自动失真度测量仪

仪器信息网自动失真度测量仪专题为您提供2024年最新自动失真度测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括自动失真度测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的自动失真度测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合自动失真度测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有自动失真度测量仪相关的最新资讯、资料,以及自动失真度测量仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

自动失真度测量仪相关的厂商

  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
    留言咨询
  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
    留言咨询
  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
    留言咨询

自动失真度测量仪相关的仪器

  • 主要技术指标:基波频率范围 5Hz~200kHz基波频率准确度 ±1%基波失真度 5Hz~1kHz,≤0.0008%;1kHz~20kHz,≤0.001%;20kHz~50kHz,≤0.003%;50kHz~150kHz,≤0.008%;150kHz~200kHz,≤0.01%基波幅度稳定度 优于0.05%/20min谐波频率范围 10Hz~400kHz谐波频率准确度 ±1%谐波失真度 10Hz~100kHz,≤0.5%;100kHz~200kHz,≤0.7%;200kHz~400kHz,≤1.5%谐波幅度稳定度 优于0.05%/20min谐波分压误差 10Hz~400Hz,±(0.6%+10mV/谐波电压);400Hz~40kHz,±(0.1%+10mV/谐波电压);40kH~100kHz,±(0.6%+10mV/谐波电压);100k~200kHz,±(1%+12mV/谐波电压);200k~400kHz,±(2%+12mV/谐波电压)外形尺寸 425mm 405mm 135mm供电电源 200V±10V工作环境温度 (23±5)℃射频输出接口 BNC上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业,检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案,并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及:机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列,销售产品达成千上万多种,为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。
    留言咨询
  • 一、失真度仪检定装置产品介绍失真仪检定装置是一种频带宽、高精度的标准失真波信号发生器。本仪器主要用于检定非线性失真度测量仪,包括失真仪的失真度示值误差、频率刻度误差、机内引入失真、不平衡电压表的基本误差及频率附加误差;也可以用来调试高保真放大器及其他音频网络;仪器输出的宽频带、宽量程的精确电压信号,还可以用来检定电压表。本仪器采用集成电路进行设计,可靠性高、仪器体积小、重量轻、操作使用简便、特别,适用于计量检定部门、实验室和相关企业使用。 二、技术指标:1、主要参数:失真度仪检定装置输出的标准失真波的频率范围为5Hz--200kHz,且连续可调;输出的失真度范围为0.01%--100%,最小调节间隔为0.01%,输出的标准失真波的基本误差为0.5%。2、技术参数2.1基波振荡器 2.1.1基波振荡器的频率范围:5Hz-200kHz连续可调。 2.1.2基波振荡器分成五个频段 ×5频段:5Hz-50Hz ×50频段:50Hz-500Hz ×500频段:500Hz-5kHz ×5×103频段:5kHz-50kHz ×2×104频段:20kHz-200kHz 2.1.3基波振荡器的频率显示误差:≤±0.1% 读数值±2个字 2.1.4基波振荡器的非线性失真度: 基波频率范围(Hz) 失真度% 失真度温度系数%/℃ 110-104 ≤0.005 0.0002 5-2×104 ≤0.01 0.0005 2×104-5×104 ≤0.02 0.0005 5×104-2×105 ≤0.03 0.0012.2谐波振荡器 2.2.1谐波振荡器的频率范围:10Hz-400KHz连续可调; 2.2.2 谐波振振荡器分成五个频段 ×10频段:10Hz-100Hz ×100频段:100Hz-1kHz ×103频段:1kHz-10kHz ×104频段:10kHz-100kHz ×5×104频段:50kHz-400kHz (400kHz-500kHz范围仍可使用) 2.2.3谐波振荡器的频率显示误差:±0.1% 读数值±2个字 2.2.4谐波振荡器的非线性失真度 频率范围:220Hz-20kHz 失真度≤0.2% 频率范围:10Hz-200kHz 失真度≤1% 2.3双热偶真有效值电压表 2.3.1电压表的基本误差(当频率为1kHz,指示1.000V时),≤0.3% 2.3.2电压表基本误差的温度系数:±0.02%/℃ 2.3.3电压表的频率附加误差(电压为1.000V时) 110Hz-20KHz:≤±0.1%相对1kHz 10Hz-100kHz: ≤±0.2%相对1kHz 5Hz-400kHz: ≤±0.2%/三个倍频程 2.4谐波分压系数误差 2.4.1频率:10Hz-400kHz 2.4.2工作误差 频率范围 分压系数(%) 分压系数误差 220Hz-20kHz 0.01-100 ±(0.2%+20μV) 40Hz-40kHz 0.03-100 ±(0.5%+20μV) 10Hz-20kHz 0.03-100 ±(2%+30μV) 20Hz-100kHz 0.05-100 ±(1%+30μV) 100Hz-400kHz 0.1-100 ±(2.5%+30μV)2.5叠加电路引人的叠加误差 基波频率范围 叠加误差(%) 110Hz-10kHz ≤±0.05 5Hz-50kHz ≤±0.1 50KHz-200kHz ≤±0.5 2.6基波和谐波振荡器的相对幅度稳定性:优于0.1%十分钟(每2倍频程) 2.7标准失真波输出 2.7.1标准失真度范围: 从100%到0.01%,由四个旋钮按十进制步进分挡调节,最小调节间隔0.01。标准失 真波的失真度数值由面板刻度直接读出。 2.7.2标准失真波的频率范围:5Hz-200kHz 2.7.3标准失真波的工作误差(基、谐波均校准于1.000V):
    留言咨询
  • 半自动晶圆厚度测量仪 MX204系列产品简介:MX204系列半自动晶圆厚度测量仪,用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理:MX204系列采用电容测量原理,晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器,通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度,及晶圆上下表面距离电容器的距离,进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1)晶圆直径:100mm, 125mm, 150mm, 200mm2)厚度精度:±0.5 µ m ~ ±1 µ m±1 µ m3)分辨率:75 nm ~ 1.0µ m4)厚度范围:100-1000 µ m5)自动晶圆:半自动应用: SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度,TTV,弯曲度和翘曲度,平整度,以及应力的测量。
    留言咨询

自动失真度测量仪相关的资讯

  • 沈阳自动化研究所IDE团队成功研出大型圆柱度测量仪
    近日,中国科学院沈阳自动化研究所智能检测与装备研究室IDE团队在国家重点研发计划项目的支持下,经过艰苦攻关,创新性提出了高负载大可变量程的大型圆柱度测量新方法,并依此方法研发了大型圆柱度测量仪。大型零件圆柱度测量仪样机圆柱度是精密回转类零件重要的精度指标之一。目前,圆柱度测量仪大多通过接触式传感器获取被测目标信息,采用精密转台回转的方式实现测量,如英国Talyrond公司研制的最大测量直径达1.6米的1600型圆柱度测量仪。接触式传感器的可形变量极小,在圆柱度测前定心调整过程中,大偏心距累积的运动定位误差极易超出传感器的极限行程而造成传感器损坏。受被测对象的尺寸、重量及高精密转台的制造技术等因素的影响,过大的载荷将严重影响精密轴系的回转精度,所产生的随机误差难以通过算法有效补偿,无法满足大型工件的高精度测量需求。对于直径超过2米的大型轴承套圈,由于零件尺寸巨大、圆柱度测量精度要求高以及测量环境的局限性,现有的接触式传感器与转台回转的测量方式难以满足其测量要求。因此,亟需研究针对大型回转类零件圆柱度的现场快速精密测量方法及相应的评定技术。沈阳自动化所智能检测与装备研究室IDE团队提出的高负载大可变量程的大型圆柱度测量新方法采用具有精密、隔震等特性的气浮驱动技术,配合精密耦件,通过测前快速自适应偏置调整技术实现工件测前自动定心,采用精密测头回转的方式快速获取有效测量信息。在测量原理方面,提出了更完善的圆柱度测量模型及误差分离算法,测前定心与实际测量采用分立的运动控制系统,既解决了大型工件的载荷问题,又能够通过模型参数拟合的方式实现偏心、测量线偏置、被测圆柱轴倾斜等误差的精准分离;测量系统采用对称式双测头测量方案,综合了非接触式位移传感器安全、柔性的特点与接触式位移传感器精密、可靠的特性。本方法的提出突破了传统测量方法在大型圆柱度测量过程中的局限性,实现了大型回转类零件圆柱度测前自适应偏置调整和现场快速精密测量。目前,该研发团队已完成大型圆柱度测量仪原理样机的研发工作,并在《光学精密工程》《中国激光》等高质量期刊发表相关论文2篇,申请发明专利4项。经过国家权威计量专家及天津计量院的检定,大型圆柱度测量仪样机的回转精度为42.6nm,Z向导轨精度139nm/100mm,最大测量直径为2500mm,且其测量范围可根据使用需求进一步拓展。这意味着该原理样机的核心技术指标已达到国内领先、国际先进水平。本项目的实施将进一步夯实我国大型轴承及以大型轴承为核心基础部件的高端装备的制造技术基础,填补直径大于2米的大型轴承圆柱度测量仪的国内空白,掌握大型圆柱度测量仪的核心技术,提高轴承及相关行业的自主创新能力,为我国高铁、风电和高档数控机床等高端装备制造业的进一步发展提供保障能力,对我国从制造大国迈向制造强国,具有重要的现实意义和巨大的社会经济效益。
  • 科众精密-全自动晶圆接触角测量仪,测量等离子处理镀膜后的接触角
    半导体晶圆表面的接触角测试是半导体制造中常见的一项表面质量评估方法,其重要性在以下几个方面:1、粗糙度评估:半导体晶圆表面的粗糙度会对接触角产生影响,接触角测试可以用来评估晶圆表面的粗糙度,从而评估其表面质量。表面清洁评估:半导体晶圆表面的杂质和污染物会影响接触角的测量结果,接触角测试可以用来评估晶圆表面的清洁程度。2、表面处理评估:半导体晶圆表面的各种表面处理,如刻蚀、沉积、退火等会影响接触角的测量结果,接触角测试可以用来评估这些表面处理对晶圆表面性质的影响。3、界面张力评估:在半导体制造中,各种材料的粘附和分离过程都涉及到界面张力的变化,接触角测试可以用来评估晶圆表面和各种材料之间的界面张力。综上所述,半导体晶圆表面的接触角测试可以用来评估晶圆表面的粗糙度、清洁程度、表面处理效果和界面张力等方面的性质,对半导体制造过程中的表面质量控制具有重要的意义。晶圆全自动接触角测量仪详细参数:技术参数KZS-50图片硬件外观接触角平台长12寸圆平台(6寸、8寸、12寸(通用)扩展升级整体扩展升级接触角设备尺寸670x690x730mm(长*宽*高)重量35KG样品台样品平台放置方式水平放置 样品平台工作方式三维移动样品平台样品承重0.1-10公斤仪器平台扩展可添加手动,自动倾斜平台,全自动旋转平台,温控平台,旋转平台,真空吸附平台调节范围Y轴手动行程400mm,精度0.1mmX轴手动,360°自动旋转,精度0.1mm测试范围0-180°测量精度高达0.01°测量面水平放置样品平台旋转全自动旋转平台仪器水平控制角位台可调,镜头可调,样品平台可调滴液滴液系统软件控制自动滴液,精度0.1微升,自动接液测试注射器高精密石英注射器,容量500ul针头直径0.51mm,1.6mm表面张力测试滴液移动范围X轴手动调节80mm,精度0.01mmZ轴自动调节100mm,精度0.01mm滴液系统软件控制自动滴液泵滴液模组金属丝杆滑台模组镜头/光源光源系统单波冷光源带聚光环保护罩,寿命60000小时以上光源调节软硬共控镜头可移动范围滑台可调100mm镜头远心变倍变焦定制镜头镜头倾斜度±10°,精度0.5°相机帧率/像素300fps(可选配更高帧率)/300万像索电源电源电压220V,功率60W,频率60HZ漏电装置带漏电装置保护软件部分软件算法分辨率拟合法、弧面法、θ/2、切线法、量角法、宽高法、L-Y法、圆法、椭圆法、斜椭圆法测量方式全自动、半自动、手动拟合方式 分辨率点位拟合,根据实际成像像素点完全贴合图像拍摄支持多种拍摄方式,可单张、可连续拍摄,支持视频拍摄,并一键测量。左右接触角区分支持分析方法座滴法、纤维法、动态润湿法、悬滴法、倒置悬滴法、附着滴法、插针法、3D形貌法、气泡捕获法分析方式 润湿性分析、静态分析、实时动态分析、拍照分析、视频分析、前进后退角分析保存模式Word、EXCEL、谱图、照片、视频总结1、晶圆接触角测量可以订制,适用于各种半导体制造中常用的6英寸、8英寸、12英寸等尺寸的晶圆。2、高精度测量:可以在非常小的范围内准确测量晶圆表面的接触角,具有高度的重复性和准确性。3、多功能性:晶圆接触角测量仪通常具有多种测试模式,可以测量不同类型的表面处理,如刻蚀、沉积、清洗等过程对接触角的影响,可以提供全面的表面质量评估。4、高效性:晶圆接触角测量仪可以在非常短的时间内完成多个晶圆的测量,提高了实验的效率。5、自动化程度高:晶圆接触角测量仪通常具有自动化控制和数据处理系统,可以自动完成晶圆的定位、测量和数据处理,减少了实验人员的工作量和误差。晶圆接触角测量仪是一种专门用于测量半导体晶圆表面接触角的仪器。相比传统的接触角测量仪,它具有以下优势:1、适用于大尺寸晶圆:晶圆接触角测量仪通常具有较大的测试平台,能够容纳大尺寸的晶圆,适用于半导体制造中常用的6英寸、8英寸、12英寸等尺寸的晶圆。2、高精度测量:晶圆接触角测量仪使用高精度的光学传感器和计算算法,可以在非常小的范围内准确测量晶圆表面的接触角,具有高度的重复性和准确性。多功能性:晶圆接触角测量仪通常具有多种测试模式,可以测量不同类型的表面处理,如刻蚀、沉积、清洗等过程对接触角的影响,可以提供更全面的表面质量评估。3、高效性:晶圆接触角测量仪可以在非常短的时间内完成多个晶圆的测量,提高了实验的效率。4、自动化程度高:晶圆接触角测量仪通常具有自动化控制和数据处理系统,可以自动完成晶圆的定位、测量和数据处理,减少了实验人员的工作量和误差。综上所述,晶圆接触角测量仪具有高效、高精度、多功能等优点,在半导体晶圆表面处理和质量控制中具有广泛的应用前景。
  • 聚焦5G高品质系列设备之“自动线宽测量仪”
    现如今5G基站建设如火如荼5G正在走进家家户户其在通讯、无人驾驶等方面有着广阔的应用空间普及率也在不断提升《中国移动经济发展报告2020》指出预计2025年中国5G普及率将达到50% 不管是基站建设还是5G应用都拉动了5G高频高速线路板的需求5G全新赛道的开启为PCB厂商提供了新的机遇但也对技术、品质提出了更高的要求 正业科技全新自动线宽测量仪(XK32A)技术提升,硬件、软件全面升级可用于5G及高端线路板的检测为品质保障、安全使用保驾护航 正业科技全新自动线宽测量仪(XK32A) 正业科技全新自动线宽测量仪(XK32A)主要应用于5G高端线路板及普通线路板的内、外层半成品经显影蚀刻后(上绿油前)线路的上幅及下幅宽度、线距,圆孔(相机视野范围内)检查和分析。 正业科技线宽测量仪研发已超过 10 年线宽系列产品在PCB行业销售已超过 400 台技术过硬!运行稳定!质量可靠! 第四代“新”升级 工作原理 通过影像成像系统及光源从上表面垂直于被测板,呈显影像(相机实时拍图)感测,并将图像传送至电脑测量软件,通过软件测量工具分析图像的“线宽/线距/线宽上下幅/圆/金手指线宽等”标准公差值对比,从而判断被测板上的测量值OK或NG。 成像原理 产品优势 检测实例 技术参数

自动失真度测量仪相关的方案

自动失真度测量仪相关的资料

自动失真度测量仪相关的论坛

  • 【资料】高精度数字失真度测量仪的设计

    引言   通信系统中采用的许多算法和技术都是在线性系统的前提下研究和设计的,一定频率的信号通过这些网络后,往往会产生新的频率分量,称之为该网络的线性失真。失真度分析采取的常用方法有基波抑制法和谐波分析法两种。  基波抑制法通常用在模拟失真度测量仪中,原理是采用具有频率选择性的无源网络(如谐振电桥、双T陷波网络等)抑制基波,由信号总功率和抑制基波后的信号功率计算出失真度。理想的基波抑制器应完全滤除基波,又不衰减任何其他频率。但实际上,基波抑制器对基波衰减抑制只能达到-60 dB~-80 dB,对谐波却损耗0.5 dB~1.0 dB。这种方式的失真度仪的性能主要依赖于硬件设计,调试和校准工作烦琐,一般只能实现固定1个或几个频率的失真度测量,其测量误差随着失真度降低而加大,并且随着器件老化,电路的稳定性和可靠性降低。  谐波分析法类似于频谱分析,通常是借助数字方式的以FFF(快速傅里叶变换)为基础的算法,或者采用模拟方式的选频测量方法,从而获得基波和各次谐波的功率,计算出失真度。模拟选频方式的失真度分析仪性能高,但硬件电路复杂。数字方式的失真度分析对硬件的设计要求降低,其性能主要决定于A/D转换的精度和数字信号处理算法。仅仅采用FFT来分析失真度是远远不够的,因为测量精度与其运算量、存储空间的大小和测量速度存在明显的矛盾。 针对以上失真度测量方法的不足,本文以数字谐波分析法为基础,提出了基于DFT(离散傅里叶变换)和过零检测法的失真度分析算法,不仅可满足高精度和任意频率的测试需求,还可降低硬件设计复杂度。  1失真度算法研究  1.1算法分析  失真度定义为: http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540898.jpg  式中:u1,u2,…,uM分别为被测频率的基频、二次谐波、…、M次谐波分量的幅度有效值;E1,E2,…,EM为基频和谐波分量的能量,一般M=5或7。 从失真度定义来分析,要测量信号的失真度,只须设法将被测信号的基波与谐波分离,分别测出它们各自的功率或电压有效值,代入式(1)即可。  DFT在DSP中通常用于对平稳信号的频谱估计,在应用中,将输入信号截短,得到的行向量X=x(n)与一个相同长度的正弦信号W=w(n)相乘积分,可得到向量X中含有正弦信号W的分量。所以,如果向量W的频率等于失真度测量的各个频率分量和它们的正交分量,则可以计算出输入信号中包含第m次谐波的能量Em: http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540809.jpg  将式(2)值代人式(1)就可得到失真度值。   在工程测量中,被测信号的频率往往未知,而DFT计算时是确定的频率,所以应给W提供准确的频率,而且W的频率预测越准确,能量计算也越精确。  为了准确找到基频,对采样信号采用过零检测法来测量频率,为避免噪声干扰,设置零幅度带,每通过零幅度带即为过零一次。被测信号频率由fx=N/T得到,T为时间基准,N为T内过零点数。过零检测法测频虽准确度较高,但是在标准的时间基准T中如10 ms、0.1 s、1 s等,由于被测信号与门控信号不可能同步锁定,所以存在固有的±1量化误差。本系统中如果选用1 s做时间基准的话,实时性不够。因此综合考虑实时性、存储量、处理速度之间的关系,选择T=0.1 s作为时间基准。这时±1误差被扩大10倍,为±10 Hz。为解决±1量化误差,使用以过零测频为中心,固定带宽(30 Hz)内最大值能量搜索办法(二分法)寻找基频能量最大值,经过5~7次迭代可得到准确的基频。然后直接使用此基频得到各次谐波的准确频率,并将基频和谐波频率提供给W,使用DFT就可直接估计基频和各高次谐波能量,完成失真度计算。  1.2仿真结果分析  使用MATLAB对上述算法进行仿真。设输入信号基频为1 kHz,并在±30 Hz范围内随机变动,信噪比20 dB,采样速率为44×103次采样/s,计算到7次谐波能量,基频能量二分法搜索带宽为30 Hz。最大值搜索时,当能量变化小于0.1%时终止,序列运算长度1 024个采样点,使用平方汉宁(Hanning)窗减少频谱泄漏。按这些条件,对500次具有随机频偏和失真特性的输入信号进行算法仿真。结果如图1所示。  仿真结果表明,采用上述条件时,频率计算误差控制在1 Hz以下(见图1(a));失真度误差能控制在1%以下(见图1(b))。如果终止条件更严格,测量精度可以更高。通过仿真还发现,当基频搜索时能量变化小于0.01%时终止,失真度测量误差可小于0.1%(见图1(d))。为使失真度算法更有效率,本系统采用能量变化小于0.1%时终止。  2数字失真度测量仪硬件结构  该系统硬件结构如图2所示。测量仪主要由信号调理、低通滤波、数据采集系统、主控制器AVR单片机(Atmega64L)、DSP(数字信号处理器)等模块组成。  2.1信号调理和低通滤波模块  信号调理和低通滤波的功能是对信号的幅度进行调理和滤波。信号的输入范围是不定的,小信号信噪比较低,大信号会引起A/D转换器对信号进行限幅而失真,所以采用数控可变增益放大器对信号输出电压范围进行调整,将信号的幅度控制在A/D转换器的满幅度附近。保证A/D转换器采集到的波形数据最大值仅占A/D转换器不失真输入范围的80%。低通滤波为20 kHz低通滤波器,其0.1 dB带宽为18 kHz,能有效滤除高频信号,同时保证较好的带内平坦度。  2.2数据采集模块  作为电子测量仪器要得到高精度的测量结果,要求A/D转换器的精度必须足够高。系统采用了TI公司的24 bit工业A/D转换器ADS1271,它可以得到低的漂移、极低的量化噪声。经ADS1271采样后的数据由DOUT引脚串行输出,与TMS320C6713的多通道缓冲串口McBSP直接相连。McBSP可支持字长为24 bit的数据,可直接接收A/D转换器输出的24 bit串行数据,并自动将接收数据中的数据位调整为DSP需要的格式。A/D转换器采样速率为44×103次采样/s。A/D转换器的采样脉冲信号由DSP的定时器提供。  2.3数据处理模块  DSP模块以TMS320C6713芯片为核心。该芯片是TI公司推出的一款高性能浮点DSP,内核包含了8个功能单元,采用先进的VLIW(甚长指令字)结构,使得DSP在单周期内能够执行多条指令。在225 MHz的时钟频率下,其最高执行速度可以达到1350×106次浮点运算/s。它还集成了丰富的片内外设单元,本系统主要用到的有HPI、EDMA和定时器。  主机接口为HPI,外部主机可以直接访问内部的存储器和存储器映像存储器,TMS320C6713的HPI通过EDMA控制器实现对DSP存储空间的访问,本系统中Atmega64L是主机,可以直接配置TMS320C6713的EDMA定时器,节省TMS320C6713的查询周期。ED-MA(增强型直接存储器访问)是C621x/C671x/C64x系列DSP特有的访问方式,其启动可以由内部或外部事件触发,本系统采用外部触发。  2.4外围设备  失真度测试系统的控制和结果显示通过标准RS-232接口完成。因此该数字失真度测量仪可以作为一个独立测量模块集合在其他综合测试仪中。  2.5控制模块  主控制器使用Atmega64L单片机,完成系统的控制。DSP的处理结果由主控制器通过HPI接口获得,并缓存在内存中;当外部命令读取测试结果时,再通过RS-232接口发送出去。控制模块还完成系统的低功耗控制、DSP运行模式等控制。  3软件实现  图3是TMS320C6713芯片的软件流程图。该芯片受Atmega64L控制。Atmega64L根据RS-232接口获得指令,然后根据指令参数来控制仪器的运行。TMS320C6713可执行两种操作:一种是自动测量,首先对采集数据使用过零法粗测频率,然后把粗测频率作为参数传递给失真度测量程序,由失真度计算程序完成测量;另一种是定频测量,把Atmega64L传递来的频率参数直接传递给失真度测量程序完成失真度的测量,而不需要事先测量频率。  失真度测量程序设有一个入口参数fmiddle,以此参数为中心频率在带宽30 Hz内使用最大值搜索法找寻准确的基频频率并完成失真度计算,返回值是实际测量的基频频率、信号电平、失真度。  DSP处理完数据后,把测试结果缓存在内存中,单片机根据指令通过HPI接口读取测试结果。  4性能分析  测量速度是决定仪器实用性的重要因素。每计算一次失真度,基频能量二分法最大值搜索时一般需要5~7次迭代,每次迭代含3次向量乘法(2次乘法,2次加法),取10次迭代需要30次向量乘累加操作、生成30个W向量;剩余6次谐波计算需要6个W向量,合计36个W向量。  W向量的生成如果采用直接调用库函数,运送量太大,而

  • 全自动影像测量仪的技术

    全自动影像测量仪是在数字化影像测量仪基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器,其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能,融合机器视觉软件的设计灵性,属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标测量与SPC结果分类,满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求:更高速、更便捷、更精准的测量需要,解决制造业发展中的又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术,具有“点哪走哪”自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量,影像地图目标指引,全视场鹰眼放大等优异功能。同时,基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程,可以满足清晰造影下辅助测高需要(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能,可在工件随意放置的情况下进行批量测量,亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC 结果分类。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段,具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意,拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能,依托数字化仪器高速而精准的微米级走位,可将测量过程的路径,对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程,结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能,可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点,具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位,频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来,成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。最新推出的全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式,并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图,实现“点哪走哪”的全屏目标牵引,测量结果生成图形与影像地图图影同步,可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差,从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪人机界面友好,支持多重选择和学习修正,其优异的高速测量可达1500mm/min,重合精度: ±2μm,线性精度:±(3+L/150)μm。优秀性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、精密零件、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。SK全自动影像测量仪承续了SK数字化影像仪的以下技术特点:集CNC快速测量、CAD逆向测绘、图影管理于一身。运用了现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等前沿技术,是集光、机、电、软件为一体的高度智能化设备。具有三轴数控、点哪走哪、图影同步、实时校验、误差修正、工件随意放置、CNC快速测量等基础性能。具有极高的数字化程度,全部操作均由鼠标完成。柔和的三轴微米数控能力,实现“点哪走哪”、同步读数、人机合一;良好的人机界面将烦琐的操作过程有机集成,摆脱手摇时代的机械局限;实时非线性误差修正使其突破了传统设备中存在的精度与速度极限;便捷的CNC快速测量,通过样品实测、图纸计算、CNC 数据导入等方式建立CNC坐标数据,由仪器自动走向每一个目标点进行测量操作,数十倍于手摇式测量设备的工作能力下人员轻松高效。具有优异的高速性能,基于独有的高速位移传感技术,其±2um测量精度下的速度可达500mm/min,其工作效率是工具手摇式测量仪器的数十倍以上。位移驱动为0.1μm,位移解析度为0.4μm,重合精度达±2μm,线性精度±(3+L/150)μm,这些参数均优于传统设备和同类产品。具有空间几何运算能力,可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算,被测工件可随意放置,随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值,同时在屏幕上呈现出标记,直观地看出坐标方向和测量点,使最为常见的基准测量变得十分简便而直观,也使分度盘这个机械时代的产物与摇柄一起成为历史。具有支持个性化的软件平台,具有图像保存、编辑、处理等图影管理功能。全新的测绘操作,可轻松描绘或导入CAD图形。还可根据客户需求扩充测量模块,从而满足个性化特点和综合测量的快速需要,使测量设备具有量身定做的软件灵魂。

自动失真度测量仪相关的耗材

  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪
    唐海红 13120400643 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计: 手提式操作,亦可肩挂或腰悬;内置探头存储室,方便携带 系统完整:已预接电导和温度探头,备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 自动量程选择:确保任何高低读数均一致准确,省却了往返调拨之苦 自动温度补偿:可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏:另有背景加光功能,即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头:减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳:适用于野外的严峻环境,仪器即使掉入水中亦可自动浮起;探头外置不锈钢套,坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作:工作寿命长达100小时(碱性电池);另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存,可储存50组数据 使用非散失性存储器,读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注:* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米,样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃(可调节) 温度补偿系数 0至4%(可调节) 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 (6节5号碱性电池) 尺 寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,30米电缆(带内存) 配 件 5050 5520 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升)
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制