布鲁斯特角显微镜

可信计量、逼真成像、清晰结果?逼真成像与可信测量数据的结合?简易直观的操作界面提供良好的用户体验?更快速地解决复杂研究和生产要求下的各种挑战布鲁克Contour Elite™ 三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术领先的平台上，进一步增强Vision64® 软件的用户易用性，创新性加入全新的成像软硬件，拓展高保真成像能力。在要求极高的研发、质量控制领域，Contour Elite™ 可为用户提供高速、准确和重复性极佳的测量结果。同时，它为用户提供在通常共聚焦显微镜下能得到的成像与显示效果，如彩色影像等。建立在Wyko® 专有白光干涉仪基础上，历经三十多年软硬件的积累与创新，布鲁克Contour Elite系统提供了直观可视化的操作界面，丰富的用户自定义方式，自动化程序控制功能，以及最快速、广泛适用的表面三维形貌的高保真成像与准确测量，来保证各种领域研发、生产应用的测试需求。 Contour Elite K高稳定性，具备一定防震性能设计的桌面式型号 Contour Elite I全自动，有集成防震垫设计的桌面式型号 Contour Elite X全自动，集成落地式防震台的型号

Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节 和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差1%，真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新，配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的Dimension AFM平台，三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能，保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术，模式和模式增强功能，Dimension FastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA&trade 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章，Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信，进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制，及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时，高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选，这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail：

布鲁克始终致力于使任何技术水平的用户都能更轻松地使用先进技术。LUMOS II 傅立叶变换红外显微镜始终秉承这一信条。它的硬件、软件和用户界面都是围绕这个理念构建的，即使是初学者也可以在最短的时间内获得出色的结果。为什么？因为傅立叶变换红外显微成像技术的普遍适用性提供了太多的优点，这些优点即使使用复杂设备也很难获取。LUMOS II 使傅立叶变换红外显微和成像更快、更容易、更好 — 而且更有趣！技术事实焦平面阵列 (FPA) 检测器凭借无与伦比的速度和准确度，FPA 检测器在红外光谱成像方面奠定了最高基准。 PermaSure+ 优势PermaSure+ 可确保稳定的性能并持续监控所有光谱仪参数。此外，它通过逐像素激光波数校准（专利申请中）提高了仪器的效率。 可视化检查LUMOS II 令人印象深刻的是它的视野有 1490 x 1118 μm2,也提供了一种亚微米 0.6 μm /像素的空间分辨率。 检测器灵活性LUMOS II 配有三个检测器位置。TE-MCT 非常灵敏，不需要液氮。当然，也可以使用 DTGS 和液氮冷却的 MCT 检测器。 自动化为了实现最高精度，LUMOS II 完全由电机驱动，通过软件控制。只需单击一下即可切换光阑、检测器或测量技术，并确保您的硬件完全准备好进行分析。 无需吹扫在许多工作环境中供应干燥空气或氮气可能非常麻烦。LUMOS II 光学元件紧密密封，能够抵御环境变化，无需干燥空气吹扫。标准的 ZnSe 光 学元件使 LUMOS II 可以完全抵抗高湿度。 无需液氮也许并不是所有 FTIR 显微镜用户都能方便的使用液氮。这就是为什么LUMOS II 配备了 TE-MCT 检测器，它不需要液氮，但与DTGS相比仍然为灵敏的单点测量提供了卓越性能。 低功耗现代精密电子元件和硬件组件降低了 LUMOS II 的功耗和运行成本。各组件使用寿命长LUMOS II 只使用最高质量的材料。这就是为什么我们能为中央光谱仪组件（干涉仪、激光器、光源）提供延长保修的原因。 占用体积小，易于取放样品LUMOS II 不仅采用最新技术。此外，它还针对拥挤的实验室环境进行了优化，并提供了非常方便的取样进出通道。真正的通用抽样LUMOS II 提供了为显微镜制备样品所需的所有配件。即使是复杂而敏感的样品也可以快速进行分析。例如，特殊的锗半球可以获得特别粘稠、易脆或柔软材料的 ATR 成像。用不同类型的支架可以分析片剂、红外透明窗片、过滤片、层压板或非常大的样品。LUMOS II 可轻松处理高达 40 mm 的样品。由于可自由取放的样品台，您几乎可以将任何东西放在显微镜下，仍然可以获得完美的结果。除此之外，它还配备了标准的目视分析工具，如偏振器、暗场照明和其他对比度增强功能。FTIR 显微技术和成像的应用多样性非常显著。无论是产品开发，故障分析还是识别古代文物的成分，LUMOS II 都能以优雅和高效的方式完成所有工作。 符合药品法规LUMOS II 及其软件满足 cGMP、所有主要药典的严格要求，并遵循 ALCOA+ 原则。此外，广泛的用户和签名管理功能使管理变得简单，而所有数据都以其原始形式安全存储，并符合 21 CFR 第 11 部分。

[ 产品简介 ]蔡司体视显微镜Stemi 305是一款采用 Greenough 光路设计的高效实用型体视显微镜，拥有 5:1 变倍比。 集成的照明光源和数据记录功能令其成为生物学教学、实验室及工业生产领域的理想之选。[ 产品特点 ]&bull 最大实现58mm 视野和185mm 工作距离&bull 放大倍率8-40x（最大200倍）&bull 出色的机械放大校正&bull 变倍比5:1 &bull 复消色差校正的变倍体和前端镜&bull 紧凑设计，节省实验空间&bull 集成的LED照明系统：反射光，透射光和混合照明[ 应用领域 ]&bull 电子半导体行业外观检测和失效观察&bull 汽车行业断口观察和尺寸测量&bull 锂电池行业外观观察和尺寸测量&bull 钟表行业微观组装和维修&bull 生物学 &bull 医学和兽医学 &bull 寄生虫学&bull 植物学&bull 昆虫学&bull 海洋生物学&bull 地质学和古生物学&bull 法医刑侦蚜虫，环形光照明，变倍比4.0X印刷电路板，上四分之一环形光，变倍比1.5X，前端镜0.75X

布鲁斯特（Brewster）角显微镜主要用于观察气液界面上的有机分单分子膜。该仪器可以与芬兰 KSV NIMA LB 拉膜机和芬兰Kibron LB拉膜机配套使用，需要知道Langmuir 槽具体尺寸，方可定制。它具有出色的图像质量和分辨率，是一种用于在线控制和观察形态膜参数 (例如：均一性、稳定性、畴结构)的最理想的仪器。布鲁斯特（Brewster）角显微镜可应用包括LB膜的单层质量控制、单分子膜组装技术、新合成材料的表征和污染监视。原理：偏振光在介质表面反射、折射时，偏振度要发生变化。当入射角&alpha 为布鲁斯特角时，偏振光将无反射。若单分子膜在气液界面形成，由于布鲁斯特角度变化，将重新出现反射，利用显微镜聚集反射光线，可以观察膜的形态等其他参数。主要用途：观察单分子层的有序现象、单分子层向多分子层的结构转变、表面吸附动力学、单相的现场聚会、LB膜均匀性质量、相分离。光学系统光源 高强绿色激光，20mW或50mW，532nm调节器 可连续调节激光强度1－100％物镜 日产MS－01连续变倍，工作距离90mm，图像放大700－110像素/毫米分辨率 2&mu m角度 45－60° 偏光系统 高级光学棱镜偏光器图像处理系统成像系统 电脑控制，高级CCD，软件电子快门图像捕捉 CG400图像采集卡操作步骤：调整调平旋钮，使设备处于水平状态。在lb槽内放入底液（例如水），开启激光器开关。拨动起偏旋钮和检偏旋钮，调节调角旋钮使摄像头能够捕捉到液面的图像。再微调使偏振光无反射，这时捕捉到的图像为灰暗场。再滴入待测液体，经过扩张、压缩后，单分子膜在气液界面形成，这时由于布鲁斯特角度变化，将重新出现反射。调整调焦旋钮，通过摄像头可以观察膜的形态等参数。

BAM布鲁斯特角显微镜一、布鲁斯特角显微镜BAM简介：Brewster角显微镜（BAM）的原理是利用在空气/水界面或介质基底上，以Brewster角入射的线性垂直偏振光会产生零反射。按照上述公式，知道基底的折射率，就可计算出通过Brewster角。二、布鲁斯特角显微镜BAM的技术参数：1、软件：基于Windows 2000/XP的友好的用户界面，许多控制内嵌在KSV LB 分析仪上2、机械结构：1）、角度计：易于调整，可调范围52° - 57°，精度0.001°。马达调节作为选件2）、分析仪/偏光器：小型高精度旋转台，易于调节3）、垂直升降器：BAM的高精度垂直调节。马达调节作为选件4）、安装桥架：灵活客户化的安装桥架，配有调水平螺丝。易于与KSV LB槽安装在一起3成像系统1）、照相机：计算机控制，高性能CCD照相机，1360 x 1024像素。变时电子快门和比例控制，CCIR（标准），EIA（选件）2）、图像处理：对移动目标的连续实时监测；扫描；多功能的精细图像处理功能（改变大小尺寸，轮廓，过滤，背景补偿，图像存储在硬盘上，可存在文档或数据库中）。4光学器件1）、光源标配：氦氖激光器，10 mW，633 nm选件： 20 mW 或 50 mW 绿光激光5、空间分辨率 2 微米6、扫描器1）、由于观察角度的原因，图像仅仅聚焦在视场的中心。2）、复杂的扫描软件选件可以完成从一系列的聚焦设置到存储已聚焦的图像7、入射角 52 – 578、偏光系统：高品质的Glan-Thompson偏光器9、选件1）、高功率激光器(绿激光20mW 或r 50mW)2）、图像扫描特点3）、马达驱动的角度计调节4）、马达驱动的高度调节5）、多种尺寸和版本的LB槽6）、有三种可替换物镜备选7）、防振台10、规格（H*L*W,cm）11、仪器：65*85*4712、测量头：25*45*1013、质量（kg）：45三、布鲁斯特角显微镜BAM的主要特点：1、在手动调节能满足的情况下，没有必要加装马达调节2、设计优良的光学系统可以使用不太昂贵的激光器，同时又不牺牲图像质量3、更加灵敏的照相机降低了对光线强度的要求4、更大的数字光圈降低了对光线亮度的要求5、高品质的物镜，如配有高品质的防反射涂层，最大程度地降低了对光源的要求6、高品质的激光器可以在较小的总功率提高光强和面积的比率，从而避免使薄膜或基底过热。7、只用高品质的Glan-Thompson偏振器。高品质偏振器的偏振化率是10-8的，确保能够得到最高品质的图像。8、软件是用户友好的，配备高级图像处理工具，能够提供更多来自于图像的信息。9、对用户友好的硬件和软件工具使仪器的安装和对准变得容易和快捷。

KSV NIMA布鲁斯特角显微镜(BAM)代表着BAM仪器的最新技术。该技术可以提供高分辨率以及完全聚焦成像的单分子层图像。其优异的图像质量和较高的横向分辨率，使得KSV NIMA布鲁斯特角显微镜成为研究可视的有关薄膜的形态参数（e.g. 压缩膜的均匀性，尺寸，形状和聚集形态）的理想仪器。通过实时的观察和记录薄膜的结构，可以捕捉薄膜形成的动力学行为。新的独立式KSV NIMA布鲁斯特角显微镜可以作为独立的仪器，用于大多数Langmuir槽以及Langmuir-Blodgett槽，甚至其他厂家生产的槽。独立式KSV NIMA布鲁斯特角显微镜可以通过USB接口与电脑直接连接，因此非常容易设置和使用。

KSV NIMA 布鲁斯特角显微镜KSV NIMA Brewster Angle Microscope布鲁斯特角显微镜（ BAM） 能够在气液界面上对Langmuir单分子层或吸附膜进行可视化观察。与Langmuir槽联用能够研究：单分子层/薄膜行为它能够观察相变、相分离、域的尺寸、形状和堆积行为。单分子层/薄膜均匀性结合KSV NIMA L＆LB槽，能够在已知表面压下，对压缩和扩张过程进行观察。亚相条件对膜结构的影响在不同盐浓度、pH和温度等亚相条件下，能够对单分子层/薄膜的行为和构建进行观察与研究。监测表面反应可以实时跟踪光化学反应、聚合反应、酶动力学反应等表面反应。监测和检测表面活性物质例如蛋白质吸附和纳米颗粒浮选。布鲁斯特角显微镜主要设计用于气液界面的研究，但在某些条件下也可用于如空气-玻璃等其他的界面。工作原理布鲁斯特角显微镜是利用当P偏振光入射到空气-水界面时，在某一特定的入射角下不会发生反射的全反射原理来设计的。发生全反射的这个角度，即布鲁斯特角，由斯涅耳（Snell）定律确定，并依赖于系统中材料的折射率。斯涅耳定律：tan α = n2 / n1其中，α为布鲁斯特角，单位为弧度。n1为空气的折射率（≈1）和n2为水的折射率（≈1.33）。气液界面的布鲁斯特角约为53°。在此角度下，由于没有光被反射，所以纯水表面的图像是黑色的。物质加入到气液界面上会改变本体的折射率，从而使少量的光被反射并显示在图像中。图像中不同亮度的区域由特定的分子和整个采样区域的堆积密度来决定。产品线KSV NIMA提供两种不同类型的布鲁斯特角显微镜，高级型KSV NIMA布鲁斯特角显微镜和紧凑型KSV NIMA小型布鲁斯特角显微镜。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜KSV NIMA 布鲁斯特角显微镜代表了最新的BAM仪器，具有极高的分辨率，可对单分子层完全聚焦并实时成像，图像完全不失真。精确马达带动的升降装置能够准确定位并聚焦气液界面，附带的自动垂直定位装置可实时跟踪液面水平度的变化，KSV NIMA BAM所集成的主动防震系统可消除由环境（如空调，人流）造成的扰动。高性能的照相机和专用的校准算法能够对反射率进行定量测量，从而监测吸附动力学或厚度的变化。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜配备的马达分析装置可以监控长范围内单分子层分子取向信息。软件提供先进全面的图像分析与处理功能。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜可以和Langmuir槽联用来控制单分子层的堆积密度并记录表面压值。最常见的推荐配置是KSVNIMA Langmuir大型槽和Langmuir-Blodgett大型沉积槽。产品特点：● 极好的分辨率（2 um）和成像质量。布鲁斯特角显微镜领域最高的横向分辨率独特的完全聚焦和在20-35fps像速下不失真的实时成像。● 样品实时可视化观察● 易于集成到KSV NIMA Langmuir＆Langmuir-Blodgett大型槽● 先进的图像分析和处理能力，例如能够简单地选择区域来得到它们的尺寸● 可调的入射角度（52-57°），能够测量常见的电介质固体基材，如玻璃或石英● 由于电动机控制分析装置的存在，能够对各向异性层进行成像● 实时在线、自动扣除背景● 可提供远程桌面控制技术支持KSV NIMA小型布鲁斯特角和KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜和KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜是研究气液界面上单分子层的简单易用的入门级非侵入式成像工具。出色的成像质量和良好的横向分辨率，使它们成为观察膜参数（如：压缩薄膜的均匀性、域的尺寸、形状和堆积行为）的理想工具，而实时观察和记录膜结构的变化可捕获其动态行为信息。KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜和KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜能够和大多数KSV NIMA Langmuir和Langmuir-Blodgett槽联用，比如中型、大型和高压缩比型槽均可，从而自动获取成像与时间的关系。无论是马达控制（KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜），还是手动调整（KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜），这两款仪器都很容易对测量头高度进行调节，同时为了安全考虑，这两款仪器都具备控制BAM激光的安全钥匙互锁功能。KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜也可以和其他制造商生产的Langmuir和LB膜槽，以及自由独立的样品烧杯联用。KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜直接通过USB数据线与电脑连接，安装方便，简单易用。KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜和KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜产品特点：● 分辨率（12um）适用于大多数应用● 捕获和保存单分子层的静止图像和实时视频画面● 设计紧凑，占地面积小● 操作简单直观● 已包含成像和控制软件● 用台式机或笔记本均可进行操作（Windows XP 到Win 7）● 兼容大多数Langmuir槽和Langmuir-Blodgett槽● 可作为一个独立的仪器使用

JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜的详细资料： JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜主要用于观察气液界面上的有机分单分子膜。它具有出色的图像质量和分辨率，是一种用于在线控制和观察形态膜参数 (例如：均一性、稳定性、畴结构)的理想方式。JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜可应用包括LB膜的单层质量控制、单分子膜组装技术、新合成材料的表征和污染监视。JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜原理 偏振光在介质表面反射、折射时，偏振度要发生变化。当入射角α为布鲁斯特角是，偏振光将无反射。若单分子膜在气液界面形成，由于布鲁斯特角度变化，将重新出现反射，利用显微镜聚集反射光线，可以观察膜的形态等其他参数。JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜主要用途 观察单分子层的有序现象 、单分子层向多分子层的结构转变、表面吸附动力学、单相的现场聚会、LB膜均匀性质量、相分离。JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜主要参数操作系统基于WinXP操作系统和32位的Win7操作系统开发的图形界面绿色软件光 学 系 统光源高强绿色激光，20mW或50mW，532nm调节器可连续调节激光强度1－100％物镜日产MS－01连续变倍，工作距离90mm，图像放大700－110像素/毫米分辨率2μm角 度45－60°偏光系统高级光学棱镜偏光器图像处理系统成像系统电脑控制，高级CCD，软件电子快门图像捕捉CG400图像采集卡JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜含税价格：RMB 128800.00（不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区送货上门安装调试培训、一年保修服务）。JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜配套电脑：JB04型布鲁斯特（Brewster）角显微镜必须连接电脑方能使用，该仪器对电脑配置要求较为特殊，一般应由我司代配（品牌电脑/厂家三年上门），需另加4000元，电脑无折扣。如果你们自配或者用户利用原有电脑，要求：32位的Win7操作系统，RS232串口，AMD芯片的独立显卡，一个空的原生的PCI插槽（推荐intel的B75主板、或者AMD芯片的主板）。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。

KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜KSV NIMA Brewster Angle Microscope布鲁斯特角显微镜（ BAM） 能够在气液界面上对Langmuir单分子层或吸附膜进行可视化观察。与Langmuir槽联用能够研究：单分子层/薄膜行为它能够观察相变、相分离、域的尺寸、形状和堆积行为。单分子层/薄膜均匀性结合KSV NIMA L＆LB槽，能够在已知表面压下，对压缩和扩张过程进行观察。亚相条件对膜结构的影响在不同盐浓度、pH和温度等亚相条件下，能够对单分子层/薄膜的行为和构建进行观察与研究。监测表面反应可以实时跟踪光化学反应、聚合反应、酶动力学反应等表面反应。监测和检测表面活性物质例如蛋白质吸附和纳米颗粒浮选。布鲁斯特角显微镜主要设计用于气液界面的研究，但在某些条件下也可用于如空气-玻璃等其他的界面。工作原理布鲁斯特角显微镜是利用当P偏振光入射到空气-水界面时，在某一特定的入射角下不会发生反射的全反射原理来设计的。发生全反射的这个角度，即布鲁斯特角，由斯涅耳（Snell）定律确定，并依赖于系统中材料的折射率。斯涅耳定律：tan α = n2 / n1其中，α为布鲁斯特角，单位为弧度。n1为空气的折射率（≈1）和n2为水的折射率（≈1.33）。气液界面的布鲁斯特角约为53°。在此角度下，由于没有光被反射，所以纯水表面的图像是黑色的。物质加入到气液界面上会改变本体的折射率，从而使少量的光被反射并显示在图像中。图像中不同亮度的区域由特定的分子和整个采样区域的堆积密度来决定。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜KSV NIMA 布鲁斯特角显微镜代表了新一代的BAM仪器，具有极高的分辨率，可对单分子层完全聚焦并实时成像，图像完全不失真。KSV NIMA BAM所集成的主动防震系统可消除由环境（如空调，人流）造成的扰动。高性能的照相机和专用的校准算法能够对反射率进行定量测量，从而监测吸附动力学或厚度的变化。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜可以监控长范围内单分子层分子取向信息。软件提供先进全面的图像分析与处理功能。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜可以和Langmuir槽联用来控制单分子层的堆积密度并记录表面压值。最常见的推荐配置是KSVNIMA Langmuir大型槽和Langmuir-Blodgett大型沉积槽。产品特点：● 极好的分辨率（2 um）和成像质量。布鲁斯特角显微镜领域前沿的横向分辨率独特的完全聚焦和在20-35fps像速下不失真的实时成像。● 样品实时可视化观察● 易于集成到KSV NIMA Langmuir＆Langmuir-Blodgett大型槽● 先进的图像分析和处理能力，例如能够简单地选择区域来得到它们的尺寸● 可调的入射角度（52-57°），能够测量常见的电介质固体基材，如玻璃或石英● 由于电动机控制分析装置的存在，能够对各向异性层进行成像● 实时在线、自动扣除背景● 可提供远程桌面控制技术支持KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜是研究气液界面上单分子层的简单易用的入门级非侵入式成像工具。出色的成像质量和良好的横向分辨率，使它们成为观察膜参数（如：压缩薄膜的均匀性、域的尺寸、形状和堆积行为）的理想工具，而实时观察和记录膜结构的变化可捕获其动态行为信息。KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜能够和大多数KSV NIMA Langmuir和Langmuir-Blodgett槽联用，比如中型、大型和高压缩比型槽均可，从而自动获取成像与时间的关系。很容易对测量头高度进行调节，同时为了安全考虑，仪器具备控制BAM激光的安全钥匙互锁功能。KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜也可以和其他制造商生产的Langmuir和LB膜槽，以及自由独立的样品烧杯联用。KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜直接通过USB数据线与电脑连接，安装方便，简单易用。KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜产品特点：● 分辨率（12um）适用于大多数应用● 捕获和保存单分子层的静止图像和实时视频画面● 设计紧凑，占地面积小● 操作简单直观● 已包含成像和控制软件● 用台式机或笔记本均可进行操作（Windows XP 到Win 7）● 兼容大多数Langmuir槽和Langmuir-Blodgett槽● 可作为一个独立的仪器使用

产品详细介绍布鲁斯特（Brewster）角显微镜主要用于观察气液界面上的有机分单分子膜。它具有出色的图像质量和分辨率，是一种用于在线控制和观察形态膜参数 (例如：均一性、稳定性、畴结构)的最理想的仪器。布鲁斯特（Brewster）角显微镜可应用包括LB膜的单层质量控制、单分子膜组装技术、新合成材料的表征和污染监视。 原理：偏振光在介质表面反射、折射时，偏振度要发生变化。当入射角α为布鲁斯特角时，偏振光将无反射。若单分子膜在气液界面形成，由于布鲁斯特角度变化，将重新出现反射，利用显微镜聚集反射光线，可以观察膜的形态等其他参数。主要用途：观察单分子层的有序现象 、单分子层向多分子层的结构转变、表面吸附动力学、单相的现场聚会、LB膜均匀性质量、相分离 操作系统 基于windows2000/XP开发的图形界面绿色软件 光 学 系 统 光源 高强绿色激光，20mW或50mW，532nm 调节器 可连续调节激光强度1－100％ 物镜 日产MS－01连续变倍，工作距离90mm，图像放大700－110像素/毫米 分辨率 2μm 角 度 45－60° 偏光系统 高级光学棱镜偏光器 图像处理系统 成像系统 电脑控制，高级CCD，软件电子快门 图像捕捉 CG400图像采集卡

MICROBAM微型布鲁斯特角显微镜Brewster角显微镜（BAM）的原理是利用在空气/水界面或介质基底上，以Brewster角入射的线性垂直偏振光会产生零反射。按照上述公式，知道基底的折射率，就可计算出通过Brewster角。一、技术参数：KSV OPTREL MICROBAM技术参数1、软件：基于Windows 2000/XP的友好的用户界面，许多控制内嵌在KSV LB 分析仪上2、机械结构：1）、角度计： 53°，固定值2）、分析仪/偏光器：小型高精度旋转台，易于调节3）、垂直升降器：MICROBAM的高精度垂直调节。马达调节作为选件4）、安装桥架：灵活客户化的安装桥架，配有调水平螺丝。易于与KSV LB槽安装在一起3、成像系统：1）、照相机：计算机控制，高性能CCD照相机，640 x 480像素。变时电子快门和比例控制，CCIR（标准），EIA（选件）2）、图像处理：对移动目标的连续实时监测，扫描，多功能的精细图像处理功能（改变大小尺寸，轮廓，过滤，自动背景补偿等），图像存储在硬盘上，可存在文档或数据库中4、光学器件：1）、光源标配：氦氖激光器，10 mW，633 nm选件：20 mW 或50 mW 绿光激光2）、物镜和 视场放大倍数 工作距离 光圈 视场其他：请咨询厂商视场：同上5、空间分辨率：2 微米6、扫描器：由于观察角度的原因，图像仅仅聚焦在视场的中心。复杂的扫描软件选件可以完成从一系列的聚焦设置到存储已聚焦的图像7、入射角 53°8、偏光系统：高品质的Glan-Thompson偏光器9、选件：高功率激光器(绿激光20mW 或r 50mW)；图像扫描特点；马达驱动的角度计调节；马达驱动的高度调节；多种尺寸和版本的LB槽；有三种可替换物镜备选；防振台。10、尺寸（H*L*W,cm）：仪器：40.2*22*27.7 头部测量：7.2*5.7*16.211、重量（kg）: 10二、主要特点：1、在手动调节能满足的情况下，没有必要加装马达调节2、设计优良的光学系统可以使用不太昂贵的激光器，同时又不牺牲图像质量3、更加灵敏的照相机降低了对光线强度的要求4、更大的数字光圈降低了对光线亮度的要求5、高品质的物镜，如配有高品质的防反射涂层，最大程度地降低了对光源的要求6、高品质的激光器可以在较小的总功率提高光强和面积的比率，从而避免使薄膜或基底过热。7、只用高品质的Glan-Thompson偏振器。高品质偏振器的偏振化率是10-8的，确保能够得到最高品质的图像。8、软件是用户友好的，配备高级图像处理工具，能够提供更多来自于图像的信息。9、对用户友好的硬件和软件工具使仪器的安装和对准变得容易和快捷。

新一代布鲁斯特角显微镜----液相薄膜实时全聚焦成像研究，自组装薄膜分析的利器优秀的显微分辨率，1微米的横向分辨率让液态薄膜分析轻松自如搭配全聚焦超物镜实现实时全聚焦成像，独特的离轴成像功能实现优秀的成像质量，让细微的薄膜演化过程都无所遁形功能强大的薄膜分析软件，实现各种Langmuir单分子膜和吸附膜的图像化分析。实现对自组装单分子层的高分辨和全聚焦实时成像，也可以应用于介电质基片上的薄膜：如玻璃，石英以及其他基片上的LB膜基于铝合金框架结构，垂直位置可调以适应各种液相样品高度，高精度的垂直方向马达保证对液体表面精确聚焦。自动垂直位置跟踪技术：根据液面高度变化自动调整聚焦，再也不用担心蒸发导致液面下降独特的仪器对准方式：通过整个光学头的角度倾转实现对准，轻松实现水平面对准气/液界面和液/液界面薄膜对震动的高度敏感性，新一代布鲁斯特角显微镜标配Halcyonics主动减震平台。高性能CCD相机和专业的校准算法实现反射比的定量测试，以及吸附动力学和厚度变化测量 产品特点 全聚焦实时成像，快照和视频录像功能 优秀的显微分辨率 独特的仪器对准方式：通过整个光学头的角度倾转实现对准，轻松实现水平面对准 实时椭偏对比显微图像让您对您的样品直接观察—测试时能真正实时地“看”到您做的东西。 完备的液相薄膜研究解决方案：气/液界面，液/液界面分析轻松实现 各向异性薄膜成像 图形跟踪功能，实现各种动态研究 可升级到成像椭偏仪，实现薄膜厚度和折光率的精确测定 丰富的系统选件 用以激光安全和灰尘防护实验柜-防止空气流动对液面薄膜测试的影响 主动减震平台：实现各种液相薄膜分析的保证 物镜：2x, 5x, 20x 等多种物镜可选，实现不不同放大倍率 LB膜分析仪（LB槽，膜天平）：实现气/液界面薄膜原位分析 KSV-Nima LB槽（膜天平）联用集成方案 全聚焦超物镜：离轴成像功能，斜角成像时轻松实现快照和视频录像功能 液/液界面光导测量单元：实现液/液界面（如油/水界面）薄膜动态分析 更高激光功率或通过光纤耦合连接外置激光光源源 为时间分辨的实验提供的附加激光光源集成方案 升级到成像椭偏仪，实现薄膜厚度和折光率的精确测量 应用领域 单层膜研究（自组装单分子膜） 畴和有序现象研究 单分子膜转变为多层结构（自组装多层膜）研究 光化学反应，如光致异构化 基片上的LB膜 不同的亚相成分（平衡离子）对单分子膜结构的影响 非荧光显微镜检测的聚合物和其它物质 吸附动力学研究 自组装薄膜原位聚合研究 相分离 乳化 LB膜成膜质量和均一性检测

我们的布鲁斯特角样品架允许使用透射光谱法在不同角度测量薄膜。这些测量用于从产生的干涉条纹中提取薄膜厚度和折射率数据。布儒斯特角样品架还消除了通常遮蔽弱吸收带的干涉条纹。当与偏振器一起使用且位于布鲁斯特角时，p-偏振光通过反射最小的表面传输。特征以布鲁斯特角或FT-IR或UV-VIS光谱仪所需的任何其他角度安装薄膜。精确设置和读取入射角的刻度盘。可选安装在紫外可见光谱仪上。与Harrick Scientific的高效线栅偏振器和Glan Taylor偏振器兼容。包括布鲁斯特角样品架。一个样品支架。滑板安装。

布鲁斯特斯特窗口利用材料 的全反射特性，在特定的入 射角度（称为该材料的布鲁 斯特角）入射时，入射光中 S 偏振分量被部分反射，而 P 分量接近全部透射。

Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，适用于制备、改性和研究Langmuir膜。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)与标准槽体的尺寸相同，槽体中配备一个蓝宝石窗口，可通过波长大于200 nm的光线(适用于可见光或紫外光谱)，便于观察表界面的情况。该系列共有五款产品，对于某些尺寸的槽体，可配置带有玻璃窗口的倒置显微镜。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响3. 技术参数4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）.8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：4.2.1 联用或相关分析技术1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围生物膜及生物分子间的相互作用细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）构象变化及反应药物传输及行为有机及无机涂料具有光学、电学及结构特性的功能性材料新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等表面反应聚合反应免疫反应、酶-底物反应生物传感器、表面固定催化剂表面吸附和脱附表面活性剂及胶体配方科学胶体稳定性乳化、分散、泡沫稳定性薄膜的流变性扩张流变界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式—Rtespa 300 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式—Rtespa 300 Rtespa 300，适用于轻敲模式/TappingMode，适用于软硬适中的样品。Tap300：40N / m，300kHz，不对称针尖，铝反射涂层。 布鲁克生产的MPP系列探针，是高性能和高质量成像的AFM探针行业标杆，适用于各种各样的样品。10根一盒装硅探针，用于TappingMode和其他非接触模式，适用于各种AFM。新的Rtespa 系列探针，相较于传统的MPP，进行了技术改良及优化，拥有更好的成像：加工中控制的悬臂几何尺寸、锐利的针尖，减小了AFM最小可检测尺寸，更长的针尖减小挤压膜阻尼。 新的设计改进了以下几方面:?更严格的尺寸规格，以改善探针的一致性?针尖与悬臂的更紧密结合，使激光更容易定位?改进探针质量和外形?该探针适用于任何AFM，若需要无铝涂层，请选择RTESP-300。 详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在广泛的应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节 和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差1%，真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到最好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了最低的噪音和热漂移水平。 AFM终极性能 Dimension FastScan AFM 优秀的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业领先的针尖扫描技术的最新革新，配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往最先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的Dimension AFM平台，三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能，保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术，模式和模式增强功能，Dimension FastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA&trade 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章，Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信，进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制，及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时，高精准度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选，这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail：

布鲁克始终致力于使任何技术水平的用户都能更轻松地使用先进技术。LUMOS II 傅立叶变换红外显微镜始终秉承这一信条。它的硬件、软件和用户界面都是围绕这个理念构建的，即使是初学者也可以在最短的时间内获得出色的结果。为什么？因为傅立叶变换红外显微成像技术的普遍适用性提供了太多的优点，这些优点即使使用复杂设备也很难获取。LUMOS II 使傅立叶变换红外显微和成像更快、更容易、更好 — 而且更有趣！技术事实焦平面阵列 (FPA) 检测器凭借无与伦比的速度和准确度，FPA 检测器在红外光谱成像方面奠定了最高基准。 PermaSure+ 优势PermaSure+ 可确保稳定的性能并持续监控所有光谱仪参数。此外，它通过逐像素激光波数校准（专利申请中）提高了仪器的效率。 可视化检查LUMOS II 令人印象深刻的是它的视野有 1490 x 1118 μm2,也提供了一种亚微米 0.6 μm /像素的空间分辨率。 检测器灵活性LUMOS II 配有三个检测器位置。TE-MCT 非常灵敏，不需要液氮。当然，也可以使用 DTGS 和液氮冷却的 MCT 检测器。 自动化为了实现最高精度，LUMOS II 完全由电机驱动，通过软件控制。只需单击一下即可切换光阑、检测器或测量技术，并确保您的硬件完全准备好进行分析。 无需吹扫在许多工作环境中供应干燥空气或氮气可能非常麻烦。LUMOS II 光学元件紧密密封，能够抵御环境变化，无需干燥空气吹扫。标准的 ZnSe 光 学元件使 LUMOS II 可以完全抵抗高湿度。 无需液氮也许并不是所有 FTIR 显微镜用户都能方便的使用液氮。这就是为什么LUMOS II 配备了 TE-MCT 检测器，它不需要液氮，但与DTGS相比仍然为灵敏的单点测量提供了卓越性能。 低功耗现代精密电子元件和硬件组件降低了 LUMOS II 的功耗和运行成本。各组件使用寿命长LUMOS II 只使用最高质量的材料。这就是为什么我们能为中央光谱仪组件（干涉仪、激光器、光源）提供延长保修的原因。 占用体积小，易于取放样品LUMOS II 不仅采用最新技术。此外，它还针对拥挤的实验室环境进行了优化，并提供了非常方便的取样进出通道。真正的通用抽样LUMOS II 提供了为显微镜制备样品所需的所有配件。即使是复杂而敏感的样品也可以快速进行分析。例如，特殊的锗半球可以获得特别粘稠、易脆或柔软材料的 ATR 成像。用不同类型的支架可以分析片剂、红外透明窗片、过滤片、层压板或非常大的样品。LUMOS II 可轻松处理高达 40 mm 的样品。由于可自由取放的样品台，您几乎可以将任何东西放在显微镜下，仍然可以获得完美的结果。除此之外，它还配备了标准的目视分析工具，如偏振器、暗场照明和其他对比度增强功能。FTIR 显微技术和成像的应用多样性非常显著。无论是产品开发，故障分析还是识别古代文物的成分，LUMOS II 都能以优雅和高效的方式完成所有工作。 符合药品法规LUMOS II 及其软件满足 cGMP、所有主要药典的严格要求，并遵循 ALCOA+ 原则。此外，广泛的用户和签名管理功能使管理变得简单，而所有数据都以其原始形式安全存储，并符合 21 CFR 第 11 部分。

Dimension XR系列扫描探针显微镜仪器，集成了过去几十年的研究和技术创新经验，为纳米力学、电学、电化学等先进研究领域的表征工作提供了独有的功能模块方案，使得对空气、液体或电化学环境里的材料和纳米 系统的定量表征更加简便。 AFM -nDMAAFM 首次可以在纳米尺度上研究聚合物样品在流变性相关频率线性区域的性能，提供完整的定量粘弹性分析。专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率追踪技术在流变相关的0.1 Hz至20 kHz频率范围内进行小应变测量，获得与宏观DMA分析相符的存储模量、损耗模数和损耗角正切值等性质。专有的数据立方体模式这些模式利用快速力阵列模式在每个像素点中执行力曲线测量，并具有用户定义的停留时间数据采集。使用高速数据捕获功能，在停留期间执行多种电学测量，从而在每个像素上产生电学和力学谱。数据立方体模式在单次测量中提供完整的表征，这在商用AFM中是闻所未闻的。所有模式、所有环境的高分辨率无论是在液体环境中获得样品真原子相，还是在空气中获得样品模量和导电性的原子级分辨率分布，Dimension XR系统在所有测量中都能提供最高的分辨率。它们使用布鲁克专有的峰值力轻敲技术在各种软硬样品上的性能表征已成为行业标杆，包括聚合物中的分子缺陷或晶体中的缺陷。同样技术也被用来分辨粗糙玻璃上的精细起伏结构，且具有惊人的稳定性，在数百次扫描后还能保持最初的分辨率。Dimension XR系统将峰值力轻敲模式与极致稳定性、独特的探针技术和布鲁克数十年的针尖扫描创新经验相结合，在各种尺寸、重量或介质的样品上，在任何应用中都实现了稳定的最高分辨率成像。峰值力扫描电化学显微镜具有纳米级空间分辨率的峰值力轻敲扫描探针显微镜重新定义了液体中纳米尺度下电化学过程表征。峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜在数量级上显著改善了与传统方法的分辨率。这使得对能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的更全新研究，为单个纳米粒子、纳米相和纳米孔进行新测量打开了大门。只有峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜能同时形貌、电化学、电学和力学分布图，并具有纳米尺度的横向分辨率。

布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的解决方案Dimension Edge&trade 原子力显微镜采用新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于高水平。基于Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了优质的AFM性能 布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统 既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 布鲁克Dimension Edge 扫描探针显微镜系统 既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。

Dimension FastScan Bio 原子力显微镜 （AFM） 可实现生物动力学的高分辨率研究，实时样品观测的时间分辨率高达每秒 3 帧。更重要的是，它同时使AFM比以往更容易使用。Dimension FastScan Bio AFM 以世界最先进的大样本 AFM 平台为基础，增添了专门的生物样品表征功能，用于对分子间相互作用、膜蛋白、DNA 蛋白相互结合、细胞间信号传输和许多其他动态生物学研究，进行高分辨率、活样观察。 作为生物学研究快速发展的一个分支，在纳米级分辨率下的原位高分辨动态研究已成为现实。Dimension FastScan Bio 打破了长期的障碍，能使这类实验成为常规。这些突破使更多的研究人员能够观察和研究生物分子结构和机制。FastScan Bio 的高分辨率和快速扫描为观察分子、蛋白质、DNA、RNA、活细胞膜和组织以及许多其他动力学研究提供了最佳的生物研究工具。 FastScan Bio 创新的 AFM 技术可实现高速扫描和无缝用户界面，从而即时平移、缩放和连续跟踪液体环境中的样品。布鲁克全新的探针设计具有独特的悬臂形状和涂层，实现了成像速度和软探针的更进一步的结合。因此该系统提供高时间、空间分辨率研究所需的扫描速度，具有商业 AFM 系统有史以来最简单的易用性。简化进样和控制，实现即时成像实时平移、缩放和扫描特征跟踪和影片创建工具带可控液体交换的微体积液体池

Dimension FastScan Bio原子力显微镜Dimension FastScan Bio 原子力显微镜 （AFM） 可实现生物动力学的高分辨率研究，实时样品观测的时间分辨率高达每秒 3 帧。更重要的是，它同时使AFM比以往更容易使用。Dimension FastScan Bio AFM 以世界最先进的大样本 AFM 平台为基础，增添了专门的生物样品表征功能，用于对分子间相互作用、膜蛋白、DNA 蛋白相互结合、细胞间信号传输和许多其他动态生物学研究，进行高分辨率、活样观察。实时平移、缩放和扫描允许研究人员观察和研究生物分子的工作机制。简化进针和控制提供简单而即时的纳米级生物成像。智能进针算法为使用商业化或定制探针提供灵活性。特点高分辨率生物动力学作为生物学研究快速发展的一个分支，在纳米级分辨率下的原位高分辨动态研究已成为现实。Dimension FastScan Bio 打破了长期的障碍，能使这类实验成为常规。这些突破使更多的研究人员能够观察和研究生物分子结构和机制。FastScan Bio 的高分辨率和快速扫描为观察分子、蛋白质、DNA、RNA、活细胞膜和组织以及许多其他动力学研究提供了最佳的生物研究工具。(1：1) DOPC/DPPC 上的平面脂质双层的AFM图像序列。以每秒 0.16 帧的速度录制的连续图像显示了更高层的 DPPC 凝胶相的稳定性，以及FastScan在高速扫描下的力控制的高灵敏度。成像是在水性条件下轻敲模式&trade 测量的。显示图像为高度图。（图像大小 = 3μm Z 标尺 = 3.2nm.)专为活样品设计的技术FastScan Bio 创新的 AFM 技术可实现高速扫描和无缝用户界面，从而即时平移、缩放和连续跟踪液体环境中的样品。布鲁克全新的探针设计具有独特的悬臂形状和涂层，实现了成像速度和软探针的更进一步的结合。因此该系统提供高时间、空间分辨率研究所需的扫描速度，具有商业 AFM 系统有史以来最简单的易用性。简化进样和控制，实现即时成像实时平移、缩放和扫描特征跟踪和影片创建工具带可控液体交换的微体积液体池

原子力显微镜探针(AFM探针)，是原子力显微镜（AFM）设备非常重要的配件耗材之一。我司提供的布鲁克AFM探针具有多种款式和型号，能够满足多种应用领域中的原子力显微镜（AFM）解决方案。 在实验中，用户所得到的数据通常取决于探针的质量和探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制和质量测试，具备AFM领域的专业背景，不仅能够为当前的应用提供测试结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 目前，布鲁克原子力显微镜（AFM）已被广泛应用于生命科学、材料科学、半导体、电化学等领域的纳米技术研发，应用广泛，因此所配套的探针种类也在不断增加，为了帮助客户能够便捷的选择出适合测量需求的探针型号，可通过以下的探针选型指南来更快速的找到更适合的探针类型。 原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN探针选型指南一、AFM探针简介每个探针都由三部分组成：tip（针尖），cantilever（悬臂梁），substrate（基片）大部分材料都是硅或者氮化硅。一般悬臂梁的形状有：矩形和三角形、Special。1）悬臂的主要参数有：spring constant（弹性系数）、resonance frequency（共振频率）、悬臂长度（宽度厚度等）、悬臂形状、悬臂的镀层、悬臂材料、悬臂梁的数目等；2）针尖tip的主要参数有：tip radius、tip geometry、tip coating、tip height等；3）不同的探针具体有不同的用途， 所以我们也从适合的样品（sample）类型、适合的AFM机型（包括非Bruker品牌的afm机型）、适合的工作模式（work mode）、适合的应用（application）对探针做了分类，可以在探针左边的帅选栏里进行相应的筛选和查询。 二、如何挑选AFM探针：1）确认待测物 如：高分子、无机物、细胞........2）确认AFM应用模式 形貌、电性、液下成像、力曲线............3）确认扫描的精度 挑选合适探针针尖1nm、2nm、7nm、10nm........?4）确认共振频率和弹性系数 取决于扫描速度、工作模式、待测物软硬度等信息注：目前网站中所展示的是较为常见的探针系列及型号，除此以外的一些 bruker（布鲁克）探针型号，如：PFQNM-LC 、PEAKFORCE SECM 等，未在网站上进行展示，如需提供报价或者具体参数，请与我公司联系，联系方式可见上方“联系我们”。 三、以下是针对大部分探针系列的简要说明：关于不同系列探针后面的 A，AW，W；-HM，-HR，-LM 等标识的说明，具体如下：1）AD 系列探针，金刚石镀层导电硅基探针，一盒 5 根。根据频率和曲率半径的不同，有不同的型号。2）CDP 和 CDR 系列、EBD-CD 探针，主要用于 insight（全自动原子力显微镜）机型上。3）CLFC 系列探针，tipless&bull CLFC-NOBO 和 CLFC-NOMB 探针，用来做 calibration，用其自身已知的悬臂 Kref（弹性系数）值来校准未知探针悬臂的 K 值。&bull 要校准的悬臂的弹性系数一般应该在 0.3Kref4）CONTV 系列的探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 CONTV，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull -PT 表示悬臂前面（含 tip）有 Ptlr 镀层，导电5）DDESP 系列和 DDLTESP-V2、DDRFESP40 探针，导电，有导电金刚石涂层 tip6）DNISP 系列和 PDNISP、MDNISP-HS、NICT-MAP 探针，有手工制作的天然金刚石纳米压痕 tip，都可以做纳米压痕。7）DNP 系列探针，每个型号悬臂背面都有 Gold 镀层&bull -10 表示一盒 10 根针且曲率半径的标称值为 20nm&bull DNP 后面啥数字没有，表示一盒一个 wafer，大概有 300-400 根针，且曲率半径的标称值为 20nm&bull -S10 表示一盒 10 根针且曲率半径的标称值为 10nm&bull DNP-S 后面啥数字没有，表示一盒一个 wafer，大概有 300-400 根针，且且曲率半径的标称值为 10nm8）ESP 系列的探针&bull ESP 后面带 A，表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull ESP 后面带 AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull ESP 后面带 W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating）&bull 只写了 ESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)9）Fastscan 系列探针，专门用在 Dimension FASTSCAN 这个 AFM 机型上10）FESP 系列的探针&bull FESP 后面带 A，表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull FESP 后面带 AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull FESP 后面带 W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating）&bull 只写了 FESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)11）FIB 系列的探针&bull -A 是一盒 5 根，且悬臂背面有 Al 镀层；否则就是一盒 5 根，但悬臂背面无镀层（nocoating）&bull 不同 AFM 机型对应的有不同型号的 FIB 探针，具体请在 AFM 探针筛选中查询12）FMV 系列探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 FMV，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull -PT 表示表示悬臂前面（含 tip）有 Ptlr 镀层，导电13）HAR 系列探针&bull -A-10 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层14）HMX 系列探针&bull -10 表示表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，且悬臂背面有 Al 镀层15）LTESP 系列探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 LTESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)16）MESP 系列探针，导电，悬臂前面（含 tip）有 Magnetic CoCr 导电涂层&bull -HM 表示高磁距 high moment&bull -HR 表示高分辨高磁矩（high-resolution, high moment）&bull -LM 表示 low moment17）MLCT 系列&bull -bio 和-bio-DC 是为生物样品优化的探针，tip 的形状和高度跟 MLCT 不一样，而且-bio-DC 有热漂补偿，因此对于细胞培养和温度变化中测量的生物样品，可以考虑用这款探针。&bull MLCT-FB 的镀层比 MLCT 厚，其他方面和 MLCT一样。&bull -O 表示没有 tip。&bull -UC 表示没有镀层。tip radius 是 20nm18）MSCT 系列探针&bull MSCT-MT-A 只有一个悬臂，只能在 innova 上用。&bull -UC 表示没有镀层。MSCT 相比 MLCT 系列，针尖半径（tip radius 为 10nm）更小。19）MSNL 系列，比 MSCT 和 MLCT 系列的针尖半径更小，只有 2nm。20）MLCT\MSCT\MSNL 系列的探针，有镀层的都是 reflection gold。21）NCHV 系列，虽然参数和 rtesp-300 差不多，但其是性价比高的探针，只能做定性的分析，不能拿来做 QNM。22）NCLV 系列探针也是性价比高的探针23）NP 系列探针&bull -10UC 表示一盒 10 根，且悬臂背面无镀层&bull -W-UC 表示一盒一个 wafer，且悬臂背面无镀层&bull NP 后面跟“G”，表示悬臂前面和背面都有 Gold 镀层；NPG 表示一盒一个 wafer，大概 300-400 根NPG&bull -10 表示一盒 10 根&bull -O10 表示一盒 10 根，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有 Gold 镀层&bull -OW 表示一盒一个 wafer，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有 Gold 镀层&bull NPV-10 表示一盒 10 根，且悬臂背面有 Gold 镀层24）OBL-10 探针，是不能调角度的，悬臂的倾角是±3°，不能装在 Dimension afm 上。25）PEAKFORCE-HIRS 系列探针，tip radius 只有 1nm, 而且频率都是 100KHz 以上，可以做高分辨成像。26）PFDT系列，专门用在有peakforce deep trench工作模式的Dimension icon机型上测Holes/Trenches27）PFQNE-AL 探针，导电，是专门为 peakforce KPFM 模式优化的探针。由于部分参数需要保密，目前可展示的参数不全28）PT 系列是做 STM 模式用的探针29）RESP 系列探针&bull RESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull RESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -10 表示共振频率是 10KHz&bull -20 表示共振频率是 20KHz&bull -40 表示工作频率是 40KHz30）RFESP 系列探针&bull RFESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RFESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull RFESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -190 表示共振频率是 190KHz&bull -75 表示共振频率是 75KHz&bull -40 表示工作频率是 40KHz31）RMN 系列探针，导电&bull 固体金属（Solid Metal）探针，有优良的导电性，并且不会出现金属涂层硅探针所产生的薄膜粘附问题。&bull 根据不同的应用对应有不同的型号可以选择32）RTESP 系列探针&bull RTESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RTESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且 一盒有一个 wafer，大概 300-400 根&bull RTESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -150 表示共振频率是 150KHz，-150-30 属于预校准探针，表示共振频率是 150KHz，且曲率半径是 30nm&bull -300 表示共振频率是 300KHz；-300-30 属于预校准探针，表示共振频率是 300KHz，且曲率半径是 30nm&bull -525 表示工作频率是 525KHz；-525-30 属于预校准探针，表示共振频率是 525KHz，且曲率半径是 30nm33）SAA-HPI 系列 探针，&bull -30 表示是预校准探针，曲率半径为 30nm&bull -SS 表示超尖探针，曲率半径的标称值为 1nm预校准的探针有：&bull SAA-HPI-30： 0.25N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-150-30： 5N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-300-30： 40N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-525-30： 200N/m, k certified, controlled end radius,一盒5根34）SCANASYST 系列探针，专门为 SCANASYST（智能模式）优化的探针35）SCM 系列探针，导电，悬臂前面（含 tip）有 Conductive PtIr 或Conductive PtSi 镀层36）SMIM 系列探针，导电37）SNL 系列探针，&bull -10 表示一盒 10 根；&bull -W 表示一盒一个 wafer，大概 300-400 根38）SSRM-DIA 探针，导电39）TESP 系列探针&bull TESP 后面跟后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull TESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull TESP 后面跟“D”，表示 DLC 涂层硅探针，其表面硬化类的金刚石(DLC)涂层，目的是为了增加 tip 寿命，且一盒 10 根&bull TESP 后面跟“DW”，表示 DLC 涂层硅探针，其表面硬化类金刚石(DLC，Diamond-LikeCarbon)涂层，目的是为了增加 tip 寿命，且一盒一个 wafer&bull TESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -HAR 表示具有高纵横比(HAR)探针，是具有高/深几何形状的样品在进行 tapping 模式成像下的理想选择。&bull -V2 表示高质量、新设计的探针&bull -SS 表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为 2nm，且一盒 10 根&bull -SSW 表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为 2nm，且一盒一个 wafer40）VITA 系列探针，做热分析或者做扫描热分析的探针，具体可以通过探针网站搜索对应 的型号和参数、适合的 AFM 机型等信息。41）VTESP 系列探针是 visible apex 形状的探针，tip 在悬臂前端，可以用来定位。 OLTESPA-R3，OSCM-PT -R3（导电探针）和 OTESPA-R3，VTESP 系列探针是 visible apex 形状的探针，tip 在悬臂前端，可以用来定位。&bull VTESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层&bull -300 表示共振频率为 300KHz&bull -70 表示共振频率为 70KHz&bull -300（或-70）后面有“-W”，表示一盒一个 wafer&bull -300（或-70）后面有“ ”，表示一盒 10 根

Abberior Instruments 以其灵活的 STED 显微镜平台的出色定制能力而闻名。我们开发了紧凑型 STED 和共聚焦显微镜，称为 STEDYCON。STEDYCON 是一款全新显纳镜（亚纳米级别超高分辨显微镜）在传统荧光显微镜基础上实现四通道共聚焦（405nm , 488nm , 561nm , 640nm) 和 STED (775nm) 超高分辨率系统! 同时，占用空间小，方便任何使用者快速实现高达 30nm 分辨率图像的采集!可安装在任何现有显微镜上 - 可立即升级现有的荧光显微镜镜成为多色共聚焦和 STED。STEDYCON 拥有可变针孔和多达四个检测器（专利的 DynamicPLUS 图像检测）。超稳定 - 我们全新的 STEADYFOCUS模块确保您的图像在几天内仍保持完美聚焦。最高质量 STED 效果 - STEDYCON 使你显微图像分辨率达到 30nm 水平。节省空间 - 难以置信的紧凑型 STEDY CON检测器占用空间只相当于显微相机大小。即插即用 - TSTEDYCON 几分钟即可安装完毕. 它只需要连接显微镜的C口，并且不需要进行光学校准。免售后维护 - STEDYCON 光束预先已完美对准（专利保护的 ' easySTED' 光学校准模式）。图片STEADYFOCUS 模块我们全新的按键式 STEADYFOCUS 全自动聚焦模块是用于 STEDYCON 的基于激光的连续型锁焦模块。它保证共聚焦和 STED 图像在几天实验中无焦点漂移。在显微镜上面，由于它的专用设计，在成像光束里不需要额外的光学部件所以没有任何荧光损失和图像畸变。STEADYFOCUS 全自动锁焦模块支持大量浸液物镜 (水、油、硅油、甘油...)和封片介质(水、Mowiol...) 以及主流正倒置显微镜镜体。同一张图像实现超灵敏和全动态范围我们在 STED 和传统共聚焦应用上使用全新的 DynamicPLUS 功能实现好的效果. 利用 DynamicPLUS , 您能采集到从最细节的点到最亮的点。内含雪崩光电探测器（APDs）有极高的量子效率（高达 69% @ 650nm) 在红色荧光范围. 这意味着当信号水平低的时候, 我们的 APDs 仍能采集大量的光子去形成有意义的图像。典型的应用在更接近生理条件下的低荧光标记密度时的超分辨率STED图像和实验。同时, DynamicPLUS的死时间补偿能采集到高信号标本的锐利图像, 例如明亮的共聚焦图像.当然这样生成的原始图像可进行定量分析和逆卷积运算。适合任何厂家显微镜基于浏览器的跨平台软件STEDYCON 通过 Abberior Instruments 公司的浏览器式软件界面智能控制. STEDYCON 智能控制软件从一开始设计的时候就实现简单安装，交互使用和免维护操作的概念应用。 初学者能在几分钟内采集到超分辨图像。STEDYCON 智能控制软件 Smart control 可支持 Windows，Linux，Apple 系统的电脑甚至平板电脑。

Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释，拥有高的扫描分辨率，优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节 和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。 Dimension Fastscan是世界上首台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。 ■采用低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度100Hz,图像分辨率同样不会降低。■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差1%，真正使Fastscan成为了世界上首台快速扫描AFM。■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到好的激光信号调节。■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了低的噪音和热漂移水平。 AFM性能 Dimension FastScan AFM 的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业的针尖扫描技术的新革新，配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。 杰出的生产力 使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的Dimension AFM平台，三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能，保证您在最短时间内得到测试结果并发表出版。 世界上最灵活的平台 Dimension FastScan 展现出的无与伦比的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。 无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要 出众的性能满足各种应用需求 Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术，模式和模式增强功能，Dimension FastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。 材料成像 FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。 纳米操纵 可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。 加热和冷却 在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。 电学表征 使用专利的模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA™ 和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。 利用最短时间获得高质量可发表数据结果 无论是作为科研交流还是发表科学文章，Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。 样品筛选 利用AFM系统获取大量样品信，进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制，及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时，高准确度成为必备条件。在获取药物配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶药物成分进行筛选，这可能成为FastScan的一个新用途。 动态应用范例 另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。

NanoWizard 4 XP BioScienceNanoWizard 4 XP生物型原子力显微镜在一个系统中可提供原子分辨率，高达150行/秒的快速扫描以及100µ m大扫描范围。即使置于倒置光学显微镜上，对从单分子到活细胞和组织的样品进行长期实验，其具有优异的机械和热稳定性。性能每秒150行扫描速度，100µ m扫描范围理解生物系统的复杂性： 通过精确控制温度、pH值和液体/气体交换触发事件。观察对刺激物的反应和样品的动态变化。高分辨率定量成像生物样品的结构分析和纳米力学表征。精准研究分子机制、生物化学相互作用和细胞力学。灵活性与先进光学显微镜整合与FRET、TIRF、FLIM、FCS、epifluorescence、共聚焦激光扫描和STED显微镜等技术同时进行相关的测量。FEATURES极致性能高分辨成像NanoWizard 4 XP生物型原子力显微镜系统配备了一系列新功能，包括：PeakForce Tapping 技术，轻松实现成像Fast Scanning 快速扫描选项，最高可达每秒150行NestedScanner嵌套扫描技术，实现超高速成像。分辨率和稳定性出众，可成像垂直方向高达16.5微米的表面结构新的Tiling Functionality拼接功能，可自动大样品区域成像 V7软件，拥有基于工作流程的用户界面DirectOverlay&trade 2 软件，用于与先进的荧光显微镜平台，进行完美的数据集成和关联Vortis&trade 2 控制器，实现高速信号处理和最低噪音水平。TAE缓冲液中吸附在10mM MgCl2修饰的云母上定制的DNA折纸框架。样品由布鲁塞尔自由大学的R. Willaert提供。扫描区域：125nm，高度范围： 4.4nm，扫描速率：每秒150行。利用新的Tiling功能对大样品区域进行自动化分析Living Vero cells in cell culture medium at 37°C.利用HybridStage&trade 或机动精密样品台可以直接进入一个大的样品区，自动地、机动地移动到选定的位置、网格和制图区域。从DirectOverlay 2光学校准开始，然后选择一个区域进行光学拼接，大小可达数毫米。精确运动的马达会自动将整个样品带入视野，很容易选择区域和特征进行进一步研究。一次点击就可以从一个点导航到另一个点，或者利用MultiScan实验在选定的点上自动进行一系列的测量。 在37°C的PetriDishHeater&trade 中，细胞培养液中的活体Vero细胞图。630 µ m×450 µ m区域的5×6相衬图像的光学拼接。使用PeakForce Tapping对选定区域进行AFM形貌扫描， 100 μm×100μm的扫描（高度范围5μm）和15 μm×15μm（高度范围2μm）。反馈校正信号图像突出了表面膜的特征，特别是在放大的图像中。微绒毛在细胞中心占主导地位，在细胞边界有膜褶皱。与光学显微镜完美集成，提供真正的关联显微学NanoWizard 4 XP具有独特的针尖扫描技术和快速成像能力，是利用AFM和超分辨率显微镜之间协同作用的理想选择。NanoWizard 4 XP兼容多种光学平台，如蔡司（PALM/STORM，SIM）、徕卡（STED）、PicoQuant（STED）、尼康（SIM，STORM）和阿贝罗（STED）的平台。AFM扫描器的980nm激光允许同时使用光学显微镜和聚焦稳定系统，这对长期实验至关重要，并避免了与荧光或光谱测量的冲突。A549活细胞在37℃培养基中STED和AFM成像。[1] 用硅罗丹明标记的微管的STED与AFM形貌图叠加。[2] 在240pN成像力下的AFM QI形貌图像（高度范围3.5μm）。[3] 相应的QI杨氏模量图像（z范围100kPa）。图片显示了在带有Airyscan的Zeiss LSM 880共聚焦显微镜上的NanoWizard 4 XP [1]，带有用于组织或其他大型样品如器官的直立荧光显微镜（UFM）套件[2]，带有用于高NA光学的BioMAT工作站和Zeiss Axio Imager[3]，带有TopviewOptics[4]以及在带有PicoQuant MicroTime 200 STED的奥林巴斯[5]上。分子、细胞和组织的杰出定量数据先进的QI&trade 以真实的力曲线为基础，为从单分子到活细胞的应用提供了令人震惊的速度和分辨率。定量数据可以精确快速地分析力学或生物化学的相互作用，例如结合点的定位，直接叠加荧光标记和分子识别成像的三维形貌。先进的批处理选项包括用于模量拟合的多种模型，并可通过接触点成像（CPI）揭示零力时的表面形貌。 图片显示了使用CellHesion模块进行的单细胞力谱测量，Z范围增加到100微米，显示了单个A549细胞从纤连蛋白（FN）和牛血清白蛋白（BSA）涂层培养皿中的分离力曲线。请注意，细胞从纤维蛋白上分离的结果是一个非常大的拉动范围，77 µ m。用CellHesion模块做单分子力谱测量[1]-[2] 用HybridStage绘制非癌性人类子宫颈组织的刚度图。覆盖于荧光标记（Hoechst）图中选中区域的复合杨氏模量图，尺寸为1000μm×800μm，由5×4单独区域组成。[3] 右图给出了图2中选中的单个区域200μm×200 μm3D形貌图。样品由德国莱比锡大学T. Fuhs博士和J.A. Kä s教授提供。主要特点具有快速扫描选项，可达每秒150行，可用于跟踪动态过程现在已经标配Bruker独有的PeakForce Tapping技术大扫描范围，100 × 100 × 15 µ m3，且在倒置显微镜上具有原子晶格分辨率全新的基于工作流程的用户界面，符合人体工程学设计，易于操作新增Tiling拼接功能，可与HybridStage一起自动映射大样品区域增强的DirectOverlay 2模式用于精准与显微镜关联全新的Vortis 2控制器，具有高速低噪音DAC和尖端的位置传感器读取技术高的灵活性和可升级性，拥有广泛的模式和配件在Zeiss Axio Observer上的NanoWizard 4 XP生物型原子力显微镜，具有新的用户界面和平板电脑控制

Dimension Edge原子力显微镜 (AFM)系统拥有zui先进的技术，从而使其在运行性，功能性，实用性上达到zui高水平。基于ling级Dimension Icon平台，Edge的设计系统能从上到下产生低漂移低偏离数据，可以在几分钟内完成且达到可发表的数据标准，而不再需要几小时，价格也都低于对于此类程序的预算。特别的是，集成了视觉反馈和预配置功能使得更轻易地得到专家水平的测量结果，也使得zui先进的大样本原子力显微镜的功能和技术可以被用于每个研究室和用户。高实用性封闭环Dimension AFM专有传感器设计利用开环噪音水平实现闭环精确度显著降低噪音和漂移值，将小样品AFM成像程序与大样品平台联合显微镜和电子器件的设计可以使得成像精确度高，成本低适用于任何样品的方案■开放平台入口可容纳各种试验和样品■新仪器设计和软件充分利用AFM布鲁克全套软件模式和技术，已达到更高应用要求的需要■信号路由内置通道使传统测量研究朝着新的方向发展快速、准确、高分辨率的测量结果■可视化反馈线流工作流程可确保短时间优化设置，排除疑虑和后患■高分辨率5兆相机和机动可编程平台可提供快速样品导航和高效多点测量■从观测到zui高分辨过程的无缝转化可达到短时间获得准确结果先进的纳米功能不仅适用于初学者，也适用于专家■革新的组合系统设计带来高性能低成本■带有实验-选择模式的新型版本8软件凝聚了10年AFM专业设置精华■完整平台控制可与强大平台程序一样直观导

Dimension Edge 原子力显微镜 Dimension家族新成员，闭环扫描，极高性价比快速测量、结果准确、图像分辨率高测试范围广，适用于任何样品的测试先进的纳米尺度测量，适用于各技术水平Dimension Edge性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案Dimension Edge™ 原子力显微镜采用最新技术， 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon平台, Dimension Edge系统的整体设计使其 具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。 性价比最高的闭环Dimension系列AFM 专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有 开环的噪音水平。 显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现 了小样品台AFM的成像性能。 显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使 得价格适中。快速，精确，高分辨的测量结果 全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数 5百万像素 的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量 从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡 可在短时间内获得准确结果。适用于任何样品上的任何应用的解决方案开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。 新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。 内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。 先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平 创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。 最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。 完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能 Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格 与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模 块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减 小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作 和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。完备的AFM功能 Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。 电学表征Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名 的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式 与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。

Dimension FastScan世界上扫描速度最快的原子力显微镜扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能 Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。 高效率 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节 和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据 的可信度和可重复性。 高分辨率 Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。在任何样品上均有卓越表现闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。