微区电化学测试系统

光电化学电池测量系统功能 测试种类：光电化学类太阳能电池 光谱范围：300-1100nm 白光光源：模拟太阳光光源ABA级 光功率：400uW/cm2 可测量参数：电池的光谱响应度、量子效率、短路电流、I/V曲线、I/T曲线、V/T曲线测试、光功率测试、支持多种通用的电化学测量方法，如CV等 可测样品尺寸：50mmX50mm 可测样品模式：直流测试法、直流偏置光测试法 光电化学电池测量系统特点 使用模拟太阳光光源 光电化学太阳能电池专用配置方案 双光源任选，波长连续可调单色光源+全光谱太阳光模拟 三电极测试方法 一体式架构，操作更简单方便 一键式测量方法 U盘式电化学工作站： 电位范围：±5V 电位分辨率：10uV 电位零误差：100uV 全电位范围控制误差： 1mV 电流测量精度：0.1% 电流分辨率：100pA 电流范围：±50uA~±5mA 电化学工作站可扩展微电流功能，分辨率：1pA 大电流功能：1A/12V

电化学由于其在电池、燃料电池、腐蚀、合成和催化等各个领域的广泛应用而受到越来越多的关注。在电化学系统中，会发生各种复杂的过程，包括物质的吸附、解吸和扩散，表面重建，电荷转移，表面和物种之间化学键的形成或断裂以及发生在电化学界面化学反应等。因此，电化学界面的结构决定了整个电化学系统的电化学响应以及材料的性质和性能电化学的研究主要涉及电化学界面的结构、性质和性能之间的内在关系，以促进电化学设备的合理设计。电化学表征技术主要基于电信号的测量，包括电流和电势，这些方法可以根据电化学理论分析电信号来获得丰富的信息，包括界面性质的热力学和动力学信息、表面上反应物的数量以及电极的反应性。然而，由于反应物的化学指纹信息缺乏，很难在没有经验的情况下确定化学结构。另外，从整个电极表面的响应测量得到的电信号，是针对整个电极的，对于非均匀电极的结构和性能无法进行研究。因此，需要开发具有丰富化学信息和高空间分辨率（低至几个纳米）的原位表征方法，以全面了解电化学界面和过程。 电化学-针尖增强拉曼光谱（ EC-TERS）是一种具有纳米尺度空间分辨率分子指纹信息的技术，可以用于实现上述目标。 EC-TERS联用优势● 分子水平的一致性：拉曼光谱可以提供分子水平的信息，可以检测到电化学界面上的单个分子。这使得我们能够研究电化学反应的瞬间变化。● 高空间分辨率：通过使用针尖增强拉曼光谱（TERS）技术，可以在纳米探针上实现高空间分辨率。这使得我们能够研究界面的局部结构。● 可以在液体环境下工作：拉曼光谱可以在液体环境下进行测量，这对于研究电化学修饰过程非常重要。传统的电化学表征技术通常需要在干燥的条件下进行测量，而拉曼光谱可以在多孔溶液中直接进行测量。● 化学指纹信息：拉曼光谱可以提供化学指纹信息，通过分析拉曼光谱的峰位和强度，可以研究反应的中间体、吸附物和反应产物。● 非破坏性测量：拉曼光谱是一种非破坏性测量技术，不需要对样品进行特殊处理或标记。这使得我们能够对电化学界面进行实时监测。EC-TERS方案电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统系统采用倒置显微镜结构，底部激发，底部拉曼信号收集。兼容常规拉曼测试、常规电化学拉曼测试，针尖增强拉曼测试。电化学池位于XY压电位移台上，可以进行纳米级的步进移动； 探针链接XYZ压电位移台，可进行三维精细调节；从而实现探针-激光-样品三位一体。 电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统技术参数 光谱分辨率2cm-1激发光源532nm激光器，100mW633nm激光器，15mW光谱仪焦距320mm，配置3块光栅探测器≥2000*256像素，300-1000nm响应，峰值效率高于90%，芯片深度制冷到-60℃常规拉曼空间分辨率1um@XY方向

主要功能及特点 Bsae-SECM 是一套致力于研究的扫描电化学显微镜，技术源于德国波鸿鲁尔大学Schuhmann 教授课题组。Base-SECM 标准配置的功能已然十分强大，能满足绝大多数研究的需要。在这基础上，用户还可以购置不同的功能模块，以满足特殊的研究需要。 主要技术参数定位系统：XYZ 步进控制系统动态范围：25x25x25 mm（其他范围可选）最大线扫速率：10mm/s分辨率：20nm扫描模式Feedback Mode 反馈模式GC Mode 产生收集模式Direct Mode 直接模式AC-SECM 微区阻抗模式4D 模式Shearforce剪切力模式探针扫描：2D 扫描3D 扫描等间距扫描快速等间距扫描预设扫描自编辑电化学程序扫描 应用领域电化学动力学研究吸附/脱附现象和溶解过程的研究液/液界面，液/气界面，液/固界面以及重要的生物过程局部腐蚀过程观测催化剂活性评价传感器表面活性成像局部阻抗分析生物膜酶活性研究微纳米尺度的金属颗粒沉积(恒电流或无电沉积)在水或有机溶液中材料表面上导电聚合物局部沉积电化学刻蚀

仪器简介： VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。它 是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。应用： 不锈钢和铝等材料的点蚀检测、成长过程在线监测等； 有机和金属涂层缺陷和完整性研究； 金属/有机涂层界面的腐蚀的机制与检测； 有机涂层的剥离和脱落机制； 钝化处理的不锈钢焊接热影响区的电位分布；  干湿循环的碳钢和不锈钢的阴极区和阳极区的分布行为； 薄液层下氧还原反应和金属的腐蚀过程的特征； 模拟不同大气环境的腐蚀电位在线监测； 铝合金等材料在大气环境中局部腐蚀敏感性； 铝合金的丝状腐蚀(filiform corrosion)； 硅烷L-B膜修饰金属表面的结构和稳定性； 锌-铁偶合金属界面区的电位分布特征； 磷化处理锌表面的碳微粒污染检测； 检测微小金属表面的应力分布和应力腐蚀开裂； 检测金属和半导体材料微小区域的表面清洁度，缺陷，损伤和均匀程度； 研究和评价气相缓蚀剂性能； 电化学传感器；

仪器简介： VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。它 是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜 -AC-SECM 无氧化还原介质扫描电化学显微镜 -Stylus-Probe 柔性探针技术-等距离扫描电化学显微镜Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试 Ion Selective Probe (ISP) 表面离子浓度成像系统以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。应用： 不锈钢和铝等材料的点蚀检测、成长过程在线监测等； 有机和金属涂层缺陷和完整性研究； 金属/有机涂层界面的腐蚀的机制与检测； 有机涂层的剥离和脱落机制； 钝化处理的不锈钢焊接热影响区的电位分布；  干湿循环的碳钢和不锈钢的阴极区和阳极区的分布行为； 薄液层下氧还原反应和金属的腐蚀过程的特征； 模拟不同大气环境的腐蚀电位在线监测； 铝合金等材料在大气环境中局部腐蚀敏感性； 铝合金的丝状腐蚀(filiform corrosion)； 硅烷L-B膜修饰金属表面的结构和稳定性； 锌-铁偶合金属界面区的电位分布特征； 磷化处理锌表面的碳微粒污染检测； 检测微小金属表面的应力分布和应力腐蚀开裂； 检测金属和半导体材料微小区域的表面清洁度，缺陷，损伤和均匀程度； 研究和评价气相缓蚀剂性能； 电化学传感器；

仪器简介：ModuLab XM是模块化的电化学量测系统，其核心是一高速、高性能的恒电位/恒电流仪，能精准地进行控制和测量。有一系列模块供选购，以使电化学测试系统符合特殊应用所需，包括：燃料电池开发、电化学分析、纳米技术及腐蚀/涂层研究。各个选购模块进行各自独立的校正，因此增加模块到ModuLab XM系统就像&ldquo 即插即用&rdquo 般地简单!仪器的前面板可轻易取下，然后插入新的模块，而当仪器再次开机时，新的模块即可由软件快速侦测出来。 ModuLab XM系统不仅可以像&ldquo 即插即用&rdquo 般地以许多方式设定配置，而且可以由在一台仪器上从单通道升级为多通道。从一个机箱一台恒电位仪，到同一机箱搭配许多台恒电位仪，或多个机箱、每个机箱各有多台恒电位仪之扩充系统。多台恒电位仪可用一部PC作控制，或者多部PC整合到一个系统中，从而依需要控制全部恒电位仪群组。同时随时都可增加额外的恒电位仪及选购件到每个机箱内。 ModuLab XM系统运用最先进的Over-Sampling采样信号处理技术，无论使用哪种组合，且即使是在10KV/s的最大的扫描速率之下操作，都能提供超平滑的循环伏安波形。该信号发生器性能可确保待测体系不受步进与暂态杂波所干扰，因为ModuLab XM的&ldquo 平滑扫描&rdquo 就是这个意思。所使用的DSP高精度数字技术能确保在整个扫描速度范围下可有精准的波形产生与分析，而无需改变操作模式或连接。 ModuLab XM系统的每项选件都经过精心的设计，以便与核心恒电位/恒电流仪及其它选件无间隙地结合，以扩大系统控制与测量之功能，给予研究人员毫无限制的测试平台。ModuLab系统提供的软件既灵活、功能丰富，又容易使用。提供大量的实验类型可供选择，从标准的开路、循环伏安法测试到复杂的包括样品准备的多步骤顺序、高级别的实验技术及综合的阻抗分析&hellip 。ModuLab XM软件运用在实验开发所有阶段的曲线图形，所以用户可确切知道要应用什么波形到电解池上。当参数被输入软件，将显示实验运行时应用到电解池的实时波形图及连接图，使用者可检查电解池是否正确连接，并在实验开始前作好调整。软件内的连接图增强了拓展性能，使系统组态能快速简便地再配置设定，以适应任何类型的测试。软件允许自由选择数据采集模式，不管所选择的实验类型为何。例如，运行脉冲伏安实验，可选择高采样速率，如此可分析脉冲的实际形状(电压与电流)，以便在脉冲上选择最理想的测量点。 主要特点&bull 高性能&ldquo 即插即用&rdquo 模块，即可扩展功能又可扩展通道&bull 64MS/s平滑扫描-LSV、LSP、CV&bull 高达1MS/s数据采集-脉冲、CV&bull 100aA电流分辨率&bull ± 25A电流-扫描/脉冲&bull ± 100V槽压与极化&bull 10&mu &Omega 微阻抗测量&bull ＞100T&Omega 超高阻抗测量&bull 多种高速EIS技术

仪器简介：ModuLab XM是模块化的电化学量测系统，其核心是一高速、高性能的恒电位/恒电流仪，能精准地进行控制和测量。有一系列模块供选购，以使电化学测试系统符合特殊应用所需，包括：燃料电池开发、电化学分析、纳米技术及腐蚀/涂层研究。各个选购模块进行各自独立的校正，因此增加模块到ModuLab XM系统就像&ldquo 即插即用&rdquo 般地简单!仪器的前面板可轻易取下，然后插入新的模块，而当仪器再次开机时，新的模块即可由软件快速侦测出来。 ModuLab XM系统不仅可以像&ldquo 即插即用&rdquo 般地以许多方式设定配置，而且可以由在一台仪器上从单通道升级为多通道。从一个机箱一台恒电位仪，到同一机箱搭配许多台恒电位仪，或多个机箱、每个机箱各有多台恒电位仪之扩充系统。多台恒电位仪可用一部PC作控制，或者多部PC整合到一个系统中，从而依需要控制全部恒电位仪群组。同时随时都可增加额外的恒电位仪及选购件到每个机箱内。 ModuLab XM系统运用最先进的Over-Sampling采样信号处理技术，无论使用哪种组合，且即使是在10KV/s的最大的扫描速率之下操作，都能提供超平滑的循环伏安波形。该信号发生器性能可确保待测体系不受步进与暂态杂波所干扰，因为ModuLab XM的&ldquo 平滑扫描&rdquo 就是这个意思。所使用的DSP高精度数字技术能确保在整个扫描速度范围下可有精准的波形产生与分析，而无需改变操作模式或连接。 ModuLab XM系统的每项选件都经过精心的设计，以便与核心恒电位/恒电流仪及其它选件无间隙地结合，以扩大系统控制与测量之功能，给予研究人员毫无限制的测试平台。ModuLab系统提供的软件既灵活、功能丰富，又容易使用。提供大量的实验类型可供选择，从标准的开路、循环伏安法测试到复杂的包括样品准备的多步骤顺序、高级别的实验技术及综合的阻抗分析&hellip 。ModuLab XM软件运用在实验开发所有阶段的曲线图形，所以用户可确切知道要应用什么波形到电解池上。当参数被输入软件，将显示实验运行时应用到电解池的实时波形图及连接图，使用者可检查电解池是否正确连接，并在实验开始前作好调整。软件内的连接图增强了拓展性能，使系统组态能快速简便地再配置设定，以适应任何类型的测试。软件允许自由选择数据采集模式，不管所选择的实验类型为何。例如，运行脉冲伏安实验，可选择高采样速率，如此可分析脉冲的实际形状(电压与电流)，以便在脉冲上选择最理想的测量点。 主要特点&bull 高性能&ldquo 即插即用&rdquo 模块，即可扩展功能又可扩展通道&bull 64MS/s平滑扫描-LSV、LSP、CV&bull 高达1MS/s数据采集-脉冲、CV&bull 100aA电流分辨率&bull ± 25A电流-扫描/脉冲&bull ± 100V槽压与极化&bull 10&mu &Omega 微阻抗测量&bull ＞100T&Omega 超高阻抗测量&bull 多种高速EIS技术

随着全球变暖问题的持续升温，利用太阳光生产绿色清洁能源的技术在不断发展。对太阳光利用的效率是评价材料优劣的重要参数之一，尤其是对全光谱不同波长光的利用效率需要通过单色光光电转化效率来评价。泊菲莱科技推出的IPCE 1000光电化学测试系统是一套可精准测定材料单色光光电转换效率的系统，搭配高灵敏度、强抗干扰能力的锁相放大系统以及斩光系统，可对单色光光强以及光电流进行精准、稳定测量。应用领域 ▲特别适用●较为适用 ○可以使用▲ 光电化学反应过程中的光电转化效率测量▲ 电化学反应的I-V、I-t和V-t测试▲ 光对电极材料电化学行为影响的研究▲ 光电协同催化反应研究TiO2样品IPCE测试曲线样品:TiO2（二氧化钛） 工作电极：TiO2对电极：Pt电极参比电极：Ag/AgCl电极电解液：0.1 M Na2SO4溶液偏压：0.3 V产品特点灵敏度高，抗干扰能力强 IPCE 1000光电化学测试系统采用美国Standford SR830锁相放大器，对弱电流进行放大，可测量1 pA~1 mA范围内光电流；采用Standford SR540斩波器，在4~3.7 kHz宽频率范围可调，利用光电流信号与光信号的时间相关性，结合锁相放大器的滤波功能，可过滤环境光以及电流扰动的干扰，进一步提高电流检测的灵敏度。双光栅结构设计，极优的单色光准确性IPCE 1000光电化学测试系统的单色仪采用双光栅结构设计，前后狭缝0.01~3 mm可调，可确保输出单色光准确度为±0.2 nm，单色光半波带宽≤10 nm，输出光单色性显著优于光源+滤光片组合方式。波长连续可调，可测量全光谱光电转换效率IPCE 1000光电化学测试系统的单色仪波长200~1000 nm（双光栅：1200 L/mm & 600 L/mm）连续可调，最小调节波长为1 nm。与光源+滤光片组合方式相比，可以测量氙灯光源光谱范围内任意波长下的光电转换效率，尤其适用于通过改性拓宽光谱吸收范围的催化材料IPCE的测量。紫外增强设计，确保紫外响应催化剂测量的准确性IPCE 1000光电化学测试系统的光源进行紫外光增强处理，输出光强提升近20倍，可显著提高紫外区输出光谱；同时光强检测器也进行升级，将紫外区光谱响应度提升近两个数量级，确保紫外响应型催化剂测量的准确性，尤其适用于光电转换效率较低的紫外响应催化剂的测量。多种测量模式，满足不同测试需求IPCE 1000光电化学测试系统样品测试通过电化学工作站进行测试，测量模式多样化，可测定不同波长的I-V曲线，确定催化剂的光电响应偏压区间，也可测试不同偏压下的光电转换效率，还可直接用电化学工作站测定样品的LSV，I-t曲线等。开放式测试平台，适应多种实验条件IPCE 1000光电化学测试系统检测平台采用开放式模块化设计，有以下几种测试场景： 1. 可以选用标配三电极反应器进行测试光电化学IPCE测试； 2. 可选用Labsolar-6A微量气体检测系统搭配三电极反应器或双室反应器，实现IPCE和产物检测等数据的同步测量；3. 可根据自身实验需求，设计定制反应器以适配外加磁场或热场等能量场，实现多场协同下催化剂IPCE的原位测量；4. 设计定制反应器与在线红外和质谱等分析检测设备联用，实现微量产物的快速检测。本文素材来源

可控强度调制光电化学谱仪 IMPS / IMVS系统可以完成 IMPS和IMVS等多种光电化学测试功能。可控强度调制光电化学谱仪 IMPS / IMVS 采用实时闭环快速控制技术来调节和调制光强, 从而保证了光源的绝对稳定性和可靠性。 在仪器匹配的光源内装有光强传感器, 工作时系统自动比较并计算测得的实际光强与设定值的偏差并加以快速校正,这样就消除了由于光源器件的非线性、老化、以及温度漂移产生的光强输出误差。仪器还可以直接输入单位为（W/cm2）的具体数值校正光源，非常方便。札纳CIMPS光电化学系列产品的型号：CIMPS-ProZennium Pro 电化学工作站 PP212 外置恒电位/恒电流仪，用于光源强度调制和驱动 EPC42控制模块 光具座，传感器，光感放大反馈系统 CIMPS及Thales软件CIMPS-X Zennium X 电化学工作站 PP212 外置恒电位/恒电流仪，用于光源强度调制和驱动 EPC42控制模块 光具座，传感器，光感放大反馈系统 CIMPS及Thales软件CIMPS可以配置以下各种配件选件：CIMPS-abs、CIMPS-QE/IPCE、CIMPS-dtr、CIMPS-emit、CIMPS-fit，光电化学池、365nm-1550nm 智能光源 可选光源：Zahner的光电化学系统使用独特的智能LED单色光源，每一个光源都有可溯源的NIST标准的标定数据。系统自动识别每一个光源的标识芯片，标识芯片中包含光源的所有信息。光源单元具有自动过载保护功能。 CIMPS应用方法：使用Zahner 的CIMPS系统测量光电输运函数与执行电化学阻抗或循环伏安法实验一样方便。Zahner公司的Thales软件已经内置了多种标准的光电测试技术。模拟与拟合软件SIM允许用户自定义各种不同的等效电路元件以及电子输运函数，极大的降低了光电输运函数中频率依赖性关系分析的难度。CIMPS软件能够实现以下光电化学实验：静态光电压曲线/静态光电流曲线IMPS/IMVS动态光致电压效率，动态光致电流效率 填充因子(FF)，开路电压（Voc)），短路电流(Isc)，功率(Pmax)，峰值转化效率(PCE)可编辑的时域谱测量，瞬态光强度下电压，电流时间谱斩光伏安法-CLV电荷抽取等方法-Charge extraction常规电化学测量（EIS，IV等）

Modulab XM PhotoEchem光电测试系统 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线和IPCE测量 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系Modulab XM PhotoEchem集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为Modulab XM PhotoEchem。丰富的实验程序包： 为光电化学测试系统专门研发设计的专用软件套装，包括： 强度调制光电流谱（IMPS） 强度调制光电压谱（IMVS） 阻抗谱 I-V曲线 电量抽取 短路 暗室电量抽取 光电压衰减 光电转化效率（IPCE）控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多光电研究的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

Modulab XM PhotoEchem光电测试系统 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线和IPCE测量 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系Modulab XM PhotoEchem集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为Modulab XM PhotoEchem。丰富的实验程序包： 为光电化学测试系统专门研发设计的专用软件套装，包括： 强度调制光电流谱（IMPS） 强度调制光电压谱（IMVS） 阻抗谱 I-V曲线 电量抽取 短路 暗室电量抽取 光电压衰减 光电转化效率（IPCE）控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多光电研究的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

仪器简介：CS系列电化学工作站具有出色的稳定性和精确度，先进的硬件和功能完善的软件，为涉及能源、材料、生命科学、环保等领域的科技工作者提供了优秀的科研平台。具体应用于：1）电合成、电沉积（电镀）、阳极氧化等反应机理研究；2）电分析化学研究；电化学传感器的性能研究；3）新型能源材料（锂离子电池、太阳能电池、燃料动力电池和超级电容器等）、先进功能材料以及光电材料的性能研究；4）金属材料在不同介质（水/混凝土/土壤等）中的腐蚀研究与耐蚀性评价；5）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率的快速评价应用领域1）研究电化学机理；物质的定性定量分析；2）常规电化学测试，包括电合成、电镀和电池性能评价；3）功能材料和能源材料的机理和制备研究；4）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率快速评价以及氢渗测试等；5）金属材料在导电性介质（包括水/混凝土等环境）中的腐蚀电化学测试。1、硬件参数指标 恒电位电位控制范围：±10V恒电流控制范围：±2.0A电位控制精度：0.1%@Fullscale±1mV 电流控制精度：0.1%@Fullscale电位分辨率：10mV(100Hz), 3mV(10Hz)电流灵敏度：1pA电位上升时间：1mS(10mA), 10mS(2A)参比电极输入阻抗：1012W||20pF电流量程：2nA～2 A ， 共10档槽压：±21V最大输出电流：2.0ACV 和LSV扫描速度：0.001mV～10V/sCA和CC脉冲宽度：0.0001～65000s电流扫描增量：1mA @1A/mS电位扫描时电位增量：0.076mV @1V/mSSWV频率：0.001～100KHzDPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000sAD数据采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHzDA分辨率：16bit, 建立时间：1mSCV的最小电位增量：0.075mVIMP频率：10mHz~1MHz低通滤波器：8段可编程电流与电位量程：自动设置接口通讯模式：USB2.0 2、电化学阻抗功能指标 信号发生器：频率响应：10mHz~1MHz频率精确度：0.005%交流信号幅值：1mV~2500mV信号分辨率：0.1mV RMS直流偏压：-10~+10VDDS输出阻抗：50W波形：正弦波，三角波，方波正弦波失真：1%扫描方式：对数/线性，增加/下降信号分析器：最小积分时间：10mS 或者循环的最长时间最大积分时间：106个循环或者105S测量时间延迟：0~105秒直流偏置补偿：电位自动补偿范围：-10V~+10V电流补偿范围：-1A~+1A带宽调整(Bandwidth) ：自动或手动设置，共8级可调 3、CorrTest测量与控制软件主要功能稳态极化：开路电位测量（OCP）、恒电位极化（I-t曲线测试)、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP）暂态极化：任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、多电位阶跃（VSTEP）、多电流阶跃（ISTEP）计时分析：计时电位法（CP）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC）伏安分析：线性扫描伏安法（LSV）#、线性循环伏安法（CV）交流阻抗：电化学阻抗（EIS）～频率扫描、电化学阻抗（EIS）～时间扫描、电化学阻抗（EIS）～电位扫描（Mott-Schottky曲线）、恒电流阻抗测试腐蚀测量：动电位再活化法（EPR）、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试、晶间腐蚀测量电池测试：电池充放电测试、恒电流充放电、恒电流滴定GITT、恒电位滴定PITT其他：圆盘电极测试及转速控制、溶液电阻测量（IR降）、溶液电阻正反馈补偿（IR补偿） 4、仪器配置1）仪器主机1台；2）CorrTest测试与分析软件1套3）电源线、USB数据线、电极电缆线各1条4）模拟电解池1个（仪器自检器件）CS Studio测量与控制软件主要功能 功能方法CS120HCS150HCS300HCS310HCS350H稳态极化开路电位测量(OCP) ● ● ● ● ●恒电位极化(i-t曲线) ● ● ● ● ●恒电流极化 ● ● ● ●动电位扫描(TAFEL曲线) ● ● ● ● ●动电流扫描(DGP) ● ● ● ●暂态极化任意恒电位阶梯波 ● ● ● ● ●任意恒电流阶梯波 ● ● ● ●恒电位阶跃(VSTEP) ● ● ● ● ●恒电流阶跃(ISTEP) ● ● ● ●计时分析计时电位法(CP) ● ● ●计时电流法(CA) ● ● ●计时电量法(CC) ● ● ●伏安分析线性扫描伏安法(LSV)# ● ● ● ● ●线性循环伏安法(CV) ● ● ● ● ●阶梯循环伏安法(SCV)# ● ●方波伏安法(SWV)# ● ●差分脉冲伏安法(DPV)# ● ●常规脉冲伏安法(NPV)# ● ●常规差分脉冲伏安法(DNPV)# ● ●差分脉冲电流检测法(DPA) ●双差分脉冲电流检测法(DDPA) ●三脉冲电流检测法(TPA) ●积分脉冲电流检测法(IPAD) ●交流伏安法(ACV)# ● ●二次谐波交流伏安(SHACV) ● ●傅立叶变换交流伏安(FTACV) ● ●交流阻抗电化学阻抗(EIS)～频率扫描 ● ●电化学阻抗(EIS)～时间扫描 ● ●电化学阻抗(EIS)～电位扫描 ● ●腐蚀测量循环极化曲线(CPP) ● ● ● ● ●线性极化曲线(LPR) ● ● ● ● ●动电位再活化法(EPR) ● ● ● ●电化学噪声(EN) ● ● ● ●电偶腐蚀测量(ZRA) ● ● ● ●氢扩散测试(HDT)* ● ● ● ●电池测量电池充放电测试 ● ● ● ●恒电流充放电 ● ● ● ●光电测量电致调光测量* ●光谱仪测量* ●扩展测量盘环电极测试* ● ● ● ●数字记录仪 ● ● ● ● ● 注：*氢扩散及旋转盘环电极测试需配置CS1002恒电位/恒电流仪或采用CS2350双恒电位仪。*光电测量功能用户选配。伏安分析中带#号的方法包括相应的溶出伏安方法。*产品3年质保。

M370扫描电化学工作站在扫描探针电化学领域中是一个全新的概念，以超高分辨率，非接触式，空间分析电化学测量的特点而设计。M370是一个模块化的系统，可实现当今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：- 扫描电化学显微镜(SECM)- 扫描振动电极测试(SVET)- 扫描开尔文(Kelvin)探针测试(SKP)- 微区电化学阻抗测试(LEIS)- 扫描电解液微滴测试(SDS)- 非触式微区形貌测试(OSP) M370利用纳米级分辨率的快速精确，闭环x,y,z定位系统，并连同一个便捷的数据采集系统使用户依据自己的实验选择配置。此系统设计灵活且人体工程学设计方便确保池体，样品和探针的进入。 1.扫描电化学显微镜系统SECM370SECM370是一款精密的扫描微电极系统，具有极高空间分辨率，在溶液中可检测电流或施加电流于微电极与样品之间。用于检测，分析，或改变样品在溶液中的表面和界面化学性质。 应用* 研究通过膜的流量* 监测生物活性* 动力学参数确定* 影像固定化酶* 活细胞监测* 流体-流体界面* 化学成像的生物系统* 燃料电池材料的研究* 微区ISE* 表面改性* 腐蚀科学 2.扫描卡尔文探针测试系统SKP370扫描卡尔文探针系统SKP370，是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电，涂膜，或半导体材料，与样品探针之间的功函差。这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压测量样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。功函和表面状况相关。SKP的独特性质使在潮湿环境甚至是气态环境中也可以测量，将不可能研究变为现实。 应用- 能量系统- 偶极层形成- 显示技术- 电荷分析- 费米能级测定- 光电压光谱- 腐蚀- 涂层- 传感器- 太阳能蓄电池 3.扫描振动电极测试系统SVP370SVP370(SVET)扫描振动电极技术是一种非破坏性扫描，利用振动探针，测量电化学化学样品表面产生的电特性。确保用户可以实时测定和定量局部电化学反应以及腐蚀。 应用* 生物活性监测* 镀膜/涂层研究* 表面污染* 表面应力腐蚀* 丝状腐蚀* 传感器 4.微区电化学阻抗测试系统LEIS370微区电化学阻抗测试系统结合了电化学阻抗EIS技术和微区扫描技术，可以精确的测试局部微区的阻抗以及相应参数。 应用* 薄膜阻抗复杂成像* 池生长介质直接成像* 光点化合反应特征化* 电池* 传感器* 金属以及合金的钝化* 燃料池* 腐蚀 5.电解液微滴扫描系统SDS370电解液微滴系统可以限定液体与样品的接触面，从而对于液滴与样品直接接触面内的电化学和腐蚀反应进行测量。这样就可以在空间分辨率上提供电化学活性，并使其限定在样品特定量化表面。 应用* 表征表面氧化物* 涂层研究* ISFET特征化* 点腐蚀* 流速对局部腐蚀的影响 6.非触式微区形貌测试系统OSP370使用非接触式激光位移传感器，OSP370模块可快速准确地对非触表面进行高精度测量。在不接触样品表面的情况下，它可以在10mm的高度范围内提供小于1微米高度分辨率的3D表面特写影像。 配件各种可选配件，包括各种可选探针，可选池体(Environmental TriCellTM,&mu TriCellTM,和Shallow &mu TriCellTM)，长工作距离光学视频显微镜(VCAM2)和3D表面阴影渲染软件(3DlsoPlotTM)。能配置到一个特定的应用程序并升级，使M370独特灵活，同时保持顶端的性能。

Modulab XM PhotoEchem光电测试系统 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。 Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点：● 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线和IPCE测量；● 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者；● 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查；● 长期稳定的卓越热效管理的光源，提供一系列的高亮度单色LED光源；● 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法；● 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压；● Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术；完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系 Modulab XM PhotoEchem集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为Modulab XM PhotoEchem。丰富的实验程序包：为光电化学测试系统专门研发设计的专用软件套装，包括：● 强度调制光电流谱（IMPS）● 强度调制光电压谱（IMVS）● 阻抗谱● I-V曲线● 电量抽取 短路电量抽取 暗室电量抽取● 光电压衰减● 光电转化效率（IPCE） 控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多光电研究的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

Modulab XM PhotoEchem光电测试系统 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。 Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点：● 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线和IPCE测量；● 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者；● 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查；● 长期稳定的卓越热效管理的光源，提供一系列的高亮度单色LED光源；● 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法；● 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压；● Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术；完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系 Modulab XM PhotoEchem集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为Modulab XM PhotoEchem。丰富的实验程序包：为光电化学测试系统专门研发设计的专用软件套装，包括：● 强度调制光电流谱（IMPS）● 强度调制光电压谱（IMVS）● 阻抗谱● I-V曲线● 电量抽取 短路电量抽取 暗室电量抽取● 光电压衰减● 光电转化效率（IPCE） 控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多光电研究的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

Modulab XM DSSC 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系ModuLab XM DSSC集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为ModuLab XM DSSC。丰富的电化学测试软件包括： 循环伏安（阶梯和线性扫描） 电位阶跃法 常规和差分脉冲 电位控制/电流控制阻抗（单波或多波/快速傅立叶转换分析） 交流伏安控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多DSSC的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

Modulab XM DSSC 是一套可表征染料敏化电池的整体集成式光学测试系统。而且该体系可用于可见光谱-光电化学领域的研究，例如，氧化铁催化光解水等。Solartron Analytical作为超过二十年的行业领导者，认识到许多仪器使用者对仪器技术本身并不很熟悉，因此推出此产品的核心理念是对海量数据的分析实现“一键式”操作，研发并提供综合成套的技术解决方案。而对于有经验的使用者，ModuLab提供了功能强大的实验步骤设置软件，用户可自行建立和发展最适合的新的实验方案。该系统具有以下特点： 频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线 对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。 带有NIST(美国国家标准与技术研究院测试标准)可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查 长期稳定的卓越热效管理的光源 提供一系列的高亮度单色LED光源 软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法 辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压 Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术 完美兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能不仅是一个光电化学测试体系ModuLab XM DSSC集合了功能强大的ModuLab频率响应分析（FRA）和恒电位仪技术。现有Modulab 系统通过配备选项卡和光学工作台即可升级为ModuLab XM DSSC。丰富的电化学测试软件包括： 循环伏安（阶梯和线性扫描） 电位阶跃法 常规和差分脉冲 电位控制/电流控制阻抗（单波或多波/快速傅立叶转换分析） 交流伏安控制光学平台进行以上测试技术可以使研究人员开发出更多DSSC的测试技术。 如需了解更多关于ModuLab XM恒电位仪及频率响应分析（FRA）技术，请参阅ModuLab样本。

仪器简介： CS系列电化学工作站具有出色的稳定性和精确度，先进的硬件和功能完善的软件，为涉及能源、材料、生命科学、环保等领域的科技工作者提供了优秀的科研平台。具体应用于：1）电合成、电沉积（电镀）、阳极氧化等反应机理研究；2）电分析化学研究；电化学传感器的性能研究；3）新型能源材料（锂离子电池、太阳能电池、燃料动力电池和超级电容器等）、先进功能材料以及光电材料的性能研究；4）金属材料在不同介质（水/混凝土/土壤等）中的腐蚀研究与耐蚀性评价；5）缓蚀剂、水质稳定剂、涂层以及阴极保护效率的快速评价。 1、硬件参数指标 恒电位电位控制范围：±10V恒电流控制范围：±2.0A电位控制精度：0.1%@Fullscale±1mV 电流控制精度：0.1%@Fullscale电位分辨率：10mV(100Hz), 3mV(10Hz)电流灵敏度：1pA电位上升时间：1mS(10mA), 10mS(2A)参比电极输入阻抗：1012W||20pF电流量程：2nA～2 A ， 共10档槽压：±21V最大输出电流：2.0ACV 和LSV扫描速度：0.001mV～10V/sCA和CC脉冲宽度：0.0001～65000s电流扫描增量：1mA @1A/mS电位扫描时电位增量：0.076mV @1V/mSSWV频率：0.001～100KHzDPV和NPV脉冲宽度：0.0001～1000sAD数据采集：16bit@1MHz, 20bit @1KHzDA分辨率：16bit, 建立时间：1mSCV的最小电位增量：0.075mVIMP频率：10mHz~1MHz低通滤波器：8段可编程电流与电位量程：自动设置接口通讯模式：USB2.0 2、电化学阻抗功能指标 信号发生器：频率响应：10mHz~1MHz频率精确度：0.005%交流信号幅值：1mV~2500mV信号分辨率：0.1mV RMS直流偏压：-10~+10VDDS输出阻抗：50W波形：正弦波，三角波，方波正弦波失真：1%扫描方式：对数/线性，增加/下降信号分析器：最小积分时间：10mS 或循环的最长时间最大积分时间：106个循环或者105S测量时间延迟：0~105秒直流偏置补偿：电位自动补偿范围：-10V~+10V电流补偿范围：-1A~+1A带宽调整(Bandwidth) ：自动或手动设置，共8级可调 3、CorrTest测量与控制软件主要功能稳态极化：开路电位测量（OCP）、恒电位极化（I-t曲线)、恒电流极化、动电位扫描（TAFEL曲线）、动电流扫描（DGP）暂态极化：任意恒电位阶梯波、任意恒电流阶梯波、多电位阶跃（VSTEP）、多电流阶跃计时分析：计时电位法（CP）、计时电流法（CA）、计时电量法（CC）伏安分析：线性扫描伏安法（LSV）#、线性循环伏安法（CV）、阶梯循环伏安法（SCV）#、方波伏安法（SWV）#、差分脉冲伏安法（DPV）#、常规脉冲伏安法（NPV）#、常规差分脉冲伏安法（DNPV）#、差分脉冲电流检测法（DPA）、双差分脉冲电流检测法（DDPA）、三脉冲电流检测法（TPA）、积分脉冲电流检测法（IPAD）、交流伏安法（ACV）#、二次谐波交流伏安（SHACV）、傅里叶变换交流伏安（FTACV）（标#号的方法包括相应的溶出伏安分析方法）交流阻抗：电化学阻抗（EIS）～频率扫描、电化学阻抗（EIS）～时间扫描、电化学阻抗（EIS）～电位扫描（Mott-Schottky曲线）、恒流阻抗测试腐蚀测量：动电位再活化法（EPR）、电化学噪声（EN）、电偶腐蚀测量（ZRA）、氢扩散测试、晶间腐蚀测量电池测试：电池充放电测试、恒电流充放电、恒电流滴定GITT、恒电位滴定PITT其他：圆盘电极测试以及转速控制、溶液电阻测量（IR降）、溶液电阻正反馈补偿（IR补偿） 4、仪器配置1）仪器主机1台；2）CorrTest测试与分析软件1套3）电源线/USB数据线各1条4）电极电缆线（含噪声测量线）1条5）模拟电解池1个（仪器自检器件）

仪器简介：输力强设计和制造精密和快速电化学测量仪器，主要包括各种恒电位／恒电流仪、阻抗分析仪、多路转换器、多通道恒电位／恒电流仪、多路阻抗分析仪以及Zplot/CorrWare电化学阻抗综合测试分析软件。技术参数：1260 使用了输力强公司的专利单正弦波相关技术，可消除所困扰的噪声及 谐波失真干扰。 􀁺 *频率分辨率六千五百万分之一即百万分之0.015； 􀁺 *0.1% 0.1 度的精度，是其他类似仪器无法比拟的； 􀁺 *分辨率达到0.001 分贝0.01 度，可捕捉测量中每一个细节； 􀁺 *2、3、4 端电极测量配置； *极化电压达40.95 伏； 1287恒电位/恒电流仪： *极化电流：2A；极化电压：+/-14.5V； *电压/电流测量分辨率：1 V/1pA； *阻抗频率：10µ Hz~1MHz(与1260或1255配套)主要特点：恒电位仪： 输力强恒电位仪具有双高精度数字采集系统，可同时测量电压和电流数据；用输力强公司的专利：脉宽转换技术，它们使仪器在整个量程范围内达到了高精度、高线性度及高稳定性；1287有优秀的测量精度及分辨率，参考电极电压精度达到1µ V，工作电极电流精度达到1pA，这使得1287对应用于电化学噪声或者在信号电平极低场下测量成为理想的选择。采用有源屏蔽技术以减少电缆等杂散阻抗的影响；浮点测量方式可以用于地下管线和高压釜等；提供2、3、和4电极测量模式， 􀁺 2-端技术用于对一般的材料及电化学测量；􀁺 3-端技术用于腐蚀及涂层等测量；􀁺 4-端测量技术用于精确表征电池/燃料电池，使导线电阻、电缆阻抗效应减至最小。 EIS电化学阻抗谱： 阻抗材料属于小扰动、无损测量技术，对各种化学和物理性能有很高的灵敏度。可为有机涂层、腐蚀缓蚀剂、传感器、电池、燃料电池及其相关材料性能研究等众多应用研究提供有价值的信息。EIS系统主要由恒电位／恒电流仪、频响分析仪以及必要的阻抗分析软件构成。 1287电化学界面在频响的均匀度和线性度上具有无可比拟的优势。输力强公司的频响仪采用了单正弦相关算法具有出色的噪声和谐波抑制能力。该技术尤其在电化学应用中有用因为通常信号电平极低（毫伏量级）而且不可避免被噪声所淹没。将1287/1260或1255联用有可能表征测量池的各类阻抗。在做高频阻抗测量时，输力强公司的有源屏蔽技术将不希望的电缆阻抗效应降到最小使1287可以应用到整个10µ Hz到1MHz频率量程。1287设计成既可进行直流测试又可进行交流阻抗测量：来自频响分析仪或阻抗谱分析仪内部发生的波形能叠加到极化信号上。 电化学软件： CorrWare/ZPlot 软件包是专门为各种电化学测试而设计的，包括： 􀁺 *阻抗（如控制电压或电流的电化学阻抗、AC伏安、Mott-Schottky分析、介电特性、谐波分析）； 􀁺 *恒电位/恒电流技术； 􀁺 *循环伏安； 􀁺 *方波、阶跃技术； 􀁺 *电化学噪声等几十种相关电化学测试技术。 CorrWare 和 ZPlot 对常规电化学、腐蚀、电池、燃料电池、超级电容器等应用研究等是一个理想的工具。 软件可供实时分析、多重显示格式及常用的曲线拟合工作。

仪器简介：输力强设计和制造精密和快速电化学测量仪器，主要包括各种恒电位／恒电流仪、阻抗分析仪、多路转换器、多通道恒电位／恒电流仪、多路阻抗分析仪以及Zplot/CorrWare电化学阻抗综合测试分析软件。技术参数：1260 使用了输力强公司的专利单正弦波相关技术，可消除所困扰的噪声及 谐波失真干扰。 􀁺 *频率分辨率六千五百万分之一即百万分之0.015； 􀁺 *0.1% 0.1 度的精度，是其他类似仪器无法比拟的； 􀁺 *分辨率达到0.001 分贝0.01 度，可捕捉测量中每一个细节； 􀁺 *2、3、4 端电极测量配置； *极化电压达40.95 伏； 1287恒电位/恒电流仪： *极化电流：2A；极化电压：+/-14.5V； *电压/电流测量分辨率：1 V/1pA； *阻抗频率：10µ Hz~1MHz(与1260或1255配套)主要特点：恒电位仪： 输力强恒电位仪具有双高精度数字采集系统，可同时测量电压和电流数据；用输力强公司的专利：脉宽转换技术，它们使仪器在整个量程范围内达到了高精度、高线性度及高稳定性；1287有优秀的测量精度及分辨率，参考电极电压精度达到1µ V，工作电极电流精度达到1pA，这使得1287对应用于电化学噪声或者在信号电平极低场下测量成为理想的选择。采用有源屏蔽技术以减少电缆等杂散阻抗的影响；浮点测量方式可以用于地下管线和高压釜等；提供2、3、和4电极测量模式， 􀁺 2-端技术用于对一般的材料及电化学测量；􀁺 3-端技术用于腐蚀及涂层等测量；􀁺 4-端测量技术用于精确表征电池/燃料电池，使导线电阻、电缆阻抗效应减至最小。 EIS电化学阻抗谱： 阻抗材料属于小扰动、无损测量技术，对各种化学和物理性能有很高的灵敏度。可为有机涂层、腐蚀缓蚀剂、传感器、电池、燃料电池及其相关材料性能研究等众多应用研究提供有价值的信息。EIS系统主要由恒电位／恒电流仪、频响分析仪以及必要的阻抗分析软件构成。 1287电化学界面在频响的均匀度和线性度上具有无可比拟的优势。输力强公司的频响仪采用了单正弦相关算法具有出色的噪声和谐波抑制能力。该技术尤其在电化学应用中有用因为通常信号电平极低（毫伏量级）而且不可避免被噪声所淹没。将1287/1260或1255联用有可能表征测量池的各类阻抗。在做高频阻抗测量时，输力强公司的有源屏蔽技术将不希望的电缆阻抗效应降到最小使1287可以应用到整个10µ Hz到1MHz频率量程。1287设计成既可进行直流测试又可进行交流阻抗测量：来自频响分析仪或阻抗谱分析仪内部发生的波形能叠加到极化信号上。 电化学软件： CorrWare/ZPlot 软件包是专门为各种电化学测试而设计的，包括： 􀁺 *阻抗（如控制电压或电流的电化学阻抗、AC伏安、Mott-Schottky分析、介电特性、谐波分析）； 􀁺 *恒电位/恒电流技术； 􀁺 *循环伏安； 􀁺 *方波、阶跃技术； 􀁺 *电化学噪声等几十种相关电化学测试技术。 CorrWare 和 ZPlot 对常规电化学、腐蚀、电池、燃料电池、超级电容器等应用研究等是一个理想的工具。 软件可供实时分析、多重显示格式及常用的曲线拟合工作。

集50年电化学工作站软硬件研发及生产先进经验的普林斯顿应用研究，即将在2013年6月份正式上市PARSTAT™ MC多通道电化学工作站。 每个PARSTAT MC主机箱可以配置多达8个独立的通道。每个通道的电化学工作站卡都标准提供多种强大功能。 8个通道可以同时同步地进行平行实验，既可以进行不同电化学池中不同实验设置的测试，又可以在同一电化学池的同一环境条件下，进行多个工作电极的测试。通道数可根据需求购买，并可以随时添加。任一一个通道的拆卸和安装都可以在其他通道测试过程中进行，完全不干扰正在进行的测试实验，并且用户可自行进行更换。 这种设计的优点在于用户可以根据预算定制需要的通道，在今后的使用中，不需要添加昂贵的费用，就可以增加工作通道，提高工作效率。 PARSTAT MC 主要特点:强大模块设计PMC-500模块：500mA~2μAPMC-1000模块：2 A ～ 4 nA (120 fA 分辨率)PMC-2000模块：+/-30V极化电位及槽压 10μHz~7MHz 交流阻抗频率扫描范围 1MS/s数据采集速率。6线辅助分压测试，可方便进行电池组，阴阳极同时测试。任何一个通道的安装和拆卸，完全无需打断其他通道的实验快速数据采集速度达 500 kS/sec，适用于快速实验采用功能强大的电化学数据采集和分析软件VersaStudio标准浮地功能，使同一化学池中多个样品的测试成为可能。

集50年电化学工作站软硬件研发及生产先进经验的普林斯顿应用研究，即将在2013年6月份正式上市PARSTAT™ MC多通道电化学工作站。 每个PARSTAT MC主机箱可以配置多达8个独立的通道。每个通道的电化学工作站卡都标准提供多种强大功能。 8个通道可以同时同步地进行平行实验，既可以进行不同电化学池中不同实验设置的测试，又可以在同一电化学池的同一环境条件下，进行多个工作电极的测试。通道数可根据需求购买，并可以随时添加。任一一个通道的拆卸和安装都可以在其他通道测试过程中进行，完全不干扰正在进行的测试实验，并且用户可自行进行更换。 这种设计的优点在于用户可以根据预算定制需要的通道，在今后的使用中，不需要添加昂贵的费用，就可以增加工作通道，提高工作效率。 PARSTAT MC 主要特点:强大模块设计PMC-500模块：500mA~2μAPMC-1000模块：2 A ～ 4 nA (120 fA 分辨率)PMC-2000模块：+/-30V极化电位及槽压 10μHz~7MHz 交流阻抗频率扫描范围 1MS/s数据采集速率。6线辅助分压测试，可方便进行电池组，阴阳极同时测试。任何一个通道的安装和拆卸，完全无需打断其他通道的实验快速数据采集速度达 500 kS/sec，适用于快速实验采用功能强大的电化学数据采集和分析软件VersaStudio标准浮地功能，使同一化学池中多个样品的测试成为可能。

优势特点 氙灯光源为全光谱光源，光谱覆盖范围为200-2500nm，又有与太阳光相匹配的光谱吸收，应用范围非常广泛。在光化学、电化学、光电测试、光物理测试等方面除了全光谱的需求外，还需要连续的单色光用于科学研究，为了满足多数科研工作者的要求，中教金源公司采用公司现有的各种氙灯光源（光催化氙灯CEL -HX、模拟日光氙灯CEL-S500,S150），匹配多种单色仪开发出了系列波长可调氙灯光源，实现的波长连续可调，应用到光电测试，IPCE计算等多领域中。产品应用 可调单色光源覆盖了紫外区、可见区、红外区，可选光源有很多种，可选光源有氘灯、碘钨灯、氙灯光源、汞灯光源等，其中氙灯应用广泛，并且具有连续的的全光谱。规格参数型号配置输出光强输出光谱nm应用CEL-SLA可调单色光源CEL-S500氙灯 光源+单色仪+配件连续输出2.00 mw/cm2200-1600nm单色光半波带宽1-20nm光电测试、电化学分析、光催化及IPCE测试CEL-SLF可调单色光源CEL-HXF300氙灯 光源+单色仪+配件连续输出10.00 mw/cm2200-1600nm单色光半波带宽1-20nm光电测试、电化学分析、光催化及IPCE测试CEL-SLB可调单色光源光源+滤光片多点输出200.00 mw/cm2200-1600nm单色光半波带宽10-20nm光催化及IPCE测试

优势特点 半导体材料光电催化反应在具有不同类型（电子和离子）电导的两个导电体的界面上进行的一种催化过程，同时具有光催化和电催化的特点。光电催化法近年来日益受到重视的废水处理技术、光解水制氢、CO2催化还原为有机物、固氮成氨等，在光照和外加电场的作用下，电子-空穴对得到有效分离，从而提高催化效率的作用。 CEL-SLF-Vertex光电化学测试分析系统为中教金源自主研发的光电催化系统，可配合美国Admiral，德国Zahner，PINE，CHI等电化学工作站，系统可二次升级开发，解决客户定制化要求。光电催化系统可实现波长的连续可调，应用材料表征、光电测试、电化学分析、光催化及IPCE测试等多领域中。CEL-SLF-Vertex光电化学测试分析系统的技术参数及优势1)光源稳定性好，优于0.5% ；集成度高，系统整合在一块光学平板上，光路稳定且便于运输；2)光路经过优化，达到的光输出效率50mw/cm2 光谱范围300-1600nm，输出带宽连续可调，0.1～30nm；3)单色仪配有充氮气专用口，便于在紫外和近红外有大气吸收谱的波段范围内使用；光学室和机械传动室严格分开，避免后者产生杂散光及润滑油微量挥发对光学件的污染；单色仪机体为铸件一体结构，保证光学系统稳定性。4)电脑软件可实现氙灯光源、单色仪、滤光片轮、快门、光功率计和电化学工作站的实时在线控制及数据采集；5)自动快门Shutter用于控制照射时间（0.1ms）,DK25；屏蔽暗室30cm*30cm*35cm，可调高度；6)反应池可选中教金源PECK系列光电反应池，并标配适用电极；7) 标配Admiral Squidstat Plus电化学工作站，强大的软件功能实现电化学功能的全覆盖，尤其在交流阻抗EIS测试，并可实现二次开发升级。8)标配CEL-HXF300/HXUV300系列氙灯光源，即可单独使用，也可以配合滤光片实现光电催化实验。9)光源可调部分覆盖了紫外区、可见区、红外区，可选光源有很多种，可选光源有氘灯、碘钨灯、氙灯光源、汞灯光源等，其中氙灯应用很广泛，并且具有连续的的全光谱。CEL-SLF-Vertex光电化学测试分析系统 配置 光源CEL-PF300-T8系列氙灯光源、CEL-S500系列氙灯光源、卤钨灯光源单色仪CEL-IS151双光栅扫描单色仪、CEL-IS302三光栅扫描单色仪滤光片轮电动滤光片轮IFW6配件光学水平底板、耦合接头、汇聚透镜、封闭光路套筒等快门自动快门Shutter用于控制照射时间（0.1ms）,DK25样品暗室样品屏蔽暗室30cm*30cm*35cm反应池PECK系列光电反应池电极电极夹、工作电极、参比电极、定制电极电化学工作站美国Admiral，德国Zahner，PINE，CHI等电化学工作站常用可选配件，系统中有很多辅助配件可以帮助系统更方便的完成光电分析。 1）CEL-NP2000强光光功率计/CEL-FZ-A功率计用于监控输出光的光功率密度2）AULTT-P4000 光纤光谱仪 用于监测输出光的光谱3）自动快门 Shutter用于控制照射时间4）三维四探针样片台用于放置样品，并精确调整距离5）5mm液晶光纤/石英光纤用于单色光的引出照射6）定制光学暗箱 用于摒弃杂散光的影响和电磁屏蔽7）光学小平台 用于调整系统中各仪器的高度使光路水平8）电化学工作站电信号数据采集9）各种电化学反应池 用于光电反应

CEL-PECX2000氙灯光电化学测试系统，可以提供强光下的单色光输出，实现自动更换滤光片、调整光斑大小、电磁快门、标配多功能光电池、样品池水平自动调节等功能，采用PLC工控，触屏软件统一反控控制调节，实现光电化学的测试分析。主要应用于光电催化PEC、电化学分析、染料敏化电池、催化剂及材料光电性能评价分析等领域。 CEL-PECX2000氙灯光电化学测试系统可应用于各种光电化学反应的研究，如研究光激发分子或离子在激发态时的氧化还原反应现象、规律及应用；研究光直接影响电极过程的电化学、光能与电能和化学能的转换测量；光电化学电池的光电转化测量；光电化学合成和富集等。 产品优势1)采用300W高稳定氙灯光源，实现全波段输出，解决了氙灯的强热量问题；2) 配置滤光片轮，实现滤光片自动更换；3)电化学池可实现三维调节，水平自动调节，4)ITO电极、玻碳电极实现即插即用；5)全系统采用PLC控制；6)整个光路全封闭无任何外界干扰；7) 系统温度和反应器温度实时监控。 部分波长(未加透镜)nm365405420435450500550600670730850参考光功率密度mw/cm280467373373347387360347427400293 CEL-PECX2000氙灯光电化学测试系统技术参数规格参数光源300W氙灯光源（CEL-PF300-T8）光路光路采用全封闭设计，样品室与光路一体成型，无任何漏光点。滤光片20个可选波长，自由变换。标配自动更换滤光片，（φ25.4）10片常用滤光片：365nm、405nm、420nm、450nm、475nm、500nm、520nm、550nm、600nm、650nm标配手动更换滤光片，（M62）10片特种滤光片：334nm、350nm、380nm、435nm、578nm、630nm、670nm、700nm、730nm、765nm单色光光强连续可调，可见区单色光输出能量300mw/cm2，出光口25mm，可调光阑调节1-20mm温度采用双点控温，系统温度和反应池温度，实时监控屏幕显示快门自动快门Shutter用于控制照射时间（0.1ms）样品池ITO电极、玻碳电极实现即插即用，标配辅助电极样品台三维调节，水平自动调节240mm配件光学水平底板、耦合接头、汇聚透镜、封闭光路套筒、方形光斑出口屏幕7寸触摸屏控制，内部采用PLC控制选配美国PINE、美国艾德茂、德国札纳、CHI电化学工作站；CEL-FZ-A/NP2000光功率计 P4000 光纤光谱仪；PECK125、PECK45S可控温光电池 标配多功能光电化学池

一、超分辨电化学显微镜的关键作用当前，超高时间&空间分辨率的化学反应测量已经成为能源、材料、催化、环境与生命科学等众多领域的关注焦点。这些被测量的化学反应一般发生在界面上，但有些发生在材料体相以及溶液中。超分辨电化学显微镜（SRECM）技术对物理高分辨表征技术（微观物理信息—结构&成分）实现了不可或缺的有益补充（微观化学信息—反应动力学&速率)，建立了之前难以获得的精准构效关系。以扫描电化学液池显微镜（SECCM）技术为例，它能够直接绘制二维材料、表面缺陷及晶界等不同位置的催化活性差异（参见Nature, 2023, 620, 782；Nature, 2021, 593, 67；Science, 2017, 358, 1187；Nat. Mater., 2021, 20, 1000等）。同样，扫描电化学显微镜（SECM）技术能够实现催化反应中间体、动力学速率以及催化剂活性位点密度的定量测量（参见Nat. Catal., 2021, 4, 654；Nat. Catal., 2021, 4, 615等）。（见第六部分—超分辨电化学显微镜应用案例）这些先进的SRECM技术为我们提供了在微观尺度上理解化学反应的窗口，同时也为精确设计和优化催化剂、材料以及理解反应动力学机制提供了有力工具。二、系统组成 一站式完整解决方案&完全自主研发产品。包含以下五个单元：测量&控制单元、屏蔽&防震单元、操作&观测单元、理化实验单元、探针制备单元。三、六大主力型号最强型号MT-SRECM600——超分辨电化学显微镜与共聚焦拉曼显微镜联用四、电化学显微镜技术SRECM技术支持（√）选配（●）基于电化学工作站（双通道）循环伏安（CV）√线性扫描伏安（LSV）√电流-时间曲线（i-t）√多电位阶跃（ESTEP）√开路电位-时间曲线（OCPT）√iR降补偿√探针渐进（PAC）√探针渐远（PWC）√跳跃成像√跳跃成像+局部CV√跳跃成像+局部LSV√跳跃成像+局部i-t√跳跃成像+局部ESTEP√跳跃成像+局部多参数（电位-阻抗-电容）测量●表面探寻扫描电化学显微镜（SI-SECM）√恒高度成像√恒电流成像√基于膜片钳放大器（单通道）循环伏安（CV）√线性扫描伏安（LSV）√电流-时间曲线（i-t）√多电位阶跃（ESTEP）√探针渐进（PAC）√探针渐远（PWC）√跳跃成像√跳跃成像+局部CV√跳跃成像+局部LSV√跳跃成像+局部i-t√跳跃成像+局部ESTEP√恒高度成像√恒电流成像√五、电化学工作站技术电化学技术支持（√）选配（●）电位扫描循环伏安（CV）√多扫速循环伏安（MVCV）√分段循环伏安（MSCV）√线性扫描伏安（LSV）√塔菲尔曲线（TAFEL）√电位阶跃/脉冲阶梯波伏安（SCV）√计时电流（CA）√计时电量（CC）√差分脉冲伏安（DPV）√常规脉冲伏安（DNPV）√方波伏安（SWV）√多电位阶跃（ESTEP）√恒电流技术计时电位（CP）√电流扫描计时电位（CPCR）√多电流阶跃（ISTEP）√电位溶出分析（PSA）√基于时间电流-时间曲线（i-t）√差分脉冲电流检测（DPA）√双差分脉冲电流检测（DDPA）√三脉冲电流检测（TPA）√积分脉冲电流检测（IPAD）√扫描-阶跃混合方法（SSF）√开路电位-时间曲线（OCPT）√交流技术交流（含相敏）伏安（ACV）√二次谐波交流（相敏）伏安（SHACV）√傅里叶变换交流伏安（FTACV）√交流阻抗测量（IMP）●交流阻抗-时间曲线（IMPT）●交流阻抗-电位测量（IMPE）●其他技术电化学噪声测量（ECN）√外部信号记录√任意波形输入√外部电位输入√第三方开发√六、超分辨电化学显微镜应用案例基于该超分辨电化学显微镜系统近3年文章产出：Accelerating the Discovery of Oxygen Reduction Electrocatalysts: High‐Throughput Screening of Element Combinations in Pt‐Based High‐Entropy Alloys, Angew Chem. Int. Ed. 2024, e202407116.Benchmarking the Intrinsic Activity of Transition Metal Oxides for the Oxygen Evolution Reaction with Advanced Nanoelectrodes, Angew Chem. Int. Ed. 2024, e202404663(hot paper).Thermally Enhanced Relay Electrocatalysis of Nitrate-to-Ammonia Reduction over Single-Atom-Alloy Oxides, J. Am. Chem. Soc. 2024, 146(11), 7779.Electrochemical Visualization of an Ion-Selective Membrane Using a Carbon Nanoelectrode, ACS Sens. 2023, 8(7), 2713.Nanoscale electrochemical approaches to probing single atom electrocatalysts, Curr Opin Electroche. 2023, 39, 101299.Combination of Rapid Intrinsic Activity Measurements and Machine Learning as a Screening Approach for Multicomponent Electrocatalysts, Acs Appl. Mater. Inter. 2023, 15(36), 42532.The Microstructure-Activity Relationship of Metal-Organic Framework-Based Electrocatalysts for the 0xygen Evolution Reaction at the Single-Particle Level, Acs Mater Lett. 2023, 5(7), 1902.Precise Polishing and Electrochemical Applications of Quartz Manopipette-Based Carbon Nanoelectrodes, Anal Chem. 2022, 94(41), 14092.Nitrogen-skinned carbon nanocone enables non-dynamic electrochemistry of individual metal particles, Sci China Chem. 2022, 65(10), 2031.

仪器简介：电化学测量的新基准：PARSTAT 2273在原273A卓越的可靠性、高电流、高槽电压基础上又增加了超强阻抗能力、高分辨率、高速率以及我们新研发的恒电位仪家族的最新软件技术。根据客户反馈,我们不仅在新产品中提高了自身电流,同时又可扩展到20A.并且该产品作为一平台便于使用者与各种辅助设备连接匹配。2273将是你实验室里最全面的恒电位仪/恒电流仪/频响分析仪.尽管没有人能预测未来人们的研究需求,而我们设计的电化学设备将尽可能满足你现在和未来的所有需求。PARSTAT 2273 以其高质量高稳定性，杰出的阻抗测试功能，高分辨率，高采样速率，大电流，高槽压成为所有电化学测量的仪器的新标准。不同与其他电化学工作站，2273提供独特的 ± 100V槽压± 10V扫描电压满足各类样品需求，标配最高电流高达 ± 2A，标准配置可完成1MHz 到 10µ Hz的电化学阻抗测试，可进行控制电位交流阻抗测试（单波，快速多波，Mott-Schottky), 或控制电流交流阻抗测试。主要特点： 高达 ± 100V槽压2A 最大电流 (20A 大电流选项)1.2fA 电流分辨率10µ Hz to 1MHz 内置阻抗分析5pF 电容1013 &Omega 输入阻抗可配置功能强大的PowerSuite软件包，多种应用，任由选择主要性能及应用 ：&bull 最大电流2A(最大可扩展至20A) &bull 常规电化学测试&bull 100 V槽电压 &bull 腐蚀与防护&bull 1.2 fA电流分辨率 &bull 传感器&bull 1013 Ω 输入阻抗 &bull 电池、燃料电池&bull 5 pF 电容 &bull 电沉积/电镀&bull 10 µ Hz to 1 MHz 内置阻抗分析仪 &bull 生物医学研究技术参数：功率放大器： 最大输出电压：± 100 V最大输出电流：± 2A上升时间：250ns （无负载）切换速率：15V/µ S (无负载)差分静电计:输入阻抗：1013 Ω in parallel with5 pF输入偏置电流： 5 pA(25° C)最大输入电压：± 10V差分: ± 10 V带宽: －3dB@15 MHziR补偿正反馈范围：2000MΩ 到 2Ω （取决于电流幅度）电流中断数字电压误差修正：16 bit DAC电流测量电流量程： 2A &ndash 40pA（12档）精度(DC)：20µ A to 2A： 0.4%(满量程)；20nA to 1µ A: 0.5%2nA: 0.75%频率响应（小信号）2 mA: &ndash 3 dB at 1 MHz,1 kΩ 源阻抗20 µ A: &ndash 3 dB at 100 kHz,100 kΩ 源阻抗电位/电流控制数字/ 模拟转换器偏置：分辨率: 16位（bits）量程: ± 10 V (恒电位)满电流的± 100%（恒电流）调制数字/模拟转换：16位系统性能最小时基：20µ s最小电流分辨率：1.2fA最小电位步长：2.5µ V阻抗频率范围：10µ Hz-1MHz计算机接口:USB重量: 31 kg (68lbs)尺寸：20" W x 18.75" H x 9" D)电源：90/130V AC 或200、260V AC, 50-60Hz最大600瓦

仪器简介：电化学测量的新基准：PARSTAT 2273在原273A卓越的可靠性、高电流、高槽电压基础上又增加了超强阻抗能力、高分辨率、高速率以及我们新研发的恒电位仪家族的最新软件技术。根据客户反馈,我们不仅在新产品中提高了自身电流,同时又可扩展到20A.并且该产品作为一平台便于使用者与各种辅助设备连接匹配。2273将是你实验室里最全面的恒电位仪/恒电流仪/频响分析仪.尽管没有人能预测未来人们的研究需求,而我们设计的电化学设备将尽可能满足你现在和未来的所有需求。PARSTAT 2273 以其高质量高稳定性，杰出的阻抗测试功能，高分辨率，高采样速率，大电流，高槽压成为所有电化学测量的仪器的新标准。不同与其他电化学工作站，2273提供独特的 ± 100V槽压± 10V扫描电压满足各类样品需求，标配最高电流高达 ± 2A，标准配置可完成1MHz 到 10µ Hz的电化学阻抗测试，可进行控制电位交流阻抗测试（单波，快速多波，Mott-Schottky), 或控制电流交流阻抗测试。主要特点： 高达 ± 100V槽压2A 最大电流 (20A 大电流选项)1.2fA 电流分辨率10µ Hz to 1MHz 内置阻抗分析5pF 电容1013 &Omega 输入阻抗可配置功能强大的PowerSuite软件包，多种应用，任由选择主要性能及应用 ：&bull 最大电流2A(最大可扩展至20A) &bull 常规电化学测试&bull 100 V槽电压 &bull 腐蚀与防护&bull 1.2 fA电流分辨率 &bull 传感器&bull 1013 Ω 输入阻抗 &bull 电池、燃料电池&bull 5 pF 电容 &bull 电沉积/电镀&bull 10 µ Hz to 1 MHz 内置阻抗分析仪 &bull 生物医学研究技术参数：功率放大器： 最大输出电压：± 100 V最大输出电流：± 2A上升时间：250ns （无负载）切换速率：15V/µ S (无负载)差分静电计:输入阻抗：1013 Ω in parallel with5 pF输入偏置电流： 5 pA(25° C)最大输入电压：± 10V差分: ± 10 V带宽: －3dB@15 MHziR补偿正反馈范围：2000MΩ 到 2Ω （取决于电流幅度）电流中断数字电压误差修正：16 bit DAC电流测量电流量程： 2A &ndash 40pA（12档）精度(DC)：20µ A to 2A： 0.4%(满量程)；20nA to 1µ A: 0.5%2nA: 0.75%频率响应（小信号）2 mA: &ndash 3 dB at 1 MHz,1 kΩ 源阻抗20 µ A: &ndash 3 dB at 100 kHz,100 kΩ 源阻抗电位/电流控制数字/ 模拟转换器偏置：分辨率: 16位（bits）量程: ± 10 V (恒电位)满电流的± 100%（恒电流）调制数字/模拟转换：16位系统性能最小时基：20µ s最小电流分辨率：1.2fA最小电位步长：2.5µ V阻抗频率范围：10µ Hz-1MHz计算机接口:USB重量: 31 kg (68lbs)尺寸：20" W x 18.75" H x 9" D)电源：90/130V AC 或200、260V AC, 50-60Hz最大600瓦

仪器简介：由主机+系统软件+电极系统+计算机+打印机组成电化学测试系统，该系统应用于电化学机理研究、电极过程动力学研究、金属腐蚀、生物学及冶金、制药、环境生态学等领域的研究及阻抗测试。技术参数：电势控制范围：±10V；恒电流范围：±500mA；电流灵敏度：50pA；扫描速度：0.1mV/s – 5000V/s；电位分辨率：0.0001V；槽压:±50V方波频率:1Hz---100KHz；正弦波频率:1mHz---10kHz。

技术参数：电化学腐蚀，即不纯的金属跟电解质溶液接触时发生的原电池反应，比较活泼的金属失去电子而被氧化。钢铁在潮湿的空气中所发生的腐蚀是电化学腐蚀中**突出的例子。美国Parr高温高压电化学腐蚀测试系统，广泛应用于高酸原油腐蚀性能、合成及在油气井产出液中的缓蚀性能、各种金属材质优选以及腐蚀规律等研究领域。Parr提供多种优良抗腐蚀材质，如T316SS，Alloy C276，Alloy C22，Alloy B-3等，以满足客户对试验条件的不同需求。此外，我们还可应客户要求进行特殊制作。具体应用实例 中石化石油化工科学研究院 中石化青岛安全工程研究院 国家海洋局天津海水淡化研究所 中科院金属研究所 天津大学石化研究中心 中石油大庆采油工程研究院