激光光素分析系统

LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理，将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统，可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性，探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性，研究器件吸收与电荷生成的微区特性，以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点： 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格：系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例： 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图， 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图， 图示空间分辨率为50um。

FlashSENS激光闪光光解光谱仪FlashSENS 激光闪光光谱仪是卓立汉光公司开发的用于研究分子激发态行为，特别是反应历程的分析工具。该系统使用的激光闪光光解技术是基于动力学和瞬态光谱的检测，用来研究光化学、光生物学、光物理学体系中通过激光激发诱导产生的单重态、三重态的激发态分子，价键重排后的自由基和电子（质子）转移产生的正、负离子等瞬态中间体，探讨这些瞬态中间体的产生和衰退时间及各种性质和影响因素。FlashSENS 激光闪光光谱仪应用领域涵盖光化学（photochemistry）、光生物学（photobiology）、光物理学（photophysics）等多学科领域，主要应用包括： 分子内、分子间能量转移、电荷转移 电子能级跃迁、振动弛豫 电荷（空穴）转移（注入）时间 多激子效应(MEG)和俄歇复合 激发态吸收 染料敏化太阳能电池电子转移 半导体材料光催化电子转移 非线性光吸收 半导体载流子动力学 双光子或多光子吸收 单线态-三线态电子交换 单碳纳米管的光物理 量子点的能量转移和电子迁移的竞争 配合物同分异构体分析 CdSe/PbS量子点的非线性吸收 富勒烯衍生物太阳能电池性能 金属配位化合物的光物理 …… 激光闪光光解光谱仪系统特点： ■ 一体化的光学调校，系统性能更稳定■ 时间分辨率：7ns （可选：3ns Ultra Fast） ■ 内置超连续白光作为探测光，相比传统脉冲氙灯光源具有更高的探测效率■ 探测光点：5mm ■ 探测光光谱范围：190-2100nm ■ 适合于固体、液体等多种样品形态的样品架和测量光路■ 全自动测量操作，开机即用，操作简便■ 可升级至瞬态光电流、瞬态光电压测试系统 激光闪光光解光谱仪技术规格： SZ900-KM SZ900-SM 测量模式动力学测量模式光谱测量模式光谱范围300-1100nm 200-850nm 灵敏度* 0.05mOD 0.00024OD 泵浦激光单波长Nd:YAG激光器，1064nm，532nm，355nm，266nm 可调谐OPO激光器UV-NIR，210-2400nm 探测光源类型基于LDLS的超连续白光光源模式连续光谱范围190-2100nm 单色仪/光谱仪型号Omni-λ300i 焦距300mm 狭缝0.01-3mm连续可调，自动控制光谱范围330-2400nm（可扩展） 光谱分辨率优于0.1nm@1200g/mm 优于0.6nm@300g/mm 探测器类型标准硅探测器铟镓砷探测器ICCD 光谱范围300-1100nm 900nm~1600nm 180-850nm 暗电流0.5nA0.1nA 带宽45MHz 10MHz门宽- 7ns （可选3ns Ultra Fast）有效像素- 960*256像面尺寸- 25*6.7mm制冷温度- -25°C激光闪光光解光谱仪系统选型表 型号说明SZ900-KM 动力学测量模式，标准硅探测器，系统不包括激光器SZ900-SM 光谱测量模式，ICCD，系统不包括激光器SZ900-KSM 动力学+光谱双测量模式，标准硅探测器、InGaAs任选一种+ICCD，系统不包括激光器

EcoChem激光光谱元素分析系统 技术背景： 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级。测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素。 系统功能：快速检测土壤、植物、种质资源、中药材、刑侦材料、矿石、合金、珠宝等样品中的? 常量元素N, P, K, Ca, Mg? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B, Mo, Ni, Cl? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素? 其他：有机元素C、H、O和轻元素 Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） 应用领域： 土壤、植物样品检测中药材元素测量及鉴定种子分类及活力分级检测农产品重金属检测地质矿物分析煤粉组分检测重金属污染检测合金元素分析刑侦微量物证分析宝石鉴定材料组分分析 工作原理： EcoChem激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 技术指标：激光系统：激光能量：200mJ@1064nm，能量输出0-100%可调；（266nm激光可选）光斑质量控制系统重现率：20Hz，脉宽6ns，DI水冷却系统光斑大小：20-200μm连续可调激光光闸：自动双光闸，稳定控制激光能量和LIBS信号激光安全：I级，有激光锁定保护装置检测器：谱宽：190-1040nm具有自动高度调整的功能 操作软件：中文界面，包含NIST和ElementLIBS数据库。可以轻松检测和识别元素周期表上的元素并进行信息标记。软件还同时具备如下功能：软件可针对所有硬件部件（激光器，光谱仪，三维工作台，气路等）进行指令操作，界面友好，操作直观，使用简单；内置多种打样方式选择，包括单点，多点，直线，矩阵点等；具有自动聚焦控制，可快速且方便的识别样品；可对系统内置的双镜头（全景视野和放大视野）进行控制；内置PLS等多种定标计算模型，可快速计算元素含量；内置PCA等多种计算模型，可进行元素分类分析及溯源；可进行元素的分布（mapping）分析；对气路进行精准控制；内置国内常见土壤和植物标准曲线库，方便用户参考和调用。 数据处理中心：专用i7台式电脑及24’显示器 系统应用： 1， 元素识别及定性分析系统可以轻松实现元素的识别并标记，内置专业ElementLIBS元素识别数据库方便元素的快速查找。非金属元素检测金属微量元素的检测 重金属元素的检测2， 元素定量计算系统可以很好的针对土壤和植物或其他多种样品中的各种金属和非金属元素进行定量计算。内置PLS等多种定量计算模型，减少基质中的影响因素，提高分析计算的准确性。PLS多变量定量计算模型 3， 元素分布分析系统可以很好的原位测量植物、作物或其他样品的元素分布，并绘制元素分布热图。 中药材元素分布 植物叶片病变处元素分布分析大豆种子元素分布分析 玉米元素分布分析 4， 物质鉴别及分类溯源不同等级和地域的土壤特性也不相同，系统可以有效地对这些土壤进行分级分类和鉴别，甚至建立我国的土壤特征库。系统内置的PCA主成分分析模型可以针对土壤的分级分类进行测量和评价。 不同土壤分类特征明显 系统通过检测种子的元素光谱特征，组分特征来进行种子分类及鉴定、转基因产品检测、种子活力分级检测等。这是一种新的方法和快速检测手段。玉米种子的分类 不同玉米种子分类特征明显，区分度可达100%

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光光谱元素分析系统是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光光谱元素分析系统创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光光谱元素分析系统基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光光谱元素分析系统还可升级为激光质谱联用元素分析系统，将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量，还可在分析同位素的同时进行主量元素的分析。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 硬件特点 ? J200激光光谱元素分析系统可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系 统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的样 品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光光谱元素分析系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光光谱元素分析系统配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设置 可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光光谱元素分析系统的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的种 类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑 分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光光谱元素分析系统采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样品 表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动操 作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

工作原理激光剥蚀技术LA及激光诱导击穿光谱LIBS相结合，J200接收等离子体发射光进行快速光谱分析，同时将激光剥蚀颗粒高效传输至ICP-MS系统。主要特点：J200具有LA和LIBS双系统测量能力，可以单独运行LA 或LIBS，或者同时运行LA- LIBS复合系统。激光fs 或ns可选。样品自动对焦、高度自动调整、光斑大小调节。可对固、液、气样品进行全元素LIBS快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒或者液体样品直接送入ICP-MS系统，实现ppb级精确分析。可用于分析元素周期表中的所有元素。ASI数据分析软件可在一个数据分析平台进行，分析LIBS和LA数据；可进行快速映射功能。应用领域复杂样本的定性和定量分析制造质量控制:制药、生物技术、电子、太阳能、薄膜等污染控制土壤、植物和矿物分析玻璃、油漆和其他痕迹证据的法医分析材料来源确定学术界、政府和商业企业研究和实验室分析性能指标激光系统最大能量25mJ@ 266nm；能量输出 0-100%可调重现率20Hz，脉宽能量控制光学衰减连续可变光斑大小控制35-250 微米可调(到达样品表面的烧蚀光斑直径)激光光闸自动双光闸，稳定控制激光能量和 LIBS 信号测量激光安全I 级，样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护检测器系统谱宽190-1040 nm测量过程不不受环境温度变化的影响分辨率λ/Δλ高达 6000光谱精度优于±0.05nm杂散光抑制探测器门控门延时为0.5ns-1ms分辨率 0.5 ns样品平台系统全自动 XYZ 行程XY 行程 100mmx100mm，Z 行程 35mmXY 行程分辨率 0.2um，Z 行程分辨率 0.2umXY 行程重现率 0.2um，Z 行程重现率 0.2um速度 0.001-20 mm/s气压可控样品放置区域有滤光器，有激光锁定保护功能含高效空气颗粒清洁器具备专配 670 纳米激光协助样品高度自动调整功能双 CMOS 相机，广角用于定位采样区域，高倍成像用于观察某一特定区域。并可在电脑屏幕上实时观察样品烧蚀过程样品池-可充氦气或氩气惰性气体保护 锂电池样品需要保持在无水，无氧的条件下进行测量。测量碳，氮，氧，氢，氟等元素时 样品池需要保持在氦气气氛中。操作软件激光自动采样设置单点、网格、光栅状、线性扫描或用户自定义设置数据处理系统包含谱线自动识别功能、光谱处理功能、LIBS 的强度监测、化学统计功能等元素制图及深度分析控制包含84种元素的Trulibs™ 光谱数据库和LIBS NIST 理论数据库（涵盖所有元素）设置预脉冲个数用来清洗样品表面污染物高度自动化的测量功能元素特征线的自动标定、标准曲线建立（单变量和多变量校准曲线）、主成分回归功能可用于样品分类

激光光束分析仪(Laser Beam analysis)除了激光功率 / 能量外,激光在传输方向横截面的强度分布以及激光的传输特性,也是激光器应用中决定性的因素:绝大多数应用需要根据激光的传输特性(M2 )来设计光路；定量科学实验和高品质激光加工都需要实际测量激光焦点的分布。同时,很多激光器在使用中,泵浦源或光学器件衰减首先体现在激光光斑的变化上,定期测试激光光斑有助于提前发现衰减倾向,及早维护,降低维护成本、缩短停机时间,预防激光器性能突变导致产线灾害。激光的截面强度分布的测量(光斑分析)通常采用光束分析仪,而传输特性通常用 M2 表征,由 M2 测试仪按照 ISO 标准进行测量。Spiricon 公司是业内久负盛名的激光光束分析仪和 M2 生产厂家,自上世纪十年代末开始研发提供激光光束品质分析仪,并参与制定了光斑测量的ISO11146-3 标准。产品种类覆盖 CCD 相机式光束分析仪、InGaAs 面阵相机光束分析仪、热释电晶体面阵光束分析仪、狭缝扫描式光束分析仪、全自动M2 测量仪、高功率激光聚焦测试仪等,波长覆盖 13nm ~ 3000μm,广泛应用于激光器制造、激光精密加工、光通讯、太赫弦、激光科学研究等领域。Spiricon 公司 2006年加入 OPHIR 集团,使后者成为激光测量全系解决方案的供应商。相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器, 直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像, 传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析 仪是目前使用最多的光斑分析仪,可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光,可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成:&bull 相机相机确定了可测量的波长范围:硅基 CCD 相机通常为 190nm ~ 1100nm；InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；热释电面阵相机则可覆盖 13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的最大尺寸,而像素尺寸则决定了能够测量的最小光斑尺寸；通常需 要 10 个像素体现—个光斑完整的信息。&bull 光束分析软件软件除了采集数据并按照各种数学模型进行分析计算外,更为重要的是确保光束分析计量的准确性。Spricon 公司采用 Ultra CALTM 技术扣除 相机的起伏背景,确保在各种强度下得到的光斑都具备定量准确性；丰富的光斑识别、手动及自动选区功能,避免光斑品质计算中引入过大 误差甚至出现伪结果:例如对多模(多瓣)光束的自动分析。&bull 附件几乎所有的激光器的强度都超过相机的饱和强度甚至损伤國值,高品质的衰减附件可确保在保持光束品质的情况下衰减强度；扩束、缩束、放大、 投影成像等高品质成像系统使得尺寸—定的传感器可以适应不同的光斑。硅基CCD 相机主要特点&bull 相应灵敏度高&bull 不同感光面尺寸可供选择&bull USB2.0/USB3.0/ Gigbit Ethernet 三种接口方式&bull C-Mount 接口，可选择衰减片、分光片等多种附件主要应用领域&bull 半导体/ 光纤等激光器光斑分析&bull 激光加工设备&bull 生物医疗激光分析等相机型号SP300SP928LT665L11059波长范围190-1100nm190-1100nm190-1100nm190-1100nm芯片尺寸7.1mmX5.3mm12.5X10mm35mmX24mm像元大小4.4μm X4.4μm4.54μmX 4.54μm9.0μm X9.0μm分辨率1928X14481928X14482752X21924008X2672动态范围56dB56 dB54 dB59 dB灵敏度1.2nW/cm21.2nW/cm20.3nW/cm20.17nW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )0.15mw/cm2软件配置BeamGage Pro接口方式USB3.0USB3.0USB3.0USB2.0特点通用 / 高动态 范围高动态范围 / GigaE大面阵 / 高分辨率超大面阵镀磷光材料 CCD 相机硅材料 CCD 相机的长波截止波长为 1100nm (对于较强的光可响应至 1300nm ) 。通过在芯片表面镀上转换磷光材料,能够探测光通讯广泛使 用的 1550nm 左右激光主要特点反斯托克斯磷层吸收1440-1605nm 近红外光，进而产生的可见光在硅基芯片上进行成像。主要应用领域光通讯，OPO 激光等。相机型号 主要参数SP928-1550LT665-1550波长范围1440-1605nm1440-1605nm芯片尺寸7.1mm根5.3mm12.5mm根10mm像元大小4.4μm 根4.4μm4.54μm 根4.54μm分辨率1440根16052752根2192动态范围30 dB30 dB灵敏度50μW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )软件配置BeamGage STD or PRO接口方式USB3.0红外信号上转换至可见光信号的过程是非线性的，也即针对这类镀磷的相机，芯片感测到的信号并不正比于输入的红外光强信号。Spiricon基于大量的实验测量了转换效率的非线性特性，研究了校正算法并将这一算法植入BeamGage 软件中，确保软件的到的结果真实可靠。近红外 InGaAs 相机　　　XC-130　SP1201/1203主要特点：量子效率高, 暗电流小, 灵敏度高, 爆光时间范围宽。主要应用领域：空间遥感、夜视、侦察与监视、遥感系统、红外成像制导、 光电对抗等。相机型号SP1203SP1201XC-130波长范围900 - 1700nm芯片尺寸9.6根7.6mm像素大小15μm 根15μm30μm 根30μm分辨率640根512320根256动态范围68dB59dB68dB( 低增益 )/ 60dB(高增益 )　12.6uW/cm212.6uW/cm2　饱和强度@1064nm@1064nm1.3uW/cm2 @ 1550nm　8.9uW/cm28.9uW/cm2　　@1550nm@1550nm　芯片制冷TEC 制冷TEC 制冷TEC 制冷强制散热顺率60Hz60Hz100Hz爆光时间10μs - 50ms150μs - 10ms1μs - 400s软件配置BeamGage ProBeamGage ProBeamGage Pro接口GigaEGigaEUSB2.0YAG 激光 红外光纤出光 THz 激光 自由电子激光

Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片）激光光束分析仪,激光光斑分析仪,M2分析仪,光束质量分析仪,相机式光束质量分析仪,狭缝扫描式光束分析仪,M方测量仪

所属类别： » 光学/激光测量设备 » 激光光束质量分析仪所属品牌：德国Cinogy公司1.5万元人民币！ 高 品质激光光束分析仪！ 让所有需要分析激光光束的客户均能用上最专业的激光光束分析仪！ 以往激光光束质量分析仪偏高的价位使很多激光生产商及激光使用者望而却步。仔细分析其价格构成不难发现，传统光束质量分析仪提供非常多复杂但不实用的功能，绝大多数用户在使用中可能永远用不到这些功能。但目前各光束分析仪公司均将全部光束分析功能打包集成在一套软件中进行销售，导致客户等于是白白为这些可能永远用不上的功能而付费。 为满足普通用户的需求，德国著名光束质量分析仪厂商Cinogy公司日前推出了其划时代的 Cost-Effective激光光束分析仪 CinCam CMOS系列激光光束分析仪。 CinCam CMOS采用1288 x 1032像素高分辨率百万像素高灵敏度CMOS相机，动态范围2500：1，USB2.0高速传输组件，硬件性能上毫不妥协！ USD直接供电、体积小巧（36mm x 36mm x 24mm）、重量轻（45g），使用更轻松！ 为满足不同层次客户的要求，CinCam CMOS配套软件RayCi提供两个版本可供客户选择。分别是全功能版RayCi-Standard及基本版RayCi-Lite。RayCi-Standard全功能版提供所有光束分析仪应具备的分析功能，适合各种专业做激光研究的客户使用。基本版RayCi-Lite则提供各种光束分析所需各种基本分析及显示功能，可以为客户节省下绝大部分软件成本。 各种配件：CinCam CMOS激光光束分析仪采用标准的C-Mount设计，使各种附件的安装变得极为简单： l 紫外转换器（UV-Converter: 100nm-320nm）可实现紫外激光光束分析l 红外转换器（IR-Converter: 1495nm-1595nm）可实现红外波段光束分析。l 各种衰减器（Neutral Density Filter）l M^2测量用导轨l 扩束镜，缩束镜l 其他定制型光学器件CinCam CMOS激光光束分析仪可以被广泛用于：l Laser beam analysis of cw and pulsed lasers,l Quick control of laser modes and adjustment errors,l Test equipment for scientific research,l Near-Field and Far-Field analyses of lasers, LED devices and other light sources,l Integration in optical systems.相关产品惊爆价！1.5万元 激光光束分析仪CinCam CCD系列光束分析仪CO2激光光束分析仪M2（激光光束质量因子）测量系统35mm大口径激光光束分析仪

概要高分辨率光谱仪非常适合测量连续输出和脉冲输出激光的光谱特征和强度。对于高功率激光，可用积分球或余弦校正器来衰减入射光，以避免CCD探测器的饱和。 光谱仪光谱仪主机采用高分辨光学平台，它被设计为高光学分辨率，用来测量精细的光谱特性。对于激光的测量，我们推荐采用高线对数的光栅，例如1200mm-1光栅，可测量波长范围750-925nm、以及一个5&mu m的入射狭缝。该配置提供了~0.12nm分辨率（FWHM）。要获得更高的分辨率可以考虑1800mm-1或者2400mm-1光栅。 取样光学元件以下是几种可行的取样配置：一个余弦校正器和一根光纤；积分球和一根光纤；或者光纤组件连接到激光，用光学支架来固定配件。 测量我们的操作软件能够测定激光的峰值波长；获得波峰、质心和中心波长、及FWHM值。 ------------------------------------------------------------ 激光羽流分析 光谱仪及其附件在光谱输出和激光能量测量中非常有用。 但我们也提供组件用于激光发射后的效果分析，例如目前在很多工业中用到的激光焊接。一位客户使用了光谱系统，用来测量CO2激光在焊接金属（例如铜和不锈钢合金）时产生的羽流。研究人员特别关注不同材料的焊接过程。 通过测量激光焊接羽流中的元素浓度和羽流的温度，研究人员可以确定焊接的效果。测定元素种类在控制不同合金的焊接时非常有用，羽流温度可以通过调整激光强度和焊接速度来校正。 紫外-可见光谱仪被应用于波长范围在263-523nm的研究中。Y形光纤中的一端连接半导体激光器，将激光传输到焊点，另一端用来采集羽流辐射。 最后，实时监测激光焊接羽流，使得在大面积部件受影响之前，更容易地校正过程中的问题。因此也增加了产量并且加快了检测速度。 ------------------------------------------------------------------------------ 系统配置1. HR2000+高分辨率光谱仪　波长范围200-1100 nm 5 &mu m 狭缝作为入射孔径2. 用于反射光测量的积分球3. 光纤4. 应用软件HR2000+高分辨率光谱仪产品介绍HR2000+整合了高分辨率光学平台，2MHz的A/D转换器，可编程电子器件，2048像素的CCD阵列检测器和高速USB2.0接口等各类技术或配件。这些革命性的整合造就了速度非常快的、分辨率非常高（半高峰宽为0.035 nm）的光谱仪。HR2000+CG光谱仪每毫秒可以获取并存储一个全光谱数据（通过USB 2.0接口与电脑连接）。 HR2000+CG的主要特点是快速响应和高分辨率适合于某些特定的化学生物应用。主要特点每秒1000幅全光谱输出可编程微控制器高分辨率应用高分辨率&ldquo HR&rdquo 光学平台可选配光学平台每秒钟扫描1000个完整光谱当光谱仪通过USB口与PC进行连接时，HR2000+利用板载2MHz的A/D转换器可完成每微秒获得一个完整光谱的获取与传输任务。程序微控制器HR2000+CG光谱仪有一个板载的程序控制器可对光谱仪及其附件进行灵活控制。通过30针的接口，您可以进行许多操作包括控制外部光源，从外部对象获取数据。还提供10个可编程的数字I/O口连接到别的设备，一个模拟输出，一个模拟输入和一个信号发生器用于外部触发。（对I/O口编程需要SpectraSuite光谱操作软件支持。）高分辨率&ldquo HR&rdquo 光学平台通过应用高分辨率光学平台（25.4mm直径，101.6mm焦距，对称交叉式Czerny-Turner 光路设计）。HR2000+可以用于200-1100 nm波段的测量，&ldquo HR&rdquo 光学平台配置决定了其特定波段、分辨率及灵敏度。用户可任意选择光栅、波长范围、透镜涂层、检测窗口及入射狭缝大小。可以通过选择各式配件来满足特定系统的应用需求。 多种接口类型HR2000+可通过USB 2.0或RS-232串口与电脑通讯。当使用串口时，HR2000+需要5伏供电。数据被写进HR2000+的内存芯片中，SpectraSuite光谱操作软件可通过与电脑热连接读取这些值。光学平台选件HR2000+光学平台的独特之处在于，允许您根据自己的应用来定制组件。同时，海洋光学的应用工程师会帮助您选择最优化的配置，有针对性地选择合适的入射狭缝，滤光片，光栅和探测器组件。

美国DataRay公司提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；同时与个人电脑连接对分析的结果提供二维或三维的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果，是激光生产和和科研的好&ldquo 医生&rdquo 。BeamMap2和Beam'R2扫描式激光光束分析仪主要特点：· 三维检测和显示(Beam'R2仅可X-Y扫描)· 适用于：CW或脉冲频率100kHz的激光· 波长范围：190nm到4um· 功能：实时激光焦点、光斑、发散角、准直、对准、M2 分析· 专利的实时多平面采样分析· 分辨率：0.1umNEW1、新的双探头设计一个BeamMap2或Beam'R2可测量波长范围扩大到：190 m到2400nm2、即将推出新的热电探头，更可将波长范围扩张到190nm到100um

美国DataRay公司提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；同时与个人电脑连接对分析的结果提供二维或三维的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果，是激光生产和和科研的好&ldquo 医生&rdquo 。激光光束分析仪WinCamDTM激光光束分析相机最新波长扩展至2-16um主要特点：· · 分辨率：5&mu m· SNR=1,000· 25,000:1自动曝光.· 自动抓拍或外部同步抓拍脉冲激光· TaperCamDTM 可照相10x14或15x20mm· 1310nm可选· WinCamD-IR用于C&L通讯波段· USB直接供电，无需额外电源· M2 测量组件(可选)主要技术指标： 型号 芯片面积 像素尺寸 特点 BladeCam 6.6 × 5.3 mm CMOS 5.2 &mu m pixels 超薄设计仅16.5mm WinCamD-UCD12 6.3 × 4.8 mm CCD 4.65 &mu m pixels 普通应用 WinCamD-UCD23 8.8 × 6.6 mm CCD 6.45 &mu m pixels 大面积 WinCamD-UHR 6.6 × 5.3 mm CMOS 5.2 &mu m pixels 高精度，连续激光 WinCamD-UHS 6.5 × 4.9 mm CMOS 9.9 &mu m pixels 高速

Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供最佳的测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB最大帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片） 光斑分析仪，广谱光束分析仪，激光光束质量分析仪

仪器简介：CO2 激光光束分析相机 ML7400 是一个新型的光束分析相机。它包括一个高分辨率的相机和一个红外(IR)转换器。它可用于监测光谱范围在8 µ m &ndash 30 µ m高能量连续或者脉冲激光器。该系统可用于功率密度高达1KW/cm2的情况下，而无需加额外的衰减器件。该系统符合ISO标准，可进行在线检测。技术参数：CO2激光光束分析仪参数: Image Converter Spectral range: 8 &ndash 30 &mu m Clear aperture: 21 mm2 Sensor dynamic: 50 : 1 Sensor resolution: 100 &mu m Intensity range: 20 W/cm2 &ndash 1000 W/cma Damage threshold: 2000 W/cm2 Input power (cw): 200 W / 250 W (60 s) with additional attenuation 1000 W Response time: 67 ms (50%) Camera System Pixel # 752 x 582 Measuring Rate: up to 25 fps Interface: Firewire Mechanical dimensions: 267 x 125 x 71 mm3 Weight: 1.7 kg Electrical requirements: 230 V 50 Hz 300 W Housing temperature: max. 50° C主要特点：&bull 在线测量连续或者脉冲CO2激光器of CW and pulsed CO2 Lasers &bull 高分辨率&bull 单脉冲探测&bull 用户自定义装置

激光光束分析监测器（BWA-MON）系统，可以真正地做到对不管是低能量还是高能量的连续激光和脉冲激光的激光光束进行实时测量、分析和监控。该系统的设计遵循了国际标准ISO11146和ISO13694中对激光、激光设备以及激光光束度量的要求。在所有激光应用中，激光光束轮廓剖面图对很多的激光应用都提供有价值的信息。通过监控这些激光束空间轮廓、圆形度、环心、象散、M平方值等，你可以提前得到关于激光及其光学传输系统任何问题的预警。BWA-MON系统可以提高加工质量，加工稳定性以及减少废料。另外，因为焦点位置可以实时监控，处于闭环控制，对于易受热透镜效应影响的系统可以通过闭环补偿减小其影响。 BWA-MON正在申请专利，使用时连接上持有HAAS LTI专利的BWA-CAM（美国专利号8,237,922），无需移动部件便可测量激光聚焦束腰。(而在此之前，市面上其他的激光光束分析装置，都要使用一些移动或旋转的配件，来实现对激光M平方的实时测量，它们无法满足在线实时的监测应用。) BWA-MON适用于大部分的激光波长和应用，无需移动的配件就可以对激光束及其光学参数实时测量和分析。 BWA-MON是Hass公司的产品，Hass公司在这方面有三十多年的专业光学传输经验。这套监测系统可以用在处理材料的过程中，包括切割、钻孔、焊接、打标或其他任何一种应用。图1：基本的BWA-MON光学设计 BWA-MON的工作流程如下：一束激光进入棱镜，少数光通过第一个反射面进入BA-CAM。大多数的激光束会通过棱镜进入加工镜头。少数光通过第二个反射面进入BWA-CAM，形成实际加工光束的影像，被高度衰减处理过。有这种反射面的可以是道威棱镜、里斯里棱镜、或者一个薄的平行平板。衰减的激光束透过棱镜进入BWA-CAM，激光束腰可以通过一系列的主要感应区域（ROI）观测到。激光束腰位于一系列点的中间（如图五）。每一个点都是激光束腰的横截面图，基本在同一个水平面上。软件能够自动追踪并测量ROI的大小，以精确地进行M平方值计算。图2：BWA-MON适用于大功率激光焊接 BWA-CAM能够测量经过所有聚焦透镜的激光束腰。加工光束和经过第二个反射面的光束有效焦距不同，在棱镜和BWA-CAM中添加一个负透镜解决了此问题。 图1为最常见的低功率BWA-MON光路图。在这个图示中，道威棱镜用来将光线分别传输到加工镜头和BWA-CAM。 BWA-CAM能在一秒内测量出激光的M平方值，在其最高的分辨率下，约333到500毫秒内，系统可以达到帧率为2到3帧每秒的测量结果。这使通过无光源测量激光束腰的应用变为可能。软件能同时分析光束的空间截面，得以快速地计算出激光M平方值。图3为一个感应区域（ROI）的示意图，通过软件分析BWA探测器的数据。图3：在空间内有延迟的激光束腰切片的图解。 Figure 2图2为一个大功率焊接BWA-MON的光路图。在此情况下，只有一个BAW-CAM来监控激光束腰。BA-CAM也可以被放置在第一个反射面后面，这里没有被描述出来。通过一个楔形透镜，透过光束产生一个角度偏差，防止加工过程中的反射光。位于BWA-MON中的聚焦透镜同样地倾斜。图4：BWA-CAM和BA-CAM汇总数据界面 如果加工系统要求高功率同轴，则图7为满足该需求的光路图。 图4显示了BWA-MON利用的两个照相机（BA-CAM和BWA-CAM）的数据画面。上面的画面来自BA-CAM，用于测量原始激光束，下面的画面是聚焦光束，显示了15个ROI点。右边的汇总数据提供了用户选择的剖面或M平方的参数。右边作为质量控制（通过或失败）的图表，变为红色表明用户选定的质量控制参数超出了范围。图5：BWA-CAM帧捕获器的变焦拍了来自一束聚焦激光的15个感应区域。 图5显示了BWA-CAM影像捕获器的页面，是来自一束聚焦激光的15个聚焦的感应区域。从图中可以看到聚焦激光的进入和淡出（从左至右）。所有的这些画面都在CMOS感应器上同时并实时生成。正是有了这些感应区域，软件才能分析光斑的尺寸、发散、像散、束腰位置，瑞利长度以及M平方值。 图6：BA-CAM和BWA-CAM质量控制设定界面 图6为激光束剖面图参数据的示例，用户可以自定义选定参数值的上限和下限。如果有参数超出了用户选定的范围，会在对应位置标出，数据的颜色也会从绿色变为红色。如果某一项值超过范围，系统可以通过接收一个USB输出的信号关闭系统。对于需要精确控制激光的光学系统，系统参数的误差要求非常严格。例如高功率光学系统中，如果有一些参数超出了范围，用户可以在其对系统造成致命影响之前关掉系统。 图7：同轴高功率BWA-MON配置图8：BWA-CAMM平方面曲线界面 图8为BWA-CAM的M平方测量，在这个界面，可以看到由BA-CAM和BWA-CAM共同测量的M平方值，或者单独由BWA-CAM测量的M平方值。X轴显示了已知使用聚焦透镜的聚焦位置，Y轴是激光束腰直径的值。激光束腰的位置和瑞利长度有注解以供参考，透镜上的激光像散和激光光斑尺寸显示在曲线右方的数据栏中。图9：BA-CAM和BWA-CAM数据记录界面 图9为数据记录的界面，用户可以实时地选择符合ISO11146和ISO13694要求的激光束参数进行追踪。记录的数据可以帮助用户在[页面设定]参数的上限值和下限值，同样也为其他类型的测量提供了最原始的数据。图10：光纤直径为200微米的4KW连续光纤激光。 BWA-CAM不仅适用于低功率的激光，也适用于大功率几千瓦的激光设备。图10显示的BWA-CAM的屏幕点功率为4Kw连续波光纤激光，传输光纤为200μm，聚焦透镜焦距200mm。图11：BWA-CAM上显示传输光纤（左图）与激光源光纤没有对准，产生包层模Cladding Mode，右图为千瓦级的100μm激光光纤，光纤耦合对准很好。 BWA-CAM不仅可被用于测量关键的M平方参数，还可以作为帮助检查激光器、光学系统或者两者组合时光路是否正确的诊断工具。图11显示了一个千瓦级连续光纤激光系统，传输光纤与激光源光纤没有对准。左图为包层模Cladding Mode在100微米直径的光纤中。右图为同一个光纤，利用BWA-CAM将其扭动调节，使达到最佳的对齐位置。图12：变焦拍摄直径532纳米光纤激光，显示了一个三轴检流计系统的严重缺陷。 在某些情况下，一个光学系统可能会意外地显示出一个很大的图像点。图12便是这样，它是一个三轴扫描系统，利用532nm的传输光纤，在加工过程中光斑的尺寸应该比图示的小两倍才正确。BWA-CAM清晰的展示它的慧差，光斑的严重慧差表明这个三轴系统光路没有调准。图13：1064nm光纤激光，显示三轴扫描系统的散光现象。 图13展现了另一种情形，1064nm光纤激光，通过三轴扫描系统聚焦，焦点比标准参数大两倍。在这种情况下，可以看出偏差缘于像散，原因是3轴扫描系统未对准。 无论是基本的激光M平方值测量，还是制造业中严格的材料加工应用，或是激光光学系统的故障排除，HAAS激光技术公司现在正在申请专利的BWA-CAM是一款简单、易于集成、易于使用并解决这些问题的最好产品！

面阵激光光束分析仪Spiricon 公司于1978 年在美国犹他州洛根市成立，提供产品覆盖深紫外（13nm）到远红外(3000m)，可为光刻、激光器制造、激光精密加工、光通讯、太赫兹等应用提供合适的光束分析系统解决方案。Spiricon 公司在光束质量分析仪领域拥有多项专利，尤其是Ultracal ™ 逐点背景噪声扣除技术，协助制定了ISO 11146-3 号光束质量分析精度标准文件。2006 年加入激光量测领域领导者Ophir 集团公司，面向激光器制造、激光加工、军事、医疗和科研等领域用户，从而可以提供更加全面的单元和可定制激光量测系统方案。Spiricon国内独家代理商请认准先锋科技。 Spiricon 公司激光光束分析系统包含三大部分：CCD 相机、专业光束分析软件及各种应用附件。◆ CCD 相机（光束质量分析系统的关键）在连续或脉冲模式下，激光打在CCD 相机的芯片上，通过相机本身的光电转换，将光信号转换成电信号输出。◆专业光束分析软件（光束分析系统数据/ 图像处理与运算的核心）测量前：应用Ultracal ™ ，消除背景噪声；测量中：接收相机输出的电信号，并通过精确地运算从而得出符合ISO 标准的光斑大小、峰值中心、几何中心、高斯拟合度等参数；测量后：测量数据与图像的保存；可根据不同的用途，软件分为标准版、专业版和企业版三种。◆附件（光束分析系统的拓展）单独CCD 相机无法完成市场上全部激光的光束质量分析要求，这就有时候需要我们增加不同附件来完善CCD相机的功能：光斑大小可以用缩束/ 扩束器进行调节；激光功率/ 能量密度可以用分光器/ 衰减器进行降低；硅材质相机对于紫外线相应灵敏度降低，造成测量结果偏差大，用紫外转换器将紫外线转化成可见光，可以完全解决这一问题。

破片群速度测试分析　系用激光发射——接收模组和光学组件，在X、Y方向组成激光前后光幕，并形成直角坐标系，运用FPGA阵列记录下每条光束状态及逻辑关系。破片信息分析软件根据设定条件自动剔除干扰信息，以激光光束为坐标，还原出弹着点位置及每个破片的速度。专家分析系统帮组人工分析原始数据信息。◎破片数量：≤2048个◎破片直径：5mm-300mm◎速度范围：1m/s-4000m/s◎有效视场：600mm×600mm2(可选)◎系统精度：0.2%

技术参数：紫外激光光束分析仪(UV - Laser Beam Profiler) 可用于准分子激光器和 Nd：YAG 激光器的高次谐波相机系统：&bull 高动态范围&bull 高分辨率紫外转换器&bull Homogeneity up to 98 % over active area &bull 延迟时间短&bull 损伤阈值高达15 J/cm² &bull 单脉冲探测频率达1 KHz(由转换器的延迟时间决定) Laser Wavelength beam size F2 157 nm ArF 153 nm NdYag 5th 213 nm 1mm 5x4 9x6 13x9 18x13 27x20 35x27 43x32 50x38* KrF 248 nm Laser spot NdYag 4th 266 nm XeCI 308 nm ML5222 10x direct ML5201 ML5202 ML5203 ML5204 ML5205 ML5206 ML5207 XeF 351 nm ML5223 20x NdYag 3rd 355 nm ML5224 40x * (larger sizes available on request, up to 200 mm Software ML1201 beamlux II advanced Camera ML3720 1/2&rdquo CCD 782 x 582 ML3743 2/3&rdquo CCD 1392 x 1040 主要特点：Features &bull 可测量所有的准分子激光器&bull 在线质量控制&bull real time evaluation of the laser with 1/10th of a second &bull Synchronizes up to three cameras simultaneously for measurement of raw beam and processing plane &bull TCP/IP remote control to control your laser system from your desk

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 （其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口，轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设 置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀（分辨率最小可达 7nm）、夹杂物和微光斑分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

武汉东隆科技有限公司（ETSC Technologies Co.）是美国Coherent（相干）公司在中国区的指定一级代理，专业售后，并备有库存，欢迎您的来电垂询！ 功能概述：基于CMOS相机的激光光斑分析仪。可测量连续和脉冲激光的2D和3D轮廓，光束的位置。光谱范围190-1100nm，分辨率1280*1024，提供衰减器配件。技术参数：型号LaserCam-HR II-2/3inch分辨率1280*1024像素大小6.5um*6.5um探测器有效尺寸8.3*6.6mm光谱测量范围190-1100nm(without LDPF)400-1100nm(with LDPF)190-355nm(with BIP-12F)像素位深14 bit曝光时间设置1-500ms推荐测量光斑尺寸0.2-6mm可测激光类型CW/Pulse订购号1282870

红外激光光束分析仪产品特点●远场和近场光斑均可测量●兼容连续和脉冲激光器●实时测量，支持数据和视频输出●68dB高动态范围 MAGRay技术参数表 波长范围 2~20um 相面尺寸 7.04x5.24mm 像元尺寸 22um 阵列规格 320x240 灵敏度 常规0.04mW/cm2:高量程8mW/cm2 动态范围 2500:1 测量功率 常规0.1W/cm(损坏功率2W/cm) 高量程20W/cm(损坏功率400W/cm) 可外加衰减片提高量程和损坏功率 帧率 50Hz 数据接口 以太网 外观尺寸 53mm(长)x45mm(宽)x43mm(高) 供电接口 DC12V 重量 120g 安装接口 M3螺纹

相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器, 直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像, 传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析 仪是目前使用最多的光斑分析仪,可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光,可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成:&bull 相机。相机确定了可测量的波长范围:硅基 CCD 相机通常为 190nm ~ 1100nm；InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；热释电面阵相机则可覆盖 13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的最大尺寸,而像素尺寸则决定了能够测量的最小光斑尺寸；通常需 要 10 个像素体现—个光斑完整的信息。&bull 光束分析软件。软件除了采集数据并按照各种数学模型进行分析计算外,更为重要的是确保光束分析计量的准确性。Spricon 公司采用 Ultra CALTM 技术扣除 相机的起伏背景,确保在各种强度下得到的光斑都具备定量准确性；丰富的光斑识别、手动及自动选区功能,避免光斑品质计算中引入过大 误差甚至出现伪结果:例如对多模(多瓣)光束的自动分析。&bull 附件。几乎所有的激光器的强度都超过相机的饱和强度甚至损伤國值,高品质的衰减附件可确保在保持光束品质的情况下衰减强度；扩束、缩束、放大、 投影成像等高品质成像系统使得尺寸—定的传感器可以适应不同的光斑。1、硅基 CCD 相机 SP928/SP907 SP300/SP920G LT665 L11059主要特点： &bull 相应灵敏度高 &bull 不同感光面尺寸可供选择 &bull USB2.0/USB3.0/ Gigbit Ethernet 三种接口方式 &bull C-Mount 接口,可选择衰减片、分光片等多种附件主要应用领域：&bull 半导体激光器&bull HeNe 激光器 &bull 紫外激光加工设备 技术参数：相机型号SP930SP928LT665L11059波长范围190-1100nm190-1100nm190-1100nm190-1100nm芯片尺寸7.1mmX5.3mm12.5X10mm35mmX24mm像元大小4.4μm X4.4μm4.54μmX 4.54μm9.0μm X9.0μm分辨率1928X14481928X14482752X21924008X2672动态范围56dB56 dB54 dB59 dB灵敏度1.2nW/cm21.2nW/cm20.3nW/cm20.17nW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )0.15mw/cm2软件配置BeamGage Pro接口方式USB3.0USB3.0USB3.0USB2.0特点通用 / 高动态 范围高动态范围 / GigaE大面阵 / 高分辨率超大面阵2、镀磷光材料 CCD 相机SP928-1550 硅材料 CCD 相机的长波截止波长 为 1100nm (对于较强的光可响应至 1300nm ) 。通过在芯片表面镀上转换 磷光材料,能够探测光通讯广泛使 用的 1550nm 左右激光。主要特点：反斯托克斯磷层吸收 1440-1605nm 近红外光,进而产生的可见光在硅基芯 片上进行成像。主要应用领域： &bull 光通讯； &bull OPO 激光等相机型号 主要参数SP928-1550LT665-1550波长范围1440-1605nm1440-1605nm芯片尺寸7.1mmx5.3mm12.5mmx10mm像元大小4.4μm x4.4μm4.54μm x4.54μm分辨率1440x16052752x2192动态范围30 dB30 dB灵敏度50μW/cm2损伤國值50W/cm2 、0.1J/cm2 ( 100ns )软件配置BeamGage STD or PRO接口方式USB3.03、近红外 InGaAs 相机 SP1201/1203 XC-130主要特点： 量子效率高, 暗电流小, 灵敏度高, 爆光时间范围宽。主要应用领域： 空间遥感、夜视、侦察与监视、遥感系统、 红外成像制导、 光电对抗等相机型号SP1203SP1201XC-130波长范围900 - 1700nm芯片尺寸9.6x7.6mm像素大小15μm x15μm30μm x30μm分辨率640x512320x256动态范围68dB59dB68dB( 低增益 )/ 60dB(高增益 ) 饱和强度12.6uW/cm2@1064nm8.9uW/cm2@1550nm12.6uW/cm2@1064nm8.9uW/cm2@1550nm 1.3uW/cm2 @ 1550nm芯片制冷TEC 制冷TEC 制冷TEC 制冷强制散热顺率60Hz60Hz100Hz爆光时间10μs - 50ms150μs - 10ms1μs - 400s软件配置BeamGage ProBeamGage ProBeamGage Pro接口GigEGigEUSB2.0 4、热释电阵列相机 Pyrocam IV Pyrocam IIIHR主要特点： 13-355nm&1.06-3000μm 超宽波长覆盖。主要应用领域： CO2 激光,光通讯,太赫弦,自由电子 激光器等。 配合 M² 分析软件及自 动导轨,可以测量 M² 因子。相机型号Pyrocam III HRPyrocam IV波长范围13-355nm&1.06-3000μm13-355nm&1.06-3000μm芯片尺寸12.8mmx12.8mm25.6mmx25.6mm像元大小75μm x75μm75μm x75μm分辨率160x160320x320灵敏度64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)损伤國值8W/cm2(CW)600mJ/cm2(1ms Pulse)8W/cm2(CW)600mJ/cm2(1ms Pulse)软件配置BeamGage Pro接口方式GigEGigE

仪器简介：上海瞬渺光电全线代理美国Edmund Optics爱特蒙特的光学产品, 主要的产品如下: 1.高精度的光学透镜,棱镜 2.光学机械装置 3.光电子装置 4.计算机视觉系统(lens grinding and polishing, metal machining) 5.高精度的CCD光学元件 6.平面.球面镜,光学光圈 爱特蒙特光学（Edmund Optics）公司自1942年开始设计生产多元素透镜、透镜镀膜、成像系统以及光学机械设备以来，现如今已成为全球最主要的工业光学器件、元件供应商。爱特蒙特光学（Edmund Optics）公司产品繁多，其中包括光学方面：分束器，晶体光学，光纤，滤波片，光栅，透镜，起偏器以及棱镜；机械方面：光圈，电路试验班组成，底座和地盘，以及其他相关附件；激光器方面：氩离子激光器，光纤耦合激光器，氦氖激光器，激光器福建，激光探测器等；视觉系统方面：紫外照相机，近红外照相机以及高速照相机等；光学工具：调准用示波器，目镜、物镜和适配器，放大镜，显微镜等。还有计算机视觉系统(lens grinding and polishing, metal machining) ，高精度的CCD光学元件。技术参数：波长范围 300-1100nm (400-1100nm with LDFP) 感光面积 8.5 x 6.8mm (2/3英寸) 光束直径 0.20mm min, 6.0mm max (1/e-2) 外观尺度误差 ±1%(typical), ±5% Max 脉冲触发 TTL, rising or falling edge 帧率 27Hz (Live Mode), 10Hz (with calculations) 峰值噪声 24nW/cm2 (at 632.8nm) 连续光饱和功率密度 40mW/cm2 (at 632.8nm with LDFP) 脉冲光饱和能量密度 8mJ/cm2 (at 1.06µ m without LDFP) 损伤阈值 32mJ/cm2(at 1.06µ m without LDFP) 电快门 固定值10ms 镜头接口 C-Mount 信噪比 60dB Gamma 1.0 增益 优化的线形动态范围 (不可调) 操作系统 Windows 98, NT 4.0, 2000 XP 外观尺寸 68.1 x 79.3 x 40.9mm (with LDFP) 重量 110 grams 工作温度 -20～60°C主要特点：特点： 10bit USB2.0数据接口 1280 x 1024，6.7um像素CMOS感应面 高灵敏度和动态范围 可直观化软件界面 该光束质量分析仪采用顺序扫描式照相机探测，光谱覆盖范围300-1100nm。具有高的信噪比和线形响应，精确的脉冲光和连续光光斑尺寸和均匀性测量。应用软件提供背景提取，减少固有模式噪声，提高测量精度。基于图象提供分析功能有：中心定位、峰值光强位置、指向稳定性、相对功率/能量、峰值功率/能量密度、光束发散角、椭圆度、光强分布均匀性、高斯拟合、光束直径/宽度等。 该系统配置包含相机、数据线、相机支架及应用软件。另外，相机还带有低失真平片LDFP以减少环境光干扰，并保护探头。提供激光级的衰减2500:1。用户还可以通过选择其他固定或可变衰减器，增加使用功率范围。

产品概述LP1激光光声光谱气体分析仪，集成了高精度高选择性可调谐可控光谱的半导体激光器光源，和宽动态量程的悬臂梁增强型光声光谱技术。 零背景噪声技术提供了连续几个月不需重复校准的高稳定性，这一特性使得LP1是需要ppb、ppt痕量级浓度测量要求工况的理想选择。高灵敏度和多种激光器光源选择仪器工作在非谐振模式，采用不同的调制模式可以同时测量来自两种激光器光源的信号，由此产生的光声光谱信号当量直接量化了在光声光谱采气样室内不同被测气体的浓度。激光器的调制波长和低压测量的利用，使得分析不同混合气体具有极好的选择性，基于此背景噪声信号最小化技术，使测量结果微漂移以及长的标定周期。对于选择每种适合的激光器光源，目前DP1能够装配宽范围的NIR近红外半导体激光器，并连续增加可选择的激光器。例如量子级联激光器(QCL)，或近红外光学参量振荡器(IR OPO)，持续增加气体测量量程，并增强仪器的优异功能。

RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统够更准确和更高性价比地测得热年代学年龄和地质年代学年龄，集成了193nm准分子激光剥蚀取样系统，在低重复率下实现完美的信号平滑而不过度延长冲洗时间或引起记忆效应，快速冲洗时间，以及（可选的）信号平滑处理，连续监测激光的输出能量，可以确保可靠的气体处理和优异的激光剥蚀性能， 该软件既支持手动选择测试点，也可实现数千个样品点的无人值守全自动运行。设备优势：1、同时可选购多个样品支架或根据要求定制支架样式；2、完全集成化支持远程控制和远程工作站选项的系统；3、LA仪器上的离轴相机，用于改进样品成像和定位；4、集成的样品表面激光能量密度校准和激光能量管理功能；5、独特的结构化界面对于用户来说简单易学；6、可以同时装载薄片和圆形样品靶的组合支架也供选择；7、旋转矩形狭缝，用于带状样品的动态高分辨率追踪。技术参数：1、能量密度：20J/cm2-30J/cm2；2、脉冲能量稳定性： 2 %RSD- 1%RSD；3、内部能量计：是（闭环反馈）；4、激光波长：196nm；5、激光安全：符合 FDA / CDRH 21 CFR，I类激光系统，激光完全联锁，完全封闭光束路径。RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统使用的脚本语言来定制气路的操控，以符合特定ICP的要求，同时具有超过六倍的可及面积，Laurin Technic激光剥蚀样品池由先前在ANU工作的Mike Shelley开发，193nm准分子激光剥蚀系统拥有完善的设计，使用电动离轴观察系统和高分辨率相机对样品池中的样品进行成像，可以装载任意尺寸的样品靶，同时确保向入射的激光束提供平面。

RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统能够分析安装在两种样品支架上的多个样品。惰性气体样品池通过GeoStar软件与RESOlution系统集成，通过波纹管将样品池连接到质谱仪，每台设备标配一个可装载43个锥形样品的支架和一个多尺寸平底样品支架。同时可选购多个样品支架或根据要求定制支架样式，除He可视化分布和热历史重建等应用外，RESOchron 系统能够更准确和更高性价比地测得热年代学年龄和地质年代学年龄。技术指标：1、激光脉冲宽度：5-7ns；2、脉冲能量：12mJ；3、脉冲能量稳定性：2%RSD；4、重复频率：300Hz；5、能量密度：20 J/cm2；6、样品台移动范围：155x105mm；7、重量：750kg(1600 lbs.)。RESOchron双定年优势：1、在单一矿物上快速测定(U-Th)/Pb和(U-Th-Sm)/ He年龄；2、避免了使用危险化学品进行矿物溶解；3、在先前只能获得一个年龄的测试时间内，现在可获得多达50个矿物年龄。RESOlution 激光微区原位同位素分析与定年系统易于掌握，用户培训耗时短，使用方便，结合成熟的RESOlution和AlphachronTM技术，可与远程用户协作的、免费的、有离线分析点选取功能的软件，提高仪器使用效率，可连续监测激光的输出能量，独特的结构化界面对于用户来说简单易学，同时还有许多实验室人员需要的强大功能，使用电动离轴观察系统和高分辨率相机对样品池中的样品进行成像，所有这些操作都通过GeoStar软件轻松控制。

总览BeamOn LA是光束诊断测量系统，用于实时测量连续或脉冲大尺寸激光光束，可测量激光光束参数，包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能，用于光束分析设置和给出结果。系统基于USB2.0接口，软件驱动设备，可以通过高速USB2.0口连接到电脑，在windows 7/8操作系统上运行。BeamOn LA 强脉冲光及大尺寸激光光斑分析仪 VIS-NIR 350-1310nm,BeamOn LA 强脉冲光及大尺寸激光光斑分析仪 VIS-NIR 350-1310nm通用参数产品特点：实时显示光斑尺寸和高斯拟合实时2D/3D光斑绘图软件控制电子快门和增益视频回放抓拍文件保存和回放通过RS232/TCP-IP数据导出到其他电脑数据记录具有详细统计控制DLL用于定制应用根据IEC60601-2-57标准Pass/Fail分析三个ROI最多同时监控3个光斑中心! 自定义校准功率测量IPL光斑表征，矩形光斑斜对角最高60mm全部光斑轮廓最高几个μm精度矩阵格式强度显示可调整矩阵表格，可自动计算每个像元功率报告功能，光斑分析设置和给出结果多系统操作全对象记录用于离线分析光斑选定区域功率产品应用：大尺寸激光光斑分析：轮廓、光斑尺寸、位置、功率激光器和IPL质量控制监控多光束之间中心和距离参数参数值光谱范围VIS-NIR 350-1310nm功率值最高100 J/cm2 (or 100W/cm2)最大帧速25Hz图像分辨率720 x 576快门速度1/50 to 1/100000 sec, 9 steps增益控制6dB to 60dB, 16 steps归零在连续归零模式功能，自动减去背景动态范围使用ND1000滤光片最高1x1010，软件控制电子快门和增益损伤阈值100 J/cm2灵敏度0.1μW/cm2@633nm (VIS-NIR)饱和100 W/cm2使用ND1000滤光片，同时滤除没有激光脉冲的帧频。脉冲激光工作可以获取和回放1-100Hz慢脉冲激光，滤除没有激光脉冲帧频，可以显示单发脉冲触发在脉冲模式，软件上设置滑条阈值，显示有脉冲光的帧最小光斑尺寸5mm直径传感器有效面积58mm x 45mm重量1.1 kg功耗2.6 WIPL强脉冲光测试截图大尺寸激光光斑测试截图订货信息：◆ 用于激光光束分析的整套系统，包括传感器头，内置5个ND滤光片（ND8，ND64，ND200，ND400，ND1000）的滤光片滑块，USB2.0线，软件，手提箱，用户手册。◆ 型号说明：1、BeamOn LA VIS-NIR：光谱范围350-1310nm

激光光谱分析仪光谱分析仪是将成分复杂的复合光分解为光谱线并进行测量和计算的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成。根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类：经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器，根据色散组件的分光原理，还可分为：棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪，他们都是狭缝光谱仪器。而新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器，它通过调谐特定激光器的波长，利用分子选频吸收形成吸收光谱的特性来实现检测和分析。CO2激光光谱分析仪二氧化碳激光器是目前连续输出效率较高的一种激光器，它发展较早，商业产品较为成熟，被广泛应用到材料加工、医疗使用、军事武器、环境检测等各个领域。而CO2激光光谱分析仪是一种基于红外衍射光栅的光谱仪，专门设计用于检测二氧化碳激光器。CO2激光器能发射9.1到11.3μm范围波长的激光，美国Macken公司生产研制的CO2激光光谱分析仪可对该范围的激光进行波长检测与分析。工作波长9.1μm -11.3μm波长分辨率3.0nm技术参数波长范围9.6μm 到11.3μm分辨率0.003μm最大功率100w最小功率（聚焦）0.01w响应时间0.25s12C16O2振动-转动谱线识别0001-0200 P2-P60 和 R2-R600001-1000 P2-P56 和 R2-R600001-1110 P19-P45产品特点● 光谱范围9.1μm到11.3μm；● 激光波长可视显示；● 可同时显示所有谱线，呈现完整激光；● 显示高度上的空间波长变化；● 能分辨超过140条转动谱线（可提供其他范围）； ● 灵敏度范围宽； ● 轻巧便携，安装简单。工作原理Macken公司生产研制的16A CO2激光光谱分析仪采用的光栅分光镜能同时显示CO2激光所有的激光跃迁信息。它对波长和转动谱线的标记都进行了校准，能轻松识别9.1和11.3μm之间的140个激光跃迁信息。当红外激光光束撞击在UV（紫外）激发的热敏屏幕上会使屏幕局域变黑，从而将这些跃迁信息在视觉上显示出来。该产品分析显示屏（热敏屏幕）的响应时间为1/4秒，能够快速解析CO2激光器所有的转动谱线。（CO2激光是利用分子转动能级间的跃迁产生转动光谱，谱线丰富，在10μm附近就具有几十条谱线输出。）上图为16A的数据显示标尺，上面的刻度是CO2转动谱线标记，下面的刻度是以微米为单位的波长。中间是热敏屏幕，工作时该屏幕以黑线显示激光波长。光谱分析屏幕的宽灵敏度范围可以同时显示功率密度相差20倍的激光产生的黑线。该标尺也可以鉴定CO2分子是否发生跃迁产生激光。每台仪器都经过工厂校准，通常不需要进行调整，但也会提供一个简单的程序供用户检查校准。产品应用● 检测激光波长； ● 显示激光谱线。

天津瑞利光电科技有限公司优势经销以色列Ophir Optronics激光光束分析仪NanoScan产品型号：NanoScan关键字：OPHIR激光光束分析仪NanoScan关键字描述：产品介绍：测量从紫外到远红外（190nm到100μm）的任何波长即时实时显示结果 发现光束不到300毫秒，可达20Hz由于NanoScan定义明确的Z轴基准面，腰部位置可确定在±25μm范围内测量脉冲和CW激光对于脉冲束，测量并报告脉冲率从小到7μm的光束，可以直接测量，保证精度和精度通过平均可以实现额外的高信噪比Z轴腐蚀性测量可通过内置机械线性平台控制获得使用软件附带的简单M2向导可获得M2传播比值。任何光束结果都可以随时间绘制和监控可以监视功率水平以及空间测量，以确定是否通过波束调整引入损耗将结果记录到文本文件以进行独立分析使用PRO版本软件和扫描头提供的可选ActiveX Automation命令自动化系统扫描头配置包括硅，锗和热释电版本，适用于各种波长和激光功率级别。NanoScan软件有两个版本：标准版和专业版，包括一系列广泛的ISO定量测量，M2向导和测量激光功率的能力。参数：总线接口：USB 2.0信号数字化：16bit数字化时钟：max.20MHz更新速率：max.20Hz数据传输：批量传输模式板载内存：64MB mDDR SDRAM湿度：90％，无凝结扫描头尺寸：3.03”（7.68cm）L X 2.5”（6.35cm）电源：USB 2.0总线供电CPU时钟：300MHz内存时钟：264MHz扫描电机：刷直流，max.4W工作温度：0 ... 50°C重量：434克（15.3盎司）随着我国工业自动化水平、高科技产品的高速发展，我们意识到引进新技术和高科技产品的重要性。所以，瑞利光电自成立之初便凭借着对国内和国际市场的深入调研和了解，在经营理念、管理制度、贸易接洽、人才任用等方面都拥有较大的竞争力，并确立了明确的战略目标。

LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理，将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统，可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性，探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性，研究器件吸收与电荷生成的微区特性，以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点： 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格：系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例： 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图， 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图， 图示空间分辨率为50um。

产品概述：KEWLAB qBeam-2M-FW 激光光束分析仪轻便灵活，可以实现高敏感度、高分辨率的实时测量。应用软件简单易用，可测量波束宽度、形状、位置、功率、强度等多种参数，并且拥有光束发散度计算、M2值计算分析等额外功能。转轮包含三个ND滤光片（ND4/ND9/ND10），用户可通过转轮轻松转换滤光片。滤光片可以重叠来实现理想状态下的衰减。 产品特征：• 轻便灵活• 实时波束大小和高斯回归• 实时2D/3D波束曲线• 可达3μm的像素间距• 可测小达60μm的光斑• 内置滤光片转轮 软件特征：• 简单易用• 二次矩，高斯回归，刃锋等• 波束发散度计算• M2值计算 主要应用：• 激光波束分析：轮廓、波束大小、位置、发散度、M2• 激光的QC• 监测多波束的中心点 产品技术参数：型号qBeam-2M-FW 激光光束分析图纸 探测器类型CMOS像素大小3μm感光尺寸5.76mm x 3.24mm最大分辨率1920(H) x 1080(V) 2百万像素最小光斑尺寸60微米波长范围350-1100nm敏感度~1.2nWatt/mm2 @ 632.8nm / ~0.5mWatt/mm2 @ 1310nm饱和强度~5μWatt/mm2 @ 632.8nm可调参数曝光时间, 图像大小快门可达50Hz(根据图像大小)损伤阈值全部滤光片50W/cm2滤光片*ND4:透射率 14%@632.8nm / ND9:透射率 0.5%@632.8nm / ND10:透射率 0.03%@632.8nm电源5V DC, 通过USB工作温度-10℃-70℃储存温度-20℃-85℃相关配件缩束器~x2, 可用于测量更大的激光光束, 光束最高功率可到1kW C-mount 安装配件方便安装其他光学配件 50/100mm 套筒微软操作系统XP/7/8/10应用拓展类型DLL 更多激光光束分析仪产品，请移步KEWLAB中国。