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激光内反射显微镜

仪器信息网激光内反射显微镜专题为您提供2024年最新激光内反射显微镜价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括激光内反射显微镜参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的激光内反射显微镜您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合激光内反射显微镜相关的耗材配件、试剂标物,还有激光内反射显微镜相关的最新资讯、资料,以及激光内反射显微镜相关的解决方案。

激光内反射显微镜相关的仪器

  • 布鲁克HYPERION II是第一款结合了尖端红外激光成像的红外显微镜,具有无与伦比的成像速度,并且在同一台的设备中结合了经典和通用的FT-IR显微镜。布鲁克HYPERION II不负盛名,彰显了我们引领创新的实力。它首次实现在一台仪器中集FT-IR和QCL技术于一体。HYPERION II囊括所有基本技术,首先是应用最广泛的FT-IR显微镜。它可用于一般研究、法医鉴定、故障分析、生命科学和电子学等领域:热电和液氮冷却MCT检测器视觉和红外对比度增强工具提供各式各样的物镜和配件集成了压力传感器的专用ATR物镜借助焦平面阵列(FPA)检测器技术,将化学FT-IR成像提升至新的高度。它可在各种测量模式下实现卓越的空间分辨率和光谱灵敏度:焦平面阵列技术实现真正的红外成像高空间分辨率,全面兼容ATR低倍物镜用于快速化学概览高倍物镜用于观察最微小的细节布鲁克激光红外成像模块(ILIM)打开了一扇新的大门,有助于进一步增强现有应用和探索新的应用。HYPERION II结合QCL技术和FT-IR于一体:以前所未有的速度采集高对比度红外图像无缝组合FT-IR和QCL测量可在实时红外成像下实时观察样品 在所有测量模式下均可进行QCL成像:透射、反射和ATR
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  • CTRM 700热反射式激光共聚焦显微镜CTRM700 是韩国?????所研发并由韩国Nanoscope Systems 进行商业化运营的热反射式激光共聚焦显微镜。CTRM 700 利用的是激光共聚焦扫描的方法测量样品表面或内部特定表面上温度变化引起的反射率变化的分布来获取样品的热分别图像。Principles & Benefits(性能及优势):热反射显微镜(Thermal Reflectance Microscope) 是一种基于测量样品表面光反射率变化而测量样品温度变化的一种技术。共聚焦热反射显微技术是一种激光扫描共聚焦方法,它可以在局部区域获得比传统热成像技术(红外成像技术)更高分辨率的热成像图像。Application field(应用领域):半导体器件热特性的测量与分析:-柔性显示面板缺陷检查-OLED内部缺陷检查-高输出功率装置发热特性的测量与分析-传感器单元的红外图像分析-氧化物薄膜晶体管的热特性-3D堆叠半导体热特性的测量分析-OLED 器件的热特性分析-气体传感器的MEMS装置的热特性测量和分析-InGaZnO薄膜晶体管的发热特性及可靠性分析Specification(规格)ModelMicroscope CTRM 700物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统测量高度 7 mm 分辨率横向分辨率0.3 μm轴向分辨率0.8 μm热分辨率1℃Image size共聚焦模式1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96热成像模式1024x768帧速率共聚焦模式10 Hz to 160 Hz热成像模式0.3 Hz激光共焦测量光源波长638 nm输出~2mW激光等级 Class 3b光学显微镜光源LED10W光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480数据处理单元PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~14 kg)控制器~8 kg
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  • 产品特点任意角度可切换外部照明或TIR照明 (HILO)安装方便容易对准的针尖/倾斜调整固定镜,可平移镜,可平移镜头 兼容RM21™ 和MicroMirror TIRF产品说明Mad City Labs提供了一个将 RM21™ 平台转换为全内反射荧光(TIRF)显微镜的模块。 TIRF 模块使落射荧光、TIRF和HILO (Highly Inclined and Laminated Optical) 显微镜技术之间的轻松切换。TIRF模块是RM21的一个精密校准附加组件。TIRF 模块控制照明角度和激发光束在物镜后焦平面上的聚焦。 TIRF 模块可以直接调整激发光束,从样品的标准落射照明到样品的 TIR 照明,以及两者之间的任何角度的光轴。下图说明了 TIRF 模块在落射照明和 TIR 照明中的使用。激发光束从 M1 反射,M1 连接到运动安装座,用于精确控制方向。 M1 是固定的,不会平移。激发光束从 M2 反射,可以使用千分尺沿光束路径平移。 M2 还连接到一个运动安装座,用于对光束进行精细控制。 L1 将激发光束聚焦到物镜的后焦平面上。 L1 可以通过运动安装座进行调整,并使用千分尺轴向平移。光束平移(如上面 TIRF 模块的详细视图所示)移动光束在落射照明/TIR/HILO 物镜后焦平面上的位置。Your browser does not support the video tag. Download the video here.M3 是 TIRF 模块的出射镜,用于将 TIR 出射光束引导至 TIRF Lock™ 模块。 TIRF Lock™ 通过保持恒定的 TIRF 信号将样品保持在焦平面上。 TIRF Lock™ 测量出射 TIR 光束的位移,并与 Z 轴样品纳米定位器一起使用以保持样品聚焦。TIRF 模块能够控制从 EPI 到 TIR 的全范围样品照明角度。在实践中,每个实验都会调整样品照明角度,以提供可用荧光信号的优化信噪比 (SNR)。在一些实验中,通常SNR 是使用 HILO 照明实现的,它使激发光的角度非常接近临界角。因此,激发光束通过折射进入样品,但以锐角进入,并且可以通过限制离焦探头的激发来获得更好的 SNR。 HILO 是可以使用 RM21™ 的 TIRF 模块完成的技术的一个特殊示例。
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  • 盲孔测量显微镜别名:激光盲孔检测仪、镭射盲孔显微镜?产品信息SN-MF300盲孔测量显微镜是一款集光机电于一体的高精密检测仪器,主要检测镭射盲孔的外观品质、孔的圆度、孔的深度测量与孔内良率,是镭射现场品检利器,可随时管控镭射机的工作状态。仪器采用先进的光学测量系统,保证测量的准确性与图像成像的高还原性。?产品特点采用全新光学设计的无限远校正光学系统,光效率高,成像质量还原性更高,图像输出稳定。三目成像结构,目视检测,直观景深更强,视野明亮宽阔。电子成像配合显微成像系统,倍率成像更大,测量功能更强大,可进行多样化与多维度测量,测量结果可视化高,测量结果可存储。紧凑稳定的机台,可在多种环境中保持仪器的测量精度与稳定性。双层XY测量工作台面,可根据需求配不同大小的工作台,应对于大面积产品的测量。XYZ三轴数显测量,使现场快速测量更快捷。 ?产品参数SN-MF300镭射盲孔检测仪名称SN-MF304SN-MF304NSN-MF304ND测量范围(mm)X400400400Y300300300Z150150150平台模式手动自动自动自动测孔无无是工作台面(mm)载物台600×500600×500600×500玻璃台450×350450×350450×350承重20kg20kg20kg测量精度测量分辨率0.001mmX/Y轴(3+L/200)umZ轴(5+L/200)um重复性0.0002mm观察与测量系统光学系统无限远校正光学系统观察光学头三目观察光学头CCD接口0.5X/1X目镜PL10X/22物镜5X/0.13(明场无限远长工作距),WD:10.8mm10X/0.30(明场无限远长工作距),WD:10.0mm20X/4.0(明场无限远长工作距),WD:4.0mm50X/0.55(明场无限远长工作距),WD:7.8mm调焦系统手动粗微调同轴/最小调节2um照明系统反射柯勒照明系统,24V/150W光纤冷光源透射5W/LED照明偏光系统反射系统起偏镜、检偏镜电源AC90-240V/50HZ仪器重量350kg配件CCDUSB相机/HDMI工业测量相机测量软件多功能测量软件,点、线、圆、角度、真圆度、3D孔深等几何测量,图像输出校正片0.01刻度尺电脑品牌电脑,2G内存,500G硬盘,19寸显示器
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  • C1si是一款革命性的真实光谱成像激光共聚焦显微镜。它具有令人惊叹的高性能,单次拍摄即可获取32个通道的荧光全光谱数据,带宽可达350nm。 C1si能够方便地在光谱成像模式和标准成像模式之间快速切换,使其应用范围极其广泛。通过对不同荧光标记所发出的重叠光谱进行拆分,C1si能够显著的改善对活体细胞的动态观察,并且更易于获取详细的精确数据。C1si技术领先、通用性强、扩展性高、升级方便,是一款特别适合大型综合科研平台使用的激光共聚焦显微镜。 § 速度――显著减少了图像拍摄时间,同时拍摄32个通道的光谱图像(尼康独创) § 精度――真正的光谱图像,获取实际的荧光颜色,出色的误差及偏差校正能力(尼康独创) § 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统,可高效地捕捉荧光光子,具备偏光控制技术的光谱探测器(尼康独创) § 易用性――轻松获取光谱图像 § &ldquo 可编程的荧光阻挡滤光片&rdquo § 轻松对光谱图像进行动态拍摄 § 极佳的多功能性 § 模块化设计(1) 速度――显著减少了图像拍摄时间۞ 同时拍摄32个通道的光谱图像(尼康独创)C1si采用32通道多阳极PMT,这在所有同类厂家的共聚焦显微镜中是最多的;并采用了多个高速数字转换电路以及LVDS(低压差分信号)高速串行传输技术等创新技术,通过一次扫描即可获取完整的32个通道的光谱图像。这能够显著减少成像时间,从而可以实现光谱实时观察。۞ 一步可获得320nm范围的光谱可以将波长分辨率高为2.5、5以及10nm。分辨率设为10nm时,一次扫描即可获取完整的320nm范围内的光谱,这种能力是先前的光谱成像系统无法比拟的。۞ 对活体细胞伤害较小仅使用一次激光扫描便能获取较广波长范围内的光谱图像,从而使激光强度和PMT增益的调节过程变得简单,快速。同时也极大的降低了激光对标本的照射时间,从而将荧光漂白及标本损害降至最低。C1si 光谱成像系统对活体细胞和组织的伤害非常小!(2) 精度――真正的光谱图像 ۞ 获取实际的荧光颜色获取的光谱具有高度的可靠性和精确度,因此能够检测到荧光光谱的峰值波长以及光谱形状的差异,既可以用伪彩色模式显示细微结构,也可以用真彩色模式进行观察。 ۞ 出色的误差及偏差校正能力(尼康独创)使用高精度矫正技术确保光谱的精度,这些技术包括使用发射谱线进行波长校正以及利用NIST(美国标准技术研究院)可溯光源进行发光度校正。同时,采用多阳极PMT灵敏度矫正技术(尼康独创)可以对每个通道的灵敏度误差以及波长透射属性进行矫正,这样研究人员便可以将设备间的测量误差和偏差降至最低。 ۞ 高波长分辨率(尼康独创)波长分辨率可达到2.5nm,共有三种分辨率可选(2.5、5、10nm)且分辨率不受针孔大小影响。(3) 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统,可高效地捕捉荧光光子۞ 具备偏光控制技术的光谱探测器(尼康独创)C1si的光谱探测器中采用了尼康具有专利的DEES(衍射效率增强系统)进行偏光控制,使衍射效率增强50%,极大提高了亮度。通过对齐光的偏振方向,优化了衍射光栅的效率,从而获得了极佳亮度的图像。尤其是增加了长波长范围内的衍射效率,从而提高了整个可见光范围内光谱数据的亮度和线性。 ۞ 多阳极PMT光谱成像探测器采用最新研发的激光屏蔽机构。不管采用哪种光谱分辨率、哪个激光管,此机构可以有效的阻挡反射后遗漏的激光,这使得C1si几乎适合使用所有类型的激光。 ۞ 高效荧光传输技术(尼康独创)荧光光纤的端部和探测器表面,使用具有专利技术的防反射涂层,可将信号损失降至最低,极大提高了光的传输效率。 ۞ 双积分信号处理技术(尼康独创)最新研发的DISP(双积分信号处理)技术已经在图像处理电路中采用,以便提高电路效率,防止在模数转换时发生信号损耗。信号在整个像素时间内都被采集,从而获得了更完整的数据,增强了信号,提高了信噪比。(4) 易用性――轻松获取光谱图像 ۞ 快速切换探测器模式只需打开扫描头上的开关即可从标准共聚焦成像切换至光谱共聚焦成像;EZ-C1软件的界面能够自动切换。 ۞ 快速设定参数光谱探测器的每个参数都可以使用鼠标操作菜单轻松的进行设定,如激光波 长、波长分辩率或者拍摄的波长范围。设定好参数后,即可使用共用的成 像步骤执行光谱成像。您可以保存参数配置文件以备日后使用。Binning功能可以增加亮度。因此,确定目标区域时,用户可以降低激光的强度以减少对标本的伤害。 ۞ 一次单击即可获取光谱共聚焦图像一旦完成光谱探测器的设定,即可通过单击"Start"(开始)按钮获取光谱共焦图像。 ۞ 一次单击即可拆分荧光即便不指定参考光谱,而只在图像内确定ROI(感兴趣区域)并且单击"Simple Unmixing" (简单分离)按钮也可拆分荧光光谱。当您希望指定拆分""后每个荧光探针将显示的颜色时,请使用"Unmixing"(拆分)按钮。C1si包含一个内置的荧光探针生产商提供的光谱数据库,它可被指定为荧光拆分时的参考光谱。用户也可以将新的荧光探针的光谱信息添加至数据库。
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  • 中图仪器VT6000激光共聚焦三维成像显微镜基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,可以对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能;(2)设备具备自动拼接功能,能够快速实现大区域的拼接缝合测量;(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能;(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能;(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能,可实现批量数据文件的快速分析功能;功能特点1、测量模式多样VT6000激光共聚焦三维成像显微镜单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择,适应多种现场应用环境;2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能,双重保护;3、分析功能丰富3D:表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析;2D:剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000激光共聚焦三维成像显微镜可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所中,对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度:半导体后道制造中,在将晶圆分割成一片片的小芯片前,需要对晶圆进行横纵方向的切割,为确保减少切割引发的崩边损失,会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽,在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中,栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力,直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外,太阳能电池制作过程中,制绒作为关键核心工艺,金字塔结构的质量影像减反射焰光效果,是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力,能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 激光共焦显微镜 400-860-5168转0769
    仪器简介:北京德华上海公司提供相关全能型纳米表面形貌、三维轮廓测量、粗糙度平面度等多款样机演示、客户做样并根据样品效果使具体配置达到最佳性价比,欢迎咨询沟通及技术交流;相关简介:http://oecsh.cn/oecsh/2010-04-11/1270945380d344.html技术参数:德国CFP激光共聚焦显微镜测量行程Z:1000µ m测量距离:4mm可测量抛光镜头测量频率:max.1000Hz敏感及软质材料分辨率Z:20nm适于反光不同的点分辨率XY:1µ m低反射率快速测量测量角度:approx.90° ± 25° *1测量光源:semiconductorlaser,660nm,class2*2主要特点:可测量抛光光学镜头测量敏感及软质材料适于反光率不同的反光点低反射率的材料也可快速测量
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  • XPL-3230透反射偏光显微镜的产品特点:XPL-3230透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜性能特点:▲ 采用无限远光学系统及模块化功能设计。▲ 配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。▲ 广角平场目镜:视场直径Ф22mm。▲ 粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。▲ 偏光观察装置可移入或移出光路,起偏器与检偏器均可360°旋转。▲ 旋转式载物台,360°等分刻度,游标格值6' ,中心可调,带锁紧装置,工作台垂直有效行程可达 30mm。▲ 宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明,亮度可调。▲ 三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可100通光,适合低照度显微图像拍摄。透反射偏光显微镜透反射偏光显微镜透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜标准配置:型号XPL-3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离:26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离:20.2 mmPL L40X/0.60(弹簧) 工作距离:3.98 mmPL L60X/0.70(弹簧) 工作距离:3.18 mm落射照明系统6V30W卤素灯,亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360?旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光阑、上光源带有旋片式滤光镜(蓝、黄、磨砂玻璃)载物台旋转式圆形载物台直径达160mm;可360度等分刻度,游标格值6' ,中心可调,带锁紧装置,垂直行程可达30mm转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30?, 可进行100透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm透射照明起偏器可360°旋转,有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 30W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 N.A. 1.25 可上下升降 插入式滤色片(蓝、黄、磨砂玻璃)
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  • VT6000激光共聚焦成像显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析。VT6000国产共聚焦显微镜微一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能;(2)设备具备自动拼接功能,能够快速实现大区域的拼接缝合测量;(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能;(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能;(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能,可实现批量数据文件的快速分析功能;应用领域VT6000激光共聚焦成像显微镜各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:功能特点1、测量模式多样VT6000激光共聚焦成像显微镜单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择,适应多种现场应用环境;2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能,双重保护;3、分析功能丰富3D:表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析;2D:剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度:半导体后道制造中,在将晶圆分割成一片片的小芯片前,需要对晶圆进行横纵方向的切割,为确保减少切割引发的崩边损失,会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽,在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中,栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力,直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外,太阳能电池制作过程中,制绒作为关键核心工艺,金字塔结构的质量影像减反射焰光效果,是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力,能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 一, GTI 啁啾激光反射镜 1030nmGIRES-TOURNOIS-INTERFEROMETER (GTI)啁啾反射镜用于短脉冲激光器(如Yb:YAG或Yb:KGW激光器)中的脉冲压缩。筱晓还为钛宝石波长范围和其他近红外光谱范围的飞秒激光提供GTI反射镜。与棱镜压缩器相比,GTI反射镜减少了腔内损耗。GTI 啁啾激光反射镜 1030nm,GTI 啁啾激光反射镜 1030nm通用参数特点&bull 非常高的反射率&bull 中心波长、带宽和GDD符合客户规格请注意,带宽和GDD是紧密相连的。&bull 负GDD的高值会导致非常窄的带宽光谱&bull 公差为中心波长的±1%。&bull 内部设计计算和测量能力(GDD 250–1700 nm,CRD 210–1800 nm的反射率测量)产品应用● 脉冲压缩● 超快激光器● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(Ø )12.7,25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 内部测试区Ø e 10清洁度 5/2x0.016//5minS1: commercial polish | chamfer 0.3 uncoatedS2(^): Ø e10 | 3/0.2(0.2) [L/10] | 5/2x0.025 L1x0.004 | chamfer 0.3 HRu(10°,1030nm)99.9% GDD-Rp(10°,1030nm)= -2500(±500)fs² 有关操作功率【1】 [1]. ≈ 0.1 J/cm² , 800 nm, 150 fs,Measurements were performed at Laser Zentrum Hannover相关测试GTI&thinsp -&thinsp MIRRORS 应用在Yb:YAG&hairsp - AND Yb:KGW-&hairsp LASERS图4:GDD(0°-10°,1030 nm)~-700 fs2的后侧GTI后视镜的GDD光谱。反射镜通过正面有AR涂层的基板进行照射。背面GTI反射镜对表面污染不敏感,表面污染有时会扭曲正面GTI反射镜的GDD光谱二, 光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm损耗急低的激光光学器件,对于要求急低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时,我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度,此类机器会存放在专用的超清洁室内,并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外,超清洁室内还配置有多种测量设备,如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量(精度可达小数点后四位)以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质,还会使用白光表面光度仪进行质量检测光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm,光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm技术参数产品特点:低损耗可定制不同尺寸入射角:0deg/45deg可选 应用领域:TDLAS光腔衰荡 产品名称140977 标准版激光反射镜类别低色散激光镜片激光器类别Yb:YAG-激光器激光器类型Nd:YAG-激光器涂覆层材料(下面)137683涂覆层材料(背面)140851光学参数材质红外硅302形状圆形直径(Ø )25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004内部测试区Ø e 10清洁度 5/2x0.016涂覆层规格 正面(S2) (137683)涂覆层规格 背面(S1) (140851)1st 工作范围 高反射(0°,1550nm)99.99%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别 高反射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nm高反射 99.99 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别 透射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmHT ~ 0.005 %三, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm损耗急低的激光光学器件,对于要求急低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时,我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度,此类机器会存放在专用的超清洁室内,并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外,超清洁室内还配置有多种测量设备,如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量(精度可达小数点后四位)以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质,还会使用白光表面光度仪进行质量检测LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm通用参数产品特点:低损耗可定制不同尺寸入射角:0deg 应用领域:TDLAS光腔衰荡 产品名称149595标准版激光平面反射镜类别低损耗光学器件涂覆层材料(下面)137683涂覆层材料(背面)140851光学通用参数材质Infrasil 302形状圆形直径(Ø )25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状平面形状平面倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区(Test area) Ø e21测试区(Test area) Ø e21表面形状公差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]表面形状公差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]清洁度5/1x0.04 L1x0.004清洁度5/1x0.04 L1x0.004涂层规格正面(S2)(137683)涂层规格后侧(S1)(140851)1st 工作范围HR(0°,1550nm)99.99%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别 高反射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmHR 99.99 %类别 减反射(Anti-Reflectance)偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别 透射率(Transmittance)偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmT ~ 0.005 %涂层137683 低损耗反射镜für腔衰荡测量PR(0°,1550nm)99.99%温度(0°,1550nm)~50 ppm带宽(PR99,99%)~130nm精度CWL(产品误差)+/-20 nm图1计算的反射(具有典型吸收损耗,无散射光)_____理论----/……生产误差四,超光滑超高反射率(>99.99%) 反射镜 1572nm环形激光陀螺仪组件或某些科学应用中的所谓超级镜需要具有急低损耗(即吸收和散射)的镀膜光学元件。这些反射镜还具有 R 99.998% 和总损耗 10 ppm 的最大反射率。筱晓使用德国改进的 IBS 机器,能够在超抛光基材上生产涂层。机器和环境的清洁度在专用的超净室中保持,并在此进行广泛的基材预处理和后处理。用于检查程序的测量设备,例如白光轮廓仪和高分辨率显微镜(高达 x 1000)已经到位。定制的腔衰荡设置允许以最多四位小数的精度确定反射并参考损耗。超光滑超高反射率(>99.99%) 反射镜 1572nm,超光滑超高反射率(>99.99%) 反射镜 1572nm通用参数 型号列表 波长基片材料数量直径(英寸)曲率反射率入射角光楔PN #2327Infrasil 30270.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-23272004Infrasil 30231.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-20042050Infrasil 30210.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-20501742Infrasil 30250.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-17421650Corning 798050.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-16501600Corning 798090.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-16001550Corning 7980100.5"1m ROC99.99%0NoneCRD-126-49-15501550Corning 798021.0"1m ROC99.99%0NoneCRD-246-49-15501512Corning 798020.5"1m ROC99.99%0NoneCRD-126-49-15121434Infrasil 30211.0"1m ROC99.99%0NoneCRD-246-49-14340760Corning 798010.5"1m ROC  99.995  %0NoneCRD-126-49-07600760Corning 798041.0"1m ROC  99.995  %0NoneCRD-126-49-07601392Corning 798010.5"1m ROC  99.99  %030ʹ CRD-126-49-13920633Corning 798011.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-06331064Corning 798011.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-1064 技术参数位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所测量了我们当前生产的 633 nm 超级镜的总背散射(TSB,如 ISO 13696 中所述),并达到了 TSB = 1.1 ppm 的值。 15 ppm 的典型吸收和剩余透射率合计相当于至少 99.998% 的反射率。对于更长的波长,甚至可以达到 99.999%,这非常接近 R = 100% 的完quan激光镜。 结果已通过我们的内部腔衰荡设置和散射测量得到证实。对于上述值,使用表面粗糙度 1 &angst rms 的超抛光基板是必要的。用白光轮廓仪检查它们的质量。下面是一些测量值:Scatter TSBAbsorptionReflection CRDHR 532 nm&thinsp /&thinsp 0°4.9 ppm1) (int. ARS)10.2 ppm 2) 99.997% 2) (T~5 ppm)HR 633 nm&thinsp /&thinsp 0°1.1 ppm 1) 99.998% (T~5 ppm)HR 1064 nm&thinsp /&thinsp 0°( 1 ppm) 3) 2 ppm 4) 99.999% (T~5 ppm)HR 2940 nm&thinsp /&thinsp 0°24 ±12 ppm6)99.994% 5) (T=36 ppm)1) Measured at IOF Jena 2) Measured at LZH 3) Calculated from surface roughness 4) Measured at ILT Aachen 5) measured by customer 6) 1-R-T 特点&bull 非常高的反射率(在可见光和近红外光谱范围内R 99.99%&bull R 99.999% 在1000 – 1600 nm 之间的几个波长处得到证实)&bull 中心波长可以定制(起订量:6片)&bull 所有用于 CRD 实验的反射镜都带有背面增透膜&bull 平面和球形弯曲熔融石英基材&bull 优质抛光,RMS 粗糙度:≤ 1.5 &angst 产品应用● 激光陀螺●CRD 腔衰荡系统设计● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(Ø )12.7,25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ Guaranteed RoughnessFlatnessAvailabilityPremiumRMS0.2 nm*(2&angst )入/20Ø 12.7-25 mmalways 2,000 pcs.on stock(various radii and plane)superpolishedRMS0.1 nm*(1&angst )入/10on request* Tested with Zygo NewView 9000 within sample length 3- 1000 um 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 我们的测试方案:相关测试图1测量波长范围 1250 – 1450 nm 的低损耗反射镜的反射率和透射率光谱 a) 反射率与波长的关系b) 透射率与波长的关系 表 1:低损耗反射镜的反射率和透射率值;通过腔衰荡光谱测量的反射率,AOI=0°直接测量光学损失图 2:1550 nm 的低损耗反射镜的反射率、透射率和损耗光谱 a) 针对最高反射率进行了优化(透射率 ~ 0)b) 设计用于 T ≈ S + A 内部测试设备:五, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99%损耗极低的激光光学器件,对于要求极低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时,我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度,此类机器会存放在专用的超清洁室内,并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外,超清洁室内还配置有多种测量设备,如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量(精度可达小数点后四位)以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质,还会使用白光表面光度仪进行质量检测LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99% ,LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99%型号参数激光反射镜Laser Mirror:Fused silica | plane Ø =25.0mm | te=6.35mm | //5minS1: AR(0°,1600-1700nm)0.25%S2(^): HR(0°,1600-1700nm)99.99% (low loss)T(0°,1650nm)~0.002%曲线图产品特点低损耗可定制不同尺寸入射角:0deg产品应用TDLAS光腔衰荡通用参数
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  • MP41透反射偏光显微镜(亦称矿相显微镜或矿石显微镜)是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观 察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合 物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。MP41透反射偏光显微镜性能特点:采用无限远光学系统及模块化功能设计。配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。广角平场目镜:视场直径Ф22mm。粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。偏光观察装置可移入或移出光路,起偏器与检偏器均可360°旋转。旋转式载物台,360°等分刻度,游标格值6',中心可调,带锁紧装置,工作台垂直有效行程可达 30mm。宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明,亮度可调。三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可通光,适合低照度显微图像拍摄。什么是矿相显微镜?矿相显微镜亦称反射偏光显微镜或矿石显微镜,它是矿相学研究工作的基本工具。矿相显微镜实际上是由一台偏光显微镜加一套“垂直照明系统”组成。矿相显微镜的镜体与一般偏光显微镜(岩石显微镜)基本相同。它是地质、矿产、冶金等部门和高等院校相关学科的专业实验仪器之一。适合电子、地质、矿产、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资,如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非鑫属材料,也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。透反射式矿相显微镜不仅能实时观察动态图像,还能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。透反射式矿相显微镜广泛应用于生物学、细胞学、组织学、药物化学等研究工作。优势:可为广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察,放大倍数50X-1000X,可满足不同需求。实拍图片纤维观察岩石偏光观察岩石偏光观察产品参数项目 规格 目镜WF10X/22分划目镜 10X/22,格值0.1mm/格目镜筒30°倾斜,三目镜,两档分光物镜长工作距离平场消色差物镜 PL L5X/0.12 工作距离:26.1mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 10X/0.25工作距离:20.2mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 40X/0.60(弹簧)工作距离:3.98mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 60X/0.70(弹簧)工作距离:3.18mm物镜转换器四孔内向式滚珠内定位转换器载物台旋转式载物台 ,直径Ф150mm,360°等分刻度,游标格值6’,中心可调,带锁紧装置落射照明系统5W LED光源,色温6000K,亮度可调(6V30W卤素灯可选)内置视场光阑、孔径光阑(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置检偏器,可360°旋转,带刻度和微动游标起偏器,可360°旋转中间接筒推入式勃氏镜,中心可调石膏λ补偿器;云母λ/4补偿器;石英楔补偿器调焦机构粗微调同轴,配有限位装置和锁紧装置,微调手轮格值2μm透射照明系统5W LED光源,色温6000K,亮度可调(6V30W卤素灯可选)阿贝聚光镜,可上下升降,NA1.25蓝滤色片磨砂玻璃起偏器,可360°旋转,有0、90、180、270四个读数相机接口1XC
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  • XPL-3230透反射偏光显微镜的产品特点:XPL-3230透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜性能特点:▲ 采用无限远光学系统及模块化功能设计。▲ 配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。▲ 广角平场目镜:视场直径Ф22mm。▲ 粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。▲ 偏光观察装置可移入或移出光路,起偏器与检偏器均可360°旋转。▲ 旋转式载物台,360°等分刻度,游标格值6' ,中心可调,带锁紧装置,工作台垂直有效行程可达 30mm。▲ 宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明,亮度可调。▲ 三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可完全通光,适合低照度显微图像拍摄。透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜标准配置:型号XPL-3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离:26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离:20.2 mmPL L40X/0.60(弹簧) 工作距离:3.98 mmPL L60X/0.70(弹簧) 工作距离:3.18 mm落射照明系统6V30W卤素灯,亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360?旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光阑、上光源带有旋片式滤光镜(蓝、黄、磨砂玻璃)载物台旋转式圆形载物台直径达160mm;可360度等分刻度,游标格值6' ,中心可调,带锁紧装置,垂直行程可达30mm转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30?, 可进行完全透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm透射照明起偏器可360°旋转,有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 30W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 N.A. 1.25 可上下升降 插入式滤色片(蓝、黄、磨砂玻璃)
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  • 激光共聚焦显微镜 400-860-5168转1679
    仪器简介:来自奥林巴斯的3D测量激光显微镜OLS4100广泛应用于不同行业的质量控制,研究和开发过程,它在激光显微领域树立了全新的标准。该产品不但可以让测量更加快速、简单,而且可以拍摄到画质更高的影像,大大突破了激光显微镜的界限。 特征及优势:· 非接触式、无损、快速成像和测量· 405nm短波长激光和更高数值孔径的物镜,其平面(XY方向)分辨达0.12&mu m,高度(Z方向)分辨率达10nm· 采用双共焦系统,结合高灵敏度的探测器,具有不同反射率材料的样品也可以获得鲜明的影像· 全新的多层模式可实现透明样品表面的观测和测量,而且可以对多层透明样品的各层进行分析和厚度测量。· 更多的测量类型,7种测量模式提供更多的选择· 拥有DIC激光模式(激光微分干涉),能够得到接近电子显微镜分辨率的影像,实现对微小凹凸的立体观察· 具有宏观图功能,让你明白&ldquo 始终身在何处&rdquo · 图像拼接功能,不但可以形成更大范围的宏观图,还可以通过此功能手动指定所需的影像区域· 操作更加简单,可一键操作创建报表· 内置由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的&ldquo 复合减震机构&rdquo 一稳定操作环境,可在普通的桌子上进行测量作业,无需专用的防震平台· 是业界首次保证&ldquo 正确性&rdquo 和&ldquo 重复性&rdquo 的激光扫描显微镜应用实例半导体1、晶圆突起 2、导光板 3、芯片焊点 4、导光板激光点电子元件/MEMS1、光掩版 2、微透镜 3、柔性电路板接触点 4、MEMS原材料/金属加工1、电镀金刚石工具 2、碳精棒 3、极细管 4、胶带5、砂纸#400(3D) 6、砂纸#400(2D) 7、致密织物(3D)
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  • 研究级透反射偏光显微镜 NP910提供多种类型的补偿器NP900可使用多种光补偿器,它可以强化微弱双折射物质的讯号,使他们更容易被看见。同时,补偿器也可用于定性测量,能够确定多种水平延迟。无应力光学部件使成像更准确随着偏正光研究的不断加深,对数据的准确性和可重复性的要求越来越高,物镜及聚光镜作为显微镜中的重要部件对成像的效果起到至关重要的作用。而作为偏光显微镜,不仅需要成像清晰度高,无应力光学部件也是必不可少的一项,这确保了观察到的双折射现象是来自样品而不是光学元件。中心可调6孔物镜转换器中心可定位转盘,让每个物镜都可以方便快捷地调整到光路的中心。物镜转盘可配备6个物镜并具有不同放大倍率,获取丰富样品信息。高精度圆形旋转载物台台面大、旋转方便,可45°定位旋转中心可调。双层机械移动尺可以轻松安装在旋转载物台上,样品移动更容易,显微操作更高效。中间镜筒内置勃氏镜,可在正像镜检与锥光镜检之间快速切换,干涉图像调节精确、快速。0—360o转动式检偏装置,提供了无与伦比的图像对比度。可变倾角三目观察头可调节倾斜角度的观察头,可以在更舒适的姿势下进行操作。减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。转盘式观察模块变换装置最多可放置6个观察模块的转盘式结构,在提供充分扩展能力的同时又可以快速的进行切换。只需轻轻一拨,方便快捷,提高工作效率。图像分析系统今日,研究工作环境要求工具可以适应每个人不同的工作流程。NOVA Basic显微图像分析软件可以让采集、处理、测量和显微镜之间无缝衔接。NOVA Basic可以同时为当今流行的操作系统提供观测工具。可实现多种观察方式透射光观察明视场暗视场相衬反射光观察明视场暗视场偏光荧光微分干涉(DIC)NEXCOPE NP900系列科研级偏光显微镜,专为实验室和教育领域的科研工作而设计,无可争议地将实用性、舒适的操作和出众的NIS光学系统进行了完美的结合,可以进行单偏光、正交偏光、锥光观察,为您提供可信赖的、清晰的、高反差的图像。1、光学系统:NIS45无限远光学系统2、放大倍数:50X—1000X3、目镜:超大视野目镜SW10X/25,高眼点,-5~+5视度可调,带定位销,其中一只带十字分划,其中一只带分划4、镜筒:人机学可变角度铰链式三目观察头,固定视度,瞳距47-78mm,目视/数码三档分光比:100/0、20/80、0/100,能够满足不同的使用需求5、转换器:带分析槽的内倾式内定位五孔转换器,转动舒适,定位准确可靠,中心可调;6、无应力平场半复消色差物镜:5X/0.15/∞/- WD20mm10X/0.3∞/- WD 11mm20X/0.45/∞/0 WD 3.1mm无应力平场复消色差物镜: 50X/0.8/∞/0 WD 1mm100X/0.9/∞/0 WD 1mm7、检偏装置:0—360º 转动式检偏装置,最小刻度0.1º ;8、锥光观察装置:正像镜检与锥光镜检可切换,可调焦9、光程补偿器:λ试板(一级红),1/4λ试板,石英楔子试板;10、圆型旋转载物台:偏光显微镜专用高精度旋转载物台,直径φ190mm,中心可调,360°刻度,刻度格值1°,游标格值6´ ,可45°定位旋转。11、移动尺:移动范围30mmX30mm12、聚光镜:N.A0.9/0.25无应力摆出聚光镜13、调焦系统:同轴粗微调调焦机构,调焦范围32mm,微调格值0.001mm,粗动行程每圈37.7mm,微动行程每圈0.1mm;14、起偏装置:透射:360°旋转,0°位置可调整 反射:固定式15、透射照明(用于NP900-TR机型):1)聚光镜:偏光聚光镜,N.A 0.65,齿轮齿条调节,可升降2)220V 12V100W卤素灯、光源中心可调,亮度可调3)内置ND6、ND25、色温片16、反射照明:220V 24V100W卤素灯、光源中心可调,亮度可调17、透反射光源一键切换。18、ECO照明系统:人走灯灭功能:操作者离开超过30分钟后,显微镜主机会自动关闭透射光源,节能开关既节约了能源,又保护了光源的使用寿命。
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  • 高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧,组件灵活,可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器,实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广,快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移,使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成,实现强大的材料表征功能,不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图,还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计,适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束,输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束,这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移,因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。(a)白光成像;(b)激光扫描线性反射率测量,80 MHz激光(5 mW激光输出)调谐到GaAs带隙;(c)四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高,以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″,可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板,往往会带来样品台的不稳定性,影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元,保证了高度灵活可调的同时,也保持了严格对齐和高稳定性,可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰,对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上,光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面,使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统,可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应,在显微镜中,渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装,是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。(a)渐晕效应;(b)无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计,标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围,其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用,可拓展性强。基于LabVIEW的软件包,可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起,实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包,实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成,形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器,实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画,帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点,利用全共线多功能超快光谱仪,可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势,通过弛豫时间成像和多功能光谱成像,允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温(6K)FWM积分成像光谱(a,b)和弛豫时间成像(c) 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力,也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测,帮助制造商识别原材料品质,避免缺陷材料应用于设备。常温下,CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域(全共线多功能超快光谱显微成像系统)高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制,包括:像素分辨率,扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测,并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力,可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像,基于非线性四波混频FWM技术,可实现超高分辨的5维数据采集,其成像系统具有以下优势:1. FWM显微成像超高空间分辨本领,可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制,激光扫描成像空间分辨率在940 nm,但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱,可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像,明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态,而暗激子,是电子与空穴的动量不同,从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感,非线性四波混频,可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像,揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化,可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T,对于T>50ps的情况,可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中,PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中,不同延时FWM显微成像谱图,揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片,不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理(Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan)发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪
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  • 产品简介VT6000系列国产激光共聚焦显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它是以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。在相同物镜放大的条件下,VT6000系列国产激光共聚焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细,横向分辨率更高。能测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数,对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能;(2)设备具备自动拼接功能,能够快速实现大区域的拼接缝合测量;(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件,预先设置好配置参数再进行测量,软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能,即可快速实现批量测量功能;(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能;(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能,可实现批量数据文件的快速分析功能;应用领域VT6000系列国产激光共聚焦显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:性能特色1、高精度、高重复性1)以转盘共聚焦光学系统为基础,结合高稳定性结构设计和3D重建算法,共同组成测量系统,保证仪器的高测量精度;2)隔震设计能够消减底面振动噪声,仪器在嘈杂的环境中稳定可靠,具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1)测量与分析同界面操作,无须切换,测量数据自动统计,实现了快速批量测量的功能;2)可视化窗口,便于用户实时观察扫描过程;3)结合自定义分析模板的自动化测量功能,可自动完成多区域的测量与分析过程;4)几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全;5)一键分析、多文件分析,自由组合分析项保存为分析模板,批量样品一键分析,并提供数据分析与统计图表功能;6)可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,保护仪器,降低人为操作风险。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 仪器简介:功能特点测量精度高;方便快捷地分析样品的表面形貌和粗造度;分辨率高,景深大,清晰观察不同焦平面上的图像信息;共焦切层,三维重组,多角度观察;对不同时间,不同位置的图像进行无缝拼接,再现性强;可获得亚微米级的线宽、面积、体积、台阶、线与面粗造度,透明膜厚等几何参数测量数据。技术参数:原理用激光作光源,在试样表面反射进入显微镜的光线经微小的针孔(试样上点与针孔对应形成共聚焦),才能成像的光学系统,阻断干扰和杂散光来提高图像清晰度,获得大景深的显微观察方式。主要特点:应用领域微米和亚微米级部件的尺寸测量,表面形貌观察 半导体芯片表面形貌观察,非接触型的线宽,台阶深度等测量 摩擦学磨痕的体积测量,粗造度测量,表面形貌分析。
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  • 双光共聚焦显微镜多功能高性能 OPTELICS HYBRID+白光共聚焦+激光共聚焦,双光学系搭载,兼具两者优势 集6项功能于一体日本Lasertec以双共聚焦光学系为基础,搭载微分干涉观察,垂直白光干涉测定,相差干涉测定,反射分光膜厚测定等功能,通常多台设备才能完成的测试,仅需一台设备即可实现。共聚焦光学系统样品表面的反射光通过遮光板上的细孔到达检出器的光学系。点光源的照射光到达样品并聚焦时,其反射光也正好在细孔位置聚焦,这种设计因此称为“共聚焦光学系统“。样品表面的聚焦处,其反射光经细孔到达检出器;未聚焦处的反射光绝大部分被遮光板挡住,无法被检出。这种仅聚焦处的反射光被检出的共聚焦光学系,被HYBRID+以及通常的激光显微镜所采用。规格参数:
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  • 偏光显微镜可以观察岩石中不同矿物的晶体形态、解理、裂隙和包裹体等特征,以及岩石的显微构造和组分分布等。在地质学研究中,偏光显微镜是研究岩石微观结构和成分的重要工具之一。透反射偏光显微镜MHPL3230是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。透反射偏光物镜,无限远光学系统,透射光6V30W卤素灯、落射光6V30W卤素灯,配备5X,10X,40X,60X无应力偏光物镜。数码型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。反射偏光显微镜主要用于研究矿物的反射率、反射色、光泽等特性,常用于金属矿物和宝石学的观察和研究。观察和研究矿物的晶体形态、生长习性、内部结构和光学性质等,有助于矿物的分类和鉴别。偏光显微镜MHPL3230技术参数:1.标准配置型号MHPL3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离:26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离:20.2 mmPL L40X/0.60(弹簧) 工作距离:3.98 mmPL L60X/0.75(弹簧) 工作距离:2.03 mm落射照明系统6V30W卤素灯,亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360&ring 旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光栏转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30&ring , 可进行100%透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm2.可选配件:名称类别/技术参数物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L 20X/0.40工作距离:8.80mmPL L50X/0.70(弹簧) 工作距离:3.68 mmPL L80X/0.80(弹簧) 工作距离:1.25 mmPL L100X//0.85(弹簧) 工作距离:0.4 mm转换器五孔 (内向式滚珠内定位)移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X0.5X1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900数码相机接头CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF) NIKON( F)
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  • 应用范围广,可靠性高的科研级偏光显微镜 传统的偏光显微镜应用于地质学、矿物学、金相学和地质勘探中,但是随着各个学科研究的不断深入,越来越多的领域都对偏光显微镜提出需求,不仅包括建筑、材料分析、半导体生产和检测等工业领域,也包括法医学、医学检验、生物研究等自然科学领域。这些新领域对偏光显微镜提出新需求,需要成像清晰度更高、对比度更强、使用效率高的可定制型显微镜。而Nexcope的NP900科研级偏光显微镜作为一款功能强大,使用舒适的偏光显微镜,是您科学研究及日常检验的可靠伙伴。提供多种类型的补偿器 NP900可使用多种光补偿器,它可以强化微弱双折射物质的讯号,使他们更容易被看见。同时,补偿器也可用于定性测量,能够确定多种水平延迟。无应力光学部件使成像更准确 随着偏正光研究的不断加深,对数据的准确性和可重复性的要求越来越高,物镜及聚光镜作为显微镜中的重要部件对成像的效果起到至关重要的作用。而作为偏光显微镜,不仅需要成像清晰度高,无应力光学部件也是必不可少的一项,这确保了观察到的双折射现象是来自样品而不是光学元件。 中心可调6孔物镜转换器 中心可定位转盘,让每个物镜都可以方便快捷地调整到光路的中心。物镜转盘可配备6个物镜并具有不同放大倍率,获取丰富样品信息。 高精度圆形旋转载物台 台面大、旋转方便,可45°定位旋转中心可调。双层机械移动尺可以轻松安装在旋转载物台上,样品移动更容易,显微操作更高效。中间镜筒 内置勃氏镜,可在正像镜检与锥光镜检之间快速切换,干涉图像调节精确、快速。0—360o转动式检偏装置,提供了无与伦比的图像对比度。可变倾角三目观察头 可调节倾斜角度的观察头,可以在更舒适的姿势下进行操作。减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。 转盘式观察模块变换装置 最多可放置6个观察模块的转盘式结构,在提供充分扩展能力的同时又可以快速的进行切换。只需轻轻一拨,方便快捷,提高工作效率。图像分析系统 今日,研究工作环境要求工具可以适应每个人不同的工作流程。NOVA Basic显微图像分析软件可以让采集、处理、测量和显微镜之间无缝衔接。NOVA Basic可以同时为当今流行的操作系统提供观测工具。 可实现多种观察方式 透射光观察明视场暗视场相衬 反射光观察明视场暗视场偏光荧光微分干涉(DIC)NP900系列偏光显微镜技术参数:NP900系列偏光显微镜应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。
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  • 成贯仪器提供奥林巴斯OLS4500显微镜报价,同时包括奥林巴斯探针扫描显微镜OLS4500图片、奥林巴斯显微镜OLS4500参数、奥林巴斯纳米检测显微镜OLS4500使用说明书、奥林巴斯显微镜OLS4500价格、奥林巴斯显微镜OLS4500维修、奥林巴斯激光共聚焦显微镜OLS4500经销商价格等信息,为您购买奥林巴斯OLS4500显微镜提供有价值的产品因为有我,所以会更好,成贯专业、诚信、值得信赖成贯仪器——显微系统、光学仪器、外科手术设备、实验室耗材等供应商LEXT OLS4500是一款集成了激光显微镜和探针扫描显微镜功能于一体的新型纳米检测显微镜,可以实现从50倍到最高100万倍的超大范围的观察和测量。OLS4500为您带来最新的解决方案实现纳米级观测的新型显微镜。不会丢失锁定的目标。配有涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜,并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。可以无缝切换倍率和观察方法,不会丢失观察对象。此外,该款显微镜可以进行纳米级观测。电动物镜转换器切换倍率和观察方法涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难以找到的观察对象,还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉(DIC)观察中,可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。缩短从放置样品到获取影像的工作时间。放置好样品后,所有的操作都在1台装置上完成。可以迅速,正确的把观察对象移到SPM显微镜下面,所以只要扫描1次就能获取所需的SPM影像。 一体机的机型,所以无需重新放置样品只要在1台装置上切换倍率、观察方法就能够灵活应对新样品。 OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机,所以无需重新放置样品,即可自由切换3种显微镜进行观察和评价。这3种显微镜各自持有优异的性能,所以能够高效输出最佳结果。 OLS4500实现了无缝观察和测量【发现】可以迅速发现观察对象使用光学显微镜的多种观察方法,迅速找到观察对象OLS4500采用了白色LED光源,可以观察到颜色逼真的高分辨率彩色影像。它装有4种物镜,涵盖了低倍到高倍的大范围观察。OLS4500充分发挥了光学观察的特长,除了最常使用的明视场观察(BF)以外,还可以使用对微小的凹凸添加明暗对比,达到视觉立体效果的微分干涉观察(DIC),以及用颜色表现样品偏光性的简易偏振光观察。此外,OLS4500上还配有HDR功能(高动态范围功能),该功能使用不同的曝光时间拍摄多张影像后进行合成,来显示亮度平衡更好、强调了纹理的影像。在OLS4500上您可以使用多种观察方法迅速找到观察对象。 BF明视场最常使用的观察方法。在观察中真实再现样品的颜色。适用于观察有明暗对比的样品。DIC微分干涉对于在明视场观察中看不到的样品的微小高低差,添加明暗对比使之变为立体可视。适用于观察金 相组织、硬盘和晶圆抛光表面之类镜面上的伤痕或异物等。 简易偏振光照射偏振光(有着特定振动方向的光线), 使样品的偏光性变为肉眼可视。适用于观察金相组织、矿物、半导体材料等。HDR高动态范围使用不同曝光时间拍摄多张影像并进行影像合成,可以观察平衡度较好的明亮部分和阴暗部分。此外,还可以强调纹理(表面状态),进行更精细的观察。 使用激光显微镜,可以观察到光学显微镜中难以观察到的样品影像OLS4500采用了短波长405 nm的激光光源和高N.A.的专用物镜, 实现了优异的平面分辨率。能以鲜明的影像呈现出光学显微镜中无法看到的观察对象。在激光微分干涉(DIC)模式中还可以实时观察纳米级的微小凹凸。【接近】迅速发现观察对象,在SPM上正确完成观察实现了无缝观察,不会丢失观察对象OLS4500在电动物镜转换器上装配了涵盖低倍到高倍观察的4种物镜, 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时观察中, 由于SPM扫描范围一直显示于视场中心, 所以把观察目标点对准该位置后, 只要切换到探针显微镜, 就能够正确接近观察对象。因此, 只需1次SPM扫描就能获取目标影像, 从而能够提高工作效率并降低微悬臂的损耗。 不会在SPM观察中迷失的、可切换式向导功能使用探针显微镜开始观察之前, 可以在向导画面上设置所需的条件, 如安装微悬臂、扫描范围等。所以经验较少的操作者也能安心完成操作。 【纳米级测量】简单操作,可以迅速获得测量结果新开发的小型SPM测头,减少了影像瑕疵OLS4500采用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端,所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。不仅如此,新开发的小型SPM测头提高了刚性,所以与传统产品相比,减少了影像瑕疵并提高了可追踪性。新开发的小型SPM测头使用向导功能,自由放大SPM影像使用向导功能,可以观察时进一步放大探针显微镜拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠标指针设置放大范围并扫描, 就可以获取所需的SPM影像。可以自由设置扫描范围, 所以大幅度提高了观察和测量的效率。向导功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范围 优异的分析功能,应对各种测量目的OLS4500能够根据您的测量目的分析在各种测量模式中获取的影像,并以CSV格式输出测量结果。OLS4500有以下分析功能。截面形状分析(曲率测量、夹角测量)粗糙度分析形态分析(面积、表面积、体积、高度、柱状值、承载比)评价高度测量(指定线、指定面积)粒子分析(选项功能) 曲率测量(硬盘的伤痕)跟从向导画面的指示,可轻松操作的6种SPM测量模式接触模式控制微悬臂与样品之间作用的排斥力为恒定的同时, 使微悬臂进行静态扫描, 在影像中呈现样品的高度。还可以进行弯曲测量。 金属薄膜 动态模式使微悬臂在共振频率附近振动, 并控制Z方向的距离使振幅恒定, 从而在影像中呈现样品高度。特别适用于高分子化合物之类表面柔软的样品及有粘性的样品。 铝合金表面 相位模式在动态模式的扫描中, 检测出微悬臂振动的相位延迟。可以在影像中呈现样品表面的物性差。 高分子薄膜 电流模式对样品施加偏置电压,检测出微悬臂与样品之间的电流并输出影像。此外,还可以进行I/V测量。 Si电路板上的SiO2图案样品。高度影像(左)中显示为黄色的部分是SiO2。在电流影像(右)中显示 为蓝色(电流不经过的部分)。通过上图,可以明确电路板中也存在电流不经过的部分。 表面电位模式(KFM)使用导电性微悬臂并施加交流电压, 检测出微悬臂与样品表面之间作用的静电, 从而在影像中呈现样品表面的电位。也称作KFM(Kelvin Force Microscope)。 磁带样品。在电位影像中可以看出数百mV的电位差分布于磁带表面。这些电位差的分布,可以认为是磁带表面的润滑膜分布不均匀。 磁力模式(MFM)在相位模式中使用磁化后的微悬臂进行扫描,检测出振动的微悬臂的相位延迟, 从而在影像中呈现样品表面的磁力信息。也称作MFM(Magnetic Force Microscope)。 硬盘表面样品。可以观察到磁力信息。 装配了激光扫描显微镜,灵活应对多种样品 轻松检测85°尖锐角采用了有着高N.A.的专用物镜和专用光学系统(能最大限度发挥405nm激光性能),LEXT OLS4500 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。 LEXT 专用物镜 有尖锐角的样品(剃刀) 高度分辨率10nm,轻松测量微小轮廓由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜,OLS4500达到了0.12μm的平面分辨率。因此,可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术,OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外, 激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”(测量值与真正值的接近程度)和“重复性”(多次测量值的偏差程度)的性能。0.12μm行间距高度差标准类型B,PTB-5, Institut für Mikroelektronik,Germany,6 nm高度测量中的检测从大范围拼接影像中指定目标区域高倍率影像容易使视场范围变小,而通过设置,OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像,从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此,还可以在该大范围视图上进行3D显示或3D测量。可用于传统的线粗糙度测量,也可用于信息量较多的面粗糙度测量 越来越重要的表面粗糙度测量近年来,工业产品越来越趋于小型化和轻量化,所以构成产品的各种部件也越来越精细化。随着这些部件的精细化,除了形状测量以外,表面粗糙度测量的重要性也日益提高。为了应对这些市场需求,ISO规定的立体表面结构测量仪器中,添加了激光显微镜和AFM(ISO 25178-6)。因此,与传统的接触式表面粗糙度测量相同,非接触式表面粗糙度测量也被认定为公认评价标准。OLS4500中配置了符合ISO规定的粗糙度参数。在面粗糙度测量中详细掌握粗糙度的分布和特点在非接触式表面粗糙度测量中,除了线粗糙度还可以测量面粗糙度。在面粗糙度测量中可以掌握样品表面上指定区域内粗糙度分布和特点,并能够与3D影像对照评价。OLS4500可以根据不同样品和使用目的,分别使用激光显微镜功能或探针显微镜功能测量表面粗糙度。焊盘,激光显微镜的面粗糙度测量(105μm×105μm) 探针显微镜的面粗糙度测量(10μm×10μm) OLS4500的粗糙度参数参数兼容性OLS4500具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数,因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount 适应下一代参数OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度(3D)参数。通过评估平面区域,可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str OLS4500的显微镜技术光学显微镜的原理和特长光学显微镜是从样品上方照射可见光(波长约400 nm到800 nm), 利用其反射光成像, 能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品, 还可以切换观察方法, 强调样品表面的凹凸, 利用物质的特性(偏光性)进行观察。OLS4500上可以使用下述观察方法。&bull 明视场观察 最基本的观察方法,通过样品的反射光成像进行观察&bull 微分干涉观察 给样品表面的微小凹凸添加明暗对比,使之变为可视的立体影像&bull 简易偏振光观察 照射偏振光(有着特定振动方向的光线),把样品的偏光性变为可视影像明视场观察可以获取颜色信息。纸张上的墨点 激光显微镜的原理和特长可进行亚微米级观察和测量的激光显微镜(LSM:Laser Scanning Microscope)光学显微镜的平面分辨率很大程度上取决于所用光的光子和波长,采用短波长的激光扫描显微镜(LSM)比采用可见光的传统显微镜,拥有更高的平面分辨率。 LEXT OLS4500采用405nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统,可以达到0.12μm的平面分辨率。此外,OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪,可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。激光显微镜的高精度XY扫描(示例) 卓越的Z轴测量激光显微镜采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统,会删除未聚焦区域的信号,只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力,可以生成高画质的影像,实现精确的3D测量。高度测量(微透镜) 探针显微镜的原理和特长可以观察纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope)探针显微镜(SPM)是通过机械式地用探针在样品表面移动,检测出探针与样品之间产生的力、电的相互作用,同时进行扫描,从而得到样品影像。探针尖端曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜(AFM),它通过检测探针和样品表面之间作用的引力和张力进行扫描并获得影像。探针显微镜能够观察纳米级微观形貌,可以捕捉到样品最精细的一面。探针显微镜的原理 通过微悬臂扫描进行纳米观察OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量(位移)来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光,并用压电元件驱动Z轴,使激光照射到光电检测器的指定位置,从而正确读取Z方向的微小位移。SPM传感器光路图 多种观察模式在影像中呈现表面形状和物性探针显微镜拥有多种观察模式,可以观察、测量样品表面的形状,还可以进行物性分析。OLS4500配有以下模式。&bull 接触模式:在影像中呈现表面形状(较硬的表面)&bull 动态模式:在影像中呈现表面形状(较软的表面、有粘性的表面)&bull 相位模式:在影像中呈现样品表面的物性差&bull 电流模式*:检测出探针和样品之间的电流并输出影像&bull 表面电位模式(KFM)*:在影像中呈现样品表面的电位&bull 磁力模式(MFM)*:在影像中呈现样品表面的磁性信息 * 该模式为选项功能。高分子薄膜 决定高精细度、高质量影像的微悬臂探针位于长度约100μm~200μm的薄片状微悬臂的前端。您可以根据样品选择不同的弹簧常数、共振频率。反复扫描会磨损探针, 所以请根据需要定期更换微悬臂探针。 高精度微悬臂实现了高可靠性探针显微镜的平面分辨率由探针前端的直径决定。奥林巴斯独自开发、生产微悬臂,其探针前端的尖锐直径质量稳定,可靠性很高。此外,奥林巴斯的一系列独创设计—使探针定位更加容易的“TipView”构造、镊子型易于夹取物体的“新概念探针”等,不仅提高了观测精度,还使操作变得更加轻松。 ※微悬臂产品的详细信息,请参阅微悬臂产品目录。 OMCL-AC160TS-C3 標準标准硅胶微悬臂高Q值带来的高分辨率测量 该型号是最常使用的动态模式专用微悬臂,适用于表面粗糙度测量。 OMCL-AC240TS-C3低弹簧常数硅胶微悬臂可用于再现性较好的粘性和弹性测量该型号作为动态模式专用的硅胶微悬臂,其弹簧常数最小《2N/m(Nom.)》,适用于粘性、弹性的测量等。 OMCL-TR800PSA-1 标准氮化硅微悬臂低损耗、优异的耐久性该型号常用于接触模式,其特点是探针柔软、探针损耗较小。每个前端带有100μm和200μm长两种微悬臂。 兼容多种微悬臂。微悬臂更换方法简单而易于掌握请根据您的使用频度定期更换微悬臂。OLS4500上的电动物镜转换器、SPM测头、微悬臂支架已经被精确调整过,所以只要把已调好微悬臂位置的支架插入SPM测头中即完成更换。微悬臂和支架的位置调整需要使用专用工装夹具,所以谁都可以正确而轻松的完成操作。此外,其他各种型号的微悬臂也按照同样方法更换,提高了观察和测量的效率。 微悬臂位置调整专用工装夹具 应用DVD表面(扫描区域 5μm×5μm 3D影像) 可清楚观察到DVD刻录面的凹陷和表面状态。维氏硬度计压痕(扫描区域 20μm×20μm 3D影像)可清楚观察到从压痕顶角延伸的裂痕。 TiO2单结晶电路板(扫描区域 5μm×5μm 3D影像) 可观察到约0.3 nm的TiO2(二氧化钛)的原子台阶。IC元件圆孔(扫描区域 4μm×4μm 3D影像) 可观察到元件表面附着的微小异物(白色部分)。 高分子薄膜(扫描区域 10μm×10μm 3D影像) 可观察到薄膜表面的划痕(中间靠左)。铝合金阳极氧化膜(扫描区域 1.8μm×1.8μm 表面电位模式(KFM模式),左:高度影像,右:电位影像)观察到铝合金阳极氧化膜的表面形状(左)的同时,观察到表面电(右)。形状影像上没有显示出来的网眼状构造,可在电位影像上清楚的看到。 彩色印刷光学显微镜(50x)彩色印刷SPM(扫描区域 5μm×5μm 3D影像)乳酸菌LSM(扫描区域 100μm×100μm)乳酸菌SPM(扫描区域 20μm×20μm 高度影像) 墨粉粒子LSM(扫描区域 80μm×80μm 右上:10μm×10μm) 主机 规格LSM部分光源、检出系统光源:405 nm半导体激光、检出系统:光电倍增管总倍率108~17,280X变焦光学变焦:1~8X测量平面测量重复性100x : 3σn-1=0.02μm、50x:3σn-1=0.04μm、20x:3σn-1=0.1μm正确性测量值的±2%以内高度测量方式物镜转换器上下驱动方式行程10mm内置比例尺0.8nm移动分辨率10nm显示分辨率1nm重复性100x :σn-1= 0.012μm、50x:σn-1=0.012μm、20x:σn-1=0.04μm正确性0.2+L/100 μm以下(L=测量长度)彩色观察部分光源、检出系统光源:白色LED、检出系统:1/1.8英寸200万像素单片CCD变焦码变焦:1~8X物镜转换器6孔电动物镜转换器微分干涉单元微分干涉滑片:U-DICR、内置偏振光片单元物镜明视场平面半消色差透镜5X LEXT专用平面复消色差透镜20X、50X、100XZ对焦部分行程76 mmXY载物台100 x 100 mm(电动载物台)SPM部分运行模式接触模式、动态模式、相位模式、电流模式*、表面电位模式(KFM)*、磁力模式(MFM)*位移检出系统光杠杆法光源659 nm半导体激光检出设备光电检测器最大扫描范围X-Y:最大 30 μm x 30 μm、Z:最大 4.6 μm安装微悬臂在盒式微悬臂支架上一键安装。使用微悬臂安装位置调整专用工装夹具预对位,更换支架时无需光学调整。系统总重量约440 kg(不包含电脑桌)额定输入100-120 V/220-240 V、600 VA、50/60 Hz*该功能为选项功能。物镜规格型号倍率视场工作距离(W.D.)数值孔径(N.A.)MPLFLN5X108-864X2,560-320μm20.0mm0.15MPLAPON20XLEXT432-3,456X640-80μm1.0mm0.60MPLAPON50XLEXT1,080-8,640X256-32μm0.35mm0.95MPLAPON100XLEXT2,160-17,280X128-16μm0.35mm0.95微悬臂规格用途型号类型探针数量微悬臂探针材质金属膜涂层共振频率(kHz)弹簧常数(N/m)高度 (μm)前端半径(nm)探针/微悬臂探针涂层/反射涂层动态模式/相位模式OMCL-AC160TS-C3标准硅胶2430026147Si/Si无/AlOMCL-AC240TS-C3低弹簧常数硅胶24702147Si/Si无/Al接触模式OMCL-TR800PSA-1标准氮化硅3473/240.57/0.152.915SiN/SiN无/Au表面电位模式OMCL-AC240TM-B3电气测量专用硅胶187021415Si/SiPt/Al微悬臂、探针的机械特性及尺寸均为代表值。 微悬臂非常小,请注意不要伤到眼睛或不小心吞咽。 电流模式、磁力模式中使用的微悬臂的详细信息,请咨询经销商。 除上表以外,还有其他规格的微悬臂。
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  • 偏光显微镜MHPL3230偏光显微镜MHPL3230是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。产品配置无应力平场消色差物镜与大视野目镜,高精度偏光载物台,优良的偏振观察附件等。可在透射偏光、反射偏光与透/反射偏光状态下获得良好的显微图像,仪器机械性能优良,观察舒适,操作方便。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。产品展示:偏光显微镜MHPL3230性能特点:(偏光显微镜MHPL3230)▲采用无限远光学系统及模块化功能设计。 ▲配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。▲广角平场目镜:视场直径Ф22mm。▲粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。 ▲偏光观察装置可移入或移出光路,起偏器与检偏器均可360°旋转。▲旋转式载物台,360°等分刻度,游标格值6',中心可调,带锁紧装置,工作台垂直有效行程可达30mm。▲宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明,亮度可调。▲三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可完全通光,适合低照度显微图像拍摄。外形尺寸:(偏光显微镜MHPL3230)偏光显微镜MHPL3230参数配置:1.标准配置型号MHPL3230(透反射照明)目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离:26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离:20.2 mmPL L40X/0.60(弹簧) 工作距离:3.98 mmPL L60X/0.75(弹簧) 工作距离:2.03 mm落射照明系统12V30W卤素灯,亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360&ring 旋转,带刻度和微动游标内置视场与孔径光栏转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30&ring , 可进行100%透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm2.可选配件:名称类别/技术参数物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L 20X/0.40工作距离:8.80mmPL L50X/0.70(弹簧) 工作距离:3.68 mmPL L80X/0.80(弹簧) 工作距离:1.25 mmPL L100X//0.85(弹簧) 工作距离:0.4 mm转换器五孔 (内向式滚珠内定位)移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X,0.5X,1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900数码相机接头CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF) NIKON( F)
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  • OC-40MRT透反射正置金相显微镜一.产品介绍OC-40MRT透反射正置金相显微镜以优异的成像性能、舒适的操作体验,为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。二.技术参数:光学系统无限远色差校正光学系统观察筒30°倾斜,无限远铰链双目观察筒,瞳距调节:54mm~75mm,单边视度调节:±5屈光度30°倾斜,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节:54mm~75mm,单边视度调节:±5屈光度,两档分光比R:T=100:0或50:50目镜高眼点大视野平场目镜PL10X22mm高眼点大视野平场目镜PL10X22mm(带测微尺)高眼点大视野平场目镜PL10X22mm(视度可调)高眼点大视野平场目镜PL15X16mm物镜平场无限远长工作距消色差金相物镜(5x、10x、20x、50x、100x)物镜转换器内定位五孔转换器粗微调焦机构透反两用机架,低手位粗微同轴调焦机构,粗调行程28mm,微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。带平台位置上下调节机构,最大样品高度28mm反射机架,低手位粗微同轴调焦机构,粗调行程28mm,微调精度0.002mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。带平台位置上下调节机构,最大样品高度78mm载物台双层机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节;平台面积175X145mm,移动范围:76mmX42mm可配反射用金属载物台板,透反两用玻璃载物台板上照明系统自适应宽电压100V-240V_AC50/60Hz,反射灯室,单颗大功率5WLED,暖色,柯拉照明,带视场光阑与孔径光阑,中心可调,带斜照明装置下照明系统自适应宽电压100V-240V_AC50/60Hz,透射灯室,单颗大功率5WLED,暖色聚光镜透射用摇出式消色差聚光镜(N.A0.9),带可变孔径光阑,中心可调其他附件透射用滤色片:黄色、IF550滤色片、LBD滤色片、中性滤色片摄影摄像附件:1X、0.67X、0.5X C接口,可调焦;3.2X摄影目镜,摄像接筒(带PK卡口或MD卡口)数码相机中继镜反射用干涉滤色片:蓝色=480nm;绿色520nm~570nm;红色630~750nmLBD高精度测微尺,格值0.01mm三.选配件A.目镜和物镜:各种放大倍率B.金相图像分析测量软件C. 金相自动评级软件(MIAS3000)D.电脑及打印机
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  • MP41透反射偏光显微镜(亦称矿相显微镜或矿石显微镜)是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观 察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合 物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。MP41透反射偏光显微镜性能特点采用无限远光学系统及模块化功能设计。配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。广角平场目镜:视场直径Ф22mm。粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。偏光观察装置可移入或移出光路,起偏器与检偏器均可360°旋转。旋转式载物台,360°等分刻度,游标格值6',中心可调,带锁紧装置,工作台垂直有效行程可达 30mm。宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明,亮度可调。三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影,摄影时可通光,适合低照度显微图像拍摄。产品参数项目 规格 目镜WF10X/22分划目镜 10X/22,格值0.1mm/格目镜筒30°倾斜,三目镜,两档分光物镜长工作距离平场消色差物镜 PL L5X/0.12 工作距离:26.1mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 10X/0.25工作距离:20.2mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 40X/0.60(弹簧)工作距离:3.98mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 60X/0.70(弹簧)工作距离:3.18mm物镜转换器四孔内向式滚珠内定位转换器载物台旋转式载物台 ,直径Ф150mm,360°等分刻度,游标格值6’,中心可调,带锁紧装置落射照明系统5W LED光源,色温6000K,亮度可调(6V30W卤素灯可选)内置视场光阑、孔径光阑(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置检偏器,可360°旋转,带刻度和微动游标起偏器,可360°旋转中间接筒推入式勃氏镜,中心可调石膏λ补偿器;云母λ/4补偿器;石英楔补偿器调焦机构粗微调同轴,配有限位装置和锁紧装置,微调手轮格值2μm透射照明系统5W LED光源,色温6000K,亮度可调(6V30W卤素灯可选)阿贝聚光镜,可上下升降,NA1.25蓝滤色片磨砂玻璃起偏器,可360°旋转,有0、90、180、270四个读数相机接口1XC
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  • MST-R透反射金相显微镜 透反射显微镜适用于对不透明物体或透明物体的显微观察。本仪器配置落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)、大视野目镜和内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于学校、科研、工厂等部门使用。 性能特点 ▲ 配置大视野目镜和无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰。 ▲ 粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:2μm。 ▲ 载物台行程可达30mm ▲ 配置落射与透射两套照明系统,能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察。 ▲ 三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察,可进行100%透光摄影。 标准配置 型号MST-R目镜大视野 WF10X(Φ22mm)物镜无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离:26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离:20.2 mmPL L40X/0.60(弹簧) 工作距离:3.98 mmPL L60X/0.70(弹簧) 工作距离:3.18 mm目镜筒三目镜30&ring 倾斜, 可100%通光摄影。落射照明系统6V 30W卤素灯,亮度可调 内置视场光阑、孔径光阑、滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置转换器五孔(内向式滚珠内定位)载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降蓝滤色片和磨砂玻璃集光器,卤素灯照明适用(内置视场光栏)6V 30W 卤素灯,亮度可调 选配件名称类别/技术参数编号目镜分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格1121012物镜无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 20X/0.40工作距离:8.80mm2830120PL L50X/0.70(弹簧) 工作距离:3.68 mm2830150PL L80X/0.80(弹簧) 工作距离:1.25 mm2830180PL L 100X/0.85(弹簧)(干式) 工作距离:0.4mm2250111滤色片绿滤色片115002黄滤色片115003CCD接头0.4X8100010.5X8100041X8100020.5X带分划尺,格值0.1mm/格810003摄像仪DV-1 Video输出(380/520 电视线),USB输出(42万像素)800001DV-2带USB输出 (130/200/300万像素)800003DV-3带Video输出(380/520 电视线)800005数码相机接头CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF) NIKON( F)820001
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  • 提供全新的3D形貌分析方案卓越的测量更大的样品范围轻松检测85° 尖锐角有尖锐角的样品(剃刀)采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统(能最大限度发挥405 nm 激光性能),LEXT OLS4100 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。LEXT 专用物镜使用专用物镜时的最小象差 高度分辨率10 nm,轻松测量微小轮廓(MPLAPON50XLEXT)高度差标准 类型B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度测量中的检测由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜,OLS4100 达到了0.12 &mu m 的平面分辨率。因此,可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的0.8 nm 的光栅读取能力和软件算法,例如奥林巴斯开创的I-Z 曲线(请参阅第23 页),OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。 克服反射率的差异钻石电镀工具物镜:MPLAPON50XLEXTOLS4100 采用了双共焦系统,结合高灵敏度的探测器,那些具有不同反射率材料的样品,也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。 适用于透明层多层模式LEXT OLS4100 全新的多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域,并将各层设为焦点,这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量,而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。观察/测量透明材料的各个层多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。即使在玻璃基片上覆有一层透明树脂层,也可测量出各层的形状和粗糙度以及表面覆膜的厚度。 工业领域首创* 的两项性能保证 正确性和重复性通常表示测量仪器的测量精度的,有2 个指标:"正确性",即测量值与真正值的接近程度,和"重复性",即多次测量值的偏差程度。OLS4100 是业界首次同时保证了"正确性"和"重复性"的激光扫描显微镜。 追溯体系OLS4100 从物镜制造到成品全部在奥林巴斯工厂内完成,并按照一系列严格的标准进行全面的检验并确保产品的质量后方才出厂 。交付产品时,由选拔出来的技术人员,在实际使用环境中执行校正和最后的调整。 更多的测量类型高度测量可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。轮廓测量也同样可用表面粗糙度测量可以测量线粗糙度,以及平面整体的面粗糙度。 面积/体积测量根据设置在轮廓截面上的任意阈值,可以测量其上部或下部的体积。粒子测量 (选购件)可以通过分离功能使粒子自动分离,设置阈值,根据ROI 设置检测范围。 几何测量可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。膜厚测量 (选购件)可以根据测出的对焦位置,测量透明介质的膜厚。 自动寻边测量 (选购件)可以自动寻边,测量线宽和圆,减少人为的测量误差。 OLYMPUS Stream (选购件)工作流程解决方案,实现了优秀的图像分析性能对于粒子尺寸分析或非金属夹杂物级别的测量,可以使用OLYMPUS Stream 显微图像软件,该软件可以从OLS4100 直接上传。想了解更多OLYMPUS Stream相关内容 更精准的粗糙度测量LEXT OLS4100 参数作为表面粗糙度测量的新标准,奥林巴斯开发了LEXT OLS4100。对LEXT OLS4100 进行了与接触式表面粗糙度测量仪同样的校正,并在LEXT OLS4100 上配置了几乎所有必要的粗糙度参数和滤镜。这样,对于使用接触式表面粗糙度测量仪的用户来说,能得到操作性和互换性良好的输出结果。另外,还搭载了粗糙度专用模式,可以用自动拼接功能测量样品表面直线距离最长为100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数,因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, P&Delta q, Pmr(c), P&delta c, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, R&Delta q, Rmr(c),R&delta c, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, W&Delta q, Wmr(c), W&delta c, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度(3D)参数。通过评估平面区域,可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str&bull LEXT OLS4100 与表面粗糙度测量仪的结果相兼容。 微细粗糙度使用接触式表面粗糙度测量仪,无法测量比探针的针尖直径更细微的表面轮廓。而OLS4100 有着微小的激光光斑直径,所以能够对微细形状进行高分辨率的粗糙度测量。 非接触式测量使用接触式表面粗糙度测量仪测量柔软的样品时,样品容易受到探针损伤而变形。另外,带有粘性的样品会粘在探针上,无法得到正确的测量结果。而非接触式的激光显微镜OLS4100,不会影响样品的表面状态,可以准确的测量样品的表面粗糙度。高分子薄膜3D 影像(上)和粗糙度测量结果(左)柔软的样品带有粘性的样品 微米级特征的测量使用接触式表面粗糙度测量仪,其探针无法进入微米级的区域,所以不能对这些区域的特征进行测量。而OLS4100 可以正确定位,能轻松测量出特定微小区域的粗糙度。焊线 高画质影像 清晰鲜明的3D 彩色影像三种类型的综合影像真彩3D 影像LEXT OLS4100 可以同时获取三种不同类型的影像信息:真彩3D 影像、激光全焦点3D 影像和高度信息影像。激光全焦点3D 影像高度信息影像 再现自然色OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相装置以生成清晰、色彩自然的影像,所得影像可以与高级的光学显微镜相媲美。2D 彩色影像(纸张上的墨点、物镜20x)3D 彩色影像(纸张上的墨点、物镜20x) 更加真实地再现表面, 激光DIC(激光微分干涉)微分干涉观察是超越了激光显微镜的分辨率、可以观察到纳米以下微小表面轮廓的观察方法。LEXT OLS4100 通过安装在物镜上方的DIC 分光棱镜,将照明光横向分为两束光线来照射样品。获取由样品直接反射回来的两束光线的差,生成明暗对比,从而实现对微小凹凸的立体观察。LEXTOLS4100 拥有DIC 激光模式,即使是低倍率的动态观察,也能得到接近电子显微镜分辨率的影像。无DIC 的激光影像(高分子薄膜)有DIC 的激光影像(高分子薄膜) 无DIC 的激光影像(5x 物镜)高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany有DIC 的激光影像(5x 物镜)高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 实际高度:6 nm 亮度和对比度之间更加优化的平衡, HDR(高动态范围)影像OLS4100 的高动态范围(HDR)功能结合了多张以不同曝光率获取的光学显微镜影像,并且分别控制着亮度、对比度、纹理和饱和度,因此HDR 可以以宽动态范围处理影像。OLS4100 尤其可以对纹理不明显的样品的彩色影像进行清晰地观察。无HDR 的彩色影像(致密的织物、物镜20x、变焦1x)有HDR 的彩色影像(致密的织物、物镜20x、变焦1x)算法 稳定测量和成像环境复合减震机构为了排除来自外部的影响,稳定测量和成像,OLS4100 机座内置了由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的"复合减震机构"以稳定操作环境。所以,可以把OLS4100 放在普通的桌子进行测量作业,不需要专用的防震平台。 直观的GUI 实现系统化的工作流程 简易的三步流程使用LEXT OLS4100,只需将样品放置在载物台上之后即可立即开始观察/测量。由于采用了简易的三步流程&mdash &mdash 成像、测量和报表&mdash &mdash 即使用户不熟悉激光显微镜,也可以快速掌握测量的流程。 始终明白"身在何处"宏观图功能OLS4100 的宏观图功能可以以低倍率显示大范围影像,并在宏观影像上显示一个矩形观察标记。该视场可以通过拼图设置为传统视场的441 倍。当配合电动六孔物镜转换器时,宏观图功能可以对载物台移动和倍率更改实现平滑、便捷的一键操作。可以精确预设齐焦和确定物镜的中心,并可通过一键移动载物台和调整倍率进行同步。快速的宏观图拼接扫描大面积区域时有两种拼接方法可用:获取实时影像时的手动模式和快速获取影像时的自动模式。操作非常快速简单&mdash &mdash 2D 拼接只需一键操作即可开始,并且可立即获得大面积的拼接影像。自动模式下有五级拼接尺寸可用,分别为:3× 3、5× 5、7× 7、9× 9 和21× 21。对于影像上不需要的部分,可以使用简单的鼠标或控制杆操作手动删除。 用于简易3D 成像的智能扫描自动3D 影像获取传统的3D 扫描需要复杂的设置,这对新手来说非常困难。LEXT OLS4100 采用了全新的智能扫描模式,即使是初次使用的用户也只需一键操作即可快速获取3D 影像。除了上下限的设置,系统也会根据要获取的影像自动设置合适的亮度。这让即使是初次使用的用户也能获得精确的高度测量和优质的影像。3D 成像自动亮度控制平面上的亮度控制一定高度范围内的亮度控制。大大缩短了获取时间 更快的扫描速度新的超快模式获取扫描影像的速度是传统快速模式的2 倍,约是精细模式的9 倍。因此,对于那些需要非常精细的Z 轴移动和极高的放大倍率的样品,该模式就非常地适用,例如对刀具的尖端进行检测。相同时间内获取的影像数量:实际的扫描时间根据所用倍率和Z 获取范围而有所不同。 只在所需区域进行高速获取OLS4100 还配备了带宽扫描模式,用于测量有限的目标区域,测量性能比传统模式快1/8。全局扫描获取带宽扫描获取(1/8) 全新的高速拼接模式从大范围拼接影像中指定目标区域在宏观图中,要观察的区域可以从大范围的视图中进行指定。在自动模式中,通过设置最多625 幅影像的矩形拼接尺寸,可以自动生成区域图,所需的时间大约只需要通常的一半。下一步,在区域图上指定所需的影像并立即开始观察。拼接区域:方形(21× 3)63 片拼接区域:圆形(3 点) 手动指定所需的影像区域在实时模式中,通过在屏幕上跟踪所需的区域,可以手动选择要观察的区域。当观察的样品具有不规则的形状时,该功能非常实用。 快速影像拼接要使用智能扫描模式获取影像时,只需一键操作即可。由于智能扫描会自动调整Z 轴方向的设置,Z 轴方向的影像获取可以仅局限在所需的区域,因此可以在进行大范围大功率观察时节省很多时间。智能扫描模式传统获取模式 一键操作定制报表OLS4100 在测量后可使用一键操作创建报表,而且使用编辑功能可以定制各个报表模板。将测量结果复制和粘贴到Word 或表格应用程序也非常简单,就像从数据库取回所需的影像和报表一样。 目标的一键解决方案为用户设计的详细的向导功能取消了冗长的培训,让新手也能快速简单地进行操作。 产品已下架,可查看OLS系列其他产品。
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  • C2+共聚焦显微镜是尼康共聚焦产品系列中的一个基本型号。C2+被设计为实验室必不可少的显微镜工具,提供强大而精准的成像能力。高效率的扫描头和检测器与尼康无与伦比的光学元件相结合,可提供出众的共焦图像。高速检流式扫描振镜能以高达100 fps(8倍变焦或更大)的速率运行,可以精确捕捉心肌的快速跳动。该系统可以在一次扫描中同时采集多色荧光和DIC图像。对于需要光谱成像功能的研究,尼康的C2si+系统还提供了专用的光谱检测器单元。C2si+系统可实现高精度和高速32通道光谱成像或高灵敏度光谱成像。C2+共焦系统以卓越的稳定性和操作简便性为基础,结合卓越的光学技术,是必不可少的实验室工具。『高速采集高清图像』检流式高速扫描能够对活细胞中的快速动态事件进行共焦成像,例如心肌细胞的跳动。在传统的共焦系统中,快速双向扫描会导致像素偏移。然而,C2+共焦系统的像素偏移校正机制确保即使在快速双向扫描下也能获得最高质量的图像。▲用 Fluo-8 AM 和 MitoTrackerOrange 标记的大鼠原代心肌细胞用组胺刺激(15 fps)『高画质的图像』◣高效率的扫描头和探测器凭借便捷的小尺寸扫描头,C2+可与各种类型的尼康显微镜配合使用。C2+采用高精度镜面和光学优越的圆形针孔,将检测器分开,隔离热源和噪音源,实现低噪音、高对比度和高质量共焦成像。新开发的扫描驱动系统和尼康独特的图像校正技术允许8 fps(512 x 512像素)和100 fps(512 x 32像素)高速成像。 ◣高性能光学系统CFI复消色差Lambda S系列物镜高数值孔径(NA)物镜可在波长从紫外到红外的范围内提供色差校正,是多色共焦成像的理想选择。特别是,LWD Lambda S 40XC WI镜头具有极宽的从405 nm到近红外的色差校正范围。所有这些物镜都使用尼康独有的纳米结晶涂层技术,大大增强了光学传输性能。CFI Apochromat LWD Lambda S 20XC WI, NA0.95 CFI Apochromat Lambda S 40XC WI, NA1.25 CFI Apochromat LWD Lambda S 40XC WI, NA1.15 CFI Apochromat Lambda S 60X Oil, NA1.49CFI复消色差TIRF系列物镜TIRF系统物镜拥有前所未有的1.49数值孔径(使用标准盖玻片和浸油),这是尼康物镜中的最高分辨率。其高性能的 校正环设计可以优化点扩散函数以适应不同的环境温度,无论您是在室温还是37摄氏度下成像,均可确保最高质量的共焦图像。CFI Apochromat TIRF 60X Oil, NA1.49 (left) CFI Apochromat TIRF 100X Oil, NA1.49 (right)◣高清晰度DIC图像C2 +可以同时获得三通道荧光或同时三通道加透射DIC观察。可以叠加高质量的DIC图像和荧光图像以帮助形态分析。DIC image (left)Overlay of DIC and fluorescence images (right)『直观的操作』NIS-Elements成像软件卓越的可操作性和多样化的分析功能可以满足初学者和经验丰富的共焦用户的需求。此外,NIS-Elements不仅可以直观操作尼康显微镜,而且还可以驱动第三方外围设备展开更为广泛的实验。◣多模式功能各种成像方法,如共焦,宽场,TIRF,光活化,以及采集图像的处理,分析和呈现,都可以在一个软件包中找到。用户可以轻松学习如何使用通用界面和工作流程来控制不同的成像系统。▲直观易懂的光路设置:激光、探测器等▲扫描参数设置◣快速准确的光谱成像 | C2-DUS光谱检测器单元01 | 高速光谱成像在0.6秒内单次扫描获得32通道光谱图像(512 x 512像素),且可以24 fps捕获512 x 32像素的图像。▲光谱分析界面02 | 准确和高速的拆分准确的光谱拆分在分离紧密重叠的荧光光谱和消除自发荧光方面提供了最佳性能。高级算法和高速数据处理功能可在图像采集过程中实时拆分。▲鬼笔环肽-Alexa 488染色表达H2B-YFP的HeLa细胞的肌动蛋白用488 nm激光激发捕获500-692 nm范围内的光谱图像左:光谱图像,右:拆分后的图像(绿色:AlexaFluor488,红色:YFP)大阪大学医学院 Yoshihiro Yoneda博士、Takuya Saiwaki博士03 | 宽带光谱成像利用从最多八个波长中选择的四个激光器同时进行激励,可在更宽的频带上进行光谱成像。04 | 虚拟滤光片功能通过从32个通道中选择与使用中的荧光探针的光谱相匹配的所需光谱范围并将它们组合以执行过滤功能,可实现无滤光片强度调整◣明亮的光谱成像 | C2-DUVB GaAsP探测器单元01 | 高灵敏度的光谱图像采集通过GaAsP PMT,C2-DUVB可调谐发射检测器可灵活检测荧光信号,灵敏度更高。02 | 可变采集波长范围用户定义的发射带可以收集选定波长范围内的图像,取代固定带宽发射滤光片的需求。用户可以将发射带宽范围定义为10nm。多标记标本的光谱图像可以通过在改变检测波长的同时捕获一系列光谱图像来获取。基于该应用,可在C2-DUVB上选择虚拟带通模式和连续带通模式。▲左:VB(可变带通)模式拍摄的三色荧光图像中:VB模式支持5色荧光成像右:CB(连续带通)模式可以拍摄多达32通道的光谱图像03 | 可选第二个通道检测器可选的第二个GaAsP PMT提供灵活的检测。通过插入分色镜,用户可以将选定的波长转移到第二个固定带宽发射通道,同时利用第一个通道上用户可定义的发射波段。第二个检测器允许FRET,比率成像和其他需要同时进行多通道成像的应用。04 | 准确的光谱拆分使用参考样本的光谱或采集的图像中的光谱,可以对光谱重叠的多色图像进行精准拆分。『强大的灵活性』C2 +可与正置、倒置、电生理和宏观成像显微镜配合使用,并可与各种高质量研究实验系统结合使用。所有这些都可以使用NIS-Elements软件进行控制。▲TIRF / Photoactivation / C2+多模成像系统凭借高效的光纤切换系统,LU-NV激光器可支持多种激光应用,如C2 +,TIRF和光激活。这使得高分辨率共焦成像,单分子成像,光敏化和光转换荧光蛋白等成像应用全部集成在同一个显微镜平台上。▲AZ-C2 +微共焦显微镜系统AZ-C2+ 宏观共焦系统可实现高分辨率大样本( 1cm)的共焦图像采集。具有超高信噪比的全胚胎或大型组织切片的令人惊叹的大视场。此外,AZ-C2+共聚焦提供了低倍和高倍物镜,可变光学变焦和共焦扫描变焦功能的组合,可以通过一台显微镜从宏观到微观进行连续成像,使得宏观样本的体内共焦成像成为可能。
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  • MDM-300系列透反射金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资,如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料,也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。主要技术指标组件及规格目镜 大视野 WF10X(Φ18mm) 物镜 平场消色差(无盖玻片) PL5X/0.12 WD 18.3PLL10X/0.25 WD 8.9PLL40X/0.60(弹簧) WD 3.7PL60X/0.85(弹簧) WD 0.26目镜筒 三目镜 转轴式,倾斜30度,包括检偏振片仪器主体粗调、微调手轮,微调格值为0.002MM(底座及支架)偏光装置可插入式起偏振片,垂直照明装置,能进行一般金相分析、微粒分析测试,还能 对不透明物体进行分析、观察。滤片组 蓝、黄、绿、磨砂调焦机构 同轴粗微动调焦机构, 调焦范围15mm 微动格值2μm照明系统 稳流变压器,落射照明器,卤素灯,亮度可调, 带偏振片,透射照明,卤素灯,亮度可调系统的组成1、金相显微镜DMM-300 2、电脑适配镜3、彩色摄像器(CCD) 4、A/D转换器(彩色图象采集设备)
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  • RIN针内窥显微镜 GRIN针内窥显微镜用于深度组织成像,可以将微米级的组织图像传递到针尖内窥显微镜的另一端。它们多数是用于多光子荧光成像(设计波长860nm)或者落射荧光成像(设计波长520nm)。 内窥显微镜可生产成GRIN单透镜,两侧面NA都是0.5;或者生产成GRIN双透镜,其物镜NA等于0.5,像方NA等于0.19。物方工作距离规定为水中或者组织中,像方为空气。双透镜长度不同,因为在GRIN转像透镜(NA=0.19)上增加了0.5周期长度。杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • 高精度激光振镜反射镜Novanta公司旗下的英国Cambridge Technology的高精度激光振镜反射镜有两个大类:硅基材类和更昂贵的铍基材类.硅基材反射镜:硅基材反射镜的突出优势是在低成本的前提下,保持优异的光学性能,镜片刚性,良好的导热性,以及接近于铍反射镜的动态性能。可适配客户的多数应用,可接受OEM定制订单。铍基材反射镜:铍是在元素周期表上排第四位(氢氦锂铍),前两位氢和氦在常温下仅以气态存在,第三位锂或锂合金因活性过高而在空气中会自燃。这样,第四位的铍成为了现有已知最轻量的,且同时具备了高刚度,高稳定度的可实用金属材料。这个突出特点决定了铍基材反射镜成为轻量超高速激光振镜反射镜的极致选择。正是因为这个原因,Cambridge Technology的超高速共振扫描型激光振镜CRS系列全线采用铍基材反射镜。对于追求极致扫描速度的OEM客户,Cambridge Technology可接受铍镜定制订单。注:纯铍金属有一定生物毒性,Cambridge Technology公司具备通过ISO14001认证的铍金属加工与处理能力,保证铍金属反射镜在使用过程中不会对操作者产生健康风险,如您因任何原因需要报废内置铍基材反射镜的扫描器,请勿随意丢弃,接洽厂家咨询处理方法。开槽或蜂窝结构的铍基材反射镜保证极致轻量前提下的高机械刚性多种介质膜镀膜选项Cambridge Technology允许客户在出货前指定反射镜镀膜,镀膜选项包含1. 高反射率介质膜:- 紫外激光高反介质膜:343-355nm- 绿激光高反介质膜:515-532nm- 光纤/YAG激光高反介质膜:1040-1090nm- 二氧化碳激光高反介质膜: 9.3-10.6µ m2. 宽带反射镀膜:-可见光镀膜:450-650nm- 铝反射膜: 300-1200nm- 银反射膜:350-7000nm不同应用的建议选择:应用反射镜建议口径反射镜建议镀膜钻通孔10 mm,14 mm紫外,绿光20 mm,25 mm,27 mm, 30 mmCO₂ 远红外增材制造20 mm,30 mm光纤/YAG激光微加工10 mm,14mm紫外,绿光,光纤/YAG20 mm光纤/YAG激光激光打标,内雕6mm-8mm,10mm,14mm,15mm紫外,绿光,光纤/YAG,CO₂ 显微扫描成像3 mm,5 mm,6 mm可见光镀膜,铝膜,银膜眼科医学根据应用定制可见光镀膜,银膜
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