端子电压降测试仪

仪器信息网端子电压降测试仪专题为您提供2024年最新端子电压降测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括端子电压降测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的端子电压降测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合端子电压降测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有端子电压降测试仪相关的最新资讯、资料,以及端子电压降测试仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

端子电压降测试仪相关的厂商

  • 400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业,是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001(1994版)国际质量体系认证,2002年通过 ISO9001(2000版)中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”,被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”, 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心,在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域,对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人,其中大专以上学历员工为161人,16年来,企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机,先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”,两大系列产品荣获“国家重点新产品”,八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区,并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区,企业占地23500 m2,建筑面积16800m2,绿化面积3800 m2,企业资产总计9600余万元,具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权,拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量,提升品牌价值的同时,公司注重工艺、工装设计,提高标准化、系列化、规范化能力,将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系,全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户,为世界计量检测工作的发展,做出新的贡献。
    留言咨询
  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
    留言咨询
  • 400-860-5168转0264
    环球分析测试仪器有限公司(UATIL)成立于1982年,总部设在香港,是国外多家知名的高新科技仪器生产制造商在中国的独家总代理。主要产品电化学仪器:电化学工作站、光电化学测试设备 化学合成仪器:全自动反应系统、反应量热仪、超声波结晶系统、平行合成仪、高温高压釜、流动化学系统 萃取及纯化仪器:超临界萃取仪、快速制备色谱、固相萃取、溶剂蒸发仪、气体纯化系统 生命科学仪器:生物反应器、发酵罐、冷冻干燥机、移液工作站、离心浓缩仪 乳品分析仪器:乳品成分分析仪、体细胞计数器、奶牛生产性能测试仪 材料测试仪器:网格应变测试仪、杯凸试验机 惰性环境仪器:手套箱 微流控仪器:单细胞测序、细胞包裹、微流控芯片、微流泵、液滴微流控系统、3D芯片打印机
    留言咨询

端子电压降测试仪相关的仪器

  • LX-9830A端子电压降测试仪LX-9830A端子电压降测试仪适用范围:该仪器适用于测量不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降,从而判断接线口优劣,也可检查插头线在完成标准规定的弯曲试验次数后的断线情况。该仪器同时适用于测量开关触点、继电器、开关、线材线束、压接线端子、连接器等相关产品之电压降测试本仪器有可调的大电流输出,微电压测试,数码管显示。本仪器有交流和直流两种款型(选购),满足不同测试要求,直流恒流源输出,电路设计合理,操作方便.同时可以选购辅助测试治具. 满足标准:QC/T 730-2005 ISO 6722:2002 GB/T 2951—1997 GB/T 3048—1994 QC/T29106-2004 QC/T413-2002 QC/T413-2002 同时满足德国、法国、韩国、日本、等国家标准要求和测试规范,电压降实验按QC/T29106-2004标准5.7进行实验 QC/T29106-2004标准:5.7端子与电线压接处的电压降实验按图2所示,在端子与电线压接处中间 位置致电线75mm长的电线处(剥去绝缘层钎焊牢固)的两点间测量,扣除75mm长的电线电压降后即为端子与电线压接处的电压降。当一个端子同时连接两根或两根以上电线时对个根电线分别施加电流以测量电压降. LX-9830A端子电压降测试仪适用范围主要参数:1)输入电压:AC220V+10%,50Hz 2)工作电流:0~60A任意可调 3)电压降范围:0~500mV 4)电压表精度:±1%+3个字
    留言咨询
  • LX-9830插头电压降测试仪 LX-9830插头电压降测试仪适用范围:该仪器适用于测量不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降,从而判断接线口优劣,也可检查插头线在完成标准规定的弯曲试验次数后的断线情况。该仪器同时适用于测量开关触点、继电器、开关、线材线束、压接线端子、连接器等相关产品之压降测试本仪器有可调的大电流输出,微电压测试,数码管显示。,本仪器有交流和直流两种款型(选购),满足不同测试要求,直流恒流源输出,电路设计合理,操作方便.同时可以选购辅助测试治具. 满足标准:QC/T 730-2005 ISO 6722:2002 GB/T 2951—1997 GB/T 3048—1994 QC/T29106-2004 QC/T413-2002 QC/T413-2002 同时满足德国、法国、韩国、日本、等国家标准要求和测试规范,电压降实验按QC/T29106-2004标准5.7进行实验 QC/T29106-2004标准:5.7端子与电线压接处的电压降实验按图2所示,在端子与电线压接处中间 位置致电线75mm长的电线处(剥去绝缘层钎焊牢固)的两点间测量,扣除75mm长的电线电压降后即为端子与电线压接处的电压降。当一个端子同时连接两根或两根以上电线时对个根电线分别施加电流以测量电压降.LX-9830插头电压降测试仪主要参数:1)输入电压:AC220V+10%,50Hz 2)工作电流:0~40A任意可调3)电压降范围:0~200mV 4)电压表精度:±1%+3个字5)电流表精度:±1%+3个字 瑞柯仪器公司以“质量为本”、“服务先行”之经营方针。满足广大客户之需求。公司本着“科技、创造、创新、求进”的企业精神,引进先进的生产设备和制造工艺,通过不断的技术改进和管理上的完善,努力为广大用户提供 质的产品和服务!
    留言咨询
  • LX-9830GA电压降综合测试仪 一、 功能概述:电压降综合测试仪为瑞柯仪器公司开发,是目前行业中功能和技术较先进之品,与国际同行产品较一致性,采用AD芯片控制技术及先进的电源设计控制技术,确保产品在测量过程中恒流、恒压供给;有可调节之电流和电压输出两种测试方式; 具备上下限设定功能及超上下限声光报警;恒流恒压测试时间设定;良品和不良品之统计功能;提供手动和自动测量模式,并可依据不同之测试品提供辅助治具;仪器管理具有密码保护功能设定.选购:本机除能单独使用外还可以外接控制单元PLC,打印机,电脑,PC软件;满足其他系统集成和生产线自动化控制改造,提供USB和232信号输出接口,如果您的产品属于线束或者端子接插件的话,我们依据标准提供给你测试窗口;解决测试过程中两次测量数据差值的计算;选购:如果您购买了PC软件,可以解决您数据存储,报表生成,测试过程数据读取和界面控制和打印等问题;测试数据的重复性及可比性分析;当然根据测试样品的不同(选购)一付测试治具对测试准确性的提高大有帮助.二、适用范围:广泛用于测量开关触点、继电器、汽车开关、汽车线束、压接线端子、连接器、不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降等相关产品之接触电压降或负载测量,或类似产品使用;与国际上通用之测量方式相通. 满足标准:QC/T 730-2005 ISO 6722:2002 GB/T 2951—1997 GB/T 3048—1994 QC/T29106-2004 QC/T413-2002 QC/T413-2002 SAE/USCAR38 2009 同时满足德国、法国、韩国、日本、等国家标准要求和测试规范,电压降实验按QC/T29106-2004标准5.7进行实验 QC/T29106-2004标准:5.7端子与电线压接处的电压降实验按图2所示,在端子与电线压接处中间 位置致电线75mm长的电线处(剥去绝缘层钎焊牢固)的两点间测量,扣除75mm长的电线电压降后即为端子与电线压接处的电压降。当一个端子同时连接两根或两根以上电线时对个根电线分别施加电流以测量电压降.三、技术参数描述测量项目技术 规格精度1.测试电流:0-40A0-60A0-100A0-200A0-300A0.01A2.测试电压(开路)0-12V 0-24V 0-30V(选购)0.01V3.电压降范围0-199.99mv0.01mV4. 测试时间测试时间0.01S—99.99H任意设定5. 统计功能良品及不良品统计计数:0-999996. 测量模式手动和自动测量模式7. 电压降设定上下限设定功能及超限声光报警8.设备管理仪器管理密码设定功能9.电源输入输入电压:AC220V+10%,50Hz10.环境要求仪器使用环境要求:工作温度:10℃-30℃,湿度:≤65%RH11. 治具依据产品选购治具1付12.外部单元提供USB 232接口;选购:PC软件,电脑,打印机及其他控制单元
    留言咨询

端子电压降测试仪相关的资讯

  • 212万!广东工业大学手套箱与电流电压测试仪等设备采购项目
    项目编号:M4400000707015234001项目名称:手套箱与电流电压测试仪等设备采购(四次)采购方式:公开招标预算金额:2,128,500.00元采购需求:合同包1(金相显微镜探针台等设备采购):合同包预算金额:2,128,500.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他专用仪器仪表金相显微镜探针台1(套)详见采购文件199,000.00-1-2其他专用仪器仪表高温分析探针台1(套)详见采购文件158,000.00-1-3其他专用仪器仪表探针台5(套)详见采购文件245,000.00-1-4其他专用仪器仪表电容电压特性测试仪5(套)详见采购文件180,000.00-1-5其他专用仪器仪表电流电压测试仪10(套)详见采购文件500,000.00-1-6其他专用仪器仪表少子寿命测试仪5(套)详见采购文件150,000.00-1-7其他专用仪器仪表霍尔效应测试仪5(套)详见采购文件27,500.00-1-8其他专用仪器仪表四探针测试仪5(套)详见采购文件115,000.00-1-9其他专用仪器仪表晶体管图示仪5(套)详见采购文件45,000.00-1-10其他专用仪器仪表数字荧光示波器16(套)详见采购文件496,000.00-1-11其他专用仪器仪表万用表10(套)详见采购文件13,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起至质保期满之日
  • 年产100万套电子测试仪器,工艺流程是怎样的?
    科学仪器,作为科学技术实现创新的重要基础,被称作科学家的“眼睛”,更是被比作“高端制造业皇冠上的明珠”。人类就是在不断改进的科学仪器中,发现其他人不能发现的领域,从而逐渐发展出现代科技文明。如今,仪器不仅广泛应用于研究领域,更是大量应用在生产线上。此外,仪器的生产制造也离不开其它的仪器设备。对此,仪器信息网通过公开文件了解到某年产100万套电子测试仪器生产项目的情况。项目主要为电子测试仪、电子量仪器、通信配件、网络配件、电话配件等生产,年产电子测试仪器 100 万套、通信设备配件 3000 万件。项目主要设备如下:电子测试仪器及通讯系统配件生产工艺流程及产污环节如下:工艺说明:原料先进注塑机拌料、注塑成型后冷却塔冷却再转到自动化车间和外购的电路板进行自动组装,部份产品进行波峰焊接,根据客户需求,有部份印字的转到印字车间印字。完成以后统一转到测试车间测试,合格后流入组装车间组装,最后检验出货。 (1)注塑机的工作原理是借助螺杆(或柱塞)的推力,将已塑化好的熔融状态(即粘流态)的塑料注射入闭合好的模腔内,经固化定型后取得制品的工艺过程。注射成型是一个循环的过程,每一周期主要包括:定量加料——熔融塑化——施压注射——充模冷却——启模取件。取出塑件后又再闭模,进行下一个循环;(2)本项目注塑材料为:ABS、PC、PP、AS,热分解温度大于200℃。本项目注塑机设置的工艺温度在180℃左右,因此不会造成原料的热分解,基本不会挥发出有毒气体。(3)本项目注塑机自带拌料功能,原料拌料过程中会产生少量的粉尘。(4)注塑机采用冷却水冷却,冷却水在设备中循环使用不外排。注塑过程中产生的不合格产品和塑料边角料(以注塑废料计),统一收集后外卖。(5)自动化:利用自动化设备、端子机、贴标机、模块装配、组装机、内芯机等设备)进行一系列的自动化工序的过程。(6)焊接:本项目是采用波峰焊锡机,波峰焊原理是让插件板的焊接面直接与高温液态锡接触达到焊接目的,其高温液态锡保持一个斜面,并由特殊装置使液态锡形成一道道类似波浪的现象,所以叫“波峰焊”。(7)粘结印字:根据客户需求,部分需印字的转到印字车间印字,印字过程需使用502胶水粘结固定造型,然后将印字合格的半成品进行测试(不合格的添加防白水消除后重印)。(8)测试:本项目使用导通测试机、影像测量仪、测试仪设备进行测试。(9)组装:将测试完成的半成品与金针、卡到、五金件等组装,最后用纸箱、尼龙袋包装。(10)检验出货:人工检验后出货(不合格产品维修)。(11)网版使用后用洗网水清洗后重复使用。
  • 国产高端测试仪器市场困局何解
    当今时代,科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长,芯片已经进入融合的时代。从无人驾驶到虚拟现实、从人工智能到云计算、从5G到物联网,一颗芯片上承载的功能越来越多,芯片工艺越来越复杂,新器件类型层出不穷,众多驱动因素的推动对半导体测试技术不断提出新的要求。行业需要更加面向未来需求的测试系统和方案,来打破传统仪器固有的不足和局限。以半导体器件测试来看,在先进器件研究过程中,新材料、新结构与新工艺的应用都可能带来未知的变化。研究者不但要关注精确的静态电流电压特性,更希望观察到细微快速的动态行为。同时随着半导体尺寸不断减小,一些现象需要在极短的时间内才能观察到,例如MOS器件的BTI效应,因此,对包括短脉冲测试(PIV)在内的新技术提出了要求。前不久,概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK正式发布,填补了其半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试的空缺,同时也填补了国内短脉冲测试技术的空缺。高端测试仪器FS-Pro“如虎添翼”据了解,此次发布的最新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK由黄如院士在北京大学和上海交通大学的团队与概伦电子联合研发。作为短脉冲测试技术的先行者,黄如院士团队经过了十余年的努力,在实践过程中掌握了一整套短脉冲产生、测量以及分析技术。概伦电子基于其提供的包括测试方法、电路原型、方案框架、版图设计及PIV应用在内的指导意见继续精细开发,满足高增益与高带宽的同时,有效抑制放大电路的非线性失真,最终实现了最小脉宽130ns的高精度测量。概伦电子FS-Pro半导体参数测试系统(图源:概伦电子)概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备,在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。此次增加短脉冲IV(PIV)技术后,FS-Pro更是如虎添翼,几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成,可广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程,并可无缝的与概伦电子低频噪声测试系统9812系列集成。据了解,概伦电子噪声测试系统9812系列是全球半导体行业业内低频噪声测试的“ 黄金标准”,为半导体行业先进工艺研发、器件建模和高端电路设计提供了更加完整而又高效的低频噪声测试及分析解决方案,可以满足各种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。FS-Pro快速的DC测试能力进一步提升了9812系列产品的噪声测试效率和吞吐量,性能相较同类型产品获得大幅度提升,并将在噪声测试的业内领先技术扩展到通用半导体参数测试。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现,FS-Pro全面的测试能力在科研学术界受到了广泛关注和认可,已被数十所国内外高校及科研机构所选用,同时也被众多芯片设计公司、代工厂和IDM公司所釆用。国产高端测试仪器新突破纵观行业现状,测试测量仪器属于高端科研仪器设备,需要长时间积累,特别考验一个国家基础技术的厚度。由于国内本土测量仪器行业起步较晚,主营电子测试测量仪器的企业数量少,发展情况也不尽相同,目前我国的产品结构主要集中在中低端,大部分企业仍处于仿制研发的阶段,仅有小部分企业走向应用研发的转型之路。根据数据显示,中国电子测量仪器的市场规模由2016年的28.72亿美元增至2021年的50.39亿美元,预计2022年将进一步达到53.14亿美元。面对国内如此巨大的市场需求,以及受国外隐形技术壁垒等因素制约,国内市场仍被掌握在国外仪器仪表厂商手中,高端产品依赖进口,行业类第一梯队公司主要为是德科技((Keysight)、泰克(Tektronix)、罗德与施瓦茨(R&S)等欧美企业。国内测量仪器与国际水平相比,在产品结构、高端产品的技术水平、市场占有率等方面存在较大差距,亟待国内本土企业填补高端仪器的技术和市场空白。在这种情况下,提高企业的研发力度成为了电子测量仪器行业发展的关键点之一。同时伴随着强烈的自主可控需求,国产高端测试测量仪器市场在近几年迎来高速增长。概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro作为高端测试仪器的代表之一,在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色,集 IV、CV、1/f noise及PIV测试等于一体,高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足各种用户的不同测试需求,大大节省了测试设备采购开支。同时,工业标准的PXI模块化硬件结构,通用的软件平台,内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能,实现即插即用体验,使FS-Pro成为了半导体器件与先进材料研究方面的得力助手,产品性能直接对标是德科技等行业巨头的高端测试仪器。近年来,随着半导体行业的快速发展,对测试测量仪器的需求在逐渐扩大。当前中国的半导体测试测量行业在飞速发展中,可以预见的是,复杂的国际关系背景和市场需求的双重驱动下,关键领域的国产化成为竞争焦点,自上而下的产业政策和企业突围将加速自主可控产业链的成长,国产半导体测量仪器迎风口。随着概伦电子在中高端产品领域取得突破,将会使其成为国内该行业的领头羊,有望引领该领域的国产化替代浪潮。概伦电子产品布局日臻完善半导体器件特性测试是对集成电路器件在不同工作状态和工作环境下的电流、电压、电容、电阻、低频噪声、可靠性等特性进行测量、数据采集和分析,以评估其是否达到设计指标。概伦电子半导体参数测试系统FS-Pro能够支持多种类型的半导体器件,具备精度高、测量速度快和可多任务并行处理等特点,能够满足晶圆厂和集成电路设计企业对测试数据多维度和高精度的要求。半导体器件特性测试仪器采集的数据是器件建模及验证EDA工具所需的数据来源,两者具有较强的协同效应。随着下游晶圆厂客户产能扩张,相关测试需求或将进一步释放。在制造类EDA工具方面,概伦电子的器件建模及验证EDA工具已经取得较高市场地位,被全球大部分领先的晶圆厂所采用和验证,主要客户包括台积电、三星电子、联电、格芯、中芯国际等,在其相关标准制造流程中占据重要地位。使用该EDA工具生成的器件模型通过国际领先的晶圆厂提供给其全球范围内的集成电路设计方客户使用,其全面性、精度和质量已得到业界的长期验证和广泛认可。在此基础上,通过半导体器件特性测试仪器与EDA工具的联动,能够打造以数据为驱动的EDA解决方案,紧密结合并形成业务链条,帮助晶圆厂客户有针对性的优化工艺平台的器件设计和制造工艺,不断拓展产品的覆盖面,进一步为概伦电子打造完整的制造EDA流程丰富了现有技术及解决方案。目前概伦电子主要产品及服务包括制造类EDA工具、设计类EDA工具、半导体器件特性测试仪器和半导体工程服务等。从其产品布局和发展历程来看,概伦电子在具备高价值的落地场景和应用需求的前提下,用相对较短的时间、较小的人员规模和投入,打造了全新的设计方法学和流程,逐渐形成了具有技术竞争力的EDA工具、测试产品和工程服务,并在国际主流市场获得产品验证机会,在多环节和维度上实现了对国际EDA巨头全流程垄断的突破。产学研模式新探索上文提到,此次FS-Pro HP-FWGMK套件的发布是概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的产物,在填补了半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试空缺的同时,也代表了国内产学研深度合作的典范。当前,在国产EDA的发展过程中,人才是关键,创新求变正在重塑新的核心竞争力。EDA核心技术的突破没有捷径可走,需要持续吸引各种人才、加强产学研合作和保持高研发投入,长期坚持技术沉淀,通过客户需求引导,才有可能形成新的突破。在当前行业背景和发展现状下,概伦电子正在探索以产教融合方式来培养项目和推动EDA技术和人才发展的新模式,携手各界通力合作,共同应对后摩尔时代技术与市场的双重挑战,构建中国EDA产业命运共同体,致力于突破困局并最终实现超越。

端子电压降测试仪相关的方案

  • 击穿电压测试仪安全保护功能全解
    适用于固体绝缘材料(如:塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质)在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试.
  • 电压击穿试验仪选型常识
    2、如何选择合适量程的电压击穿试验仪:在材料的标准要求里或者测试报告中,对材料的耐压等级通常用介电强度来表示,即KV/mm,击穿电压和介电强度的关系可以用如下公式表示: 击穿电压值(KV) 介电强度(KV/mm)=------------------------------------------ 试样厚度(mm)由如上公式可以得出结论,选择多大量程的测试仪器,取决于试样的厚度,即: 击穿电压值(KV)=介电强度(KV/mm)* 试样厚度(mm) 由此公式所得出的击穿电压值是按照试样厚度测试时的有效电压值,所以得出击穿电压值后,在此电压值得基础上适当加宽些量程范围比较合理,建议计算出击穿电压值后增加10KV—20KV
  • 绝缘油耐压测定仪在变压器油击穿电压试验中的应用
    击穿是指在电场作用下,绝缘材料形成贯穿性桥路,进而发生破坏性放电,在一定程度上使电极间的电压降至零或接近零的现象。通常情况下,击穿对固体介质来说是永远失去介电强度,对液体、气体来说,失去介电强度只是暂时性的。在规定的试验条件下绝缘体或试样发生击穿时的电压叫做击穿电压。通常情况下,绝缘性能的好坏直接反应了变压器油的击穿电压的强弱,并且变压器使用的安全性和周期受到直接的影响和制约。同时击穿电压也是客户验收油品的重要测试项目,试验结果受到试验方法、测试仪器,以及环境等因素的影响和制约。TP572型绝缘油耐压试验仪是装置球盖形电极的3油杯试验仪,通过其对变压器油击穿电压的测定试验,分析了测定过程中出现的异常现象及测定值产生误差的原因。

端子电压降测试仪相关的资料

端子电压降测试仪相关的试剂

端子电压降测试仪相关的论坛

  • 【分享】关于对《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》

    关于对《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》《直流高压高值电阻器检定规程》3个 规程征求意见的通知 各位委员及专家、各有关单位: 根据2010年国家计量技术法规制修订计划,由全国电磁计量管理计量技术委员会负责立项的《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》与《直流高压高值电阻器检定规程》3个规程征求意见稿已完成,现开始征求意见。请各位委员、专家及有关单位尽快将《征求意见表》寄回或以电子邮件的形式反馈给起草单位或专业委员会秘书处。 联系人:邵海明 附件下载: 1.《冲击耐电压测试仪检定规程》2.《耐电压测试仪型式评价大纲》3.《直流高压高值电阻器检定规程》二○一一年三月三日

  • 【原创】耐压绝缘测试仪

    耐压绝缘测试仪对各种高压电气设备、电器元件、绝缘材料进行工频或直流高压下的绝缘强度试验。 耐压绝缘测试仪是交流安全通用测试仪器,适合家用电器及低压电器的安全测试.漏电流值由粗调和细调旋钮调节。漏电流超差时自动切断测试电压,并发出声光报警信号。有外控端子。

  • 耐电压测试仪即电气绝缘强度试验仪工作原理

    [font=system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=16px][color=rgba(0, 0, 0, 0.9)] 耐电压测试仪又叫电气绝缘强度试验仪或叫介质强度测试仪。将一规定交流或直流高压施加在电器带电部分和非带电部分(一般为外壳)之间以检查电器的绝缘材料所能承受耐压能力的试验。电器在长期工作中,不仅要承受额定工作电压的作用,还要承受操作过程中引起短时间的高于额定工作电压的过电压作用(过电压值可能会高于额定工作电压值的好几倍)。在这些电压的作用下,电气绝缘材料的内部结构将发生变化。当过电压强度达到某一定值时,就会使材料的绝缘击穿,电器将不能正常运行,操作者就可能触电,危及人身安全。[/color][/size][/font]

端子电压降测试仪相关的耗材

  • 日本KEC-990,KEC-990,KEC990空气正负离子测试仪
    日本KEC-990,KEC-990,KEC990空气正负离子测试仪,办事处,说明书,中文操作,简介:超大量程(2000万级)空气正、负离子测试仪,体积小,重量轻,数字式显示,一目了然。测试各种环境下空气中正、负离子的浓度与各种负离子相关产品的离子产生数量,方便好用。适用于生产负离子发生器(空气清新器、负离子空调、吹风筒)、环境(温泉、SPA、精油、瀑布、森林)测量及在线测量等。日本KEC-990,KEC-990,KEC990空气正负离子测试仪,办事处,说明书,中文操作,简介,特点:一、数字显示数值具有保持(HOLD)功能,便于照相与解说。二、可配合三脚架,固定于展示场。三、具有数据输出端子,可将测试结果输出至纪录器。四、具排除静电影响设计,测试结果准确。五、可使用插座电源,长时间连续使用(在线测量)﹔也可以使用电池(方便移动)。六、价格更经济,功能更强大。
  • 耐压测试仪
    耐压测试仪是测量耐压强度的仪器,可以直观、准确、快速地测试各种被测对象的击穿电压、漏电流等电气安全性能指标,并可以作为高压源用来测试元器件和整机性能。性能特点:1、交直流5KV通用型耐压测试仪2、输出电压通过调压器调节输出,具有高可靠性、高耐用性的特点3、采用高亮度的LED数码管显示测试时间、电压、电流、能实时显示击穿电流值和电压值4、报警电流值可连续任意预置5、测试时间采用三位数码管显示6、配备PLC所需的信号输入、输出接口,可方便地与PLC组成综合测试系统主要技术参数:型号RK2672AMRK2672BMRK2672CMRK2672DM输出电压AC0~5kV0~5kV0~5kVDC0~5kV__0~5kV测试电流AC0~2/20mA0~2/20/100mA0~2/20/100mA0~2/20/200mADC0~2/10mA__0~2/20mA0~2/20mA测试精度±(5%+3个字)测试时间0.0s~999s 0.0=连续测试变压器容量100VA500VA1000VAPLC接口RS232选配电源要求AC:220V±10% 50Hz/60Hz±3Hz工作环境温度:(0-40)℃ 湿度≤75%RH外型尺寸390×270×180mm440×380×180mm重量9.5㎏14㎏18.5㎏24.5㎏配件高压测试线、高压棒、接地线、电源线
  • 少子寿命测试仪
    少子寿命测试仪性能参数? 测量原理 QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围:1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm (或更小尺寸) 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器:200W 光源:60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户? 江苏,上海,北京,浙江,西安,四川,河北,河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称:硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 :杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期:2010年11月16日 四、本项目公告日期: 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位: 硅片少子寿命测试系统(z9264):上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s,硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控,少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况,是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。   半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。   多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子,当它顶替晶格中的四价硅原子时,每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合,而余下的一个就不受共价键束缚,它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子,因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子,尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子,但它束缚在晶格中,不能象载流子那样起导电作用。这样,与本征激发浓度相比,N型半导体中自由电子浓度大大增加了,而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大,其浓度反而更小了。  少子浓度主要由本征激发决定,所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。   太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。   少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法(ASTM国际标准-1535)的测试原理,提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试,主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒,硅片的出厂、进厂检查,生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域,少子寿命将直接关系到成品电池的效率,是必备的检测手段。   少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度,即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数,它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响,可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。   少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法(SEMI国际标准-1535)的测试原理,即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而计算出少子寿命值,为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级,分辨率达1%,测试结果准确性好、重复性高,完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点:   适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm   全自动操作及数据处理   对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理   能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭   可以选择测试样品上任意位置   能提供专利的表面化学钝化处理方法   对各道工序的样品均可进行质量监控:   硅棒、切片的出厂、进厂检查   扩散后的硅片   表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题: WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导)而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导) 准稳态光电导衰减法(QSSPC)和微波光电导衰减法(MWPCD)的比较? QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量,同时可以结合 SRH模型,得出各种复合寿命,如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号,而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值,MWPCD在加偏置光的情况下,结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线,而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度,因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线,并且得到PN结的暗饱和电流密度;MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个,甚至更小的尺寸,在照射过程中,只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子,也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值,这对于寿命分布不均匀的样品来说,结果并不具备代表性。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制