数字相位差测量仪

主要简介： 镜片的双折射现象会造成镜片成像性能（MTF）下降，智能手机所使用的镜片需要高解析度，因此需要减少双折射的影响，了解镜片的双折射的大小，是镜片生产过程中不可缺少的，WPA-200-MT正符合这样的需求，并能高速完成各项测量。主要特点:搭载自动判定软件，按下测量键，系统会根据之前设定好的双折射大小进行产品是否合格判定，并输出结果。 客制化以满足各种判定条件。 能自动选择需判定的区域。 运用实例:利用与产品的前期研发，精确分析大量数据 产线应用，简单、高效的良品判定产品质检 活用Data Log功能 主要参数: 项次项目具体参数 1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 2测量波长520nm、543nm、575nm 3双折射测量范围0-3500nm 4测量最小分辨率0.001nm 5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸34×40mm（标准）7选配镜头视野6.3×7.5-17.5×21mm8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

光弹性系数测量仪姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：光弹性系数是材料的特性常数 主要是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。通过光弹性系数以及双折射测量，可以获得材料内部残余应力(Mpa)的值昊量光电提供的设备通过高精密应力双折射测量，可以实现对设备实时应力双折射值（nm）观测采集。于此同时，光弹性系数测量仪 通过高精度加压加力装置，同时获得外部压力（Mpa), 从而获得材料在一定压力下，对应光程差转换常数(nm/Mpa）光弹性系数测量仪产品通过共径干涉仪和基于傅立叶分析法，实现以速度快，精度高，不受振动和空气波动等干扰等特点的双折射测量，系统采用高稳定激光光源（2mw），实现优化化光学元件配置，实现长期几乎免维护时间光弹性系数测量仪参数:变形方式：拉伸/压缩测量样品尺寸：用于拉伸试验：10 x 80 mm用于压缩测试：Φ20mm，薄15mm厚度：0.3 至 15 毫米驱动系统：步进电机左右螺杆同时驱动拉伸压缩距离：100 毫米称重传感器：额定 50 N（可更换为 200 N、1000 N）恒温层控温：室温-200℃温控精度：±1℃光弹性系数测量仪可测量内容：光学特性 光弹性常数、双折射机械性能弹性模量（杨氏模量）、断裂强度通过这些测量，可以进行弹性区域的形态分析以及拉伸特性和取向特性的分析。 光弹性系数测量仪补充基本原理:让具有双折射的样品通过两频正交线偏振光（STZL 振荡光），使其主轴与偏振面重合。每个偏振分量通过样品的速度在样品的“双折射快轴”和“慢相”方向之间不同。因此，通过样品后，会出现“相位差”。通过使用光学外差干涉法检测相位差，可以高精度地定量测量样品的双折射量。外差干涉法测量双折射：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“从“光学节拍”中提取信息称为光学外差干涉法。在调音中，我们经常使用音叉。考虑用它来调整你的吉他。一开始，如果在琴弦松动的情况下拨动琴弦同时使音叉发出声音，将分别听到琴弦的声音和音叉的声音。当琴弦逐渐拉紧时，整体听起来像是一个声音，但如果仔细聆听，您会发现声音以非常快的周期重复强弱（状态 1）。随着琴弦进一步拉紧，声音强度的周期逐渐变长（状态 2），最终声音的强度完全消失（状态 3）。这种声音的强度称为“节拍”。当两种声音（波）的频率不同时，感觉节拍就是不同的频率。当音叉音与弦音的频差较大时（状态1），节拍周期快（节拍频率大）。随着两个声音之间的频率差变小（状态 2），节拍周期变慢（节拍频率变小）。这样，两波重叠就产生了“拍”，拍的频率就等于两波的频率差。在这种情况下，音叉的频率是恒定的，因此如果将其视为参考信号，则可以通过拍频来区分（=检测）琴弦的频率，即声音的周期强度。在光的情况下，会发生与声音相同的现象。也就是说，当两种频率略有不同的光叠加时，就会产生与不同频率相等的光拍。这种称为“光节拍”，而光节拍的频率有时简称为“节拍频率”。光节拍被检测为光强度的周期性变化（明暗变化）。如果您向两个光之一提供一些信息，该信息将相应地出现在光学节拍中。这里的信息意味着为光的振幅、相位和频率提供某种信号。换句话说，当一个光具有某些信息时，可以在该光上叠加另一个“参考”光（这称为参考光）并从光拍频信号中提取信息。这种信号检测方法称为“光外差干涉法”。光学外差干涉测量具有以下特点。通过使用锁定放大器等检测信号，可以进行高精度、高灵敏度的测量。当信号信息仅为相位信息时，不受干扰引起的信号光强度波动的影响。它不受不同频率的信号分量（一般是噪声）的影响。通过增加参考光的强度，可以检测到微弱的信号。等等通过相关计算公式最终可以获得待测双折射：主轴方向的同时测量：但是，在上述方法中，（1）必须事先获得样品的双折射主轴方向，（2）主轴方向必须与振荡STZL 的偏振面... 因此，在围绕光轴旋转STZL振荡光的偏振面的同时检测相位差，同时获得双折射量及其主轴方向。为了使偏振面绕光轴旋转，我们利用了半波片的“将发射偏振面旋转了入射偏振面与波片主轴夹角的两倍”的特性。该图显示了使用光学外差法同时测量双折射量及其主轴方向的光学系统。在这种光学外差干涉仪中，STZL 振荡光的两个偏振分量通过完全相同的光路，从光源到光电探测器。因此，扰动的影响——例如振动和空气波动——将影响完全相同的两个极化分量。结果，由这些干扰引起的所有噪声分量都被抵消了，而光差拍信号根本不受影响。一般的光学干涉仪都需要实验设备来去除振动和空气波动，但根据这种测量方法，这种设备是不需要的。这是进行光学测量的一大优势。辅助信息：双折射当光从空气进入透明材料时，光在边界处发生弯曲。换句话说，行进方向发生了变化。这是由于空气和透明材料的不同特性。在我们周围的环境中，当我们进入浴缸或游泳池时，我们可以通过让我们的手臂看起来弯曲在水面上来体验它，水中的东西看起来比实际更近或更大。当光以这种方式进入不同的物质（例如，从空气到水）时，光传播的方向发生弯曲，称为“光的折射”。那么光为什么会折射呢？原因是光通过材料时，其通过的速度不同。从感官上来说，我们可以理解，在水中行走和在陆地上行走，在陆地上的速度要快得多。由于水的密度比空气大，阻力相应增加，所以你不能走得快。粗略地说，你可以用同样的方式来思考光。“当光线穿过致密的材料时，通过的速度会变慢。”如下图A所示，尝试将手腕浸入水中。然后，如果像 b 一样将手移向黄色箭头，由于水的阻力，手会自然弯曲。那时，手背会略微朝下。其实光行进的方向可以用这种方向来表示。在光的情况下，手背的方向称为“波前”。换句话说，当光线进入折射率高的地方时，光线的波阵面由于其电阻而弯曲，结果光线的行进方向发生弯曲。这就是光的折射。折射度因物质而异，每一种都有唯yi的值。

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介：Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃主要参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm6测量尺寸97×77mm ～ 2900×2310mm7定制选项光学配件，可测量超过10000nm的高相位差

Photonic Lattice 红外双折射（内应力）测量仪 WPA-200-NIR 主要特点： 红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估小型、簡単操作、高速測量 WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场 WPA-200-NIR的功能1. 高速测量面的双折射/相位差分布 NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息 2. 测量数据的保存/读取 全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等3. 丰富的图形创建功能 从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出主要技术参数型号WPA-200-NIR测量范围0~3500nm重复精度1.0nm测量尺寸范围3×4mm~100×133mm像素数384*288 pixels测量波长810nm，850nm 870nm尺寸270x337x631mm自身重量13kg

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

偏振测量仪 PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑，并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。 另外，Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列，该系列的探头内置。 应用： 自由空间或光纤光偏振测量 消光比测量 偏振度测量 作为PMD5000系统中偏振测量单元 琼斯（Jones）和米勒（Mueller）矩阵测量 指标： 输入功率范围：-60dBm~10dBm 方位角精度：0.25o 椭率角精度：0.25o 归一化Stokes参数精度：S1,S2,S30.005 偏振度精度：± 0.5% 波长范围： VIS系列: 400-700nm IR1系列: 700-1000nm IR2系列: 1000-1350nm IR3系列: 1300-1700nm 最大测量速率：333次/秒 光纤输入接口：FC/PC（或根据客户要求） 自由空间输入：&Phi 3mm，发散角3mrad 模拟界面： 输出：S1,S2,S3,功率/dBm，DOP（Stokes矢量） 输入：触发 数字界面： 输出：S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差 热机时间：15min 工作温度范围：5-40oC 消光比测试仪 基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法，可用于保偏光纤的调节等。 应用： 保偏光纤消光比测量 保偏光纤到连接器的调节 保偏光纤到光源的调节 指标： 波长范围 800-1700 nm 最大消光比 40 dB ER精度* 0.5 dB ER分辨率 0.1 dB 角度精度* 0.5° 角度分辨率 0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ～ +10 dBm) 工作温度 5 to 40 ° C 输入电压 100V, 115V, 230V +15%/-10% 所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效 * 输入功率 -30 dBm &dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪 特点： 测量达40dB消光比 内置RS232接口 宽波长范围：400-1000nmVIS，850-1650nmIR ER分辨率 0.01dB，角度分辨率0.3o ER测量准确读1dB，角度准确度0.5o 测量达2W连续光功率 便携式设计 记录模式，可连续测量 连接头可换 低成本，CE认证 应用： 光通讯器件制造 自动调节 质量控制和测量 产品开发 器件或系统故障排除 标准产品指标1： 型号 ER-100-IR ER-100-1290/1650-ER=40 ER-100-VIS 波长范围 850-1650nm 1290-1650nm 400-700nm 600-1000nm 2 消光比范围 30dB 850-1290nm 35dB 1290-1650nm 40dB 1290-1650nm 30dB 动态范围 47dB 40dB 消光比准确度 ± 1dB 消光比分辨率 0.01dB 角度准确度3 ± 0.5o 角度分辨率 0.3o 刷新频率（ER） 2.7Hz 刷新频率 （相对功率） 650Hz 输入功率4 50uW~1.0mW 通讯接口 RS232 电源5 通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器 尺寸 65 x 90 x 184 mm 重量 0.48 kg 工作温度 -10° ~ 50° C 存放温度 -30° ~ 60° C 存放湿度 90% 1.测试条件，1550nm线形偏振光源，热机30min，温度23± 2° C 2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头 3.高精度的FC连接头 4.无衰减器，带衰减器可进行高功率测量，其波长需要指定。 5.标准设备为北美供电标准，其他需单独购买

KAMAKIRI-WM Photonic Lattice online双折射测量仪产品简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域 Photonic Lattice online双折射测量仪主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 Photonic Lattice online双折射测量仪应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 Photonic Lattice online双折射测量仪技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸 350mm7宽度方向测量点2560

PA-300-L主要简介 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数： 项次项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm 3双折射测量范围0-130nm4 测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度 1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准） 7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8 选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

VT800动平衡测量仪是一款高精度、高性能的现场动平衡仪。关键技术在于采用先进的软件、硬件数字处理技术，实现了恒带宽的相关滤波。可以将频率差在0.2Hz以上，也就是在转速大于12转/分的振动信号区分开来。显示了一起优异的滤波特性和强大的抗干扰能力。在相同的环境工况条件下，动平衡仪VT800在动平衡测量中，振动与相角的测量值表现更加稳定、更加可靠、重复性、一致性更加好，进一步提高动平衡仪的测量精度，尤其改善了小信号状态下的现场动平衡运用效果。VT800除具有一般的动平衡功能外,还针对卧式螺旋离心机、碟式离心机类产品的整机动平衡进行特殊设计, 増加了抗干扰能力,能够很方便的测量有差转速复合转鼓体的振动及进行整机现场动平衡. 技术参数 １.一般测量：转速测量： 30～30,000 rpm 振动测量： 0.01～5000μm （峰峰值）0.01～2000mm/s （有效值）振动分析： FFT 频谱分析 显示方式： 64X240点阵图形液晶汉化菜单键 盘： 八键 ２.动平衡测量： 测量点数： 　　 单测点或单面　　双测点或双面同频工作转速： 180～30,000 rpm 同频振幅量程： 0.01～5000μm （峰峰值）振动烈度量程： 0.01～2000mm/s （有效值）相位精度： 0-360°±1 ° 不平衡量减少率：　　　　≥90％动平衡测量中用户关心的几个问题3.1、动平衡测量为什么首先选择试重法本仪器是现场便携式动平衡仪，由于设备转子尺寸，大小是不固定的。振动传感器与转速传感器的安装位置也是不固定的，所以仪器的设计基本原理是通过加重的方法来寻找转子不平衡的点。具体说，对于单面测量，要经过二次振动测量步骤，一次是原始振动测量，另一次是加重后的振动测量，才能找到不平衡点的位置。对于双面测量，要经过三次振动测量步骤：一次原始振动测量，另二次分别是在A面加试重后的振动测量和B面加试重后的振动测量，才能找到不平衡点的位置，看到动平衡的效果。 3.2、为什么说影响系数法，可以省去加试重的步骤 对于第 一个设备转子（新转子），必须通过试重法得到一组影响系数。对于第二个设备转子（老转子）在保证新老转子外形，尺寸，结构都相同情况下，保证传感器安装位置不变的条件下，可以输入影响系数进行动平衡，省去加试重的步骤，经过一次振动测量就能找到不平衡点位置。 3.3、仪器是如何将振动测量矢量值转变为不平衡量矢量值 仪器测到振动幅值有二个单位，一个是振动速度值用mm／s表示，另一个用振动位移值用u微米表示，两个单位是通过“+1”键选择的。一般用户都应用u微米表示：1mm=1000微米。振动的相角只仅表示振动传感器与转速传感器输出信号相位差。然后仪器要求输入试重的重量（克数）以及试重的位置（度数），仪器通过加试重前后两次振动矢量的变化，就可以将振动矢量值（微米与相角）转变为不平衡矢量（克数与角度）。从屏幕上看到M=xxg，ФM =xx°。既不平衡点的重量和角度，这才是用户最关心一组数据。 3.4、为什么说明书上技术参数没有动平衡精度指标 我们只生产动平衡测量仪，被测对象是用户提供的设备转子，其设备转子可能是进口的，国产的，甚至是自制的。各种设备转子的精度是不一样的，差别很大，所以我们没办法制定同一的平衡精度标准。动平衡测量精度取决于支撑转子运转的设备精度等级，设备的精度等级越高，动平衡测量精度也越高，说明书的技术指标不平衡减少率＞80%。意思是说，如原来设备转子剩余不平衡量是10g（克），通过现场动平衡操作，可以去掉9.0克重量，剩余不平衡量可以达1g（克）左右，这个指标也是一个平均数。对于精度高，干扰小的旋转设备转子完全能达到这个指标。对精度差，干扰大的旋转设备转子有可能达不到这个指标。 3.5、为什么振动的幅值和相角，大小有时会不停地变化 在振动信号测量中，振动值与相角不稳定是很常见现象。由于不平衡量引起的振动是有周期性有规律的正弦波，正弦波信号是很稳定。但是现场设备的振动是很复杂的，一般来说是混频振动。包括各种振动信号，只有在不平衡振动分量占混频总振动量的80%以上，振动信号幅值和相角才比较稳定。振动设备的幅值有10%的跳动，相角有10度以内的变化，就认为振动信号是稳定的。如果不平衡振动分量只占混频总振动量50%以下，振动信号的幅值与相角就出现不稳定现象。这时就要想办法寻找干扰振动信号的根源。如何查找设备转子振动故障，可以用本仪器的“信号分析”里的“FFT分析”功能，对于振动信号进行频谱分析，通过谱线对应分析出引起振动的各种频率份量。振动信号幅值和相角不稳定，现场处理方法有：①振动传感器安装位置尽量靠近设备转子的轴承座上。②将菜单中带宽选择，选到带宽0.2Hz。③当振动幅值很小时，可以通过扩大仪器放大倍率，进行测量。④如果设备转子底脚没有固定，要想法固定好。用橡皮垫起来进行隔振。 有一种现象需要说明：做动平衡过程中，不平衡量值由大变小，振动测量的振动值和相角由稳定变为不稳定，这属于正常现象，说明已达到仪器的测量精度。

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要简介：PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制测量案例：

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。 主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。 测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

液晶相位调制器PLM基于液晶的电光调制器相位调制器PLM不需要机械运动部件就能调节相位延迟。其基本原理是通过电压控制液晶层的双折射。施加合适的电压可以在PLM上对双折射进行调制，从而使O光和E光产生相位移动。相位差取决于液晶的光学属性、偏振方向和所施加的电压。 规格 选配件增透膜其它通光孔径 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

主要简介： WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。 主要特点:操作简单，测量速度可以快到3秒。采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。可测样品尺寸更大。主要应用： 光学零件（镜片、薄膜、导光板） 透明成型品（车载透明零件、食用品容器） 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC） 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石） 有机材料（球晶、FishEve） 技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3500nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸33x40mm-240×320mm（标准）7选配镜头视野3×4-12.9×17.2mm 8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制测量案例：

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要简介：WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂,量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。主要应用:光学零件（镜片、薄膜、导光板）透明成型品（车载透明零件、食用品容器）高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石） 技术参数:项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3500nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸218x290mm-360×480mm（标准）7选配镜头视野无选配8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式测量案例：

PA-300-XL SIC主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域: SIC 蓝宝石技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述：日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

产品介绍 EST121型数字超高阻、微电流测量仪采用了大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从0.01×104Ω ～1×1018 Ω，电流测量范围为2×10-4 ～1×10-16Ａ。机内测试电压为10/50/100/250/500/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便， EST121型数字超高阻、微电流测量仪适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流 。EST121型数字超高阻、微电流测量仪完全符合并优于国家标准GB/T 1410-2006《固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法》和美国标准ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》等标准的要求。EST121型数字超高阻、微电流测量仪其准确度优于标准要求:适用的主要标准：GB/T 1410-2006 固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法GB 12014 防静电工作服GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求GB 12158-2006 防止静电事故通用导则GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程GB/T 12703.4-2010 纺织品 静电性能的评定 第4部分 电阻率GB/T 12703.6-2010 纺织品 静电性能的评定 第6部分 纤维泄漏电阻GB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法GB/T 18044-2008 地毯 静电习性评价法 行走试验GB/T 18864-2002 硫化橡胶 工业用抗静电和导电产品 电阻极限范围GB/T 22042-2008 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻(垂直电阻)试验方法GB/T 24249-2009 防静电洁净织物GB 26539-2011 防静电陶瓷砖 Antistatic ceramic tilesGB/T 26825-2011 抗静电防腐胶GB 50515-2010 导(防)静电地面设计规范GB 50611-2010 电子工程防静电设计规范GJB 105-1998-Z 电子产品防静电放电控制手册GJB 3007A-2009 防静电工作区技术要求GJB 5104-2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求　主要特点电阻测量范围宽 0.01×104Ω ～1×1018 Ω电流测量范围为 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ体积小、重量轻、准确度高电阻、电流双显示性能好稳定、读数方便EST121型数字超高阻、微电流测量仪所有测试电压(10/50/100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读，免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦， 使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。EST121型数字超高阻、微电流测量仪既能测超高电阻又能测微电流EST121型数字超高阻、微电流测量仪适用范围广:适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量　技术指标1.电阻测量范围： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。2.电流测量范围为: 2×10-4A～1×10-16A3. 双表头显示: 3.1/2位LED显示4. 内置测试电压：10V、50V、100V、250、500、1000V5. 基本准确度：1%6 使用环境: 温度：0℃～40℃，相对湿度80%7 机内测试电压: 10/50/100/250/500/1000V 任意切换8.供电形式: AC 220V，50HZ，功耗约5W9. 仪器尺寸: 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm10.质量: 约2.5KG工作原理 根据欧姆定律，被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定，通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出，由于电流I是与电阻成反比，而不是成正比，所以电阻的显示值是非线性的，即电阻无穷大时，电流为零，即表头的零位处是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时，其电压V也会有些变化，所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。EST121型数字高阻计是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值，即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化，其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变化而变，所以，即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大，其测量精度很高(专利)，从理论上讲其误差可以做到零 ，而实际误差可以做到千分之几或万分之几。

&ldquo 变频交流磁化率测定仪&rdquo 让使用者测量磁性样品在不同频率的交变磁场下的交流磁化率的实部与虚部。此测量仪不仅可作为测量磁性物质磁性特点的分析仪，亦可用作测量磁性物质浓度的仪器。由于此测定仪具有操作简单、测量时间短、重复性好、所需样品量少等特点，目前已逐渐被应用于磁性研究、大学实验教学及磁性材料生产品管等。本文将介绍此变频交流磁化率测量仪设计原理、功能及应用范例。原理：磁性物质具有自发性的磁偶极（Magnetic dipole），在外加磁场下，物质中的磁偶极方向会因外界磁场作用而倾向沿着外加磁场方向。而当外加磁场是交变磁场且交流频率不太高时（一般在微波频率以下），磁偶极的方向可随着此外加交变磁场，做来回周期性振荡，此即交流磁化率的物理原因。磁偶极的振荡频率与外加交变磁场频率一致，但瞬间磁偶极方向并不一定与外加磁场方向相同，其间的差异可用磁偶极相对外加交变磁场的周期性振荡相位差来代表。因此，一个材料的交流磁化率Xoc可以表示成Xoe-i&theta ，其中Xo代表材料磁导率强度，而&theta 就是材料磁偶距相对外加交变磁场的周期性振荡相位差。为充分说明相位差的概念，图1中画出外加交变磁场H与样品磁偶极M随时间的变化。当某一瞬间时间点，H到达最大值，但M却尚未到达最大值，而是在该瞬间点一段时间后（ㅿ t），才到达最大值。这样的现象即称为磁偶极与外加交变磁场间的相位差。相位差&theta 的大小为（ㅿ t/T/&pi ）× 180° ，其中T为外加交变磁场振荡周期。除了以磁导率强度Xo及相位差&theta 来表示材料的交流磁导率Xoc外，若将Xoe-i&theta 展开成复数形式Xocos&theta -iXosin&theta ，X&alpha c可表示为Xr+iXi，Xr=Xocos&theta ，称为交流磁化率实部（real part，Re[X&alpha c]），而Xi=-Xosin&theta ，称为交流磁化率虚部（imaginary part，Im[X&alpha c]）。所以，材料的交流磁化率X&alpha c亦可用Re[X&alpha c]及Im[X&alpha c]来表示。而交流磁化率测量仪就是在测量Re[X&alpha c]及Im[X&alpha c]（或Xo及&theta ）。其中值得注意的是，Im[X&alpha c]所代表的物理意义，是该磁性材料对外加交变磁场能量的吸收；Im[X&alpha c]愈大，表示该磁性材料愈会吸收外加磁场的能量。当外加交变磁场的频率改变时，磁性物质之交流磁化率也会随之变化；但各种磁性材料交流磁化率随外加交流磁场频率的变化反应不尽相同。本文中所述及的变频交流磁化率测量仪，其主要功能即是测量磁性物质在不同频率下的Re[X&alpha c]及Im[X&alpha c]，调频范围为10Hz到25KHz。应用：实例一：磁性流体交流磁化率随外加交变磁场频率的特性研究磁性流体是一种含有磁性粒子的液体，例如我们可以将Fe3O4磁性纳米粒子用亲水性的葡聚糖（dextran）包覆着，再将这些磁性纳米粒子分散在水中，即是水基磁性流体。我们取平均粒子直径大约为60纳米、饱和磁化率为8.4emu/g的水基磁性流体0.1ml，注入样品管中。使用此台变频交流磁化率测量仪测量此磁性流体在不同频率下的Re[X&alpha c]和Im[X&alpha c]，结果如图2所示。由图2的结果可知，在低频下（＜3000Hz），Re[X&alpha c]Nor几乎是个定值，不随外加交变磁场的频率而改变。而当外加交变磁场频率高于3000Hz后，Re[X&alpha c]Nor随着频率的增加而持续降低。而Im[X&alpha c]Nor随外加交变磁场频率的变化表现与Re[X&alpha c]Nor完全不同，Im[X&alpha c]Nor在某一特定频率时（如图2中的13000Hz）出现最大值。此结果表示，该磁性流体对频率为13000Hz的交流磁场之能量吸收最强。相对应于Im[X&alpha c]Nor最大值的频率，会随许多材料因素而定，如磁性材料的组成成分、磁性纳米粒子的大小、测量温度等。因此，现今有许多合成磁性材料的研究人员，使用本变频交流磁化率仪测量当磁性材料本身组成改变时，材料Re[X&alpha c]Nor及Im[X&alpha c]Nor随外加交变磁场频率的变化行为，籍以探讨材料组成成分对材料中磁偶极动力学特性的影响。 实例二：材料磁性浓度测量当合成出磁性材料后，我们经常要测量该磁性材料的磁性浓度。现今有许多仪器可供做磁性浓度测量，如震动样品磁强计（Vibrating Sample Magnetometer VSM）、超导量子干涉振动磁量仪（SQUID magnetometer）及电感耦合等离子发射光谱仪（ICP）。这些仪器虽然有很好的功能，但都是高价仪器，不仅价格高、操作不易，使用及维护成本也不低，一般实验室购买有困难。因此让许多研究单位或磁性材料生产厂商不易对所生产或合成出的磁性材料进行检测，及时测知该材料的磁性浓度。本文中所介绍的变频交流磁化率测量仪，可解决使用者这些方面的困扰。一般磁性材料的磁性浓度表示法有两种：其一是以emu/g表示，其二是以铁含量mg-Fe/ml(或mg-Fe/Kg)表示。而本变频交流磁化率测量仪乃是藉由测量磁性材料在特定交流频率下的Re[X&alpha c]大小来决定磁性浓度。理论上，磁性浓度愈高时，表示单位体积（或质量）材料中的磁偶极强度愈强，这会反映出愈高的Re[X&alpha c]。所以，透过磁性浓度与Re[X&alpha c]间的关系，我们可以从测量到的Re[X&alpha c]得到待测样品的磁性浓度。图3即是一例。图3中，我们取一高磁性浓度的待测样品（如磁性流体），先使用高价仪器测得该样品的实际磁性浓度（如5.0mg-Fe/ml）,接着将高浓度的样品稀释成不同磁性浓度的样品，此时这些样品的浓度都可以依稀释倍率得知。使用可变频交流磁化率测量仪测量这些不同磁性浓度的样品，可得到每一个样品的Re[X&alpha c]。如此，我们可以建立一条磁性浓度与Re[X&alpha c]的相关曲线，如图3所示。往后，使用者只要是合成出相同材料的磁性样品，就可透过如图3中的曲线，在短短的3分钟内，测出材料的磁性浓度。特点说明：所需样品量小：仅需0.1ml磁性样品，即可进行测量测量速度快：每秒钟采样一次，每个样品测量时间少于一分钟软件界面简单，操作方便仪器体积小、重量轻、方便移动可针对各种样品形态进行测试，例如：液体、粉体、薄膜、块状样品

自动二次元影像测量仪，关于机器软件自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量组成、影像组成等人工智能技术操作，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动测量位置、自动学习批量测量，影像地图目标指引，全场鹰眼放大等优异的功能。同时，关于机器感应与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰光亮造影下辅助测高需要的(亦可加入触点测头完成坐标测高)。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置的情况下进行批量测量，亦可使用夹具进行大批量扫描测量与SPC结果分类排查。全自动二次元影像测量仪影像测量技术的高端功能，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而精准的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正。全自动影像测量仪可以轻松替代操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成仟倍的提高工件批测效率,成为工厂大批量检测需要，能让工厂节省成本。

产品介绍CA414传声器相位校准器是北京声望最新设计的多通道相位测试产品。本产品内置低失真扬声器，搭配北京声望系列功放使用，可在产品腔体内部形成均匀稳定的平面波声场，适用于传声器相位差测量、传声器阵列组阵选型等。CA414产品包含声源底座、传声器安装台（含4个传声器安装孔）和强吸声末端，最多可同时测量4支1/2英寸或1/4英寸传声器的相位差。CA414产品仅为声源和耦合腔体，进行相位测试需额外搭配信号源、功率放大器和声学测试系统。技术指标频率范围±0.5°（50Hz~1000Hz）；±1.0°（1000Hz~4000Hz）；±2.0°（4000Hz~6300Hz）额定功率15W额定阻抗8Ω输入接口BNC校准器尺寸（mm）W240 x H666 x D240包装箱尺寸（mm）W784 x H306 x D286重量3.5kg（不含包装）、13.9kg（含包装）适用传声器1/2英寸、1/4英寸测量传声器内部声压级限值1/4英寸传声器：90dB~102dB；1/2英寸传声器：100dB~115dB

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现全长全款的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG 可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域： 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数： 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长 543nm（支持客制化）3双折射测量范围0-260nm4对应传送速度约30m/min(支持客制化)5测量重复精度1nm6视野尺寸全宽全长7选配镜头视野可扩展8选配功能可定制膜宽超过5m的系统

铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪产品用途：菲希尔铜厚测量仪属于一款手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。适用于测量：测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20ZN）钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头ESD2.4）钢铁上的电镀镍层（探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ） 铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪产品特点：测量印刷线路板上覆铜板，即使在阻焊剂下的厚度。测量印刷线路板上通孔内的铜壁厚度。测量锌，铜，铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点，使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率。铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪检测探头：特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080

电光相位调制器 EO-PM-NR-C4光学仪器电光相位调制器我们的电光相位调制器能够对线偏振入射光提供可调相位差。入射光沿竖直方向线偏振，即晶体的Z轴方向。通过RF输入端在Z轴电极上施加电压，使晶体的非寻常光折射率发生变化，以此使光信号产生相位差。控制信号可以是DC或随时间变化的RF信号。当控制电压信号随时间变化，光束将受到频率调制，部分基频能量将转到边带中，边带与基频间隔是调制频率的整数倍。转到边带的能量大小由调制深度决定。右图展示了边带的相对强度和调制深度的关系。

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View