原位分析透射显微镜

Talos F200i S/TEM 产品描述更高生产率和灵活性 — 支持更多材料科学应用 用于高分辨率成像和分析应用的Thermo Scientific Talos F200i 扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 现可提供对称布置的双100 mm2 Racetrack 检测器“( Dual-X”)，以提高分析通量。 Thermo ScientificTM TalosTM F200i S/TEM 为 20-200 kV 场发射扫描/透射电子显微镜，专为提高各种材料科学样品和应 用的分析性能和生产率而设计。其标准 X-TWIN 物镜极靴间距——可赋予应用灵活性——结合高再现性镜筒设计，可支持高分辨率 2D 和 3D 表征分析、原位动态观察及衍射应用。同时，Talos F200i 还 配备了 4k × 4k Ceta 16M 相机，可在 64 位平台上提供大 视野、高灵敏度快速成像。您可根据自身需求选择适宜的 EDS 可加装各类的能谱探头，从单 30 mm2 到双 100 mm2 特点与用途关键优势 双 EDS 技术可实现。从单 30 mm2 探头到可实现高通量 (或低剂量)分析的双 100 mm2 探头，可根据您的需求 选择理想的 EDS 高质量 S/TEM 图像和准确的 EDS。借助创新直观的 Velox 软件用户界面，可通过极其简单的操作方法，获得 高质量 TEM 或 S/TEM 图像。Velox 软件内置的特有的 EDS 吸收校准功能可实现精确的定量分析 全方位原位分析功能。加装三维重构或原位分析 样品杆。高速相机、智能软件和我们的大 X-TWIN 物镜间 距可实现 3D 成像和原位数据采集，同时可避免分 辨率和分析能力的损失 提高生产效率。超稳定镜筒，借助 SmartCam 和恒定功率 物镜实现的远程操作，用于快速的模式和高压切换。轻松 快速切换，适用于多用户环境 可重复性的数据。所有日常 TEM 合轴(例如，聚焦、 共心高度调节、电子束偏转、聚光镜光阑器对中、电子束 倾斜和旋转中心)自动完成，确保每次开始使用时都具有优质的成像条件。实验可反复重现，使您可以更多关注研 究工作本身，而非所用设备 高速大视野成像。4k × 4k Ceta CMOS 相机具有大视野， 能够在整个高压范围实现高灵敏度、高速数码缩放 紧凑型设计。本设备具有更小的尺寸和占地面积，有助于 在更具挑战性的空间内安装，同时降低安装和支持成本 产品参数TEM 线分辨率 ≤0.10 nm TEM 信息分辨率 ≤0.12 nm LACBED 会聚角可至 ≥100 mrad 衍射角可至 24°STEM 分辨率 ≤0.16 nm EDS 侧插式，可伸缩 电子枪类型 场发射枪或高亮度场发 样品操作 Z 轴运动总行程 (标准样品杆) ±0.375 mm α 倾转角可至(三维重构样 品杆) (高视野样品杆) ±90° 样品漂移 (标准样品杆) ≤0.5 nm/min

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。 特点 高分辨率扫描透射电子显微镜成像 HAADF-STEM图像0.136nm，FFT图像0.105nm（高分辨率镜头（*）） HAADF-STEM图像0.144nm（标准镜头） 明场扫描透射电子显微镜图像0.204nm（w/o球差校正仪） 高速，高灵敏度能谱分析：探针电流× 10倍 元素面分布更迅速及时 低浓度元素检测 操作简化 自动图像对中功能 从样品制备到观察分析实现无缝连接 样品杆与日立聚焦离子束系统兼容 配有各种选购件可执行各种评估和分析操作 同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）图像。 低剂量功能（*）（有效降低样品的损伤和污染） 高精度放大校准和测量（*） 实时衍射单元（*）（同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案） 采用三维微型柱旋转样品杆（360度旋转）（*），具有自动倾斜图像获取功能。 ELV-3000即时元素面分布系统（*）（同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像）（*） 选购件技术指标 HD-2700球差校正扫描式透射电子显微镜项目描述图像分辨率w/o球差校正仪保证 0.204nm（当放大倍数为4,000,000时）w球差校正仪保证 0.144 nm（当放大倍数为7,000,000时）（标准镜头）保证 0.136nm（HAADF图像） 保证0.105 nm（通过FFT）（当放大倍数为7,000,000时）（高分辨率镜头（*））放大倍数100倍 至 10,000,000倍加速电压200 kV, 120 kV （*）成像信号明场扫描透射电子显微镜：相衬图像（TE图像） 暗场扫描透射电子显微镜：原子序数衬度图像（Z衬度图像） 二次电子图像（SE图像） 电子衍射（*） 特征X射线分析和面分布（能谱分析）（*） 电子能量损失谱分析和面分布（EV3000）（*）电子光学系统电子源肖特基发射电子源冷场致发射器（*）照明透镜系统2-段聚光镜镜头球差校正仪（*）六极镜头设计扫描线圈2-段式电磁感应线圈原子序数衬度收集角控制投影镜设计电磁图像位移± 1 &mu m试片镜台样品移动X/Y轴 = ± 1 mm, Z轴 = ± 0.4 mm样品倾斜单轴-倾斜样品杆：± 30° （标准镜头）, ± 18° （高分辨率镜头（*））真空系统 3个离子泵，1个TMP极限真空10-8 Pa（电子枪）, 10-5 Pa（样品室）图像显示个人电脑／操作系统PC/AT兼容, Windows® XP监视器19-inch液晶显示器面板图像帧尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素扫描速度快扫，慢扫（0.5至320秒／帧）自动数据显示记录序号，加速电压，下标尺，日期，时间 （*） 选购件

Talos F200X S/TEM 产品描述Talos F200X 扫描 / 透射电子显微镜 (S/TEM) 具有快速、准确且量化 的多维纳米材料表征分析能力。Talos F200X S/TEM 的创新功能可提高通 量、精度与易用性，非常适于学校、 政府和工业研究环境中的纳米级研究 与分析。 高分辨率成像，获取更高质量的数据 Thermo ScientificTM TalosTM F200X S/TEM 融合了出色的高分辨 率 STEM 和 TEM 成像功能与行业领先的能谱仪 (EDS) 信号检 测功能及基于成分分析的三维化学表征功能。Thermo Scientific VeloxTM S/TEM 控制软件通过智能扫描引擎、基于多个 STEM 探 测器的四通道集成以及用于分辨样品磁畴、电畴分布的差分相位 衬度 (DPC) 成像，大幅改善了成像效果。可为 EDS 数据处理和 量化分析提供极高的速度和精确度。 X-FEG 高亮度电子枪可提供更高的总电流(标准肖特基 FEG 电子束电流的五倍)，同时可维持较小的会聚角。您可以获 取 STEM、EDS 和高分辨率 TEM 应用所需的卓越的图像分辨率 和信噪比。X-FEG 不仅非常稳定，而且寿命很长，可实现出色的 成像效率。 视野更大，速度更快 Talos D/TEM 上的快速 TEM 成像支持高分辨率和原位 动态观察。 Thermo Scientific Ceta 16MTM 相机具有大视场并能够以 25 fps 的快速率捕捉图像，同时压电载物台可确保高灵敏度、无漂移成 像和精确样品导航，从而节约时间并允许您从每个样品中获取更 多数据。 加快纳米级分析以更快获取答案 Talos F200X S/TEM 包括获得专利的 Thermo Scientific Super-XTM、 集成四个硅漂移探测器 (SDD) 的 EDS 系统，可提供出色的灵敏 度和高达 105 光谱 / 秒的扫描能力。与 X-TWIN 物镜集成，可提高收集效率，同时可实现给定电子束电流(甚至是低强 度 EDS 信号)的出色输出计数率。 更轻松地开展研究 凭借友好的数字用户界面和领先的人体工程学设计，Talos S/TEM 使成像和分析工作流程可为更多科学家所用。快速的图像 采集，加之易于使用的操作平台，即使是经验不足的操作者也能 够快速收集结果。人机分离的远程操作设计显著提高了易用性， 舒适性和电镜的稳定性。此外，为了确保维持工作效率，Talos S/TEM 配备了新型设备状态记录和诊断软件。该软件可收集主要 的仪器参数，有助于远程诊断和支持。 特点与用途主要优势 更好的图像数据 :配备同步多重信号检测的高通量 STEM 成 像可实现更好的对比度，从而可提供高质量图像 更短的化学成分数据生成时间 :快速、精确且量化的 EDS 分 析可揭示纳米级细节 强大的应用扩展能力 :添加特定应用的原位 样品杆以开展动 态实验 功能 领先的光学性能 :恒定功率 X-TWIN 物镜 提高易用性:快速轻松的操作切换，适用于多用户环境 超稳定平台 :恒定功率物镜、压电载物台、牢固的系统机壳和 远程操作可确保稳定性 SmartCam 摄像头 :数字搜索和查看摄像头显著提高了操作便 利性，让使用者可以离开暗室进行远程操作。 完全集成的快速相机 :Ceta 16M 像素 CMOS 相机可提供大视 场和高读取速度(512 x 512 时为 25 fps) 全面的远程操作 :自动光阑系统与 Ceta 相机相结合，支持全 面的远程操作 丰富的分析功能 :Talos S/TEM 使用 EDS 立体成像技术将样品 成分分析功能从二维扩展至三维。

关于INSTEMS系统原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外场如力、热、电等激励信号的动态响应过程的方法，是当前物质结构表征科学中最新颖和最具发展空间的研究领域之一。受限于透射电镜样品室狭小的空间及特殊的结构，目前商业化的透射电镜原位力学样品杆多采用探针式力场加载，无法实现双轴倾转，大大限制了研究者从原子尺度下原位研究材料的力学行为及变形机制。针对这一世界性技术难题，百实创公司专项开发的INSTEMS系列透射电镜用原位原子尺度双轴倾转力、热、电一体化综合测试系统拥有独特创新设计的MEMS芯片以及与之相匹配的微驱动系统，保证了样品在透射电镜毫米尺度空间内实现力场与热场或电场耦合加载条件下，同时具备大角度正交双轴倾转功能，进而实现在多场耦合加载下材料原子尺度显微结构及其性能演化的原位观察与记录。该系统可实现1200℃高温下力热耦合加载，最大驱动力大于100mN，驱动行程大于4μm，最小驱动步长低于0.5nm，达到国际领先水平，极大的扩展了透射电子显微镜在材料科学原位研究领域的应用。本系统与各大品牌电镜有优异的机械及电磁兼容性，稳定性高，保证电镜原有的分辨能力。整合了独特创新设计的MEMS芯片与微型驱动器的高集成Mini-lab原位样品搭载平台，保证了不同形状、性质的样品在TEM中有稳定的力、热、电加载实验环境，并能精确控制参数变量；通过更换不同Mini-lab实验台，可以灵活的实现力、热、电单场或任意两场耦合加载，并能做到互不干扰。精密的结构设计保证样品能在场加载条件下实现大角度双倾，结合皮米级超高精度控制系统，确保显示的原子像无抖动、分辨率高。功能强大，操作便捷的控制软件提供了丰富的加载模式，并实时收集与处理数据，满足用户不同条件下的实验与测试设计要求。可实现多场耦合加载：ISTEMS系列产品具有高度集成的可定制化微型实验系统。通过更换不同功能的微型实验台（Mini-lab），该系列可灵活施加力、热、电等多种外场组合。Mini-lab独特的MEMS芯片设计和新颖的集成策略解决了小区域多场耦合加载兼容性难题。可独立控制多场加载，避免相互干扰。 原子尺度分辨率：INSTEMS系列结构紧凑的微型实验台和特殊设计的β轴倾转机构完美融合了多场耦合施加和双轴倾转功能，可轻松实现原子尺度分辨的动态观察。 高精度控制与测量：超灵敏微型驱动器稳定的四电极MEMS芯片 可靠的电学连接无干扰的电路布局 强大的高精度多通道源表确保INSTEMS系列产品可同时实现高精度加热、pm级驱动控制和pA级电信号测量。 适用范围极宽、功能易于扩展：INSTEMS系列适用于多种形态尺寸的材料（适用于块体以及一维、二维纳米材料）；可实现多种类型的多场耦合施加（热-力-电耦合）；加载灵活，可对样品进行拉伸加载、压缩加载、弯曲加载，也可进行纳米压痕实验；同时可根据用户需求进行功能扩展。适用于大部分固体无磁材料的研究。 关键技术指标与参数：热场指标温度范围室温~1200℃*加热速率＞10000℃/s温度精度≥98%测温方式四电极法EDS兼容性√力场指标驱动精度＜500pm最大驱动力＞100mN最大位移4μm电场指标最大输出电压±50V电流测量范围1pA-1A*电压测量范围100nV-50V双倾指标α角倾转范围±25°β角倾转范围±25°*驱动精度＜0.1°分辨率极限稳定性＜50pm/s*空间分辨率≤0.1nm* * 列出参数取决于Mini-lab型号与电镜状态。 硬件说明：样品杆部分包含双轴倾转样品杆与配套的Mini-lab实验台，MET型号样品杆可兼容所有类型的Mini-lab实验台。软件控制：力、热、电三场都具有丰富的加载模式可供选择：力场可选择单向拉/压加载或循环加载；电场拥有7种可供选择的波形加载；热场可自由设置温控程序。 应用范围1. 高温环境下的力学行为在力场与热场条件下原位实时观察材料原子像，并能获取成分信息。可应用于加速蠕变、高温相变、元素扩散、高温塑性变形、再结晶、析出相与位错的关系等方面的研究。原位原子尺度研究高温合金相在高温下（1150℃）的形变机理原位观察超级合金在400℃与750℃下塑性变形过程2. 高温环境下的电学行为 在热场与电场条件下原位实时观察材料原子像，并获取电场数据。可应用于热电材料、半导体、相变存储、电场可靠性分析、介电材料等领域的研究。 热电耦合条件下SnSe原位原子尺度失效分析3. 力与电场的交互行为在力场与电场条件下原位实时观察材料原子像，测量和控制样品电信号。可应用于压电材料、铁电材料、锂离子电池、柔性电子器件等领域的研究。 4. 力场、热场、电场单场条件下的材料组织变化可定量的控制单力场、热场、电场施加于样品，并实时原位的观察样品原子像及成分信息。高熵合金900℃条件下观察元素扩散

高效率高分辨率电子显微镜H-9000 300kV透射电子显微镜以其优秀的稳定性、应用性能及可靠性满足近十年来的科研团体的严格要求。新款的300kV透射电子显微镜H-9500继承了这些优点，又采用了一些新技术，实现了计算机控制和数字图像，易于操作。可以获得高质量的原子分辨率图像，是材料研究领域不可或缺的工具。1．易于操作的Windows XP和图形操作界面2．高效快捷的数字化电子显微镜 5分钟内实现300kV 高压下电子束发射(自动模式) 1分钟换样时间3．快慢双模式照相系统4．图片数据库5．稳定可靠的5轴样品台低速或高速样品台6．样品位置记忆追踪功能7．FIB扩展夹具(选件)性能描述分辨率0.10nm(晶格像)0.18nm(点分辨率)加速电压300kV(200kV选件)放大倍数缩放X 1,000- X 1,500,000选区X4,000- X500,000低倍X200- X500电子枪六硼化镧灯丝LaB6照射系统透镜四级透镜光阑4孔成像系统透镜五级透镜物镜光阑4孔选区光阑4孔 样品室 样品台5轴样品尺寸3mm样品位置追踪自动 样品倾转α：±15度β：±15度或更大 镜筒烘烤内置式烘烤系统观察室屏幕尺寸主屏幕：110mm光学倍率X 7.5照相室区域选择全屏或半屏 软件系统控制系统基于Windows图形控制软件标配功能参数显示、测量、图像处理数字相机1，024 X 1，024 pixles视场放大倍数15倍(LCD观测/直接观测)

产品简介日立驰名的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术，空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效，高精度样品分析的新途径。分辨率：0.1 nm（晶体点阵）0.19 nm（点对点）0.13 nm（信息极限）放大倍数：200倍 至 1,500,000倍加速电压：300 kV, 200 kV （*）, 100 kV （*）（*） 选购附件 解决方案 立扫描透射电镜HF3300在原位催化中的应用 应用领域：石油/化工检测项目：热性能检测样品：化工原料 方案优势近年来，在催化领域中，真实的催化反应过程成为广大学者的研究热点。原位扫描透射电镜能够实现实时观察样品的反应过程，监测样品的变化。其中日立的冷场300KV的HF3300型扫描透射电镜配备了独特的真空系统(差分泵) 。气体可以直接通入样品室与样品进行反应，到达样品表面的压力最 高能够达到10Pa；配备的新型冷场枪更加稳定，亮度更强，发射电流更加稳定；宽真空范围二次电子探头的加入，能够实现同时观察样品的明场，暗场及二次电子像，从而实现对催化反应过程全方位的了解。实验设备：HF-3300场发射透射电子显微镜

PicoFemto透射电子显微镜样品杆预抽存储系统，关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜样品杆预抽存储系统（T-staion）由内置进口分子泵组、样品杆预抽室及触摸显示屏组成。适用于各品牌透射电镜样品杆，保证样品杆长期处于高真空状态，减少进样预抽时间。可升级等离子清洗功能，实现对样品杆或MEMS芯片的清洗。 性能指标兼容各厂家样品杆 分子泵组：ISO/CF63 84L/sec极限真空：5 X10-5 Pa插杆位：4个杆位，可独立放气。触摸屏：实施显示预抽室真空度，一键开关。可升级等离子清洗功能（需提前预留接口） 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电子显微镜样品杆预抽存储系统的介绍，关于样品杆预抽存储系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

低电压扫描透射电子显微镜具备多种成像模式：透射模式（TEM），扫描模式（SEM），透射扫描（STEM）分析模式：电子衍射模式：ED 能量色散光谱模式：EDS电子加速电压：10, 15, 25 kV空间分辨率：1nm采用Schottky场发射电子枪，高亮度和对比度观察生物样品无需染色，且对切片厚度无要求，成像结果对比度高。真空自闭锁技术，更换样品仅需3分钟。无需冷却水和电源，无需专业实验室，操作简单，维护成本极低。其他类应用： 生物研究方向实验室台式透射电子显微镜系统，支持多种成像模式观察生物样品无需染色，简易快速地获得观察结果无需专门隔震防磁使用环境，操作维护简单无需冷却水，无需专业实验室，维护成本低采用电子加速电压，避免了传统电镜的缺点和限制 在大型的透射电子显微镜系统中，电子加速电压一般在80-300 kV左右。在如此高的电压下，对于C，H，O，N等轻元素组成的样品（如高分子和生物样品等），只有经过重元素染色操作才可以得到较好的图像对比度。而LVEM25采用的电子加速电压范围在10-25 kV，较低的加速下，研究者不需要对样品进行染色，即可得到很高的图像对比度。同时在25 kV电压下，LVEM25还避免了低电压对样品厚度的限制要求，只需要研究者按照正常厚度要求制作样品切片即可。操作简单，维护成本极低。 LVEM25虽然和传统TEM一样遵循了相同的电子透镜基本原理，但是在产品结构上却有着显著的不同。这一创新性设计使得LVEM25的设备尺寸大大缩小，真正实现了TEM的“小型化，台式化"。LVEM25对设备安装环境没有任何要求，不需要高功率电源，无需磁屏蔽和减震装修，更不需要冷却水和液氮冷阱等复杂配置，日常维护成本极低。同时LVEM25操作界面简单友好，研究者经过相对简单的培训后即可执行日常操作。 优化的硬件配置，保证运行稳定可靠。 采用肖特基场发射电子枪 LVEM25采用了Schottky场发射电子枪，保证设备连续运行数千小时。同时为样品成像提供了更好的亮度和空间均匀度。 样品和电子枪附近采用离子泵抽真空 LVEM25在样品腔和电子枪附近配备了离子泵来达到超高真空环境，在保证设备运行稳定的同时，有效避免了外部机械振动。 电子透镜组由永磁体组成 LVEM25的电子透镜模块由永磁体构成，从而精简了一般大型电镜中的磁体电源系统，进一步提高了设备运行的稳定性和可靠性，同时大大降低了维护成本。 放大倍率：1,000 - 470,000 加速电压：10, 15, 25 kV分辨率：1 nm 类型：场发射规格：分析系统 加工定制：标准器电子枪：Schottky场发射电子枪 加速电压：5,10,15,25 kV成像模式：TEM、STEM、SEM、EDS和ED TEM分辨率：最高1.0 nm冷却水：不需要 压缩空气：不需要换样时间：最快2分钟 应用：材料、生物体积：小巧 操作维护：简单

Talos F200X TEM用于材料科学快的200 kV FEG S / TEM，可进行多维化学分析Thermo Scientific Talos F200X扫描/透射电子显微镜（S / TEM）将出色的高分辨率S / TEM和TEM成像与行业的能量色散X射线光谱（EDS）信号检测以及具有成分映射的3D化学表征相结合。Talos F200X S / TEM可以在所有尺寸（1D-4D）中进行快，精确的EDS分析，同时具有佳的HRTEM成像和动态显微镜快速导航功能。Talos F200X S / TEM可以做到所有这些，同时还提供高的稳定性和长的正常运行时间。STEM成像中的高分辨率和通量Thermo Scientific Talos F200X S / TEM可在多个维度上对纳米材料进行快，精确的定量表征。Talos F200X S / TEM具有旨在提高通量，精度和易用性的创新功能，非常适合在学术，政府和工业研究环境中进行高级研究和分析。特色配件NanoEx-i / v TEM固定器Thermo Scientific&trade 样品加热和偏压支架将扩展显微镜的功能。NanoEx-i / v是需要 对纳米材料进行原位加热的广泛应用中进行精确实验的理想解决方案 ，例如研究纳米级退火行为，金属中的相变，催化剂纳米系统中的结构变化和烧结现象，淬灭，偏析/扩散现象等等。应用示例：带有Talos S / TEM的自动化3D EDSFIB制备的电池负极材料该应用示例显示了由镍，钴，铝和炭黑组成的FIB制备的电池负极材料的EDS层析成像大视野。 车辆老化的汽车催化剂该应用示例显示了车辆老化催化剂的大视野EDS层析成像研究。 纳米管该应用示例显示了用作Na离子和Li离子电池的电极材料的纳米管。核壳纳米粒子此应用示例显示了元素分辨率低至几纳米的Ag-Pt核壳纳米粒子的EDS层析成像研究。

透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µ A/nA/pA等电流范围。该系统主要技术优势・ 采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)・ 所有放大和采集设置均由软件控制・ 信号自动量化并以电流值(µ A, nA, pA)显示硬件设备特点・ 快速放大优化成像・ 宽增益范围，以适应所有技术・ 小型化的固定式电子设备・ 自动信号路由为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器 主要技术优势：・ 最靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音・ 内置电压偏压和电流补偿・ 自动信号路由，避免放电为透射电镜配备的电学分析放大器 主要技术优势：・ 第二级放大以达到最大范围・ 出厂精确校准的增益和偏移・ 可选锁定配置电学分析成像仪(DISS6) 主要技术优势：・ 集成扫描发生器和图像采集・ 像素分辨率高，扫描速度快 ・ 高位深电学分析模数转换・ 同时输入明场, 高角环形暗场和电学分析信号软件设备特点：DISS6 -控制和采集应用程序 主要技术优势：・ 电学分析放大器控制・ 电学分析, 高角环形暗场和明场图像采集・ 自动定量到µ A…fA・ 电流-电压扫描工具・ 实时图像颜色混合工具・ 标准文件格式DIPS6 -数据处理程序 主要技术参数：・ 完整的图像和元数据查看器・ 自动定量到µ A…fA・ 基于梯度的变色效果・ 用于可视化的信号颜色混合・ 导出定量像素值 应用案例图一. STEM-EBIC技术:・ 非弹性损失诱导了片层中的电子-空穴对・ 内部电场将电子-空穴对分开・ 电流被数字化以获得电子束诱生电流(EBIC) STEM图像图二. 揭示内部电场:・ 分析器件中的接点和触点・ 根据设计验证掺杂分布 ・ 与设备模型和参数相关联图三. 研究每一层结构中的电学性能：・ 定位重组活性增加的位点・ 区分有/没有电学活动的缺陷・ 使用高分辨率技术图四. 基本物理参数测定:・ 少数载流子的扩散长度・ 位错的复合强度图五. FIB/SEM薄片制备:・ 应用标准FIB工作流程进行原位偏压・ 利用扫描电镜中的电学分析视场选择目标・ 在扫描电镜中筛选薄片以观察制备过程中的损伤

透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号) 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。性能指标 透射电子显微镜指标：● 兼容指定型号电镜及极靴； ● 单倾可选高倾角版本；● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）；● 测量电极数可选。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电压输出最大±200 V，最小±100 nV；● 电流测量最大±1.5 A，最小100 fA；● 恒压或者恒流模式；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 低温指标：● 兼容MEMS加热及电学芯片； ● 全温区测量，温度范围：85 K- 380 K；● 控温稳定性：优于±0.1 K；● 温度连续可控。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆，关于样品杆价格请咨询(微信同号)透射电镜原位拉伸样品杆，可在室温条件下对材料施加拉力，结合透射电镜原位观察材料结构的变化。 本套系统包括：单倾拉伸样品杆、拉伸控制器、专用拉伸样品载片。 应用方向：研究金属材料、纳米材料、薄膜等的力学变化机制。性能指标：● 适用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射电镜● 兼容指定类型极靴● 保证透射电镜原有分辨率● 最大拉伸位移：2 mm● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s● 拉伸步长：小于100nm 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆的介绍，关于透射电镜原位拉伸样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

TH-F120场发射透射电子显微镜是一款先进的分析仪器，它结合了场发射电子源的高亮度和透射电子显微镜的高分辨率成像能力。该产品适用于材料科学、生物学、纳米科技等多个领域的研究和分析工作。TH-F120具备以下特点：1. 高分辨率成像：采用场发射电子源，提供高亮度的电子束，实现纳米级甚至亚纳米级的高分辨率成像。2. 稳定性与可靠性：设计精密，确保长时间运行的稳定性和可靠性，适合连续工作环境。3. 先进的样品室：提供大空间样品室，支持多种样品的装载和分析，包括冷冻样品。4. 多功能分析：配备能量色散X射线光谱仪（EDS）和电子能量损失谱（EELS）等分析附件，实现样品的化学成分和电子结构分析。5. 易于操作的用户界面：采用直观的用户界面和先进的软件，简化操作流程，提高工作效率。6. 安全性设计：符合国际安全标准，确保用户在使用过程中的安全。TH-F120场发射透射电子显微镜是科研和工业领域中不可或缺的精密分析工具，能够帮助研究人员深入理解材料的微观结构和性质。TH-F120在材料科学领域的应用尤为广泛，它可以帮助科学家们研究纳米材料的晶体结构、界面行为、缺陷分布等关键特性。通过高分辨率成像，研究人员能够观察到材料在原子尺度的排列和变化，这对于开发新型材料、优化材料性能具有重要意义。在生物学领域，TH-F120也发挥着重要作用。它能够以极高的分辨率成像生物大分子，如蛋白质、核酸等，揭示它们的精细结构和相互作用机制。这对于理解生命过程、疾病发生机制以及药物研发等方面都具有重要的推动作用。此外，TH-F120还具备强大的数据分析能力。其配备的软件系统能够自动处理和分析采集到的图像和数据，提供精确的定量分析结果。这大大减轻了研究人员的负担，提高了工作效率和准确性。总的来说，TH-F120场发射透射电子显微镜是一款功能强大、性能卓越的精密分析仪器。它不仅具备高分辨率成像、稳定性与可靠性、多功能分析等显著特点，还在材料科学、生物学等多个领域发挥着重要作用。随着科学技术的不断进步和应用领域的不断拓展，TH-F120必将在更多领域展现出其独特的价值和魅力。

产品简介专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。特点 高分辨率扫描透射电子显微镜成像HAADF-STEM图像0.136nm，FFT图像0.105nm（高分辨率镜头（*））HAADF-STEM图像0.144nm（标准镜头）明场扫描透射电子显微镜图像0.204nm（w/o球差校正仪）高速，高灵敏度能谱分析：探针电流×10倍元素面分布更迅速及时低浓度元素检测操作简化自动图像对中功能从样品制备到观察分析实现无缝连接样品杆与日立聚焦离子束系统兼容配有各种选购件可执行各种评估和分析操作同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）图像。低剂量功能（*）（使样品的损伤和污染程度降至最低）高精度放大校准和测量（*）实时衍射单元（*）（同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案）采用三维微型柱旋转样品杆（360度旋转）（*），具有自动倾斜图像获取功能。ELV-3000即时元素面分布系统（*）（同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像）（*） 选购件技术指标HD-2700球差校正扫描式透射电子显微镜项目描述图像分辨率w/o球差校正仪保证 0.204nm（当放大倍数为4,000,000时）w球差校正仪保证 0.144 nm（当放大倍数为7,000,000时）（标准镜头）保证 0.136nm（HAADF图像）保证0.105 nm（通过FFT）（当放大倍数为7,000,000时）（高分辨率镜头（*））放大倍数100倍 至 10,000,000倍加速电压200 kV, 120 kV （*）成像信号明场扫描透射电子显微镜：相衬图像（TE图像）暗场扫描透射电子显微镜：原子序数衬度图像（Z衬度图像）二次电子图像（SE图像）电子衍射（*）特征X射线分析和面分布（能谱分析）（*）电子能量损失谱分析和面分布（EV3000）（*）电子光学系统电子源肖特基发射电子源冷场致发射器（*）照明透镜系统2-段聚光镜镜头球差校正仪（*）六极镜头设计扫描线圈2-段式电磁感应线圈原子序数衬度收集角控制投影镜设计电磁图像位移±1 μm试片镜台样品移动X/Y轴 = ±1 mm, Z轴 = ±0.4 mm样品倾斜单轴-倾斜样品杆：±30°（标准镜头）, ±18°（高分辨率镜头（*））真空系统3个离子泵，1个TMP极限真空10-8 Pa（电子枪）, 10-5 Pa（样品室）图像显示个人电脑／操作系统PC/AT兼容, Windows XP监视器19-inch液晶显示器面板图像帧尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素扫描速度快扫，慢扫（0.5至320秒／帧）自动数据显示记录序号，加速电压，下标尺，日期，时间 （*） 选购件

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。 特点 高分辨率扫描透射电子显微镜成像 HAADF-STEM图像0.136nm，FFT图像0.105nm（高分辨率镜头（*）） HAADF-STEM图像0.144nm（标准镜头） 明场扫描透射电子显微镜图像0.204nm（w/o球差校正仪） 高速，高灵敏度能谱分析：探针电流× 10倍 元素面分布更迅速及时 低浓度元素检测 操作简化 自动图像对中功能 从样品制备到观察分析实现无缝连接 样品杆与日立聚焦离子束系统兼容 配有各种选购件可执行各种评估和分析操作 同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）图像。 低剂量功能（*）（有效降低样品的损伤和污染） 高精度放大校准和测量（*） 实时衍射单元（*）（同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案） 采用三维微型柱旋转样品杆（360度旋转）（*），具有自动倾斜图像获取功能。 ELV-3000即时元素面分布系统（*）（同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像）（*） 选购件技术指标 HD-2700球差校正扫描式透射电子显微镜项目描述图像分辨率w/o球差校正仪保证 0.204nm（当放大倍数为4,000,000时）w球差校正仪保证 0.144 nm（当放大倍数为7,000,000时）（标准镜头）保证 0.136nm（HAADF图像） 保证0.105 nm（通过FFT）（当放大倍数为7,000,000时）（高分辨率镜头（*））放大倍数100倍 至 10,000,000倍加速电压200 kV, 120 kV （*）成像信号明场扫描透射电子显微镜：相衬图像（TE图像） 暗场扫描透射电子显微镜：原子序数衬度图像（Z衬度图像） 二次电子图像（SE图像） 电子衍射（*） 特征X射线分析和面分布（能谱分析）（*） 电子能量损失谱分析和面分布（EV3000）（*）电子光学系统电子源肖特基发射电子源冷场致发射器（*）照明透镜系统2-段聚光镜镜头球差校正仪（*）六极镜头设计扫描线圈2-段式电磁感应线圈原子序数衬度收集角控制投影镜设计电磁图像位移± 1 &mu m试片镜台样品移动X/Y轴 = ± 1 mm, Z轴 = ± 0.4 mm样品倾斜单轴-倾斜样品杆：± 30° （标准镜头）, ± 18° （高分辨率镜头（*））真空系统 3个离子泵，1个TMP极限真空10-8 Pa（电子枪）, 10-5 Pa（样品室）图像显示个人电脑／操作系统PC/AT兼容, Windows® XP监视器19-inch液晶显示器面板图像帧尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素扫描速度快扫，慢扫（0.5至320秒／帧）自动数据显示记录序号，加速电压，下标尺，日期，时间 （*） 选购件

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位多场耦合样品杆，结合TEM+STM+MEMS原位技术，通过更换不同类型的原位芯片及探针，在透射电镜中实现光、电、力、热多种原位功能。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位多场耦合样品杆 是一种原位透射电子显微镜实验系统，借助该系统，研究人员可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括光、电、力、热等），从而对材料或者器件等不同类型样品实现多重激励下的原位表征。具备多种耦合方式：力-热、力-电、光-电、光-电-力、光-电-力-热原位多场耦合样品杆-技术指标电学测量加热控温1.包含一个电流电压测试单元；1.温度范围：室温至1000℃；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.温度准确度：优于5%；3.电流分辨率：100fA；3.控温稳定性：优于±0.1℃；4.电压输出范围：±10V，±150V；4..软件控制，数据自动保存。5.软件自动测量：I-V、I-t透射电子显微镜内不同温度下的原位充放电研究 In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperaturesdoi: 10.1002/smll.202001899 力学操纵光纤指标1.探针粗细调方式：全软件操控；1.光纤探针、平头光纤、光纤透镜多种方案可选；2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；2.光纤快拆接口：SMA、FC等；3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；3.可外接光源；4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；4.可外接光谱仪；原位多场耦合样品杆-产品选型 原位多场耦合样品杆 具有单倾、双倾（JEOL）两个版本；泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，支持定制。原位多场耦合样品杆-同内部分用户原位多场耦合样品杆-典型案例1、加热芯片+电学探针-------＞透射电镜内的原位加热电学实验；2、加热芯片+力学探针-------＞透射电镜内的原位高温力学实验；3、电学芯片+电学探针-------＞透射电镜内的三端器件测量实验；4、电学芯片+光纤单元-------＞透射电镜内的电制发光现象研究；5、电学芯片+光纤单元-------＞透射电镜内的原位光电现象研究。安徽泽攸科技有限公司是原位多场耦合样品杆生产厂家，关于原位多场耦合样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位电学测量样品杆技术指标 电学测量力学操纵1.包含一个电流电压测试单元；1.探针粗细调方式：全软件操控；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；3.电流分辨率：100fA；3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；5.软件自动测量：I-V、I-t 原位电学测量样品杆产品选型 原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。 原位电学测量样品杆国内部分用户典型案例 1、透射电镜内的原位电学实验；2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。安徽泽攸科技有限公司是原位电学测量样品杆生产厂家，关于原位电学测量样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

原子分辨率300 kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体，先进材料的研发领域，原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的，不可或缺的工具。 特色 用户友好型的操作系统和Windows® 兼容的图形用户界面设计快速的样品分析，1分钟换样，5分钟内升高压至(300 kV)高稳定性，高分辨率透射电子显微镜高稳定性，高分辨率透射电子显微镜点分辨率为0.18 nm，晶格分辨率为0.1 nm稳定可靠的5轴优中心测角台性能优异，可靠性高性能优异，可靠性高得到市场验证的10级加速器电子枪设计阻抗式高压电缆设计高档可选附件高档可选附件通用样品杆，在日立公司的TEM, FIB 和 STEM系统均可使用可为原子分辨率的动态研究提供加热，冷却和气体注入等多种样品杆备注：FPD(平板显示器)上的图像为模拟图像。规格项目说明分辨率0.10nm(晶格分辨率)0.18nm(点分辨率)加速电压300kV、200kV*1、100kV*1放大倍率连续放大模式1,000～1,500,000×选区模式4,000～500,000×低倍模式200～500×电子枪灯丝LaB6(六硼化镧灯丝，直流加热)灯丝交换自动升降式电子枪高压电缆阻抗电缆照射系统透镜四级透镜聚光镜光阑4孔可变探针尺寸微米束模式：0.05 - 0.2 μm(4级)纳米束模式：1 - 10 nm(4级)电子束倾斜±3°成像系统透镜五级透镜聚焦图像摇摆调整利用像散监视器进行正焦补偿聚焦优化物镜光阑4孔可变光阑选区光阑4孔可变光阑电子衍射 选区电子衍射纳米探针电子衍射会聚束电子衍射相机长度250 - 3,000 mm样品室样品台5轴优中心海帕测角台样品尺寸3mmΦ样品位置追踪X/Y = ±1mm, Z = ±0.3 mm通过CPU控制马达驱动样品位置显示自动驱动，自动跟踪样品倾斜α = ±15°, β = ±15° (日立双倾样品台*2)防污染冷阱烘烤功能中温烘烤功能观察室荧光屏主屏：110 mmΦ聚焦屏：30 mmΦ目镜7.5×照相室区域选择整张照相/半张曝光胶片25张(2套胶片盒)图形用户界面 操作系统：Windows XP® 显示器19英寸显示器功能数据库，测量，图像处理数码CCD 相机*3相机耦合透镜耦合有效像素1,024 × 1,024 像素A/D 分辨率12位真空系统电子枪离子泵：60 L/s镜筒涡轮分子泵：260 L/s观察室/照相室扩散泵：280 L/s前级泵：135 L/min × 3台*1：放大倍率校准为可选项*2：可选件*3：本规格适用于可选的1,024 × 1,024像素的数码CCD相机

原子分辨率300 kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体，先进材料的研发领域，原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的，不可或缺的工具。 特色 用户友好型的操作系统和Windows® 兼容的图形用户界面设计快速的样品分析，1分钟换样，5分钟内升高压至(300 kV)高稳定性，高分辨率透射电子显微镜高稳定性，高分辨率透射电子显微镜点分辨率为0.18 nm，晶格分辨率为0.1 nm稳定可靠的5轴优中心测角台性能优异，可靠性高性能优异，可靠性高得到市场验证的10级加速器电子枪设计阻抗式高压电缆设计高档可选附件高档可选附件通用样品杆，在日立公司的TEM, FIB 和 STEM系统均可使用可为原子分辨率的动态研究提供加热，冷却和气体注入等多种样品杆备注：FPD(平板显示器)上的图像为模拟图像。规格项目说明分辨率0.10nm(晶格分辨率)0.18nm(点分辨率)加速电压300kV、200kV*1、100kV*1放大倍率连续放大模式1,000～1,500,000×选区模式4,000～500,000×低倍模式200～500×电子枪灯丝LaB6(六硼化镧灯丝，直流加热)灯丝交换自动升降式电子枪高压电缆阻抗电缆照射系统透镜四级透镜聚光镜光阑4孔可变探针尺寸微米束模式：0.05 - 0.2 μm(4级)纳米束模式：1 - 10 nm(4级)电子束倾斜±3°成像系统透镜五级透镜聚焦图像摇摆调整利用像散监视器进行正焦补偿聚焦优化物镜光阑4孔可变光阑选区光阑4孔可变光阑电子衍射 选区电子衍射纳米探针电子衍射会聚束电子衍射相机长度250 - 3,000 mm样品室样品台5轴优中心海帕测角台样品尺寸3mmΦ样品位置追踪X/Y = ±1mm, Z = ±0.3 mm通过CPU控制马达驱动样品位置显示自动驱动，自动跟踪样品倾斜α = ±15°, β = ±15° (日立双倾样品台*2)防污染冷阱烘烤功能中温烘烤功能观察室荧光屏主屏：110 mmΦ聚焦屏：30 mmΦ目镜7.5×照相室区域选择整张照相/半张曝光胶片25张(2套胶片盒)图形用户界面 操作系统：Windows XP® 显示器19英寸显示器功能数据库，测量，图像处理数码CCD 相机*3相机耦合透镜耦合有效像素1,024 × 1,024 像素A/D 分辨率12位真空系统电子枪离子泵：60 L/s镜筒涡轮分子泵：260 L/s观察室/照相室扩散泵：280 L/s前级泵：135 L/min × 3台*1：放大倍率校准为可选项*2：可选件*3：本规格适用于可选的1,024 × 1,024像素的数码CCD相机

PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，关于价格请咨询(微信同号)同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片，也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器，满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 部分型号电镜可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25° （同时受限于极靴间距）； 力学传感器指标： ● 最大载荷100 mN（可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN）；● 力测量实测噪声优于5nN（0.1 mN最大载荷时）；● 力测量实测分辨率优于5 nN（0.1 mN最大载荷时）；● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 加热指标：● 温度控制范围：室温至1000 ℃；● 温度准确度：优于5%；● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标：● 粗调范围：X方向 1.5 mm，YZ 方向2 mm；● 细调范围：XY 方向20 um，Z 方向 10 um；● 细调分辨率：XY 方向 0.4 nm，Z 方向 0.2 nm。 产品特色 （1）超大力学测量及温度控制范围；（2）多场下的力学研究。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号) 原文：安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位光学样品杆，基于TEM-STM样品杆技术，样品杆内集成光纤，杆末端可外接光源或光谱仪，实现透射电镜内的光电测量或光谱学表征研究。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位光学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，同时集成光纤单元，可外接光源或光谱仪，开展光电测量及光谱学分析，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 原位光学样品杆-技术指标 电学测量光纤指标1.包含一个电流电压测试单元；1.芯径可选，外径250um；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.光纤探针、平头光纤、光纤透镜多种方案可选；3.电流分辨率：100fA；3.光纤快拆接口：SMA、FC等；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.光源可选：4波段半导体激光器、波长连续可调氙灯光源；5.软件自动测量：I-V、I-t5.光谱仪：根据用户具体需求匹配 Optomechanical Properties of MoSe2 Nanosheets as Revealed by InSitu Transmission Electron Microscopydoi.org/10.1021/acs.nanolett.1c03796Nano Lett. 2022, 22, 2, 673–679原位光学样品杆-产品选型 原位光学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实际实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号光学样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。原位光学样品杆-同内部分用户 原位光学样品杆-典型案例 1、透射电镜内的原位光电测量实验；2、透射电镜内的阴极发光（CL）实验；3、透射电镜内的原位电致发光谱实验。安徽泽攸科技有限公司是原位光学样品杆生产厂家，关于原位光学样品杆价格请咨询(微信同号) 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。以上就是PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，详细咨询：

PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块，从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

? PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 低温参数指标：● 兼容指定型号透射电镜及极靴；● 全温区结构分辨率优于0.2 nm；● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 （1）温度连续可控，稳定性高；（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，详细咨询：

Delong低电压台式透射电子显微镜LVEM系列Delong Instruments推出的LVEM系列低电压台式透射电子显微镜（Low-Voltage Electron Microscope），采用Schottky场发射电子枪，电子束加速电压远低于大型透射电镜。低电压电子束对密度和原子序数有很高的灵敏度，对于轻元素样品，无需染色即可得到高质量成像，尤其适合高分子、生物等样品。同时，低电压透射电镜对样品的损坏较小。☆ 实验室台式透射电子显微镜系统，支持多种成像模式 ☆ 观察生物样品无需染色，简易快速地获得观察结果☆ 无需专门隔震防磁使用环境，操作维护简单☆ 无需冷却水，无需专业实验室，维护成本低各型号详情(点击图片即可了解) LVEM 5LVEM 5将高分辨率成像和纳米级分辨能力结合在一起，小型台式TEM设计。LVEM5能够在TEM、SEM和STEM成像模式下工作，同时保持经济实惠和使用简单，是高校或研究机构从事纳米工作的理想工具。LVEM 25LVEM 25是性能强大的紧凑型透射电子显微镜。它具有多功能性，将TEM、STEM两种成像模式，和ED分析模式结合到一台独立的机器中。实用和直观的设计以及令人印象深刻的分辨率使得LVEM25在高校或研究机构中纳米工作的研究成为一种乐趣。LVEM 25ELVEM 25E是All in One的紧凑型透射电子显微镜。它的多功能性在于它将3种成像模式（TEM、SEM和STEM）和2种分析模式（EDS和ED）结合到一台独立的仪器中。这种先进的设计与令人印象深刻的分辨力相结合，使LVEM 25E成为满足您纳米级成像要求的特殊伙伴。各型号参数对比 LVEM 5LVEM 25LVEM 25E（New!!!）操作模式 TEM, STEM, SEM, ED TEM, STEM, ED TEM, STEM, ED, EDS, Dark Field TEM, Dark Field STEM 工作电压5 kV10, 15, 25 kV10, 15, 25 kV分辨率（TEM）1.5 nm1.0 nm1.0 nm未染色样品的对比度高高高电子源场发射电子枪场发射电子枪场发射电子枪冷却水不需要不需要不需要压缩空气不需要不需要不需要换样时间3分钟3分钟2分钟

FEI Talos F200X 融合了出色的高分辨率扫描/透射电子显微镜 (STEM) 和 TEM 成像功能与行业ling先的能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化学表征功能。Talos F200X 可在所有维度 (1D-4D) 下实现zui快速、zui精确的 EDS 分析，以及zui好且支持快速导航的动态显微镜 HRTEM 成像。FEI Talos F200X 融合了出色的高分辨率扫描/透射电子显微镜 (STEM) 和 TEM 成像功能与行业ling先的能量色散 X 射线光谱仪 (EDS)。Talos F200S 在 STEM 成像上具有极大的多功能性和极高的通量。它可以为动态显微镜实现zui精确的 EDS 分析和zui好的 HRTEM。与此同时，FEI Talos F200S 还提供zui高的稳定性和最长的正常运行时间。

透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，详细咨询：

? 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 力学传感器指标：● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m；● 载荷分辨率优于5 nN（使用1 N/m悬臂梁时）；● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 产品特色 （1）可保证电镜原有分辨率，即使在球差内也可以拍到清晰原子像；（2）良好的操纵稳定性，压电陶瓷驱动方式，保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性 ，探针移动平稳，实现高分辨原位观察实验；（3）操作简便，软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元，满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作；（4）力电一体化解决方案，力学和电学配置可满足大部分测试需求。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统，详细咨询电话：

单颗粒分析所需的样品筛选和数据采集更加轻松全新的 Thermo Scientific&trade Glacios&trade 冷冻透射电子显微镜（冷冻 TEM）为各个领域的科学家带来了一种全面、经济的冷冻 TEM 解决方案。它采用 200 kV XFEG 光学器件、行业引领者的 Autoloader（冷冻样品操作机器人），还有与 Krios G3i 冷冻 TEM 上相同的创新自动化易用功能。Glacios 冷冻 TEM 将这一切都绑定在很小的空间内，简化了安装过程。内建连通性确保在整个工作流中提供一条稳固、无污染的通路，从样品制备和优化一直延伸到图像采集和数据处理。Glacios 冷冻 TEM 可在单颗粒分析 (SPA) 工作流中用于预筛选样品质量，然后传输到 Krios 冷冻 TEM 以进行极限分辨率 SPA 数据采集。此外，Glacios 冷冻 TEM 还可以配置直接电子探测器和/或 Volta 相位板，以便构成完整的独立 SPA 数据采集解决方案主要优势占用空间小Glacios 的全新硬件架构经过特别设计，旨在满足对较小占用空间和更便捷检修的需求。在很多情况下，此设计可以在对现有基础架构进行重大修改时避免额外投资和不需要的实验室中断，或满足对专用实验室的需求。通过自动化增强易用性Glacios 冷冻 TEM 可减少用户需要执行的复杂对中次数。对于需要定期执行的重复性对中操作，已在 SPA 的 EPU 软件中实施自动化对中程序。此外，EPU 用户界面还进一步进行了简化，旨在提供全面的用户指南。始终保证可重复、优异的工具性能Glacios 冷冻 TEM 的优异的热和机械稳定性可确保提供极高的光学性能。此仪器采用自评估功能，可自动评估显微镜的光学状态，并为需要优化的任何步骤提供反馈。此外，在进行 SPA 或断层扫描实验时，自动化对中程序使仪器可以调节到自身的优异的起始点。吞吐量在 Thermo Fisher 冷冻 TEM 上，EPU 是用于大型数据集自动化筛选和采集的原生软件包。借助从 EPU 内对自动加载器的完全控制，盒中的所有网格可进行批量筛选：在创建网格图后，玻璃化网格的冰质量（存在性、厚度）将自动进行分类，以便支持网格方格的导向选择。工作流连通性为了成功进行冷冻电镜数据采集，生物化学和玻璃化两方面的优化都需要高效的筛选流程。Glacios 冷冻 TEM 在设计上旨在集成于 SPA 工作流中，它可用来进行样品评估和优化，然后进行高分辨率数据采集。数据采集可直接在 Glacios 冷冻 TEM 上进行，或在传输样品之后在 Krios 或 Arctica 冷冻 TEM 上进行自动加载器胶囊和盒系统可确保在 Glacios、Arctica 和 Krios 冷冻 TEM 之间稳固、无污染地传输样品，无需操作各个小网格。合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

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