电路板检测显微镜

[ 产品简介 ]蔡司智能数码显微镜Smartzoom 5，可解决光学显微镜的传统局限性，如景深或金属表面的反射。全自动化配置，向导式工作流程，简易式设置，没有操作经验的人员也能够轻松获得满意的结果，是工业领域的质量保证和控制应用的理想解决方案。[ 产品特点 ]&bull 配备不同的物镜可放大倍数实现从10x-2022x连续可调集变焦、全景照相和同轴照明三功能为一体的光学引擎&bull 宏记录模式—使得同一类型样品重复分析工作流程更加高效&bull 可实现样品快速导航定位，让操作更加轻松简单&bull 简易实现注释图像及导出报告至word模板功能[ 应用领域 ]&bull 常规光学检测与数据记录&bull 自动化质量保证&bull 失效分析&bull 表面形貌测量&bull 金相/断口分析&bull 高级尺寸测量&bull 植物学&bull 昆虫学&bull 海洋生物学&bull 地质学和古生物学&bull 刑侦痕检和文检印刷电路板，倾斜角度观察金属棒的表面磨损情况，环形光

国仪量子宽场NV显微镜WNVM宽场NV显微镜是一款基于氮-空位（Nitrogen-Vacancy, NV）色心光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）原理的宽场磁显微镜，具有空间分辨率高、视野范围大、可探测磁场动态范围大、成像速度快等特点。核心参数成像范围：≥ 1 mm×1 mm动态范围：100 nT-10 mT支持磁成像和光学成像支持磁矩分布重建配备GPU加速算法应用领域地质磁学陨石剩余磁化的磁场成像和光学成像地质样本中的剩余磁化强度记录了过去行星磁场的强度和方向。传统上，这种磁化是通过测量尺寸在毫米到厘米的样品净磁矩进行分析。然而地质样品通常在亚毫米尺寸上具有结构和物质的不均匀性，只有小部分铁磁颗粒具有剩余磁化强度，因此需要高空间分辨率、高磁矩灵敏度的成像技术。宽场NV显微镜通过减少金刚石与样品之间的距离, 能够实现磁矩灵敏度10-16 Am2的探测，能够应用于地质、磁陨石的探测分析中。参考文献：Geochem. Geophys. Geosyst. 18, 3254 (2017)生物医学肺癌组织荧光成像和磁场成像传统磁共振成像受限于低灵敏度和低空间分辨率，很难应用于组织水平微米分辨率的成像。宽场NV显微镜结合量子精密测量与免疫磁标记技术，能够实现高分辨率的肿瘤组织磁成像，可用于肺癌等检测。宽场NV显微镜在生物组织成像上具绝对磁定量、避免背景信号的干扰、磁信号的高稳定性、兼具磁和光多模态成像等优势。参考文献：PNAS 119, e2118876119 (2022)芯片检测FPGA芯片的磁场图像随着半导体行业的发展，芯片变得越来越复杂，包含了更多的晶体管和多层集成电路，这使得故障分析变得复杂。宽场NV显微镜可用于分析集成电路（ICs）和多层印刷电路板（PCBs）中的2D和3D电流分布检测。宽场NV显微镜也可用于检测IC中的硬件木马，与神经网络学习方法相结合，可准确地确定每个数据点有无插入木马。参考文献：Phys. Rev. Appl. 14，014097 (2020)测试案例地幔橄榄岩磁成像

[ 产品简介 ]蔡司体视显微镜Stemi 305是一款采用 Greenough 光路设计的高效实用型体视显微镜，拥有 5:1 变倍比。 集成的照明光源和数据记录功能令其成为生物学教学、实验室及工业生产领域的理想之选。[ 产品特点 ]&bull 最大实现58mm 视野和185mm 工作距离&bull 放大倍率8-40x（最大200倍）&bull 出色的机械放大校正&bull 变倍比5:1 &bull 复消色差校正的变倍体和前端镜&bull 紧凑设计，节省实验空间&bull 集成的LED照明系统：反射光，透射光和混合照明[ 应用领域 ]&bull 电子半导体行业外观检测和失效观察&bull 汽车行业断口观察和尺寸测量&bull 锂电池行业外观观察和尺寸测量&bull 钟表行业微观组装和维修&bull 生物学 &bull 医学和兽医学 &bull 寄生虫学&bull 植物学&bull 昆虫学&bull 海洋生物学&bull 地质学和古生物学&bull 法医刑侦蚜虫，环形光照明，变倍比4.0X印刷电路板，上四分之一环形光，变倍比1.5X，前端镜0.75X

金相显微镜 专业检测 线路板 电路板 LED芯片 带测量 BD-2030金相显微镜技术参数型号BD-2003A目镜大视野 WF10X(Φ18mm)物镜(20 40 60任选2个)长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL 5X/0.12长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L10X/0.25长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L20X/0.40长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L40X/0.60长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L60X/0.75 (弹簧)目镜筒三目镜,倾斜30?,(内置检偏振片,可进行切换)落射照明系统6V 20W卤素灯,亮度可调落射照明器带视场光栏、孔径光栏、起偏振片(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调，带锁紧和限位装置转换器四孔(内向式滚珠内定位)五孔 (内向式滚珠内定位)载物台双层机械移动式(尺寸:185mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)显微镜实拍粉末演示效果图显微镜实拍导电粒子效果图 测量软件展示图

PCB电路板会发生爆板(popcorn)或分层(Delamination)的主要原因不外乎一、板材吸水；二、α2/z-CTE太大这两大类，而「板材吸水」所造成的爆板更占了70%的不良，其他原因如PCB结构之涨缩不均，冷热不均、制程受伤与黑化不良…等虽然也不能排除其可能性，但其比率都不太高就是了。深圳冠亚SFY系列印刷电路板含水率测定仪,线路板水分检测仪可以快速检测线路板水分！ 从PCB板材的选择及制程就开始管控吸水的条件虽然烘烤是改善爆板的方法，但是烘烤不但浪费时间，也浪费设备与人力，而且PCB烘烤之后Tg值会下降也是问题，比较好的方法是从PCB板材的选择及制程就开始管控吸水的条件。1. 板材本身如果有极性，就容易吸水。尽量选用不会吸水的树脂来防止板材吸水。2. 可以选用开(扁)纤布。减少树脂与玻璃纤维介面的空隙，以降低容易藏水的可能性。（下面的图片只是示意图，并不是真正的玻纤布，基本上由经纬两股材料交错编织而成，经纬的交错间如果有空隙，就容易藏水分，所以一般会以透气性来检查其密合度，密合度越好，透气度越小，越不容易藏水，对高频的电路板也比较没有耗损及讯号不等一的问题。深圳冠亚SFY系列印刷电路板含水率测定仪,线路板水分检测仪技术指标:1、称重范围：0-150g可调试测试空间为3cm、5cm、10cm 2、水分测定范围：0.01-**JK称重系统传感器 3、样品质量：0.5-150g 4、加热温度范围：起始-250℃加热方式：应变式混合气体加热器微调自动补偿温度15℃ 5、水分含量可读性：0.01% 6、显示7种参数： 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值红色数码管独立显示模式 7、双重通讯接口：RS 232（打印机） RS 232（计算机） 8、外型尺寸：380×205×325(mm) 9、电源：220V±10%/110V±10%(可选) 10、频率：50Hz±1Hz/60Hz±1Hz(可选) 11、净重：3.7Kg 深圳冠亚SFY系列印刷电路板含水率测定仪,线路板水分检测仪是由深圳市冠亚公司研发并生产，该仪器具有温度设定、微调温度补偿及自动控制等功能, 采用目前国际通用的热解原理研制而成的新一代卤素快速水分测定仪器。引进进口自动称重显示系统，人性化系统操作, 无需特殊培训，自动校准功能、自动测试模式，取样、干燥、测定一机化操作。 深圳冠亚SFY系列印刷电路板含水率测定仪,线路板水分检测仪产品专利资质：●SFY系列快速水分测定仪器(专利号：2005301013706)●是目前行业中通过ISO 9001:2008质量管理体系认证的公司。 ●“GY"商标证书，商标证书编号7927649号。●“SFY"商标证书，商标证书编号8931081号。

从PCB板材的选择及制程就开始管控吸水的条件虽然烘烤是改善爆板的方法，但是烘烤不但浪费时间，也浪费设备与人力，而且PCB烘烤之后Tg值会下降也是问题，比较好的方法是从PCB板材的选择及制程就开始管控吸水的条件。1. 板材本身如果有极性，就容易吸水。尽量选用不会吸水的树脂来防止板材吸水。2. 可以选用开(扁)纤布。减少树脂与玻璃纤维介面的空隙，以降低容易藏水的可能性。（下面的图片只是示意图，并不是真正的玻纤布，基本上由经纬两股材料交错编织而成，经纬的交错间如果有空隙，就容易藏水分，所以一般会以透气性来检查其密合度，密合度越好，透气度越小，越不容易藏水，对高频的电路板也比较没有耗损及讯号不等一的问题。PCB电路板会发生爆板(popcorn)或分层(Delamination)的主要原因不外乎一、板材吸水；二、α2/z-CTE太大这两大类，而「板材吸水」所造成的爆板更占了70%的不良，其他原因如PCB结构之涨缩不均，冷热不均、制程受伤与黑化不良…等虽然也不能排除其可能性，但其比率都不太高就是了。深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪可以快速检测线路板水分！ 深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪产品专利资质：●SFY系列快速水分测定仪器(专利号：2005301013706)●是目前行业中通过ISO 9001:2008质量管理体系认证的公司。 ●“GY"商标证书，商标证书编号7927649号。●“SFY"商标证书，商标证书编号8931081号。深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪技术指标:1、称重范围：0-150g可调试测试空间为3cm、5cm、10cm 2、水分测定范围：0.01-**JK称重系统传感器 3、样品质量：0.5-150g 4、加热温度范围：起始-250℃加热方式：应变式混合气体加热器微调自动补偿温度15℃5、水分含量可读性：0.01% 6、显示7种参数： 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值红色数码管独立显示模式 7、双重通讯接口：RS 232（打印机） RS 232（计算机） 8、外型尺寸：380×205×325(mm) 9、电源：220V±10%/110V±10%(可选) 10、频率：50Hz±1Hz/60Hz±1Hz(可选) 11、净重：3.7Kg 深圳冠亚SFY系列印刷线路板含水率检测仪,电路板水分测试仪是由深圳市冠亚公司研发并生产，该仪器具有温度设定、微调温度补偿及自动控制等功能, 采用目前国际通用的热解原理研制而成的新一代卤素快速水分测定仪器。引进进口自动称重显示系统，人性化系统操作, 无需特殊培训，自动校准功能、自动测试模式，取样、干燥、测定一机化操作。

新推出的MX63/MX63L工具显微镜具备有如下的特点：从不可见到可见：MIX观察与采集新MX63/MX63L工具显微镜是该系列首个支持奥林巴斯MIX照明功能的产品，由此进一步提升了该显微镜的观察能力。MIX可将暗场与明场、荧光或偏振等其他观察方法结合使用。在很多应用中，MIX能够帮助用户观察到使用传统显微镜难以看到的缺陷。 长寿命高强度白色LED照明：始终一致的色温新MX63/MX63L工具显微镜配备了高强度白光LED光源，兼顾低功耗和长寿命的优点，而且其稳定的色温为可靠的图像质量和精确的色彩复现提供了保障。功能性：适合所有晶园尺寸新MX63/MX63L工具显微镜特别适用于半导体、平板显示、印制电路板等行业的大尺寸样品检测。MX63工具显微镜可用于最大晶圆直径200mm，MX63L可用于最大晶圆直径300mm。此外，新显微镜还可以选配晶园搬送机，实现可靠、安全、高效的对晶圆正面和背面进行检测。 模块化：全面可定制新MX63/MX63L工具显微镜的模块化设计让检测者能够根据应用需要选择组件。两款显微镜均按洁净室应用而设计，并符合SEMI S2/S8、CE和UL要求。所有电动组件均安装在屏蔽结构内，镜架、镜筒以及其他部件均经过防静电处理。人性化：满足人体工学的设计新MX63/MX63L工具显微镜采用人体工学设计，可以快速设置调整和简易控制。更换物镜以及调整孔径光阑的控制位于显微镜前面较低的位置，因此用户在使用过程中可始终保持透过目镜观察而无须松开对焦旋钮。电动物镜转盘旋转迅速，在缩短检测间隔时间的同时还可让操作者的手始终在晶圆下方，降低可能存在的污染风险。 凭借这些强大的观察功能和简单的操作特性，MX63/MX63L工具显微镜能够实现快速高效的实现大尺寸样品检测。

1 Windows中文操作系统，下拉式菜单、个性化界面设计、操作简易、上手快。 2 先进的电解电容极性测试技术可测率高达100％。 3 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。 4 电脑自动隔离点选择功能，**可达10个点。 5 多连板程式自动生成功能。 6 系统自我诊断功能。 7 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。 8 BoardView功能可即时显示不良元件、针点之位置，方便检修。 9 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。 10 应用IC　Clamping　Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。 11 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求。 12 应用感应技术检测SMD贴片IC的空焊、开路问题。 信息条形码:5ICT的功能能够在短短的数秒钟内，全检出组装电路板(loaded PC board)上零件-电阻、电容、电感、电晶体、二极体、稳压二极体、光偶器、继电器等零件，是否在我们设计的规格内运作。能够先期找出制程不良所在，如漏件(missing part)、折脚(bending)、短路(short)、锡桥(bridge)、反向(miss-oriented)、错件(wrong part)、开路(open)、焊接不良等问题，回馈到制程的改善。 能够将上述故障或不良资讯以印表机印出测试结果，包括故障位置、零件标准值、测试值，以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。

成贯仪器提供奥林巴斯MX63显微镜报价，同时包括奥林巴斯半导体检测显微镜MX63图片、奥林巴斯显微镜MX63参数、奥林巴斯工业显微镜MX63L使用说明书、奥林巴斯显微镜MX63价格、奥林巴斯显微镜MX63维修、奥林巴斯晶圆显微镜MX63L经销商价格等信息，为您购买奥林巴斯MX63L显微镜提供有价值的产品因为有我，所以会更好，成贯专业、诚信、值得信赖成贯仪器——显微系统、光学仪器、外科手术设备、实验室耗材等供应商成贯仪器（上海）有限公司是奥林巴斯显微镜、光学仪器、外科手术设备等供应商，常年提供原装日本(Japan)进口的olympus奥林巴斯显微镜，客户遍及上海，江苏（苏州、昆山、无锡、常州、南通、泰州、扬州、南京、淮安、徐州），浙江（嘉兴、湖州、杭州、绍兴、宁波、台州、温州、义乌、金华、衢州），安徽(黄山、宣城、芜湖、合肥、蚌埠、阜阳)，湖北（武汉、荆州、宜昌），湖南（长沙、株洲、湘潭），江西（九江、南昌、樟树、赣州），福建（宁德、三明、龙岩、福州、厦门、泉州），广东（汕头、惠州、深圳、东莞、广州、佛山、中山、珠海），广西（南宁、桂林），海南（海口、三亚），贵州（贵阳、遵义），云南（昆明、大理、丽江），西藏（拉萨）、新疆（乌鲁木齐）、青海（西宁）、甘肃（兰州、酒泉）、宁夏（银川）、青海（西宁）、陕西（西安）、重庆、四川（成都、绵阳）、河南（焦作、郑州、许昌、商丘、洛阳），山西（太原、临汾）、山东（威海、烟台、青岛、潍坊、淄博、济南、泰安、临沂），天津、河北（石家庄、邯郸、秦皇岛、唐山），北京、内蒙古（呼和浩特、包头、鄂尔多斯）、辽宁（大连、丹东、营口、沈阳、葫芦岛），吉林（吉林、长春）、黑龙江(哈尔滨、大庆、牡丹江、鸡西)等国内大中城市。让您的大尺寸样品检测流程更加顺畅MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸最大300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。这两款符合人体工学设计且人性化的显微镜有助于在提高工作效率的同时保持检测者的工作舒适性。在与奥林巴斯Stream图像分析软件结合使用情况下，可以简化从观察到报告生成的整体工作流。 多功能设计满足电子行业的人体工学和安全性要求，并以更多功能提高分析能力。人性化简洁的显微镜设置让用户调整和重复系统配置更加轻松。先进的成像技术我们成熟可靠的光学器件和优良的成像技术可获得清晰图像，并完成可靠检测。模块化用户可利用适合其应用的组件进行系统定制。应用图片库我们的先进图像管理功能可为您呈现您真正想要观察的内容。分析工具MX63系列的各种观察功能可生成清晰锐利的图像，让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。从不可见到可见：MIX观察与图像采集通过将暗场与诸如明场、荧光或偏光等其他观察方法结合使用，MIX观察技术能够获得独有的观察图像。MIX观察技术可让用户发现用传统显微镜难以看到的缺陷。暗场观察所用的环形LED照明器具有在指定时间仅使用四分之一象限的定向暗场功能。该功能可减少样品光晕，对于样品表面纹理的可视化非常有用。半导体晶圆上的结构集成电路图形不够清晰。晶圆颜色不可见。晶圆颜色和集成电路图形均清晰可辨。半导体晶圆上的光刻胶残留物样品本身不可见。残留物不清晰。集成电路图形和残留物均清晰可辨。聚光镜表面受到反射。来自不同角度定向暗场的多幅图像。将没有光晕的清晰图像拼接在一起，创建样品的单幅清晰图像。 轻松生成全景图像: 即时图像拼接利用多图像拼接(MIA)功能, 用户移动手动载物台上的XY旋钮即可轻松快速完成图像拼接—电动载物台无需进行该操作。奥林巴斯Stream软件利用模式识别生成全景图像，让用户获得更宽的视场。 硬币的即时MIA图像生成全聚焦图像: EFI奥林巴斯Stream软件的景深扩展成像(EFI)功能可采集高度超出物镜焦点深度的样品图像，并可将其合成一幅全聚焦图像。EFI配合手动或电动Z轴调焦使用，可轻松实现结构可视化的高度图像。其也可在Stream桌面版（Desktop）离线情况下生成EFI图像。 集成电路芯片上的凸块 利用HDR同时捕捉明亮区域和暗光区域采用先进图像处理技术的高动态范围(HDR)可在图像内调整亮度差异，从而减少眩光。HDR改善了数字图像的视觉品质，从而有助于生成具有专业级外观的报告。某些部位存在眩光。暗光区域和明亮区域利用HDR获得清晰呈现。TFT阵列因滤色片的亮度而漆黑一片。TFT阵列利用HDR获得呈现。 从基本测量到高级分析测量对于品质、工艺控制和检测非常重要。基于这一想法，即便是入门级奥林巴斯Stream软件包也融入了交互测量功能的全部菜单，并且所有测量结果与图像文件一起保存以便存档。此外，奥林巴斯Stream材料解决方案可为复杂图像分析提供面向工作流的直观界面。点击按钮一下，图像分析任务即可快速精准完成。在大幅度缩减重复性任务的处理时间情况下，操作人员可以将精力集中在手边的检测工作上。 基本测量（印刷电路板上的图形）分散能力解决方案（PCB通孔的横截面）自动测量解决方案（晶圆结构） 高效的报告创建创建报告所用的时间常常比采集图像和测量还长。奥林巴斯Stream软件提供了直观的报告创建功能，能够根据预先设定的模板多次创建专业复杂的报告。编辑非常简单，报告可导出为MicrosoftWord或PowerPoint文件。此外，奥林巴斯Stream报告功能能够对采集的图像进行数字变焦和倍率放大。报告文件大小适中，通过电子邮件进行数据传递更加方便。独立相机选项利用DP22或DP27显微镜相机，MX63系列即可成为先进的独立系统。该相机采用几乎不占空间的紧凑型控制盒进行控制，在采集清晰图像以及进行基本测量工作的同时让实验室空间得到充分利用。相机控制盒 支持洁净室合规性的先进设计MX63系列专为洁净室工作而设计，并具有帮助最大限度减小样品污染或受损风险的功能。该系统采用人体工学设计，可帮助用户在长时间使用中保持舒适。MX63系列符合包括SEMI S2/S8、CE和UL国际规范及标准要求。选配晶圆搬送机 — AL120系统* 选配的晶圆搬送机可安装在MX63系列上，实现无需使用镊子或工具即可安全地将硅片及化合物半导体晶圆从片盒转移到显微镜载物台上。卓越的性能和可靠性可实现安全高效的前后宏观检测，同时搬送机还可帮助提高实验室工作效率。MX63系统与AL120晶圆搬送机结合使用(200毫米型号)* AL120 未在欧洲、中东、非洲地区（EMEA）销售。 快速、清洁的检测MX63系列可实现无污染的晶圆检测。所有电动组件均安装在防护结构壳内，显微镜镜架、镜筒、呼吸防护罩、及其他部件均采用防静电处理。电动物镜转换器的转速比手动物镜转换器更快更安全，缩短检测间隔时间的同时，让操作人员的手始终保持在晶圆下方，避免了潜在的污染。 防静电呼吸防护罩 电动物镜转换器系统设计实现高效观察利用内置离合和XY旋钮，XY载物台能够实现对载物台移动的粗调和微调。即便针对诸如300毫米晶圆这样的大尺寸样品，载物台也可帮助实现高效的观察 可调倾角观察镜筒的调节范围可让操作人员以舒适的姿态坐在显微镜前工作。 带有内置离合的载物台手柄 可调倾角观察镜筒可确保舒适的工作姿态 接受所有晶圆尺寸该系统可配合各类150–200毫米和200– 300毫米晶圆支架和玻璃板使用。如果生产线上的晶圆尺寸发生变化，以很少的成本即可更改显微镜镜架。有了MX63系列，各种载物台均可用于检测75毫米、100毫米、125 毫米和150毫米晶圆。直观的显微镜控制：舒适且使用方便显微镜设置操作简单，让用户调整和恢复系统配置更加轻松。 快速寻找焦点：聚焦辅助器在光程内插入聚焦辅助器可以轻松准确地实现诸如裸晶圆之类低对比度样品的对焦。左图：网格显示图像失焦。/ 中图: 网格辅助对焦。/ 右图: 轻松获得焦点图像。 轻松恢复显微镜设置：编码硬件编码功能将MX63系列的硬件设置与奥林巴斯Stream图像分析软件整合在一起。观察方法、照明强度和放大倍率可由软件自动记录并与相关图像一起存储。由于设置可轻松复制，任何操作员经过基本培训即可完成相同质量的检测工作。不同的操作者使用不同的设置利用奥林巴斯Stream软件获得设备设置参数。所有操作者均可使用同一设置。实现更快、更舒适操作的符合人体工学控制更换物镜以及调整孔径光阑的控制位于显微镜前面较低的位置，因此使用者在使用过程中无须松开对焦旋钮或将头从目镜上移开。集中布置的显微镜操作按钮手动开关快照按钮 利用光强度管理器和自动孔径光阑控制实现更快的观察对于常规显微镜，使用者每次观察都需要调整光强度和孔径光阑。MX63系列让使用者能够针对不同的倍率和观察方法设定光强度和孔径光阑大小。这些能够轻松调用的设置即可帮助使用者节省时间又可始终获得最佳图像质量。光强度管理器传统光强当改变倍率或观察方法时，图像变得过亮或过暗。光强度管理器为了在更改倍率或观察方法时获得最佳图像，光强度可自动进行调节。 自动孔径光阑控制 最大孔径光阑: 更高的分辨 最小孔径光阑：更高对比度和更大的景深 为质量检验提供精细的光学和数码成像奥林巴斯研发高质量光学器件和先进数码成像技术的悠久历史成就了具有卓越测量精度的一系列可靠光学器件和显微镜。卓越的光学性能：波阵面像差控制物镜物镜的光学性能对于观察图像质量和分析结果有着直接的影响。奥林巴斯UIS2高倍率物镜可最大限度减小波阵面像差，从而获得可靠的光学性能。 差的波阵面 好的波阵面(UIS2物镜) 始终一致的色温：高强度白光LED照明MX63系列采用高强度白光LED光源进行反射和透射照明。无论光强度如何，LED光源均可保持始终如一的色温，从而实现可靠的图像质量和色彩再现。LED系统可提供非常适合材料科学应用的高效率、长寿命照明。色彩随光强变化而变化。 色彩始终与光强保持一致，并且比卤素灯更清晰。 * 所有图像均采用自动曝光采集 精确测量：自动校准与数码显微镜类似，当使用奥林巴斯Stream软件时可实现自动校准。自动校准有助于消除校准过程中的人为偏差，保证了更可靠的测量。自动校准采用的算法可根据多个测量点均值自动计算正确的校准值。由此最大限度减小了因不同操作者所导致的偏差，并始终保持稳定的精度，提高了常规验证的可靠性。 完全清晰的图像：图像阴影校正奥林巴斯Stream软件具有解决图像角落周边阴影问题的阴影校正功能。在配合强度阙值设置使用时，阴影校正可实现更加精确的分析。半导体镜片（二值化图像） 右图: 阴影校正可在整个视场上获得均匀的照明效果。 全面可定制MX63系列设计用于让用户能够选择各种光学器件满足其特定的检测和应用需求。该系统可使用所有观察方法。用户还可从一系列的奥林巴斯Stream图像分析软件包中进行选择，以满足其特定的图像采集和分析需求。两个系统兼容多种样品规格MX63系统能够检测尺寸达200毫米的晶圆，而MX63L系统能够以与MX63系统相同的较小占用空间，检查尺寸达到300毫米的晶圆。模块化设计可让根据您的特定需求定制显微镜变得更加轻松。MX63 MX63L红外兼容性红外观察可利用红外物镜透镜实现，该物镜能够通过透射红外线的硅特性让操作人员实现对封装和安装在印刷电路板上的集成电路芯片内部进行非破坏检测。5X到100X红外物镜可实现从可见光波长到近红外波长的色差校正。 红外物镜透镜 原始图像 有色差 应用电极部件的红外图像红外（IR）可用于检查集成电路芯片和其他玻璃基硅制造器件的内部缺陷。薄膜（左：明场 / 右：偏光）偏光可用于显示材料的纹理和晶体样貌。其非常适合检测晶片和LCD结构。 硬盘 （左：明场 / 右：DIC) 微分干涉差(DIC)用于帮助观察具有细微高度差异的样品。该技术非常适合用于检测诸如磁头、硬盘介质、以及抛光晶片等具有极小高度差的样品。半导体晶圆上的集成电路图形 （左：暗场 / 右：MIX（明场 + 暗场）暗场是检测标本上细微划痕或缺陷以及晶片等镜面样品的理想工具。MIX照明可让使用者即可观察图形也可观察色彩。 半导体晶片上的光致抗蚀剂残留物 （左：荧光 / 右: MIX（荧光 + 暗场）荧光观察适用于使用专用滤色片立方照明时能够发光的样品。其可用于检测污染物和光致抗蚀剂残留物。MIX照明可实现光致抗蚀剂残留和集成电路图形的观察。 LCD滤光片 （左：透射光 / 右：MIX (透射光 + 明场)) 这种观察技术非常适合诸如LCD、塑料以及玻璃材料等透明样品。MIX照明可实现滤色片颜色和电路图形的观察。 MX63MX63L光学系统UIS2光学系统(无限远校正系统) 显微镜镜架反射光照明白光LED (带有光强度控制器) 12伏100瓦卤素灯,100瓦汞灯明场/暗场/分光镜组件手动切换。(反射镜分光镜组件为选配件。) 通过手动操作调整3位编码分光镜组件 内置电动孔径光阑（针对所有物镜预设，暗场自动完全打开） 观察模式：明场、暗场、微分干涉相衬（DIC）*1、简易偏光 *1、荧光 *1、红外 *1 和MIX观察（4个定向暗场）*2*1选配分光镜组件，*2 需使用MIX观察配置透射光照明透射光照明装置：需使用MX-TILLA或MX-TILLB。 - MX-TILLA：聚光镜（NA0.5）和孔径光阑 - MX-TILLB：聚光镜（NA0.6），孔径光阑以及视场光阑 光源：LG-PS2 (12V,100瓦卤素灯)光导:LG-SF 观察模式:明场、简易偏光聚焦行程：32毫米 每转行程微调：100微米 最小分度: 1微米 用于粗调的上限限位器和扭矩调节最大载荷重量(包括载物台和支架) 8公斤15公斤观察筒宽视场(FN 22毫米)正像三目镜筒：U-ETR4 正像、可调倾角三目镜筒:U-TTR-2 倒像三目镜筒:U-TR30-2、U-TR30IR (用于红外观察) 倒像双目镜筒:U-BI30-2 倒像可调倾角双目镜筒：U-TBI30超宽视场(FN 26.5毫米) 正像可调倾角三目镜筒：MX-SWETTR (光程切换100% (目镜):0(相机)或0:100%) 正像可调倾角三目镜筒:U-SWETTR (光程切换100% (目镜):0(相机)或20%:80%) 倒像三目镜筒: U-SWTR-3电动物镜转换器明场带DIC插槽的电动六孔：U-D6REMC带DIC插槽的电动定心五孔：U-P5REMC明场和暗场带DIC插槽的电动六孔：U-D6BDREMC带DIC插槽的电动五孔：U-D5BDREMC带DIC插槽的电动定心五孔：U-P5BDREMC载物台 (X×Y)带内置离合驱动的同轴右手柄：MX-SIC8R行程: 210 x 210毫米透射光照明区域：189 x 189毫米带内置离合驱动的同轴右手柄：MX-SIC6R2行程: 158 x 158毫米(仅适用于反射光)带内置离合驱动的同轴右手柄：MX-SIC1412R2 行程: 356 x 305毫米 透射光照射区域：356 x 284毫米重量约35.6公斤(显微镜架26公斤)约44公斤(显微镜架28.5公斤)

MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸高达300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。结合奥林巴斯Stream图像分析软件使用时，从观察到生成报告的整个检测流程更简洁直观。1、先进的分析工具MX63系列的各种观察功能可生成清晰锐利的图像，让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。2、从不可见到可见：MIX观察与图像采集通过将暗场与明场、荧光或偏光等其他观察方法结合使用，MIX观察技术能够获得特殊的观察图像。MIX观察技术可让用户发现用传统显微镜难以观察的缺陷。暗场观察所用的环形LED照明器具有可四象限分段照明的定向暗场功能。该功能可减少样品光晕，有助于观察样品的表面纹理。3、轻松生成全景图像: 即时MIA利用多图像拼接(MIA)功能, 用户移动手动载物台上的XY旋钮即可轻松快速完成图像拼接—电动载物台无需进行该操作。奥林巴斯Stream软件利用模式识别生成全景图像，让用户获得更宽的视场。4、生成全聚焦图像: EFI奥林巴斯Stream软件的扩展聚焦成像(EFI)功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI将这些图像堆叠在一起生成单幅全聚焦样品图像。EFI配合手动或电动Z轴载物台使用，可轻松生成结构可视化的高度图像。EFI图像可在奥林巴斯Stream桌面软件内离线生成。5、利用HDR采集明亮区域和暗光区域利用先进的图像处理技术，高动态范围(HDR)可在图像内调整亮度差异，以减少眩光。HDR改善了数字图像的视觉品质，从而有助于生成具有专业级外观的报告。6、从基本测量到上等分析测量对于品质、工艺控制和检测非常重要。基于这一想法，即便是入门级奥林巴斯Stream软件包也包括交互测量功能的全部菜单，并且所有测量结果与图像文件一起保存以便日后调用文档。此外，奥林巴斯Stream材料解决方案可为复杂图像分析提供直观的工作流界面。点击按钮，图像分析任务即可快速精准完成。可大幅度缩减重复性任务的处理时间，使操作人员的精力集中在检测工作上。7、高效的报告创建创建报告所用的时间常常比采集图像和测量还长。奥林巴斯Stream软件提供了直观的报告创建功能，能够根据预先设定的模板多次创建专业复杂的报告。编辑非常简单，报告可导出为MicrosoftWord或PowerPoint文件。此外，奥林巴斯Stream报告功能能够对采集的图像进行数码变焦和倍率放大。报告文件大小适中，通过电子邮件进行数据传递更加方便。8、独立相机选项利用DP22或DP27显微镜相机的MX63系列是一套先进的独立系统。该相机采用几乎不占空间的紧凑型控制盒进行控制，在采集清晰图像以及进行基本测量工作的同时让实验室空间得到充分利用。 9、支持洁净室合规性的先进设计MX63系列专为洁净室工作而设计，并有效降低样品污染或受损的风险。该系统采用人体工学设计，可帮助用户在长时间使用中保持舒适。MX63系列符合SEMI S2/S8、CE和UL等多项国际规范及标准要求。选配晶圆搬送机 — AL120系统* 选配的晶圆搬送机可安装在MX63系列上，实现无需使用镊子或工具即可安全地将硅片及化合物半导体晶圆从片盒转移到显微镜载物台上。强大的性能和可靠性能够安全、高效地对晶圆正面和背面进行宏观检测，同时搬送机还可帮助提高实验室工作效率。MX63系统与AL120晶圆搬送机结合使用(200毫米型号)快速、清洁的检测MX63系列可实现无污染的晶圆检测。所有电动组件均安装在防护结构壳内，显微镜镜架、镜筒、呼吸防护罩、及其他部件均采用防静电处理。电动物镜转换器的转速比手动物镜转换器更快更安全，缩短检测间隔时间的同时让操作人员的手始终保持在晶圆下方，避免了潜在的污染。系统设计实现高效观察利用内置离合和XY旋钮，XY载物台能够实现对载物台运动的粗调和微调。即便针对诸如300毫米晶圆这样的大尺寸样品，载物台也可帮助实现高效的观察。倾斜观察镜筒的扩展范围可让操作人员以舒适的姿态坐在显微镜前工作。接受所有晶圆尺寸该系统可配合各类150–200毫米和200–300毫米晶圆托架和玻璃台板使用。如果生产线上的晶圆尺寸发生变化，可更改载物台或镜架。有了MX63系列，各种载物台均可用于检测75毫米、100毫米、125 毫米和150毫米晶圆。

适用于大型零部件的检测工作站EVOTIS （VS9） VS9 EVOTIS 技术检测系统提供先进的专业检测工作站 适合检测PCB印刷电路板及大型复杂零部件快速检测大型复杂部件放大倍率范围为3.7倍至300倍3D 360°旋转观察 （以34° 倾斜角度）全新EVOTIS（VS9）是一款先进的检测工作站，适合检测 PCB 和托盘状元器件等大面积对象， 专为满足快速高效地检测精密细节而设计。EVOTIS （VS9）配备Lynx evo 体视显微镜或者EVO Cam数码显微镜都可以使用众多检测工具，包括 360°旋转观察器, 多种物镜, 高清摄像头模块及十字线.该系统由两个稳固的高性能平台组成，形成可独立锁定的X-Y轴，可沿成行特征进行有序检测扫描。产品优势快速检测大型复杂零部件放大倍率范围为3.7倍至300倍浮动平台可提供平滑精确的操作控制，尤其适用于检测敏感型样品平台可独立锁定进行精密检测任务（X-轴，Y-轴，或同时锁定）可配备 Lynx EVO 体视显微镜或EVO Cam数码显微镜超强的人机工学性能可帮助大大消除疲劳，提升产能和效率。 可在垂直观察与360度旋转观察之间任意切换，对于焊点、孔洞、支柱以及螺纹形状尤其适用。VS9 EVOTIS检测系统以曾在全球数以万计PCB制造企业中广为应用的Lynx VS8为基础，为用户带来绝佳的人机工学性能，大大减轻工作疲劳，并提高精确率及生产效率，降低次品率。VS9 EVOTIS是特为印刷电路板（PCB） 检测设计的一款无目镜体视检测显微镜，适合所有电子行业的应用，包括精细节距、表面贴装、TAB卷带自动结合及BGA球栅阵列封装技术。配备 Lynx EVO 的 EVOTIS人机工学无目镜体视3D观察3.7 倍至 180 倍放大倍率兼容 Lynx EVO 物镜与配件Lynx EVO的无目镜光学器件可显著增加头部自由以及眼部舒适度，从而减轻操作员因长时间工作而产生的压力和疲劳。配备 EVO Cam 的 EVOTIS 大视场检测系统 5.5 倍至 300 倍放大倍率兼容 EVO Cam 物镜与配件 360° 旋转观察器可在垂直观察与360° 旋转观察之间切换， 带来快速全面的检测 360°旋转观察器是操作者可通过与垂直方向34°倾斜角的方向对被测物进行观察，同时可旋转旋转观察器获得更好的3D立体视图，尤其适用于检测立体零部件，例如PCB焊点、孔洞、支柱及螺纹形状。 扫描平台稳定、大容量的扫描，为各种尺寸的电路板提供自如的漂浮移动，包括双面PCB板。 平台可独立锁定适用于精密检测任务（X-轴，Y-轴，或者同时）并带有接地点防止检测过程中的静电. 图像捕捉存储模块化解决方案可提供图像捕捉、处理分析及存储等多种功能。可选择独立使用，连接USB，或配合全高清数码摄像头。

一、金相显微分析系统特点和用途: 金相显微分析系统DMM-200C是由正置透反射金相显微镜和数字摄像机组成。 DMM-200C电脑型正置金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 金相显微分析系统DMM-200C是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。二、仪器主要技术参数:名 称参数规格观察筒三目观察筒，30度倾斜，瞳距调节范围：55-75mm,视度可调目镜WF10X（视场φ18mm）平场消色差物镜PL5X/0.12工作距离：18.3mmPLL10X/0.25 工作距离：8.9mmPLL40X/0.60 工作距离：3.7mmPLL60X(弹簧)/0.75 工作距离：1.34mm放大倍数光学放大倍数50X-600X转换器内向式滚珠四孔物镜转换器调焦系统粗微动同轴调焦机构，调焦行程：30mm,微动格值:0.002毫米，左调焦带限位装置,右调焦带锁紧装置.偏光装置检偏器：三目观察筒内置推拉式检偏器起偏器：插入式起偏器，可旋转载物台双层机械载物台，大小：185*140mm，移动范围：75*50mm，通光孔:70*30mm落射照明系统6V20W卤素灯，亮度可调，灯丝位置可调内置视场光栏、孔径光栏，转盘式滤色片组转盘式蓝、黄、绿、磨砂滤色片组电脑摄像系统CK-500CK-500彩色摄像机: 最高分辨率：2560×1920，功耗小，连接简单：USB接口， 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。节,亮度调节等。可在图像上添加文字、放置比例尺等。 三、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1正置金相显微镜主机1台DMM-200C2三目观察筒1套310X目镜1对4平场消色差物镜5X、10X、40X、60X各 1个5灯箱1个6卤素灯灯泡1个6V20W7电源线1根8偏振片1个9彩色数字摄象机CK-5001个10摄像机接口1个11数据传输线1根12测微尺1块0.01mm13仪器防尘罩1个14使用说明书1份15出厂合格证1份16保修卡1份

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正置金相显微分析系统DMM-300C 一、金相显微分析系统特点和用途: 金相显微分析系统DMM-300C是由正置透反射金相显微镜和数字摄像机组成。DMM-300C正置金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。 金相显微分析系统DMM-300C是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。二、仪器主要技术参数:名 称参数规格观察筒三目观察筒，30度倾斜，瞳距调节范围：55-75mm,视度可调目镜WF10X（视场φ18mm）平场消色差物镜PL5X/0.12工作距离：18.3mmPLL10X/0.25 工作距离：8.9mmPLL40X/0.60 工作距离：3.7mmPLL60X(弹簧)/0.75 工作距离：1.34mm放大倍数光学放大倍数50X-600X转换器内向式滚珠四孔物镜转换器调焦系统粗微动同轴调焦机构，调焦行程：30mm,微动格值:0.002毫米，左调焦带限位装置,右调焦带锁紧装置.偏光装置检偏器：三目观察筒内置推拉式检偏器起偏器：插入式起偏器，可旋转载物台双层机械载物台，大小：185*140mm，移动范围：75*50mm，通光孔:70*30mm载物板透光玻璃载物板，大小：97*76m落射照明系统6V20W卤素灯，亮度可调，灯丝位置可调内置视场光栏、孔径光栏，转盘式滤色片组转盘式蓝、黄、绿、磨砂滤色片组透射照明系统6V 20W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 NA.1.25 ，可调孔径光栏，中心可调，可上下升降集光器：可调视场光栏蓝色和磨砂玻璃滤色片电脑摄像系统CK-500CK-500彩色摄像机: 最高分辨率：2560×1920，功耗小，连接简单：USB接口， 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。节,亮度调节等。可在图像上添加文字、放置比例尺等。 三、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1透反射金相显微镜主机1台DMM-300C2三目观察筒1套310X目镜1对4平场消色差物镜5X、10X、40X、60X各 1个5反射灯箱1个6聚光镜1个7滤色片2片8卤素灯灯泡1个6V20W9电源线1根10彩色数字摄象机CK-5001个11摄像机接口1个12USB数据传输线1根13测量软件光盘1张14仪器防尘罩1个15测微尺1块0.01mm16透射玻璃板1块17使用说明书1份18出厂合格证1份19保修卡1份

PCB切片分析,是苏州汇光科技专业的金相显微镜分析软件，目前苏州汇光供应的PCB切片分析显微镜有多种，如HGO系列切片分析显微镜，CX系列切片分析显微镜，RX系列切片分析显微镜,您可根据自身需求选择，如果您不确定选择那台显微镜比较合适，也可以咨询我们技术，他们讲根据您检测产品需求为您定制智能解决方案哦。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年，是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像，自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。 产品主要服务于各类电子工业研发制造领域，通讯电子领域，IC芯片制造领域，LCD显示技术领域，半导体封装测试领域，手机及触摸屏、半导体集成电路、LCD液晶面板、太阳能光伏、柔性电路板等电子类、元器件类以及光学与材料类相关新兴制造行业，汽车部件研发制造领域，新能源新材料研究分析领域，教育教学等等领域；公司在华东乃至全国拥有各类制造业客户，包括世界500强企业与各种知名民营私企。公司全体员工秉承专注、创新、坚持、担当的职业精神与理念，为客户提供高品质的产品及优质的服务；愿成为国内外广大客户的忠实合作伙伴，为科技与工业的发展努力！

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模拟驱动板:· MicroMaxTM677xx板级单轴SMT驱动电路板· MicroMaxTM671xx板级单轴SMT驱动电路板· MicroMaxTM673xx板级双轴SMT驱动电路板主要应用：· 最小的侍服控制驱动器，适合于紧凑的、低成本的系统集成· 位置、错误、速度、故障输出信号· 输入比例和偏置调整· 板载保护电路· 微弧度级精度，最大响应频率· 与CTI所有振镜灵活配套使用· 小型尺寸易于集成使用· 位置、错误、速度、故障输出信号· 输入比例和偏置调整· 模拟和数字输入· 系统调节和状态监控池主要技术指标：型号677xx671xx673xx单位/公差模拟输入阻抗400K200K200Kohms,+/-1%(微分)200K± 1%100K± 1%100K± 1%ohms(SingleEnded)模拟输出阻抗1K± 1%ohms(SingleEnded)命令输入比例系数0.50(40° 系统)0.67(30° 系统)0.50(其它比例可选配)volt/degree位置输入范围± 10± 10voltsmax数字位置输入范围-216daccounts16位数字输入的非线性度-全程0.006%,max位置偏移范围± 102volts命令输出比例系数0.50volt/degree错误输出比例系数0.50volt/degree速度输出比例系数模拟输出按照位置微分增益比例错误输出开式集电器:1Kohm输出阻抗(最低至-15V),带10mA弱减能力输入电压要求± 15-± 28VDC@5AMaxRMS最大驱动电流限制10A峰值,5Arms视电源和负载不同工作温度范围

MX63和MX63L显微镜系统特别适合尺寸高达300毫米的晶圆、平板显示器、电路板、以及其他大尺寸样品的高质量检测。其采用的模块化设计可让您根据需要选择组件，获得根据应用定制的系统。结合奥林巴斯Stream图像分析软件使用时，从观察到生成报告的整个检测流程更简洁直观。1、先进的分析工具MX63系列的各种观察功能可生成清晰锐利的图像，让用户能够对样品进行可靠的缺陷检测。全新照明技术以及奥林巴斯Stream图像分析软件的图像采集选项为用户评估样品和存档检测结果提供更多选择。2、从不可见到可见：MIX观察与图像采集通过将暗场与明场、荧光或偏光等其他观察方法结合使用，MIX观察技术能够获得特殊的观察图像。MIX观察技术可让用户发现用传统显微镜难以观察的缺陷。暗场观察所用的环形LED照明器具有可四象限分段照明的定向暗场功能。该功能可减少样品光晕，有助于观察样品的表面纹理。3、轻松生成全景图像: 即时MIA利用多图像拼接(MIA)功能, 用户移动手动载物台上的XY旋钮即可轻松快速完成图像拼接—电动载物台无需进行该操作。奥林巴斯Stream软件利用模式识别生成全景图像，让用户获得更宽的视场。4、生成全聚焦图像: EFI奥林巴斯Stream软件的扩展聚焦成像(EFI)功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI将这些图像堆叠在一起生成单幅全聚焦样品图像。EFI配合手动或电动Z轴载物台使用，可轻松生成结构可视化的高度图像。EFI图像可在奥林巴斯Stream桌面软件内离线生成。5、利用HDR采集明亮区域和暗光区域利用先进的图像处理技术，高动态范围(HDR)可在图像内调整亮度差异，以减少眩光。HDR改善了数字图像的视觉品质，从而有助于生成具有专业级外观的报告。6、从基本测量到上等分析测量对于品质、工艺控制和检测非常重要。基于这一想法，即便是入门级奥林巴斯Stream软件包也包括交互测量功能的全部菜单，并且所有测量结果与图像文件一起保存以便日后调用文档。此外，奥林巴斯Stream材料解决方案可为复杂图像分析提供直观的工作流界面。点击按钮，图像分析任务即可快速精准完成。可大幅度缩减重复性任务的处理时间，使操作人员的精力集中在检测工作上。7、高效的报告创建创建报告所用的时间常常比采集图像和测量还长。奥林巴斯Stream软件提供了直观的报告创建功能，能够根据预先设定的模板多次创建专业复杂的报告。编辑非常简单，报告可导出为MicrosoftWord或PowerPoint文件。此外，奥林巴斯Stream报告功能能够对采集的图像进行数码变焦和倍率放大。报告文件大小适中，通过电子邮件进行数据传递更加方便。8、独立相机选项利用DP22或DP27显微镜相机的MX63系列是一套先进的独立系统。该相机采用几乎不占空间的紧凑型控制盒进行控制，在采集清晰图像以及进行基本测量工作的同时让实验室空间得到充分利用。 9、支持洁净室合规性的先进设计MX63系列专为洁净室工作而设计，并有效降低样品污染或受损的风险。该系统采用人体工学设计，可帮助用户在长时间使用中保持舒适。MX63系列符合SEMI S2/S8、CE和UL等多项国际规范及标准要求。选配晶圆搬送机 — AL120系统* 选配的晶圆搬送机可安装在MX63系列上，实现无需使用镊子或工具即可安全地将硅片及化合物半导体晶圆从片盒转移到显微镜载物台上。强大的性能和可靠性能够安全、高效地对晶圆正面和背面进行宏观检测，同时搬送机还可帮助提高实验室工作效率。MX63系统与AL120晶圆搬送机结合使用(200毫米型号)快速、清洁的检测MX63系列可实现无污染的晶圆检测。所有电动组件均安装在防护结构壳内，显微镜镜架、镜筒、呼吸防护罩、及其他部件均采用防静电处理。电动物镜转换器的转速比手动物镜转换器更快更安全，缩短检测间隔时间的同时让操作人员的手始终保持在晶圆下方，避免了潜在的污染。系统设计实现高效观察利用内置离合和XY旋钮，XY载物台能够实现对载物台运动的粗调和微调。即便针对诸如300毫米晶圆这样的大尺寸样品，载物台也可帮助实现高效的观察。倾斜观察镜筒的扩展范围可让操作人员以舒适的姿态坐在显微镜前工作。接受所有晶圆尺寸该系统可配合各类150–200毫米和200–300毫米晶圆托架和玻璃台板使用。如果生产线上的晶圆尺寸发生变化，可更改载物台或镜架。有了MX63系列，各种载物台均可用于检测75毫米、100毫米、125 毫米和150毫米晶圆。

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技术清洁度的基本知识是什么？当今的技术产品日益复杂，特别是在航空航天、汽车、重型设备和电气工程行业中，因而人们对产品的可靠性和质量保证的要求也越来越高。成品的耐用性和使用寿命取决于产品的多种其他特性，而产品的所有特性都与其可以测量的技术清洁度息息相关：产品材料的质量和特性适当的公差表面的总清洁度或颗粒负载技术清洁度如何影响产品的可靠性？产品污染现象通常发生在制造过程中，但是也可能发生在存储、清洁或处理的过程中。如果产品受到污染，会直接影响成品的可靠性和使用寿命。不干净的表面或生产液体对产品造成的危险包括功能失效、产品故障，甚至产品完全报废。在制造和装配过程中使用的技术设备表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差、生产停工、浪费材料和能源等问题。较大的残留颗粒可能会使产品的功能完全丧失。随着系统组件尺寸的不断减小，较小的残留颗粒也可能会导致灾难性故障的发生，并造成整个成品的报废。技术清洁度在哪些应用领域最为重要？部件和零件的清洁度检测是制造工艺的关键性环节。以下对某些特定行业技术清洁度的重要性进行几点基本说明：重型机械：由于构成重型机械的部件很大，且可能难以接触到这些部件并直接进行检测，因此对这些产品的检测，可能会耗费很多成本。不过，我们可以选择不对机械产品本身进行检测，而是通过检测使用过机油中的颗粒含量而了解机械产品的清洁度，这是一个更具成本时间效益的方法。机油的状态可以准确地表明机械产品的清洁情况。电气工程：如果在生产过程中电路的联结点上存有颗粒，则表明电路连线没有被正确地构建。探测到这些颗粒并随后清除颗粒，是避免印刷电路板（PCB）短路的好方法。汽车行业：在汽车行业中，许多复杂的系统和部件都需要一尘不染。这些系统和部件包括ABS系统、燃油喷射器、制动卡钳以及液压油系统。技术清洁度检测的过程是什么？适当的技术清洁度检测要按照一种明确、完善的工艺完成，这种工艺首先要通过滤膜提取到颗粒，然后再对会直接影响成品性能、使用寿命和可靠性能的污染物进行定量分析。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法将样品上的颗粒分离出来，然后再借助滤膜将这些颗粒收集起来。待滤膜干燥后，使用多步骤检测工艺对滤膜上的颗粒进行检测，以识别和分析前述对成品有害无益的污染物。对污染物的分析要按照国际标准完成，如：ISO 16232 (VDA 19.1)和ISO 4407。当今的技术产品日益复杂，因此需要更高水平的污染控制汽车、航空航天、重型机械和电气工程行业的技术产品日益复杂，因此对生产条件和生产部件的清洁要求也日益提高。技术设备和部件表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差；在制造过程中，设备上残留的颗粒会造成停工、延误交货时间、浪费材料和能源以及退货等问题。技术清洁度检测应用包括对ABS系统、柴油喷射器、制动卡钳、液压系统、管道、PCB、互连系统和较大重型机械部件的清洁情况进行检测。清洁度检测过程技术清洁度检测是一个包含了一系列准备步骤和检测步骤的较为复杂的过程。这篇博客对技术清洁度的检测过程进行概括介绍（后续博客将更深入地说明所涉及的准备和检测步骤）。准备工作检测之前对部件的准备工作分为如下步骤：部件清洗：准备阶段始于从生产线上取下一个部件样本并进行清洗（在提取步骤之前）。提取：在放置于无尘室的提取柜中去除被测部件上的颗粒。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法去除颗粒。过滤：对提取液进行过滤，并在滤膜上收集提取的颗粒（过滤材料包括纤维素、聚酯、玻璃纤维和尼龙网布）。烘干并称重：滤膜被烘干，并准备接受进一步分析。滤膜烘干后，会留下所有杂质，然后，使用分析天平对其称重。检测检测过程包括以下步骤：图像采集和载物台的移动：烘干的滤膜被放置在电动显微镜的载物台上，以采集检测所需的图像。颗粒的探测：观察滤膜的图像，以找到表现为明亮背景中黑色区域的颗粒。粒径的测量：根据不同参数对所探测到的颗粒进行测量，这些参数包括：大卡尺直径（与颗粒投影相切的两条平行线之间的距离）和等效圆直径。粒径的分类：对颗粒进行了测量之后，将颗粒分成不同的粒径级别组。两个主要粒径等级为差值（由小和大粒径定义）和累积（仅由小粒径定义）。颗粒计数外推法：在滤膜中定义一个区域进行扫查，并探测其中的颗粒。这些区域可以是滤膜尺寸（整个滤膜区域）、流经区域（颗粒所覆盖的滤膜区域）、大扫查区域（检测所能扫查的大区域），以及检查区域（由用户定义的实际扫查区域）。颗粒计数归一化：由外推法获得的颗粒计数被归一为某种比较值，从而可以对多次测量获得的结果进行比较。归一化方法包括清洗区域（归一为1000平方厘米区域的颗粒计数）、清洗体积（归一为100立方厘米区域的颗粒计数）、清洗样件（归一为单一样件的颗粒计数），以及过滤流体（归一为1毫升或100毫升过滤流体的颗粒计数）。污染水平的计算：这种分类水平不是由粒径决定的，而是由（大多数国际标准）所定义污染级别中的颗粒总体数量决定的。清洁度代码的定义：某些标准将测量数据的表现方式简化为简要的说明。这种清洁度代码根据标准而定义，并由粒径的级别和污染水平构成。大审核值：进行核查以获得大审核值是一个可选步骤。如果需要获得一个大审核值，则会在检测配置中确定，也可能会确定一个颗粒数量值或者一个大清洁度代码。反光颗粒和非反光颗粒的区分：金属颗粒和非金属颗粒之间的区别是通过确定颗粒是否反光而完成的（这种区分极其重要，因为金属颗粒会造成比非金属颗粒大得多的伤害）。纤维鉴别：在滤膜上探测到的纤维通常与滤膜上发现的其他颗粒来自于不同的地方（例如：纤维可能来自工作服或者抹布）。因此需要根据评估清洁度所使用的标准，识别、分析或忽略纤维。结果的复核：在复核结果的过程中可能会执行以下操作：删除被错认为颗粒的项目；将靠得很近并被错认为是单个大颗粒的多个颗粒分开；将靠得很近并被错认为是不同颗粒的一个颗粒的组成部分融合在一起；修正错误的颗粒标签（例如：金属或非金属）。报告的创建：技术清洁度检测报告可以包括某些颗粒采集参数的说明、颗粒分类表、颗粒区域覆盖的详细信息，以及大颗粒的图像。OLYMPUS CIX系列：为技术清洁度的检测而设计技术清洁度检测向检测人员提出了一系列挑战，其中包括在检测过程中核查检测结果，同时观察反光和非反光颗粒，每天检测多个样本，基于不同的标准修正并重新计算结果，以及制作合规性报告分享结果。OLYMPUS CIX系列，特别为技术清洁度检测而设计，不仅可以迎接上述挑战，而且使用方便，可以使用户在非常舒适的条件下完成检测。OLYMPUS CIX系列的高端光学部件，硬件和软件的无缝整合，以及无需维护的可靠设计，确保了图像条件的再现性，并使清洁度检测成为一项可以轻松完成的日常任务应用：使用OLYMPUS CIX100技术清洁度检测系统进行钢厂液压设备污染分析在钢厂，某些生产设备需要液压油压力进行驱动。在操作过程中，该设备中使用的液压油可能受到污染，从而改变其化学成分，影响设备的效率，最终缩短液压油和设备的使用寿命。颗粒污染物的可接受水平由国际标准和公司标准确定。钢厂操作人员依据符合这些标准的污染管理计划能够使液压油保持良好状态。此计划涉及通过定期技术清洁度检测来监测和分析液压油颗粒污染。不过，有些污染分析方法比如使用实验室天平的重量分析或颗粒计数器，存在固有缺陷，不那么精确：使用重量分析来分析污染时，可以确定污染物总质量，但单个颗粒的大小数据未知。颗粒计数器无法进行金属和非金属分类，或按形状分类。此外，根据液压油中污染物的取向，颗粒计数可能不准确。奥林巴斯的解决方案使用OLYMPUS CIX100技术清洁度检测系统进行分析产品的特性OLYMPUS CIX100系统具有高性能工业显微镜和多功能专用软件，可以获得每个颗粒污染物形状和大小的高精度数据。该系统利用其独特的光学系统，检测反光颗粒和非反光颗粒，因此可以通过一次扫描分类金属和非金属污染。OLYMPUS CIX100系统符合NAS1638/ISO4406、4407/NFISO21018、NF E48-651和48-655工业标准。还允许用户创建自己的分类设置。应用：汽车部件清洁度检测应用案例1. 背景一辆汽车的整体质量等同于其各个部件质量的总合，确保每个部件达到严苛标准的优质水平，是每个汽车制造商义不容辞的责任。汽车制造商还必须考虑减排、燃油效率、长期耐用性和监管标准等方面的要求。随着汽车零部件变得日益复杂，汽车制造商也更加着力强调零部件的材料特性、装配公差和技术清洁度一定要符合严格的要求，而使零部件达到规定的标准，在最终产品的长期耐用性、可靠性及预期寿命方面都发挥着举足轻重的作用。颗粒污染物会直接影响部件的可靠性，特别是在部件是由多个供应商的组件装配而成的情况下。随着系统和组件越变越小，甚至极其微小的颗粒也会引起灾难性的故障，因此对部件和液体进行技术清洁度和完整性的评估成为质量控制过程的一个必不可少的环节。2. 应用在生产过程中，需要以切割、打磨和去毛刺等方式对所制造的金属部件进行加工处理。如果在切割、打磨和去毛刺的过程中没有将所产生的金属屑和其他异物从关键性的部件中适当地清理和清除，就可能产生涉及到整个系统的严重问题。这些部件如：曲轴轴承夹具、阀门堵塞装置、喷嘴、喷油器、过滤器或电子部件。如果燃油系统、制动系统、液压回路或电子设备的任何部件不符合清洁度的要求，则整个系统都可能会发生故障。为了确保部件和系统符合清洁度的要求，首先要使用无尘室中的提取箱将污染颗粒从部件上分离出来。通过液体淋浴或超声波清洗的方式将部件上的污染物质去除。然后将含有污染物的清洗液体通过滤膜，以提取颗粒。滤膜被夹放在托架中晾干，以备进一步分析之用。滤膜晾干后，被放置在显微镜的载物台上，以进行图像采集和检测之用。由于专用放大倍率可能会限制摄像头的视场，因此较大的颗粒可能会被分割成两个或多个图像。为了确保这些颗粒只被探测到一次，每个颗粒可使用不同的参数表述。其中最重要的参数是费雷特直径和等效圆直径，这两个参数都用于测量颗粒的长度。其他颗粒参数可用于测量颗粒的面积、形状和反射率。这些特性用于识别特殊的颗粒种类，如：纤维颗粒和反光颗粒。对金属颗粒和非金属颗粒的区分基于它们反射光的不同表现。颗粒探测过程完成后，会生成一页结果信息，其中重点标出了每个颗粒的大小（一般是费雷特直径）。颗粒根据不同的大小被分成不同的组，以简化报告的制作，并使用户更方便地比较测量结果。必须根据一个参考值归一化颗粒的计数或外推计数。根据所使用的标准和被测滤膜，颗粒数量被归一为一个比较值。这样用户就可以比较多个测量值，即使在样品大小各有不同的情况下。各种国际标准都对分类参数和级别划分进行了定义说明。汽车行业颗粒大小的分类由小和大晶粒度定义。每个颗粒都只能被划分到一个类别中。VDA 19.1是一个对颗粒大小进行分类的典型标准：D类：超大费雷特直径大于25 μm，但小于50 μm的所有颗粒。E类：超大费雷特直径大于50 μm，但小于100 μm的所有颗粒。F类：超大费雷特直径大于100 μm，但小于150 μm的所有颗粒。根据这个标准，直径为75 μm的颗粒将被归为E类。系统会生成一个包含所有测量结果和有关滤膜数据的报告。图1. 提取用于检测的污染物颗粒3. 奥林巴斯的金属和非金属解决方案为了满足现代工业以及各种国内和国际标准（如：VDA 19.1和ISO 16232）对清洁度的要求，奥林巴斯设计研发了一种交钥匙系统：OLYMPUS CIX100，用于对低至2.5μm的微米级尺寸的污染物和异物进行计算、分析和分类。由于这个系统的多合一扫描解决方案可以同时探测到金属和非金属颗粒，因此其扫描速度比奥林巴斯的其它检测系统快一倍。所有已被计数和分类的颗粒都会实时显示在屏幕上，而用户使用一些功能强大的工具可以非常容易地对检测数据进行修改。系统的软件操作起来简便直观，其所提供的向导可以指导用户逐步完成检测过程，即使是初涉行业的操作人员也能快速、轻松地获得清洁度数据。金属颗粒的探测历来都要求用户通过将检偏镜旋转90°的方法捕获两幅单独的图像（相当耗时的过程），而我们的OLYMPUS CIX系统通过一次扫描就可以识别反光颗粒和非反光颗粒。图2：滤膜和非金属颗粒上的入射光呈扩散形式散射。无论入射光如何，“反射”光都不会出现偏光现象。即使入射光出现了偏光现象，也不会影响对偏光的分析。滤膜总是比滤膜上的颗粒显得更明亮。图3：当入射光接触到金属颗粒时，会发生真实的反射。从金属颗粒表面反射的光不会改变偏光情况。“经典的”清洁度检测方式正是利用了上述差异对金属和非金属颗粒进行区分。反射光的偏光情况可以通过摄像头和软件进行分析。在将起偏镜和检偏镜平行放置时，金属颗粒会显得非常明亮。OLYMPUS CIX系统可以不同方式工作（图4）。入射光束也可以出现偏光情况。可以使用一个延迟板改变光谱中一个波段的偏光情况。因此，入射光的偏光情况对于不同的颜色各有不同（图5）。图4a：非金属颗粒或滤膜的漫反射与经典的设置相同。反射光在所有颜色范围内都不会产生偏光，因此不需要进行分析。滤膜总是比滤膜上的颗粒显得更明亮。图4b：金属颗粒的反射也同样遵循经典的原理，而且保留了偏光属性。但是由于每种颜色的偏光情况为已知信息，因此可以直接在彩色图像中探测到金属颗粒。金属颗粒只有在某种特殊的颜色中才会变亮。图5：只需使用一幅彩色图像就可以区分反光（金属）颗粒和非反光（非金属）颗粒。无需进行第二次扫描，因此节省了时间。此外，无需旋转机械部件，从而减少了对检测仪器的磨损。在检测过程中，所有相关的数据，包含正在采集的图像和概览图像，都会实时显示在单一的屏幕上，这样可使操作人员在发现滤膜上有过多的污染物时停止或中断检测（图6）。系统会对反光颗粒和非反光颗粒进行计数，并根据检测配置和所选标准中定义的大小限度将探测到的颗粒归类。OLYMPUS CIX100系统支持汽车行业中使用的主要国际标准，其中包括以下标准：ISO 16232-10 (A) (N) (V)VDA 19.1 (A) (N) (V)ISO 4406ISO 4407ISO 12345NAS 1638NF E48-651NF E48-655SAE AS4059系统提供一个统计控制图表功能，可以图表方式直观地表明颗粒类别的合规水平，以提高检测结果的可靠性。系统探测到的每个污染物的缩微图都与相关的维度测量值一起显示在屏幕上，因此检测人员可以方便地查看数据。操作人员可以轻松地检索某个特定污染物的信息。在整个检测过程中，OLYMPUS CIX100系统有助于提高检测性能和检测效率。直观的工作流程和分步用户指导有助于减少周期时间、每次检测的成本，以及在处理过程中产生的错误。智能报告工具使用符合行业标准的预定义模板。检测结果可以在Microsoft Word 2016中创建，并以PDF格式导出（图7）。经验不足的用户使用模板可以避免产生人为的错误，还可以方便地修改模板，以满足各种水平操作人员的需求。扫描过的滤膜会被自动保存，以备重新处理或重新计算之用。图6. 图像处理可以区分由技术清洁度检测系统采集的不同的污染物类型图7. 清洁度分析报告

检孔机，印制电路板检孔机，PCB板检孔机，线路板检孔机印制电路板检孔机的用途用于检测印刷电路板钻孔后和包装前孔数和孔径大小，孔的品质（塞孔等），并能自动作出OK，NG的判断。JK3600主要针对PCB板面积较小而产量较大的成品板客户，满足市场上对PCB小板的高效检测。 特征：1、操作方便简单，人性化界面，检测步骤简单，无需专业人员易学易操作；2、采用漫射型超长条形LED光源，使用寿命长；3、检测速度快，PCB板可在在30°角度范围内任意放置，可节约检测时间，提高检测效率；4、JK3200配备双分拣装置，可同时检测两块板，并同时做出OK/NG判断； JK3600配备六分拣装置，可同时检测6块板，并同时做出OK/NG判断；5、具有网络检修站功能，可使用多部电脑同时连接主机，均可实现同步查看NG板缺陷信息，快速对NG版进行检修，提高工作效率；6、个性化软件设计，可根据用户不同的检测需求，快速对软件进行升级；检孔机技数参数项目规格可检测孔径范围0.15～10mm可检测电路板尺寸100 X 150mm ～ 630 X 650mm可测电路板厚度0.3～10mm最大检查孔数15万检测速度3.5～12.5m/min(可调)测孔重复精度±40um测孔公差±40um最小孔边距0.15mm检测方式CIS贴近式测量检测光源LED光源电源要求AC220V 50Hz本机尺寸3550mm X 1200mm X 1100mm(L *W*H)气压容量要求0.5~0.7MPa重 量450Kg

红外热成像显微镜 随着电子器件的不断缩小，热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面，使热点和热梯度可显示缺损位置，通常导致效率下降和早期故障的快速检测。 应用检测芯片的热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断测量结温甄别芯片键合缺陷测量热电阻装激光二极管性能和失效分析 产品特点20微米/像素固定焦距50度广角聚焦镜头320*240非制冷探测器30帧/秒拍摄和显示速度0—300摄氏度测量范围室温测量便于使用——1分钟安装测量待命 热及缺陷infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法提供检测和定位的热点在半导体器件消耗小于1毫瓦的功率和升高温度， 表现出只有0.05摄氏度。短时间试验中，设备通常是供电的5到10秒。I/O模块使大功耗是与软件测试同步。测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失，只有少量的电和热，一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。 自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源，对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏，同时定位时间。 红外热成像配套软件红外热成像显微镜软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户非常容易而快速获取温度信息。实时的带状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性的数据分析手段 微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温，一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。然后计算thermalyze软件的表面，适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温，设备供电，高温度区域内围交界处测量。

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ZEX-10A高清视频显微镜采用无穷远光学系统，广泛应用于半导体、光电制造、微电子、五金塑胶等领域。该系列配备高景深高物镜头、高清工业相机，采用嵌入式系统直接连接显示器成像，能有效减缓人员的视觉疲劳，提高操作人员的检测速度以及检测的准确性，适用于产线权健，工艺分析等。功能应用：广泛应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质和透明的物质，如金属、陶瓷、集成电路、电子芯片、印刷电路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、线材、纤维、镀涂层以及其它非金属材料等。ZEX-10A高清视频显微镜产品特点数码成像系统高清200万像素，1080P分辨率，HDMI输出，60/fps高速图像摄取，无拖影、延时现象；新增抑制强反光功能，满足高反光产品的观察，可以减少反光的情况；边缘轮廓增强模式，提升体图象的清晰度，使得图像呈现的更加清晰立体。光学系统无穷远光学系统，变倍比1：6.5，物镜变倍范围0.7x~4.5x，标准工作距离90mm；采用模块化设计，可选配CCD接筒或附加物镜，满足从7x~200x的放大倍率的选择。立柱式支架标配立柱式支架，底座尺寸380*250mm，立柱高360mm，升降范围可以达300mm，调焦范围60mm，可满足超大工件的观察，可根据需求选配6寸或10寸的二维移动平台。光源4.5W高亮度LED环形光源，亮度可调，2万个小时超长寿命，发热少，灯光柔自然无频闪；可选配透射或斜射式光源。显示器配置13.3寸高清显示器，采用HDMI高清输出，1080P实时分辨率，高强度金属外壳，屏幕采用IPS技术，色彩呈现更加绚丽真实，还原最真实的产品特征。可选21.5寸显示器

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MCK-6RC系列研究级金相显微镜集CAIKON 多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际领先设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。MCK-6RC秉承CAIKON不断探索、不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。各项操作根据人机工程学设计，最大限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。● 宽视场铰链式三目观察筒正像铰链三目观察筒，所成像的方位与物体实际方向相同，物体移动的方向跟像面移动的方向相同，便于观察与操作。● 大行程移动平台设计采用6寸平平台设计，行程158×158mm，可适用于对应尺寸的晶圆或FPD检测，也可用于小尺寸样品的阵列检测。● 高精度物镜转换器转换器采用精密轴承设计，转动手感轻巧舒适，重复定位精度高，物镜转换后的同心度也得到较好的控制。● 安全、稳重的机架结构设计工业检测级显微镜镜体，低重心、高刚性、高稳定性金属机架，保证了系统的抗震能力与成像稳定性。其前置低手位粗微调同轴调焦机构，内置100-240V宽电压变压器，可适应不同地区的电网电压。底座内部设计有风循环散热系统，长时间使用也不会使机架过热。二、工业级金相显微镜MCK-6RC功能介绍：MCK-6RC 集成了明场、暗场、偏光、DIC等多种观察功能。 广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件金属陶瓷部件、精密磨具等检测.集成了明场、暗场、斜照明、偏光、等各种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。三、工业级金相显微镜MCK-6RC的主要技术参数：名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察方式明场/暗场/偏光观察筒30°倾斜，正像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节：50mm~76mm，两档分光比双目:三目=100：0或0:100目镜高眼点大视野平场目镜PL10X/22mm，视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，带单刻度十字分划板，视度可调无限远长工作距平常消色差物镜物镜倍率数值孔径工作距离（mm）盖玻片厚度（mm）5X BD 0.159010XBD 0.309020XBD 0.453.4050XBD 0.557.50物镜转换器明暗场5孔转换器，带DIC插槽调焦机构透、反射式机架 , 前置低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程 33mm, 微调精度 0.001mm. 带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置.载物台6英寸三层机械移动平台，低手位X、Y方向同轴调节；平台面积445mm×240mm，反射照明移动范围：158mm×158mm；透射照明移动范围：100×100mm；带离合器手柄，可用于全行程范围内快速移动；玻璃载物台板（透、反射用）落射照明系统高亮12V100W卤素灯照明，亮度可调带可变视场光阑，中心可调节插板式滤色片，预制中心，光强连续可调透射照明系统单颗大功率5WLED灯泡，白光，长寿命，光强连续可调偏光装置起偏镜：插入式起偏镜，可以移出光路检偏镜：插入式可360°旋转检偏镜，可以移出光路暗场装置推拉式暗场观察拉杆，可快速转换到暗场观察电源内置100-240V宽电压变压器，双路电源输出电脑摄像系统CKC2000CKC2000高清彩色摄像机，采用索尼CMOS芯片，灵敏度可以与CCD芯片为同一量级，图像色彩还原度大大提高。最高分辨率：5496×3672， 芯片尺寸：1"，USB3.0连接,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CKC2000摄像机介绍）显微软件专业图像处理及拍摄软件，实时图像拼接及实时景深熔合，可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观，可在图像上添加文字、放置比例尺，是显微图像测量与分析的有效工具。六、仪器装箱单：序号名称数量单位附注1正置金相显微镜主机1台MCK-6RC2三目观察筒1套310X目镜1对4反射光路组1套5反射灯箱1套6无限远平场消色差物镜 5X、10X、20X、50X各 1个7快速移动手柄1个8滤色片1片9玻璃板1块10起偏镜1个11检偏镜1个12备用灯泡2个12V100W13高清数字摄像机CKC20001个14USB3.0数据传输线1根15摄像机接口1个16U盘1个17测微尺1块0.01mm18仪器防尘罩1个19电源线1根20使用说明书1份21出厂合格证1份23保修卡1份