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反射与透射支架台

仪器信息网反射与透射支架台专题为您提供2024年最新反射与透射支架台价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括反射与透射支架台参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的反射与透射支架台您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合反射与透射支架台相关的耗材配件、试剂标物,还有反射与透射支架台相关的最新资讯、资料,以及反射与透射支架台相关的解决方案。

反射与透射支架台相关的仪器

  • 透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
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  • 反射与透射支架台 FT 400-860-5168转3407
    品牌: 闻奕光电 货号: FT-RT 颜色分类: FT-RT-30 FT-IS50-30(不含积分球和光纤) 装修及施工内容: wyopticsFT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统,适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式,配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛:可以将探头放置在样品上或样品下(从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离)完成反射测量; 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量;或使用两个光纤进行样品传输的测量。采用30cm长的滑台(可以定制其他长度),本产品包含3个准直镜,可以加载TA接头或者SMA905接头的光纤,用于液体/固体样品的透射/吸收,荧光与散射测量以及漫反射测量。 FT-RT-30 型平台规格工程规格 FT-RT-30底座尺寸150.0 mm直径样品区域尺寸80 mm直径重量 1.6 kg横杆高度可调节至300毫米(可定制长度)组成部分样品盘,横杆,适配器,准直透镜(2)和光阱准直透镜波长185-2500 nm台体材料阳极氧化铝积分球适配器(可选)FT-ISxx-30,用于连接30毫米或50毫米的ISP系列积分球
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  • 反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架,可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头,并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆,可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统,用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式,配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备,包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器;一个反射和传送的样品盒;一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5 kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求,我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合,我们开发了增强型的STAGE-RM平台,透反射样品支架是常用的光谱测量附件,与反射探头共用可实现反射光谱测量,与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜,型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件,例如光源,光谱仪,光纤,积分球等,可以联系韵翔光电。
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  • 透反射样品支架 400-860-5168转2255
    SPL-STAGE-TR规格和价格表 谱镭光电提供的透反射样品支架是常用的光谱测量附件,与反射探头共用可实现反射光谱测量,与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个COL-UV准直透镜,还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 特点· 实现透射和反射光谱测量· 测量高度可调· 测量高度可通过一维平移台微调· 自带两个准直透镜· 可定制配合安装孔尺寸 型号型号说明备注SPL-STAGE-TR应用场合:透射/反射光谱测量,高度既可粗调,又可微调带两个COL-UV准直透镜、一个一维平移台、一个万向杆架 技术规格型 号SPL-STAGE-TR应用场合透射/反射光谱测量可调高度210mm(可定制)一维平移台行程25mm(可定制)探头安装配合Ф6.35mm探头(可定制)底座尺寸Ф180mm自带准直透镜工作波长:200-2000nm(型号:COL-UV)材 料铝材(发黑处理)
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  • 立式透射支架 400-860-5168转6044
    立式透射样品支架,YME-2077 描述YME-2077透射样品支架,采用立式设计,确保样品与光路保持垂直,同时非常方便取放样品,并且载物台高度可调,适用于不同厚度的样品。特点适合任意平面形状的固体透光样品高度可调,适用于不同厚度的平面固体样品立式设计,确保样品与光路垂直扁位立柱设计,确保光学元件在同一光轴上技术参数更多精彩内容,请关注下方!
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  • 反射率/透射率积分球 400-860-5168转3067
    反射率/透射率积分球 最适宜测量内容: 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层:Spectraflect,在300-2400nm防范围具有高反射率;Infragold,设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架,用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部,并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束,同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口,探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量,包括非镜面反射测量,前散射和背散射测量,以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许有效的积分。为了保证高积分球效率,总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件,由支杆底座和1/4-20支架组成,这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架,Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系,一些情况下,还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口,两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部,0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架,两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架,同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸,最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器,可以承装液体和粉末,用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000
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  • 卧式透射样品支架 400-860-5168转6044
    卧式透射样品支架,YME-2062 描述透射样品支架适用于固定不同尺寸的固体透光样品,并对其进行光谱透过率测量。YME-2062透射支架采用卧式结构,包含一个样品夹具,可夹持样品的直径范围是0-25mm。其两端则各为一个SMA905光纤连接器,通过光纤可分别与光谱仪和光源连接,进行透射光谱的测量。特点适合圆形或者方形平面的固体透光样品导轨式结构设计,确保光学元件在同一光轴上长度行程可调技术参数更多精彩内容,请关注下方!
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  • 反射/透射率积分球应用领域:材料的反射率/透射率测量不透明物体的反射率测试 浑浊样品的透射率测试颜色属性测试反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 Labsphere的反射/透射率积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。积分球内部涂料有两种选择:Spectraflect涂料,在300 – 2400 nm波长范围内效果较好;Infragold涂料适用于波长0.7 - 20 μm范围。 RT积分球有5个1英寸开口,可容纳样品和9°反射光束,在球的顶部有一个0.5英寸探测器口,镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。 RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架,用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。积分球有5个开口可调节样品,顶部的中心安装平台装有参考光束,积分球底部有一个0.5英寸的探测器端口。 RT积分球和RTC积分球均能做任何几何角度测量。RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构和排出镜面反射9°/d结构;RTC除上述功能外还可测量变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射,挡板采用最小化设计,使得探测器能够非常大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部,使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。RT-060-SF及RT-060-IG反射/透射率测试积分球 Labsphere的RT-060-XX积分球有5个1英寸的开口容纳样品和9°双光束结构结构中参考光束,也包括用于9°单光束结构测量中的端盖。两个1英寸的样品支架用于安装样品和反射/透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口,探测罩用以限制探测器视场范围。镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量,包括非镜面反射测量,前散射和背散射测量,以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许有效的积分。为了保证高积分球效率,总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件,由支杆底座和1/4-20支架组成,方便调节积分球的高度。 RTC-060-SF 和 RTC-060-IG反射率透射率积分球增加了中心样品架,方便用户测量反射率与辐射入射角度的关系,一些情况下,还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸、两个1.25英寸的开口。中心样品台安装在积分球的顶部,0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩用于限制探测视场范围。 RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架,两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架,同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸,最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器,可以承装液体和粉末,用于测试吸收和散射特性。订购信息及规格
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  • 可调节准直透射支架 400-860-5168转3407
    可调节准直透射支架 闻奕光可调节准直透镜支架是二合一的产品;一个固定装置,用于将准直透镜定位于不同的高度或者支持更大更厚的样品,以及一个用于放置样品的支架,用于透射度测量。产品介绍 作为透镜的支架,本产品具有一个阳极氧化铝底座和带有3/8-24螺孔的可调固定面板,用以容纳准直透镜(包括了两个光纤准直透镜)。面板可以通过调节,容纳的样品最厚可达150mm,底座上有1mm间隔的刻度,可作为光程的标尺。本产品具有样品支架,可以将被测物品安全地放置在两个固定面板之间,最宽可容纳150mm的比色皿。产品规格底座装配材料:黑色阳极氧化铝固定面板装配材料:黑色阳极氧化铝尺寸(MM):200/300(定制) x 67 x 187重量:1,000 g +?螺纹:-- -固定面板-- 3/8-24螺纹--面板用固定螺丝钉-- M6测量面板:0.5 cm刻度,作为光程的标尺(总长度10cm)更多详细信息:
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  • 1 产品简介ARS2000角分辨光谱仪是一款可变角度透反射便携式现场测量光纤光谱仪,主要满足客户通过对光子晶体、超导材料等纳米光学材料的反射率、透射率、吸收实现晶体的能带、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光学元器件客户采用ARS实现光学元器件特定角度下透过率、反射率的过程控制测量。配套的手动式透反射测量支架实现入射角度为0°~120°,接收角度为8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及辐射光谱测量。内部集成的ARM嵌入式系统以及Uspectral Plus软件,实现客户在线测量。同时该系统配置Windows软件,满足客户光谱分析的需求。 2 规格参数产品型号ARS2000主机尺寸230×200×110 mm支架尺寸300×200×230 mm整机重量3.2kg光谱波段350nm~1050nm光纤配置600μm UV-VIS嵌入式主板Linux系统QT界面显示屏幕7寸显示屏钨灯光源5W光纤输出接口SMA905积分时间8ms-5s入射角度0-120°接收角度8-180°角度分辨率0.1°载物台高度0-5cm光斑直径0.56cm控制软件嵌入式供电接口AC 220V#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 专 业: 满足辐射、透射、反射、散射等精检测需求 ? 方 便: 易维护,体积小巧、性能稳定,存放方便,易于使用 ? 强 大: 配套功能强大的专业软件包? 存 储: 可通过USB接口实现数据及时存储4 产品应用? 光源测试? 镀膜材料? 光子晶体? 液晶显示? 传感器器件制备? 角度材料相关分析? 纳米光学材料5 操作软件
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  • 光纤反射测试支架 400-860-5168转3407
    光纤反射测试支架 上海闻奕光电的反射型光学测量台是光学多角度反射率光谱测量的一个经典案例,本公司主要针对科研、工业检测、食品安全、医疗美容等领域有较为丰富的经验。 上海闻奕光电科技有限公司生产的反射型光学反射率测试平台具有中心稳,多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量,通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 闻奕光电利用这些配置丰富的设备,就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源,具有非常好的灵活性和实用性。更多详细信息:
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  • 反射样品支架 400-860-5168转6044
    反射样品支架,YME-2063/2067 描述反射样品支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。我们提供了单臂、双臂和倒置三种不同的形态,方便用户应用于不同的测试应用中。YME-2063-01单臂形态主要用于固定Y型光纤探头,可测量光垂直入射的情况。YME-2063-02双臂形态主要用于固定两根石英光纤探头,可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换,具备高灵活性和强实用性。YME-2603-03倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合,可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确等。特点多形态可选,适用更多的应用底盘可定位多种标准尺寸多方向控制光纤入射和出射的角度技术参数更多精彩内容,请关注下方!
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  • 1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪,采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构,操作简单,反馈迅速,能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性,尺寸控制在类似手机大小,不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用,HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口,通过接口可直接进行外部光信号采样,或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角,这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头,连接光纤即可进行便捷的反射率测量,且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱,得到光信号信号反馈;? 仪器小巧,续航持久,可应用于各种场景;? 附件丰富,可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图
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  • 仪器简介:ZF-3紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点:ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源,分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组,供用户选择:一组254nm;二组302nm;三组365nm;四组白炽灯;紫外反射有二组;一组254nm;二组365nm。
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  • 仪器简介:ZF-2紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-2紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:64W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:200× 150mm 4、外型尺寸 350× 260× 360 5、波长:302nm不锈钢面板,(配暗箱,附数码相机机架装置端口)。 主要特点:ZF-2紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 本仪器装有一组透射紫外光源供观察、分析和摄影用。并专门设计了一只暗箱,用户不需要暗室,即可对样品进行观察分析,暗箱上备有专门的相机安装装置,暗箱观察室上装有防紫外线玻璃,它滤去95%以上的紫外线。
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  • 测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率/反射率曲线,并对材料的颜色特性进行分析,实现280nm-2500nm极宽的测量范围,满足GAT744-2013 标准要求。 核心光学设备为国家863(高技术研究发展计划)项目研究成果,获美国专利授权(专利号:US 7,978,324 B2),"国家首批自主创新产品","国家重点新产品"荣誉。经由院士领衔的权威专家组鉴定,获"国际领先"评价。主要特点采用远方高精度光谱测量技术,精度高、测量速度快、稳定性好采用背照式高精度阵列探测器和优质衍射光栅,并采用带通色轮校正(BWCT)等多项杂散光修正专利技术,具有极高的光谱测量分辨率、机低杂散光高性能准直光源,保证宽波段范围的测量条件自带校正及标定功能,方便用户自行校零和定标独特的紫外-可见波段的双光路设计,可对光源进行监控和自动补偿,减少光源变化带来的误差极宽的光谱测量范围:280nm-2500nm? 主要技术指标测量功能可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。波长范围280nm-2500nm;波长准确度280-800nm波段:±0.3nm;800-1600波段:±0.5nm;1600-2550波段:±3nm;半峰带宽280-800nm波段:3nm;800-1600波段:9nm;1600-2500波段:15nm;照明/接收条件反射 5°/5°,透射:0/0反射率范围0-200%,分辨率0.001%照明孔径Φ20mm? 典型应用:
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  • RT-V 反射透射测量仪 400-860-5168转4689
    一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪,采用进口氘卤二合一光源,结合高性能分光光谱仪,可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱,并进一步计算获得样品色坐标,以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制,支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源,光谱范围覆盖可见光到近红外范围;■ 支持全光谱范围反射率高精度量测,基于薄膜层上下界面反射光干涉原理,轻松解析单层至多层薄膜特征;三、产品应用 RT系列反射透射测量仪,可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量,并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数
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  • 用于背光系统的耐用、超实惠漫反射片独特的属性Labsphere的Zenith漫反射片由聚四氟乙烯聚合物制成,具有独特的光学性能。薄片为各种光散射应用提供漫透射,并为各种背光应用提供漫反射和耐用性。该材料非常适合用作辐射测量和光度扩散以及一般背光、平板和显示器的应用。各种尺寸和厚度Zenith漫反射片的厚度为100 μm、250 μm、500 μm、1 mm和2 mm,在250 ~ 2500nm波长范围内的透射值约为4% ~ 50%。可根据客户要求定制尺寸和厚度。特点: 朗伯特性 耐久性、易清洗 高透射率,低反向散射特性应用: 辐射测量和光度扩散 普通背光照明 平板 显示器规格参数
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  • Dyn-Optics Model262-TR透光率测试仪262-TR型透射计/反射计透射是入射光经过折射穿过物体后的出射现象。被透射的物体为透明体或半透明体,如玻璃,滤色片等。若透明体是无色的,除少数光被反射外,大多数光均透过物体。为了表示透明体透过光的程度,通常用透过后的光通量与入射光通量 之比τ来表征物体的透光性质,τ称为光透射率。Dyn-Optics 262-TR型透射计/反射计是一种精密仪器,用于精确测量各种样品的透过率和反射率。该系统由采样测量级光纤耦合到信号处理和显示控制台组成。样品是建立在一个稳定可调的刚性轨道系统,以适应广泛的光学。控制台包括一个大的、明亮的LED显示器,用于测量透射率/反射率,使操作者能够快速、可靠地进行测量。控制台还包括后方的USB端口,用于由外部PC远程监视Dyn-Optics Model 262-TR的测量。Dyn-Optics 262型反射仪是用在光亮电镀工业,测量在旋转铝曲面上不同位置的反射率,多用于路灯和其他反射器。这种紧凑的台式仪器易于使用和简单的校准,从而为生产人员提供了一个快速的检测手段,以确保正在生产的反射器的质量。测量是通过光纤探头来进行的。反射率立即显示在31/2位亮红色数字仪表上。软探头通过光纤连接到仪器上。大多数反射器被用来照亮一个区域,以提高眼睛在夜间能见度。因此,反射计具有与眼睛相似的光谱(光)响应。所述照明源为白光LED,无移动部件,并同步解调以提供不受室内光线影响的系统。反射率测量 反射计 车灯反射率 透光率测量 透射率测量
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  • BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性,可测参数包括材料的双向透射分布(BTDF)、双向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、总反射(TIR)、总散射(TIS)等,可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析,其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中,用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合,可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试;l 绝对法测试,不受样品的形态、光学性质的约束;l 测试光路及计算方法,完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中,用于辅助光学材料或系统的模拟、设计;l 高精度,高稳定度 ;2 接收光路长,接收立体角小,测量不确定度小2 激光光源,能量高、单色性好、准直度高;2 配备监视探测器,消除光源波动对测量的影响;2 探测器动态范围大,测试准确度高;2 机械转轴转动精度高,角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换,波长覆盖紫外-可见-近红外范围,实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试,适用于有光谱选择性的样品; l 上位机多功能分析软件,提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图,并配有专用于BSDF分布数据查看软件,提供专业的BSDF数据分析;? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光,覆盖可见-近红外范围(特殊可定制)光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用:
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  • 优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯,或者卤钨灯,作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一:布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求,计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源,光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球,3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050,波长范围350-1050nm,分辨率最小0.6nm,美国产进口600线光栅4. 搭配电脑,数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置1000ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率应用举例二:高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(下面一条曲线),350-1000nm范围反射率72%, 样品2(上面一条曲线),350-1000nm范围反射率 82%,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率测试二过程,相对于黑板1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置黑板,采集参比光谱3. 移除黑板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(上面一条曲线),350-1000nm范围相对于黑板的反射率, 样品2(下面一条曲线)相对于黑板的反射率,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三:薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物薄膜的光谱
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  • 智能型透光遮阳材料太阳光透射比、反射比测试系统(JP-ATG28)产品描述:主要用于建筑遮阳透光、半透光材料研究、分析。测试方法:JG/T280-2010 建筑遮阳产品遮光性能试验方法;JGJ/T151-2008 建筑门窗玻璃幕墙热工计算规程;GB/T2680-2021《建筑玻璃可见光透射比、太阳光直接透射比、太阳能总透射比、紫外线透射以及有关窗玻璃参数的测定》。检测试件种类:1.建筑遮阳软卷帘(内遮阳和外遮阳试件、内置遮阳的玻璃试件);2.百页帘(外遮阳和内遮阳试件、内置遮阳的玻璃试件)。技术参数:波长范围:190~2800nm;波长准确度:±0.3nm(开机自动校准);波长重复性:≤0.2nm;光谱带宽:TU-1901:0.1、0.5、1、2、5、10、50nm;杂散光: 0.01% (220nm,Nal;340nm,NaNO2);光源转换:自动切换(可在380nm~780nm~2800nm波段范围内任意设定);光度范围:-4.0~4.0A;噪声:±0.0004A;外形尺寸:650mm×350mm×950mm;试件尺寸:150mm×90mm;积分球尺寸:100mm。测试指标:法向太阳光直接透射比、材料的透射系数、反射系数、遮阳试件的可见光透射比;遮阳百叶的散射-散射透射比;遮阳百叶的直射-直射透射比;遮阳百叶的直射-散射透射比;平板玻璃的可见光透射比、反射比。产品特点:1..强劲的仪器性能:极其优良的光学系统,先进的电子学系统,高水准的机械系统,保证了0.010%T的超低杂散光,24位电压数字采样;2.稳定可靠的品质:双光束动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性,氘灯、光电倍增管、接收系统等关键器件均用进口件,保证仪器的稳定可靠和长寿命;3.精准的测量:采用进口优质全息三光栅,进一步降低仪器的杂散光,使仪器分析更加准确;4.可增加积分球装置方便进行漫反射材料测试与分析;5.高精度光栅控制伺服装置,控制精准,测量精度高;6.设备预留无线上传总站数据升级接口。
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  • 仪器简介:CS型成像仪是在原薄层成像仪产品的基础上加以改进的,即可用于拍摄薄层样品 荧光斑点和荧光淬灭样板又可观测拍摄生化凝胶透射紫外线样品。该成像仪是吸 收国外同类产品的先进结构,将摄影仪和暗箱设计成一体化,使光学性能更完善, 操作更方便。如果配置彩色摄像系统或者数码相机,可联接电脑对图像进行处理 或直接进行多媒体教学。 该仪器设计紧凑,使用方便,选用高效节能电子整流器,一点即亮.平时还可以作为紫外线检测设备或者或资料翻拍仪,是进口同类产品的替代品,性比价高. 技术参数:紫外线灯: 254nm 2支 12W 220V 50HZ 365nm 2支 12W 220V 50HZ 312nm 5支 20W 220V 50HZ 日光灯 : GB 2支 12W 220V 50HZ 透紫外滤光片: 50×200mm 2片(用于反射光) 150×200mm 1片(用于透射光) 254nm 透光率≮68% 365nm 透光率≮86%主要特点:该成像仪是吸收国外同类产品的先进结构,将摄影仪和暗箱设计成一体化,使光学性能更完善,操作更方便,如果配置彩色摄像系统或者数码相机,可连接电脑对图象进行处理或者直接进行多媒体教学.
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  • 漫反射荧光样品支架 400-860-5168转6044
    漫反射荧光样品支架,XME-2303 描述漫反射荧光样品支架,适用于测量平面样品的漫反射光谱和荧光光谱。XME-2303具备一组45o夹角的反射光路,可选配加装两片直径10mm的滤光片。在荧光测量应用中,加装一片滤光片于激发光路,可用于消除激发光源除主峰外的杂峰;而另一片加装于收光光路,可用于滤除荧光光谱中的激发光谱。特点适用于测量平面样品的漫反射光谱和荧光光谱可适用于任意尺寸的平面样品微型结构,通过SMA905接口与光纤相连内置准直镜,可选配加装滤光片技术参数更多精彩内容,请关注下方!
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  • 我们的杜瓦透射/反射附件适用于在-196°C至350°C温度范围内的受控环境中检测固体样品。电池由耐化学腐蚀的316不锈钢制成,并配有K型热电偶用于温度测量。杜瓦瓶被安装在这个附件中,用于低温操作。对于高温操作,提供低压加热器与适当的控制器(如Harrick温度控制器)一起使用。此附件配置用于传输测量,带有指定分光计的底座。它也可以重新配置为近正常(12°)镜面反射与我们的可变角度反射附件。特征化学惰性316不锈钢内部。冷却液冷指,例如液氮或干冰和丙酮混合物,用于-196°C以下的操作。光谱测量用加热器,温度高达350°C。可容纳直径25毫米、长度35毫米的透射或外反射样品。使用一个25x2mm或25x4mm窗口和一个32x3mm窗口。带O形密封圈的车窗支座。K型热电偶。低压加热器。两个1/4“316不锈钢VCO配件。与所有的红外光谱仪和一些紫外可见光谱仪兼容。与Harrick的可变角度反射附件一起用于近正常镜面反射测量。包括:用于传输测量的指定光谱仪的安装硬件。窗片需要单独订购。
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  • Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量,Spectraflect和Infragold涂层可供选择。Spectraflect在300-2400nm范围具有高反射率;Infragold适用于 0.7um-20um范围。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构;在球的顶部有一个0.5英寸探测器口;镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架,用户可以针对一定角度测量反射率和透射率;探测器端口在底部;RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构,RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,挡板采用最小化的设计,允许探测器大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部,并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 应用领域:材料反射率和透射率不透明物体的反射率混浊样品的透过率 颜色特性反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 不同用途的积分球1、通用型积分球2、反射透射率测量积分球3、光测量积分球4、均匀光源积分球不同规格尺寸的积分球1、积分球尺寸2英寸-76英寸或更大2、各种内部反射涂层的积分球3、Spectraflect(经济实用型)4、Duraflect(防水、防潮、耐腐蚀型)5、Spectralon(高反射率、宽光谱范围)6、Infragold(近红外/中红外波段适用)
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  • NLIR(非线性红外传感器)公司是由丹麦技术大学(DTU Fotonik)光子学工程系的3名研究人员和NLIR的首席执行官创立的一家初创公司,隶属于Nynomic集团。该公司基于新颖的上转换专利技术,开发了中红外光谱仪、单波长探测器和光源等一系列产品。相较于传统的红外光谱仪,NLIR公司的同类产品具有快几个数量级的光谱扫描速度和更高的灵敏度。上转换技术的核心是可将中红外光转换为近可见光的非线性晶体。这使得可以使用快速高效的硅基传感器来检测中红外(MIR)光。非线性中红外光谱仪的实现代表了一种新测量范式。该公司被命名为非线性红外传感器(NLIR),以突出与当今领先的傅里叶变换红外光谱(FTIR)的MIR光谱方法的技术差异。NLIR公司开发的产品可广泛应用于中红外光谱领域,如光谱测量、光学镀膜、激光系统诊断、光纤光谱探针(样品检测)、实时工业过程监控、颜色识别、快速事件光谱分析、弱光光谱测试、自由空间光通信等。 最耗时的课题通常是针对样品的光学实验界面。因此,NLIR开发了一系列的测量套装来解决这些问题。对于光谱应用来说,没有普适的最优实验结构。不同的样品需要不同的测试装置。NLIR设计了一些不同的客户解决方案,许多测试环境可以满足工业上广泛的应用。最优的最普遍的套装已经形成成型产品,列举如下。 光纤耦合探针套装*光纤往返样品*较小的测量区域*对小型集成设备友好 对于小样品,NLIR已研发出针对有明确界限的小区域样品测试的光纤耦合探针套装。NLIR光源发出的光通过光纤打到样品上,返回的光再被光纤收集,将信号传回光谱仪。这套光纤探针装置测试速度快,灵敏度高。探针测量区域小到仅有数百微米,返回光谱仪的光携带了样品的红外特性细节信息。该装置普遍的测量时间为100 ms。 反射套装*高功率光源*光收集光学应用*1 cm测量区域尺寸*适用于塑料、非透射材料、表面样品 给定样品的反射测量需要大功率的光源,并需要合适的设计将反射光收集起来返回光谱仪。NLIR设计了一款椭圆形的优化反射器,从样品至照明光源的间距为20 cm,测量区域直径约1 cm。反射光通过光纤头收集后返回光谱仪。该装置可用于不同类型样品的研究,例如黑色塑料、镀膜金属板或反射光学等。 光纤耦合透射套装*光纤贯穿样品*容易搭建、测量*适用于薄的、半透明样品 对透射光谱来说,薄的半透明样品是理想的选择。只要样品对入射光没有很强的吸收,透射就是一种简便高效的样品红外特性测试方式。使用NLIR研发的光纤耦合透射套装,可以非常容易地测量薄膜、箔片、镀膜甚至是薄的流体细胞液。光纤的加入使得样品对光源和光谱仪的机械去耦合变得简便高效。 光学界面的更多应用光学特性实验测试装置的核心是确保和样品作用的红外光最大程度地被探测器收集,从而获得最丰富的光谱信息。例如,金属反射镜反射大量的光,作为样品可以产生很高的信号。但是,光谱仪收集到的信号仅有很少的部分来自于金属反射镜的基底。因为入射光不会穿过反射镜的前表面。另一方面,一块黑色塑料的透射测试只能让光谱仪采集到不够丰富的信息。因为携带大量塑料信息的光只有少部分可以透过样品。不同样品的例证和挑战表现如下: 镀膜钢板:钢圈或钢板通常是高反射率的,因此镀膜的反射信号和包含的信息很容易测量。挑战在于样品的面积往往很大,所以必须在给定时间内尽可能多地测量尽可能大的测量区域。高强度的光源和快速响应光谱仪可以完成此类测量。 塑料薄膜 /箔片:光透射通常带来高的测量信号和丰富的信息。如果箔片太厚,通常超过1mm后,对于光谱仪来说就可能无法采集到足够的光进行分析。 废塑料:对透射应用来说样品往往很厚不能满足要求,因此必须采用反射测量。反射测量对样品的面型粗糙度非常敏感,反射光的能量可能会剧烈起伏变化。然而,反射光携带大量的样品信息。高强度的光源和快速、灵敏度高的光谱仪可以完成此类测量。 硅晶圆/集成设备:集成设备的许多元件要么有独特的红外特性,要么可以通过红外辐射实现特征识别。这类样品的重点是仅需较小的一片测量区域实现测量。对于此类应用,光纤可以实现光传输至样品与收集光信号至光谱仪的目标。NLIR已开发了一种光纤耦合探针针对此类应用。 液体:到目前为止,大多数液体测量情况都以某种方式涉及水,水会强烈吸收红外光。因此,确保含有大量信号和大量信息的最常见技术是使用衰减全反射(ATR)晶体,其中光从晶体内部与晶体-液体界面处的液体接触。 粉末: 众所周知,测量粉末状样品的红外特性非常困难,因为光在相互作用时会散射。执行这项任务没有标准化的方法,但NLIR在反射测量方面取得了一些成功。从粉末样品返回的光量很少,因此需要检测器中尽可能高的灵敏度。
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  • 此系列透反射测试仪,专业为常规样品透射、镜面反射、漫反射率的测试而设计。此系列设备分为RT和RTC两种。精密设计系统满足您的产品需求透射反射测试是光学材料一个常见参数的测量,一般会采用积分球来收集光进行测量。但是很重要的一点是测试中放置样品和不放置样品两种不同状态时会改变球体结构对测试结果带来干扰。此款设备配置了双光束测试方式,避免了因为样品放置带来对球体结构带来的误差。双光束方式校准和测试,保证了精度。同时,此类设备配置了入射准直光源专用夹持治具,无需额外设备夹持入射光源,实现一体式设备,方便操作。配置光阱,用于测试漫反射和镜面反射配置样品夹具,用于夹持样品和漫反射板光纤光谱仪可以测试各个波长的反射率此系列透反射测试仪,专业为常规样品透射、镜面反射、漫反射率的测试而设计。此系列设备分为RT和RTC两种。RT:样品放置球壁2π测试。RTC:配置了球心专用的样品支架,可以用来测试不同角度的反射率。涂层选择Spectraflect: 300-1800nm适用Spectralon: 200-2400nm适用InfraGold: 900nm-10um适用优势蓝菲光学作为一家专业的制造商,所有提供的方案均有验证过实际效果;根据不同应用推荐不同的配置专业的溯源NiST的漫反射板;根据客户实际需要配置不同尺寸的积分球球设计自主软件设计配置Labsphere 制造的Spectralon 漫反射板。此漫反射板提供250-2500nm的漫反射率计量报告。此反射率校准标准板具有良好的朗伯特性,为行业内众多反射率测试设备常用的漫反校准板。Labsphere Inc.是世界上知名的积分球制造商。Labsphere 1978年开始生产积分球光学测试系统,其具备三十多年的光学测试经验。为众多客户提供先进的、完善的光学测试需求。Labsphere实验室具备NVLAP报告能力,报告溯源至NIST。
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  • 本系统可以测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、镀膜等)、和各种材料(溶液、玻璃等)等吸收、透射和反射光谱。系统型号系统特点7-TRASpec I扫描型7-TRASpec MMini 摄谱型技术指标光谱范围:200-2500nm (可根据实际需要选择)光电源电流漂移: 0.04%/h波长准确度:± 0.2nm光谱分辨率:0.1nm光谱带宽:0.2-10nm 可调系统特点用高灵敏度光电倍增管和铟镓砷探测器或CCD模块化设计,结构灵活,方便升级
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  • Leica TL4000RCI支架采用了Rottermann Contrast技术,是一种局部照明技术,显示亮度变化下折射率的变化。该支架有2个USB接口,可让用户来控制光源的亮度。局部照明技术允许为几乎不可见的结构增加对比度(正或负突起)。可调平面和凹面反射镜提供动态的突起对比度,使用户可以快速切换正负效果,轻松地区分相似的结构。您的优势浮雕照明技术Rottermann Contrast - 浮雕照明技术增加了对可见度不高的结构的对比度(正突起与负突起)。Slide-on力学Slide-on力学 - 使XY工作台能在焦点上使用透射光。色温控制内部恒定色温控制CCIC - 允许改变光强而无需调节白平衡。吸收冲击和振动抗震防振垫 - 吸收高品质成像的冲击和振动。遥控的可能性遥控的可能性 - 软件控制的操作,自动图像采集和时间推移。
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