[color=#990000]摘要：在迈克尔逊激光干涉仪微位移和倾角的精密测量中，需要对真空度进行准确控制，否则会因变形、折射率和温度等因素的影响带来巨大波动，甚至会造成测量无法进行。本文介绍了真空度的自动化控制技术，详细介绍了具体实施方案。[/color][size=18px][color=#990000]一、问题的提示[/color][/size] 作为一种高精密光学仪器，迈克尔逊激光干涉仪得到了非常广阔应用，它可用于测量波长、气体或液体折射率、厚度、位移和倾角，具备对长度、速度、角度、平面度、直线度和垂直度等的高精密测量。但在高精密测量中，迈克尔逊干涉仪会受到气氛环境的严重影响，为此一般将被测物放置在低压真空环境中，如图1所示，并对真空度进行精密控制，否则会带来以下问题：[align=center][color=#990000][img=激光干涉仪真空度控制,500,315]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/01/202201270813137507_5730_3384_3.jpg!w690x435.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center]图1 迈克尔逊激光干涉仪典型测试系统结构[/align] （1）测试环境的气体折射率波动，会对高精密测量带来严重影响。如果采用专门的气体折射率修正装置，测量精度也只能达到微米或亚微米量级，而无法实现更高精度的测量。 （2）如果真空腔室内有温度变化，腔室内的气压也会剧烈变化，相应折射率也会发生剧烈波动而严重影响干涉仪测量。 （3）在抽真空过程中，内外压差会造成真空腔室的微小变形，同时也会造成光学窗口产生位移和倾斜，从而改变测量光路的光程。 （4）在有些变温要求的测试领域，要求被测物能尽快的被加热和温度均匀，这就要求将真空度控制在一定水平，如100Pa左右，由此来保留对流和热导热传递能力。 总之，在迈克尔逊激光干涉仪微位移和倾角的精密测量中，需要对真空度进行准确控制。本文将介绍真空度的自动化控制技术以及具体实施方案。[size=18px][color=#990000]二、实施方案[/color][/size] 迈克尔逊激光干涉仪测试过程中，真空度一般恒定控制在100kPa左右，并不随温度发生改变。为此，拟采用如图2所示的真空度控制系统进行实施，具体内容如下：[align=center][color=#990000][img=激光干涉仪真空度控制,690,411]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/01/202201270813484950_7314_3384_3.jpg!w690x411.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图2 迈克尔逊激光干涉仪测试真空度控制系统结构[/color][/align] （1）采用1torr量程的电容真空计进行真空度测量，其精度可达±0.2%。 （2）采用24位A/D采集的高精度PID真空压力控制器，以匹配高精度真空压力传感器的测量精度，并保证控制精度。 （3）在真空腔室的进气口安装步进电机比例阀以精密调节进气流量。 （4）控制过程中，真空泵开启后全速抽取并保持抽速不变。然后对控制器进行PID参数自整定，使控制器自动调节比例阀的微小开度变化实现腔室真空度的精确控制。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]
1111型[b]超快普克尔斯盒[/b]和1112型[b]超快电光调制器[/b]是目前全球转换最快的美国lasermetrics公司[b]超快电光Q开关[/b]，上升沿时间可达40皮秒，非常适合[b]超快激光脉冲斩波和超快激光脉冲拾取[/b]，锁模激光器脉冲中[b]拾取皮秒脉冲[/b]或[b]拾取飞秒激光脉冲[/b].[url=http://www.felles.cn/keerhe/chaokuai.html][img=超快普克尔盒]http://www.felles.cn/Upload/chaokuai.jpg[/img][/url]其中1111KD*P普克尔斯盒使用一块晶体, 上升时间为40皮秒，光程15mm,而1112KD*P型具有两块晶体,上升时间为85皮秒[i].[/i],光程是22mm, 这样就最大程度地减小时间色散.这两款超快普克尔盒,超快电光Q开关同样使用最优质的KD*P晶体制造而成, 晶体安装在配备熔炉石英窗口的密闭铝制外壳里, 也可使用折射率匹配的液体以减少内部光学界面的反射.[b]超快普克尔斯盒超快电光Q开关[/b]产品参数:型号：FP-1111-KD*P材料：KD*P晶体晶体个数：1光程：15mm净孔径：2.5mm半波电压： 约6.5KV@1064nm反射系数 tr=140ps: 5%上升时间：50ps终端阻抗: 50欧姆阻抗 使用1米长50欧姆阻抗的线连接到调制器上尺寸：光束方向 83W x 48H x 50.8 L mm重量：312g型号：FP-1112-KD*P材料：KD*P晶体晶体个数：2光程：22mm净孔径：2.5mm半波电压： 约3.3KV@1064nm反射系数 tr=140ps: 5%上升时间：100ps终端阻抗: 50欧姆阻抗 使用1米长50欧姆阻抗的线连接到调制器上尺寸：光束方向 83W x 48H x 50.8 L mm重量：312g[b]超快普克尔盒,[/b]超快电光调制器,超快电光Q开关由[url=http://www.felles.cn/][b]孚光精仪[/b][/url]进口销售,[url=http://www.felles.cn/][b]孚光精仪[/b][/url]是中国领先的进口（光学）精密仪器旗舰型服务商！精通光学，服务科学，先后为北京大学,中科院上海光机所，哈尔滨工业大学，中国工程物理研究院，山东大学等单位提供这种优质进口的[b]：[/b]超快普克尔盒,超快电光调制器,超快电光Q开关[b]。更多型号：http://www.felles.cn/keerhe.html[/b]
[color=#444444]PDA与MBA的迈克尔加成反应，红外光谱测定后，怎么分析PDA加成到MBA上啊，MBA与新形成的混合物都有碳氮键，这样的话是不是没法用红外分析啊？求大神指点[/color][color=#444444][img]http://muchongimg.xmcimg.com/oss2/img/2019/0113/w133h4465285_1547370449_377.png[/img][/color][color=#444444][img]http://muchongimg.xmcimg.com/oss2/img/2019/0113/w75h4465285_1547370450_451.png[/img][/color][color=#444444][img]http://muchongimg.xmcimg.com/oss2/img/2019/0113/w133h4465285_1547370450_190.png[/img][/color][color=#444444][img]http://muchongimg.xmcimg.com/oss2/img/2019/0113/w133h4465285_1547370450_994.png[/img][/color][color=#444444][img]http://muchongimg.xmcimg.com/oss2/img/2019/0113/w133h4465285_1547370450_229.png[/img][/color]
在下正在使用杭州德克尔DQK-500氮氢空发生器一体机，可是空气发生器突然压力变的比以前大了，而且自动排水口会不停的拍水，有时排出来的是黄色的液体，还带有油烟味。哪位大虾知道原因啊？有没有德克尔维修点的联系方式啊，或者售后服务电话？
[~121777~]迈克尔逊干涉仪工作视频欢迎下载
视频展示了迈克尔逊干涉仪的结构以及它的工作过程，非常逼真形象！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=83043]迈克尔逊干涉仪工作视频[/url]
迈克尔逊干涉仪主要看什么判断好坏
有没有喜欢迈克尔杰克逊的，听闻他逝世了[em09508][em09508][em09508]
请教一个非常弱的问题：[color=#DC143C]迈克尔逊干涉仪的用途[/color]，红外本来不就是一定波长范围在照射样品吗，与干涉仪的光程差有什么联系，搞不明白，请指点！！！
育碧出的。叫《迈克尔·杰克逊：体验HD》好像apple store 里有，大概几十RMB。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205141902_366955_1786353_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205141902_366957_1786353_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205141902_366958_1786353_3.jpg可惜没PC版，不然我也玩玩。
各位高手:化学纯的丙烯酸甲酯在做麦克尔合成时怎样处理?
当前，微型光纤光谱仪非常流行，受到了众多应用领域的青睐。与大型光谱仪相比较，微型光纤光谱仪价格便宜（仅是大型光谱仪的零头）；携带方便（只有手掌大小）；测量速度快（毫秒级的数据采集，实现在线实时分析）；操作方便，性能稳定可靠（无需专人维护）等长处。因此，在满足使用要求的前提下，微型光纤光谱仪是一种最佳的选择。 我司微型光纤光谱仪的主要功能有：吸光度测量；反射率测量；透射率测量；颜色测量；相对辐射和绝对辐射测量。具体应用包括吸光度测量系统（包括气体、液体、固体的吸光度测量）；颜色测量系统（纸张、油漆、颜料、布料、动物皮肤、植物、光源等等）；膜厚测量系统（感光保护膜、半导体薄膜、金属膜、等离子体镀膜、光学镀膜等）；SLM系列光源测量系统（白炽灯、荧光灯、ARC、HRC、以及发光二级管等光源的各种参数测量）；SMS光照度/辐照度测量系统（光通量、光强、光照度或光亮度测量）；LCS系列LED测量系统（测量LED光源、大型光源的光学、光谱、颜色、纯度等特征信息）；氧含量测量系统（连续测量氧饱和度、总含量、含氧和去氧血色素的浓度）；[color=#00008B][color=#00FFFF][color=#DC143C][size=4]荧光测量系统（测量皮克级的含有荧光团的物质）；[/size][/color][/color][/color]近红外测量系统（糖、酒精、湿度、脂肪等成分的分析）；拉曼测量系统（药物、爆炸物、水质、现场材料的分析，制药监控，石化工业过程控制等）；LIBS2500光纤光谱仪系统（无损地对气体、液体、固体进行定性和半定量的实时元素分析）；PlasCalc等离子监控器系统（监测等离子蚀刻，检查表面清洁处理，分析等离子反应腔控制情况，检测异常污染和排放现象，等离子开发过程的检测和控制，等等）；防晒指数测量系统（化妆品、防晒用品、防紫外服、感光乳剂等的SPF值测量）；量子效应测量系统（量子效率的测量等）。另外，我司还有闪光光解光谱仪（演示化学动力学原理）；各种光源（钨光源、氘光源、氘－钨光源、氙光源、LED系列光源、校准光源等）及各种光纤（普通光纤、中红外光纤、红外光纤、高功率传输光纤、图像传输光纤、医疗光纤等）。 谢谢您的关注！详情请见我司的网站（http://www.psci.cn）或与我联系（电话：0571－88225151－8020，13738178070，Email：zqchen@psci.cn 陈振泉）。
[align=center]SGS解析：CIE A-α测量系统在灯具配光测试中应用[/align][align=left]车用灯具是涉及到车辆和人身安全性的重要部件，其配光技术要求被列为汽车法规或强制性标准检测项目。[/align][align=left]目前，灯具配光测试主要是依据欧洲ECE和美国SAE两种标准体系进行，但在最新发布的2007版国标中，试验方法、项目、要求等已经和ECE法规一致。[/align][align=left]灯具配光测试，是指对灯具或者光源发射出的光在的空间分布进行测量，并显示在定义的角度位置上相对于人眼的可见光的光度特性。[/align][align=left]SGS汽车灯具实验室，采用目前国际最先进的CIE A-α测量系统进行灯具配光测试。该系统在测试过程中，探头保持静止，灯具绕垂直轴（A平面轴）和水平轴（α轴）转动，从而得到整个空间的光强分布。[/align][align=left]该系统探测器的测试距离在1.41m至11.41m之间，灯具装在可绕水平和垂直两个方向选择的转台上。[/align][align=center][img=,690,257]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808161613037693_7441_2883703_3.jpg!w690x257.jpg[/img][/align]在计算机控制下，电机驱动垂直/水平轴线旋转，被测灯具水平转动范围±180°，垂直转动范围±90°，角度精度最高0.01°，光度探头进行测量灯具在该平面上各个方向的发光强度。当一个平面测量完毕后，水平轴电机驱动灯具转过某一角度，然后光度探头再测量另一平面上的光强分布。通过垂直主轴连续旋转，水平轴间断运动，实现灯具在空间各个方向上的光强分布数据的测量。该测试系统，配备高精度快速光谱辐射计（实验室级），可测1μs的极快闪光全谱，0.3%的极高光度线性，到达0.01mcd的极高灵敏度，0.0015x,y的极高色坐标精度， 5.00E-05的极低杂散光水平，覆盖200nm-2550nm的极宽光谱范围。完全满足美国IESNALM-79和中国GB/T 24824等标准要求，可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。在该分布光度计测试系统中，被测LED产品仅绕转到中心转动，环境温度变化和周围气流都比中心旋转反射镜式分布光度计要小的多，若LED产品的散热对燃点姿态不敏感，则LED产品在这类分布光度计中的稳定性较高，能达到很高的光强分布测量精度，相应的总光通量测量精度也会较高。
动态光散射中光子相关谱测量系统的空间相干性问题王少清娄本浊陶冶薇任中京（济南大学理学院济南250022）提要：利用光干涉的简化模型讨论了动态光散射中光子相关谱测量系统的空间相干性要求的物理本质。利用相干面积概念对光子相关谱测量系统空间相干性判据的几种常见表述进行了规范。提出了一种具有普遍意义的简明判据。关键词：光子相关谱；动态光散射；空间相干性；相干面积；信噪比On the Spatial Coherence Problem of a photon Correlation Spectrum Measurement System in Dynamic Light ScatteringWang Shaoqing Lou Benzhuo Tao Yewei Ren Zhongjing(Science School of Jinan University Jinan 250022)Abstract：Using a simplified model of light interference，we discussed the physical essence of the spatial coherence demand on a photon correlation spectrum measurement system in dynamic light scattering.By using the concept of “coherence area”，we standard-ized three familiar statement about the spatial coherence criterion on a photon correlation spectrum measurement system.In the end，we brought forward a general and compendious criterion.Key words：photon correlation;dynamic light scattering;spatial coherence;coherence area;signal-noise ratio动态光散射是研究大分子和亚微米颗粒在液体中动态行为的最有效方法。通过测量悬浮液中散射粒子产生的散射光中的微小频移和角度依赖性，可以获得表征高分子结构的丰富信息，也可以获得纳米微粒的平均流体力学半径和粒度分布。随着激光、微电子和计算机技术的发展，动态光散射技术得到了广泛的应用。由于散射光的频移很小(1-106Hz) ，用传统的光谱分析法难以分辨，所以在动态光散射实验中采用光子相关谱法来获得散射光的频移。图1给出光子相关谱测量的基本实验装置。由激光器1发出的激光经聚焦后照射在样品池2中的散射粒子上，粒子的散射光经光学系统3后进入PMT(光电倍增管) 4 ，PMT 的光电脉冲经过甄别/ 放大系统5 进入相关器6 ，由相关器对光电脉冲进行相关处理后将相关数据输入计算机7 进行数据处理，得所需的信息。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281050_441881_388_3.jpg在光子相关谱测量中，PMT 输出信号1的信噪比(输出信号中涨落部分与噪声部分之比) 大小是测量成功与否的关键因素。而PMT 输出信号的信噪比大小又主要由测量系统的空间相干性来决定。对于光子相关谱测量系统空间相干性优劣的判别标准，不同的文献有各种不同的表述。其中比较有代表性的几种表述分别为：（1）PMT的接受面积为一个相干面积；
2016国产磁测量好仪器系列之五：磁场测量扫描成像系统F-30原创：李响、杨文振、薜立强、冀石磊、郑文京 工程师，北京翠海佳诚磁电科技有限责任公司推荐：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年10月28日一句话推荐理由：国产半导体器件的骄傲之作应用在中强磁场测量上的好仪器。一、引言 磁场无形，但又无处不在，无时无刻不在直接或间接的影响着我们的生活，比如地磁、磁卡、电机、变压充电器、电磁炉、微波炉、手机、磁盘、钞票、耳麦、磁悬浮列车、核磁共振成像仪这些让我们每天都在和各种各样的磁场打交道，然而对于磁场如何衡量，如何产生如何测量恐怕较少有人去关注，简单概括几点：一是磁场的单位，常用的单位是奥斯特，国际单位安每米比较小(1 Oe ~ 79.6 A/m)，注意严格来讲不要将单位表达成高斯或特斯拉这两个磁感应强度单位，因为磁场强度和磁感应强度概念上完全不同，尽管二者可根据(经常以空气或真空的)磁导率相互变换，即1奥斯特磁场在真空或空气中诱导的磁感应强度为1高斯或万分之一特斯拉。二是磁场的产生，首先地球是跟我们关系最密切的磁场源，地表磁场大约为0.5奥斯特，随纬度升高有缓慢增强趋势；其次是为了产生变化磁场，可以通过永磁体机械组装的方式，也可以使用线圈中通过电流的方式，根据线圈材料或结构的不同可以形成不同类型的通电线圈磁场源，比如超导线圈在不消耗能量情况下维持100kOe以上的磁场，高强度导电材料及结构制成的1MOe以上的脉冲强磁场；还有一种和磁场产生相反，要尽可能减少磁场，以防止地球磁场或其他干扰磁场对精密传感器造成不利影响，破坏极端条件探索、精密标定测量等任务，这时要用到消磁措施，可以使用主动电流对消与被动屏蔽两种方法，综合利用消磁技术，我们可以获得比地磁场弱10个数量级的洁净磁场环境。三是磁场的测量，相比产生技术方法，磁场测量要复杂得多，其类型有电磁感应、霍尔、磁阻、磁电、磁光、磁致伸缩、磁共振及非线性磁效应等基本原理，其中值得一提的几个包括最通用且测量范围最广的感应线圈磁探测器、前沿科学探索中常用的超导量子干涉仪(SQUID)、地磁或空间磁场探测中常用的磁通门或原子光泵磁力仪、智能手机里植入的各向异性磁阻AMR芯片、磁场计量常用的核磁共振磁力仪以及跟电磁相关的生产及科研任务中常见的中等强度磁场(地磁场上下四个数量级之间)测量上最常见最常用的霍尔磁场计。以上关于磁场的量级、产生与测量方法比较汇总于图1，在中等磁场强度测量应用最广泛的为霍尔传感器，虽然它没有核磁共振磁力仪ppm级的高精度，但它同时具备足够的精密度(通常约千分之一)、高空间分辨、高线性度、单一传感器宽测量范围、成本又相对较低等明显优势，因而市面上高斯计、特斯拉计等中等强度磁场测量仪绝大多数基于霍尔传感器，本文介绍的磁测量产品也基于霍尔磁场计，在前述磁相关的器件及应用产品的质量控制、监护与升级过程中扮演着不可缺少的角色。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616260_0_3.png图1 磁场的量级、不同产生与测量方法比较概览图二、背景中科院半导体所从20世纪80年代始研究高迁移率砷化镓(GaAs)霍尔器件，后来经过两代人的薪火传承克服半导体材料制备、内置温度补偿器件设计与测量数字化采样及软件优化上的技术难题逐渐发展成熟，最终落地北京翠海公司，形成CH-1800，CH3600等被用户认可的高斯计产品。近些年为了配合电磁制造业质量提升的业界需求，为电机磁体、核磁共振磁体空间均匀性、多级磁体分布提供系统的测量方案，翠海公司在高斯计的基础上增加无磁运动机构和软件集成，开发出F-30磁场测量扫描成像仪，照片如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616259_0_3.jpg图2 F-30 型磁场测量扫描成像设备照片三、简介F-30由上位机（装有控制软件）、高精度高斯计（一维或者三维）、与高斯计搭配的探头、多维电控位移台以及位移台的控制器组成，如图3所示。简单来说可以分为两个部分，一部分只是用来采集数据，另一部分只是位移，两个部分搭配起来就组成了这个位移采集系统。位移模块由多维电控位移台和位移台控制器组成，通过操作上位机软件给控制器下命令，控制器就根据命令带动电控位移台各个轴运动，这个电控位移台的参数（台面大小、运动轴长度、运动方式、多少维度）用户可定制，即实现在允许范围内的各个角度、各种形状的扫描。 数据采集模块由高精度高斯计和与高斯计配套的探头组成，电控位移台的轴上有固定的探头夹持位置，采集数据时将探头放在夹持位置上，探头测量的数据实时上传到高斯计上，而高斯计与上位机软件通信连接，上位机则根据需要选择是否记录当前位置的数据。通过上位机软件控制位移台控制器和高斯计，可以将位移台上某个位置与高斯计读到的数据值相关联，一维高斯计读到的就是运动到的点对应的某个方向的数据值，三维高斯计则是一个点上 X 方向的值、Y 方向的值、Z 方向的值、此点上的温度（根据需要探头和高斯计中可有温度补偿功能）及三轴中两两矢量和、总矢量和的数值大小和方向夹角，扫描的数据可以导出保存在 EXCEl 中，根据位置和数据值可由软件绘制出各种需要的示意图：二维标准图、二维颠倒图、二维雷达图、三维曲线图、三维网状图、三维立体图、矢量图、圆柱展开图及多条曲线或多个立体图放在同一张图中进行对照比较。软件中还对常见的几种形状（空间磁场分布、矩形图、磁环、同心圆等）的扫描进行了集成化，只需设置几个参数便可以自动进行扫描，自由度高，精准度高，无需看管。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616261_0_3.png图3 F-30型磁场测量扫描成像仪组成框图F-30根据不同的测量件需求可以定制，磁场测量部件的主要技术指标如表1，传感器照片如图4，其测量方向、维度以及尺寸都可以根据需要定制。 关于磁场扫描成像时间，（1）常规扫描：每点扫描时间可设置，一般为保证数据的稳定性，在每点的停留时间为1~2s，总时间由测试工件尺寸和扫描步长决定；（2）快速扫描模式：在位移台运动过程中不做停留，通过高速数据采集获得每点磁场值每点测量可小于0.1s。表1： F-30磁场测量部件主要指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616269_0_3.jpg运动部件有三个平移与两个旋转自由度，大致示意图如图5，典型测试场景及系统软件照片如图6所示，运动部件指标表2。表2 F-30运动学指标列表http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images
2016国产磁测量好仪器系列之四：磁电输运测量系统ET-9000原创：刘小军、刘卫滨、李鹏飞 工程师，北京东方晨景科技有限公司推荐：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年9月25日一句话推荐理由：从引进吸收到成功集成改良的磁测量好仪器。一、引言电阻是人们借助电传输能量与信息时必须面临的基本物理现象，它导致电损耗及发热，因而几乎所有的电学材料都有必要考察其电阻率。对于电阻或电阻率的测量比较陌生的读者可以看一篇相关通俗意义的介绍“电阻测量的光与影”。本文要介绍的是磁场下电输运测量，根据加载磁场与电流的方向可以分为纵向磁阻(或简称磁阻效应)与横向磁阻(或简称霍尔效应)。进行磁电输运测量的意义在于磁自由度引入，通过电阻率随磁场的变化规律不仅仅可以用来测量磁场的大小，而且让电阻能展现出更深层次物质结构的信息(比如因晶格或拓扑等因素带来的电子自旋相关的能带结构变化)。其中最吸引人的是电子能量结构的量子化过程，竟可以只是通过简单的通过加磁场测电阻的方法予以揭示，参考图1，如1985年的诺贝尔物理学奖颁发给Klaus von Klitzing的量子霍尔效应、1998年的诺贝尔物理学奖颁发给崔琦等三位物理学家的分数量子霍尔效应、2007年诺贝尔物理学奖颁发给Albert Fert与Peter Gruenberg的巨磁电阻效应以及不久前中国刚公布的“未来科学奖”颁发给清华大学薛其坤的量子反常霍尔效应等奇特量子效应(也有可能在不久的将来获得诺贝尔奖)。因而磁场下进行电输运测量成为凝聚态物理学研究中的家常便饭式的手段。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609291741_612654_1611921_3.png图1 磁电输运测量相关的诺贝尔奖级别工作图示二、背景磁电输运测量相关的仪器虽然很轻松就能实现，但要达到在证明被研究物质的奇特量子性质并不容易。其中涉及到的主要技术不仅仅是电压与电流的稳定测量，还包括磁场的稳定与测量，此外还可能涉及到低噪声的低温甚至光学配件等，因而其综合性导致其从头开始的研发周期较长。几十年来，磁电输运测量仪器主要来自于美国的量子设计公司与Lakeshore两家公司。北京东方晨景科技有限公司从20世纪末开始引进代理Lakeshore公司设备，经过十多年的消化吸收，逐步掌握了国外公司在输运测量、磁场电源、低温等系统集成方面的技术，不仅如此，还针对国外公司在应用过程中的让用户感到不便的软硬件问题，进行了自主的改良研制，逐步形成ET-9000测量系统，系统照片如图2所示，该系统从2010年正式推出至今，明显的增加了国内外磁电输运测量仪器系统的比例(约从20%上升到40%)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609291741_612655_1611921_3.png图2 ET-9000 型磁电输运测量仪器照片三、简介ET-9000系列磁电输运性质测试系统是集霍尔效应、磁阻、变温电阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统，其总体原理框图如图3所示。系统全面地考虑了集成一体性、屏蔽防干扰能力和操作人性化等用户经常忽略的问题，选取了美国Keithley的电测量仪表，高精度高稳定性电磁铁平台，配备灵巧的测量样品杆和快速插拔样品卡，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便地进行电输运测试，并获得准确可靠的数据。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/09/201609291741_612657_1611921_3.png图3 ET-9000磁电输运测量仪器的测试原理框图ET-9000根据不同的材料不同的测试需求分为多种型号，综合各类型号，其主要技术指标列表如下：物理学参数迁移率1 ~ 1 × 106 cm2/vs载流子浓度6 × 108 ~ 6 × 1023 cm-3霍尔系数±1 × 10-5 ~ ±1 × 1010 cm3/C电阻率5 × 10-9 ~ 5 × 106 Ω·cm电学参数电阻100nΩ ~ 100GΩ电流源±0.1pA~±1A(±1.05A@±21V, ±105mA@±210V)电压源±5μV~±200V(±21V@±1.05A, ±210V@±105mA)电流测量±10fA~±1.05A（10pA为最小分辨率）电压测量±1nV~±200V（0.1μV为最小分辨率）磁场环境室温磁场2.6T@10mm间距变温磁场2T@低温恒温器温度（选件）单点液氮盒77K闭循环恒温器4K~325K（4K型），10K~325K（10K型）高温炉325K~1000K其他样品最大尺寸50mm*50mm*3mm样品数量2个（增加选件可扩展到4个）光学配件[
激光干涉仪是以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量，具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。测量长度的激光干涉仪，主要是以迈克尔逊干涉仪为主，并以稳频氦氖激光为光源，构成一个具有干涉作用的测量系统。 激光干涉仪采用一个双光束激光头和一个双通道的处理器，采用飞行采样方式，在测量过程中无须停机采样检测，节约了测量时间和编程时间；利用RENISHAW动态特性测量与评估软件，可进行机床振动测试与分析，滚珠丝杠的动态特性分析，伺服驱动系统的响应特性分析。激光干涉仪的激光头和靶标反射镜二件之间只要发生相对位移就能进行测量，测量系统中无须分光镜、所以对光极其方便。 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来作线性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等测量工作，并可作为精密工具机或测量仪器的校正工作。激光干涉仪可用来精确测量和校准机床、三座标测量机和X-Y平台的机械精度，也测量轴的定位精度、重复定位精度及反向间隙，测量轴的角偏、直线度，测量平台的平面度。
随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。
[b]低频电磁场测量系统NBM550+EHP50F+EF0391 大家有用过这个仪器吗？ 是不是一个主机加两个探头，用来测工频电磁场密度还有工频密度的啊？ 可是我看详细配置怎么是 [/b][list=1][list=1][*][b]电磁辐射分析仪主机，[/b]2.[b]射频电场探头, 3[/b].[b]工频辐射测量仪（可同时测量电场和磁场合；工频辐射测量仪与显示主机连接光纤不小于5m，以避免人员对测量的影响；工频辐射测量仪能够独立测量并存储数据，不需要使用额外的专用主机，可使用普通电脑作为显示单元，独立工作时间不小于24小时。） 这个工频辐射测量仪不是探头吗？ 怎么回事?为什么还是可单独使用并且还能同时测电场和磁场呢？[b][/b][/b][list=1][/list][list=1][list=1][/list][/list][list=1][list=1][list=1][/list][/list][/list][list=1][list=1][list=1][/list][/list][/list][list=1][list=1][list=1][/list][/list][/list][/list][/list][list=1][/list][list=1][/list][list=1][/list]
TD8410 / TD8411 是专用于测量环型、柱型永磁材料表面磁场分布的系统，由计算机及软件、高准确度 A/D 转换、内置数字特斯拉计、高线性霍尔测试探头、和旋转平台组成，具有设计先进、简单实用、操作方便等特点。该系统可对样品的全自动（TD8410）二维或（TD8411）三维扫描，分析样品表面磁场分布情况。[color=#0d0d0d]主要应用[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测样品形状：柱型永磁体、多极磁环、磁瓦、小型电机转子等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]测量表磁参数：极数、极性、磁极的峰值、角度、面积、宽度和半宽高。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]测试参数分析：每个表磁参数的结果中均包含最大值、最小值、平均值、标准差。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]绘制表磁曲线：各极磁环的极坐标磁场分布曲线和二维磁场分布曲线图。[color=#0d0d0d]系统主要特点[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]系统内置高精度数字特斯拉计，测试范围：0 [color=#0d0d0d]～[/color] 20000 G，测量准确度达 ± 0.5% 。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]霍尔探头的传感芯片由耐磨材料封装，材质有弹性不易折断。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]采用万向手臂夹持霍尔探头，使霍尔探头在 X、Y、Z 三个方向都可方便、准确的调节。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]旋转平台采用专业的精密步进电机，细分度可达 60000/360°。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]卡盘及轴承选用进口品牌，同心度达 0.05 mm，运行更加平稳。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]配计算机软件，除设置参数外，所有测量过程全自动完成；测试速度可调，最快可达 12 次 / 秒。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]软件能自动侦测磁极扇区零点，并优化了对电机的控制，使启动和停止点可完美重合。[color=#0d0d0d]扫描平台结构示意图[/color][color=#0d0d0d][img=,690,442]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808011556190138_8208_3123500_3.png!w690x442.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]磁测量及机械性能指标[/color][color=#0d0d0d][img=,690,279]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808011556503378_4789_3123500_3.png!w690x279.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]备注：[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 若样品超出以上内径、外径夹持范围，可另选配卡盘。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 若需要测量[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]ABC[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]密封圈的单极误差和累积误差，可定制。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 外重负载、高细分的旋转平台可定制，最大中心承载[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]50 k[/color][color=#0d0d0d]，最高细分度可达[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]1800 k[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]全自动测量软件[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]全自动控制，智能化判断，最大限度消除人工操作所带来的误差。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]实时显示被测磁场值、及磁场曲线，可实时监控采样波形，并可随时中止测试过程。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]测试数据多单位可选：高斯（G）、毫特（mT）、奥斯特（Oe）。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]可设置报警，可任意设置报警上限、下限；并可选择超限报警后停止测试。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]具有与正弦波对比功能，可将被测曲线与标准正弦波进行对比。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]可自动测量样品的极数、极性、磁极的峰值、角度、面积、宽度和半高宽。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]每一个测试参数的结果中包含最大值、最小值、平均值、标准差。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]可自动绘制样品的 X-Y 坐标磁场分布曲线、极坐标磁场分布图、三维磁场分布图。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]文件管理功能强大。具有自动保存数据，删除数据，清除全部数据等功能。[img=,685,640]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808011557194588_6135_3123500_3.png!w685x640.jpg[/img]
[font=&]一般的，粒度分布测量是通过系统识别和接收光信号来实现的。而光信号的强弱又是由悬浮[/font][font=&]液中的颗粒个数决定的。[/font][font=&]以激光法为例，悬浮液中颗粒浓度越高，散射光信号越强，但随之而来的复散射的现象同时[/font][font=&]加剧，影响测量结果；反之悬浮液中的颗粒浓度越低，虽然复散射现象得到缓解，但信噪比[/font][font=&]下降，代表性也不够，同样影响测量结果。其它粒度分布测量方法的情况也类似，所以在粒[/font][font=&]度分布测量过程中合适的颗粒浓度很重要。[/font]
【序号】：1【作者】： 刘家麟【题名】：基于迈克尔加成含哌嗪结构的交联聚合物制备及其与金属离子络合的功能研究【期刊】：北京化工大学【年、卷、期、起止页码】：2022【全文链接】：https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202201&filename=1022005132.nh&uniplatform=NZKPT&v=hxJv3NMhuDHY-jj4l0AX3Nzwz8LzS540BpAmeGTIX14YK0KG0XqVG210VP0so7Kz
傅立叶红外光谱仪的原理是把光源发出的光，经迈克尔逊干涉仪调制成干涉光，再让干涉光照射样品，由检测器获得干涉图，由计算机把干涉图进行傅立叶变换，得到全波段吸收光谱. 傅立叶变换红外光谱仪在整个检测过程中，只有一个可动镜在实验过程中运动；它的测量波段宽，光通量大，检测灵敏度高，具有多路通过的特点，故所有频率可同时测量；它的扫描速度最快可达60次/秒，因使用调制音频测量，故杂散光不影响检测；因样品放置于分束器后测量，大量辐射由分束器阻挡，样品接受调制波，故使热效应极小；因检测器仅对调制的声频信号有反响，其自身的红外辐射不会被检测器吸收。
荧光粉(俗称夜光粉)，通常分为光致储能夜光粉和带有放射性的夜光粉两类。光致储能夜光粉是荧光粉在受到自然光、日光灯光、紫外光等照射后，把光能储存起来，在停止光照射后，再缓慢地以荧光的方式释放出来，所以在夜间或者黑暗处，仍能看到发光，持续时间长达几小时至十几小时。带有放射性的夜光粉，是在荧光粉中掺入放射性物质，利用放射性物质不断发出的射线激发荧光粉发光，这类夜光粉发光时间很长，但因为有毒有害和环境污染等，所以应用范围小。万一吸进荧光粉，那和吸进灰尘一样。微量的，会被呼吸器官黏膜粘住，再随痰吐出。少量的，可能进入肺部，慢慢随痰吐出。经常吸入，会生“矽肺”。少量荧光粉粘到皮肤，也象灰尘一样，用水洗掉就行了。经常接触荧光粉，或荧光粉浆液，皮肤会变粗糙。荧光粉对身体有一定的辐射，最好不好多接触。无锡超微光学的PPL-100可携式荧光粉测量分析系统可用于先进荧光粉检测制程的荧光粉分析测量，适用于LED产业等领域的应用，搭配专业完善的分析软件，包含：荧光原材料定性分析、光色异常定性光谱分析、基本光色材料光谱数据库、进料规格承认确定等，可依需求储存及打印报表数据，操作简单、携带方便，同时具备快速、简易、精准特性，是目前市面上「最新款、最精准、性价比最高」的可携式荧光粉测量分析系统。
[font=&]【题名】：基于线结构光的三维测量系统关键技术研究[/font][font=&]【链接】： https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=703e4ea245abb38bfe6b21acf00c61cb[/font]
TD8210 是专用于检测软磁材料直流磁特性的装置，由直流磁化电源及精密测量装置、系统级软件组成。该装置可直接绕线测量软磁环样或其他闭磁路样品的直流磁参量，并绘制相关的磁特性曲线，支持模拟冲击法和扫描法二种方式。参照标准：GB/T 13012-2008、SJ/T 1028191、IEC 60404-4、IEC 60404-7、及ASTM A341、A342 等。[color=#0d0d0d]主要应用[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测软磁种类：铁氧体、纯铁、硅钢、镍铁 (坡莫合金) / 钴铁合金、非晶 / 纳米晶合金等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测样品形状：环形样品、E 型 / U 型铁芯等闭磁路样品。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]主要测量方法：支持模拟冲击法和扫描法二种测量方案。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测的磁参量：饱和磁通密度 Bs 、剩磁 Br 、矫顽力 Hc、起始磁导率 μi 、最大磁导率 μm 等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]绘制磁性曲线：基本磁化曲线、磁滞回线等[color=#0d0d0d]功能特点[/color][color=#00b050] ● [/color][color=red]内置一套专用的校准程序，及校准接线端钮，可通过高等级的电流表、磁通校准仪对其进行校准。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=red]磁材的磁特性参数可溯源至电磁学基本量以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=red]标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本装置进行校准。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置内置先进的电子积分器取代传统的冲击检流计，以消除非瞬时性误差。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置具有样品自动退磁功能；电子积分器零点漂移影响极小。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]软件功能强大，可自动保存数据，并可随时查看所有测试参数、曲线/回线及结果。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]在扫描法测量时，因电流的动态范围十分宽广 ( 如 1μA [color=#0d0d0d]～[/color]5 A )，传统设计采用继电器来切换量程以实现电流 (磁场强度H) 的准确测量，在电流扫描过程中触点抖动会引起磁场瞬变，而对磁测数据带来较大误差及磁滞回线不光滑的缺陷。[color=red]因此，我们对励磁部分进行独特而精巧的设计来克服这个缺点，实现了在不用继电器来切换量程的情况下确保超宽范围的电流连续稳定调节和电流量值的准确测量，使扫描法与冲击法的测量结果保持一致。[/color][color=#0d0d0d]系统应用框图[/color][color=#0d0d0d][img=,690,504]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807240958145993_6210_3123500_3.png!w690x504.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]典型磁参量测量的不确定度与重复性[/color][color=#0d0d0d]([/color][color=#0d0d0d]模拟冲击法测环样[/color][color=#0d0d0d])[/color][img=,690,188]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807240958370815_5028_3123500_3.png!w690x188.jpg[/img][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#1d1b11]测量条件：试样应为薄壁环，外径[/color][color=#1d1b11]/[/color][color=#1d1b11]内径[/color][color=#1d1b11] [/color][color=#1d1b11] 1.1[/color][color=#1d1b11]；环境温度：[/color][color=#1d1b11]( 23 ± 5 )[/color][color=#1d1b11]℃[/color][color=#0d0d0d]励磁与磁测量指标[/color][img=,690,231]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807240958583467_9747_3123500_3.png!w690x231.jpg[/img][color=#0d0d0d]一般技术规格[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]供电电源[color=#0d0d0d]：[/color][color=#0d0d0d]AC[/color][color=#0d0d0d] [/color]( 220 ± 22 )[color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]V[/color]，( 50 ± 2 ) Hz[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]工作环境[color=#0d0d0d]：[/color] 0 ℃ [color=#0d0d0d]～[/color]40 ℃，20% [color=#0d0d0d]～[/color]85% RH[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置尺寸：495 mm × 400 mm × 180 mm（长×宽×高）[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置重量：约 15 kg[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]通讯接口[color=#0d0d0d]：[/color]RS232
一、红外光谱仪的种类 红外光谱仪的种类有： ①棱镜和光栅光谱仪。属于色散型，它的单色器为棱镜或光栅，属单通道测量。 ②傅里叶变换红外光谱仪。它是非色散型的，其核心部分是一台双光束干涉仪。 当仪器中的动镜移动时，经过干涉仪的两束相干光间的光程差就改变，探测器所测得的光强也随之变化，从而得到干涉图。经过傅里叶变换的数学运算后，就可得到入射光的光谱。这种仪器的优点： ①多通道测量，使信噪比提高。 ②光通量高，提高了仪器的灵敏度。 ③波数值的精确度可达0.01厘米-1。 ④增加动镜移动距离，可使分辨本领提高。 ⑤工作波段可从可见区延伸到毫米区，可以实现远红外光谱的测定。 近红外光谱仪种类繁多，根据不用的角度有多种分类方法。 从应用的角度分类，可以分为在线过程监测仪器、专用仪器和通用仪器。从仪器获得的光谱信息来看，有只测定几个波长的专用仪器，也有可以测定整个近红外谱区的研究型仪器;有的专用于测定短波段的近红外光谱，也有的适用于测定长波段的近红外光谱。较为常用的分类模式是依据仪器的分光形式进行的分类，可分为滤光片型、色散型(光栅、棱镜)、傅里叶变换型等类型。红外光谱仪的原理在下面分别加以叙述。 二、滤光片型近红外光谱仪器： 滤光片型近红外光谱仪器以滤光片作为分光系统，即采用滤光片作为单色光器件。滤光片型近红外光谱仪器可分为固定式滤光片和可调式滤光片两种形式，其中固定滤光片型的仪器时近红外光谱仪最早的设计形式。 仪器工作时，由光源发出的光通过滤光片后得到一宽带的单色光，与样品作用后到达检测器。 该类型仪器优点是：仪器的体积小，可以作为专用的便携仪器;制造成本低，适于大面积推广。 该类型仪器缺点是：单色光的谱带较宽，波长分辨率差;对温湿度较为敏感;得不到连续光谱;不能对谱图进行预处理，得到的信息量少。故只能作为较低档的专用仪器。 三、色散型近红外光谱仪器： 色散型近红外光谱仪器的分光元件可以是棱镜或光栅。为获得较高分辨率，现代色散型仪器中多采用全息光栅作为分光元件，扫描型仪器通过光栅的转动，使单色光按照波长的高低依次通过样品，进入检测器检测。根据样品的物态特性，可以选择不同的测样器件进行投射或反射分析。 该类型仪器的优点：是使用扫描型近红外光谱仪可对样品进行全谱扫描，扫描的重复性和分辨率叫滤光片型仪器有很大程度的提高，个别高端的色散型近红外光谱仪还可以作为研究级的仪器使用。化学计量学在近红外中的应用时现代近红外分析的特征之一。采用全谱分析，可以从近红外谱图中提取大量的有用信息;通过合理的计量学方法将光谱数据与训练集样品的性质(组成、特性数据)相关联可得到相应的校正模型;进而预测未知样品的性质。 该类型仪器的缺点：是光栅或反光镜的机械轴承长时间连续使用容易磨损，影响波长的精度和重现性;由于机械部件较多，仪器的抗震性能较差;图谱容易受到杂散光的干扰;扫描速度较慢，扩展性能差。由于使用外部标准样品校正仪器，其分辨率、信噪比等指标虽然比滤光片型仪器有了很大的提高，但与傅里叶型仪器相比仍有质的区别。 四、傅里叶变换型近红外光谱仪器： 傅里叶变换近红外分光光度计简称为傅里叶变换光谱仪，它利用干涉图与光谱图之间的对应关系，通过测量干涉图并对干涉图进行傅里叶积分变换的方法来测定和研究近红外光谱。其基本组成包括五部分：①分析光发生系统，由光源、分束器、样品等组成，用以产生负载了样品 信息的分析光;②以传统的麦克尔逊干涉仪为代表的干涉仪，以及以后的各类改进型干涉仪，其作用是使光源发出的光分为两束后，造成一定的光程差，用以产生空间(时间)域中表达的分析光，即干涉光;③检测器，用以检测干涉光;④采样系统，通过数模转换器把检测器检测到的干涉光数字化，并导入计算机系统;⑤计算机系统和显示器，将样品干涉光函数和光源干涉光函数分别经傅里叶变换为强度俺频率分布图，二者的比值即样品的近红外图谱，并在显示器中显示。 在傅里叶变换近红外光谱仪器中，干涉仪是仪器的心脏，它的好坏直接影响到仪器的心梗，因此有必要了解传统的麦克尔逊干涉仪以及改进后的干涉仪的工作原理。 ⑴ 传统的麦克尔逊(Michelson)干涉仪：传统的麦克尔逊干涉仪系统包括两个互成90度角的平面镜、光学分束器、光源和检测器。平面镜中一个固定不动的为定镜，一个沿图示方向平行移动的为动镜。动镜在运动过程中应时刻与定镜保持90度角。为了减小摩擦，防止振动，通常把动镜固定在空气轴承上移动。光学分束器具有半透明性质，放于动镜和定镜之间并和它们成45度角，使入射的单色光50%透过，50%反射，使得从光源射出的一束光在分束器被分成两束：反射光A和透射光B。A光束垂直射到定镜上;在那儿被反射，沿原光路返回分束器;其中一半透过分束器射向检测器，而另一半则被反射回光源。B光束以相同的方式穿过分束器射到动镜上;在那儿同样被反射，沿原光路返回分束器;再被分束器反射，与A光束一样射向检测器，而以另一半则透过分束器返回原光路。A、B两束光在此会合，形成为具有干涉光特性的相干光;当动镜移动到不同位置时，即能得到不同光程差的干涉光强。 ⑵改进的干涉仪：干涉仪是傅里叶光谱仪最重要的部件，它的性能好坏决定了傅里叶光谱仪的质量，在经典的麦克尔逊干涉仪的基础上，近年来在提高光通量、增加稳定性和抗震性、简化仪器结构等方面有不少改进。 五、传统的麦克尔逊干涉仪工作过程中，当动镜移动时，难免会存在一定程度上的摆动，使得两个平面镜互不垂直，导致入射光不能直射入动镜或反射光线偏离原入射光的方向，从而得不到与入射光平行的反射光，影响干涉光的质量。外界的振动也会产生相同的影响。因此经典的干涉仪除需经十分精确的调整外，还要在使用过程中避免振动，以保持动镜精确的垂直定镜，获得良好的光谱图。为提高仪器的抗振能力，Bruker公司开发出三维立体平面角镜干涉仪，采用两个三维立体平面角镜作为动镜，通过安装在一个双摆动装置质量中心处的无摩擦轴承，将两个立体平面角镜连接。 三维立体平面角镜干涉仪的实质是用立体平面角镜代替了传统干涉仪两干臂上的平面反光镜。由立体角镜的光学原理可知，当其反射面之间有微小的垂直度误差及立体角镜沿轴方向发生较小的摆动时，反射光的方向不会发生改变，仍能够严格地按与入射光线平行的方向射出。由此可以看出，采用三维立体角镜后，可以有效地消除动镜在运动过程中因摆动、外部振动或倾斜等因素引起的附加光程差，从而提高了一起的抗振能力
LMK 98-4 CCD面测量色度亮度计德国的TechnoTeam公司专注于基于影像解析的光度、色度测试系统，其产品在FPD、汽车、航空、夜视显示行业应用广泛，许多国际著名显示器、汽车及协作厂商均选用TechnoTeam 公司的LMK产品作为研发、品质控制的必备仪器。 应用领域 ＣＲＴ，ＬＣＤ，ＰＤＰ，ＬＥＤ，ＯＬＥＤ和背光模组的测试，包含亮度，亮度均匀性和Mura检测 投影系统测试包括亮度，照度，色彩均匀性和色彩Mura检测 马路和现场的照度和色彩评估 色彩过滤器均匀性测试 照度系统光束部分发光强度（辐射强度）和照度（辐照度）测试产品特性ＬＭＫ ９８-4彩色系列是俄IE1394接口的计算机控制的基于ＣＣＤ影像的光度计，辐射计和色度计。它能够捕捉影像并定量地分析这些影像的光和色彩特性。ＬＭＫ９８－4包括： ２级peltier冷却型１４位ＣＣＤ相机 精确设计以符合ＣＩＥ１９３１三色光谱响应曲线的彩色滤镜 从１４mm到３００mm的标准镜头 ＬＭＫ２０００软件，用来控制相机，数据采集，数据分析和测试报告生成。 照度校准光源泉或工厂亮度校准 工厂色彩校准 提高的数据传输和滤光轮技术缩短了光和色彩测试时间 数秒内读取一百万级亮度和色彩数据 测试二维亮度（辐射度），照度，发光强度分布 测试二维CIE（x,y）和（u’,v’）色度和相关色温（CCT）分布 冷却型科学级１６位动态范围ＣＣＤ相机 全功能windows软件，支持自动测试流程和界面开发特性参数测试项目：亮度 L（cd/m2）-色度值x, y 色度座标：RGB，XYZ，sRGB, EBU-RGB, User , Lxy, Luv, Lu’v’, L*u*v , C*h*s*uv, L*a*b, C*H* ab, HIS HSV HSL，主波长，饱和度（纯度），色温ＣＣＤ分辨率：1380（H）*1030（V）像素比：6.45um*6.45um光谱匹配：应于全套滤光片，符合CIE1931色度标准亮度范围：由镜头决定，从0.1~10000 cd/m2 或用特殊滤光片300,000,000 cd/m2色度测试时间：２０秒 在10cd/m2 ３０秒 在1cd/m2亮度测试时间：１秒 在10cd/m2 2秒 在1cd/m2测量精度： ３%（标准Ａ光源） x, y 0.0020 (标准Ａ光源)重复性：2%详细资料请参考附件，或登陆我公司网站http://www.high-jump.com.cn[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=58000]CCD全面色度亮度测量系统[/url]
激光粒度仪测量是接收和识别颗粒对激光造成的散射光来实现的，复散射现象是散射光在传播过程中又遇到其他颗粒并二次或多次散射的现象。 根据米氏散射理论，一定粒径的颗粒产生固定角度的散射光，直接接收和识别这些散射光将得到与之对应的、准确的颗粒直径。如果接收和识别的是复散射光信号，将得到错误的结果，同时降低系数的分辨力。将悬浮颗粒的浓度控制在系统允许的最佳范围内，复散射现象可以将至最低。一般的，粒度分布测量是通过系统识别和接收光信号来实现的。而光型号的强弱又是悬浮液中的颗粒个数决定的。激光粒度仪测试中，悬浮液中颗粒浓度越高，散射光信号越强，但随之而来的复散射现象同时加剧，影响测量结果；反之悬浮液中的颗粒浓度越低，虽然复现象得到缓解，但信噪比下降，所以粒度分布测量过程中合适的颗粒浓度很重要。合理控制浓度，也会会控制复散射现象。在激光粒度的测试中，软件的修正也是非常重要。微纳独创的无约束自由拟合技术，不受任何函数限制，可真实反映颗粒的分布状态。针对激光粒度仪测量中的复散射，软件也可以根据测试样品的浓度对复散射现象进行修正，以达到最准确的测试结果。
二维付立叶变换光学系统的空间带宽积与颗粒大小分析任中京（山东建材学院 250022）提要用付立叶光学原理，从理论与实践讨论了二维付立叶变换光学系统的空间带宽积的物理意义。首次提出了具有重要实用价值的敏感空间带宽积概念并介绍了它的主要应用。关健词光学付立叶变换，空间带宽积，粒度分析二维付立叶变换光学系统最成功的应用领域之一就是颗粒粒度分析。依据付立叶光学原理，通过检测群的付立叶谱，无需颗粒按大小在空间分离，便可实现粒度实时与动态测试与分析，从而开辟了粒度在线分析的广阔前景现在已被广泛应用于建材、冶金、能源、化工等许多领域。此类粒度分析仪与经典的成象光学仪器不同，不能用放大率、景深、清晰度等参数来描述，概括仪器本质特征的参数是空间带宽积，空间带宽积制约着激光粒度仪的测量范围、分辩率、粒度的分级。正确理解空间带宽积，是改进与提高激光粒度分析仪的基础。本文着重探讨空间带宽积的物理意义，及其与颗粒大小分析之间的密切关系。空间带宽积在二维付立叶变换光路中，直径为d的圆孔屏置于前焦面，在平行激光照射下，在后焦面可得到此孔的衍射图样，中心O级衍射谱称为爱里斑，爱里斑半径由下式表示：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281052_441887_388_3.jpg从（2）式可见，衍射物的空间尺度d与衍射空间频谱宽度ρ/λf的乘积为一常数，我们称d*ρ/λf为空间带宽积。为了不失一般性，我们讨论二维付立叶变换系统对任一空域函数的抽样，在空域频域均采用直角座标系。由抽样定理可知，在空域对于带限函数g（x,y）使用间隔为△x△y的寻距抽样，得样本函数：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281052_441888_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281052_441889_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281052_441890_388_3.jpg我们称满足（5）式的抽样间隔为尼奎斯特间隔。（5）式表明尼奎斯特间隔与原函数的带宽之积等于1。此乘积即为直角座标系中的空间带宽积。以上分析表明：小的空间尺寸必然对应着一个宽的频带，换句话说，要测量小颗粒必须要用较宽的频带。如果尼奎斯特间隔大子所测的颗粒，则此颗粒在抽样中将被漏掉，频率将失真。尼奎斯特间隔对激光粒度仪来讲就是该仪器最小可分辩尺寸。激光粒度仪的空间带宽积在激光粒度仪中，由于颗粒群的空间频谱具有中心对称性，因此通常采用同心环状的阵列探测器对功率谱进行抽样。现考察一个半径为r0的颗粒，其透过率函数为http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281052_441891_388_3.jpg（11）式给出了颗粒与其付立叶径向功率谱的敏感空间带宽积。其物理意义是颗粒直径d发生变化时，满足上式的ρm处的功率谱变化最大。敏感空间带宽积在激光粒度分析仪的设计中具有重要作用。敏感空间带宽积的应用敏感空间带宽积在激光粒度分析仪的设计中可用来确定测量的上下限粒径，与颗粒的分级。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281052_441892_388_3.jpg从（11）式还可看出，使用长波长的激光光源或者增大付立叶透镜的焦距有利于扩大测量范围；反之，则有利于提高仪器的分辩率。[s
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