现场筛查能量色散仪

探险者EXPLORER能量色散X荧光光谱仪是天瑞仪器结合10年手持式XRF技术研发经 验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代便 携式XRF产品。 EXPLORER 9000能量色散X荧光光谱仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式土壤重金属分析仪。EXPLORER 9000可对土 壤污染物进行原位测试与修复分析，可对污染土壤中的汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、 钒、铬、锰等重金属元素进行有效检测，还可根据客户需求定制增加检测元素。仪器不仅体 积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能卓越，堪比台式机，即使是重金属含量较低 的土壤也能轻松测定。应用领域优势土壤重金属普查内置GPS功能，在野外可随时搜索卫星信号，确定取样点的地理 位置信息，快速普查超大范围的土壤地质污染区，建立污染地 图，实时监控各区域的污染情况。对各类农业用地、居住用地、 商业用地、工业用地等级进行重金属污染环境评价。土壤重金属污染后的应急处理常用于污染事件发生后的应急处理。能快速、现场追踪污染异 常，有效寻找“污点”地带，圈定污染区域边界，进行实时勘察。助力污染区土壤修复对污染地带进行等级划分，圈定重点土壤污染区，按照划分好的区域进行重点优选治理，提高筛查效率，并实时监控污染区的土壤修复情况。六大性能优势更便捷的操作重量轻，体积小，人体工程学把手设计，配有专用仪器套，更易抓握，野外使用更方便。270 °可旋转5寸高清屏，支持多点操控，任何光线下都能清晰显示。密封式一体设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。无需制备样品，可直接对待测物表面进行测定。仪器既可手持进行快速测试，也能使用测试座对样品进行较长时间的精确测试。更卓越的性能无损快速检测，对准即测，一秒可报结果。性能堪比台式机，检测效果又快又准。 同时检测：汞、镉、铅、砷、铜、锌、镍、钴、钒、铬、锰等重金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素。 超近光路设计，提高了计数率达到5倍以上，大大缩短了测试时间，完全可以满足手持检测需求。更强劲的电力选配超大27000mAh锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。内置记忆电池，换电池不断电。更高端的配置微型光管、SDD探测器、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大核心技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。 采用超高主频及大内存，超大存储空间，可海量存储数据。全新自主研发的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数可达500kcps。准直滤波系统，其组合达到极限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。 800万高清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量更加准确。更安全的防护智能三色预警系统：LED三色长灯带设计，360度无死角显示。通电开机时绿灯亮，测试红灯闪烁，设备故障黄色灯闪 烁，仪器状态，一目了然。 三重安全防护功能： a: 自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏。 b: 采用加厚防护测试壁，有效防止散射。 c: 配送防护安全罩，防周边轻基体散射。 安全联动锁装置，当软件无法控制关闭，轻轻一按，保护您的安全。更智能的软件EXPLORER 9000 能量色散X荧光光谱仪配有专门针对土壤污染物的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打印功能等特点。 全新的智能软件，一键智能操作，采用双模设计（用户模式和专家模式）。用户模式一键检测标准土壤重金属元素；专家模式可进行增加元素，增加特定曲线等深入分析操作。 内置强度校正方法，校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得超高灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。2.轻松操作，自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

SPECTRO xSORT NonAlloy 用于---环境重金属监测---食药日用品有害金属快速筛查可在现场快速无损的对食药品以及日化用品（30秒显示包含Mg，Al，Si，P，S在内的实验室级的分析结果）进行筛查，检出限可达ppm级。 单描迹实现所有非金属基体样品的分析，一个样品，唯一分析结果。 监测元素种类包含Mg～U范围内40种以上，并可以根据客户需要扩展，真正意义上实现全元素X荧光光谱分析。 设备全自动智能校准(ICAL)，具备硬件安全快门，无需额外的外置标样，保障仪器始终处于最佳工作状态。 支持蓝牙/WiFi/Wireless无线数据传输协议，具备标准USB数据接口，可以直接连接USB存储设备导出数据。 SPECTRO xSORT – Technical DataSPECTRO xSORT—技术规格 Hardware 硬件Detector检测器 SDD 硅漂移半导体检测器 Resolution at Mn K-alpha: FWHM 160 eV Mn-K?能量分辨率：半峰宽160 eV up to 250 kcps input count rate 输入计数率最大至250kcps Excitation 激发源X-Ray tube X射线管Rh anode 铑靶up to 50kV 最大50kV Interlock Shutter 快门安全连锁机构Automatically detect the X-ray exposure before shutter open. Shut down Shutter within 200 ms ifThere is no sample detection and cut off X-ray Tube power supply at the same time.打开快门前，自动检测是否有X射线泄漏，如未检测到样品，快门将于200毫秒的时间内自动关闭，关闭快门的同时仪器自动切断X射线。 Shutter 自动快门Hardware Shutter design, the X-ray tube was shielded by the shutter unless shutter open. 具有硬体快门，快门关闭状态下将射线源与外界物理上进行隔离. Dimensions and weight 尺寸和重量- Height 高: 270 mm (10.7“)- Width 宽: 93 mm (3.7“)- Depth 深: 230 mm (9.1“)- Weight: Instrument : 1.264 kg (2.78 lbs), 重量：仪器1.264公斤 Power/ Electrical Connection 电源- Battery operation with Lithium-perlymer batteries, rechargeable 可充电锂聚合物电池操作- More than 8 hours continuous operation(typical duty cycle),, 8小时连续工作 - 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz (AC adapter/ charger) （变压器/充电器）- 11 W during analysis 分析时11W- 6 W in offline mode 待机时6W

NEX QC为小型?轻量型仪器、可以在几十mg/m2 的低附着量下进行硅的分析。将样品 切割成能够放入样品室的大小，只需轻轻一按即可进行测量。即使是对分析不熟悉的人员也可以轻松进行处理。 NEX QC在废弃物的再利用?再生资源化的最前线也很活跃。RPF（废物固化燃料）中氯的等级、现场进行简单筛查。当然也是一键式操作。 基本性能General能量色散X荧光检测元素范围：Na-U分析范围：ppm到百分含量空气或充氦环境检测X射线发生器ExcitationX光管 钯靶或铑靶或银靶或钼靶大于4W 50kV 电压检测器Detection高分辨率SDD检测器Peltier电制冷较大晶体面积检测器参数自动调整优良分析模式样品室 Sample Chamber大于 20cm直径×8cm样品室6位以上自动进样器32mm 可选可调节

分析元素达到40种 ICAL智能逻辑校准技术 单描迹实现所有金属基体的分析，一个样品，唯一分析结果 具有WiFi，蓝牙等无线数据传输功能技术参数：Detector检测器 High performance detector 高性能半导体检测器 Resolution at Mn K-alpha: FWHM ～180 eVMn-K?能量分辨率：半峰宽～180 eV Excitation 激发源X-Ray tube X射线管Rh anode 铑靶up to 50kV 最大50kV Interlock Shutter 快门安全连锁机构Automatically detect the X-ray exposure before shutter open. Shut down Shutter within 200 ms ifThere is no sample detection and cut off X-ray Tube power supply at the same time.打开快门前，自动检测是否有X射线泄漏，如未检测到样品，快门将于200毫秒的时间内自动关闭，关闭快门的同时仪器自动切断X射线。 Shutter 自动快门Hardware Shutter design, the X-ray tube was shielded by the shutter unless shutter open.具有硬体快门，快门关闭状态下将射线源与外界物理上进行隔离. Dimensions and weight 尺寸和重量- Height 高: 270 mm (10.7“)- Width 宽: 93 mm (3.7“)- Depth 深: 230 mm (9.1“)- Weight: Instrument : 1.264 kg (2.78 lbs), 重量：仪器1.264公斤 Power/ Electrical Connection 电源- Battery operation with Lithium-perlymer batteries, rechargeable 可充电锂聚合物电池操作- More than 8 hours continuous operation(typical duty cycle),, 8小时连续工作- 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz (AC adapter/ charger) （变压器/充电器）- 11 W during analysis 分析时11W- 6 W in offline mode 待机时6W

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

微谱科技WEPER XRF2800便携式能量色散X荧光光谱仪WEPER XRF2800 是一款基于X射线荧光原理的现场元素分析利器，是微谱科技在深耕XRF技术多年的最新力作。便携式X荧光光谱仪体积小、重量轻、性能稳定、灵敏度高、操作灵活、外形美观，可轻松应对复杂、恶劣的野外环境，随时随地对样品中的元素进行定性和半定量分析。广泛应用于场地调查、土壤初筛、油品、现场监控、现场污染物筛查等领域基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：7寸 产品特点：体积小，超级便携230mm×230mm×290mm迷你尺寸，随时随地都可为您提供测试服务超长续航大容量电池，续航时间6-8小时；可额外配置大容量手提式充电器，让您操作无忧出数快，30+元素一键即测，10 s左右即可得到稳定测量值，可同时分析30多种土壤金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素一体化X光管，性能优异采用高性能微型X射线管，搭配智能多位滤光片，针对重点元素进行了特别优化，达到最优异的检测效果更高的分辨率WEPER XRF2800采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至125eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析其他应用WEPER XRF2800打破了实验室环境条件的限制，无需真空和氦气条件就可以分析样品中的Mg、Al、Si、P、S等轻元素。可实现现场采样及现场分析矿石品味、进行矿石评估、岩心检测、绘制矿石分布图等。是地质勘探、矿山开采现场检测的得力助手。WEPER XRF2800可以实现快速、准确分析土壤中Pb、As、Cu、Ni、Zn、Cr等重金属，能够及时对厂区、矿区、重工业区周边环境进行监测，从而有效进行控制排放和污染治理。同时还可以对土壤中的营养元素进行监测，提高农作物的质量和产量，实现智能耕作。WEPER XRF2800可为海关检测假冒伪劣的材料和产品，用于进出口管控，识别冲突矿物，验证金、银、铂、钯金属的纯度，用于进口征税。还可用于珠宝贵金属的识别以及汽车三元催化剂的回收检测。

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

微谱科技WEPER XRF2501液体样品/车载应用能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2501可以精准测试从F到U的所有元素。液体样品直检，操作简单方便。可满足从柴油到原油中硫和其他元素分析的要求。符合ASTM和ISO标准。360mm×640mm×400mm小尺寸，可用于车载实验室，实现土壤重金属元素快速筛查，煤中有害元素的快速筛查和定量分析。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气(可额外选配真空模式和氦气模式)触屏大小：10寸 产品特点：液体样品直检符合油中硫检测的国际分析标准，ASTM D7220，D4284和ISO 13032污水样品直接检测，可用于快速检测污水中的重金属元素超标情况。直接将污水样品放入样品杯即可车载应用360mm×640mm×400mm小尺寸，可用于车载实验室，实现土壤重金属元素快速筛查，煤中有害元素的快速筛查和定量分析样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确更高的灵敏度微谱科技WEPER XRF2501设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。更高的分辨率WEPER XRF2501采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性WEPER XRF2501创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为&ldquo 国家重点新产品&rdquo ，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析； 耐火材料：各类样品成份分析； 有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析； 质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。 型号：CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测； 高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作； 样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂； 腔内环境：空气或真空； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 全中文Windows应用软件，操作简单。 技术指标 分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围：1ppm-99.99% 同时分析：20多种元素同时分析 能量范围：1-30keV 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率：150ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管（1KV-40KV） 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

EDX-6000D 测金仪能量色散X荧光光谱仪黄金检测专家Simply the Best准确：精准测量千足金万足金和K金快速分析: 最快10秒出结果无损：测量完全不会破坏样品无需每天重复标定，快速分析，简单易用一次分析所有贵重金属元素金，银，铂，钯，铑杂质及有害元素测量包括镍，铜，锌，铅，铱等极高的性价比EDX6000D 贵金属XRF分析仪-黄金检测专家考虑到当前黄金的高价值，对黄金的纯度的控制比以往任何时候都更为关键。无论您是购买黄金，出售或生产珠宝，制造金属还是回收废金属，都需要一种快速而可信赖方法来确定样品含金量，以进行质量控制和定价。EDX6000D结合目前最先进的XRF能量色散光谱技术和FP（基本参数法）软件，为用户提供了一种高效，准确的分析方法。应用领域：1、首饰加工厂 2、金银珠宝首饰店3、贵金属冶炼厂 4、质量检验部门 5分析测试中心 6、典当行检测对象： 黄金、铂金、钯金、K金、K白金等产品特点 ：快速无损直观操作简单快速区分真假贵金属快速区分千足金，万足金高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位黄金珠宝首饰检测专家EDX6000D仪器参数仪器外观尺寸: 380*372*362（mm）样品腔：310*280*60（mm）仪器重量: 30Kg元素分析范围：K19-U92钾到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷Si-Pin多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Au初始化标样交流净化稳压电源戒指样品夹黄金标样USB数据线电源线测试薄膜仪器出厂和标定报告保修卡测试谱图18K黄金XRF光谱可定制化测试报告连续稳定性测试报告Au96%黄金样品及时而专业的售后服务 对客户方操作人员进行技术培训现场安装、调试、验收服务产品终身维修免费提供软件升级提供最高效的技术服务，在接到用户故障信息后，8小时内响应，如有需要，48小时内工程师上门维修和排除故障

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

美国XOS Petra 4294 X荧光硫含量分析仪，采用高分辨率 X 射线荧光 (HDXRF) 技术，适用于检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物，以及煤炭等固体样品。Petra 4294采用创新的进样系统，该系统可将意外溢出的液体引至滴盘并远离重要部件，避免频繁维护。仪器符合ASTM D4294、GB/T 17040、GB/T 17606、ISO 8754 和 IP 336 标准方法。 产品特点：l 采用HDXRF高分辨率能量色散X荧光技术，超低背景l 检测下限（LOD）可达2.6 ppm @ 600 sl 简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快l 检测过程中样品杯垂直放置，如遇意外泄漏，可直接落入积油盘，不会进入仪器l 无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作l 超低维护量，较少的校准频率l 体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用l 分析器内无运动部件l 可选带二维码样品杯，仪器可直接扫码记录信息l 可升级自动进样装置 符合标准：ASTM D4294-16 能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫GB/T 17040 -2019 石油和石油产品中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法GB/T 17606 -2009 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法 技术参数：l 检测下限可达2.6 ppm @ 600 sl 有效测量范围：2.6 ppm – 10 wt%l 样品用量：不大于10 mLl 分析过程只需电源，无需燃烧和气体消耗l 具有多校准曲线存储功能，可实现对不同样品的测量l 测量时间：30 – 900秒，可自由设定 应用领域：石化产品如，车用汽油、柴油、调和用馏分油、喷气燃料、煤油、生物柴油、生物柴油调和燃料、乙醇汽油、石脑油、渣油、润滑油、原油、催化剂等。适用于石化企业，地炼、质检部门、第三方检测等行业。

全新推出SPECTROSCOUT型便携式能量色散X射线荧光仪，集顶级实验室分析仪SPECTRO XEPOS及优异的手持式分析仪SPECTRO xSORT之大成，它可在野外为您迅速提供可靠的实验室级的实验数据。实现这一切所需的成本低到令人咂舌。SPECTROSCOUT型仪器的元素分析范围宽Na-U, 在各个含量段均显示出优异的性能。仪器易于收放，可在野外迅速展开工作，且可提供极佳的分析精度，是现场分析的理想选择。所有操作均可方便地通过一体化的触屏实现，预设分析应用软件包。独特的iCAL设计可在5分钟用单样品实现仪器标准化。仪器重量轻，体积小，易于携带。同时可选装摄像系统，准确地调整样品的分析位置，并可同时储存图像及结果。1.集台式和手持式X荧光分析仪之大成，能在现场提供真正实验室级别的数据，堪称“便携式实验室”。2.与同级仪器相比具有极佳的性能价格比，价格却只有实验室设备的一半。比如：地质勘探现场使用且提供实验室级的地矿样品数据，无需把样品送回实验室，投资回报率极高。3.仪器设计得小巧紧凑，大样品室，高功率X光管，一体化处理器及高出能电池。4.体积小（270mmX306mmX306mm)，方便在钻井平台及狭窄空间，拥挤的车间等场合放置和工作。5.仪器重12.75公斤，便于携带及运输现场检测，实验室级的分析数据。6.以优异的性能应对各个含量相关元素，分析含量范围覆盖微量及常量，分析速度快,3-10分钟。7.无论主次痕量元素均可提供高精度的测量结果。8.可在任何时间，任何地点检测土壤重金属及有害元素，地质及矿物样品品分析，页岩气钻探，珠宝，贵金属，冶炼厂，润滑油中的磨损金属，及车、船用燃料中总硫, 总氯及铝, 硅等含量。适合于检测机构，贵金属，环保，地质，码头、矿山、舰船、台架试验及其他重型机械等使用场合。9.续航时间长，连续分析可达5个小时10.检出限低，部分元素可达1ppm以下11.一体化计算机及触屏，简单易用，分析结果实时显示，便于查看12.可外接计算机系统13.硅漂移检测器SDD,Rh靶，最大50kV

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可zui大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。ARL Quant’X 荧光能谱仪具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至百分之百技术参数

微谱科技WEPER XRF2601超大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2601可以精准测试从Mg到U的所有元素。350mm×345mm×85mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。可选配12位样品自动进样系统，提高测试效率。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：台式电脑 产品特点：超大腔体350mm×345mm×85mm超大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。无人值守WEPER XRF2601可选配12位样品自动进样系统，提高了测试效率先进分析技术微谱科技WEPER XRF2601设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义