激光剥蚀进样系统

J200飞秒激光剥蚀进样系统（LA）可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用，是Russo博士于2004年创建了ASI公司极力的生产和研发了此款设备，致力于激光诱导等离子体光谱和剥蚀技术在化学分析领域的应用和开发，目前飞秒激光源技术已经应用于医疗领域，用于激光视力矫正手术和白内障手术，J200飞秒激光剥蚀进样系统将飞秒激光源技术可靠性提升到一个新高度，系统采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。技术优势：LA-ICP-MS 的量子级飞跃：J200飞秒激光进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。飞秒级的脉冲宽度使样品直接被汽化，然后去激态形成类似于晶体的纳米级均匀颗粒而被载气输送进ICP-MS，无分馏现象，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是长脉冲激光技术无法达到的。自动测量方案：可以将多个硬件组件指令分组，并及时对它们进行排序，以创建一个Axiom LA采样方案。方案一经创建，之后就可以将它们调出，并将它们组合，以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验，或者复制方案的一部分，将其与新的指令结合起来，以解决新的采样方案。J200飞秒激光剥蚀进样系统（LA）组装方式简单，方便对输气管道进行定期清理，Flex样品室可以容纳直径为4英寸的样品，使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节流动条件和微粒冲洗时间，ICP-MS系统按顺序自动运行，并被精确控制，带来理想的气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体，J200飞秒激光剥蚀进样系统可以提供广角视野和高倍成像，Axiom具有双向通信控制，实现了与您的ICP-MS前所未有的集成级别。

J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源完全消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号，J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。设备特点：1、测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况；2、同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态；3、两个相机提供广角和放大的样品图像和广角图像呈现；4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态；5、系统能完成具有挑战性的化学分析工作；6、确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号；7、剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质。J200飞秒激光剥蚀进样系统技术指标：激光器工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器，343 nm和1030 nm，频率可调10KHz能量控制连续可调光学衰减器，集成激光能量监测单元激光光闸自动光闸保证激光能量稳定激光脉冲能量(激光头输出)150μJ/脉冲 @ 343 nm* ， 1mJ/脉冲 @ 1030 nm激光光斑大小控制3-70微米，结合了自动光束扩展器和狭缝成像光斑大小范围取决于不同设备的型号，可用户自定义光斑大小范围自动X-Y轴100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米自动Z轴35mm行程范围，Z轴可以实现样品自动高度调整，分辨率0.5微米剥蚀点定位红色激光具有更好的信号精度，ASI的自动对焦技术样品图像高分辨率的双CMOS镜头，用于高倍放大和大视野预览，支持光学变焦样品成像光源泛光LED灯，同轴反射光和透明光源，正交十字光气体控制双路数字流量控制器，可选第三个流量控制器（用于氮气或其他气体）电控两向和三向阀，ASI专利气体控制单元样品室Flex™ 样品室具有系列可更换的垫片，适合不同大小的样品Vertex™ 样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力可用户自定义样品固定装置，ASI专利LIBS测量兼容性与ICP-MS通讯在J200和ICP-MS之间实现双向控制LIBS检测器 (仅适用于Tandem系统)Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器仪器软件Axiom LA系统操作软件，ASI专利的TruLIBS™ 发射光谱数据库（用于Tandem系统）Clarity Femto数据处理软件（处理LA-ICP-MS和LIBS的数据，进行定量计算/物质分类）激光安全等级一级激光产品，样品加载区域有光学安全隔离板，激光自锁保护装置系统尺寸70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机)75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器)重量600 lbs [272Kg](仅LA主机)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)供电要求110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A质保所有硬件和软件质保一年，飞秒激光器质保两年认证CE认证可选项LA升级为Tandem系统延保可签署多年质保和服务协议J200飞秒激光剥蚀进样系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高，该设备功能直观、带图形界面，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式，用户简单、方便地操作硬件部件，只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态，不同用户组可赋予不同的使用权限，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。

J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源完全消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号，J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。基本信息：1、认证：CE认证；2、LIBS检测器：3、Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器；4、自动X-Y轴：100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米；5、延保：可签署多年质保和服务协议；6、供电要求：110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A；7、可选项： LA升级为Tandem系统。产品优势：1、与测量样品相匹配的标准物质；2、J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下3、剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性；4、J200LA-fs系列剥蚀样品精度高，且没有热效应。J200飞秒激光剥蚀进样系统有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式，用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式，具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。

一、简介Russo博士于2004年创建了美国应用光谱（Applied Spectra，ASI）公司， ASI公司是一家专门研究激光剥蚀及光谱分析技术的高科技公司，研发人员均为美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）的科研人员。美国劳伦斯伯克利国家实验室具有80多年LIBS技术的研究经验，致力于激光诱导等离子体光谱和剥蚀技术在化学分析领域的应用和开发。 激光进样系统与等离子体质谱连用，组成LA-ICP-MS系统，对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。 二、技术优势l Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器，拥有各种不同波长、不同能量的飞秒或纳秒激光器，可根据您的实际应用需求进行选购；l 创新的模块化系统为独立的LA，LIBS，或LA–LIBS复合系统的配置设计；l 系统传感器，确保激光剥蚀一致性：u 高度自动调整专利技术u 激光能量稳定快门l 双摄像机，一个专用于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察；l 应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能；l 紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；l 双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；l 系统软件：u 硬件部件的全面控制与测量自动化u 多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像u 用于LA-ICP-MS和LIBS分析的强大数据分析模块l 维护成本低；l 升级为LA-LIBS复合系统简单：u 用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件u 满足不同分析要求的三种LIBS检测器选项，LIBS可配置双检测器l 可升级为飞秒激光剥蚀。 三、硬件特点针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统主体包括激光源、激光束传输光学器件、样品室、气体流量控制系统。 自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性考虑到样品表面的形态变化，采用自动调高传感器。可保持精确的激光聚焦，在所有采样点上提供相同的激光能量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由ASI的科学团队开发的一项专利技术。 具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目的(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个好的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。创新集气管设计采用先进的集气管设计，该设计正在申请专利。大限度地减少了脱气，防止了任何烧蚀颗粒的堆积，并消除记忆效应。容易组装，便于定期清洁输气管道。高精度气体流量控制系统气体控制系统使用两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送，并精确控制气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。气体流量控制系统通过双摄像头和先进照明实现样品可视化拥有先进照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能，清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率CMOS成像摄像机，提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存，并用于定位不同的样品位置，使用高倍镜研究样品。 具有三种独立的照明模式，提高图像质量和对比度：扩散式LED光源，透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。清晰、高倍放大的样品表面图像同轴光线不同颜色和强度下的样本图像对比三种LIBS检测器可选，扩展了仪器功能三种不同LIBS检测器可选：(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner光谱仪；(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅光谱仪；(3)同步六通道CCD光谱仪。做为独立的LIBS仪器系统，可同时配备任意两种检测器。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。 四、软件特点直观的图形用户界面（GUI）和强大的数据分析技术Axiom LA具有非常直观、用户友好的界面，可浏览不同的样品区域，并建立灵活的激光采样方案。Axiom LA集成了一个强大的数据分析模块，用于高效分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号。 轻松地创建复杂的激光取样模式Axiom LA有一个大窗口，清晰、详细的显示样品图像。分析人员可以在样品图像上编辑任意的激光采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格点和预先编辑的任意图案。即使是复杂形状的采样区域也可以用图案生成工具突出显示，并精确地分析元素或同位素含量。使用Axiom LA生成采样模式并创建检测自动化的方案双摄像系统轻松导航定位样品激光剥蚀进样系统配备两个摄像头，向分析人员提供样品的广角视野和高倍成像。Axiom允许用户先获取样品的广角视图，然后使用保存的图像导航不同的样品位置，观察高倍放大的选定点。 智能气流控制，大限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能Axiom系统软件具备智能输送和补充气控制功能，允许对每种气体进行设置，气体流量阀的高度同步开关，提供稳定的ICP-MS等离子体条件。预设阀配置可选择氩气或氦气作为输送气或补充气。 从时间解析的ICP-MS信号到完整的定量结果Clarity软件是ICP-MS数据管理和分析工具，分析者可以选择感兴趣的同位素并显示它们的时间分辨ICP-MS信号以进行比较分析，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。上图：在时间分辨ICP-MS信号中选择感兴趣的同位素比较显示和定义时间集成范围右图：用于TRSD评估的平滑的时间分辨ICP-MS信号质谱和LIBS光谱的产生通过计算同位素ICP-MS强度，Clarity复合系统分析软件根据微量元素信息生成代表样品化学指纹的质谱图。LIBS光谱根据主要和次要元素提供特征信息。Clarity复合系统分析软件可借助LIBS光谱和质谱，提供关于主要、次要和微量元素最全面的化学信息。玻璃样品的宽LIBS光谱Clarity复合系统分析软件检测同位素时所产生的质谱用于定量分析的功能强大的校准模型使用Clarity复合系统分析软件，分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行最准确的定量分析。 另外，它使用完整的或特定范围的LIBS光谱、质谱图，分析人员可创建谱库，构建有效、多元的校准模型，以准确检测未知样品的元素浓度。玻璃样品的LA-ICP-MS Li元素校准曲线有效的数据可视化和样品分类复合系统软件允许分析人员执行主成分分析（PCA），并可观察从样品中收集到的一组LIBS光谱和质谱之间的差异。同时，该软件提供名为“光谱学习”（Spectralearn）的可选软件模块。 基于偏最小二乘法判别分析（PLS-DA），“光谱学习”模块将LIBS光谱和质谱作为样品的特征谱图储存在谱图库中。 获得的任何有疑问的物质谱图都可以与谱图库进行匹配，以获得高度有效的样品ID。10个BAS钢标样的PCA可视图(401至410)使用DepthTracker&trade 元素的快速深度剖析在固定点重复激光采样，Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker&trade 能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker&trade 对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。结构薄膜的深度剖面功能强大的2D/3D元素制图Clarity复合系统分析软件提供了一个集成制图模块，可将LIBS强度和时间分辨的ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图。能够将整个周期表中的所有元素从ppb到%的浓度范围可视化。名片上印刷油墨的2D图（LIBS检测C、H，LA-ICP-MS检测Mg, Al, Ti, Sr）

RESOlution 全自动激光剥蚀进样系统这种独特的设计确保您的样品尽可能快速，高效地到达ICP，Laurin Technic激光剥蚀样品池由先前在ANU工作的Mike Shelley开发。 样品池的设计结合了多年的经验和诸多精细的功能以实现优异的性能，探索193nm准分子激光系统，装载Laurin Technic样品池和GeoStar软件， 用以组成合格的LA-ICP-MS系统，使用新的准分子激光技术，实现最长的激光寿命，提高了光学性能，仅需要最少量的激光设备维护。产品优势：1、LA仪器上的离轴相机，用于改进样品成像和定位；2、可与远程用户协作的、免费的、有离线分析点选取功能的软件，提高仪器使用效率；3、带有N2（或其他双原子气体）二级质量流量控制器（MFC）的系统，提高了灵敏度；4、旋转矩形狭缝，用于带状样品的动态高分辨率追踪。RESOlution 全自动激光剥蚀进样系统使用准分子激光技术，可以延长激光的使用寿命，并且提高了光学性能，仅需要少量的激光设备维护，降低了成本，非常的经济实用，高效地到达ICP，恒定体积的双体积样品池，确保您的样品尽可能快速，样品池的设计结合了多年的经验和诸多精细的功能以实现优异的性能，激光剥蚀样品池具有与早期的M50A样品池相同的优异功能，同时具有超过六倍的可及面积。

RESOlution 全自动激光剥蚀进样系统集成了193nm准分子激光剥蚀取样系统，真空（UHV）样品池和3He/4He质谱仪（如右图所示），与ICP-MS联机 的RESOchron使研究人员能够，在单一矿物上快速测定(U-Th)/Pb和(U-Th-Sm)/ He年龄，用于批量分析、灵敏度以及精细表面和薄膜样品的分析，采用排气阀导流不需要的烧蚀材料，以减少对ICP的保养，如更少量的锥体清洗，为用户提供高度精确的分析能力，GeoStar为实现完全自动化工作设计，但也同时提供手动逐点剥蚀功能。基本参数：1、设备尺寸：1190*890*1950mm；2、整机重量：1240kg；3、移动范围：155x105mm；4、能量密度：30J/cm2；5、重复频率：300Hz；6、能量稳定性： 2% RSD；7、平均功率：1.5W；8、脉冲能量:200mJ；9、激光脉冲宽度：5-7ns；10、激光波长：193nm。设备优势：1、可靠的气体处理和优异的激光剥蚀性能；2、可以同时装载薄片和圆形样品靶的组合支架也供选择；3、具有与早期的M50A样品池相同的优异功能；4、通用支架是最通用和灵活的支架，可以装载任意尺寸的样品靶；5、旋转矩形狭缝，用于带状样品的动态高分辨率追踪；6、有离线分析点选取功能的软件，提高仪器使用效率；7、易于掌握，用户培训耗时短，使用方便。RESOlution 全自动激光剥蚀进样系统激光能量密度管理确保在整个工作周内监测样品表面的激光能量密度。连续监测激光的输出能量，可以确保可靠的气体处理和优异的激光剥蚀性能，软件的特殊设计能够轻松实现样品定位：丰富的样品图像和自动马赛克收集将确保您始终选择正确的颗粒、相位或生长环带进行剥蚀，M50A低温样品池在冰芯样品研究上取得了成功（Muller等，JAAS，2011, 26, 2391），因此，低温样品支架将很快应用在S155样品池上。

工作原理激光剥蚀技术LA及激光诱导击穿光谱LIBS相结合，J200接收等离子体发射光进行快速光谱分析，同时将激光剥蚀颗粒高效传输至ICP-MS系统。主要特点：J200具有LA和LIBS双系统测量能力，可以单独运行LA 或LIBS，或者同时运行LA- LIBS复合系统。激光fs 或ns可选。样品自动对焦、高度自动调整、光斑大小调节。可对固、液、气样品进行全元素LIBS快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒或者液体样品直接送入ICP-MS系统，实现ppb级精确分析。可用于分析元素周期表中的所有元素。ASI数据分析软件可在一个数据分析平台进行，分析LIBS和LA数据；可进行快速映射功能。应用领域复杂样本的定性和定量分析制造质量控制:制药、生物技术、电子、太阳能、薄膜等污染控制土壤、植物和矿物分析玻璃、油漆和其他痕迹证据的法医分析材料来源确定学术界、政府和商业企业研究和实验室分析性能指标激光系统最大能量25mJ@ 266nm；能量输出 0-100%可调重现率20Hz，脉宽能量控制光学衰减连续可变光斑大小控制35-250 微米可调(到达样品表面的烧蚀光斑直径)激光光闸自动双光闸，稳定控制激光能量和 LIBS 信号测量激光安全I 级，样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护检测器系统谱宽190-1040 nm测量过程不不受环境温度变化的影响分辨率λ/Δλ高达 6000光谱精度优于±0.05nm杂散光抑制探测器门控门延时为0.5ns-1ms分辨率 0.5 ns样品平台系统全自动 XYZ 行程XY 行程 100mmx100mm，Z 行程 35mmXY 行程分辨率 0.2um，Z 行程分辨率 0.2umXY 行程重现率 0.2um，Z 行程重现率 0.2um速度 0.001-20 mm/s气压可控样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护功能含高效空气颗粒清洁器具备专配 670 纳米激光协助样品高度自动调整功能双 CMOS 相机，广角用于定位采样区域，高倍成像用于观察某一特定区域。并可在电脑屏幕上实时观察样品烧蚀过程样品池-可充氦气或氩气惰性气体保护 锂电池样品需要保持在无水，无氧的条件下进行测量。测量碳，氮，氧，氢，氟等元素时 样品池需要保持在氦气气氛中。操作软件激光自动采样设置单点、网格、光栅状、线性扫描或用户自定义设置数据处理系统包含谱线自动识别功能、光谱处理功能、LIBS 的强度监测、化学统计功能等元素制图及深度分析控制包含84种元素的Trulibs™ 光谱数据库和LIBS NIST 理论数据库（涵盖所有元素）设置预脉冲个数用来清洗样品表面污染物高度自动化的测量功能元素特征线的自动标定、标准曲线建立（单变量和多变量校准曲线）、主成分回归功能可用于样品分类

LA-ICP-MS 的量子级飞跃 J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下，均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的。 LA-ICP-MS 的量子级飞跃 J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下，均匀剥蚀样品成透明状，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，这是采用长脉冲激光技术无法达到的。 减少样品的依赖性，比雾化技术精度高 J200LA-fs系列剥蚀样品精度高，且没有热效应。而采用长激光脉冲的系统，会发生的多种热过程，改变剥蚀样品的数量和化学成分，如改变热特性等；并且无论采用什么波长，如266nm, 213nm 或193nm, 为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质。 J200LA-fs剥蚀均匀一致，剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性，无需高度匹配的标准物质，也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。 均匀一致的粒径确保高精度、高灵敏度测量 长激光脉冲系统产生的样品颗粒大（常大于数微米），驻留在输送管中，导致运输效率低，并且降低了分析的灵敏度。大样品颗粒还会在ICP-MS的瞬时信号中产生峰值，导致测量精度降低。J200系统产生的样品颗粒均匀一致，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，运输效率高。这些到达ICP源的颗粒能完全被消解，产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统。 元素和同位素的分馏最少 在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程：（1）非化学计量物质剥蚀的热过程；（2）大样品颗粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的时间比长脉冲系统短，最短达1/10000。J200LA-fs系统通过非热过程，施加超高激光辐射剥蚀样品，产生的颗粒能在ICP源完全消解，确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号。 高精度元素和同位素测量的保障 ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是世界首个在LA-ICP-MS系统中采用飞秒激光脉冲，并实现其卓越性能的公司。J200LA-fs系统能完成最具挑战性的化学分析工作。来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。使用ASI公司的产品，意味着能直接和世界顶级的研究团队交流，并得到专业的技术支持。 强大的∫ Integra软件与ICP-MS仪器协同操作 J200LA-fs系统软件∫ Integra功能直观、带图形界面，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式。∫ Integra采用双向通信控制，协同操作ICP-MS仪器达到了史无前例的水平。∫ Integra软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集，并通过串联多个“处方”，让系统自动完成各个测量工作。硬件控制简单、方便 ∫ Integra软件使J200LA-fs用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态，不同用户组可赋予不同的使用权限。 获取勾边样品图像，制定复杂的激光采样模式 ∫ Integra 软件提供大的视频窗口，显示勾边的、详细的样品图像。用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。即使是形状怪异的结构，采用∫ Integra的模式工具也可选定，并分析其元素或同位素。 双照相系统扫描样品 J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。∫ Integra允许用户先获取样品的广角图像，然后在图像上扫视不同的位置，高倍放大选定点。 智能气流控制，最大限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能 ∫ Integra具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。 “处方”功能让系统自动运行 用户可将多个硬件部件运行命令集合，并按时间顺序排列，形成∫ Integra“处方”。制定完成的处方，以后也可以调用。多个处方可编制成组，自动顺序执行，使测量工作高度自动化。可简单采用“recall”命令调用“处方”，重复实验，也可复制部分“处方”，结合新的命令，完成新的采样过程。主要技术指标激光器工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器，343 nm和1030 nm，频率可调，最大10KHz能量控制连续可调光学衰减器，集成激光能量监测单元激光光闸自动光闸保证激光能量稳定激光脉冲能量(激光头输出)最大150μJ/脉冲 @ 343 nm* ，最大 1mJ/脉冲 @ 1030 nm激光光斑大小控制3-70微米，结合了自动光束扩展器和狭缝成像光斑大小范围取决于不同设备的型号，可用户自定义光斑大小范围自动X-Y轴100 mm X 100 mm 行程范围，分辨率0.2微米自动Z轴35mm行程范围，Z轴可以实现样品自动高度调整，分辨率0.5微米剥蚀点定位红色激光具有更好的信号精度，ASI的自动对焦专利技术样品图像高分辨率的双CMOS镜头，用于高倍放大和大视野预览，支持光学变焦样品成像光源泛光LED灯，同轴反射光和透明光源，正交十字光气体控制双路数字流量控制器，可选第三个流量控制器（用于氮气或其他气体）电控两向和三向阀，ASI专利气体控制单元样品室Flex™ 样品室具有系列可更换的垫片，适合不同大小的样品Vertex™ 样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力可用户自定义样品固定装置，ASI专利LIBS测量兼容性与ICP-MS通讯在J200和ICP-MS之间实现双向控制LIBS检测器 (仅适用于Tandem系统)Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器仪器软件Axiom LA系统操作软件，ASI专利的TruLIBS™ 发射光谱数据库（用于Tandem系统）Clarity Femto数据处理软件（处理LA-ICP-MS和LIBS的数据，进行定量计算/物质分类）激光安全等级一级激光产品，样品加载区域有光学安全隔离板，激光自锁保护装置系统尺寸70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机)75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器)重量600 lbs [272Kg](仅LA主机)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)供电要求110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A质保所有硬件和软件质保一年，飞秒激光器质保两年认证CE认证可选项LA升级为Tandem系统延保可签署多年质保和服务协议* 通常作用在样品表面的激光能量大约是20-80 μJ 应用案例植物样品表层及深层元素分布 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。 大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。 产地：美国

RESOlution™ Model LR 是澳大利亚ASI公司推出的全新一代高端激光剥蚀进样系统。系统输出能量高，S155样品池设计新颖，图形界面的软件操控，简便易上手。特别适用于地质科学领域同位素分析，U-Pb定年等。RESOlution 193nm准分子激光剥蚀系统拥有完善的设计，提供业界领先的Laurin Technic样品池和GeoStar μGISTM软件。 使用最新的准分子激光技术，实现最长的激光寿命，提高了光学性能，仅需要最少量的激光设备维护。系统搭载的S155样品池是目前市场上唯一的、恒定体积的双体积样品池。 这种独特的设计确保您的样品尽可能快速，高效地到达ICP-MS。GeoStar μGIS™ 软件是为RESOlution仪器专门编写的。它的界面直观，易于学习，新用户能够很快掌握。大量的精细成熟的功能确保研究人员可以容易地编辑激光剥蚀实验序列。 该软件既支持手动选择测试点，也可实现数千个样品点的无人值守全自动运行。软件的特殊设计能够轻松实现样品定位：丰富的样品图像和自动马赛克收集将确保您始终选择正确的颗粒、相位或生长环带进行剥蚀。独特的结构化界面对于用户来说简单易学，同时还有许多实验室人员需要的强大功能：? 完全自动化的仪器控制? 集成的样品表面激光能量密度校准和激光能量管理功能? 可视化样品台校正，提供次微米级定位? 可从任何来源导入图像，如SEM或岩石学显微镜? 与任何ICP-MS联用

New Wave NWR femto——最先进的飞秒激光剥蚀ESLfemto——飞秒激光剥蚀系统分馏效应的最终解决方案 - 减少热效应以达到精确化学计量分析和获得良好的分析数据集成式飞秒激光剥蚀系统，大大推进了LA-ICP-MS中的飞秒激光应用。飞秒激光剥蚀系统，将所有包含其中的组成部分结合成为一个整体，用户只需要通过一套软件，就可以完成对激光、光路、显微成像、样品室控制等所有LA-CIP-MS实验的步骤，使更多实验室进行飞秒激光剥蚀进样实验成为可能，必将对LA-CIP-MS在微区、原位分析的准确性和应用领域扩展产生深远影响。飞秒激光脉冲冲产生超强的辐照度，剥蚀过程几乎不产生热效应，大大降低激光造成的分馏现象。一体式飞秒激光剥蚀系统为用户提供了一个完整的飞秒激光剥蚀解决方案。　　　飞秒激光剥蚀进样系统——紧凑稳固 高能量的Pharos HE飞秒激光源，出自Light Conversion 较小的占用面， 新型加强型紧凑推车 (RUCC) 积，较好的移动性能 紫外和远紫外可选 高清晰度视野 重复频率1-1000Hz 触摸屏设计，广角导航 100mm x 100mm 高性能剥蚀池 ActiveView 2 软件，图片分层管理可选附件 150mm x 150 mm超大LFC样品室 附加软件-加N2 条件下调控质量流量控制器 多路质量流量控制器 用户定制的样品承载件

ESL 激光剥蚀系统租赁服务上海凯来仪器设备有限公司提供设备租赁服务，主要包含用于ICP-MS联机测试的自动进样系统及激光剥蚀系统。租赁方在设备租赁期内，按合同约定拥有租赁设备的使用权。NWR 193UC 短脉宽高频率激光剥蚀系统ESL公司推出的 NWR 193 创造了良好的 LA-ICP-MS 新体验，具备样品导航功能和优越的显微成像系统；具有高性能的大体积样品室，和自动进样功能。 主要用于固体样品的原位分析，和大批量样品分析。主要参数：& 波长：193nm& 频率：200Hz，300 Hz ，500Hz 可选& 能量密度@样品表面：15J/cm2(高能量模式20J /cm2)& 光斑尺寸：1-150μm& IVA：无极可调光斑附件，可按1μm精度选取所有圆形光斑& XYR：矩形光斑附件，可按1μm、1°的精度选取各种尺寸的矩形光斑工业级的完整集成系统注重微区分析特性，适用于缺陷分析和包裹体分析等。具有以下特点：& 显示画面和导航系统& 良好样品处理能力 (快速响应和冲洗)& 准确的分析结果& 光学能量衰减器，控制全程能量输出第三代激光剥蚀系统NWR 193 UC 是第三代高性能193nm激光剥蚀进样系统，为客户提供良好的分析进样工具，具有自动进样，样品导航等独特功能，针对于原位分析和大批量分析应用。 NWR 193系统尤其注重微区特性的设计，光斑尺寸可达1μm，特别适用于瑕疵、包裹体的分析。 NWR 193 高度整合了紧凑型准分子激光器，简单易用，提高了取样分析的效率。NWR 193 的优势& 对193nm激光更高的吸收率极大改进了所有材料的剥蚀效果，包括易碎和容易开裂的矿物。& 光束通过具有专利的匀化器完全匀化，结合特有的光束传导系统，获得极为平坦的剥蚀坑。所有剥蚀尺寸下，具有恒定能量密度。& 剥蚀深度和小到1μm的剥蚀坑，使其成为非常理想的包裹体和薄膜类样品的分析工具。& 产生更加细小的剥蚀颗粒，提高气溶胶传输效率，并较大程度减小颗粒的沉积。& 全自动激光剥蚀软件，包括用于样品导航的广角视野触摸屏幕。可选附件:& 150mm 超大LFC样品室，可定制其它尺寸& 多种可供选择的样品室& 多路质量流量控制器& 用户定制的样品承载件

RESOlution 激光剥蚀系统采用的是193nm准分子激光剥蚀系统拥有完善的设计，实现最长的激光寿命，提高了光学性能，仅需要最少量的激光设备维护，独特的设计确保您的样品尽可能快速，高效地到达ICP，激光剥蚀样品池具有与早期的M50A样品池相同的优异功能，同时具有超过六倍的可及面积，所有气路控制都是完全自动化的，换样方便，保证炬管的安全性。使用强大的脚本语言来定制气路的操控，以符合特定ICP的要求。技术指标：激光剥蚀样品池S155RESOlution型号RESOlution-SERESOlution- LR激光安全符合 FDA / CDRH 21 CFR，I类激光系统，激光完全联锁，完全封闭光束路径。激光波长193 nm激光脉冲宽度5 - 7 ns20 ns内部能量计是（闭环反馈）*脉冲能量12 mJ200 mJ?平均功率1.5 W4 W脉冲能量稳定性 2 % RSD 1 % RSD重复频率300 Hz20 Hz激光器冷却方式风冷风冷能量密度20 J/cm230 J/cm2圆形/方形斑束尺寸2–300 μm*(*可选配激光斑束扩展器)2–380 μm矩形斑束尺寸长度: 2–300 μm*宽度: 2–300 μm*(*可选配激光斑束扩展器)长度: 2–380 μm宽度: 2–380 μm样品台移动范围155 x 105 mm样品台位置再现性 3 μm 2 sigma重量750 kg (1600 lbs.)1240 kg (2740 lbs.)宽度119 cm (47”)179 cm (71”)深度89 cm (35”)89 cm (35”)高度195 cm (77”)172 cm (68”)设备特点：1、采用排气阀导流不需要的烧蚀材料，以减少对ICP的保养，如更少量的锥体清洗；2、具有图像导入功能的软件，有助于识别样品中的复杂结构，如包裹体和增生区；3、在先前只能获得一个年龄的测试时间内，现在可获得多达50个矿物年龄；4、可与远程用户协作的、免费的、有离线分析点选取功能的软件，提高仪器使用效率；5、通用支架是最通用和灵活的支架，可以装载任意尺寸的样品靶；6、快速冲洗时间，卓越的信号灵敏度，整个样品池内信号高度均一较小分馏。RESOlution 激光剥蚀系统可以同时装载薄片和圆形样品靶的组合支架也供选择，以装载任意尺寸的样品靶，同时确保向入射的激光束提供平面，全薄片支架，全圆形样品靶支架以及薄片和圆形样品靶组合支架中根据需要选择，它的界面直观，易于学习，新用户能够很快掌握。精细成熟的功能确保研究人员可以容易地编辑激光剥蚀实验序列，集成的样品表面激光能量密度校准和激光能量管理功能，可视化样品台校正，提供次微米级定位可从任何来源导入图像，如SEM或岩石学显微镜。

ESL213 灵活的激光固体取样系统ESL213激光剥蚀系统结合了 New Wave Research在激光剥蚀领域的丰富经验和前沿科技，提供良好的图像质量和样品导航功能，卓越的样品处理能力和准确的分析结果，创造了优化的LA-ICP-MS新体验。工业级黄金标准 一系列样品室优化设计，适合各种样品 更高的气溶胶传输效率 快速响应/冲洗时间 配置光学衰减器，全能量范围内调节能量第三代激光剥蚀系统NWR 213 是第三代高性能Nd:YAG 深紫外激光剥蚀系统， 波长213nm的激光能被易碎的和透明的材料高度吸收，在样品表面剥蚀出底面平坦的剥蚀坑。213nm的激光波长能剥蚀产生颗粒细小的气溶胶，从而提高气溶胶的传送效率，获得很好的信号灵敏度和很少的颗粒沉积。 NWR 213同时具有深紫外激光的波长优势和固体激光系统简单易用的优点。NWR 213 的优势 样品对深紫外213nm良好的吸收率，使其适用于几乎所有材料，包括容易破碎和开裂的矿物。 平顶谐振腔光束和特别设计的光路传导系统，输出能量分布均匀的光束，产生平坦的剥蚀坑，并在所有光斑尺寸下保持恒定的能量密度。 具有准确的深度剥蚀和小到5微米以下的剥蚀坑 , 是包裹体和薄膜分析的理想工具。 产生更加细小的剥蚀颗粒，提高气溶胶传输效率，并很大程度减小颗粒的沉积。选配附件 150mm 超大LFC样品室 多种可供选择的样品室 多路质量流量控制器 用户定制的样品承载件

ESL193HE——高能量、高功率准分子激光剥蚀系统拥有大的激光能量，能剥蚀绝大多数的材质先进的准分子激光剥蚀进样系统NWR193HE是ESL公司研发出的以高能量准分子激光器为基础的剥蚀进样系统，专门用ICP、ICP-MS、惰性气体质谱、稳定同位素质谱和多接收质谱等仪器的固体进样。激光能量均匀稳定和193nm短波长能很好地剥蚀不透明和高度透明的材质。- COMPex Pro 102高能量激光器，输出波长193nm，容易被难剥蚀材料吸收，如透明的石英材料- 能量密度 50 Jcm2 - 脉冲能量稳定性 1% RSD - 无级可调光斑 (IVA) 提供了2至300μm的光斑选择，功能调节精度为 1μm，多种放大倍数，全部由软件切换 - 旋转矩形光斑(XYR)，用于正方形和矩形光斑的剥蚀 - 独特的光束匀化器， 剥蚀坑形态和平整度都很好 - 100mm x 100mm，TwoVol2 剥蚀池 - 高锐度显示画面 - 触摸式导航显示屏，广角导航，兼容所有样品室 - 激光光源阶段式触发 - 全新ActiveView2软件（包括图层管理和高速自动聚焦）

LSX-213 G2+ Nd：YAG激光剥蚀系统 品牌介绍TELEDYNE CETAC TECHNOLOGIES专属的激光剥蚀/烧蚀品牌PHOTON MACHINES，起源于历史悠久的商业化激光剥蚀/烧蚀公司MERCHANTEK公司，具有丰富的激光剥蚀/烧蚀产品设计、研发、制造经验，尤其具有极其丰富的激光剥蚀/烧蚀的应用经验。PHOTON MACHINES品牌激光剥蚀/烧蚀系统具有完整的产品线，为全球元素分析用户提供先进的激光剥蚀技术。 应用领域 环境样品分析 物证样品分析农产品样品分析同位素定性分析生物样品分析大体积进样定量分析地质样品分析样品缺陷分析同位素分析 元素分布图绘制分析透明和半透明样品分析深度剥蚀分析样品种类：方解石；金属合金；透明和半透明类样品；骨头、牙齿和皮毛等；陶瓷；塑料；涂层/镀层；动植物组织等。产品综述LSX-213 G2+采用技术优化的光路设计。使用皮实耐用、且经过多种苛刻验证的LSX-G2平台，提供超级稳定的光学性能和工作稳定性。提供常规分析所需要的所有性能指标，操作成本低，易维护。LSX-213 G2+内置性能良好密闭的泵浦灯和MIL一SPEC标准设计制造的激光源，给操作者带来超级稳定的激光能量和极少的维护成本。配备了高精度独立减震光学平台后，LSX-213 G2+能够在多种苛刻环境中进行多种样品分析。LSX-213 G2+采用了高新技术的高性能硬件和高精度光学部件设计制造，能够提供极好的光学分辨率，达到清晰的观察效果的同时具有宽泛的视野。配备高质量、多阵列和亮度可调的透射照明和反射照明系统，确保在极大放大倍数下也能清晰观察样品。LSX-213 G2+ 简洁实用的结构设计，不仅提供稳定的性能，同时具有良好的易维护性。采用开放式样品池位置设计，能够兼容多种样品池，并支持用户定制样品池。软件控制内置光圈自动切换，剥蚀斑点直径范围4μm一200μm；系统实现与ICP双向通讯，实时调整能量、斑点大小和扫描速度等参数；CETAC产品为您提供便利高效的工作过程，实现定点——剥蚀——分析的三步目标。性能参数激光源和光路单元五倍频213nm Q-switched控制的Nd：YAG固态激光源，激光能量＞4mJ/pluse，＜5ns的脉冲宽度。＜3%的脉冲稳定性平顶激光技术，达到良好的剥蚀坑激光光路和观察光路独立设计，防止机械震动干扰和热源干扰，具有极强的稳定性输出能量可调，脉冲频率可调(1-20Hz)剥蚀斑点范围(4-200μm)完全密闭但易维护的激光源设计 视频观察单元计算机控制，连续调节的等焦面共焦点设计，显微光学放大(2.6x-32.5x)观察视野(＜6mm)，光学分辨率(＜2μm)高强度LED阵列反射透射和泛光照明系统计算机控制的上偏振系统，标配下偏振系统 取样单元可拆卸易维护的样品池石英窗设计开放式样品池位置设计，可灵活多变使用多种样品池可选，含HelEx双体积双气路涡流样品池XY平台步进分辨率达到0.16μm/step

ESL imageBIO266 专为生物成像应用设计的激光剥蚀系统——为生命科学而生第一台为生物成像设计的激光剥蚀进样系统到目前为止，传统的激光剥蚀系统已得到了广泛的应用。生物成像需要较低的通量，较好的稳定性和优良的样品输送。imageBIO266是专为LA-ICPMS高分辨率、高速生物成像而设计的。此产品主要用于实现医学研究用生物薄片等样品的组织元素成像及单细胞基本成像等应用。主要特征： – 亚微米级剥蚀，可用于单细胞成像– DPSS激光源有长期稳定性和可靠性 266nm ，1-1000Hz，样品表面通量6J/cm2– 20倍物镜放大倍数，可用于观察和扫描亚细胞样品– 标配可旋转矩形光斑（XYZ） – TwoVol2为标准。DCI冲洗时间下降到30毫秒，2%空间再现性– TwoVol3可选。在TOF速度下，用纳米级级的超快速冲洗进行亚微米分辨率成像– 矩形剥蚀坑匹配采样和成像像素形状– 高分辨率显示系统

仪器简介：激光剥蚀/激光烧蚀产品线源于全球行业翘楚之一的Photon Machines团队（缩写PMI），其第一代产品于1995年问世，该品牌具有丰富的激光剥蚀产品设计、研发、制造及应用经验，产品线涉及213nm固体激光、193nm准分子激光、飞秒激光系统（与ICP-MS联用），及CO2和二极管激光熔融系统（与惰性气体同位素质谱联用），此外多种高性能配件与更加直观的分析软件能够增强并完善系统的功能，足以为全球元素分析用户提供先进的激光剥蚀技术。仪器特点：&bull 适用于高速成像应用的专用准分子激光剥蚀系统&bull 300&500Hz 激光器，提供了可靠性和性能，2年保修和20亿次激发次数的质量保证&bull 气柜包括ArF预混气瓶和氦气瓶，并且和设备集成一体，具有全封闭和主动泄压排气等特点&bull 专利的ExiCheck气体交换模块可在预先设定的时间间隔内自动更换ArF气体，无需用户手动操作&bull Cobalt剥蚀池 5ms的气溶胶洗出时间光学衰减器保证低能量下的稳定性&bull 多次使用的反射镜设计，5倍的镜片寿命Geo版双偏振镜：BIO版双衰减器&bull 一类激光剥蚀系统，确保安全防护

GenesisGEO新型飞秒激光剥蚀系统GenesisGEO新型飞秒激光剥蚀系统为上海凯来全自研自主创新技术，没有美国技术，无卡脖子风险。其全新的技术理念颠覆了人们对传统激光剥蚀技术的认知，即将带来全新的激光剥蚀技术革新，很快将在地球化学、环境科学、生命科学、新材料及半导体等关键领域的核心技术重点突破。GenesisGEO新型飞秒激光剥蚀系统将于近期正式发布，敬请期待。仪器特点：剥蚀坑：形状规则，相对平底！光斑范围：1-500μm连续可调，最低可至500nm！光斑类型：圆形或矩形，连续可调能量密度@样品表面：≥50J/cm2，没有能量焦虑！仪器稳定，光路极简设计，无需任何保护气！GenesisGEO新型飞秒剥蚀坑形貌钠钙玻璃样品从左向右尺寸依次为10μm, 20μm, 30μm, 40μm, 50μm, 60μm, 70μm, 80μm, 90μm, 100μm, 200μm, 300μm, 400μm, 500μm钠钙玻璃样品矩形光斑53*53μm坑形完整，边界清晰，坑底平整 10μm矩形束斑 10μm圆形束斑花岗岩类石英样品193nm剥蚀石英，石英崩裂，明显热效应从左往右依次是5μm, 10μm, 20μm, 30μm, 50μm, 100μm, 200μm花岗岩类石英样品飞秒剥蚀石英，剥蚀坑完整，无明显热效应fs-LA-ICP-MS成像样品：锆石区域尺寸：212*137μm空间分辨率：500nm像素：11.6万

Artifact 双样品仓激光剥蚀系统（文博考古）Artifact激光剥蚀系统，带有一个超大的样品仓，用于放置大型或珍贵的样品。该系统还配备了TwoVol2或TwoVol3消融室，可在分析样品时灵活应用并优化工作流程。产品基本配置：193nm激光剥蚀装置1级激光软密封圈，减少对样品的压力手动操作移动样品双样品仓平台 - “开放式”大样品仓（LOC），样品尺寸60cm×60cm×60cm - 常规激光样品仓（10 x 10 cm）样品仓底部装有柔性环形聚氨酯密封件，适用于不规则或弧形表面特有的LOC大样品仓外观

一、简介Russo博士于2004年创建了美国应用光谱（Applied Spectra，ASI）公司， ASI公司是一家专门研究激光剥蚀及光谱分析技术的高科技公司，研发人员均为美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）的科研人员。美国劳伦斯伯克利国家实验室具有80多年LIBS技术的研究经验，致力于激光诱导等离子体光谱和剥蚀技术在化学分析领域的应用和开发。ASI独特技术能够将激光剥蚀与激光诱导击穿光谱相结合，实现了LIBS与LA-ICP-MS的同时检测。该系统可与市面上的普通四极杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。 二、技术优势? Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器，拥有各种不同波长、不同能量的飞秒或纳秒激光器，可根据您的实际应用需求进行选购；? 创新的模块化系统为独立的LA，LIBS，或LA – LIBS复合系统的配置设计；? 满足不同分析要求的三种LIBS检测器选项，LIBS可配置双检测器；? 系统传感器，确保激光剥蚀一致性：u 高度自动调整专利技术u 激光能量稳定快门? 双摄像机，一个专用于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察；? 应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能；? 紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；? 双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；? 系统软件：u 硬件部件的全面控制与测量自动化u 多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像u 用于LIBS和LA-ICP-MS分析的强大数据分析模块u 用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件? 维护成本低；? 升级为LA-LIBS复合系统简单；? 可升级为飞秒激光剥蚀； 三、硬件特点针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统主体包括激光源、激光束传输光学器件、Flex样品室、气体流量控制系统以及LIBS检测器。 自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性考虑到样品表面的形态变化，采用自动调高传感器。可保持精确的激光聚焦，在所有采样点上提供相同的激光能量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由ASI的科学团队开发的一项专利技术。 具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目的(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个好的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。创新集气管设计采用先进的集气管设计，该设计正在申请专利。大限度地减少了脱气，防止了任何烧蚀颗粒的堆积，并消除记忆效应。容易组装，便于定期清洁输气管道。高精度气体流量控制系统气体控制系统使用两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送，并精确控制气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。气体流量控制系统通过双摄像头和先进照明实现样品可视化拥有先进照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能，清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率CMOS成像摄像机，提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存，并用于定位不同的样品位置，使用高倍镜研究样品。 具有三种独立的照明模式，提高图像质量和对比度：扩散式LED光源，透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。清晰、高倍放大的样品表面图像同轴光线不同颜色和强度下的样本图像对比三种LIBS检测器可选，扩展了仪器功能三种不同LIBS检测器可选：(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner光谱仪；(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅光谱仪；(3)同步六通道CCD光谱仪。做为独立的LIBS仪器系统，可同时配备任意两种检测器。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。 四、软件特点直观的图形用户界面（GUI）和强大的数据分析技术Axiom LA具有非常直观、用户友好的界面，可浏览不同的样品区域，并建立灵活的激光采样方案。Axiom LA集成了一个强大的数据分析模块，用于高效分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号。 轻松地创建复杂的激光取样模式Axiom LA有一个大窗口，清晰、详细的显示样品图像。分析人员可以在样品图像上编辑任意的激光采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格点和预先编辑的任意图案。即使是复杂形状的采样区域也可以用图案生成工具突出显示，并精确地分析元素或同位素含量。使用Axiom LA生成采样模式并创建检测自动化的方案针对复杂LIBS光谱的强大数据分析工具Clarity分析软件具有强大LIBS数据分析工具。TruLIBS&trade ，是应用光谱公司专有的数据库，是从真实的LIBS等离子体中获得，能够快速、准确地识别复杂LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS&trade 允许用户从软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值。 基本光谱分析工具（如连续背景扣除、峰面积积分和重叠光谱曲线拟合）有助于分析人员有效地处理LIBS峰值并获得定量结果。分析人员可监测多次激光脉冲采样期间LIBS的强度或不同分析物比例的统计数据。可以同时处理单个LIBS谱图，从而大大缩短数据分析时间。整个光谱的连续背景扣除自动峰面积积分曲线拟合的重叠峰从时间解析的ICP-MS信号到完整的定量结果Clarity软件是ICP-MS数据管理和分析工具，分析者可以选择感兴趣的同位素并显示它们的时间分辨ICP-MS信号以进行比较分析，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。上图：在时间分辨ICP-MS信号中选择感兴趣的同位素比较显示和定义时间集成范围右图：用于TRSD评估的平滑的时间分辨ICP-MS信号质谱和LIBS光谱的产生通过计算同位素ICP-MS强度，Clarity复合系统分析软件根据微量元素信息生成代表样品化学指纹的质谱图。LIBS光谱根据主要和次要元素提供特征信息。 Clarity复合系统分析软件可借助LIBS光谱和质谱，提供关于主要、次要和微量元素最全面的化学信息。玻璃样品的宽LIBS光谱Clarity复合系统分析软件检测同位素时所产生的质谱用于定量分析的功能强大的校准模型使用Clarity复合系统分析软件，分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行最准确的定量分析。 另外，它使用完整的或特定范围的LIBS光谱、质谱图，分析人员可创建谱库，构建有效、多元的校准模型，以准确检测未知样品的元素浓度。玻璃样品的LA-ICP-MS Li元素校准曲线有效的数据可视化和样品分类复合系统软件允许分析人员执行主成分分析（PCA），并可观察从样品中收集到的一组LIBS光谱和质谱之间的差异。同时，该软件提供名为“光谱学习”（Spectralearn）的可选软件模块。 基于偏最小二乘法判别分析（PLS-DA），“光谱学习”模块将LIBS光谱和质谱作为样品的特征谱图储存在谱图库中。 获得的任何有疑问的物质谱图都可以与谱图库进行匹配，以获得高度有效的样品ID。10个BAS钢标样的PCA可视图(401至410)使用DepthTracker&trade 元素的快速深度剖析在固定点重复激光采样，Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker&trade 能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker&trade 对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。结构薄膜的深度剖面功能强大的2D/3D元素制图Clarity复合系统分析软件提供了一个集成制图模块，可将LIBS强度和时间分辨的ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图。能够将整个周期表中的所有元素从ppb到%的浓度范围可视化。名片上印刷油墨的2D图（LIBS检测C、H，LA-ICP-MS检测Mg, Al, Ti, Sr）

一、简介Russo博士于2004年创建了美国应用光谱（Applied Spectra，ASI）公司， ASI公司是一家专门研究激光剥蚀及光谱分析技术的高科技公司，研发人员均为美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）的科研人员。美国劳伦斯伯克利国家实验室具有80多年LIBS技术的研究经验，致力于激光诱导等离子体光谱和剥蚀技术在化学分析领域的应用和开发。ASI独特技术能够将激光剥蚀与激光诱导击穿光谱相结合，实现了LIBS与LA-ICP-MS的同时检测。该系统可与市面上的普通四极杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。 二、技术优势? Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器，拥有各种不同波长、不同能量的飞秒或纳秒激光器，可根据您的实际应用需求进行选购；? 创新的模块化系统为独立的LA，LIBS，或LA – LIBS复合系统的配置设计；? 满足不同分析要求的三种LIBS检测器选项，LIBS可配置双检测器；? 系统传感器，确保激光剥蚀一致性：u 高度自动调整专利技术u 激光能量稳定快门? 双摄像机，一个专用于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察；? 应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能；? 紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；? 双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；? 系统软件：u 硬件部件的全面控制与测量自动化u 多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像u 用于LIBS和LA-ICP-MS分析的强大数据分析模块u 用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件? 维护成本低；? 升级为LA-LIBS复合系统简单；? 可升级为飞秒激光剥蚀； 三、硬件特点针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统主体包括激光源、激光束传输光学器件、Flex样品室、气体流量控制系统以及LIBS检测器。 自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性考虑到样品表面的形态变化，采用自动调高传感器。可保持精确的激光聚焦，在所有采样点上提供相同的激光能量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。这一创新的传感器特性是由ASI的科学团队开发的一项专利技术。 具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目的(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个好的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。创新集气管设计采用先进的集气管设计，该设计正在申请专利。大限度地减少了脱气，防止了任何烧蚀颗粒的堆积，并消除记忆效应。容易组装，便于定期清洁输气管道。高精度气体流量控制系统气体控制系统使用两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送，并精确控制气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。通过双摄像头和先进照明实现样品可视化拥有先进照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能，清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率CMOS成像摄像机，提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存，并用于定位不同的样品位置，使用高倍镜研究样品。 具有三种独立的照明模式，提高图像质量和对比度：扩散式LED光源，透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。清晰、高倍放大的样品表面图像同轴光线不同颜色和强度下的样本图像对比三种LIBS检测器可选，扩展了仪器功能三种不同LIBS检测器可选：(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner光谱仪；(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅光谱仪；(3)同步六通道CCD光谱仪。做为独立的LIBS仪器系统，可同时配备任意两种检测器。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。 四、软件特点直观的图形用户界面（GUI）和强大的数据分析技术Axiom LA具有非常直观、用户友好的界面，可浏览不同的样品区域，并建立灵活的激光采样方案。Axiom LA集成了一个强大的数据分析模块，用于高效分析LIBS光谱和时间分辨ICP-MS信号。 轻松地创建复杂的激光取样模式Axiom LA有一个大窗口，清晰、详细的显示样品图像。分析人员可以在样品图像上编辑任意的激光采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格点和预先编辑的任意图案。即使是复杂形状的采样区域也可以用图案生成工具突出显示，并精确地分析元素或同位素含量。使用Axiom LA生成采样模式并创建检测自动化的方案针对复杂LIBS光谱的强大数据分析工具Clarity分析软件具有强大LIBS数据分析工具。TruLIBS&trade ，是应用光谱公司专有的数据库，是从真实的LIBS等离子体中获得，能够快速、准确地识别复杂LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS&trade 允许用户从软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值。 基本光谱分析工具（如连续背景扣除、峰面积积分和重叠光谱曲线拟合）有助于分析人员有效地处理LIBS峰值并获得定量结果。分析人员可监测多次激光脉冲采样期间LIBS的强度或不同分析物比例的统计数据。可以同时处理单个LIBS谱图，从而大大缩短数据分析时间。整个光谱的连续背景扣除自动峰面积积分曲线拟合的重叠峰从时间解析的ICP-MS信号到完整的定量结果Clarity软件是ICP-MS数据管理和分析工具，分析者可以选择感兴趣的同位素并显示它们的时间分辨ICP-MS信号以进行比较分析，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。上图：在时间分辨ICP-MS信号中选择感兴趣的同位素比较显示和定义时间集成范围右图：用于TRSD评估的平滑的时间分辨ICP-MS信号质谱和LIBS光谱的产生通过计算同位素ICP-MS强度，Clarity复合系统分析软件根据微量元素信息生成代表样品化学指纹的质谱图。LIBS光谱根据主要和次要元素提供特征信息。 Clarity复合系统分析软件可借助LIBS光谱和质谱，提供关于主要、次要和微量元素最全面的化学信息。玻璃样品的宽LIBS光谱Clarity复合系统分析软件检测同位素时所产生的质谱 用于定量分析的功能强大的校准模型使用Clarity复合系统分析软件，分析人员可应用单变量或多变量校准模型进行最准确的定量分析。 另外，它使用完整的或特定范围的LIBS光谱、质谱图，分析人员可创建谱库，构建有效、多元的校准模型，以准确检测未知样品的元素浓度。玻璃样品的LA-ICP-MS Li元素校准曲线有效的数据可视化和样品分类复合系统软件允许分析人员执行主成分分析（PCA），并可观察从样品中收集到的一组LIBS光谱和质谱之间的差异。同时，该软件提供名为“光谱学习”（Spectralearn）的可选软件模块。 基于偏最小二乘法判别分析（PLS-DA），“光谱学习”模块将LIBS光谱和质谱作为样品的特征谱图储存在谱图库中。 获得的任何有疑问的物质谱图都可以与谱图库进行匹配，以获得高度有效的样品ID。10个BAS钢标样的PCA可视图(401至410)使用DepthTracker&trade 元素的快速深度剖析在固定点重复激光采样，Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker&trade 能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker&trade 对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。结构薄膜的深度剖面功能强大的2D/3D元素制图Clarity复合系统分析软件提供了一个集成制图模块，可将LIBS强度和时间分辨的ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图。能够将整个周期表中的所有元素从ppb到%的浓度范围可视化。名片上印刷油墨的2D图（LIBS检测C、H，LA-ICP-MS检测Mg, Al, Ti, Sr）

ESL imageGEO 激光剥蚀系统（地质成像）——地质行业的高速、高分辨率成像地球化学分析的未来在于成像。 imageGEO以完备的技术和高效的工作流程，以前所未有的速度创建高分辨率的地球化学成像和精确测量。应用：& 高速地球化学成像& 精确同位素比分析& 年代学、微量元素、海洋科学和古气候通过独特的调节技术，灵活的对不同样品进行地球化学分析：激光：& 波长：193 纳米& 重复频率：0 到 500 Hz（1000 Hz 可选）& 通量：0 到 15 J/cm2（高分辨率衰减）& 光斑尺寸：1 至 240 μm（圆形和矩形光斑）新一代TwoVol3 样品池提供快速可切换的分析模式：& 成像模式提供 1 毫秒 (FW0.1M) 的单峰分辨率，以每秒 1000 像素的速度成像& 分析模式为同位素/元素比分析提供稳定的信号强度 1.5 %RSD& 在 5 分钟内切换模式高频率、分辨率和放大倍率，可实现高速可靠的结果：& 可选 MFC用于 N2 流量控制& 与 Elemental Scientific 的双同心注射器 (DCI) 兼容，可实现 1 ms 的超快冲洗& TwoVol2 作为标准配置，使用 DCI 可将冲洗时间缩短至 30 毫秒，2% 空间再现性& TwoVol3 可选，带有纳米级的超快冲洗，用于以 TOF 速度进行亚微米分辨率成像& 可选的 x20 观察系统，用于高放大倍率的样品观察

RESOlution 激光剥蚀系统的使用是非常简单方便的，没有复杂的操作流程，只要熟读操作说明书就能够操作本设备，基于为了让用户操作简单化，特地的配备了一键校准的功能，别看这个小的功能但是会派上大的用处，有些同款设备在校准上都会花费很长时间，这款设备的一键校准更实用，只需几秒就能够自动的进行数据上的校准，非常的节省时间和精力。基本参数：1、样品靶：20个1英寸；2、薄片：6个；3、准分子：193nm；4、设备尺寸：119*89*195cm；5、系统重量：750 kg (1600 lbs.)；6、能量密度：20 J/cm2.设备特点：1、快速冲洗时间，卓越的信号灵敏度；2、可视化样品台校正，提供次微米级定位；3、有助于识别样品中的复杂结构，如包裹体和增生区；4、易于掌握，用户培训耗时短，使用方便；5、同时可选购多个样品支架或根据要求定制支架样式；6、配备了灵活的支架，可以装载任意尺寸的样品靶；7、可视化样品台校正，提供次微米级定位；8、快速冲洗时间，移动范围为155mmx105mm。RESOlution 激光剥蚀系统在低重复率下实现完美的信号平滑而不过度延长冲洗时间或引起记忆效应，旋转矩形狭缝，用于带状样品的动态高分辨率追踪，用排气阀导流不需要的烧蚀材料，以减少对ICP的保养，如更少量的锥体清洗，集成的样品表面激光能量密度校准和激光能量管理功能，可视化样品台校正，提供次微米级定位，有这些操作都通过GeoStar软件轻松控制。 所有气路控制都是完全自动化的，换样方便，保证炬管的安全性。

Alphachron He 激光剥蚀氦提取分析系统用于激光自动化，气体处理和放射性氦测量的Alphachron系统软件/驱动程序，915nm二极管激光器，透镜系统，电源和安全罩，高真空系统，由干式隔膜前级泵，带控制器的混合涡轮泵和带控制器的离子泵组成，该仪器集成了激光加热模块，气体处理模块和可选的石英卤素加热系统。该系统出厂时已预制，可在安装后调试最少的情况下用于测量。技术指标：Alphachron?MkII是一个交钥匙系统，用于自动提取和测量矿物样品中的放射性氦。该仪器集成了激光加热模块，气体处理模块和可选的石英卤素加热系统。该系统出厂时已预制，可在安装后调试少的情况下用于测量。通过激光或石英-豪洛根加热提取氦气后，将矿物颗粒消化并使用标准ICP-MS技术进行分析。Alphachron He 激光剥蚀氦提取分析系统分析提取的气体样品以确定其4He含量，从而可以准确确定地壳的热历史，LabView的功能强大的可视软件包允许用户创建和调整系统实验的操作顺序，而无需任何先前的编程知识，在每组样品中分析矿物标准品。母体矿物质浓度随后通过样品的ICP-MS分析确定，在对矿石系统的4D演化进行研究的过程中，发现有必要开发用于快速自动分析矿物样品的仪器。

仪器简介：激光剥蚀/激光烧蚀产品线源于全球行业翘楚之一的Photon Machines团队（缩写PMI），其第一代产品于1995年问世，该品牌具有丰富的激光剥蚀产品设计、研发、制造及应用经验，产品线涉及213nm固体激光、193nm准分子激光、飞秒激光系统（与ICP-MS联用），及CO2和二极管激光熔融系统（与惰性气体同位素质谱联用），此外多种高性能配件与更加直观的分析软件能够增强并完善系统的功能，足以为全球元素分析用户提供先进的激光剥蚀技术。仪器特点：&bull 五倍频213nm、Q开关、Nd:YAG固态激光器&bull 脉冲能量＞4mJ&bull 脉冲宽度＜5ns&bull 剥蚀光斑范围4-200μm，标配14个光圈&bull 显微光学放大倍数2.6-32.5x、光学分辨率＜2μm&bull XY平台步进分辨率0.16μm&bull 紧凑式设计、用户友好、可简单更换泵浦灯

ESL LaserTRAX 高通量全自动激光剥蚀系统大多数情况下，分析流程的自动化有利于数量繁琐的实验过程。元素分析实验室正在寻求降低样品成本、错误率，以及提高数据质量和完整性的方法，同时更好地为客户服务。LaserTRAX以更低的成本、更安全的方法和从样品到结果的数据追溯为高通量元素分析实现了以上诉求，甚至更好的完成了元素分析测试。LaserTRAX系统配置包括取样机器人、条码扫描仪和NWR激光剥蚀系统，可配置任何型号的ICPMS。主要特点：提高数据质量更低检出限准确及重现性高 简化方法以提高效果从样品到结果，数据可以追溯可访问基于云或者服务器的数据改善工作流程更安全—消除酸暴露更环保的工作流程以减少浪费使工作环境更现代化样本跟踪–提供样本实时状态全天候运行–很大限度地提高实验室容量通过快速数据访问为客户提供更好的服务经济节约每个样品节省高达80%的成本最快6个月收回投资提高实验室效率拥有成本低节省时间、试剂、能源和人力

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法，能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker™ 对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。控制系统：1、J200气体控制系统使用了两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送。2、运输气体和补充气体流向样品室，ICP-MS系统按顺序自动运行，并被精确控制，带来理想的气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。产品特点：1、针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统，J200系统的独创性在于其模块化系统的设计；2、自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化；3、具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)；4、紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应，双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；5、用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件，多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像，维护成本低；6、应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能。J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS™ 允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值，通过将多个硬件指令组合在一起，并及时对它们进行排序，Axiom LA创建了一个存储“方案”。方案一经创建，之后就可以将它们调出，并将它们组合，以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验，或者复制方案的一部分，将其与新的指令结合起来，以解决新的采样方案。J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统

仪器简介：激光剥蚀/激光烧蚀产品线源于全球行业翘楚之一的Photon Machines团队（缩写PMI），其第一代产品于1995年问世，该品牌具有丰富的激光剥蚀产品设计、研发、制造及应用经验，产品线涉及213nm固体激光、193nm准分子激光、飞秒激光系统（与ICP-MS联用），及CO2和二极管激光熔融系统（与惰性气体同位素质谱联用），此外多种高性能配件与更加直观的分析软件能够增强并完善系统的功能，足以为全球元素分析用户提供先进的激光剥蚀技术。仪器特点：&bull 206nm、257nm、206/257nm、1028/206nm及1028/257nm可选&bull 更高的脉冲能量：5 J/cm2 @ 257 nm&bull 脉冲宽度190fs-10ps&bull 波长转换便捷&bull 每个波长都有独立的光路&bull 可调光斑大小1-65μm&bull 光路具有更少的镜片，能量损失小

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法，能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。元素的快速深度剖析：在目标点的重复激光采样过程中，Clarity LIBS分析软件中的DepthTracker?能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能。设备特点：1、高硬度Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器波长低至213nm；2、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法；3、双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门，硬件部件的全面控制与测量自动化；4、应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能；5、分析人员可监测多次激光脉冲采样期间LIBS的强度或不同分析物比例的统计数据；6、双摄像机，一个专用于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察。J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法，能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker?对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。

仪器简介：激光剥蚀/激光烧蚀产品线源于全球行业翘楚之一的Photon Machines团队（缩写PMI），其第一代产品于1995年问世，该品牌具有丰富的激光剥蚀产品设计、研发、制造及应用经验，产品线涉及213nm固体激光、193nm准分子激光、飞秒激光系统（与ICP-MS联用），及CO2和二极管激光熔融系统（与惰性气体同位素质谱联用），此外多种高性能配件与更加直观的分析软件能够增强并完善系统的功能，足以为全球元素分析用户提供先进的激光剥蚀技术。仪器特点：&bull 适用于高速成像应用的专用准分子激光剥蚀系统&bull 300&500Hz 激光器，提供了可靠性和性能，2年保修和20亿次激发次数的质量保证&bull 气柜包括ArF预混气瓶和氦气瓶，并且和设备集成一体，具有全封闭和主动泄压排气等特点&bull 专利的ExiCheck气体交换模块可在预先设定的时间间隔内自动更换ArF气体，无需用户手动操作&bull Cobalt剥蚀池 5ms的气溶胶洗出时间光学衰减器保证低能量下的稳定性&bull 多次使用的反射镜设计，5倍的镜片寿命Geo版双偏振镜：BIO版双衰减器&bull 一类激光剥蚀系统，确保安全防护