自动校准。拼接软件自动图像拼接软件使用电动 XY 样品台来组合相邻扫描，可生成比单一视场更大的拼接数据集。该系统可自动测量每个点位、对齐图像，并将它们组合成一个数据集。可以像分析任何其他结果文件一样分析结果。Apex分析软件Apex分析软件通过一套扩展的找平、过滤、台阶高度、粗糙度和表面形貌分析技术增强了该工具的标准数据分析能力。Apex支持ISO粗糙度计算方法以及当地标准，例如ASME。Apex还可以作为报告编写平台，能够添加文本、说明和通过/失败标准。Apex 支持 11 种语言。离线分析软件Zeta-20离线软件具有与该机台相同的数据分析和程式创建功能。这使用户能够创建程式和分析数据，而不占用机时。相关产品

Compact反复性、准确性、重现性极佳台式消振台手动安装镜头优秀的Capacity Sensor自动滤镜产品概要 三维表面轮廓仪利用光的干扰，可迅速，准确，并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式，不会对测量物造成任何损伤，相比共焦方式，高解像力无关倍率均可得到统一结果，与AFM相比，可在宽测量领域内快速测量。高度解像力0.1nm任何倍率下，解像力均统一测量纳米等级测量高速，高精密度，高解像力表现形象可测量透明/半透明/不透明登各种样品无需非破坏，预加工程序即可轻松测量反复性，准确性，重现性极佳主要特征测量高度，长度，段差，线，圆，弧，角度，款，宽，距离面粗糙度，线粗糙度，波形测量划痕，磨损，缺陷测量面积，大小测试原理利用光的干涉信号，将表面的形状到1nm~10cm为止，没有材料的破损，从相机中显示的全部领域，正确，检测到高强度为单位。干涉信号是在任意义的基准点中，同时出现的光在移动到不同的场景（optical path），在移动后合上的时候，用两个场景（optical path）的物理现象，是一种明亮的明亮的形态，这是干涉信号。精密的Piezo扫描高度以Piezo扫描通过Capacity Sensor进行Closed Loop整体扫描范围的0.1%呈线性通过1次校准，2次校准，提高数据可靠性Scan范围Scan范围：100um，150um, 300um, 500um, 10mm变焦镜头变焦镜头: 0.33x，0.55x， 0.75x， 1.0x，1.5x， 2.0x物镜 2.5x，5x, 10x， 20x， 50x， 100x干涉镜头干涉镜头(Michelson型) : 0.3x, 2.5x，5x干涉镜头(Mirau型): 10x， 20x， 50x， 100xMulti滤光镜多种滤光镜选择调整干涉镜头随温度变化的干涉纹样调整操作台真空操作台，选择操作台，Aligner操作台

Zeta-300 光学轮廓仪基于 Zeta-20 的成熟性能，包括集成式防震以及支持更大的样品尺寸，以满足您的研发和生产要求。Zeta&trade -300 可提供 3D 量测和成像功能，与集成式防震台和灵活的配置相结合，可以处理更大的样品。该系统采用 ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率 3D 形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-300 支持研发和生产环境，具有多模光学组件、易于使用的软件和低拥有成本。产品描述Zeta-300光学轮廓仪是一款非接触式3D表面形貌测量系统。Zeta-300以Zeta-20 3D轮廓仪的功能为基础，具有额外的防震选项和灵活的配置，可处理更大的样品。该3D光学量测系统由已获得专利的ZDot技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙表面，以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-300台式光学轮廓仪将六种不同的光学量测技术集成到一个可灵活配置且易于使用的系统中。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-300也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-300 3D轮廓仪通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能，来支持研发和生产环境。主要功能● 配合ZDot及多模式光学组件，该光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用● 是可用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜● ZDot：同时采集高分辨率的3D扫描扫描信息和样品表面真彩色图像● ZXI：采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪● ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析● ZSI：z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法● ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率● AOI：自动光学检测，可量化样品缺陷● 生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量主要应用● 台阶高度：从纳米级到毫米级的3D台阶高度● 纹理：从光滑表面到粗糙表面的粗糙度和波纹度测试● 翘曲：2D或3D翘曲● 应力：2D或3D薄膜应力● 薄膜厚度：30nm至100μm不等的透明薄膜厚度● 缺陷检测：捕获大于1μm的缺陷● 缺陷复检：KLARF 文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌适用行业● LED：发光二极管和PSS（图案化蓝宝石基板）● 半导体和化合物半导体● 半导体 WLCSP（晶圆级芯片级封装）● 半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）● PCB（印刷电路板）和柔性PCB● MEMS（微机电系统）● 医疗器械和微流体器件● 数据存储● 大学，实验室和研究所● 还有更多：请联系我们以满足您的要求选配件ZFT: Zeta 薄膜厚度Zeta-300 可提供集成式宽频光谱仪，用于 30nm 至 100µ m 的透明薄膜厚度测量。它能够测量单层或多层堆叠薄膜的厚度，用户从材料库中选择折射率值。可绘制样品上的薄膜厚度分布图，以确定样品的均匀性。ZFT 可用于一些反射率最低的表面，例如反射率不足 0.1% 的样品。很多薄膜厚度测量机台难以从这些类型的表面上获得信号，因为它们依赖于镜面反射光来计算相位变化或其他参数。宽频白光和垂直入射光源可支持该机台用于各种低反射率光学透明薄膜。ZXI：Zeta干涉测量技术Zeta-300 与压电载台及干涉物镜结合使用，可支持相位扫描干涉测量法 (PSI) 和垂直扫描干涉测量法 (VSI)。PSI 支持快速测量几埃到数百纳米的台阶高度。VSI支持从数百纳米到数百微米的台阶高度测量。无论物镜数值孔径的大小，两者的分辨率均好于纳米级。ZIC：Zeta 干涉对比Zeta-300 采用诺马斯基光差分干涉对比显微法来提供精细表面细节的增强影像。诺马斯基光差分干涉对比显微法采用偏振和棱镜来更改相位，从而增强样品表面坡度的变化。这能让超光滑表面上的缺陷可视化，例如单层污染物。ZIC 扫描模式可通过将坡度变化与其他技术测量的粗糙度相关联，将这些图像转化为亚纳米级粗糙度的定量测量。ZSI：Zeta 剪切干涉测量法Zeta-300 剪切干涉测量技术 (ZSI) 通过在相位中增加变化来强化 ZIC 测量。采集具有不同相位的多幅影像，然后通过先进的算法加以处理，以生成具有埃级分辨率的表面形貌的定量测量。该技术无需干涉物镜和z方向载物台扫描，即可完成从几埃到80nm的高分辨率测量。物镜提供多种物镜，包括 1.25 倍至 150 倍的常规物镜、长工作距离物镜、超长工作距离物镜、折射率校正物镜、透射式物镜、液体浸没式物镜和垂直扫描干涉物镜。耦合器Zeta-300 可配置四种不同的光耦合器，以改变光学放大倍率。该系统可配置 1 倍耦合器，以保持初始放大倍率，或配置 0.35 倍、0.5 倍或 0.63 倍耦合器，以提高放大倍率。物镜转台Zeta-300 可配置 5 位或 6 位手动转台，以及一个用于自动物镜识别的物镜传感器。该系统还可以配置一个可实现全自动操作的 6 位自动转台。样品光照Zeta-300 采用双高亮白色 LED 作为标准光照。通过样品载台的背光也可用于增强具有挑战性的透明样品的光线，例如图形化的蓝宝石衬底 (PSS)。Zeta-300 还支持使用侧光源的暗场照明。样品台Zeta-300 可以配置各种样品台以提高系统性能。在 ZDot或 ZXI 测量模式下测量纳米级台阶高度，可以添加压电 Z 轴平台提高 z 分辨率。Z 样品台可以安装在转环上，使测量头能够围绕样品旋转，从而改变表面入射角。可选的 280 毫米 Z 测量塔可以容纳大型零件，例如平板电脑、手机和大型机器组件。XY 样品台可配置手动 300 毫米行程或电动 150 或 200 毫米行程。可以将手动旋转样品台添加到 XY 样品台上。可添加手动调节的倾斜样品台，从而调平样品载台，以便进行干涉测量。样品载台Zeta-300 可提供支持各种应用要求的载台。背光载台可用于透明衬底，以支持图形化的蓝宝石衬底所需的透射照明。支持包括 300 毫米的多种晶圆尺寸，并提供多种样品载台。如果我们没有您需要的载台，请联系我们提出您的需求。防震台Zeta-300 具有内置于系统底座的被动防震台。对于需要更高防震效果的应用，可提供主动防震台。Zeta-300 有一个标准的隔音罩，可将系统与环境噪音隔离开来，并使用户免受机械手臂移动的噪音。台阶高度和薄膜厚度标准片Zeta-300 使用由 VLSI 提供的可追踪台阶高度的 NIST 薄膜和厚膜标准片。这些标准片在蚀刻的石英台阶上覆盖了铬涂层。可提供8纳米至250微米的台阶高度。现有经过认证的多台阶标准片具有8、25、50 和100µ m的名义台阶高度。该标准片具有用于XY校准的各种间距的图形。适用于ZFT的经过认证的厚度标准片由一个可供参考的硅表面和名义厚度为270nm的二氧化硅薄膜组成。还有可供参考的粗糙度和镜面样品等。多点测量功能多点测量功能利用电动XY样品台能让用户对样品上的测量位置进行设计。该系统会自动测量每个点位，并在用户定义的文件夹中保存结果。还会生成一份统计数据输出报告来概括结果。高级序列软件包括图形识别可自动对齐样品。可全自动测量，免受操作员失误的影响。在样品台上嵌入标准片后，可启用自动校准。拼接软件自动图像拼接软件使用电动 XY 样品台来组合相邻扫描，可生成比单一视场更大的拼接数据集。该系统可自动测量每个点位、对齐图像，并将它们组合成一个数据集。可以像分析任何其他结果文件一样分析结果。Apex分析软件Apex分析软件通过一套扩展的找平、过滤、台阶高度、粗糙度和表面形貌分析技术增强了该工具的标准数据分析能力。Apex支持ISO粗糙度计算方法以及当地标准，例如ASME。Apex还可以作为报告编写平台，能够添加文本、说明和通过/失败标准。Apex 支持 11 种语言。离线分析软件Zeta-300 离线软件具有与该机台相同的数据分析和程式创建功能。这使用户能够创建程式和分析数据，而不占用机时。相关产品

CALIPRI C42 非接触手持式轮轨外形轮廓测量仪作为铁路检测领域第一款完全非接触、手持式轮廓测量仪，采用激光光切技术。其独特的三条激光线相互配合可以自动补偿人为操作造成的倾斜与偏转——即获得了专利的Calipri技术。在测量时，操作者手持传感器围绕被测物体旋转，传感器通过多角度拍摄最终拟合出一条完整的轮廓线，测量软件会基于得到的轮廓线对尺寸参数进行评估，最终在平板电脑以及传感器液晶屏上显示测量数据。更重要的是CALIPRI C42 非接触手持式轮轨外形轮廓测量仪真正做到了一种解决方案解决众多铁路测量任务。从生产商的生产制造再到运营商的日常维护，针对目前国内所有型号的轮对与钢轨，CALIPRI C42已支持所有重要的轮轨测量模块，包括：车轮外形轮廓模块、车轮直径模块、车轮轮辋厚度模块、轮对内距模块、制动盘磨耗模块、车轮跳动度多边形模块，等效锥度模块；钢轨磨耗与打磨指导模块、道岔模块、轨道几何模块、磨损剥离测量模块，以及任意轮廓测量模块等。CALIPRI C42真正做到了一台测量仪器完成多种应用。技术特点01可靠的测量流程专利的、非接触式测量原理02测量结果与操作者无关03轮廓精度 +/- 15 µ m*04通过测量模块/附加组件实现多种功能05可自定义的测量报告06强大的服务团队提供支持和维修07校准板确保了精度和可用性08独立实验室对测量仪器/模块的适用性测试

Premium反复性、准确性、重现性极佳框架一体型自动镜头调整钮优秀的Capacity Sensor自动滤镜缝纫功能自动对焦功能安装2个变焦距镜头产品概要 三维表面轮廓仪利用光的干扰，可迅速，准确，并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式，不会对测量物造成任何损伤，相比共焦方式，高解像力无关倍率均可得到统一结果，与AFM相比，可在宽测量领域内快速测量。高度解像力0.1nm任何倍率下，解像力均统一测量纳米等级测量高速，高精密度，高解像力表现形象可测量透明/半透明/不透明登各种样品无需非破坏，预加工程序即可轻松测量反复性，准确性，重现性极佳应用领域主要特征测量高度，长度，段差，线，圆，弧，角度，款，宽，距离面粗糙度，线粗糙度，波形测量划痕，磨损，缺陷测量面积，大小测试原理利用光的干涉信号，将表面的形状到1nm~10cm为止，没有材料的破损，从相机中显示的全部领域，正确，检测到高强度为单位。干涉信号是在任意义的基准点中，同时出现的光在移动到不同的场景（optical path），在移动后合上的时候，用两个场景（optical path）的物理现象，是一种明亮的明亮的形态，这是干涉信号。精密的Piezo扫描高度以Piezo扫描通过Capacity Sensor进行Closed Loop整体扫描范围的0.1%呈线性通过1次校准，2次校准，提高数据可靠性Scan范围Scan范围：100um，150um, 300um, 500um, 10mm变焦镜头变焦镜头: 0.33x，0.55x， 0.75x， 1.0x，1.5x， 2.0x物镜 2.5x，5x, 10x， 20x， 50x， 100x干涉镜头干涉镜头(Michelson型) : 0.3x, 2.5x，5x干涉镜头(Mirau型): 10x， 20x， 50x， 100xMulti滤光镜多种滤光镜选择调整干涉镜头随温度变化的干涉纹样调整操作台真空操作台，选择操作台，Aligner操作台

中图仪器非接触式光学3D粗糙度轮廓仪检测仪SuperViewW以白光干涉技术为原理，针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，其复合型EPSI重建算法解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。中图仪器非接触式光学3D粗糙度轮廓仪检测仪SuperViewW不管是在粗糙或是光滑、异形或是平面结构，当要测量超出适配镜头下的单视场区域的时候，可以根据不同表面特点进行重建算法的切换。结果组成：1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；6、微电子表面分析和MEMS表征。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。中图仪器非接触式光学3D粗糙度轮廓仪检测仪SuperViewW具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外，SuperViewW具有的测量晶圆翘曲度功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪非接触式高精密测量，不会划伤甚至破坏工件：【测量小尺寸样品时】可以测到12mm，也可以测到更小的尺寸，XY载物台标准行程为140*110mm，局部位移精度可达亚微米级别，Z向扫描电机可扫描10mm范围，可测非常微小尺寸的器件；【测量大尺寸样品时】支持拼接功能，将测量的每一个小区域整合拼接成完整的图像，拼接精度在横向上和载物台横向位移精度一致；SuperViewW白光干涉仪具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精密器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。其特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：粗糙度测量案例硅晶圆粗糙度测量晶圆IC减薄后的粗糙度检测蓝宝石粗糙度测量部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VX8000非接触式高度尺寸测量闪测仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理，能一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。CNC模式下，只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。应用领域VX8000非接触式高度尺寸测量闪测仪可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。VX8000非接触式高度尺寸测量闪测仪更适用于要求批量测量或自动测量的应用场景。如电子PCB测量、五金零部件检测、橡胶圈尺寸测量、手机尺寸检测等领域，在满足产品测量精度的同时，对于操作人员要求也更低，并且软件使用更加简单便捷。大幅有效的提升了产品的检测效率，更切合追求“快"、“准"、“稳"的现代化工业尺寸测量！产品优势一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强远程数据输出功能。闪测仪外形设计充分利用空间结构，以及人性化设计理念，小巧精致，占地面积小。拍照式的测量原理有效避免了阿贝误差的产生，测量精度受现场环境、使用时间的影响较小。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野(mm)300×200（4角R50）高精度(mm)230×130高度测量（选配）可测量范围（XY）120mm×110mm孔深比（h/φ）1.5测头光点直径Φ38μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

三恩时五金在线非接触式光泽度仪YG60L是三恩时公司创新研发的在线光泽度测试仪，测试探头和被测样品非接触，实现液体、酱状物、粉末、易损物体等样品非接触测试。简洁的测头设计使得这款产品可放置于自动化生产线上任何位置，可用于油漆油墨、涂料、纸张印刷、塑胶电子、家具、陶瓷、电镀、五金、大理石等行业的在线光泽度测量和品质检验。它独特的创新设计不仅能直接从生产线上提供非接触式的测量方案，还能够保证稳定而高精度的测量结果。 三恩时在线非接触式光泽度仪YG60L特点1、非接触式测量，不破坏产品与被测平面距离10mm即可实现精确光泽度数据测量2、在线式实时监控产品光泽度开放数据接口，可进行系统集成，拓展应用范围3、数据稳定仪器重复性非常好，0-100GU测量范围内，重复性可达±0.5GU，100-1000GU测量范围内重复性达±0.5%读数 4、多模式切换支持基本模式，统计模式，连续模式，质管模式切换，适应不同应用场景。普通模式即放即测，快速读数；质管模式可自定义上下限值，实现来料快速检测5、强大PC软件支持仪器标配专用上位机软件(仅支持Windows系统)，可连接电脑进行测试，并可以将测试的数据生成测试报告 三恩时在线非接触式光泽度仪YG60L特点 产品型号YG60L 在线非接触式光泽度计测量角度60°，符合标准ISO 2813、 ASTM D 523、 GB/T 9754测量光斑(mm)60°:9X15测量量程60°:0~1000GU分度值0.1GU非接触距离非接触式距离10.0mm±0.1,样品被测面与测量口径面平行度0.2度特性可用于油漆油墨、涂料、纸张印刷、塑胶电子、家具、陶瓷、电镀、五金、大理石等行业的光泽度测量和品质检验。测试探头和被测样品非接触测试，实现液体、酱状物、粉末、易损物体等样品非接触测试。测量时间最快可达从0.2秒，可通过蓝牙或USB同其他系统进行通讯，多种通讯接口演示例程。可进行软件功能定制(根据情况评估，会产生额外定制费用)。测量模式基本模式，统计模式，连续模式，质管模式测量时间0.2秒/1秒 重复精度0~100GU:±0.5GU 100~1000GU:±0.5%GU在10mm检定工装下（确保测试距离10和平行度）间隔5秒测试准确性满足JJG 696工作光泽度仪要求自动关机时间30秒、60秒、90秒、两分钟或永不关机长时间校准具有自动检查校标标准板的功能/手动校准语言简体中文、英语、繁体中文存储数据35000条（基本模式和连续模式15000条，质管模式10000条，统计模式10000条）显示屏2.3 inch 黑白显示屏尺寸140X83X38mm重量约500g电源使用USB接口电源适配器接口USB，蓝牙5.0接口PC软件质检报告打印，更多功能扩展操作温度范围0~40℃（32~104°F）存储温度范围-20~50℃（-4~122°F）湿度小于85%RH，无凝露标准附件电源适配器、品质管理软件(官网下载或售后提供)、校正标准板、校正支架可选附件微型打印机

HYJCG-1下接触式接触轨几何尺寸检测仪 行走式接触轨检测仪 便携式接触轨多功能检测装置 非接触式第三轨参数检测仪 便携式三轨图像测量仪 接触轨测量尺 三轨尺HYJCG-1行走式接触轨检测仪自动精确、非接触动态测量接触轨与走行轨的垂直高度和水平距离，保证接触轨设备的安装精度，减少安装过程中人员劳动强度，提高劳动效率；同时也为接触轨的日常维护提供真实准确的数据参考，保证集电靴与接触轨受流稳定可靠，对地铁列车安全稳定可靠运行具有重要的意义。功能介绍1、采用非接触式测量方式，自动连续检测接触轨几何参数、端部弯头、受流面磨耗值（选配）2、对接触轨受流面及周围防护罩区域可选高清录像，能够清晰反映受流面状态3、利用定位传感器，结合线路固有信息，数据库定位技术，精确定位接触轨故障点4、设备识别和测量的时延不超过2秒，速度更快5、结构特点：设备整体采用完全一体化结构，无需拼装，减少误差，盖板展开可立即使用，设备使用前后都无需组装、拆卸任何部件；检测小车采用航空铝材，强度高，重量轻，携带方便；设备可在不调转机体的情况下转换推行方向。技术参数接触轨类型：上接触式/下接触式检测速度：0-10km/h采样最小间隔：2mm测量技术：激光图像导高测量范围：195-210mm（可调整）测量精度：士2.0m（动态）拉出值测量范围：775-790mm（可调整）测量精度：士2.0mm（动态）分辨率：±0.5mm端部弯头坡度：1:30~1:70，1%绝缘罩导高、拉出值精度：±2mm（选配）接触轨接头平整度：大于1mm报警（选配）磨耗精度：±3mm（选配）膨胀接头：自动识别3mm宽度以上的膨胀接头（可选）工作方式：连续/TTL，≤1kHz控制：11档位可实时在线调节测量稳定性：全时感知，正反向功能≤1‰，≤2%RMS光纤耦合系统，IRS微调系统，双置3XLimW及自调节适配装置，AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统：全自动连续扫描式动态测量（非人工识别、非手动界面操作、非遥控按键等方式）；手推式检测小车，实时自动或定点测量，实时动态测量及显示数据、波形图、图像和二维坐标、超限分级、报警；“高速细化+激光图像测量+脉冲触发数据采集”二级触发系统绝缘：设备主体采用铝合金，两端尼龙轮耐压绝缘。和钢轨接触的两端绝缘电阻不应小于1MΩ，严格杜绝使用过程中出现红光带/紫光带现象，也不能触发计轴器计数。走行方式：人工推行（电动驱行可选）控制系统：笔记本电脑（三防平板电脑可选）工作时间：≥4h工作温度：-20℃～50℃储存温度：-30℃～70℃尺寸：1620x380x200mm重量：≤13kg

产品概述DESCRIPTION 非接触式近红外水分仪 MS-580，是MOSYE公司开发的一款非接触式多频谱近红外水分测量仪。这款水分仪采用的多频谱近红外硬件技术和独特的算法结合数据模型结构实现在线含水率测量。是目前先进的近红外水分仪之一。 近红外水分仪 MS-580工作原理 近红外水分仪 MS-58的LED光源照射在被测产品表面，产品表面将吸收一部分近红外光线，然后将其余的光反射回测量仪的光探测器内。这部分被吸收的光称为吸收频谱，该频谱和成分含量，比如水分，具有线性关系。根据这个可以计算产品中的水分含量。 技术参数ADVANTAGE ☆ 抗干扰能力更强 不受物料颜色变化、成份变化影响； 无飞轮、滤光片等可动部件； 10年使用寿命，无需要换任何易损件。 ☆ 技术参数 环境温度：-20°C 到 +50°C 产品温度：-20°C 到 +70°C 光谱/波长范围：970, 1200, 1800和2200nm 原 理：近红外LED / 反射测量 近红外LED寿命：10年 被测量/组织成分：H2O (湿度，水分含量) 模拟输出：1 x 0/4 – 20mA 仪器尺寸：180 x 180 x 110mm 传感器尺寸：180 x 180 x 110mm 校 准：校准软件 PC 界面：串口 RS232或RS485 周围光线：不影响 产品颜色：不影响 供电电源：85 – 270 VAC 防护等级：IP67 应用领域TECHNOLOGY 行业产品： 轻工行业：洗衣粉； 烟草行业：烟丝、梗丝； 造纸行业：单张纸、纸板、纸包、纸箱等； 木材行业：木板； 钢铁行业：烧结料； 粮食行业：玉米、小麦、淀粉。 安装方式APPLICATION 可安装在：皮带机、料仓、管道

PF-60非接触式3D表面粗糙测量仪激光探头-自动对焦扫描适合各种材料的2D/3D精密量测, 尤其是透明与高反射率的材料量测, 符合国际量测规范, 是提高品管制程良率的高效实用工具一、扫描快速非接触式, 激光探头 - 自动对焦扫描 高速扫描 2D/3D 表面粗糙形貌测二、量测规范激光探头 (波长 635 纳米) - 自动对焦扫描量测技术 ( Point Autofocus Probe, PAP )，被列入国际量测规范 ISO 25178-605。隶属非接触式的 2D/3D 精密量测。PAP 技术完全吻合表面粗糙度的国际量测规范, 精确度更是优于传统技术, 是工业最可信赖的量测方法。三、使用简易, 大面积的高速量测可客制载台实时的自动连续聚焦量测, 快速移动载物台，PF-60 可量测 60x60 mm, 解析达到 0.1 微米。XY 电动扫描载台, 不受环境温度影响位移精度。可量测的样本面积为 60 x 60 mm ( PF-60 ), 也可客制载台到 6”, 8”, 12” 甚至到 600 x 600 mm 以上.四、可应用于高反率的样本量测, 透明物体的量测PF-60 使用 100x 或 50x 物镜, 在样品表面的聚光点口径仅达 0.5 µ m, 不仅连续性聚焦, 更可消除样品表面因为穿透性产生的杂光, 或者, 样品表面因为旁边材料产生的反射杂光. 进而达到精密的扫描量测., 也可应用于高反率的样本量测, 透明物体的量测。五、可连续扫描, 角度量测超过 87 度唯一的超高角度追踪量测性能, 对于复杂形貌与角度刁钻的任何材料, 皆可轻易落实精密的量测。系统配置与技术参数专业报告操作简易, 自动专业报告与管理编辑, 中文版, 并同时支持多国语言。精密量测 高速 3D大面积量测, 最大的角度量测, 提供最高精度的数据品管良率 量测符合国际量测规范, 是提高品管与制程良率的高效实用工具.高速测量晶圆的总翘曲度和波纹度 高精度测量陡峭角度的透明镜片 非球面镜片成型模具的表面钻石车削加工表面焊锡量体积和高度的3D表面评估 微透镜数组镜头表面凹凸不平的量测追踪 精密齿轮的齿面形状测量和表面精度的粗糙度评估高精度量测铣刀外部直径, 前角和超出轮廓数据的间隙角度 优越性能适合量测透明材料, 或高反射率材料, 因应样本尺寸与形貌, 可以客制化扩充机台PF-60 扩充性, 除了量测载台可客制化外, 依照用户量测需求, 可拓展机台到 NH 或 MLP 系列一般产业应用领域 : 非球面镜片测量，外形评价模具测量，粗糙度测量微距镜头，测量，测量间距液晶导光板的形状，间距晶圆 PAD 三维测量表面有划痕，缺陷测量微机电业MEMS 相关

中图仪器SJ5800接触式轮廓仪粗糙度仪器采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术， 可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子）领域精细粗糙度测量的利器。SJ5800接触式轮廓仪粗糙度仪器如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.SJ5800接触式轮廓仪粗糙度仪器具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析，方便测试。2.分辨率高达到0.1nm，系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。2.测针一键拔插，特殊设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统，0.5-3mN 测力档位可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量；对于复杂的工件，对工件任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。3.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。测量功能1.创建坐标：点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具：矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征：交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量：点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差：直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具：坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能，能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定： R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比，如标准轮廓中有标注，可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改，包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。产品特点1.纳米级光学传感器，可大量程(24mm)测量轴承圆弧沟槽表面粗糙度；2.拔插式测杆、0.5mN超低测力保护工件测量面；3.多方向运动轴保护措施，确保测针、保护仪器关键部位；4.具备轴承沟道测量功能：桃形沟尺寸、圆弧沟道、油沟形状、角度及对称度、套圈越程槽、成品轴承外圈凹槽距离、轴承滚道与挡边角度测量、倒角Ｒ及倒角尺寸，对称、非对称、对数曲线滚子凸度及滚子球基面测量功能；5.具备轴承沟道，内孔及端面表面粗糙度测量功能；6.分离式操作控制台，控制X、Z轴移动，使得测针顺利进入工件测量位置7.可将数据扫描点输出到CAD、ASCII格式文件，方便细节观察工件表面缺陷。SJ5800粗糙度轮廓仪可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量，尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测，如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数（如Ra、Rz等）、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm（标准测杆）（±12mm：两倍标准测杆）粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ；Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte；符合标准：GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002；仪器尺寸（长×宽×高）600×350×850mm仪器总重量约95Kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

涂魔师Inline在线式ATO非接触膜厚分析仪简介Inline在线式ATO非接触膜厚分析仪具有高精度、重复性好、无须破坏和接触测试等产品优势，适合检测各种形状尺寸和所有颜色（包括白色等浅色）的产品，非常适合在实际生产环境下使用。100%数据自动连续记录并实时直接传入ERP/MES系统，便于及时发现喷枪或设备故障。涂魔师ATO与传统干膜测厚仪技术对比实例视频——涂魔师Inline在线式ATO非接触膜厚分析仪点击下图查看视频；案例1：涂魔师ATO在线非接触测量立式管状铝型材膜厚案例2：涂魔师结合机械臂，对汽车轮毂进行在线非接触灵活粉末膜厚测量案例3：涂魔师 Inline 在产线上远距离隔空精准测量涂层厚度涂魔师Inline在线式ATO非接触膜厚分析仪特色原理：非接触无损测厚技术涂魔师采用先进的热光学专利技术，不同型号最长能达到100厘米距离内轻松进行非接触式涂层厚度测量。目的：生产工艺高效控制在产线前端非接触式检测固化前涂层及时得出干膜厚度，或者直接测量干膜厚度，能及时调整工艺偏差，有效降低次品率和返工率在线性及实时性连续精确测量生产线上的移动工件，适用于测量摇摆晃动、外形复杂（曲面、内壁、立体、边缘等部位）、各种颜色（不受白色等浅色限制）的工件。100%数据自动连续记录测量数据自动记录在ERP或MES系统，可统计及不间断追溯生产全过程；通过膜厚数据的统计分析，优化涂装设备消耗品的更换周期及生产工艺。及时发现生产环节及涂装设备潜在隐患通过人工干预调整仍不能达到合格范围时，能及时发现喷枪或设备故障，修复故障，提高生产效率，稳定产品质量节约高达28%的涂装材料消耗量如果现时产品的平均膜厚过厚，可以通过设备监测及时调整膜厚，节省涂料原材料及保护环境资源，有成功案例中节约了28%的涂装材料。涂魔师Inline在线式ATO非接触膜厚分析仪技术参数固化前的粉末涂料 测量范围：1-2000 微米测量时间：0.5秒允许测量距离：10 – 120 厘米（取决于涂层/基材材料 ）允许倾斜角度：±45° （取决于涂层/基材材料）相对标准偏差： 2% （测量距离为5厘米，测量铝底材上60微米的未固化粉末涂料（包括白色的所有颜色） ）被测物体移动速度：120米/分钟适合涂层颜色：所有颜色（包括白色等浅色）测量数据导出方式：自动导出

YL4560分光测色仪是一款采用45/0°(45°环形均匀照明0°接收)标准的颜色测量仪器，测试探头和被测样品非接触测试，实现液体、酱状物、粉末等非接触精密测色。可用于实验室、研发行业颜色精确分析与传递；也可用于自动化产线的精确颜色测量、色彩质量控制；在化妆品、果蔬、食品卫生、塑胶电子、油漆油墨、印刷、陶瓷等行业均有广泛应用，可用于荧光样品测量。它独特的创新设计不仅能直接从生产线上提供非接触式的测量方案，还能够保证稳定而高精度的测量结果。YL4560非接触式分光测色仪在测量过程中不会接触到样本，防止对样本的损害，同时也避免了交叉污染。 非接触式分光测色仪特点 1、非接触式、45/0几何光学结构测量物体的反射率与色度值2、可移动测量头，根据被测物实际高度上下移动3、触摸式大屏幕测量界面，实时显示测量数据，更多测量功能实现4、多种测量模式（样品、品管、连续统计模式）可选，满足个性化需求非接触式分光测色仪技术参数45/0非接触式台式分光测色仪产品型号YL4560照明方式45/0(45环形均匀照明0°接收) 符合标准CIE No.15，GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724-1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7特性台式光栅分光测色仪，测试探头和被测样品非接触测试，实现液体、酱状物、粉末等非接触精密测色。可用于实验室、研发行业颜色精确分析与传递；也可用于自动化产线的精确颜色测量、品质控制；在化妆品、果蔬、食品卫生、塑胶电子、油漆油墨、印刷、陶瓷等行业均有广泛应用。可用于荧光样品测量。照明光源全光谱LED光源,UV光源分光方式凹面光栅分光感应器256像元双阵列CMOS图像感应器测量波长范围400~700nm/10nm输出反射率测定范围0~200%测量口径Φ20mm(可定制20mm)非接触距离7.5mm样品高度0~150mm距离调整方式手动调整，自动调整(可存储测试高度)测量模式样品模式品管模式连续统计模式定位摄像头定位颜色空间CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV，HunterLAB色差公式ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00,ΔE（Hunter）其它色度指标WI(ASTM E313，CIE/ISO,AATCC,Hunter)，YI(ASTM D1925，ASTM 313),同色异谱指数MI，沾色牢度,变色牢度,力份,遮盖度观察者角度2°/10°观测光源D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2(CWF),F3,F4，F5，F6,F7(DLF),F8,F9，F10(TPL5),F11(TL84),F12(TL83/U30)显示光谱图/数据，样品色度值，色差值/图，色品图，颜色仿真，合格/不合格结果，显示容差可设置测量时间约1.5s存储数据样品模式+品管模式 40000条连续统计模式 10000条重复性分光反射率：标准偏差0.08%以内：色度值：ΔE*ab 0.03以内（预热后,以间隔5s测量白板30次平均值）台间差ΔE*ab 0.2以内（BCRA系列Ⅱ 12块色板测量平均值）测量方式单次测量，平均测量（2~99次）尺寸330*250*370mm重量约10Kg供电方式直流24V,3A电源适配器供电照明光源寿命5年大于300万次测量显示屏TFT 真彩 7inch，电容触摸屏接口USB/RS-232，蓝牙4.0语言简体中文，繁体中文,English操作温度范围0~40℃，0~85%RH（无凝露），海拔：低于2000m存储温度范围-20~50℃，0~85%RH（无凝露）标准附件电源适配器、说明书、数据线、标准校正板，黑校正盒注：技术参数仅为参考，以实际销售产品为准

这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化，其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度，避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用，并对其十分赞赏。即时膜厚测量仪---去除喷涂工作中的猜测！喷涂应用对环境条件的改变非常敏感，不达标的膜厚将直接影响喷涂产品的外观和性能。因此，快速精准地测量膜厚是质量控制的重要一环，涂魔师无接触膜厚测厚仪是适用于任何工业环境下的膜厚测量仪，采用先进的光热法（ATO），零危险排放，操作无需担心，可检测湿的未烘烤的粉末、油漆涂层、粘胶剂以及金属、橡胶上的电泳涂层。涂魔师Flex非接触式手持膜厚测量仪好在哪里？?轻松应对任何工业环境1.可检测湿的、未经固化的和固化后的粉末、油漆涂层、粘胶剂以及金属、橡胶的电泳涂层等2.无论何种工件形状与尺寸，均可显示精确读数3.非接触式无损测量，可在距离2-15cm范围内进行检测4.使用先进的光热法(ATO)，无危险物质排放，即用即显，操作方便?链接云端数据库，性能加倍1.可链接云端数据，在线分析膜厚测量数据2.可存储数据以供历史参考，或通过任何已连接的测量仪分析生产性能3.在线输出膜厚趋势、图表和报告，也可以实时直接传入ERP/MES系统，分析各班次的喷涂膜厚，优化工艺注：云端分析需连接网络/Wi-Fi远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理，测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯，测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试，Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制，可用于金属，塑料，橡胶，木材，碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外，也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计，易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量（不含电池）1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm

行业领先的非接触式色彩测量对于涂料、塑料、化妆品等工业应用领域而言，色彩的精确和一致性至关重要。无论是测量塑料零件、化妆品或是液体涂料，这款多功能、非接触式成像高精度色差仪都能加快色彩配制、生产颜色检查和质量控制工作的速度，同时还能减少浪费和返工并缩短循环时间。这对于需要变更生产色彩的环境而言尤为重要。MetaVue VS3200 非接触式成像高精度色差仪具备无与伦比的功能多用性和色彩测量准确性。产品独特的能力可以简化实验室和质量控制部门的测量工作。制造商可以利用MetaVue的非接触式成像功能在不接触仪器的情况下来测量诸如小型且形状不规则的难测样本以及液体、软膏、粉末和凝胶。优点:使用起来灵活方便，孔径尺寸从2mm到12mm，让使用者可以测量各种样本。精确的数字定位，让使用者快速方便地选择需要测量的目标区域。可储存图像样本，确保使用者能够进行测量审计跟踪并能方便地检索图像以便将来进行参考。整合入现有工作流，不必再建立新的数据库。可与爱色丽VS450和96 4数据向后兼容。MetaVue VS3200是一款直观易用的分光光度仪，配备了可伸缩的位置感知型样本定位器，可以提升用户体验而且也便于清洁。产品集成了强大的爱色丽 Color iMatch和Color iQC软件，能够进行快速、准确的色浆配制和高效的质量控制工作。产品的配件包括一个仪器支架，用于将仪器放在位于离桌面3英寸处，支架上还带有可更换托盘能滑入和滑出，便于测量软膏、粉末和液体； 一个可调节支架，用于准确测量厚度不一的样本；以及一个台式支架，将仪器转变成带有托臂的台式仪器，以便测量诸如塑料零件之类的物体。产品在购买时已经配备了绿色瓷砖和校准证书。使用可选的NetProfiler软件来验证和优化仪器性能。孔径2mm 到 12mm通信接口USB尺寸（长、宽、高）9.75" W x 7.1" H x 7.25" D湿度0%到85%（不冷凝）光斑尺寸14 mm测量期间图像接触非接触式行业标准ASTM D2244, ASTM E179, ASTM E308, ASTM E116 4, CIE 15, DIN 5033 Teil 7, DIN 5036, DIN 6174, ISO 7724, JIS Z 8722仪器显示屏无显示屏仪器台间差0.15 avg CIELAB光源全光谱LED测量循环时间 8秒测量结构45°/0° 成像分光光度仪测量光点2mm 到 12mm测量工作距离50nmSpectral Reporting10nm包装尺寸（长、宽、高）15.5" W x 11.5" H x 11.25" D光度测定范围0%到150% 反射率光度测定分辨率10nm 间隔反射孔径2mm到12mm短期可重复性 – 白色0.025 CIELAB软件开发包有光谱分析仪DRS滤色器转盘光谱范围400nm - 700nm @ 10nm间隔光谱报告400nm - 700nm @ 10nm 间隔状态面板三色LED存储温度范围-20°C到70°C设备颜色黑色和银色电压通用电源，100-240 VAC重量5.55磅

1. 英国IMETRUM公司英国Imetrum公司，2003年从英国布里斯托大学分出，成立独立的公司。公司15年致力于非接触式视频精确测量领域的研究和开发工作，使其成为这一领域的佼佼者。非接触式应变位移视频测量仪于2007年投入市场，以其非接触式、实时监测和高精度等优势，很快被广泛应用于各大院校、科学研究所和企事业单位，在国防和军工单位也有大量的客户。比如：NPL（英国国家物理实验室）AWE（英国原子武器研究所）MBDA（欧洲导弹集团）Airbus（欧洲空中客车公司）Rolls Royce（劳斯莱斯）ThyssenKrupp（蒂森克虏伯）2. 工作原理采用高分辨数字工业摄像机，并选用合适的镜头，视频测量仪器可以对小到1mm、大到超过100m的被测物进行测量。此仪器采用亚像素技术。亚像素技术，是一种图像计算方法，一般情况下，图像的最小单位是像素，即是说，图像是有一系列的像素点组成。但是，利用这种亚像素技术，可以将一个像素再进行细分，认为一个像素是有多个亚像素组成。比如：通过一种计算方法，可以把一个像素细分成10个亚像素，这样的话，可以识别的最小单位由原来的一个像素，变成1/10个像素，那么测量精度也就提高了10倍。此仪器在测量小试样的时候，可分辨1/500个像素。视频测量仪器利用英国Imetrum公司专利的图像计算方法，利用亚像素技术，可精确测量摄像机图像上目标点的位置。不需要设定专门的目标点。比如以下特征点都可以用做测量的目标点。l 自然的纹理（比如：建筑物的表面特征）l 标记笔做的标记l 喷漆产生的斑点在Imetrum视频分析软件中，用户可以任意指定一系列的目标点，系统将准确跟踪视频中这些目标点的位置，从而达到测量应变和位移的目的。3. 使用意义3.1 功能准确跟踪视频中指定的目标点的位置，一个目标点相当于一个位移传感器，两个目标点相当于一个应变传感器。2 可实时精确测量二维参数：• 位移 应变• 距离 角位移• 速度 加速度• 泊松比• 应力/应变曲线、模数（需要另外提供载荷信号）2 可实时测量多个目标点，目标点的最大数量取决于所用计算机的性能。2 可同步测量多个参数；比如：同时测量位移、变形、泊松比等等。2 可拍摄实验过程，后期对录像进行再分析。3.2 优点（与传统接触式传感器相比）非接触式应变位移测量仪与传统的传感器相比，在保证测量精度高（应变精度5个微应变，位移精度0.05微米）的情况下，可以进行： 非接触式测量 动态实时测量 同步多点测量 同步测量多个参数 此仪器可以解决接触式传感器普遍遇到的一些问题。比如：小试样、大变形、表面光滑等等。具体区别见下表： 非接触式应变位移测量仪传统传感器（如：引伸计、应变片等）性能可能遇到的问题工作方式非接触式接触式打滑（特别是在疲劳试验时）无法固定在试样上试样断裂可能损坏传感器测量对象所有材质的试样；试样尺寸范围广常规尺寸的材料特殊材料无法测量小试样无法测量大试样需要贴大量应变片测量量程任意设定标距：从几个毫米，到几米均可容易超出量程测量环境宽泛：高温、潮湿、高速等常规条件测量方向平面内任意方向多点同时测量单一方向测量不同方向需要更多的应变片可测参数位移、应变、泊松比等等一种传感器实现一种功能 非接触式应变位移测量仪，可以解决接触式传感器存在的以上问题。4. 用途及测量案例非接触式应变位移测量仪可以动态实时测量应变、位移、泊松比等等。广泛应用于：材料测试领域、结构检测领域、组合件测量领域。4.1 材料测试领域4.1.1 测量精度（材料力学测试）在材料领域里，主要是用于测量小试样的变形。广泛应用于各种力学试验机上，作为一种非接触式的多点式引伸计进行使用。这时采用材料测试专用镜头，非接触式应变位移测量仪的测量精度为： 应变：5个微应变位移：0.05微米测量误差：在拉伸机上，测量铝制试样的变形。 与传统的应变片相比，误差在0.5%。同时测量了泊松比为0.33, 铝的标准值。具有英国皇家认可委员会认证书。 4.1.2 应用领域l 各种材料的力学测试（可与试验机相连）。比如：金属、塑料、橡胶、复合材料、高分子材料、混凝土、皮革、光纤、薄膜、木材、岩土、生物材料等等l 可调整标距l 可实现测量信号的反馈控制比如：与疲劳试验机相连，实现应变信号的反馈控制。l 特殊条件下的测量：高温测量：800度以上时，可能需要滤光片 高速冲击、高频振动：需要高速摄像机 损伤和破坏性实验： 疲劳试验、测泊松比、裂纹的繁衍 等等4.1.3与各种试验机结合使用非接触式应变位移测量仪能够与试验机结合使用，可测量：应力-应变曲线 弹性模量 泊松比等等。 视频测量仪利用一个数字/模拟输入/输出模块，可以将测量数据以数字或者模拟信号的方式实时输出，以供其它设备使用。从而能够与大多数力学实验机结合使用 4.1.4 材料力学测试案例（1）小尺寸试样 优势：• 标距可调；标距可以小于1毫米。因此可以测量小尺寸试样。• 非接触式；因为采用非接触的方式进行测量，所以，安装方便，并且不会在被测物上附加任何重量，可以测量柔软的材料。 （2）压缩试验优势：n 这种材料很难使用引伸计或者应变片进行测量。n 视频测量仪可以同时测量多个部位的应变。如上图，测量4个部位的变形。 （3）疲劳试验 优势：2 视频测量仪不会出现打滑现象；传统的引伸计容易出现打滑2 视频测量仪可长时间的工作；传统的应变片无法长时间工作2 视频测量仪可实现测量信号的反馈控制。（4）高温试验测量高温试验，需要在加热炉上开观察窗，视频测量仪通过观察窗进行测量。说明：从上图中可以看到，在1000度的情况下，视频测量仪仍然可以捕捉到清晰的图像，即，视频测量仪可以完成测量工作。 （5）断裂、高速冲击力学测量非接触式应变位移测量仪与高速摄像机相结合，可用于研究断裂瞬间试样变形、高速冲击碰撞瞬间变形。非接触式视频测量仪的分析软件，可以对高速摄像机拍摄的非压缩avi格式的视频进行测量，可很容易得到实验过程中的应变和位移。下图6显示的数据来自于一个碳纤维布料在大约每秒400％的变形速度下的测试实验。此实验利用25000帧/秒的高速摄像机采集图像。 图6 与高速摄像机结合，测量变形说明：目前，测量瞬态力学是一个难题，因为需要超高的采集频率。普通的采集设备很难达到这么高的采集频率。视频测量仪为您提供了一种新的测量方法。 （6）混凝土材料 说明：上图中红色框即为被测点，同时测量7个点，可以测量每个点的水平和垂直方向的位移。说明：利用视频测量测量两个被测点（上图中两个红色框）的应变。 说明：动态测量图中4个被测点的位移。 （7）微观力学测试非接触式视频测量仪与显微镜、扫描电子显微镜（SEM）、扫描探针显微镜（SPM）相结合，可以实现纳米测量。通过采集这类显微镜下的图像，结合视频分析软件，可以对这些微观图像进行测量分析。从而达到测量变形的目的。4.2 结构监测 利用非接触式应变位移测量仪，可以测量几米甚至上百米的结构件的变形和位移。具有一下优势： 非接触式 测量精度高 多角度多点同步动态测量 可同时连接8台摄像机，即可同时对8个面进行测量。4.2.1 功能：l 24小时监测可以实现测量数据的长距离光纤传输或者无线传输。l 不定期监测可保证每次测量数据的连贯性。4.2.2监测参数：l 动态挠度l 位移、应变l 速度、加速度、弯曲度 4.2.3测量精度（大型结构监测）非接触式应变位移测量仪的测量精度和摄像机采集的视场大小有关，位移分辨率为视场大小的十万分之一，最高可达到二十万分之一。比如：采用焦距为50mm的镜头(镜头可根据实际需求，进行调配)，则测量精度为：物距/米（摄像机到被测物距离）位移测量精度（毫米）1m0.0012mm10m0.012mm100m0.12mm1000m1.2mm 4.2.4应用领域举例：l 风洞试验 振动台l 桥梁、建筑、钢结构、井架l 航空航天l 堤坝、烟囱、电站4.2.5结构监测案例（1）风洞试验在航空航天领域、土木结构领域，需要研究空气动力学、建筑桥梁抗风性能，这些都需要做风洞试验，以便在模拟的气流条件下，测量飞行器的飞行能力；或者建筑、桥梁等的抗风能力。为了减轻对风洞中气流的影响，采用非接触式的测量仪是最好的选择。非接触式应变位移测量仪可以在风洞外，透过透明的玻璃，对风洞内的被测物进行测量。采用多个摄像机，可实现多角度，多点同步测量。 （2）震动台 （3）钢结构、建筑、桥梁在测量钢结构、桥梁、建筑的时候，无需在被测物体上做标记点，因为这些大型结构表面的天然纹理就可以当做标记点。 测量距离：目测在1公里以上。 测量过程：塔吊所吊重物的下降过程，即被测点4的下降过程。利用视频测量仪可以非常方便的测量桥梁上各个点的动态挠度。4.2.6优势(a) 安装省时、简单（安装少于30分钟）非接触式应变位移测量仪是属于便携式测量仪，非常方便携带及安装。 (b) 同步测量上百个点目前，市场上有其它类型的非接触式的测量仪，但是，能够同时测量多个被测点的测量仪却非常少。 (c) 可测量X、Y两个方向上的参数视频测量仪可以测量二维平面上任何方向上的参数。 (d) 无需做标记点此仪器采用图像散斑识别技术跟踪被测点，在进行结构监测时，一般被测物表面存在灰度不均匀的纹理，这些天然的纹理就可以作为被测目标点，而无需再贴任何标记。当然，也可以贴标记点作为被测点。 (e) 测量精度高被测距离100米的时候，测量精度可达到0.12毫米。 (f) 测量数据处理简单非接触式应变位移测量仪测量得到的结果，可以以文本格式存储，可利用Excel、Original等软件进行作图或处理。 (g)可对拍摄的录像，进行后续处理，使您能够对被测物进行更为详细的分析。5. 技术指标5.1． 设备工作环境电源：交流电220V 50Hz操作系统：Windows2000/XP5.2． 工作方式非接触式5.3． 测量精度测量位移和应变的精度取决于：摄像机的有效像素和视场的大小。• 大型结构测试的分辨率（采用高分辨镜头）：1/100至1/200个像素 位移分辨率：10微米（以1米的视场为例） 应变分辨率：20个微应变• 材料测试的分辨率（用特制的材料测试专用镜头，25mm的视场）：1/500个像素 位移分辨率：0.05微米 应变分辨率：5个微应变5.4． 测量准确性仪器测量的准确性分为位移和应变两个方面。1．位移的准确性在测量位移方面，视频测量仪器与一个已校准的千分表相对比，两个设备的测量结果误差在1％。此实验有空客公司独立操作。2．应变的准确性在测量应变方面，视频测量仪器与一个已校准的应变片相对比，两个设备的测量结果误差在0.5％。5.5． 采样频率设备的采样频率取决于摄像机的拍摄频率，可根据实际需求进行调整。标准配置设备的采样频率为15Hz。5.6． 测量数据处理- 测量结果可以通过数模转换模块，与拉伸机相连。- 可以文本方式记录测试结果，便宜导入Excel，进行分析。- 可以以数据曲线的方式，实时显示测量结果。- 测量结果，数据简单，部分参数的测量，无需进行标定。5.7． 可扩展性- 系统支持8个视频通道的输入，即可同时连接8台摄像机。- 支持的摄像机端口：USB2.0以上接口或者Fireware接口5.8． 与其他设备结合使用USB数字&模拟 输入&输出模块：利用此模块，可以将外部其他设备的测量信号输入进来，也可以将此设备的测量结果以数字或者模拟信号的方式，输出给其他设备，以供外部设备使用。利用此模块可以与拉伸机或MTS机结合使用。5.9． 软件分析功能(a)实时动态分析实时同步测量多个参数。比如：同步测量不同点的位移和应变。(b)后处理功能利用设备的分析软件，可以对任何非压缩式AVI格式的视频文件，进行分析处理。6. 主要设备的技术参数整套设备包括：• 英国Imetrum视频分析软件• 视频采集部分• 其他配件 以下是主要设备的技术参数：1) 专用CCD部件性能指标：- 成像设备：1/2’’黑白 逐行扫描 CCD- 有效成像：1280×960像素- 像素尺寸：4.65mm×4.65mm像素大小- 帧率：每秒钟15，7.5，3.75，或者1.875帧。- 曝光时间：快门速度1/10000s到17.5s- 触发输入：TTL，10ms脉冲时间- 1394a Fireware接口连接电脑 2) 镜头整套设备将配备高分辨镜头和材料测试专用镜头。高分辨镜头：主要应用于测试大型结构或者组合件。高分辨镜头焦距 (mm)最小物距 (mm)最大物距 (mm)最小物距1m物距视场 (mm)位移分辨率 (μm)应变分辨率 (με)测量长度(mm)视场 (mm)位移分辨率 (μm)应变分辨率 (με)测量长度 (mm)25148.3∞35.30.35209-262382.42060-17950191.8∞22.80.23206-171191.22030-89材料测试专用镜头：专门应用于材料实验，它比高分辨镜头提供更高的分辨率和测量精度。材料测试专用镜头物距 (mm)视场(mm)最小测量长度 (mm)最大测量长度 (mm)最大异面距离 (mm)应变分辨率 (με)5432561955 3) USB数字&模拟 输入&输出此设备提供数字和模拟信号的输入和输出模拟输入：通道：16单/8双分辨率：16位电压范围：+/-0.2V到+/-10V模拟输出：通道：2 分辨率：16位 电压范围：+/-10V数字输入：通道：4 逻辑电平：TTL数字输出：通道：4 逻辑电平：TTL

非接触式超声波细胞裂解系统工作原理：非接触式超声波细胞裂解系统的超声源是来自水槽底部安装的超声波发生装置，传统的探头式超声波破碎仪，超声波引起的微流动现象只能在靠近探头的区域出现，而非接触式超声波细胞裂解系统由于在水槽底部安装了超声波发生器，使水槽完全处于超声波的作用范围内，超声作用分布广泛而平衡，降低了泡沫的形成。在实验过程中，XO非接触式超声波破碎系统自动、连续旋转离心管则使超声波的能量分布更为均匀。非接触式超声波细胞裂解系统在实验过程仲，样品分别置于独立的全密封离心管中，样本之间不存在任何交叉污染，避免了气雾的传播，增强了实验的生物安全性。非接触式超声波细胞破碎仪相比传统超声方法而言，该系统适用于具有特殊需要的反应体系，同传统接触式超声法相比在安全性、精密度、反应效率、反应边界条件和反应均匀度层面均表现突出的优势，作为样品前处理的新方法在分子生物学领域掀起了仪器行业新的革命。产品特色封闭系统，在超声过程中产生的气雾或者泡沫会扩散到环境中，造成潜在的生物危险。非接触式全自动超声破碎仪，一次可同时检测4-16个样品，实验效率高；无需频繁操作探头，各样品均在单独的全封闭试管中，避免交叉污染；超声波能量分布均匀，超声作用完全；超声参数设置灵活，实验步骤标准化，实验重复性好，结果可靠性高。 该仪器用途广泛，主要针对细胞的破碎、裂解和细胞内容物颗粒的释放，以与本公司合作的科研院所研究为例，本仪器尤其适用于腺病毒的微粒释放，制备高效价的重组腺病毒，还可以制备病毒DNA，DNA终端蛋白化合物，同时是土壤样品制备的理想仪器。已经成为CHIP（染色质免疫共沉淀）研究平台不可缺少的标准化工具。技术参数型号工作频率（KHz）超声功率（W）破碎容量（ml）占空比电源要求DYYB-R120019.5-20.51200(0.1-2ml)×41-99.9%220/110V 50Hz/60HzDYYB-R22002200(0.1-2ml)×8DYYB-R32003200(0.1-2ml)×16 非接触式超声波细胞裂解系统优越性：传统超声波破碎仪（Probe Sonicator），探头与样品直接接触，有金属离子污染，一次只能处理一个样品，实验周期长；对于多个样品，需要重复使用同一探头，容易造成样品交叉污染。由于每次探头插入样品的深度不用，每次超声的能量分布也不尽相同，影响实验结果的重复性和准确性。此外，由于不能采用封闭系统，在超声过程中产生的气雾或者泡沫会扩散到环境中，造成潜在的生物危险。非接触式超声波细胞裂解系统，一次可同时检测4-32个样品，实验效率高；无需更换操作探头，各样品均在单独的全封闭试管中，避免交叉污染；采用控温水浴，超声波能量分布均匀，超声作用完全；超声参数设置灵活，实验步骤标准化，实验重复性好，结果可靠性高。总之，该设备主要的优点有以下：（1）多样品同时处理；（2）克服了传统法易造成污染的缺陷；（3）密闭式样品处理, 不产生感染性飞雾；（4）短时间内可获得最大的样品量；（5）最大可同时处理32个样品；（6）重复性较好，实验效率高；（7）超声能量分布均匀；（8）不破坏细胞内容物的基本特性。

美国HunterLab Aeros分光测色仪配有创新的SMART智能特性如自动高度定位，旋转平台提供样品测试面积，轻触显示屏和智能通信，创新的Aeros方法来测试具不规则形状。Aeros 可以捕捉到产品像咖啡豆子，休闲食品，塑胶粿粒，甚至工业矿物测试数据，结合了非接触测量方法跟自动高度定位，样品测试面积旋转平台，和EasyMatch Essentials? (EasyMatch 精华版)嵌入式色彩质量管理软件可提供所有您需要的色度指数和度量，Aeros是套完整的智能测色系统，还有HunterLab的创新的遥距接入支援(RAS)提供无语论比的长期售后技术服务和诊断支援。Aeros分光测色仪对于测量平整均匀有规则的样品来说，大多数的测色仪都能轻松应对，但是如果是不规则、非均匀的样品呢?现在我们无需改变样品的自身状态，就能轻松检测出这类不规则的样品，我们为大家带来了这款智能化颜色检测设备--Aeros-轻巧、易操作、高准确度。产品特点：1、智能化的高度定位功能，通过高度传感器，自动监测到理想高度并检测；2、非接触式测量，避免了物理性样品接触仪器而导致的污染和损害，清洁维护也非容易。3、自动旋转测试盘，5秒高速扫描一个旋转，共35次测量可达到223.2 cm2 (34.6 inch2)，是不规则形状、复杂纹理等样品测试仪器，可以得到一个准确的，稳定的颜色数据。4、工业4.0设计，密闭设计的马达与光学系统，及长寿命的全光谱LED光源。全触控彩色显示屏，只需一键测试，简单培训即可使用。标配的 EasyMatch ESSENTIAL软件，不连接电脑，也可直接操作。测试結果可以 Email 直接传送并直接打印到独立或网络打印机，也可将数据传送到LIMS和SPC系统。5、HunterLab远程访问支持(Remote Access Support)可以让HuntLabor售后团队，直接与您的仪器连接并进行诊断问题，也可以更新仪器软件及提供现场操作员培训。6、HunterLab一直专注于研发颜色测量技术，本公司拥有超过60年的经验及智慧，Aeros 就是在这基础上研发出来的。7、HunterLab从各种仪器、软件以及培训，为用户提供完备的解决方案。9、应用于：咖啡豆、各种食品、塑料顆粒或各类不规则样品、复杂纹理样品等。智能探头智能：智能、简单、精确1、自动高度定位–确定探头与样品间的距离，然后自动调整至测量状态。2、非接触测量排除可能透过接触导致污染探头或样品。还能减少清理样品时间。能样品平台：不烦复、不费时1、简单地把样本放好就可点击测量-样本会自动在SMART智能探头下旋转–5秒，35个测量值，27.5平方英寸的样品测量面积。2、测量比任何仪器的测量面积特性能测量精度和一致性。智能显示屏：持续认知计算1、高分辨率，全色彩轻触显示屏界面；2、耐用的工业玻璃；3、轻触，刷动，键入技术；4、简易阅览色值数据和图形。智能通信：体化技术能轻易将数据发送至需要到的地方1、嵌入式EasyMatch Essentials? (Easy Match精华版)色彩质量管理软件；2、无需外接电脑；3、有您全部需要的色度，指数和度量标准；4、直接和易学的用户工作流程。智能设计：简洁井然、坚固耐用、无须费心、采用了长年无烦恼维护服务设计1、Aeros 可直接用电邮发出数据报表；2、不管在网或在离网下，可直接透过打印机打印出数据报表；3、上载数据到 (LIMS) 实验室信息管理和 (SPC) 统计流程控制系统；4、密封电机马达屏蔽箱；5、密蔽光学部件；6、仪器校正简单；7、全光谱耐用发光二极管 (LED) 光源；8、易于清理、容易维护。美国HunterLab Aeros分光测色仪智能化的创新功能，如：自动高度定位、自动旋转测试盘、全触控彩色显示屏、全功能通讯界面等等。检测不规则形状、复杂纹理等样品的色度。例如：咖啡豆、各种食品、塑料顆粒、各类不规则工业原料等，Aeros都能轻松准确的测试，由智能传感器定位到理想的样品高度并自动测量，让您的测量变的非常简单快速，全触控彩色显示屏，只需一键测试，简单培训即可使用。

非接触式超声波破碎仪非接触式超声波破碎仪它比传统的超声波破碎仪的超声振幅输出能量更大，用于无菌破碎，隔着离心管能打断染色体、破碎细胞。非接触式杯状容器（适用于处理生物危险品及有害样品）带消音压紧装置。相比传统的探头超声波处理仪，探头与样品直接接触，需要重复使用同一探头，容易造成样品交叉污染。由于每次探头插入样品的深度不同，每次超声的能量分布也不尽相同，影响实验结果的重复性和准确性。产品优点：一次可同时检测多个样品，实验效率高；无需频繁操作探头，各样品均在单独的全封闭试管中，避免交叉污染；可选配（-5~100度）低温恒温槽，便于样品在低温的水浴状态下工作，能量分布均匀，超声作用完全；超声参数设置灵活，实验步骤标准化，实验重复性好，结果可靠性高。WM-2000FJ净功率输出：2000W功率无极可调(0-100%)频 率:20-25KHz(频率自动跟踪)处 理 量：0.2ml-50mlml净 重 约：13KG控 制 器：7寸高清触摸屏控制0.1秒～999分钟可调脉冲器数字，闭循环，开循环：0.1秒～999分钟选择设定压电变频能量转换器：CV5065.PZT锆钛酸铅压电陶瓷换能器直径：65mm长 度：250mm标准配置发射头配置：准配置发射头钛合金材料：TC4固溶头部直径（随机变幅杆）：35mm电 源：220V/50HZ重 量：11KG电缆长度：150cm低温系统：0-40℃/-5-100℃外置低温冷却循环槽适配器：200u*6、2ml*4、50ml*1

非接触式超声波破碎仪非接触式超声波破碎仪它比传统的超声波破碎仪的超声振幅输出能量更大，用于无菌破碎，隔着离心管能打断染色体、破碎细胞。非接触式杯状容器（适用于处理生物危险品及有害样品）带消音压紧装置。相比传统的探头超声波处理仪，探头与样品直接接触，需要重复使用同一探头，容易造成样品交叉污染。由于每次探头插入样品的深度不同，每次超声的能量分布也不尽相同，影响实验结果的重复性和准确性。产品优点：一次可同时检测多个样品，实验效率高；无需频繁操作探头，各样品均在单独的全封闭试管中，避免交叉污染；可选配（-5~100度）低温恒温槽，便于样品在低温的水浴状态下工作，能量分布均匀，超声作用完全；超声参数设置灵活，实验步骤标准化，实验重复性好，结果可靠性高。WM-3600FJ净功率输出：3600W功率无极可调(0-100%)频 率:20-25KHz(频率自动跟踪)处 理 量：0.2ml-1200ml净 重 约：20KG控 制 器：7寸高清触摸屏控制0.1秒～999分钟可调脉冲器数字，闭循环，开循环：0.1秒～999分钟选择设定压电变频能量转换器：CV5065.PZT锆钛酸铅压电陶瓷换能器直径：65mm长 度：250mm标准配置发射头配置：准配置发射头钛合金材料：TC4固溶头部直径（随机变幅杆）：80mm电 源：220V/50HZ电缆长度：150cm低温系统：0-40℃/-5-100℃外置低温冷却循环槽适配器：200u*16、2ml*12、5ml*8、1200ml*1

非接触式超声波破碎仪 Bioruptor Plus产品描述:? 数码液晶屏显示, 具仪器寿命监控及温度过热断电保护装置? 一次最多可处理 12 支样本? 样本品在密闭容器下进行破碎动作, 不产生感染性飞雾，不需额外插入超声波探头? 样本处理时以步进马达带动适配器旋转上盖, 使适配器自动定速持续旋转, 确保样本破碎效果达到一致? 核酸样本破碎大小: 1kb~ 200bp 或更小? 两档功率选择（L, H）仪器 可 选配 适配器:? 0.65ml 适配器: 同时处理 1~12 支样本, 适用于二代测序 DNA 样本片段化实验? 1.5ml 适配器: 同时处理 1~6 支样本, 适用于 Chromatin IP 实验? 15ml 适配器: 同时处理 1~6 支样本, 适用于较大体积量的 Chromatin IP 实验与破碎细胞与细菌抽提蛋白质实验? 50ml 适配器: 同时处理 1~3 支样本, 适用于较大体积量的破碎细胞与细菌抽提蛋白质实验仪器 可 选配 电磁阀 式 冷却循环 机: 可更有效的冷却因为仪器启动造成的热, 延长仪器使用寿命,以及增进超声效率与结果的重复性. 电磁阀可与超声仪连动, 超声仪启动时暂停冷却水循环, 超声仪暂停时启动冷却水循环, 完全不扰动超声波主要功能：? 二代测序样本 DNA 片段化? 免疫共沉淀实验? 细菌细胞破碎, 蛋白质抽提? 霉菌孢子破碎? 乳化, 均质, 加速溶解, 催化反应

Impac IS 6， IGA 6 和 IGA 6/23 advanced 用于非接触式温度测量的固定数字高温计，50 至 3000°CImpac IS 6、IGA 6 和 IGA 6/23 advanced 是数字和紧凑型高温计，用于金属、陶瓷或石墨的非接触式温度测量。具有手动对焦的高端光学器件无与伦比的精度和可重复性宽的温度范围和灵活的过程适应快速响应时间四位数 LED 显示屏 概述数字 Impac IS 6、IGA 6 和 IGA 6/23 advanced 是快速红外测量仪器。高温计是金属、陶瓷或石墨的非接触式温度测量的的理想之选。该系列集成了四位数 LED 显示屏，指示当前测量温度或设定的测量距离。高温计还可以配备激光目标光、取景器或电视摄像机模块。?IS 6、IGA 6 和 IGA 6/23 可以通过 RS485 连接到 USB 连接连接到 PC，使您能够使用 InfraWin 软件进行参数调整。该软件可用于温度指示，数据记录，并进一步分析完整的温度过程。好处借助坚固的不锈钢传感器 （IP65/NEMA4），在恶劣环境中使用轻松测量快速、动态的流程通过 RS485 连接到 USB 连接连接到 PC选择激光目标光、取景器或电视摄像机模块 特征用于子范围和采用模拟输出的完整数字内核快速响应时间是 6 和 IGA 6 advanced： 120 μsIGA 6/23 advanced： 0.5 ms具有手动对焦功能的高端光学器件四位数 LED 显示屏

工作原理：非接触式超声波细胞粉碎仪采用在水槽底部安装超声波发生装置的设计，传统的探头超声波破碎仪，超声波引起的微流动现象只能在靠近探头的区域出现，而非接触式超声波细胞粉碎机由于在水槽底部安装了超声波发生器，使水槽完全处于超声波的作用范围内，超声作用分布广泛而平衡，降低了泡沫的形成。在实验过程中，非接触式超声波细胞粉碎机自动的连续旋转离心管则使超声波的能力分布更为均匀。非接触式超声波细胞粉碎机在实验过程仲，样品分别置于独立的全密封离心管中，样本之间不存在任何交叉污染，避免了气雾的传播。产品特点：1.无气雾浮质产生-增强生物安全性，用于无菌操作2.消除了样品交叉污染的危险 能隔着离心管能打断染色体、破碎细胞3.消除了传统的手持探头，固定探头的繁琐，带有消音压紧装置4.该超声波细胞粉碎仪可有效阻止样品泡沫的产生5.中文液晶显示，功率可以微调，击进方式可每次5W微调 6.该超声波细胞粉碎仪采用周期性的脉冲破碎细胞，脉冲的启动和终止时间可调，可调时间精确至0.1秒7.可处理多种样品，样品处理范围广泛8.可使用标准地可抛弃式器(PCRtubesEppendorf,1.5~50mlCorning/Falcontubes)9.超声波细胞粉碎仪可用于处理微量样品 zui少到5uL10.可一次性处理4~32个样品，需选择相应的型号11.自动的连续旋转离心管则使超声波的能量分布更为均匀，数据专一,且可以重复12.超声波细胞粉碎仪带冷却水循环槽，可选配低温冷却液循环机，避免了破碎过程中温度过高，影响病毒的感染力产品优越性：传统的探头超声波细胞粉碎机，探头与样品直接接触，有金属离子污染，一次只能处理一个样品，实验周期长 对于多个样品，需要重复使用同一探头，容易造成样品交叉污染。由于每次探头插入样品的深度不用，每次超声的能量分布也不尽相同，影响实验结果的重复性和准确性。此外由于不能采用封闭系统，在超声过程中产生的气雾或者泡沫会扩散到环境中，造成潜在的生物危险。非接触式超声波细胞粉碎机，一次可同时检测4-32个样品，实验效率高 无需频繁操作探头，各样品均在单独的全封闭试管中，避免交叉污染 采用4度水浴，超声波能量分布均匀，超声作用完全 超声参数设置灵活，实验步骤标准化，实验重复性好，结果可靠性高。产品参数：型号FJY-1500WFJY-2500WFJY-3500WFJY-5000W频率19.5-20.5KHz功率1500W2500W3500W5000W破碎容量(0.1-2ml)x4孔(0.1-2ml)x8孔(0.1-2ml)x16孔(0.1-2ml)x32孔占空比1-99%电源220/110v50Hz/60Hz我公司专业生产的非接触式超声波细胞破碎仪，拥有多年成熟的生产经验，质量保证，售后健全，一年保修，终生维护，欢迎大家咨询采购