厚度计

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厚度计相关的厂商

  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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  • 济南晶正电子科技有限公司成立于2010年, 坐落于济南市综合保税区,是一家致力于纳微米级厚度光电、压电单晶薄膜材料研发、生产及销售为一体的高新技术企业。公司拥有产业化生产基地,研发团队由海归学者领军,凭借在晶体材料和半导体领域丰富的经验,在国际上率先开发出并产业化300-900纳米厚度铌酸锂单晶薄膜材料产品。晶正产品具有完全自主知识产权,并拥有多项相关技术专利。公司产品涵盖多种规格高技术难度、高规格晶体薄膜材料,可用于制作高性能调制器、滤波器、探测器、晶振及高密度信息存储器件等,在光电、压电、铁电、太赫兹、红外探测等领域具有广泛的发展前景和显著的应用优势,能够带来巨大经济效益和社会效益。
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  • 济南厚生科技有限公司,于2008年4月成立,坐落于济南高新技术开发区,是集化学分析仪器研发、销售、咨询服务于一体的高新技术企业。 济南厚生科技——色谱技术专家 ,拥有一批从事色谱技术开发及分析应用超过20年的经验丰富的工程师。公司成立以来本着以市场为向导,以科技创新求发展,取得了美国Agilent、美国PerkinElmer、美国Echrom、博纳Agela等进口色谱仪的签约经销或代理权;能够提供安装调试、维修及维护保养的技术服务;可承建实验室交钥匙工程,提供分析方法开发,人员培训等特色服务;同时经销美国安捷伦、PE公司的耗材和配件,艾杰尔的液相色谱柱和SPE固相萃取产品,实验室常用设备及消耗品。 公司秉承质量诚信为宗旨,厚德载物为服务理念,追求卓越,奉献真诚,“以质量求生存、以服务求发展”,专业的技术服务已赢得了山东省众多企业、科研单位、大专院校、质检部门等的长期合作。
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厚度计相关的仪器

  • 厚度计 400-860-5168转1400
    厚度计可连接电脑EV 01厚度计,按照 ISO 23529用于厚度测定,按照 ISO 815用于压缩形变测定技术特点:&bull 数字计改良用于橡胶,塑料或纺织品压力的测量,包括10mm量块,起重索,测量底座和砝码用于厚度测量。&bull 结构稳定,可较好地调节高度。&bull 接口套件, EV 01.04用于连接电脑, 包括线和脚踏开关。(可选)&bull 软件 EC 02 用于厚度测量和电脑测试压缩形变。程序可将结果存储在磁盘中 ,并可与趋势图及统计结果一起打印。(可选)
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  • 标线厚度仪 标线厚度 400-860-5168转0199
    ZMM5000标线测厚仪用途:在zui近几年,由于成本和质量等原因,涂层干的和湿的厚度变得越来越重要。ZMM5000是特别为测量路标干膜厚度而设计的。 ZMM5000路面标线测厚仪适用的范围:ZMM5000路面标线测厚仪 可快速测量路标的涂层厚度和类似涂层的高精度测量仪。适用包括或不包括反射线脚所有类型的路标。可直接在公路现场测量也可在实验室对样品测量。数字化显示,清晰易读。用于国家交通部门、公路实验室、路标制造单位。 特点:每分钟数显高精度测量结构。相对基础或路标本身的测量 技术指标:本体材质:电镀铝质测量范围:-12.5mm-+12.5mm解析度:0.01mm尺寸:180×70×76重量:880g选配:测量桥、打印机、单位转化数显器符合标准:EN13197 EN13212
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  • 产品名称: SC-313A电线绝缘皮厚度计本试验装置为桌上型, 符合UL 2556标准要求。适用于检测电线绝缘体和被覆体的哑铃状试片厚度。测量范围:0.01~10mm,最小分度:0.01mm。(日本三丰百分表)荷重砝码:85±3g试样测头:ø 6.4±0.2mm下 测 帖:2×9mm大理石台座:150×200mmm 试验方法1、松开大理石台座固定旋钮,调整上下高度使百分表的指针指到零位。2、取哑铃状被测样品,按下百分表的提升杆,将样品放在6.4mm测头下,放下提升杆,直接读取百分表的数值。即被测样品的绝缘厚度。
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厚度计相关的资讯

  • 国家气象探测中心开展激光雷达霾层厚度观测
    中国气象报记者王晨 通讯员赵培涛 季承荔报道 针对近日全国较大范围重污染天气,中国气象局气象探测中心(以下简称“气象探测中心”)依托正在开展的超大城市综合观测试验,与相关单位利用10余台激光雷达系统开展联合协同观测;同时利用激光雷达综合观测数据进行激光雷达霾层厚度观测产品的综合加工处理,制作的霾厚度观测产品在央视《新闻联播》后的《天气预报》节目中使用。  据了解,在中国气象局紧急启动三级应急响应后,气象探测中心充分发挥在激光雷达观测上的技术优势,依托正在开展的超大城市综合观测试验,联合中国科学院安徽光学精密机械研究所、北京理工大学、安徽蓝盾光电子股份有限公司等单位,组建北京地区激光雷达观测网,在北京理工大学、北京南郊、健德桥等地开展激光雷达霾观测试验。连日来,北京地区共计10余台激光雷达系统开展了联合协同观测,实时监控观测北京地区霾层厚度的变化,获取了丰富的大气垂直高度及气溶胶颗粒等信息。 激光雷达霾层厚度观测设备。   在开展观测数据服务工作的同时,观测服务效益也凸显。利用激光雷达综合观测数据,气象探测中心开展激光雷达霾厚度观测产品的综合加工处理,每日制作并提供北京地区霾层厚度激光雷达观测产品,供全国天气会商及编制决策服务材料使用。其中,12月19日加工制作的激光雷达霾厚度观测产品在《新闻联播》后的《天气预报》节目中得以使用和展示。节目中,一张直观清晰的北京城区霾层厚度监测图出现在屏幕上,横轴显示不同的时间点,纵轴显示霾层在不同公里数上厚度的差别,上方配以消光系数,同时主持人深入浅出的讲解,使观众对“激光雷达霾层厚度观测”建立起感性认识。 新闻联播天气预报节目展示北京城区霾层厚度监测情况。   据悉,下一步,气象探测中心将根据服务需求,继续改进探测产品,积极探索新型探测设备的产品开发及应用,更加充分地发挥综合观测效益,同时全力做好综合观测系统的运行监控、技术保障工作,为气象预报预测服务提供有力支撑。  北京健德桥的激光雷达霾层厚度连续观测结果。北京南郊的激光雷达霾层厚度观测结果。 (责任编辑:栾菲)
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
  • 幕墙玻璃厚度检测仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="123"p style="line-height: 2em "成果名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "幕墙玻璃厚度检测仪/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "单位名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "中国建材检验认证集团股份有限公司/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "联系人/p/tdtd width="177"p style="line-height: 2em "艾福强/p/tdtd width="161"p style="line-height: 2em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 2em "afq@ctc.ac.cn/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "成果成熟度/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 2em "合作方式/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 2em "□技术转让□技术入股□合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 2em "strong成果简介: /strongbr//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/64e1b730-057a-4fac-9850-b46e628b289c.jpg" title="厚度检测仪.jpg" width="350" height="224" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 350px height: 224px "//pp style="line-height: 2em " /pp style="line-height: 2em "span style="line-height: 2em " 幕墙玻璃厚度检测仪利用激光测距技术,通过计算光程差来获得所测玻璃的厚度,厚度检测仪不仅可以测量单层玻璃的厚度,还可以测量中空玻璃三层厚度(包括:玻璃厚度、空气层厚度),采用数字化技术,将所测结果直观的显示在液晶显示屏上,可以快速、直观的获得所需结果,并设有内部存储功能可以存储9次测量结果,方便用户使用,该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于现场检测。 /span/pp style="line-height: 2em " 主要特点 br/ 操作简单:只需将仪器放在待测玻璃上按测量键即可完成测量。 br/ 测量精度高:该仪器测量精度达到微米级。 br/ 测试速度快:测试时间1-2秒。 br/ 便于携带:该仪器尺寸合适重量轻。 br/ 稳定性好:多次测量结果无偏差。 br/ 具有存储功能:可以存储9次的测量结果并查看。 br/ 可同时测量玻璃厚度、空气层厚度。 br/ 技术参数: br/ 测量精度:微米级 br/ 物理尺寸:130*70*30br/ 开关频率:1-2秒 br/ 采样频率:10Hzbr/ 供电电压:9vbr/ 重量:200gbr/ 使用温度:-20℃- 40℃ br/ 机体重量:约1Kg/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 2em "strong应用前景: /strongbr/ 该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于玻璃幕墙的现场检测,同时也适合于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等玻璃的生产检测、和开发研究等领域。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

厚度计相关的方案

厚度计相关的资料

厚度计相关的论坛

  • 【求助】湿膜厚度计选用

    我公司现在打算对LED中的管芯背胶厚度进行管控,可是找了几家卖仪器的都只能测涂层厚度(固化后的)和镀层厚度都属于固体测试厚度类别的。而我现在需要测试的是管芯后面涂敷的液体导电胶,此导电胶没有进行固化之前的厚度数据。管芯背胶的厚度大约2μm-4μm之间,测试的时候被测物体为液体。现在我想使用湿膜厚度计测试,请推荐一下符合该测试范围的仪器谢谢!

厚度计相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
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