薄膜反射测量系统

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　 更多优惠信息： http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3应用案例典型光谱测量系统示意图产品特点1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。2、方便用户标准化测试方案，优化实验方案3、通过固定光纤，探头，光源和光谱仪减少用户占用资源。更多信息访问：http://www.ideaoptics.com/.clear{ clear:both } .right{ width:717px } .shang{ margin-bottom:20px font-size:12px } .shang tr td{ padding:10px 0px line-height:24px } a:link { text-decoration: none } a:visited { text-decoration: none } a:hover { text-decoration: none } a:active { text-decoration: none } #nav li{ font-size:12px } /*New Nav Style*/ #nav_wrap { width:710px margin:20px auto } #nav{ background:url(images/nav_bg.gif) repeat-x height:39px position:relative width:710px margin:0px auto } #nav .l{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px 0px width:2px float:left} #nav .r{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -4px 0px width:2px float:right} #nav .bt_qnav { float:right } #nav .bt_qnav a{ width:31px line-height:39px display:block padding:9px 2px 0 0 } #nav .c{ float:left margin:0 padding:0} #nav li { float:left list-style:none } #nav li .v a{ width:100px line-height:33px text-align:center display:block color:#FFF background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -87px 6px font-family:"Microsoft Yahei" } #nav li .v a:hover,#nav li .v .sele{background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px -52px color:#116406 line-height:42px font-size:14px} #nav .kind_menu { line-height:24px top:39px position:absolute color:#656565 border:1px solid #cccccc width:708px left:0px font-size:12px } #nav .kind_menu tr td { padding:0px 10px font-size:12px } #nav .kind_menu table{color:#656565 margin:20px auto display:block font-family:"宋体" left:0px } #nav .kind_menu span { font-size:10px color:#cecece line-height:30px *line-height:26px float:left } #tmenu{ margin:20px } .bt{ color:#0099FF font-size:14px font-weight:bold } .yi,.er,.san,.si,.wu,.liu{ background-color:#e9f4fe padding:0px 10px height:80px margin-bottom:15px line-height:20px } .clear{ clear:both } .xbt{ background-color:#ecf6ff padding:5px 10px margin-bottom:15px } .xbt a{font-size:14px font-weight:bold color:#333333 width:80px border-right:1px solid #cccccc text-align:center float:left } .xbt a:hover{color:#0066FF } .cpgs,.xlxh,.yyaj,.cptd,.gjjs,.cpxn{ display:block border-bottom:1px dashed #cccccc font-size:12px font-weight:bold color:#FF6600 padding:10px margin-bottom:10px }

镜面反射组件（7201#）为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

变角镜面反射附件是一款适合各种镜面反射分析的变角镜面反射附件，变角镜面反射附件是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜，透明薄膜常常发出微弱的光谱。变角镜面反射附件功能特点主要应用是反射衬底上的表面镀膜，薄膜厚度测量，反射系数测量。实际应用决定入射角的选择，30度的入射角用于测量比较常见的样品，而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜，80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知，那么比较适合选用变角镜面反射附件VEEMAXII，它的可变角度范围为30-85度，适合全部镜面反射的分析。配有自动化附件，这些自动化的附件可以协助用户同时或单独编程控制地高精度选择入射角，并配有控制软件采集数据。具有30-85度的可变角度范围, 30度和80度固定角度的附件可以一起订购。变角镜面反射附件可选项变角镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.变角镜面反射附件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块，LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。

超级多功能量子效率测量系统配件成功问世，一套量子效率测试系统可以测量：薄膜厚度, 折射率，透过率，光学常数, 光谱响应，外量子效率和 内量子效率。 多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池（器件）的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的 光谱响应（Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率（Internal Quantum Efficiency, IQE,%） 多功能量子效率测量系统配件特色 ×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统（Free-Space Optics)， 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路，也不需要日常频繁地移动光学器件或维护，×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。 ×快速测量EQE/IQE测量（5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性）； ×真正全部匹配各种光伏技术（C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等）； ×根据用户的需求提供订制化服务； ×集成其它光学测量功能，如”薄膜厚度测量“功能。 内量子效率测量系统测量方法 多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流（Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源（LED), 使用高性能光电二极管作为参考，可对串联电池进行偏置测量（Biasing Measurement)。 多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率（IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率，标定（校准）单色仪的输出光谱带宽。 对于我们还有重要的配件供用户选择：安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。 多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建，不仅可以控制系统工作，处理电子和光谱测量，还具有极其广泛的拓展性。 软件采用”指导提示性”界面设计，指导用户一步步完成实验操作，从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。 量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块： 1) EQE－模块用于测量外部量子效率，控制所有二级模块如温度和偏置测量等》 2) IQE－模块用于反射率和透过率，计算内量子效率，定义单色仪的输出带宽，不要激光和特殊校准配件和程序。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途 专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

型号规格：TL011-1000品牌：PIKE30度Spec&trade 镜反射附件适用于用镜反射法测量薄膜样品。样品仅简单地铺在附件样品罩上，即可快速得到红外光谱。30度角镜反射附件包括3/8",1/4"和3/16"样品罩。得到的高质量光谱即可用于分析涂层结构又可用于测量涂层厚度。光路设计简单有效，光通量大。通用型设计，可直接用于Bruker、thermo、PE、Varian、Shimadzu以及国产红外光谱仪上。

Smart SAGA 亚微米薄膜进行掠入射分析附件Thermo Scientific Smart SAGA 适用于对金属基上的亚微米薄膜进行掠入射分析。Smart SAGA（高光带孔掠射角）极易操作，性能优异，样品区辨识能力极高。 只需将样品平放在水平采样台上，用激光雕刻隔栅进行定位，如需要则转动转轮以设置孔尺寸，然后扫描。掠射角反射系数是用以分析薄涂层或沉淀物的选择性方法，因为高入射角可以增大穿过感兴趣材料的红外光束的光程长度，从而大大改善灵敏度。 由于高入射角和选择性偏极化，因此可获取单层灵敏度。描述80° 固定入射角全金反射光学器件可以分析 10 埃 至 0.5 微米的薄膜永久性固定的偏光镜可以大大减小无益于表面光谱数据的‘S’偏光，从而可以改善灵敏度和采样速度独特的内部滑孔组件可快速调节至四种不同的样品定义形状与尺寸，无需设置孔径。采样板上的激光雕刻隔栅便于在进行定量分析时，重复进行样品定位和遮盖。SpecificationsAngle of Incidence: 80° 平均固定角度Sampling Area两个圆形活动区域： 5mm和 8mm一个椭圆形活动区域： 16 × 8mm开束Optics: 金反射器件Sample Positioning: 样品台上的激光雕刻测量隔栅Polarizer: 锗超薄涂层金属基上的被吸附物润滑剂表面污染物残留物分子单层订货信息：货号类型0033-197For Nicolet Avatar0033-199Specular Reflectance00331XXSmart SAGA

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

测量反射光的比色皿 ①外形尺寸：Φ34×25 ，容积：12.0ml； ②外形尺寸：Φ50×30，容积：32.0ml； ③外形尺寸：Φ60×40.5 ，容积：73.0ml。

测量反射光比色皿?

Gateway™ 6次反射ATR系统特点： 高级6次反射ATR系统 可替换的ZnSe, Ge 及Si 晶体 高光通量 可清洗 一系列可更换顶板 Benchmark™ 底座系统Gateway™ ATR 系统 Specac公司Gateway™ ATR系统是一款经济的多反射水平ATR附件。高性能的光学设计，防反射ZnSe包裹晶体设计保证了极高的通量及样品灵敏度。坚固的设计、简单的光路系统确保Specac公司的Benchmark™ 底座系统可匹配任何型号的仪器。标准的双重顶板设计提供最丰富的配件选择，额外的功能展现了样品处理灵活性及系统的可升级能力。对于需升温至200°C的样品，可提供电加热的45度角ZnSe晶体顶板及温度控制器P/N GS11155。流通池顶板P/N GS11166的开放式设计易于液体样品均匀的进样。应用? 水溶液? 粘稠/稀液体 ? 膏体及凝胶? 高分子膜? 精细粉末? QC检测? 温度敏感样品? 反应动力学? 教育Gateway™ ATR顶板附件 订购信息GS11165 Gateway™ ATR 系统包括光学元件、Benchmark底座、ZnSe流通型/平顶板、样品夹及清洗波纹管。其它选项GS11132 防挥发罩GS28000 RS232 连接包GS28001 USB 连接包GS28002 RS485 连接包 配件和耗材S10707 清洗波纹管深度可达到样品室内的Benchmark ATR光通路。GS11129 GS11130、GS11139 及 GS11155顶板的垫片替换包GS11167 流通型顶板GS 11166的全氟醚橡胶垫片GS11152 流通型顶板硅管GS11133 ZnSe 平顶板GS11145 顶板的ZnSe晶体替换件(平顶板S11133除外) GS11146 顶板的Si晶体替换件(平顶板GS11133除外)GS11147 顶板的Ge晶体替换件(平顶板GS11133除外)GS11150 550ml顶板用全氟醚橡胶垫片GS11166 流通型顶板用全氟醚橡胶垫片GS11170 Gateway™ 光学元件GS11171 样品夹(其他晶体材料请咨询)顶板选择：GS11133 用于固体或薄膜的平顶板多种晶体可选GS11166 用于液体或胶体的流通型顶板晶体可更换 多种晶体可选GS11116 流通型顶板 压力可控容积550μl晶体可更换多种晶体可选反应可监控 GS11118 热稳定性顶板反应动力学 容积550μl可加热至90°C晶体可更换不锈钢顶板，全氟醚橡胶隔板 GS11139 水浴流通型顶板可加热至90°C热循环溶液控温 GS11155 电加热流通型顶板电加热控温器可加热至200°C(220V/110V)

型号规格：通用型品牌：PIKE80度掠角镜反射附件由镀金反射镜，手动偏振架和红外光谱仪基座组成。适用于极薄薄膜和单分子层物质的红外光谱测量。适用于各红外光谱仪厂家，Bruker、Shimadzu、Varian、Thermo、PE等。

可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点 入射光30°-60°可调 25次反射 适用于FT-IR或色散仪 样品架配两个引脚 标准 3” x 2” 样品架盘 多种晶体可选 可互换样品架(固体，液体，凝胶)25 次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息GS11000 入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材GS11004 KRS-5 晶体 (45°) GS11006 Ge 晶体(45°)GS11009 Si 晶体(45°)GS11014 ZnSe 晶体(45°)GS11008 PTFE 垫圈液体架用（1大、1小，5套）

单层/可变角度镜面反射附件双重样品引入设计，提供薄膜在气体及液体中原位FT-IR单层检测；梯度入射光提供固体反射表面薄膜涂层的检测。? 梯度光性能? 单层分析? 连续可调入射光 8°- 85°(根据仪器本身范围) ? 体积通量8.9ml? 样品规格：85 x 22mm 液体 140 x 35mm 固体? 内置极化架? 独特设计的小孔控制样品区? 液体薄膜压缩/扩展功能? 惰性PTFE样品流通（液体)单层/梯度镜面反射附件双重样品引入设计P/N GS19650，提供薄膜在气体及液体中原位FT-IR单层检测；梯度入射光提供固体反射表面薄膜包衣的检测。可选配的样品架可方便切换。梯度入射光从8°-85°可调，避免杂散光。独特设计的小孔可对光线进行修正，在临界梯度入射光极限情况下提高附件性能。单层模式包括表面活性剂、蛋白、洗涤剂、油类、高分子及生物膜中的磷脂双分子层，提供样品的原环境模拟研究。为研究分子取向、构象、相变，使用特制PTFE材质的样品通路装载样品。我们提供可旋转的偏光片架及压薄膜配件供研究所需。偏光片可安装Specac公司的P/N GS12000系列所有偏光片。选择合适的偏光片基板保证波长范围在中红外区域可见。针对固体样品，我们另外提供水平样品台代替液体流通台用于单层/梯度角度附件。单层梯度角附件中样品采样区大小和投射到样品表面入射光的角度相关。无论对于液体样品或固体表面，当入射光变大时(例如85°，单层设备极限)，由于光的椭圆型反射区变大导致样品表面的光传播更广。因此，为了尽可能利用更多的光，您需要更长更细的样品区域增加样品信号。由于梯度角情况下镜面反射光强度极低，Specac公司通常推荐灵敏度更高的检测系统，如MCT检测器。对于液体样品，表面大小最大为85mm x 22mm。对于固体平台，样品最大长度可达140mm，宽度35mm。单层/梯度角度附件的底座可以安装在光谱仪样品室我们会根据您提供的光谱仪型号提供合适的底座装置。订购信息GS19650 单层/梯度角附件包含以下配件：光学元件及底座水平样品台小孔塞 偏光片架PTFE样品通道耗材GS19662 PTFE 样品池(单层模式)GS19663 单层/梯度角附件小孔塞及样品架子

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数： 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示，精度1度 安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压 片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单 制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数： 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示，精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

Stage-RTL-T型平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与海洋光学的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量 Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGE-RTL-T型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。 STAGE-RTL-T型平台规格 尺寸(底座): 206.3 mm 尺寸 (样品区): 直径152.4 mm(样品架) 重: 4,500 g 高: 立杆可调至 400 mm

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品，以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列，有一款附件可以安装在设备的右侧，这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧，集成化，零校准，零设置。一旦连接好了样品仓，该附件就成为了整个系统的一部分，能随时使用 Ø 可重复性更强，操作简单 Ø 水平样品台，方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸，保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供，套件中包括样品定位器，标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计，工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器，让用户能够持续地进行远程操作，从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁，而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针，便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大，改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm)，改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套，背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化，可拓展，智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单，完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片，坚固耐用，易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032