干涉衍射实验装置

多功能光栅光谱仪实验装置，YTR-6308简介YTR-6308多功能光栅光谱仪是一款以光栅作为分光元件的光谱仪，其基本原理是当不同波长的光束以相同的入射角入射到光栅上时，不同波长的光束同一级衍射的主极大位置不同，从而达到分光的目的。其优点是具有较宽的光谱测量范围和较高的分辨率，综合性能突出，是目前使用最为广泛的光谱仪器。该光栅光谱仪专为物理实验教学开采用开放式的结构设计，学生可以直观的观看光谱仪的内部光路和结构。同时采用了光电倍增管和线阵式CCD作为光电传感器，既可以获得高分辨率光谱，也可以快速获得宽光谱。使学生更加充分理解和掌握光谱仪的工作原理。该仪器可以很好的使用在氢氘光谱实验，钠原子光谱等实验。特点对称式C-T光路结构，采用可视化的结构设计，帮助学生理解和掌握光谱仪结构组成和工作原理双光路设计，分别使用高品质光电倍增管和线阵CCD作为光电探测器，使得学生更能深入的理解和掌握探测器的性能和实验仪器优缺点和用途专业的光谱分析实验软件，包含：光谱测量、透过率测量、反射率测量、吸光度测量和色度学测量等多种实验模块（有些实验模块需要另配附件）实验内容热辐射光源光谱测定波长准确性的测定和修正氢原子光谱测定及里德堡常量测量吸收光谱的测量CCD测量的波长定标颜色测透过率测量吸光度测量浓度测量透镜焦距测量实验，YGP-6212简介YGP-6212透镜焦距测量实验学习的知识点有几何光学基本定律、透镜成像、显微镜、望远镜。几何光学是光学的重要分支之一，它的应用十分广泛，尤其是在设计光学仪器的光学系统等方面显得十分方便和实用。透镜作为光学仪器的基本元件，可以组建各种光学系统，在成像系统、图像摄取、遥感等领域中已经得到广泛应用。光学显微镜是一种常见的助视光学仪器，它对推动科技进步，尤其是生物学和医学，起到了重要作用；望远镜是另一种常见的助视光学仪器，它对天文学及物理学的发展起到了重要的推动作用。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求（2023版）》中透镜焦距测量实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点器材丰富，可以组建各种光学系统；实验内容满足分层次教学要求；通过配置COMS相机及相应的软件，使实验既有鲜明的数字化特点，又保留了手动读数的特色实验内容a)基础内容用自准直法、位移法测量凸透镜焦距；物像距法测量凹透镜焦距。b)提升内容自准直法测量凹透镜焦距；光学成像系统共轴的粗、细调节；透镜成像的景深、成像位置判断与视差消除。c)进阶内容用薄透镜自组显微镜和望远镜；探究常用显微镜结构和性能参数。d)高阶内容观测凸透镜的球差和色差；观测显微成像系统的像散。光的干涉和衍射实验，YGP-6213简介光的干涉和衍射现象是波动光学的重要内容。光干涉现象曾经是奠定光波动性的基石，在波动光学中有重要的意义。而光衍射现象，则是光束传播中，几何光学无法解释的现象，是光波动性的主要标志之一。研究光的干涉和衍射不仅有助于进一步加深对光的波动性的理解，同时还有助于进一步学习近代光学实验技术，如光谱分析、晶体结构分析、全息照相、光信息处理等。本实验同时用单缝、多缝、圆孔、方孔等进行实验，能够明显地展现出衍射、干涉的特征，并利用光强分布探测器测量光强的相对分布，实时给出光强与位置的关系曲线，以及用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况，实现实验的数字化。特点采用光强分布探测器，无需扫描结构，实时测量光强一位置的分布曲线，响应时间最快可达毫秒级。利用光强分布探测器可以精确测量8级以上衍射条纹，位置测量精度可达0.01mm。利用面阵相机可以研究衍射图像的两维光强分布情况。一体化狭缝组设计，切换方便，易于实验。实验内容a) 基础内容 研究激光通过双缝后形成的干涉图案，测量双缝形成的干涉光强分布，说明干涉条纹的极大值位置与理论预见的一致性。 研究激光经过单缝后形成的衍射图案，测量单缝形成的衍射光强分布，说明衍射条纹的极小位置与理论预见的一致。b) 提升内容 研究激光通过多缝后形成的干涉图案，理解多缝衍射与多光束干涉的原理。c) 进阶内容 观察激光经过圆孔和方孔后的衍射现象，利用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况。d) 高阶内容 利用COMS相机研究激光经过多孔后形成的衍射图案，利用COMS相机研究衍射图像的两维光强的分布情况光的偏振实验，YGP-6214简介光的偏振现象是波动光学的重要内容。利用这种现象研制的各种光学元件和仪器，在探测物质结构、激光与光电子技术领域有着极其重要和广泛的应用。YGP-6214光的偏振实验装置主要包含：光传感器、转动传感器、激光光源、精密调节架、升降调节架、连接杆、托板和观察屏组成。该实验装置利用先进的传感器技术和智能软件，可以实现连续的数据采集和实时绘制实验数据曲线，极大的提升了实验效率，使学生将更多的精力用于实验本身的原理学习、数据分析和结果讨论上，更加能够透彻的学习、理解和掌握实验。特点无线光传感器，USB2.0和蓝牙通讯，3档可调，适用于不同强度光源的测量。无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。安全的激光光源。数字实验室分析软件，编辑性强，通用程度高。实验内容理解和掌握偏振片的基本原理，使用方法。理解和掌握激光器的偏振特性。通过研究和验证马吕斯定律，掌握光的起偏和检偏原理和方法。研究3片偏振片光强与偏振片角度的关系曲线，进一步掌握光的偏振特性。等厚干涉实验（含牛顿环实验），YGP-6215简介YGP-6215等厚干涉实验（含牛顿环实验）学习的知识点有牛顿环、等厚干涉、光程差、曲率半径。牛顿环和空气劈尖的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用，它可以用于检测透镜的曲率，测量光波的波长，精确的测量微小长度、厚度和角度，检验物体表面的光洁度、平整度等。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求（2023版）》中牛顿环实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点开放的构架，可以让学生看到所用镜片的类型和位置。可以让学生练习搭建各种光学系统。配套有测微目镜与CMOS相机两种读数方式，即实现实验数字化的同时，保留了传统手动读数的方式。多种光源，更多的分立器件，便于师生开展各种探索研究，比如：同时观察透射和反射的牛顿环，波长测量等实验内容a)基础内容测定平凸球面透镜的球面半径。b)提升内容用劈尖干涉测量细丝直径。c)进阶内容测定平凹球面透镜的球面半径。d)高阶内容用透射和反射两种方法观察牛顿环，并测量绿光、紫光、黄光的波长。更多精彩，请关注下方！的P-tP

Difrotec点衍射激光干涉仪-大口径（≥700mm）高精度（≤0.6nm RMS） 姓名：陈工(Jack)电话：（微信同号）邮箱： Difrotec点衍射激光干涉仪--大口径（≥700mm）、高精度（≤0.6nm RMS），不需要出口许可。Difrotec公司专注于高精度光学表面测绘领域产品的研发。拥有超过30年的激光干涉仪系统研发经验。上海昊量光电设备有限公司为Difrotec公司在国内的总代理商，为客户提供专业的技术咨询及商业服务！ Difrotec公司开发、设计和制造了市场上首台商用点衍射激光干涉仪。该系统具备结构紧凑，用户界面友好，自动测量光学表面面形和光学系统透射波前质量等功能。Difrotec公司开发的点衍射干涉仪具有大口径（≥700mm）,高精度（≤0.6nm RMS）等特点。我们是一家以客户需求为导向的公司，根据客户的需求集思广益，提供合适的解决方案。 Difrotec公司的点衍射激光干涉仪广泛应用于平面，球面，非球面等面型的检测。点衍射激光干涉仪产品特点：绝对测量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000)波前重复精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)Simple RMS repeatability: 0.06 nm (λ/10500)数值口径 NA: 0.55 (f# 0.91)数据采集: phase-shifting interferometry (PSI)大口径：Up tp 700mm不需要出口许可点衍射激光干涉仪测试案例：

仪器简介：本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，以测定其离面位移的新型，先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。 仪器特点：自己调节光路，可提高动手能力； 采用了最新处理光学信息的CCD测量技术 计算机处理图象，软件操作简便 可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。 成套性：CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。技术参数：本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，以测定其离面位移的新型，先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。 仪器特点：自己调节光路，可提高动手能力； 采用了最新处理光学信息的CCD测量技术 计算机处理图象，软件操作简便 可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。 成套性：CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。主要特点：本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，以测定其离面位移的新型，先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。 仪器特点：自己调节光路，可提高动手能力； 采用了最新处理光学信息的CCD测量技术 计算机处理图象，软件操作简便 可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。 成套性：CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。

仪器简介：WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点：本系统采用导轨式实验结构，使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制，是实验过程简便 成套性：主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统主要特点：WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点：本系统采用导轨式实验结构，使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制，是实验过程简便 成套性：主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统

主要特点：仪器特点：该仪器具有良好的整体性特色、电源、光局座和存放调整架的工具箱有机结合在了一起。使实验的安排和整理工作更加简洁和明晰。该仪器可开设实验有：夫郎和费单缝衍射实验，夫郎和费圆孔衍射实验等多项衍射实验。成套性：导轨、二维调整架、多孔架、单面可调狭缝、读数显微镜架、低压钠灯、透镜三片、测微目镜、衍射板组

主要特点：仪器特点：该仪器具有良好的整体性特色，电源，光具座和存放调整架的工具箱有机的结合在了一起。使实验的安排和整理工作更加简洁和明晰。可开设实验：菲涅尔单缝衍射实验菲涅尔圆孔衍射实验菲涅尔直边衍射实验等多项菲涅尔类实验成套性：导轨、二维调整架、干板架、白屏、多孔架、单面可调狭缝、氦氖激光器、透镜、刀片。

概述： 光干涉式甲烷测定器检定装置主要用于对光干涉甲烷测定器进行定期检定和日常校准。（检测0～10%或者0～100%光干涉甲烷测定器），完全符合国家标准、检定规程要求，采用高精度变送器，具有测量准确度高、稳定可靠。操作简单、检定方便、经济实用等特点。 符合 JJG 677-2006 光干涉式甲烷测定器检定规程要求。主要技术参数：1、主要型号： A型：FMS-Ⅰ/10光干涉甲烷测定器检定装置10%， B型：FMS-Ⅰ/100光干涉甲烷测定器检定装置100%，C型：FMS-Ⅰ双量程光干涉甲烷测定器检定装置；2、温度：（0～50）℃ 基本误差：±0.5℃；3、测量范围：A型和C型：0Pa～8000Pa，±8Pa（检测0～10%光干涉甲烷测定器），B型和C型：0KPa～65Kpa，±0.06kPa（检测0～100%光干涉甲烷测定器）；4、湿度测量范围：（0～100）%RH, 基本误差：3%RH； 5、手摇泵：最大可加压力±150kPa；6、触摸屏同时显示压力，温度，湿度，和甲烷浓度，带压力和温度自校功能。 概述：利用气体自然扩散原理，在保持箱内甲烷浓度不变的同时，光干涉式甲烷测定器检定装置箱内外的压力能自动平衡，具有重量轻、外形美观等特点。主要用于作光干涉原理甲烷测定器的扩散试验。满足MT 28-2005《光干涉式甲烷测定器》、JJG 677-2006《光干涉甲烷测定器》要求。主要技术指标：1. 箱内外压力差：＜10Pa；2. 压力平衡时间：＜2min；3. 每次可试验台数：≥12台；4. 甲烷浓度保存时间：＞10h。

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

仪器简介：该仪器主要利用导轨、支架及光学组件、如双棱镜分成两束光，将两束光相遇产生的明暗相间的干涉条纹用读数显微镜测出条纹间距，再用二次成像绘测出一大、一小两个缝像（即虚光源S1、S2）之间的距离代入公式即可。技术参数：成套性：导轨、二维调整架、干板架、白屏、单面可调狭缝、低压钠灯、双棱镜、牛顿环、透镜、读数显微镜、双缝

平面全息光栅全息光栅通常用于对杂散光的应用中。其基底镀有光敏材料，将有光敏材料涂层的基板置于由激光器产生的单色光和相干光束组成的相交光束之间，使光敏材料感光。相交激光束产生一系列平行且等距的干涉条纹，条纹强度按照正弦曲线形状变化。由于光敏材料的溶解度由对其照射的光强决定，干涉条纹显示了光敏材料表面不同光强。然后可以对基底镀反射膜然后用与复制刻划的原始光栅相同的过程用于复制。由于全息光栅刻线形状以及刻线间距是完全一致的，所以产生的杂散光远少于刻划光栅。全息光栅可以采用两种凹槽轮廓，正弦和闪耀。 刻线600~4500Lines/mm闪耀波长150-1000nm尺寸公差±0.5mm材料K9镀膜铝类型反射衍射光栅 编号刻线密度光谱范围闪耀或峰值波长刻划面积（l/mm）（nm)（nm）（H×W mm2）GH-1111200190-80022064×64GH-1121800190-100025064×64GH-1132400190-80025070×100GH-1143600170-50019070×100GH-1154321160-45017058×58注：以上参数仅供参考，详情请咨询客服人员。

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。在工业领域，不同设备使用的环境不同、接触的介质不同，使得设备腐蚀产生的原因千差万别，腐蚀会严重影响其使用寿命，更甚者会引起资源泄露和环境污染。过去，维护团队需要将被腐蚀样本送到远离现场的实验室进行分析，费时费力且成本较高。映SHINE便携式X射线衍射仪（金属腐蚀物版）可对设备金属腐蚀物进行现场检测，通过快速分析其晶体结构来识别和定量腐蚀以及结垢物，帮助工程师了解腐蚀产物形成原因，降低时间成本，从而采取进一步措施来阻止或减缓腐蚀的发生。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，轻便小巧，方便携带，可在金属腐蚀物的所在地进行全面的原位检查，带来极大的便利性和高效性。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测，无需额外注意高压系统和水循环冷却系统（仪器无额外高压和水循环冷却系统）。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB，蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。集成性SHINE便携式X射线衍射仪中集成XRD和定性X射线荧光（XRF）分析技术，可以无缝集成数据和结果，从而促进检测结果更加精准。应用场景管道设备结垢和腐蚀物分析石油管道、天然气管道等工业厂区的淤泥沉积物分析精炼厂、金属材料厂等工业设备腐蚀失效分析工业锅炉、机械设备等规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

双量程光干涉甲烷测定器检定装置产品简介双量程光干涉式甲烷测定器检定装置主要用于检定和校准矿用光干涉甲烷测定器，符合JJG677-2006《光干涉甲烷测定器》检定规程和MT28-2005《光干涉甲烷测定器》标准要求。是计量检测机构或各大矿务局、煤矿对矿用光干涉甲烷测定器，进行周期校准／检定的理想产品。JZG-IV双量程光干涉甲烷测定器检定装置性能特征：1）、实现压力全自动加压；测试期间压力自动补偿，杜绝微漏。2）、同时显示压力，温度，湿度，和甲烷浓度。3）、配备专用的检定软件，可实现数据自动采集，软件完成计算和结果判定。4）、检测数据独立存储，可模糊查询，可实现原始记录和证书的双面自动打印。5）、为保证测量数据的可靠性，压力采用日本横河变送器，温度采用瑞士进口变送器，真正的精度高，稳定性好，一机多用，温度传感器压力变送器送检后可当标准器校准温度传感器和压力传感器。JZG-IV双量程光干涉甲烷测定器检定装置技术参数1）、测量范围：（0～8000）Pa，（检测0～10%光干涉甲烷测定器）；2）、测量范围：（0～60）kPa，（检测10～100光干涉甲烷测定器）；3）、压力测量范围：（0～8000）Pa，±8Pa；4）、压力测量范围：（0～60）Kpa，±0.06kPa；5）、甲烷测量范围：（0～10）%CH4，±0.016 CH4；6）、甲烷测量范围：（10～100）CH4，±0.12 CH4；7）、温度测量范围：（0～50）℃ 基本误差：±0.5℃；8）、湿度测量范围：（0～100）RH, 基本误差：3%RH；9）、可实现数据自动采集，软件完成计算和结果判定，可实现原始记录和证书的双面自动打印；10）、仪器尺寸：（1000×800×1400）mm。郑州艾迪生产关于煤矿用仪表仪器仪表：双量程光干涉甲烷测定器检定装置 煤钻屑解吸仪 深孔取样装置 压力测定仪 突出参数仪 地勘解吸仪，钻孔流量计矿井抽采与防突设备，煤的真视密度测定仪，含量测定仪，井下煤层含量快速测定仪，放散初速度自动测定仪，扩散速度测定仪，煤抽放管道气体参数仪

仪器简介：XRD-DSC是同时得到温度变化过程中的XRD物相变化信息及DSC差值扫描热量信息的产品。 这类产品是理学公司独有的衍射仪和差热分析仪的组合产品。主要特点：可对固体反応過程进行方便分析。包括，各種有機、無機化合物的相变化；融解、結晶化、脱水及其它化学反応的变化。 2. 可对熱分析中测试困难的，如物相转换及化学变化过程中，生成物的有無、最終生成物結晶性的確認，进行测量。 3. 可在X線衍射测量的同时，测量化学変化的温度、吸熱/放热的区別及热量。 4. 选件包括，低温、水蒸汽气氛装置。*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

λ/1000超高精度激光干涉仪!姓名：陈工(Jack) 电话： 邮箱：爱沙尼亚Difrotec公司的激光干涉仪是市场上高精度干涉仪的标杆产品，测量精度可达0.6nm(λ/1000). 其标杆产品D7激光干涉仪采用点衍射技术，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）检测及透射波前检测。产品参数：产品特点：测量光路示例：

拓普方形光具座导轨实验装置铸铁WSZ-710型产品介绍WSZ-710光具座是我公司专门为高等院校物理和光学实验室提供的实验基础设备，能与本公司生产的TH70、TH70Z、TH70YZ滑座和光学调整架配合使用。广泛应用于各种光学实验和测量中。可开设各种透镜及透镜组数据的测量试验；干涉、衍射的观察和测量实验；偏振光、信息光学等实验。拓普方形光具座导轨实验装置铸铁WSZ-710型仪器特点：1、WSZ-710型采用方形截面铸铁材料，导轨长度为1000mm。2、外形美观、稳定性好、使用方便。3、该装置可以开设21项实验，用户也可以根据需要从中任意选择其中的几项。拓普方形光具座导轨实验装置铸铁WSZ-710型规格参数：1、导轨长度：1米2、截面形状及材质：方形、铸铁3、光具座底部距光轴中心高度：270mm4、Y轴可调范围：1-30mm拓普方形光具座导轨实验装置铸铁WSZ-710型可开设实验：用自准法测薄透镜焦距、用位移法测薄透镜焦距、目镜焦距fe的测量、自组显微镜、自组望远镜、自组透射幻灯机（投影系统）、光学系统基点测量、杨氏双缝干涉、菲涅耳双棱镜干涉、牛顿环装置、夫琅和费单缝衍射、夫琅和费圆孔衍射、菲涅耳单缝衍射、菲涅耳圆孔衍射、菲涅耳直边衍射、偏振光分析、阿贝成像原理和空间滤波、θ调制和伪彩色编码、*凸透镜焦距测量-物距像距法、*凹透镜焦距测量-自准直法、*凹透镜焦距测量-物距像距法

光栅和衍射光学元件Wasatch Photonics是一家体相位全息光栅的生产厂家。我们的光栅性能极好，并且比传统的表面雕刻光栅有更多地明显优势。光栅结构是在光栅介质内部而不是表面 。这样可以生产较厚的光栅。我们有130年以上的开发，设计和制造这些光栅的综合经验，我们的技术人员已经准备好满足您最苛刻的项目的需求。哪种光栅更适合您的应用我们增强的体相位光栅可用于脉冲压缩，激光调谐和高光谱成像。我们专利的Dickson 光栅 and HD光栅满足了光学相干断层成像（OCT）拉曼光谱和高速低照度的应用。我们致力于“获得所有的光子”。光学相干扫描光栅这些高效率的光栅在光学相干断层扫描和840nm附近的区域使用很受欢迎。他们利用相干光在重铬酸盐明胶上刻写干涉图案。处理后，这个光栅用玻璃保护套盖上然后镀AR膜。这样处理后的光栅具有低散射，高衍射效率以及低波前畸变特点。该光栅耐用，可和清洁AR镀膜器件同样的方法即可清洁光栅。基本规格尺寸(s): 35 mm x 45 mmx6S表面质量: 60-40 scratch-dig衍射波阵面: λ/5 rms @ 632.8 nm中心波长: 840 nm入射角 (AOI): 14.6° @ 840 nm厚度公差: +/- 0.25尺寸公差：+0/-0.15垂直面达B 0.15°倒角: 0.25-0.75 mm face width倒角角度/方向： 45° +/-15° 衬底和盖玻璃: 3 mm BK7 6 mm 总厚度通光孔: 30 mm x 40 mm 尺寸：A=35 mm B=45 mm T=6 mm规格如下：光栅尺寸型号600 l/mm @ 600 nm24.5 mm RoundWP-600/600-25.4600 l/mm @ 1550 nm24.5 mm RoundWP-600/1550-25.4600 l/mm @ 1550 nm50.8 mm RoundWP-600/1550-50.8960 l/mm @ 900 nm30 mm RoundWP-960/900-30HD1145 l/mm @ 1310 nm24.5 mm RoundWP-HD1145/1310-25.4HD1145 l/mm @ 1310 nm50.8 mm RoundWP-HD1145/1310-50.81200 l/mm @ 840 nm25.4 mm RoundWP-1200/840-25.41200 l/mm @ 840 nm50.8 mm RoundWP-1200/840-50.8HD1800 l/mm @ 840 nm25.4 mm RoundWP-HD1800/840-25.4HD1800 l/mm @ 840 nm50.8 mm RoundWP-HD1800/840-50.8HD1624 l/mm @ 871 nm25.4 mm RoundWP-HD1624/871-25.4HD1624 l/mm @ 871 nm50.8 mm RoundWP-HD1624/871-50.8如果需要详细信息，请联系上海尖丰光电技术有限公司

Richardson Gratings&trade 高精度反射式全息衍射光栅高衍射效率与刻线式光栅相比，减少了杂散光并具有更精确的周期性提供从 UV 到 NIR 区域的波长选项提供定制尺寸 通用规格有效孔径 (%):90涂层:Aluminium构造 :Holographic Grating基底:Float Glass厚度 (mm):6.00 ±0.5反射波前, RMS: λ/4基底上的刻划区域居中 (mm) :±1凹槽与边缘对齐 (°):±0.15槽间距公差 (%) :0.05偏振 : S, P and AverageSpectral Order (m):与刻线式光栅相比，Richardson Gratings&trade 高精度反射式全息衍射光栅的光散射更低，使其成为对拉曼光谱仪等杂散光敏感的应用的理想选择。通过暴露于强激光干涉图样，光栅被记录在光刻胶中，然后用化学方法显影以显示具有正弦横截面的条纹图样。可提供从 UV 到 NIR 光谱区域使用的光栅。注意： 这些光栅的表面非常敏感，在接触光学元件时切勿触摸。若需要清洁以去除尘粒，建议采用运用清洁压缩空气的非接触式清洁方式。Edmund #4102 高精度反射式全息衍射光栅

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

仪器简介：复旦大学研究中心利用&ldquo 全光纤白光干涉技术&rdquo ，在5项专利技术的基础上，成功研制出多功能光纤教学实验仪。其核心在于采用标准化、模块化的组合架构，通过共享主机、根据不同实验要求选用不同功能模块，灵活搭配，组装出不同功能的教学实验。系统的开放性特点还意味着易于拓展功能，便于将来升级。同时，系统还配备专门利用LABVIEW软件开发平台和数据采集卡开发的信号处理软件，结合物理量，提供强大的数据采集、存储、分析能力。 通过变换组件开发的实验均属于光纤应用技术范畴，覆盖了目前先进的光纤通信、传感技术。测试的物理内容在20项以上，一套综合实验系统的功能与20套分散的实验仪器实现的功能相当。此外，仪器还具有稳定光源、光电转换电信号放大器等独立功能。利用多功能光纤干涉教学实验仪主机，并配置相应配件，可实现下列实验功能： 1. 全光纤音频信号录入、传输、解调功能； 2. 双向音频传输系统（光纤电话） 3. 激光外调制、解调技术； 4. 光在介质中传播速度的测量； 5. 光纤长度测量； 6. 光纤定点应变测量； 7. 全光纤声纳测试实验 8. 全光纤振动测试实验 实验教学内容包括 （1） 光纤传感器的特性及其应用；光纤通讯；声光调试；迈克尔逊干涉仪 （2） 速度、加速度测定；力学传感器（位移、应力速度、加速度&hellip ）与其应用；振动模式研究；傅里叶频率合成；电信号的傅里叶分析 （3） 声光调试； （4） 激光在实时测量中的应用；激光的倍频与混频 （5） 纳米材料制备与测量；光纤应用；仿真物理仪器。 （6） 半导体激光器特性的研究；光的色度研究；虚拟仪器在物理实验的应用 （7） 声速的测定；激光在实时测量中的应用； （8） 光纤通讯（全光通信）；声光调试；白光干涉仪 提供完整的实验解决方案 利用&ldquo 多功能光纤干涉实验教学仪&rdquo 和辅件，能够完成以上八个实验的实验教学功能。完整的实验解决方案包括以下实验配置： 编 号 设 备 名 称 功 能 1 多功能光纤干涉实验教学仪（2台） 全光纤白光干涉 2 光纤光功率分配器（4支） 光功率分配 3 光纤跳线（6条） 光路连接 4 光纤准直器（1支） 光发射、接收 5 标准振动台(1台) 提供标准振动源 6 声源（2个） 提供声音 7 放音器（2套） 播放声音 8 声光调制器（1支） 光纤外调制 9 数据采集卡（1张） 信号采集 10 信号处理软件平台（1套） 分析信号测试特征 11 全光纤送话器（2个） 声音采集 12 单模光纤（2 12公里） 测试、传输用 13 光纤反射器（2个） 光纤中光波反射 14 信号发生器（1台） 提供信号源 15 示波器（1台） 看转化为电信号后的光信号的波形技术参数：多功能光纤干涉教学实验仪的优势 1、 实验再现的物理概念清晰 实验仪成功再现了&ldquo 白光干涉技术&rdquo ，光的干涉通过不断的完善，已经形成了传统的干涉方式，主要有：（1）迈克耳逊干涉；（2）F-P干涉；（3）M-Z干涉等。在上个世纪九十年代，出现了&ldquo 全光纤白光干涉技术&rdquo ，该技术作为一种全新的干涉方法与传统的干涉方法相比，具有更大的实用价值。但是，在全国范围内，所有的实验都未涉及&ldquo 白光干涉&rdquo 实验。&ldquo 多功能光纤干涉教学实验仪&rdquo 填补了&ldquo 全光纤白光干涉原理&rdquo 的实验空白，具有较高的学术价值和实用价值。同时，实验仪能够测量的物理量包括： （1） 光波在光纤中的传播速度 （2） 光纤等效折射率 （3） 振动速度、加速度和位移 （4） 水中声波传播特性 （5） 光纤弹光效应 （6） 光波相位调制、解调 （7） 光纤分布传感技术 （8） 振动信号频谱分析 （9） 光纤长度测量主要特点：2、 实验方式灵活 通过共享一套主机，结合不同的功能模块，能够按照需要组装不同的实验。通过该方式，能够充分发挥学生的主动性，在节约财力的情况下，完成了以往多套实验仪器设备才能完成的实验功能；同时，很好地培养了学生的主动性，一改传统实验内容过于死板，学生主动参与性不强的缺点。 3、 系统性能好不同实验通过一套系统来实现，节约了大量的财力， 4、 实验内容和方法包含的技术新颖 不同的实验内容都来自最新的专利和文章，包含的方法和内容属于新的科研成果，使得整个实验的学术水平属于国内领先水平，其中利用低频信号测试光速等实验在全国来说属于首次提出，国际上未见文献报告；保密通信利用了量子通信等先进技术，在国内也属于创新实验。 5、 实验内容贯穿理论-应用-推广应用这一过程 对明确的原理概念首先通过基础实验学习理论，通过工程应用实验学会该原理的工程应用，最后通过大型系统实验巩固物理概念、锻炼学生动手能力和拓展学生思维。通过实验学习理论知识，而不是通过学习理论知识来重复实验，是&ldquo 多功能光纤干涉教学实验仪&rdquo 开设实验的强度教学功能。 开设的实验介绍

反射高能电子衍射仪（ReflectionHigh-Energy Electron Diffraction）是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10～30KeV的单能电子掠射到晶体表面，通过衍射斑点获得薄膜厚度，组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。　　R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪，以便于操作者使用的人性化设计，稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。用于有机薄膜晶体结构检测。世界首创！欢迎来电询问详细技术资料！

剪切干涉仪 特性定性的光束准直测试，适用于直径为Ø 1-Ø 50毫米的光束磁性耦合可调设计，允许快速更换剪切板英制和公制螺纹安装孔SI系列剪切干涉仪可用于确定相干光束是否准直。该设计包括一个45度安装的楔形光学平板，和一块位于中间的带刻度参考线的散射屏。散射屏用于观察由光学平板的前后表面的菲涅尔反射产生的干涉条纹。如果光束已经准直，干涉条纹会平行于带刻度的参考线。除了准直度以外，干涉条纹还对球差、慧差和像散敏感。楔形光学平板是由未镀膜的紫外熔融硅。每个板尺寸的楔角优化到可接受光束尺寸的范围；详情请看规格标签。由于光在板上的入射角为45度，条纹图案的强度取决于极化光。当偏振垂直于入射面时会产生最大强度。为了观察到的干涉条纹，入射的光的相干长度必须长于由剪切板引起的光程长度的变化。规格标签的更多信息，请参阅下表脚注。构造剪切干涉仪由三部分组成一套：一个底座，一个带有楔形光学平板的板，和一个带有扩散屏幕的板。建立该干涉仪用4-40螺丝和六角键连接观察屏幕板与底座。楔形光学平板通过磁力夹持就位，使它能够很容易地换成带有不同楔形光学平板的板。该底座是由经阳极氧化处理的铝和带有安装Ø 1/2英寸接杆的螺纹孔组成。在楔形光学平板后面的底座上有一个孔，这样光可以毫无阻碍地穿过光学平板。右边的横截面图的说明剪切干涉仪的构造和光束传播。附件对与小直径光束，相应的干涉条纹图样也小，这样就不利于观测。对于这种情形，可以购买SIVS放大观察屏配件，它可以代替标准的散射观察屏，从而增大散射屏上条纹的尺寸。SIVS包括一个已安装的发散透镜和散射屏，这种屏适合观察直径为1至10毫米的光束。该板含有可以单独提供的楔形光学平板，使各种光束的尺寸可以用一个单一的底座单元测试。点击放大上图是UVFS在光正入射时的透过率曲线。其中UVFS样品未镀膜，厚度为1毫米，数据也包含表面反射。剪切干涉仪Zoom Click to Enlarge楔形光学平板通过三个磁块夹持就位。提供5种型号，用于光束直径从1到50毫米范围定性的确定光的准直性磁铁球将平板固定在底座上可用的光束直径刻在板上根据剪切板的不同，剪切干涉仪可用于直径小到1毫米，大到50毫米的入射光。剪切干涉仪产生的干涉图样对光束发散很敏感，因此可以用来定性的确定光是否准直。如右图所示，剪切板有三个钢球，以磁性吸附的方式固定在板的底面上。当采用不同直径的光束时，这种磁性保留机制易于更换不同的平板。兼容的平板和底座型号请查看规格标签。此外，底板的背面钻有通孔，因此可以使得透射光通过楔形光学平板继续毫无阻碍地传播。底板，散射屏和剪切板包装在一个铝制手提箱内。替换剪切板Zoom 提供5种型号，光束直径从1毫米到50毫米 剪切板兼容多种剪切干涉仪主体 磁性钢球将板固定在底座上 可用的光束直径刻在板上Thorlabs提供五种可交换的剪切板，这些剪切板设计用于1毫米到50毫米的入射光束直径。这些板的磁性耦合可调设计，使得剪切板能够准确的固定在剪切干涉仪上。同一底座兼容多种剪切板（关于兼容性的详情请看规格标签），因此如果用于特殊实验的光束直径变化时，剪切板很容易进行替换。带有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。配件Zoom 用于光束直径从1毫米到10毫米 增大散射板上的条纹尺寸用于光束直径从1毫米到10毫米增大散射板上的条纹尺寸SIVS配件有助于观察由小光束直径产生的条纹图样。通过用该配件替换SI035，SI050，SI100或SI254*上的标准散射板观察屏，干涉条纹的尺寸会增大，从而使得确定光是否准直变得更容易。SIVS带有两个1/16英寸的螺丝，因此可以固定在剪切干涉仪上。如果需要，SIVS的安装板可以单独购买（SITST）。SITST具有标准的Thorlabs的SM1 (1.035英寸-40)螺纹，与任意SM1螺纹组件兼容。

ZYGO新型VerifireHDX激光干涉仪是为超高精度的光学元件和系统设计和制造的，可以获得元件表面的中频特征信息。系统包含现有VerifireHD的所有功能-比如QPSI和长寿命稳频的激光器，并增加了重要的增强功能，如刷新行业水平的分辨率和成像能力，仪器传递函数（ITF）、出众的中频特征分析和大坡度表面测试，同时也兼具了ZYGODynaPhase® 系列动态采集技术，可以去除震动引起的问题并且能够在近乎任何环境中准确计量。特殊设计优化的分辨率和性能VerifireHDX激光干涉仪系统具有全新的光学设计，经过严格设计，可为其所配的3.4kx3.4k（1160万像素）传感器提供突破像素限制的性能，呈现增强的图像，可以显示出较低分辨率干涉仪难以辨识的表面特征。这种超高的空间分辨率不会以牺牲速度为代价，该系统在全分辨率下以帧率96Hz运行，比其它高分辨率干涉仪速度快10倍，那些由于采样速度较慢在采样的时候会引入震动误差从而测试能力受限。功率谱密度（PSD）和衍射分析工具完善了VerifireHDX激光干涉仪系统的中频特征分析能力，并通过简单直观的用户界面来分析和报告综合表面特性。光学面形测试下的中频特征分析高质量的参考光学元件和配件UltraFlat™ 和UltraSphere™ 超高精度透射平面和球面，面形可以达到λ/40PVr或更高，并且严格控制PSD特征进行制造，以*优化中频特征。推荐将这些高精度参考光学元件与VerifireHDX激光干涉仪一起配合使用，以完整实现和提升系统的性能。无论它们是被用于垂直构型还是水平构型，UltraFlat透射平板面形精度不变，从而在测试设置中提供更大的灵活性。超高精度平面和球面透射元件Mx™ 软件ZYGO自主设计研发的Mx™ 分析软件提供强大的操作功能和完整的数据分析功能，包括Zernike，斜率，PSD/MTF/PSF，棱镜角度，角锥以及更多。该软件集仪器控制，数据采集和分析软件包与一体，集成了制造过程控制，运行自动化和报告关键中频特征等工具包。软件操作界面简单，直观。它还包括了基于Python的脚本和远程控制接口，以实现更大的灵活性并集成到复杂的测试设置中。Mx软件，泽尼克分析结果ITF仪器传递函数-它是什么，为什么它是重要的很多年来，大家一直关注于光学元件表面的形状误差，但随着对光学系统性能需求的增加，控制中频特征（MSF）也变得同样重要。对于一些极高性能应用，需要严格控制MSF特性以减少光散射并提高光学效率。在校正形状误差方面非常有效的小工具确定性抛光技术也会将不期望得到的中频特征赋予光学表面。根据表面特性的频率和斜率，传统的干涉仪系统-非常适合测量表面形状-由于分辨率有限，无法测量和量化较高频率的表面特性。分辨率的缺失意味着更高的频率细节被过滤（见右图），并且在测量结果中可能根本不显示。这是仪器传输函数（ITF）的所在。激光干涉仪系统由于其自身的设计（光学设计，相机，波长）会衰减和过滤部分表面信息，决定了该系统的ITF（测量光学表面的空间频谱的能力）。VerifireHDX激光干涉仪系统具有高分辨率3.4kx3.4k传感器和优化的光学设计，具有比任何商业上可获得的干涉仪系统更高的ITF，使其成为可靠测量和量化光学表面中频特性的宝贵工具。这为光学设计师们提供了一种新能力，可以自信地指定光学表面到更高精度，并定义ITF测试要求来达到系统性能目标。用特殊设计的台阶板测量到的相位数据，台阶板上刻有密集的40nm台阶，按不同频率沿着径向发散变化。

是一种多功能新型光学显微镜，采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。可拆装机械式载物台，采用同轴无齿轮、齿条传动系统，使传动更平稳与安全。旋转摆入摆出式聚光系统，配置透射式微分干涉相衬装置，以实现透射微分干涉相衬等显微观察功能，模块化设计使功能置换十分方便。本仪器适用于对透明组织的显微观察，应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。总放大倍数50X~400X聚光镜工作距离55mm，数值孔径0.30目镜平视场大视野目镜；视场：Ф22mm；目镜接口Ф30mm载物台移动范围77mm（纵向）X134.5mm（横向），移动尺可拆卸双目镜铰链双目，观察角度为45度，瞳距为53～75毫米调焦机构粗微动同轴调节，微动手轮格植：0.002毫米物镜微分干涉相衬物镜；明视场物镜；相衬物镜培养皿托板适配圆形培养皿Ф 87.5mm；可适配圆形培养皿Ф 68.5mm；转换器五孔转换器光源5W 白光（色温5000～5500K）LED照明器，输入电压3.9～4.0V

仪器简介：双光束干涉仪是通过分束镜得到两束光程和强度都接近而且夹角易于调节的光束，在光束的重叠区将产生干涉条纹，用于物理/光学专业教学的演示仪器。技术参数：氦氖激光器：1.5mW 平台底板：500mm× 350mm开设实验： 1、马赫-泽德干涉实验并观察干涉仪的稳定性，了解全息光栅的制作方法 2、萨格奈特干涉实验并观察干涉仪的灵敏度 3、迈克尔逊干涉实验，估计激光器的相干长度，观察非定域干涉条纹及条纹反衬度随光程差的变化主要特点：采用铝质底板，利用便携式实验箱，摆放方便，节省空间。学生可自己动手调节光路，使学生了解各种干涉仪的原理和应用。

Thorlabs提供三种反射光栅:刻线光栅刻线光栅由于其闪耀角，可以达到比全息光栅更高的效率。它们是以光栅闪耀角为中心的应用的理想选择。Thorlabs提供各种尺寸和闪耀角的刻划光栅。全息光栅全息光栅有较低的周期错误，基本消除了刻划光栅无法避免的鬼线。这些光栅的低杂散光特性让其成为需要高信噪比应用的理想选择，例如拉曼光谱仪。阶梯光栅阶梯光栅是为高阶应用设计的低周期光栅。它通常配合另一个光栅或棱镜一起使用，实现重叠衍射级次的分离。是高分辨率光谱学应用的理想选择。 Thorlabs提供三种透射光栅：紫外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的紫外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在紫外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与紫外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。可见光透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的可见光透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在可见光范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与可见光反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。近红外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的近红外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在近红外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与近红外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。 选择光栅需要考虑很多因素，下面列举了一些：效率：通常，刻划光栅比全息光栅具有更高的衍射效率。然而，全息光栅由于其刻槽的制备方法，其表面效率变化很小。荧光激发和其它辐射诱导反应方面的应用可能需要刻划光栅。闪耀波长：刻划光栅通过有序的蚀刻光栅基底表面形成，带有锯齿型槽光栅剖面。因此在闪耀波长附近有相对尖锐的峰。而全息光栅很难闪耀，其正弦曲线状的槽使其在特定波长的光谱响应不那么尖锐。窄带范围内的相关应用更适合选用刻划光栅。波长范围：光栅的光谱范围取决于槽间距，并且对于光栅常数相同的刻划光栅和全息光栅，其光谱范围相同。根据经验，光栅的一级效率从0.66&lambda B到1.5&lambda B降低50% ，其中&lambda B是闪耀波长。注意：没有光栅可以衍射波长大于槽间距2倍的光。杂散光：由于光栅制作方法的不同，全系光栅相比于刻划光栅，其杂散光更低。刻划光栅的刻槽是机械制作，因此有更高的错误率。全息光栅一次成型，基本没有失误。对于像拉曼光谱仪这种对信噪比要求很高的应用，全息光栅固有的低杂散光具有很大的优势分辨率：光栅的分辨率是指其具有的在空间上分开两个波长的能力。它是采用瑞利判据决定衍射极大值；当一个波长的最大值与第二波长的最小值重合时，认为两个波长是分开的。分辨率（R）是由R=&lambda /&Delta &lambda = nN定义的，其中&Delta &lambda 是可分辨的波长差，n为衍射级次，N是刻线数。刻线式衍射光栅 全息衍射光栅 中阶梯光栅 UV透射光栅 透射率可变光栅 近红外透射型光栅 300纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*300 nm Blaze WavelengthGR25-03033002° 34' 3.3325 x 25GR50-06036005° 9' 1.6750 x 50GR13-1203120010° 22' 0.8212.7 x 12.7*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。 400纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*400 nm Blaze WavelengthGR25-1204120013° 53' 0.8125 x 25GR50-1204120013° 53' 0.8150 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。500纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*500 nm Blaze WavelengthGR13-03053004° 18' 3.3212.7 x 12.7GR25-03053004° 18' 3.3225 x 25GR50-03053004° 18' 3.3250 x 50GR13-06056008° 37' 1.6512.7 x 12.7GR25-06056008° 37' 1.6525 x 25GR50-06056008° 37' 1.6550 x 50GR13-1205120017° 27' 0.8012.7 x 12.7GR25-1205120017° 27' 0.8025 x 25GR50-1205120017° 27' 0.8050 x 50GR13-1850180026° 44' 0.5012.7 x 12.7GR25-1850180026° 44' 0.5025 x 25GR50-1850180026° 44' 0.5050 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。750纳米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*750 nm Blaze WavelengthGR13-060860013° 0' 1.6212.7 x 12.7GR25-060860013° 0' 1.6225 x 25GR50-060860013° 0' 1.6250 x 50GR13-1208120026° 44' 0.7412.7 x 12.7GR25-1208120026° 44' 0.7425 x 25GR50-1208120026° 44' 0.7450 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。1微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*1 µ m Blaze WavelengthGR13-03103008° 36' 3.3012.7 x 12.7GR25-03103008° 36' 3.3025 x 25GR50-03103008° 36' 3.3050 x 50GR13-061060017° 27' 1.5912.7 x 12.7GR25-061060017° 27' 1.5925 x 25GR50-061060017° 27' 1.5950 x 50GR13-1210120036° 52' 0.6712.7 x 12.7GR25-1210120036° 52' 0.6725 x 25GR50-1210120036° 52' 0.6750 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。10.6微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*10.6 µ m Blaze WavelengthGR1325-071067521° 12.312.5 x 25GR2550-071067521° 12.325 x 50GR1325-1010610027° 8.512.5 x 25GR2550-1010610027° 8.525 x 50GR1325-1510615035° 4.212.5 x 25GR2550-1510615035° 4.225 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。反射式全息光栅特性峰值波长下效率可达45％至65％优化了在紫外光谱、可见光谱下的性能不依赖于入射角基底材质：Borofloat玻璃三种尺寸规格：12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mmThorlabs提供一系列专为需要高信噪比的高端应用而优化设计的全息衍射光栅。全息光栅具有杂散光少的特点，基本消除了刻线光栅所无法避免的鬼线，使其成为拉曼光谱学等需要高信噪比的应用的理想解决方案。我们的全息光栅对紫外光谱和可见光谱段的性能进行了优化，并有刻线密度从600线/mm到3600线/mm不等的三种不同尺寸规格。三种尺寸分别是12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mm，尺寸公差± 0.5mm。 阶梯光栅的特别注意事项光栅方程: 一般光栅方程如下： n&lambda = d(sin &theta + sin &theta ' )其中n是衍射级次，&lambda 是衍射波长，d是光栅常数（两个刻槽间的距离）&theta 是入射角，&theta ' 是衍射角自由光谱范围: 自由光谱范围是指没有和相邻衍射级次发生干涉（重叠）时的指定级次的最大带宽。自由光谱范围随着光栅间距的减小而增加，随着级次的增加而较小。如果&lambda 1，&lambda 2分别是感兴趣的波长下限和上限，那么：自由光谱范围=&lambda 2 - &lambda 1 = &lambda 1/n阶梯光栅的使用: 阶梯光栅极高的衍射角度将能量集中在高级次上。最简单的情况是光束以0° 角入射到光栅上，光栅方程简化为n&lambda = d sin &theta ' ，解方程得：sin &theta ' = n&lambda / d由此推论，在高阶中，两个波长之间的角距离变得更大。想象一下有两条线，一条为600 纳米，另一条为605 纳米，入射到31.6线/ 毫米的光栅上。从上面的方程可以得到，在N=1时角距离为0.009 ° ，但在N=40时角距离为0.6 ° 。缺点就是自由光谱范围的降低，从630纳米（630 纳米/1）降至15.8纳米（630 纳米/40）。通常，配合使用分光棱镜和阶梯光栅进行级次分离。

总览透射式凝胶光栅（Gel Grating），又称体相全息衍射光栅（VPH Grating）, 完quan不同于传统的表面凹凸性光栅，凹凸性光栅通过光栅表面的沟槽深度的周期性变化，对光的相位进行调制，从而完成分光，而VPH光栅则通过凝胶层的折射率n的周期性变化对入射光进行调制，完成分光。我们通过自己的技术上认可及相应的商业保密技术，生产增强型体相全息衍射光栅Enhanced-Volume Phase Holographic Gratings (VPHGs) 及全息光学元件 (HOEs). 高性能的光栅可以适合多种应用场合。这种透射型光栅可以使得分光系统更加小巧、结构简化、减少光学元件的使用，设计灵活，制作简单。VPH 透射光栅在宽带宽和大通光孔径上提供高效率、低偏振相关性和均匀性能——所有这些都在经过现场测试的坚固封装中。我们提供多项技术上认可设计技术，让我们更灵活地为您的独te应用推荐优秀传输光栅。我们的工作波长范围为 300-2500 nm，带宽为 20-800 nm，线频为 150-5000 lines/mm最清晰、最深的光谱域光学相干断层扫描 (SD-OCT) 图像需要覆盖宽带宽和最大信噪比的光学设计。这就是为什么我们开发了我们的高清光栅以对所有偏振都具有高效率，即使在 100-200 nm 工作波长范围的极端情况下也是如此。从我们的库存光栅系列中进行选择，或利用我们在 OCT 方面的专业知识来设计您理想的光栅。SD-OCT是通过一个基于光栅和透镜的光谱仪,将干涉信号分光再聚焦到线阵电荷耦合元件harge-Coupled Device,CCD)上获得干涉光谱的。OCT光栅 (体相全息衍射光栅VPH ),OCT光栅 (体相全息衍射光栅VPH )通用参数产品特点：光谱范围：350nm—2400nm波前畸变：典型值1/5 wave,更高精度可定制波前均匀性：1/40 wave RMS空间频率：125 lp/mm —-3600lp/mm 型号参数WP-1200/840-xxWP-HD1800/840-xxWP-HD1145/1310-xx标称波长740-940 nm790 - 890 nm1220- 1400 nm峰值效率@ cwL≥85%,ave pol≥82%, ave pol≥86%, ave pol空间频率1200±0.5 lines/mm1800± 1 lines/mm1145± 1 lines/mm入射角30.3°@ 840 nm49.1@ 840 nm48.6°@1310 nm可用尺寸（-xx）25.4 mm Φx3.0 mm50.8 mm Φx6.0 mm35×45x6 mm25.4 mm Φx3.0 mm30.0 mm Φx6.0 mm50.8 mm x6.0 mm35×45x6 mm25.4 mm Φx3.0 mm50.8 mm Φx6.0 mm35×45x6 mmWavefront Distortion波前畸变Standard:表面质量60-40 scratch-digAR Coating增透膜Standard:R1.0%lEnhanced:R0.5%(over bandwidth)对比参数：主要参数传统表面刻划光栅VPH 凝胶光栅衍射效率（窄带,几十个nm）~ 90%Close to 100%平均衍射效率(全光谱)20% - 30% 60%衍射波段很难控制容易控制衍射效率相对于色散能力变化DecreasingIncreasing偏振相关性强对偏振不敏感杂散光可检测低于检测极限与准直镜组合的像质有非常强的像散 astigmatic普通像散水平Littrow 结构时衍射效率(在整个光谱范围内)衍射效率有限高衍射效率单一元件，多功能不可能可实现多个元件组合使用不可能可实现表面保护不可能可完quan保护工作温度标准工作温度Up to above 120°C湿度无冷凝可在沸水中使用选型指南：拉曼光谱用光栅激光脉冲压缩光栅高光谱成像用光栅HD 1167 l/mm @ 1212nmHD 1624 l/mm @ 871nm1600 l/mm @ 615nm1700 l/mm @ 1030nm1250 l/mm @ 1030nm800 l/mm @ 1030nm450 l/mm @ 580 nm600 l/mm @ 600 nm1800 l/mm @ 532 nm600 l/mm @ 900 nm900 l/mm @ 930 nm600 l/mm @ 1550nmOCT 用光栅通用紫外-可见-近红外光谱仪、分光光度计600 l/mm @ 840 nm960 l/mm @ 840 nm1200 l/mm @ 840 nm1500 l/mm @ 840 nmHD 1800 l/mm @ 840 nmHD 1450 l/mm @ 1050 nmHD 1145 l/mm @ 1310 nm450mm @ 1300 nm451450 l/mm @ 580 nm452600 l/mm @ 600 nm4531800 l/mm @ 532 nm454600 l/mm @ 900 nm455900 l/mm @ 930 nm456600 l/mm @ 1550nmVPH 光栅测量演示

磁滞回线实验，YGP-6230简介YGP-6230型磁滞回线实验是一款专门用于测量磁性材料磁学性能的实验项目。它主要利用电磁感应法，通过测量铁磁材料在外加磁场下的磁化特性，来确定磁滞回线、饱和磁感应强度、矫顽力等参数。磁滞回线是铁磁材料最明显的特征，根据磁滞回线的形状，可将铁磁材料分成软磁和硬磁两类（前者磁滞回线狭长，矫顽力、剩磁和磁滞损耗均较小；后者磁滞回线较宽，矫顽力大，剩磁强）。特点采用高稳定性和准确度的DDS信号发生器采用高精度频率显示器采用编码器调节频率，经久耐用提供两种不同的实验样品实验内容理解磁性材料的磁滞回线和磁化曲线的原理。测绘磁性材料的基本磁化曲线和磁滞回线。计算磁性材料的饱和磁感应强度Bs、剩磁Br和矫顽力Hc。研究比较不同频率的磁滞回线。研究比较不同磁性材料的磁滞回线形状居里温度实验，YMP-6118简介YMP-6118型居里温度实验装置是一种专门用于测量磁性材料居里点的实验仪器。对于铁磁物质来讲，由于有磁畴的存在，因此在外加的交变磁场的作用上将产生磁滞现象，磁滞回线就是磁滞现象的主要表现。如果将铁磁物质加热到一定的温度，由于金属点阵中的热运动的加剧，磁畴遭到破坏时，铁磁物质将转变为顺磁物质，磁滞现象消失，铁磁物质这一转变温度称为居里点。本实验装置就是将环形铁磁材料，其上绕有两个线圈N1和N2，其中N1为励磁线圈，给其中通入交变电流，提供使环形样品磁化的磁场。将绕有线圈的环形样品置于温度可控的温控装置中以改变样品的温度，通过观察样品的磁滞回线是否消失来判断其铁磁性消失，或者通过测定次级积分电路感应电动势随温度变化的曲线来推断其铁磁性消失，从而确定样品的居里温度。特点采用高稳定性和准确度的DDS信号发生器采用数字编码器调节频率，经久耐用提供多种不同的实验样品温控系统利用半导体制冷片进行加热及制冷，可以快速升温和降温开放式设计，提供多个通用的温度插孔，用户可用来测量多种温度传感器，具有很好的拓展性。实验内容理解磁性材料的磁滞回线和磁化曲线的原理。了解铁磁物质由铁磁性转变为顺磁性的微观机理。学习测定居里温度的原理和方法。测定铁磁样品的居里温度。巨磁电阻效应实验装置，YMP-6110简介巨磁阻效应是指磁性材料的电阻率在有不同大小外磁场作用时存在巨大差异的现象。巨磁阻是一种量子力学效应，它产生于层状的磁性薄膜结构，它是由铁磁材料和非铁磁材料薄层交替叠合而成。当铁磁层的磁矩相互平行时，载流子与自旋有关的散射最小，材料电阻最小。当铁磁层的磁矩为反平行时，与自旋有关的散射最强，材料电阻变大。YMP-6110巨磁电阻实验装置包含4个实验模块：巨磁电阻基本特性测量模块、巨磁电阻测量电流模块、巨磁电阻角位移测量模块和巨磁电阻磁卡读写模块。学生可以通过此实验的学习了解并掌握巨磁阻效应原理及常见应用。特点丰富的实验模块，涵盖巨磁阻效应原理学习及巨磁电阻常见应用学习采用通用实验电源，操作简便可升级为数字化实验实验内容了解GMR效应的原理；测量GMR模拟传感器的磁电转换特性曲线；测量GMR的磁阻特性曲线；测量GMR开关（数字）传感器的磁电转换特性曲线；学习巨磁电阻传感器定标方法，计算巨磁电阻传感器灵敏度；用GMR传感器测量通电螺线管的磁场分布曲线；用GMR传感器测量导线电流；用GMR梯度传感器测量齿轮的角位移，了解GMR转速（速度）传感器的原理；了解通过GMR传感器实现磁卡记录与读出的原理。微波光学综合实验，YMP-6112简介微波是一种频率范围在300MHz-3000GHz的电磁波，具有波的特性。本实验装置通过微波的衍射、干涉和偏振等特性，来研究微波的波动特性。YMP-6112微波光学综合实验装置正是利用微波的产生、传输和接收，配合分光计结构以及一些附件来进行微波波动特性的研究。从信号源发出的微波，经过中心平台上的单/双缝，偏振板等结构后，出现衍射、干涉和偏振等现象，再由接收器接收信号，验证微波的波动特性。特点丰富的实验内容几乎囊括波动特性的所有实验氧化发白的铝型材框架结构设计，易于安装和拆解，且方便安装各种实验模块采用数字式微波功率计，测量精准便捷设计采用cm级别的微波，提升了尺度，便于实验的观测和分析微波功率衰减器，可自主调节微波发射强弱采用小功率微波，确保实验安全实验内容通过微波的反射实验来学习与掌握微波的波动理论微波的单缝衍射实验微波的干涉特性和波长计算实验微波的驻波和波长计算实验微波的折射和材料的折射率计算实验微波的偏振实验微波的劳埃德镜测波长实验微波的布里-珀罗干涉和波长计算实验微波的迈克尔逊干涉和波长计算实验微波的偏振特性和布儒斯特角实验微波的布拉格衍射的实验微波在纤维中的传播特性实验原子力显微镜，YMP-6114描述原子力显微镜（AFM）采用对微弱力极其敏感的微悬臂作为力传感器（微探针），利用针尖与样品之间相互作用的原子力，最终获得样品表面的微观形貌。YMP-6114原子力显微镜采用特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动，使仪器性能更加稳定可靠。特点特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动稳定的三轴压电扫描器，保证扫描图像的保真与快速成像优化的检测与控制系统，获得更高的扫描分辨率、更好的重复性和更佳的图像质量完善的软件界面与功能，支持三维立体成像与纳米标注操作便捷、高速扫描、高稳定性与抗干扰能力应用同时适用于科学研究、本科生和研究生的教学实验及纳米技术产品的检测，广泛适用于各种金属/非金属、导体/非导体、磁性/非磁性材料样品的扫描检测。更多详情,请关注！

干涉仪ZMI™ 系列–位移测量干涉仪ZYGO的标准干涉仪配置支持多种类型的测量方案。大多数干涉仪可以支持直通或直角测量方向，并且可以在真空中工作。线性干涉仪该装置会测量回射器目标，用于跟踪主要在一个线性维度上移动或围绕一个固定点旋转的物体。ZYGO提供标准和紧凑尺寸的线性干涉仪，以满足不同的空间限制要求。例如：十字刻线台、龙门系统、转向镜平面镜干涉仪该装置会测量平面镜目标，用于跟踪在多个线性维度上移动且旋转次数有限的物体。ZYGO的平面镜干涉仪具有高稳定性，可减少热误差。例如：晶圆台、堆叠工作台系统波长补偿器该装置会测量折射率的变化，用于补偿其他测量轴。ZYGO的紧凑型波长补偿器提供了高精度的折射率变化反馈，可在环境条件下实现最佳的位移测量性能。配件通过将光束从激光器传输到干涉仪，并最终传输到测量电子装置，完善测量系统。ZYGO提供各种标准的转折镜、分光镜、光纤耦合器和光纤电缆，方便您灵活配置测量系统。定制干涉仪设计ZYGO专业生产用于OEM应用的定制多轴干涉仪。定制设计允许在空间有限的应用中进行合并光束传输。它还减少了对准系统所需的时间，可在生产过程中实现更快的集成。

皮米激光干涉仪 德国attocube公司在皮米精度位移激光干涉仪FPS的基础上，新推出了体积更小、适合集成到工业产品与同步辐射应用中的IDS型号皮米精度位移激光干涉仪。与FPS型号干涉仪相似，IDS型号同样适用于端环境如高真空与高辐射环境并且具有高精度与高采样速率。IDS产品是适合工业集成与工业网络无缝连接的理想产品。产品在工业应用中具有广泛范围前景，包括闭环位移反馈系统搭建、振动测量、轴承误差测量，实时位移测量等。 德国计量院（PTB）对IDS3010激光干涉仪的精度进行了认证。值得指出，在0-3米的工作距离内， IDS激光干涉仪的的测量数据与德国计量院激光干涉仪数据完全一致。德国计量院的认证使得IDS激光干涉仪的测量数据满足德国标准，使得IDS更加理想的成为位移台鉴定与机器加工等领域的测量工具。IDS3010激光干涉仪主机尺寸与接口IDS3010激光干涉仪应用领域IDS3010充分满足高分辨位移于定位的工业和科研需要，可应用于长度测量、同步辐射、精密仪器、半导体工业以及显微镜。IDS3010激光干涉仪产品特点 + 设计紧凑（50mm x 55mm x 195mm），适合工业集成+ 工业化界面，含HSSL、AquadB、CANopen、Profibus、EtherCAT、等界面+ 测量速度快，定位样品采样带宽10MHz+ 环境补偿单元，不同湿度、压力环境中校正反射率参数提高测量精度+ 校正简单，配备可见激光（650nm）用于校正测量激光（1530nm）+ 测量精度高，探测器分辨率高达1 pm设备选件光纤式激光探头 IDS系列激光干涉仪可提供不同型号探头（探头尺寸，光斑大小不同）。探头直径范围：1.2mm – 22mm。典型准直激光光斑：1.6mm， 典型聚焦激光光斑：70 mm。低工作温度：10mK, 1E-10mBar超高真空适用, 10MGy强辐射环境适用。激光探头技术参数表激光探头型号尺寸mm (直径与长)工作距离(低反射，高反射材料）激光类型（聚焦、准直） 光斑大小D1.2/F7Ф 1.2 7.55-9 mm30-45 mm聚焦，焦距7mm70μm@7mmD4/F8Ф 4 11.56-10 mm15-30 mm聚焦，焦距8mm70μm@8mmD4/F13Ф 4 11.511-15 mm30-45 mm聚焦，焦距13mm70μm@13mmD12/F2.8Ф 12 32.32.8 mm聚焦，焦距2.8mm2μm@2.8mmM12/C1.6Ф 14 17.40-1000 mm准直1.6mmM15.5/C1.6Ф 22 20.60-1000 mm准直1.6mmM12/C7.6Ф 14 49.30-5000 mm准直7.6mm应用案例■ IDS3010在航天飞行器形变检测上的应用德国卫星制造商OHB公司（德国OHB-System 是一家专门从事小卫星系统、分系统研制工作的企业,在小型商业卫星、小型研究卫星及相关分系统的研制、制造和操作方面具有丰富的经验）采用attocube的激光位移传感器IDS3010，对三代气象卫星（MTG）柔性组合成像仪进行了高真空光-热-力学模型试验。该试验包括在仪器的不同区域，并监控其后续光学元件相对位移测量哈特曼传感器。在真空环境中通过IDS3010激光干涉仪以小于1角秒的精度对平面基准相对位置的稳定性进行了一个多星期的持续测试。为了校准IDS3010不同探头之间的距离，需要进行初步测试（每个传感器探头与用于角度计算的距离，名义上为100 mm）。为此，平面参考镜的电动框架被用来产生任意角度的运动。这些角度是由IDS3010激光干涉仪和校准的自准直仪测量得到。IDS3010激光干涉仪在±720角秒范围内表现出良好的线性（0.1%），并且非常容易校准。再与MTG柔性组合成像仪对齐之后，即在Shack-Hartmann传感器和IDS3010传感器之间执行另一个交叉校准，以补偿IDS3010传感器相对于Shack-Hartmann传感器的时钟。三代气象卫星的柔性组合成像仪（MTG-FCI）的实验装置。紫色表示激光干涉仪组件：传感器探头支架和角角锥棱镜支架。以上信息由OHB System AG提供结果此次测量的目的是在一周多的时间内连续监测参考镜相对于卫星的稳定性，精度小于1角秒。使用如上所述attocube公司的激光干涉仪得到的测试得到角度精度甚至比一个角秒还要好。理论计算表明，其测试分辨率可以到达0.021角秒（等于5.8u°），但实际读数受试验装置振动的限制。■ IDS3010激光干涉仪在自动驾驶高分辨调频连续波（FMCW）雷达上的应用自动驾驶是目前汽车工业为前沿和火热的研究，而自动驾驶尤为重要的是需要可靠和高分辨率的距离测量雷达。德国弗劳恩霍夫高频物理和雷达技术研究所（Wachtberg，D）Nils Pohl教授和波鸿鲁尔大学（Bochum，D）的研究小组提出了一种全集成硅锗基调频连续波雷达传感器（FMCW），工作频率为224 GHz，调谐频率为52 GHz。通过使用德国attocube公司的皮米精度激光干涉仪FPS1010（新版本为IDS3010）证明了测量系统在-3.9μm至+2.8μm之间达到了-0.5-0.4μm的超高精度。这种全新的高精度雷达传感器将会应用于许多全新的汽车自动驾驶领域。图一 紧凑型FMCW传感器的照片图二 雷达测距示意图，左边为雷达，右边为移目标，attocube激光干涉仪用来标定测量结果参考文献S. Thomas, et al IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67, 11, (2019).■ IDS3010激光干涉仪在半导体晶圆加工无轴承转台形变的测量上的应用半导体光刻系统中的晶圆轻量化移动结构的变形阻碍了高通量的半导体制造过程。为了补偿这些变形，需要的测量由光压产生的形变。来自理工大学荷兰Eindhoven University of Technology 的科学家设计了一个基于德国attocube干涉仪IDS3010的测量结构，以此来详细地研究因为光压而导致的形变特性。图一所示为测量装置示意图，测量装置由5 x 5 共计25个M12/F40激光探头组成的网格，以此来实现监测纳米的无轴承平面电机内部的移动器变形。实验的目的是通过对无轴承的平面的力分布进行适当的补偿，从而有效控制转台的变形。实验测得大形变量为544nm，小形变量为110nm（如图二所示）。图一 左侧5X5排列探头测量装置示意图，右图为实物图图二 无轴承磁悬浮机台形变量的测量结果，大形变量为544nm参考文献Measuring the Deformation of a Magnetically Levitated Plate displacement sensor.■ IDS3010在X射线成像中提高分辨率的应用在硬X射线成像中，每个探针平均扫描时间的减少对于因为束流造成的损伤是至关重要的。此外，系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中，扫描时间主要取决于装置的稳定性。Attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010（升之后的型号为IDS3010），被用于优化由多层波带片（MZP）和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性的测量。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。Attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量，装置的成像分辨率被提高到了±10nm。 图一 实验得到的系统分辨率结果参考文献Markus Osterhoff, et at. Proceedings Volume 10389, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods III 103890T (2017)■ IDS3010激光干涉仪在微小振动分析中的应用电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带，它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。全球研究机构苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙的利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体，次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在nature上（doi:10.1038/nature25156）。研究人员通过测试了一种机械超材料的体，边缘和拐角的物理属性，发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。德国attocube公司的激光干涉仪IDS3010被用于超声-空气转换器激励后的机械超材料振动分析。IDS3010能到探测到机械超材料不同位置的微小振动，以识别共振频率。终实现了11.2pm的系统误差，为声子四拓扑缘体的实验分析提供了有力的支持。图一 实验中对对机械超材料微小振动的频率分析参考文献Marc Serra-Garcia, et al. Nature volume 555, pages 342–345 (2018)■ IDS3010激光干涉仪在快速机床校准的应用德国亚琛工业大学（Rwth Aachen University，长久以来被誉为“欧洲的麻省理工”）机床与生产工程实验室（WZL）生产计量与质量管理主任的研究人员利用IDS3010让机床自动校准成为可能，这将大的提高机床的加工精度和加工效率。研究人员通过将IDS3010皮米精度激光干涉仪和其他传感器集成到机床中，实现对机床的自动在线测量。这使得耗时、需要中断生产过程、安装和卸载校准设备的手动校准变得多余。研究人员建立了一个单轴装置的原型，利用IDS3010进行位置跟踪，其他传感器如CMOS相机被用来检测俯仰和偏摆。校准结果与常规校准系统的结果进行了比较：六个运动误差（位置、俯仰、偏摆、Y-直线度、Z-直线度）对这两个系统显示出良好的一致性，值得指出的是：使用IDS3010的总时间和成本显著降低。该装置演示了自动校准机床的个原型，而且自动程序减少了机器停机时间，从而通过保持相同的精度水平提高了生产率。参考文献Benjamin Montavon et al J. Manuf. Mater. Process. 2(1), 14 (2018)■ IDS3010激光干涉仪在工业C-T断层扫描设备中的应用工业C-T断层扫描被广泛用于材料测试和工件尺寸表征。设计一个的锥束C-T系统的挑战之一是它的几何测量系统。近，瑞士联邦计量院（METAS）的科学家将德国attocube公司的IDS3010皮米精度激光干涉仪用于X射线源、样品和探测器之间的精密位移跟踪。实验共有八个轴用于位移跟踪。除了测量位移之外，该实验装置还能够实现样品台的角度误差分析。终实现了非线性度小于0.1μm，锥束稳定性在一小时内优于10ppb的高精度工业C-T。参考文献Benjamin A. Bircher, Felix Meli, Alain Küng, Rudolf Thalmann: "A geometry measurement system for a dimensional cone beam CT", 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), At Wels, AU■ IDS3010激光干涉仪在增材制造3D打印方面的应用微尺度选择性激光烧结（μ-SLS）是制造集成电路封装构件（如微控制器）的一种创新方法。在大多数的增材制造中需要微米量的精度控制，然而集成电路封装的生产尺寸只有几微米，并且需要比传统的增材制造方法有更小的公差。德克萨斯大学和NXP半导体公司开发了一种基于u-SLS技术的新型3D打印机，用于制造集成电路封装。该系统包括用于在烧结站和槽模涂布台之间传送工件的空气轴承线性导轨。由于该导轨对定位精度要求很高，所以采用德国attocube公司的皮米精度干涉仪IDS3010来进行位置的跟踪。参考文献Nilabh K. Roy, Chee S. Foong, Michael A. Cullinan: "Design of a Micro-scale Selective Laser Sintering System", 27th Annual International Solid Freeform Fabrication Symposium, At Austin, Texas, USA ■ IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时，对于系统稳定性的要求提出了更高的要求。在整个过程中实验过程中，必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力，表现出优异的性能。IDS3010在40小时内具有优于1.25nm的稳定性，并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300pm的分辨率。因此，IDS3010是对所述X射线显微镜装置中使用的所有部件进行机械控制的不二选择，使得整个X射线显微镜实现了40nm的分辨率，而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45nm。参考文献Characterizing a scanning fluorescence X ray microscope made with the displacement sensor■ 皮米精度激光干涉仪IDS3010在相位调制器的精密调制和控制上的应用相位调制器是相干合成孔径望远镜中光束合成机构的关键部件。提高相位调制器的调制精度和控制带宽有助于提高合成孔径望远镜的成像分辨率。相位调制器运动信息包括俯仰角、方位角和轴向位移3个自由度。目前3个或者多个自由度的实时测量还处于发展阶段。同时实现多自由度测量更是少之又少。来自中国科学院光电技术研究所光束控制重点实验室的方国明课题组采用德国attocube system AG公司的三轴皮米精度激光干涉位移传感器IDS3010通过获取待测目标平面内3个不共线点的位移量，而3个不共线的点可确定平面的法线，基于平面法线的性可解，从而可以获得目标的3个自由度运动信息，包括方位角、俯仰角和轴向位移。成功实现了三自由度的同时实时测量。图示： 三自由度测量原理示意图■ 皮米精度位移测量激光干涉仪助力声子四拓扑缘体观测电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带，它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙地利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体，次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在nature上。研究人员通过测试一种机械超材料的体、边缘和拐角的物理属性，发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。图示：实验装置示意图参考文献Observation of a phononic quadrupole topological insulator.Nature volume 555, pages342–345(2018)■ 激光干涉仪检测纳米精度位移台误差在实际生产中的存在可能导致损失以及客户对产品信心的丢失。光学传感器可以在质量检测中帮助减少误差产生提高成品率。attocube激光干涉仪是理想的可在各个领域提供高精度探测来减少误差的一种光学传感器。作为纳米精度位移台供应商的德国attocube公司，对位移台的精密移动的测量与鉴定是一个非常重要的任务。例如，下图左，ECS3030型号的线性位移台可在真空中进行位移。ECS3030位移台的行程是20mm。技术参数要求的是可重复精度小于50nm。利用attocube激光干涉仪对位移台上样品进行测量，位移台被程序控制来回往复移动1mm,在20mm的行程内在多个不同地点进行来回往复移动。测量结果如下图中所示。通过分析，左图中的数据提取的偏差值是13.2nm，下图右数据的直方图显示标准差是13nm。因此，位移台的可重复性技术指标是合格的。通过使用attocube激光干涉仪可以实施对于纳米精度位移台ECS3030的全自动测量。这已经是德国attocube公司对于位移台的质量检测手段。并且，这样一个简便与实用的传感器可以直接集成到生产线中去提供高产出的质量检测。■ 激光干涉仪组建高精度X射线显微镜同步辐射中心具有广泛的应用领域，生物科技（蛋白质结构），医学研究（微生物），工程研究（裂纹的变化观测），先进材料（纳米结构测量）等。以上应用需要高精度去驱动聚焦镜，样品，光学狭缝等物品（下图左），这样的机械结构需要减少热漂移与定位误差。德国attocube公司的激光干涉仪具备皮米精度分辨率，激光探头可在真空环境中使用，是同步辐射研究的良好选择。在现有激光探头中，标准激光探头M12是已经被证实可以在辐射环境中使用（大10MGy)。美国布鲁克海文实验室E. Nazaretski等人结合attocube激光干涉仪与纳米精度位移台搭建了X射线扫描成像显微镜（下图中）。通过attocube激光干涉仪作为实时检测与反馈位移台移动的工具，科学家实现了0.5nm的步进扫描（下图右）。并且，在真空环境中，系统的热漂移达到了2nm/h。综上所述，高精度的X射线显微镜可以实现纳米精度扫描成像，是实现硬X射线区域光学研究的有力工具。该显微镜使得X射线荧光光谱纳米精度成为了现实。参考文献E. Nazaretski , et.al. J. Synchrotron Rad. (2015). 22, 336–341 ■ 激光干涉仪无损探测轴承误差旋转物体的运动误差分析是高精度机械工程领域的一个主要兴趣之一。如果是高速旋转的转子，甚至1纳米的误差就会产生不想要的振动与运动误差。因此，纳米精度的运动误差监测是机械工程领域前沿的重要研究课题。一个主要的难题是：如何减小运动误差？为了减小误差，先需要测量误差。德国attocube公司的激光干涉仪可以提供一个无损，紧凑并且一插即用的解决方案。通常的线性位移测量需要一个平整的表面，而旋转运动的时候，遇到的是一个曲面（右图上）。attocube激光干涉仪测量的是一个直径为10mm的电动转子。由于attocube激光干涉仪的探头具有较大的容忍角度，激光探头很容易完成了校准并开始进行测量。转子转速为2160转每秒，两个激光探头对转子的运动误差进行了测量。右图下显示的为测量结果，红色实线为平均位置，而虚线显示了误差为5微米的两个圆环。黑色实现为实际测量数据。德国attocube公司的激光干涉仪软件使用界面友好，可提供亚纳米别的运动误差校正方案。即使是新用户，对于其激光干涉仪的使用也会很快熟悉。参考文献 Review of scientific instruments, 84, 035006 (2013) ■ 激光干涉仪校正低温非线性扫描通常扫描台在室温下扫描50微米 x 50微米的范围时候不会有显著的非线性效应。但是当在低温环境（4K或更低）中，压电陶瓷本身的性能发生变化，会产生下图右中的非线性扫描现象。通过德国attocube公司的激光干涉仪，可以在低温环境下使用激光探头对扫描台的扫描运动进行实时检测（高速扫描）。结合对扫描台的施加电压进行实时反馈控制，可解决低温下非线性扫描问题。测试数据■ 实验数据，皮米精度的稳定性图1 77mm长的腔在20个小时内的实验测量数据表明数据误差范围在55pm■ 测量速度快，定位样品采样带宽10MHz图2 样品移动速度2米/秒，移动范围1m发表文章1. Stability investigation of a cryo soft x-ray microscope by fiber interferometry Rev. Sci. Instrum. 91, 023701 (2020) 2. Vibration-heating in ADR Kevlar suspension systems James Tuttle et al 2020 IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 755 0120153. S. Thomas, et al IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67, 11, (2019).4. Observation of a phononic quadrupole topological insulator.Nature volume 555, pages342–345(2018)5. Benjamin A. Bircher, Felix Meli, Alain Küng, Rudolf Thalmann: "A geometry measurement system for a dimensional cone beam CT", 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), At Wels, AU6. Benjamin Montavon et al J. Manuf. Mater. Process. 2(1), 14 (2018)7. In situ contrast calibration to determine the height of individual diffusing nanoparticles in a tunable confinement S. Fringes et al. J. Appl. Phys. 119 024303 (2016)8. Interferometric characterization of rotation stages for X-Ray nanotomography T. Stankevi? et al. Rev. Sci. Instrum. 88 053703 (2017)9. Measurement of forces exerted by low-temperature plasmas on a plane surface T. Trottenberg and H. Kersten Plasma Sources Sci. Technol. 26 055011 (2017)10. Mesh-type acoustic vector sensor M. K. Zalalutdinov et al. J. Appl. Phys. 122 034504 (2017)11. Markus Osterhoff, et at. Proceedings Volume 10389, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods III 103890T (2017)用户单位attocube公司产品以其稳定的性能、高的精度和良好的用户体验得到了国内外众多科学家的认可和肯定，在全球范围内有超过了130多位低温强磁场显微镜用户。attocube公司的产品在国内也得到了低温、超导、真空等研究领域著名科学家和研究组的欢迎.....国内部分用户北京大学中国科技大学中科院物理所中科院武汉数学物理所中科院上海应用技术物理研究所复旦大学清华大学南京大学中科院半导体所上海同步辐射中心北京理工大学哈尔滨工业大学中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所……国外部分用户

武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！GEMINI是一款新颖的紧凑型干涉仪，入射光所产生的两束复制光之间具有极高的稳定性。其卓越的性能可以被应用于许多科研领域，比如时间/频率分辨荧光探测，相干拉曼光谱，泵浦探针，二维光谱以及单分子的研究。主要特点高光通量，高灵敏度(1cm通光孔径，没有任何光栅或输入/输出孔径狭缝)宽光谱范围：标准版400-2300nm、超宽带版250-3500nm≈1阿秒稳定性（对两束复制光）自定义扫描范围对振动不敏感尺寸紧凑（176 x 44 x 54.5mm）轻便（≈400g）应用领域：干涉测量 激光对产生GEMINI在探测端时间/频率分辨荧光泵浦探针光谱相干拉曼光谱GEMINI在激发端单分子表现特征 和TCSPC探测器组成的时间/频率分辨荧光系统实验配置：GEMINI干涉仪放置于和TCSPC连接的单光子探测器之前，可以在保证时间分辨的同时获得荧光的波长信息。 相干拉曼（受激拉曼散射）和泵浦探针光谱实验配置：GEMINI干涉仪置于探针/斯托克斯光束入射样品后方，可以测量受激拉曼散射和MHz调制频率的泵浦探针光谱。单分子激发-发射图GEMINI干涉仪可以在短时间内以异常高的精确度和灵敏度获得单分子的特征描述 技术规格UV-SWIRVIS-MIDIR光谱范围200-3500nm500-5000nm延时稳定性小于1阿秒运行模式阶跃扫描或连续扫描尺寸10×8×8cm重量750g 武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！