发射光源测量系统

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

紫外阴极发射光源是一种深紫外光源，其通过利用电子束来进行发光，以此实现产品的“零汞”。该产品亮度的峰值波长是紫外LED的8倍左右，另外，其尺寸小巧紧凑，内涵一个内置电源，因此它可被安装到任何一种仪器中进行使用。特征：尺寸小巧，结构紧凑高亮度：约在紫外LED的8倍（310nm）不含汞使用寿命长：可保证5000小时的工作时间不需要额外进行电源和外壳的设计应用：荧光分析紫外固化环境分析材料的抗性评估详细参数 光谱波长分布发射分布外形尺寸（单位：mm）

产品详情 Optosol Absorber Control K1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪一、测量原理说明Alphameter 吸收 测量了相当精确的太阳能吸收的测试结果。Alphameter是基于一个具有光谱性窄带光源的积分球。这些参考标准或样本进行测量 是在一个球面上孔的位置。对面是两个平行样品检测器。当其中一个光源照亮球体， 探测器测量样本光的反射。从这个反射信号，检测反射或吸收率值。为了获得必要的光谱信息，4 个发光二极管，蓝色，绿色，红色和红外波长照亮球体。 反射发光二极管信号使用硅探测器测量。钨卤素超亮电灯结合一个最大灵敏度在1.3μm 的过滤锗探测器使用。 5个不同的光源，alphameter是一种非常稳定但分辨率底的光谱仪类型。它非常适合测 出缓坡谱线，比如典型的太阳能选择性吸收层谱线。Emissiometer K1 发射 emissiometer包括一个积分球，作为热源的发热条和 敏感度在波长范围8μm到14μm的 探测器。从发热条发射出来的辐射是单一分布的积分球，作为一个散辐射源。探测器安 装在一个度角为10°的样品表面。辐射是样本反射测量。2个样本被测信号进行测量校准 在已知的发射率值波长范围内：：一个如玻璃的高发射率样本与一个低发射率样本或接 近样品的发射率进行测量。此仪器为目前全球具有权威测量仪

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

便携式半球发射率测试系统（JP-AQL2）测试项目：建筑节能材料半球发射率测试。适用标准：JG/T 235-2014（6.4规定进行）建筑反射隔热材料；JGJT 287-2014建筑反射隔热材料节能检测标准；JGJB2502.3 涂层实验方法-半球发射率。技术参数：重复性：±1%；规格：150×70mm；测量精度：0.01；测量范围：0-0.99。主要特点：1.在国内首次采用计算机直接比例记录原理；2.采用一块高能量的光源覆盖整个工作波段；3.采用通用高性能计算机进行仪器控制和数据处理；4.配备最新开发的中文操作软件；5.采用进口真空热电偶红外接收器件，保证了仪器的高性能和可靠性；6.可以配置专门的分析软件进行建筑半球发射率分析。

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

用于成像和非成像设备的高动态范围测试和校准的多功能积分球均匀光源积分球均匀光源特点：具有可变强度控制的积分球源170 mm ? 球体，50.8 mm ? 端口，BaSO 4涂层带可变衰减器的 100W 灯（2856K 和 3100K）CCT 和 L 检测器、亮度和光谱辐射校准。系统包括用于系统控制的电子设备光源和积分球之间的可调节孔径使得在恒定色温下调节光谱辐射强度和亮度成为可能。亮度显示为参考值。除了亮度，监视器检测器还测量色温。这使得积分球均匀光源可以为两种温度设置光源：2856K 和 3100K。此外，积分球均匀光源可以重新调整色温，从而可以利用卤素灯典型的 2000 小时工作时间。积分球均匀光源可以在光源和球体之间固定一个漫射窗，以改善积分球中的漫射光分布。 积分球均匀光源带有自动遥控可变光圈的 ISS-17-VAM 版本是对可用的手动光圈版本 ISS-17-VA 的补充。积分球均匀光源可溯源校准 ：亮度、光谱辐射和色温的校准由 Gigahertz-Optik 校准实验室针对光学被测量执行。校准是参照一个校准标准进行的，该校准标准的光谱辐射是由德国测量实验室校准的。校准及其结果由符合 ISO 17025 的相应校准证书确认。SS-17-VA 在 3100K 从 300nm 到 2500nm 的光谱辐射。积分球均匀光源选型：另请参阅： 示例配置 - 来源更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先jin激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体（黑体）的辐射出射度的比值，体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率，适合太阳能电池组件，建筑隔热涂料，热控涂层等材料开发，工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05～0.95检测器波长范围 0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1～3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分：W145×D82×H32 (mm)测定部分：W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分：约200g测定部分：约700g储存环境 温度：10～45℃湿度：50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线

用于成像和非成像设备的高动态范围测试和校准的多功能积分球均匀光源积分球均匀光源特点：具有可变强度控制的积分球源170 mm Ø 球体，50.8 mm Ø 端口，BaSO 4涂层带可变衰减器的 100W 灯（2856K 和 3100K）CCT 和 L 检测器、亮度和光谱辐射校准。系统包括用于系统控制的电子设备光源和积分球之间的可调节孔径使得在恒定色温下调节光谱辐射强度和亮度成为可能。亮度显示为参考值。除了亮度，监视器检测器还测量色温。这使得积分球均匀光源可以为两种温度设置光源：2856K 和 3100K。此外，积分球均匀光源可以重新调整色温，从而可以利用卤素灯典型的 2000 小时工作时间。积分球均匀光源可以在光源和球体之间固定一个漫射窗，以改善积分球中的漫射光分布。 积分球均匀光源带有自动遥控可变光圈的 ISS-17-VAM 版本是对可用的手动光圈版本 ISS-17-VA 的补充。积分球均匀光源可溯源校准 ：亮度、光谱辐射和色温的校准由 Gigahertz-Optik 校准实验室针对光学被测量执行。校准是参照一个校准标准进行的，该校准标准的光谱辐射是由德国测量实验室校准的。校准及其结果由符合 ISO 17025 的相应校准证书确认。ISS-17-VA 在 3100K 从 300nm 到 2500nm 的光谱辐射。积分球均匀光源选型：模型图像球体直径光输出端口校准光谱范围 / nm光源输出范围评论ISS-5P50 毫米20 毫米(380 - 1100) 纳米集成 10 W 卤钨灯小巧便携的转移标准灯ISS-5P-SR-FS50 毫米20 毫米(380 - 1700) 纳米LH-5-UV-石英卤素例如用于荧光光谱仪校准ISS-8P-HP80 毫米19 毫米(380 - 1100) 纳米外部高达 100W 卤钨灯(120, 12 & 1.2) kcd/m² @ CCT 2960K(75, 75, 0.75) kcd/m² @ CCT 2856K随着亮度的变化保持恒定的色温和均匀性。ISS-8P-VA80 毫米19 毫米(380 - 1100) 纳米外部高达 100W 卤钨灯(0 - 95000) cd/m² @ CCT 2960K(0 - 63000) cd/m² @ CCT 2856K连续可变的强度控制。ISS-8P-VAHP80 毫米19 毫米(380 - 1100) 纳米外部高达 100W 卤钨灯(0 - 57000) cd/m² @ CCT 2960K(0 - 39000) cd/m² @ CCT 2856K微调，连续可变强度控制。ISS-17-VA170 毫米50 mm 带分辨率管以抑制横向入射光 (UMPA-2.0-xx)(380 - 800) 纳米外置100W卤钨灯(3 - 7.500) cd/m² @ CCT 2856K(5 - 15.000) cd/m² @ CCT 3100K针对色温和亮度校准的监视器检测器ISS-17-VAM170 毫米50 mm 带分辨率管以抑制横向入射光 (UMPA-2.0-xx)(380 - 800) 纳米外置100W卤钨灯(3 - 7.500) cd/m² @ CCT 2856K(5 - 15.000) cd/m² @ CCT 3100K针对色温和亮度校准的监视器检测器ISS-30-VA300 毫米100 毫米(300 - 1100) nm @ CCT 2960K外置100W卤钨灯(0 - 3500) cd/m² @ CCT 2960K针对输出端口亮度校准的监视器检测器ISS-30-VAM300 毫米100 毫米(300 - 1100) nm @ CCT 2960K外置100W卤钨灯(0 - 3500) cd/m² @ CCT 2960K针对输出端口亮度校准的监视器检测器ISS-50-LU-FE500 毫米——3 x 100W 卤钨灯，每个 2856K、5000K 或 6000K，选择滤光轮——由于超广角或鱼眼相机位于球体中心而导致的半球照明场。三种不同的色温，可通过滤光轮切换。另请参阅： 示例配置 - 来源更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先jin激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

Axetris 红外光源产品系列 Axetris公司的热辐射红外源，具有黑体辐射的特性，产品具有低功耗，高辐射率及使用寿命长的特点。作为Axetris公司的技术，我们的设计是在热电阻元件的表面上涂敷了一层介质薄膜，该元件是固定在一个微小的硅基片上的。 Axetris的红外光源是封装在紧凑型的TO-46基座外壳内，还可以选择带保护帽及带反射面的结构。这些结构可以配置蓝宝石,氟化钡材质的光窗。Axetris的红外光源非常适用于那些要求极高的辐射率，极高的稳定性及低功耗的紧凑型红外气体检测器。主要应用：测量原理：非分光红外光谱法（NDIR），光声红外光谱法（PAS）或者衰减全反射比（ATR）傅里叶变换红外光谱法。被测气体种类：CO, CO2, VOC, NOx, NH3, SOx, SF6，碳氢气体，湿度，麻醉气体，制冷剂，呼吸酒精气体等。医疗应用领域：二氧化碳测定仪，麻醉气体检测，呼吸功能监测，肺功能监测，呼吸酒精气体检测。汽车/运输应用领域：尾气排放检测，呼吸酒精气体检测（酒后驾驶闭锁装置），通风系统需求控制。HVAC应用领域：通风系统需求控制，制冷剂检测。安保&工业应用领域：可燃气体分析仪，气体检测器，孵化箱等。技术优点：具有黑体辐射的特性（2 - 14 um）高辐射率快速的电调制功能（无须斩波轮）极高的调制度辐射转化效率高低功耗使用寿命长坚固的MEMS设计

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

产品简介：名称：声发射系统主机品牌/产地：美国型号：应用：通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍： 通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II（SHM） 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道（112通道）机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

产品简介：名称：SAMOS声发射系统品牌/产地：美国型号：应用：SAMOS系统是第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍：SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统，更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性：l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道；l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S；l 每通道4个高通，4个低通模拟滤波器，可通过软件进行控制来组成13个率波段；l 输入电压范围：±10伏；l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号；l 16位A/D精度，3MHz采样率；l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S；l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本；l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析；l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析；l 方便使用的SMB连接头；l 1KHz-400KHz的带宽；l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求；l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求；l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

便携式红外发射率测量仪ET100介绍 发射率测量仪ET100采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场金确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。 应用领域 n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制 主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

E5000电弧直读发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析准确度高、稳定性好等优点，E5000发射光谱仪拥有高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计如下： E5000发射光谱仪产品结构设计 ●电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术● Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的常规元素●紧凑的小型台式设计，稳定可靠、易用便捷●防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大●高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供合适的分析方法●多重连锁和监控，确保操作安全可靠●全自动电极激光对准系统●粉末样品直接进样，方便迅速●一键激发，立刻获得分析结果●内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率●软件开放所有高级功能，为客户提供方法开发平台 E5000发射光谱仪全谱测量技术●全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发●基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度- 方便查看谱线及干扰情况- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式●自动谱线去干扰算法- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰●根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保障分析精度- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围 背景扣除 多峰拟合 适配曲线 CCD高速数采系统●防溢出线阵CCD●采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围 Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统● 恒温型全固定光学系统● 全反射式光路● 光室结构紧凑● 一体式固定● 光学器件少，性能稳定● 基于CCD的全谱采集和分析 电弧数控光源●数控光源体积小、效率高●基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节●分析不同含量的元素，选择激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度●可设置及读取不同检测阶段的数据 一键激发及全自动对准电极●样品装载激发一气呵成，方便快捷●多元素同时分析，直接得到最终结果●设计精良的电极挟持旋钮●红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术●水冷电极夹提高检测稳定性 多重连锁和安全保护●可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热●实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒●界面上有关键温度的显示，优先查看仪器的运行情况●排风监控，消除废气影响●特殊的风道设计提高稳定性 分析软件●便捷易用的分析软件- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节 软件界面●强大的多元素分析平台- 便捷的全谱查看- 多元素分析及多谱线选择- 一键激发，直接在软件上得到分析结果- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择●全面智能的软件算法- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法- 处理功能，为客户带来不一样的分析体验 E5000发射光谱仪内置工作曲线及基底扣除● 智能漂移校正技术利用全谱丰富的谱线信息，自动完成仪器校正，使得分析数据更稳定

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

产品详情美国 D&S 发射率测量仪 AE1/RD1• 精确• 易操作• 快速测量• 价格实惠 美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，具有如下优点： 重复性: ± 0.01 操作简单: 探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。 快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。 价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。 把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。 AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品最小直径为1.0英（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！ 发射率通过两个步骤获取：1.把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2.把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。. 技术参数读数器: D&S 微型数字伏特计，型号RD1. 输出: 2.4 毫伏→在材料发射率为0.9，材料温度为25℃时 线性关系: 该测量仪输出和发射率成线性关系，小于±0.01 测量时间: 10 s 加热装置: 用来加热使标准体和待测样品温度一致。 样品温度: 最大130F。样品温度和标准体温度必须一致。. 漂移: 输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。 标准体: 随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源: 通用交流电源适配器100-240V，50-60Hz，12V直流输出 AE1辐射率仪：包括辐射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。可选配件: Model AE-AD1 - 测量直径最小可至1.5 inches(3.8 cm)的样品。 Model AE-AD3 - 测量直径最小可至1.0 inches(2.54 cm)的样品。Model AE-ADP - 测量适配器，端口内直径为1.5inches(3.8cm)，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(2 inches)圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料Custom Adapters – 定制测量适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面Battery Pack – 为方便客户便携式操作，我们还提供锂电池电池版本，可给该测量仪连续供电12小时左右，有电池电量指示，可充电。 测量仪尺寸:

产品用途AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，可用于建筑反隔热涂料、纺织等行业。产品优点重复性： ± 0.01操作简单：探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。价格实惠技术参数读数器D&S 微型数字伏特计，型号RD1输出 2.4 毫伏→在材料发射率为0.9，材料温度为25℃时线性关系 该测量仪输出和发射率成线性关系，小于±0.01测量时间10 s加热装置用来加热使标准体和待测样品温度一致。 样品温度130F。样品温度和标准体温度必须一致。漂移输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。标准体 随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源通用交流电源适配器100-240V，50-60Hz，12V直流输出AE1辐射率仪包括辐射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。AE1/RD1辐射率仪满足《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表?RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样?品的最小直径为1.0英寸（2.54cm）。还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！发射率通过两个步骤获取：1、把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。

模块化红外光发射灯头（Modular Infrared Light Head）研究者有时需要红外光源来非侵入式观察动物的行为，有时候目标动物较小，需要用体视显微镜来观察，怎么便捷实现呢？介绍SFA-LH-IR850给你：红外光发射灯头，发出850nm红外光，与NIGHTSEA的体视显微镜荧光适配系统通用！可以直接插入适配系统中的灯座。这个灯头并不是荧光观测的必备件，可以作为补充件备用！条件允许的话，你可以单独购买灯头和灯座，作为一个独立的实验室红外光源使用！该灯头采用高功率850 nm LED和中等光束宽度的扩散透镜，以创造一个平滑的照明区域。输出以850nm为中心，具有大约50nm的FWHM(半宽度上限)，在波长小于750 nm的情况下，几乎没有发射。请注意，红外光对于人眼和许多照相机是不可见的。您需要一个适当的相机来记录观察结果。货号产品描述规格SFA-LH-IR850Modular Infrared Light Head个SYS-IR850Modular Infrared Light Head w/DIM Base个

重复性： ± 0.01操作简单：探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。价格实惠简要概述AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表?RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品直径不小于2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样?品的直径不小于1.0英寸（2.54cm）。还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！发射率通过两个步骤获取：1、把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。技术参数读数器:D&S 微型数字伏特计，型号RD1输出:2.4 毫伏（当材料发射率为0.9，材料温度为25℃时）线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系，偏差小于±0.01测量时间:10 s样品温度:130℉。样品温度和标准体温度必?须一致漂移:输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略标准体:随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参考电源:通用交流电源适配器100-240V，50-60 Hz，12V直流输出AE1发射率仪：包括发射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南