反射式膜厚测试仪

QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器，操作简单，极易上手，应用广泛，快速准确的提供各种薄膜厚度的测量，如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。产品特点 多参数测量可测量材料厚度、折射率（Refractive Index）、 消光系数（Extinction Coefficient）和反射率。 各种形状样品测量可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。 软件功能丰富友善的用户界面以及灵活丰富的软件功能，各种丰富的数据分析及查看功能。 简单、易用测量流程简单，用户极易上手建立测量程式。 产品参数 ★Si基底上对厚度约500nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差 定制功能可根据客户需求搭配自动运动平台可根据客户需求配置小光斑

仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）技术参数型号Delta-VISDelta-DUVDelta-NIR波长范围380-1050nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um1nm-30um10um-3mm准确度12nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm3nm入射角90°90°90°样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm是否能在线是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

反射式血氧饱和度模拟器（SURPASS-A）主要特点1. 反射血氧饱和度模拟适用于反射式原理血氧传感器，是目前市场上唯一一款可以精准调节血氧饱和度数值且可以通过计量的模拟器；2. 模拟手指与主机直接相连，可以旋转，非常方便探头操作；3. 电磁兼容符合IEC60601-1-2最新版本要求，其中辐射骚扰符合 CLASS B 等级要求。主要功能可进行血氧饱和度模拟；可进行脉率模拟；预置病人状态模拟；可以对被测试仪器反应时间进行测试；可以模拟在不同灌注度下的血氧饱和度和脉率；可以测试被测仪器在不同干扰源下的性能；可以选择不同的R曲线。主要参数名称技术参数血氧饱和度测量范围35%～100％分辨率1%误差当血氧饱和度的测量范围在75%～100％，为±1％或±被测试仪器精度取大值；在74%～50％，为±3％或±被测试仪器精度取大值；小于50%无定义。脉率测量范围25bpm（次/分钟）～250bpm (次分辨率5bpm误差1%±1bpm灌注度测量范围测量范围：0.000%～20.000%分辨率分辨率：1.000%～20.000为1%；0.100%～0.900%为0.1%；0.000～0.075%为0.025%。病人状态预置24组状态，开机默认为8组，可通过设置运动等级来调整病人状态的组数。工作电压适配器DC 5V电池3.7V可充电锂电池，充放电不小于500次。电磁兼容辐射骚扰（RE）CLASS B辐射抗扰（RS）10V/米静电（ESD）空气8千伏，接触15千伏（注：非直接接触光学探头）其它符合YY0505：2012和IEC60601-1-2:2014

产品特点： ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。? 宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch（电子制冷）CCD 512ch（电子制冷）PDA 512ch（电子制冷）光源规格D2（紫外线）、12（可见光）、D2+12（紫外-可见光）12（可见光）电源规格AC 100V±10V 750VA（自动样品台规格）尺寸4810（H）×770（D）×714（W）mm（自动样品台规格之主体部分）重量约96kg（自动样品台规格之主体部分） 应用范围： FPD -LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围： 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析

产品特点： ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k消光系数）。? 宽阔的波长测量范围。（190nm-1100nm）? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。（1nm~250μm）? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格： 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch（电子制冷）CCD 512ch（电子制冷）PDA 512ch（电子制冷）光源规格D2（紫外线）、12（可见光）、D2+12（紫外-可见光）12（可见光）电源规格AC 100V±10V 750VA（自动样品台规格）尺寸4810（H）×770（D）×714（W）mm（自动样品台规格之主体部分）重量约96kg（自动样品台规格之主体部分） 应用范围： FPD -LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围： 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析

Thorlabs 小型反射式准直器特性消色差设计，准直反射镜的整个反射带有保护层的银膜(450 nm - 20 µ m)提供高反射率非常适合将多色光耦合到多模光纤中表面粗糙度： 100 &angst (RMS)通光孔径：Ø 11.5 mm兼容的最大光纤数值孔径为0.11兼容Thorlabs的16 mm笼式系统无磁不锈钢外壳这些镀保护层银膜的反射式准直器基于90°离轴抛物面(OAP)反射镜。与透镜不同，金属反射镜的焦距在宽波长范围内保持不变。由于这种固有属性，抛物面反射镜准直器不需要调节就能准直不同波长的光，因此非常适合用于多色光。常见应用包括需要准直多个波长的系统、可见光或红外准直/耦合、以及将多色光耦合到大芯径多模光纤中。这些镀保护层银膜的反射式准直器在450 nm到20 µ m波长范围提供出色的反射率。在可见光和红外波段工作的多波长系统中，这些反射型准直器既可将多色准直光耦合到单模和多模光纤中，又可准直光纤发射的多色光。准直多模光纤跳线发出的光时，光纤的数值孔径应 0.11，以防外壳阻挡部分光。请注意，一般而言，多模光纤发出的光无法无法很好地准直。RCR50x-P01反射式准直器外壳可以直接安装到SM05透镜套管安装座或轻松集成到16 mm笼式系统中。如右图所示，外壳所刻的轴向和径向刻度易于准直器的对准和定向。用于制造离轴抛物面反射镜的金刚石车削工艺可以实现 100 &angst RMS的表面粗糙度，因此zui大程度减少了反射镜表面的散射(~2% @ 633 nm)。Thorlabs还提供其他适用于不同NA的带保护层银膜的反射式准直器和一系列适用于250 - 450 nm波长范围的镀紫外增强型铝膜的反射式准直器。用于反射式准直器的光纤跳线Thorlabs提供单模、保偏或多模光纤跳线，用于耦合和准直应用。我们还提供低插入损耗光纤跳线，它们采用纤芯同心度更好的单模光纤，所以插入损耗更低，透过率更高。如果我们标准产品中没有您应用所需的光纤跳线，Thorlabs还提供定制光纤跳线，请联系我们。

反射式空间光调制器产品介绍：反射式液晶光阀是LCD与CMOS集成电路有机结合的反射型新型显示技术，反射式液晶光阀作为新型SLM具有高对比度，高光效、高分辨率、省电等诸多优势。因为反射式液晶光阀技术借硅基CMOS集成电路技术，在单晶硅片上CMOS阵列取代a-SiTFT-LCD中玻璃基板上a-SiTFT阵列，而且可以周边驱动电路集成一体，甚至可以集成信息处理系统。反射式的空间光调制器不仅可以对振幅进行调制，而且可以实现纯相位调节。产品特点： 采用美国LCOS的液晶光阀具有优良的反射波前特性（每一片液晶光阀都通过干涉仪进行严格的检验）高光学效率（一般都能达到60%以上）开口率高（一般都能达到90%以上）高对比度（一般都能达到2000:1以上）高衍射效率灵活的系统配置安静、低振动操作 全固态器件结构即插即用简易安装安全的低电压操作有好的图形界面全用户编程 系统配置表： 根据客户需要选定适合的LCOS液晶光阀选择配套的驱动控制器高性能PBS（可选配件）连接组件：/1.5m串口电缆1.5m视频电缆基于Windows XP/Windows 2000系统下控制软件电源适配器：DC+4.5V~+5.5V/2A空间光调制器使用说明书，控制软件的数据光盘 型号参数一：型号RSLM-HD70-A/PRSLM-2K55-A/PRSLM-4K70-ARSLM-4K70-P调制类型振幅兼相位振幅兼相位振幅调制纯相位液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位，256阶8位，256阶8位，256阶8位，256阶像素数1920×10801920×10804096×24004096×2400像元大小8.0μm6.4μm3.74μm3.74μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm12.29mm×6.91mm15.32mm×8.98mm15.32mm×8.98mm相位范围 2π 632mm 2π 632mm对比度＞2000:1＞1000:1＞1000:1＞1000:1填充因子＞87%＞93%＞89%＞89%帧频60Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz使用温度-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C衍射效率75% 550mm75% 550mm75% 550mm75% 550mm最大光强2w/cm22w/cm22w/cm22w/cm2光谱范围420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm数据接口DVIHDMIHDMIHDMI 型号参数二：型号RSLM-HD70-VISRSLM-HD70-NIRRSLM-HD70-NIR2RSLM-HD70-TELCO调制类型纯相位调制纯相位调制纯相位调制纯相位调制液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10801920×10801920×1080像元大小8.0μm8.0μm8.0μm8.0μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm相位范围2π2π405mm 7.7π2π543mm 4.9π633mm 3.7π850mm 2.7π1064mm 2π对比度 ≥2000:1填充因子＞87%87%87%90%帧频60Hz60Hz60Hz60Hz响应时间25ms30ms30ms40ms衍射效率60%60%60%60%最大光强2W/cm22W/cm22W/cm22W/cm2光谱范围420nm-700nm1000nm-1064nm400nm-1100nm1550nm数据接口DVIDVIDVIDVI

CDT离轴反射式平行光管Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构，平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计（仅需较小、较窄的光学平台）。而且，垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时，垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。Inframet使用三个等级的离轴反射镜面： SR（标准分辨率）- 制造精度PV不低于λ/2在λ= 630nm。 HR（高分辨率）- 制造精度PV不低于λ/6在λ= 630nm（典型λ/10）。 UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ= 630nm。 SQ（极高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ= 630nm。Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料，如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率，则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜（或者两个反射镜）的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管，满足您的需求。

光催化反应器，三联光催化反应器，反射式三联光催化反应器，反射式恒温高通量光催化反应器，光催化反应器，产品名称：反射式三联光催化反应器产品类型：光催化反应釜反射式三联光催化反应器产品名称反射式三联光催化反应器 （基础型）反射式三联光催化反应器 （Pro专家型）制冷形式双半导体模块制冷压缩机制冷，直流变频压缩机， R134a环保制冷剂名义制冷量110W×2130-455W制冷消耗功率 （含风机）400W70-220W空载zui低制冷温度18℃10℃带载zui低制冷温度28℃15℃温度控制方式ON/OFF位式调节直流变频，制冷量无极调节恒温精度±1℃±0.2℃装置形式一体式主机+反应腔模块化， 反应模块可任意快拆快装替换搅拌转速0-1000rpm0-1000rpmLED灯电源输出4路预留，24V 8A4路预留，24V 8A总功率（含光源）600W400W反射式恒温高通量光催化反应器（基础型） 反射式三联光催化反应器1、创新性的采用多面反射式设计，将传统光化学反应单面照射改进为前部后部、下部三面照射，使得反应管内的溶液能够更均匀的接受光照；2、内置半导体制冷恒温系统，能够保证反应室内温度在三台Kess灯满功率照射时，温度不高于25℃，减少了光源的热效应对反应的影响，确保实验数据的准确可靠；3、内置磁力搅拌系统，搅拌转速0-1000pm连续可调4、可按需定制适配多种反应试管、Schlenk管、反应瓶的支架，可轻松实现多联高通量实验；5、这个催化装置是专为Kessel光源设计的，能解决传统直接照射式的光催化反应热效应大、照射不均的问题。反射式三联光催化装置（Pro专家型） 反射式三联光催化反应器1、主机外壳采用碳钢喷塑，反应腔体采用蓝色尼龙板，二者快拆式锁扣连接；2、采用模块化设计，反应模块可任意快拆快装替换；3、个性化需求。可根据实验需要，换装不同尺寸规格和照射形式的反应腔体，实现一机多用；4、采用直流变频压缩机，更好的控温精度和效果；5、磁力搅拌采用3个独立电机分别驱动，性能更可靠；6、压缩机的内置隐形设计，美观且小巧。

反射高能电子衍射仪（Reflection High-Energy Electron Diffraction）是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10～30KeV的单能电子掠射到晶体表面，通过衍射斑点获得薄膜厚度，组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。　　R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪，以便于操作者使用的人性化设计，稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压，束流强度，聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理，能实现极低放气率◆经久耐用，稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令 　　低电流反射高能电子衍射仪（Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction）是利用微通道板技术，大幅减少对样品损伤的同时，并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤（相当于普通RHEED的1/500-1/2800）◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令

反射式空间光调制器产品介绍：反射式液晶光阀是LCD与CMOS集成电路有机结合的反射型新型显示技术，反射式液晶光阀作为新型SLM具有高对比度，高光效、高分辨率、省电等诸多优势。因为反射式液晶光阀技术借硅基CMOS集成电路技术，在单晶硅片上CMOS阵列取代a-SiTFT-LCD中玻璃基板上a-SiTFT阵列，而且可以周边驱动电路集成一体，甚至可以集成信息处理系统。反射式的空间光调制器不仅可以对振幅进行调制，而且可以实现纯相位调节。产品特点： 采用美国LCOS的液晶光阀具有优良的反射波前特性（每一片液晶光阀都通过干涉仪进行严格的检验）高光学效率（一般都能达到60%以上）开口率高（一般都能达到90%以上）高对比度（一般都能达到2000:1以上）高衍射效率灵活的系统配置安静、低振动操作 全固态器件结构即插即用简易安装安全的低电压操作有好的图形界面全用户编程 系统配置表： 根据客户需要选定适合的LCOS液晶光阀选择配套的驱动控制器高性能PBS（可选配件）连接组件：/1.5m串口电缆1.5m视频电缆基于Windows XP/Windows 2000系统下控制软件电源适配器：DC+4.5V~+5.5V/2A空间光调制器使用说明书，控制软件的数据光盘 型号参数一：型号RSLM-HD70-A/PRSLM-2K55-A/PRSLM-4K70-ARSLM-4K70-P调制类型振幅兼相位振幅兼相位振幅调制纯相位液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位，256阶8位，256阶8位，256阶8位，256阶像素数1920×10801920×10804096×24004096×2400像元大小8.0μm6.4μm3.74μm3.74μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm12.29mm×6.91mm15.32mm×8.98mm15.32mm×8.98mm相位范围 2π 632mm 2π 632mm对比度＞2000:1＞1000:1＞1000:1＞1000:1填充因子＞87%＞93%＞89%＞89%帧频60Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz使用温度-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C衍射效率75% 550mm75% 550mm75% 550mm75% 550mm最大光强2w/cm22w/cm22w/cm22w/cm2光谱范围420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm数据接口DVIHDMIHDMIHDMI 型号参数二：型号RSLM-HD70-VISRSLM-HD70-NIRRSLM-HD70-NIR2RSLM-HD70-TELCO调制类型纯相位调制纯相位调制纯相位调制纯相位调制液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10801920×10801920×1080像元大小8.0μm8.0μm8.0μm8.0μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm相位范围2π2π405mm 7.7π2π543mm 4.9π633mm 3.7π850mm 2.7π1064mm 2π对比度 ≥2000:1填充因子＞87%87%87%90%帧频60Hz60Hz60Hz60Hz响应时间25ms30ms30ms40ms衍射效率60%60%60%60%最大光强2W/cm22W/cm22W/cm22W/cm2光谱范围420nm-700nm1000nm-1064nm400nm-1100nm1550nm数据接口DVIDVIDVIDVI 关于空间光调制器的详细信息请咨询上海尖丰光电技术有限公司。

MIR反射式刻线衍射光栅的详细信息品牌：其他型号：QX-MIR-GL材质：Pyrex基底适用范围：激光用途：激光装箱数：1000加工定制：是外形尺寸：25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mmmm重量：0.01㎏尺寸：25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mmGrooves/mm：450Design Wavelength：3.1 μmBlaze Angle：32°Dispersion (nm/mrad)：1.6MIR反射式刻线衍射光栅特性 设计波长处的偏振效率：80%到95% 反射铝膜 使用刻线的基底材料生产o 连续波激光：250 W/cm2QXKJ提供多种优化中红外区域峰值偏振效率的刻划衍射光栅。我们提供不同闪耀角的光栅，适合多种应用。欲了解不同光栅类型的差异，请点击上方光栅指南标签。请注意，这些光栅的反射铝膜是裸露的，而且没有保护镀膜。但是可以定制MgF2或金膜来保护光栅的铝膜表面。金膜在红外波段的性能更好，而MgF2膜提供保护性；详情请咨询技术支持。注意td width="204" valign="center" background:#f0f0f0 "="" style="margin: 0px padding: 0px border-width: initial border-style: none border-color: initial "25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mmDesignWavelengthBlaze Angle12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm4501.6 nm/mradDesignWavelengthBlaze Angle12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm3002.86 nm/mradDesignWavelengthBlaze Angle12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm7512.3 nm/mrad12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm27°25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mm1504.2 nm/mrad

产品规格型号 ： LabScan XE光学系統： 0°/45°反射式 15点环形侦测、双光束回授分光接收器：精密光栅分光系統，256点矩阵式矽光接收器光谱范围： 400...700nm 解析度3nm、带宽10nm光度范围： 0...150% 解析度0.003%再现性： ?E*0.09 @标准白板测口直径： ?44mm照明 ?50mm侦测 大/小测口自动双焦镜头(选配)标准光源： 氙气闪光灯(CIE D65)测量室/口：可向上/橫向测量或朝下测量(需选配支架)连接埠： RS232C电源供应： 100-240VAC产品简介　　用途广的 LabScan.XE 分光色差仪，采用 0°/45° 反射式光学系统，与肉眼察物体原理相同，光学评价与实际感观为接近。适用于塑胶、纺织品、涂料、食品、纸业、化学、制药、建材...... 多种行业。不论液体、粉体、半透明或不透明固体之反射值均可测量。內建黑板、白板、绿板三色标准片，可全自动标准化校正，大幅提高色彩度。光源采用氙气闪光灯，搭配双光束光学系統，几乎永久无需保养。在实验室或生产线，配合 EasyMatch 色差分析软件，与Windows 系统完全相容，轻松完成品质检验或专业色彩分析。产品特色　0°/45° 系統，光学评价与肉眼接近同時考虑表面光泽度影响，测值更直径 50mm 大测口，纺织品测试准确配合样本特性，测口朝上或侧向均可测量不透明、半透明、固体、液体、粉体、糊状物... 各种样本均可测试双光束氙气闪光灯，几乎永久无需更换 (符合 D65 标准)內建标准片全自动标准化，度高无风扇、无空气芯，噪音低，不需保养可搭配喷墨印表机(HP/Epson)，输出色系图形、分光反射率、任何荧幕画面EasyMatch 色差分析软件相容 Windows美国原装进口 (HunterLab 牌)

反射率测量系统搭配的反射式积分球反射式积分球

产品介绍 空间光调制器（SLM）是一种对光的空间分布做特性调制的设备，其主要是利用电信号对光信号（光波的振幅、相位、偏振态甚至是波长）来做调制。空间光调制器是应用于光学、光电混合系统进行光互连、光学相关、光计算、模式识别、图像处理和显示技术等方面的关键器件。液晶空间光调制器具有效率高、能耗低、速度快、质量好的特点，在目前空间光调制器市场占据绝对的领导地位。LCOS为反射式的SLM，有高反射率、高光利用效率、小像素尺寸（大衍射角度）的优势，已被广泛应用在各相关领域。技术优势采用高稳定性LCOS芯片为核心光调制元件1080P高清大分辨率外形小巧，结构紧凑，便于集成高刷新率，高性价比适用于光场调控、全息投影、物理光学实验、AR设备开发、计算成像与相干衍射、投影成像与结构光等领域通用参数调制类型纯相位液晶类型反射式像素1920X1080像元尺寸6.37*6.37um相位范围＞2.1π@650nm刷新率60Hz灰度等级8位，256阶光谱范围420~700nm靶面尺寸12.29mm*6.91mm填充因子93%反射率75%@532nm最大光强1-2W/cm² 数据接口HDMI品牌PLCTS产品实图实验搭建案列应用领域适用于光场调控，全息投影，物理光学实验室，AR设备开发，计算成像与相干衍射，投影成像与结构光等领域

高的解析能力和色散L槽密度低，适用于高阶应用槽间距公差小于 0.05%提供定制尺寸与其他反射式衍射光栅相比，Richardson Gratings™ Echelle 反射式衍射光栅具有卓越的解析能力和色散。这些光栅的特点是槽间距较宽，槽密度相对较低，闪耀角较大。它们适用于从近 UV 到红外（大约20μm）的波长范围。Richardson Gratings™ Echelle 反射式衍射光栅非常适用于诸如具有很高的角色散及通量的紧凑型高分辨率分光仪等应用。我们在收到请求后会提供定制尺寸。注意： 这些光栅的表面非常敏感，在接触光学元件时切勿触摸。若需要清洁以去除尘粒，建议采用运用清洁压缩空气的非接触式清洁方式。

Richardson Gratings™ 高精度反射式全息衍射光栅高衍射效率与刻线式光栅相比，减少了杂散光并具有更精确的周期性提供从 UV 到 NIR 区域的波长选项提供定制尺寸 通用规格有效孔径 (%):90涂层:Aluminium构造 :Holographic Grating基底:Float Glass厚度 (mm):6.00 ±0.5反射波前, RMS:λ/4基底上的刻划区域居中 (mm) :±1凹槽与边缘对齐 (°):±0.15槽间距公差 (%) :0.05偏振 :S, P and AverageSpectral Order (m):与刻线式光栅相比，Richardson Gratings™ 高精度反射式全息衍射光栅的光散射更低，使其成为对拉曼光谱仪等杂散光敏感的应用的理想选择。通过暴露于强激光干涉图样，光栅被记录在光刻胶中，然后用化学方法显影以显示具有正弦横截面的条纹图样。可提供从 UV 到 NIR 光谱区域使用的光栅。注意： 这些光栅的表面非常敏感，在接触光学元件时切勿触摸。若需要清洁以去除尘粒，建议采用运用清洁压缩空气的非接触式清洁方式。

产品描述：带有反射式靶（也称定向靶）的X射线管，可以集成靶的冷却系统，以获取比透射式靶更高的电子能量，目前最高电压300kV的反射式射线源上市。SE系列产品专为CT扫描应用优化的开放式微焦点X射线管 带反射式靶特点* 最高管功率350 Watt / 300 kV* 自动强度控制（AIC），用于射线连续运行时的强度控制* 射线管自动校准，以优化性能* 自动排气功能，延长真空组件的使用寿命* 独有RTU阴极灯丝单元和射线管自动排气功能，使维护更简便* 无限期的使用寿命技术参数单应用领域汽车工业的X射线无损检测，如：* 电子组件* 电子控制单元* 微型机械装置* 插头和压接件* 电池盒航空航天领域的X射线无损检测，如：* 机械组件如阀或襟翼制动器* 导管或风管的环向电子束焊（EB）焊缝检测* 转子叶片、涡轮叶片* 飞机涡轮* 电子组装* 小型钛和铝铸件* 钛铝铸件* 复合材料

蛋壳颜色测定仪，光电反射式蛋壳颜色测定仪，光电反射式色度仪 蛋壳颜色测定仪，蛋壳的均匀性 是鸡蛋质量的总标志，属于蛋壳颜色检测设备，鸡蛋品质检测设备。蛋壳颜色测定仪主要应用于畜牧家禽 动物营养以及食品科学领域，是各个大学以及企业检测鸡蛋品质的设备 蛋壳颜色测定仪中国总代：铭奥国际有限公司 蛋壳颜色测定仪参数： 重复性精度：≤0.03；双定位功能；可充电的锂离子电池Φ4mm测量口径 蛋壳颜色测定仪，光电反射式蛋壳颜色测定仪，光电反射式色度仪供应

LM反射式边缘测量传感器超小体积尺寸，适用于各种安装环境。反射一体式，无需安装反射板。可自由调节L型反射板安装位置。

北京中瑞祥彩色反射式密度仪ZRX-8678 彩色反射式密度仪是采用新的半导体LED光源术和微电子术，中文显示，放弃了传统密度计普遍采用的普通光源加滤色片术，因而结构小巧，作稳定可靠，是适合于内印刷车间日常频繁检测用的简易便携式密度仪，为印刷质量过程控制的仪器。 　　ZRX-8678彩色反射式密度仪测量的密度、网点数据和爱色丽530密度仪测量的数据基本致。 　　 　　能： 　　标准校正白板校零 　　白纸上清零 　　自动颜色识别 　　密度和密度差 　　相对密度和密度差 　　灰平衡——自动计算出测量点的灰平衡 　　网点面积百分数 　　网点扩大率 　　ZRX-8678彩色反射式密度仪术参数： 　　显示：47x23mm视域汉字液晶 　　测量几何：0°／45°环形镜头系统 　　光源：LED光源 　　测量范围： 　　0-2.5D（密度） 　　0-100％（网点面积） 　　重复误差范围：±0.01D（密度） 　　±1％（网点面积） 　　线性度：±0.01D 或±1％ 　　仪器台间差：±0.02D 　　测量孔径：φ3.5mm 　　偏光镜：用户可选择有无 　　测量时间：大约1.2秒 　　电源：可充电的锂电池 　　每次充电可测量次数：大约14000次 　　预热时间：无须预热 　　作温度范围：10-35℃ 　　体积：123mm×67mm×55mm 　　重量：大约300克 　　附件：标准校正白板、操作说明书、充电器、印刷测控条、保修卡

RT300反射式分光光度色差【测量面积：7mm】分析仪光学角度：0/45，测量面积：7 mm，目标窗口：9 mm，1024标准储存模式，数据储存：2000个。符合CIE94、CIE L*A*B、CIELAB（L*C*H）、CMC公差、Hunter Lab、白度指数（ASTM E 313）、XYY色度坐标、XYZ三色值、黄色指数（ASTM E 313）、Delta E*色差、同色差异指数、色彩数据传输、光谱数据等色度测量方法，广泛应用于涂料、食品及饮料、日用品、塑料、医学与临床等领域。设计精巧的反射式便携式色差仪，用于控制色度和监测其非连续性；通过定制专用色度管理软件，通过色度管理软件控制仪器操作、记录、演示和分析各种测量数据。RT400反射式分光光度色差【测量面积：8mm】分析仪光学角度：0/45，测量面积：8 mm，目标窗口：9 mm，1024标准储存模式，数据储存：2000个。符合X Y Z三色值、CIE L*a*b、CIE xyY、CIE L' u' v' 、CIE L*C*h色彩空间、△E、△L*、△a*、△b* 、△C*、△h*色差、白度、黄度、反射率、色变指数等色度色度测量方法，设计精巧的反射式便携式色差仪，用于控制色度和监测其非连续性。带有柔软灵活的光学纤维测量头(测量角度 0°/0°)，适用于面积小、外形复杂或类似的难以进入（如小块）的表面色度色差测量控制。微型光谱仪技术与计算机强大的计算能力玩美结合在一起，通过定制专用色度管理软件，通过色度管理软件控制仪器操作、记录、演示和分析各种测量数据，广泛应用于不透明样品、半固体和半透明液体。RT500反射式分光光度色差【测量面积：7mm】分析仪光学角度：d/8°，测量面积：8 mm，目标窗口：9 mm，1024标准储存模式，数据储存：2000个。符合CIE94、CIE L*A*B、CIELAB（L*C*H）、CMC公差、Hunter Lab、白度指数（ASTM E 313）、XYY色度坐标、XYZ三色值、黄色指数（ASTM E 313）、Delta E*色差、同色差异指数、色彩数据传输、光谱数据等色度测量方法，广泛应用于涂料、食品及饮料、日用品、塑料、医学与临床等领域。设计精巧的反射式便携式色差仪，用于控制色度和监测其非连续性。通过定制专用色度管理软件，通过色度管理软件控制仪器操作、记录、演示和分析各种测量数据。

反射式-超窄宽带滤光片（可低至20pm） 反射式超窄带宽滤光片是上海昊量光电提供的特殊滤光片产品，它的光谱带宽（FWHM）可以低至20pm。而目前市场上的滤光片产品带宽多是几个nm，窄的也仅能达到0.1nm，无法满足一些特殊客户的超窄带宽滤波需求。 反射式超窄带宽滤光片（低至20pm）是体布拉格光栅（VBG）的一种，是基于全息曝光方式且以光敏玻璃（PTR）材质为基底材料制作，半高全宽（FWHM）可低至20pm，是一款高性能的滤光片。目前已经有一些窄带滤光片应用在量子光学、太赫兹光谱、超快光谱，窄线宽激光等应用领域。 反射式超窄带滤光片产品主要特点：衍射效率：up to 95% FWHM： 可低至20pm高损伤阈值5J/cm2，1064nm,10ns （可选）；尺寸大小：5mm x 5mm, up to 30mm x 30mm；波长： 400-3000nm 范围可选 比如工作波长：405nm,530nm,630nm,780nm,795nm,800nm, 810nm,813nm,863nm,895nm,1030nm,1064nm,1341nm,1522nm，2200nm等 超窄带滤波的实现，同样对光源具有较高的要求，注意事项如下： 1、光源发散角大小 （若要获得较高的衍射效率，发散角越小越好）！ 2、入射角和衍射角的角度设定 3、光斑大小 若有超窄带滤波需求，欢迎咨询我们技术销售同事！ 图1、 1064nm, FWHM=23pm 示例 图2、 反射式超窄带滤光片工作示意图更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

1.中瑞祥超声波测厚仪 穿越涂层测厚仪型号ZRX-18210采用脉冲反射式测量原理可分层测厚 产品概述 ZRX-18210超声波测厚仪采用脉冲反射式测量原理，适合多种材料厚度的测量。仪器通过探头发出超声波以恒定速度 在材料内部进行传播，并在其底面得到反射波后进行接收。 该款仪器可对多种板材和加工零件作精确测量，广泛应 用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。 功能特点 ● 可显示 A 扫描波形，便于对复杂工件进行回波分析和测量； ● 具有多种测量方式 ，可设置空白以屏蔽余震或杂波 ； ● 仪器可适配多种类型探头，单双晶适用； ● 可穿透涂层测量，可分层测厚，同时显示； ● 任何模式下分辨率为 0.001、0.01、0.1 毫米可选（或 0.0001、 0.001、0.01 英寸可选）； ● 增益调节范围 0-99dB； ● 可调电压可变脉宽方波脉冲发生器； ● 具有单值 B 扫描显示功能； ● 具有报警功能，可自由设置报警上、下限； ● 具有差值、最大最小值显示方式； ● 可存储多达 500000 个测量值和波形；2.磁性物分析仪/磁性物检测仪/磁性物测试仪 型号ZRX-18199用于测量颗粒状材料及微粉材料中微量感磁物质 ZRX-18199 型磁性物分析仪用于测量颗粒状材料及微粉材料中微量感磁物质（如：铁、锰、镍、钴等等）的含量，该仪器采用高性能屏蔽材料，高灵敏度传感器和单片计算机数据分析处理系统，具有抗干扰能力强、检测速度快、性能稳定、测量精度高、。DP-G1 型磁性物分析仪的性能完全满足 JB／T6570-2007《普通磨料磁性物含量测量方法》的要求，在磨料磨具、耐火材料、粉末冶金、化工涂料等行业和领域得到了广泛的应用。通常情况下，被测样品含有多种具有感磁性的成份，且各种成份的磁化率相差很大，磁性物分析仪的测量结果是被测样品中各种成份磁化效应的总和，并以产生同样磁化效应的基准纯铁粉的百分含量作为测量数据。主要技术指标：性能指标周围空气中不含有腐蚀性气体或杂质产品不受强电磁场和强烈的机械振动冲击仪器在预热 30 分钟后，可在下述条件下连续工作 8 小时，并符合准确度和稳定性的规定：1、环境温度：-10 ~ +40 º C2、供电电源：交流 220v±10% 50 赫兹3、环境湿度：80%4、灵敏度：0.0001%5、测量范围：0.0001~0.0999%6、测量误差：±0.0003%7、重复性：0.0003%8、电流功耗：200Ma 2.智能集菌仪 集菌仪 型号ZRX-08674超大显示屏，四档直接调速控制 性能特点： 1. 全不锈钢机身， 2. 超大显示屏，四档直接调速控制，性能可靠； 3. 配有万年历时钟，液晶显示； 技术参数： 1. 电源：AC 220V/50Hz 2. 功率：100W 3. 转速：15-220rpm 4. 悬架总高度：37cm 5. 重量：18㎏ 6. 外形尺寸：48×30×10.5cm 3.挂式酒精喷灯 酒精喷灯 型号ZRX-08678适用于化学试验室作热源用 重约：1400g 一、用途：该喷灯适用于化学试验室作热源用，其火力可达1000摄氏度以上，由于 酒精悬挂在旁边，可随时往壶内添加酒精，因此，喷灯可连续作业，使用 不受时间限止。二、使用说明：详情请看说明书。三、注意事项：1、使用喷灯时，不允许再加任何热源。 2、在使用过程中，应随时注意喷火咀的畅通，以防堵塞。 3、喷灯工作时，应注意周围环境，尽量避开易燃物品。室内温度不宜过高。 4、喷灯工作完毕后，不得立即用手触摸，以免烫伤。 4.呼吸性粉尘采样器/粉尘采样器 型号ZRX-08679 标准（BMRC曲线)ZRX-08679呼吸性粉尘采样器 主要用来定点监测粉尘作业环境中一个工班（8小时）时间内的呼吸性粉尘平均浓度。ZRX-08679型呼吸性粉尘采样器技术特点（1）呼吸性粉尘分离效能完全符合国际标准（BMRC曲线)的一种长周期呼吸性粉尘采样器（2）仪器机壳采用ABS工程塑料，并作了防潮、防静电处理，（3）粉尘分离装置采用双气泵采样、数显计时，具有气流稳定、负载能力大、工作时间长、操作方便特点。 ZRX-08679型呼吸性粉尘采样器主要技术参数（1）采样流量：3.8L/min；（2）采样准确度：±10%；（3）连续工作时间：8h；（4）防爆形式：矿用本质安全型，防爆标志：ExibⅠ；（5）外形尺寸：310mm×125mm×125mm；（6）重量：2.5Kg。 5.沉降磁环 ZRX-08685测量系统中的关键部件 产品特点： ZRX-08685型沉降磁环是沉降测量系统中的关键部件，外壳注塑成形，内安装磁性材料，与沉降仪的探头性能相配合。 主要技术指标： 规 格： 53、70 53、70 外 径： ø 91、110mm ø 200、200mm 内 径： ø 55、72mm ø 55、72mm 6.袖珍数字微风速仪 数字微风速仪 数字微风仪型号ZRX-08683 用于测量低风速的袖珍型测量仪 ZRX-08683袖珍数字微风速仪是用于测量低风速的袖珍型测量仪，广泛用于公共场所、采暖通风、空气调节、气象、环保、体育、科研及劳动卫生等方面。该仪器采用集成电路设计，ZRX-08683袖珍数字微风速仪具有灵敏度高、体积小、重量轻、操作简单、方便可靠、数字直读，并具有风速保持功能等特点。 　　特征 　　1、热式风速仪可以进行低风速的测试 　　2、小型探头、巧妙的格栅和扩散器 　　3、灵敏度高、体积小、重量轻 　　4、最大值最小值记录，重复读取及数据保持功能 　　5、微处理器电路保证最大精确度，以便使用特殊功能特点 　　6、带背光液晶显示，可同时读取风速和温度值 　　7、便携式风速仪提供精确的快速的数字测量值 　　9、用于温度测量的热敏电阻感应器，反应迅速 　　1. 测量范围：0.00～15 m/s 　　2. 分 辨 率：0.01 m/s 　　3. 最低检出：0.01 m/s 　　4. 精 度：读数×2%+0.1 m/s 　　5. 长寿命传感器：热式传感器，强度高，耐震动性好 　　6. 电 源：交直流两用：9V 方块电池或220V AC/DC 稳压电源供电 　　7. 工作时间：100 小时以上(9V 方块电池供电时) 　　8. 显 示：液晶显示，有背景灯 　　9. 工作环境：0℃～60℃ 　　10. 重 量：1.5Kg(含仪器箱) 　　11. 附 件：电源一件，9V 方块电池，说明书一份，合格证一份 7.pH在线监测仪 PH计/在线酸度计/PH检测仪/工业酸度计型号ZRX-08686 ● 全部采用进口芯片及元器件，采用最新的表贴生产工艺，确保仪器工作稳定可靠；● 多参数同时显示：可同时显示PH值、温度值、高点报警设置值、低点报警设置值、仪表是否处于高或低报警状态、以及当前的时间。各项参数一目了然。● 独特的4～20 mA电流输出对应的PH值既可逆又可以进行任意值设定，能给用户带来更特别的方便。● 采用防水防气全密封型外壳，更能在非常恶劣的环境状况中使用，防护等级达IP65。● RS485通讯（选配）；● 电极自动清洗功能（选配）；●历史曲线功能，能记录当前30天的历史数据并有查询功能。● 操作菜单的独特设计，为使用者带来了及大的方便，用户不看说明书也可使用自如。● 无按键操作三分钟背光自动关闭既节电又能延长使用寿命；屏幕对比度等级可调。 技术参数： ■测量范围：0.00～14.00pH■ 分辨率：0.01pH■ 精度：0.02级■稳定性：≤0.03pH/24h ■pH标准液：4.00/7.00/10.01 ；4.01/6.86/9.18■温度补偿：0~99.9℃(pH)■pH校正范围：零点±1.45 pH；斜率±30%■动作控制:两组ON/OFF继电器■继电器迟滞量：任意设定■信号隔离输出：4～20mA隔离保护输出■工作条件：环境温度：5~45℃■讯号输入阻抗：≥1×1013W■电流输出负载:允许最大负载为500W■对地电压绝缘度：最小负载为500VDC■工作电压：230VAC±10%、50/60Hz■防护等级：仪表防护等级IP65■可适配国内外各厂家的复合型工业pH/ORP电极■尺寸：96×96×145mm■仪表盘安装开孔尺寸92×92 mm■重量：0.9公斤 8.甲苯法水分测定装置/药典甲苯法测水份测定器 型号ZRX-08688 测量范围0-100准确度0.03环境温度0-50（℃） 电源电压220（V）外形尺寸20*100（mm） 本产品适用测定沥青、石油、油脂、及其它有机物所含的水份，蒸馏接管总容量为10ML。最小分度值为0.1ml.药典规定的甲苯法测水份中使用.标准磨口24/29#,500ml的短颈圆底烧瓶 9.在线粉尘浓度检测仪 型号ZRX-08709 用于连续记录粉尘粒子的总量或浓度 ZRX-08709 系列粉尘浓度变送器测量尘埃粒子经过一个固定探头的静电荷感应量。尘埃粒子与探头感应产生静电荷，通过探头进行信号放大并传送进监测控制系统。静电荷的大小与尘埃粒子的流量成比。本系统的高科技电子线路把这部分电荷转换成为控制信号输出，启动粉尘超标排放警报，同时用于连续记录粉尘粒子的总量或浓度。iCBA/2bs系列装置提供了目前世界最新交流耦合技术。这是现代最精确和稳定的监测技术，特别适合连续排放记录和数据累积。本监测系统工作原理是运用尘埃粒子流经探针周围所产生的电荷感应来确认尘埃粒子在线排放量（mg/sec）或排放浓度(mg/m3）。在燃烧工况相对稳定的情况下（ 即在同一个排放点上，流速、温度、压力、湿度和烟尘颗粒性质都没有很大的变化，小于±90%的变动 ），本系统经直接校定后也可用于在线监测排放浓度（单位＝mg/M3）。ZRX-08709 系列粉尘浓度变送器广泛应用于各种工业用途，包括：炼钢、发电、石油、化工、医药、建材加工、采煤和采矿、水泥制造和包装等行业。典型用途包括布袋除尘器滤袋破损的探测，或粉状材料回收、产品输送总量监测，或各种大小、各种燃料的锅炉烟尘排放浓度监测。技术规范操作环境温度 -20℃～60℃ （电子部件） 操作环境湿度 不结露 90% 操作环境振动 最高连续震荡量，任何方向、任何频率：均方根值 2g (20m/s2) 操作环境电磁场 在50 赫兹时最高值=60A/m (相等于一个1 米×1 米正方形电磁线圈内有50AT 的磁场) 操作环境保护 保护等级：IP66/NEMA4 铝合金壳体，适合非腐蚀性环境内安装，不锈钢探针 管道气体压力 -0.1 – 1MPa 管道气体流速 1m/s～30m/s 管道气体温度 －50℃～450℃ 管道外径 0.1米～4 米 探针结构 标准探针是M6，长度 160 mm 316 不锈钢棍。 尘埃颗粒大小范围 标称0.1μM～200 μM， 在标称范围外仍然能够接收但信号特性有点不同。 零点漂移 (时间) 每年低于量程的 1% 。 零点漂移 (温度) 在指定的温度范围内，低于量程的 1%。 满量程漂移 (时间) 每年低于量程的 1% 满量程漂移 (温度) 在指定的温度范围内，低于量程的 1%。 线路稳定性 系统所有部件均选用高稳定性电子组装件。 噪音抵抗性 所有50 或60 赫兹音频和谐波均在信号被接收之前全部滤掉 10圆形恒温水浴锅/油浴锅 型号ZRX-08707 一、圆形恒温水浴锅简介： 圆形恒温水浴锅是我厂根据客户需求研制生产的多用型油浴锅，该机采用微电脑液晶控制器，控温精确，隐藏式加热元件和传感器设计，水、油、干烧皆可使用，真正做到一机多用。油浴锅内外皆采用不锈钢制造，大大提高了使用寿命，是一款性价比较高的实验室工具。广泛用于蒸馏、干燥、浓缩以及温渍化学药品或生物制品。 二、圆形恒温水浴锅特点： 1、锅体由304不锈钢材质一次成型压制而成，无焊缝，内部半圆角过度，发热部件、传感器安装在锅体以外，锅内极易清洗。水、油、干烧皆可使用，真正做到一机多用。 2、钢化玻璃盖子，内部工作情况一目了然。 3、双屏LED显示屏，时间、温度清晰可见。 三、圆形恒温水浴锅技术参数： 1、控温范围：室温-400℃ 2、加热功率：1000W 3、控温精度：±0.1℃ 4、工作尺寸：Ф235×140mm 5、定时范围：常开或1分钟-99小时59分钟 6、显示方式：液晶屏显示 7、控温方式：微电脑PID控制 8、具有超温声光报警功能 9、电源：220v 50Hz 以上参数资料与图片相对应

反射式数字全息显微镜 反射式配置数字全息显微镜，无需扫描，非接触式测量动、静态物体三维样貌及振动特性的测量方法。根据波长的不同将反射式DHM分为三种型号：R1000-配备单一光源，是测量光滑表面和振动的标准测量工具R2100-同时配置双波长，实现复杂或不连续结构的测量。R2200-在R2100基础上多了第三方光源来扩展测量能力，特别是测量透明模式。反射式DHM的特性：快速3D样貌测量法MEMS分析，最高频率可达25MhDHM测量表面三维样貌，单一响应，无需扫描机制。无与伦比的快速采集，相机速度达1000fps允许：可变形样品的3D动态研究常规检查与高生产率短余辉荧光屏及大型表面的分析捕捉生产线的三维地貌同步DHM 可选频闪单元，测量MEMS装置的激励信号。这一独特数据分析提供：三维地貌的时序共振频率和响应振动振幅平面外分辨率可达5pm,平面内可达1nm表征复杂运动和样品测量可控制环境条件透明模式的地貌测量DHM独特的光学配置允许用户测量最佳光学质量指标：通过玻璃和浸没液体内部环境和真空室，控制温度，湿度，压强，气体成分。可选DHM反射式测量法分析软件允许以下测量：透明结构的地形厚度和折射率，多层结构的厚度值从10nm到几十微米柔软材料和液体的地形 反射式DHM主要参数：系统DHM型号R1000R2100R2200光源数量123操作波长（±0.1nm）666nm794nm666 nm, 794 nm, 680 nm激光波长稳定性0.01 nm / °C at 666样品台手动或自动XYZ平台，行程300 mm x 300 mm x 38 mm物镜放大倍数1.25x到100 x，标准，高数值孔径，长工作距离，水/油浸物镜物镜转轮六孔转盘计算机DELL工作站，最新多核Intel处理器，高性能图像卡，配置最小21英寸显示屏及鼠标，软件基于C++和.NET的Koala软件，额外可选软件模块可用于先进分析数据兼容性测量数据记录在二进制表格，可导出.txt格式，记录和重建图像可导出.tif格式或.txt数组 技术参数：性能参数测量模式666nm单波长合成短波长4.2um合成长波长24umDHM型号R1000，R2100，R2200R2100，R2200R2200精度[nm]0.15 0.15 / 3.0 *20垂直分辨率[nm]0.300.30 / 6.0 *40重复性[nm]0.010.01 / 0.1 *0.5垂直测量范围up to 200 μmup to 200 μmup to 200 μm锐利边缘最大台阶高度up to 333 nmup to 2.1 μmup to 12 μm表面类型光滑表面复杂，非连续表面复杂非连续表面垂直校准取决于干涉滤光片，±0.1 nm响应时间标准500us,10us(可选)响应速度标准30帧（1024*1024像素），可选达1000帧重建速率高达25帧1024*1024像素全息图（依赖于数据分析）（可选60帧）水平分辨率取决于物镜，低至300nm视野取决于物镜，从66um x66um到5um x5um范围工作距离取决于物镜，从0.3到18 mm数字对焦取决于物镜，高达50 x景深最小样品反射率低于1%样品照明低至1 μW/cm2频闪装置兼容单一，合成短波长

1.产品介绍 本系统应用于光电实验室，定位于实验室教学、并包含衍射、双缝干涉、 Talbot 影像、菲涅尔波带片、迈克尔逊干涉、计算全息再现、阿贝-波特实验、 光束变换等数十种光学实验的反射式多功能光学教学系统。 产品理念：改变一成不变的课堂，让激光科学向下扎根；因材施教，为培养高层次技能型人才添砖加瓦。 应用场景：光电实验室 使用对象：高校光学、光电、理工类专业实验内容：共 18 个，包含迈克尔逊干涉、衍射、计算全息、光束变换等 产品特点：①调试空间大、锻炼动手能力；②合理化实验、含经典与前沿；③灵活可编程、课程设计开放；④自主化软件、参数实时可调。 2.规格参数 产品名称 反射式多功能光学教学系统 品牌 中科微星 规格型号 F-MOES 实验内容 18 个光学实验，包括：波长测量、振幅调制、SLM 对 偏振态的调制、实时图像变换、Talbot 影像、阿贝-波 特实验、空间滤波实验、成像与投影、衍射、双缝干 涉、双缝干涉法研究 SLM 的相位调制量、迈克尔逊干 涉、计算全息再现、菲涅尔波带片、光束变换、平面波 与其他波形的干涉、像素大小的测量、移相式数字全息准直镜数量/焦距 1 个/ f=50.8mm 聚焦镜数量/焦距 3 个/ f=85mm & f=250mm SLM 分辨率 1920×1080 SLM 像元大小 8μm SLM 相位范围 2π@532nm SLM 光利用率 75%±5% 视频接口 DVI 电源输入 0-3V 可调（激光器）/5V 3A（SLM）/9V 1A（功率 计） 采集图像分辨率 2048×1536、1920×1440、1600×1200、1440× 1080、1280×960、1024×768 等，可根据需要选择 软件功能 包括：菜单栏、选择项、实验选择区、图形控制区、光 路图显示区、实验原理介绍区以及图像显示区；基于菜 单栏可以在分辨率中选择对应调制器的分辨率；基于选 择项可以根据需要选择振幅调制和相位调制；基于实验 选择区域可根据需要选择相应的实验；基于 C#语言开发，Windows 7 及以上 32/64 bit 运行环境；可进行 图像导入和保存 包装箱外形尺寸 480mm×430mm×230mm，包装箱内部分上下两层设计 其他 配置物镜，针孔滤波器，功率计，CCD 等 3.软件功能 软件主界面如上图所示，主界面主要分为以下几个部分：菜单栏、选择 项、实验选择区、图形控制区、光路图显示区、实验原理介绍区以及图 像显示区。 菜单栏：显示分辨率大小；选择项：可根据实验需要在振幅调制和相位调制中进行选择；实验选择区域：此区域主要是与选择项一一对应，当选择不同调制类型 时，对应的实验也随之不同；图形控制区域：此区域主要是通过设置相关实验的关键参数来实现不同 实验参数下的实验效果，每种实验对应不同的图形控制区域；  图像显示区域：此区域主要是用于显示上述所选实验中生成的图像，并 将其实时同步显示到第二屏幕上，该模块主要为了便于操作者观测加载 到空间光调制器的图像是否正确而设计的图形显示区域；实验原理区域：实验原理区域主要是用简洁的文字介绍相关实验原理； 光路显示区域：该区域主要用于呈现出相关实验光路图。4.部分实验效果展示

CTRM 700热反射式激光共聚焦显微镜CTRM700 是韩国?????所研发并由韩国Nanoscope Systems 进行商业化运营的热反射式激光共聚焦显微镜。CTRM 700 利用的是激光共聚焦扫描的方法测量样品表面或内部特定表面上温度变化引起的反射率变化的分布来获取样品的热分别图像。Principles & Benefits（性能及优势）：热反射显微镜（Thermal Reflectance Microscope) 是一种基于测量样品表面光反射率变化而测量样品温度变化的一种技术。共聚焦热反射显微技术是一种激光扫描共聚焦方法，它可以在局部区域获得比传统热成像技术（红外成像技术）更高分辨率的热成像图像。Application field（应用领域）：半导体器件热特性的测量与分析：-柔性显示面板缺陷检查-OLED内部缺陷检查-高输出功率装置发热特性的测量与分析-传感器单元的红外图像分析-氧化物薄膜晶体管的热特性-3D堆叠半导体热特性的测量分析-OLED 器件的热特性分析-气体传感器的MEMS装置的热特性测量和分析-InGaZnO薄膜晶体管的发热特性及可靠性分析Specification（规格）ModelMicroscope CTRM 700物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统测量高度 7 mm 分辨率横向分辨率0.3 μm轴向分辨率0.8 μm热分辨率1℃Image size共聚焦模式1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96热成像模式1024x768帧速率共聚焦模式10 Hz to 160 Hz热成像模式0.3 Hz激光共焦测量光源波长638 nm输出~2mW激光等级 Class 3b光学显微镜光源LED10W光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480数据处理单元PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~14 kg)控制器~8 kg

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从15nm到450um。利用反射干涉的原理进行无接触测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是一款高性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。Filmetrics光学膜厚测量仪：其可测量薄膜厚度在15nm到450um之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。 通过Filmetrics膜厚测量仪反射式光谱测量技术,可以测试4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如 : 半导体工业 : 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业 : 间距 (cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。 光电镀膜应用 : 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，在此基础之上，我们推出了操作极其简单的入门型号F20单点膜厚测试仪，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。F20 系列膜厚测试仪——一款畅销的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮，您在几秒钟同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows&trade 系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.选择您的F20，主要取决于您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围），下图是不同型号的膜厚测试仪测试的厚度范围以及对应选择的波长范围。图被和谐，请私信或查看纳腾官网F20 的测试原理：一束光入射到薄膜表面时，在薄膜上下表面都会发生反射，而两束反射光之间会产生干涉，干涉条纹的产生又是与薄膜的厚度，折射率等有关的，因此可以依据此来测量薄膜的厚度。F20系列膜厚测试仪的具体的应用实例：1.非晶态多晶硅硅元素以非晶和晶体两种形式存在, 在两级之间是部分结晶硅。部分结晶硅又被叫做多晶硅。非晶硅和多晶硅的光学常数(n和k)对不同沉积条件是独特的，必须有精确的厚度测量。 测量厚度时还必须考虑粗糙度和硅薄膜结晶可能的风化。Filmetrics 设备提供的复杂的测量程序同时测量和输出每个要求的硅薄膜参数， 并且“一键”出结果。测量范例多晶硅被广泛用于以硅为基础的电子设备中。这些设备的效率取决于薄膜的光学和结构特性。随着沉积和退火条件的改变，这些特性随之改变，所以准确地测量这些参数非常重要。监控晶圆硅基底和多晶硅之间，加入二氧化硅层，以增加光学对比，其薄膜厚度和光学特性均可测得。F20可以很容易地测量多晶硅薄膜的厚度和光学常数，以及二氧化硅夹层厚度。Bruggeman光学模型被用来测量多晶硅薄膜光学特性。2.电介质 电解质薄膜测量成千上万的电解质薄膜被用于光学，半导体，以及其它数十个行业, 而Filmetrics的仪器几乎可以测量所有的薄膜。常见的电介质有:二氧化硅 —— 最简单的材料之一, 主要是因为它在大部分光谱上的无吸收性 (k=0)， 而且非常接近化学计量 (就是说，硅：氧非常接近 1:2)。 受热生长的二氧化硅对光谱反应规范，通常被用来做厚度和折射率标准。 Filmetrics能测量3nm到1mm的二氧化硅厚度。氮化硅 ——对此薄膜的测量比很多电介质困难，因为硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要与薄膜厚度同时测量。 更麻烦的是，氧常常渗入薄膜，生成一定程度的氮氧化硅，增大测量难度。 但是幸运的是，我们的系统能在几秒钟内 “一键” 测量氮化硅薄膜完整特征!测量范例氮化硅薄膜作为电介质，钝化层，或掩膜材料被广泛应用于半导体产业。这个案例中，我们用F20-UVX成功地测量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度，折射率，和消光系数。有趣的事，氮化硅薄膜的光学性质与薄膜的分子当量紧密相关。使用Filmetrics专有的氮化硅扩散模型，F20-UVX可以很容易地测量氮化硅薄膜的厚度和光学性质，不管他们是富硅，贫硅，还是分子当量。3.铟锡氧化物与透明导电氧化物液晶显示器，有机发光二极管变异体，以及绝大多数平面显示器技术都依靠透明导电氧化物 (TCO) 来传输电流，并作每个发光元素的阳极。 和任何薄膜工艺一样，了解组成显示器各层物质的厚度至关重要。 对于液晶显示器而言，就需要有测量聚酰亚胺和液晶层厚度的方法，对有机发光二极管而言，则需要测量发光、电注入和封装层的厚度。在测量任何多个层次的时候，诸如光谱反射率和椭偏仪之类的光学技术需要测量或建模估算每一个层次的厚度和光学常数 (反射率和 k 值)。不幸的是，使得氧化铟锡和其他透明导电氧化物在显示器有用的特性，同样使这些薄膜层难以测量和建模，从而使测量在它们之上的任何物质变得困难。Filmetrics 的氧化铟锡解决方案Filmetrics 已经开发出简便易行而经济有效的方法，利用光谱反射率精确测量氧化铟锡。 将新型的氧化铟锡模式和 F20-EXR, 很宽的 400-1700nm 波长相结合，从而实现氧化铟锡可靠的“一键”分析。 氧化铟锡层的特性一旦得到确定，剩余显示层分析的关键就解决了。不管您参与对显示器的基础研究还是制造，Filmetrics 都能够提供您所需要的...测量液晶层-聚酰亚胺、硬涂层、液晶、间隙测量有机发光二极管层发光、电注入、缓冲垫、封装对于空白样品，我们建议使用 F20 系列仪器。 对于图案片，Filmetrics的F40用于测量薄膜厚度已经找到了显示器应用广泛使用。测量范例此案例中，我们成功地测量了蓝宝石和硼硅玻璃基底上铟锡氧化物薄膜厚度。与Filmetrics专有的ITO扩散模型结合的F10-RTA-EXR仪器，可以很容易地在380纳米到1700纳米内同时测量透射率和反射率以确定厚度，折射率，消光系数。由于ITO薄膜在各种基底上不同寻常的的扩散，这个扩展的波长范围是必要的。4.光刻胶成功测量光刻胶要面对一些独特的挑战， 而 Filmetrics 自动测量系统成功地解决这些问题。 这些挑战包括避免测量光源直接照射， 拥有涵盖广泛的光刻胶折射率资料库, 以及有能力处理光刻胶随烘烤和暴露而改变的折射率。测量SU-8 其它厚光刻胶的厚度有特别重要的应用。 因为旋涂 SU-8 的方法虽简便快速，但可能会导致所需厚度不太精确。 而暴露时间取决于光刻胶的厚度, 因此必须进行精确测量。 另外，由于正负光刻胶可以同时用于制造复杂的多层 MEMS 结构, 了解各层的厚度就变得极端重要。Filmetrics 提供一系列的和测绘系统来测量 3nm 到 1mm 的单层、 多层、 以及单独的光刻胶薄膜。 所有的 Filmetrics 型号都能通过精确的光谱反射建模来测量厚度 (和折射率)。 独家的算法使得“一键”分析成为可能，通常在一秒钟内即可得到结果。测量范例测量光刻胶涂层厚度的能力对开发和制造各种半导体器件如MEMS至关重要。Filmetrics提供测量SU-8和其它光刻胶厚度的广泛的解决方案。此案例中，我们演示如何用F20快速有效地测量硅胶上SU-8 涂层单光斑和多点厚度.5.硅晶圆薄膜Filmetrics 提供台式系统, 测绘, 和生产测量 1nm 到 2mm 硅晶片和膜厚仪器系统。6.太阳光伏应用薄膜光伏薄膜光伏 (TFPV) 作为硅基晶圆的较廉价的替代品正在得到开发。 薄膜光伏共有三大类，按照其有效层组成命名: 硅薄膜、II-VI (主要是锑化镉) 和 CIGS (铜铟硒化镓)。 每种有效层薄膜都是用在一层透明导电氧化膜上面，而基板可用玻璃或金属。测量有效层准确了解有效层的厚度和组成是非常重要的。 太薄会影响功效和耐用性，而太厚又会提高成本。 错误的组成会大大降低产品的功效和制造产量。Filmetrics F20型号为几十家薄膜光伏制造商所使用，用于测量三类有效层的厚度和光学常数。 为了测量透明导电氧化膜上面的有效层薄膜, Filmetrics 已获得了丰富的经验来检测用户自行生产的或专业玻璃生产商提供的单层及多层导电玻璃。其他制程薄膜除了有效层和透明导电氧化物堆以外，还有其他薄膜用于光伏类产品的制造。 这些例子包括用于刻蚀电池和电极的聚酰亚胺和光刻胶，以及减反涂层。 在这些情况下，Filmetrics 有现有的台式, 测绘, 或在线解决方案。测量范例快速可靠地测量多层薄膜是开发制造薄膜太阳能电池的关键。在这个案例中，我们需要测量薄膜光伏上缓冲层（硫化镉）和吸收层（碲化镉）的厚度。F20-NIR 结合准直光束平台，使我们能够从反射光谱测量TEC玻璃上太阳能电池碲化镉和硫化镉层的厚度。7.半导体实践教学已经有五十多台 Filmetrics 的 F20 用于大学半导体制造教学实验室。 这不仅仅是因为它们快速、可靠和价格合理， 还因为它们简明易懂的设计，使它们成为光谱反射原理教学的理想平台。 (如果您想了解如何在教学实验室使用 F20，用关键字 Filmetrics 大学在 Google 内进行搜索）。 同时，由于全世界有几千台 F20 在运行，接受培训的学生们觉得培训对将来就业很有用。Filmetrics 对用于实验室课程的仪器提供特别优惠。8.卷式薄膜涂层Filmetrics 系统在测量聚合物薄膜和涂层厚度领域有广泛应用，我们还有专门为卷式薄膜设计的产品卷式薄膜应用在塑料薄膜的制造中有很多点，它们的厚度对薄膜质量至关重要。 这些点包括: 薄膜的总厚度 (高达400um)、混合挤压分层厚度和涂层在薄膜卷筒上的厚度。 对于特定 PET 上涂层，我们的F20-UV 能测量非常薄的层(~10 nm)， 甚至是高能等离子表面薄膜。 我们标准的 F20 能够测量市面上常见的涂层，例如 0.05 到 50 um 范围内的硬涂层。我们有一个庞大的聚合物薄膜折射率数据库，其中包括 PET、聚碳酸酯、醋酸纤维素和聚烯烃，以及更奇特的材料，诸如导电聚合物。这些应用中的每一项都是独特的挑战，而 Filmetrics 已经开发出软件、硬件和应用知识以便为用户提供合适的解决方案。测量范例用配有200微米小光斑光纤的F20测量厚度。在线实时和台式测量聚氯乙烯（PVC）挤压塑料薄膜。台式测量时SS-3标准平台用于单点连续测量。在线测量时镜头和RKM在卷式薄膜移动时进行测量。利用我们庞大的折射率数据库，PVC厚度很容易测得。F20还可以测量共挤薄膜厚度，以及各种材料，如PET涂层厚度。9.多孔硅近年来， 多孔硅的研发工作大量进行。 众多兴趣的原因是多孔硅在光学器件、气体传感器和生物医疗设备应用中极具发展前途。和大多数新的材料技术一样，多孔硅开发的部分挑战就是要找到确定各种材料参数的工具。 对于多孔硅而言，最基本参数就是薄膜层的厚度和孔隙度。其它参数关系到加工后的薄膜层，例如浸渍材料的比例或传感器内吸收分子的数量。 根据Filmetrics 已经开发出算法，只要单击鼠标就能揭示多孔硅的厚度、折射率和孔隙度。 这一算法在F20, F40, 和 F50 仪器内都是免费提供的。测量范例多孔硅的特点可由许多参数决定，但厚度和孔隙度是最主要的。一般来讲，非破坏性的方法，如重力方法被用来测量孔隙度，但这种方法的准确度非常低。Filmetrics F20, 用非破坏性的方法，测量多孔硅的厚度和光学特性。Filmetrics专有的算法，一键点击，可精确计算薄膜的孔隙率。10.制程薄膜Filmetrics 提供测量非金属半导体制程薄膜的全系列产品。F20是单点测量厚度和折射率的最经济有效的仪器。对于小光斑厚度测量 (1 微米或更小)，可以将F40固定到您的显微镜上。对于空白晶圆薄膜厚度测绘，可选用经济有效的F50。而F80则能测绘产品晶圆上的薄膜厚度。我们专利的厚度成像技术使我们的仪器易于设定、较少配方，并且提供更为可靠的模式识别和比传统薄膜计量工具更低的价格。 有独立或组合到其它设备的机型可供选择。

产品规格 型号： MiniScan EZ 45/0光学系统： 0°/45°反射式分光接收器：精密光柵分光系統 256点矩阵式矽光接收器光谱范围： 400...700nm 解析度3nm、带宽10nm光度范围： 0...150%再现性： ?E*≤0.05 CIE L*a*b* @标准白板测口直径： ?6.0mm(4500S) ?31.8mm(4500L)标准光源： 氙气闪光灯测量室/口： 直接手持、对准样本测量显示幕： 背光液晶点阵式、可切换显示方向连接埠： USB电源供应： 长效充电模组 可选配电源供应器产品简介　　　HunterLab 是全球家，将高科技分光色差技术导入手持式机种，且能维持与桌上系统相同度的专业制造商。MiniScan XE Plus 拥有坚固的单体外壳结构，操作简单清楚，适合現场使用，您无需再把样本带回实验室，立即得知的色彩分析結果。长效型充电模组可供长时间使用，不论在生产线、仓库、收货码头，随时掌握准确的色彩数据，有效控制品质。因应宽广的使用范围，本系列备有：大 / 小测口、d/8° / 45°/0° 光学系统，共 4 种机型供您选择，适合涂料、塑胶、纺织、造纸、食品、建筑材料、多种行业的广泛需求。产品特色　备有 45°/0° LAV、45°/0° SAV 两种机型世界可单手操作之机种，轻仅 1KgLCD 液晶荧幕，可自由设定显示角度可储存 100 组标准值（含误差容许范围）及800 笔测量值「555 色彩浓淡编码」可快速区分布料色系，是纺织、成衣稽核、验收的佳工具USB 可外接 PC，搭配 EasyMatch 软件(选购) 进行色彩分析、输出报表美国原装进口 (HunterLab 牌)

Roadvista932逆反射系数测试仪美国Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪是为现场操作及实验室分析专业设计的便携式逆反射系数测试仪。932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路安全标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光安全服及其他反光材料。使用者在轻松的按下测试按键后，准确的告知使用者反光材料的实际逆反射系数值，除此以外，一并可测试反光材料的颜色是否符合颜色定义标准。连续可调的入射角和观测角易于各种反光材料的测试，包括在EN471和ANSI 107标准规范下的高亮度反光服测试。Roadvista932逆反射系数测试仪|反光膜测试仪内置蓝牙发射器及USB接口。通过以上装置可以轻松的通过电脑实现远程操控，此外，内置的记忆体可存储超过32000组测试数据。内部的光感应器，符合ASTM E1709和ASTM E2540规范的要求，符合CIE标准的人眼反应系数。光感应器与CIE照明标准A光源连接使用。Roadvista932逆反射系数测试仪使用国际标准的光度滤光器，精确测量时使用1个白板校准板，而不需要设定任何修正系数，这安全超越了竞争对手。产品特点● 简易操作，可测试各种类型的反光材料● 符合ASTM,CIE,ANSI,BS,EN&DIN技术规范● 观测角0.2度TO2.0度连续可调● 入射角-45度到+45度连续可调● 世界通用的标准A光源● 仅需一块校正板，无需任何校正参数● 独立的电源供应器和电池● 数字触摸彩屏显示● 内置蓝牙发射器● USB接口● 内置均值计算器● 内置可存储32000组测试数据的记忆体● 技术参数：● 入射角：-45度到+45度连续可调；● 观测角：0.2度到2度● 光源孔径张角：0.1度；● 光感应器孔径张角：0.1度；● 测试区域：直径1英寸（25mm）区域；● 技术规范：符合所有ASTM E1709 ASTM E2540，EN12899要求并遵循ASTMD4956，EN471，ANSI107测试规范；● 光感应器响应速率：光感应速率与ASTM E1709 6.4.2章及ASTM E2540 6.4.2章；● 量程：（cd/lx/m2）:0-20000 ● 数据存储：超过32000组测试数据；● 颜色测试：遵循CIE1931 xy retroreflected夜间色坐标；● 电脑相连装置：usb接口和蓝牙发射器；● 电源供应器：removeable12 VDC,2.4Ah；● 充电器：110VAC,60HZ(932-2)● 110VDC车载充电器（932）● 220VAC，50Hz（932）● 环境温度：0度-50度● 环境湿度：0-95%（非凝结）● 外形尺寸：380*115*325mm● 重量：2.9kg（含电池）符合标准符合GB 20653、GB/T 28648、EN ISO 20471、EN 471、ANSI 107 等标准规范下的高亮度反光服测试要求。随着中小学生的交通安全问题越来越严重，近期中国标委会发布了GB/T28468-2012 中小学生交通安全反光校服 测试技术规范和标准。里面特意提到用反光材料老保护道路学生行走安全，里面一项特别重要的测试指标是逆反射系数的测定。目前中国很多地区的纤维检验局，纤维检验所购买罗中科技代理的美国Roadvista品牌的逆反射系数测试仪进行该标准的测试。