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微区射线荧光分析仪

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微区射线荧光分析仪相关的仪器

  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • 产品特点&blacksquare 应用于大米中的硒、铅、砷等元素、水果蔬菜等中的重金属、食用油中的铅、砷、镍、污水及地表水重金属应急监测、汽油、柴油中金属含量如铅、铁、锰、工业湿法冶金过程检测分析&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法,实现了准确定性定量,检出限远优于同类产品&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare 只需研磨粉碎,无需高温强酸消解; 适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用&blacksquare 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当,分析成本低,无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗&blacksquare 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析,无损非破坏性检测,是野外工作者很好的分析工具 分析曲线图选取若干标准样品, 对其中多种金属元素进行直接分析,其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。 准确性和重复性对若干标准样品进行多次重复测量结果,以验证方法的准确性及稳定性。 检出限JP500 是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测量范围:Cd, Ni, Cu, Zn, As, Pb等测量时间:30s-1200s 可选探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、水质、食用油工作温度:-5 °C~50 °C电源:110-240 VAC±10%重量:9 kg尺寸:30 cm W x 23 cm L x 26 cm H
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  • 产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法,实现了准确定性定量,检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品,能进行更为彻底的分析 , 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用;食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具&blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15 种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果,测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,,其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准(GB15618-2018)要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ;采用针对镉元素(Cd)激发进行了优化的单色光束,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限;JPX500是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,采用针对镉元素(Cd)激发进行了优化的单色光束,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间(单位:S):30s-1200s检测元素范围:Al-U之间的40种元素探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、药品、水质、土壤等电源:110-240 VAC工作温度:-5℃-50℃重量:<9 kg尺寸:30cmW*23cmL*26cmH
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  • 概要:对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号:EA1000VX测量元素:原子序数13(Al)~92(U)样品形态:固体、粉末、液体射线源:X射线管球(Rh靶材) 管电压:最大50kV 管电流:最大1000μA检测器:多阴极半导体检测器分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)样品观察:彩色CCD摄像头滤波器:5种模式自动切换样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析:块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理:配备EXCEL、配备WORD外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm安装尺寸:1500(W)×1000(D)重量:约60kg使用电源(主机):AC100~240V±10%单相 选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点:1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了约1/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)*Cd为20 ppm,除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施)2. 高技术率检测器(Vortex)不需要液氮,使用最大15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器(选购项)自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本。
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  • CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术,可对大型样品进行原位,非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中,元素检测范围从Na到Am,即使在低于2keV或高于25keV时(例如Sn,Sb和Ba k激发)。测量头安装在电动机上,探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上,CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作,距离样品1厘米,同时由于监测系统的设置,该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器,同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面,并实时显示光谱和元素分布图,同时每一个像素点的光谱都被自动存储,报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图(左1图)。测量时间:30分钟,线扫描速度:20mm/s,准直器孔径2 mm,X射线管设置50 kV和100μA。从左2图:BaLα,PbLα,CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色,黄色,绿色,蓝色。
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  • EA8000是,与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物,再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析,是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析,查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时,协助提高信赖性、成品率。在对锂离子充电电池及燃料电池的品质管理方面当属EA8000利用“透射”“荧光”可快速检测出Φ20 μm级的金属异物锂离子充电电池(LIB)虽被广泛运用于电脑、手机等人们日常使用的机器当中,但在过去也出现过发热、着火等的事故报道。由于锂离子充电电池已从人们日常使用推广至车载使用,与以往相比对安全性的追求更高。锂离子充电电池异常发热及着火的主要原因之一是内部短路,而由于金属异物的参杂也可能与内部短路有关,因此更加追求对于以锂离子充电电池的安全性及性能保障为目的金属异物管理。我公司认真倾听顾客们的心声,较之以往即使在销售上有所实绩的荧光X射线分析装置也会遇到的难题,开发了“更加确切”、“更加快速”找出范围从B5到20 μm级金属异物的EA8000。主要特点(1)通过X射线透射图像可检测出20 μm级金属异物通过高分辨率2维传感器的开发成功、实现了高分辨率的X射线透射图像。仅需数分即可检测出250×200 mm全面的20 μm级金属异物。图1 约Φ20μm的金属异物(2)从锂离子充电电池的收货检查到进度管理EA8000可检测到包括属于锂离子充电电池原材料的正极负极活性物质、导电剂等粉末状样品,也可检测到分离器、电极板等薄片状样品。在检测导电剂及主要成分是轻元素的由碳组成的物质中包含的金属异物时,将导电剂直接装入袋中就可检测出异物,在收货检查时提高工作效率。图2 使用EA8000检测的流程(3)自动检测功能可减少测量者的工作负担EA8000可实现从X射线透射图像的获取到异物自动检测(通过图像处理)、荧光X射线分析进行扫描分析、报告书生成等一系列流程的自动化。受限于分析装置的时间减少,数据也可自动保存,效率高,可安心使用。图3 检查、分析流程(4)想要的信息自动生成EA8000将从X射线透射图像中检测出的异物尺寸及所在位置列表化。另外,异物尺寸及个数分布利用柱状图表示,实现异物个数及尺寸等的趋势管理。通过荧光X射线分析,异物的元素信息也可自动生成。图4 异物报告书例图5 粒度分布表示例
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  • 对于嵌入钢筋的混凝土成分,需要适当的深度来阻止氯离子的进入,从而提供防腐蚀保护。然而我们并不能总是提供合适的设计和养护,在某些情况下,由于混凝土中的孔隙溶液的高碱性,钢筋混凝土中的钢筋处于钝化状态。当氯离子含量到了一个临界值时,钢筋被活化并开始腐蚀。随之,钢筋混凝土结构开始开裂,强度开始下降,结构的正常服役寿命因此而缩短,因此需要拆除重建或者采取修补的措施以延长使用寿命。氯离子引起的钢筋腐蚀是沿海地区以及寒冷地区使用除冰盐常见的混凝土结构破坏的原因。每年由混凝土结构腐蚀引起的经济损失较大。因而,选择高抗氯离子渗透的混凝土,对处于有氯离子引起腐蚀的地区的钢筋混凝土结构的耐久性重要的意义。由于氯离子渗透现象的重要性,人们开发了许多试验方案来评估混凝土抗氯离子侵入的性能。 估算混凝土成分中氯离子渗透是使用寿命预测的一个主要参数。电化学测试方法具有快速,而较长期的测试方法可以提供更接近实际应用环境的条件。常用的标准试验方法NTBuild443“加速氯离子渗透法”和NTBuild492“非稳态氯离子迁移系数法”。除了这些标准试验之外,微区X射线荧光(Micro-XRF)方法用于测定氯化物扩散系数,但是需要开发多种校准曲线以考虑各种粘合剂系统的基质效应。 德国布鲁克微区X射线荧光光谱Micro-XRF分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。 M4TORNADO采用了为用户提供了分析性能和方便的操控性。 1、采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。 2、涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。 3、通过可选的双X射线光管和6个滤光片进行灵活的激发。 4、使用XFlash探测器高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 5、基于无标样分析定量分析块状样品,分析多层膜样品。 6、具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
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  • 仪器简介:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击:http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • Vanta手持式X射线荧光分析仪  大幅提高现场和实验室的检测效率  使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合,提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用,可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计,是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作,能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。  ❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳  ❯ 握持安全舒适,适合全天时检测  ❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)  ❯ 符合IP54评级标准,防水防尘  ❯ 标准的3年质保,可保护您的投资  高效的工作流程  Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项,提高了工作效率。  ❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成,在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果  ❯ 通过自动软件更新,可即时享受新添功能  ❯ 可添加自定义分析功能的选项,提高了应用支持的水平  ❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云,无缝获取数据并使用多设备管理功能  Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。  值得信赖的XRF技术  Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪,可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。  ❯ Vanta系列分析仪所Axon技术,使用超低噪声电子元件,可实现更高的X射线计数率,从而可以快速获得精确、可重复的结果。  ❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能,因此无论您使用的是哪台分析仪,其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。  X射线荧光的工作原理  X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用:  1. 发射:分析仪发射X射线。  2. 激发:X射线照射样件,后者发出荧光,将X射线反射回分析仪。  3. 测量:探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量,从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。  4. 结果:能谱通过软件进行处理,并显示为样件的元素组成。在检测金属时,我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。  Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域  Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能,从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外,其报告创建过程也得到简化,而且其分析结果还具有可追溯性。  金属废料和汽车催化剂回收  用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能,可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间,从而既节省了时间,又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较,以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能,可为每个牌号编制信息,这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面,Vanta分析仪可快速分析贵金属含量,以进行准确的价格评估。  环境评估  Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查,以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察,然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS),以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。  材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证  Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金,从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下,就会放下心来,不用担心安全问题,尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能,都可使检测人员充满信心,并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。  珠宝分析和贵金属辨别  Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类,并可探测到镀金。  科研与教育  Vanta分析仪可提供定量元素信息,以指导研究实验,并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。  地球化学、勘探和采矿  Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果,以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想,以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾,在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验,可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件,将继续成为地球化学应用领域的优质选择。  合规和安全筛查  Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质,以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果,从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限,直观的界面可提供简单的通过/失败测定。  *仅限Vanta Max型号。  适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号  无论型号如何,每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计,具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。  Vanta Max  Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力,适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。  Vanta Core  Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性,是快速完成合金辨别的标准选择。  我们的承诺  Evident是XRF技术领域中的企业,在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队,在产品、应用、培训和技术方面,为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。  用途广泛的X射线荧光分析仪配件  Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用,包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套,以提高野外工作的效率。  土壤支架  Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件,您无需手持分析仪,就可以完成检测。在需要进行长时检测时,这个配件有助于轻松方便地完成检测。  野外台座  在检测较小的物件时,如放在杯中或袋中的样品,Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时,野外台座携带简单,使用方便。  机套  将Vanta分析仪放在Vanta机套中,不仅可使分析仪得到安全妥善的保护,而且还可方便地携带分析仪。  工作站  便携式Vanta工作站由电池供电,可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子,并提供360度屏蔽功能,可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中,用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。  Vanta的规格
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  • Vanta手持式X射线荧光分析仪  大幅提高现场和实验室的检测效率  使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合,提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用,可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计,是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作,能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。  ❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳  ❯ 握持安全舒适,适合全天时检测  ❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)  ❯ 符合IP54评级标准,防水防尘  ❯ 标准的3年质保,可保护您的投资  高效的工作流程  Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项,提高了工作效率。  ❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成,在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果  ❯ 通过自动软件更新,可即时享受新添功能  ❯ 可添加自定义分析功能的选项,提高了应用支持的水平  ❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云,无缝获取数据并使用多设备管理功能  Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。  值得信赖的XRF技术  Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪,可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。  ❯ Vanta系列分析仪所Axon技术,使用超低噪声电子元件,可实现更高的X射线计数率,从而可以快速获得精确、可重复的结果。  ❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能,因此无论您使用的是哪台分析仪,其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。  X射线荧光的工作原理  X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用:  1. 发射:分析仪发射X射线。  2. 激发:X射线照射样件,后者发出荧光,将X射线反射回分析仪。  3. 测量:探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量,从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。  4. 结果:能谱通过软件进行处理,并显示为样件的元素组成。在检测金属时,我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。  Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域  Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能,从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外,其报告创建过程也得到简化,而且其分析结果还具有可追溯性。  金属废料和汽车催化剂回收  用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能,可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间,从而既节省了时间,又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较,以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能,可为每个牌号编制信息,这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面,Vanta分析仪可快速分析贵金属含量,以进行准确的价格评估。  环境评估  Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查,以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察,然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS),以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。  材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证  Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金,从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下,就会放下心来,不用担心安全问题,尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能,都可使检测人员充满信心,并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。  珠宝分析和贵金属辨别  Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类,并可探测到镀金。  科研与教育  Vanta分析仪可提供定量元素信息,以指导研究实验,并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。  地球化学、勘探和采矿  Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果,以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想,以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾,在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验,可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件,将继续成为地球化学应用领域的优质选择。  合规和安全筛查  Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质,以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果,从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限,直观的界面可提供简单的通过/失败测定。  *仅限Vanta Max型号。  适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号  无论型号如何,每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计,具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。  Vanta Max  Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力,适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。  Vanta Core  Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性,是快速完成合金辨别的标准选择。  我们的承诺  Evident是XRF技术领域中的企业,在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队,在产品、应用、培训和技术方面,为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。  用途广泛的X射线荧光分析仪配件  Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用,包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套,以提高野外工作的效率。  土壤支架  Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件,您无需手持分析仪,就可以完成检测。在需要进行长时检测时,这个配件有助于轻松方便地完成检测。  野外台座  在检测较小的物件时,如放在杯中或袋中的样品,Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时,野外台座携带简单,使用方便。  机套  将Vanta分析仪放在Vanta机套中,不仅可使分析仪得到安全妥善的保护,而且还可方便地携带分析仪。  工作站  便携式Vanta工作站由电池供电,可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子,并提供360度屏蔽功能,可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中,用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。  Vanta的规格
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  • XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品,广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸:750(L)×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸:400(L)×100(W)×100(H)mm3n 主机质量:约45Kgn 工作环境温度:0~40oCn 工作环境相对湿度:≤80%n 元素分析范围:AI-Un 含量分析范围:1ppm~99.99%n 重复性:<5%n 测量时间:一般60~300sn 测量对象:块状物体、粉末、液体n 激发功率:50Wn 探测器分辨率:149gevn 输入电源:AC110V/220Vn 高压电源:0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量:≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5
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  • X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品,HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测,XR700对设备进行了特殊的结构优化,结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备,佳谱科技采用低功率X射线管,使用独特的滤光技术,获得更加出色的检测精度,大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境,带来产品的低故障率,降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻,体积小,可以携带到现场快速检测,节省时间,提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)的快速无损检测,其检出限最低可达0.02mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查,5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全:射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合,XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计,使用可靠;◆ 采用独立风道散热方式,避免长时间的工作,导致元件温度升高进而导致数据偏差;◆ 独特的侧面进样,防止样品的泄漏,避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计,将进样与采样简单化,进样量少,简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法,大幅提高检测精度、减少测试误差,使便携式仪器具有高端台式机的分析性能,分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统,高分辨率液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力,能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V,50/60 赫兹;12VDC-8A;电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV,1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式,降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化处理器  1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式(30秒-900秒),以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限:镉0.02mg/kg
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测,XR101对设备进行了特殊的结构优化,结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备,佳谱科技采用低功率X射线管,使用独特的滤光技术,获得更加出色的检测精度,大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境,带来产品的低故障率,降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻,体积小,可以携带到现场快速检测,节省时间,提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)的快速无损检测,其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查,5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全:射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合,XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计,使用可靠;◆ 采用独立风道散热方式,避免长时间的工作,导致元件温度升高进而导致数据偏差;◆ 独特的侧面进样,防止样品的泄漏,避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计,将进样与采样简单化,进样量少,简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法,大幅提高检测精度、减少测试误差,使便携式仪器具有高端台式机的分析性能,分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统,高分辨率液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力,能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V,50/60 赫兹;12VDC-8A;电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV,1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式,降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式(30秒-900秒),以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限:镉0.03mg/kg
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  • 主要特点: . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量,根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果; . 自动识别样品类型,自动切换不同类型首饰样品的测试模式; . 仪器内置标准样品,具备自动校正功能,开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作,免除人为操作带来的误差和错误; . 一键式测试操作,开启软件并放入样品后,按下一键即可完成测试获得结果,免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作; . 具备高级自定义测试功能,开放各种参数调试调整,可建立自定义标准曲线,可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统;高分辨率SDD 硅漂移探测器;快速定性分析;完善的辐射安全防护;RoHS/WEEE 指令元素快速分析; 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群; 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围:AI-U 含量分析范围:1ppm~99.99%重复性:<5%测量时间:一般60~300s 测量对象:块状物体、粉末、液体 激发功率:50W探测器分辨率:149gev输入电源:AC110V/220V 高压电源:0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量:≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445
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  • 主要特点: . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量,根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果; . 自动识别样品类型,自动切换不同类型首饰样品的测试模式; . 仪器内置标准样品,具备自动校正功能,开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作,免除人为操作带来的误差和错误; . 一键式测试操作,开启软件并放入样品后,按下一键即可完成测试获得结果,免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作; . 具备高级自定义测试功能,开放各种参数调试调整,可建立自定义标准曲线,可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统;高分辨率SDD 硅漂移探测器;快速定性分析;完善的辐射安全防护;RoHS/WEEE 指令元素快速分析; 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群; 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围:AI-U 含量分析范围:1ppm~99.99%重复性:<5%测量时间:一般60~300s 测量对象:块状物体、粉末、液体 激发功率:50W探测器分辨率:149gev输入电源:AC110V/220V 高压电源:0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量:≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445
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  • 单色能量色散X射线荧光元素分析仪产品介绍: 单色能量色散X射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品,能进行更为che底的分析 , 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用;食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测;可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向:可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具;快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测;技术参数:测试时间(单位:S):30s-1200s检测元素范围:Al-U之间的40种元素探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、药品、水质、土壤等电源:110-240 VAC工作温度:-5℃-50℃重量:<9 kg尺寸:30cmW*23cmL*26cmH
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪土壤重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 满足GB15618-2018中对土壤中重金属的筛查及管控要求,其中对镉的合规要求是0.3mg/kg,而E-max系列检测极限可以达到0.05mg/kg。◆ 现场快速对样品进行实验室级别的分析,比手持机操作安全性好,比传统台式机重量轻、便携性强。◆ 无论在实验室还是户外场合,E-max产品都可以进行快速、方便的操作,从而有助于用户根据现场分析结果立即采取对应措施。E-max系列重金属分析仪,是专为环保、农业部、监察执法、环境修复、第三方检测机构等相关部门开发的一款产品,采用单波长X射线荧光分析技术,其对环境土壤中的多种重金属有出色的分析性能,尤其是对镉元素有极为出色的灵敏度。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计,使用可靠;◆ 采用独立风道散热方式,避免长时间的工作,导致元件温度升高进而导致数据偏差;◆ 仪器在300s-600s以内即可对土壤中的将近40余种重金属进行定性定量分析;◆ 辐射安全防护功能:仪器通过辐射安全剂量认证,保证了设备使用的安全性。◆ 独特的侧面进样,防止样品的泄漏,避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计,将进样与采样简单化,进样量少,简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计,先进的单波长激发技术及软件算法,大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 采用嵌入式系统,高分辨率液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力,能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输重复性测试检出限技术参数测试时间 30秒-1200秒测量范围 AI-U数据存储及输出内部存储和U盘,USB和WiFi输出网络连接方式 有限网络或无线WiFi工作温度 -5 °C~50 °C工作湿度 ≤85%重量 小于9Kg尺寸 30cmW*23cmL*26cmH
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 仪器原理:单色聚焦X射线荧光光谱法。其检测原理被当前2020中国药典中药材重金属检测方法收录。◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法,实现了准确定性定量,检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测产品特点样品分析:固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎,无需高温强酸消解;◆ 适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用;◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当;◆ 分析成本低,无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗;◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析,是野外工作者很好的分析工具;◆ 无损非破坏性检测。检出限技术参数合规性 GB2762-2017测量范围 30-1200秒元素范围Al-U之间的40种元素数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘I/O端口 以太网10/100、USB电源  110-240VAC±10%、50-60Hz工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85%重量    9kg尺寸  30cmW*23cmL*26cmH
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  • 用途:X-MET8000系列手持式X射线荧光分析仪,操作灵活简单,是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,X-MET8000 系列性能强大、可靠性高,只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。 应用广泛:废旧金属分拣,材料可靠性鉴定,无损金属检测,矿物勘探,符合性检测,土壤分析等。 测量原理:X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射,由于X射线的能量较高,原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后,外层的电子会填补内层电子的空位,这就是电子迁跃,电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差,因此,X射线荧光的能量或波长是具有特征性的,与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此可以进行元素的定量分析。 特点: “一键”分析:操作简单,只需简单培训 大图标触摸屏界面易于操作,尺寸大的彩色触摸屏,采用图标操作的用户界面在任何天气条件下都能呈现很好的可视度 简单强大的安全数据下载系统,灵活的报告导出格式,并具有wifi功能 强大数据下载功能,灵活的报告格式 经久耐用的设计 广泛的金属牌号库 快速准确的分析 长达10-12小时的电池量,充电一次可以使用一整天 技术规格:探测器采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器,分辨率优于150eV靶材采用Rh靶材X射线光管,电压40KV,电流50uA测试窗口9毫米重量1.5公斤(含电池)认证CE防护通过IP54(NAME3)防水防尘测试,提供SGS认证书工作温度-10~+50℃供电电池持续使用时间10~12小时,110/230V,50/60HZ直流电源充电器显示屏4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏操作系统采用更稳定简洁的Linux操作系统,用户可建立数据库操作语言提供两块可充电可显示电量的锂电池,可12种语言操作界面包括:英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语通讯可通过USB传输数据,无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备 也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘;或使用wifi或蓝牙在线网络共享报告编辑器报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式,确保原始数据的安全性测试方法提供土壤样品基本参数法(FP法):可测试土壤及矿物样品中的 Ag, As, Au, Ba, Ca, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hg, K, Mn, Mo, Ni, Pb, Pt, Rb, Se, Sr, Sn, Sb, Ta, Th, Ti, Tl, V, W, Zn, Zr Br.等28种元素;提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法,符合EPA 6200方法要求
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  • 商品说明 工业生产过程中的品质控制,高压隔离开关触头镀银层检测仪,铜镀银,镀锡等厚度快速测试,同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理,确保材料品质;船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别,从而保障产品质量与安全;电力电站等有关国计民生行业中,鉴定设备零部件成分是否达标,保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件,其中隔离开关触头上的镀银层,有耐磨耐腐蚀的性,能降低接触电阻,需如果用不镀银的铜触头,铜触头经过氧化后电阻会明显增加,就会产生电弧烧蚀触点的可能,而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求,高压隔离开关主触头:镀银层厚度应不小于20um,一般触头镀银层厚度应不小于8um,硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说,电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量,所以镀层越厚,对电镀厂家的成本越高,所以一部分不良电镀厂家,就对电镀镀银厚度采用以次充好,以薄充厚,严重影响了高压配电设备的验收工作,甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再,再而三的被通报不良产品,轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格,重则直接被国网招标拉入黑名单。目前,隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪,是一种X射线光谱仪,通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光,可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器,仪器分为手持式和台式两种,都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度,方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件,一键智能操作检测合金成分和镀层厚度; K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分;能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量;仪器预装多基体标准合金库,合金库中包括400余种合金牌号,用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下:(1)智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报,提高生产率,自动识别基材种类,无需手动选择样品类型,然后再测试;降低操作难度,节省测试时间,不管操作人员是否有经验,都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。(2)完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库,标准牌号库包括500多种独特的合金牌号,用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。(3)检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能,可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法:能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围:0-50um检测镀层种类:铜镀银、铜镀锡分析精度:单层电镀相对误差不超过10%检测时间:15-20秒检测窗口:12mm合金测试元素范围:Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Zr,Nb,Mo,Cd,Sn,Sb等23元素仪器参数:1、激发源:大功率微型直板电子X射线管,激发电压为35kV;无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA(美国Moxtek),标配Ag靶,无电机、1个滤光片2、探测器:Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法:KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池
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  • SH407B X荧光射线硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040-2008《石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法(X射线光谱法)》GB/T17606 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法的相关要求,同时完全符合美国国家标准ASTMD4294-02的要求。 SH407B荧光硫分析仪主要测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量,也可测量煤化工产品(例如初级苯)、其它液体样品中总硫或硫化合物含量;还可细粉末样品中总硫或SO3含量的测定等等.符合GB/T17606。 X荧光射线硫分析仪SH407B石油产品测硫仪 主要技术特点● 采用进口SDD探测器,分辨率小于125eV,计数率最高2000kcps;● 30W微焦斑薄铍窗X射线管;● WISMAN 30W X射线管精密高压电源,高压稳定度每8小时波动值小于0.05%;● 8寸宽视角电容触摸屏(1024*768)显示,背光亮度可通过软件设置,无需键盘,界面简洁美观 ● 检测品种广,检测量程宽,分析速度快,无需化学试剂 ● 采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正 ● 仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数 ● 封闭式定向风冷散热,保证X射线管工作温度稳定,延长使用寿命;● 优化光路设计,软、硬件可靠性进一步提升;● 数据存储量大,方便用户读取数据;X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证辐射安全。主要技术参数及指标● 测量范围: 硫0.0005%~5% (5ppm-50000ppm)● 测量时间: 120-240秒 ● 单样品自动测量,测量重复次数: 1、2、3次任意设定,测量结束给出平均值和标准偏差 ● 重复性(r):<0.4347 X0.6446 (X=两个重复试验结果的平均值) ● 再现性(R):<1.9182 X0.6446 (X=两个单一、独立试验结果的平均值) ● 样品量:5ml~6ml ● 仪器可存储10条标定曲线 ● 工作条件: 温度:10~30℃ 相对湿度:≤85%(30℃) 电源:AC100-220V/50Hz;额定功率:≤50W ● 尺寸和重量: 460*260*260mm3 重量:11kg。● 仪器包装尺寸 340*545*345mm3 纸箱包装重量:11kg● 标配配件包装 550*135*335 mm3 重量:3kg 装 箱 清 单序 号名 称数 量单 位1X荧光油品硫分析仪主机1台2三芯电源线1根3样品杯200套4样品杯膜2盒(100张/盒)5防漏油部件(二件一套)1套6多功能压件(二件一套)1套7打印纸2个8标定(校准)标准样品1套
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  • 仪器简介: 在工业及科研领域,经常需要对样品进行非破坏性的元素分析,同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度,非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求,可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求,德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化,使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。   SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统,集准直、聚焦、样品激发于一体,是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX 适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件,使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX 也可满足快速分析的需要,在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。   SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构,海关商检、造币工业等,还可完成其它分析任务如:非破坏性检查,贵金属分选,电子线路及电气元件的分析等。技术参数:&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率:30W,最大电压:48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台,样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台, 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高), 最大样品重量:3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统,Windows 操作系统, - 键盘,鼠标,显示器,打印机 - 菜单式软件,光谱仪参数调整和 数据评估及计算,元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线,在测量计数率为 10,000脉冲计数时, 能量分辨率:FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250,000 cps 光谱仪数据 - 电压:95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗:200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高,单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度:5-30° C (41-85° F) 在20-25° C (68-77° F)下,可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %,无冷凝,无蒸气腐蚀,防尘主要特点: SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品,不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定,还可对超大样品的表面(面积可达EC标准线路板规格的2倍, 233x160 mm)进行元素分布分析。1 超大样品室● 长:520 mm(20.5 '')● 宽:310mm(12'') 2 微聚焦分析,不需要破坏 3 自由样品台.&bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线,集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制,代表性强,实用性强,准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨,高计数率,电制冷的SDD检测器,实际分辨率160eV,计数率高达250,000cps,非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单,无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位,样品分析点可视,可调。定位精度高。分析点的照片可截屏,出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快,可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器,测试点的尺寸可调,由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分,一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台,完成点,线,面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室,可完成超大样品的分析,样品的尺寸可以达到300*200*150mm(长*宽*高)。同时可完成超小样品1mm样品的分析
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析,可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正,且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果,与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析;应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析,如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测,例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等,对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能,适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。产品特点◆ 采用独立风道散热方式,避免长时间的工作,导致元件温度升高进而导致数据偏差;◆ 进样与采样简单化,进样量少,简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法,大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小,方便室外工作,随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统,高分辨率液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力,能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析(单位:%)重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线激发源 X射线管,50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC,50-60 Hz重量 约13Kg尺寸 32.5cmW*32.2cmL*26cmH
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  • 产品特点&blacksquare 应用于大米中的硒、铅、砷等元素、水果蔬菜等中的重金属、食用油中的铅、砷、镍、污水及地表水重金属应急监测、汽油、柴油中金属含量如铅、铁、锰、工业湿法冶金过程检测分析&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法,实现了准确定性定量,检出限远优于同类产品&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare 只需研磨粉碎,无需高温强酸消解; 适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用&blacksquare 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当,分析成本低,无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗&blacksquare 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析,无损非破坏性检测,是野外工作者很好的分析工具 分析曲线图选取若干标准样品, 对其中多种金属元素进行直接分析,其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。 准确性和重复性对若干标准样品进行多次重复测量结果,以验证方法的准确性及稳定性。 检出限JP500 是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测量范围:Cd, Ni, Cu, Zn, As, Pb等测量时间:30s-1200s 可选探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、水质、食用油工作温度:-5 °C~50 °C电源:110-240 VAC±10%重量:9 kg尺寸:30 cm W x 23 cm L x 26 cm H
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  • Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外,通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面,选取所需要的测试点,操作简单。 Horiba X射线荧光分析仪技术参数: ★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm ★ 使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术(XGT)实现微小区域的高灵敏度分析 ★ 采用大型试样室(460X360X150㎜) ★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等,并实现无损检测 ★ 可使用CCD照相机(50倍)指定试样的位置 (业内首家。X射线?光学同轴照射) ★ 测定可一键实现简单操作 ★ 自动元素干扰修正、厚度补偿 ★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能
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  • 产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法,实现了准确定性定量,检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品,能进行更为彻底的分析 , 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用;食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具&blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15 种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果,测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,,其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准(GB15618-2018)要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ;采用针对镉元素(Cd)激发进行了优化的单色光束,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限;JPX500是一种单色能量色散X射线荧光分析仪,采用针对镉元素(Cd)激发进行了优化的单色光束,利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间(单位:S):30s-1200s检测元素范围:Al-U之间的40种元素探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、药品、水质、土壤等电源:110-240 VAC工作温度:-5℃-50℃重量:<9 kg尺寸:30cmW*23cmL*26cmH
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  • 分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si~U(Cd/Pb高精度型)Na~U(φ1.2 mm/φ3 mm切换方式型) 检出下限(Cd/Pd) Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm 样品形状 最大460×360 mm(高150 mm) 样品室气氛 大气 X射线管 靶材 Rh 管电压 最大50 kV 管电流 最大1 mA X射线照射径 Φ3 mm(同时搭载:φ1.2mm ) 检测器 高纯硅检测器 XEROPHY 液氮罐容量 3升 液氮消耗量 每日1升以下(不开机时不用) 光学图像观察 倍率 50倍(X射线同轴) 软件 定性分析:自动定性或手动定性 定量分析:检量线法照射直径3mm时基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正 用户设定功能 可以按照用户事先编好的条件,按照程序自动进行分析和定量分析 计算机 CPU Pentium IV 1.8 GHz 以上 内存 1GB 以上 硬盘 120 GB 以上 OS Windows XP 监视器 17寸 CRT(任选:17寸 LED) 打印机 彩色喷墨打印机 周围温度 10~35 ℃(性能温度)/ 5~40 ℃(动作温度) 周围湿度 5~31 ℃时温度范围:最大相対湿度80 %以下31~40 ℃时温度范围:相対湿度50 %以下 电源 AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz 消耗电力 1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机) 设备重量 约 265 kg(不含桌子、计算机) 外形尺寸 分析单元 610(W)×750(D)×500(H)mm 信号处理单元 220(W)×500(D)×480(H)mm
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  • Vanta系列:坚固耐用、 改进创新、 高效多产 Vanta分析仪是我们为用户提供的手持式X射线荧光(XRF)设备,可以为那些要求在野外环境获得实验室分析水平的用户,进行快速元素分析和合金辨别。 Vanta手持式XRF分析仪是一款坚固耐用的设备。 Vanta分析仪坚固耐用的机身结构设计使其不会轻易受到损伤,因此可以工作更长的时间,并降低用户的拥有成本。 Vanta系列分析仪的界面浏览简单直观,而且用户可以对其软件自行配置,所以操作人员在接受了少量的培训后,就可以轻松地使用分析仪,用户也因此会获得分析量,并迅速获得投资回报。 Vanta分析仪使用其特有的创新型Axon技术,无论在何种环境中或工作条件下,都可以为用户提供的结果,并有助于生产率的提高。在极端恶劣的条件下具有超乎寻常的耐用性能。 卓越的分析性能。 可选的Wi-Fi和蓝牙功能,可使用户实时进行数据分享。 可以应用云技术。 简单直观的用户界面。坚固耐用 仪器损坏会耗费时间和金钱。 Vanta分析仪是一款坚固耐用的设备,可以正常运行更长的时间,而且其拥有成本不高。Vanta分析仪的机身坚固耐用,可以在最艰苦的工作环境中正常工作,这款分析仪具有以下特性:通过了美国国防部标准(MIL-STD-810G)中的防坠落测试, 在分析仪被撞落或挤落时,可以减少其受到损伤的危险,避免用户支付昂贵的修理费用。 Vanta设备还符合IP65评级标准,具有防尘和防水的特性,即使在挑战性的环境中,也可以免受各种危险因素的侵害。* 分析仪可以在-10 °C到50 °C的温度范围内连续正常工作,因此操作人员只需极短的时间等待分析仪冷却。** C系列和M系列型号分析仪配备有探测器遮光器,可避免分析仪受到穿孔损伤,因此用户可以对粗糙的表面进行分析,而丝毫不用担心分析仪会损坏。 改进创新 从第检测开始直到结束,Vanta分析仪每次都能为用户提供相同的准确结果。 Vanta系列分析仪所特有的Axon技术,使用超低噪声电子设备,在每秒钟之内可达到的X射线计数率,从而可以获得的结果。 由于Vanta分析仪将Axon技术与新款四核处理器结合在一起使用,因而这款分析仪具有非同寻常的响应能力,突破了同类设备操作性能的极限,可使用户在极短的时间内获得结果。 Axon技术可使不同Vanta仪器的各次检测都具有非同一般的高重复性能,因此无论用户使用的是哪台仪器,检测与其都会是相同的。 高效多产 Vanta分析仪可以提高用户的分析量,并使数据归档操作简单易行。 用于特定应用的各种软件功能可以提高用户的生产效率,从而使用户获得投资回报。简单直观的用户界面(UI)可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能。 用户可以自行决定主屏幕上显示的特性和功能。 通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单。 在任何光线条件下,触摸显示屏都具有清晰、明亮、可读的特性。 符合人体工程学要求的按钮以及工业级别的操控杆按钮,可使用户在戴着手套的情况下,也能轻松地浏览分析仪的用户界面。 嵌入式GPS功能可以将准确的GPS坐标与结果一起存储,以便建立文档并绘制元素位置的映射图。 可选5百万像素全景摄像头;将带有XRF数据的图像与GPS坐标综合在一起使用。 简洁的报告制作和归档操作,具有追溯数据到野外的性能。 可以应用云技术
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  • XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍: XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线: XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后,XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析,还能测量镀层厚度,并可实现无校准(不需标准片)测量。产品特点:通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点:3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱;使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用:应用● 在生产过程中,实时检测镀层厚度(如:Zn、ZnNi、Ag、Au)● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件,如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中,XAN500即成为全功能的台式仪器,可精确地测量小尺寸零件,如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中,可以实现100%的质量监控产品使用:测试大型样件,装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分(例如,Fe上的ZnNi合金)未知合金的无标准片测量大型镀层零件(例如机器部件和外壳)的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析
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