分辨率线阵探测器

■ LARRY-USB3648线阵CCD探测器主要特点：◆ 有D7265和D7266两个型号的产品可供选择◆ D7266为科研级CCD芯片，无坏点，消除边缘散射◆ D7265为工业级CCD芯片◆ 有效象元数：3648像素◆ 像素点宽度为7µ m，可获得更高的分辨率◆ SEF信号增强功能◆ 光谱范围：200-1100nm（科研级）或320-1100nm（工业级）◆ 标准USB接口◆ 带有外触发控制和脉冲同步功能◆ 采样速度达到30 scans/s LARRY-USB3648线阵CCD主要技术规格表型号/参数D7265D7266光谱范围(nm)320-1100200-1100有效象元数36483648象元尺寸(&mu m)7(W) x 200(H)7(W) x 200(H)有效感光区间(mm)25.525.5满阱容量(e)94,00094,000饱和功率密度(nW/cm2@633nm)4.24.2单象元饱和功率(nW,@633nm)5.8× 10e-55.8× 10e-5增益(e/count,12-bit ADC)2323动态范围818818最大信噪比307307读出噪声(e, rms)115115读出噪声(counts, rms)551s内暗噪声(e, rms)1151151s内暗噪声(counts, rms)5510s内暗噪声(e, rms)27627610s内暗噪声(counts, rms)1212积分时间设置(ms, 软件设置)0.01-300000.01-30000触发模式自触发连续采样或外触发采样自触发连续采样或外触发采样外触发器TTL上升沿控制(400ns)TTL上升沿控制(400ns)单次采样时间(ms, USB)3030A/D转换精度12bits12bitsLARRY-USB3648线阵CCD选型表LARRY-USB3648线阵CCD探测器　工业级科研级　光谱适用范围320-1100nm200-1100nm internal USBD7265D7266软件选项　　　D7401SpectraArrayAcquision, control and analysis software for basic spectroscopic applications for Windows 98/W2k/XP.D7404SpectraSolveAdvanced spectroscopic applications software for WindowsD7421OEM Developers kitWith C++ and VC++ examplesD7422LabView driversWith Vis (virtual instruments) for LabView Version 5 or laterSEF信号增强功能 由于LARRY-USB3648具有7µ m的象元宽度，因而在光谱测量应用中可以得到更高的分辨率，但同时由于象元尺度变小，相对于14µ m象元尺寸的 CCD芯片，在信号强度上会降低；为了解决这个问题，Ames公司的LARRY-USB3648系列采用了新的像素合并技术，提供1X，2X，4X，8X 四种binning采样模式，并配合曲线平滑功能，极大地提升信噪比（如图）。

动态平板探测器 50Um高分辨率探测器，cmos平板探测器是一款拥有高分辨率和低噪声的高灵敏度X射线平板探测器。 其拥有卓越的灵敏度和信噪比。适用于多种工业、电子、航天、无损检测应用。 可以根据不同应用，适配不同的闪烁体和接口。 类型 CMOS有效面积 58.6mm*63mm像素矩阵 1172*1260像素尺寸 50µ m闪烁体 CsI能量范围 40kV~120kV ROI 支持自定义 触发模式 内触发/外触发 空间分辨率 ≥10.0lp/mm@1×1图像位数 16bit最大帧速率 16fps @1x1，32fps @2x2 MTF ≥60%@1lp/mm,≥30%@2lp/mm电源 DC12V±10%功耗 ≤10W使用环境 +10º C~+40º C存储环境 -20º C~+60º C整机尺寸(W×L×H) 180mm×193mm×56mm重量 2kg

8K分辨率线阵CCD X-ray探测器 – Shad-o-Scan系列Teledyne DALSA用的TDI CCD技术，实现了线阵探测器业内的灵敏度和分辨率，即使在恶劣的辐射环境下也能有较长的寿命，它紧凑的设计，可靠的质量和节能省电的设计可满足广泛的成像需求，内置灵活的控制成像模式和配置x射线传感器，全速运行时只需要15W，Shad-o-Scan 8K探测器不需要外部冷却，的自诊断和可现场固件升级。Shard-O-Scan 8K线阵探测器凝结了DALSA在机器视觉行业30多年的图像扫描经验。 它紧凑的设计，可靠的质量和节能省电的设计可满足广泛的成像需求，内置灵活的控制成像模式和配置x射线传感器，全速运行时只需要15W，Shad-o-Scan 8K探测器不需要外部冷却，的自诊断和可现场固件升级，降低了系统成本和解决了系统后期的维护问题。Shad-o-Scan 8K线阵探测器是业界动态范围，具有进的16bit数位，可以在逐渐减少的剂量水平下进行X光成像。我们独特的工业级X射线转换堆栈有效地消除了图像滞后和增益滞后相关的伪影成像。 有几种闪烁体选项（CsI和GdOS）可供选择。适用于NDT、电子产品检测（2D/3D）、食物检测、科学图像。特性描述：1、灵敏TDI CCD2、保证长的使用寿命3、16bit ADC提供84dB动态范围4、灵活的像素幅面控制5、内部外部同步选项6、CameraLink接口7、工业级别闪烁体8、低功耗（不需要主动冷却）Shad-o-Scan系列产品列表型号水平分辨率垂直分辨率数据接口彩色/黑白帧频/行频Shad-o-Scan 8k8160256GigE/CameraLink2kHzShad-o-Scan系列典型应用工业检测生物医学科学x射线成像

产品详情德国YXLON 高分辨率Ｘ射线检测设备 Y.Cougar SMT 平板探测器（标配） Y.Cheetah 高速平板探测器（标配） Feinfocus作为高分辨率X光检测设备研发、设计和制造系统供应商。 是一九八二年最早成立于德国的系统供应商，现有超过2,800台Feinfocus的X射线设备在全球范围内被投入使用。 Feinfocus拥有目前世界上最先进的X射线设计理念和制造技术，Open Tube专利技术，原厂设计的更全面、更多功能的操作平台，整个系统完全是德国原厂制造 微焦、纳焦的发明者，拥有多项专利。 多年来Feinfocus的产品广泛用于PCBA、Semi、Package、 后段封装和非破损性检测(NDT)等领域的检测设备。 Feinfocus以领先检测技术、 丰富经验、 客户以先的应用为用户提供及时技术支持。 透过双嬴联手:1） 2004年，Feinfocus并入瑞士COMET集团，成为COMET的一个事业部；2） 2006年，另一家工业X射线制造商YXLON International也并入COMET集团；3） 2007年，YXLON和Feinfocus合并为YXLON International GmbH，成为COMET的一个成员，是航空、汽车、工业和电子领域最大的X光管和系统供应商； Y. Cheetah (μHD) - 高分辨率、高放大倍数X射线检测系统全新推出的Y.μHD功能模块，是专为TSV，Flipchip， Copper Pillar，高分辨率CT开发的功能模块，利用该功能模块，可以获得最佳的检测结果。• 一键操作，获得最好的图像• 几何放大倍数高达3000倍，系统放大倍数高达25,500倍• 高分辨率检测系统，检测TSV，Filpchip，Copper Pillar的理想工具• 自动产生检测报告及具备检测历史追踪功能• 独有的64位 Windows 7 操作系统,检测速度更快(可选)• 独有的64位 Y.Quickscan，一分钟完成CT扫描• 独有的Y. μHD功能模块，获得高分辨率的性能(可选) 其它选件: 1. 开放式多焦点X射线球管，具有3种焦点模式：• 微焦点分辨率＜1.0μm；• 纳焦点模式分辨率＜0.3μm；• 高功率模式分辨率小于＜3.0μm2. FGUI 扩展软件：自动BGA检测与测量；自动气泡检测与测量；检测过程录影3. 旋转工作台4. 高功率靶材，特别适用于密度低和很厚的非电子产品5. μCT模块，三维检测和实验室失效分析的得力助手 最佳铜线高速检测方案： 。 使用Feinfocus X光检测系统，配置高速平板探测器，实现铜线实时检测。 。相对于配置传统探测器的X光检测系统，效率提高数倍，图像效果更加。 性能特点 平台化设计，实现产品客户订制化- 使用開放式X射线管及平板数字探测器，領先業界的清晰图像提供者- 射线管的靶功率高达15瓦，几何放大倍数达3,000倍，应用范围更广- 独有的样品旋转及倾斜模块，是失效分析的强而有力的工具- 专利的TXI技术，确保任何时候检测图像质量稳定- 专利的AIM技术，确保观察检测位置处于图像中心- 全新FGUI軟件可提供CNC自動檢測，全自动完成BGA检测与Void检测- 设备可直接升级到CT三维断层扫描系统，节约成本- 独有1分钟快速CT扫描技术，是实验室失效分析的最强大助手- 独有的高功率靶，靶功率达7瓦时不散焦，标准检测分辨率＜1.0μm Y. Cougar Quick Scan μCT - 系统 的3分钟内完成一次CT :- 用于产品质量分析和工艺流程控制的μCT技术- 3分钟内完成3D图象和电子切片工作- 使大批量产品的CT检测成为现实

高分辨率CMOS平板探测器 - Shad-o-BOX HS系列Shad-o-Box HS产品系列采用Teledyne DALSA先进的CMOS图像传感技术，能对小剂量的X射线成像，比非晶硅材料和带图像增强器的平板探测器有更高图像质量。Shad-o-Box HS包含一个大面积，高分辨率CMOS检测器，具有光电二极管像素阵列，三个标准尺寸选项，（面板大小）大约为3x4, 4x6和5x5英寸。这些相机具有135μm，99 /100μm或49.5μm不同像素尺寸的分辨率。相机接口允许轻松访问，如调整帧速率，单帧和多帧采集，以及定时模式的控制。p 所有探测器都能够以高达66="" fps的帧速进行实时全分辨率成像（2x2binning模式下更高）。并通过标准cat6e数据电缆进行长达100米的通信，探测器有不同的闪烁器供选择，针对40-160="" kv能量范围进行了优化，但低至10-50="" kv和高达225="" kv能量范围也可成像，是工业检测,="" 生物医学和科学x射线成像应用的理想选择。="" p="" style="margin-top: 0px margin-bottom: 0px padding: 0px line-height: 28px text-indent: 2em color: rgb(76, 75, 75) font-family: 微软雅黑, Arial font-size: 12px white-space: normal background-color: rgb(255, 255, 255) "特性描述：1、CMOS 芯片，几种不同分辨率可选择2、有效面积 10 x 15CM3、10线/毫米的分辨率4、通过网口传输实时成像（CameraLink可选）5、14bit影像输出6、能量范围：10~225kV7、现成的软件和驱动程序Shad-o-BOX HS系列产品列表型号水平分辨率垂直分辨率数据接口彩色/黑白帧频/行频Shad-o-Box 512 HS768512GigE/CameraLink35fpsShad-o-Box 1024 HS7681024GigE/CameraLink35fpsShad-o-Box 1280 HS12801280GigE/CameraLink30fpsShad-o-Box 688 HS1032688GigE/CameraLink66fpsShad-o-Box 1548 HS10321548GigE/CameraLink32fpsShad-o-Box 3K HS23041300GigE/CameraLink22fpsShad-o-Box 6K HS23042940GigE/CameraLink9fpsShad-o-BOX HS系列典型应用工业检测生物医学科学x射线成像

产品介绍：KA Imaing 自有专利的非晶硒（a-Se）X射线相机BrillianSeTM，专用于高亮度成像。基于高本征空间分辨率的非晶硒（a-Se）光电导器件，a-Se/CMOS混合探测器可将X射线直接转换为电子电荷。电信号再经由低噪声的主动式像素传感器（APS）CMOS读出。相较于基于闪烁体的间接探测方式，我们的直接探测技术无需将X射线先行转换为可见光，亦无需减薄转换层以减小光学散射等效应。BrillianSeTM既提供了基于8μm像素的高分辨率，又保证了能量高至100keV时的高探测量子效率（DQE）。这些特点使该探测器既可高效的用于高能低通量吸收成像，又可在低密度材料成像时通过同轴（无光栅）相称增强机制来提升灵敏度。凯夫拉尔复合试样我们使用探测器在几秒钟内快速获取了凯夫拉尔复合材料的相衬图像。 可以清楚看到单根纤维形态（左图）和纤维分层情况（右图）。生物样品电子样品技术参数系统描述芯片类型Amorphous Selenium with CMOS APS像素规格4096 x 4096像素尺寸8 μm x8 μm感光面积32.8 mm x 32.8 mm读出噪声200e-动态范围75 dB帧率2 Hz点扩散（@60 kVp）(2 mm Al filtration)1.1 pixel系统描述读出模式Split rolling shutter (64 slices in parallel)X射线能量响应范围13 keV - 110 keV探测量子效率（@60 kVp）(2mm Al filtration)36% at 10 cycles/mm22% at 45 cycles/mm10% at 64 cycles/mm触发模式Hardware trigger in/out TTL冷却方式风冷数据接口Gigabit Ethernet供电12 VDC, 2A尺寸180 mm (W) x 180 mm (H) x 76 mm (D)典型应用低密度材料相衬成像同步辐射微纳CT单光子灵敏 (50 keV)高能（50KeV）相干衍射成像

BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器 加拿大KA Imaging推出了其专有的无定形硒（a-Se,非晶硒）BrillianSe&trade X射线探测器，用于高亮度成像。这款混合a-Se/CMOS的探测器采用具有高固有空间分辨率的a-Se光导体，可直接将X射线光子转换为电荷。然后，低噪声CMOS有源像素传感器（APS）读取电子信号。无需首先将X射线光子转换为可见光（这在间接闪烁体方法中是必需的），因此不需要减薄转换层以减少光学散射。BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器提供了一种独特的组合，使用8微米像素实现高空间分辨率，以及具有高达120 keV的能量的高探测量子效率（DQE）。这种组合可实现在低通量和高能量条件下进行高效成像，并可进行基于传播的（无光栅）相位对比增强，以提高低密度材料成像时的灵敏度。BrillianSe&trade X射线检测器具有1600万的像素（16M）。主要应用✔ 低密度材料相差对比边缘增强✔ 单光子灵敏度(50 keV)✔ 同步加速器、微纳CT等X射线探测系统，替换其原有探测器或搭建系统✔ 高能量(50 keV)布拉格相干衍射成像 技术介绍BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器直接转换技术允许使用厚转换层，并以100%填充因子运行，以获得高 DQE。在60kVp（2mm铝滤波）下，BrillianSe&trade 具有市场领先的高 DQE（10 cycles/mm时为36%）和小点扩散函数（PSF）（1.1 像素）的组合。这有助于低通量应用成像，例如X射线衍射、剂量敏感的蛋白晶体学以及对有和无相位对比的材料进行受通量限制的成像。在63keV 时，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）频率下为10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射条形靶标样可展示8微米的分辨率。JIMA空间分辨率标样(21kev)的BrillianSe图像。数字表示以微米为单位的条宽。左侧为横截面8μm的图案应用案例BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器具有16M像素，采用直接转换专有技术，对样品进行“吸收衬度+相位衬度”成像，大幅度提高样品中的低密度成分成像时的灵敏度，可用于硬x射线包括同步加速器线束。探测样品案例，如：芳纶等复合材料（Kevlar）、脑支架、硅通孔(TSV)、牙签、甜椒种子、药物胶囊、轻质骨料（混凝土）等。甜椒种子有相衬成像和无相衬成像（仅吸收衬度，无相位衬度）之对比采用BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器的X射线探测系统应用场景举例✔ 表征材料微观结构✔ 对现有零件几何形状进行逆向工程✔ 验证或校准仿真工作流✔ 应用到NDT(无损检测)和GD&T(几何尺寸和公差)检验方案✔ 监控生产过程✔ 确定问题的根本原因

产品特点 应用领域高灵敏度InGaAs线阵探测器 工业检测1024x1线列规格、12.5um像元间距 医疗、科学成像光谱响应范围0.9um~1.7um 高光谱成像14x2pin 陶瓷管壳封装 激光光斑成像两路模拟视频输出 垃圾分拣有效像元率≥99% 搜救遥感量子效率≥70% 半导体检测 性能指标探测器类型铟镓砷光谱响应0.9±0.1μm ~ 1.7±0.1μm分辨率1024 x 1像元尺寸12.5μm x 12.5μm像素可操作率≥99%量子效率≥70%响应非均匀性＜6%功能指标最短积分时间 5μs输出通道个数 512×1（单通道）、1024×1（双通道）通道增益电容16档，6.4fF~2.1pF 模拟输出范围1.8V（设计值）信号读出方式Snapshot；CDS 模式工作；积分再读出（ITR）；积分同时读出（IWR） 数据输出速率18MHz典型值；22MHz最高值电源特性电源3.6V±0.05V物理特性封装形式28-pin DIP陶瓷封装（金属管壳封装可选） 工作温度-40℃~+50℃重量≤10g外形尺寸19.5mm x 40.0mm x 3.9mm（不含DIP插针长度）结构尺寸图管脚定义图

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器应力分析仪X射线线阵探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

大面阵x射线sCMOS探测器单模组有效尺寸：22.5*22.5 到95.5*95.5mm，多模阵列尺寸：134x134mm, 268x67mm，191x191mm, 382x95.5mm闪烁体： Gadox:Tb：1-55 keVCSI： 20-300KeV 完美的集成/读出 同步，100%占空比采集可提供OEM 客户定制版本型号4MP系列探测器16MP系列探测器sCMOS_4MP_32sCMOS_4MP_68sCMOS_4MP_95sCMOS_16MP_52sCMOS_16MP_95sCMOS_16MP_135像素阵列2048 x 20484096 x 4096有效像元尺寸(μm)11 x 1123.4 x 23.432.8 x 32.89 x 916.4 x 16.423.3 x 23.3有效探测面尺寸(mm)22.5 x 22.548 x 4867.2 x 67.236.7 x 36.767 x 6795.5 x 95.5帧率18fps @ 全幅4.5fps @ 全幅；18fps@ binning 2x2满阱电子容量80,000e-70,000 e- @ 全幅；150,000 e- @ binning 2 x 2读出噪声1.8 e- rms 4.4e- rms @ binning 1*1；10 e- rms@ binning 2x2暗电流1 e/pix/s1 e/pix/s峰值QE58%@闪烁体发射波长（无微型透镜）58%@闪烁体发射波长（无微型透镜）曝光时间50μs~1min50μs~1min芯片温度-20 °C 水冷-20 °C 水冷位宽16bit16bit动态范围20,000:115,000:1闪烁体能量范围Gadox:Tb ：1keV-55keV ；CSI ：20keV-300keVGadox:Tb ：1keV-55keV ；CSI ：20keV-300keV空间分辨率Gadox:Tb(25lp/mm)CsI(20 lp/mm)CsI(15 lp/mm)Gadox:Tb (30lp/mm)CsI(20lp/mm)CsI(151p/mm)探测器接口兼容千兆以太网 /Genicam接口（相机通用接口）兼容千兆以太网 /Genicam接口（相机通用接口） 大面阵x射线sCMOS探测器典型应用：l X射线微断层扫描l X射线PCB测试l 相衬成像l X射线源评定l X光射线摄影l X射线相干衍射成象 髂骨活检，1um 分辨率，45KV,55uA 石墨球： 1um 分辨率，FDS 蜘蛛腿， 5μm脉冲液体射流源,50 kv, 0.8 mA,放大倍数：左x1，右x4, 4k*4k分辨率9um 像素

SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统 新势力光电供应SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统，光谱范围190-1550nm 、位置精度5um、可同时测量3束激光。该系列高分辨率位敏探测系统用于测量：激光中心及位移的测量、激光光束准直、光纤光学品质监控、平面度及准直性的校准、振动及缺陷的监控。ModelDescriptionsSPOTCCD-VIS-USBSystem with USB interface, camera for VIS range 350-1100nmSPOTCCD-VIS-PCISystem with PCI interface, camera for VIS range 350-1100nmSPOTCCD-UV-USBSystem with USB interface, camera for VIS range 190-1100nmSPOTCCD-UV-PCISystem with PCI interface, camera for VIS range 190-1100nmSPOTCCD-IR1310-USBSystem with USB interface, camera for 350-1310nmSPOTCCD-IR1310-PCISystem with PCI interface, camera for 350-1310nmSPOTCCD-IR1550-USBSystem with USB interface, camera for 1550nm± 50nmSPOTCCD-IR1550-PCISystem with PCI interface, camera for 1550nm± 50nm 相关商品 BeamOn光束质量分析仪 SpotOn位敏探测系统 紧凑型位敏探测系统 SpotOn Analog位敏探测系统

德国Feinfocus X光检测设备 Feinfocus作为高分辨率X光检测设备研发、设计和制造系统供应商，是1982年最早成立于德国的系统供应商；现有超过2800台Feinfocus的X射线设备在全球范围内被投入使用。Feinfocus拥有目前世界上最先进的X射线设计理念和制造技术，Open Tube专利技术，原厂设计的更全面、更多功能的操作平台，整个系统完全是德国原厂制造 微焦、纳焦的发明者，拥有多项专利多。多年来Feinfocus的产品广泛用于PCBA、Semi、Package、后段封装和非破损性检测(NDT)等领域的检测设备。Feinfocus以领先检测技术、丰富经验、客户为先的应用为用户提供及时技术支持。通过双赢联手: 1）2004年，Feinfocus并入瑞士COMET集团，成为COMET的一个事业部；2）2006年，另一家工业X射线制造商YXLON International也并入COMET集团；3）2007年，YXLON和Feinfocus合并为YXLON International GmbH，成为COMET的一个成员，是航空、汽车、工业和电子领域最大的X光管和系统供应商；4）YXLON在中国上海、北京有办事处性能特点?Capability Features -平台化设计，实现产品客户订制化-使用開放式X射线管&平板数字探测器，領先業界的清晰图像提供者-射线管的靶功率高达10瓦，几何放大倍数达2000倍，应用范围更广-独有的样品旋转及倾斜模块，是失效分析的强有力工具-专利的TXI技术，确保任何时候检测图像质量稳定-专利的AIM技术，确保观测检测位置处于图像中心-全新FGUI軟件可提供CNC自動檢測，全自动完成BGA检测与Void检测-设备可直接升级到CT--3维断层扫描系统，节约成本-独有1分钟快速CT扫描技术，是您实验室失效分析的最强大助手-独有的高功率靶，靶功率达7瓦时不散焦，标准检测分辨率＜1.0μmY.Cheetah图像探测器技术：高速平板探测器（标配） 130X130mm 最大可视面积（FOV） 65000 灰度等级 24" LCD几何放大倍： 2,000倍CNC功能： 标准配置最大监测尺寸： 460mmX410mm最大样品尺寸： 800mmX500mm运动轴部分： 1. 工作台X / Y 2. X光管上下移动 3. 图像探测器的上下移动 4. 图像探测器的左右倾斜(-72.5~ +72.5度) 5. (选件)工作圆台旋转360度 6. (选件) 样品夹手动倾斜(-30~+30度) / 旋转360度 7. 具备Zoom+ & Powerdrive 技术Y. Cheetah (μHD) - 高分辨率、高放大倍数X射线检测系统 全新推出的Y.μHD功能模块，是专为TSV，Flipchip， Copper Pillar，高分辨率CT开发的功能模块，利用该功能模块，可以获得最佳的检测结果。 - 一键操作，获得最好的图像- 几何放大倍数高达3000倍，系统放大倍数高达25,500倍- 高分辨率检测系统，检测TSV，Filpchip，Copper Pillar的理想工具- 自动产生检测报告及具备检测历史追踪功能- 独有的64位 Windows 7 操作系统,检测速度更快(可选)- 独有的64位 Y.Quickscan，一分钟完成CT扫描- 独有的Y. μHD功能模块，获得高分辨率的性能(可选) BGA焊球空洞 绑线变曲/断裂 银浆空洞计算 焊锡层空洞 TSV内部汽泡 Flipchip内部错位 其它选件: 1. 开放式多焦点X射线球管，具有3种焦点模式：- 微焦点分辨率＜1.0μm；- 纳焦点模式分辨率＜0.3μm；- 高功率模式分辨率小于＜3.0μm2. FGUI 扩展软件：自动BGA检测与测量；自动气泡检测与测量；检测过程录影3. 旋转工作台4. 高功率靶材，特别适用于密度低和很厚的非电子产品5. μCT模块，三维检测和实验室失效分析的得力助手 最佳铜线高速检测方案： 使用Feinfocus X光检测系统，配置高速平板探测器，实现铜线实时检测。 相对于配置传统探测器的X光检测系统，效率提高数倍，图像效果更加。

简单介绍采用光纤锥耦合X射线探测器，最大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单X射线探测器 的详细介绍 高耦合效率，降低设备X光源的投入影像不失真，让系统软件变得更简单 采用光纤锥耦合的X射线探测器，最大限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单。此相机广泛的应用于工业无损检测，如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。 BGA检查 IC焊脚检查 二极管质量检查 金线检查 产品规格： 标准产品有以下三个型号，根据X光源不同，要求分辨率以及目标物的厚度不同，有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供完美的解决方案。 产品型号HR-25-X-RayHR-40-X-RayHR-75-X-RayCCD芯片2/3’’芯片，752*5822/3’’芯片，1392*10401.2’’芯片，2048*2048像素尺寸11.6um*11.2um6.45um*6.45um7.4um*7.4um输出格式标准CCIR模拟型号输出8bit或12bit数字信号输出8bit或12bit数字信号输出帧速视频速度17帧或30帧15帧计算机接口无1394或以太网接口以太网接口视场20mm*15mm（其它可选）32mm*24mm（其它可选）45um*45um荧光屏镀膜P43(其它可选)P43(其它可选)P43(其它可选)X光响应范围20kev-100kev20kev-100kev20kev-100kev入射光窗0.5mm厚铝膜（其它可选）0.5mm厚铝膜（其它可选）0.5mm厚铝膜（其它可选）分辨率50um≤50um，10lp/mm≤50um,11 lp/mm HR-75-X-Ray400万像素高分辨率；选用75:25的光纤锥耦合，视野可达到45mm X 45mm. HR-40-X-Ray140万像素高分辨率；选用40:11的光纤锥耦合，视野可达到32mm X 24mm. HR-25-X-Ray体积小巧，直径仅55mm,长68mm,易于安装；分辨率高；动态范围好。 量子效率曲线图（P43荧光屏（25mg/cm2）, 厚度：55um） 定制产品： 我们可根据客户的需求定制X-Ray相机 荧光屏类型和厚度附加层（如Alu,ITO）输入窗口类型和厚度相机电子部分（如计算机接口）制冷（针对于部分型号）真空接口视野大小空间分辨率 应用领域 医学成像设备：牙科X光成像眼科成像X射线断层成像局部骨骼成像 工业检测设备：PCB或BGA 检查半导体缺陷检查食品安全检查X光光斑成像无损探伤电线检查 安防设备：紫外线导弹预警距离选通激光雷达夜视相机爆炸物探测指纹获取火灾探测

X射线显微CT：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且之后可以完好取回样本品！布鲁克公司的微断层扫描技术由一系列易于使用的台式仪器提供，可对样品的形态和内部微观结构生成 3D 映像，分辨率可达亚微米级别特点：先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（全额放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，高达14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，高达11840×11840×2150像素扫描空间的值高达：直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz，典型值：在大X射线功率下为90W

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

品牌介绍表理（SurfaceConcept）是一家专注于精密光电元器件的公司，其产品主要涵盖延迟线探测器、粒子精密计数、计数成像，以及相关的快速电子学（皮秒）。这些产品可以为用户组建大型飞行动量谱仪、原子探针、电子显微镜和其他精密光学产品，提供显著的性能提高和各种便利。产品照片延迟线探测器延迟线探测器原理 微通道板探测器MCP透射电子显微镜探测器高帧CMOS相机主要技术参数序号项目参数1延迟线探测器有效面积10mm– 1200mm直径2延迟线探测器可选探测粒子光子、电子、冷中子、重离子（YAG屏）3MCP有效面积18mm-80mm直径4MCP最大计数5Mcps5MCP时间分辨率200pS（典型值）6透射电镜有效面积40mm直径7透射电镜像素数1200 x 13008CMOS相机像素1920 x 1440像素9CMOS相机帧数417fps (@8bit) ，234fps(@12bit)应用领域序号应用领域1电子和离子的飞行时间分析（TOF）2时间相关或时间符合光子和粒子成像3用于x射线和电子能谱的门控成像4检测尺寸可达120mm的大面积真计数成像(XPS, UPS, EELS)5电子能量和飞行时间分析仪(XPS, UPS, EELS)6飞行时间光电电子显微镜(ToF PEEM)7中能离子散射与飞行时间分析(MEIS - ToF)8原子探针断层扫描/显微镜(APT, 3D-AP)9x射线吸收/发射光谱(XAS, XES)10门控对比增强x射线皮秒成像11荧光寿命成像(FLIM, FLIM- fret)

MYTHEN2 X射线探测器 MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义，呈现出另一个层面：成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合，开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数， MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率，挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统（DCS4）兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素，无论从现场应力测量到快速相变，MYTHEN2 X深化了其细节，并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合：1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑，- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合，其帧率能达到1000赫兹，并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度，确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术，涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸：1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪，无论是紧凑空间，还是多模块系统设置的需求，4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状，并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合，确保了高量子效率和最佳信噪比，使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点，MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更，将另行通知。

多量程X射线纳米CTSkyScan 2211多量程X射线纳米CT系统可涵盖范围大的样品的对象尺寸和空间分辨率。它可为油气勘探、复合材料、燃料电池、电子组装等许多应用带来不一样的材料三维成像和精确建模机会。技术规范：X射线源：20… 190kV，4/10/25 W，亚微米焦点尺寸，5档滤线器；开放（泵送）X射线源（带双级电子光学器件）；靶材—钨（标准）；铜、钼、银（可选）X射线探测器： 300万像素CMOS平板探测器 1920×1536像素 1100万像素冷却式CCD探测器 4032×2670像素重建图像格式：平板：1920×1920×1160像素（中心位置）3776×3776×1160像素（两个偏移位置） CCD：4032×4032×2272像素（中心位置）8000×8000×2272像素（两个偏移位置）重建速度：1分12秒：针对600次投影进行2K×2K×1K重建 11分：针对1319次投影进行4K×4K×2K重建样品对象定位：直接驱动空气轴承带集成式微定位平台 使用压电式驱动器（5.5毫米行程）细节探测能力：100纳米扫描容积： 直径204毫米，长度200毫米，重量25千克辐射安全：在距离仪器表面10厘米的任何一点上＜0.5 μSv/h （在190 keV、4 W条件下于目标上测得）电源：100-130V或200-240 V AC，50-60 Hz， 2.5 kW + 1.5 kW（压缩机）（65 A峰值电流）系统随附闭环水冷器和无油空压机及必要的粒子过滤器和干燥机。

MYTHEN2 R 线阵混合像素光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

MYTHEN2 波长色散型X射线荧光光谱仪-线阵光子计数探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

MYTHEN2 波长色散型X射线荧光光谱仪-线阵光子计数探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

coms探测器的能量范围从10到100kv、使其广泛的应用于标本成像。小于20um的焦点和6倍的集合放大能力可提供分辨率为40+lp/mm的图像。自动曝光控制允许系统自动选择适当标本的曝光时间和电压设置，通过点击鼠标即可操作。功能和优点：1，无需额外的屏蔽2，无需专业的射线知识也可操作3，不锈钢内腔设计，清洗方便4，激光定心器和透明窗确保物体在合适的位置上5，在任何水平位置都能准确的测量6，校准支持自动物体检测，简单易懂7，自动曝光也可手动曝光8，支持远程网络诊断技术参数：成像区域：10cm×15cm空间分辨率：6倍几何放大 40+lp/mm像素间距：74.8um管电压： 10-100kv管电流： 0.3mA（41-100kv内功率限制为12W）\\焦点尺寸： 标称 15um滤窗： 0.25mm Be，钨源电源：100-240VAC+/-10%,50-60HZ外形尺寸：59cm×54cm×90cm内腔尺寸：39cm×39cm×56cm净重：188kg（毛重230kg）

TESCAN UniTOM XL 这款高通量微米级 X射线显微镜具有超快的分析速度，适用于各类样品的无损分析，并提供了更灵活的研究方式。TESCAN UniTOM XL 为材料研究、失效分析和质量控制等领域提供高效且非破坏性的三维成像功能，该系统配置了高功率的发射源、高效的探测器和软件，可以提供最高效的工作效率和图像效果，时间分辨率可以达到10秒以下。 主要优势 ※ 原位和动态成像的X射线显微镜UniTOM 是一款配置灵活的高分辨 X 射线 显微镜，可根据用户的需求组合功能模块，最大限度的提高图像质量、分辨率和分析速度。※ 感兴趣区域的直观观测可在概览图上选择感兴趣区域进行实时缩放，获得孔隙结构和矿物的细节信息。※ 亚微米级分辨率UniTOM 可以获得 3um 的真实空间分辨率，并且适用于多种类型和尺寸的样品，可分析的样品最大直径为 50 cm, 最大高度115 cm。※ 模块化设置模块化设计，硬件模块（如可附加的X射线源或探测器）可以轻松集成到系统中，方便用户进行硬件升级或更换单个硬件，进而延长系统的使用寿命。 模块化灵活配置 UniTOM XL 模块化设计有助于用户可以随时添加、升级和拓展配件，尽可能减少受到系统自身性能的限制影响，系统中提供的“future-proof”平台能够帮助客户适应未来在发射源或探测器技术方面的创新发展。Acquila软件Acquila是一个用于断层图像采集和3维重构(GPU优化)的模块化软件，可以最大限度为集成设备后的复杂实验提供协助。Acquila软件能够运行在标准的、自动化的或定制的微型CT上，并实现图像采集、重建和外围实验设备(现场设备)之间的无缝集成。

Faxitron继续将UltraFocus产品线拓展，开发一款新型，拥有更大X射线舱室 更大探测器的成像设备：l 与UltraFocus一样，拥有标准的100kV微焦点X射线源l 64cm×64cm×92cm大小不锈钢内腔室设计，设备整体可以随意进出标准门廊l 腔室高度与现有UF型号一致，并可实现10倍几何放大l 探测器拥有100微米像素,43cm×43cm有效扫描视野l 由于设备尺寸与重量，均配有脚轮便于安置l 腔室的高度设计合理，无需使用者下蹲或弯腰即可完成样本取放相关参数成像区域43cm x 43cm (17” x 17”)像素间距100μm （1870万像素）闪烁体直接储存于Csi中放大倍数最高到10倍空间分辨率放大后可达10μm（50+lp/mm）能量范围20 - 100kV最大管电流0.5m A（最大至12W）焦点尺寸8μm – 15μm （根据功率）滤窗0.25mm Be,钨源电源要求100-240VAC, 50/60Hz外部尺寸34” W x 31” D x 62” H (86cm x 79cm x 158cm)腔室尺寸25” W x 25” D x 36” H (64cm x 64cm x 92cm)重量1750lbs (800kg)

X射线探测器姓名：王工（Karl） 电话： 邮箱：X射线探测器以热电冷却的Si-Pin光电二极管作为X射线探测元器件，根据不同探测器类型和峰化时间，55Fe的5.9KeV峰值分辨率可达145eV FAST SDD 探测器峰值分辨率更可达122eV，为业界领先指标。XR-100系列探测器型号探测器材料探测器面积探测器厚度铍(Be)窗 厚度备注XY-FSG32MD-G3SPSi-PIN6 mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FS432MD-G3SPSi-PIN13mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FSJ32MD-G3SPSi-PIN25mm2500 μm1 mil有内置准直器XY-FSG32MD-G2SPSi-PIN6mm2500 μm0.5mil有内置准直器XY-GSH3AMD-G2SPSDD25mm2500 μm0.5mil有内置准直器XY-GSH3AMD-E1SPSDD25mm2500 μm0.3mil有内置准直器XY-GSH3AMD-UOEASDD25mm2500 μmC1 Window有内置准直器XY-GSH3AMD-E6EASDD25mm2500 μmC2 Window有内置准直器XY-HSH3AMD-G2SFAST SDD25mm2500 μm0.5mil有内置准直器XY-HSH3AMD-G1SFAST SDD25mm2500 μm0.3mil有内置准直器XY-HSH3AMD-U0EAFAST SDD25mm2500 μmC1 Window有内置准直器XY-HSH3AMD-E6EAFAST SDD25mm2500 μmC2 Window有内置准直器** Silicon Drift Detector (SDD) uses a junction gate field-effect transistor (JFET) inside the hermetically sealed TO-8 package, along with an external preamplifier. FAST SDD uses a complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) preamplifier inside the TO-8 package, and replaces the JFET with a metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET).

PILATUS3 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。 与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。 实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供动力的最快计数电子设备？结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。 具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的独特组合，并且是实验室中这些要求的最佳匹配。 2、核心优势 - Mo，Ag和In量子效率 90％ - 直接检测最清晰的空间分辨率 - 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到最高精度 - 高动态范围 - 荧光背景抑制 - 最高的计数率 - 同步辐射证明的辐射硬度 - 免维护运行 - 高可靠性：没有容易发生故障的密封或复杂，冷却至室温以下 3、应用领域 - 电荷密度分析 - 配对功能（PDF）分析 - 高分辨率化学结晶学 - 高压/高温XRD - 关键尺寸SAXS - 计算机断层扫描（CT） - 无损检测（NDT）4、技术参数： PILATUS3 R CdTe1M300K300K-W100K探测器模块数量2 × 51 × 33 × 11 × 1有效面积：宽×高 [mm2]168.7 x 179.483.8 × 106.5253.7 x 33.583.8 x 33.5像素大小 [μm2]172 x 172总像素数量981 x 1043 487 × 6191475 × 195487 x 195间隙宽度, 水平/垂直（像素）*每个模块之间水平间隙增加1个像素7* / 17- */ 177* / --* / -非灵敏区 [ % ]7.85.71.10.2缺陷像素 0.1%最大帧频 [Hz]5202020读出时间 [ms]7点扩散函数1 pixel（FWHM）计数器深度20 bits（1,048,576 counts）功耗 [W]165303030尺寸（WHD）[mm3]265 x 286 x 455158 x 193 x 262280 x 62 x 296114 x 69 x 118 (探头)重量 [kg]257.57.00.9（探头）模块冷却水冷水冷水冷水冷外接触发电压5V TTL5V TTL\\

NaturaSpec高分辨率地物光谱仪 产品简介： NaturaSpec高分辨率地物光谱仪作为野外便携式应用光谱仪可提供更高分辨率和更高灵敏度。光谱范围覆盖350-2500nm，分辨率高达2.5nm@700nm、5.5nm@1500nm、5.8nm@2100nm；具备三个高灵敏度探测器：一个1024单元紫外增强型硅探测器和两个512单元制冷加强型InGaAs探测器，提升了分辨率及灵敏度，同时具有极高的噪声控制水准。 特点：高光谱率、高灵敏度和等效辐射噪声性能大阵列制冷型探测器、全息光栅、无运动光学部件，数据可靠性高一键式测量，实现自动积分、自动曝光和自动光谱数据采集及存储软件操作简单方便、功能强大。此仪器可用于辐亮度、光谱反射率、光谱透过率、CIE颜色等测量适用于对分辨率要求高的定量遥感、星载或机载高光谱数据地面定标、矿物鉴定、土壤研究等应用 基本参数：光谱范围350–2500nm光谱分辨率2.7nm @ 700nm 5.5nm @ 1500nm 5.8nm @ 2100nm等效噪声辐射0.3x10-9 W/cm2/nm/sr @700nm 0.1x10-9 W/cm2/nm/sr @1500nm 2.5x10-9 W/cm2/nm/sr @2100nm探测器1024单元紫外加强型硅线阵 (350–1000nm)512单元增强型InGaAs线阵列 SWIR1512单元增强型InGaAs线阵列 SWIR2重量约5.7Kg电池轻便锂离子充电电池

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915