贵金属分析光谱仪

[align=center]手持式X荧光分析仪在贵金属检测中的可靠性分析[/align][align=center] 西安国联质量检测技术股份有限公司[/align][align=center][/align][align=center]材料室：鲁飞彪[/align]随着经济的发展，执法部门在市场监督抽查的过程中，对贵金属领域的抽样检测需求迅速增加。但由于贵金属价值较高，直接购样检测或者采取检毕退样的方式都可能会造成一些风险，采用手持式X荧光分析仪能够在现场快速对样品进行检测，但检测结果和真值存在一定偏差，本文通过对一批样品的检测比对来阐述手持式X射线荧光分析仪的可靠性。一、 检测仪器[align=center][img=,277,334]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807010549148853_7574_2904018_3.png!w277x334.jpg[/img][/align]手持式X射线荧光分析仪贵金属检测仪电感耦合等离子体光谱仪(ICP)二、检测样品[align=center][img=,441,151]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807010549584743_5894_2904018_3.png!w441x151.jpg[/img][/align]三、检测方法1、快检法（布鲁克手持式X射线荧光分析仪）2、首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法3、贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱四、检测过程 1、采用布鲁克手持式X射线荧光分析仪对纯银饰品检测结果如下表 表1 手持式X射线荧光分析仪对纯银饰品检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.63[/td][td]97.65[/td][td]98.44[/td][td]97.56[/td][td]99.43[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.55[/td][td]98.42[/td][td]96.40[/td][td]96.42[/td][td]96.48[/td][/tr][/table]表2手持式X射线荧光分析仪对铂金戒指（pt950）品检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]92.05[/td][td]91.04[/td][td]90.88[/td][td]93.04[/td][td]94.05[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]92.03[/td][td]92.45[/td][td]92.45[/td][td]93.05[/td][td]92.04[/td][/tr][/table] 表3 手持式X射线荧光分析仪对千足金检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.63[/td][td]97.65[/td][td]98.44[/td][td]97.56[/td][td]99.43[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.55[/td][td]98.42[/td][td]96.40[/td][td]96.42[/td][td]96.48[/td][/tr][/table]2、采用ICP光谱仪依据贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 GB/T 21198.5-2007 对其中一个饰品消解后测试杂质元素铂、钯、金、铋、镉、钴、铜、铁、铱、镍、铅、铑、钌、锑、锡、碲、钛和锌，然后进行差减法计算出银含量为99.2%3、纯银饰品送至贵金属检测中心，按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013，结果全部显示为“足银”。4、铂金戒指送至贵金属检测中心，按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013，结果全部显示为符合Pt950。5、黄金吊坠送至贵金属检测中心，按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013，结果显示为千足金通过分析比对，纯银饰品用手持式X射线荧光分析仪检测最低值为96.40%，pt950戒指检测最低值为90.88%，千足金检测最低值为96.42%。由此基本可以看出，手持式X射线荧光分析仪在贵金属检测方面存在一些误差，且检测数据基本偏低，误差范围在5%以内，因此手持式X射线荧光分析仪可以用于贵金属的现场抽样快速检测，检测结论在5%以内的基本都可以按照符合要求快速处理。

贵金属分析试样的制备引言贵金属分析试样的取样与加工是整个分析工作的重要环节。如果不能从一大堆待分析物料中取出一定数量的能代表整个物料的平均含量的分析试样，就使后面的分析工作变得没有实际意义。对于贵金属物料来说，因贵金属在矿石中赋存状态的特殊性和二次资源的多样性，使取样的代表性变得十分困难。贵金属价格的昂贵，对分析结果的准确性比其他金属的分析要求更高，这已引起人们的极大重视。国际贵金属学术讨论会专门讨论了贵金属物料的取样理论和方法，并发表了专门的论文，这说明取样与加工在贵金属分析过程中的重要地位。 1. 贵金属矿石矿物的取样与加工贵金属在自然界中的赋存状态很复杂，尤其是金多以自然金存在，金的粒度变化较大，微小颗粒甚至在显微镜下都难以分辨，大的可达千克以上。金的延展性很好，在加工过程中，金的破碎速度比脉石的破碎速度慢，因此对未过筛的和残留在筛缝中的部分绝对不能弃去，此部分大多数为自然金。金矿石的取样与加工一般按切乔特公式进行。即 Q＝Kd2(1-1)式中Q为矿石试样的最少取样质量；d为矿石试样中最大颗粒直径；K为矿石特性参数。式1-1是经验公式。K值的确定是根据地质条件提出，其数值大小与金在矿石中的赋存状态、浸染均匀程度及金的粒度有关，且随矿石粒度的不同而变化。对于非常均匀的矿石，K值定为0.05。随着不均匀程度增加，K值也增大。一般金矿的K值在0.6～1.5之间。K值也可以用实验的方法来决定。一般金矿石的加工流程如下图所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/09/201309282123_468205_1657564_3.png对于较难加工的金矿石试样，在棒磨之前加一次盘磨碎样磨至0.154mm ,因为棒磨机的作用是用钢棒冲击和挤压岩石再磨细金粒，能满足一般金粒较细的试样所需的破碎粒度。粗金粒的试样，用棒磨机只能使金粒压成片状或带状，但达不到破碎的目的，而盘磨机是利用搓压的作用力使石英等硬度较大的物料搓压金粒来达到破碎的目的。加工过程中应注意的问题参考有关著作。除金矿以外，其他贵金属矿石试样的取样与加工比金矿石易均匀，但需要注意矿石中自然铂、钯等状态的存在。2. 影响取样量的因素分析：2.1 精度要求与样品均匀性的影响贵金属元素的取样量的多少取决于两个因素：一是需满足分析要求的精度；二是试样的均匀程度，即取出的少量试样中待测元素的平均含量要与整个分析试样中的平均含量一致。实际上贵金属在矿石中含量很低，且又集中在少数矿物颗粒中，要达到取出的试样与总试样完全一致是很难做到的，因此只能在满足所要求的误差范围内进行取样，取样量愈大，误差愈小。例如某金矿的矿石试样经加工至0.075mm(200目)，分别取出10g、20g、30g、40g试样进行多次分析，测定结果中金含量(g／t)分别为0.0032、0.0032、0.0032、0.0034[font=宋体

http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310141516_470782_1880652_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310141516_470781_1880652_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/10/201310141516_470780_1880652_3.jpg因贵金属商行转行，低价转让 EDX300B (测贵金属仪器)，skyray-instrument ,标签日期为2012年10月生产，转让价为4.8万。该型号的仪器具有ROHS、贵金属两个软件。

ICP-MS质谱分析中由元素的质谱谱线重叠的干扰在多数情况下可以通过仪器的工作条件的优化来减少或消除干扰，但由于催化器贵金属分析的基体成分复杂，在样品分析事质谱干扰不能通过优化仪器设备条件达到完全消除，需要进行采取的消除干扰措施。ICP-MS分析过程中的干扰基本分为两大类：质谱干扰和非质谱干扰。1 质谱干扰及校正质谱干扰主要有同量异位素重叠干扰、多原子离子干扰、难溶氧化物离子和其他复合离子干扰和双电荷干扰等。多原子离子干扰是由等离子体气（如氩气）、空气、溶剂（主要是水）以及溶样酸等形成的加合离子，类似于背景干扰；由基体元素形成的氧化物离子干扰通常是最严重而且最负责的干扰。ICP-MS在测量贵金属Pt、Pd、Rh的过程中存在着这些质谱干扰，如同量异位素干扰、多原子离子干扰、双电荷离子等干扰等。同量异位素的干扰来自于样品中与被分析元素具有相同质量数的其他元素的同位素质谱峰重叠造成的干扰。采用ICP-MS测定贵金属元素Pt、Pd和Rh时，除103Rh外其它元素都至少存在一个没有同量异位素质谱峰干扰的同位素，如194Pt、195Pt、105Pd，表1给出了贵金属Pt、Pd、Rh分析时相关元素的天然同位素丰度。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/11/201411211632_523924_2770543_3.jpg多原子离子的干扰，主要是一些元素在高温等离子体下产生的氩化物(MAr+)、氧化物(MO+)、氢化物(MH+)、氢氧化物(MOH+)、氯化物(MCl+)、氯氧化物（MClO+）等，194Pt、195Pt、105Pd和103Rh的主要干扰元素，表2给出了贵金属Pt、Pd、Rh检测中常见的ICP-MS干扰元素，试验中对可能产生干扰的元素Cu、Zn、Cr、Rb、Sr、Hf、La等单标溶液进行干扰测定研究。表3给出了以2ppm浓度进样计算的干扰元素的校正系数，从表3-3的结果表明多原子分子离子的比例均小于0.5%，Tb[size=12.0

【特征谱线大PK】不同谱线ICP-OES法测定贵金属中Pt的含量 摘要：使用ICP-OES对贵金属Pt的不同谱线214.424nm,306.471nm进行曲线和样品溶液的测试进行对比，试图找出最佳的测试谱线使得分析结果更为可靠。【关键词】 ICP-OES，贵金属，特征谱线贵金属分析结果的准确性关系到其矿物样品的含量等级，本文通过对比不同特征谱线的强度和线性指标，通过对实际样品溶液的测试来寻找最佳的测试谱线。1、 实验部分1.1 仪器及试剂仪器：Varian 735ES，http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311242049_478994_1657564_3.jpg容量瓶试剂：盐酸、硝酸标准溶液：PGM 标准溶液（1000μg/ml） 1.2 仪器工作条件仪器项目设置功率 (kW)1.35等离子体(L/min)15.0辅助气(L/min)1.50雾化气(L/min)0.70观测高度(mm)5读数时间（s）15仪器稳定延迟时间（s15进样设置进样延迟时间（s15蠕动泵转速（rpm）15冲洗时间（s）15快速冲洗打开1.3 谱线图对比214.424nm和306.471nm 测试浓度为0.5 mg/L 的对比http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311242050_478995_1657564_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311242051_478996_1657564_3.png 214.424nm和306.471nm 测试浓度为1.0 mg/L 的对比http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311242055_479000_1657564_3.png[