厚度表

“表面淬火层厚度过浅，淬火层与心部的过渡区接近表面，疲劳强度相应降低；淬火层厚度过深，也会降低疲劳强度。”请问以上这句话如何理解？谢谢

国外的镀层标样厚度是用何种方法准确定值的?

不锈钢表面镀银要测试镀层厚度，需要侵蚀吗？用什么侵蚀剂比较好？

我們在用電子卡尺(數顯電子游標卡尺)測量時,不同人之間總有一定的差別,特別是測量塑料樣版的寬度厚度時,總不能得到一個統一的數值,有時這樣的誤差在計算彎曲模量等物理量時會造成較大差異.所以,問下哪位前輩有這方面的測量標準?先謝過了.[em01] [em01]

铜杆表面氧化物厚度测量用什么仪器？麻烦各位大神

在钢板表面涂一层涂漆，根据工艺不同，涂漆厚度不同，如何知道刮棒的型号与涂漆厚度是什么对应关系，既如何根据涂漆厚度选择合适的刮棒？涂漆的厚度单位是g/㎡。

求助：在金属表面测镀层厚度，镀的是同一种物质比如镍；镀两层，这两层镍的物理属性不同，晶粒大小不一样，请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢！

扫描电镜能谱标样，标准说镀C 20nm，实际应用中怎么确定C 层厚度呢？

如题.我用辉光GDS-750A光谱仪做了一个镀锌QDP的厚度.仪器给我计算出了交点的厚度,我现在想知道X左边的FE向ZN的渗透厚度和交点后面的ZN向FE的渗透厚度,如何才定义积分区间,计算的公式是什么.如果本身曲线没有的元素如Mg等.我用仪器现有的曲线采用那个方法可以代替Mg的测定,是ZN基的吗.我是直接在镀锌板上测定还是需要他们单独送固体的镀液测定呢?我想知道如何把图表的ZN 曲线向上下平移?在那里可以设置该参数.能做到吗?自己做溅射率的朋友,主要是JY的同志,该工作开展的难度大吗?你们厚度的时候是自己做曲线?如果你是其他的仪器.请介绍你的方法和心得.我现在很不熟悉,公式不知道怎么编辑.希望你们给我点经验.谢谢.

请问各位大侠：硅片的厚度和总厚度变化用千分尺测量外，现在比较主流的测试仪器是什么啊？？谢谢了！

[em28] 如主題, 按IEC方法只能 知道'含有,不含有'.但有的客人要求1000PPM 用點測法時又知道樣品含有Cr(VI)時,找廠商要鍍層密度',厚度,表面積'又無法提供與SGS確認,他們也因技術原因未用酸脫法測試.請指點,如何處理?急!!!

想用AES 看异质外延膜的厚度,外延膜的大致厚度知道,只是想用AES 精确测量,那在打点的时候可以一下子打到我估计的那个厚度值么然后再做调整.还是得从表面开始一点点的打点?不是很关心组分随厚度的变化.

"试件在测试状态下平均密度：****,试件有效平均厚度：****"请问在这句话中的：测试状态下平均密度，有效平均厚度。怎么理解？该怎么计算？多谢。

我现在接到一个样品，就是在黄铜表面上先镀上一层镍，约3－5微米厚，然后再镀上一层锡，约8－10微米。我截了一个截面镶嵌，抛光后放在SEM下观察，外层的锡和镍的图像反差较大，能测量锡的厚度。但是镍和基体黄铜的图像反差不明显，无法分辨界限，也就不能测量其厚度。我尝试用了SE、BSE及二者的混合像，均不行。SEM：Quanta 200 ESEM。

铝表面自然生长的氧化膜通常小于10nm，如果经过退火处理，氧化膜会随温度升高而增厚，曾经有人用SEM-EDS 测量铝样品表面区的氧的相对含量（面积比），并利用ESCA 化学分析电子光谱测量氧化膜的厚度，最后得出氧化膜厚度和氧相对含量的关系式，这样就可以通过电镜能谱得到氧化膜的厚度。但以上方法对于电镜的试验条件变化比较敏感。又听说利用辉光光谱GDS或GDOES可以测量类似的氧化膜厚度，即通过测量氧的浓度分布来反映膜的厚度，我相信这是可行的，各位谁知道上海哪里有这样的仪器？又听说可以用XPS来测量膜厚，谁知道这方面的信息？

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

请问各位在测试金属镀层时：1、对于各种有害物质的测试时间是怎么设置的？2、如果我只需要测试镀层厚度而不需要测试镀层里的有害物质含量时，有害物质的测试时间的长短是不是可以随意设置？这个测试时间会不会影响镀层厚度的测试结果？3、如果某个金属表面镀了两层镀层，那么里面的镀层不设置有害物质的测试是否可以？请各位指点！

[url=http://www.dscr.com.cn][color=#333333]超声波测厚仪[/color][/url]穿过涂层测厚度的原理：　　钢中纵波声速具代表性的为5.900m/s（0.2320in/us），但是在漆层或类似涂层中声速一般低于2.500m/s（0.1000in/us）。常规超声设备在测量带漆层金属的总厚度时将错误地以钢的声速测量涂层，这意味着涂层将显示至少2.35倍（两种声速的比值）其真实厚度的值。在涉及厚涂层和紧公差的情况下，由涂层引入的这种误差可以为总厚度测量的很大一部分。这个问题的解决方案是以这样一种方法----从测量中将涂层成分去除----来测量或计算厚度。　　回波―回波测量简单地应用了在两个相邻底面回波间的时间间隔的成熟技术，这个时间间隔代表了透过检测材料的声波的连续往返行程时间。在那些带涂层金属的情况中，这些多次回波只能发生在金属中而不是涂层中，因此任何一对回波的间隔（底面回波1到2、底面回波2到3等），只代表了已去除涂层厚度后的金属厚度。 透过涂层测量要使用一个专利软件来确定在涂层中一个往返行程代表的时间间隔。该时间间隔用于计算和显示涂层厚度，并且通过从总测量值中减去该时间间隔，仪器也能计算和显示金属底层厚度。　　上述每一种技术都有优点和缺点，对一个特定的应用都应该考虑选择哪一种方法最好：　　透过涂层测量优点：　　1，能测量多种金属厚度，具代表性的，在钢中能从1mm到50mm　　2，只需要一个回波　　3，在点蚀情况能更精确地测量剩余地最小厚度　　透过涂层测量缺点：　　1，涂层最薄为0.125mm　　2，涂层表面应当比较光滑　　3，需要使用2种特定探头中地一个4，最高表面温度大约为50℃或51.67℃　　回波－回波测量优点：　　1，可使用多种普通探头工作　　2，常能穿透粗糙表面涂层工作　　3，用适当的探头能在接近500℃或498.89℃的高温时工作　　回波－回波测量缺点：　　1，需要多次底面回波，在严重腐蚀的金属中可能不存在多次底面回波　　2，厚度范围比透过涂层测量限制更多

[align=center][font=宋体][size=16.0000pt]关于测量车间单板厚度的器具改进调查[/size][/font][/align][font=宋体][size=14.0000pt]10[font=宋体]月[/font][font=Calibri]19[/font][font=宋体]日广电计量专家对我司计量相关人员进行了计量方面的知识培训。在培训中黄老师提出使用现有的游标卡尺测量单板厚度会带来一定的正向误差，因此测量结果总是比相对真值要大。根据这一结果对单板测量工具的改进进行了调查。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]调查结果如下：[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]一、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]现有游标卡尺无法满足单板精确测量的原因。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt] [font=宋体]满足测量准确的一个重要原则是要满足阿贝原则。其定义：[/font]“如果要使测量仪器得出正确的测量结果，则必须将仪器的标尺安装在被测件测量中心线的延长线上。”凡违反阿贝原则所产生的误差叫阿贝误差。 符合阿贝原则所产生的误差是二次误差，当表尺与被称为测件测量中心线的夹角很小时，此误差可忽略不计。不符合阿贝原则所产生的误差是一次误差，标准尺与被测件的距离越大，误差越大，它是一种不可忽视的误差。公司现用的游标卡尺测量单板厚度为面对面的接触测量，要想满足测量的精确度必须为面对点的测量。因此从设计上来看游标卡尺是违反了阿贝原则的。为减少所产生的测量误差，一方面要提高导轨的加工精度，另一方面在测量时尽量缩短标准尺与被测件的距离。在实际操作游标卡尺测量单板厚度时无法保证每个操作人员进行精确测量。因此使用现有游标卡尺进行单板厚度测量存在一定正向误差。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]二、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]对现有游标卡尺进行改造。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt] [font=宋体]要消除游标卡尺测量单板所带来的误差可以对卡尺进行适当的改造以达到满足阿贝原则的目的。游标卡尺两个接触面，可以将其中一个接触面改造为半球型，从而满足点与面接触这个条件。但我公司现有的条件要进行游标卡尺的改造具有一定难度。要对卡尺改造只能联系特定厂家进行改造。此种方法费时费力因此不建议采纳。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]三、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]采购满足单板测量需要的专用工具。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]在市面上有许多专业用于测量我公司单板厚度的量具。其中一种数显千分厚度仪结构简单、精度可靠能满足我公司产品测量需要，具体结构见图（[/font]1[font=宋体]）。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]图（[/font]1[font=宋体]）[/font][/size][/font][img=,379,318]file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml6548\wps1.jpg[/img][font=宋体][size=14.0000pt]数显千分厚度仪[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]该厚度仪接触面为点对点，可以精确测量单板厚度。且该仪器结构简单操作方便也便于携带。价格方面该器具单价普遍低于[/font]1000[font=宋体]元要低于我们目前所使用的游标卡尺价格。通过与广电计量专家黄老师的沟通他认为该种器具从测量范围、精度、重复性和使用方便程度上都可以满足我们的测试需求。[/font][/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]四、[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]建议[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]由于现有游标卡尺功能繁多易损坏且采购价格昂贵无法满足单板厚度测量精度要求。因此建议使用千分测厚仪来替代进行单板厚度测量。千分测厚仪结构简单不易损坏且满足测量单板厚度的专业要求。建议先采购一件进行试用，效果符合我公司生产要求可以进行推广。替换该种器具不仅可以节约器具的采购成本还能更加准确的监控单板厚度质量。[/size][/font]

[font=&]请教各位老师，电线电缆的绝缘厚度为什么要求第一次测量要从最薄处进行？投影仪下确定好含最薄点的6个点位之后，跟第一次测哪个点的顺序有关吗？GB 2951.11-2008的标准中对绝缘和护套厚度的测量要求为什么特意进行了区分？8.2.4条款里面，护套的厚度测试要求就是“在任何情况下，应有一次测量在护套最薄处进行”，8.1.4条款里面，绝缘的厚度测量要求就是“在任何情况下，第一次测量应在绝缘最薄处进行”。谢谢！PS：在其它板块发了没有老师回复，所以在这里也求助一下，如果有熟悉线缆测试的老师麻烦指点指点，谢谢！[/font]

大家好！我想分析金属表面的native oxide，不知用TEM可否清晰地看到氧化层的边界？如果不能，用eels可否做到成分和厚度的分析？eels的深度和空间分辨率多少啊？谢谢！

1 概述HH-HD03/18型 纸张/纸板厚度测定仪 是根据接触测量法原理，广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量。仪器主要技术参数符合以下标准：《GB/T 451.3 纸和纸板厚度的测定法》、《GB/T 6547 瓦楞纸板厚度的测定法》等国家和行业标准。2 主要技术特性2.1　主要技术参数参 数 项 目HH-HD03型 纸张厚度测定仪HH-HD18型 纸板厚度测定仪测量范围（0～3）mm，分度值0.01mm（0～18）mm，分度值0.01mm接触压力（100±10）kPa（20±0.5）kPa接触面积（200±5）mm2（1000±20）mm2测量面平行度误差≤0.005mm≤0.035mm外型尺寸（长×宽×高）175mm×125mm×260mm170mm×130mm×330mm质量约5.5 kg约6.5 kg3 操作步骤3.1　拆箱与安装3.1.1　打开包装箱，取出仪器及随机技术文件。3.1.2　将仪器置放在水平的工作台面上并擦净，要求台面平整，高度适中（便于读数）。3.2　测试前准备3.2.1　按GB/T 6547规定采取并处理试样。3.2.2　从表盒中取出计量表，安装在仪器主体上，并进行置零操作，方法为：A 旋松锁紧螺钉，装入计量表；B 上下调整计量表位置，使读数约为0.45mm；C 旋紧锁紧螺钉，注意松紧适度（过松则计量表位置不稳定，过紧则影响计量表测杆运动灵活性）；D 左手拇指按下拨杆，抬起测量头；E 缓慢放松拨杆，下落测量头，至与量砧接触，松开左手拇指；F 检查读数是否为零，如不为零，则按计量表上的置零键，使其为零；G 反复起落三次测量头，至零位稳定。3.3　测试3.3.1 按下拨杆抬起测量头。3.3.2 将被测试样放在测量头与量砧之间。3.3.3 缓慢放松拨杆，使测量头均匀下落至与试样接触，松手。3.3.4 读取计量表示值。3.3.5 按下拨杆，抬起测量头，取出试样。3.3.6 重复以上步骤，进行下一次测试。4 维护保养4.1 各滑动、转动部位应经常加油润滑。4.2 测量头与量砧的测量面应防止锈蚀，使用完毕应用洁净汽油擦拭干净；长期不用时活动部位应涂防锈脂，从计量表左上方电池安装孔处拆下电池，延长电池使用寿命。4.3 坚持周期检定，保证仪器良好技术状态（检定周期一般不超过一年）。4.4 为保证测量结果的准确性，当计量表不符要求时，应停止使用，修理后经计量检定合格方可再用。

铝件硫酸硬质阳极化后发现膜层厚度不理想：同一零件相同表面的不同位置其膜层厚度相差10微米以上，且同槽出来的零件更是怪异。请教一下：用什么方法可以将厚度控制在5微米以内。谢谢！[em0715]

大家能否分享一下镀层厚度测试的经验？诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受？请不吝赐教！

摘要: 借助于不同的色散公式， 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线， 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4，以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试， 结果表明测得的光学常数和厚度， 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便， 而且不需要输人任何初始值， 具有全局优化的能力， 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度， 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

[color=#333333]液膜厚度影响柱子的保留特性和柱容量.厚度增加,保留也增加。[/color][color=#333333]0.02[/color][color=#333333]μm ：薄液膜厚度的毛细管柱比厚液膜的毛细管柱洗脱组分快,所需柱温度低,且高温下柱流失较小,适用高沸点的化合物的分析。[/color][color=#333333]0.25[/color][color=#333333]～0.5μm ：常用的液膜厚度。[/color][color=#333333]厚液膜：对分析低沸点的化合物较为有利。[/color]

我公司现在打算对LED中的管芯背胶厚度进行管控，可是找了几家卖仪器的都只能测涂层厚度（固化后的）和镀层厚度都属于固体测试厚度类别的。而我现在需要测试的是管芯后面涂敷的液体导电胶，此导电胶没有进行固化之前的厚度数据。管芯背胶的厚度大约2μm-4μm之间，测试的时候被测物体为液体。现在我想使用湿膜厚度计测试，请推荐一下符合该测试范围的仪器谢谢！

我想大约估算一下厚度用的电镜是JEM 2010F，现在有一个纳米带，HRTEM至少有清晰的晶格像，那么这个厚度能不能知道大约不会超过多少