有害元素射线荧光仪

产品特点&blacksquare 应用于大米中的硒、铅、砷等元素、水果蔬菜等中的重金属、食用油中的铅、砷、镍、污水及地表水重金属应急监测、汽油、柴油中金属含量如铅、铁、锰、工业湿法冶金过程检测分析&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解； 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用&blacksquare 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当，分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗&blacksquare 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，无损非破坏性检测，是野外工作者很好的分析工具 分析曲线图选取若干标准样品, 对其中多种金属元素进行直接分析，其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。 准确性和重复性对若干标准样品进行多次重复测量结果，以验证方法的准确性及稳定性。 检出限JP500 是一种单色能量色散X射线荧光分析仪，利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测量范围：Cd, Ni, Cu, Zn, As, Pb等测量时间：30s-1200s 可选探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、水质、食用油工作温度：-5 °C~50 °C电源：110-240 VAC±10%重量：9 kg尺寸：30 cm W x 23 cm L x 26 cm H

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具&blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR101对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.03mg/kg

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 仪器原理：单色聚焦X射线荧光光谱法。其检测原理被当前2020中国药典中药材重金属检测方法收录。◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测产品特点样品分析：固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解；◆ 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当；◆ 分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗；◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，是野外工作者很好的分析工具；◆ 无损非破坏性检测。检出限技术参数合规性 GB2762-2017测量范围 30-1200秒元素范围Ａｌ-Ｕ之间的40种元素数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘I/O端口 以太网10/100、USB电源 　110-240VAC±10％、50-60Ｈｚ工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85％重量 　　　9ｋｇ尺寸 　30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测，例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等，对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能，适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。产品特点◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小，方便室外工作，随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析（单位：%）重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线激发源 X射线管，50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC，50-60 Hz重量 约13Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE(电气电子产品废弃物处理法令）和RoHS法令（限制电器电子产品使用有害物质法令），快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。X射线荧光是一种可对加工材料和部件进行快速、无损扫描的检测技术。分析时间只需要几分钟，灵敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系统的检测最低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 标准的1.2 mm 分析光速可以保证即使是非常小的电子元件和部件也可以独立进行分析。XGT-5200WR为WEEE/RoHS, ELV和中国RoHS特别设计，用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高灵敏度测量并带有X射线显微镜功能。 400&mu m的X射线光斑，为有害元素的控制提供了高分辨率的扫描分析，适合小到IC集成块单一引脚的分析。同时提供世界最小光斑&mdash 10&mu m （可选配件）。 SDD检测器极大地提高了分辨率和计数率，且无需使用液氮（LN2） 无需任何样品制备或真空--样品仅需要放置在样品室中，即可在正常大气压力下分析。完全整合的软件可控制样品的移动，获取数据分析（包括定性和定量分析，并生成成分组成图像）。将样品放在样品祥中后，只需几秒钟，借助直观的&ldquo point and click&rdquo 选择分析位置，即开始抓取数据。 样品观察采用同轴几何呈象，可消除视差，您可以绝对相信，看到的样品即是测量的位置。 仪器装载了两个X射线管，从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束，可适用于一系列实验。这些光管传递的高强度光斑确保了最低的数据获取时间。而光管的单毛细管设计非常适合高强度的元素成像，甚至对于不平整样品同样有效。 通过自动采样扫描很容易获得XRF面扫描图像，样品下方的第二次信号检测能同时收集X射线透射图像。这项技术可提供额外的结构信息，极有利于对兴趣区域的定位，或了解样本的内部结构。特征一台仪器进行多种分析有害元素的扫描分析样品位置的简单准确控制适用于微观尺寸至宏观尺寸的宽范围样品分析XGT可解决各种分析问题和困难

Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE(电气电子产品废弃物处理法令）和RoHS法令（限制电器电子产品使用有害物质法令），快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。X射线荧光是一种可对加工材料和部件进行快速、无损扫描的检测技术。分析时间只需要几分钟，灵敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系统的检测最低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 标准的1.2 mm 分析光速可以保证即使是非常小的电子元件和部件也可以独立进行分析。 基于大量客户的要求，HORIBA凭借长期的经验开发出全新的EDXRF分析装置MESA-50 。它将为您提供友好的操作界面和优异的使用性能。MESA-50具有三种尺寸的准直器可用于各种大小的样品，从细长的电线、微小的电子器件到大型的样品。结合SDD检测器和HORIBA首创的DPP处理器，MESA-50将为您带来EDXRF的全新体验。MESA-50是HORIBA全新的生态采购支持仪器，不仅适合于欧洲的RoHS，ELV，也适用于其他地区的各种法规。 特征1．Speedy 快速硅漂移检测器大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度2．Small 小巧便携式，体积小，重量轻尺寸294（长）* 208（宽）*205（高），重量12千克内置电池可持续测量6小时无需担心X射线泄漏3．Simple 简单减少日常维护工作（无需液氮）无需真空泵各种材料测量直观简单4．Smart 智能中英文操作软件Excel数据管理工具

仪器名称型号X射线光电子能谱（XPS）日立 EA6000VX主要技术参数1、快速扫描凭借相当大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助相当大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置2、连续多点测量相当多可指定500个测量位置进行连续多点测量。由于采用自动测量方式，因此在测量大量样品是，也可发挥高效率3、高精密重合通过Telecentric Lens系统和高速?9?9高精度XY平台，将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的中心部分的目标元素也能进行简单观察。相当大250 mm×200 mm上方观察，并且能够实现广域位置相当小误差为100 μm以内的精确定位。 应用范围1、微小部位测量在FT系列中被公认的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量，即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层，无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量2、环境中限制物的测量RoHS等限制物的高灵敏度测量，短时间内测出树脂、金属等中含有的微量环境限制物。对复合样品也可专注到特定部位进行测量 3、轻元素测量通过安装充氦选购项，可以分析钠开始的轻元素。测量中能够独立运转的氦气系统。将使用成本相当大化降低。 仪器特点1、透过扫描机能笔记本、手机等不能透过外包装看到内部构造的产品，无需拆解就可得到不仅仅是基板上的Pb，甚至其他各种元素的扫描图。通过比较X射线照射后得到的元素扫描图像，可以了解关于产品内部部件构造的各种情报2、异物检测EA6000VXEA6000VX通过快速扫描功能可以在几分中内检测出宽广范围（相当大250 mm×200 mm）内含有的几十μm的微小金属异物，并查明其具体位置。也可检测出树脂等有机物内部还有的微小、微量金属异物。3、相对安全、安心的操作性自动接近、防止冲撞功能操作台上样品一旦设定好启动后，自动测量出样品的相当大高度，移动到相当适合的测量高度。即便是复杂形状的样品，操作员也可轻松测量。另外，即便通过操作指南调整了测量高度，由于安装了防止冲撞传感器，因此不会使样品受到损伤。

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具&blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求，畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状：最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜：5种自动交换，可以消除背景元素干扰，使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率：Si/Li检测器，145eV.5.检测下限：Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件： 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！ EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点：1、配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路，增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等

XGT X射线分析显微镜是能量色散型X射线荧光分析仪，可以快速、无损地分析待测样品的元素组成。不仅可以分析10 &mu m的微小区域；还可以自动扫描样品，扫描区域可达10cm X 10cm。没有什么技术可以如此简单的获得如此多的信息。仅仅需要点击感兴趣区域，就可以开始测量。并可以获得光学图像和元素面分布图的完美结合的测量结果。 XGT-7200 X射线分析显微镜单点分析以及自动球面成像 ，双真空管模式，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µ m.XGT-5200 X射线分析显微镜单点分析以及自动成像，正常大气压力下分析，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µ m. 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7200开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描；高能量分辨率，高计数率的测量，且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换（大气或真空）。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量 所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7200操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 µ m和1.2 mm间切换，以保证获得 最佳测量条件，无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机，可以迅速、精确地定位感兴趣区域。有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用：电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。 XGT-7200的灵活设计，保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果，无论是分析大区域，还是对微区细节分析，或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。主要特点：专利技术：X射线聚光导管（XGT）1、 世界领先技术：可将X射线全反射聚焦的聚光导管。2、 XGT技术创造了世界上最小的分析用X射线光斑（10µ m）丰富强大的分析功能1、 将光学图像与元素分析完美结合，轻松实现样品中元素的分布分析。2、 提供革命性的10µ m直径X射线束，实现对样品高分辨率的元素分析。3、 利用X射线的穿透性可以无损地对样品内部结构进行观察。4、 提供多种样品图谱采集方式，单点分析，多点分析，X射线透过像，高光谱元素面分布图像5、 完备的数据分析包提供定性分析，定量分析，多层厚度分析，谱图分析，谱图匹配，谱图比较，RGB图像合成等丰富的功能。6、 双真空模式，局部真空模式用于粉末样品，含水样品或生物样品进行分析，全真空模式可以进一步提供轻元素的分析精度。

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

产品名称：CIT-3000SYB能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。 适用范围 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和卤素检测； 型号：CIT-3000SYB 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV； 40KV-钨靶微型X射线管； 采用2048道多道分析器，分析精度更高； 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机； 测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单； 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据。 技术指标 分析元素范围：Na-U 元素含量分析范围：1ppm -99.99% 探测器能量分辨率优于150eV 最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 测量范围：1－40KeV 高压：0kV-40kV 管流：0μA-100μA 专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 额定功率：50W 仪器重量：25Kg 仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-40KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR700对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.02mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化处理器 　1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.02mg/kg

高精度X射线荧光元素分析仪土壤、食品及污水中重金属快速精确测量PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测JPX500基于HDXRF技术，可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618）要求。JPX500亦可测量水稻和小麦等农产品中的As、Pb、Cu、Ni和Se等其他重金属。无论您是农产品检查员，还是环境评价员，JPX500都能让您在更短的时间内检测更多的样品，让您能够进行更为彻底的分析，从而提高现场修复土地和土地分级分类决策能力。产品特点样品分析：固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解；◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当；◆ 分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗；◆ 设备内部采用独立风道散热方式，对内部X射线光管、X荧光探测器进行降温处理，避免长时间的工作，导致内部主要元件温度升高进而导致数据偏差加大；◆ 设备采用了独特的侧面进样，防止样品的泄漏，导致仪器硬件受损，并且避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，是野外工作者很好的分析工具；◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，减少人为操作误差，进样量少，简化现场制样流程。◆ 无损非破坏性检测。◆ 辐射安全防护功能：工作时的辐射水平远低于国际安全标准，无射线泄漏；当产生人为误操作时，设备会自动切断X射线。仪器通过辐射安全剂量认证，保证了设备使用的安全性。土壤检测准确性鉴于土壤基质的复杂性，选取国家土壤和沉积物等标准物质, 对其中的 Cd 元素进行直接分析，通过分析其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。数据表明 HDXRF 在高低镉含量检测均可提供精确的结果，包括污染物含量低于法规规定的限值 0.3 ppm土壤检测重复性JPX500对GSS-29 标准物质（镉含量低于土壤法规限值0.3 ppm）进行多次重复测量结果，以验证方法的稳定性。土壤中多元素分析JPX500还可提供针对土壤中多种重金属污染物定量分析，可直接测量15种无机污染物，是场地调查工作者必备的筛选综合工具。农作物及食品应用大米，小麦，玉米和番茄的标准样品中镉含量的测试结果。经过最简单的的样品制备，对市场上某些食品中的镉进行了测试。JPX500 可以对各类谷物进行检测，其测试结果具有很高的准确性和重复性，当测试时间为600s时，镉的检出限可低至30ppm。JPX500对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，以验证方法的稳定性。农作物及食品多元素分析JPX500还可提供针对农作物及食品中的多种重金属污染物定量分析。化肥应用选取国家化肥和添加剂等标准物质，对其中的镉元素进行分析，通过分析其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。JPX500还可提供针对无机化肥中的多种重金属污染物定量分析。元素检出限技术参数合规性 EPA6200测量范围 30-1200秒元素范围 Al-Ｕ之间的40种元素数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘I/O端口 以太网10/100、USB电源 　110-240VAC±10％、50-60Ｈｚ工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85％重量 　　　9kg尺寸 　30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

RoHS台式EDXRF光谱仪RoHS检测预校准能量色散X射线荧光光谱仪RoHS 《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》（RoHS）是限制在电子电器设备及其它消费品中限制使用有害成分的指令。系统能够提供对所限制元素的精确分析，如铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr），溴（Br）元素。 RoHS光谱仪采用高分辨率探测器，集成相机及高性能X射线管，通过光斑尺寸的改变使用多种尺寸的样品，以检测较低水平的有害物质存在与否。准确元素分析可准确分析Pb、Hg、Cd、Cr，Br等元素。样品相机集成摄像机及X射线光斑能够全方位识别感兴趣区域。简单易用自动基质模型识别，即使是非技术人员操作，亦可达到较高置信度。RoHS专用软件直观且用户界面友好的专用软件。RoHS中所禁止的物质包含铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（CrVI）、多溴联苯（PBB），多溴二苯醚（PBDE）和四种不同的邻苯二甲酸酯（DEHP，BBP，BBP，DIBP）。RoHS标准报告根据RoHS标准，生成打印报告，准确的描述受限元素的检测水平。RoHS专用软件 专用软件能够自动检测被测材料类型并选择与之匹配的测量方法。X射线扫描激活的同时会得到对应的图谱并进行分析。仪器已根据RoHS标准进行了校准及设定阈值，结果报告将呈现每个限制元素的含量并与设定的范围比对，判断通过与否。样品相机全程处于开启状态，并在软件界面中显示样品被扫描的光斑点位。每次检测结果、图谱，以及分析结果均可独立命名，保存在库文件中。 这款高效RoHS预校准专用软件为RoHS检测提供了一个简单易用的图形界面和测试平台。 RoHS主要应用 RoHS/WEEE符合性测试及管控元素筛查（Pb、Hg、Cd、Cr、Br）。

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作简单。 Horiba X射线荧光分析仪技术参数： ★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm ★ 使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术（XGT）实现微小区域的高灵敏度分析 ★ 采用大型试样室（460X360X150㎜） ★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并实现无损检测 ★ 可使用CCD照相机（50倍）指定试样的位置 （业内首家。X射线?光学同轴照射） ★ 测定可一键实现简单操作 ★ 自动元素干扰修正、厚度补偿 ★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介： 专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量 能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素 DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。 对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局最近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其第一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。 DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到最高的激发效率、最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm×350 mm×125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。技术参数： (1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。(4) 分析精度： 理想状态下，测量绝对精度为2～3ppm； 一般状态下，测量相对误差为10%。(5) 检出限： ≤2 ppm。(6) X射线光管： 高压：≤50kV， 电流：≤1mA，均连续可调。(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：≤155 eV。(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。(10) 样品室体积： 长×宽×高：480 mm×350 mm×125mm。(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度≤80%(25℃)，供电电源：220±20V，50Hz。(12) 整机功耗： ≤150W。(13) 尺寸与重量： 长×宽×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。主要特点： (1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到最高的激发效率和最佳的计数率。。(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。(10) 样品室体积大，能测量大件物品。(11) 价格功能比低，适合我国国情。(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。

仪器简介：专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素 DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局最近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其第一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到最高的激发效率、最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm× 350 mm× 125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。技术参数：(1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。(4) 分析精度： 理想状态下，测量绝对精度为2～3ppm； 一般状态下，测量相对误差为10%。(5) 检出限： &le 2 ppm。(6) X射线光管： 高压：&le 50kV， 电流：&le 1mA，均连续可调。(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：&le 155 eV。(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。(10) 样品室体积： 长× 宽× 高：480 mm× 350 mm× 125mm。(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度&le 80%(25℃)，供电电源：220± 20V，50Hz。(12) 整机功耗： &le 150W。(13) 尺寸与重量： 长× 宽× 高：503 mm× 412 mm× 478mm；重量：45Kg。主要特点：(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到最高的激发效率和最佳的计数率。。(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。(10) 样品室体积大，能测量大件物品。(11) 价格功能比低，适合我国国情。(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。

岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5. 样品室尺寸 较大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析EDX-LE Plus主要特点： ●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到较小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义