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多层膜型分析晶体

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多层膜型分析晶体相关的论坛

  • 【求助】多层复合膜的红外分析

    医药品的外包装膜,多层冲压在仪器红外分析,一般只能分析其两个表面,请问,中间的几层如何分析呢?使用仪器:FTIR-8400S(日本岛津)谢谢!

  • 【资料】巨好的一片文章,膜、多层膜、超晶格的x射线衍射测定方法

    X 射线散射和衍射对于厚度为几个原子层到几十微米的薄膜材料是灵敏的。一般而言,X 射线方法是非破坏性的,其中不要求样品制备,它们提供恰如其分的技术路线,以获得薄膜材料的结构等信息 分析能对从完整单晶膜和多晶膜到非晶膜的所有材料进行。本文评述了用X 射线方法表征和研究这类薄膜材料的新进展。全文包括引论、常用的X射线方法、原子尺度薄膜的研究、工程薄膜和多层膜的研究、一维超点阵结构研究、超点阵界面粗糙度的X 射线散射理论、不完整性和应变的衍射空间图或倒易空间图研究七个部分。 [~82518~][~82519~]

  • 想结合HRTEM的傅立叶变换和粉末XRD对此种晶体进行一些分析,比如取向啊,对应的晶面

    各位大侠,我以前是学化学的,现在博士课题改做材料,故此材料学方面我有很多不懂的地方,所以下面我问的问题可能非常低级可笑,大家不要笑话我,还请秉着救死扶伤的心情解救我。我最近对贝壳珍珠层进行一些研究,分别做了珍珠层粉末(文石型的碳酸钙晶体)的HRTEM和XRD,得到了一些HRTEM照片,但是没有同时做选区电子衍射,我想结合HRTEM的傅立叶变换和粉末XRD对此种晶体进行一些分析,比如取向啊,对应的晶面啊,但是我在材料晶体学以及TEM、XRD方面的知识太欠缺了,所以空拿着一堆图谱不知道从何下手,故此向各位请教,我该如何着手分析,希望大家给我个思路,不吝赐教!!谢谢!!!

  • 【求助】再求晶体硅片的相关分析标准!!!

    再次苦求以下硅的测量方法,拜托了!多谢!!!  GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法  GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法  GB/T 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法  GB/T 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法  GB/T 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法  GB/T 4061-1983 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法  GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法  GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法  GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法  GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定扩展电阻探针法  GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法  GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法  GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法  GB/T 6621-1995 硅抛光片表面平整度测试方法  GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法  GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法  GB/T 13388-1992 硅片参考面结晶学取向x射线测量方法  GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法  GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法  GB/T 1414l-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法  GB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检验方法腐蚀法  GB/T 14143-1993 300~900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法  GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法  GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法  GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定汞探针电容一电压法  GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法  GB/T 14849.1-1993 工业硅化学分析方法 1,10-二氮杂菲分光光度法测定铁量  GB/T 14849.2-1993 工业硅化学分析方法 铬天青-S分光光度法测定铝量  GB/T 14849.3-1993 工业硅化学分析方法 钙量的测定  GB/T 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法

  • 【史料】晶体结构分析及其发展(范海福)

    物质的各种宏观性质源出于本身的微观结构。探索物质结构与性质之间的关系,是凝聚态物理、结构化学、材料科学、分子生物等许多学科的一个重要研究内容。晶体结构分析,是在原子的层次上测定固态物质微观结构的主要手段,它与上述众多学科有着密切的联系。就其本身而言,晶体结构分析是物理学中的一个小分支。这主要研究如何利用晶态物质对X-射线、电子、以及中子的衍射效应来测定物质的微观结构。晶体结构分析服务于许多不同的学科,因而许多学科的发展都对晶体结构分析产生深刻的影响。另一方面,晶体结构分析有自己独立的体系,它本身的发展又对所服务的学科起着促进作用。 晶体结构分析是伦琴发现X-射线以后创站的最重要学科之一。它奠基于物理学的几项重要进展。其中包括1895年W. C. Roentgen发现X-射线,1912年M. von Laue发现晶体对X-射线的衍射,1927年C. J. Davisson和G. P. Thomson发现晶体对电子的衍射,以及1931年E. Ruska建造第一台电子显微镜。上述几项重大的物理学进展使人类掌握了在原子层次上研究物质内部结构的手段,它们分别获得1901、1914、1937和1986年的诺贝尔物理学奖。其中,1901年伦琴获得的诺贝尔奖还是历史上第一个诺贝尔物理奖。通过研究物质内部结构与性质的关系,晶体结构分析有力地促进了各相关学科的发展。晶体结构分析的发展,是一个不断完善自身和不断扩大应用的过程。诺贝尔将的年谱记录了晶体结构分析历史上的重大事件并展示了它与其他学科相互作用所产生的丰硕成果。 晶体结构分析的方法主要有两大类。这就是以X-射线衍射为代表的衍射分析方法和以电子显微术为代表的显微成像方法。电了显微成像也可以认为是两上相继的电子衍射过程。因此,可以说衍射分析是晶体结构分析的核心。用衍射分析方法测定晶体结构的理论依据,在于晶体结构同它的衍射效应之间存在着互为Fourier变换的关系。这里说的衍射效应,是指从晶体向各个方向发出的衍射的振幅和相位。从衍射实验可以记录下各个方向上衍射波的振幅。但是在目前以及可见的将来,还不容易找到有普遍意义的实用方法来记录由晶体发出的衍射波的相位。因此要想从衍射效应的Fourier变换解出晶体结构,必须先设法找回"丢失了的"相位。这就是晶体学中的"相位问题",它一直是研究晶体结构分析方法的关键问题。 紧接着Laue发现X-射线衍射,Bragg父子 (W. H. Bragg和W. L. Bragg) 就迅速建立了用X-射线衍射方法测定晶体结构的实验手段和理论基础。这使人类得以定量地观测原子在晶体中的位置。为此他们两人同获1915年的诺贝尔物理学奖。晶体结构分析最初用于一些简单的无机化合物。对碱金属卤化物结构的研究导至W. L. Bragg提出原子半径的概念。不久Bragg又将晶体结构分析应用于研究硅酸盐以及金属和合金。硅酸盐晶体结构分析的工作为硅酸盐结构化学提供了最早的实验基础,而有关金属和合金的工作则作物理冶金、金属物理、以及相平衡图的研究推上了一个新的台阶,使有关工作深入到原子的层次。 晶体结构分析在研究无机化合物上取得成功,引起人们对有机物尤其是生命物质内部结构的兴趣。英国从二十年代中期就开始研究有机物晶体结构。但是过了十年多仍未见有重大的突破。原因是当时的分析技术和方法还很原始。于是迎来了三、四十年代晶体结构分析方法和技术大发展的时期。如前所述,晶体结构分析中所谓"相位问题"。早期的晶体结构分析用以解决相位问题的方法是所谓尝试法。其要点是:先根据已尼掌握的线索猜想出一个结构模型,再从这个模型计算出相应的一组理论衍射强度,然后同实验所犁衍射强度作比较并据此对模型进行修改。。上述步骤须经多次反复,直至理论和实验的衍射强度得以吻合。用这样的"方法"来测定晶体结构,说明科学试验却更像艺术创作。它显然适应不了测定复杂的晶体结构的需要。早在二十年代后期,英国的W. L. Bragg和J. M. Cork为解决相位问题分别提出了所谓重原子法和同晶型置换法。重原子法的大意是:假定晶体中含有少数原子序较大的原子,即所谓重原子,而且它们的位置是已知的,这时就可以计算出重原子对相位的贡献并以此代替由全体原子贡献的相位。用这样的相位配以由实验测得的衍射振幅就可以近似地计算出一幅代表晶体结构的电子密度图。同晶型置找法的要点则是如果能够制备出待测晶体的重原子衍生物,而且衍生物的晶体与母体晶体是"同晶型"这时如果已知重原子的位置,就可以根据母体和衍生物两者在衍射强度上的差异来推算相应的衍射相位。这两种方法后来在一系列有机物以及蛋白质的晶体结构分析中作出了关键性的贡献。但是它们的诞生后相当长的一段时间里并未发挥很大的作用。原因是它们都依赖于已知的重原子位置而当时还没有便确定重原子位置的方法。1934年,美国的A. L. Patterson提出用衍射振幅的平方为系数以计算Fourier级数,从而绕开相位问题。Patterson指出,这样一个级数是晶体中电子密度分布函数的自卷积,在一定的条件下可以从中提取出有关晶体中原子位置,首先是重原子位置的信息。这个用衍射振幅平方计算的Fourier级数后来被称作Patterson函数,相应的分析方法称作Patterson法。经过几年发展之后,Patterson法和以它为基础的重原子法、同晶型置换法等就成了X-射线单晶体结构分析中用以处理相位问题最有效的手段。再加上实验技术和结构精修技术的改进,晶体结构分析达到了一个机关报的不平并终于打开了有机物和生命物质的大宝藏。 美国L. Pauling领导的小组花了十几年的时间,测定了一系列的氨基酸和肽的晶体结构,从中总结出形成多肽链构型的基本原则并在1951年推断多肽链将形成a-螺旋构型或折叠层构型。这是通过总结小分子结构规律预言生物大分子结构特征的非常成功的范例。为此Pauling获得1954年的诺贝尔化学奖。英国D. Hodgkin领导小组测定了一系列重要的生物化学物质的晶体结构,其中包括青酶素和维生素 。她因此获得1964年的诺贝尔化学奖。美国W. N. Lipscomb研究硼烷结构化学的工作获得1975年的诺贝尔化学奖。所有这些获奖工作都是以晶体结构分析为研究手段。可以说,没有晶体结构分析本身在理论和技术上的长期积累,就不会有上面几个诺贝尔奖。英国的J. D. Bernal早在三十年代中期就开始用X-射线衍射研究蛋白质的结构。但是真正取得进展是在W. L. Bragg主持Cavendish实验室之后。这里还有一段插曲。原来在E. Rutherford主持下,英国剑桥大学的Cavendish实验室是国际上原子物理学的研究中心。随着学科的发展、国力的变化、加之剑桥大学本身的局限,及至1938年W. L. Bragg接任时Cavendish的地位已开始下降。Bragg上任后果断地顺应了形势,主动放弃了"原子物理国际中心"的地位,改而抓住当时物理学上的两项新应用:X-射线衍射分析用于生物以及雷达技术用于天文学。这一举措使英国得以在创建分子生物和射电天文学上"领导世界新潮流"。 分子生物学发展史上具有划时代意义的发现中,有两项出自Cavendish实验室。第一项是1953年J. D. Watson和F. H. C. Crick根据X-射线衍射实验建立了脱氧核糖核酸 (DNA) 的双螺旋结构。它把遗传学的研究推进到分子的水平。这项工作获得了1962年的诺贝尔生理学和医学奖。另一项是用X-射线衍射分析方法测定肌红蛋白和血红蛋白晶体结构的工作。它始于三十年代,前后延续了二十多年并牵涉到为数众多的科学家。这两个蛋白质的晶体结构终于在1960年被测定出来。这项工作不仅首次揭示了生物大分子内部的立体结构,还为测定生物大分子晶体结构提供了一种沿用至今的有效方法--多对同晶型置换法。它以原有的同晶型置换法为基础,但是在实验技术和分析理论上都加入了崭新的内容。作为这项工作的代表人物,J. C. Kendrew和M. F. Perutz获得1962年的诺贝尔化学奖。看到成就的辉煌,不由得也想起探索的艰辛:1947年,战后的英国,科研经费拮据。为了给正在从事蛋白质晶体结构分析的J. C. Kendrew和M. F. Perutz寻求资助,W. L. Bragg找到英国医学研究委员分 (MRC)。他告诉MRC的主管:"…如果能获得资助,我们的研究结果会有助于在分子层次上了解生命的运作。不过,即便如此,要想在医学上产生任何一点效益,大概还得有一段很长的时间"。MRC当时的主管承担了这一风险,建立了一个只包含Kendrew和Perutz两个人的MRC研究小组。这一慷慨的支持,过了十五年之后才开始得到回报。顺便说一句:那个MRC小组现在已经变成拥有上百名学者的、世界著名MRC分子生物学实验室。在Kendrew和Perutz两人之后由于测定蛋白质晶体结构而获诺贝尔奖的还有美国的J. Deisenhofer和德国的R. Huber和H. Michel。他们因测定了光合作用中心的三维结构而获得1988年诺贝尔化学奖。

  • 【分享】晶体结构分析及其发展

    范海福 中国科学院,物理研究所,北京,100080物质的各种宏观性质源出于本身的微观结构。探索物质结构与性质之间的关系,是凝聚态物理、结构化学、材料科学、分子生物等许多学科的一个重要研究内容。晶体结构分析,是在原子的层次上测定固态物质微观结构的主要手段,它与上述众多学科有着密切的联系。就其本身而言,晶体结构分析是物理学中的一个小分支。这主要研究如何利用晶态物质对X-射线、电子、以及中子的衍射效应来测定物质的微观结构。晶体结构分析服务于许多不同的学科,因而许多学科的发展都对晶体结构分析产生深刻的影响。另一方面,晶体结构分析有自己独立的体系,它本身的发展又对所服务的学科起着促进作用。 晶体结构分析是伦琴发现X-射线以后创站的最重要学科之一。它奠基于物理学的几项重要进展。其中包括1895年W. C. Roentgen发现X-射线,1912年M. von Laue发现晶体对X-射线的衍射,1927年C. J. Davisson和G. P. Thomson发现晶体对电子的衍射,以及1931年E. Ruska建造第一台电子显微镜。上述几项重大的物理学进展使人类掌握了在原子层次上研究物质内部结构的手段,它们分别获得1901、1914、1937和1986年的诺贝尔物理学奖。其中,1901年伦琴获得的诺贝尔奖还是历史上第一个诺贝尔物理奖。通过研究物质内部结构与性质的关系,晶体结构分析有力地促进了各相关学科的发展。晶体结构分析的发展,是一个不断完善自身和不断扩大应用的过程。诺贝尔将的年谱记录了晶体结构分析历史上的重大事件并展示了它与其他学科相互作用所产生的丰硕成果。 晶体结构分析的方法主要有两大类。这就是以X-射线衍射为代表的衍射分析方法和以电子显微术为代表的显微成像方法。电了显微成像也可以认为是两上相继的电子衍射过程。因此,可以说衍射分析是晶体结构分析的核心。用衍射分析方法测定晶体结构的理论依据,在于晶体结构同它的衍射效应之间存在着互为Fourier变换的关系。这里说的衍射效应,是指从晶体向各个方向发出的衍射的振幅和相位。从衍射实验可以记录下各个方向上衍射波的振幅。但是在目前以及可见的将来,还不容易找到有普遍意义的实用方法来记录由晶体发出的衍射波的相位。因此要想从衍射效应的Fourier变换解出晶体结构,必须先设法找回"丢失了的"相位。这就是晶体学中的"相位问题",它一直是研究晶体结构分析方法的关键问题。 紧接着Laue发现X-射线衍射,Bragg父子 (W. H. Bragg和W. L. Bragg) 就迅速建立了用X-射线衍射方法测定晶体结构的实验手段和理论基础。这使人类得以定量地观测原子在晶体中的位置。为此他们两人同获1915年的诺贝尔物理学奖。晶体结构分析最初用于一些简单的无机化合物。对碱金属卤化物结构的研究导至W. L. Bragg提出原子半径的概念。不久Bragg又将晶体结构分析应用于研究硅酸盐以及金属和合金。硅酸盐晶体结构分析的工作为硅酸盐结构化学提供了最早的实验基础,而有关金属和合金的工作则作物理冶金、金属物理、以及相平衡图的研究推上了一个新的台阶,使有关工作深入到原子的层次。 晶体结构分析在研究无机化合物上取得成功,引起人们对有机物尤其是生命物质内部结构的兴趣。英国从二十年代中期就开始研究有机物晶体结构。但是过了十年多仍未见有重大的突破。原因是当时的分析技术和方法还很原始。于是迎来了三、四十年代晶体结构分析方法和技术大发展的时期。如前所述,晶体结构分析中所谓"相位问题"。早期的晶体结构分析用以解决相位问题的方法是所谓尝试法。其要点是:先根据已尼掌握的线索猜想出一个结构模型,再从这个模型计算出相应的一组理论衍射强度,然后同实验所犁衍射强度作比较并据此对模型进行修改。。上述步骤须经多次反复,直至理论和实验的衍射强度得以吻合。用这样的"方法"来测定晶体结构,说明科学试验却更像艺术创作。它显然适应不了测定复杂的晶体结构的需要。早在二十年代后期,英国的W. L. Bragg和J. M. Cork为解决相位问题分别提出了所谓重原子法和同晶型置换法。重原子法的大意是:假定晶体中含有少数原子序较大的原子,即所谓重原子,而且它们的位置是已知的,这时就可以计算出重原子对相位的贡献并以此代替由全体原子贡献的相位。用这样的相位配以由实验测得的衍射振幅就可以近似地计算出一幅代表晶体结构的电子密度图。同晶型置找法的要点则是如果能够制备出待测晶体的重原子衍生物,而且衍生物的晶体与母体晶体是"同晶型"这时如果已知重原子的位置,就可以根据母体和衍生物两者在衍射强度上的差异来推算相应的衍射相位。这两种方法后来在一系列有机物以及蛋白质的晶体结构分析中作出了关键性的贡献。但是它们的诞生后相当长的一段时间里并未发挥很大的作用。原因是它们都依赖于已知的重原子位置而当时还没有便确定重原子位置的方法。1934年,美国的A. L. Patterson提出用衍射振幅的平方为系数以计算Fourier级数,从而绕开相位问题。Patterson指出,这样一个级数是晶体中电子密度分布函数的自卷积,在一定的条件下可以从中提取出有关晶体中原子位置,首先是重原子位置的信息。这个用衍射振幅平方计算的Fourier级数后来被称作Patterson函数,相应的分析方法称作Patterson法。经过几年发展之后,Patterson法和以它为基础的重原子法、同晶型置换法等就成了X-射线单晶体结构分析中用以处理相位问题最有效的手段。再加上实验技术和结构精修技术的改进,晶体结构分析达到了一个机关报的不平并终于打开了有机物和生命物质的大宝藏。 美国L. Pauling领导的小组花了十几年的时间,测定了一系列的氨基酸和肽的晶体结构,从中总结出形成多肽链构型的基本原则并在1951年推断多肽链将形成a-螺旋构型或折叠层构型。这是通过总结小分子结构规律预言生物大分子结构特征的非常成功的范例。为此Pauling获得1954年的诺贝尔化学奖。英国D. Hodgkin领导小组测定了一系列重要的生物化学物质的晶体结构,其中包括青酶素和维生素 。她因此获得1964年的诺贝尔化学奖。美国W. N. Lipscomb研究硼烷结构化学的工作获得1975年的诺贝尔化学奖。所有这些获奖工作都是以晶体结构分析为研究手段。可以说,没有晶体结构分析本身在理论和技术上的长期积累,就不会有上面几个诺贝尔奖。 英国的J. D. Bernal早在三十年代中期就开始用X-射线衍射研究蛋白质的结构。但是真正取得进展是在W. L. Bragg主持Cavendish实验室之后。这里还有一段插曲。原来在E. Rutherford主持下,英国剑桥大学的Cavendish实验室是国际上原子物理学的研究中心。随着学科的发展、国力的变化、加之剑桥大学本身的局限,及至1938年W. L. Bragg接任时Cavendish的地位已开始下降。Bragg上任后果断地顺应了形势,主动放弃了"原子物理国际中心"的地位,改而抓住当时物理学上的两项新应用:X-射线衍射分析用于生物以及雷达技术用于天文学。这一举措使英国得以在创建分子生物和射电天文学上"领导世界新潮流"。 分子生物学发展史上具有划时代意义的发现中,有两项出自Cavendish实验室。第一项是1953年J. D. Watson和F. H. C. Crick根据X-射线衍射实验建立了脱氧核糖核酸 (DNA) 的双螺旋结构。它把遗传学的研究推进到分子的水平。这项工作获得了1962年的诺贝尔生理学和医学奖。另一项是用X-射线衍射分析方法测定肌红蛋白和血红蛋白晶体结构的工作。它始于三十年代,前后延续了二十多年并牵涉到为数众多的科学家。这两个蛋白质的晶体结构终于在1960年被测定出来。这项工作不仅首次揭示了生物大分子内部的立体结构,还为测定生物大分子晶体结构提供了一种沿用至今的有效方法--多对同晶型置换法。它以原有的同晶型置换法为基础,但是在实验技术和分析理论上都加入了崭新的内容。作为这项工作的代表人物,J. C. Kendrew和M. F. Perutz获得1962年的诺贝尔化学奖。看到成就的辉煌,不由得也想起探索的艰辛:1947年,战后的英国,科研经费拮据。为了给正在从事蛋白质晶体结构分析的J. C. Kendrew和M. F. Perutz寻求资助,W. L. Bragg找到英国医学研究委员分 (MRC)。他告诉MRC的主管:"…如果能获得资助,我们的研究结果会有助于在分子层次上了解生命的运作。不过,即便如此,要想在医学上产生任何一点效益,大概还得有一段很长的时间"。MRC当时的主管承担了这一风险,建立了一个只包含Kendrew和Perutz两个人的MRC研究小组。这一慷慨的支持,过了十五年之后才开始得到回报。顺便说一句:那个MRC小组现在已经变成拥有上百名学者的、世界著名MRC分子生物学实验室。在Kendrew和Perutz两人之后由于测定蛋白质晶体结构而获诺贝尔奖的还有美国的J. Deisenhofer和德国的R. Huber和H. Michel。他们因测定了光合作用中心的三维结构而获得1988年诺贝尔化学奖。

  • 求助!有关金属多层膜样品的制样

    我最近在铜基体上采用电化学方法制备了调制波长为100nm的NiFe/Cu多层膜,想利用SEM观察其多层膜结构,不知该如何制样,希望获得大家的帮助,先谢过大家了!

  • 多层PCB抄板怎样进行呢?

    PCB抄板也叫克隆或是仿制,是指在原有电路板基础上进行逆向分析,将原有数据进行1:1还原,然后在利用这些文件,从而完成原电路板的复制。对于需要许多从事PCB抄板工作的人来说,对于单、双面板的抄板并不会感到陌生,但是对于多层的PCB 板许多人就会感到棘手。那么多层PCB抄板怎样进行呢?  元坤智造的工程师介绍说PCB多层板抄板设计技术,可以说多层板抄板和双层板抄板设计差不多,甚至布线更容易。  你有双层板抄板的设计经验的话,设计多层就不难了。  首先,你要划分层叠结构,为了方便设计,最好以基板为中心,向两侧对称分布,相临信号层之间用电地层隔离。  层叠结构(4层、6层、8层、16层):  对于传输线,顶底层采用微带线模型分析,内部信号层用带状线模型。6层/10层/14层/18层基板两侧的信号层最好用软件仿真,比较麻烦。  6层/10层/14层/18层等基板两侧是信号层,没有电地隔离,需要注意相临层垂直走线和避免交流环路。  如果还有其他电源,优先在信号层走粗线,尽量不要分割电地层。  其次,向厂家询问参数(介电常数、线宽、铜厚、板厚),以便进行阻抗匹配。这些参数不必自己计算(算了也没用,厂家不一定能做到),应由厂家提供。有了这些参数,就可以计算线宽、线间距(3W)、线长,这时就可以开始画板子了。  多层板有盲孔、埋孔、过孔三种,可以方便布线,但价格贵。有时需要减小板厚,以便插入PCI槽,而绝缘介质材料不满足要求(除非走私进口),此时可以变通地采用非均匀板,例如:中间14层,边缘2层来解决。  高速线最好走内层,顶底层容易受到外界温度、湿度、空气的影响,不易稳定。如果需要测试,可以打测试过孔引出。不要再存有飞线、割线的幻想,多层板已经不需要“动手能力”了,因为线在内部而且高频,不能飞,线很密也不能钻孔。养成纸上作业的习惯,确保制板一次成功,否则,就地销毁吧,眼不见心不烦。  对于多层PCB抄板的方法就为大家介绍到这里,不管是单、双层PCB抄板,还是多层抄板,在平时的工作中一定要细心加耐心,别外还有一个就是胆大,要积极尝试、多动手,这样才能完美的完成手中的工作。

  • XRD图谱的衍射峰强度能看出涂层晶体生长完整性吗?

    8.0%),其(111)衍射峰的强度又逐步降低,表明少量氧的加入不但没有改变TiN涂层的晶体结构,而且还可以促进涂层晶体生长完整性的提高。” 我不太明天最后一句话,晶体生长完整性如何从XRD图谱中看出?看作者的意思 似乎是从衍射峰的强度判断的。。能推出这样的结论吗?

  • 【转帖】晶体结构立体模型建构软件 Diamond

    在使用Diamond软件构造晶体模型时,需要知道晶体的结构数据,即晶体的空间群、晶胞参数和原子坐标。晶体结构数据可以手动输入,也可以直接从晶体信息文件中获得。我们将通过几个例子来说明软件的使用方法。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=130595]晶体结构立体模型建构软件-Diamond的使用指南.pdf[/url]

  • 【求助】多层薄膜能测出每一层的拉曼普吗

    大概有十多层,薄的有几十纳米,厚的几百纳米,半导体量子井结构,薄膜之间因掺杂或载流子密度有所不同,载流子振荡可能会产生等离子激元与晶格震动的耦合,这样有没有可能分别测出每一层的拉曼光谱,或在拉曼光谱中找出每一层的特征峰?以前没做过拉曼测量,刚要接触,很多都不懂,谢谢回答!

  • 非晶体物象分析

    X射线衍射仪能检测出非晶体的物象吗,和检测晶体物象的流程有什么区别,如果能测试出图谱分析检测后的图谱与晶体检测后的图谱分析有何区别?三轴欧拉样品台360°旋转能任意旋转角度吗?

  • 多层型爽肤水pH值的检测

    多层型爽肤水pH值的检测QB/T 2660虽然规定了爽肤水有单层型和多层型之分,但是在pH值那里却没有相应的说明,大家是怎么看的?同样的密度也是,多层型的密度怎么去检测

  • 【求助】用何种仪器研究多层聚合物薄膜的表面和界面?

    本人打算从事多层聚合物复合薄膜的研究,想求教一下,在研究聚合物表面基团种类和分布、不同聚合物薄膜界面间的键合作用方式(界面间是那些基团相互作用)等等这些表面与界面基团作用时是用那些仪器进行分析表征???谢谢!

  • 未知晶体结构分析-TEM衍射分析

    未知晶体结构分析-TEM衍射分析

    各位,化学系合成了新晶体,并对晶体作了xrd分析。请我组作了电镜对照分析。分析衍射图得到,只是小女初学电镜,对手中的衍射图有困惑,诚请各位多多赐教!现将衍射图贴出。合成晶体是Eu,Mn,Cd,Sb由四种元素构成的合金。XRD的分析数据:猜测是Orthorombic: a= 4.79Å, b= 12.92Å, c= 45.58Å衍射分析我们按照XRD的Orthorombic作分析,计算的晶格常数和xrd结果少有出入。a= 8.06Å b= 15.98 Å c= 18.74Å2张衍射图:第一张图D1,我们推测是,《001》《100》两个轴向衍射图重叠后的结果,那么由此重叠的衍射图推测晶体存在长周期结构。或者order的固溶体结构?此结论有待各位赐教。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/06/201206200617_373504_1495726_3.jpg另,请看图D2:得到另外一张存有superlattice的衍射。但卫星点和衍射主点不在同一条直线上。具体原因我无法解释。也请各位赐教!不胜感谢。说明:此次衍射不多,提供的信息有限。但对已有的这几张衍射,我有以上疑惑,提交出来。希望和大家讨论,诚请各位多多赐教!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/06/201206200618_373505_1495726_3.jpg

  • 关于分析晶体的疑问

    我知道不同分析晶体的2d值不一样,但是为什么要用不同的材料呢?是不同的特征X射线在不同的材料上产生的衍射不一样吗?谢谢!!

  • 半导体器件/材料焊接层\填充层空洞分析手段-超声波扫描显微镜

    半导体器件芯片内部失效分析 超声波扫描显微镜(扫描频率最高可以达到2G). 其主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析.其可以检查到:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/emyc1002.gif请点激链接:半导体器件芯片失效分析 芯片内部分层,孔洞气泡失效分析C-SAM的叫法很多有,扫描声波显微镜或声扫描显微镜或扫描声学显微镜或超声波扫描显微镜(Scanning acoustic microscope)总概c-sam(sat)测试。XRAY 与C-SAM区别XRAY:X射线可以穿过塑封料并对包封内部的金属部件成像,因此,它特别适用于评价由流动诱导应力引起的引线变形 在电路测试中,引线断裂的结果是开路,而引线交叉或引线压在芯片焊盘的边缘上或芯片的金属布线上,则表现为短路。X射线分析也评估气泡的产生和位置,塑封料中那些直径大于1毫米的大空洞,很容易探测到. 而小于1毫米的小气泡空洞,分层.就非常难检测到.用X射线检测芯片焊盘的位移较为困难,因为焊盘位移相对于原来的位置来说更多的是倾斜而不是平移,所以,在用X射线分析时必须从侧面穿过较厚的塑封料来检测。检测芯片焊盘位移更好的方法是用剖面法,这已是破坏性分析了。C-SAM:由于超声波具有不用拆除组件外部封装之非破坏性检测能力,根据其对空气的灵敏度非常强的特性.故C-SAM可以有效的检出IC构装中因水气或热能所造成的破坏如﹕脱层、气孔及裂缝…等。 超声波在行经介质时,若遇到不同密度或弹性系数之物质时,即会产生反射回波。而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异.C-SAM即最利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。因此,只要被检测的IC上表面或内部芯片构装材料的接口有脱层、气孔、裂缝…等缺陷时,即可由C-SAM影像得知缺陷之相对位置C-SAM服务超声波扫描显微镜(C-SAM)主要使用于封装内部结构的分析,因为它能提供IC封装因水气或热能所造成破坏分析,例如裂缝、空洞和脱层。C-SAM内部造影原理为电能经由聚焦转换镜产生超声波触击在待测物品上,将声波在不同接口上反射或穿透讯号接收后影像处理,再以影像及讯号加以分析。C-SAM可以在不需破坏封装的情况下探测到脱层、空洞和裂缝,且拥有类似X-Ray的穿透功能,并可以找出问题发生的位置和提供接口数据。主要应用范围:· 晶元面处脱层· 锡球、晶元、或填胶中之裂缝· 晶元倾斜· 各种可能之孔洞(晶元接合面、锡球、填胶…等)· 覆晶构装之分析C-SAM的主要特性: 非破坏性、无损伤检测内部结构 可分层扫描、多层扫描 实施、直观的图像及分析 缺陷的测量及百分比的计算 可显示材料内部的三维图像 对人体是没有伤害的 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等)C-SAM的主要应用领域: 半导体电子行业:半导体晶圆片、封装器件、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等; 材料行业:复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等; 生物医学:活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等;

  • 钢基体上溅射的2um多层合金膜怎么做断面样品?

    多层的合金膜经过热处理,不同的厚度会有不同的相生成,想看一下截面。问题是我在一块大的低碳钢基片上溅射膜的尺度仅为4mm*4mm*2um,要做这么小位置的SEM断面样品怎么做啊?以前在Si基片上很容易,现在钢基片那么硬,而膜又比较薄,真想不出什么好办法。各位帮忙想想办法吧。谢谢!

  • 单晶体硅的铝扩散层拍摄求助

    样品情况:单晶体硅,表面一层铝粉,铝粉融入硅晶体会形成硅铝层,与正常硅层有界限。那么问题来了,同样的样品我死活拍不出分层来。电镜6360LV。 附件是我拍的的别人拍的http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191700_667408_3095845_3.jpeghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016040717480395_01_3095845_3.jpeg

  • 石墨烯量子晶体管可用作DNA感测器

    科技日报 2013年11月05日 星期二 科技日报讯 在基因组测序技术领域,科学家在不断追求速度更快、成本更低的方法和设备。据物理学家组织网10月30日报道,最近,美国伊利诺斯大学厄本那—香槟分校最近开发出了一种新奇的方法:把石墨烯纳米带(GNR)夹在两层有纳米孔(内径约1纳米)的固体膜中间,再让DNA分子穿过这种“三明治”设备,以此来感知辨认所通过的DNA碱基对。 研究人员设计的DNA感测器是一种以石墨烯为基础的场效应类晶体管设备,能探测DNA链的旋转和位置结构。实现这一点的关键是利用了石墨烯的电学性质,制成的GNR可以多方调节,改变它的边缘形状、载流子浓度、纳米孔位置等,由此来调节它的电导率和对外部电荷的灵敏度。 “在这一专业领域,当前主要的实验研究是模型模拟。”这里面临着许多难题和挑战,让-皮埃尔·莱伯顿教授介绍说,常用的密度泛函理论(DFT,一种物理学和化学中所用的量子力学模型方法,用于研究多物体系统的电子结构),仅限于固体系统中,而我们所处理的是一种固—液混合系统。此外,DFT还要对石墨烯纳米带假设一些过于简单和理想化的条件,比如GNR宽度要一致,边缘要规则,纳米孔还要位于石墨烯带的中心,没有电解液的静电穿透等。 “在我们的方法中,我们使用一种多轨道紧绑(TB)技术,比DFT处理的原子数量要大得多,而且考虑了GNR宽度不一,边缘不规则,以及纳米孔大小和位置不同等问题。”莱伯顿解释说。此外,他们用一种多尺度法处理了双混系统。 研究人员指出,其他领域也可能从这项研究中受益。比如开发新的小型生物电子设备,广泛用于个体化医疗。莱伯顿说:“从更广泛的意义上说,这是生物学与纳米电子学在分子水平上的互动。纳米电子设备带给我们控制生物信息的可能,利用生物处理海量信息的能力,开辟信息处理技术的新天地。”(常丽君)

  • 【分享】晶体结构

    一、研究晶体结构的重要意义  自然界中的固体物质绝大部分都是晶体,只有极少数是非晶体。初中化学课本在溶液部分讲述结晶过程时指出:在结晶过程中形成的具有规则外形的固体叫做晶体。高中化学课本在分别讲述四类晶体的特点以前,先讲了所有晶体在结构上的共同特征。它指出:“晶体为什么具有规则的几何外形呢?实验证明:在晶体里构成晶体的微粒(分子、原子、离子等)是规则地排列的,晶体的有规则的几何外形是构成晶体的微粒的有规则排列的外部反映”。这里所说的“实验”主要指有X射线来测定分析晶体结构的实验。高中化学课本下册“金属键”一节中就指出,金属晶体的内部结果是用X射线进行研究发现或证实的。其它晶体也是如此。用X射线测定晶体结构的科学叫做X射线晶体学,它和几何晶体学、结晶化学一道,对现代化学的发展起了很大作用。它们的重要性可概括为以下四点:(1)结晶化学是现代结构化学的一个十分重要的基本的组成部分。物质的化学性质是由共结构决定的,所以结构化学包括结晶化学,是研究和解决许多化学问题的指南。结晶化学的知识在研制催化剂中的应用就是一例。(2)由于晶体内的粒子排列得很有规则,所以晶态是测定化学物质的结构最切实易行的状态,分子结构的实际知识(如键长、键角数据)的主要来源是晶体结构。很多化合物和材料只存在于晶态中,并在晶态中被应用。(3)它们是生物化学和分子生物学的支柱。分子生物学的建立主要依靠了下列两个系列的结构研究:一是从多肽的α螺旋到DNA的双螺旋结构;二是从肌红蛋白、血红蛋白到溶菌酶和羧肽酶等的三维结构。它们都是应用测定晶体结构的X射线衍射方法所得的结果。(4)晶体学和结晶化学是固体科学和材料科学的基石。固体科学要在晶体科学所阐明的理想晶体结构的基础上,着重研究偏离理想晶态的各种“缺陷”,这些“缺陷”是各种结构敏感性能(如导电、扩散、强度及反应性能等)的关键部位。材料之所以日新月异并蔚成材料科学,相当大的程度上得力于晶体在原子水平上的结构理论所提供的观点和知识。二、晶体的通性和分类  在介绍晶体结构研究的发展简史以前,需要先说明一下晶体中微粒是怎样有规则地排列的,并用晶体的这个本质特征来解释晶体的一些通性。应用X射线研究晶体内部结构的大量实验证明,一切晶体在结构上不同于非晶体(以及液体、气体)的最本质的特征,是组成晶体的微粒(离子、原子、分子等)在三维空间中有规则的排列,具有结构的周期性。所谓结构的周期性,是指同一种微粒在空间排列上每隔一定距离重复出现。换句话说,在任一方向排在一直线上的相邻两种微粒之间的距离都相等,这个距离称为周期。如果每一个微粒用一个点代表,则所有这些点组成一个有规则的空间点阵。过一点在不同方向取三根联结各点的直线作为三个坐标轴,用三组平行于坐标轴的直线将所有的点联结起来,则将空间点阵划成所谓空间格子,空间格子的最小单位是一个平行六面体。晶体的空间格子将晶体截分为一个个内容(组成粒子、粒子的排布、粒子间的作用力的性质等)完全等同的基本单位──晶胞。晶胞的形状、大小与空间格子的平行六面体单位相同。晶体可以看作无数个晶胞有规则地堆积而成。在非晶体中,微粒的排列没有规则,不存在空间点阵结构。  与非晶体不同,晶体具有以下几个通性:(1)晶体有整齐、规则的几何外形。例如,只有结晶条件良好,可以看出食盐、石英、明矾等分别具有立方体、六角柱体和八面体的几何外形。这是晶体内微粒的排布具有空间点阵结构在晶体外形上的表现。对晶体有规则的几何外形进行深入研究以后,人们发现不同晶体有不同程度的对称性。晶体中可能具有的对称元素有对称中心、镜面、旋转轴、反轴等许多种。玻璃、松香、橡胶等非晶体都没有一定的几何外形。(2)晶体具有各向异性。一种性质在晶体的不同方向上它的大小有差异,这叫做各向异性。晶体的力学性质、光学性质、热和电的传导性质都表现出各向异性。例如,石墨晶体在平行于石墨层方向上比垂直于石墨层方向上导电率大一万倍;云母片沿某一平面的方向容易撕成薄片等。这是由于在晶体内不同方向上微粒排列的周期长短不同,而微粒间距离的长短又直接影响它们相互作用力的大小和性质。非晶体由于微粒的排列是混乱的,表现为各向同性。(3)在一定压力下,晶体有固定的熔点,非晶体没有固定的熔点,只有一段软化温度范围。这是由于晶体的每一个晶胞都是等同的,都在同一温度下被微粒的热运动所瓦解。在非晶体中,微粒间的作用力有的大有的小,极不均一,所以没有固定的熔点。  晶体的分类在几何晶体学上和在结晶化学上是不同的。在几何晶体学上,按照晶体的对称性将晶体分为七个晶系、32种宏观对称类型、230种微观对称类型(可参看大学《结构化学》教材有关部分)。在晶体化学中,如高中化学课本所说,是根据组成晶体的微粒的种类及微粒之间相互作用力的性质,将晶体首先分为金属晶体、离子晶体、原子晶体和分子晶体四大类。关于离子晶体和金属晶体结构研究的历史过程,以及与另两类晶体有关的共价键理论的历史发展,分别在本章其它几节中介绍。下面主要介绍几何晶体学(其主要内容是空间点阵理论)和X射线晶体学建立和发展的史实。

  • 【转帖】多层板孔金属化工艺探讨

    一、前言  众所周知,孔金属化是多层板生产过程中最关键的环节,她关系到多层板内在质量的好坏。孔金属化过程又分为去钻污和化学沉铜两个过程。化学沉铜是对内外层电路互连的过程;去钻污的作用是去除高速钻孔过程中因高温而产生的环氧树脂钻污(特别在铜环上的钻污),保证化学沉铜后电路连接的高度可靠性。  二、孔金属化  多层板工艺分凹蚀工艺和非凹蚀工艺。凹蚀工艺同时要去除环氧树脂和玻璃纤维,形成可靠的三维结合;非凹蚀工艺仅仅去除钻孔过程中脱落和汽化的环氧钻污,得到干净的孔壁,形成二维结合,单从理论上讲,三维结合要比二维结合可靠性高,但通过提高化学沉铜层的致密性和延展性,完全可以达到相应的技术要求。非凹蚀工艺简单、可靠,并已十分成熟,因此在大多数厂家得到广泛应用。高锰酸钾去钻污是典型的非凹蚀工艺。   2.1工艺流程  环氧溶胀→二级逆流漂洗→高锰酸钾去钻污→二级逆流漂洗→中和还原→二级逆流漂洗→调整→二级逆流漂洗→粗化→二级逆流漂洗→预浸→离子钯活化→二级逆流漂洗→还原→水洗→化学沉铜→二级逆流漂洗→预浸酸→预镀铜  2.2工艺原理及控制  2.2.1溶胀  目的:溶胀环氧树脂,使其软化,为高锰酸钾去钻污作准备。  配方:NaOH      20g/l     已二醇乙醚   30/l     已二醇     2g/l     水       其余     温度      60-80℃     时间      5min  环氧树脂是高聚形化合物,具有优良的耐蚀性。其腐蚀形式主要有溶解、溶胀和化学裂解(如:浓硫酸对环氧树脂主要是溶解作用,其凹蚀作用是十分明显的)。根据“相似相溶”的经验规律,醚类有机物一般极性较弱,且有与环氧树脂有相似的分子结构(R-O-R'),所以对环氧树脂有一定的溶解性。因为醚能与水发生氢键缔合,所以在水中有一定的溶解性。因此,常用水溶性的醚类有机物作为去钻污的溶胀剂。溶胀液中的氢氧化钠含量不能太高,否则,会破坏氢键缔合,使有机链相分离。在生产中,常用此中方法来分析溶胀剂的含量。

  • 【求助】XRD测试晶体粉末,出现非晶?

    我的材料是块状晶体,想要做XRD粉末衍射,因此先将其研磨成粉末,但是几次测试下来,衍射图谱中均出现非晶相,大概范围是衍射图中28度至44度。我的材料本身就是晶体,按理说不可能出现非晶,而且样品的处理过程已经十分注意,尽量避免了引入非晶,希望各位高手指点迷津。另外有没有可能是因为样品层太薄,射线穿透引起的?还是其他别的原因?求教各位大侠,不胜感激![~190498~]

  • 晶体、非晶体等概念的分别

    首先要理解晶体概念,以及晶粒概念。我想学固体物理的或者金属材料的都会对这些概念很清楚!自然界中物质的存在状态有三种:气态、液态、固态 固体又可分为两种存在形式:晶体和非晶体 晶体是经过结晶过程而形成的具有规则的几何外形的固体;晶体中原子或分子在空间按一定规律周期性重复的排列。晶体共同特点:均 匀 性: 晶体内部各个部分的宏观性质是相同的。 各向异性: 晶体种不同的方向上具有不同的物理性质。 固定熔点: 晶体具有周期性结构,熔化时,各部分需要同样的温度。 规则外形: 理想环境中生长的晶体应为凸多边形。 对 称 性: 晶体的理想外形和晶体内部结构都具有特定的对称性。 对晶体的研究,固体物理学家从成健角度分为离子晶体 原子晶体 分子晶体 金属晶体 显微学则从空间几何上来分,有七大晶系,十四种布拉菲点阵,230种空间群,用拓扑学,群论知识去研究理解。可参考《晶体学中的对称群》一书 (郭可信,王仁卉著)。与晶体对应的,原子或分子无规则排列,无周期性无对称性的固体叫非晶,如玻璃,非晶碳。一般,无定型就是非晶 英语叫amorphous,也有人叫glass(玻璃态).晶粒是另外一个概念,搞材料的人对这个最熟了。首先提出这个概念的是凝固理论。从液态转变为固态的过程首先要成核,然后生长,这个过程叫晶粒的成核长大。晶粒内分子、原子都是有规则地排列的,所以一个晶粒就是单晶。多个晶粒,每个晶粒的大小和形状不同,而且取向也是凌乱的,没有明显的外形,也不表现各向异性,是多晶。英文晶粒用Grain表示,注意与Particle是有区别的。有了晶粒,那么晶粒大小(晶粒度),均匀程度,各个晶粒的取向关系都是很重要的组织(组织简单说就是指固体微观形貌特征)参数。对于大多数的金属材料,晶粒越细,材料性能(力学性能)越好,好比面团,颗粒粗的面团肯定不好成型,容易断裂。所以很多冶金学家材料科学家一直在开发晶粒细化技术。科学总是喜欢极端,看得越远的镜子叫望远镜;看得越细的镜子叫显微镜。晶粒度也是这样的,很小的晶粒度我们喜欢,很大的我们也喜欢。最初,显微镜倍数还不是很高的时候,能看到微米级的时候,觉得晶粒小的微米数量是非常小的了,而且这个时候材料的力学性能特别好。人们习惯把这种小尺度晶粒较微晶。然而科学总是发展的,有一天人们发现如果晶粒度在小呢,材料性能变得不可思议了,什么量子效应,隧道效应,超延展性等等很多小尺寸效应都出来了,这就是现在很热的,热得不得了的纳米,晶粒度在1nm-100nm之间的晶粒我们叫纳米晶。再说说非晶,非晶是无规则排列,无周期无对称特征,原子排列无序,没有一定的晶格常数,描叙结构特点的只有径向分布函数,这是个统计的量。我们不知道具体确定的晶格常数,我们总可以知道面间距的统计分布情况吧。非晶有很多诱人的特性,所以也有一帮子人在成天做非晶,尤其是作大块的金属非晶。因为它的应力应变曲线很特别。前面说了,从液态到到固态有个成核长大的过程,我不让他成核呢,直接到固态,得到非晶,这需要很快的冷却速度。所以各路人马一方面在拼命提高冷却速度,一方面在不断寻找新的合金配方,因为不同的合金配方有不同的非晶形成能力,通常有Tg参数表征,叫玻璃化温度。非晶没有晶粒,也就没有晶界一说。也有人曾跟我说过非晶可以看成有晶界组成。 那么另一方面,我让他成核,不让他长大呢,不就成了纳米晶。人们都说,强扭的瓜不甜,既然都是抑制成核长大,那么从热力学上看,很多非晶,纳米晶应该不是稳态相。所以你作出非晶、纳米晶了,人们自然会问你热稳定性如何。后来,又有一个牛人叫卢柯,本来他是搞非晶的,读研究生的时候他还一直想把非晶的结构搞清楚呢(牛人就是牛人,选题这么牛,非晶的结构现在人们还不是很清楚)。他想既然我把非晶做出来了,为什么我不可以把非晶直接晶化成纳米晶呢,纳米晶热啊,耶,这也是一种方法,叫非晶晶化法。既然晶界是一种缺陷,缺陷当然会影响材料性能,好坏先不管他,但是总不好控制。如果我把整个一个材料做成一个晶粒,也就是单晶,会是什么样子呢,人们发现单晶确实会有多晶非晶不同的性能,各向异性,谁都知道啊。当然还有其他的特性。所以很多人也在天天捣鼓着,弄些单晶来。现在不得不说准晶。准晶体的发现,是20世纪80年代晶体学研究中的一次突破。这是我们做电镜的人的功劳。1984年底,D.Shechtman等人宣布,他们在急冷凝固的Al Mn合金中发现了具有五重旋转对称但并无无平移周期性的合金相,在晶体学及相关的学术界引起了很大的震动。不久,这种无平移同期性但有位置序的晶体就被称为准晶体。后来,郭先生一看,哇,我们这里有很多这种东西啊,抓紧分析,马上写文章,那段金属固体原子像的APL,PRL多的不得了,基本上是这方面的内容。准晶因此也被D.Shechtman称为“中国像”。 斑竹也提到过孪晶,英文叫twinning,孪晶其实是金属塑性变形里的一个重要概念。孪生与滑移是两种基本的形变机制。从微观上看,晶体原子排列沿某一特定面镜像对称。那个面叫栾晶面。很多教科书有介绍。一般面心立方结构的金属材料,滑移系多,已发生滑移,但是特定条件下也有孪生。加上面心立方结构层错能高,不容易出现孪晶,曾经一段能够在面心立方里发现孪晶也可以发很好的文章。前两年,马恩就因为在铝里面发现了孪晶,发了篇Science呢。卢柯去年也因为在纳米铜里做出了很多孪晶,既提高了铜的强度,又保持了铜良好导电性(通常这是一对矛盾),也发了个Science.这年头Science很值钱啊。像一个穷山沟,除了个清华大学生一样。现在,从显微学上来看单晶,多晶,微晶,非晶,准晶,纳米晶,加上孪晶。单晶与多晶,一个晶粒就是单晶,多个晶粒就是多晶,没有晶粒就是非晶。单晶只有一套衍射斑点;多晶的话,取向不同会表现几套斑点,标定的时候,一套一套来,当然有可能有的斑点重合,通过多晶衍射的标定可以知道晶粒或者两相之间取向关系。如果晶粒太小,可能会出现多晶衍射环。非晶衍射是非晶衍射环,这个环均匀连续,与多晶衍射环有区别。纳米晶,微晶是从晶粒度大小角度来说的,在大一点的晶粒,叫粗晶的。在从衍射上看,一般很难作纳米晶的单晶衍射,因为最小物镜光栏选区还是太大。有做NBED的么,不知道这个可不可以。孪晶在衍射上的表现是很值得我们学习研究的,也最见标定衍射谱的功力,大家可以参照郭可信,叶恒强编的那本《电子衍射在材料科学中应用》第六章。准晶,一般晶体不会有五次对称,只有1,2,3,4,6次旋转对称(这个证明经常作为博士生入学考试题,呵呵)。所以看到衍射斑点是五次对称的,10对称的啊,其他什么的,可能就是准晶。

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