微小力轴向测试系统

技术参数 色谱柱尺寸：内径100-300mm 长度200-1000mm 填充床高度：可变化、范围0mm-700mm 柱管材料： SS316,LS316L 筛板孔径： 2-5um 耐压：40KG。主要特点经过我公司员工多年的不懈努力，2005年初开发出真正意义上的中国第一台动态轴向压缩柱，其性能达到国际同类产品的先进水平。DAC－HB系列的动态轴向压缩柱具有以下几大优点： 1、性能先进：活塞升降速度快捷、平稳，液流分配均匀，密封性能优良，耐压高（耐压高达40MPa），稳压时间长。 2、结构合理：本系统的油缸和柱体可上下自由翻转，即可采用上装法，又可使用下装法，而且加料、排料、安装端盖不需要特殊工具。本设备采用了三道超压防护，保证使用者的安全。 3、价格合理：售价只有同类进口产品的三分之一，甚至更低，大大降低了设备成本和工艺成本。 4、技术支持强劲：我公司在国内设有十八个办事处，并有一支良好的技术支持队伍，响应时间快，一般24小时内即可到达现场。另，我公司多年来一直从事色谱技术的研究和开发工作，可为您开发建立制备液相色谱分离工艺方法.仪器介绍 [下载样本] 动态轴向压缩柱 制备色谱柱Φ50mm以内，可以使用预装柱，但是Φ50mm以上就必须使用轴向压缩柱。轴向压缩柱可分为静态和动态轴向压缩柱。一般Φ50－Φ100mm可以使用静态或动态轴向压缩柱，但是Φ100m以上制备柱必须使用动态轴向压缩柱。 动态轴向压缩柱的核心技术是通过活塞的上下运动来装柱、维持柱压和卸柱，活塞周边配备了特殊设计的密封圈能容许活塞上下自由滑动，同进又能保持高的密封压。活塞运动和压力维持靠的是液压，液压动力比轴向压缩柱的弹簧动力更稳定，更均匀。这些技术使得它具有成本低、寿命长、柱效高、对称性和重复性好的特点，可以装填直径范围大（50mm-1000mm），且保持与分析柱相当的分离效果。应用范围广如：天然植物提取、合成药物、蛋白质和多肽的分离制备，也是中药现代化的必备手段。

轴向观测位置测试硫含量，即使刚更换轴向观测窗，强度下降也比较多，下降近45%左右，一般是什么原因导致的？

想购买微小力试验机，哪里有？那些产品性能优异（包括型号）？谢谢！

轴向观测位置测试硫含量，即使刚更换轴向观测窗，强度下降也比较多，下降近45%左右，一般是什么原因导致的？

[*][作者]：[font=Archivo, &][size=16px][color=#222222][b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOnWJ5C4coK7weJVg89BVtVqZS2pUhmF6A-yASGomkJsXsiTu-WZpjysmMvcbCtlXuJhAq3eR31muEiNAFkWx1sM259ViWqhcJp1x5gJ6uMexIEZsUvbId07&uniplatform=NZKPT&language=CHS][b]李京展[/b][/url][/b][/color][/size][/font][*][题名]：[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8][b]微小高度检测系统设计[/b][/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】：CNKI[/b][*][b]【链接】：[url=https://kns.cnki.net/kcms2/article/abstract?v=Xlf5kQqXAOknh8TAcCnb3Me-Fdk2LA8Hgdbf2Pt3UIv-t6OkRCOPOQtO2YX35IaxXgPpuY6H-5WD1TbLFNz8LoxgzWsTr-WDwLZ3JQlixZ1kR_c8LOblU5P56vGrb-K9fONDDfA1zCU=&uniplatform=NZKPT&language=CHS]微小高度检测系统设计 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

[size=5][font=楷体_GB2312]各相关单位，各位委员：[/font][/size][size=5][font=楷体_GB2312] 根据国家质量监督检验总局要求，在归口单位：全国力值硬度计量技术委员会领导下，由[/font][/size][size=5][font=楷体_GB2312]主要起草单位：中航工业北京长城计量测试技术研究院组成了轴向加荷疲劳试验机国家计量检定规程修订小组，对　JJG556-1988订小组，对JJG556-1988《轴向加荷疲劳试验机》检定规程进行了修订。[/font][/size][size=3][font=仿宋_GB2312]　　　　[/font][/size][size=5][font=楷体_GB2312]现将《轴向加荷疲劳试验机》（征求意见稿）发给贵处，请对此提出宝贵意见。请尽快将意见寄回制定单位。或与[/font][/size][size=5][font=楷体_GB2312]全国力值、硬度计量技术委员会秘书处联系。对于由于时间紧迫带给各位的不便深表歉意[/font][/size][align=right][size=5][font=楷体_GB2312]全国力值、硬度计量技术委员会秘书处 [/font][/size][/align][align=right][size=5][font=楷体_GB2312]2010年8月23日[/font][/size][/align]

技术参数 色谱柱尺寸：内径50-100mm 长度200-500mm 填充床高度：可变化、范围0mm-400mm 柱管材料： SS316,LS316L 筛板孔径： 2-5um 耐压：40KG 主要特点1．简单：装柱手动完成，装好的制备柱可从支架上取下，随便移动，非常方便。 2．质优：较传统制备柱装柱时没有压力回弹，床层稳定，加之独特的分配系统和柱活塞设计，使柱效、柱压和对称性完美统一，重现性更好。 3．灵活：由于装柱压力可即时控制，因而其适合装填不同性状的填料（如聚合物基和硅胶基的）。柱子也易于清空，客户可随时更换填料自己装柱，还可自定义柱长。 4．经济：一方面，使用过程中可随时加压，避免塌陷和柱效下降，使柱的寿命更长；另一方面，一个支架可用来装填无穷多和不同内径的柱子，如：内径50mm、80mm和100mmm的柱子可在同一套系统上完成装柱，这样较进口的一架专用更经济。 静态轴向压缩柱： 基本原理：其基本原理我DAC相仿柱内也有活塞,依靠液压操纵活塞压缩柱填料,消除固定相填料填充后可能产生的各种死体积,但它的压缩靠人工操纵,是间歇性的,比DAC 柱连续加压效果差,当然价格比DAC 柱便宜是其最大优点。 我公司研发的静态轴向压缩柱是基于将真空抽吸和床层压缩相结合的装填技术。用真空泵抽真空，使柱底产生低压，固定相匀浆液被吸入柱中，然后缓慢加压装柱。避免了传统的采用高压和高流速装柱技术而导致固定相颗粒破碎的情况，容易直接从分析柱向制备柱放大。

动态轴向压缩柱 动态轴向压缩柱的核心是通过控制活塞的上下运动来装柱、维持柱压和卸柱。它是当今制备色谱领域最好的装柱技术。活塞周边配备了特殊设计的密封圈，密封圈能容许活塞上下自由滑动，同时又能保持30 MPa的密封压。一、什么是轴向压缩 轴向压缩是指制备柱装填时活塞的压缩方向是纵轴面，这是相对于径向压缩和环形压缩而言的。其中轴向压缩成本最低，效果最高。下图是几种压缩方式的示意图 〉〉〉〉 继续见附件！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=161936]动态轴向压缩[/url]

如题 。 轴向及轴向衰减轴向衰减相对于轴向，衰减比例是多少呢？ 纵向及纵向衰减纵向衰减相对于纵向，衰减比例是多少呢？

3550HT型 高温轴向/扭转引伸计 带负荷支柱和3590AT型轴向/扭转标定仪的 3550HT型引伸计本体适用于在轴向/扭转试验机上同时测量轴向和扭转变形。该引伸计的工作温度最高可达1200℃或1600℃。引伸计由外部支撑并且用一特殊支架安装。该引伸计用于带感应加热的材料试验高温炉中。配有用于试样接触的高纯度铝棒（温度可达1200℃）。碳化硅棒用于温度高达1600℃的试验环境中。通常用在能够轴向和扭转同时加载的双轴向试验机上测试圆试样。通常根据客户的特殊使用要求定制。所有引伸计均可双向移动，因此可用于完全反向加载情况下的循环试验。所有型号均设计为轴间串扰最小化，并提供高精度测量。和其它EPSILON引伸计一样拥有坚固的双弯曲设计。该引伸计经常用于某些专门的试验中，可以根据用户的具体试验需要定制。用户也可以提出符合自身试验要求的理想配置要求。3550HT型引伸计是应变仪型，因此可与任何用于应变仪型传感器的电子元件兼容。它们大多与试验机控制器相连。试验机控制器通常包括引伸计用的信号调节电子元件或可以增设,在这种情况下,引伸计通常配备接头和连线用于插到电子元件上。对于缺少所需电子元件的试验机系统。我们可提供很多解决方法，允许引伸计输出连接到数据采集板，图表记录仪或其它设备上。详见电子元件部分的信号调节器和应变计。 技术特点：• 350欧姆全桥应变仪设计，可以与几乎所有的试验系统兼容• 均满足现有ASTM 标准B-1级和ISO9513标准0.5级的精度要求• 所有引伸计均配备8个高纯度氧化铝陶瓷棒(1200℃)或高级碳化硅棒(1600℃).• 采用坚固的双弯曲结构设计，大大提高了引伸计的性能• 随机配备高级泡沫衬垫箱和一套备用陶瓷棒 技术规范:激励：建议使用5到10伏直流电压，最大为12伏直流或交流电压输出：额定2-4mV/V，具体根据型号而定线性度：满量程的0.15%，具体根据型号而定温度范围：标准型：温度到1200℃，可选高温型：温度到1600℃连线：柔性线，标准长度为2.5m操作力：每边一般小于30克色度亮度干扰：小于0.5% 可选件：可连接任何品牌试验设备的连接件分流器标定模块高温型引伸计，使用温度可到1600℃2050型恒温再循环水浴定制负荷安装底座[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=161543]引伸计大全[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=161544]欧洲引申计 参考[/url]

[*][作者]：[b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOlm7l-65OU2lurUkXQXDNnV80swK9r6DI4FW-qMCaOI3BZE4rrkm7O0yKdNrnffasjG8N7d-CSnhfhYoDlEKF9h2DB8TeXPVEpkXvt55_Bp45HyZNWwC-6X&uniplatform=NZKPT&language=CHS][b]王学礼[/b][/url][/b][*][题名]：[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8][b]投影莫尔技术应用于静态物面微小变形测试的研究[/b][/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】：cnki[/b][*][b]【链接】：[url=https://www.wiley.com/en-it/Digital+Signal+Processing%3A+Theory+and+Practice%2C+10th+Edition-p-9781394182664]投影莫尔技术应用于静态物面微小变形测试的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

说说你们是怎样使用轴向电子引伸计的？

如题，轴向观测就是水平观测，径向观测就是垂直观测吗？它们有个啥优缺点？谢谢给为指教

做铝合金分析cu,mg,fe,si,mn,cr,v,ti,zn等，用轴向观测还是用径向观测好呢？

对于轴向观察的ICP，焰尾在标准分析区后面，这样对于准确性没有影响的吗？光不是要经过焰尾才能到达光路吗？

压力变送器输这种情况，首先应检查是否压力接口渗漏或堵塞，如果没有，检查接线方式，如接线正确的再检查电源，如电源正常看是否传感器零点输出，或干脆看是否输出压力的变化，有变化，传感器是否损坏，如果没有变化的传感器已损坏。这种情况的其他原因可能是仪器的损坏，或整个系统等方面存在的问题。 不改变输出压力变送器，压力变送器输出，然后突然变化压力变送器零回不去。这种现象是最有可能通过压力传感器的密封圈造成的，在我们的客户使用过几次。一般是因为印章规格原因（太软或太厚），传感器拧紧时，密封圈被压缩到内口堵塞传感器压力传感器，压力介质进不去，但压力过大时，突然通过密封环，压力变化下的压力传感器，和压力减少，密封圈和回报的压力，残余压力释放，不出去，因此传感器零下。排除这一原因的最好方式是传感器卸下，零直接观察是否正常，如果正常更换密封圈了。微差压变送器由于其测量范围小，该传感元件在发射机的体重会影响微输出差压变送器，所以在差压变送器的零点变化有正常的安装。安装时应使变送器压力敏感元件轴向垂直于重力方向的，如果安装条件，它应该是变送器零位调整后的固定的标准值。

压力变送器输这种情况，首先应检查是否压力接口渗漏或堵塞，如果没有，检查接线方式，如接线正确的再检查电源，如电源正常看是否传感器零点输出，或干脆看是否输出压力的变化，有变化，传感器是否损坏，如果没有变化的传感器已损坏。这种情况的其他原因可能是仪器的损坏，或整个系统等方面存在的问题。 不改变输出压力变送器，压力变送器输出，然后突然变化压力变送器零回不去。这种现象是最有可能通过压力传感器的密封圈造成的，在我们的客户使用过几次。一般是因为印章规格原因（太软或太厚），传感器拧紧时，密封圈被压缩到内口堵塞传感器压力传感器，压力介质进不去，但压力过大时，突然通过密封环，压力变化下的压力传感器，和压力减少，密封圈和回报的压力，残余压力释放，不出去，因此传感器零下。排除这一原因的最好方式是传感器卸下，零直接观察是否正常，如果正常更换密封圈了。微差压变送器由于其测量范围小，该传感元件在发射机的体重会影响微输出差压变送器，所以在差压变送器的零点变化有正常的安装。安装时应使变送器压力敏感元件轴向垂直于重力方向的，如果安装条件，它应该是变送器零位调整后的固定的标准值。

GBT 3075-2008 金属材料 疲劳试验 轴向力控制方法

本文为本人接触国内某知名太阳能生产企业设备项目后，原文翻译的试验方法希望能给相关同行以帮助对带有微小裂纹的多晶硅圆片的机械压力试验摘要：显微裂纹检测和机械扭曲试验主要用于原切割晶圆来进行太阳能电池生产。关于机械力与裂纹长度之间的关系已经有答案了。小于临界压力时由于反复压力试验裂纹长度并没有显示。实验结果表明在相同长度下边缘裂纹比内部裂纹更具有危险性。断裂力取决于裂纹几何形状和其位置。一旦施加的压力超过它的临界压力，就无法加工成为晶片了。通常会在观察到微裂的地方发生断裂。关键词： 微裂，压力，硅太阳能电池[IMG]http://www.okyiqi.com/uploadfile/081222142757.jpg[/IMG]图片为国外某款微小力试验机的图片，图片上夹具为专用多晶规圆片扭曲夹具1. 简介在硅光电生产过程中最大的问题就是硅片的断裂。由于原硅材料是生产太阳能电池的主要成本，所以一个最自然的一个方法就是减小它的厚度，但是这样做的话会潜在地导致晶片变脆弱，而且会使它的屈服力变低。未受损害的晶片很坚固而且有韧性，但裂纹的存在会降低它的这种机械强度。裂纹主要来源有：材料缺陷，来自于晶锭本身或是在晶片生产过程中的压力（1)，割锯晶片时的机械力或者在运输买卖过程中的机械力造成的缺陷。在太阳能电池生产过程中，对晶片进行加工时晶片会暴露在高温和机械力下，所以那些有裂纹，缺陷，以及有锯痕的晶片的机械强度会大大的降低。、（2）从经济方面考虑应当在发生断裂前尽早的检测出生产线上的脆弱的晶片。对此可以用多种裂纹检测系统（MCD）来进行检测。建立在光学检测系统上用来检测裂纹的红外线检测方法已经研制出来了。先检测出断裂的尺寸，然后在扭曲试验中对晶片施加机械力。以此来对原切割晶圆建立一种不同的机械力与裂纹之间的关系。2. 试验在这项研究中采用的是156*156mm, 厚度为200微米的多晶硅圆片。采用A，B两种商用MCD系统，让红外线穿过晶片，然后通过电荷藕荷摄像机来检测。晶片事先通过A和B 两种系统检测到有裂纹，然后把检测到有裂纹的晶片再次通过MCD系统A，并把晶片的图片保存下来。人工分析这些图片，在这次研究中使用了127种可以检测到有裂纹的硅片。一些有污垢的和存在不同类型的点缺陷的硅片也被采用到这次研究中。图1：上部是扭曲试验图像，下部是在扭曲试验中对晶片施加的主要的力分布。然后开始进行扭曲试验（图1），最大力为1.5N。在以前的实验中1.5N以下的断裂已经做过，所以误差实验对有裂纹的晶片断裂可以估计出来。通过这次实验，记录下最大的弯曲度，断裂力也记录下来。把断裂后的晶片拿来与MCD图像作对比以此来找出原来存大于晶片上的缺陷或者导致这种缺陷的情况。对于那些没有断裂的晶片再重复进行5次这样的实验，然后让晶片再通过MCD系统B然后比照前后图像以此来查看裂纹是否在压力实验中有所加大。然后通过对那些经过断裂压力未受损害的原切割晶片以及那些有断纹的晶片进行不同的力直至其断裂。在这次实验中发现所有的裂纹都是正常生产下造成的，通过实验晶片不会受到人为故意的损害。3. 实验结果&讨论3.1 原切割晶圆由于晶片通过MCD系统进行分析并在扭曲试验中检测，以不同方式进行试验发现了三种不同类型能影响晶片强度的裂纹。3.2 三种不同的裂纹在这次研究中发现的三种的裂纹1. 短裂纹2. 边缘裂纹3. 内部裂纹存在于一个小水晶体内部的短裂纹(小于1mm)通常是比较直，而且有特定的走向。横跨一个或多个水晶体长裂纹通常形状不规则，如图2。由于外部造成的裂纹例如在晶体表面进行冲击而形成的裂纹经常会有这种形状。对数据进行分析后，晶体边缘的裂纹，即边缘裂纹，和在晶体的整个内部表面上的裂纹，这种裂纹不与边缘接触，即内部裂纹，这两种类型的裂纹之间有很大的区别。在1.5N以内的压力试验中只有那些有可检测到有微小裂纹的晶体断裂。所有的断裂后的晶片被重组到一起后与通过微小裂纹检测时的图像进行对比。Figure 2: 箭头所指为来自晶片边缘的不规则的长裂纹（~30mm）。无一例外，裂痕会从检测到的裂纹那继续延伸。当裂纹是长裂纹时，断裂力通常很低，晶片会碎成2-4个小的晶片。对于有小裂纹的晶片来说，施加在的力后，晶片会破碎成几个大的或者很多小的碎片（如图3）。图3：左边：带有13.5mm的内部裂纹的晶片在压力为1.49N时断裂。 右边：带有24.8mm的边缘裂纹的晶片在压力为0.51N时断裂。 断裂延伸跟点阵纹理走向有关系，当断裂继续延伸时，裂纹一般会在比较弱的点阵方向（3）。裂纹通常垂直延伸。带有边缘裂纹的晶片在断裂时所受的力一般比内部裂纹晶片需力小。对于有锯形痕迹的晶片来说，当力达到1.5N时，不会断裂，但是有些情况下断裂会顺着锯痕延伸。4. 结论：通过实验发现一些还有裂纹的晶片仍然能够通过1.5N的弯曲试验。94%的有内部裂纹（小于10mm）的原切割圆晶片能通过压力试验。有边缘裂纹的晶片都不能通过此次试验，即使此边缘裂纹小于2mm。

请教，如何通过TEM获得析出相的轴向，谢谢！

压力变送器输这种情况，首先应检查是否压力接口渗漏或堵塞，如果没有，检查接线方式，如接线正确的再检查电源，如电源正常看是否传感器零点输出，或干脆看是否输出压力的变化，有变化，传感器是否损坏，如果没有变化的传感器已损坏。这种情况的其他原因可能是仪器的损坏，或整个系统等方面存在的问题。 不改变输出压力变送器，压力变送器输出，然后突然变化压力变送器零回不去。这种现象是最有可能通过压力传感器的密封圈造成的，在我们的客户使用过几次。一般是因为印章规格原因（太软或太厚），传感器拧紧时，密封圈被压缩到内口堵塞传感器压力传感器，压力介质进不去，但压力过大时，突然通过密封环，压力变化下的压力传感器，和压力减少，密封圈和回报的压力，残余压力释放，不出去，因此传感器零下。排除这一原因的最好方式是传感器卸下，零直接观察是否正常，如果正常更换密封圈了。微差压变送器由于其测量范围小，该传感元件在发射机的体重会影响微输出差压变送器，所以在差压变送器的零点变化有正常的安装。安装时应使变送器压力敏感元件轴向垂直于重力方向的，如果安装条件，它应该是变送器零位调整后的固定的标准值。

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=30634]动态轴向压缩色谱柱研究进展[/url]

摘要：显微裂纹检测和机械扭曲试验主要用于原切割晶圆来进行太阳能电池生产。关于机械力与裂纹长度之间的关系已经有答案了。小于临界压力时由于反复压力试验裂纹长度并没有显示。实验结果表明在相同长度下边缘裂纹比内部裂纹更具有危险性。断裂力取决于裂纹几何形状和其位置。一旦施加的压力超过它的临界压力，就无法加工成为晶片了。通常会在观察到微裂的地方发生断裂。关键词： 微裂，压力，硅太阳能电池1. 简介在硅光电生产过程中最大的问题就是硅片的断裂。由于原硅材料是生产太阳能电池的主要成本，所以一个最自然的一个方法就是减小它的厚度，但是这样做的话会潜在地导致晶片变脆弱，而且会使它的屈服力变低。未受损害的晶片很坚固而且有韧性，但裂纹的存在会降低它的这种机械强度。裂纹主要来源有：材料缺陷，来自于晶锭本身或是在晶片生产过程中的压力（1)，割锯晶片时的机械力或者在运输买卖过程中的机械力造成的缺陷。在太阳能电池生产过程中，对晶片进行加工时晶片会暴露在高温和机械力下，所以那些有裂纹，缺陷，以及有锯痕的晶片的机械强度会大大的降低。、（2）从经济方面考虑应当在发生断裂前尽早的检测出生产线上的脆弱的晶片。对此可以用多种裂纹检测系统（MCD）来进行检测。建立在光学检测系统上用来检测裂纹的红外线检测方法已经研制出来了。先检测出断裂的尺寸，然后在扭曲试验中对晶片施加机械力。以此来对原切割晶圆建立一种不同的机械力与裂纹之间的关系。2. 试验在这项研究中采用的是156*156mm, 厚度为200微米的多晶硅圆片。采用A，B两种商用MCD系统，让红外线穿过晶片，然后通过电荷藕荷摄像机来检测。晶片事先通过A和B 两种系统检测到有裂纹，然后把检测到有裂纹的晶片再次通过MCD系统A，并把晶片的图片保存下来。人工分析这些图片，在这次研究中使用了127种可以检测到有裂纹的硅片。一些有污垢的和存在不同类型的点缺陷的硅片也被采用到这次研究中。图1：上部是扭曲试验图像，下部是在扭曲试验中对晶片施加的主要的力分布。然后开始进行扭曲试验（图1），最大力为1.5N。在以前的实验中1.5N以下的断裂已经做过，所以误差实验对有裂纹的晶片断裂可以估计出来。通过这次实验，记录下最大的弯曲度，断裂力也记录下来。把断裂后的晶片拿来与MCD图像作对比以此来找出原来存大于晶片上的缺陷或者导致这种缺陷的情况。对于那些没有断裂的晶片再重复进行5次这样的实验，然后让晶片再通过MCD系统B然后比照前后图像以此来查看裂纹是否在压力实验中有所加大。然后通过对那些经过断裂压力未受损害的原切割晶片以及那些有断纹的晶片进行不同的力直至其断裂。在这次实验中发现所有的裂纹都是正常生产下造成的，通过实验晶片不会受到人为故意的损害。3. 实验结果&讨论3.1 原切割晶圆由于晶片通过MCD系统进行分析并在扭曲试验中检测，以不同方式进行试验发现了三种不同类型能影响晶片强度的裂纹。3.2 三种不同的裂纹在这次研究中发现的三种的裂纹1. 短裂纹2. 边缘裂纹3. 内部裂纹存在于一个小水晶体内部的短裂纹(小于1mm)通常是比较直，而且有特定的走向。横跨一个或多个水晶体长裂纹通常形状不规则，如图2。由于外部造成的裂纹例如在晶体表面进行冲击而形成的裂纹经常会有这种形状。对数据进行分析后，晶体边缘的裂纹，即边缘裂纹，和在晶体的整个内部表面上的裂纹，这种裂纹不与边缘接触，即内部裂纹，这两种类型的裂纹之间有很大的区别。在1.5N以内的压力试验中只有那些有可检测到有微小裂纹的晶体断裂。所有的断裂后的晶片被重组到一起后与通过微小裂纹检测时的图像进行对比。Figure 2: 箭头所指为来自晶片边缘的不规则的长裂纹（~30mm）。无一例外，裂痕会从检测到的裂纹那继续延伸。当裂纹是长裂纹时，断裂力通常很低，晶片会碎成2-4个小的晶片。对于有小裂纹的晶片来说，施加在的力后，晶片会破碎成几个大的或者很多小的碎片（如图3）。图3：左边：带有13.5mm的内部裂纹的晶片在压力为1.49N时断裂。 右边：带有24.8mm的边缘裂纹的晶片在压力为0.51N时断裂。 断裂延伸跟点阵纹理走向有关系，当断裂继续延伸时，裂纹一般会在比较弱的点阵方向（3）。裂纹通常垂直延伸。带有边缘裂纹的晶片在断裂时所受的力一般比内部裂纹晶片需力小。对于有锯形痕迹的晶片来说，当力达到1.5N时，不会断裂，但是有些情况下断裂会顺着锯痕延伸。4. 结论：通过实验发现一些还有裂纹的晶片仍然能够通过1.5N的弯曲试验。94%的有内部裂纹（小于10mm）的原切割圆晶片能通过压力试验。有边缘裂纹的晶片都不能通过此次试验，即使此边缘裂纹小于2mm。

我厂使用的特斯拉计有两台送检，检定证书没有注明是轴向，而另一台由于自购更换了一个探头，送检后为轴向测量。轴向测量是什么意思？轴向测量的仪器和另外的两台有什么区别呀？还有它的检定等级是按什么划分的？

有谁知道，为了填装一个高柱效的动态轴向压缩柱，这个装柱的压力和填料的粒径、柱管的内径有着怎样的关系，如果可以列举的话更好

有时所做样品比较多，时间长，高比例有机相的流动相可能在长时间使用过程中就挥发了，那变化后的流动相会引起多大的峰面积变化，比如同一个样品，进样量相同，有机相是挥发了0.5%，那所得样品峰面积是否与未挥发前是一样的？是否会出现仅保留时间微小推迟，峰高变小一些，但峰宽可能变宽一些，而峰面积是不变的，这个猜想不知道在多大的变化范围内是成立的？

标 准 编 号：GB/T 25043-2010 简体中文标题：连续树脂基预浸料用多轴向经编增强材料 繁體中文標題：連續樹脂基預浸料用多軸向經編增強材料 English Name：Multiaxial warp-knitted reinforcement for resin-matrix prepreg 转载请留下我们的脚印 Www.Anystandards.com标准简介：本标准规定了连续树脂基预浸料用多轴向经编增强材料的术语和定义、产品代号、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于以玻璃纤维为主要原料,经有机纤维沿经向缝编而成的多轴向增强材料。该材料主要用于制作连续树脂基预浸料。