高精度薄膜测厚仪

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

校准级高精度非球面透镜1）非球面面形偏移RMS值可达0.25μm2）提供完整的计量数据3）提供0.66和0.50NA透镜我们的TECHSPEC® 校准级高精度非球面透镜提供现成经抛光非球面透镜的zui佳性能和精度。这些组件提供改善的非球面面形、表面质量及中心规范，优于我们的TECHSPEC® 标准高精度非球面透镜，是集成到研发及OEM应用等的理想之选。这些高数值孔径透镜在提高微光检测系统的效率，或需要紧凑的光路应用方面非常出色。每个透镜都编有序号，且提供一套完整的计量数据包。该测试数据包包括在我们的Taylor Hobson Talysurf Profilometer上运行的薄膜测厚仪，球面干涉图，以及直径、中心厚度和中心定位的测试值。有关定制设计的非球面透镜、镀膜要求或批量定价的详细信息，请联系我们的销售部门。Common Specifications涂层:Uncoated基底:L-BAL35直径容差 (mm):+0.0/-0.1中心厚度容差 (mm):±0.10表面质量:20-10中心偏（弧分）:技术数据订购信息直径 (mm)有效焦距 EFL (mm)数字孔径 NA中心厚度 CT (mm)产品号2518.750.6610#69-14125250.57.5#69-1425037.50.6619.4#69-14350500.519.4#69-144

TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

SKCH-1（A）精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置，主要用于各类材料厚度的精密测量，也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点1、采用精密花岗岩工作平台，精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度：0.001mm产品规格尺寸：200mm×150mm×320mm

erichsen433湿膜测厚仪erichsen433湿膜测厚仪可在任何表面上进行。因为全部机械式，故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。 433湿膜测厚仪每片有4种测量范围：5-100微米，100-300微米，300-700微米以及700-1500微米，不锈钢制造，精度高。 符合 ISO 2808，BS 3900:C5 标准。技术指标： 5~100 μm ( 分刻度 5 μm) 100~300 μm ( 分刻度 10 μm) 300~700 μm ( 分刻度 20 μm) 700~1500 μm ( 分刻度 40 μm)

彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信简单介绍大量应用与彩涂及胶水行业油漆湿膜的测量234型湿膜测厚仪是德国Erichsen(仪力信)漆膜测厚仪,包含型号:234R/I,234R/II,234R/III,234R/IV,234R/V,234R/VI,234R/VII,234R/VIII。仪器由两个经硬化和研磨的钢轮及其中间的一个偏心轮盘组成.把仪器在湿膜上滚动,然后从偏心轮沾有油漆的部份读得漆膜的厚度.可测量0-1500微米的厚度,共有8个测量范围.234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信)的详细介绍234型湿膜测厚仪符合DIN,EN ISO,ISO,ASTM,BS,NF.标准。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 特点膜厚测量在油漆和涂料的使用和检测中起一个重要的作用。在决定外观、保护性能和持久性能时，膜厚是一个决定性的因素。涂膜太薄不能提供足够的保护并减少遮盖力。因此，必须执行技术规格所规定的最小厚度并确保这些值的一致性。另一方面，过厚的涂层是使用了太多涂料的结果，相应地增加了成本。而且，较厚的涂层并不总是意味着性能提高，如它们在干燥时间方面会有一个负面的影响。涂层的物理和机械性能取决于漆膜的厚度。如果要执行的是有意义的测试，膜厚必须均匀。湿膜测厚仪用于检查刚刚涂上的涂料，也可用于计算干膜厚度结果。如果测量与指定值有误差，必须立即采取措施改正。机械式测厚仪有一系列优点:便携、操作简单、非技术人员也可使用。结构坚固，读数一目了然。测量可在任何表面上进行。因为全部机械式，故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。与其它类型的测厚仪比较，机械式测厚仪具有更好的价格。应用用于所有的平面或均匀曲面 ( 凹面和凸面 )测试原理碟形测量仪器（图 1 ）在湿膜表面滚动。在此过程中两个滚花，对中轮缘（ 1 ）在基材上滚过，当轮缘到凸轮的距离等于被测湿膜厚度时偏心凸轮（ 2 ）则会粘上涂料。设计和功能加硬、精确磨制的不锈钢测量盘直径为 50 mm ，厚 11 mm 。它包含一个铝制自由旋转滚轮使仪器能在表面滚动。 共有 8 种不同型号和测量范围 ( 见订货信息 ) 。读数刻度刻在盘的一侧，每一个仪器配一个盒子。测量程序测量 1用姆指与食指捏住仪器的导向滚轴 , 将仪器放在测试表面上，使接触点与零线相反。轻压滚动，使仪器向零线滚动，再提起。测量 2 （验证）仪器放置位置如 1 ，但以相反的方向旋转，直到它达到零线。湿膜厚度以湿膜记号出现处读出，并与相对的一侧比较，求出平均值。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 订货信息订货号型号测量范围读数精度0071.01.31234 R/I0~25 μm1 μm0071.02.31234 R/II0~50 μm2 μm0071.03.31234 R/III0~125 μm5 μm0071.04.31234 R/IV0~250 μm10 μm0071.05.31234 R/V0~500 μm20 μm0071.06.31234 R/VI500~1000 μm20 μm0071.07.31234 R/VII0~1000 μm50 μm0071.08.31234 R/VIII0~1500 μm50 μm

超声波测厚仪DM4Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材大型易读液晶显示,菜单式使用者界面即时自动设定3键式操作自动关机，连体探头式，还可自动开机平均置零，利于在粗糙面上置零重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态仪器背面有简要说明耐 用耐磨的蓝宝石探头耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水读数不受振动影响一年保修期精 确每台仪器都有校准证书，符合NIST标准可达到极高的精度（请参阅背页的订货指面）可提供校准程序和标准板符合美国和国际标准性能卓越密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换易于调整到任意已知厚度多种探头多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。反转显示：独有的反转显示，无论手持测厚仪还是放置在工作台上，阅读都很方便。连体探头：便于单手操作标准型（1）具有左边所列的所有特点。统计型（2）具有标准型所有功能，且读数超出设定范围时有声光提示。测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数HI-RES模式：高精度测量时可增加读数分辨率可设定内部自动关机时间储存多至250个读数内置红外线界面，可打印至廉价的无线红外打印机分离探头各款探头可互，提供更多样化的测试。标准版可在多种不同厚度上验证仪器出自NIST的标准包含有校准证书配备安全、方便的贮存袋记 忆远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。建立／注释／编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。存贮达16000个数据，可分为最多1000组配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑，串行打印机或数据收集仪等。奉送PosiSoft分析软件，在Windows平台的电脑上运行。内置式远红外打印接口接打印机。PosiSoft 软件－在 Windows 上运行，功能强大，易学易用。当选择记忆型时，软件无需额外费用，随机奉送。从PosiTector 100型读取数据容易。用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。图表可表示单个涂层也可显示总厚度。可打印基本图表及柱形图。提供数据和时间资料。使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。理想的涂层厚度监控及分析应用软件。记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能，且储存10000个读数，可分成200组SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值读数可即时输出,也可先行储存待日后处理提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件提供RS-232串行线，用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材储存在记忆里的各组读数，可再分细组、查阅、更新或删除 ]内置时钟，每个储存的读数均加上日期和时间标签PosiSoft for Windows功能强大 使用简单订购记忆型（3）随机附送易于从仪器收集数据可输入提示说明显示和打印图表使用通用格式储存数据如ASCII码方便监视和分析膜层厚度支援多种语文分离探头各款分离探头可互换每个分离探头均附可追溯至NIST的证书镀金的耐用带锁接头适用于工业环境优质柔性防破损连线加长线(可达75米)便于远程测量所有标准探头均可在水下使用所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外微型探头（铁性基材或有色金属）用于细小及难到达的表面，有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器微型探头转换为恒压° 可将0探头，测量细小的平面或曲面无线打印机(2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 )独特的复合型（FN）探头不须更换探头可测量所有金属表面自动识别铁/有色金属表面减少误操作影响可测量钢上的镀锌层，铝上的氧化膜，金属上的涂层、钢上的铬层等等。特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材，如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层提供连体探头和分离探头配置测量粉末涂层的理想之选记忆型（3）仪器,在分组模式下的显示样本测量读数可分 ( 至 200) 组Batch1 Cal n5021.00x3.61 &sigma 42.0x20.1 &darr F 20.1显示 铁/有色金属基材多用途:从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时，可准确的重覆定位 双重用途探头盖连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。&larr 多个基材较准资料&larr 即时统计资料&larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南探头（每个仪器仅带一个探头，需要额外探头需另行购买）大量程 NHS 大量程 FHS所有仪器包括 :有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带（只限连体探头型号）、证书（NIST）、一年期保修。 记忆型( 3)还包括 :用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft，RS-232接线及携带箱。加长线（可达 75m/250ft ）适于水下或远程测量，请在订货时注明。 尺寸 :147x61x5mm（5.8x2.4x1寸）重量 (不带电池):170g(6盎士) 符合以下标准 :ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围：1-5um；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0002 nm @ 1000 nm；测量速率：4Hz；最大带宽：1GHz； 光学输入：准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围：NIR 520-1700nm；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0008 nm @ 1000 nm；测量速率：10Hz；最大带宽：10GHz； 光学输入：预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围：NIR 520-1700nm；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0002 nm @ 1000 nm；测量速率：4Hz；最大带宽：1GHz； 光学输入：预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。671A型是精确的，测量波长的精度为±0.2百万分之一（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代品，精度为±0.75百万分之一（1000 nm时为±0.0008 nm）为了保证波长测量的准确性，671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源，因为它的波长是众所周知的，并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度，671A系统使用单频HeNe激光器，该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中，使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入，波长高达2.6μm。自由空间光圈输入，具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件，用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波（重复频率10 MHz）波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1，2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm)IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR：预对准FC/UPC或FC/APC连接器（芯径9μm）-可选自由光束到光纤耦合器NIR2：预对准FC/UPC或FC/APC连接器（芯直径7μm）-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR：准直光束，2-3mm直径孔径，可见示踪光束，便于对准仪表接口USB和以太网接口，带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库（SCPI）计算机要求 12运行Windows 10的电脑，1 GB可用RAM，USB 2.0（或更高版本）端口，显示器，定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸（高x宽x深）13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) （1） 定义为测量不确定度或最大波长误差，置信度≥99.7%。（2） 可追溯到公认的物理标准。（3） 对于671A，仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。（4） 对于671B，仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。（5） 波长分辨率大约是可重复性的两倍。（6） 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。（7） NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。（8） 带宽为FWHM。当带宽较大时，波长精度会降低。（9） 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。（10） 特性性能，但无担保。（11） IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。（12） 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。（13） IR和MIR仪器高度可调（7.25±0.25“），用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利，以改进其产品的设计。规格如有更改，恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

PosiTest DFT 测厚仪以下行业使用效果理想粉末涂料涂装员涂层检测员涂装承包商汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材)Combo(复合型针对所有金属基材)就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号PosiTest DFT Ferrous:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层PosiTest DFT Combo:测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点测量快速，重复性好大部分材料上无需校准调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上无法调零时可使用方便的重启功能坚固耐磨损的红宝石探头测量时听觉和视觉的双重指示探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面密尔 / 微米单位转换每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格测量范围0 - 40 mils0 - 1000 um精 度± ( 0.1mils + 3%)± ( 2um + 3%)尺 寸4 × 1.5 × 0.9 in100 × 38 × 23mm重 量2.5 oz70 g 仪器包括内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

高精度波长计筱晓光子供应高精度波长计，SHR高精度波长计和SHR-IR近红外波长计可供选择。该系列激光波长计具有如下特点：测量精度高、光谱范围宽、结构紧凑、无移动部件、光纤耦合输入，应用于：连续激光波长测量、脉冲激光波长测量。SHR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range190-1100nmAbsolute accuracy±0.003nmSpectral resolution0.006nm for 193nm, 0.04nm at 1200nmSource linewidth requirement≤125см-10.5nm at 193nm, 18nm at 1200nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905SHR-IR Laser Wavelength MeterOperation modesCW and pulsed (externally triggered)Spectral range600-1800nmAbsolute accuracy±0.02nmSpectral resolution0.15nm for 600nm, 0.48nm for 1800nmSource linewidth requirement≤125см-14nm for 600nm, 40nm for 1800nmOptical interfaceoptical fiber(400um core diameter, 1m length, SMA905 connector)diffuse attenuator FA-3 equipped with SMA-905

PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。高级型：最多测量3层并带有图形显示应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度，如混凝土、木材、复合材料等价格低廉使用简单非破坏性PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量，测量大多数涂层时无需调校菜单操作双色指示灯，适于嘈杂环境重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境防震保护橡胶皮套，带皮带夹主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟)成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数内部存储最多10000个数据，最多可分1000组内置时钟可对存储的结果标注时间、日期输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯背光显示，可用于阴暗环境英制/公制两种单位，可相互转换多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准- PosiSoft 分析软件:可以输入注释可以打印和显示基本的数据分布图和直方图可以输出到一个文件或试算表中提供连接打印机和计算机的数据线红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带，3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书，保修一年。尺寸:146 x 64 x 31mm重量:105g（不含电池）1. 阅读容易，防划花，液晶显示2. 指示灯在噪音环境中，方便确认读数3. 红外线接口用于无线打印4. RS232 接口用于下载5. 坚固外壳，耐溶剂、酸、油、水和灰尘6. 压力恒定，探头测量面为塑料，不会划伤测量面7. 舒适把手，减少操作人员的疲劳8. 柔软连接线 技术参数 B/标准B/高级C/标准C/高级量 程13-1000um0.5-40mils 25-1000um分辨率 0.1mils2um精度 ± 0.1mils + 3% 读数± 2um +3% 读数测量速度 45 读数 / 分钟

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。GS15800高温薄膜制样系统技术参数：最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求一周期40分钟通过CE安全认证集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm薄膜直径29mm压力范围0-2吨一体式加热盘系统双数字显示，精度1度安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数：操作温度高达300℃一周期30分钟4T的载荷极限0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm薄膜直径29mm双数字显示，精度℃可配套加热板P/N GS15515使用冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃)薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

XRF測試用的麥拉膜材質、XRF专用圆形薄膜、X射线荧光膜、迈拉膜、麦拉膜--美国Premier TF-160-255# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Premier样品膜。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉 。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； *佳的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； *佳的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：TF-160-255（圆片）产品信息：MYLAR膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度6.0μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Premier（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米；波长范围：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm光源：使用显微镜光源光斑大小：由显微镜物镜决定计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：120x120x120mm重量：1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量

高精度压强控制系统一、简介依阳公司出品的高精度压强控制系统是一种高度智能化的真空测量仪器和控制设备，采用了人工智能PID控制技术，可与国内外各种型号的压强传感器（真空计）和调节阀连接，实现高精度的压强（真空度）定点和线性控制，为可控气氛环境的实现提供了有效可靠技术手段。依阳公司出品的高精度压强控制系统采用的智能化控制技术，与现有压强PID控制相比具有控制迅速、响应快、超调小、精度高等特点。 二、技术指标（1）模拟量输入：0～10 直流（标定压力和流量）（2）模拟量输出：0～10 直流（压力和阀位置）（3）压强传感器的扫描速率： 毫秒（4）输入/输出速率： 毫秒（对于数字气体控制阀VDE016）（5）控制精度：传感器量程的 ；计算机接口形式：RS232C和RS485。三、特点（1）采用了人工智能PID控制技术，PID参数的选择完全实现了智能化和自动化，大幅度简化了目前众多国外著名品牌压强控制器PID参数人工优化过程，明显提高了控制精度和稳定性，充分发挥了压强传感器和控制阀的强大功能。（2）压强控制系统可以根据工艺需要配备多种结构形式，可以采用人机界面触摸屏形式，也可以采用面板显示表，甚至可以采用模块形式。而且这些结构形式都可以与各种上位机和计算机进行连接构成完整的工艺系统。（3）压强控制器有两种控制模式，一种是可变气流量（上游控制）压强控制模式，另一种是可变通导（下游控制）流量调节模式。 上游控制压强模式 下游控制压强模式（4）支持上限、下限、偏差上限及偏差下限等多种报警功能，并可自由定义多个报警输出端口，支持多个报警信号从同一位置输出。具备上电免除报警等功能，避免上电报警误动作。（5） 可以在大型的控制系统中，将多个依阳压强控制器设定为不同的从地址，然后一起接入控制系统，由一台上位机（计算机、PLC等）进行集中控制，组成集中控制系统网络。目前，同一控制系统网络最多可接255台依阳压强控制模块。

高精度XRF分析仪配件M3L是专为固定和移动实验室检测设计的X射线荧光光谱分析仪, XRF Analyzer。它具有轻元素（钠，镁，铝，硅）测量极高灵敏度，配备了氦气吹扫通道系统（在大气压0.5-1atm下，流量为30-45ml/分钟）。高精度XRF分析仪配件M3L特色具有宽敞测量室，室内安装有用于大尺寸样品分析的照明灯。内置热敏打印机可直接打印输出测量数据。内置通风系统和过滤元件加强了防尘保护。 高精度XRF分析仪配件M3L特点 对每一种金属组件进行成分分析 快速可靠地识别所有合金级别 评估钢和铸铁中的碳含量 分析特殊合金，包括钛、镁、镍/钴，等 测量合金中的贵重的金、银和其他贵重的金属含量高精度XRF分析仪M3L度量数 从12mg镁到92U铀（可选11Na），在一个单一的测量中同时确定元素 被测元素的含量范围0.005-100 % 元素检测限制-1ppm 测量时间- 少于1分钟。 （一般为10- 30秒。）高精度XRF分析仪配件M3L规格操作持续时间自备电源内部系统的时间电源-交流电，50 / 60Hz功耗测量单元操作温度范围工作温度范围内的相对湿度测量室尺寸所测样品的最大重量测量单元尺寸测量单元重量无限至少6小时100-240 V+10C to +45C300x150x240 mm20 kg412x312x312 mm

高精度热分析样杯 一、产品概述 1、热分析因其快速、简便、可靠和低成本而被广泛应用于铁水成份的现场测试和控制，当铁水倒入样杯后，铁水随时间而逐渐凝固，热分析就是根据其冷却曲线的温度平台，测定并计算出碳当量、碳含量，硅含量等成份参数 2、系列高精度热分析样杯是由设计合理的样杯和高精度的K型热电偶组成 二、产品特性： 1、合理及可靠的样杯设计，确保极性正确地与热分析接插件相连 2、水平的石英保护管设计，使得响应速度更快 3、浇注温度范围宽广 4、重复性好和稳定性强的冷却曲线 5、高的测成率 三、产品应用 1、碳当量CEL：由公式％CEL=C+％Si／4+％P／2表达，在铁水样刚开始凝固时，捕捉到的液相线温度直接与该值有关。 2、碳含量C：由液相温度TL和固相温度TS这两个温度值决定 3、硅含量Si：通过测量固相温度，由此可以计算Si，并通过一个调整因子来校准硅值， 该因子与铁水中的碳量有关。 4、其他应用：孕台控制，通过共晶过冷度的测定，控制孕育；通过测定液相温度和过冷度，预测铁水的机械和物理性能；球化率的计算，基于相对导热性原理，可以计算球铁铁水的球化率

specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、样品薄膜、XRF迈拉膜、XRF专用圆形薄膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 106#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：106产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度2.5 μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified?Thin-Film Sampel SupportsMYLAR? POLYESTERPRE-CUT CIRCLES(2.5” Diameter x 63.5mm)CAT. NO：106Gauge：0.00010”，2.5 μm；0.10mil，25,400ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex? INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：092375。现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

是否提供加工定制：否品牌：德国PG型号：SMART类型：微量移液器结构形式：可调式移液器测量范围：0.1~10000μl重量：0.5（kg）适用范围：所有液体颜色：黑色VOLAC SMART新一代微量移液器：具有高性能、高精度的优势，使用特殊的防物理/化学腐蚀材料， 100%抗紫外线，又轻又坚固耐用，可整支高压灭菌。颜色识别系统能让您更容易地辨认型号。校准符合ISO 17025国际标准，有单个质量认证和符合ISO 8655检验报告。产品优点：设计符合人体工程学活塞的动作平稳握在手里很轻松适合左手/右手使用特殊的PTFE密封件手柄的材料为特殊的弹性热塑性的包膜，可防止在使用较长时间后人体的温度影响移液器的精度四位数字显示，精确易读Click stop结构能防止无意的量程调节错误移液时显示屏始终清晰可见Soft-Touch轻触式吸头拆卸简易校准目录编号刻度μlOFSSVA-1250.002OFSSVA-1000.02OFSSVA-2000.1OFSSVA-5000.1OFSSVA-6001OFSSVA-7000.02OFSSVA-8000.2OFSSVA-90510OFSSVA-100020

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的*球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性*佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国*利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片