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粉末颗粒测量

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粉末颗粒测量相关的论坛

  • 【原创大赛】颗粒粉末中杂质选别与测量

    【原创大赛】颗粒粉末中杂质选别与测量

    颗粒粉末压铸高温烧结后出现断裂缝:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112222126_340534_2100780_3.jpg经调查为压铸使用颗粒粉末中有杂质混入,故对该使用同批此乃粉末颗粒进行检测:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112222127_340535_2100780_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112222129_340537_2100780_3.jpg下图是上图颗粒粉末中杂质选别测量http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112222133_340539_2100780_3.jpg上图中被测量物表面颜色是人为渲染,以突出测量http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112222138_340540_2100780_3.jpg左右两帧为实时观察、测量对比仪器型号:KYENCE VCH1000C倍率:见各图片

  • 【讨论】细颗粒粉末激光问题

    我现在分析的细颗粒粉末激光后面老是拖尾,感觉夹粗很严重的样子,我是用水为分散介质,现怀疑是分散介质不对,感觉像样品外超后又重新凝聚,不知道应该用哪种分散介质比较好呢?我用的是马尔文2000的仪器。中粗颗粒又不会,头疼呀!哪位大师碰到这种情况或有好的分散剂分享下先!

  • 紫外光刻胶制备微米级粉末颗粒

    各位老师,同学。文献介绍说金属粉末颗粒分散在photo-resist solution AZ135O中,80℃+5h的加加热条件,然后凝结,光刻胶可以包裹颗粒。用于制备微米级粉末的TEM试样。在网上查了一下,紫外光刻胶,说AZ系列是国外的,所以请问各位,为了实现我的目的,是否有同类型的国产的紫外光刻胶可以代替AZ135O。谢谢

  • 粉体内部颗粒层间的摩擦特性主要测量方法

    [font=微软雅黑]内摩擦角表示粉体内部颗粒层间的摩擦特性,粉体内部任一点会承受四周颗粒的作用致使颗粒滑动形成相互之间的摩擦。[/font][b][font=微软雅黑]摩擦角有以下几种测量方法:[/font][/b][font=微软雅黑](1)仓流试验法(bin-flowtest):在料仓底部开有小孔,仓内粉体通过该孔自由降落,颗粒移动面与水平面的夹角,即为该粉体的内摩擦角。[/font][font=微软雅黑](2)圆棒张力实验法(rod-tensiontest):一圆棒垂直地放置于容器中心,将粉体加入容器,使粉体表面水平,然后用力拉圆棒向上移动,移动面与水平面的夹角即是内摩擦角。[/font]

  • 药厂对于粉末需要测量参数?

    提到测量粉末 主要就是从两方面入手一、粉末的粗细度分布情况,俗称粒度大小的分布情况,二、粉末的物理特性,如 分散度、凝集度、振实密度、松装密度、流动性、安息角、抹刀角、崩溃角、差角等等。 要想知道我们所测的粉体粒度的粗细度分布情况,早些年我们所采用的粒度分布仪,随着科学的发展和进步现在我们采用的大都是激光粒度仪。激光粒度仪:是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。根据能谱稳定与否分为静态光散射粒度仪和动态光散射激光粒度仪。为什么采用激光作光源? 激光是一种具有良好准直性、单色性的光源,由于它的单色性,当颗粒进入到激光束中时,可以得到清晰的光散射能谱分布,而这些能谱分布与粒径有关。国外的激光粒度仪性能虽好但价格昂贵且安装调试返修等事宜相对麻烦现国内很多激光粒度仪的厂家,并且产品性能稳定,安装调试及售后服务方便。在这里我们先推荐一款性价比及使用企业比较多的两款型号1、GJ03-S01激光粒度仪/激光粒度分布仪 2、GJ03-Z01全自动激光粒度分布仪/全自动激光粒度仪 这两款的主要区别就在于全自动激光粒度仪进样方式是采用全自动蠕动循环系统有机溶剂微量样品系统;下面我们来看一下粉体的物理特性通常根据药厂自身情况如我们其他特性无需测量 只需要测密度 那我们就单买振实密度仪或是松装密度仪,如果只测粉末的流动性那么就单配霍尔流速计就可以了,以免其他项目不测 买综合特性测试仪浪费money。如果所有的参数 :散度、凝集度、振实密度、松装密度、流动性、安息角、抹刀角、崩溃角、差角,都测 那我建议配置一台粉体综合特性测试仪。这样的话比单独一项项买省钱。综合特性测试仪国内只有为数不多的厂家生产,不想激光粒度仪的厂家那么多。这里呢我们只推荐一款供大家参考GJ03-09粉体综合特性分析仪。

  • 请教纳米粉末的Uv-vis谱的测量??

    各位大侠,最近做了点纳米颗粒,想测一下他的Uv-vis谱,以前没有测过,不知如何制样。把粉末分散在酒精里测试效果不好,请假高手如何测量??

  • 低于10nm的粉末颗粒样品

    对于粒径低于10nm的粉末样品,如何制样才能获得理想的sem图片。应当如何选择适当的分散剂,分散之后所用的载体?或者平常碰到这样的样品如何处理比较好?

  • 激光粒度仪在静电喷涂粉末涂料业的应用

    激光粒度仪在静电喷涂粉末涂料业的应用前言近年来,粉末涂料的应用范围不断扩大,应用者对粉末涂料和涂敷设备的要求也越来越高。现今除了环氧粉末外,又出现了聚酯改性的环氧粉末和聚酯粉末,这样大大提高了粉末涂膜的耐户外性能;在色彩上,目前的粉末涂料的种类更加丰富,能满足不同的需要。因此,粉末涂料已从过去的厚涂膜高性能的防腐用途发展到当前的薄涂膜华丽的装饰用途。是我国粉末涂料品种上一个质的飞跃。粉末涂料当前绝大部分采用静电喷涂工艺—粉末的冷涂敷技术热固化后成膜。粉末涂料的静电喷涂工艺,实质上包括两大部分:粉末涂料的性能和静电喷涂设备(包括喷涂工艺)。这两大部分是相互依存又是相互促进的,只有具有理想的(适合静电喷涂的)粉末涂料,又具备设备良好的静电喷涂设备,才能得到高质量的粉末涂膜。粒度分布对涂料性能的影响1、外观、流平性一般来说,粉末粒径越小,涂料固化时流平性就越好,涂膜的外观也越平整、光滑,但是粉末的带电性与粒径的平方成正比,粉末太细带电性降低,涂装施工效率就会下降,超细粉(粒径10μm时粉末涂料回收率迅速上升,并且粉末的回收率随着粒径的增大而增加。基于以上几点,可见,粉末涂料颗粒的粒度分布很大程度上影响了粉末涂料的使用性能和使用效率。因此,需要有粒度检测设备监控产品质量及协助新产品技术研发。济南微纳粒度仪应用济南微纳颗粒仪器股份有限公司开发对应粉末涂料粒度测试的Winner318分体式喷雾激光粒度仪是一款人性化的全自动激光粒度仪。此款仪器在采用夫琅禾费衍射原理和典型的平行光测试技术和频谱放大技术,在有限的空间内实现量程的大范围扩展,并添加多个辅助集成光电探测器,能有效采集测试量程所对应的各个角度的散射光,实现全量程内的测试准确度和可靠性。此外为在测试过程中避免粉末、雾滴等对镜头的污染,设计有气流保护系统,可有效保护镜头。分体式结构和可调式测试区域,满足任何场合喷雾测试的需要,具有不接触测量粉末、雾滴颗粒,不干扰流场的特点,使操作更简便、结果更稳定。此款仪器的产生顺应了涂料市场需求,着重针对静电喷涂粉末涂料的发展趋势,是涂料相关粒度测试的首选搭档和得力助手。客户应用案例北京铭捷涂装设备有限公司是一家创新型涂装科技公司,具有自动喷涂系统之设计、制造、安装、调试、服务的能力,采用全球领先的ITW Ransburg(兰氏)品牌的核心设备,自动化集成DISK(旋碟)喷涂系统、BELL(旋杯)喷涂系统、GUN(静电枪)喷涂系统等,设备成功应用于国内知名的汽车零部件、建材、家电、木器等行业。ITW Ransburg(兰氏)工业静电喷涂系统集成商。公司以满足客户需求为目标,依照产品的涂装工艺技术要求,个性化设计各种工业喷涂系统解决方案。北京铭捷公司技术力量雄厚,设有专门的技术中心负责产品质检及研发。近年来因为新型高效静电喷涂粉末涂料设备等产品的生产开发需要,与济南微纳颗粒仪器股份有限公司合作,使用Winner318分体式喷雾激光粒度仪进行工艺改进。对各相关产品粉体粒度测量中的多个影响因素进行检测研究,通过对产品的测试分析,为品质检验及优化提供技术依据。30多年来济南微纳颗粒仪器股份有限公司秉承以先进的科技技术为企业带来效益,为社会创造良好环境的理念,为各级企事业单位提供着服务,以过硬的质量和坚强的技术支持获得了广大用户的好评。

  • 【原创大赛】一堆粉末颗粒

    【原创大赛】一堆粉末颗粒

    拍摄时间:2010年12月18日样品名称:钼粉末生产厂家:FEI型号:Nova NanoSEM 230放大倍数:5K倍照明方式(模式):二次电子(SE)模式http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/10/201110020133_320717_2193245_3.jpg

  • 用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型

    用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型

    用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型任中京 王少清( 山东建材学院科研处 济南250022)提要:激光颗粒大小测试的结果与颗粒形状密切相关。通过对椭圆衍射谱的研究, 提出在激光粒度分析中以椭圆谱代替球形颗粒谱。计算机模拟计算与对金刚砂实测的结果表明椭圆衍射模型可以有效地抑制粒度反演结果的展宽, 更准确地获得非球形颗粒群的粒度分布。关键词 激光衍射, 椭圆模型, 颗粒大小分析, 颗粒形状, 反演1 引言  由于颗粒大小对粉末材料的重要影响, 颗粒粒度测试在建材、化工、石油等许多领域已经成为一种不可缺少的检测技术。由于颗粒形状的多样性, 无论何种测量方法, 均需要颗粒模型。通常假定颗粒为球体, 与被测颗粒等体积的球体直径称为粒径, 或称等效粒径 。然而球体模型在激光衍射(散射) 粒度分析技术中却遇到严重困难—对非球形颗粒测试常常产生较大误差, 表现为所测得的粒度分布较真实分布有展宽且偏小。来自日本和美国的颗粒测试报告也有相同的倾向 。从光学原理上看,激光粒度分析技术是通过检测颗粒群的衍射谱来反演颗粒群的尺寸分布的。非球形颗粒的衍射谱与球体有很大不同: 前者是非圆对称的, 而后者是圆对称的。欲使二者具有可比性需要新的物理模型, 新的模型应满足: 1) 更加逼近真实颗粒;2)对一系列颗粒有普遍的适用性;3)可给出衍射谱解析式;4)在激光测粒技术中能校正颗粒形状引起的测量误差;5)能函盖球体模型。本文将证明椭圆衍射模型是满足以上条件的最佳选择。2 非球形颗粒衍射模型的椭圆屏逼近颗粒虽然是三维物体, 但是在激光测粒技术中其横截面是使光波发生衍射的主要几何因素, 因此只需研究与入射光垂直的颗粒横截面。球体衍射模型即是取颗粒的体积等效球的投影圆作为该颗粒的衍射模型。如图1 所示, 将形状任意颗粒的横截面视为一衍射屏。可分别做出其轮廓的最大内接圆和最小外接圆。设外圆直径为2b, 内圆直径为2a。分别以2a, 2b 为长短轴做椭圆。下面将证明该椭圆屏即为与图1 所示的颗粒横截面等效的非圆屏的最佳解析逼近。2. 1非圆屏与椭圆屏的几何关系由图1 可见,与非球颗粒相对应的椭圆屏的面积S e 恰好为其横截面外接圆与内接圆面积的几何中值,而与该椭圆屏面积相等的圆( 面积等效圆) 的直径Do 恰好为其长短轴2a 与2b 的几何中值。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281105_441929_388_3.jpg此颗粒对球体的偏离可用形状系数K 表示, K 定义为:K=b/a[fon

  • 【求助】怎样做粉末样品

    现需要做一粉末样品,粉末粒度为1~5微米,脆性粉末,其内部包含有异质纳米颗粒.想看到粉末内的纳米颗粒,怎么制样?现有G1胶,请高人指点!

  • 【原创】常见粒度测量仪器的原理和性能特点(包括颗粒图像处理仪、电阻法颗粒计数器)

    本文简介:[B]颗粒图像处理仪[/B]是用显微镜放大颗粒,然后通过数字摄像机和计算机数字图像处理技术分析颗粒大小和形貌的仪器,能给出不同等效原理(如等面积圆、等效短径等)的粒度分布,能直接观察颗粒分散状况、粉体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等,并增加了详细的圆度分析功能,是其他粒度测试方法的非常有用的辅助工具,是我国现行金刚石微粉粒度测量标准的推荐仪器。适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、填料等各种末颗粒的粒度测量、形貌观察粉和分析。 [B]电阻法(库尔特)颗粒计数器[/B]是根据小孔电阻原理,又称库尔特原理,测量颗粒大小的。由于原理上它是先逐个测量每个颗粒的大小,然后再统计出粒度分布的,因而分辨率很高,并能给出颗粒的绝对数目。其最高分辨率(通道数)取决于仪器的电子系统对脉冲高度的测量精度。此文为专业普及文档,PDF文档,请用Acrobat Reader浏览相关链接:http://www.omec-tech.com/products-01-gs.html[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66309]其他常见粒度测量仪器的原理和性能特点[/url]

  • 如何测量粉末压块的模量?

    我的样品是粉末压块,是成品,所以需要测量粉末压块的模量,以确保在实际应用时保证一定的强度,请问各位高手有没有测过粉末压块的模量?有用TMA或DMA测试的吗?谢谢!

  • 如何测量粉末压块的模量?

    我的样品是粉末压块,是成品,所以需要测量粉末压块的模量,以确保在实际应用时保证一定的强度,请问各位高手有没有测过粉末压块的模量?有用TMA或DMA测试的吗?谢谢!

  • 【转帖】颗粒表征确保碾压工艺的稳定性

    在碾压过程中,颗粒分布是影响下游工艺性能和最终片剂产品质量的最为关键的参数之一。在碾压过程中使用颗粒表征,可将工艺控制参数与产品质量直接关联在一起。 使用 FBRM 颗粒表征优化碾压工艺在碾压过程中,颗粒分布是影响下游工艺性能和产品质量的最为关键的参数之一。颗粒分布会影响下列操作单元: (图) 利用碾压工艺获得稳定的后处理压片,从而保证溶出度均一和含量均匀。一个成功的工艺能生产出粒度、密度和孔隙度控制均匀的颗粒。但是,在制粒放大生产过程中由于原材料的变化或工艺的动态变化将导致不均匀性。与 Patheon 的合作证明了 FBRM® 在线具有了解设计空间和优化一系列碾压运行单元的能力,同时具有不同的垂直/水平进料速度、碾压力和粉碎速度。确定颗粒分布特征可使用户能够直接将工艺控制参数与产品质量关联在一起。通过设计稳定可靠的工艺,即能实现从干法制粒到压片一系列稳定的工艺处理。实验设计进行了 19 批次的实验设计以了解工艺参数对下游产品质量的影响。使用 FBRM® 技术来测量和控制颗粒粒数和粒度变化。将 FBRM® 探头在线3插入 Comil 下游收集漏斗,当粉末流过探针尖端时,由于压缩颗粒系统中的内嵌4 或在线5测量,可获得具有代表性的测量结果,样品量的增加会提高细小颗粒高灵敏度。在此情况下更需要使用在线测量方法6。在下游取 10 克粉末样品,并分散于 100 克矿物油中。由于浓缩了取样量,测量具有代表性。中位数(第 50 个百分位)统计中的样品重复率小于 1%。 结果碾压和粉碎后,预混分布比分布具有更少的粗颗粒(图 1)。试验 10、12、13 和 19 具有最高数量的细颗粒、高孔隙度和密度。它们也具有 4000 磅/英寸的碾压力和 1000 rpm 的粉碎速度。细粉总数是下游流动特性和可能的溶出度不均一的早期指征。试验 6 和 11 具有最高数量的粗颗粒、低孔隙度和密度。它们亦具有 8000 磅/英寸的碾压力和 2000 rpm 的粉碎速度。 统计结果对上游碾压力和粉碎速度参数的压缩孔隙度和变化而言,颗粒分布平均值、每秒钟的细颗粒 (0-50μm) 计数和粗颗粒 (200-2000μm) 数量是高灵敏度的早期指征。平均粒度和每秒钟计数的细颗粒、粗颗粒数量亦是下游流程和溶解度或崩解时限的早期指征。通常,碾压力显著影响到粉碎密度、孔隙度挤压和粉碎挤压粒径。 平均值与孔隙度相关性的关系通过实时测量颗粒粒径,可以将碾压工艺条件控制在特定的平均粒径的目标上。由于平均粒径与颗粒孔隙度相关,实时控制就能确保均匀性。 结论碾压是一种复杂工艺,存在粉碎和聚集相互竞争的机制。采用 FBRM®,可以量化关键工艺参数的影响变化并将此与粉碎参数关联在一起。通过确定这些影响,可使用工具 (FBRM®) 来减少放大时间,充分减少扰动以及可能出现的问题。在该研究中,高碾压力和粉碎速度能获得低孔隙率、低密度的粗颗粒,而低碾压力和粉碎速度导致出现高孔隙率、高密度和高数量的细颗粒。在线颗粒表征亦用于确定过筛问题、硬件故障,从而降低制造成本。 参考文献1. Sheffield Products2. Peter Greven3. Arp, Z. et al.AAPS, Atlanta, GA, 10 November 20084. Wiesweg, S. et al.Tablet Tech Seminar, Brussels; Belgium; 25 October 20075. Hu, X. et al.International Journal of Pharmaceutics 347 (2008) 54–616. Michaels J. N. et al.Powder Technology Volume 189, Issue 2, 31 January 2009, 295-303 鸣谢Arasu Kondappan(Patheon)对碾压粉碎物物理特性的检测。Diane Lillibridge(Patheon)提供统计设计方面的指导并执行统计分析。Russ Neldham(梅特勒-托利多)进行 FBRM® 测量。

  • 静电喷涂粉末涂料行业为何需要粒度测试

    涂料颗粒的粒度分布对静电喷涂粉末涂料性能的具体影响:    1、外观、流平性    一般来说,粉末粒径越小,涂料固化时流平性就越好,涂膜的外观也越平整、光滑,但是粉末的带电性与粒径的平方成正比,粉末太细带电性降低,涂装施工效率就会下降,超细粉(粒径10μm时粉末涂料回收率迅速上升,并且粉末的回收率随着粒径的增大而增加。    基于以上几点理由,可以这样说,粉末涂料颗粒的粒度分布很大程度上影响了粉末涂料的使用性能和使用效率。因此,需要有粒度检测设备监控产品质量及协助新产品新技术研发。图一是某涂料的粒度测试结果,供大家参考。粒度仪,激光粒度仪,粒度分析仪,激光粒度本文来自:http://www.omec-instruments.com

  • 单晶颗粒如何表征

    小弟目前在做粉末冶金材料,从制粉到最终烧结成型全过程都要自己完成。我制粉的方式是将铸态合金锭(铸态下晶粒尺寸基本均在200μm以上)通过机(手)械(工)研磨的方式成粉,再筛分为不同的粒度范围(在50-200μm之间)。我现在想知道,我制备的粉末是否为单晶颗粒,或者说当粉末粒度小于某一尺寸范围后,即可说明它们基本为单晶颗粒。之前类似的文献中尚无对粉末是否为单晶颗粒进行讨论,不知道应该用哪种测试手段进行分析表征,烦请各位大神不吝赐教!

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