纤维长度分布测试仪

为了预测纤维增强产品的特性和力学性能，测定纤维的长度和分布是必要的。将纤维从混合材料中没有任何损坏的分离出来是首先最关键的步骤。FASEP方法已开发用于灰化材料，并且不损坏玻璃纤维。用水完全稀释纤维并倒入培养皿中。然后，使用完整培养皿采集图像的新方法。暗视场和透射光组合扫描解析一个大的图像，每个图像多达10000纤维。最终，得到理想的源图像用于数字图像分析。该方式使用全新、唯一的FASEP集群分离处理，确认纤维簇，并从中提取出单纤维，最终测量每一个分离纤维的长度。精巧的系统可测量所有长度的纤维（20-20000&mu m）在增强热塑性塑料中的FASEP纤维长度分布。

Almeter 2000纤维长度测定仪Almeter纤维长度测定仪是精确测量纤维长度的标准专业测量设备，获得IWTO国际毛纺组织认可。Almeter AL2000是重新升级的ALMETER产品，设计完全符合现代实验室操作需求，具有64-bit Windows 10 OS系统，具有触摸屏控制，并附有Excel兼容性，允许“one disk”的综合数据分析与描述，以及图形化用户界面。Almeter 2000纤维长度测试仪完全符合的国际羊毛纺织组织测试方法（IWTO-17），因此其测试结果在羊毛交易中得到认证和应用。Almeter AL2000 系统Almeter AL2000对纤维的特征长度和长度分布进行客观分析。完全自动化系统扫描纤维样品，显示纤维的特长度，结果具有统计学保证，并自动产生Barbe和Hauteur被保存为文件或打印出来。Almeter 适用于商人，测试实验室，制造商、纺纱厂等。产品特征● 节省空间-减少了桌子的占用空间；● 具有USB2输出● 电压 110/230V；● 可连接WiFi；● 提供在线支持；● 可定制软件选项；

JQ03B单纤维长度仪（1）符合IWTO-DRAFT-TM-5-97和ISO6989（Method of determining wool fibre length distribution of fibres from yarns or fabrics using a single fibre length measuring machine）关于纱线和织物中单纤维长度分布测量的标准。（2）同时针对WIRA纤维长度仪进行了合理改进：旋转轴停止采用张力触发，更及时更安全；以自动气动夹头替代镊子，操作更为便捷迅速；变速步进电机控制旋转轴，更精确，慢速时长度测量精度为0.5mm；计算机控制整个测量过程，且所有数据可导出，进行深度分析。（3）纤维测量长度范围5mm－300mm；长度测量精度0.5mm

Classifiber是一台自动测试纤维长度分布的仪器,同时适用于各种不同的纤维测试,如天然纤维或人造纤维.它包含一台梳理制样器.Classifiber还特别适合测试羊绒纤维长度以及类似昂贵的纤维,长度达80mm.主要特点● 采用均匀稳定的光学测试系统,避免了因光源不稳定导致的复杂校正工作.● 精确度: 1mm带宽传感器保证纤维长度的高精确读数.● 通过梳理制样器,可以非常容易制备出均匀的测试样品,避免了人工制样因手法不一而造成的测试误差.● Classifiber测试结果和传统手工测试有着非常好的可比性,并且具备以下主要优点:快速性: 完成一次实验只需20秒,而手工需要30分钟.统计数据更加可靠: 测试样品20g,而手工仅仅测试0.5g,样品所有测试数据连同测试样品的相关信息如期的统计数据.自动获得以下统计数据● 2.5%跨距长度(SL2.5)● 50%跨距长度(SL50)● 66.7%跨距长度(SL66.7)● 整齐度比(UR%)● 变异系数(CV%)● 平均长度(ML)● 上半部平均长度(UHM)系统包括● 梳理制样器包括两套梳子和一个平台, 订货时需注明棉还是毛型● 电子测试单元● 专业版的Windows 操作系统● 标准配件和工具,必需的配件: 电脑-订货号237.92,显示器-订货号250.300, 喷墨打印机-订货号250.4● CLASSIFIBER KCF-W,是一台独特的能够自动测试羊绒纤维长度和长度分布的仪器.● 通过严格评估KCF-W与手工测试之间的数据对比,重复试验和性能表现,CTTC中纺标检验认证中心有限公司颁布了相关测试标准FZT20028-2015.● 该仪器同时符合ISO 6989,ISO 4913,ASTM 1447,UNI 10141, FZ/T 20028.● 电源配置: 115-230V,50/60Hz,单相● 重量: 50 kg● 整齐度指数(UI%)● 短纤含量(SFC%)● 纤维长度曲线图● 纤维长度排列图● 直方图2A1002供应商,批号等都将储存在数据库,可以调出任何时● 尺寸: (L)1600 x (W)700 x (H)700 mm

Classifibre是一台自动测试棉纤维长度分布的仪器,同时适用于各种不同的纤维测试,如天然纤维或人造纤维.它包含一台梳理制样器.Classifibre还特别适合测试羊绒纤维长度以及类似昂贵的纤维,长度达80mm.主要特点● 采用均匀稳定的光学测试系统,避免了因光源不稳定导致的复杂校正工作.● 精确度: 1mm带宽传感器保证纤维长度的高精确读数● 通过梳理制样器,可以非常容易制备出均匀的测试棉样,避免了人工制样因手法不一而造成的测试误差.● Classifibre测试结果和传统手工测试有着非常好的可比性,并且具备以下主要优点:快速性: 完成一次实验只需20秒,而手工需要30分钟统计数据更加可靠, 测试20g样品,而手工仅仅测试0.5g,样品所有测试数据连同测试样品的相关信息如供应商,批号等都将储存在数据库,可以调出任何时期的统计数据.自动获得以下统计数据● 2.5%跨距长度(SL2.5)● 50%跨距长度(SL50)● 66.7%跨距长度(SL66.7)● 整齐度比(UR%)● 变异系数(CV%)● 平均长度(ML)● 上半部平均长度(UHM)● 整齐度指数(UI%)● 短纤含量(SFC%)● 纤维长度曲线图● 纤维长度排列图● 直方图

JQ03B单纤维长度仪 产品详细介绍怎样选纺织材料拉伸仪没有一台纺织仪器可以用来测量所有的纺织材料的拉伸性能。不同的纺织材料适合不同的拉伸仪器。纺织材料的拉伸测量可以在三个方向进行，从方向来区分主要有：1）一个方向的拉伸与压缩，例如单纤维拉伸仪；2）两个方向的拉伸与压缩，例如双轴向拉伸仪 器； 3）两个方向的拉伸压缩与第三个方向的顶破；例如三维力学测量仪。根据材料断裂强力的力值的大小将测量仪器分成：微力拉伸装置，例如用来测量准纳米级纤维的仪器（大连理工的纳米纤维拉伸与压缩弯曲仪）；一般力拉伸装置，例如单纤维强力仪；高强力拉伸装置，例如三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据夹头的不同也可以选择不同的仪器：普通天然纤维所使用的气动夹头的单纤维拉伸仪；适用于人造纤维强力相对较大的纤维的特殊卡槽的仪器（北京国际竹藤中心的竹木短纤维拉伸装置和天津大学的碳纳米管纤维拉伸装置；手动的适合短脆准纳米级纤维的拉伸仪（大连理工大学）；适合于束纤维的气动夹头；适用于高强力的织物的夹头的拉伸装置（北京国际竹竹藤中心）；根据观察系统的不同也可以选择不同的仪器：1）没有观察系统的单纤维拉伸仪；2）一个镜头局部观察的准纳米纤维拉伸仪；3）两个镜头可以进行局部观察和全景观察的短纤维拉伸仪；4）配置高速摄像的三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据拉伸装置的速度可以分成：慢速拉伸仪（纳米纤维准拉伸装置）；快速拉伸仪(三维力学测试装置)。总之，根据不同的材料，能选配不同的产品，能选择不同的夹头，数字观察系统，拉伸速度和精度，同时也能根据不同的采集力值的数据来选择适合的仪器。本公司能根据不同的国际标准为您加工适合您需要的纺织材料拉伸仪。 JQ03B单纤维长度仪 纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。（1）符合IWTO-DRAFT-TM-5-97和ISO6989（Method of determining wool fibre length distribution of fibres from yarns or fabrics using a single fibre length measuring machine）关于纱线和织物中单纤维长度分布测量的标准。（2）同时针对WIRA纤维长度仪进行了合理改进：旋转轴停止采用张力触发，更及时更安全；以自动气动夹头替代镊子，操作更为便捷迅速；变速步进电机控制旋转轴，更精确，慢速时长度测量精度为0.5mm；计算机控制整个测量过程，且所有数据可导出，进行深度分析。（3）纤维测量长度范围5mm－300mm；长度测量精度0.5mm

用于分析棉纤维或化学短纤维的长度。

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

Fibreshape自动纤维图像分析仪主要用于棉花、木材、黄麻、亚麻等纤维和刨花的质量控制和表征系统。由于它具有多项特点、简单的用户界面及从样品准备到获得打印报告的快速表征过程，其他的优势包括:&bull 是测量样品中单个目标的快速方法&bull 不管纤维的纤维大小和形状如何，都能非常稳定地测定纤维的长度和宽度&bull 样品制备简单快捷（干样/湿样） Fibreshape 测量两个样品的长度和宽度的例子 Fibreshape全自动纤维图像分析仪可以刨花板、纤维板和木塑复合板的生产控制。刨花的尺寸发布（纤维长度和宽度）是最终产品特性和质量的一个决定性因素。 Fibreshape全自动纤维分析仪也可以生麻及其终产品（如粗纱和线）的质量控制。如下的麻纤维主要用于各种技术应用如汽车（天然纤维增强塑料）或造纸工业。 技术参数:可测量尺寸范围: 从30 &mu m 纤维宽度 30 cm 纤维长度表征参数: &bull 外形 (与圆形和矩形的近似度、粗糙度、长径比等 &bull 尺寸 (纤维长度和宽度) &bull 结构特性 &bull 排列方向 (是一项复合材料力学特性或纺织品质量的关键因子)纤维方向测量:准确度: 1° 典型表征: &bull 颗粒尺寸分布 &bull 根据ISO 9276 - 6 标准的外形描述，例如长径比和延伸率 &bull 长度和宽度分布 典型应用: 棉花、刨花/木屑、短绒、羊毛、玻璃纤维、草纤维、碳纤维、纤维素纤维统计评价: &bull 所测尺寸分布(柱状图和累积分布)，对数和线性比例 &bull 尺寸范围选择 根据ISO预设范围 &bull 比例因子（形状因子）的平均和标准差ISO 标准: ISO 9276 - 6尺寸/ 重量: 180 x 48 x 35 cm / 25 kg电源要求: 220/110 V 50/60 Hz 样品台面届: 0,3 m2数字成像： A4 平板扫描仪，可透射或反射模式测量目标，最大真实光学分辨率 特点 关键特点快速测量纤维尺寸和形状分布短纤维的长度测量(短纤维、短绒及其他长径比 200的纤维)纤维排列方向测量光学特性的表征: 颜色和透明度测量杂质/尘土含量 (获取杂质的更多信息)处理和存储测试数据(满足额外的使用或分析)可集成至SAP或类似系统中是实现质量检验的一种可靠和快速工业方法细度从 5 &mu m 至 5000 &mu m (5 mm)的纤维均可测量简洁的用户界面Fibreshape自动纤维图像分析仪主要用于棉花、木材、黄麻、亚麻等纤维和刨花的质量控制和表征系统。由于它具有多项特点、简单的用户界面及从样品准备到获得打印报告的快速表征过程，其他的优势包括:&bull 是测量样品中单个目标的快速方法&bull 不管纤维的纤维大小和形状如何，都能非常稳定地测定纤维的长度和宽度&bull 样品制备简单快捷（干样/湿样） Fibreshape 测量两个样品的长度和宽度的例子 Fibreshape全自动纤维图像分析仪可以刨花板、纤维板和木塑复合板的生产控制。刨花的尺寸发布（纤维长度和宽度）是最终产品特性和质量的一个决定性因素。 Fibreshape全自动纤维分析仪也可以生麻及其终产品（如粗纱和线）的质量控制。如下的麻纤维主要用于各种技术应用如汽车（天然纤维增强塑料）或造纸工业。 技术参数:可测量尺寸范围: 从30 &mu m 纤维宽度 30 cm 纤维长度表征参数: &bull 外形 (与圆形和矩形的近似度、粗糙度、长径比等 &bull 尺寸 (纤维长度和宽度) &bull 结构特性 &bull 排列方向 (是一项复合材料力学特性或纺织品质量的关键因子)纤维方向测量:准确度: 1° 典型表征: &bull 颗粒尺寸分布 &bull 根据ISO 9276 - 6 标准的外形描述，例如长径比和延伸率 &bull 长度和宽度分布 典型应用: 棉花、刨花/木屑、短绒、羊毛、玻璃纤维、草纤维、碳纤维、纤维素纤维统计评价: &bull 所测尺寸分布(柱状图和累积分布)，对数和线性比例 &bull 尺寸范围选择 根据ISO预设范围 &bull 比例因子（形状因子）的平均和标准差ISO 标准: ISO 9276 - 6尺寸/ 重量: 180 x 48 x 35 cm / 25 kg电源要求: 220/110 V 50/60 Hz 样品台面届: 0,3 m2数字成像： A4 平板扫描仪，可透射或反射模式测量目标，最大真实光学分辨率 特点 关键特点快速测量纤维尺寸和形状分布短纤维的长度测量(短纤维、短绒及其他长径比 200的纤维)纤维排列方向测量光学特性的表征: 颜色和透明度测量杂质/尘土含量 (获取杂质的更多信息)处理和存储测试数据(满足额外的使用或分析)可集成至SAP或类似系统中是实现质量检验的一种可靠和快速工业方法细度从 5 &mu m 至 5000 &mu m (5 mm)的纤维均可测量纺织工业 (羊毛)羊毛标准样品.应用: 测量细度参数: 纤维厚度羊毛厚度柱状图.纺织工业 (棉花)棉花样品.应用: 测量细度参数: 纤维厚度棉花纤维厚度柱状图.纸板和造纸工业 (木屑)木屑样品.应用: 测量细度, 长度参数: 纤维厚度和长度木屑厚度柱状图.木屑长度柱状图. 非纺织纤维 (工业纤维)纤维卷曲样品.应用: 测量纤维弯曲长度参数: 卷曲频率 (ASTM), 卷曲度 (ASTM)纤维卷曲弯曲长度柱状图.纤维复合材料工业 (碳纤维)碳纤维样品.应用:测量纤维细度和长度参数: 纤维厚度和长度碳纤维厚度分布柱状图.碳纤维长度分布柱状图 简洁的用户界面 IST图像分析仪产品的优点是：分析测量快速方便、报告一键生成样品准备简单迅速（干湿均可）结果一致性和重现性高极高的性价比是质量检验的一种可靠而快速的工业化方法

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；灯具尺寸：1.2×0.6米；灯具重量：30kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图： 丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、 导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。HPG1800软件介绍及实景照：图相似

单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计，主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

皮肤水分分布测试仪 MoistureMap MM200 MM200能够测试电磁场在皮肤表面的穿透深度，导电材料将使测试结果部位的点阵信号变暗，而非导电材料将使测试结果部位的点阵信号变亮。湿度增加导电性，就意味着点阵更暗，干燥皮肤意味着较亮的图像。与皮肤水分含量绝对值测试不同，MoistureMap MM200可以测试出给定的皮肤表面的水分分布图，应用于化妆品、药品、表面活性剂的功效评价，也可用于皮肤光老化、皮损和疤痕的研究。欢迎致电：010-62186640

SCAN600纤维测定仪 将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的最新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息，还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息，从而帮助使用者全方位地表征样品。 图像粒度仪SCAN600是欧奇奥公司（Occhio）针对大颗粒统计研究开发的一款图像粒度仪。 分析范围：用于2μm~20cm颗粒粒径及形貌分析SCAN600纤维测定仪分析参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可全面了解样品总体的概况（1）粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，颗粒最大长度，体积（2）粒形参数：ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度（3）高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义（4）数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度（5）数据比较：可显示无上限多样品比较图表（6）可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像（7）统计工具：形貌学和粒径过滤方式（8）显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像（9）外部数据分析：可输入、分析外部数据SCAN600纤维测定仪分析领域：纺织物、烟草等的纤维长度、宽度分析；石油、聚合物、咖啡、啤酒的泡沫分析（泡沫大小、形状、动力学和稳定性）；可进行建材、面包、食品等的大孔孔径和形状分析及颗粒计数应用实例：烟丝分析，面包分析，玻璃基底分析

一、功能说明1 分布电压测量HB-VD30绝缘子分布电压测试仪采用抗干扰技术实现了对运行中绝缘子分布电压的测量，且仪器本身具高电压耐受能力。仪器检测发射机通过通用角度可调卡扣接头与绝缘操作杆连接，适用耐张、悬垂等不同角度的测量需求。2 远距离传输功能本检测仪由检测发射机和手持接收机两部分组成，测量时由手持发射机采集绝缘子两端分布电压信号，经模数转换变为数字信号经处理之后通过以无线方式传输给手持接收机，手持接收机接收到数字信号经计算处理最终得到测量结果并在屏幕显示。无线传输方式使得检测过程更加方便快捷。3 测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别、和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4 历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并列出绝缘子串电压分布曲线。二、仪器结构该仪器由检测发射机、手持接收机和绝缘操作杆三部分组成（如上图）。使用时检测发射机与绝缘操作杆连接，手持操作杆尾端接触被测绝缘子，通过手持接收机控制进行测量。测量结果通过射频传输至接收机，接收机接收测量结果进行显示存储等操作。厂家直销固话：QQ:三、HB-VD30绝缘子分布电压测试仪的技术参数产品名称绝缘子分布电压检测测仪型 号HB-VD30适用范围35-1000kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电检测测量范围1-40KV测量误差±1%显示方式3.5寸触摸屏分析功能手持机具有浏览历史数据、曲线分析功能软件功能检测结果可上传专用云平台，云平台可对数据进行分类存储管理并以杆塔为单位生成测试报告电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间20小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm 执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

医用超声雾化器雾粒直径分布测试仪 仪器介绍采用7寸威纶通液晶触控显示屏，中文菜单显示。公称规格、设定载荷、打印设定、测试、上行、下行、时间、标定。由键盘与触摸控制液晶显示屏上的菜单，机载打印测试结果。 执行标准： 满足YY0109-2013标准中相关条款设备制造。 设备参数测量方法:国产激光散射法0.3UM-25UM 通道：8个通道；流量：28.3L/min 百级室或者等效工作台（超净工作台）；操作界面：彩色触摸屏7寸，中英文切换控制系统：PLC；接头：15mm和22mm内置嵌入式打印机电源：220V 50HZ 配置：主机1台，扳手一把，电源线一根，说明书/合格证/保修卡/铭牌一套。

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数：我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

玻璃纤维布气体透过率测试仪 无纺布透气性能分析仪PERME博密 CLASSIC 216压差法气体渗透仪品牌：Labthink厂家：济南兰光机电技术有限公司玻璃纤维布气体透过率测试仪（PEREM博密 CLASSIC 216压差法气体渗透仪）基于压差法的测试原理，是一款专业用于薄膜试样的气体透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片在各种温度下的气体透过率、溶解度系数、扩散系数、渗透系数的测定。玻璃纤维布气体透过率测试仪技术特征：可同时测定试样的气体透气率、透气系数三个测试腔完全独立，可同时测试三种相同或不同的试样宽范围、高精度温湿度控制，满足各种试验条件下的测试提供比例和模糊双重试验过程判断模式测试量程可根据需要进行扩展，满足大透过率测试的需求可进行任意温度下的数据拟合，轻松获得极端条件下的试验结果系统采用计算机控制提供标准膜进行快速校准，保证检测数据的准确性和通用性测试原理：将预先处理好的试样放置在上下测试腔之间，夹紧。首先对低压腔（下腔）进行真空处理，然后对整个系统抽真空；当达到规定的真空度后，关闭测试下腔，向高压腔（上腔）充入一定压力的试验气体，并保证在试样两侧形成一个恒定的压差（可调）；这样气体会在压差梯度的作用下，由高压侧向低压侧渗透，通过对低压侧内压强的监测处理，从而得出所测试样的各项阻隔性参数。执行标准：ISO 15105-1、ISO 2556、GB/T 1038-2000、ASTM D1434、JIS K7126-1、YBB 00082003-2015玻璃纤维布气体透过率测试仪测试应用：基础应用：薄膜——适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的气体渗透性能测试片材——适用于各种工程塑料、橡胶、建材等片状材料的气体渗透性能测试，如PP片材、PVC片材、PVDC片材等扩展应用：多种不同气体——适合于多种气体的透过率测试，如氧气、二氧化碳、氮气、空气、氦气等生物降解膜——适用于生物降解膜的透气性能测试，如淀粉生物降解袋等纸及纸板——适用于纸及纸塑等复合材料的透气性测试，如烟包铝箔纸、方便面纸碗、一次性纸杯等玻璃纤维布气体透过率测试仪技术参数：测试范围：0.1～50,000 cm3/m2?24h?0.1MPa（常规） 上限不小于500,000 cm3/m2?24h?0.1MPa(扩展体积)试验件数：3件（数据各自独立）真空分辨率：0.1 Pa测试腔真空度：＜20 Pa控温范围：15℃～55℃，环境为23℃±2℃，湿度40-60%RH的条件下（恒温控制装置另购）控湿范围：0%RH、100%RH、其余湿度参照ASTM E104（湿度发生装置另购）试样尺寸：Φ97 mm透过面积：38.48 cm2试验气体：O2、 N2、 CO2等气体 (气源用户自备）试验压力：－0.1 MPa～+0.1 MPa（常规）气源压力：0.4 MPa～0.6 MPa接口尺寸：Ф6 mm聚氨酯管外形尺寸：670mm(L)× 540mm(W)× 430mm(H)电源：AC 220V 50Hz/AC120V 60Hz净重：75 kg仪器配置：标准配置：主机、计算机、专业软件、取样器、真空脂、快速定量滤纸、真空泵。选购件：取样刀片、真空脂、真空泵油、快速定量滤纸、湿度发生装置、恒温控制装置。备注：本机气源进口为Φ6 mm聚氨酯管；气源用户自备。

光强分布（光型）测试仪LSA3000-蓝菲光学 LSA 3000是一种自动的分布式光度计，主要与蓝菲光学（Labsphere）软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

加拿大Aurora透性肌肉纤维测试系统1400A和1410A设计於提高实验产出和简化繁复的透性肌纤维实验。Aurora Scientific 了解到透性纤维研究的广泛性和应用，於是我们设计了1400A系列系统，让相关研究者得以针对纤维各种性质进行精确的测量。系统具有可靠且可控温的测试装置，装置备有微米级XYZ位置调节器以调整力传感器和高速长度操控仪的位置。此外更有一个开创性的功能，装置具有一个可通过软件程式去控制其摆动的平台，平台上有八个小浴槽，特定的浴槽可以自动转移至特定的位置，而且移动的序列也能够预编。这个专用的软件包同时备有各种预编的实验方案，通过简单的软件操控去进行力度和长度的测量和控制，把要求苛刻的实验简单化。建立在系统能够控制和测量肌纤维的力度、长度和肌小节长度(配合使用我们的HVSL/VSL)的基础上，各种肌纤维的特性得以描述出来 包括力与钙离子的关系，张力与长度的关系，力与收缩速率的关系，硬度，松弛实验中的表现等。这个完整集成的测试系统是用耐腐蚀材料去制造的，同时也能方便地放置於倒置显微镜的平台上，以进行基础或精密的成像观察。选择1400A和1410A，体验系统在您的研究进展中带来高性能表现。自动化样本槽自动标引浴盆可以轻而易举地测量肌纤维张力与钙离子浓度的关系，研究者只需要预编不同钙浓度的溶液和肌纤维兴奋或静息的序列，1400A会完成剩下的工作。强大的软件和标准方案库藏软件包装的实验方案库备有不同的标准方案以针对於单个纤维的研究，更有一些简单易用的小程序去进行系统设置的调整。预编方案包括系统运作和数据采集的设定，研究者可以编写自己的方案，也可以和其他实验室人员一起编写流水线系统操作的预订方案。整合肌小节长度把900B/901B肌小节间隔长度检测软件附加到1400A，可以轻易且准确地测量和设定肌小节静息长度。在高帧率的摄像机可以和数据采集软件互相配合下，力、肌纤维长度，肌小节长度三个参数可以实时被纪录至一个时间点同步的文件。可选用升温平台我们1400A的八浴槽控温平台具有另一个升温模型，用来研究温度依赖性兴奋的效应。精确，热电效应控制的浴盆可以让0至40摄氏度的冷槽和热槽同时呈现。友好和可靠的支持我们乐意为客户和产品提供支援。对於每个系统的销售，我们提供安装，全方位训练和详细的软件操作培训。作为您在研究工作上的伙伴，我们愿意尽所能地确保您的研究走在正确的轨道上和得到所需要的数据。

JQ03A单纤维强力测试仪怎样选纺织材料拉伸仪 ？没有一台纺织仪器可以用来测量所有的纺织材料的拉伸性能。不同的纺织材料适合不同的拉伸仪器。纺织材料的拉伸测量可以在三个方向进行，从方向来区分主要有：1）一个方向的拉伸与压缩，例如单纤维拉伸仪；2）两个方向的拉伸与压缩，例如双轴向拉伸仪器；3）两个方向的拉伸压缩与第三个方向的顶破；例如三维力学测量仪。根据材料断裂强力的力值的大小将测量仪器分成：微力拉伸装置，例如用来测量准纳米级纤维的仪器（大连理工的纳米纤维拉伸与压缩弯曲仪）；一般力拉伸装置，例如单纤维强力仪；高强力拉伸装置，例如三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据夹头的不同也可以选择不同的仪器：普通天然纤维所使用的气动夹头的单纤维拉伸仪；适用于人造纤维强力相对较大的纤维的特殊卡槽的仪器（北京国际竹藤中心的竹木短纤维拉伸装置和天津大学的碳纳米管纤维拉伸装置；手动的适合短脆准纳米级纤维的拉伸仪（大连理工大学）；适合于束纤维的气动夹头；适用于高强力的织物的夹头的拉伸装置（北京国际竹竹藤中心）；根据观察系统的不同也可以选择不同的仪器：1）没有观察系统的单纤维拉伸仪；2）一个镜头局部观察的准纳米纤维拉伸仪；3）两个镜头可以进行局部观察和全景观察的短纤维拉伸仪；4）配置高速摄像的三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据拉伸装置的速度可以分成：慢速拉伸仪（纳米纤维准拉伸装置）；快速拉伸仪(三维力学测试装置)。总之，根据不同的材料，能选配不同的产品，能选择不同的夹头，数字观察系统，拉伸速度和精度，同时也能根据不同的采集力值的数据来选择适合的仪器。本公司能根据不同的国际标准为您加工适合您需要的纺织材料拉伸仪。纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。JQ03A单纤维强力测试仪 1.测力范围及精度 0～200cN&le ± 0.1%f.s；伸长范围及精度&le 150mm分辨率0.01mm；隔距长度10、20、25mm 电脑数字设定；气动夹持器；拉伸速度2～100mm/min。2.定伸长循环拉伸试验，定负载循环拉伸试验，松驰、蠕变试验，定载、超程保护、自动调零，电脑控制拉伸、采集数据，实时显示循环拉伸曲线。3.适用标准GB/T9997、GB/T14337,BS EN ISO 5079:1996。

【肉眼无法识别的磁气可视化的测定器】 用高精度磁气传感器正确测定磁石表面的磁束密度分布。 应对从圆柱型到瓦状型各式各样的磁石的计测。 MTX 主要通过一个磁头搭载三轴磁力传感器对磁体表面及临界空间的磁场进行高精度的三维测定，并可以通过测得的数据进行三维磁场矢量合成的3D矢量磁性分析仪。测量数据经过电脑的收录、计算、通过2D图表、3D图表和矢量图等多种表示功能，使原来看不见的磁场可视化。此外，增添了在原来的磁性分析仪中积累的技术经验，标准配备了充磁解析、马达解析、品质管理等必要的多种多样的波形解析功能。收录的数据全部采用CSV形式保存，可以容易的向市场上销售的图表计算软件和磁场模拟软件进行数据输出。 用磁力的本质------三维矢量磁场来捕捉磁场，并能收录、表示、解析和输出的MTX是对磁场应用产品的研究和技术开发起重大作用的指南针。

JQ05束纤维强力测试仪怎样选纺织材料拉伸仪 ？没有一台纺织仪器可以用来测量所有的纺织材料的拉伸性能。不同的纺织材料适合不同的拉伸仪器。纺织材料的拉伸测量可以在三个方向进行，从方向来区分主要有：1）一个方向的拉伸与压缩，例如单纤维拉伸仪；2）两个方向的拉伸与压缩，例如双轴向拉伸仪器；3）两个方向的拉伸压缩与第三个方向的顶破；例如三维力学测量仪。根据材料断裂强力的力值的大小将测量仪器分成：微力拉伸装置，例如用来测量准纳米级纤维的仪器（大连理工的纳米纤维拉伸与压缩弯曲仪）；一般力拉伸装置，例如单纤维强力仪；高强力拉伸装置，例如三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据夹头的不同也可以选择不同的仪器：普通天然纤维所使用的气动夹头的单纤维拉伸仪；适用于人造纤维强力相对较大的纤维的特殊卡槽的仪器（北京国际竹藤中心的竹木短纤维拉伸装置和天津大学的碳纳米管纤维拉伸装置；手动的适合短脆准纳米级纤维的拉伸仪（大连理工大学）；适合于束纤维的气动夹头；适用于高强力的织物的夹头的拉伸装置（北京国际竹竹藤中心）；根据观察系统的不同也可以选择不同的仪器：1）没有观察系统的单纤维拉伸仪；2）一个镜头局部观察的准纳米纤维拉伸仪；3）两个镜头可以进行局部观察和全景观察的短纤维拉伸仪；4）配置高速摄像的三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。根据拉伸装置的速度可以分成：慢速拉伸仪（纳米纤维准拉伸装置）；快速拉伸仪(三维力学测试装纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。测量束纤维的力学性能，具有较高的自动化程度。用来测量束纤维的力学拉伸性能。 可自动梳理，切割和称量。 3.通过数字观察系统来观察拉伸过程中的纤维。

单纤维轮廓仪JQL04 产品详细介绍纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。1.可用来测量单纤维表面的形 态和力学拉伸性能。2.通过数字扫描系统获得纤维材料的表面轮廓。3.扫描时的移动速度可调，拉伸速度和最大位移可控。（1）纤维轮廓和力学行为组合测量；（2）单纤维长度方向横截面测量、单纤维最大最小直径点测量和单纤维平均直径、直径变异测量；（3）最大单纤维可测长度120mm，最小纤维直径1mm，纤维采用360° 扫描，纤维轮廓重建，图像分辨率8象素/微米；（4）方法是通过两端握持试样，一端沿夹持物轴向移动和同轴转动使试样自然伸直并消除意外扭转；扫描试样轮廓，并同步转动两端一定角度，再次扫描试样轮廓，得试样形态特征；（5）高速摄影捕捉纤维断裂过程，采样速率每秒100帧

纤维测量仪器用来测量单纤维在不同的试验参数下（例如：拉伸速度、隔距）下力学性能（模量、断裂功和断裂伸长等）、外观形态（纤维的形貌、直径、长度、断裂断形貌和断裂过程）等，通过这些参数的测量来表征纤维材料的特征，为纤维材料的应用和贸易过程中提供指导和参考的指标。JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪简介 常规纤维强力的测量已经有广泛的实验仪器，但是，对于像竹木纤维这样的细度小、强力大、又脆易折断的材料，在实验中试样的制取是很大的问题，因此，与特殊制取的试样相对应的实验仪器也是特种纤维拉伸装置。本仪器就是在这样的背景下开发研制的，采用特殊的精密夹头对试样进行夹持，保证纤维的伸直，在拉伸过程中不打滑。本仪器通过水平的光学测量系统对纤维的表面形态进行观察，并且通过垂直光学系统将竹纤维试样准确的定位在夹头上。本仪器可以通过两台电脑分部进行侧面和顶部的观察纤维试样及可控制的温湿度环境下对纤维的拉伸性能进行研究。该仪器是本公司与国家林业局948项目合作的新成果。JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪主要特点 1.使用特殊的夹头对短纤维（例如竹木短纤维）进行拉伸性能测量。 2.纤维的拉伸速度，隔距以及最大动程可调。 3.通过两个方向的数字光学系统可以对试样进行局部放大观察和全景放大观察。JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪组件及参数1、精密拉伸机架 2、微小力传感器：日本NMB，量程为980.7mN和4.903N，力读取精度为量程的万分之一 3、导轨：精密线性滚柱导轨，行程25mm，丝杆螺距0.25mm4、精密驱动马达/分频控制卡，每步最小细分为0.1125度，单步最高计算物理精度0.068微米5、专用变焦体视光学系统：0.7X~4.5X 6、非接触光学测量系统 定制高级变焦光学系统，最大放大倍数：8像素/微米7、短纤维专用拉伸夹具 国际竹藤网络中心/上海中晨，纤维间隔距离0.8mm8、两组精密三维调节系统，一组二维调节系统，能够对水平和垂直方向进行监控9、日产CCD 600线10、图像采集卡11、130万像素 数字CCD12、百分1毫米标尺13、高精度短纤维形态和力学性能测试仪说明书14、操作手册电子版JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪软件部分1、蠕变松弛试验的反馈型拉伸测量控制及原位应变测量配套专用软件 （中晨） 2、侧面观察配套专用软件（中晨） 3、拉伸、测试、记录配套专用软件（中晨）4、顶部观察配套专用软件（中晨）5、顶部拍照配套专用软件（中晨）JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪含税价格：人民币338000元（不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区送货上门安装调试培训、一年保修服务）。JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪配套电脑：JSF08型高精度短纤维形态和力学性能测试仪，必须有配套电脑方能使用，如选择由供方提供配套电脑，需向供方另付4000元/台，品牌电脑原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有电脑，要求：要求32位的操作系统，RS232串口，G210的独立显卡，一个空的原生的PCI插槽。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。如何选择纺织材料拉伸仪？1、没有一台纺织仪器可以用来测量所有的纺织材料的拉伸性能。不同的纺织材料适合不同的拉伸仪器。2、纺织材料的拉伸测量可以在三个方向进行，从方向来区分主要有： a、一个方向的拉伸与压缩，例如单纤维拉伸仪； b、两个方向的拉伸与压缩，例如双轴向拉伸仪器； c、两个方向的拉伸压缩与第三个方向的顶破；例如三维力学测量仪。3、根据材料断裂强力的力值的大小将测量仪器分成： a、微力拉伸装置，例如用来测量准纳米级纤维的仪器（大连理工的纳米纤维拉伸与压缩弯曲仪）； b、一般力拉伸装置，例如单纤维强力仪； c、高强力拉伸装置，例如三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。4、根据夹头的不同也可以选择不同的仪器： a、普通天然纤维所使用的气动夹头的单纤维拉伸仪； b、适用于人造纤维强力相对较大的纤维的特殊卡槽的仪器（北京国际竹藤中心的竹木短纤维拉伸装置和天津大学的碳纳米管纤维拉伸装置）； c、手动的适合短脆准纳米级纤维的拉伸仪（大连理工大学）； d、适合于束纤维的气动夹头； e、适用于高强力的织物的夹头的拉伸装置（北京国际竹竹藤中心）。5、根据观察系统的不同也可以选择不同的仪器： a、没有观察系统的单纤维拉伸仪； b、一个镜头局部观察的准纳米纤维拉伸仪； c、两个镜头可以进行局部观察和全景观察的短纤维拉伸仪； d、配置高速摄像的三维力学拉伸装置（北京国际竹藤网络中心）。6、根据拉伸装置的速度可以分成： a、慢速拉伸仪（纳米纤维准拉伸装置）； b、快速拉伸仪(三维力学测试装置)。7、总之，可以根据不同的材料选择不同的仪器，也可选择不同的夹头、数字观察系统、拉伸速度和精度，同时也能根据不同的采集力值数据来选择适合的仪器。本公司能根据不同的国际标准为您加工适合您需要的纺织材料拉伸仪。

A、系统功能用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测量参数包括：空间光强分布、空间等光强曲线、任意截面积上的光强分布曲线（可分别用直角坐标或极坐标系显示）、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、灯具效率、眩光等级、上射光通比、下射光通比、灯具的总光通量、有效光通量、利用系数，以及电参数（功率、功率因数、电压、电流）等。测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式CIE文件格式Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。B、主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；C、主要技术指标l 转台参数：1、 主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；2、 采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；3、 垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；4、 水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；5、 角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；6、 特殊的激光瞄准装置，方便、准确地安装测试灯具的位置，完全使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；7、 灯具*尺寸：1.3米；（可根据实际情况定制）8、 灯具*重量：50kg(含夹具)；9、 灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；10、转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；l 光度参数：1、光度探头精度：一级2、照度测量范围：0.001Lx至1×105 Lx3、角度精度：0.1度4、灯具可绕垂直轴-180°～180°或0°～360°旋转5、灯具可绕水平轴-180°～180°或0°～360°旋转6、灯具的电参数测量精度：0.5级l 丰富的软件功能1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*GN虹谱光色GN系列分布光度计测试数据文件格式；*IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。D、测量原理采用固定探测器、旋转灯具法测量原理。测量灯具安装在两维旋转工作台上，通过激光瞄准器，使灯具的发光中心与旋转工作台的旋转中心重合。当灯具绕垂直轴转动时，与旋转工作台中心处于同一水平高度的探测器测量该水平面上各方向的光强值。当灯具绕水平轴转动时，则探测器测量垂直面上各方向的光强值。垂直轴和水平轴均可在±180°或0°～360°范围内连续旋转。根据测量灯具的要求，该系统可以在C-γ等平面坐标系中测量。当测量得到灯具在各方向上的光强分布数据后，计算机即可计算出其它光度参数。该系统采用以下结构形式应用：1、单立柱结构（C-γ平面坐标系和圆锥面坐标系）主要用于测量路灯、投光灯、面板灯筒灯、工矿灯室内灯具、室外灯具等灯具。安装灯具时，使灯具的发光中心与旋转工作台旋转中心一致。灯具的光轴与旋转工作台的水平轴重合。F、实验室要求1、暗室尺寸：*小要求3米（宽）×2.5米（高）×6-30米（长）2、灯具旋转台和光度探头之间应放置多个光栏隔板，用于阻挡杂散光（根据暗室的尺寸可提供暗室及隔板示意图）；3、整个暗室的墙壁、天花板和地板、中间的光栏隔板都喷涂亚光漆，反射率越低越好；4、计算机系统：电脑1台，打印机 1台机配置要求：Window及WIN7操作系统,留有两个RS232串行口。图相似

不溶性微粒测试检测分析仪选择显微计数法不溶性微粒仪检查注射剂不溶性微粒的理由中国药典2020版规定：第一：当光阻法测定结果不符合规定或供试品不适于用光阻法测定时，应采用显微计数法进行测定，并以显微计数法的测定结果作为判定依据。第二：光阻法不适用于易产生气泡、高粘度的制剂产品，在检测不溶性微粒时要采用第二法（显微计数法）来检测。胤煌科技YH-MIP-0205Pro型显微计数法不溶性微粒分析仪仪器型号：YH-MIP-0205Pro工作原理：显微计数法/图像法检测范围：1 μm-500 μm 不溶性微粒检查检测仪-全新一代YH-MIP-0205Pro显微计数法不溶性微粒检测检测分析仪，不仅解决传统显微镜法测试数据准确性不足、操作繁琐、对人眼伤害较大、检测结果不可追溯等问题，实现了自动扫描，自动计数，自动出具报告，软件符合21CFR Part11及GMP对数据完整性的要求。 更在上一代仪器YH-MIP-0103已有的技术优势下，进行了全新升级，在原有自动扫描，自动测试，自动计数的功能上，新增加了自动过滤，自动干燥，自动上样等功能，同时在原有超分辨算法的基础上，加入AI智能算法，方便客户更好的对不溶性的来源进行分类和整理，实现真正的全自动检查！不溶性微粒测试检测分析仪-全自动显微镜计数法创新点： 1.可以完成自动过滤、自动干燥、自动上样，自动测试、自动出具报告等多项流程； 2.超分辨算法、AI智能算法等多种算法相结合，能有效确保测试数据的准确性； 3.在完美弥补常规显微镜法不溶性微粒检测的缺陷的同时，能准确保留样品中每4.个粒子的原始形貌，对不溶性微粒的来源或者形成机制都具有警示作用； 5.符合中国药典、美国药典、欧洲药典及日本药典等各国药典不溶性微粒检查的仪器要求； 6.符合21CFR Part11及GMP对数据完整性的要求。不溶性微粒检查检测仪-显微镜计数法不溶性微粒仪设备参数产品名称：H-MIP 0205Pro显微计数法不溶性微粒分析仪型号：YH-MIP 0205Pro品牌：胤煌科技重量：100kg类型：自动检测设备用途：颗粒，微粒尺寸，形貌分析精度：0.1um尺寸：850mm×640mm×585mm品种：测试仪器电源：20V@50HZ,2P 种类：测试仪器准确度：0.01um分辨率：0.01um分度值：0.01um精密度：高精确度：3%解析度：1um加工定制：是紫外功率：不需要探头型式：高分辨镜头工作电压：220V是否进口：否适用行业：医疗，新能源，化工，冶金，科研，农业,疫苗，生物制药测量范围：1 μm-500 μm操作方式：自动显示方式：LCC 液晶显示器测量对象：药品，化妆品，医疗器械, 半导体，新能源原材料测试范围：固体，液体测量时间：20min工作温度：室温环境温度：室温分析时间：1min检测项目：粒子尺寸,尺寸分布图, 颗粒物溯源测量重复性：3%景深补偿：有检测原理：显微计数法/静态图像法数字摄像头：600万彩色高清摄像机放大倍率：50-1000倍物镜：标配：5X、10X；选配：20X、50X、100X照明系统：自动LED照明系统电动控制系统：XYZ-三轴移动滤膜夹具：5 mm/13 mm软件运行环境：Win 10及以上电脑配置要求：CPUI7-11700F/运行内存32G或以上配置；6G独立显卡256SSD+2T硬盘 IPS 旋转升降：低蓝光高分辨显示屏；

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等…氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件

A应该功能： 用于测量LED小型灯具（卤素灯、杯灯、射灯、球泡灯等）及单颗大功率LED的配光曲线、照度、光强数据、光束角、光通量等参数。仪器设计了光学暗箱及光栏，无需暗室。测试过程由计算机控制完成，操作简单、使用方便、性价比高。根据被测灯的类型，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。 B主要参数标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters； CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries； CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates； C性能参数：● 光照度测量范围：0.1lx～99999lx ● 光照度测量精度：一级；● 灯具工作转台可绕水平轴（垂直转动）和垂直轴（水平转动）转动；● 转动范围：-180°~+180° ● 间隔角度： ≥0.5°；●角度测量精度：+0.1°； ● 光电探测器V（λ）修正水平高，达到国家一级照度计要求；●可测试灯具外型尺寸：150（长）×150（宽）×110mm（厚度） ●仪器型号尺寸：145×75×85（mm）●IESNA文件格式输出，可由其它照明和灯具设计软件直接导出图相似