光学表面分析仪

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光学表面分析仪相关的厂商

  • 布鲁克纳米表面仪器部——表面分析测试设备领先者布鲁克纳米表面仪器部是全球领先的分析仪器公司布鲁克下属的一个事业部,前身是美国维易科(Veeco)公司纳米测试仪器部。布鲁克公司作为全球领先的分析仪器公司之一,拥有自成立五十多年以来,始终针对当今的分析需求,开发最先进的技术和最全面的解决方案。布鲁克公司的产品和服务遍布全球一百多个国家和地区。在五十多年的高速发展过程中,布鲁克公司凭借自身的科研优势,以独有的先进技术、科学的管理和市场导向的产品推动了全球的科学发展。布鲁克纳米表面仪器部作为作为表面观测和测量技术的全球领导者,一直着眼于研发新的表面计量、检测方法和工具,致力于为客户解决各种技术难题,提供最完善的解决方案。布鲁克纳米表面仪器部的设备都是同领域领先的设备,包括:1)用于表面理化性能纳米尺度表征和操纵的原子力显微镜,2)用于表面三维形貌及粗糙度快速测量分析的三维非接触式光学轮廓仪,3)用于表面三维形貌和台阶高度测量的接触式探针表面轮廓仪,4)用于材料摩擦磨损、润滑测试及涂层结合力测试的摩擦磨损测试仪,5)用于研究化学机械抛光的化学机械抛光测试仪,6)用于表征纳米尺度表面的机械性能、摩擦磨损和薄膜结合力的纳米压痕仪,7)用于生命科学前沿研究的超高分辨快速荧光/双光子显微镜等。这些设备从不同维度构成了表面表征测试的多种应用方案,适用于从高校研究所到工业领域的材料、化学、生命科学、物理、LED、太阳能、触摸屏、半导体、通信以及数据存储等领域进行科学研究、产品开发、质量控制及失效分析的准确、高效分析测试的要求。这些产品和应用方案帮助我们的客户在各自的表面测量测试应用中解决面临的问题,提升技术和工艺水平,提高研发效率,从而实现最大限度的回报。布鲁克纳米表面仪器部在中国的业务是布鲁克公司全球业务的重要组成部分,很早就在北京、上海和广州陆续设有产品演示中心,在北京还单独设立的客户关怀中心和备件仓库,大大方便了客户从购买设备之前的考察到售后阶段的各种需求。不论是售前还是售后服务,都获得了广大用户的好评。
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  • 长沙市瑞饰表面工程技术有限责任公司从事表面处理聚四氟乙烯换热器及特种电镀等多方面的工程设计及相关设备的生产和销售。本公司的技术与产品主要应用于活塞环等内燃机配件等行业、换热行业以及电镀、钢铁酸洗、腐蚀等表面处理行业。  公司有从事表面处理、高分子材料、机电一体化等专业的技术和生产队伍。通过采用新工艺、新材料,不断开发新产品,结合成熟的生产工艺和完善的质保体系生产出满足用户的产品。  公司一直坚守高质、低耗、实用、环保的原则,以良好的信誉、先进的理念、严格的管理、精美的质量竭诚为用户提供优质的服务。我们还提供全面的技术支持,即向用户提供相关产品的生产工艺及技术指导。
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  • 东莞市凯盟表面处理技术开发有限公司(下简称“凯盟公司”)是一家以研发金属防锈和抛光材料为方向的集研发、生产、销售为一体的高新技术公司,总部位于中国工业核心区-东莞。公司为全国范围内的各类钢铁、金属制品企业提供技术领先、品质卓越的产品和高效率的服务。主要产品分为:不锈钢表面处理系列、铜铝表面处理系列和其它化学品。随着业务市场的不断扩大公司在宁波、苏州、佛山和重庆设有业务办事机构,销售网络辐射全国。在国内同行业中享有盛誉。 凯盟公司创立于2005年,原称“东莞市凯盟化工有限公司”。2012年10月更名为“东莞市凯盟表面处理技术开发有限公司”。注册资本为人民币200万元,现有在职员工50余名,其中大专以上学历人员约占40%%。拥有固定资产700余万元。公司分别与“华中科技大学”和“中南民族大学”等国内知名高校建立了良好的合作关系,具有一流的产品研发能力。汇聚专业的研发能力,我们坚持创新,公司陆续开发出一批具有自主知识产权的新型产品,获得发明专利4项,注册商标1件。尤其在钝化领域取得了长足的发展和优异的成果。目前公司产品在:家具、餐具、医疗器械、工程装备、核电、压力容器等领域取得了广泛应用,年产能1000余吨。在新产品的带动下,截至2011年止我司实现产值连续增长4番的优秀业绩。经过公司全体同仁几年的努力创新发展,“凯盟”牌系列产品领衔同行之首,受到了众多客户的认可和赞誉。“凯盟”已名副其实的成为了国内不锈钢表面处理方面行业的知名品牌和最具竞争力的企业之一。我司是“民营科技企业”和“科技特派员驻点企业”,2012年1月获得ISO9001:2008国际质量体系认证。 十年磨一剑,厚积薄发。铸就成为钝化防锈领域的高端知名企业俨然已成为我们新的挑战。我们将继续秉承“以【质】求胜、以【德】求存、可失于【利】、不失于【信】”的经营理念,以“为客户提供一流的产品”为使命,凝心聚力,开拓进取,我们坚信凯盟公司将成为一流的钝化防锈领域高端品牌!
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光学表面分析仪相关的仪器

  • 仪器简介:仪器名称:Zeta电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料表面性能。 主要应用:材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性,设计新型、特定性质的材料,如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压(电势),SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性,这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位: 范围:所用测量原理决定没有限制再现性:+/-0.5 mV 等电点: 再现性:+/-0.1 pH 平板固体: 最小 35 mm x 15 mm,厚度20 mm, 20 mm x 10 mm,厚度2 mm, 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维: 最少重量 100 mg 粉末: 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量: Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析: 适用于实际样品,无需使用示踪颗粒 主要特点:测量原理 : 在电化学双电流层的模型中,电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离,由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势,相应的流动电势系数为dU/dP, Zeta 电位表示为: 固体表面特性,粘性,介电常数,电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时,需要说明电解质溶液的类型,浓度,pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池,由此产生一个压差,其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压,这个流动电压/ 流动电流(可选择)由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率,温度及pH值。
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  • 简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料,又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测,其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理,以非破环性方式对Wafer表面的残留异物,表面与表面下缺陷,形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点;2.坡度通道用于凹坑、凸起;3.反射通道用于粗糙表面的颗粒;4.暗场通道用于微粒和划痕;二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量,比如硅、化合物半导体或金属基底;2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像;3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟,50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果;4.高抗震性能,系统不旋转,形状无关,可容纳非圆形和易碎的基底材料;5.高达300x300mm的扫描区域;可定位缺陷,以便进一步分析;技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域,如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等
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  • Candela6300系列光学表面分析仪系统Candela 6300系列光学表面分析仪系统为金属或玻璃数据存储基板和成品介质提供了先进的量测和检测功能。随着数据存储制造商努力通过进一步降低磁头飞行高度来提高设备存储容量,控制磁盘表面的粗糙度变得越来越重要。6300系列光学表面分析仪利用业界最宽的空间带宽覆盖范围(0.22-2000µ m)和亚埃级本底噪声来满足对粗糙度和微观波纹度进行全面测量的要求。产品说明Candela 6300系列光学表面分析仪利用获得专利的多通道光学设计,结合独特的激光稳定性管理技术,以及强大的光学表面测量功能,对边缘roll-off、纹理/抛光均匀性、高密度互连的表征以及划痕和微粒进行检测。检测和量测系统的尖端光学扫描技术可在径向和切线方向上对整个磁盘的形貌进行量测,并允许制造商使用单一的工具来测量整个空间光谱。增加了激光功率、降低了本底噪声以及新的光学设计消除了对用于缺陷检测的溅射玻璃基板的需求,从而可以识别0.1&angst 的粗糙度变化。功能提供业界最宽的空间带宽和最低的本底噪声测量切向、径向粗糙度和波纹度可重复量测金属和玻璃介质并与AFM测量结果相关联对不同尺寸的磁盘进行快速的全晶圆检测对轻微划痕、沾污和微粒检测具有高灵敏度创新型光学表面分析(OSA)技术可提供手动(6310) 或全自动(6340)应用案例粗糙度和波纹度分析缺陷检测划痕和隆起检查微粒和沾污检测微观波纹度测量选项精密的金刚石划线离线软件大尺寸软件许可证
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光学表面分析仪相关的资讯

  • 2013科学仪器优秀新品入围名单:物性测试仪器、光学及表面分析仪器
    仪器信息网讯 第八届&ldquo 科学仪器优秀新产品&rdquo 评选活动于2013年3月份开始筹备,截止到2014年2月28日,共有247家国内外仪器厂商申报了561台2013年度上市的仪器新品。经仪器信息网编辑初审、2013中国科学仪器发展年会新品组委会初评,在所有申报的仪器中约有三分之一进入了入围名单。  本届新品评审专业委员会邀请了超过60位业内资深专家按照严格的评审程序,对入围的新品进行网上评议。最终获奖的仪器将在&ldquo 2014年中国科学仪器发展年会&rdquo 上揭晓并颁发证书,评审结果将在多家专业媒体上公布。  本届申报的新品中共有22台2013年度上市的物性测试仪器和5台2013年度上市的光学及表面分析类仪器新品入围&ldquo 科学仪器优秀新产品&rdquo ,入围名单如下(排名不分先后):仪器名称型号创新点上市时间公司名称表界面物性测试全自动六站动态法快速比表面测试仪BELSORP-MR6查看2013年4月大昌华嘉商业(中国)有限公司多站扩展式全自动快速比表面与孔隙度分析仪ASAP 2460查看2013年5月麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司高性能多通道全自动比表面与孔隙分析仪TriStar II Plus查看2013年5月麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司高温纳米压痕仪HT&mdash UNHT查看2013年7月瑞士CSM仪器股份有限公司北京代表处热分析仪器TMA4000 热机械分析仪TMA4000查看2013年11月珀金埃尔默仪器(上海)有限公司(PerkinElmer)差示扫描量热仪 DSC 214 Polyma DSC 214 Polyma查看2013年7月德国耐驰热分析试验机金属摆锤冲击试验机飞天查看2013年5月深圳三思纵横科技股份有限公司PLW-1000型电液伺服锚具疲劳试验机PLW-1000查看2013年5月上海百若试验仪器有限公司振动试验台LD-L查看2013年1月北京鸿达天矩试验设备有限公司AutoX 750 全自动接触式引伸计750查看2013年2月英斯特朗(上海)试验设备贸易有限公司(Instron)粒度/颗粒/粉末分析仪器BT-9300ST激光粒度仪BT-9300ST查看2013年1月丹东百特仪器有限公司 LA 960激光粒度仪LA-960查看2013年9月HORIBA,LTD株式会社堀场制作所多角度粒度分析仪EliteSizer查看2013年7月美国布鲁克海文仪器公司全自动&Chi 光沉降粒度分析仪 SediGraph Ⅲ PlusSediGraph Ⅲ Plus查看2013年3月麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司Viscosizer 200测量系统Viscosizer 200查看2013年7月英国马尔文仪器有限公司在线粒度分析仪APAS查看2013年1月博盛技术(中国)有限公司流变仪/粘度计MCR702 TwinDrive流变仪MCR702查看2013年6月奥地利安东帕(中国)有限公司EMS粘度计EMS-1000查看2013年9月可睦电子(上海)商贸有限公司-日本京都电子(KEM)无损检测/无损探伤仪器数字化35um微焦斑X射线系统WSM-35um查看2013年1月咸阳威思曼高压电源有限公司其它物性测试仪器ASCA-6400多样品一体型密度折光仪ASCA-6400查看2013年3月可睦电子(上海)商贸有限公司-日本京都电子(KEM)新一代数字式密度计DDM2911-S3-Plus查看2013年2月大昌华嘉商业(中国)有限公司VH3100 自动化维氏/努氏硬度计VH3100查看2013年5月美国标乐光学纳米检测显微镜 LEXT OLS4500 OLS4500查看2013年6月奥林巴斯(中国)有限公司工业激光共焦显微镜 LEXT OLS4100OLS4100查看2013年6月奥林巴斯(中国)有限公司新一代光谱成像椭偏仪Nanofilm_EP4查看2013年6月欧库睿因科学仪器(上海)有限公司SOC710GX机载可见/近红外高光谱成像光谱仪SOC710GX查看2013年3月北京安洲科技有限公司精密阻尼隔振光学平台OTR查看2013年6月北京卓立汉光仪器有限公司  本次新品申报得到广大仪器厂商的积极响应,申报仪器数量与2012年度上市新品基本持平。需要特别指出的是,有些厂商虽然在网上进行了申报,但在规定时间内没有能够提供详细、具体的仪器创新点说明,有说服力的证明材料以及详细的仪器样本,因此这次没有列入入围名单。另外,由于本次参与申报的厂家较多,产品涉及门类也较多,对组织认定工作提出了很高的要求,因此不排除有些专业性很强的仪器未被纳入评审范围。  该入围名单将在仪器信息网进行为期10天的公示。所有入围新品的详细资料均可在新品栏目进行查阅,如果您发现入围仪器填写的资料与实际情况不符,或非2013年上市的仪器新品,请您于2014年3月27日前向&ldquo 年会新品评审组&rdquo 举报和反映情况,一经核实,新品评审组将取消其入围资格。  传真:010-82051730  Email:xinpin@instrument.com.cn  查看更多科学仪器优秀新品
  • 2014 科学仪器优秀新品入围名单:物性测试仪器、光学及表面分析仪器
    仪器信息网讯 第九届&ldquo 科学仪器优秀新产品&rdquo 评选活动于2014年3月份开始筹备,截止到2015年2月28日,共有253家国内外仪器厂商申报了587台2014年度上市的仪器新品。经仪器信息网编辑初审、2014中国科学仪器发展年会新品组委会初评,现已确定本届&ldquo 科学仪器优秀新产品&rdquo 的入围名单。所有申报的仪器中约有三分之一入围。  本届新品评审专业委员会邀请了超过60位业内资深专家按照严格的评审程序,对入围的新品进行网上评议。最终获奖的仪器将在&ldquo 2015年中国科学仪器发展年会&rdquo 上揭晓并颁发证书,评审结果将在多家专业媒体上公布。  本届申报的新品中共有71台物性测试仪器和92台光学及表面分析仪器通过新品组初审,其中25台物性测试仪器和8台光学及表面分析仪器入围了2014年&ldquo 科学仪器优秀新产品&rdquo ,入围名单如下(排名不分先后): 物性测试仪器序号仪器名称型号创新点上市时间公司名称1DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪DZDR-S查看2014年3月南京大展机电技术研究所2激光干涉法热膨胀测试系统CTE 201查看2014年9月上海依阳实业有限公司3马尔文MicroCal VP-Capillary DSC 微量热差示扫描量热仪MicroCal VP-Capillary DSC 微量热差示扫描量热仪查看2014年6月英国马尔文仪器有限公司4电池等温量热仪 IBC 284IBC 284查看2014年7月德国耐驰热分析5RST系列触屏流变仪RST系列查看2014年6月美国Brookfield公司6MCR702 TwinDrive流变仪MCR702查看2014年6月奥地利安东帕(中国)有限公司7马尔文m-VROCi 微流体流变仪m-VROCi查看2014年4月英国马尔文仪器有限公司8麦奇克PartAn 3D颗粒图像分析仪PartAn 3D查看2014年9月大昌华嘉商业(中国)有限公司9全自动干/湿法粒度粒形分析仪OCCHIO 500nano XY查看2014年3月美国康塔仪器公司10马尔文Archimedes阿基米德颗粒计量分析系统Archimedes查看2014年8月英国马尔文仪器有限公司11LS-POP(9)激光粒度仪LS-POP(9)查看2014年7月珠海欧美克仪器有限公司12NanoLab 3D激光粒度仪NanoLab 3D查看2014年12月北京赛普瑞生科技开发有限责任公司13动态颗粒图像分析仪ANALYSETTE 28 ImageSizer查看2014年10月北京飞驰科学仪器有限公司14德国新帕泰克NANOPHOX/R纳米粒度仪NANOPHOX/R查看2014年12月德国新帕泰克有限公司苏州代表处15磁悬浮天平高压吸附分析仪XEMIS查看2014年2月北京英格海德分析技术有限公司16精微高博JW-BK200C研究级双站微孔分析仪JW-BK200C查看2014年1月北京精微高博科学技术有限公司17超高速全自动比表面积分析仪Kubo1108查看2014年6月北京彼奥德电子技术有限公司18美国康塔仪器公司Vstar蒸汽吸附仪Vstar查看2014年5月美国康塔仪器公司19TriboLab机械与性能摩擦测试TriboLab查看2014年11月布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)20高性能全自动压汞仪AutoPore V查看2014年5月麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司21创新型全自动多站气体吸附仪3500查看2014年6月麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司22万能试验机 天源A1KN万能试验机TY8000-A1KN查看2014年4月江苏天源试验设备有限公司23百若仪器螺栓防松检测试验机FPL-400查看2014年3月上海百若试验仪器有限公司24D系列电子万能试验机D系列查看2014年5月长春机械科学研究院有限公司25威尔逊 Wilson VH1150VH1150查看2014年6月美国标乐光学及表面分析仪器序号仪器名称型号创新点上市时间公司名称1上海仪电科仪SGW 5自动旋光仪SGW-5查看2014年1月上海仪电科学仪器股份有限公司(原上海精密科学仪器有限公司)2上海仪迈IP-digi300/2数字旋光仪IP-digi300/2查看2014年7月上海仪迈仪器科技有限公司3新一代激光成像椭偏仪Nanofilm_EP4SWE查看2014年6月欧库睿因科学仪器(上海)有限公司4安东帕高精度数字式旋光仪MCP500查看2014年9月奥地利安东帕(中国)有限公司5LuphoScan高速非接触式3D非球面光学面形测量系统LuphoScan120/260/420查看2014年7月泰勒-霍普森有限公司6日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000SU5000查看2014年8月日立高新技术公司7SEM专用颗粒物分析系统 &mdash AZtecFeatureAZtecFeature查看2014年12月牛津仪器(上海)有限公司8拉曼-扫描电镜联用系统 RISERISE查看2014年4月泰思肯贸易(上海)有限公司  本次新品申报得到广大仪器厂商的积极响应,申报仪器数量与2013年度上市新品基本一致。需要特别指出的是,有些厂商虽然在网上进行了申报,但在规定时间内没有能够提供详细、具体的仪器创新点说明,有说服力的证明材料以及详细的仪器样本,因此这次没有列入入围名单。另外,非独家代理的代理商提供的优秀国外新品也不能入选。由于本次参与申报的厂家较多,产品涉及门类也较多,对组织认定工作提出了很高的要求,因此不排除有些专业性很强的仪器未被纳入评审范围。  该入围名单将在仪器信息网进行为期10天的公示。所有入围新品的详细资料均可在新品栏目进行查阅,如果您发现入围仪器填写的资料与实际情况不符,或非2014年上市的仪器新品,请您于2015年3月26日前向&ldquo 年会新品评审组&rdquo 举报和反映情况,一经核实,新品评审组将取消其入围资格。  2014科学仪器优秀新品组联系方式:  咨询电话:010-51654077-8032 刘先生  传真:010-82051730
  • 2012科学仪器优秀新品入围名单:光学及表面分析仪器
    第七届“科学仪器优秀新产品”评选活动于2012年3月份开始筹备,截止到2013年2月10日,共有281家国内外仪器厂商申报了594台2012年度上市的仪器新品。经仪器信息网编辑初审、2013中国科学仪器发展年会新品组委会初评,在所有申报的仪器中约有三分之一进入了入围名单。  本届新品评审专业委员会将邀请超过60位业内资深专家按照严格的评审程序,对入围的新品进行网上评议。最终获奖的仪器将在“2013中国科学仪器发展年会”上颁发证书,并在多家专业媒体上公布结果。  共有16台2012年度上市的光学及表面分析类仪器进入了入围名单,入围名单如下(排名不分先后):仪器名称型号创新点上市时间公司名称双光子荧光显微镜TriM Scope查看2012年2月QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司光学数码显微镜-划时代光学显微仪器新产品DSX500i查看2012年1月奥林巴斯(中国)有限公司工业显微镜 LV150N/LV150NL/LV150NALV150N/LV150NL/LV150NA查看2012年10月尼康仪器(上海)有限公司MCP 500/MCP500-325MW 旋光仪MCP 500/MCP500-325MW查看2012年10月奥地利安东帕(中国)有限公司美国鲁道夫公司折光仪J47J47查看2012年3月大昌华嘉商业(中国)有限公司Illumialite光测量系统Illumialite查看2012年8月上海蓝菲光学仪器有限公司FEI旗下 Phenom飞纳台式扫描电子显微镜 能谱版Phenom proX查看2012年3月复纳科学仪器(上海)有限公司LVEM5 台式透射电子显微镜LVEM5查看2012年4月QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司SU3500扫描电子显微镜SU3500查看2012年11月日立高新技术公司台式扫描电镜JCM 6000查看2012年9月怡星有限公司STARJOY LIMITED光学镊子Tweez200si查看2012年6月QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司高光谱成像仪Verde查看2012年9月法国HORIBA JobinYvon S.A.S(HORIBA Scientific)GaiaSorter “盖亚”高光谱分选仪GaiaSorter查看2012年4月北京卓立汉光仪器有限公司GaiaField 地面目标大范围扫描高光谱成像仪GaiaField查看2012年6月北京卓立汉光仪器有限公司图森500万彩色CCD制冷显微相机TCH-5.0ICE查看2012年12月福州鑫图光电有限公司  本次新品申报得到广大仪器厂商的积极响应,申报仪器数量较去年大幅增加。需要特别指出的是,有些厂商虽然在网上进行了申报,但在规定时间内没有能够提供详细、具体的仪器创新点,有说服力的证明材料以及详细的仪器样本,因此这次没有列入入围名单。另外,由于本次参与申报的厂家较多,产品涉及门类也较多,对组织认定工作提出了很高的要求,因此不排除有些专业性很强的仪器没有被纳入进来。  该入围名单将在仪器信息网进行为期10天的公示。所有入围新品的详细资料都可以在新品栏目进行查阅,如果您发现入围仪器填写的资料与实际情况并不相符,或并非2012年上市的仪器新品,请您于2013年3月25日前向“年会新品评审组”举报和反映情况,一经核实,新品评审组将取消其入围资格。  传真:010-82051730  Email:xinpin@instrument.com.cn  点击查看所有仪器新品

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    该产品适用于流动法测试比表面积分析仪的设备上面,具体型号:SSA-3000e,SSA-3500,SSA-3600,产品材质为玻璃材质。
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    无磨料光学纤维抹布,100%纤维无磨料制作,能吸入物品上的尘埃而不会刮花物件表面,用于EM或光学表面,防静电,无细毛残留,质地柔软。
  • 三维表面形貌仪配件
    三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
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