高性能射线荧光仪

借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成，Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪，广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 X射线荧光光谱仪 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。Epsilon 4 任意位置由于较低的基础设施要求，可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行，从而降低氦气或真空维护的成本。超越分析的价值能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 将 Omnian 用于无标分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。支持各类样品Epsilon 4 X射线荧光光谱仪可处理多种样本类型，包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上，对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析，涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案，已在许多行业和应用领域中得到广泛应用，甚至在轻元素分析非常重要的环境中，包括：水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。特点灵活的配置Epsilon 4 是高度灵活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能，并且处于更加具有挑战性的环境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以对碳、氮和氧进行分析。新发展Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。迅速、敏感利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV，可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。降低氦气消耗量Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。

在几秒钟内完成多元素化学成分分析由于时间关键型过程控制或运行样品高处理量，您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析？ 同时测量多达 28 种元素，浓度范围为从 ppm 至 100％，马尔文帕纳科Axios FAST 同步 WDXRF 光谱仪是理想的解决方案。 准确而强大的分析，即使经验不足的员工也可方便地操作，同时正常运行时间长，拥有成本低。快速获得时间关键型应用的结果Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。 主要应用领域包括钢与金属合金生产以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 特点高样品处理量凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios FAST 同步 XRF 光谱仪是高速分析控制的理想产品。通过转盘结构实现的连续进样168 位 VRC 进样器，带有灵活的托盘装载功能，可实现无人值守的批量分析直接进样可实现快速无错样品装载和数据自动录入的样品条形码读取器增强的性能可同时测量多达 28 种元素，每个样品的测量时间低至 2 秒用于轻元素分析的高灵敏度 HiPer 通道最多可选 4 台测角仪所带来的分析灵活性X 射线阳极材料的范围（Rh、Cr、Mo、Au）为特定应用实现了高性能增强的仪器正常运行时间Axios FAST 专为关键型过程分析而设计，按照高质量标准而制造，运用了大量技术来预防和很大程度减少停机。带有 ZETA 技术的 SST-mAX - 可消除 X 射线管强度漂移并减少校准维护CHI-BLUE X 射线管窗涂层提高了 X 射线管的耐用性和耐腐蚀性主动除尘装置可在测量前将灰尘从样品上去除，从而尽可能防止灰尘进入系统，提升正常运行时间外部装有通道的紧凑型测量室 - 无需影响系统真空环境即可接触关键组件 - 从而可在维护后让系统迅速稳定只需用户进行有限干预的专用软件Axios FAST 使用马尔文帕纳科可靠的 SuperQ XRF 软件的新版本， 即使是欠缺经验的员工，也可以在接受低程度指导的情况下开展例行分析，与此同时软件仍可发挥出足以令用户满意的分析性能和功能。自动化Axios FAST 专门的软硬件接口允许灵活地连接样品传送设备和主机以实现全自动的分析。 Axios FAST 还是结合了直读光谱和 X 射线荧光光谱的 TEAMworks（全元素分析系统）解决方案的基础。 应用用于时间关键型的分析Axios FAST 通过在服务实验室等高处理量环境中进行采矿样品（如铁矿石，镍矿石）的分析，以及在钢铁行业所涉及的各种生产和质量控制应用中进行需要即时开展的样品分析，展现了强大的分析能力。 典型应用包括：低合金钢、铁素体钢和奥氏体钢的宽范围校准，铝合金的宽范围校准，钛合金的宽范围校准，低合金钢分析，不锈钢分析，工具钢分析，铸铁分析和制备为熔片的铁矿石样品分析。

微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术，为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。 涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。 使用XFlash探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室 行业应用：1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）2.司法鉴定、法医及痕量分析（弹孔射击残留物GSR分析等）3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)4.生命科学（植入材料扩散材料分析，生物体内的生物矿化，水凝胶质检，树木横断面/叶子/树根年轮）5.材料科学（三元梯度薄膜分析，锂电池正极材料异物分析，水泥钢材腐蚀检验）6.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)7.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）

手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计，轻便小巧，可提供现场对样品的快速无损分析，采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏，操作方便，野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成，仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用，X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能，可记录检测区位地理信息，可联机进行数据传输，具有远程协助技术支持功能。分析元素范围：从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析，各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能，可以准确显示出测量合金的牌号，可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果，可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素，检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体：Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg，Hg〈1mg/Kg，Cd〈3mg/Kg)；1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素，检出限可达mg/L级别(以水基体：Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L，Hg〈1mg/L，Cd〈1mg/L)；2 检测分析时间：3－60秒（可调）；3 重复性：RSD4%；4激发源：50KV/200uA，Ag靶，端窗一体化微型X光管及高压电源，匹配功率≤4W；5探测器：采用美国进口的新款25mm2，0.3mil，fast-SDD硅漂移探测器，能量分辨率可达125eV，探测器使用电制冷技术，无需长时间及频繁等待制冷，4096高通道MCA多道脉冲分析器；6 高性能处理器和存储器：CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G，数据硬盘32G；7屏幕显示：高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏，操作灵敏，可更好应对现场测试强光照射下的数据观测；8准直和滤光系统： 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换；9 软件分析模式：合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式（根据客户需要配置）；10 可自动存储测试结果，包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组，可通过存储卡扩充容量，测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式，并可导出；11数据传输与处理：仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印，同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等；12 开机密码保护，设置操作员和管理员两级操作权限，且仪器前部设置有样品感应装置，具空测时自动切断X射线源功能，确保使用人员安全；13 防辐射安全性：微型X光管整体化封装，仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h（提供CNAS认证第三方检测报告），可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全；14 分析数据自动统计功能：对多次测试可自动统计大值、小值，及标准偏差等；15 测试时间控制方式：具备扳机控制和软件控制模式操作仪器，也可实现USB与电脑连接操作等多种方式；16电池：可充电锂电池，容量6700mAh，充满电正常测试可使用6小时以上，仪器有电量显示功能；17内置GPS功能，可实时采集和记录测试区位的地理信息；18校准：随机配有标准校准片，进行能量校准后测试；19专业的软件功能，可实现谱图的比对放大缩小及导出功能，对各元素的特征能量总和进行独立计算，同时可依据客户要求设定固定测试报告模板，直接输出标准格式的测试报告，传输到打印机可实现现场数据的及时打印；20 仪器质量1.5Kg（含电池）；21 工作环境适应性：湿度-20℃～+50℃， 相对湿度＜90%；标样配置根据客户测量样品配备一款标样。（合金标样、RoHS标样、土壤标样等）标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验应用。借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检结果，并降低检测成本，缩短检测时间。结构旨在经久耐用X-MET8000 具备 IP54 防护等级（相当于 NEMA3），有着卓越的防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳，且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶，可有效防止受到撞击。采用大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口（Expert 及 Optimum 型号的选购件）和高强度厚 Kapton 窗口（Smart 型号）可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。强大的数据管理功能可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（若配备相机）结果和报告可直接下载到 U 盘，或通过 USB 数据线传到PC 上，也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告（无需安装任何软件）。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用，您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库X-MET8000 内含有最全面的牌号库：预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号（例如某个厂商或者产地特定牌号），或者创建自己的牌号库（例如特定的焊接材料牌号库）。预装牌号库包括：| 镍合金。| 不锈钢。| 铜合金。| 铝合金。| 钴合金。| 低合金钢。| 工具钢。| 钛合金。| 锆合金。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×355 × 265mm（L×W×H）重量18KG核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

仪器简介：WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。仪器能同时间分析最多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由x ppm到100%，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（Uranium Z=92）。可同时测量23层不同元素镀层的厚度。共有1024频道显示清晰光谱，可随意选用不同颜色及储存光谱图，方便日后加以分析。因为不同受检样本的光谱可以进行比较，所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。快速的频谱分析以决定合金成分。可以随意创建元素分析应用程式。透过预先设入的14种纯元素作为资料库，仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数（FP）进行分析；如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。可同时接受最多10种不同含量的标准片来调校仪器，所得出的结果更精确及可信赖。用滑鼠选择已经储存的应用档案后，便可即时进行含量分析。测量样品后，可透过“analysis”功能按键，仪器便会自动侦测内里的元素含量。自带SOFTWARE PDM（Product Data Management产品数据管理）提供了以下的附加功能：通过可定义的文件夹实现产品文件管理（产品文件包括应用，数据呈现方式，打印形式定义，输出模板设置和记事簿）。打印形式可由用户随意设定，例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。单个的应用可连接至任何的产品文件（这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数）。使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘，可实现产品自动选择。允许仅对选择的数据进行评估。从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。XYZ运行程序功能：随机的单个点，第一点和最后一点以及距离固定的中间点，列阵点，鼠标左键选点功能，右键可作为控制键。语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.最小测量点: 50×100um8.聚焦范围: 2.5 mm9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；；11.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm； 工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm；13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ 是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg 微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ 可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-µ 带WinFTM V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。

仪器简介：理学台式波长色散X射线荧光光谱仪,它很好的解决了能量色散难于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,组分较为复杂的样品定性分析方面,发挥了极大的作用.具有WDX特有的良好波长分辨率.可轻易分开Al和Si元素的能谱峰,并对其实行定量分析.具有WDX特有的良好的轻元素的高灵敏度,分析元素范围从9F-92U.无需液氮和冷却水.技术参数：X射线管:Pd,200W晶体交换器:3晶体自动交换器样品盒:单样品台,12位旋转样品台应用软件:定性分析,定量分析带FP(基本参数法)主要特点：小型化与高性能的完美结合.引入了小型化和WDX优异的特性相结合的新概念.打破尺寸概念,开创台式新局面.可根据研究开发,质量管理的不同应用目的进行选择.

ARL QUANT' X X射线荧光能谱仪(EDXRF) Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。 先进的技术独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析 主要功能 出色的痕量分析灵敏度高分析量的进程控制适用于异常材料的高级分析算法出色的样品处理灵活性机械简化和灵活性占地面积小、易于运输以进行野外测量快速、简易的安装以及可完全现场定制随附完整的实验室启用套件经验证的硬件和全套软件现场、协同方法开发完整的技术应用支持汇集了数百种应用的专业知识 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件 无标和半无标分析基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法多层厚度及成分不限元素、不限数量的标样利用自动化操作实现多个激发条件 可用于：悬浮颗粒物过滤器符合 RoHS 及 WEEE 的分析法医及痕量分析营养补充剂磁性介质和半导体土壤污染过滤器上的薄膜塑料中的有毒元素

ARL PERFORM’X 顺序式 X射线荧光（XRF）光谱仪为实验室提供了一个先进的平台，用于快速、准确分析多达90种几乎在所有固体和液体样品中存在的元素,该技术具有如下优点：● 制样简单、快速● 样品整个表面、表面某一部分或特定点处的分析● 分析速度快● 稳定性高、精度高● 动态范围宽（从ppm 至100%）应用领域：地质、环境、石化、金属、矿物、水泥、玻璃等众多工业及科研领域ARL Perform’X 4200是Thermo Fisher Scientic公司2011年推出的顺序扫描型波长色散X射线荧光光谱仪，该仪器采用模块化结构，设计精巧、结构紧凑、稳定性高，是质量与过程控制和材料科学研究的最佳选择，其卓越的分析性能主要取决于下述技术特点：分析元素范围: Be-U(配备相应的晶体), O-U(标准配置).浓度范围: ppm-100%样品类型: 粉末压片, 熔融玻璃片，固体粉末及液体样品. 真空恒温光谱室保证分析的稳定性。温度是由差动加热/冷却系统控制，光谱室和晶体双温控系统，确保每块晶体的温度都控制在±0.1°C，保证分析数据的可靠性和稳定性。超薄Be窗(50um) 铑靶X射线管；最大功率4.2kW，最大电压60kV，最大电流120mA， 全元素有极好的灵敏度和分析精度。同一样品中不同元素可使用不同激发条件，自动转换管压、管流，转换时间短。降低电源消耗、增加X光管寿命的绿色模式。即当仪器要停止工作1小时或数小时时，X光管的电源在规定时间内自动减小到一种待机状态，当用户开始工作，所要求的工作条件会自动到达。第二代高稳定性固态高压发生器，功率4.2KW，最大电压60kV，最大电流120mA。最大线电压变化在–15% ~ +10%之间时，外电压每波动1%时，稳定性为±0.0001%。电压可在0-60KV之间选择，每步1KV；电流可在0-120mA选择，每步1mA。专利技术的超短距光学耦合设计（UCCO），使样品与阳极靶的距离更近，仪器的分析灵敏度提高20%。第六代莫尔条纹测角仪(ARL专利技术)，无齿轮磨损，由可编程微处理器控制，无需任何机械调整。探测器和晶体系统独立转动，由电子-光学读出器计算两个光栅系统干涉所产生的莫尔条纹来准确定位。在多任务模式中的微处理器保证晶体、准直器和两个探测器的快速和准确定位。这种测角仪是目前最先进的测角仪，并且Thermo Fisher Scientific已有了28年的使用和生产经验。测角仪最大定位速度4800° 2θ/分，定位时间短，比普通光学定位测角仪快2倍，比传统齿轮定位测角仪快4倍；最大连续扫描速度327°2θ/分角重现性 0.0002°：莫尔条纹测角仪由于没有机械磨损，定位精度高，并且彻底避免了普通测角仪因长期使用所产生的机械磨损使分析精度变差现象；9位置晶体交换器：双向旋转，最多装9块晶体；4位置的初级准直器交换器：标配4位准直器，细0.15°、中0.4°、粗1°和超粗2.5°，各元素均可在最佳的分辨率和强度下进行检测。6位初级滤光片：Al20, Al200, Al500, Al750, Cu250，使各元素的分析都具有最佳的峰背比！探测器：免维护的流气正比计数器（终身无需更换芯线）和闪烁计数器两个检测器，检测器的并联设计使光路更短以提高强度。高性能超薄窗(0.6um)流气正比计数器（节约P10气体，P10气流量2升/小时），轻元素检测效率高，全角可控制的角度扫描范围：0~153°/2θ。采用当代最先进的电子技术，仪器全部由微处理器控制。所有控制板上均装有微处理器，分别控制进样器、光谱室真空、温度、探测器、X光管及发生器、水冷、测角仪等，每隔几秒监测仪器的两百多个状态点，发现问题及时报警。可编程的内部双位自动进样系统：即第一个样品在分析状态时，第二个样品进入样品室进行预抽真空；待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置。这样不仅缩短了样品预处理时间，提高了测量速度。同时也避免了粉尘污染光谱室和晶体的可能性。可设置优先分析位置。样品位数：最多可放置112个样品的XY台，具有紧急样品优先分析位置。液体样品分析系统(选配项)，高效的氦气快门装置，确保在分析液体样品时光谱室处于真空环境，而样品室在氦气环境下，分析时流量小于1升每分钟，实现固体样品和液体样品分析环境快速切换（1.5分钟）。此外，在液样盒进入样品室之前，仪器自动识别。防溢出与除尘系统（选配）：分析粉末样品或液态样品是，可选配防溢出和除尘系统，对光谱仪进行实时安全防护！电动的安全闭锁装置，自动控制，结构简单，安全可靠。无需其他辅助设备。

高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测，例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等，对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能，适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。产品特点◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小，方便室外工作，随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析（单位：%）重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线激发源 X射线管，50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC，50-60 Hz重量 约13Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

X-Cite台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Cite 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Cite配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源，适用于传统实验室工作台，并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片及样品托盘。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管，同时配备样品相机及样品盘，可容纳多种尺寸类型的样品。 为发挥系统最佳性能，获得精确测量，滤光片可根据系统硬件配置为每次测量要求自适应切换。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）对Na（11）- U（92）范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达40kV，18W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测元素范围可达Na（11）- U（92）。滤光片考虑不同的应用要求，6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据周围环境的变化针对材料自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面，易于理解的分析结果，适用于多种应用，并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计，简单易用的GUI，适用于不同层次用户，广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式，这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输，并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成，分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的定位数据及测试识别信息。X-Cite应用领域

RoHS台式EDXRF光谱仪RoHS检测预校准能量色散X射线荧光光谱仪RoHS 《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》（RoHS）是限制在电子电器设备及其它消费品中限制使用有害成分的指令。系统能够提供对所限制元素的精确分析，如铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr），溴（Br）元素。 RoHS光谱仪采用高分辨率探测器，集成相机及高性能X射线管，通过光斑尺寸的改变使用多种尺寸的样品，以检测较低水平的有害物质存在与否。准确元素分析可准确分析Pb、Hg、Cd、Cr，Br等元素。样品相机集成摄像机及X射线光斑能够全方位识别感兴趣区域。简单易用自动基质模型识别，即使是非技术人员操作，亦可达到较高置信度。RoHS专用软件直观且用户界面友好的专用软件。RoHS中所禁止的物质包含铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（CrVI）、多溴联苯（PBB），多溴二苯醚（PBDE）和四种不同的邻苯二甲酸酯（DEHP，BBP，BBP，DIBP）。RoHS标准报告根据RoHS标准，生成打印报告，准确的描述受限元素的检测水平。RoHS专用软件 专用软件能够自动检测被测材料类型并选择与之匹配的测量方法。X射线扫描激活的同时会得到对应的图谱并进行分析。仪器已根据RoHS标准进行了校准及设定阈值，结果报告将呈现每个限制元素的含量并与设定的范围比对，判断通过与否。样品相机全程处于开启状态，并在软件界面中显示样品被扫描的光斑点位。每次检测结果、图谱，以及分析结果均可独立命名，保存在库文件中。 这款高效RoHS预校准专用软件为RoHS检测提供了一个简单易用的图形界面和测试平台。 RoHS主要应用 RoHS/WEEE符合性测试及管控元素筛查（Pb、Hg、Cd、Cr、Br）。

产品详情X射线荧光分析法的原理特点 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等有设计感的外观460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身，拥有可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。 识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。 “初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi 为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。 简洁的界面 在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器 可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。同时，选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像 测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。 测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。 使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）同样适用于连续分析PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。良好的分析性能采用高性能的SDD检测器，确保硬件良好，具有高灵敏度高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-高性能的SDD检测器与光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。高速 –分析速度可提高10倍-SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到较大限度的发挥。测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系实际样品的比较分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 满足分析精度所需的检测时间 X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。高分辨率 能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。检测元素范围 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。 用EDX-8100检测氟元素的分析结果 EDX-8000/8100进行超轻元素分析EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。 优良的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。4种准直器以及CCD样品观察装置 选择1mmΦ准直器 1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换 根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。 标配CCD样品观察装置 通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。 选择5mmΦ准直器时，使用微量样品容器 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-7000/8000/8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。滤光片有效能量(KeV)对应元素示例#1 15～24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd#2 2～5 Cl, Cr#3 5～7 Cr#4 5～13 Hg, Pb, Br#5 21～24（5～13）* Cd (Hg, Pb, Br)*使用滤光片后，（）中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 &bull 分析只需4 Step！&bull 遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准&bull 以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理&bull 通过X射线荧光可以实现对杂质的分析 分析只需4 Step！主要特长遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。&bull 安全功能&bull 用户管理功能&bull 操作日志，逐位跟踪日志的生成功能&bull PDF生成功能&bull 验证功能安全功能通过ID/密码进行用户认证，对具有权限的用户开放操作履历记录、界面锁定等功能。逐位跟踪日志的生成功能可以生成分析装置设定更改履历和用户的操作履历等跟踪日志。以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理，因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。使用EDX-7000/8000/8100，轻松实现对医药品中的金属进行分析 如图所示，制成添加了Pt的纤维素粉末标准样品，在0～20ppm的范围内形成6点工作曲线。样品量仅为100mg，平均1样品测定20分钟，就可如下表得到良好的标准偏差（RMS）和直线性，从而实现高正确度的分析。元素濃度範囲(ppm)RMS(ppm)相関係数Pt0-200.250.9993 混入Pt和As的纤维素粉末样品的EDX光谱

仪器简介：德国斯派克分析仪器公司是现场金属检测的先驱者之一，凭借着先进的专业技术、丰富的经验, 及数十年来在X射线荧光光谱技术方面的领先优势， 斯派克公司推出了手持式X荧光分析仪―SPECTRO xSORT。仪器可在没有外接电源、没有空调的现场, 在数秒钟内, 获得以往只有实验室光谱仪才能达到的分析结果。 SPECTRO xSORT手持式X荧光光谱仪是紧凑型仪器，坚固耐用，符合人体工程学设计。小型化，高性能X射线管，保证了仪器对待测元素的高效的激发。特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器，具有独特的适应性及灵活性。仪器符合严格的德国X射线辐射标准，为用户提供一流的安全防护。其强大的数据传输及处理功能，可在现场打印，储存数据。GPS可将数据与大地坐标绑定，为数据回溯提供可靠的依据。 SPECTRO xSORT可用于地质，矿物，环境，RoHS，玩具等样品中各种元素的检测，及现场分析。技术参数：SPECTRO xSORT：技术参数 检测器  SDD  Mn Ką 分辨率：FWHM半峰宽170eV  输入计数率最大至250kcps 激发源  X射线管i  W阳极  最大40kV，50µ A 控制  集成，可拆卸的PDA Windows Mobile 操作系统  SD存储卡，蓝牙，无线LAN，USB口 光谱仪数据  长：314mm  宽：84mm  高：333mm  重量：1.45kg 电池重：290g  可充电锂电池  2-3小时连续工作时间  100-240V，+/-10%，50/60Hz充电器/变压器 软件  ICAL（智能逻辑标准化校准）  数据管理：存储数据的后处理和协议  分析模式： -从聚合物到合金等多种材料的RoHS检测和Pb的快速分析 -多次分析结果显示 -自动计平均值 -计算标准偏差和相对标准偏差  RoHS指令分选模式 -显示分析结果是否满足要求 -快速分析环保样品，如污染土壤及沉积物 -矿石，精矿及尾矿的鉴别主要特点：仪器采用与斯派克公司高性能实验室用台式荧光光谱仪相同的小型低能量的X射线管，保证了准确的离子激发效果。特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器，提高了仪器的分析灵活性。 所有重要元素可在几秒钟测定 SPECTRO xSORT可获得实验室级别的分析结果，只需几秒钟即可完成元素周期表S 到 U所有元素的分析。RoHS指令快速检测仅需30秒。污染土壤和沉积物分析仅需数秒钟。适用于采矿业，可鉴别矿石、精矿和尾矿。即使在现场，也可通过可选的GPS包将现场分析结果与实际的分析点准确对应。 特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器:  - 从S 到 U的所有相关元素可一次测定  - 全面校准：测定简单无需操作人员决策  - 在几秒钟可获得实验室级别的分析结果  - 元素分析速度极快

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF） 型号：PHECDA-HES型号：PHECDA-HE核心技术： 硬件：单色化聚焦技术HS XRF 软件：快速基本参数法Fast FP&bull 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术：快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单，快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。 （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体，元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD＜15% 土壤基体，元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描软件 Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片（HMET）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！ 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：应用领域解决方案编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属（合金）分析（铜）精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析

仪器简介：今天世界面临许多环境问题。用于防止有害污染的高灵敏度?高精度的分析技术越来越重要。实施限制以减少柴油机燃料油、轻油、重油中的硫成分。伴随着环境意识的提高，这些限制将变得更加严格。HORIBA的SLFA‐2800/2100通过革新的分析技术满足了这些要求。 技术参数：测定原理:荧光X射线分析法测定对象:重油、挥发油、原油等的石油产品中的硫测定范围:5ppm以内(１％的试样中)／1.6ppm以内(0％的试样中)C/H误差:每1C/H在±50ppm以内(1％的试样中)检测下限:5ppm以下标准曲线根数:5(可以自动选择、手动设定)标准曲线次数:1次或者2次(可以自动选择、手动设定)校正:使用任意的标准试样(校正点数2～20点)试样容器:专用液体试样容器试样量:4～10ml测定时间:10～600秒的任意的时间试样数量: 1(SLFA-2100) 8(SLFA-2800) 环境温度:5～35°C环境湿度:30～85％(相对湿度)光谱测定:带光谱测定功能的能量轴： 0-10keV／强度值轴： 自动设定外部输出:RS-232C输出、测定?自动校正?光谱测定时输出电源:AC 100～240V±10％　50/60Hz消耗电力:150VA外形尺寸:430(W)×500(D)×230(H)㎜质量:约21㎏1(SLFA-2100) 约24㎏ SLFA-2800) 主要特点：■软件不只是分析操作的简便，还在开发新功能的同时扩大了应用。测定单位：％可以与ppm切换使用。 样品ID ：字母(A‐Z )与数值(0‐9 )最多可输入10个字符。 标准曲线：扩大了标准曲线图表，可以从７个刻度(0.002 ／0.01 ／0.05 ／???／10 ％)中自动加以选择。刻度可显示为％或者ppm。还可选择1次式或者2次式，可手动选择或者自动选择。标准曲线最多可以存储5根，能够手动选择或者自动选择使用哪个标准曲线。■测定范围测定浓度范围扩大到0～9.999％，从轻油中的硫分低浓度测定到重油中的高浓度测定，应用范围广泛。■设计装置外观体现了HORIBA的新设计思想。功能键可切换到与手机一样的排列法，从而更加容易实现键输入的操作。■易懂的大型画面通过采用后光方式的大型LCD，可实现测定结果的一目了然性和高操作性。■可打印输出丰富易懂的数据测定值原本是测定年月日时分、测定时间、重复回数、样品ID 、平均值、标准偏差、标准曲线图表、Ｘ射线光谱等数据管理所需的信息，可用80㎜宽的纸以大字打印输出。■数据输出 (RS‐232C接口)可以将分析结果输出到外部计算机。能够用于数据的保存和各种统计处理。■安全机构采用了谁都能对Ｘ射线放心操作的二重安全机构。如果试样室或者遮光器未处于关闭状态，X射线就不能照射。正是由于采用了这种构造，所以不必设定管理区域。不使用放射性同位素(放射性同位素)。■转动台(连续测定以及优先测定)SLFA‐2800装备了最多可连续测定8个试样的转动台。而且，连续测定多个试样时，还能优先对别的试样进行测定。这叫做“中断测定”。■实现重复精度1.6ppm、检测限界5ppm使用小型、高输出的Ｘ射线管，即使未对氦等进行纯化，也能实现较高的重复精度。即使存在激烈的温度变化和检测器的漂移，通过令人放心的自动波高调整功能和不需要氦纯化的温度、大气压的修正功能，也可提供可靠性高的测定结果。低浓度试样的重复精度表示对于硫0％试样，1.6ppm的标准偏差和高性能。而且，对于重油等高浓度试样可以在更短的时间内加以测定。■C/H 系数的自动修正通过C/H 系数的自动修正功能，可以消除因油的种类不同而造成的测定误差问题。这样，就能够得到与油的种类无关的高精度测定结果。■光谱测定采用光谱测定模式可以对试样进行综合评价。也对Ｘ射线管以及检测器的状态检测有效。

产品详情日本JEOL X射线荧光光谱仪JSX-1000S JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法?检量线法）、RoHS元素筛选功能等。　 利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。 产品规格FIB检测元素范围Mg～UF～U（选配）X射线发生装置5～50　kV , 1mA靶材Rh一次滤波器　最多9种　自动交换标准：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd选配：Cl, Cu, Mo, Sb准直器3种　自动交换0.9mm, 2mm, 9mm检测器硅漂移检测器（SDD）样品室尺寸300mmφ×80mmH样品室气氛大气　/　真空(选配）样品室观察机构彩色摄像机操作用电脑Windows 　触控屏 台式电脑分析软件（标准）定性分析（自动定性、KLM标记、和峰显示、谱图检索）定量分析（块状FP法、检量线法）RoHS分析解决方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg)简易分析解决方案报告制作软件分析软件（选配）薄膜FP法分析软件关联滤波器FP法分析软件日常检查软件（标准）管球升压、能量校正、强度校正Windows 为美国微软公司在美国或其它国家的注册商标或商标。 主要附件样品室真空排气单元多样品自动交换单元滤波器组滤膜FP 法分析软件薄膜FP 法分析软件和峰消除软件镍镀层筛选解决方案锡镀层筛选解决方案氯元素筛选解决方案 产品特点： JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较，SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。 高性能FIB镜筒 JIB-4000采用高性能的FIB镜筒，最大离子束流高达 60 nA，能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，制备100 μｍ以上用来观察的截面非常轻松。 用户友好的FIB装置 JIB-4000高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性。用户友好的外观和GUI设计，建立了使用方便的FIB系统。即使不是FIB专家也能够轻松操作，此外，该装置小巧紧凑为业界最小体积，安装地点的选择范围很大。 双样品台 JIB-4000标配的块状样品马达驱动样品台可供块状样品使用，此外还可以增配侧插式测角台（TEM用Tip-on 样品架可以直接插入）。块状样品马达驱动样品台能观察整个表面为20 mm x 20 mm的块状样品，样品交换可以通过气锁式系统快速进行。侧插式测角台与JEOL的TEM系统使用的相同，因此Tip-on （尖端上可以安装附件的）样品架与JEOL的TEM系统可以通用，这样，FIB加工和TEM观察的反复交替就能很容易地进行。 丰富的附件 有各种附件可用来支持JIB-4000的操作。包括对电路修改应用特别有效的CAD导航系统，对特殊形状加工有效的矢量扫描系统等。通过给JIB-4000安装适当的附件，该系统可以支持样品制备以外的应用。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

仪器简介：X射线荧光定硫仪 RX-620高精度X射线荧光定硫仪利用一个紧凑的X射线管迅速的非破坏性测试石油含硫量测量30ppm到6wt%宽阔的测量范围一体机结构包括了显示器、操作键盘和内置打印机有一个放12个样品的turret，可当作内置样品转换器除正在测量的样品，其它样品在测量过程中可自由插入和取出， 采用单一样品池探测系统，在测量中可做到完善的现场防护。 由PTFE制造的样品池，可重复使用聚脂薄膜是唯一耗材X射线荧光定硫仪 Model RX-360---仅仅没有turret 的单点测量型号 重量（只有12公斤）内置打印机自动1点、2或多点（10）校准便携（直流+12V车用蓄电池）技术参数：测量原理：能散X射线荧光法测量标准：ASTM D4294,ISO 8754,JIS K2541 B7995测量样品：Kerosine, 石脑油，柴油，原油和重油等测量范围：0.003-6.00wt%样品量：大约3到5ml测量精度：5-200ppmC/H ratio correction:0.003wt%/1C/H,with sample containing 1wt%自动校准：自动1点、2点或3点标定，自动多点（最大12点）标定样品转换器：Turret型12个位置转换器，acrylic防尘盖外部接口：RS-232C(1个端口)打印机：内置点矩阵打印机显示：液晶显示器（4行20个数字）X射线泄漏：0.6µ Sv/Hr 或更小在器械表面安全：互锁机械装置，防止X射线意外泄漏主要特点：

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

仪器简介：适用于Windows2000的真Win32位程序带在线帮助功能；频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用；能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化；画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；十字星瞄准并带度量网格，以及测试点尺寸指示；测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存；XYZ运行编程功能：随机单点，第1点、最后1点及等分的中间点，鼠标左键点选功能，鼠标右键的使用相当于操纵杆；测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液；频谱显示可自由选择颜色；并可同时显示前台和背景的频谱以便比较；频谱可储存和打印；可使用定义的文件名进行应用文件的管理（应用文件包含应用名，数据表示方式，打印形式定义，输出模板设定及记事本）；用户可定义的报告编辑器，并自动插入测试工件的显示图像，及一些小的图片，如公司标识，图表，数据排列，字体选择；可以WinWordTM形式保存；单个的应用可连接至任意数量的应用文件（此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤）；使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用；可选择数据进行统计评估；通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出；可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估语言：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，中文及日文（需要特殊的Windows版本）；可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能；技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为135kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）160 mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.原生电子过滤器：Ni和Be；8.4个对焦平面用于凹槽，腔体的测量，并可达到90mm；9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成：0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽；在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ（取代组件Ⅰ）有以下组成：0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.3mm(12mil)圆形 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽；在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ（取代组件Ⅰ）有以下组成：0.2mm(8mil) 圆形 0.05x0.05mm(2x2mil) 0.025X0.025mm(2X2mils)方型；0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽；注：当测量PC印板，电脑接插件，引线框架等小工件时，推荐使用视准器组件Ⅰ10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；11.充氙气的比例计数器，频谱处理时，内部采用4096通道的ADC，对外显示为256通道；12.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：型号XDVM-T7.1：X=175mm（7.0〃）， Y=175mm（7.0〃）型号XDVM-T7： X=250mm（10.0〃）， Y=250mm（10.0〃）13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆14.工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；15.电机驱动及高度（Z-轴）可编程的X-射线头部（X-射线管，比例计数器及视准器组件）；Z-轴运行=145mm（5.9〞）；16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率X40/X80，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：FISCHERSCOPE XDVM-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。

仪器简介：理学台式波长色散X射线荧光光谱仪,它很好的解决了能量色散难于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,组分较为复杂的样品定性分析方面,发挥了极大的作用.具有WDX特有的良好波长分辨率.可轻易分开Al和Si元素的能谱峰,并对其实行定量分析.具有WDX特有的良好的轻元素的高灵敏度,分析元素范围从9F-92U.无需液氮和冷却水.技术参数：X射线管:Pd,200W晶体交换器:3晶体自动交换器样品盒:单样品台,12位旋转样品台应用软件:定性分析,定量分析带FP(基本参数法)主要特点：小型化与高性能的完美结合.引入了小型化和WDX优异的特性相结合的新概念.打破尺寸概念,开创台式新局面.可根据研究开发,质量管理的不同应用目的进行选择.

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。

便携式X射线荧光分析仪适用范围1.1用于土壤、污泥中重金属元素测定，要求测试精度高，非手持式仪器。1.2检测元素：Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr，Y，Zr,Nb,Mo,Ag,Cd,Sn,Sb,W,Re,Pd,Au,Hg,Pb, Bi,Cs,Ba,Th,U等34种元素，分析方法能量色散型X射线荧光光谱法。性能要求3.1 探测器3.1.1探测器类型：大面积硅漂移探测器（SDD）；3.1.2能量分辨率：≤136ev；3.2 光管及滤光系统：3.2.1功率：≥12W；3.2.2采用高性能微型X射线管，标配Ag靶；3.2.3激发源：电压≥70KV，电流≥1000uA；3.2.4具有保证测试精度的自动切换三种或以上的滤光片系统。3.3供电系统3.3.1供电系统:交直流两用，可接220V交流电，并同时具备内置可充电锂电池，电池可更换，在野外应急监测现场无需插220V交流电源也可检测，更加便捷；3.3.2电池数量：2个，一用一备；3.3.3电池电量：单块电池可连续工作8小时以上；★3.3.4电池电量显示:具有MSBUS总线的智能电池，电池具有剩余电量显示功能，现场可随时查看电池电量；智能电池、实时监控电池:电池不插入设备可在电池上直接查看电池电量，并且插入设备也可在电池上直接查看电池电量（提供高清图片证明，并加盖生产厂家公章，不提供作负偏离处理）。3.4 显示屏与系统安全性★3.4.1显示屏:屏幕≥5.5英寸，仪器自带一体化可收纳式彩色触摸屏显示器，非采用PDA、手机及其他终端显示器，仪器内置屏幕可上下翻转，方便查看数据。高亮度彩色电阻屏，野外戴手套也可操作（提供高清图片证明，并加盖生产厂家公章，不提供作负偏离处理）。★3.4.2系统安全性：中文操作界面，专用分析级Android嵌入式实时操作系统，非Windows系列操作系统，运行速度更快，无病毒侵入隐患，保障数据安全（提供高清图片证明，并加盖生产厂家公章，不提供作负偏离处理）。3.4.3处理器:基于i.mx6 Quad 四核Cortex-Ag处理器，运行速度快，测试并处理数据反应更快，增强用户使用体验感。3.5 存储3.5.1存储内容:32GB系统内存，可以存储和显示样品名称、编号、元素名称、含量、测试时间等；3.5.2存储数量：存储数据及图谱超过100000个。3.5.3数据传输与处理：蓝牙、USB数据线等。3.6 安全性能★3.6.1安全保护：仪器内置射线保护装置，自动切断，安全联动锁装置，通电情况下，通过软件界面和外部机械开关，均可打开样品舱，样品舱关闭后属于全封闭性能，软件界面有样品舱开启和关闭提示功能（提供高清图片证明，并加盖生产厂家公章，不提供作负偏离处理）。3.6.2 X射线工作辐射剂量≤0.06μSV/h；3.7 其他性能3.7.1检测时间：≤30s；3.7.2检出限：ppm级别3.7.3外置标准片，开机自校准；

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好