全自动聚焦显微镜

产品介绍：RM5是爱丁堡全新推出适用于科研及分析工作的高端显微拉曼光谱仪！这是一款紧凑型全自动显微拉曼光谱仪，可满足高端科研及分析工作的需求。RM5具有真共焦设计，能实现超高的光谱分辨率、空间分辨率和灵敏度。产品特点：1. 独特的真共聚焦设计—可调狭缝结合多位置可调的共焦针孔，使系统具有更高的图像清晰度，更好的荧光背景抑制，且可根据应用进行灵活优化；2. 集成式窄带宽拉曼激光器—多至三个软件自动控制的激光器，使用方便，稳定性高，占用面积小；3. 5位光栅塔轮—具有无与伦比的光谱分辨率1cm-1 （FWHM），可在50cm-1-15000cm-1 的全光谱范围内进行优化；4. 集成式探测器—可同时配置两个探测器，包括高效CCD、EMCCD和InGaAs阵列检测器，用于降低噪声，加快扫描速度、提高灵敏度和拓展光谱范围；5. 内置标准物质和自动校准功能—确保该系统始终可以获得高质量数据6. 4位拉曼滤光片塔轮—全自动陷波滤光片和边缘滤光片，自动匹配不同的拉曼光谱范围和激光波长；7. Ramacle?软件—功能强大的软件包，包含所有的系统控制、数据采集和分析，且易于升级；8. 高性能显微镜—兼容所有附件RM5配置灵活，支持包括Mapping功能 、全自动样品台、偏振拉曼以及外置相机等多种附件和功能的实现，并且均可通过Rmancle软件直接控制（包括设置，测试及数据分析等）。应用领域：生命科学化学制药高分子材料纳米材料化妆品半导体艺术文物法医学地质学等

LSM 880 with Airyscan 快速低光毒性的共聚焦成像新标准您检测分析的样品往往结构非常小、移动速度非常快或极易受光漂白作用的影响。或者，同时兼具上述三个特征。为能从活细胞或其他采用微弱光信号标记的样品中获取无偏差的数据，则要求显微系统拥有更高的灵敏度、更出色的分辨率或更快的速度。样品发出的每一个信号都十分的宝贵。在样品采集方案的选择上， Airyscan 技术将助您一臂之力：同时拥有快速的超高分辨率成像，以及高灵敏度的图像采集。可以使用任意标记的样品进行多色成像，并同时获得优异的图像质量。与传统共聚焦检测器成像质量相比，这种新型检测器设计优良，即使是厚样本也能获得分辨率为120nm（ x， y）和350nm（ z）的一个完美的光学切面，并能将信噪比（ SNR）提升4–8倍。在您进行单光子或多光子实验时，使用这种新颖的探测器设计获得更高的灵敏度，分辨率和速度，27fps（480 x 480像素）。一切都取决于您。共聚焦成像新世界提高所有实验的灵敏度，分辨率和速度。 成像时几乎没有光毒性或漂白现象 - 不改变您的工作流程，样本标记或系统操作。Airyscan独特的快速模式可以将您的成像速度提高四倍。 这相当于共振扫描共聚焦显微镜的速度，却又不牺牲灵敏度或分辨率。Airyscan在横向120nm和轴向350nm的尺度上提供了高灵敏度的完美光学截面和超高分辨率。这超越了去卷积方法，保留了在封闭针孔中通常被屏蔽了的宝贵的发射光信号，并实现了更高的分辨率。提高实验的重复性将Airyscan的快速模式与Z-Stacks及拼图结合起来，可对大样本做高质量成像。一次性收集所有荧光信号。 并行采集可让您在较短的时间内检测多个荧光标记物，并配备更多数量的共聚焦探测器。利用并行光谱采集和高速GPU去卷积的独特组合，提高图像质量。以最大的视野和最高的线速扫描共聚焦 - 蔡司LSM 880 with Airyscan在快速模式下以480x480像素采集速度高达27 fps。选择灵活的共聚焦根据您的研究需求，选择超高分辨率模式，灵敏度模式或新的快速模式。去除自发荧光，并在单次扫描中区分荧光信号高度重叠的部分。 这将减小样品中的光毒性。与单分子技术共聚焦成像获得流动性/浓度/寡聚状态信息（FCS / FCCS / RICS / PCH）。选择Airyscan的快速模式，可以在样品深处多光子成像

[ 产品简介 ] 蔡司激光共聚焦显微镜LSM 900 ，用于材料的三维微观结构和表面形貌的表征，具备光学显微镜的常规观察模式的同时也能够对样品进行三维表面形貌表征，同时也能够与扫描电镜进行关联显微分析，实现样品的多尺度和多维度表征。是实验室和检测平台用于表面形貌分析的理想的综合型解决方案。[ 产品特点 ]&bull 横向分辨率为120nm，轴向分辨率为10nm&bull 灵活的成像方式，宽场光学显微镜的观察方式（明场，暗场，偏光，荧光，微分干涉）以及共聚焦成像方式（表面形貌和荧光3D）&bull 向导式工作流程使得操作简单快捷&bull 关联显微镜成像分析，可与蔡司其他显微镜进行关联成像，实现样品的多尺度和多维度原位分析[ 应用领域 ]&bull 材料性能表征&bull 表面粗糙度分析&bull 金相研究&bull 涂层厚度测量&bull 岩石研究和岩相分析&bull 生物材料和医学应用流体通道（颜色编码高度图），10X物镜磨损实验后金属表面磨损体积测量

Abberior Instruments 以其灵活的 STED 显微镜平台的出色定制能力而闻名。我们开发了紧凑型 STED 和共聚焦显微镜，称为 STEDYCON。STEDYCON 是一款全新显纳镜（亚纳米级别超高分辨显微镜）在传统荧光显微镜基础上实现四通道共聚焦（405nm , 488nm , 561nm , 640nm) 和 STED (775nm) 超高分辨率系统! 同时，占用空间小，方便任何使用者快速实现高达 30nm 分辨率图像的采集!可安装在任何现有显微镜上 - 可立即升级现有的荧光显微镜镜成为多色共聚焦和 STED。STEDYCON 拥有可变针孔和多达四个检测器（专利的 DynamicPLUS 图像检测）。超稳定 - 我们全新的 STEADYFOCUS模块确保您的图像在几天内仍保持完美聚焦。最高质量 STED 效果 - STEDYCON 使你显微图像分辨率达到 30nm 水平。节省空间 - 难以置信的紧凑型 STEDY CON检测器占用空间只相当于显微相机大小。即插即用 - TSTEDYCON 几分钟即可安装完毕. 它只需要连接显微镜的C口，并且不需要进行光学校准。免售后维护 - STEDYCON 光束预先已完美对准（专利保护的 ' easySTED' 光学校准模式）。图片STEADYFOCUS 模块我们全新的按键式 STEADYFOCUS 全自动聚焦模块是用于 STEDYCON 的基于激光的连续型锁焦模块。它保证共聚焦和 STED 图像在几天实验中无焦点漂移。在显微镜上面，由于它的专用设计，在成像光束里不需要额外的光学部件所以没有任何荧光损失和图像畸变。STEADYFOCUS 全自动锁焦模块支持大量浸液物镜 (水、油、硅油、甘油...)和封片介质(水、Mowiol...) 以及主流正倒置显微镜镜体。同一张图像实现超灵敏和全动态范围我们在 STED 和传统共聚焦应用上使用全新的 DynamicPLUS 功能实现好的效果. 利用 DynamicPLUS , 您能采集到从最细节的点到最亮的点。内含雪崩光电探测器（APDs）有极高的量子效率（高达 69% @ 650nm) 在红色荧光范围. 这意味着当信号水平低的时候, 我们的 APDs 仍能采集大量的光子去形成有意义的图像。典型的应用在更接近生理条件下的低荧光标记密度时的超分辨率STED图像和实验。同时, DynamicPLUS的死时间补偿能采集到高信号标本的锐利图像, 例如明亮的共聚焦图像.当然这样生成的原始图像可进行定量分析和逆卷积运算。适合任何厂家显微镜基于浏览器的跨平台软件STEDYCON 通过 Abberior Instruments 公司的浏览器式软件界面智能控制. STEDYCON 智能控制软件从一开始设计的时候就实现简单安装，交互使用和免维护操作的概念应用。 初学者能在几分钟内采集到超分辨图像。STEDYCON 智能控制软件 Smart control 可支持 Windows，Linux，Apple 系统的电脑甚至平板电脑。

inVia™ 共聚焦拉曼显微镜技术缩短了整体实验时间，使得即使是最复杂的样品也能轻松分析尖端技术缩短了整体实验时间，使得即使是最复杂的样品也能轻松分析显微镜的inVia - 终极研究级共聚焦拉曼显微镜。即使是最具挑战性的实验，它操作简单，性能卓越，结果可靠。您可以从离散点生成丰富，详细的化学图像和高度特定的数据。凭借无与伦比的灵活性，全球的科学家和工程师信赖Via。您可以信赖的表现高效的光学设计为您提供最佳的拉曼数据，从微小的材料痕迹和大量的材料。将此功率应用于您的实验，运行以下测量： 时间序列：监控样品随时间的变化情况 温度斜坡： 使用热/冷电池来观察相变 线扫描：在样品表面或其深度分析样品 区域映射： 在固定焦点水平，跟随表面形貌或垂直切片生成图像 体积扫描： 生成透明样本内部结构的3D视图 透射映射：分析大量材料并生成散装材料均匀性的深度平均2D图像 专业测量： 从您自己的设备（例如同步加速器光束线上的控制系统）触发数据采集充分利用inVia WiRE软件：收集您想要的数据，并以最适合您的方式进行分析和显示。王 （vx）inVia系列拉曼显微镜inVia™ 共聚焦拉曼显微镜有三种型号可供选择，以满足您的需求 从旗舰inVia Qontor系统 - 具有全自动化和聚焦跟踪技术 - 到入门级inVia Basis系统。样品查看inVia BasisinVia ReflexinVia Qontor立体观看（双目目镜） ■▲▲ 记忆和自动收集后观看 -▲▲软件显微镜控制 -▲▲自动白光/拉曼切换 -▲▲自动白光节省数据 -▲▲结合白光和激光视频观看 -▲▲白光自动对焦（LiveTrack） -- ▲拉曼数据收集inVia BasisinVia ReflexinVia Qontor自动测量排队▲▲▲自动对焦跟踪（LiveTrack）--▲对齐和性能检查inVia BasisinVia ReflexinVia Qontor内部氖波长校准源-▲▲自动校准的内部参考标准-▲▲自动拉曼校准校正（快速校准）▲▲▲激光自动对准▲▲▲拉曼信号自动对齐▲▲▲绩效健康检查-▲▲键- 无法使用■选项▲包括在内Centrus：超快拉曼成像Centrus是在inVia内实施先进雷尼绍技术的关键，它不仅仅是一个探测器。它由雷尼绍设计，专门用于拉曼光谱和成像。Centrus采用高灵敏度探测器芯片，具有超低噪音水平的热电冷却 通过超快速数据采集（超过1800个光谱s -1）为您提供最佳性能。完全自动化 让inVia做好工作使用inVia，您可以获得灵活性和功能，而无需复杂性。坚固的设计和精密的自动化组件使inVia能够快速，简单，可靠地完成常见任务，例如切换激光波长，改变衍射光栅和获取拉曼图像，而无需人工干预。这对于拥有多个用户的繁忙实验室至关重要。专注于科学，而不是调整仪器。灵活地满足您的需求定制您的inVia，以最好地满足您的研究和实验需求。在购买时和将来，您可以选择各种激光器，光学元件和配件。 王 （vx）短了整体实验时间，使得即使是最复杂的样品也能轻松分析

尼康将共聚焦成像提高到前所未有的水平 尼康新的强大的全自动共聚焦成像系统，能够高速高灵敏度地获得细胞和分子事件的高质量共聚焦图像。前所未有的新光学电子技术创新设计使得A1拥有空前的系统质量和灵活性，是适用于广大用户的理想工具。 | 概述 尼康A1共聚焦激光显微镜系统通过新的创造使得共聚焦成像达到一个新的质量水准并具有多种功能。全自动的A1和高规格的A1R共2个型号可供选择。A1使用传统的成对检流计来获得高至4096x4096解析度的图像， A1R引入一个独特的混合扫描器系统提供贞速达30fps的512x512像素成像。可以便利的在超高速成像时得到卓绝的图像质量。此外，混合扫描器使得同步光活化和成像成为可能，这些对于揭示细胞动力学和相互作用都是至关重要的。 | 独特的混合扫描技术 ? 420fps的超高速成像 A1R加入了一个共振频率为7.8kHz的共振扫描器来达到420 fps (512 x 32像素) 的高速成像。在512X512分辨率下可达到30fps。并且，共振扫描器视野区域和检流计扫描器视野区域完全重合，常规检流计扫描器也可达到10fps（512X512）的速度。尼康独创的光学时钟产生方法在最高速度时也能实现高的图像质量。其光纤通讯数据传输系统最高传输速度可达4 Gbit/s。极高的速度可实时观察血流中细胞的移动（红色：血管；绿色：细胞核，120pfs） ? 光活化同步高速成像 高速光活化成像由于非共振扫描器和共振扫描器集成在一个单元里，不需要另配独立的用来做光活化的激光器，光活化和荧光成像就可以同时进行。拥有可以高速成像的共振扫描器使得光活化后快速变化信号的获取成为可能。光活化释放组胺而引起细胞内的钙离子浓度发生变化，上图显示Yellow Cameleon 3.60 CFP、YFP两基团发生FRET现象的过程（使用457nm激光成像，拍摄速度光活化同步成像速度30pfs）。 何为混合式扫描头 尼康独有的混合式扫描头同时配备检流计与共振式扫描装置，并允许通过超高速选择器灵活转换使用或者同时使用两组扫描装置。 ? 常规检流计扫描器获得高分辨率图像 检流计扫描器单次扫描可获得高达4096X4096分辨率。同时借助新开发的驱动与采样系统，及图像校正科技，可以10pfs（512X512）的速度高速获取图像。四色标记斑马鱼图像（蓝：胞核、绿：瞳孔、黄：神经、红：肌肉） | 增强的萤光探测效率 扫描头中的二向色镜采用平均98%透射率的低角度二向色镜，荧光强度得到30%的增强。 同时采用尼康独有的六边形针孔相对于传统的方形针孔荧光采集量可提高30%。 尼康独特的光学设计使成像更明亮。这样可以使激光曝光强度最小化，减少了细胞损伤。 | 磷砷化镓（GaAsP）高灵敏度探测器 尼康研发的磷砷化镓多通道荧光探测器配备两通道GaAsP高灵敏度检测器与两通道普通PMT检测器。检测波长范围达到400-750nm。 GaAs PMT的量子效率可提高一倍。远优于普通PMT。 GaAsP PMT的灵敏度远高于普通PMT，即使是过去所很难拍摄的弱荧光样品也可获得具有极低背景噪声的高亮度图像。 | 获取明亮清晰图像的VAAS针孔元件 尼康开发了一项称为虚拟可调孔径系统（VAAS）的创新技术，能在保持图像亮度的情况下去除模糊。针对通过针孔的光和非通过针孔的光进行去卷积，得到更明亮的图像，从而提高信噪比。 | 易用的强大功能 使用NIS-Elements C控制软件将共聚焦成像系统、显微镜及周边设备合为一体，并具备简单直观的操作界面。同时提供可靠全面的后期分析功能。基础设置光路设置 以Ti-E倒置显微镜为基础可将共聚焦系统与N-SIM/N-STORM 超分辨率系统、TIRF系统、光谱检测与完美对焦系统整合提供多模式的成像方案。同时所有的系统都可在同一NIS-Elements平台下完美工作。

仪器简介：高精度扫描载物台精确定位 自动调焦装置精确的z-轴方向定位 闭合环路系统 高精度调焦 触控屏关键信息一览无遗 控制面板可自由放置技术参数：光学系统：ICCS 光学系统 镜体：FEM 设计，ACR 位置编码 1、ICCS物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级7孔明暗场自动物镜转盘 4、光 源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强色温自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片 6、Z轴聚焦：自动聚焦 7、数字化平台：可配数字相机，计算机，图像分析软件 8、可配热台 9、可配自动扫描台，实现多视场自动扫描。 10、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）主要特点： 全新一代全自动材料显微镜Axio Imager M2m是蔡司获得良好口碑的Axio Imager M1m产品的全新升级。通过AxioVision软件或自动控制显微镜动作的全自动系统。操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位，可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。脱机可电动、手动操作。计算机通过AxioVision软件自动控制显微镜动作的全自动系统，操作菜单和所采集的图象及显微镜功能控制同界面，即由AxioVision 4软件控制自动调焦、自动物镜切换、自动功能转换（明场、暗场、偏光、微分干涉相衬等观察方法）、自动扫描载物台、自动调光、自动采集图像等。实现多个特征位置记忆，操作者可精确地对前几次或几十次的位置快速定位可实现多视野的拼接和观察，再根据实际需要灵活进行图象处理分析等。

第一、仪器名称及型号：Alpha300R共聚焦拉曼显微镜第二、品牌：德国WITEC公司第三、产品简介： 德国Witec公司是世界上最高端的共聚焦拉曼显微镜制造商，生产的Alpha300 R型共聚焦显微拉曼显微镜因其优异的“共聚焦”性能，仪器的成像分辨率，稳定性及成像速度远远优于世界其他竞争对手，并且该仪器可实现低波数，扫描光电流，高阶谐波，低温磁场mapping等多种高端应用，也可与AFM，扫描电镜联用实现真正意义上的原位拉曼mapping，并可升级到近场光学显微镜。该仪器是二维材料，材料科学，生命科学，腐蚀学，岩石学，半导体，高分子，化学等领域的最理想的工具之一。客户遍及世界各国名校，知名研究所与企业。第四、 产品主要特性（更多先进功能请来电咨询）：? 超高的光谱空间分辨率（空气中）：横向300nm，纵向800nm? 超快的扫描速度：单谱采集时间760μs，40000个光谱只需42s!!!? 超高的稳定性：区别于传统的振镜耦合光路，WITEC采用光纤耦合的方式，即使在恶劣的环境下也可保持稳定的“共聚焦”，仪器稳定性极好，适合工业客户应用；? 极高的灵敏度：由于采用光纤耦合的方式，没有自由光路中的反射镜吸收，所以拉曼光谱损坏较小，众所周知，拉曼信号属于弱型号，灵敏度对检测及其重要；? 真正意义上的“共聚焦”：共聚焦好带来最大优势是可避免杂散光对拉曼信号的干扰，如生物样品，WITEC的仪器可有效避免荧光信号扰动，即使使用532nm激光器也可得到高分辨的拉曼mapping！！第五、主要技术参数: ?采集速度：单个空间点的拉曼采谱时间降到ms级别。 ?光学分辨率高（空气）：300nm(横向)，800nm(垂直方向) ?光谱分辨率高：0.02cm-1 ?激光器：355nm,442nm, 488nm,514nm,532nm,633nm,785nm 等可选，功率10-150mW（根据不同激光器） ?光谱仪：300mm焦距，f/4；通光量 70％；300g/mm，600g/mm和1800g/mm光栅可选 ?EMCCD可选: 1600x200背感光深度制冷电子倍增型光谱CCD ?PZT扫描台，扫描范围200x200x2um 扫描准确度4x4x0.5nm 线性度好于0.02% ?标准测试模式：拉曼光谱，光谱vs时间，拉曼光谱影像XY, YZ 3D成像第六、拓展功能： ?可实现与原子力显微镜AFM，扫描电镜，近场光学显微镜联用实现真正意义原位测量； ? 非线性光学应用：二次谐波SHG，三次谐波THG，双光子荧光TPPL ?TCSPC（FLIM）荧光寿命成像 ? 扫描光电流 ? 低温磁场拉曼mapping ?三维形貌成像 ?微区反射吸收 ?全偏振拉曼光谱及成像 ? 原位电化学拉曼光谱及成像。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。第七、产品应用：该仪器广泛用于材料科学、 薄膜与聚合物研究、生命科学、半导体研究、 晶体研究、制药科学，化学，地质学，物理学。

简介：C2共聚焦显微镜系统主要包含了作为实验室核心设备的新一代尼康共聚焦仪器。它超常的稳定性和操作便利性以及卓越的光学性能使其广受称赞。C2以其强大的数据采集功能和种类繁多的图像分析能力而成为完美的新型显微镜工具，或者说成为了尼康成像系统家族中新的一员。C2采用了尼康专利所有的NIS-Elements成像软件，它完美的集成了图像获取和数据分析功能，在业界享有很高的声誉，赢得了用户的信赖。NIS-Elements使得C2具有和A1高级共聚焦显微镜系统相同的操作便利性，有效增强了C2的可用性、功能性，并拥有了更为广泛的分析能力。主要特点：&bull 图像质量 尼康卓绝的光学系统和经受时间考验的高性能光学设计可在最长的工作距离上提供最明亮且最清晰的图像。 高效扫描头和探测器 C2适合市场上所有采用最小扫描头的尼康显微镜。C2采用高精度镜头和理想的光学圆形针孔，可实现无噪点、高对比度且高质量的共 聚焦成像。通过32通道同时获取C2的光谱探测器可实现高速成像。由于许多精确校正光谱数据方面的创新，在实现真实色彩荧光光谱 成像的同时，保证信号损失被降到最低。 高性能光学系统 CFI复消色差S系统通过在较宽的波长范围（从紫外线至红外线）内的色差校正，这些高NA物镜非常适合共聚焦成像。尼康专用纳 米水晶镀膜技术的使用增强了透射性能。 CFI复消色差TIRF系列这些物镜具有引以为傲的NA 1.49（使用标准盖玻片和液浸油），是最高分辨率的尼康物镜。温度校正环可 在23° C范围内对成像画质进行温度校正。 高清晰透射DIC图像 C2可同时处理3通道荧光或3通道+透射DIC观察。将高质量DIC图像和荧光图像进行叠加可有助于定位荧光标记等图像分析。&bull 高性能 尼康著名的成像软件NIS-Elements可实现所有尼康软件设备和周边设备的直观操作。具备适合该级别非常多的 分析功能，C2全面支持常规的实验室研究活动。 多模式性能 所有尼康硬件均有与顶级共聚焦系统A1相同的软件控制在一个软件包内完全（同时）控制所有硬件（及软件模块）！您可在一个 软件包中进行全部共聚焦、宽视场、TIRF、光活化获取、处理、分析和显示。&bull 操作灵活 C2可结合正置、倒置、生理学和宏观成像显微镜，并配备组合多种顶尖实验系统的配件。所以一切均可由 NIS-Elements软件控制。 多模式成像系统TIRF/光活化C2 TIRF激光照明模块和光活化模块经过集成，以实现极高信噪比的单分子成像以及光活化和光转换银光蛋白的荧光特性变化成像。 宏观共聚焦显微镜系统AZ-C2 由于视图的高清晰宽视场（大于1cm，采用前所未有的高信噪比），AZ-C2可在单张照片上实现完整样本（例如胚胎等）的成像。 组合了低倍率和高倍率物镜、光学变焦和共聚焦扫描变焦功能，以实现宏观至微观的连续成像。另外，AZ-C2可供体内完整样 本的深层成像。规格：激光*兼容激光固定激光：405nm、440(445)nm、488nm561(594)nm、638(640)nmAr激光(457nm/488nm/514nm)、HeNe水平（543nm）激光单元3激光模块（AOM或手动调制），4激光模块（AOTF调制）探测器标准探测器荧光探测器：3通道PMT,透射探测器：1通道PMT光谱探测器（可选）通道数：32，波长分辨率：2.5nm/5nm/10nm,与之前模块C1si-Ready兼容扫描头扫描参数采用3通道荧光探测器： 像素尺寸：最大2048x2048像素 扫描速度：1fps（512x512像素，单向），最快23fps(512x32像素，双向，4倍变焦）采用光谱探测器： 像素尺寸：最大1024x1024像素 扫描速度：0.5fps（512x512像素，单向），最快6fps（64x64像素，单向）扫描模式X-Y、XY旋转、变焦、ROL、XYZ时间序列、行、激励、多点、图像拼接（大图）针孔圆形，6种尺寸兼容显微镜ECLIPSE Ti-E/Ti-U倒置显微镜，ECLIPSE 90i/80i正置显微镜，ECLIPSE FN1固定载物台显微镜，AZ100多功能变焦显微镜软件NIS-Elements C主要功能显示/图像处理/分析 2D/3D/4D分析、时间序列分析、 3D容积显示/正交、空间滤波器、图像拼接、 多点时间序列、光谱解混、 实时解混、虚拟滤波器、去卷积、AVI图像文件输出应用：FRAP、FLIP、FRET、光活化、共定位*兼容激光和可用波长因所用激光单元而异

用于质量控制与表面检测领域的快速转盘共聚焦显微镜专业的设计、向导式的工作流程、值得信赖的输出通用型的蔡司Smartproof 5快速转盘共聚焦显微镜，是一个进行表面研究分析的综合系统：快速、准确、重复性好。此显微镜在工业领域有很广泛的应用，例如粗糙度测量，表面形貌表征等。您的质检部门、生产线和研发实验室，每天都需要用到这台显微镜。这台高效、用途广泛的共聚焦系统，由蔡司简单易用的ZEN软件控制。该软件界面友好，使用方面，能大幅提高工作效率。更简单、更智能、更高度集成集成且坚固的设计Smartproof5拥有全集成的系统设计：光学、电路和相机都用最少的线缆集成在显微镜内，以避免杂乱。整个系统坚固稳定的设计，可以有效抵消震动,无需昂贵的减震设备。向导式的工作流程归功于操作系统的便利性，以及软件里的工作流程，Smartproof 5很适合生产和过程监控。易于教授的检查工作，工作流式的操作界面，引导你完成重复的工作，并保证数据不受人为因素的影响，保证数据的精确和可重复性。值得信赖的输出有赖于其专利的转盘（Spining Disc）和孔径相关（Aperature Correlation）技术，Smartproof 5将测试时间缩到最短，实现了高分辨率和高速度的完美平衡。专业的蔡司光学和久经考验的部件，让你可以在广泛的应用领域高效地工作。Smartproof 5可和ConfoMap软件（蔡司版本的MountainsMap软件）打包使用。该软件是三维表征领域最好的软件之一。您可以在软件中根据国际标准分析数据，并方便地生成报告。这也是Smartproof 5更适合日常表面形貌表征和粗糙度测量的原因。了解产品背后的科技一体化稳固的设计实现最高性能稳固的设计使得Smartproof 5能够在各种不同的工作环境下安装运行–不仅可以在实验室，甚至也可以在没有防震设备的车间。300mm ×240mm带螺纹孔的样品台能够方便的安装各种夹具或者待测零件的固定装置。150mm ×150mm的行程范围使得分析大零件的不同区域或者多个小零件变得得心应手。Smartproof 5 能够监测自身机械组件的状态以确保最佳的性能，以及预防检测保护组件，防止发生故障。蔡司新的C Epiplan-Apochromat物镜是专门为共聚焦系统量身定制的一款镜头。这些高数值孔径的物镜是专门针对405nm的紫光（用于宽场共聚焦成像的波长）进行过优化处理，同时对于可见光也同样表现出色。所有的宽场共焦成像最终生成表面形貌。通过再叠加明场成像的纹理信息，能够获得更真实的表面重构。向导式的工作流程实现精准导航Smartproof5 的简单易用得益于一体化的图形用户界面，它基于蔡司高效导航软件ZEN，并支持从宏观到微观的无缝切换。在4mm × 4mm的概览图中，可以轻松定义测量位置，还可以建立一个坐标系以便将来进行样品的重复测量。采集的数据自动转到Confomap软件进行后续的数据处理和样品三维特性的分析。工作流程也可以保存下来便于再次执行相同的显微三维分析。提供可靠的结果，始终如一凭借全电动的Smartproof5部件设计，软件可监控各个部件的状态。因此可以轻松设置重复拍摄的工作流程。此外，通过强大的ConfoMap软件，可对样品进行几何测量，或对2D（线）和3D（面）图像进行粗糙度分析，后者是基于ISO标准。然后利用内置的报告工具快速生成报告。

Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap&trade 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。售后服务Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。售后服

实现常规荧光共聚焦成像和快速光谱成像的完美结合随着科研人员需求的不断增加，探测到更多的信号甚至是光谱信息变得越来越必要，尤其在区分颜色比较接近的荧光的时候。创新的A1si激光共聚焦显微镜带给用户的灵活性，高速度以及光谱功能，远远超出常规共聚焦显微镜。配备的常规荧光探测器和光谱探测器，可以满足多种科研领域的应用需求。单次扫描即可获得320nm带宽的光谱图像波长分辨率可以是2.5, 5,和 10 nm. 选用10 nm分辨率时, 单次扫描可获得的波长范围高达320 nm，远远超出其他类似系统。1） 简单，灵活的显微镜控制只需单击一个图标，即可实现目镜观察和共聚焦拍摄之间的光路切换。通过A1si的系统软件，用户可以轻松控制显微镜的各个部件，将更多的时间用于拍摄图像。2） 透射光拍摄在拍摄光谱图像和标准共聚焦图像的同时，A1si还可以拍摄包括DIC，明视场，相差在内的透射光图像，以便在组织和细胞中更好的进行荧光标记的定位。3） FRAP观察通过macro程序，可以进行FRAP (Fluorescence Recovery After Photobleaching光漂白后的荧光恢复) 实验. 激光精确定位到用户指定的任意区域（圆形，矩形，任意多边形，点，线，甚至环形）进行光漂白。其他FRAP技术，包括iFRAP (interval FRAP) 和FLIP (Fluorescence loss in Photobleaching)同样得到支持。4） 对光谱图像进行时间动态记录由于单次拍摄即可得到全光谱图像，所以A1si可以对光谱图像进行动态拍摄。拍摄时间序列的模式有：最快模式/固定时间间隔模式/用户自定义拍摄时间表模式）5） 对荧光信号进行光谱拆分，消除串色A1si 软件可以将不同荧光探针的信号清楚地拆分开，包括光谱接近，大范围重叠的荧光信号（比如CFP, RFP, YFP,和 Alexa488）. 在观察多重荧光染色来定位蛋白分子， FRET 实验时，这个功能非常有用.通过光谱拆分，还可以清除掉自发荧光信号。6） 高效率的荧光透过技术荧光光纤和探测器表面都使用了高效防反射涂层，将荧光信号的损失降到最低，实现光路的高透过率。7） 高波长分辨率通过使用精密设计的衍射光栅，可以实现高达2.5nm的光谱分辨率.此外还有5nm 和 10nm分辨率可选。不同的分辨率可以分别用来拆分光谱重叠的探针或同时对4个或更多的探针进行拍摄。8） 采用偏光控制技术的光谱探测器Nikon的DEES (Diffraction Efficiency Enhancement System衍射效率增强系统) 专利技术可以对偏振光进行控制，从而实现亮度的最大化。通过调整偏振光方向，衍射光栅的效率得到最优化，从而在从蓝到红的整个可见光范围内提高广谱数据的亮度和线性。9） 拍摄到真实的荧光颜色由于采用了新的精确矫正技术，而且光谱分辨率和针孔大小无关，A1si可以精确探测到光谱信号，得到真实颜色。同其他的伪彩色系统相比，A1si可以实时观察到真彩色的样本。10） 把对活细胞和组织的影响降到最低通过单次激发就可以得到全光谱图像，因此激光强度和PMT增益的调节变得简单而快速。同时把荧光信号的衰减以及激光对标本的损伤降到最低。对于活细胞和组织，A1si是一套&ldquo 温柔&rdquo 的系统。11） 同时拍摄32通道的光谱图像A1si 采用了32 通道PMT，并革新了多重高速数字转换电路和LVDS(Low Voltage Differential Signal低压差分信号)高速串行传输技术,创造性地实现了单词扫描得到32通道光谱信息，大大减少了拍摄时间，并实现了实时观察。12） 双积分信号处理新开发的DISP (Dual Integration Signal Processing双积分信号处理) 技术提高了电子效率，避免了模/数转换过程中荧光信号的损失。整个曝光期间，荧光信号得到全程记录，有效提高了信噪比。

概述站在共聚焦成像与双光子显微术的最高水平上尼康的A1R MP 是一款拥有独到技术的双光子显微成像系统，不仅具备高分辨率检流计式扫描器（galvanometer scanner），而且还配备了高速共振式扫描器（resonant scanner）。扫描速率在512 X 512像素水平下高达到30帧/秒；在带状扫描模式下最高可达420帧/秒。新型四通道NDD探测器（non-descanned detectors）具有更高的探测效率、更低的暗电流以及更宽的响应光谱，可以对谱线相近的荧光探针进行实时光谱拆分与识别，并大大提高荧光图像的对比度。此功能对于双光子显微镜非常重要，因为在双光子成像时一般只能使用单一的激发波长，往往不可避免地造成自发荧光以及发射光谱的重叠。关键技术高达420帧/秒成像速率的共振扫描镜尼康所特有的共振扫描技术，较之于非共振的普通扫描器，大幅提高了宽视场扫描速率，达到了点扫描成像的世界最快速率-420帧/秒。利用多光子显微术专用的NDD探测器，可以对非常厚的标本进行深部快速成像。尼康的光学同步（optical pixel clock）技术充分保证了超高速图像的均匀性和稳定性。*1 NDD（Non-Descanned Detector）,与共聚焦技术不同，A1R MP不需要使用小孔滤波（descan）。使得NDD探测器可以安装在最靠近物镜出光口的位置，从而可以接收到更多的被厚标本散射的信号光，大幅提高灵敏度。高灵敏度NDD深部成像尼康新开发的多光子四通道NDD探测器能够有效地进行标本深部的显微成像。较普通探测器而言，NDD的感光元件面积更大，灵敏度更高，并安装于距离物镜后出光口（back aperture）最近的地方. 该配置有效地提高了对散射荧光的探测效率，具有更高的信噪比（S/N），对诸如活体组织等较厚的标本的拍摄，具有比普通共聚焦显微镜更为清晰稳定的图像质量。*对于标本深部成像来说，非常重要的一点就是要尽可能多地探测到散射荧光。而实际探测深度主要取决于探测器的灵敏度、受光面积以及安装位置。新款高NA物镜成像更清晰，更明亮新款水浸物镜在较宽的波长范围内做了色差校正，并利用尼康专利&mdash &mdash 纳米水晶镀膜*技术&mdash &mdash 保证了在近紫外到近红外波段内都有很高的透过率。其中尼康的CFI Plan Apo IR 60x WI是目前世界上数值孔径（NA）最大的60x水浸物镜，用它拍摄的高对比度显微图像具有非常出色的亮度和分辨率。*一种原来为尼康半导体光刻机开发的超低折射率薄膜。由纳米颗粒组成海绵状&ldquo 粗糙&rdquo 结构，从而在很宽的光谱区间上大幅提升了光线透过率。快速精准的光谱拆分A1R MP不仅可以通过光谱探测器进行32通道的光谱拆分，而且实现了利用四通道NDD探测器的光谱拆分功能。此功能同样适用于高速共振扫描器。因此，A1R MP可以实现厚标本的深部高速高对比度成像。多光子激光光束的一键准直 当多光子激光的波长或群速色散（GVD）预补偿发生改变时，激光的位置会发生偏移，导致荧光图像亮度不均匀，以及单光子图像与双光子图像之间的错位。由于人眼无法看见多光子激光，特别是800 nm以上波长。因此多光子激光束的准直工作对普通用户来说是十分困难也是十分危险的。尼康的A1R MP新开发的自动光束准直功能可以让用户轻点鼠标，瞬间完成多光子激光的光束准直。

多功能 3D 光学共聚焦显微镜（ OPTELICS HYBRID+，三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪 ），高度方向测量精度达0.05nm；系统整合了白光共聚焦+激光共聚焦技术；以双共聚焦光学系统为基础，集6项测试功能于一体，包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉测量、垂直白光干涉测量、相差干涉测量、反射分光膜厚测量等功能；通常多台设备才能完成的测量，仅需一台设备即可实现，解决了需要使用多种工具的麻烦，满足在各种测量场景中的测试需求。提供6个测试功能模块，应对多样测量需求满足行业测试规格要求，High精度提供多种测量和分析自动化测量技术，高效测量适用于满足多样场景测试需求 三维光学共聚焦显微镜（三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪） 一个平台提供6种测试功能: 1. 白光共聚焦宽视野+High精度测量高清彩色观察 2. 激光共聚焦高倍High 分辨率观察搭载波长405nm的紫色半导体激光，无需前处理，以可媲美电子显微镜的High分辨率，鲜明捕捉纳米级细微构造。3. 微分干涉测量纳米级凹凸观察共聚焦与微分干涉（DIC）相结合，实现细微凹凸形状的可视化。由于焦点深度极低，对于透明样品可以排除其背面的影响仅对表面进行观察。4. 垂直白光干涉测量数毫米宽广视野内的纳米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉波形，通过垂直方向扫描找到干涉光强度高点，得到样品的高度分布数据。原理上，高度分辨率不受物镜放大倍数影响，因此可使用低倍镜快速完成宽视野范围测量。5. 反射分光膜厚测量纳米级透明膜厚测量利用波长切换功能对6个波长的绝对反射率进行测量，光学建模计算得到膜厚。数nm～1μm的单层/多层膜厚可测量。测量区域在共聚焦观察图像上指定，亚微米区域～全视野的数mm区域的平均膜厚均可测量。而且因各个像素(pixel)的膜厚能够计测，所以可以测量膜厚分布。6. 相差干涉测量埃米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉条纹，与从样品反射回的反射光的光程差直接相关。在垂直方向细微移动得到4组干涉图像，通过解析实现高分辨率的高度分布测量。多种波长切换 测量速度快3D 形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）实现了业界快速帧率(15Hz~120Hz)扫描，实现图像拼接、自动测量、自动缺陷检测和快速测量。High精度测量三维形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）高度方向测量精度达0.05nm。提供各种测量，分析和支持功能，具有可用性LM eye是HYBRID的测量和分析软件，提供多种功能，帮助您顺利操作测量和分析功能可以测量和分析参数，包括轮廓，粗糙度和薄膜厚度 测量支持功能HYBRID提供各种测量、分析自动化操作，效率更高LIBRA LIBRA 是一个软件程序，它使用指定的平台执行自动测量。LM 检测 LM Inspect 是一个软件程序，可以自动检测基材上的小颗粒和缺陷。并且支持使用缺陷审查和深度学习进行高精度缺陷分类。其他型号：

inVia激光显微拉曼光谱仪- 经过实践检验的优越性能 配置更灵活，使用更简单- 灵活的选择 您所需要的功能和自动化程度- 模块化的设计 适应您不断变化的需求无以伦比的灵活性和高灵敏度您可根据自己的需求选择不同的功能，及自动化程度。无论您选择了inVia拉曼系统什么样的配置，您都将拥有市场上最灵活易用的，灵敏度最高的激光显微拉曼光谱仪。所有配置均可：&bull 配置多台激光器，并提供完全按波长优化、独立的激光光路。&bull 与Renishaw所有系列的光谱仪、显微镜及附件兼容。inVia系列激光显微拉曼光谱仪的顶级配置 &mdash inVia Reflex提供上述包括全自动化的所有功能；其它的inVia系统随时可以逐步升级至inVia Reflex。极高的灵敏度已成为所有的inVia拉曼系统的标准，即以最低的噪音实现对极弱拉曼信号的探测。没有任何其它拉曼光谱仪厂商能将如此灵活的配置和高灵敏度集中于同一套拉曼光谱仪上。不折不扣的易操作性Renishaw的激光显微拉曼系统以其高性能享誉全球，inVia使得系统的操作变得更加简单。所有的inVia拉曼谱仪都配备：&bull Renishaw功能强大的WiRE&trade 2.0软件操作更直观，数据处理更容易&bull Renishaw高灵敏度、超低噪声CCD探测器&bull Renishaw高稳定性仪器底板，使用精确的三点定位技术使得激光转换更容易此外，inVia Reflex配置还提供：&bull 切换激发波长时系统将自动调整并检查相应的配置&bull 白光观察样品模式和拉曼信号采集模式自动切换&bull 自动切换到共焦模式&bull 使用内置反馈检验系统自动调整、优化光路 inVia和inVia Reflex型显微拉曼光谱仪的共同特性研究级显微镜Renishaw拉曼光谱仪选用德国徕卡显微镜作为配套设备，确保inVia系列产品拥有实现仪器快速可靠测试所必需的高光学效率及高稳定性。高精度光栅转台inVia系列拉曼光谱仪采用带有先进的反馈控制超高精度的衍射光栅转台和专利的连续扫描技术确保光谱的准确性和重复性。真正的光谱成像inVia系列拉曼光谱仪的拉曼和荧光二维直接成像选项可以使您迅速获得材料化学结构的空间分布情况。低波数拉曼信号inVia系列光谱仪的NExT滤光片选件使得对低波数拉曼信号的研究变得容易。现在，您不必牺牲研究常规样品时所必须的高光学效率，就能获得传统三光栅谱仪所能获取的低波数和可调节性能。高稳定性底板inVia系列拉曼光谱仪配备高稳定性底板，具有强度高、重量轻的特点。实现了真正的仪器整体化（显微镜、主机和激光器固定于同一底板上）和稳定性。同时高精度三点定位方式使得更换激光器变得更加容易。灵活的采样方式inVia系列拉曼光谱仪可配置多种附件（光纤探头、变温池等）。最大程度地拓展了可检测样品的范围和检测方法。紫外激发inVia系列拉曼光谱仪的独立多光路优化设计使得紫外激发效率更高，使用更容易，而不会影响任何其他可见光或近红外激发的性能。高品质、高灵敏探测器Renishaw的RenCam系列CCD探测器使用超低噪音、高灵敏度的芯片和低暗电流的电子线格，并提供紫外和近红外增强型探测器是绝大多数拉曼光谱需求的理想选择。光纤探头Renishaw的光纤探头拓宽了检测可能性进入那些不规则形状或大体积样品无法放置到常规显微拉曼仪器上进行检测的应用领域。 InVia Reflex型显微拉曼光谱仪独特性能优化准直和系统确认inVia Reflex型激光拉曼光谱仪可自动优化准直每个激光光路，无论是紫外，可见，还是近红外，准直后自动检验系统性能。自动校准inVia Reflex型显微拉曼光谱仪内置标准光源，可对系统进行自动校准，让用户知道他们的拉曼光谱系统是校准好的，并能给出最佳性能。激发光源转换只需点一下鼠标，inVia Reflex显微拉曼光谱仪不但能自动转换激光器并自动配置相应参数，而且还能优化准直光路以达到最大的通光效率。共焦控制inVia Reflex拉曼光谱仪自动切换非共焦和共焦（高空间分辨）拉曼模式，并使光路准直最佳。一类（Class 1）激光安全inVia Reflex拉曼光谱仪具有一类激光安全设施，所以您可在开放的实验室中使用而不必担心激光安全问题。样品观察/拉曼数据采集模式转换inVia Reflex拉曼光谱仪可自动转换白光观察模式和拉曼数据采集模式，操作更加简单。 新型的共焦模式与逐点扫描成像inVia显微拉曼光谱仪具有高空间分辨本领，可对样品进行逐点扫描成像。inVia显微拉曼光谱仪新型共焦模式的光学系统提供高的空间分辨率（横向小于1 &mu m），同时保证仪器易用、稳定、光学效率高等特点。这一功能和带有光栅尺反馈系统的高精度XYZ三维自动平台同时使用，可对样品的点、线、面及深度进行逐点扫描，得到样品的化学结构、成分和物理条件的空间分布图像。真正的拉曼光谱一次成像样品化学结构分布的光谱成像&hellip &hellip 快速!inVia系列显微拉曼光谱仪的真正的直接光谱成像选件可快速获得样品大面积直接光谱成像。Renishaw真正的拉曼成像选件将激光照射在样品上的一个圆形区域，使用一套可旋转的滤光片组将所选择的拉曼或荧光特征峰直接在探测器上一次成像。此过程只需一次曝光。这种快速成像技术特别适合于样品较大面积分析，例如沾污的检测。激光器inVia系列显微拉曼光谱仪灵活的可选方式支持选择从近红外到深紫外多种激发波长，而不会损失光学效率。inVia系列拉曼光谱仪的多激光器固定底板和多条激光通路，使得用户能迅速切换激发波长，光学元件的自动转换保证了每个激发波长都具最佳状态。inVia系列拉曼光谱仪可配置多种激光器。分辨率和光谱范围inVia系列显微拉曼光谱仪可以选配一个或多个光栅，满足您在光谱分辨率、光谱范围及信号灵敏度等多方面的需求。多种光栅可供选择，配合连续扫描技术，可以实现很宽光谱范围的连续取谱无人为修正，使得inVia成为拉曼和发光两种测量的最佳仪器。低波数拉曼信号在同一台仪器上实现快速取谱和低波数拉曼测量。使用Renishaw的NExT滤光技术可以对靠近激发线的拉曼信号（在有些配置中可到10 cm-1）进行研究。inVia系列拉曼光谱仪可以配备NExT滤波器，与notch或edge滤光片并行使用，使不同的测量方式都能得到高的光学效率。 WiRE&trade 2.0Renishaw的inVia系列拉曼光谱仪配备功能强大、简单易用的WiRE&trade 2.0控制及数据分析软件，它提供：&bull 完整的控制、数据分析及数据库检索功能&bull 完全可配置的界面&bull 最新的Microsoft® Windows® XP操作平台，更加稳定、安全&bull 与21 CFR Part 11兼容&bull 灵活的脚本语言环境，用户可方便地按需求定制方案&bull 数据格式与工业标准软件包兼容多功能性Renishaw inVia系列拉曼光谱仪的功能多样性，使其可在广泛的光谱研究领域得以应用。附件包括：&bull 原子显微镜/近场光学显微镜&bull 光纤探头&bull 大样品组件&bull 变温样品池&bull 光谱数据库&bull 白光偏振组件&bull 拉曼偏振组件&bull 电化学样品池&bull 高压样品池&bull 在一台仪器上选配多个探测器安全特色&bull 一类激光安全装置(Class I)，是可选配置&bull 多个激光器全封闭光路，无激光泄漏&bull 激光安全自锁功能

以无以伦比的分辨率和对比度，实现多维荧光成像Eclipse C1 Plus共聚焦显微镜采用模块化设计，结构紧凑，为用户提供高质量数字图像。扫描头光路进行了优化，短至400nm的图像质量都得到提升。双向扫描模式可以提供更快的拍摄速度。此外，还支持X，Y旋转扫描，并提供一个新的激光选配件来提升对激光照明强度的调节。建立了专门网站可提供更丰富的信息和更完善的服务。尼康专门的共聚焦网站 为新老用户提供了共聚焦显微术的基本介绍和高级功能的使用技巧。该网站提供详细的产品指南，帮助用户根据自己的应用选择合适的设备，同时还提供了相关设备的网页连接和尼康MicroscopyU网站的交互式教程。兼容TIRF尼康的激光TIRF系统可以独立使用，或者和宽场荧光结合使用，此外还可以和共聚焦系统结合使用（比如C1 plus和C1si）。TIRF (total internal reflection fluorescence，全反射荧光) 通过隐失波成像，只激发盖玻片上方100nm范围内的荧光分子，从而有效提高信噪比。这项技术可以作为共聚焦成像的有效补充。TIRF和宽场荧光被整合在一个设备中。此外，尼康设计出两款性能卓越的平场复消色差TIRF物镜（ 60x ，100x）， NA = 1.49.。这是当前数值孔径最高的油浸物镜。高级扫描特性C1 Plus提供多种扫描特性，使得图像的拍摄过程更简单，更快捷。双向扫描: 提高图像扫描速度旋转扫描：对于长标本（比如神经），可以不用旋转载物台就可以进行最佳成像时间间隔可变的Time Lapse: 可以在拍摄过程中不同的时间段采用不同的时间间隔。兼容FRAP通过一个专用的软件功能模块及可以实现FRAP (Fluorescence Recovery After Photobleaching，光漂白后的荧光恢复) 。激光照射到细胞内由用户自定义的特定区域（可以是方形，圆形以及任意不规则形状）来完成操作。目标区域甚至可以是空心形状。此外还提供了iFRAP (interval FRAP) 和FLIP (Fluorescence loss in Photobleaching )。轻松对系统进行配置，操作和修改模块化设计：扩展和维护相当简单；模块经过预校准: 安装时不需要再校准；紧凑设计：占用空间小。C1 Plus的扫描头是全世界最小最轻的；智能化软件：只需要单击鼠标，就可以对绝大多数参数进行修改；四孔位针孔转盘：用电脑控制针孔的大小，可在分辨率和光切厚度之间取得最佳平衡。高质量的光学性能尼康一流的光学技术和电子技术相结合，使得C1 plus可以提供最佳的分辨率，对比度和荧光图像亮度。FRAP的理想仪器Fluorescence recovery after photo bleaching (FRAP，光漂白后的荧光恢复)通过用高强度激光使目标区域荧光发生淬灭，然后观察荧光恢复的过程。这种方法在测量分子扩散和运动速度时很有用。C1 Plus可以对目标区域进行精准定位和精确操作。多种类型激光器可供选择激光器底座最多可以放置4个不同的激光器，从而适用于更多类型的荧光探针。此外，用户可以自行更换滤色块去匹配特殊的荧光染料。所以如果用户的研究需要改变，则显微镜可以很轻松地进行相应的改变。采用AOTF对激光强度进行调节。可选择的激光器包括氩离子激光，HeNe激光，二极管激光，二极管泵浦固体激光（DPSS）等等。同时探测3个通道的图像C1 Plus 几乎支持当前所有的任何图像技术，包括3个荧光通道同时成像，3个荧光通道加上1个DIC通道同时成像， time-lapse 拍摄，以及进行空间分析等等。

中图仪器VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜以共聚焦技术为原理，具有很强的纵向深度的分辨能力，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。应用领域测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜基于光学共轭共焦原理，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。在材料生产检测领域中，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能； 不同应用场景下的3D形貌VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；影像测量功能界面3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标 型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

在材料生产检测领域中，VT6000系列中图仪器共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中也具有广泛的应用。它以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。VT6000系列中图仪器共聚焦显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。技术指标产品功能1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000系列中图仪器共聚焦显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

RM5是爱丁堡全新推出适用于科研及分析工作的高端显微拉曼光谱仪！这是一款紧凑型全自动显微拉曼光谱仪，可满足高端科研及分析工作的需求。RM5具有真共焦设计，能实现超高的光谱分辨率、空间分辨率和灵敏度。产品特点：1. 独特的真共聚焦设计—可调狭缝结合多位置可调的共焦针孔，使系统具有更高的图像清晰度，更好的荧光背景抑制，且可根据应用进行灵活优化；2. 集成式窄带宽拉曼激光器—多至三个软件自动控制的激光器，使用方便，稳定性高，占用面积小；3. 5位光栅塔轮—具有无与伦比的光谱分辨率1.4cm-1 （FWHM），可在50cm-1-4000cm-1 的全光谱范围内进行优化；4. 集成式探测器—可同时配置两个探测器，包括高效CCD、EMCCD和InGaAs阵列检测器，用于降低噪声，加快扫描速度、提高灵敏度和拓展光谱范围；5. 内置标准物质和自动校准功能—确保该系统始终可以获得高质量数据6. 4位拉曼滤光片塔轮—全自动陷波滤光片和边缘滤光片，自动匹配不同的拉曼光谱范围和激光波长；7. Ramacle?软件—功能强大的软件包，包含所有的系统控制、数据采集和分析，且易于升级；8. 高性能显微镜—兼容所有附件RM5配置灵活，支持包括Mapping功能 、全自动样品台、偏振拉曼以及外置相机等多种附件和功能的实现，并且均可通过Rmancle软件直接控制（包括设置，测试及数据分析等）。核心技术参数：1. 光谱分辨率1.4cm-12. 光谱覆盖范围：50cm-1-4000cm-13. 焦长：225cm4. 空间分辨率低至1μm5. 最低波数：＜50cm-1应用领域：生命科学化学制药高分子材料纳米材料化妆品半导体艺术文物法医学地质学等

VT6000三维共聚焦白光显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000三维共聚焦白光显微镜在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000三维共聚焦白光显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Nanoscope Systems NS3800三维激光共聚焦显微镜NS-3800是一种可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面提供多样化的解决方案。Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Dimension(尺寸）：Specification (规格）：ModelMicroscope NS-3800备注物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 Pinhole共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围Fine scan : 100 μm (and/or) Long scan : 7 mm [NS-3800L]注 1Fine scan : 400 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800D]Fine scan : 200 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元PC电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统气浮隔振系统Option

中图仪器VT6000材料共聚焦3D测量显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他VT6000材料共聚焦3D测量显微镜横向分辨率高，所展示的图像形态细节更清晰更微细，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。不同应用场景下的3D形貌VT6000材料共聚焦3D测量显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面VT6000共聚焦显微镜自设计之初，便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果； 4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自设计之初，VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。 应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理尼普科夫转盘共聚焦光学系统显微物镜10×，50×（APO），（5×，20×，100×（APO）可选）视场范围2.4×2.4 mm~120×120 μm高度测量重复性(1σ)≤12nm显示分辨率0.1nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。白光共聚焦陡峭角度测量显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力，而且由于探测器前有针孔掩模，大大减小了不想要的闪烁和散射光所形成的噪声，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能； 功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000共聚焦超分辨显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000共聚焦超分辨显微镜广泛应用于半导体制造及封装工艺检测，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能； 性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。应用领域VT6000共聚焦超分辨显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高。因而擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜基于光学共轭共焦原理，以转盘共聚焦光学系统为基础，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。不同应用场景下的3D形貌主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

1. 产品说明　　采用进口品牌金相显微镜及配套金相扫描平台，扫描精度更高，成像效果更好，效果更准确。　　通过清洁度检测分析软件控制电子影像设备和光学放大设备，对清洗萃取后的滤纸或滤膜样本进行高精度扫描，将扫描数据传回至计算机分析软件，分析软件自动识别金属、非金属、纤维颗粒等，生成清洁度检测报告。　　检测分析过程可自动进行，亦可手动控制，支持用户自定义。　　检测分析过程可全部按照ISO16232、VDA19、ISO4406、GBT14039、NSA1638等标准执行，满足大众、宝马、通用、福特等各大汽车制造厂清洁度检测标准。　　检测流程： 　　1. 参数指标　　测试范围：1-10000μm　　放大倍数：30-1000倍　　重复性误差：≤1%（国标样D50偏差）　　准确性误差：≤1%（国标样D50偏差）　　颗粒识别速率：≥10000个/分钟　　扫描范围：φ55mm　　测量时间：＜10分钟　　漏检率：≤3%（10μm以上颗粒无漏检）　　进口高速CCD速率：120帧/秒　　金属颗粒识别率：＞92%　　纤维颗粒识别准确率：＞95%　　2. 系统特点　　（1）流程化设计，操作顺畅 　　智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、对焦、控制扫描、识别分析　　智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、对焦、控制扫描、识别分析，不漏判和误判,检测效率高。　　（2）自动化集成度高，操作更简便　　全自动的检验分析过程：自动扫描整个试样（通常是滤纸）、自动拍照，颗粒自动识别、分析、统计，自动检查清洁度、自动生成专业分析报告。　　（3）支持多种扫描方式：矩形、圆形、环形、扇形等，支持多种扫描路径。　　（4）检测样本多样化，可测量零件清洁度、油液清洁度等。　　（5）满足多种检测标准　　支持多种国标及国际标准：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等；可以输入标准进行清洁度、颗粒度的全自动检测；可以对纤维进行统计；系统定期更新*新标准。　　（6）智能聚焦　　支持多种聚焦模式：补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。　　（7）自动拍照、定位，并可回溯重拍　　扫描过程自动拍照、自动保存，进度实时可见；照片信息存入数据库，方便查询。提供视场图片浏览检查功能，可以实现每个视场定位回溯、重新拍照等功能　　（8）自动识别反光颗粒、不反光颗粒、纤维　　系统自动识别颗粒，可以同时检查出不反光颗粒和反光颗粒（一般为金属颗粒）、纤维。　　自动对三种颗粒进行检查分类。 支持设置各种颗粒的合格区间。支持自定义三种颗粒的区分设置。 　　（9）支持跨视野超大颗粒、自动校正偏移，使图片可以进行无缝拼接。 　　（10）统计与分析　　系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。同时支持修改颗粒。提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、统计结果等。 　　（11）专业清洁度报告　　支持模板化报告生成模式，包含统计数据、评级、滤片全貌图、*大颗粒照片等信息；可选择多种报告模式。

Luminosa 是一款将超高数据质量与超简日常操作相结合的单光子计数共聚焦显微镜。 它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。 它是一个真正的显微镜系统，每个人都可以依赖。. 您可以完全信赖的质量和精度. 节省时间、只需专注于您的样品. 灵活性高. 2022年9月正式推出. 线上产品展示：2022年10月6号至7号产品特点：全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜激光波长从375到1064 nm可选VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”扫描选项：FLIMbee 振镜扫描和压电物镜扫描最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元700 ps通道的死区时间和 5 ps时间分辨率一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM 和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果产品应用：单分子水平的动态结构生物学单分子水平的动态结构生物学相分离驱动的细胞机制环境传感细胞膜动力学和结构的映射核心方法：荧光寿命成像 (FLIM)FLIM-FRET – 基于寿命的 Förster 共振能量转移smFRET – 单分子 Förster 共振能量转移荧光相关光谱 (FCS)荧光寿命相关光谱 (FLCS)荧光互相关光谱 (FCCS)各向异性成像参数：敬请期待！

艾博纳共聚焦拉曼显微镜是一种用于材料分析和化学结构表征的精密光学分析仪器。共聚焦拉曼显微方法是一种高分辨率拉曼成像技术，半步分辨率为2.5微米，单向定位精度≤20微米，重复定位精度≤±1.5微米。其光谱分辨率高达0.04nm，波长准确度±0.14nm，保证了实验数据的准确性和可靠性，测试时无需任何标记或特殊样品制备技术。拉曼图像可以获得样品内所含的化学化合物及其空间分布信息。该仪器是艾博纳最新款自研拉曼显微镜，包括光路设计，结构搭建，可添加多种模块。经过长期的数据测量以及设备检测，可测得如MoS2荧光等信号数据，是表征材料组成及分布的高端解析工具。对于拉曼，我们将逐步开发超快拉曼成像、低温拉曼成像显微镜、拉曼与AFM的结合以及对非线性拉曼技术进行深度研究。

激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点： 1）与市场同类产品相比，CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化，减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少，使荧光信号的损失降到ZD，进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本； 2）与市场同类产品相比，CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型，获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路，重新设计了信号的探测频次和和方式，显著提升了信号增益，以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块，是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验，全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上，即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描（单点）共聚焦显微镜，获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好，适配各品牌显微镜使用标准C型接口，无需额外配件即可与显微镜连接，搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT，获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如：CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC（微分干涉）模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能，既减少了荧光信号的损失，提高了模块的检测灵敏度，又增强了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路，优化了信号增益，提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器，通过外部调节激光器功率和开关，延长激光器使用寿命，有效降低售后成本。激光器稳定性好，8小时功率变化＜2%。即开即用，操作方便，可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT，量子效率超过25%，相比国外前代共聚焦产品，灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓（GaAsP），进一步提高图像的信噪比： GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜，响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件：共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机，可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能，实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级，加载DIC（微分干涉）模块。软件功能全中文界面，简单易用全软件控制完成多维图像采集，实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加，添加标尺全软件控制数据记录，支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式