高精度量热仪

仪器信息网高精度量热仪专题为您提供2024年最新高精度量热仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括高精度量热仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的高精度量热仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合高精度量热仪相关的耗材配件、试剂标物,还有高精度量热仪相关的最新资讯、资料,以及高精度量热仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

高精度量热仪相关的厂商

  • 公司介绍: 艾普瑞(上海)精密光电有限公司为在上海注册的外资公司,注册资金为60万美金;公司位于上海市闵行区工业开发区,占地广阔,环境优美;公司共拥有员工五十多名,在全国设有2个办事处。 艾普瑞公司一直秉承了严谨、专业、实用、注重售后服务的风格,全权负责中国地区的销售,技术支持工作。公司生产的各系列温度记录仪,温湿度记录仪,多来,一直以高品质,高精度,优质的售后服务享誉盛名。
    留言咨询
  • 东莞市灏凯仪器设备有限公司是一家集生产、销售及售后服务、为一体的高新技术企业,我们拥有仪器领域的专业水准和雄厚的技术实力,在仪器领域异军崛起。 秉持务实、诚信的品质,不断为用户提供满意的高科技产品,是我们始终不变的追求。在充分引进、吸收国内外先进技术的基础上,我公司已成功开发出高精度油槽,可程式恒温恒湿、冷热冲击、带斜率冷热冲击机、高精密无风烘箱、快速温度库房、带废气燃烧型双胆防腐烘箱、高压加速寿命试验机、低温卷绕试验机、蒸汽老化、精密烘箱、老化试验机、耐黄变试验机、可视真空箱等高精度环境测试设备,一流的质量和精湛的技术服务得到了用户一致好评。公司不断与业内研发人员交流合作,设计生产、维修调试和工程改造能力迅速提高,规模不断壮大,不断向更高目标迈进。 灏凯人奉行“进取求实 严谨 团结”的理念,不断开拓创新,以技术为核心、视质量为生命、奉用户为上帝,竭诚为您提供性价比最高的检测设备、高质量的工程设计改造及无微不至的售后服务。目前公司注册资金50万,目前已拥有专业的技术人员12名,专业的研发、设计、生产和销售团队,灏凯人以自强不息、厚德载物的精神,扬帆起航,引领行业的发展! 灏凯发展状况:目前已经为上百家企业提供产品并进行着完善的售后服务;公司一切以用户需求为中心,希望通过专业水平和不懈努力,塑造良好企业网络形象,为企业产品推广文化发展提供服务指导; 售后服务:公司设有完善统一的售后服务体系,并提供终生电话咨询和指导服务。
    留言咨询
  • 400-860-5168转3909
    公司成立以来,致力于成为电池、化学品行业以及水泥行业设备的优质供应商, 公司所代理的产品涉及有热危害防范和安全量热仪,产品在对放热事件的检测、控制和防范设计等方面具备丰富的经验。以及有可以测试水泥固化过程中的水化热是专业仪器。公司所代理产品如下:水泥行业所用设备: 水泥量量热仪、水泥半绝热量热仪、流变仪电池行业所用设备: 电池加速量热仪、等温量热仪、化学品行业所用设备:加热绝速量热仪、快速筛选量热仪、微型反应量热仪、泄放尺寸量热仪、低热惰性量热仪等
    留言咨询

高精度量热仪相关的仪器

  • 中图仪器SJ5100高精度量具量规测长机采用的是高精度光栅式大量程接触式测量方式,能够测量及检定精密量具、精密量规,如块规、环塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸,如齿轮、花键、校对棒、非标量规等。SJ5100高精度量具量规测长机原理是利用光栅的干涉作用,通过光电检测器将光信号转化为电信号,并经过计算得出被测物体的尺寸。具有高精度、高速度、非接触式测量等优点,广泛应用于机械加工、电子制造、半导体生产等领域。其测量精度通常可达到亚微米级别,可以满足大多数工业生产对尺寸精度的要求。仪器主要功能1、标配功能:检测量块&块规:(0.1~300mm);光滑环规:φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞规:φ1~φ220mm;螺纹环规:M5~M200(螺距0.8~4mm)螺纹塞规:M1~M220(螺距0.25~5.5mm);光滑卡规:内卡5~200mm,外卡1~300mm千分尺校对杆:25~300mm;塞尺:0.02~1mm针规:φ0.1~φ10mm三针:0.118~6.585mm;两点内径千分尺:25~300mm;2、可选配功能:小型光滑环规:φ0.8~φ5mm;螺纹环规:规格M3~M4(螺距0.5~0.7mm);光滑锥度环规:φ5~φ200mm(厚度≤50mm);光滑锥度塞规:φ5~φ60mm(长度10~100mm);φ60~φ200mm(长度≤50mm);螺纹锥度环规:M5~M200mm(厚度≤50mm);螺纹锥度塞规:M5~M60mm(长度10~100mm);M60~M200mm(长度≤50mm);锯齿螺纹、梯形螺纹:M3~M400(螺距0.5~6mm);花键环塞规/花键及标准齿轮(跨棒距测量):内φ10~φ200mm,外φ5~φ200mm,模数0.8~6mm;外径千分尺示值误差手动校准:25~300mm;数显及游标卡尺示值误差手动校准:75~300mm;深度千分尺示值误差手动校准:0~25、25~50、50~75mm;三爪内径千分尺手动校准:φ6~φ200mm;表类(百分表、千分表、杠杆表手动校准);数显半径规手动校准:R5~R700mm;轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸,内外径尺寸测量;SJ5100高精度量具量规测长机采用进口高精度光栅测量系统、高精密研磨直线导轨、高精度温度补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术,实现各种长度参数的高精度测量。整个测量过程不超过3分钟,结束后自动生成结果及记录报表。性能特点1. 全程直接测量:SJ5100系列高精度光栅测长机采用进口高精度长玻璃光栅尺作为长度方向定位,可进行高精度全行程直接测量。2. 高精度、高稳定性:1)高精度光栅测量系统,分辨力达到0.01μm,测量精度高;2)精密研磨导轨系统导轨直线度高,材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作;3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆,保证测试数据的高精度真实采集;4)采用大理石基座,通过有限元分析优化仪器基座结构保障几十年稳定不变形,高刚性大理石底座结构保证了仪器在头座及工作台在测量移动过程中几乎不产生变形,仪器受外界震动干扰小,保证仪器的长期稳定可靠性;5)采用紧凑型摩擦驱动结构,移动摩擦驱动力小,保证了头座移动过程中的稳定性。3. 双向恒测力:1) 特殊传感器双向恒测力系统,减小了测力对测量结果的影响,保证了高的系统测量精度;2) 测力较大范围的连续可调;3) 非砝码加载,测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。4. 智能化管理与检测软件系统:1)仪器操作界面友好,操作者很容易基本掌握仪器操作,使用十分简便;2)十多年积累的实用软件设计经验,向客户提供简洁、实用、便捷的操作体验;3)集成众多长度标准、规程,功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检测报告,自动显示、打印、保存、查询检测记录;4)测量范围广,可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量;5)软件配备快速找拐点指示功能,方便客户快速便携地找到被测件的拐点;6)纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;7)打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检测操作时间;8)本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检测结果。5. 方便快捷的仪器操作体验:1)测帽无需调节,高精度测帽加工保障测量精度,直接安装即可使用;2)螺纹塞规测量三针带支板,配合仪器测帽可快速的进行螺纹塞规的中径测量;3)支持客户使用模糊搜索量规标准,并支持用户特殊规格量规自动计算公差带。6. 高性能五轴工作台:1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨:摩擦力小,稳定性好,承载高;2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构,方便客户更好地找到三个轴的拐点;3)Z轴及Y轴可配置数显表,可将数据传输到电脑,可用于锥度量规测量及螺纹螺距观察。7. 高性能内尺寸测量装置:配置高性能环规内测装置,可测量小M3螺纹环规(根据选配测针),同时可完成小(φ0.8mm)光滑环规检测(选配测针);测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N,由软件选择测力大小(可根据客户需求定制更小测力)。部分技术规格型号SJ5100-Prec300(精密测量型)测量范围外尺寸直接测量:0~340mm内尺寸比较测量:5~200mm(配置比较测量环规)外尺寸示值误差≤±(0.2+L/1000)μm,其中:L为被测长度,单位:mm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.1μm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.2μm(使用测钩)≤0.3μm(使用内测装置)分辨力0.01μm(可选0.1μm、1μm)测力内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调测量直径环规200mm(标配) 、塞规250mm(标配)仪器尺寸1400*400*450mm仪器重量150kg五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mX轴浮动±10mmZ轴旋转±3°Y轴摆动±3°负载50kg台面尺寸350*25mm恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
    留言咨询
  • 瑞士丹青OMT高精度量块比较仪,具有绝对测量和比对测量两种方式,采用德国 HEIDENHAIN测量传感器,全程范围内任意25mm范围内可采用绝对测量,150mm内全程 采用比对测量时只需要6个参考量块,覆盖所用被测尺寸量块,节约检测时间,在比较测 量时,它能够达到0.03µ m重复性。可以一只手在测量台上操作基准量块和测量量块,使得 测量工作非常简单,并且由于开放式的设计使量块整个检定过程可以全程观察,确保测量 结果可靠性,软件可满足用户测量需求,包括量块检测、校准机构和生产商等。
    留言咨询
  • 官网产品:大尺度量热仪—墙角试验介绍FTT的大尺度量热仪—墙角试验可提供完整的ISO9705耗氧原理测试装置及墙角火燃烧试验设备,并且可以为想升级现有设备或自己研发仪器的客户提供服务。我们为后者可以提供气体分析仪器控制柜以及测试管道。控制柜包括测量热释放速率等必要的相关参数的仪器。该仪器是一个可大可小的量热计,因此可以与FTT的锥形量热计共同使用。测试管道包括烟气采样探针、空气测速仪,以及烟雾密度测量仪(白光和激光)。大多数动态火场测量仪的使用原理都是测量释放的热量和焚烧产生的烟气。大尺度量热仪—墙角试验符合ISO 9705, EN 14390, ASTM D5424, ASTM D5537, ASTM E603, ASTM E1537, ASTM E1590, ASTM E1822, NFPA 265, UL 1685, NT FIRE 25, NT FIRE 32标准。FTT公司介绍英国Fire Testing Technology Limited(FTT)公司创建于1989年,是全球专业从事研发生产测试火灾和燃烧特性的仪器设备公司之一。FTT公司拥有世界先进的防火和阻燃研究小组,直接参与ISO,CEN和ASTM国际标准的制定与更新,确保公司生产的仪器始终符合最新标准方法的要求。今天,FTT公司已成为国际知名、公认的防火和阻燃测试仪器供应商之一,产品全线覆盖建材、电缆、塑料、交通等行业对防火和阻燃测试的需求。代表产品有iCone锥形量热仪,FAA微型量热仪,SBI单体燃烧,NBS烟雾密度箱,EN50399成束电缆热释放仪等。
    留言咨询

高精度量热仪相关的资讯

  • 中国科大率先实现高精度量子测量术
    记者从中国科大获悉,该校郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组,在国际上首次利用量子统计测量技术实现不受传统光学散射极限限制的相邻发光物体的测量和分辨,其精度可以达到纳米量级。研究成果近日发表在国际权威刊物《物理评论快报》上。  如何提高测量精度,数百年来一直是科学研究的主要课题和技术发展的主要追求目标。因此,新型的测量技术不断被开发,而其中最有吸引力的就是利用量子力学基本原理实现的量子测量方法。随着量子力学的发展以及相关量子信息技术的开发和应用,量子测量一方面可以实现超过经典测量极限的高精度测量,另一方面可以实现经典方式无法完成的各种测量。  孙方稳研究组利用物体发光的量子统计属性,设计并实验实现了不受经典光学散射极限限制的量子统计测量技术,其精度可达纳米量级。实验中,他们用氮原子取代金刚石材料中的一个碳原子,与近邻的空穴形成氮—空穴色心——一种极其微小的发光体。然后,他们巧妙地利用简单的光学收集装置,通过探测色心所发出的光子数,基于它们的量子统计属性,成功实现了两个相距8.5纳米的氮—空穴色心独立成像和分辨,同时测量了每个色心的结构,测量精度达2.4纳米。如果通过增加收集光子数,可以把精度提高到1纳米以内。实验中所需的光路简单,测量系统稳定,不受量子消相干效应的影响。
  • 华中科技大学研制并交付使用首台高精度量子重力仪
    华中科技大学引力中心团队3日宣布,团队历经15年潜心研究,在量子重力仪研发方面取得突破,近期成功研制并交付有关行业部门首台高精度绝对重力仪。经过多个点位的双盲测量评估,以及多家单位的专家综合评定,该仪器精度达到微伽水平,受到用户好评,已顺利通过验收。记者从华中科技大学了解到,该校引力中心成立30余年以来,一直将面向国家重大需求作为重要科研方向。在中国科学院院士罗俊带领下,华中科技大学引力中心胡忠坤、周敏康团队历经15年潜心研究,攻克了物质波干涉、超低频隔振、装备小型化等量子重力仪的关键技术,于2013年将量子重力仪的分辨率提升至国际最好水平,并保持至今。华中科技大学引力中心团队耗时30年测出世界最精准引力常数G,在聚焦前沿的同时,瞄准国家需求,研制出了自主知识产权的小型化量子重力仪装备,为量子重力仪走出实验室、服务国家需求,迈出了坚实一步。业内人士认为,这一自主研制量子重力仪的成功交付,将打破高精度重力仪国外技术垄断的局面,为我国高端量子装备的发展提供新途径,也为行业部门的仪器使用提供了具有我国自主知识产权的新选项,更能保障核心数据的安全。
  • CT分辨率知多少—高分辨率微纳CT的精确度量
    在 X 射线 CT 中,空间分辨率是重要的量化参数之一,它被定义为重建图像中两点之间可以区分的最小线性距离。因此,对空间分辨率的适当评估是至关重要的,特别是对于微纳 CT 这种高精度要求的成像系统。目前有两种最常见的空间分辨率评估方法:第一种是利用分辨率测试卡评估,其包含了可进行直接视觉评估的图案结构,在工艺上可制成二维和三维结构,适用于 X 射线断层和 X 射线 CT。测试卡的优势在于操作简单,可直观评估分辨率。但测试卡有一个明确定义的结构分布,只能评估测试卡上所列的图案尺寸;第二种是利用遵守 ASTM E1695-95 标准(Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance)的斜边法或边缘瞬变法,光源扫描圆柱体或球体边缘,随后基于一套标准的数据处理方法计算空间分辨率。该方法需严格遵守测试标准,能够精确度量空间分辨率且不受测试卡的图案尺寸限制。1Resolution-spirit—微纳 CT 空间分辨率测试捷克CACTUX公司推出的 Resolution-spirit 是按照 ASTM E1695-95 标准制造的微纳 CT 模体,并由超精密三维测量机 nano-CMM 标定。Resolution-spirit 是一个高精度的红宝石球(Φ=0.5~5 mm),粘在一根碳棒上,如下图(左)所示。为评估 XY 平面的分辨率,只需对模体成像,如下图(右)所示,其中绿点为计算的质量中心。用户只需对模体边缘像素的数据进行处理,即两个红色圈内的数据,以质量中心为准,获得不同半径下强度分布—边缘响应函数(ERF)。这里最大挑战是以非常高的精度确定质量中心,如果没有正确地定义中心,那么根据中心对像素进行分组将不准确,错误将导致边缘模糊。然后依次通过求导和傅里叶变换得到点扩散函数(PSF)和调制传递函数(MTF),根据体素大小和 MTF 精确算出空间分辨率。最后类推到其他平面,可获得 CT 系统的三维空间分辨率。例如,布尔诺理工大学的研究人员利用传统 2D 分辨率测试卡和模体对 Heliscan 微米 CT 进行分辨率测试,如下表所示,模体能提供更精确的度量。2 Voxel-spirit—纳米 CT 体素校准在锥束 X 射线 CT 中,光源、样品和探测器之间的距离(SOD和SDD)影响重建体的视觉保真度和体素大小。除了这两个距离的估计存在偏差外,体素大小的真实值还受到 X 射线源漂移、CT 组件热膨胀、探测器和转台倾斜等因素的影响。因此,使用参考样品进行校准是防止在估计体素大小时出现误差的适当工具。对于视场在 10 mm及以上的锥束CT,体素尺寸校准已经很好地建立起来,并且有大量合适的参考样品可用。然而,对于小视场、高分辨率的微纳 CT 来说,很难找到合适的参考样品。CACTUX 的 Voxel-spirit 可以对 SOD 和 SDD 的误差进行精确校准,从而提高重建质量和体素大小的准确性,其适用于视场较小且锥束放大倍率接近 1 的微纳 CT。voxel-spirit由两个高精度的红宝石球(Φ=0.3 mm)组成,它们粘在一根碳棒上,球中心间距(约0.5 mm)并且经过 nano-CMM 严格度量,精度约 70 nm,如下图所示。首先保证两个球体完全在视场内,光源中心与探测器平面正交,两球中心连线平行于探测器平面。在对 Voxel-spirit成像后,可根据下图公式 1 计算体素大小。根据这种关系,在体素大小上的误差可能是由于 SOD 和 SDD 的不精确以及像素大小 p 的不精确造成的,而这些在实验中都是难以精确测量的。因此,在给定的 CT 测量条件下,利用图像中两球中心间距 lCT 和真实度量过的球中心间距 lref,可以获得体素修正因子 cf,算出修正后的体素大小,如下图公式 2、3。3 R1-shadow—微纳 CT 机械误差校正在微纳 CT、双能 CT 或 4D CT中,旋转转台同样会引入误差,即旋转中心的不对准、装台的不稳定或移动等等。尤其是针对颗粒、粉末样品,更容易受到这些机械误差的影响。CACTUX 的 R1-shadow 可以快速直观地纠正这些机械误差,并且提供配套的数据处理软件。R1-shadow是一个由 kapton 制成的样品基底(Φ=25~100 um),在中心处有一根碳纤维增强棒(Φ=2.5~10 um)作为机械误差校准的参考基准点,如下图所示。在确保基准点获得较高对比度的图像后,即可开始 CT 测量。下图展示了胶囊颗粒在机械误差修正前后的图像,可以清晰看到修正后的红色区域伪影消除了。 点击获取产品详细信息:捷克 CactuX—致力于提升您微纳 CT 系统的成像质量和测试效率参考文献:1. Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance: E 1695–95. 1st edition. United States: American Society for Testing and Materials, 2013.2. Bla&zcaron ek P, &Scaron rámek J, Zikmund T, et al. Voxel size and calibration for CT measurements with a small field of view. Proceedings of the 9th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2019), Padova, Italy. 2019: 13-15.3. Zemek M, Bla&zcaron ek P, &Scaron rámek J, et al. Voxel size calibration for high-resolution CT. 10th Conf. on Industrial Computed Tomography. 2020: 1-8.4. Laznovsky J, Brinek A, Salplachta J, et al. 3D spatial resolution evaluation for helical CT according to ASTM E1695–95. 10th Conference on Industrial Computed Tomography. 2020.5. Laznovsky J, Brinek A, Salplachta J, et al. Comparison of two different approaches for Spatial Resolution determination for X-ray Computed Tomography with helical scanning trajectory.

高精度量热仪相关的方案

高精度量热仪相关的资料

高精度量热仪相关的论坛

  • 中国科大率先实现高精度量子测量术

    精度可达到纳米量级2013年04月19日 来源: 中国科技网 作者: 吴长锋 杨保国 最新发现与创新 中国科技网讯 记者从中国科大获悉,该校郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组,在国际上首次利用量子统计测量技术实现不受传统光学散射极限限制的相邻发光物体的测量和分辨,其精度可以达到纳米量级。研究成果近日发表在国际权威刊物《物理评论快报》上。 如何提高测量精度,数百年来一直是科学研究的主要课题和技术发展的主要追求目标。因此,新型的测量技术不断被开发,而其中最有吸引力的就是利用量子力学基本原理实现的量子测量方法。随着量子力学的发展以及相关量子信息技术的开发和应用,量子测量一方面可以实现超过经典测量极限的高精度测量,另一方面可以实现经典方式无法完成的各种测量。 孙方稳研究组利用物体发光的量子统计属性,设计并实验实现了不受经典光学散射极限限制的量子统计测量技术,其精度可达纳米量级。实验中,他们用氮原子取代金刚石材料中的一个碳原子,与近邻的空穴形成氮—空穴色心——一种极其微小的发光体。然后,他们巧妙地利用简单的光学收集装置,通过探测色心所发出的光子数,基于它们的量子统计属性,成功实现了两个相距8.5纳米的氮—空穴色心独立成像和分辨,同时测量了每个色心的结构,测量精度达2.4纳米。如果通过增加收集光子数,可以把精度提高到1纳米以内。实验中所需的光路简单,测量系统稳定,不受量子消相干效应的影响。 量子统计测量技术除了适用于相邻物体的光学成像,还可以测量和分辨发光体的其他光学属性,如发光寿命、波长等。同时,该测量技术可实时测量近邻物体的动力学演化以及它们之间的相互作用,为实现进一步的量子信息技术提供了新的测量技术,也将在化学、材料、生物医学等方向得到应用。(记者吴长锋 通讯员杨保国) 《科技日报》(2013-04-19 一版)

  • 混合法比热容测试中绝热量热计的高精度等温绝热技术介绍

    混合法比热容测试中绝热量热计的高精度等温绝热技术介绍

    [b][color=#339999][size=16px]摘要:在下落法比热容测试中绝热量热计的漏热是最主要误差源,为实现绝热量热计的低漏热要求,本文介绍了主动护热式等温绝热技术以及相应的解决方案。方案的核心一是采用循环水冷却金属圆筒给量热计和护热装置提供低温环境或恒定冷源,二是采用三通道分布式温差传感器和[/size][size=16px]PID[/size][size=16px]控制器使绝热屏对量热计进行动态温度跟踪。此单层绝热屏技术可以达到小于[/size][size=16px]0.02K[/size][size=16px]的温差控制精度,对于更低漏率量热计和更高温度均匀性的要求可采用多层屏技术。[/size][/color][/b][align=center][size=16px][color=#339999][b]------------------------------------[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 背景介绍[/b][/color][/size][size=16px] 下落法,也称之为铜卡计混合法,是一种测量固态材料比热容的绝热量热计标准测试方法,常用于测量100℃至超高温温度范围固态材料的比热容,特别适用于要求更具代表性的较大试样尺寸复合材料和各种低密度材料。[/size][size=16px] 下落法比热容测试的基本原理如图1所示,将已知质量的试样悬挂于加热炉中进行加热,当试样的温度达到设定温度且稳定后使其落入置于自动绝热环境且初始温度为20℃的铜块量热计中。试样放热使量热计温度升高到末温,通过测量量热计的温升,可求出试样的平均比热容。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=下落法原理及其量热计温升变化,650,260]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/08/202308181720089359_1047_3221506_3.jpg!w690x277.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 下落法原理及其量热计温升变化[/b][/color][/size][/align][size=16px] 从上述下落法原理可以看出原理十分简单,但要实现比热容的准确测量,最关键的技术是要使量热计始终处于绝热环境,且量热计的起始温度要准确恒定,具体要求如下:[/size][size=16px] (1)下落法测试过程要求量热计始终处于绝热状态,避免量热计热量向四周散失而降低量热计的温升。为此需要采用高精度的主动绝热技术,使位于量热计周围的主动护热装置的温度动态跟踪量热计的温度变化并保持一致,从而形成动态等温绝热效果。[/size][size=16px] (2)为了保证测试的连贯性和准确性,样品下落前量热计的初始温度始终要保持一个恒定值,如20℃,由此要求量热计在处于绝热环境的同时,还需准确控制量热计温度恒定在20℃。[/size][size=16px] 上述两点几乎是所有绝热量热计准确测量最重要的边界条件,也是绝热量热计的关键技术,需要采用精密的温控技术才能实现。为此,本文介绍了实现此关键技术的解决方案。[/size][size=18px][color=#339999][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 解决方案的整体思路是样品通过顶部入口落入量热计,对圆柱形量热计按照上中下三个方向进行全方位的主动式护热,量热计及其护热装置全部放置在比20℃起始温度略低的温度环境内,此温度环境由19℃循环水冷却的金属圆筒提供。依此设计的量热计整体结构如图2所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=下落法比热仪绝热量热计结构示意图,550,451]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/08/202308181721406706_1103_3221506_3.jpg!w690x567.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图2 下落法比热仪绝热量热计结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 如图2所示,量热计内镶嵌了一个圆柱形落样井,落样井外侧镶嵌有金属细丝以提供量热计标定加热功能,测温热电阻则由量热计底部插入固定。[/size][size=16px] 在量热计的侧向四周安装有一个侧向护热圆桶以提供量热计径向绝热所需的径向温度跟踪控制。同样,在量热计的上下两端分别安装有底部护热板和顶部护热板,以提供量热计轴向绝热所需的温度跟踪控制。由此通过径向和轴向的温度动态跟踪控制,使护热装置的温度始终与量热计相同,从而使量热计总是处于等温绝热状态。[/size][size=16px] 由于量热计和护热装置都处于一个温度19℃左右的低温环境,此低温环境就相当于一个恒定冷源,那么护热装置仅采取加热方式就可以对高于此低温环境的量热计温度进行快速跟踪控制,同时也这样可以很精确的控制量热计的20℃起始温度。[/size][size=16px] 为了实现高精度的起始温度控制和跟踪温度控制,除了需要采用高精度铂电阻温度计之外,关键是还需在上中下护热装置与量热计之间分别配置高分辨率的分布式温差传感器,以及三通道的超高精度PID温度控制器,温差传感器的分辨率以及PID温控器的AD和DA精度决定了温度跟踪精度和量热计绝热效果,最终决定了比热容的测量精度。本解决方案所采用的温差传感器以及超高精度PID控制器,可使温度跟踪精度达到0.02K以下,优于标准方法中规定的0.05K精度要求。[/size][size=18px][color=#339999][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 等温绝热是各种高精度绝热量热计普遍使用的技术手段,也是各种高精度温度环境控制首选的技术途径之一。针对下落法比热容测试中的绝热量热计,本解决方案采用的是单层绝热屏结构,而对于绝热或环境温度恒定有更高要求的仪器设备和试验环境,在单层结构基础上可以采用多层绝热屏结构,特别是在恒定的真空压力环境下,单层或多层绝热屏结构更是首选技术方案。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][/b][/color][/size][/align][align=center][b][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/b][/align][size=16px][/size]

  • 防护热板法导热仪升级改造——计量单元电功率和护热温度的超高精度PID控制

    防护热板法导热仪升级改造——计量单元电功率和护热温度的超高精度PID控制

    [color=#990000]摘要:本文针对客户提出改进保护热板法导热仪测量精度和测试规范性的要求,给出了防护热板法导热仪升级改造技术方案。升级改造方案主要包括三方面的内容,一是采用超高精度双通道PID控制器分别用于控制计量单元和护热单元温度,二是计量单元和护热单元温度控制采用无超调PID控制,三是采用多只热电偶构成的高灵敏度温差热电堆。通过此升级改造,可大幅度提高保护热板法导热仪的测量精度和测试规范性。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align] [size=18px][color=#990000][b]一、背景介绍[/b][/color][/size]在低导热隔热材料的导热系数测试中,最常用的测试方法是稳态保护热板法。目前在市场上依据保护热板法的导热仪非常普遍,但国产导热仪普遍存在测量精度差和导热仪制作不规范的问题。最近有客户提出对已购置的国产防护热板法导热仪进行技术升级,以提高测量精度和规范化操作水平,具体技术要求如下:(1)样品热面温度要求以10的整数倍温度进行精确控制,配合相应的样品冷面温度控制,使得样品厚度方向上的温差可准确恒定控制在10、20和30℃的其中一个数值上。由此保证样品导热系数测试边界条件的一致性。(2)护热单元(侧向护热单元和底部护热单元)对计量单元的温度跟踪,要求采用标准测试方法GB/T 10294中规定的温差热电堆,温差热电堆至少由五对以上的热电偶组成,由此保证将计量单元的漏热降低到最低限度。本文将针对上述客户要求,提出防护热板法导热仪升级改造技术方案。[b][size=18px][color=#990000]二、升级改造方案[/color][/size][/b]升级改造方案主要包括以下三方面的内容。[size=18px][color=#990000]2.1 超高精度双通道PID控制器[/color][/size]为了实现既要满足计量单元电加热功率和温度高精度控制要求,又要实现PID控制、运行操作简单化和具有较低的制作成本。我们提出了的升级方案是采用超高精度的双通道PID控制器代替目前所用的普通PID控制器(调节器)。这种新型PID控制器具有以下特点:(1)PID调节器的模数转换(A/D)直接升级到24位,大幅提高采集精度。(2)PID调节器的数模转换(D/A)精度升级到16位,大幅提高控制输出精度。(3)采用双精度浮点运算提高计算精度,并将最小输出百分比降低到0.01%,充分发挥数模转换的16位精度。(4)独立的超高精度双通道控制功能,可分别用于计量单元和护热单元的温度控制。[size=18px][color=#990000]2.2 无超调PID 控制方法[/color][/size]在防护热板法导热仪中,所测材料一般为低导热系数的隔热材料,在计量单元的温度控制中一旦产生温度振荡或超调,如图1所示,则需要很长时间才能恢复到设定温度点。因此,在升级改造方案中,计量单元和护热单元的温度控制都采用了无超调的PID控制方法,由此可减少不必要的控温时间。[align=center][img=01.无超调PID控制示意图,600,475]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/09/202209272247501334_6415_3221506_3.png!w690x547.jpg[/img][/align][align=center]图1 无超调PID控制示意图[/align][size=18px][color=#990000]2.3 高灵敏度温差热电堆[/color][/size]按照标准测试方法GB/T 10294中的规定,如图2所示,在计量单元和护热单元之间的狭缝两侧布置直径小于0.1mm的热电偶组成的温差热电堆。[align=center][img=02.温差热电偶布局示意图,690,383]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/09/202209272248262325_3650_3221506_3.png!w690x383.jpg[/img][/align][align=center]图2 温差热电偶布局示意图[/align]为了提高护热单元温度对计量单元的温度一致性,温差热电堆至少要由五对热电偶组成以高分辨率的检测护热单元与计量单元之间的温差。热电堆的温差输出信号作为超高精度PID控制器第二通道的采集信号。由此,通过高灵敏温差热电堆和PID控制器的超高精度电压信号检测能力和温度控制能力,可大幅度减小计量单元的漏热,从而提高导热系数测量准确性。[size=18px][color=#990000][b]三、总结[/b][/color][/size]通过上述升级改造技术方案,可完全实现用户提出的技术改进要求,在保证计量单元温度和样品冷热面温差为任意设定值的前提下,可大幅减少护热温度不一致所引起的热损失,有效提高导热系数测量精度。同时所采用的无超调PID控制方法可有效缩短测试时间。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

高精度量热仪相关的耗材

  • 高精度XRF分析仪配件M3L
    高精度XRF分析仪配件M3L是专为固定和移动实验室检测设计的X射线荧光光谱分析仪, XRF Analyzer。它具有轻元素(钠,镁,铝,硅)测量极高灵敏度,配备了氦气吹扫通道系统(在大气压0.5-1atm下,流量为30-45ml/分钟)。高精度XRF分析仪配件M3L特色具有宽敞测量室,室内安装有用于大尺寸样品分析的照明灯。内置热敏打印机可直接打印输出测量数据。内置通风系统和过滤元件加强了防尘保护。 高精度XRF分析仪配件M3L特点 对每一种金属组件进行成分分析 快速可靠地识别所有合金级别 评估钢和铸铁中的碳含量 分析特殊合金,包括钛、镁、镍/钴,等 测量合金中的贵重的金、银和其他贵重的金属含量高精度XRF分析仪M3L度量数 从12mg镁到92U铀(可选11Na),在一个单一的测量中同时确定元素 被测元素的含量范围0.005-100 % 元素检测限制-1ppm 测量时间- 少于1分钟。 (一般为10- 30秒。)高精度XRF分析仪配件M3L规格操作持续时间自备电源内部系统的时间电源-交流电,50 / 60Hz功耗测量单元操作温度范围工作温度范围内的相对湿度测量室尺寸所测样品的最大重量测量单元尺寸测量单元重量无限至少6小时100-240 V+10C to +45C300x150x240 mm20 kg412x312x312 mm
  • Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计
    本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围:1-5um;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0008 nm @ 1000 nm;测量速率:10Hz;最大带宽:10GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围:NIR 520-1700nm;激光类型:连续波和准连续波(重复频率10 MHz); 测量精度:± 0.0002 nm @ 1000 nm;测量速率:4Hz;最大带宽:1GHz; 光学输入:预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。671A型是精确的,测量波长的精度为±0.2百万分之一(1000 nm时为±0.0002 nm)。对于不太严格的实验,671B型是一种价格较低的替代品,精度为±0.75百万分之一(1000 nm时为±0.0008 nm)为了保证波长测量的准确性,671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源,因为它的波长是众所周知的,并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度,671A系统使用单频HeNe激光器,该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中,使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入,波长高达2.6μm。自由空间光圈输入,具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件,用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波(重复频率10 MHz)波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1,2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm)IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯径9μm)-可选自由光束到光纤耦合器NIR2:预对准FC/UPC或FC/APC连接器(芯直径7μm)-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR:准直光束,2-3mm直径孔径,可见示踪光束,便于对准仪表接口USB和以太网接口,带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库(SCPI)计算机要求 12运行Windows 10的电脑,1 GB可用RAM,USB 2.0(或更高版本)端口,显示器,定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸(高x宽x深)13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) (1) 定义为测量不确定度或最大波长误差,置信度≥99.7%。(2) 可追溯到公认的物理标准。(3) 对于671A,仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。(4) 对于671B,仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。(5) 波长分辨率大约是可重复性的两倍。(6) 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。(7) NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。(8) 带宽为FWHM。当带宽较大时,波长精度会降低。(9) 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。(10) 特性性能,但无担保。(11) IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。(12) 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。(13) IR和MIR仪器高度可调(7.25±0.25“),用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利,以改进其产品的设计。规格如有更改,恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机
  • 高精度波长计
    高精度波长计筱晓光子供应高精度波长计,SHR高精度波长计和SHR-IR近红外波长计可供选择。该系列激光波长计具有如下特点:测量精度高、光谱范围宽、结构紧凑、无移动部件、光纤耦合输入,应用于:连续激光波长测量、脉冲激光波长测量。SHR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range190-1100nmAbsolute accuracy±0.003nmSpectral resolution0.006nm for 193nm, 0.04nm at 1200nmSource linewidth requirement≤125см-10.5nm at 193nm, 18nm at 1200nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905SHR-IR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range600-1800nmAbsolute accuracy±0.02nmSpectral resolution0.15nm for 600nm, 0.48nm for 1800nmSource linewidth requirement≤125см-14nm for 600nm, 40nm for 1800nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制