用显微图像分析法测定聚烯烃管材、管件和混配料中颜料或炭黑分散度（符合GB/T 18251-2000国家标准）·········l 显微分析系统及试验方法介绍：一.实验方法1.从管材、管件或粒料上取少量样品压在载玻片之间并加热制备试样，也可以使用切片机切片制备试样。2.依次将六个试样放在显微镜下，经过摄像采集设备在计算机上显示图像，通过软件的操作计算机自动给出测定粒子和粒团的尺寸及试样等级确定表（国家标准）。注：分散的尺寸等级由六个试样等级的平均值来确定。二.配置介绍:1. 三目显微镜2. 高清晰JVC摄像头3. 高性能图像采集卡4. 显微分析软件显微分析系统BM19A-UV实物图片 实验主要仪器：a） 显微镜： 三目XSP-BM19A显微镜，带有校准的正交移动标尺，能够测量出粒子和粒团的尺寸；b） 软件系统：计算机硬件设备一套，观测粒子或粒团的尺寸分布及外观分布的显微分析软件UV一套；c） 载玻片：厚度约1mm的载玻片，小刀，弹簧夹；d） 切片机：能够切出规定厚度的薄片；e） 加热设备：烘箱、热板等，可在150℃～210℃之间的控制温度下操作；f） 图像采集设备：JVC摄像头TK-C1021EC、三目显微镜摄像接口MCL 、显微镜图像采集卡SLG-V110。试样制备：本标准规定了两种试样制备方法：压片法和切片法。制备好的试样应厚度均匀，用于测定颜料分散的试样厚度至少为60μm，用于测定炭黑分散的试样厚度为25μm±10μm。压片方法：用小刀沿产品的不同轴线在不同部位切取六个试样。测定颜料分散时，每个试样质量大于0.6mg；测定炭黑分散时，每个试样质量为0.25mg±0.05mg。把六个样品放在一个或几个干净的载玻片上，使每一试样与相邻的试样或载玻片边缘近似等距排放，用另一干净的载玻片盖住。可以使用金属材料或其他材料制成
XTDIC三维全场应变测量分析系统，结合数字图像相关技术（DIC）与双目立体视觉技术，通过追踪物体表面的散斑图像，实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量，具有便携，速度快，精度高，易操作等特点。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595779_3024107_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595780_3024107_3.png图：系统测量原理及散斑图像追踪过程系统组成：统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成系统应该包含系统测量头（含两台高速工业相机、进口相机镜头，带万向手柄可调节LED光源）、相机同步控制触发控制箱、系统标定板、系统可移动支撑架、动态采集分析软件、载荷加压控制通讯接口、计算机系统等组成。1.1 主要应用XTDIC 三维数字散斑动态变形测量分析系统是实验力学领域中一种重要的测试方法，其主要应用有：在材料力学性能测量方面：DIC已成功应用于各种复杂材料的力学性能测试中。如火箭发动剂固体燃料、橡胶、光纤、压电薄膜、复合材料以及木材、岩石、土方等天然材料的力学性能的检测中。值得注意的是，DIC被广泛应用于破坏力学研究中，包括裂纹尖端应变场测量、裂纹尖端张开位移测量以及高温下裂纹尖端应变场测量等。在细观力学测量方面：借助于扫描电子显微镜(SEM)、扫描隧道电子显微镜(STEM)以及原子力显微镜(AFM)，DIC被越来越多地应用于细观力学测量。最近，数字散斑相关方法还被应用于物体表面粗糙度的测量中。在损伤与破坏检测方面：DIC被应用于多种复杂材料，如岩石、炸药材料的破坏检测中。DIC还被应用于一些特殊器件，如陶瓷电容器、电子器件，电子封装的无损检测研究中。在生物力学测量方面：DIC被应用于测量手术复位后肱骨头在内旋转及前屈运动下大小结节的相对位移量，以及颈椎内固定器对人体颈椎运动生物力学性能的影响等。对于大中专院校的研究教学应用，本系统开展各种软组织、金属及复合材料性能测试、力学性能测试分析、有限元分析验证等研究和教学实验，具有大至1000%应变测量范围，并可以实时计算、实现动态全场的应变变形测量。在土木工程的相关研究中，如四点弯试件、半圆弧试件、悬臂梁实验，对应完整实验设计方案，以非接触式的方式提升研究手段，提高研究能力。亦可为学生提供可视化的教学工具，让学生的基础学习课程变得直观和可视，使复杂问题简单化、抽象问题直观化、隐蔽问题可视化。1.2 系统功能（1）基本测量功能：l ※测量幅面：支持几毫米到几米的测量幅面，可以根据需求定制测量幅面。l 测量相机：支持百万至千万像素、低速到高速、千兆网和Camera Link等多种相机接口，控制软件最大支持采集帧率10万 fps。l ※相机标定：支持多个相机（可多于8个）多种测量幅面的标定，支持外部拍摄图像标定。l ※测量模式：三维变形测量，同时支持单相机二维测量。l ※实时计算：采集图像的同时，可以实时进行三维全场应变计算，具备在线和离线两种计算处理模式。l 计算模式：具备自动计算和自定义计算两种模式。l 测量结果：全场三维坐标、位移、应变数据等动态变形数据，应变模式有工程应变、格林应变、真实应变等三种。l 多个检测工程：系统软件支持多个检测工程的计算、显示及分析。l ※支持系统：支持32位、64位windows操作系统，具备64位计算和多线程加速计算功能。（2）分析报告功能l ※18种变形应变计算功能：X、Y、Z、E三维位移；Z值投影；径向距离、径向距离差；径向角、径向角差；应变X、应变Y和应变XY；最大主应变；最小主应变；厚度减薄量；Mises应变；Tresca应变；剪切角。l ※坐标转换功能：321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能。l ※元素创建功能：三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥。l ※分析创建功能：点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角。l 数据平滑功能：均值，中值，高斯滤波等多种平滑功能。l 数据插值功能：自动和手动两种数据插值模式。l 材料性能分析：自动计算材料的弹性模量和泊松比等参数。l 三维截线功能：可对三维测量结果进行直线或圆形截线分析。l 曲线绘制功能：所有测量结果均可以绘制成曲线图。l 成形极限分析功能：可绘制和编辑FLD成形极限曲线。l 视频创建功能：可将测量过程二维图像或者三维测量结果制作成视频并输出保存。l 数据输出功能：测量结果及分析结果输出成报表，支持TXT，XLS，DOC文件的输出。（3）采集控制功能l ※采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。l 相机同步控制：多相机外同步触发信号。l ※外部采集通讯接口：支持外部载荷如微电子万能试验机等外部载荷联机采集通讯接口，通过串口通讯或者模拟量实时采集外部的加载力、位移等信号，并与三维全场应变测量数据实现同步，实现应力和应变数据的融合和统一。l 光源控制：可以实现测量过程中不同补光需要的LED光源控制。（4）预留扩展接口：l ※多测头同步检测接口：可以支持1~8个测头的多相机组同步测量，相机数目任意扩展，可以同步测量多个区域的变形应变，适用于不同实验条件需求下的变形应变测量。l ※显微应变测量：配合双目体式显微镜，系统可以实现微小视场的三维全场变形应变检测，并可支持扫描电镜、原子显微镜等显微图像的应变数据计算。l ※大尺寸全方位变形接口：支持摄影测量静态变形系统，实现全方位变形和局部全场应变检测数据的融合和统一。1.3 技术指标 指标名称技术指标1. ※核心技术多相机柔性标定、数字图像相关法2. 测量结果三维坐标、全场位移及应变，可视化显示及测量过程的视频录制输出，测量结果及数据输出成报表，支持TXT，XLS，DOC文件的输出。3. ※测量幅面支持1mm-4m范围的测量幅面，并配备相应编码型标定板标定架，可定制更多测量幅面。4. ※测量相机支持百万至千万像素相机，支持低速到高速相机，支持千兆网和Camera Link等多种相机接口，控制软件最大支持采集帧率10万 fps）5. 相机标定简单快捷，需要可支持任意数目相机的同时标定，支持外部图像标定6. ※位移测量精度0.005像素7. ※应变测量范围0.01%-1000%8. ※应变测量精度0.001%9. 测量模式三维变形测量，可兼容二维测量10. ※实时测量计算采集图像的同时，实时进行全场应变计算11. ※系统控制2采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。2相机同步控制：多相机外同步触发信号。2外部采
第一节 通用测量系统指南在SPC中已涉及到测量系统的一些知识，测量数据的质量是过程控制的重要基础。正确地选择与运用测量系统，能保证较低的测量成本获得高质量的测量数据。一、 几个重要概念1. 测量过程和测量值赋值给具体的事务的表示事物特性的过程叫做测量过程。测量值即测量数据，是该过程的输出。2. 量具任何用来获得测量结果的装置，经常是指在车间使用的测量装置，也包括通过不通过的测量装置。3. 测量系统用来测量的仪器、设备、软件、程序、操作以及操作人员的集合和过程。4. 测量数据的质量测量数据的质量，可以从以下几个方面来描述：① 测量数据的质量是以稳定条件下运行的测量系统的多次测量结果的统计特性来描述。② 测量数据的质量通常用偏倚和方差表示，理想的质量是零偏倚、零方差。③ 测量数据质量低的最普遍原因表现为数据的变差。变差是测量系统和环境之间交互作用的结果。绝大多数变差是不期望的，但能反映被测特性微小变化的变差是有意义的，它反映了测量系统的灵敏度。
中国科技网讯 据每日科学近日报道，最近，美国爱荷华大学与国家能源部艾米实验室科学家合作，将光学显微与原子力显微技术结合起来，开发出一种能对单个生物分子进行三维测量的方法，准确性和精确性都达到纳米级别。最近出版的《纳米快报》上详细介绍了该技术。 现有技术只能从二维平面来测量单个分子，只有X轴和Y轴，新技术称为驻波轴向纳米仪（AWAN），让研究人员能测量Z轴，也就是高度轴，样本也不需要经过传统光学或特殊表面处理。 “这是一种全新类型的测量技术，可以确定分子Z轴方向的位置。” 论文合著者、爱荷华大学物理与天文学副教授珊吉维·西瓦珊卡说，他们承担的研究项目有两个目标：一是研究生物细胞彼此之间怎样粘合，二是开发研究这些细胞的新工具。为此他们开发了新的显微技术。 研究小组用荧光纳米球和DNA单链测试了新式混合显微镜。他们把一台商用原子力显微镜与一台单分子荧光显微镜结合。将原子力显微镜的悬臂针尖放置在一束聚焦激光束上，以产生驻波纹样。 驻波是频率和振幅均相同、振动方向一致、传播方向相反的两列波叠加后形成的波。波在介质中传播时其波形不断向前推进，称为行波；上述两列波叠加后波形并不向前推进，叫做驻波。将一个经处理发光的分子放置于驻波内，当原子力显微镜尖端上下移动时，分子表面相应于它距针尖的距离而起伏发出荧光，由此可以对这一距离进行测量。在实验中，该技术在测量分子时可以准确到1纳米内，测量可多次重复，精确度达到3.7纳米。 西瓦珊卡说，该技术可以通过显微镜来提供高分辨率数据，给医疗研究人员带来便利。还具有商业化潜力，促进单分子生物物理学的研究。（常丽君） 《科技日报》（2012-8-9 二版）
生物显微镜和工具显微镜又称工具制造用显微镜，是一种工具制造时所用高精度的二次元坐标测量仪。生物显微镜工具显微镜是利用光学原理将工件成像经物镜投射至目镜，即借着光线将工件放大成虚像，再利用装物台与目镜网线(eyepiece reticle)等辅助，以作为尺寸、角度和形状等测量工作，可作为检验非金属光泽的工件表面。生物显微镜工具显微镜仪器在立柱上装有一显微镜，放大倍率从10倍至100倍间等数种倍率，工具显微镜的测量系统光源( 灯炮 ) 通电后，光线依次经过二个透镜滤热镜 ( 片)、镜径薄膜、透镜、反射镜、装物台、物镜、反射镜、目镜等，工件与物镜间的距离，随着放大倍率和工件厚薄，可利用对焦旋钮调至理想位置。1、 生物显微镜工具显微镜将人眼瞄准，采集元素的个别点坐标，改为CCD摄像机自动采集元素图像，采集信息量增大，减少人工干预，操作效率提高。 2、生物显微镜工具显微镜软件数据处理结果除以数据表示外,增加了图形信息窗，处理的点、线、图、弧等元素展现在屏幕上，形象直观，条理清晰，避免出错，并且可以输出到AUTOCAD形成工程图。3、引进先进的英国RENISHAW钢带反射光栅系统代替原有的玻璃光栅系统，该系统信号优良，安装间隙大，外形小巧，发热量小，安装调试简单，抗污染，抗腐蚀能力强，耐震性好等众多优点，大大提高了系统的可靠性，是当今国际最先进的光栅系统之一。4、 生物显微镜和工具显微镜生物显微镜工具显微镜除X、Y坐标数字显示外，将测高坐标和分度头角度坐标也改成数显，实现了四坐标全数显化，这一改进对凸轮轴测量十分有益。5、用半导体激光器作为指向器，红色光点打在工件表面，用于快速确定测量部位，避免了因CCD视场面积小带来的找象困难，解决了目前图像系统的通病。引用：www.bsdgx.com
1-1 系统介绍三维光学非接触式应变位移振动综合测量系统分为三维光学应变测量系统和三维动态变形测量系统两个部分。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607051411_599282_3024107_3.png http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607051411_599283_3024107_3.png 图1 三维应变测量头 图2 动态变形测量头三维光学应变测量系统主要通过数字散斑相关法和双目立体视觉技术结合，追踪物体表面散斑点，实时测量各个变形阶段的散斑图像，通过算法重建三维坐标，最终实现快速、高精度、实时、非接触的三维应变测量。（全场或局部应变）动态变形测量系统基于双目立体视觉技术，采用两个高速摄像机实时采集被测物体变形图像，利用准确识别的标志点（包括编码标志点和非编码标志点）实现立体匹配，重建出物体表面点三维空间坐标，并计算得到物体变形量、三维轨迹姿态等数据。（关键点振动位移）三维光学应变测量系统和动态变形测量系统可以根据实验情况单独使用，也可以合并成综合测量系统使用。1-2与传统方法对比 三维光学测量方法传统测量方法（如位移计、应变片、引伸计等）测量方式非接触式测量，不对被测物体造成干扰与影响。接触式测量，易打滑，不容易固定，试件断裂容易破坏引伸计。测量对象适用于任何材质的对象。测量尺寸范围广，从几毫米到几米。适用于常规尺寸对象测量，特殊材料无法测量，小试样无法测量，大试样需要多贴应变片。测量范围应变测量范围：0.01%~1000%。应变测量范围：应变片通常小于5%，引伸计小于50%。环境要求环境要求低，可在高温、高速、辐射条件下测量。一般适用常规条件测量。测量结果全场多点、多方向测量，同时获得三维坐标、三维位移及应变。单点、单方向测量。三维测量需要多个应变片，效率低。1-3 系统技术参数 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量、数字图像相关法2. 测量结果三维坐标、全场位移及应变3. 测量幅面支持4mm-4m范围的测量幅面，更多测量幅面可定制4. 测量相机支持百万至千万像素相机，支持低速到高速相机，支持千兆网和Camera Link等多种相机接口5. 相机标定支持任意数目相机的同时标定，支持外部图像标定6. 位移测量精度0.01pixel7. 应变测量范围0.01%-1000%8. 应变测量精度0.005%9. 测量模式兼容二维及三维变形测量10. 实时测量采集图像的同时，实时进行全场应变计算11. 多测头同步测量支持多相机组同步测量，相机数目任意扩展，可同步测量多个区域的变形应变12. 动态变形模块具备圆形标志点动态变形测量功能13. 轨迹姿态测量模块具备刚体物体运动轨迹姿态测量功能14. 试验机接口接通后实时同步采集试验机的力、位移等信号15. FLC接口配合杯突试验机进行Nakazima试验，可以测得材料的FLC成形极限曲线16. 显微应变测量配合双目体式显微镜，可实现微小型物体的三维全场变形应变检测17. 64位软件软件采用64位计算，速度更快18. 系统兼容性支持32位和64位Windows操作系统2 系统应用于汽车振动强度实验室2-1 振动强度实验室介绍振动强度试验室，主要开展对汽车整车，总成，零部件，或者材料的强度，耐久性，疲劳特性，以及可靠性等问题的研究，试验，考核，或者评估。三维应变位移振动综合测量系统在振动强度试验室里具备以下的功能：（1）采集相关的振动、位移和变形数据；（2）作为前期信号分析的软件和硬件；（3）进行必要的试验控制和试验后期数据分析系统。2-2 汽车振动测量常规配合使用设备振动模拟实验系统：电动式振动试验台，机械式试验台，电液伺服试验机系统，道路模拟试验台，吊车（一般5~10吨、小型3吨以下、大型10吨以上）等。振动数据采集传统产品：传感器、应变片、放大器等。2-3系统在汽车振动实验室中应用的相关实验采集测量系统：三维应变位移振动综合测量系统。配合使用系统：振动模拟实验系统。实现功能1—耐振性能试验。测试车辆或者零部件系统的减振，耐振性能。模拟振动环境，通过非接触的光学方法，测量振动和位移，从而对车辆的振动性能进行分析。应用包括：发动机振动模态分析，车门振动实验，座椅振动测量分析等。实现功能2—耐久可靠试验。考核车辆和零部件的强度、抗疲劳特性和可靠性指标。应用包括：车身结构强度实验（测量区域振动或者关键点变形），汽车座椅分级加载实验，汽车轮胎受力变形实验等。3 系统应用于汽车材料实验室3-1 汽车材料实验室介绍汽车材料试验室，主要开展对汽车新型材料及相关基础性工作的研究和探索。三维应变位移振动综合测量系统在材料试验室里一般有以下的基本功能：（1）汽车材料常规力学性能方面的测试，得到各种工况下的应变变形；（2）汽车材料焊接的应变变化情况测量；（3）板料成形应变及板料成形极限曲线测量。3-2 汽车材料试验常规配合使用设备力学实验系统：高温蠕变试验机、扭转试验机、疲劳试验机、杯突试验机等。焊接相关设备：焊枪、焊机等。3-3 系统在汽车材料实验室中应用的相关实验采集测量系统：三维应变位移振动综合测量系统。配合使用系统：力学实验系统、焊接相关设备。实现功能1—材料应变变形测量实验。通过对材料进行常规的拉压弯等实验，进行相关材料的力学性能测定。应用包括：金属材料拉伸实验，复合材料大变形测量，碳纤维材料实验等。实现功能2—汽车焊接相关试验。考核汽车相关焊接实验的应变和变形。应用包括：焊接全场应变测量，高温焊接变形测量等。实现功能3—板料成形相关实验。板料成形过程中的全场应变变形测量和板料成形极限曲线（配合杯突试验机）。应用包括：板料成形应变实验、板料成形极限曲线测定实验。4 系统在汽车工程研究方面典型实验案例展示4-
当前，微型光纤光谱仪非常流行，受到了众多应用领域的青睐。与大型光谱仪相比较，微型光纤光谱仪价格便宜（仅是大型光谱仪的零头）；携带方便（只有手掌大小）；测量速度快（毫秒级的数据采集，实现在线实时分析）；操作方便，性能稳定可靠（无需专人维护）等长处。因此，在满足使用要求的前提下，微型光纤光谱仪是一种最佳的选择。 我司微型光纤光谱仪的主要功能有：吸光度测量；反射率测量；透射率测量；颜色测量；相对辐射和绝对辐射测量。具体应用包括吸光度测量系统（包括气体、液体、固体的吸光度测量）；颜色测量系统（纸张、油漆、颜料、布料、动物皮肤、植物、光源等等）；膜厚测量系统（感光保护膜、半导体薄膜、金属膜、等离子体镀膜、光学镀膜等）；SLM系列光源测量系统（白炽灯、荧光灯、ARC、HRC、以及发光二级管等光源的各种参数测量）；SMS光照度/辐照度测量系统（光通量、光强、光照度或光亮度测量）；LCS系列LED测量系统（测量LED光源、大型光源的光学、光谱、颜色、纯度等特征信息）；氧含量测量系统（连续测量氧饱和度、总含量、含氧和去氧血色素的浓度）；[color=#00008B][color=#00FFFF][color=#DC143C][size=4]荧光测量系统（测量皮克级的含有荧光团的物质）；[/size][/color][/color][/color]近红外测量系统（糖、酒精、湿度、脂肪等成分的分析）；拉曼测量系统（药物、爆炸物、水质、现场材料的分析，制药监控，石化工业过程控制等）；LIBS2500光纤光谱仪系统（无损地对气体、液体、固体进行定性和半定量的实时元素分析）；PlasCalc等离子监控器系统（监测等离子蚀刻，检查表面清洁处理，分析等离子反应腔控制情况，检测异常污染和排放现象，等离子开发过程的检测和控制，等等）；防晒指数测量系统（化妆品、防晒用品、防紫外服、感光乳剂等的SPF值测量）；量子效应测量系统（量子效率的测量等）。另外，我司还有闪光光解光谱仪（演示化学动力学原理）；各种光源（钨光源、氘光源、氘－钨光源、氙光源、LED系列光源、校准光源等）及各种光纤（普通光纤、中红外光纤、红外光纤、高功率传输光纤、图像传输光纤、医疗光纤等）。 谢谢您的关注！详情请见我司的网站（http://www.psci.cn）或与我联系（电话：0571－88225151－8020，13738178070，Email：zqchen@psci.cn 陈振泉）。
这款[url=http://www.f-lab.cn/micromanipulators/fms-ls.html][b]超微力测量系统[/b][/url]是高精度[b]微力测量测试系统[/b]FMS-LS，它[b]与[/b]显微操作器联合使用,用于[b]测量纳米压痕[/b]和[b]超微力测量,还可用于[/b]测量细胞力学,杨氏模量,微机电系统MEMS的弹簧常数和共振频率的弹性参数。[b]超微力测量系统FMS-LS特点[/b][url=http://www.f-lab.cn/micromanipulators/fms-ls.html][b]超微力测量系统[/b][/url]调节器连接附件，调节器显示力反馈，并且在扬声器上播放材料的谐振频率。由具有集成吸管夹持器的力传感器，具有前置放大器和扬声器的控制模块，PC软件，电源，和操作者的手册组成。[img=超微力测量系统]http://www.f-lab.cn/Upload/FMS-LS-L_.jpg[/img][b]超微力测量系统FMS-LS应用[/b]测量细胞，杨氏模量，微机电系统（MEMS）的弹簧常数和共振频率的弹性参数纳米压痕[b]超微力测量系统[b]FMS-LS[/b]规格[/b]分辨率：亚μN测力范围：最高可达10毫米输出：+/-10 V
[url=http://www.f-lab.cn/microscopestages/scanplus100.html][b]电动显微镜载物台Scanplus100[/b][/url]集成了测量系统，实现显微镜和样品的精确定位，提供75x50mm的行程范围，最小步进高达0.05微米，定位进度高达1微米，是全球领先的[b]自动显微镜载物台品牌[/b]。[b]电动显微镜载物台Scanplus100产品特点[/b]集成高精度测量系统实现全球最高定位精度和测量精度具有定位测量功能德国圆角的平面人体工程学设计显微镜载物台插入配件可更换设计，具有多种stage inserts 选配，满足显微镜应用电机/编码器电缆前右部连接，符合操作人员习惯集成电子位移台识别系统，自动识别扫描台及其控制器配备高精度特定型号控制，可享受全球5年超长质保[b]电动显微镜载物台Scanplus100参数[/b]行程范围：100x100mm行进速度：最大240mm/s重复定位精度：1um精度：+/-1um分辨率：0.05um (最小步进）正交性：10arcsec驱动电机：2两相步进电机位移台开口：160x116mm材质：高级铝表面处理：氧化涂层，黑漆自重：~2.6kg电动显微镜载物台Scanplus系列集成融入了测量系统，专业为显微镜自动样品定位和精密样品定位应用设计，专业为全球主流显微镜品牌配套，独具的测量系统功能是全球领先的超精密定位测量系统，极大提高测量精度。电动显微镜载物台Scanplus采用全球领先的德国长期润滑系统，确保长期使用而不需维护.更多载物台官网：[url]http://www.f-lab.cn/microscope-stages.html[/url]
正置金相显微镜在观察时成像为正像，这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便，除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由于符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。另外外置摄相系统可以方便的连接视屏和计算机进行实时和静动态的图像观察、保存和编辑、打印结合各种软件能进行更专业的金相、测量、互动教学领域的需要。
本人有台体视显微镜。是用来做试验使用的。现在需要对试验样品进行二维的测量。哪位大侠帮忙下！谢谢。本人邮箱：[email]wpxzwj@yahoo.cn[/email]
测量显微镜工作原理是使用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。测量显微镜大多用于工业中，因此测量显微镜又称为[url=http://www.leica-microsystems.com/cn/%E4%BA%A7%E5%93%81/%E5%85%89%E5%AD%A6%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C/%E5%B7%A5%E4%B8%9A%E5%8F%8A%E6%9D%90%E6%96%99/%E6%AD%A3%E7%BD%AE%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C/%E8%AF%A6%E7%BB%86%E4%BB%8B%E7%BB%8D/product/leica-dm6-m]工业测量显微镜[/url]。测量显微镜的工作台除可以作平面移动外，还可以作360度的旋转，可从全方位观察器件。它的主要用途有：1、广泛应用于电子工业，比如观察电路板的构造，观察零件直接的精确距离；2、适用于制造业、精密零件以及不方便移动的物件的观察测量；3、用于生产作业线。
1、接触法：接触法是利用金相显微镜的标记对和紧靠测件测量点、线、面的万工显附件-----光学测孔器的测头连在一起的双刻线进行瞄准定位的测量方法。测量时将光学测孔器的测头紧靠件(内、外)表面。当测量孔径时，首先使测头与测件内孔接触，取得最大弦长后，使米字线中间刻线被光学测孔器的双套线套在中间，并在金相显微镜读取一数;然后改变测量方向，使测头在另一侧与测件接触，同样使米字线分划板的中间刻线仍被光学测孔器的双套线套在中间，在金相显微镜上读取另一数。两次读数的差，再加上测头直径的实际值，即为测件的内尺寸，如减去测头直径的实际值，即为测件的外尺寸。2、影像法:影像法是利用金相显微镜的标记，对影像法进行瞄准定位的测量方法。测量时，通常是先用(米字线)分划板上的刻线瞄准测件影像的边缘，并在读数显微镜上读出数值，然后移动工作台以同一条刻线瞄准测件影像的另一边，再作第二次读数。两次读数的差，就是被测件的测量值。3、轴切法：轴切法是利用金相显微镜的标记对通过测件轴心线并利用测量刀上的刻线进行瞄准定位的测量方法。金相显微镜测量刀是万工显的附件。其表面有一刻线，刻线至刃口的尺寸为0.3和0.9毫米两种，测量时，把测量刀放在测量刀垫板上，刻线面通过测件的轴线，并使测刀的刃口和被测面紧紧接触，用相应的米字线去瞄准，测量两把测刀刻线间的距离，就间接测得被测件的测量值。为了避免测量中的计算，在中间垂直米字线的两侧刻有两组共四条对称分布的平行线，每组刻线对中心刻线的距离分别为0.9和2.7毫米，它正好是测刀的刃口到刻线间的距离0.3和0.9毫米的3倍。这样用3倍物镜瞄准时，分划板上的0.9和2.7毫米刻线正好压住测刀上的0.3和0.9毫米刻线，这时测刀上的刃口正好被米字线的中间刻线所瞄准。主要用于螺纹中径测量。
[align=center][b]显微镜法测量金属和氧化物覆盖层厚度[/b][/align][b][/b][align=center]SGS 王晓卫[/align][align=left][b]1 前言：[/b][/align][align=left]在产品表面处理中，通过采用物理或者化学等方法（多数为化学方法），在金属或非金属材料的表面形成一层或多层具有一定厚度的金属和氧化物覆盖层，从而起到对产品外表美观、装饰，导电，防腐蚀等作用。[/align][align=left]覆盖层又分为金属覆盖层和氧化物覆盖层。金属覆盖层中常见的多为电镀层，如铜合金表面镀镍镀锡；氧化物覆盖层多为化学转化膜，如铝合金表面生成的氧化膜。[/align][align=left]覆盖层厚度和均匀性是表征覆盖层性能的重要参数，在科学研究、工艺控制、产品质量检测中常常对覆盖层厚度进行测量，测量方法主要有涡流法、磁性法、库仑法、显微镜法、扫描电子显微镜法、轮廓仪法，X射线法。显微镜法测量覆盖层厚度简单且直观，是较早使用的光学测量法。显微镜法测量厚度是一种破坏性测量方法，由于测量精确度高，也被作为厚度测量的仲裁方法。[/align][align=left][b]2 测量原理：[/b][/align][align=left]从待测件上切割一块试样，镶嵌后，采用适当的技术对横断面进行研磨、抛光和侵蚀。用校正过的标尺测量覆盖层横断面的厚度。[/align][align=left][b]3 测量流程：[/b][/align][align=left]取样→清洗→吹干→试样镶嵌→研磨→抛光→清洗→吹干→侵蚀→清洗→吹干→上校准过得金相显微镜观察拍照→使用测量软件，测量厚度。[/align][align=left][b]4 测试举例[/b][/align][align=left]4.1 铜合金表面电镀镍+电镀锡厚度测量[/align][align=center][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271415160847_2204_2883703_3.jpg!w690x517.jpg[/img][/align][align=left]使用双氧水氨水水溶液腐蚀，各层显示出清晰的分界面。铜合金表面电镀镍层厚度在3.3-4.6um之间，平均值为3.9um；最外层相对疏松电镀锡，厚度相对不均匀，在3.8-7.5um之间，平均值为4.9um。[/align][align=left][b]4.2 铝合金表面氧化膜厚度测量[/b][/align][align=center][b][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271416246565_4483_2883703_3.jpg!w690x517.jpg[/img][/b][/align][align=left]使用keller试剂腐蚀，清晰显示处氧化层与基体分界线。铝合金表面生成氧化膜厚度在15.3-15.8um，平均值为15.6um。[/align][align=left][b]5 测量心得[/b][/align][align=left]1．显微镜法测厚度的关键是制备符合要求的横断面。如果制备的横断面不符合要求，无论多么精密的设备都不能测量出厚度的真实值。样品横断面制备过程需考虑横断面斜度，覆盖层变形，表面粗糙度等。[/align][align=left]2．选择合适的试剂进行适当的侵蚀，在两种物质的界面上产生细而清晰地黑线，准确测量覆盖层厚度，如果不侵蚀或者侵蚀过度，界面线会不清晰或者线条变宽，产生测量误差。[/align]
[color=#666666]在过去的10年里，基本上所有的主要的显微镜制造商迁移到研究级生物医学和工业显微镜无限远校正光学系统的利用率。在这些系统中，图像的距离被设置为无穷大，并策略性地放置在物镜和目镜（目镜），以产生中间图像之间的管体的管（或奥特兰克）透镜。[/color][color=#666666][img=,433,255]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905300932346812_4874_2206495_3.jpg!w433x255.jpg[/img][/color][color=#666666][color=#666666]无限远光学系统允许引入的辅助成分，如微分干涉相差（DIC）的棱镜，偏振器和落射荧光光源，成平行的焦点和像差校正效果，只需要很少的目标和管透镜之间的光路。较早的有限，或固定管长度，显微镜有一个指定距离鼻甲开幕，客观桶固定，眼座中的目镜管。这个距离被称为机械管长度的显微镜。该设计假定，当样品被放置在焦点，它是在几微米远于目标的前焦面。在19世纪时由皇家显微学会（RMS）有限管长度在160毫米标准化，并享有广泛的接受了100多年。用显微镜具有160毫米的管长度的设计是用于目标题使用该值在枪管上。[/color][color=#666666]添加到一个固定的管长度显微镜的光路中的光学配件增加了有效的管的长度更大的值超过160毫米。出于这个原因，一个垂直的另外的反射光照明器，偏振的中间阶段，或类似的附件可以引入到出一个理想的校正光学系统的球面像差。大多数显微镜管长度固定期内，制造商被迫将这些配件额外的光学元件，重新建立有效的160毫米管长度显微镜系统。这一行动的成本常常是一个增倍镜和光照强度降低由此产生的图像。[/color][color=#666666]一些反射光系统也阻碍了“鬼影”，出现的结果会聚光线通过分光镜。在试图规避所带来的另外的辅助光学组件的构件中，德国显微镜制造商赖克特原来先驱的无限远光学系统的概念。该公司开始无限远校正光学系统试验早在20世纪30年代由莱卡和蔡司紧随其后，但这些光学大多数厂家没有成为标准设备，直到20世纪80年代。[/color][color=#666666]管子的长度在无限远校正的显微镜被称为基准焦距和范围在160至200毫米之间，取决于制造商（见表1）。通过管镜头或目标（次），实现无穷大系统中的光学像差校正。残余的横向色差在无穷大目标可以很容易地补偿小心管镜头设计，但一些制造商，包括尼康，选择正确的球形和色差物镜本身。这可能是由于开发的专有新的玻璃配方，具有极低的分散体。还有一些制造商（尤其是蔡司ICS系统）利用组合更正管镜头和目标。[/color][color=#666666]无限远光学系统参数[/color][/color][table][tr][td]生产厂家[/td][td]管镜头焦距（毫米）[/td][td]齐焦距离（毫米）[/td][td]螺纹类型[/td][/tr][tr][td]徕卡[/td][td]200[/td][td]45[/td][td]M25[/td][/tr][tr][td]尼康[/td][td]200[/td][td]60[/td][td]M25[/td][/tr][tr][td]奥林巴斯[/td][td]180[/td][td]45[/td][td]RMS[/td][/tr][tr][td]蔡司[/td][td]165[/td][td]45[/td][td]RMS[/td][/tr][/table][color=#666666]表1[/color][color=#666666]表1给出的规格，包括管镜头焦段，齐焦距离，和客观螺纹型，各大厂商所提供的无限远校正显微镜。虽然徕卡和尼康都用一根管子长度为200毫米和25毫米螺纹尺寸的客观，客观齐焦距离是与尼康CFI 60系统明显更大。奥林巴斯，蔡司使用更短的管镜头焦距（分别为180和165毫米），但两家公司有标准化的客观螺纹尺寸和坚持的齐焦长45毫米。[/color][color=#666666]固定管长度在有限的光学系统，通过物镜的光通过朝向中间图像平面（位于目镜的前焦面）和在该点的收敛，发生和相消干涉，以产生图像（图图2（a））。这种情况很不同的无限远校正光学系统中产生的磁通的目标成像在无穷远（通常简称为无穷大的空间，如图2（b）），正被聚焦在中间像平面的平行光的波列管镜头。应该指出的是，为无限远校正的显微镜设计的目标通常是不可互换的与用于有限的（160或170毫米）光管长度显微镜，反之亦然。上使用时，由于缺乏管透镜的有限的显微镜系统，无限远透镜遭受增强的球面像差。然而，在某些情况下这是可能的，利用有限的目标在无限远校正的显微镜，但具有一些缺点。的数值孔径的有限目标受到损害，当它们被用来与无穷大系统，从而导致分辨率降低。此外，齐焦之间的有限和无限远的目标，在同一系统中使用时，丢失。有限目标的距离和放大倍率的工作也将下降，当它们被用来用显微镜具有管透镜。[/color][color=#666666]正如上面所提到的，基本是无穷大系统的光学元件的目的，管透镜和目镜。如在图2（b）所示，试样的目标的前焦面，收集从试样的中央部透过或者反射的光，并产生一个平行光束沿着光轴的投影位于向管透镜显微镜。的光的一部分到达目标源于试件的外周，并进入在斜角度，斜地前进的（但仍然在平行束）向管透镜的光学系统。管透镜收集的光，然后集中在中间像平面中，并随后由目镜放大。[/color][color=#666666][color=#666666][img=,349,331]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905300932406995_913_2206495_3.jpg!w349x331.jpg[/img][/color][/color][color=#666666][color=#666666][color=#666666]物镜与镜筒透镜一起形成的化合物的物镜系统，在一个有限的距离内的显微镜镜筒中生成的中间图像。管透镜的位置相对于目标的首要关心的问题是设计时无限远校正的显微镜。物镜与镜筒透镜（无穷大的空间）之间的区域中提供了一个路径到复杂的光学元件，可放置的引入的物镜焦距的球面像差或修改的情况下，平行光线。实际上，齐焦匹配的集合中的不同的目标之间可以保持与无限远校正的显微镜，即使当被添加到一个或两个辅助元件的光路。另一个主要的好处是配件的设计可以产生精确的倍值，而不改变物镜与镜筒镜头之间的对齐。此功能允许比较样品，使用的组合的几种光学技术，如荧光（单独或同时）相衬或DIC。这是可能的，因为成一组平行的光波下的光学配件的位置（横向或轴向），也没有图像的焦点不会移动。[/color][color=#666666]如果管透镜位于非常接近的目标，可用于辅助光学组件的空间量是有限的。然而，有一个上限，可以位于在现代显微镜设计的约束内管透镜和物镜之间的光学元件的数量。太多的目标配管透镜周收集的光波通过透镜的数量减少，从而导致中变黑或边缘模糊的图像，并减少显微镜的性能。应当强调的是，术语的无限远光学系统是指生产的磁通平行的右射线通过物镜后，没有一个是无限空间内的显微镜。为了最大限度地提高显微镜的配置的灵活性，同时保持高的性能，这是必需的优化的目标和管透镜之间的距离。[/color][color=#666666]放大倍率的计算方法是将基准焦距（管长）由物镜的焦距无限远校正目标。管透镜的焦距增加，到中间像平面的距离也增加，这将导致在一个延长了的管的长度。管长度200毫米和250毫米之间被认为是最优的，因为更长的焦段会产生较小的离轴角对角的光线，降低了系统的文物。管的长度越长，也增加了系统的灵活性方面设计配套部件。[/color][color=#666666]比较具有160毫米和200毫米的管透镜的焦距（图3）的系统时，一个较长的管透镜的焦距的优点变得明显。减少离轴对角线波磁通角接近长焦距光学系统的一个显着比例。减少的倾斜角的光线产生相对较小的附件组件（DIC棱镜，相位环，二向色镜等），从而提高了效率，在显微镜通过在这两个轴上和离轴光线的变化。戏剧性的提升归因于在无限远校正系统观察到与外延荧光照明的对比度水平光管较长的镜头焦段优势。的改善，与无限远光学显微镜观察到的图像的一个例子是在图4中示出了鼠小肠三个荧光染料标记的薄截面。显微照片记录尼康的Eclipse E600利用CFI 60石油20倍油浸物镜数值孔径0.75微分干涉对比和落射荧光模式同时运行。[/color][/color][/color][color=#666666][color=#666666][color=#666666][img=,308,283]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905300932401782_6880_2206495_3.jpg!w308x283.jpg[/img][/color][/color][/color][color=#666666][color=#666666][color=#666666]与无限远系统的物镜的焦距必须增加，以保持相同的放大倍数时，较旧的固定管长度系统。使用共焦距为45毫米，是多年的显微镜制造商所使用的所有与有限的管长度系统，但高性能无限远校正光学系统，这可能是不够的。例如，可以有计划复消色差的油浸物镜60X（表现最好的有限目标之一）超过10个单独的透镜元素和组，在一个非常紧张的适合目标约束的齐焦距离为45毫米。当管透镜的焦距变得无穷大系统所取代，它被细分成一个单独的目标（与一个更大的一些光学元件）和管透镜，相当于约150毫米。为了满足全光的潜力无穷大系统，客观的齐焦距离必须管镜头焦距相匹配。因此，对于一个200毫米的焦距，最佳的齐焦距离为60毫米，超过旧的标准化了15毫米的长度。[/color][color=#666666]无限远光学系统中使用的焦段更长的客观要求来匹配相应的更大的工作距离。增加物镜齐焦距离是最重要的工作距离实现了显着的增加，特别是对于较低倍物镜。比如，用1X的物镜中，所用的公式来计算倍率为无限远校正系统支配管透镜，物镜焦距应该是相同的。在一个系统中与管200毫米镜头焦距，这将需要一个较长的齐焦距离，才能使用这种低倍率的目标。计算表明，低至0.5倍的倍率，可以得到与200毫米的管透镜的焦距，但较短的焦距限制稍高于1倍的范围内的值的最小的物镜放大倍率。[/color][color=#666666]另一个要考虑的是，这也必须增加，为获得最佳性能，在具有长管透镜的焦距的光学系统的低倍率的目标的客观的瞳孔直径。RMS标准客观螺纹尺寸，20.32毫米，限制了有效的瞳孔直径可达到的最大数值孔径配备目标。为了产生更高的数值孔径长管镜头焦段正在利用时，客观上螺纹尺寸必须增加。要达到所需的数值孔径的实际出射光瞳直径（D）由下式表示：[/color][color=#666666]D = 2NA×F[/color][color=#666666]其中NA是数值孔径和 f 是物镜的焦距。因此，对于具有100毫米（利用一个200毫米焦距管透镜）的数值孔径为0.10的焦距的2倍复消色差物镜，必要的出射光瞳直径（D）为20毫米。显然，一个较小的目标的螺纹大小限制在低于10倍的无限远光学系统设计时的放大倍率物镜的数值孔径。高于200毫米的管长度增加，需要更大的目标，出射光瞳的大小，这样的无限远校正的显微镜的式样的一个限制因素。[/color][color=#666666] [/color][/color][/color]
科研级[url=http://www.f-lab.cn/microinjectors/minj-1000.html][b]显微微量注射系统[/b][/url]是全球首款使用倒置显微镜的[b]显微注射器系统[/b]和整套[b]微量注射系统[/b]，广泛用于生命科学，分子生物学等领域[b]显微微量注射实验[/b]。[b]显微微量注射系统[/b]包含我公司著名的[b]显微注射器[/b]，脉冲宽度控制模块（PCM）,显微注射针,品牌倒置显微镜和显微操作器等。作为Narishige公司和奥林巴斯公司产品集成商,我们采用Narishige公司显微注射器和奥林巴斯显微镜或其它生产商（OEM）解决方案，以超级优惠价格为客户提供集成显微微量注射系统。[img=显微微量注射系统]http://www.f-lab.cn/Upload/MINJ-1000-L.JPG[/img][img=显微微量注射系统]http://www.f-lab.cn/App/Tpl/Home/Default/Public/images/grey.gif[/img][b]显微微量注射系统特色和优势在于我们提供定制[/b]载玻片支架，提供更好手动显微控制功能和精度，为您配备电控显微操纵杆式显微操纵器，与其他系统相比可以节省数千美元。[b][url=http://www.f-lab.cn/microinjectors/minj-1000.html]显微微量注射系统[/url]特点：[/b][list][*]较小的尺寸节省安装空间。[*]卓越的光学品质。[*]为DIC类图像定制的霍夫曼调制对比度（HMC）光学系统[*]用于照片和视频文件提供三目头。[*]备有用于检测绿色荧光蛋白，DAPI，罗丹明等的荧光系统[/list][img=显微微量注射系统]http://www.f-lab.cn/App/Tpl/Home/Default/Public/images/grey.gif[/img]
一、概 述 4XC-BW金相显微镜用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组合结构，广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定；原材料的检验或材料处理后的金相组织分析；以及对表面喷涂等一些表面现象进行研究工作。是钢铁、有色金属材料、铸件、镀层的金相分析；地质学的岩相分析；以及工业领域对化合物、陶瓷等进行微观研究的有效手段，是金属学和材料学研究材料组织结构的必备仪器，也广泛应用于生物、医学和教学等领域。越来越多的研究已不满足常规的金相显微及照相方式，将显微成像输入微机，由微处理器对图像作各种后期处理，是同步于当今世界在显微领域新技术。图像金相显微镜，接入了高清晰度的CCD摄像系统，由计算机对图像进行处理、编辑、保存和输出（如打印等）或进入多媒体系统及电子信箱。如果进一步接入图像分析计算机操作系统，还可以进一步对金相图谱进行研究分析，或对图像作精密测量，及多功能的图像形态分析、统计及输出图文报告。《金相自动分析系统2014》是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统，它的基本原理是：用视频采集卡或数码相机等硬件设备，采集到金相显微镜中的金相图片，再对该图片进行处理和分析，得到相关检验结果。 二、金相显微镜4XC-W技术参数 名 称规 格配置主 机 4XC-BW倒置金相显微镜主机●观 察 筒 铰链式双目镜筒，30°倾斜；● 三目镜筒，瞳距和屈光度可调目 镜 10X/Φ18mm 平场场目镜；●物镜转换器 四孔物镜转换器●长焦距平场消色差物镜 10X/0.25 有效工作距离：8.9mm● 20X/0.4 有效工作距离：3.75mm● 40X/0.65 有效工作距离：2.69mm● 100X/0.90 有效工作距离：0.44mm●调焦机构 粗微动同轴调焦 微调格值：0.002mm● 行程(从载物台表面焦点起）：30mm●载 物 台 台面尺寸：200mm×152mm● 平台压片壹只● 小平台：小孔、大孔各一●机械移动平台 移动范围：15mm×15mm●照 明卤素灯20W/6V，中心、光亮度连续可调● ●附件 物镜测微尺（精度为0.01mm）● 0.5X适配镜● 300万像素● 金相自动分析系统● 三、图像金相显微镜4XC-BW配置1、金相显微镜4XC2. 图像适配镜3. 图像传感摄像机4. 金相分析软件5、电脑和打印机（选配）《金相自动分析系统2014》 软件介绍一、简介金相分析软件是我单位联合材料学院联合开发，最新跟新到2014版本，现有金相组织模块438个，覆盖了现有的所有金相检验.详见金相模块目录。金相图像分析系统配置的“专业定量金相图像分析计算机操作系统”对采集的试样图谱进行处理和实时比对、检测、评级、分析、统计及输出图文报告。软件融合了当今先进的图像分析技术，为金相显微镜和智能分析技术的完美结合，系统测量、评定结果快速、正确，符合国标(GB) 和其它相关行业标准 (JB/YB/HB/QC/DL/DJ/ASTM 等)。系统全部中文界面，简洁明了和操作方便，经过简单培训或对照使用说明书，就可自如操作。并为学习金相常识和普及操作提供了快捷方法。二、主要功能：◇图像编辑软件：图像采集，图像存储等十多种功能；◇图像软件：影像增强，图像叠加等十多种功能；◇图像测量软件：周长、面积、百分含量等几十种测量功能；◇输出方式：数据表格方式输出，直方图输出，图像打印输出。专用金相软件包：◇晶粒度测量评级（晶界提取，晶界重建、单相、双相、晶粒度测量、评级）；◇非金属夹杂物测量、评级（其中包括硫化物、氧化物、硅酸盐等）；◇珠光体、铁素含量测量、评级；球墨铸铁石墨球化率测量评级；◇脱碳层、渗碳层测量，表面涂层厚度测量；◇焊缝熔深度测量◇铁素体、奥氏体型不锈钢中相-面积测量；◇高硅铝合金初晶硅与共晶硅分析；◇钛合金材料分析……等；◇包含进行比对的近438种常用金属材料的金相图谱，适应绝大多数单位金相分析和检验的要求；◇鉴于新材料和进口牌号材料的不断增加，对于软件中尚未录入的材料及评定标准，可以度身定制和录入。《金相自动分析系统2014》 软件介绍一、简介金相分析软件是我单位联合材料学院联合开发，最新跟新到2014版本，现有金相组织模块438个，覆盖了现有的所有金相检验.详见金相模块目录。金相图像分析系统配置的“专业定量金相图像分析计算机操作系统”对采集的试样图谱进行处理和实时比对、检测、评级、分析、统计及输出图文报告。软件融合了当今先进的图像分析技术，为金相显微镜和智能分析技术的完美结合，系统测量、评定结果快速、正确，符合国标(GB) 和其它相关行业标准 (JB/YB/HB/QC/DL/DJ/ASTM 等)。系统全部中文界面，简洁明了和操作方便，经过简单培训或对照使用说明书，就可自如操作。并为学习金相常识和普及操作提供了快捷方法。二、主要功能：◇图像编辑软件：图像采集，图像存储等十多种功能；◇图像软件：影像增强，图像叠加等十多种功能；◇图像测量软件：周长、面积、百分含量等几十种测量功能；◇输出方式：数据表格方式输出，直方图输出，图像打印输出。专用金相软件包：◇晶粒度测量评级（晶界提取，晶界重建、单相、双相、晶粒度测量、评级）；◇非金属夹杂物测量、评级（其中包括硫化物、氧化物、硅酸盐等）；◇珠光体、铁素含量测量、评级；球墨铸铁石墨球化率测量评级；◇脱碳层、渗碳层测量，
生物显微镜测量问题
本实验室欲求购 质量较好的 光学显微镜+摄像系统一套。初步考虑奥林巴斯，有其他高质量也可。预算2-3万。 用途：观察藻类等，目镜 物镜要求 10*14,10,20,40,100。带标尺。要求成像清晰度要好，立体结构观察清晰，拍摄清晰。 请大家帮忙推荐一下型号，谢谢了！
菜鸟求助，奥林巴斯BX51系统显微镜，为什么不叫生物显微镜？系统显微镜指的是什么？什么是系统显微镜？
谁知道那有非接触式表面三维形状测量显微镜？垂直Z方向要0.1微米级的，X,Y方向需要厘米级别的。我是想租用，基恩士有一款，不知道哪个实验室或者测量单位可以提供这个服务？
本实验室欲求购 质量较好的 光学显微镜+摄像系统一套。初步考虑奥林巴斯，有其他高质量也可。预算2-3万。用途：观察藻类等，目镜 物镜要求 10*14,10,20,40,100。带标尺。要求成像清晰度要好，立体结构观察清晰，拍摄清晰。请大家帮忙推荐一下型号，谢谢了！
本人参加过某行业的理化检测机构质量监督检查，凡是测量布氏硬度压痕直径的读数显微镜，没有单独进行计量检定的，都打了不符合项。而维氏硬度计上的由于不能独立使用，不是一件单独的计量器具，则不需单独检定。
[align=center][b][size=16px]电子/半导体行业显微镜应用案例分享：常见问题迎刃而解！[/size][/b][/align][align=center][size=16px]会议时间：2021年6月16日10:00[/size][/align][size=16px][b]内容介绍：[/b]随着5G的普及，半导体工件的精细化不断发展，对产品的检测、分析要求也越来越高。此次介绍拥有丰富的数码显微镜在IC行业的观察案例（如：BGA、线绑定结合、接触式探针等技术信息以及观察案例）、同时会介绍对于传统显微镜的各种拍摄难点和解决方案。这对从事半导体行业的客户以及使用到显微镜的客户带来帮助。[b] 讲师介绍： 夏天齐:[/b]基恩士公司显微/3D测量系统部门，显微镜技术负责人，负责数码显微镜的技术支持工作。[/size][size=16px][b]报名地址：[/b][url]https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_19722.html[/url][/size][size=18px][color=#ff0000][b]观看讲座的用户即有机会获得基恩士准备的精美礼品一份。[/b][/color][/size]
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第一章 显微摄影的准备和观察一． 显微摄影装置1． 适合显微摄影的显微镜(1) 照相目镜筒要能承受住显微摄影装置的重量。(2) 通过双目镜筒，能对图象进行对焦。(3) 使用光路选择移动杆（Optical Path Selector），能将光亮调到适合标本需要的强度。(4) 物镜要有高分辨率和良好的平场性（整个圆形视场图象都在一个平面上）。(5) 载物台能够移动。(6) 聚光镜带有孔径光阑和调节光轴中心的机构。(7) 显微镜要有视场光阑。(8) 光源要保证有足够的亮度，可以按照观察和 摄影的需要来调节光亮强度。物镜从低倍到高倍变化时，要求光亮度都能均匀。(9) 要能够安装滤色镜 。2． 适合显微摄影的显微摄影装置(1）显微摄影装置一般有：A. 手控曝光显微摄影装置：包括专为显微摄影用的不带镜头的镜箱。需要目测或测光表，测出光值后，先推出正确的曝光时间，再进行手控曝光。如OLYMPUS 老型号的PM-6，PM-10-35和测光表EMM-7。B. 单镜头反光镜箱显微摄影装置。如OLYMPUS OM系列，镜箱内有内测光系统，可以自动曝光。C. 自动曝光显微摄影专用装置。具有自动卷片、自动测光、自动控制曝光以及测量色温和倒易律失效的补偿等功能。如OLYMPUS PM-10-AD系列，PM20/30系列。(2）显微感光记录的方式一般有：A. 35毫米卷片照相记录。B. 120卷片照相记录。C. 4X5英寸，大画面单页片照相记录。D. 31/4X41/4英寸、4X5英寸等尺寸规格的一步成象（Polaroid Film）的照相记录。E. 16毫米的电影摄影记录。需要注意的一点是：只要有合适的显微镜照相连接器（附有观察、取景装置），不论是生物显微镜、临床显微
向各位请教一下，如果用金相显微镜来测量一般金属器件上的镀层，显微镜需要如何配置？ 需要用到暗场功能吗还是仅用明场就够了？ 物镜需要多大，60X够了吗？
[url=http://www.f-lab.cn/microscopes-system/storm.html][b]实时超分辨率显微成像系统[/b][/url]突破了光学显微镜的半波长分辨率极限,提供了比宽视场,共聚焦显微镜更好分辨率。实时超分辨率显微成像系统采用尼康或奥林巴斯显微镜，Chroma 滤波片,Andor公司EMCCD相机以及独特的照明系统，为客户提供全球同步的超分辨率成像系统。[img=实时超分辨率显微成像系统]http://www.f-lab.cn/Upload/storm-2.JPG[/img][b]实时超分辨率显微成像系统特点[/b]横向分辨率可达20nm,轴向分辨率可达40nm实时和线下图像重建GPU加速处理图像先进的自动聚焦硬件高分辨率X-Y-Z工作台灵活的配置[img=实时超分辨率显微成像系统]http://www.f-lab.cn/Upload/storm-1.JPG[/img]实时超分辨率显微成像系统：[url]http://www.f-lab.cn/microscopes-system/storm.html[/url]
http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101211039_275340_2228723_3.jpg 此LCD数码显微镜是新一代的数码显微镜，它包含一个嵌入式操作系统Windows CE，8.4”TFT触摸屏，友好的人机界面，强大的图像处理功能(包括实时预览，动态标定和测量等)，多种外围设备接口，舒适的人体工学设计，非常容易操作，使其成为新一代的显微镜。并成为您教学、科研、电子检测等方面的优秀助手。 主要特点 1. 内置嵌入式操作系统Windows CE5.0，可连接鼠标或键盘，就像一台微型电脑; 2. 8.4英寸LCD屏幕，带来明亮生动的视野， 可多人同时观察。 3. 友好的人机界面，可通过鼠标、键盘或触摸屏来操作; 4. 内置200万像素摄像头，提供高品质图像; 5. 拥有国际先进技术的功能强大的软件。可支持实时预览、动态标定和测量，可捕捉及保存图像和视频; 6. LCD屏幕可上下30°转动，左右可180°旋转，使得观察更方便，适合于长时间的观察; 7. LCD屏幕为触摸屏，操作更方便; 8. 支持多种接口，如VGA，USB，SD卡，RCA， Mini USB，音频接口的等等; 9. (新)支持100M以太网，和WI-FI无线网络，可与计算机通讯，并为多媒体互动打下基础; 10. 图像和视频可捕捉下来并保存到SD卡中，可以后续分析使用; 11. 自动测量，测量结果实时显示; 操作环境 · 核心电压：1.2V · I/O电压：2.5V/3.3V · 5V Min USB口电源适配器 · 电源LED指示灯 · 简体中文或者英文WINCE 5.0操作系统 · Media Player播放软件 · 可根据客户需要来选用Word Excel等应用软件
英徕铂显微硬度计是光机电一体化的高新技术产品，该硬度计造型新颖，具有良好的可靠性、可操作性和重复性，是测试显微硬度的理想产品。采用 C 语言编制程序，高倍率光学测量系统和光学双通道结构，光电、光偶传感等新技术。通过按键操作，在按键上能输入测量压痕的长度、在 LCD 屏幕上能显示硬度值、换算标尺、试验力、试验力保持时间和测量次数等。还可根据用户特殊需求配置，能对所测压痕和材料金相组织进行拍摄、视屏测量装置和压痕自动测量装置以及努氏硬度的测定。[align=center][img=,300,236]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/05/202305271523525551_7090_5568994_3.png!w690x543.jpg[/img][/align]一、试样1、表面必需清洁，如果表面沾有油脂和污物，则会影响测量准确性。在清洁试样时，可用酒精或乙醚抹擦；2、当试样为细丝、薄片或小件时，可分别用细丝夹持台、薄片夹持台及平口夹持台夹持，放在十字试台上进行测试；如果试件很小无法夹持，则将试件镶嵌抛光后再进行试验；3、要保证试验的正确性，必须要保证试样的厚度。根据国家标准的规定试件的厚度必须不小于压痕深度的 8～10 倍，以下提供几种方法以确定厚度是否满足规定。【直接观察法】将试件按照规定的要求进行试验，待试验结束观察其试件的边缘和背面（支持面）是否出现变形的痕迹。如果有痕迹出现，试验的结果无效。说明试件的厚度太薄不能满足试验的要求，这时有二种选择，一是重做试件，有些零件不能改变。二是选择较小的试验力，这也只能在规定的要求内进行。【公式计算法】维氏硬度试件厚度的计算公式：h≈d/7。【查表法】可查表：试样最小厚度和检测力选用表二、目镜1、由于各人的视差，观察测微目镜视场内的刻线可能模糊，因此观察者换人时，应先微量转动目镜上的眼罩，使观察到视场内的刻线清晰；2、测微目镜插在目镜管内，要注意应插到底，不能留有间隙，否则会影响到测量的准确度，当测量压痕对角线时，须测量其顶点，然后转 90°再测量另一对顶点；3、每次开机必须重新对零点。三、选择试验力与压痕大小在测量维氏硬度时，只要试件条件允许，尽量使用大试验力，测量相对比较准确。一般是硬材料用较大的试验力；软材料用较小的试验力。按照习惯，压痕对角线长度在 50um 左右时测量最方便，但也要考虑材料的厚度。参考：材料厚度≥1.5×压痕对角线长度。例如：材料厚度=0.1mm，则压痕对角线长度不能大于 0.066mm。这里满足：0.1≥1.5×0.066【英徕铂】英徕铂ENLAB，物性检测仪器品牌，为国内市场提供数百种物性检测仪器，为科研工作者提供检测仪器解决方案与服务
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