薄膜磁性测试系统

产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备特点：本设备是一个镀膜平台，可把磁控靶拆下换电子枪成为电子束镀膜系统、或换蒸发源作为热蒸发系统、或换上离子枪作为离子束镀膜系统等。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目。真空室结构:方形前开门真空室尺寸:φ500x500x500mm极限真空度:≤3.0E-5Pa 沉积源:永磁靶4套，φ2英寸样品尺寸，温度:φ4英寸，1片，最高800℃占地面积（长x宽x高）:约2米×1.7米×2米电控描述:全自动工艺:片内膜厚均匀性：≤±3%

产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目真空室结构:六边形侧开门真空室尺寸:φ350x370mm 极限真空度:≤6.0E-4Pa沉积源:永磁靶1套，φ2英寸样品尺寸，温度:φ2英寸，1片，最高800℃占地面积（长x宽x高）:约1米x1米x1.9米电控描述:手动工艺:片内膜厚均匀性：≤±3%

微型MOKE磁性测量仪,利用磁光克尔效应测量磁滞回线，具有速度快、精度高、非接触、无损伤(不需要对样品进行额外加工)等优点，可以获得磁性材料的矫顽力、饱和磁场和剩磁等信息。 设备重量轻、占地面积小、操作简单、测试速度快,可以满足实验室研究及工业生产中各种磁性薄膜材料的快速无损检测,辅助完成磁性材料配方调配、质量抽查和后处理参数探索等工作。

产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备用途：可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目。用户评价：TRP-450高真空镀膜机其设备质量过关，功能齐全，性能稳定，自动化程度高，抽气极速平稳，电源稳定可靠，气路流畅密闭，镀膜质量平整光滑，均匀致密，结合力强，且系统操控智能，便捷，可满足科研实验与生产制造的需求，是一款优秀的磁控溅射镀膜系统。——北京石墨烯技术研究院有限公司 李老师真空室结构:圆筒形前开门真空室尺寸:φ450x400mm 极限真空度:≤6.6E-6Pa沉积源:永磁靶3套，φ2英寸，可以向上溅射或向下溅射。样品尺寸，温度:φ4英寸，1片，最高800℃ 占地面积（长x宽x高）:约1米×1.8米×2米电控描述:全自动工艺:片内膜厚均匀性：≤±3%

真空室结构:梨形上升盖真空室尺寸:φ550×350mm极限真空度:≤6.6E-6Pa沉积源:永磁靶5套，φ2英寸 样品尺寸，温度:φ2英寸,6片 φ4英寸,1片 最高800℃占地面积（长x宽x高）:约3米×1.1米×2米电控描述:全自动工艺: 片内膜厚均匀性：≤±3%产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目

产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目。真空室结构:圆筒形上升盖真空室尺寸:φ450×350mm 极限真空度:≤6.0E-5Pa沉积源:永磁靶3套，φ2英寸样品尺寸，温度:φ2英寸,6片 φ4英寸,1片 最高800℃占地面积（长x宽x高）:约2米×1.5米×2米 电控描述:全自动工艺:片内膜厚均匀性：≤±3%

真空室结构:方形前开门真空室尺寸:φ400x400x400mm极限真空度:≤6.6E-5Pa 沉积源:永磁靶3套，φ2英寸样品尺寸，温度:φ4英寸，1片，最高800℃占地面积（长x宽x高）:约1.8米×1.7米×2米电控描述:全自动 工艺:片内膜厚均匀性：≤±3%产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目。

产品概述：本沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业的软件控制系统。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目。真空室结构:长方形侧开门真空室尺寸:1100X700X350mm 极限真空度:≤6.0E-5Pa沉积源:磁控靶尺寸：450X80mm、向上溅射，每个真空室配2个靶位样品尺寸，温度:300X400mm；最高温度300度占地面积（长x宽x高）:约6米×3米×2米（设计待定）电控描述:全自动工艺:设计待定

产品概述：高真空磁控溅射与离子束复合薄膜沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业领先的软件控制系统。设备用途：用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研项目。真空室结构:圆筒形上升盖 真空室尺寸:φ550x450mm 极限真空度:≤6.0E-5Pa 沉积源:磁控靶3套，φ2英寸；四工位转靶1套； 样品尺寸，温度:φ2英寸，6片。最高800℃ 占地面积（长x宽x高）:约3米×1.1米×2米 电控描述:全自动 工艺:片内膜厚均匀性：≤±3% 特色参数 :溅射源：考夫曼离子源 Kaufman 2套，φ2英寸

离子辐照磁性精细调控系统Helium-S法国Spin-Ion公司成立于2017年，源自法国研究中心/巴黎-萨克雷大学的知名课题组，在磁性材料的离子束工艺方面有20年的经验，拥有4项和40多篇发表文章。Spin-Ion公司推出的产品——可用于多种磁性研究的离子辐照磁性精细调控系统Helium-S，采用创新的离子束技术，可以通过超紧凑和快速的氦离子束设备控制原子间的位移，使其能够在原子尺度上加工材料，并通过离子束工艺来调控薄膜和异质结构。目前全球已有20多家科研和工业用户以及合作伙伴使用该技术。2020年Spin-Ion公司在国内安装了套Helium – S系统，其有的技术正吸引来自相关科研圈和工业领域越来越多的关注。应用领域：- 磁性随机存储器(MRAM)：自旋转移矩磁性随机存储(STT-MRAM)，自旋轨道矩磁性随机存储(SOT-MRAM)，磁畴壁磁性随机存储(DW-MRAM)等；- 自旋电子学：斯格明子，磁性隧道结，磁传感器等；- 磁学相关：磁性氧化物，多铁性材料；- 其他：薄膜改性，芯片加工，仿神经器件，逻辑器件等。产品特点：- 可通过超紧凑和快速的氦离子束设备控制原子间的位移，通过氦离子辐照可调控磁性薄膜或晶圆的磁学性质。- 可提供能量范围：1-30 keV的He+离子束- 采用创新的电子回旋共振（ECR）离子源- 可对25 mm的试样进行快速的均匀辐照（几分钟）- 超紧凑的设计，节省实验空间- 可与现有的超高真空设备互联基本参数：离子束种类• 氦离子 (He+)• 可能产生的离子 : 氢离子 (H+)能量范围 • 1-30 keV• 分辨率50 eV典型离子通量在10 μA时，1015 离子数 /平方厘米/分钟电流范围1-50 μA (按能量不同)离子束滤波器维恩滤波器离子束扫描• X-Y双轴位移• 扫描区域: 25 mm x 25 mm均匀性• 强度：+/- 1%• 角度：+/- 3°离子束纯度1/10000真空度大10-7 mbar尺寸• 超紧凑设计• 长度1.5 m软件• 可实现离子束参数的全面控制• PLC控制辐照腔可对25mm晶圆进行辐照高温转角选件可控制不同的辐照角度，可加热温度至500°C快速进样室选件（Load lock）和辐照腔集成，可过渡25 mm晶圆大小样品测试数据：调控界面各向异性性质和DMI 低电流诱发的SOT转换获取 控制斯格明子和磁畴壁的动态变化部分用户单位：Beihang University (China)University of California San Diego (USA)University of California Davis (USA)New York University (USA)Georgetown University (USA)Northwestern University (USA)University of Lorraine (France)SPINTEC Grenoble (France)University of Cambridge (UK)University of Manchester (UK)Nanyang Technological University and A*STAR (Singapore)University of Gothenburg (Sweden)Western Digital (USA)IBM (USA)Singulus Technologies (Germany)部分发表文章：• Helium Ions Put Magnetic Skyrmions on the Track, R.Juge & D.Ravelosona & O.Boulle, Nanoletters, 21, 7, 2989–2996, (2021)• Ion irradiation and implantation modifications of magneto-ionically induced exchange bias in Gd/NiCoO, Christopher J. Jensen & Dafiné Ravelosona, Kai Liu, Journal of Magnetism and Magnetic Materials 540, 168479 (2021)• Tailoring interfacial effect in multilayers with Dzyaloshinskii–Moriya interaction by helium ion irradiation, A.Sud & D.Ravelosona &M.Cubukcu, Scientific report 11, 23626 (2021)• Magnetic field frustration of the metal-insulator transition in V2O3, J.Trastoy & D.Ravelosona & Y.Schuller, Physical Review B 101, 245109 (2020)• Controlling magnetism by interface engineering, L Herrera Diez & D Ravelosona, Book Magnetic Nano- and Microwires 2nd Edition, Elsevier (2020)• Reduced spin torque nano-oscillator linewidth using He+ irradiation, S Jiang & D Ravelosona & J Akerman, Appl. Phys. Lett. 116, 072403 (2020)• Spin–orbit torque driven multi-level switching in He+ irradiated W–CoFeB–MgO Hall bars with perpendicular anisotropy, X.Zhao & M.Klaui & W.Zhao & D.Ravelosona, Appl. Phys. Lett 116, 242401 (2020)• Enhancement of the Dzyaloshinskii-Moriya Interaction and domain wall velocity through interface intermixing in Ta/CoFeB/MgO, L Herrera Diez & D Ravelosona, Physical Review B 99, 054431 (2019)• Enhancing domain wall velocity through interface intermixing in W-CoFeB-MgO films with perpendicular anisotropy, X Zhao & W.Zhao & D Ravelosona, Applied Physics Letter 115, 122404 (2019)• Suppression of all-optical switching in He+ irradiated Co/Pt multilayers: influence of the domain-wall energy, M El Hadri & S Mangin & D Ravelosona, J. Phys. D: Appl. Phys. 51, 215004 (2018)• Tuning the magnetodynamic properties of all-perpendicular spin valves using He+ irradiation, Sheng Jiang & D.Ravelosona & J.Akerman, AIP Advances 8, 065309 (2018)• Controlling magnetic domain wall motion in the creep regime in He-irradiated CoFeB/MgO films with perpendicular anisotropy, L.Herrera Diez & D.Ravelosona, Applied Physics Letter 107, 032401 (2015)• Measuring the Magnetic Moment Density in Patterned Ultrathin Ferromagnets with Submicrometer Resolution, T.Hingant & D.Ravelosona & V.Jacques, Physical Review Applied 4, 014003 (2015)• Irradiation-induced tailoring of the magnetism of CoFeB/MgO ultrathin films, T Devolder & D Ravelosona, Journal of Applied Physics 113, 203912 (2013)• Influence of ion irradiation on switching field and switching field distribution in arrays of Co/Pd-based bit pattern media, T Hauet & D Ravelosona, Applied Physics Letters 98, 172506 (2011)• Ferromagnetic resonance study of Co/Pd/Co/Ni multilayers with perpendicular anisotropy irradiated with helium ions, J-M.Beaujour & A.D. Kent & D.Ravelosona &E.Fullerton, Journal of Applied Physics 109, 033917 (2011)• Tailoring magnetism by light-ion irradiation, J Fassbender, D Ravelosona, Y Samson, Journal of Physics D: Applied Physics 37 (2004)• Ordering intermetallic alloys by ion irradiation: A way to tailor magnetic media, H Bernas & D Ravelosona, Physical review letters 91, 077203 (2003)

磁性器件需要在磁场扫描下测试，测试晶圆所花费的时间会增加芯片成本。在晶圆上方以高扫速改变磁场是工业化大批量市场面临的挑战。Hprobe产品的主要目的是通过实现每个器件的快速测试时间，以极高的通量对晶圆在磁场下进行电探测。Hprobe的专有磁场发生器技术使这一目标成为可能。 Hprobe的3D磁场发生器和Hcoil-2T磁场发生器是专利技术，与大规模生产中的晶圆级电子探测要求兼容。独特设计的磁场发生器通过电源供电和空气冷却，不需要复杂的液体冷却。 Hprobe测试设备使用100-300mm自动晶圆探针台。集成了磁场发生器的测试头被置于晶圆探针台上。测试设备与以下自动探针台兼容：TEL (Tokyo Electron Limited)、ACCRETECH、Electroglas。技术原理 Hprobe磁场发生器技术应对了磁性集成电路工业测试的挑战。这些技术的发展目标是产生对场强和角度具有极快扫描速率的高强度磁场。磁场发生器集成到测试设备产品中，专用于高通量运行的磁性器件晶圆级测试。 Hprobe公司的三维磁场发生器和Hcoil-2T磁场发生器均为专利技术，符合批量生产对晶圆级电子探测的要求。独特设计的磁场发生器通过电源供电和空气冷却，不需要复杂的液体冷却。快速：极高的磁扫率，每秒高达10000件样品，实现高通量 测试，并与批量生产的测试时间相匹配。灵活：具有独立可控空间轴的三维磁场，用于垂直和平面磁场的任意组合。强大：单一方向的超高强度磁场，结合极快的扫描速度，可在20微秒内达到2特斯拉。 1、三维磁场发生器：三维磁场发生器能够产生三维磁场，其中每个空间轴可被独立驱动。该发生器具有多种组态，可在特定的1D、2D或3D方向上最大化磁场强度或表面覆盖。磁场的扫描速率在场强和角度上上是可控的，扫描速率可达每秒10000件样品。 2、Hcoil-2T磁场发生器：Hcoil-2T磁场发生器是一种创新性的超紧凑型技术，能够以极快的扫描速度在单一方向产生超强磁场。利用这项技术，可以在不到20微秒的时间内达到±2特斯拉磁场。主要特点平面内和垂直方向的高磁场强度磁场的三维控制场强和角度扫描（旋转场）嵌入式校准传感器自动化测试程序MRAM参数提取软件可用于100至300 mm晶圆与标准探针卡兼容完整并可用户定制的软件，可创建测试序列和自动探测空气冷却测试设备1、测试头：磁场发生器集成在测试头中，后者被安装在自动晶圆探针台上，与单个直流或射频探针和探针卡兼容。2、仪表架：测试设备使用高端控制和传感设备。测试设备的仪器组态可以按照用户需求而配置。3、磁场校准套件：磁场发生器配有磁场校准组件，由三维磁传感器和自动定位系统组成，用于在与被测设备完全相同的位置校准磁场。4、软件：带图形用户界面GUI（graphical user interface）的软件，用于磁场的生成、校准，以及MRAM和磁传感器的自动化电测量。软件还包括晶圆厂自动化和生产控制功能。IBEX平台（用于MRAM测试） IBEX平台与200毫米和300毫米自动晶圆探针台兼容，专用于测试MRAM磁性隧道结，以及基于自旋转移矩（STT-MRAM）、自旋轨道矩（SOT-MRAM）和电压控制（VC-MRAM）技术的位单元。该系统能够在快速可变磁场和超窄脉冲信号下进行高通量测试。1、IBEX-P MRAM参数测试 IBEX-P系统以单通道或多通道配置运行，测试结构中包含过程控制和监控（PCM），因而可用于晶圆验收测试（WAT）时生产产量的统计过程控制（SPC）。 IBEX使用Hprobe的带有图形用户界面的专用一站式软件，既可在研发环节中手动操作，又可在全自动晶圆厂中自动操作。该软件包括专用于MRAM器件的最优化生产测试程序。 该系统采用Hprobe的磁场发生器专利技术，将磁场发生器集成到测试头中，后者安装在晶圆探针台上。 该测试设备由精选高端仪器驱动， 从而以极快的测试时间来表征MRAM磁性隧道结或位单元。涉及的仪器包括Keysight、Tektronix和NI等品牌，并使用Hprobe的专有构架模块集成。2、IBEX-F功能测试 IBEX-F系统专用于测试位阵列和片上系统（SoC）嵌入式MRAM存储器。 测试系统以单点或多点配置运行，用于MRAM阵列的表征和测试。其目的是进行产品开发、验证和鉴定，并转入生产。它还可用于嵌入式MRAM器件的大规模生产环境、，在后端（BEOL）过程中进行芯片探测（CP）的筛选和分级。 该测试设备由精选高端仪器驱动，从而以极快的测试时间来表征MRAM磁隧道结或位单元。涉及的仪器包括Keysight、Tektronix和NI等品牌，并使用Hprobe的专有构架模块集成。关于MRAM 测试 与传统采用电荷存储数据的半导体存储器不同，MRAM（磁阻随机存取存储器）是一种非易失性存储器，使用磁化（例如电子自旋）方向来存储数据位。 与现有的半导体技术相比，MRAM具有许多优点，因为它本质上是非易失性的（例如，当电源切断时能够保存数据），同时还表现出非常好的耐久性（例如读/写周期数）和较低的运行功率。最新一代的MRAM为pSTT-MRAM（垂直自旋转移矩随机存取存储器），已被业界选择取代28/22nm以下技术节点的嵌入式闪存，目前各大半导体代工厂均可提供该产品。1）MRAM设备是如何发展的？ 第一代MRAM基于所谓的嵌套型（toggle）技术，即通过内部磁场写入数据（例如磁化翻转）。Toggle-MRAM至今仍然非常成功，但是它耗电量大，且工艺尺寸很难 减小。之后几代MRAM器件开始使用另一种称为自旋转移矩（STT）MRAM的方法。STT-MRAM使用自旋极化电流写入数据。这种方法的优点是提供较低和可调节的翻转电流，从而开发出更高密度的存储器产品。2）MRAM的应用有哪些？ 把pSTT-MRAM首选为先进技术节点的嵌入式非易失性存储器（eNVM），业界对此充满兴趣，并已被一级半导体代工厂的生产计划所证实。STT MRAM现在已可被批量生产，以满足多样化的应用领域，如工业、汽车、物联网、移动、人工智能以及计算和存储。3）MRAM的未来是什么？ 虽然STT MRAM目前是NVM技术的主流，但全球的研究人员已经在研究下一代的产品即SOT-MRAM（自旋轨道矩MRAM）。通过同时实现STT无法做到的无限耐久性和高速性，SOT可以把MRAM的应用拓展到高速缓存中。SOT-MRAM有可能成为一种通用的嵌入式存储器，同时取代微控制器、微处理器和片上系统中的嵌入式NVM和/或嵌入式SRAM。4）MRAM市场预测前景如何？ 根据Objective Analysis and Coughlin Associates于2020年5月发布的一份报告，到2030年，新兴存储市场将达到360亿美元。取代多种现有技术将在很大程度上推动这一惊人的增长，，如取代微控制器、处理器和ASIC中的嵌入式NOR闪存和SRAM模块，以及专业的独立DRAM内存芯片。此外，存储行业向新兴内存技术的转移将促使资本设备支出的稳步增长，相应的制造设备收入将达到6.96亿美元。5）Hprobe对MRAM的成功有何贡献？ 高通量、高可靠性的后端（BEOL）制造设备的可用性是新半导体技术出现的关键。作为一家在MRAM领域拥有独特专业知识的自动测试设备（ATE）供应商，Hprobe为IC制造商提供了一站式解决方案，将加速MRAM产品的开发，确保产品的成功升级。 测试时间是生产中的关键性能指标，也是缩短开发时间的重要附加值。 为STT-MRAM技术 构建最优化的晶圆测试设备，使其具有最大的灵活性和最短的测试时间，可在MRAM开发阶段带来巨大的价值，并可缩短向大批量制造（HVM）升级的时间。Hprobe的方案可解决 对灵活性和产品性能的需求冲突，进而在从技术发布到生产控制和监控的漫长道路上为工程师提供帮助。6）Hprobe产品如何运行？ 本质上，MRAM要求在外加磁场的同时对晶圆进行电测试。此外，探测必须用高频硬件完成，该硬件提供MRAM器件工作时的超窄时域电压/电流脉冲。 因此，晶圆级参数测试通过以下方式完成：扫描器件上方的磁场（垂直和/或平面），同时通过直流电流测量器件电阻。这样可以得到磁滞回线，它反映了存储单元从一种状态切换到另一种状态并保留存储信息的能力。垂直磁场必须高达5000 奥斯特（5特斯拉），以切换器件中的两个不同磁性层。向器件施加超窄（低至300ps， 强度高 至5V）脉冲信号，以复制芯片上的读写操作，并表征其可靠性（击穿电压）。 一旦晶圆制造结束并且芯片制造完成，器件测试就需要在外部磁场下进行，以表征MRAM模块在与环境相关的磁场干扰下工作的抗干扰性。这种测试可以在切割之前的晶圆级或封装芯片级完成。在这两种情况下，都需要在自动化测试设备上施加三维磁场。LINX 平台（用于传感器测试） LINX平台与200mm和300mm自动晶圆探针台兼容，用于测试基于xMR（磁阻）和霍尔效应技术的磁性传感器。该系统能够在静态和快速变化的磁场下进行测试，磁场在空间任何方向可控。LINX-1–磁性传感器测试仪 LINX-1测试仪专用于磁性传感器芯片的晶圆级分选。 该产品使用Hprobes的带有图形用户界面的专用一站式软件，以单通道或多通道配置来生成和校准磁场，包括静态或动态模式下优化的磁场生成模式。该系统具有可编程功能，可与用户的测试平台集成。 LINX-1采用Hprobe专有的磁场发生器技术，与3轴自动化测试头集成。它可以使用手动或自动加载的探针卡进行操作。 磁场的产生由高性能仪器驱动，以实现稳定的静态磁场或高扫描率的可变场。 仪器组包括Keysight、Tektronix和NI等品牌，并使用Hprobe的专有构架模块集成。关于传感器测试 磁性传感器检测由磁铁或电流产生的磁场和地磁场的强度。它们将磁场或磁编码信息转换成电信号，供电子电路处理。 磁性传感器正变得越来越流行，因为它们可以用于多种应用场合，如传感位置、速度或运动方向。磁性传感器有以下几种类型：霍尔效应传感器 霍尔效应传感器 由半导体衬底上的条形载流导体构成，当置于磁通量中时，通过霍尔效应产生垂直于电流方向的电压。霍尔效应传感器被广泛应用于汽车和工业领域。AMR传感器 各向异性磁阻（AMR）传感器由条形或带状磁性各向异性材料组成，其等效电阻与磁化方向和导电方向的夹角有关。与其他磁电阻传感器相比，AMR传感器具有相对较低的磁电阻（MR）率。它们被用于工业、商业和空间技术，作为位移或角度传感器以及地磁场传感器。GMR传感器 巨磁阻（GMR）传感器具有三明治结构，由被界面导电层隔开的磁性薄膜组成。该传感器有两种电阻状态：当两个磁性层磁化方向平行时，器件为低阻态；而当两个磁性层磁化方向相反 时，器件为高阻态。GMR传感器是一种温度稳定性好的精密磁场传感器。它们已被广泛应用于硬盘驱动器（HDD）行业以及工业应用中。TMR传感器 隧道磁阻（TMR）传感器由被隧穿势垒层分离的铁磁多层膜组成。TMR器件的电阻与两铁磁层磁化方向的夹角有关。与其 它种类 的磁场传感器相比，TMR传感器具有更好的信噪比、前所未有的精度、 以及极低的功耗。TMR传感器在温度和寿命方面具有可靠稳定的性能。因此，TMR传感器在要求苛刻的应用中是首选。1）磁性传感器市场和应用有哪些？ 磁性传感器的应用范围很广泛，包括汽车、消费类电子产品、电子医疗系统、电信、工业过程控制等。以往它们被用作罗盘来探测地球磁场，现在被用于多种环境中，用来探测位移、旋转或测量角度。2）磁性传感器的未来发展是什么？ 磁性传感器在很多行业中有大量应用，包括 新型导航设备、 人员侦测（楼宇自动化相关应用）、医疗领域、汽车行业、机器人技术和工厂自动化，这些正引领全球磁性传感器市场的范式转变。全球对物联网、消费电子产品、电动汽车和混合动力汽车、以及高质量传感设备的需求日益增加，正在影响磁性传感器在几个终端用户行业的应用。由于工业0的影响，工厂自动化采用机器人技术的情况越来越多，推动了全球市场在各种安全应用领域对磁性传感器的需求。服务业的发展以及数据中心和云供应商的高速增长，进一步增加了对这些传感器的需求。汽车行业对磁性传感器的需求预计将会增加。传感装置越来越多地被运用于此行业，以提高车辆的便利性和燃油效率。此外，政府机构的强制性规定，如在汽车中安装安全设备和传感元件，预计也会为磁性传感器的发展创造重要机遇。3）磁性传感器市场预测如何？ 根据市场预测，2019年全球磁传感器市场估价为22.83亿美元。预计2020年将达到32.58亿美元，2025年将达到120亿美元，2020-2025年复合年增长率为51%。4）Hprobe对磁性传感器的成功有何贡献？ 作为一家拥有专利技术的自动测试设备（ATE）供应商，Hprobe为IC制造商提供了一站式解决方案，将加速磁性传感器产品的开发，确保成功升级。 测试时间是生产中的关键性能指标，也是缩短开发时间的重要附加值。打造专用于传感器技术和产品晶圆测试的最佳测试设备，使其具有最大的灵活性和最短的测试时间，将在开发阶段带来巨大的价值，并可大大缩短大批量制造（HVM）的上市时间（TTM）。Hprobe的解决方案满足了对灵活性和性能的需求，从而在从技术发布到生产控制和监控的漫长道路上为工程师提供支持。5）Hprobe产品如何运行？ 传感器测量磁场以提取位置、角度、强度和磁场方向的信息。测量得到传感对象运动或电流方向的数据。为了验证芯片产品的最终应用，测试是在晶圆层面上进行的，在改变晶圆上方磁场的同时进行电探测。 晶圆级测试通过以下步骤完成：在空间1D、2D或3D的任何方向施加能够快速稳定的静态磁场，并测量传感器的输出电响应。施加快速扫描场强或角度的可变磁场，以高通量分拣产品，在限制测试成本的同时，实现晶圆上的完全测试覆盖。 关于Hprobe 法国Hprobe公司成立于2017年，总部位于具有“法国硅谷”的美誉格勒诺布尔，是SPINTEC（全球领先的自旋电子学研究实验室之一）的一家衍生公司。 法国Hprobe基于独有的三维磁场发生器等专利技术，致力于为磁性器件和传感器的晶圆级表征和测试提供系统解决方案。目前产品提供的服务内容涵盖磁技术开发所有阶段，能针对性的为MRAM（STT、SOT、VCMA）和磁性传感器（TMR、GMR等）进行表征和测试提供专用设备和服务。 依托投资方的自身优势，普瑞亿科半导体事业部聚焦国内半导体产业工艺发展，与Hprobe协力打造国内领先的晶圆级表征和测试系统解决方案，致力于为中国半导体行业客户提供研究级和生产级的MRAM和磁检测解决方案和服务支持。

磁性样品架型号规格：通用型品牌：PIKE 磁性样品架由钢制的样品底板和磁性样品盖板组成。样品底板上有定位销，方便使用。磁性样品架适用于13mmKBr片和薄膜样品的红外光谱透射测量使用。薄膜的厚度不宜超过0.5mm。

柔性材料与器件测试系统--薄膜扭转一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。 二、产品特性 高可靠性（百万次）样品自适应性 （过程中受拉力相同，无弯折）可扩展性（光学、电学性能测试辅助系统） 三、适用范围 薄膜、涂层、柔性显示屏、有机发光器件、平面可穿戴产品、柔性印刷电路、扁平电缆等柔性材料与器件的扭转测试。 四、运行方式 五、产品参数项目参数样品厚度(mm)0-1样品大小(mm2)Max(210* 300)弯曲角度（° )0-90°弯曲力(N)5.0弯曲速度( ° /s)0-1080重复次数（次）10000000重量（Kg)16 六、产品尺寸

真空室结构:圆筒形侧开门真空室尺寸:Ф450x550mm极限真空度:≤8.0E-5Pa 沉积源:永磁靶2套，φ3英寸样品尺寸，温度:小型粉末颗粒状样品占地面积（长x宽x高）:约1米x1.8米x2米电控描述:全自动 工艺:无产品概述：本系统可以在粉末颗粒状样品表面镀制金属膜、磁性膜、绝缘膜等，采用行业的软件控制系统。设备用途：可广泛应用于大专院校、科研院所的粉末样品表面镀制薄膜材料的科研项目。产品概述：本系统可以在粉末颗粒状样品表面镀制金属膜、磁性膜、绝缘膜等，采用行业的软件控制系统。设备用途：可广泛应用于大专院校、科研院所的粉末样品表面镀制薄膜材料的科研项目。

DahoMeter『达宏美拓』新一代数显固体密度计DH-300，是目前使用群体最多的数显密度测量仪器，在橡塑胶领域中对原料颗粒与制品密度测量应用极为广泛，精度0.001 gcm3，使用水当介质，仅二个步骤即可显示密度值。显著的特点是测量精准、操作简便快捷、稳定耐用、经济实用，适合生产现场和品质监测等领域。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300采用一体注塑成型大容量测量配件；一体注塑成型透明水槽，耐摔耐破防腐蚀，测量时可清楚观察样品在介质中的情况；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形，与吊栏垂直不碰触水槽。数显薄膜密度测试仪------高性能、数显直读、密度精度千分之一PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600主要针对：橡胶、塑胶、塑胶造料企业、电线电缆、复合材料、高分子、电工电器、体育器材、轮胎、玻璃制品、新材料研究实验室。PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600依据：ASTM D792、 ASTM D297、 GB/T1033、GB/T2951、 GB/T3850、 GB/T533、 HG4-1468、 JIS K6268、 ISO 2781、ISO 1183…等标准规范。PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600也适合：合金材料、硬质合金、粉末冶金、磁性材料、精密陶瓷、耐火材料、矿物与岩石、水泥制造、珠宝产业…等行业。技术参数：1、型号： DH-300/DH-600 2、密度解析：0.001 g/cm3 3、最大称重：300g/600g 4、最小称重：0.005g 5、测量范围：0.001—99.999g/cm3 6、同类型号：DA-300M/DE-120M及高精度DH-300M/DH-120M 主要特点：1、直读任何固体物质的密度，Quick Test快速测试，更有效率，适合生产现场和品质监测等领域2、测量精准、操作简便、稳定耐用、经济实用3、全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能4、具有实际水温补偿功能5、使用水作介质，也可使用其它液体介质6、采用一体成形大容量测量配件，水槽防腐蚀、耐摔耐破7、配置专用防风防尘罩8、含RS-232C通信接口，方便连接PC与打印机，可选购DE-40打印机打印测量数据9、本产品自出售之日起免费保修一年可测量项目：1、可测定各种塑胶制品与原材料的密度，如颗粒、PVC颗粒、PE颗粒、树脂、片材、管材、线材、板材等类似产品；2、可测定各种橡胶制品与原材料的密度，如颗粒、生胶、熟胶、矽胶、O型圈、密封圈等类似产品；3、可测定各种橡塑胶发泡体、海绵、泡沫、密度小于之1之浮体等类似产品；4、可测定各种金属、合金、玻璃、木材、石材、石墨之密度；6、可测定各种黏稠体、胶状体的密度，如玻璃胶、保护胶、固化胶、护肤化妆品、牙膏等类似产品；7、磁性材料、粉末冶金、磨擦材料、精密陶瓷等类似产品之半成品、成品密度皆能测量；8、各种金属粉末、橡胶粉末、塑胶粉末、水泥粉末皆能测量。标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥100G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个选购配件：①DE-40打印机测量步骤：①将产品放入测量台，测空气中重量，按ENTER键记忆。②将产品放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示密度值。Daho Meter『达宏美拓』 旗下产品：经济型DH-300塑料密度计 经济型DH-300L液体密度计 经济型DH-300X固液体密度计实用型DA-300M塑料密度计 实用型DA-300W液体密度计 实用型DA-300T固液体密度计高精度DE-120M塑料密度计 高精度DE-120W液体密度计 高精度DE-120T固液体密度计日本主机实用型DH-300M塑料密度计 日本主机实用型DH-300W液体密度计 日本主机实用型DH-300T固液体密度计 日本主机高精度DH-120M塑料密度计 日本主机高精度DH-120W液体密度计 日本主机高精度DH-120T固液体密度计原材料塑料颗粒快速水份测定仪DH-610编辑：lcl 15.6

薄膜穿刺力测试仪随着科技的飞速发展，各种薄膜在日常生活和工业生产中的应用越来越广。无论是食品包装、电子设备还是新能源领域，薄膜都发挥着重要的作用。在这些薄膜的使用过程中，穿刺力是衡量其性能的重要参数之一。本文将介绍薄膜穿刺力的概念、测试方法和应用场景，并探讨如何使用穿刺力测试仪进行相关检测。 薄膜穿刺力是指薄膜在受到穿刺物体的冲击时，阻止其穿透或破裂的能力。这种穿刺力的大小直接影响到薄膜的耐用性和防护性能。例如，食品包装薄膜需要具备良好的穿刺力，以确保在储存和运输过程中食品的新鲜度和安全性。电池隔膜则需要具有较高的穿刺力，以确保电池在使用过程中的稳定性和安全性。 为了评估薄膜的穿刺力，通常使用穿刺力测试仪进行检测。该仪器可以模拟不同条件下的穿刺过程，并测量穿刺力的大小。一般来说，穿刺力测试仪由以下几个部分组成： 穿刺针：用于模拟实际使用过程中可能出现的各种穿刺物体。传感器：用于测量穿刺针穿透薄膜时产生的力。控制系统：用于控制穿刺速度和监测穿刺力数据。数据处理系统：用于处理和记录测试数据，并生成报告。 在进行测试时，将薄膜样品放置在测试平台上，然后将穿刺针固定在测试仪器的支架上。通过控制系统设定穿刺速度，并启动测试。在穿刺过程中，传感器会实时监测穿刺力数据，并将数据传输到数据处理系统进行分析和处理。 穿刺力测试仪在薄膜生产和研发领域具有普遍的应用。以下是一些主要应用场景：质量控制：在薄膜生产过程中，通过定期对产品进行穿刺力检测，可以有效地控制生产质量，确保产品的耐用性和安全性达到预期要求。 技术参数测量范围 0-300N （其他量程可定制）测量误差 ±1%测量速度 1-500m/min无极调速速度误差 ±2%误差外形尺寸 310mm×400mm×560mm (长宽高)重 量 26Kg环境要求环境温度 15℃-50℃相对湿度 ≤80%，无凝露工作电源 220V 50Hz 薄膜穿刺力测试仪 此为广告

DahoMeter『达宏美拓』新一代薄膜密度测试仪DH-300，是目前使用群体最多的数显密度测量仪器，在薄膜领域中对原料颗粒与制品密度测量应用极为广泛，精度0.001 gcm3，使用水当介质，仅二个步骤即可显示密度值。显著的特点是测量精准、操作简便快捷、稳定耐用、经济实用，适合生产现场和品质监测等领域。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300采用一体注塑成型大容量测量配件；一体注塑成型透明水槽，耐摔耐破防腐蚀，测量时可清楚观察样品在介质中的情况；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形，与吊栏垂直不碰触水槽。数显薄膜密度测试仪------高性能、数显直读、密度精度千分之一 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600主要针对：橡胶、塑胶、塑胶造料企业、电线电缆、复合材料、高分子、电工电器、体育器材、轮胎、玻璃制品、新材料研究实验室。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600依据：ASTM D792、 ASTM D297、 GB/T1033、GB/T2951、 GB/T3850、 GB/T533、 HG4-1468、 JIS K6268、 ISO 2781、ISO 1183…等标准规范。PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600也适合：合金材料、硬质合金、粉末冶金、磁性材料、精密陶瓷、耐火材料、矿物与岩石、水泥制造、珠宝产业…等行业。技术参数：1、型号： DH-300/DH-600 2、密度解析：0.001 g/cm3 3、最大称重：300g/600g 4、最小称重：0.005g 5、测量范围：0.001—99.999g/cm3 6、同类型号：DA-300M/DE-120M及高精度DH-300M/DH-120M主要特点：1.直读任何固体物质的密度，Quick Test快速测试，更有效率，适合生产现场和品质监测等领域2.测量精准、操作简便、稳定耐用、经济实用3.全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能4.具有实际水温补偿功能5.使用水作介质，也可使用其它液体介质6.采用一体成形大容量测量配件，水槽防腐蚀、耐摔耐破7.配置专用防风防尘罩8.含RS-232C通信接口，方便连接PC与打印机，可选购DE-40打印机打印测量数据9.本产品自出售之日起免费保修一年可测量项目：1、可测定各种塑胶制品与原材料的密度，如颗粒、PVC颗粒、PE颗粒、树脂、片材、管材、线材、板材等类似产品；2、可测定各种橡胶制品与原材料的密度，如颗粒、生胶、熟胶、矽胶、O型圈、密封圈等类似产品；3、可测定各种橡塑胶发泡体、海绵、泡沫、密度小于之1之浮体等类似产品；4、可测定各种金属、合金、玻璃、木材、石材、石墨之密度；6、可测定各种黏稠体、胶状体的密度，如玻璃胶、保护胶、固化胶、护肤化妆品、牙膏等类似产品；7、磁性材料、粉末冶金、磨擦材料、精密陶瓷等类似产品之半成品、成品密度皆能测量；8、各种金属粉末、橡胶粉末、塑胶粉末、水泥粉末皆能测量。标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥100G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个选购配件：①DE-40打印机测量步骤：①将产品放入测量台，测空气中重量，按ENTER键记忆。②将产品放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示密度值。 Daho Meter『达宏美拓』 旗下产品：经济型DH-300塑料密度计 经济型DH-300L液体密度计 经济型DH-300X固液体密度计实用型DA-300M塑料密度计 实用型DA-300W液体密度计 实用型DA-300T固液体密度计高精度DE-120M塑料密度计 高精度DE-120W液体密度计 高精度DE-120T固液体密度计日本主机实用型DH-300M塑料密度计 日本主机实用型DH-300W液体密度计 日本主机实用型DH-300T固液体密度计 日本主机高精度DH-120M塑料密度计 日本主机高精度DH-120W液体密度计 日本主机高精度DH-120T固液体密度计原材料塑料颗粒快速水份测定仪DH-610 编辑：lcl 15.8

薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪W301B水蒸气透过率测试仪又叫透湿性测试仪。基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过水蒸气透过率的测定，达到控制与调节材料的技术指标的目的，满足产品应用的不同需求。产品特点◎ 称重法测试原理，符合标准要求的间歇式称量，每次测量前系统自动清零，保证数据的统一性和准确性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 单次试验测试1个试样，过程全自动化，透湿杯升降称量由气缸控制，数据准确可靠◎ 创新循环除湿系统，内置真空泵，有效防止透湿杯上方湿度梯度的形成，保证测试的准确性◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 提供标准砝码快速校准模式，称量系统保证检测数据的准确性◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理W301B水蒸气透过率测试仪采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成一特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，从而求出试样的水蒸气透过率等参数。 应用领域薄膜：适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、防水透气膜、 镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材：适用于各种工程塑料、橡胶、建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的 水蒸气透过率测试。如PP片材PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等纸张、纸板：适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试纺织品、非纺织布：适用于纺织品、非纺织布等材料的水蒸气透过率测试薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备

薄膜塑料密度测试仪DH-300是行业领先的固体密度测试仪器，可测试各种固体物质的密度、体积。测量精准、操作简单、经久耐用、经济实惠等特点。适应于品质管理、配方调制、密度研究、成本控制等领域的密度测量。薄膜塑料密度测试仪DH-300应用领域：橡胶、塑胶、高分子、复合材料、电线电缆、电工电器、电子材料、建筑材料、包装材料、环保材料、体育器材、玻璃制品、合金金属、机械零件、汽车零部件、煅造业、五金回收、精密陶瓷、防火材料、磁性材料、宝石、鞋材、轮胎、粉末冶金、食品、农业……等行业。薄膜塑料密度测试仪DH-300可以测试各种不规则固体，含盖：颗粒、薄膜、浮体、粉末、块状体、发泡体、黏稠体、木材、泡绵、金属、等吸水体与不吸水性体。 薄膜塑料密度测试仪DH-300属性介绍：1.品牌：DAHOMETER 达宏美拓2.型号：DH-3003.品名：电子密度计、电子比重计、密度天平、比重天平、密度仪、密度测试仪（又称：塑料密度计、橡胶密度计、磁性材料密度计、粉末冶金密度计、硬质合金密度计、金属密度计、水泥密度计、粉末密度计、泡棉密度计、木材密度计、黄金密度计、宝石密度计、玻璃密度计……等）技术参数：1．密度解析：0.001g/cm32．最大称重：300g3．最小称重：0.005g/0.01g4．测量范围：0.001—99.999g/cm3特点：1．直读任何固体物质的密度值、体积、含量百分比2．PVC颗粒、EVA发泡体、粉末、薄膜等皆可快速测量3．操作简单、方便、测量快速4．全动零点跟踪功能5．使用水作介质，也可使用其它液体介质6．具有实际水温补偿功能7．带有蜂鸣器功能及超载报警功能8．采用一体成形大容量设计测量配件9．配置专用防风防尘罩标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥100G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个测量步骤：①先测量产品在空气中重量，按ENTER键记忆。②再放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示密度值。③按A键依次显示体积、纯度含量百分比。售后服务：1.所有产品均属原装正品产品。2.所有产品均免费保修三年，终身维护，保修期间产生的一切费用由我方承担。（天灾、人为现象除外）3.所有产品在运输过程中有损坏时，一切责任由我方承担，并保证在4天内更换新品。4.关于使用操作方法，我方有责任与义务教导买方技术使用人员至完全熟练为止。5.其他详细购买事宜，参考双方协定的合同条款。DAHOMETER 宏达美拓 旗下产品：经济型DH-300固体密度计实用型DH-300M固体密度计 DH-300W液体密度计高精度DH-120M固体密度计 DH-120W液体密度计多功能DH-300T固液体两用密度计 DH-120T固液体两用密度计经济型DH-300K贵金属纯度测试仪 DH-300X吸水性产品密度计DAHOMETER 达宏美拓 品牌密度计，测试领域涵盖：①固体：一般固体、吸水性固体、不吸水固体、颗粒状态产品、块状形产品、发泡体、浮体、薄膜、粉末、金属、粉末、黏稠体、木材、泡绵……等②液体：一般液体、牙膏状态产品、粘稠性液体、腐蚀性液体、挥发性液体、高温度状态下……等③粉末：金属粉末、橡胶粉末、塑胶粉末、各种添加剂……等④贵金属：黄金、铂金、钼、银、钯、铬……等关联产品如下：橡胶密度计 粉末冶金密度计 助焊剂密度计 香精密度计塑料密度计 磁性材料密度计 硫酸铜密度计 石油密度计水泥密度计 摩擦材料密度计 氯化钠密度计 尿液密度计粉末密度计 耐火材料密度计 电解液密度计 甘油密度计木材密度计 复合材料密度计 氢氟酸密度计 硫酸密度计黄金密度计 体育用品密度计 贵金属密度计 油墨密度计 土壤密度计 玻璃制品密度计 碳化硅密度计 胶水密度计陶瓷密度计 汽车零件密度计 碳化钨密度计 水银密度计泡绵密度计 硬质合金密度计 刹车片密度计 试剂密度计 宝石密度计 发泡材料密度计 配重块密度计 血液密度计 薄膜密度计 塑胶颗粒密度计 化妆品密度计 柴油密度计

柔性材料与器件测试系统--薄膜卷绕一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。二、产品特性 大曲率、大面积样品 高稳定性 卷轴可选择(5-100mm) 可扩展性（光学、电学性能测试辅助系统） 三、适用范围 可穿戴电子、柔性电子、可拉伸材料材料与器件的拉伸测试。 四、运行方式 五、产品参数 项目参数样品厚度(mm)0-3样品宽度(mm)0-200缠绕数量（圈）3扭转速度（°）0-1080扭转力(N.m)5.0辊直径(mm)5-100重量(Kg)20 六、产品尺寸

薄膜穿刺力测试仪XLW(PC)智能电子拉力机拥有丰富的应用范围，配置了100种以上不同的式样夹具供用户选择，是一款专业用于测试各种软包装材料拉伸性能等力学特性的电子拉力试验机。可测试塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘带、不干胶、医用贴剂等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力等力学性能，其超高的性价比赢得了广大用户的喜爱与认可。产品特点◎ 一台试验机集拉伸、穿刺、剥离、撕裂等七种独立的测试，满足不同用户的需求◎ 超高精度0.5级，有效的保证了试验结果的准确性◎ 1000mm的超长行程可以满足超大变形率材料的测试◎ 50N\500N等多种规格的力值传感器以及七档试验速度选择，为用户不同试验条件的测试提供了便利◎ 微电脑控制、菜单式界面、PVC操作面板、以及大液晶屏显示，操作简单快捷◎ 限位保护、过载保护、自动回位、以及掉电记忆等智能配置，保证用户的操作安全◎ 专业的软件提供了成组试样统计分析、试验曲线叠加分析、以及数据比对等多种实用功能◎ 支持USB接口，实验室数据共享系统，方便随时查阅实验报告。薄膜穿刺力测试仪测试原理 将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集到试验过程中的力值变化和位移变化，从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。技术指标规格 500 N 50 N (选择其一)精度 0.5级试验速度 50 100 150 200 250 300 500 mm/min试样数量 1 件试样宽度 30 mm（标配夹具）50 mm（可选气动夹具）行程 1000 mm外形尺寸 450 mm (L) × 450 mm (W) × 1410 mm (H)电源 AC 220V 50Hz净重 68 kg 测试标准XLW-PC满足多项测试标准：GB 13022、GB 8808、GB 1040、GB 4850、GB 7753、GB 7754、GB 453、GB/T 17200、GB/T 16578、GB/T 7122、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、ASTM E4、ASTM D828、ASTM D882、ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、ASTM F904、ISO 37、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T 1130

储能电介质充放电测试系统目前常规的方法是通过电滞回线计算高压下电介质的能量密度，测试时，样品的电荷是放回到高压源上，而不是释放到负载上，通过电滞回线测得的储能密度一般会大于样品实际释放的能量密度，无法正确评估电介质材料的正常放电性能。 本系统采用特殊高压开关，通过单刀双掷控制充电和放电过程，开关可以承受10kV高压，寄生电容小，动作时间短； 内置直流高压模块，电压可达10kV，电流6mA； 通过电流探头监测放电电流，可达100A； 可以实现欠阻尼和过阻尼两种测试模式，欠阻尼测试时，放电回路短路，不使用电阻负载，过阻尼测试时，使用较大的高精度无感电阻作为放电负载； 通过示波器采集数据，并能直接计算储能密度； 定制载样平台，适用于陶瓷和薄膜样品测试； 可以变温测试，RT-250℃； 可以疲劳测试。 主要参数 产品名称：电介质充放电测试系统 型号：HCCF-10KV 电流探头带宽：120MHz 峰值电流：100A 电流采集精度：1mA 高压源模块：DC 10kV（6mA） 开关适用：100万次，耐压至15kV 温控范围：RT-250℃ 温度稳定性和精度：0.1℃ 测试样品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等

纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω— 薄膜材料的热导率评价将变得为简便日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。纳米薄膜热导率测试系统特点：1. 在纳米尺度衡量薄膜的热导率开发出的监测周期加热过程中热反射带来的金属薄膜表面温度变化的方法，通过厚度方向上的一维热导模型计算出样品表面的温度变化，为简便的衡量厚度方向上热导率。（日本：5426115）2. 样品制备简单不需要光刻技术即可将金属薄膜（1.7mm×15mm×100nm）沉积在薄膜样品上。纳米薄膜热导率测试系统应用：1. 热设计用薄膜热导率评价的优先选择。low-k薄膜，有机薄膜，热电材料薄膜2. 可用于评价热电转换薄膜纳米薄膜热导率测试系统测量原理：当使用频率为f的电流周期加热金属薄膜时，热流的频率将为电流频率的2倍（2f）。如果样品由金属薄膜（0）-样品薄膜（1）-基体（s）组成（如图），可由一维热导模型计算出金属薄膜上表面的温度变化T(0)。假设热量全部传导到基体，则T(0)可由下式计算：（λ/Wm-1K-1，C/JK-1m-3，q/Wm-3，d/m，ω（=2πf）/s-1）式中实部（同相振幅）包含样品薄膜的信息。如热量全部传导到基体，则同相振幅正比于(2 ω)0.5，薄膜的热导率（λ1）可由下式给出：（m：斜率，n：截距）纳米薄膜热导率测试系统参数：1. 测试温度：室温2. 样品尺寸：长10～20mm，宽10mm 厚0.3～1mm（含基体）3. 基体材料：Si（推荐） Ge，Al2O3（高热导率）4. 样品制备：样品薄膜上需沉积金属薄膜（100nm） （推荐：金）5. 薄膜热导率测量范围：0.1～10W/mK6. 测试氛围：大气设备概念图样品准备纳米薄膜热导率测试系统测试数据：Si基底上的SiO2薄膜（20-100nm）测量结果d1 / nm 19.9 51.0 96.8 λ1/ W m-1 K-1 0.82 1.03 1.20 发表文章1. K. Mitarai et al. / J. Appl. Phys. 128, 015102 (2020) 2. M. Yoshiizumi et al. / Trans. Mat. Res. Soc. Japan 38[4] 555-559 (2013)

byko-test 干膜测厚仪 4200/4500 磁性 byko-test 4500/4200测厚仪可以测量多种产品。在磁性和非磁性底材进行转换的过程中不需要更换探头或重新校标。大屏幕LCD显示，可保留最近一次测量数值10秒，使用极为方便。产品特点：1.紧凑的可放置口袋内的仪器2.单手设计使用方便3.显示单位可在mils和微米间转化4.红宝石探头坚固耐用5.v型凹槽设计，适用在圆柱型部件上定位6.声音提示测试完毕7.自动识别底材8.扩大的测量范围9.测量速度更快10.带背光的显示屏byko-test 4500/4200 EC型带一根1米长的延长线。对于难以测量的部位，延长线更方便探头定位。 标准配置:型号3635基本配置： byko-test 主机、携带箱、校零板、操作说明书、证书、2节AA电池、1米延长线，仅供3636、3637。 标准ASTM B 499, D 1186, D 1400, D 7091BS 3900 Part C5, 5411 (3,11)DIN 50981, 50984ISO 2360, 2808, 2178 订购信息型号名称3634 byko-test 4200 磁性3636 byko-test 4200 磁性 EC, 探头 36383635 byko-test 4500 磁性／非磁性3637 byko-test 4500 磁性／非磁性 EC, 探头 3639 技术指标底材 磁性钢或铁底材 非磁性非磁性金属：铝、铜、黄铜、锌、不锈钢测量范围磁性 0 - 3000 m (0 - 120 mils)非磁性 0 - 3000 m (0 - 120 mils)精度±(2μm + 3 %*)最小曲率5 mm (0.2 in) 凸面；30 mm (1.2 in) 凹面最小底材厚度磁性 0.2 mm (0.01 in)非磁性 0.05 mm (0.002 in)最小测量区域10 x 10 mm (0.4 x 0.4 in)工作温度0 - 60 。C (32 - 140 。F)源2节 AA 电池尺寸100 x 62 x 27 mm (4 x 2.5 x 1.1 in)重量含电池约130 g (4.6 oz)

高精度磁性材料密度测试仪（符合国标测密度精度要求）为什么说DX-300I型号密度仪，是检测固体材料密度通用的一款呢？因为它所涵盖测量的产品种类很多，像一块的块状产品，颗粒，粉末，密度小于1的浮体都可以测试，其次是它的测量精度满足大多数客户的测量需求，另外，DX-300I高精度磁性材料密度测试仪的亲民价格，性价比高也是众多客户群体选择的原因了。适用于：橡胶、电线电缆、铝制品、纤维、粉末冶金、矿物岩石、精密陶瓷、玻璃工业、金属制品、精密陶瓷、耐火材料、磁性材料、合金材料、机械零部件、金属回收、矿物与岩石、水泥制造、珠宝产业等新材料研究实验室依据：ASTM D792、 ASTM D297、 GB/T1033、GB/T2951、 GB/T3850、 GB/T533、 HG4-1468、 JIS K6268、 ISO 2781、ISO 1183… 等标准规范。 原理：采用阿基米得原理浮力法，准确、直读量测数值。规格：型号：KT-300I秤重范围：0.005g~ 300g比重精度：0.001 g/cm3测量时间：约10秒设定：温度补偿设定、溶液补偿设定功能特点及装置：镀金陶瓷电容传感器；配合密度的测试装置，可实现液体、固体的密度测试；密度直读，减取烦琐的计算；标准的RS232数据输出功能，可轻易的连接PC和打印机。；全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能被测物空气中质量：≥0.25g；被测物空气中受到的浮力：＜-0.125；外形尺寸，270*200*265； 重量 6.5kg一体成型水槽尺寸,165*115*85蓝色背光液晶显示； 本机采用一体注塑成型测量架，一体注塑成型透明水槽，组装方便，耐磨耐摔，防腐蚀，可清楚观察样品在介质中情况。 标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤说明书、⑥砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个 测量步骤：①将样品放入测量台，测空气中重量，按M键记忆。②将样品完全浸入水中，测水中重量，按M键记忆，直接显示密度值。

全自动磁场探针台-半导体磁性芯片测试可提供管理员、设备工程师、操作员三种用户权限、工艺配方可编辑,创建、删除、修改等操作由用户自定义、用户可以选择报警处理方式，并且可以对历史报警进行查询、系统自动记录工艺过程中的重要参数,并且可以生成可参考的记录、具备数据管理功能,可自动提取回线信息,如翻转磁场、翻转电压等、磁阻、RV特性测量功能。全自动磁场探针台-半导体磁性芯片测试具备脉冲幅值自动标定功能 SOT-MRAM器件翻转概率、误码率、循环特性测测量功能,可进行VCMA测试、系统具备翻转动态测量功能。全自动磁场探针台-半导体磁性芯片测试适用磁存储、磁传感等磁性芯片。 全自动磁场探针台-半导体磁性芯片测试样品兼容性高:最大12吋；精度:2 μm；样品台:X:200 mm/sY:200 mm/s Z轴全行程37mm,角度调整范围士5，满足高达150°C测试需求具备机械臂品圆转移组件具备空中对针与探卡支持功能，可自动清针。

磁性免疫层析分析系统 ---快速高效的体外诊断检测平台美国MagnaBioSciences公司是Quantum Design的子公司，其所有产品均由Quantum Design中国子公司即Quantum量子科学仪器贸易（北京）有限公司负责市场、销售、售后服务以及技术支持。公司结合现代物理学与生物技术研发生产的MAR磁性检测系统，具有高灵敏度、灵活性强、干扰性低及经济实用等特点，广泛应用于医药卫生、疾病监测、畜禽检疫、食品卫生安全、环境监测及其它工农业质量检测领域。MAR(Magnetic Assay Reader)技术已获得多项美国，其有 异于以色谱或荧光技术为基础的其它快速诊断方法，磁性分析检测技术的一个显著优点是不受有色杂质的干扰，可直接测量血液、食品和污水等有色样品。其原理是利用超顺磁性纳米微粒作为标记物，由高灵敏度磁性检测仪测量结合在免疫复合物上微粒所产生的局部磁场效应，而得出所测分析物的定量结果。MAR技术平台可与常见的快速诊断法(Lateral Flow)以及微流体检测(Microfluidic Assay)等方法兼容 整合，提供快速准确的定量分析结果。目前，MAR技术提供两类检测系统：MAR分析系统 (MAR Assay Development System, 简称ADS)- 针对实验室研发，数据全面，分析准确MICT检测系统 (Magnetic Immune Chromatographic Test)- 针对临床检测，简便、准确、快速 ADS分析系统的简介：适用于科研领域的ADS分析系统是以MAR检测技术为核心的开放式技术平台，与多种免疫反应技术相容，可让研究人员按实际需要研发佳测试方法，与传统的酶联免疫吸附(ELISA)方法的技术平台相比，MAR研发分析系统操作方式简便快捷，可靠性高，有利于满足临床需要，是衔接基础科学研究与临床应用的桥梁，为加速生物标记物由实验室研发进入临床实验并成为产品提供了经济而有效的方法。 ADS分析系统的特点：ADS分析系统及其与临床配套的磁性免疫色谱分析系统MICT系统采用相同的核心检测组件，以确保从研究平台得出的诊断方法能够顺利地过渡到临床应用。☆ 分析速度快 可在15秒内测量到多达6个分析位点的数据☆ 结果精度高 线形范围在4个数量浓度范围内呈线性☆ 仪器体积小 方便采用固相元件，微型化设计自成一体，立运行☆ 样品不衰变 超顺磁性纳米微粒由聚合物包被，不会随时间而衰变☆ 可反复检测 分析终端的稳定性高，整套分析结果可存档并重新检测☆ 无交叉污染 立的快速诊断色谱卡(MAR Cassette)可直接插入MAR检测仪，避免操作过程中发生交叉污染 ADS分析系统的应用领域：☆ 人体及动植物疾病的研究和诊断☆ 工农业产品质量的监督检验☆ 环境卫生和污染监测检验☆ 食品卫生和污染监测检验和安全卫生评价 ADS分析系统的原理：通过检测结合在超顺磁性纳米微粒(superPMPs)上的生化物质来提供对生物样品的定量检测数据。通过检测测量磁场强度来表达标记在样品区域的量，采用标记的免疫复合物-磁场强度的标准曲线，从而计算出待测生物样品的量。超顺磁性纳米微粒的优势：☆ 超顺磁性纳米微粒只有在磁场中才具有磁性，这就使得磁性微粒在溶液中自由混合而不会因相互作用而发生聚合☆ 超顺磁性纳米微粒物理性能非常稳定，在持续相当长的一段时间之后仍然可以重复实验，是存档备案的理想选材☆ 磁场的信号强弱与磁性微粒的数量呈直接线性关系，这一磁性检测固有的线性特点保证了分析的灵敏度和准确性以及宽的检测范围☆ 超顺磁性纳米微粒可以很容易地取代金标颗粒或乳胶颗粒，与目前很多快速诊断方法兼容整合成定量分析方法。所需其它检测材料，如检测膜、样品吸纸条以及其它生产设备等都无需更换☆ 生物材料及生物体内少有磁性物质存在，这一特性克服了光学分析中常见的干扰： ADS分析系统的测量标准曲线： 肌钙蛋白(Troponin) 乙型肝炎表面抗原葡萄球菌肠毒素B ADS分析系统发表的文章：1. Shon Workman., et al. Rapid detection of HIV-1 p24 antigen using magnetic immuno-chromatography(MICT). Journal of Virological Methods, 2009. 160: p. 14-21.2. Sukwan Handali., et al. Development and Evaluation of a Magnetic Immunochromatographic Test To Detect Taenia solium, Which Causes Taeniasis and Neurocysticercosis in Humans. Clinical and vaccine immunology, Apr. 2010, p. 631–6373. QuanFu Xu., et al. Development of lateral flow immunoassay system based on superparamagnetic nanobeads as labels for rapid quantitative detection of cardiac troponin I. Materials Science and Engineering C 29 (2009) 702–707

产品简介磁性芯片测试机MCT 500是致真精密仪器自主研发的磁性芯片(磁存储芯片、磁传感芯片)测试机，包括磁场发生装置、工频磁场模块、多轴样品测试平台和测试仪表等组件。可对芯片的磁性能、电学性能进行批量无损的快速检测。适配无磁测试座,可对芯片实现面内平面与法向平面内的磁场扫描，用于磁性芯片抗磁性能评估。磁性芯片测试机MCT 500测试功能磁阻特性(霍尔、GMR、TMR)工作电压芯片功耗输出高/低电平推挽输出拉灌电流开漏输出关断电阻、导通电阻开关频率上电响应时间

磁性法三维残余应力测试系统特点可无损检测残余应力沿层深的精密分布Windows操作系统，测试界面简洁明快测试仪采用USB接口通讯，数据传输方便随测量深度变化自动调节激励电流大小和激励信号频率测量、采样、计算、绘图全部由计算机控制测试数据、测量结果均能以文本文形式保存，测量结果能够以曲线形式保存或打印可选择适合的测试路径，以避开不能或不需要的测试点对于曲面测量，备有修正程序磁性法残余应力测试基本原理在机械制造、石油化工、航天航空、建筑工程、铁路公路、水利电力等领域中，材质的应力状态和微观结构是影响其运行寿命的主要因素。无损地检测结构的残余应力和某些机械性质具有重要的经济意义和实用价值。磁测法是根据铁磁材料受力后，磁性的变化来评定内应力。目前实用的方法有磁噪声法和磁应变法。磁噪声法，在磁场和应力作用下，导致磁畴发生一定规律的取向，产生一电脉冲信号，信号频率从数kHz至数百kHz，称为巴克豪森噪声（Ｂ.Ｎ）。Ｂ.Ｎ信号的大小一般以峰值或平均值来表示。材料内应力和一些机械性质与Ｂ.Ｎ信号有一定的对应关系。磁噪声法就是根据Ｂ.Ｎ信号的大小来测定应力和一些微观缺陷，可以测0.01mm左右浅层残余应力。磁应变法，是利用铁磁材料的磁致伸缩效应来测定应力，磁致伸缩的极值与应力有着较好的对应关系。同时磁弹相互作用，产生磁各向异性，磁导率作为张量与应力张量有着一定的联系。分布应力磁测仪，其基本原理是通过传感器（探头）和一定电路将磁导率的变化转变为电流量的变化，建立应力和电流值的函数关系，通过电流量的测量来确定应力。在一定的条件下，也可确定材料的某些性质，如热处理状态、含碳量、硬度等。

Regula 磁性油墨光学成像系统 双轴磁光扫描仪7701M是和电脑连接使用的台式设备，使用CADR软件（随机提供）操作该设备。该设备可靠，方便且易于使用，磁光扫描仪用于钞票、证券的检查和具有磁性安全功能的文件。产品应用:l- 印刷厂的印刷质量评估； - 对钞票或证券的真伪鉴别； - 司法机构对公文、文档的鉴定； - 其他执法机关对证书的流通控制。产品特点:所检磁性文件的结构和对比分析印刷工具和材料的对比检验磁性安全性材料的检验(如磁性油墨,纤维,磁条等)读取隐形磁条和代码读取损毁文件--读取磁性油墨中模糊或损毁的文本文件安全性的磁性参数评估：磁性分布感应，磁通模量产品优点:设备稳定可靠，方便易于使用。参数:可检验文档的最大尺寸：325×297mm（A3 ）最大成像尺寸：12×8mm（352×288象素）图像光学输入空间分辨率：40mkmA4幅面的文档扫描时间：不超过8分钟支持电脑系统：Windows XP.Windows Vista数据传输方式：USB电源：12V设备大小：586×415×225mm质量：15kg（包括电源装置）