高浓度粒度分析仪

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

仪器简介： 作为专业将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，高可达40%w/v。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～10μm（与折射率，浓度，散射角有关）；2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v；3.典型精度：1％；4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池；6.分子量测定范围：342～2*107Dalton；7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃；8.pH值测量范围：1-14；9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）；10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道，支持两路互相关；12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数；13.散射角：13°、90°与173°（自动选择或设置测量点位置） 选件：1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.Zeta电位升级：具有Zeta电位测量功能；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度；7.21CFR软件：符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料；

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%w/v。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～10μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道，支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：15°、90°与173°； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.Zeta电位升级：具有Zeta电位测量功能；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件：符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～10μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°； 3.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 4.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

PSS FX-Nano 高浓度计数粒度分析仪 型号：PSS FX-Nano 高浓度计数粒度分析仪 PSS FX-Nano 高浓度计数粒度分析仪集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身，为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。FX系列Z小可以测试计数到150nm,浓度高达10million个/mL的样品。可以满足蛋白质聚集和高浓度slurry的测试要求，是PSSZ全能性的颗粒计数器系列产品。The AccuSizer FX and FXnano are high concentration single particle optical size sensors (SPOS) that have the sensitivity to detect small differences in particle size distributions. They were designed to allow particle size monitoring to go from the R&D laboratory to the process line with a minimum to system reconfiguration.The AccuSizer FX utilizes a focused beam technology that allows the sensor to focus on a specific area of the flow channel to count and size individual particles starting at 0.15 microns and at concentration levels exceeding 10 million particles per mL. These are concentration levels that are millions of times higher than traditional sensors. Although this type of approach has been tried by other techniques to monitor high concentration process streams it has been plagued by low resolution ad accuracy. The FX utilizes a patented electro-optical configuration that maintains the same levels of resolution and accuracy found in our traditional SPOS sensors.The FXnano provides a summation signal that extends the lower size limit of the sensor below the standard FX sensor. Classically one of the limiting factors in the lower size limit of single particle optical sizers was the need to find diluents that are clean enough so that they do not add or make up most of the background counts of the sample being analyzed. The tremendous increase in particle levels with the FX sensors makes it easier to reach lower sizes where background count levels are no longer a concern. In the past a few thousand counts in the background would cause great concern but now with concentrations exceeding 10 million a few thousand background counts do not affect the overall distribution. This becomes critical when looking at nano particles below 0.5 microns.

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

高浓度计数粒度分析仪AccuSizer A9000 FX 介绍 高浓度计数粒度分析仪AccuSizer A9000 FX 集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身，为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。FX系列最小可以测试计数到150nm,浓度高达10million个/mL的样品。可以满足蛋白质聚集和高浓度slurry的测试要求，是PSSzui新最全能性的颗粒计数器系列产品。 应用领域: 蛋白质 CMP slurry,Inks 墨水涂料，乳剂、过滤器等行业。工作原理：FX采用单颗粒光学传感技术和zui新的传感器FX sensor 来完成对颗粒信息的采集。FX工作原理及其模型如下: 脉冲信号由粒子的大小和轨迹决定• 入射光强越强，脉冲信号越大,DVLE• 给定大小的粒子根据路径具有非常宽广的的脉冲信号,• 通过回旋的脉冲信号得到粒子分布。 技术参数一、工作条件1.1 电源：220V1.2 室温操作情况：温度 5℃～40℃，湿度 20～80%。1.3 放置条件：拥有超净台的实验室或GMP生产车间。二、技术参数2.1 符合并超过美国药典USP 788，USP 789，USP1788的全部现行要求，符合 EP，CP2015版等多种药典；符合ISO16232，NAS1638等国际标准；有欧盟CE认证证书2.2 检测粒径范围：0.15um — 400um2.3 粒径通道数： 512个数据通道, 32个自定义通道2.4 流量： 5 mL/min—120 mL/min，流速准确性：±1%2.5 样本温度：5-60℃2.6 进样体积： 100%，体积误差率：＜1 % 2.7 注射器可选择1mL、2.5 mL、5 mL、10 mL、25 mL、50mL2.8 进样量： 50uL - 1000mL2.9 zui高浓度： 每毫升1.8*106颗2.10 感器分辨率：大于98%，粒径准确性：±1%， 计数准确性：＜ 2.5%2.11 检测时间： 小于1min2.12 传感器具备自动校准功能，Calibration time 小于 30min。2.13 供电：120-240V, 50HZ-60HZ2.14 仪器尺寸重量： 采样器： 10Kg, 长：33cm 宽：33cm 高：30cm 计数器： 11Kg, 长：46cm 宽：30cm 高：18cm三、主要配置 不溶性微粒测定仪主机包含：AccuSizer A2000-USP 注射进样模块：Includes: Syringe sampler with sensor mounting plate and magnetic stirrer.注射进样器，配有传感器固定台和磁力搅拌器；注射器为2.5ml ,10mL, 25ml。AccuSizer A2000 LE400-0.5 Light Obscuration Sensor 光消减传感器：Includes: Dynamic range of 0.5-400 microns, 1000 x 400 micron flow cell, can handle flow rates of up to 120 cc/min粒径范围：0.5微米 – 400微米，1000 x 400微流速控制器，可以控制流速到120cc/分。AccuSizer A2000-USP counterAccuSizer A2000微粒计数器。AccuSizer A2000-USP Controller/Analyzer Software for WindowsIncludes: Software compatible with Windows XP or better operating systems.A2000控制分析软件，软件兼容windows XP及以上版本系统。AccuSizer A9000FXnano-SIS Extended Range Optical Particle Sizer.AccuSizer A9000FXnano-SIS 光学粒径检测器模块：Includes: Two Fast Pulse Counters, one for FX-Nano sensor one for LE sensor, 1 Mhz A/D converter, 14 bit Resolution, Multiple DSP signal processor capable of performing patented pulse height analysis, can be controlled by PLC or other digital controllers.配有双重快速脉冲微粒计数器，一是为FX-Nano传感器，二是为LE型号传感器，二者可同时捕捉搜集极小微粒信息，并计算微粒数目；快速脉冲计数器为1 MHz A/D converter, 14-bit resolution，有多数字信号的处理器 / 接口板，提供多通道的快速检测功能 (MCA)，能够受控于PLC和其它数控装置。AccuSizer A9000FXnano-SIS Light Obscuration Sensor.AccuSizer A9000FXnano-SIS消减传感器：Includes: Dynamic range of 0.15 - 20 microns nominal, 200 times higher coincidence limit, can handle flow rates of up to 15 cc/min.粒径范围：0.15微米 – 20微米，检测限度高于其它传感器200倍，可以控制流速到15cc/分。AccuSizer Model A9000 LE Light Obscuration Sensor. AccuSizer Model A9000 LE光消减传感器：Includes: Dynamic range of 0.5 - 400 microns, 400 x 1000 micron flow cell, can handle flow rates of up to 120 cc/min.粒径范围：0.5微米 – 400微米，1000 x 400微流速控制器，可以控制流速到120cc/分。AccuSizer A9000FXnano-SIS Optical Controller/Analyzer Windows Software.AccuSizer A9000FXnano-SIS控制分析软件：Includes: Software compatible with Windows XP or later Operating System, blends each sensor range into a continuous PSD. 兼容Windows XP系统及以上版本系统，可以兼并两个传感器的粒径分布信息。AccuSizer A9000FXnano-SIS注射进样模块：Includes: Syringe sampler with sensor mounting plate and magnetic stirrer.注射进样器，配有传感器固定台和磁力搅拌器；注射器为2.5 mL,10mL, 25ml。AccuSizer A9000FXnano-SIS counterAccuSizer A9000SIS- FXnano微粒计数器。AccuSizer A9000 FXnano-SIS Controller/Analyzer Software for WindowsIncludes: Software compatible with Windows XP or better operating systems.A9000SIS控制分析软件，软件兼容windows XP及以上版本系统。

APS100高浓度纳米粒度仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。APS100高浓度纳米粒度仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；APS100高浓度纳米粒度仪技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

美国MAS高浓度纳米粒度仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。美国MAS高浓度纳米粒度仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；美国MAS高浓度纳米粒度仪技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

德国新帕泰克sympatec纳米激光粒度仪NANOPHOX CS传统DLS仪器采用光子相关光谱 (PCS) 技术，无法避免高浓度测试下多重散射带来的结果偏差问题，往往需要大量稀释。光子交叉相关光谱(PCCS) 技术采用双光束设计，通过相关处理获得单散射信号，从而提高了高浓度检测的准确性；在此基础上，NANOPHOX CS 创新设计的偏振分离后向散射PCCS技术，实现了更高浓度以及更快速的纳米样品分析。纳米激光粒度仪 NANOPHOX CS 功能及特点：1. 增强检测浓度范围，可分析高浓度不透明原液样品2. 颗粒大小及稳定性的检测结果与体系浓度无关，简化样品制备流程3. 自动化测量设置，可自动评估样品的可测量性和信号质量4. 可进行高浓度样品材料的研究，如稳定性、颗粒间相互作用等5. 测试速度快，检测结果重复性高6. 集合PCCS 与 PCS两种模式于一台仪器7. 稳定、简便的测试方法，广泛应用于质量控制和研究纳米激光粒度仪 NANOPHOX CS 技术参数： 参数指 标测量原理偏振分离后向散射光子交叉相关光谱法（PCCS）测试范围0.5 - 10000nm , 可测悬浮液，乳浊液，微乳液等体系数据处理采用不同的计算方法，可给出纳米颗粒的平均粒径和粒径分布的详细数据浓度范围ppm -70 vol.％*，并可直接测量荧光物质、带颜色的物质光源半导体激光，波长660nm，光源稳定激光功率30mw，可以通过软件调节控制激光功率大小产品激光等级1 级测量技术TCP/IP传输，双激光束、双检测器相关器多通道相关器，小采样时间30ns温控系统Peltier控温系统，测试范围：0-90℃，通过软件自动控制温度温度稳定性：±0.1℃测试时间1-3分钟* 同样品特性有关纳米激光粒度仪 NANOPHOX CS 应用示例：牛奶蛋白

APS100型高浓度纳米粒度仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。APS100型高浓度纳米粒度仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；APS100型高浓度纳米粒度仪技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用； APS100型高浓度纳米粒度仪

AREPA 在线检测高浓度纳米分析仪应用领域：泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液（包括石油相关产品）在线粒度测量，工业加工状态，不必稀释样品经硬件设计可全(24 hours/7 days) 候运作，无需移动部件实时控制的快速测量 Mass Applied Sciences（MAS）推出一款新型的声波传感器粒径测量，用于监测和控制湿泥浆/胶体产品，包括半导体化学机械抛光（CMP）泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液（包括石油相关产品）、药品以及食品和生物胶体。这款声粒径传感器不必用到运动部件，可测量处于工艺过程状态的泥浆，不必稀释， 大型工业市场的必要需求。这款新型的声波传感器粒径测量可用在许多工业生产 如加工管道、化学反应器、瓷砖印刷设备、半导体 CMP 抛光、石油生产/加工、药品输送系统等，同时具有显著的经济效益。MAS 基礎实验室的声波传感器粒径仪器目前已用於业界和学术界。MAS 申请中的声波传感器粒径，提供声衰减光谱测量，无需稀释样品，也无需使用移动部件。典型基础实验室的声衰减仪器，使用高分辨率的移动台，量测样品中多个间隙处的未稀释衰减（可对增强的粒度分布数据，进行宽带声测量）。然而对于连续运作而言，不希望用到移动部件。MAS 的声传感器经由分离声波换能器，在声反射层上的多个步骤，成功连续运作并在测到的声衰减谱中，演算产出粒度的分布数据。下图显示的声反射粒度分析（AREPA）传感器。蓝点代表液体中流动的粒子。 图1AREPA 在线检测高浓度纳米分析仪Particle Size Data 粒度数据下图显示了来自在线粒度测量在线声学传感器（AREPA）的数据。所讨论的样品是日产化学水中二氧化硅，其标称平均粒径为 110 纳米。下面的数据与这个名义粒径吻合得很好1)提供的测量值2)粒度分布 平均粒径 粒度百分比温度3)衰减和声速光谱 4)可选的 pH 值和电导率

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

喷雾颗粒的大小及其控制决定了许多产品的最终质量，如吸入给药过程中的药物输送，燃油喷雾，气溶胶，火箭发射时燃料的燃烧效率以及无人机喷洒农药效率评估，能源化工行业及喷嘴研究等诸多应用。由于喷雾颗粒的高速运动，粒径范围宽及雾场的不规则，要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计，以实现对喷雾粒度进行准确的分析。Spraylink的最高采样频率可达10kHz，系统使用最优化的高灵敏度检测和全息信号处理系统，并融合高浓度补偿技术，极大减少了在高浓度喷雾颗粒粒度的测量时多重衍射对结果的影响，可确保在高达90%的遮光度下准确测量雾滴颗粒的粒度分布。且无需更换透镜，粒径范围高达0.1μm -2080μm。Spraylink-E型仪器是Spraylink的普及版产品，采样速率为2000Hz。Spraylink 高速喷雾粒度分析仪杰出性能包括： ◆ 10kHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布◆ 独特的透镜设计和光路系统优化，宽广的喷雾雾场测量范围◆ 无需更换透镜，即可覆盖0.1μm–2080μm的动态测量范围◆ 全自动智能光学对中◆ 可加配 独特的镜头吹扫保护装置◆ 用户自定义的光学导轨配置◆ 最新高浓度补偿分析技术◆ 灵活的多触发选项，实现不同应用的测量同步◆ 全金属外壳和支撑配合高精度光学导轨计，兼顾极高的稳定性和灵活性◆ IP65密封防水等级的发射和接收单元◆ 喷雾全过程喷雾粒度变化跟踪分析◆ 喷雾过程不同时刻喷雾粒度结果呈现，用于检查喷雾颗粒大小随时间变化的动态过程◆ 测量结束后喷雾粒度历史结果回放功能 项目性能指标或描述（右上角标“*”者仅适用于Spraylink-E型产品）测量原理激光衍射/静态散射光学模型完全米氏理论，包括高浓度补偿技术粒径范围0.1μm-2080μm，无需更换透镜工作范围0.3μm时为150mm，7μm时为1800mm浓度范围最高遮光度：90%（取决于粒径范围）检测系统非均匀交叉及面积补偿的检测器阵列光源波长638nm，20mW集成恒温及偏振空间滤波的高稳定固体激光器组件光学对中系统智能全自动数据采集速率最高10kHz（2 kHz*），连续可调，准确度Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)重复性Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)测量触发方式内部：透光率或光衍射信号；外部：TTL电平输入或开关触发外部设备同步TTL触发输出激光安全1类激光产品操作环境密封等级IP65（适用于发射和接受系统）光学系统重量28kg光学系统尺寸1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)，长度可根据用户需要调整

真理光学技术团队具有超过二十年的粒度表征及应用开发的经验，曾研发出商用激光粒度分析仪。喷雾颗粒的大小及其控制决定了许多产品的最终质量，如吸入给药过程中的药物输送，燃油喷雾，气溶胶，火箭发射时燃料的燃烧效率评估，能源化工行业及喷嘴研究等诸多应用。由于喷雾颗粒的高速运动，粒径范围宽及雾场的不规则，要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计，以实现对高速喷雾粒度分析仪进行准确的分析。Spraylink 高速喷雾粒度分析仪杰出性能包括：◆ 10KHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布◆ 独特的透镜设计和光路系统优化，宽广的喷雾雾场测量范围◆ 无需更换透镜，即可覆盖0.1um–2080um的动态测量范围◆ 全自动智能光学对中◆ 独特的镜头吹扫保护装置◆ 用户自定义的光学导轨配置◆ zui新高浓度补偿分析技术◆ 灵活的多触发选项，实现不同应用的测量同步◆ 全金属外壳和支撑配合高精度光学导轨计，兼顾极高的稳定性和灵活性◆ IP65密封防水等级的发射和接收单元◆ 喷雾全过程喷雾粒度变化跟踪分析◆ 喷雾过程不同时刻喷雾粒度结果呈现，用于检查随不同时间喷雾颗粒大小变化的动态过程◆ 测量结束后喷雾粒度历史结果回放功能测量原理激光衍射粒径范围光学模型工作范围浓度范围检测系统光源激光安全光学对中系统数据采集速率测量速度0.1μm -2080μm，无需更换透镜完全米氏理论，包括高浓度补偿技术0.3μm时为150mm，7μm时为1800mmzui高遮光度：90%（取决于粒径范围）38单元非均匀交叉及面积补偿的检测器阵列波长638nm，20mW集成恒温及偏振空间滤波的高稳定固体激光器组件3B级激光产品智能全自动zui高10kHz，连续可调每秒10000次准确度Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)重复性测量触发方式外部设备同步Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)内部：透光率或光衍射信号；外部：TTL电平输入或开关触发TTL触发输出软件 计算机zui低要求Intel i5处理器，8G内存，250G硬盘，鼠标、键盘和19英寸平板显示器、USB2.0或以上接口操作平台Windows 7 或以上专业版操作环境密封等级IP65（适用于发射和接受系统）温度/湿度5℃-40℃，＜85%，无冷凝电源要求 重量和尺寸交流220V, 50/60Hz，标准接地主机系统重量28kg主机尺寸（含光学导轨）1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)

美国MASCHDF-3000原液高浓度纳米粒度仪新的 CHDF 3000 提供：高分辨率粒度分布（PSD）测量新的技术，包括颗粒检测高灵 敏度、动态范围和纳米颗粒优化析。粒子分馏的真实 PSD 数据。无需对粒径分布的形状进行假设。精确非均匀样品分析—包括纳 米颗粒—归功于其与颗粒密度无关的分析。自动/无人操作。所有组件都在一个简易单一窗口界面控制和操作。美国MAS应用科学公司的新 CHDF3000 系统，在高分辨率粒度分布（PSD）分析方面有卓著新的进展。CHDF3000 使用毛细管流体动力分馏（CHDF）技术按大小分离颗粒。架构于光散射仪器、主要提供平均粒径数据—任何平均粒径都可由无限多的 PSD 产生（见下文）。相反，CHDF3000在 5 纳米到 3 微米范围内提供完整、真实、详细的 PSD 数据。接下来将介绍CHDF3000 的一些优势亮点。美国MASCHDF-3000原液高浓度纳米粒度仪优势毛细流体动力分馏：详细 PSD 数据、广泛多样 PSD 准确报告宽动态范围检测：在主要粒子群中，对次要粒子群进行大动态范围检测可靠性较高和简易操作：质量控制/研发/在线使用全面的粒度分布数据报告连续监测/控制所有测量数据：与泵、紫外线检测器和自动采样器串联占地面积小其他1. 自动取样器/无人值守分析2. 样品量： 10%的高分辨率能力3. 适用于非均匀成分样品、独立颗粒密度4. 样品量： 1 ml (v)5. 10 分钟

ZetaAcoustic ZA500 电位分析仪 美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪特点：样品无需稀释，测试快速、简易，需样极少且无需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪介绍:ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

SZ902纳米粒度分析仪产品介绍： SZ902纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。主要特点： ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性 ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用 ◆余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS） ◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术产品性能：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位）粒径测量范围0.3nm -15um*粒径测量最小样品量3ul*粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml粒径测量最大样品浓度40%/wv检测点位置距入射点0~5mm可调检测点定位精度0.01mmZeta电位技术余弦拟合位相分析法（CF-PALS）适用Zeta电位测量的粒径任意范围，无明确限制迁移率范围1nm - 120μm*最大电导率270mS/cm电导率准确度±10%电极插入式平板电极、U型毛细管电极分子量范围340Da - 2x107Da温度控制范围-15°C - 120°C温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD样品池12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可选）系统重量16kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) 注：* 取决于样品及样品池选件

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 产品简介： Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。详细说明： 作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列 项目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●● 技 术 参 数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选 件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度 ●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响技术参数1.粒度测量范围：0.3nm～10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度：1％5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积：1～3ml7.分子量测定范围：342～2×107Dalton8.Zeta电位范围：-500mV～500mV9.电导率范围：0～30S/m10.电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s11.电场强度：0 ～ 60 kV/m12.电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）13.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。14.pH测量范围：1-1415.激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）16.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）17.相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数19.散射角：15°、90°与173°20.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg22.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件24.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图