激光电子经纬仪

岛津X射线光电子能谱仪有以下技术特点：1）高功率X射线源：岛津X射线源功率最高可达600W，高功率的X射线源保证对低含量元素的分析与检测；2）专利单电子源荷电中和：中和枪位于样品台正上方，单电子源开启方便，对真空无影响，可以保证对样品所有表面的有效中和；3）165mm半径双层能量分析器：大半径的能量分析器可以保证谱图的高分辨率，同时双层能量分析器分别用于采谱与成像，可以保证谱图与成像的高灵敏度；4）全自动化进样系统：进样不需要手动操作，防止手动对仪器的损伤，同时进样室配备定位相机，在抽真空时可以进行选点操作，节省时间。

在室温条件下, 利用KrF 准分子激光辐照技术, 实现了超疏水性聚偏氟乙烯高分子材料的快速制备, 最快制备时间为10 s。实验结果表明, 在改性后的材料表面上, 与水静态接触角由原来的53􀀂 增加到170􀀂 左右。采用原子力显微镜和X 射线光电子能谱等检测手段对辐照后的材料表面进行了微观形貌和化学结构分析, 结果表明激光辐照区域产生了具有极规整三维网络结构的改性层, 并且C - CF2 和C- F 两种化学基团取代了原有的化学结构CH 2 和CF2 成为该改性层的主体。表面的粗糙化与低表面能化学基团的共同作用, 使改性后的聚偏氟乙烯表面有效地产生了较强的超疏水性能。

X射线光电子能谱（XPS）技术结合氩离子刻蚀技术可以有效对材料表面以及沿深度方向进行测试，以得到材料结构相关信息，不同的刻蚀模式的选择对结果有较大的影响。本文选用非贵金属Ni桥连NiS / g-C3N4复合材料，采用XPS技术对材料表面进行表征，结合团簇氩离子刻蚀技术对材料进行深度剖析，判断不同元素的化学状态信息。

采用Ekspla公司的NL300HT激光器泵浦光学参量发生器，产生高能量可调谐纳秒激光输出。在AEgIS实验中，用于激发Na22同位素，产生正电子偶素。

在当今社会，智能手机和平板电脑等电子设备正成为人类日常活动的重要组成部分。这些电子产品不断发展，使其结构更紧凑、重量更轻，这也就对电池的功率输出和寿命提出了越来越高的要求。为了应对这些技术挑战，锂离子电池技术也在不断进步，在保持紧凑和轻便特性的同时，还能够产生更高的能量输出和更强的循环性能。本文介绍了激光诱导击穿光谱(LIBS)对锂离子电池重要元件化学组成的关键元素进行深度分析的能力。这些组件包括正极、负极和固态电解质。典型的基于解决方案的元素分析技术，如电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）和电感耦合等离子体发射质谱（ICP-MS），不能揭示这些部件的结构信息。另一种流行的元素分析技术X射线荧光光谱（XRF）无法为锂离子电池电极的重要元素提供元素覆盖，例如Li、B、C、O、F、N。其它表面和深度分析技术，需要复杂的真空仪器，如二次离子质谱（SIMS）、辉光放电质谱（GD-MS）、俄歇电子能谱（AES）和X射线光电子能谱（XPS），检测速度慢或者价格昂贵。LIBS提供锂离子电池组件在实验室或工厂的深度分析能力，具有很出色的分析速度。LIBS还具有从H - Pu到大含量范围(ppm - wt. %)的基本覆盖。

作为集成和安装各种电子元器件的载体，印刷电路板（PCB板）在现代电子设备和电子产品中占有非常重要的地位。随着现代技术的发展，电子产品趋于更轻、更薄、更小，使得PCB朝着层数更多、密度更高的方向发展，随之而来的便是PCB板缺陷检测的需求，即如何实现精确的PCB质量检测成为半导体行业的一个重要课题。现代的绝大多数分析技术只能探测微米级甚至更深的信息，旺旺不能满足层结构的深度分辨率需求；而XPS作为一种全新的表面分析技术，由于其表面敏感性，可以为我们提供表面10nm左右的厚度信息，同时结合离子束深度剖析可以实现μ m尺度的元素深度分辨检测需求；更进一步，仪器可以实现多技术联用，结合元素线扫描、面扫描、成像、UPS、REELS等技术为半导体行业提供强有力的检测分析手段。本应用通过使用XPS表面分析技术结合离子束深度剖析进行了PCB板的纳米尺度多层结构测试，发挥仪器的特长挖掘更多的样品工艺信息。

固体的电学、光学和化学性质深受其占据态（occupied state）和非占据态（unoccupied state）电子结构的共同影响。

岛津Axis Supra采用的为同轴低能电子中和枪，三根灯丝同时提供低能电子进行样品表面荷电中和，与样品台正下方的磁透镜相结合，可以实现360° 无阴影荷电中和，解决荷电不均匀问题。

目前的研究使用皮秒激光器（532 nm），用于在铟锡氧化物（ITO）层上选择性地进行P1激光划线以及随后利用机器学习（ML）技术对P1划线条件进行微调。最初，通过改变不同的激光参数来进行划线，并通过光学显微镜和两个探针电阻率测量来进一步评估这些参数。相应的划线宽度和薄层电阻数据被用作ML分析的输入数据库。基于分类和回归树（CART）的ML分析显示，中值脉冲能量5.7 μJ，APL   35%，也是   46%，处理速度≥1250mm s−1给出≥16 μm的划线宽度。此外，决策树（DT）分析表明，脉冲能量≥8.1 μJ和LSO ≥ 电气隔离线路需要37%。特征重要性得分表明，激光注量和脉冲能量决定了划线宽度，而电隔离在很大程度上取决于LSO和加工速度。最后，ML实现了通过扫描电子显微镜进行实验验证和重新评估的条件，原子力显微镜与光学显微镜测量结果很好地一致。

为了进行泄漏测试孔系统验证，在玻璃和聚合物样品瓶/安龋中激光打微孔。可以创建一系列孔尺寸，以复制小瓶中的缺陷，以便在校准泄漏检测误备时使用。根据样品瓶/安甑的壁厚，孔的大小可小至1um。除了小瓶之外，箔片和泡置包装也可以进行激光钻孔。

Vescent Photonics提供一系列的激光器、激光器驱动及激光器控制电子器件。近年来，采用Vescent电子器件进行光学频率梳的产生与稳定，是很多客户所感兴趣的。 构建光学频率梳的关键一步就是稳定梳齿间隔，加州大学的高级研究员Dr. Shu-wei Huang采用Vescent D2-125可重构伺服器稳定了频率梳的梳齿间隔，其光学频率梳基于微腔激光器。

智能自定位 创领高效率 FreeScan Trio 三目激光手持三维扫描仪

激光是强大的低成本光源，适用于从基础研究到消费娱乐的各行各业。在利用此类光源时确定波长和功率是极为重要的，紧凑型、即插即用的光谱仪是实现这一目的的理想工具。

德国attocube公司的激光干涉仪具备皮米精度分辨率，激光探头可在真空环境中使用，是同步辐射研究的良好选择。在现有激光探头中，标准激光探头M12是已经被证实可以在辐射环境中使用（大10MGy)。

高稳定性的时间信号分发对于大科学装置（如粒子加速器等）基础设施有非常重要的意义。未来加速器对于稳定时基的要求将会越来越高。基于自由电子激光的新一代高亮度超快X射线光源通常要求其分配到加速器和激光系统的射频信号具备10飞秒以下的时间精度。

在电子电路中，除了接触最多的电子元器件（ 例如电阻，电感，电容，二极管，三极管，集成电路等） 以外，还有其他常用电子元器件，如电声器件，开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功，安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术，或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器，我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备：集成电路测试：成品测试、老化筛选、失效分析等；破坏性物理分析：外部目检、X射线检查、粒子噪声（PIND）试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度；可靠性寿命和老化筛选：老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验；环境试验：正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞（或连续冲击）、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热（HAST）；物理性试验：物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型：半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。

由于飞秒激光的频率远远高于THz的频率，可以认为，在第二束飞秒激光到探测晶体的时候，对此时的THz信号进行探测。达由于延迟线可以控制探测束飞秒激光的光程，因此，可以让探测的时间点和产生的THz信号的时间起点有一定的时间差，通过不断地改变这个时间差（光程差），可以探测到不同时间点的THz信号。由于飞秒激光是连续不断地发射，每一次飞秒激光的发生都会得到一个探测信号，通过若干次地改变延迟线的长度，进而改变对透射（反射）THz信号的探测时间点，最终就可以得到一个完整的透射（反射）THz信号的强度随时间变化的图谱，也就是THz-TDS结果。

在维生素C片的制备中，粒度的检测成为其成品半成品的重要考量标准，激光粒度检测也逐渐成为维生素C生产行业中最主要的检测手段。

与传统激光器相比，二极管激光器通常体积小、结构紧凑、可靠、易于操作，适用于电子高频调制和温度调谐。然而，许多商用标准二极管激光器的调谐特性远非理想。采用法布里-珀罗（FP）标准激光二极管的ECDL可以提供一种有吸引力的替代方案。这项工作的目的是优化Littman和Littrow配置（方案1）中ECDL的优化设计，以用于坚固的传感器应用。用水蒸气和铷饱和吸收光谱法演示了ECDL的性能。方案1展示了Littman和Littrow ECDL的设计。对于Littrow配置，安装衍射光栅，使一阶衍射光反射回激光器，而零阶衍射光耦合。对于Littman配置，以一阶衍射的光通过一个误差或棱镜反射回光栅。在这两个设计中，都使用了带有和不带有抗反射（ar）涂层的激光二极管。

双轴机床的同步性能测试，我们API公司只需要借助本公司生产的激光干涉仪即可做到A/B轴的同步性测量，XD-3D只能实现前三个参数的同步性测量，如果选择XD-6D则可以完成六组主要同步性参数的测量。而且我们API最大的优势就在于一次安装，可同时完成以上所有同步参数的测量，是目前激光测量设备中唯一可以做到的检测仪器。

碳酸钙（CaCO3）微粒因其良好的填加性能被广泛应用到涤料、塑料、造纸等其他多种化工行业，应用范围广泛。依其加工工艺和应用场合的不同，可分为表面改性与未改性的碳酸钙CaCO3，表面改性的CaCO3微粒在蒸馏水中易形成稳定的均匀分散的状态，用激光粒度仪可直接测出其粒径。而表面未改性的CaCO3则不然。

激光干涉测试方法常用于高精度测量和定位，这是由于这种方法具有较高的测量分辨率和精度，甚至可以用于大尺寸范围的测量。本文重点讨论了外差式和单频式干涉仪的基本原理，并进行了相应的计量分析来描述激光干涉法的优势和局限性。本文还讨论了光纤耦合式微型干涉仪的设计和功能，以及在显微技术、纳米技术和高精度机电一体化等方面的广泛应用。

激光正在成为医疗美容中越来越流行的工具，而在激光医美设备中，对作用光斑的控制非常重要。通过衍射光学元件（DOE）可以各种方式操纵光束，同时重量轻、结构紧凑、使用简便，具备独特的优势。

由于使用了灵活的激光光束来扫描，甚至非圆形且具有复杂外形的小孔都可以得到。在制造尺寸很小的孔的方面，已经有一系列非接触、无摩擦的技术，它们使用 了紧密聚焦的光束，这些技术已经在微电子制造工艺和发动机零件的制造中建立了一定地位。如果小孔必须是圆锥形，将遇到特别的困难，因为在打孔方向上直径不 断在增加。这种几何形状在一些零件中是需要的，比如喷嘴组件，它们从反向是无法达到的。科学家已经开发

星帆仪器专为高纯铝检测应用定制了特殊的手持激光诱导击穿光谱仪，采用高功率的微型化纳秒激光技术及化学计量学中先进的光谱去噪算法，可以对高纯铝中的微量元素进行精确定量分析，从而可以对高纯铝的纯度做出判别。

激光粒度分析仪，是指以激光作为探测光源的粒度分析仪器，通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小，已成为当今比较流行的粒度测量仪器之一，，具有测量动态范围大、测量速度快、重复性好、操作方便等优点，尤其适合测量粒度分布范围宽的固体颗粒和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测试性能优异和适用领域极广的粒度测试仪器，已经在其他粉体加工与应用领域得到广泛的应用。激光粒度进样方式分为干法、湿法两种。湿法是利用水或其它试剂将样品颗粒分散后测量，湿法又包括微量进样池和超声循环池两种附件。超声循环池具有不同的循环速度，可提供超声以增加样品的分散性，根据样品特性自由选择，可针对样品优化分散条件；微量进样池具有不同的搅拌速度，搅拌速度均匀且样品需求量小。干法测定部件采用气旋方式样品抽吸结构，抽吸与喷射2段作用，从而出色实现样品的稳定气相分散，可实现高灵敏度、高重现性、高分辨率的测定干燥样品的粒径分布。岛津激光粒度（SALD）系列包含多款产品，主要包括SALD-2300、SALD-7500nano、IG-1000、SALD-7500和DIA-10等众多型号，适合多种粒度范围测量。除光学系统，不同机型也有相应多种规格的进样器可供选用进样器，根据样品特性可以选择湿法（微量进样池和超声循环池）和干法测试样品粒径，可以帮助客户大大提高分析速度和工作效率。

利用LaVision公司的科研型CMOS相机sCMOS和Photron公司高速相机Phontron FASTCAM SA-X2加装LaVision公司的高速图像增强器IRO进行了飞秒激光电子激发标志-Femtosecond laser electronic excitation tagging (FLEET)测速实验，并进行了性能和结果对比分析。

锁模激光产生的超低位相噪声脉冲提供一种产生具备亚飞秒(RMS)时间抖动的射频或微波信号的便利途径，比超低噪声石英晶振的位相噪声低几个数量级。另一方面，制冷的宝石晶振需要一个庞大的制冷系统，其复杂性限制了它在很多场合的应用。近年出现的新型的、基于光学频率梳的超低噪声微波信号源可以实现极高的位相稳定性和低位相噪声，这种设备的安装、维护技术却过于困难而且昂贵

激光粒度分析仪，是指以激光作为探测光源的粒度分析仪器，通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小，已成为当今比较流行的粒度测量仪器之一，，具有测量动态范围大、测量速度快、重复性好、操作方便等优点，尤其适合测量粒度分布范围宽的固体颗粒和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测试性能优异和适用领域极广的粒度测试仪器，已经在其他粉体加工与应用领域得到广泛的应用。激光粒度进样方式分为干法、湿法两种。湿法是利用水或其它试剂将样品颗粒分散后测量，湿法又包括微量进样池和超声循环池两种附件。超声循环池具有不同的循环速度，可提供超声以增加样品的分散性，根据样品特性自由选择，可针对样品优化分散条件；微量进样池具有不同的搅拌速度，搅拌速度均匀且样品需求量小。干法测定部件采用气旋方式样品抽吸结构，抽吸与喷射2段作用，从而出色实现样品的稳定气相分散，可实现高灵敏度、高重现性、高分辨率的测定干燥样品的粒径分布。岛津激光粒度（SALD）系列包含多款产品，主要包括SALD-2300、SALD-7500nano、IG-1000、SALD-7500和DIA-10等众多型号，适合多种粒度范围测量。除光学系统，不同机型也有相应多种规格的进样器可供选用进样器，根据样品特性可以选择湿法（微量进样池和超声循环池）和干法测试样品粒径，可以帮助客户大大提高分析速度和工作效率。

使用激光测径仪来测量光缆直径的操作步骤如下：准备工作：a. 确保激光测径仪已经校准并处于正常工作状态。b. 准备待测的光缆样品。