激光扫描平场透镜

远心套筒透镜，适合激光扫描和宽场成像200 mm有效焦距为Thorlabs、Nikon、Leica和Mitutoyo使用标准300 mm、400 mm或600 mm有效焦距能够提高标准系统的放大率远心设计这些无限远矫正套筒透镜具有远心设计，适合激光扫描和宽场成像应用。波长范围从400到700 nm或从450到1100 nm的激光扫描套筒透镜可以与我们的SL50-CLS2(450 - 1100 nm)扫描透镜配合形成远心系统。类似地，TL200-2P2和TL200-3P分别可以和我们的SL50-2P2(680 - 1300 nm)或SL50-3P(900 - 1900 nm)扫描透镜一起使用。由于TTL200MP和TTL200MP2的增透膜具有更宽的波长范围，因此能够和这三种扫描透镜的任意一个配合使用。TTL200MP套筒透镜在可见光和NIR波长下提供更高的透射率，而TTL200MP2套筒透镜在近2000 nm的更长波长下提供更高的透射率。单击下表中的图形图标可查看完整的透射率数据。这些套筒透镜在无穷符号(∞)旁边刻有一个箭头，指示透镜哪侧需要面向物镜(无限空间)。TL600-A、TL400-A、TL300-A、TTL200MP和TTL200MP2套管透镜的标称径迹长度都是420 mm，所以可以在系统中交换使用不同焦距的套筒透镜，无需重新对准成像设备和物镜。所有这些透镜也可以定制镀膜，优化指定波长范围内的透射率。安装选项这些透镜一端或两端有SM2(2.035"-40)外螺纹，可以连接我们的Ø 2英寸透镜套管和很多60 mm笼式系统机械件。如要将这种套管透镜用在Thorlabs的Cerna DIY显微镜系统中，请用SM2M05透镜套管连接WFA4111燕尾转接件(下面提供)。

德国LINOS专业生产激光光学镜头。F-Theta场镜广泛应用于激光打标、雕刻、切割等，其品质直接关系着打标、雕刻等线条的优劣；好的激光标刻系统，同样需要好的F-Theta场镜。　　科艺仪器为激光标刻工业、科研用户精选LINOS精良的高纯度F-Theta平场透镜，各种焦距和扫描范围，满足您的激光标刻系统最苛刻的需求。主要特点：· 3-4片式气体隔离光学设计技术· 透射率90%· 定位精度优于0.1%主要技术指标： EFLBFLFEL2y&prime max(2y&prime /&radic 2)2&Theta max&phi beam&phi spatm1/m2SOrder number355nm UV F-Theta 扫描场镜160160.1183.8189.2139.798.8× 98.8± 25.07.01516/12M85× 14401-398-000-21PG3160160.1202.9208.3140.599.3× 99.3± 25.07.01516/12M85× 14401-398-000-21532nm F-Theta 扫描场镜6362.378.087.74.0328.5× 28.5± 18.54.51310.0/15.0M39× 14401-399-000-21PG110099.5122.2131.861.543.5× 43.5± 17.58.01210.0/13.5M39× 14401-425-000-21PG110094.094.096.1111.498.798.282.082.058.0 58.058.0 58.0± 25.0± 25.06.06.0151516.0/12.016.0/12.0M85× 1M85× 14401-304-000-21PG4401-304-000-20160159.6159.6181.6188.6184.2183.7139.2139.298.4 98.498.4 98.4± 25.0± 25.010.010.0161616.0/12.016.0/12.0M85× 1M85× 14401-305-000-21PG4401-305-000-20160160.5187.7195.399.270.1× 70.1± 17.57.02210.1/13.5M39× 14401-386-000-21PG250250.2291.4337.1218.4154.4× 154.4± 25.020.02222.0/24.0M85× 14401-289-000-20PG330329.9329.9386.2386.2438.3437.2287.9287.9203.6 203.6203.6 203.6± 25.0± 25.014.014.0232318.0/24.018.0/24.0M85× 1M85× 14401-361-000-21PG4401-361-000-20420419.9419.9493.3497.1545.0543.9410.4410.4290.2 290.2290.2 290.2± 28.0± 28.015.015.0272730.0/16.030.0/16.0M85× 14401-357-000-21PG4401-357-000-20635634.6772.6833.8564.9399.4× 399.4± 28.020.03130.0/20.0D1064401-332-000-201064nm F-Theta 扫描场镜6363.979.489.141.229.1× 29.1± 18.56.22010.5/15.0M39× 14401-387-000-21PG110099.9120.6130.361.743.6× 43.6± 17.78.02410.5/13.5M39× 14401-426-000-21PG110099.799.7103.4118.4106.0105.587.087.061.5× 61.561.5× 61.5± 25.0± 25.012.012.0161616.0/12.016.0/12.0M85× 1M85× 14401-302-000-21PG4401-302-000-20160160.3160.3181.8189.1184.4183.8139.9139.998.9× 98.998.9× 98.9± 25.0± 25.012.012.0262616.0/12.016.0/12.0M85× 1M85× 14401-301-000-21PG4401-301-000-20160159.9186.5194.198.869.9× 69.9± 17.78.03910.0/13.5M39× 14401-378-000-21PG1163163.1163.1190.0192.7219.1218.1162.3162.3114.8 114.8114.8 114.8± 28.0± 28.010.010.0323213.0/24.013.0/24.0M76× 1M76× 14401-261-000-21PG4401-261-000-20254254.4299.1344.8222.0157.0× 157.0± 25.020.02530.0/16.0M85× 14401-288-000-20PG330331.4331.4390.5392.8442.6441.6306.6306.6216.8 216.8216.8 216.8± 26.5± 26.516.016.0404018.0/24.018.0/24.0M85× 1M85× 14401-360-000-21PG4401-360-000-20420420.5420.5497.1499.2548.8547.7411.0411.0290.6 290.6290.6 290.6± 28.0± 28.015.015.0555530.0/16.030.0/16.0M85× 1M85× 14401-350-000-21PG4401-350-000-20

扫描透镜，用于激光扫描显微镜波长范围400-700 nm优化设计用于OCT成像系统入瞳：4 mm扫描角度范围：±10.6° (最大，单轴)M25 x 0.75外螺纹这种透镜最适用于OCT成像，但是也可用于各种激光扫描显微镜应用。LSM03-VIS扫描透镜镀有增透膜，设计用于可见光波长范围(400到700 nm)的成像。右表列出了透镜的主要规格；完整规格请查看规格标签。M25×0.75外螺纹可通过SM1A12转接件连接Thorlabs标准的SM1(1.035"-40)螺纹。通过RMSA2转接件能将扫描透镜与RMS螺纹(0.800"-36)组件一起使用。对于利用该扫描透镜作为主要目标元件的OCT成像系统，我们提供LSM03DC-VIS色散补偿器。

Moewe多面镜超高速激光扫描头PM600（转镜系统）超快激光多面镜高速扫描头（转镜系统）Moewe PM系列多面镜扫描头MOEWE多面镜扫描头(PM系列)设计用于高功率超快激光加工。该系统为二维光束偏转单元，可进行2D、2.5D和3D加工。MOEWE高端PM系列扫描头具有30毫米的通光孔径和实时机载数据处理功能，可以在前所未有的高吞吐量上实现最高精度的宏观与微观加工。多面镜扫描头(Polygon Mirror Scanner)在半导体行业的应用主要特点高达30=mm的入光孔径适用于功率高达5kW的连续激光在整个扫描范围内都可以实现超高的扫描速度 (无加速度损耗)全数字、FPGA板载数据处理适用于Bitmaps、矢量图形、STL文件实时激光控制，可实现最高的精度主要优势二维光束偏转装置，可以单独使用或与设备集成 (实现轴、卷对卷等加工)多个数字和模拟I/OI接口、以太网通信、编码和过程控制应用：激光标刻、微纳结构、表面清洁、打孔、切割、表面结构 (2.5D)、点焊、增材制造 (3D)等选配项目物镜可拆卸及更换物镜 (标准或定制物镜)167、255、420 mm等规格平场透镜硬件通过AOM实现连续激光的10 MHz的频率调制多个扫描头的同步固定重复频率的激光器的相位校正软件参数设定、bitmap和矢量图形模式8位灰度图像处理，用于2.5D雕刻3D实施分层 (STL文件)扫描头和外部平移台的同步通用参数光学参数输入输出实时FPGA处理可点击图片放大聚擘国际贸易 (上海) 有限公司聚 嵘 科 技 股 份 有 限 公 司聚擘国际贸易 (上海) 有限公司／聚嵘科技股份有限公司，专业从事半导体封装及测试、LED封装测试、太阳能、SMT、飞秒/皮秒/纳秒激光等定制设备/子系统的开发、销售及售后服务。公司总部位于上海，在深圳、北京、西安设有办事处。公司在设有专业的飞秒精密微纳加工实验室 — FemtoFocus Lab及MiniProduction Lab，合作伙伴有法国Amplitude公司 、 德国Moewe公司 、 法国ALPhANOV光学与激光技术中心、比利时LASEA公司、法国NOVAE公司、德国Pulsar Photonics公司。实验室拥有专业的前沿激光微纳加工应用开发及技术支持团队，提供超短脉冲 (小于500fs) 和极短脉冲 (小于100fs) 激光技术相关测试及高速加工 (多光点、转镜) 等高度可扩充的高弹性集成方案。聚擘国际贸易(上海)有限公司| 电子 | 半导体 | 飞秒激光 | 微加工 | 科研 |

SL70 扫描透镜设计用于逐点激光扫描成像，具有25mm的视场。非常适合用在激光扫描成像系统和应用中，比如共聚焦激光扫描显微镜、多光子显微成像和光学相干层析(OCT)。当入射光角度相对透镜光轴变化时，远心扫描透镜能生成平坦的像平面，且光斑尺寸畸变很小。像平面的光斑尺寸在整个视场几乎都一样，所以样品的整个扫描区域上的成像分辨率也几乎不变。SL70 扫描透镜 镀有增透膜用于可见光和近红外(400 到1000 nm) 波长范围，减少宽带光源的背反射。规格参数SL70波长（nm）400-1000焦距（mm）70工作距离（mm）20视场（mm）25透过率≥ 80%@400-450nm，≥ 85%@450-1000nm外径尺寸（mm）35

CTI和GSI合并以来，依靠各自的传统优势技术，联合提供最优配置组合的激光扫描头子系统，包含Lighting和ProSeries两个系列的7mm，10mm，14mm的标准产品，同时也提供20mm和25mm大孔径系列，是OEM和最终用户的最佳选择。高速激光扫描头主要应用：· 高速打标· 二维码和条形码打标· 网格制造· 打孔· 激光消融和切除· 飞行打标· 雕刻· 表面处理· 快速成型类型LightingXP数字扫描头Lighting数字扫描头ProSeriesII数字扫描头ProSeries数字扫描头特点· 采用CTI高性能振镜· 最高速度· 全数字化· 自动调节· 采用CTI高性能振镜· 高速· 数字伺服· TuneMasterc· 采用CTI高性能振镜· 最高精度· 低抖动· 低零漂· 采用CTI高性能振镜· 经济型· 灵活的模块化设计· 最紧凑型设计输入孔径71014710147101471014最大激光功率WYAG100150250100150250100150250100150250CO250100200501002005010020050100200刻字速度cps*13009006001300900600800600350900650

激光扫描测径仪仪器性能指标 *测量范围：0.2-30mm(ETB-05B)、　　*灵敏度：1um　　*测量精度：±2-5um(ETB-05B)　　*环境温度：4-40℃　　*环境湿度：85%无凝露　　*仪器功耗：小于 50W　　*工作电压：AC220V 50HZ±10%　　*扫描速度：大于 50 米/秒　　激光扫描测径仪注意事项　　5.1 本仪器属精密仪器，应尽量避免高温，高湿落尘及有腐蚀性气体的环境中使用，否则，仪器的使用寿命和精度将受到影响。　　5.2 仪器安装要稳固可靠，避免过强机械振动。　　5.3 仪器使用时，供电电源须加稳压措施，仪器应避免安装在具有强烈电磁干扰的电器设备附近。　　5.4 仪器在现场使用时，请注意测量头测量窗口的清洁，当窗口有尘埃附着时，可使　　用专用镜头刷喷气轻拭即可，如有较严重的油性污渍，可用脱脂棉沾纯净的酒精和混合液由上往下旋转擦拭，不可来回擦拭，以免造成重复污染。　　5.5 为延长仪器寿命，使用时请避免不必要的开关机操作，严禁随意拆御测量头，请勿眼睛直接盯视激光束。　　一般故障及处理　　*开机后无反映：　　a，电源未接好 　　b，电压值不对 　　*显示全部为零：测试场无工作或遇大和遇小，注意待测位置及仪器的测量范围。　　*显示不稳定：　　a，仪器接地不良 　　b，受周围大型用电器或发射影响 　　c，工作振动过大 　　d，环境振动过大 　　e，窗口凝露或污染 　　f，测量区内有烟雾，尘埃 　　g，待测工作表面不规则 　　h，需要更换激光器，仪器使用的激光器设计为耗材结构，容易拆装，方便用户更换，激光器的使用寿命为 80000 小时，如果连续使用，每半年更换一次。　　*死机：自检时有强烈干扰，需要重新启动 　　*其它不明现象：通知生产厂。

3轴激光扫描振镜Novanta公司旗下的英国Cambridge Technology的提供 Lightning II 3D高精度高速振镜扫描头。Lightning II 3D旗舰高精度高速振镜扫描头Lightning II即“闪电2代”是我们的旗舰数字驱动激光扫描头，同时具备快速，高精度和长时间稳定工作的优点。是钻通孔，增材制造，微加工等应用的理想工具。而Lightning II 3D是在Lightning II 2D扫描头的基础上增加一个动态聚焦模块（DFM），这种模块化的、集成化的Z轴扫描头动态调节激光的Z轴焦点，提高了激光的处理速度和质量。同时动态聚焦模块DFM可以做到快速调整到不同的工作距离以及相应的工作面大小。Lightning II 3D参数指标：型号:Lightning II 3D20 mm30 mm50 mm镜片通光孔径20 mm30 mm50 mm扫描角度±20±22°±22°波长选项355 nm1050-1080 nm|9.36 μm 10.6 μm1050-1080 nm|9.36 μm 10.6 μm常规工作速度50 rad/s50 rad/s18 rad/s工作面范围200-2500 mm 100-1200mm|100-1000mm 100-1200mm|100-1000mm输入光斑尺寸1-3mm|2-3mm10 mm|17 mm10 mm|17 mm最小光斑尺寸(200x200 mm)12 μm|18 μm21 μm|213 μm21μm|213μm循迹延迟0.2 ms0.2 ms0.4 ms指令分辨率24-bit24-bit24-bit重复性2 μrad2 μrad2 μrad长时间漂移10 μrad10 μrad10 μrad温度漂移2 μrad/°C20 μrad/℃2 μrad/℃增材制造 激光微加工

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

LED综合特性测试实验装置，YTR-6302 简介YTR-6302实验系统采用模块化的结构设计，可提供电学特性、光空间分布特性、光度学、色度学特性和热特性共四个模块的测试实验，涵盖了LED的电、光、色、热及其相关的特性参数测试实验。实验过程中学生可根据需要，选择系统中的某几个部件搭建实验装置，进行LED某方面的特性测试。测试设置和控制通过专用软件操作，在人性化的人机交互软件实验界面上，可实时测绘出LED的电压—电流、光通量—电流、发光强度—电流、光空间分布的特性曲线，以及进行RGB配色实验。为使专业教学与实际生产紧密结合，系统测试参数的选择参照课程教学大纲并结合重要的工业参数，测试原理依据国内外现行权威的测试标准。特点实验内容全面涵盖LED的电学实验、光度学实验、光空间分布实验、色度学实验、颜色匹配实验和热学特性实验模块化和通用化设计，可以根据教学要求进行灵活配置基于LED行业标准进行实验仪器和内容进行设计专用分析软件：电、光、色、热四大模块独立操作界面，可直接查看每个模块的实验原理及操作步骤实验内容电学实验：拐点电压；U-I 特性曲线；工作电压；光度学实验：不同 LED 光通量、发光频率与电流关系测量；光空间分布实验：不同封装LED的光空间分布特性测量；色度学实验：不同LED色度学参数的测量；相对强度定标。颜色匹配实验：了解混色原理和相应定律以及色度学测量原理；替代律的验证；可视化验证实现补色定律，中间色定律，亮度相加定律；匹配白光；热特性实验：脉冲电源纹波系数测量；K系数的测量；结温热阻测量；Ld测量实验：电压与电流关系测量；功率与电流关系测量；发光效率测量。振镜式激光扫描实验装置，YTR-6303简介激光扫描振镜，由X-Y光学扫描头, 电子驱动放大器和光学反射镜片组成。电脑控制器提供的信号通过驱动放大电路驱动光学扫描头, 从而在X-Y平面控制激光束的转。YTR-6303型振镜式激光扫描实验系统主要由计算机、激光器、扫描振镜驱动电源、激光器电源、光路系统等组成，其工作原理是激光器发出的激光经过光路系统，再经过振镜扫描器中X轴和Y轴反射镜的两次反射后，投影到观察屏的XY平面，形成一个扫描点。任何复杂的平面轨迹都能通过控制振镜的两个镜片的偏转来实现。特点模块化结构设计，基于光学导轨的光路结构高精度的光路调节，配置多维调节架可视化光路，采用可见光波段激光器，整个实验过程清晰可见XY扫描电机工作状态可控，任一轴扫描器具有远程关断功能丰富多彩的图案演示功能，可以演示文字、图形和任意自由编辑图案实验内容光路的调整：分立的模块化设计加上可视化光路，满足学生动手能力的同时也能更深入直观的理解扫描原理扫描成像演示：可绘制长方形，圆形等单个图形或组合图形，也可以成像文字XY扫描中心偏差测定及校准：通过绘制实际成像图形计算中心偏差，修改软件参数进行校准，分析理解中心偏差产生的原因扫描图像参数设置及扫描尺寸修正：通过绘制实际成像图形计算尺寸缩放比例，修改软件参数进行修正，并分析尺寸产生缩放的原因测量F-theta透镜焦距；枕形失真和桶形失真；最大扫描范围测定颜色匹配实验，YTR-6304简介颜色是客观存在的电磁辐射作用于人的视觉器官所产生的一种心理感受，涉及到物理学、生物学、心理学等多种学科。使得准确定义和测量颜色存在着诸多困难，因此，人们一直致力于颜色科学的研究，从牛顿引入颜色环的概念到Young-Helmholtz的三原色理论再到1931CIE色度学系统的建立，为色度学的进一步发展做出了巨大贡献，为颜色测量的标准化提供了基础。YTR-6304实验装置主要由微型光谱仪、积分球、制冷钨灯光源、LED光源和电源组成。积分球上由可视化窗口，可以直观的观察到颜色变化的，而光谱仪及其专业的测量软件又可以准确测量颜色的色度坐标。特点可视化的定性观测和专业级色度测量工业等级的光谱仪和光源，既可以用于实验教学又可以用于科学实验实验内容学习和掌握如何对光谱仪和积分球组成的系统进行相对强度校准；了解混色原理和相应定律以及色度学测量原理；LED/LD的光学特性测量；光源的色度学参数测量；可视化验证替代律、补色定律、中间色定律的验证、亮度相加定律；可视化匹配白光。光谱分析实验，YTR-6305简介YTR-6305 SPECKIT光谱分析套件主要由制冷型卤钨灯光源，微型光谱仪、光纤、透过率测量模块，反射率测量模块，标准白板和样品组组成。主要用于固体和液体样品的透过率测量，浓度测量、反射率测量和色度学测量的教学实验。特点模块化和通用化的设计，可以在各个实验功能之间相互切换；工业标准的光谱仪和光源，通用性强，不但可以用于实验教学，也可以用于科学实验。实验内容测量线状谱、带状谱和连续谱光源的光谱曲线测量固体样品的透过率曲线，掌握中心波长、峰值波长和半高宽的等光学特性参数的定义和测量方法测量液体样品的透过率曲线和吸光度曲线以及浓度，掌握测量原理和方法测量样品的反射率曲线和色度学参数，掌握测量原理和方法激光雷达实验，YTR-6307简介激光雷达以激光作为信号源，由激光器发射出的脉冲激光，入射到物体表面被散射开，其中一部分激光被反射按原路返回，从而被雷达的上的接收器所接收。经过不断快速的扫描，以及经过数据成像处理，就可以绘制目标的三维立体点云图。YTR-6307实验装置综合设计采用激光雷达3D扫描技术与红外成像探测技术。实验设计测试多种不同样品以及不同维度的实验以获取距离、反射强度、空间坐标等实验数据，使学生充分掌握激光雷达的原理、特性和相关应用。特点激光雷达3D扫描技术和近红外成像技术相结合，实时观测雷达如何扫描样品丰富，实验拓展性强，帮助学生完成实验的同时可自行摸索开展拓展性实验全面的软件功能，可分析测量：目标距离、激光反射强度、垂直分辨率和水平分辨率实验内容学习和掌握激光雷达成像的基本原理目标物的三维图形识别实验学习和掌握 TOF (Time of Flight)的测量原理，目标位置（距离）和 多个目标物之间相对距离的实验雷达的垂直角分辨率实验雷达的水平角分辨率实验不同距离下雷达分辨目标物的识别能力的实验了解激光雷达计算目标空间坐标的算法研究介质对激光雷达成像影响的实验更多详情,请关注！光通与电流关系曲线量与电流关系曲线量与电流

ETB-05 激光扫描测径仪是一种基于激光扫描测量原理而设计的高精度非接触式的外径测量设备，仪器采用二维测量模式，二路激光束在测量场呈正交设计，有效消除工件震动造成的测量误差，特别适合生产现场的实时测量，广泛应用于通信电缆、光缆、同轴电缆、电力电缆等园形线材的在线检测，也可用于其它各种园形工件外径测量。　　整套设备由三部分组成：测量头、串行通信电缆、显示控制箱，此外，还备有方便用户安装使用的测量头活动支架和测量托架等。测量时由激光器发射出的激光，首先被一个准直系统准直，准直后平行更高的激光束投射至匀速旋转的扫描转镜上，扫描光束经待测工件后形成宽度与工件直径相应的光脉冲，随后光脉冲光电转换，送中央计算机控制系统，计算机对测量数据进行处理，根据要求实施显示、控制。仪器在出厂前，已进行参数初始化，可保证系统长期可靠地工作，测量的系统误差已由计算机精确补偿，测量的随机误差也采用适宜的信号甄别处理技术，不确定度得到有效控制。　　仪器性能指标　　*测量范围：0.2-30mm(ETB-05B)、　　*灵敏度：1um　　*测量精度：±2-5um(ETB-05B)　　*环境温度：4-40℃　　*环境湿度：85%无凝露　　*仪器功耗：小于 50W　　*工作电压：AC220V 50HZ±10%　　*扫描速度：大于 50 米/秒

2轴激光扫描振镜Novanta公司旗下的英国Cambridge Technology的提供高精度激光振镜扫描头，其2D系列振镜包含三个系列：-MOVIA紧凑型振镜扫描头-Versia 2D高级多用途振镜扫描头- Lightning II 2D旗舰高精度高速振镜扫描头1. MOVIA紧凑型振镜扫描头MOVIA紧凑型振镜扫描头突出优点是经济，稳定和高效，其紧凑型的结构非常适合于诸如激光打标，激光微加工等多种应用规格MOVIA-2D-10 mm 镜片通光孔径 10mm 扫描类型 矢量扫描 扫描角度 ±20° 光束位移 12.05 mm 步进响应时间(全角度1%) 210μs 常规打标速度 3m/s （使用160mm F-Theta镜头） 常规定位速度 16m/s 重复精度 3.5 μrad 跟随误差 130μs 线性度 99.9%（在20°扫描范围内） 波长选项+最大功率 CO₂ 激光 :9.2-10.6μm最高125W；光纤激光：1040-1090nm最高125W 绿光：532nm|请与厂家确认 紫外：353-357nm|请与厂家确认 增益误差 5 mrad 零点漂移 5 mrad 长时间漂移 100 μrad 长时间比例漂移 150 ppm （30分钟预热后，24小时运行，单轴） 温度偏差漂移 20 urad/*c 温度比例漂移 20 ppm/℃ 指令比特率 16位 通信接口 XY2-100 IP等级 IP50 电源需求 ±15V,3A RMS 工作温度 15°℃-35*℃ 重量(近似值) 1.5kg 尺 寸 ( L x W x H） 114mmx94mmx86mm2. Versia 2D高级多用途振镜扫描头Versia高级多用途振扫描头采用了双向通信协议，可适配模拟控制卡或数字式控制卡，可适配更大孔径，更高激光功率，可对指定应用单独优化。规格Versia-2D-14 mm 镜片通光孔径 14mm 扫描类型 矢量扫描 扫描角度 ±21° 重复精度 2 μrad 长时间漂移 25 μrad 长时间比例漂移 40 ppm （30分钟预热后，24小时运行，单轴） 温度偏差漂移 10 urad//℃ 温度比例漂移 10 ppm/℃ 波长选项+最大功率 CO₂ 激光 :9.2-10.6μm最高200W；光纤激光：1040-1090nm最高200W绿光：532nm|请与厂家确认 紫外：353-357nm|请与厂家确认指令比特率16 bit(XY2-100) 20 bit (NVL-100) 通信接口XY2-100； NVL-100 IP 等级 IP54 电源需求 48V,5A RMS 工作温度 15°℃-40 ℃ 重量(近似值) 2.12kg 尺 寸 ( L x W x H） 99mmx99mmx132.20mm 优化举例 激光微加工-OLED面板 步进响应时间(全角度1%) 400μs 最大速度 80rad/s 循迹误差 230μs3. Lightning II 2D旗舰高精度高速振镜扫描头Lightning II即“闪电2代”是我们的旗舰数字驱动激光扫描头，同时具备快速，高精度和长时间稳定工作的优点。是钻通孔，增材制造，微加工等应用的理想工具。Lightning II参数指标：型号:Lightning II 2D14 mm20 mm25 mm30 mm镜片通光孔径14 mm20 mm25 mm30 mm扫描角度±22°±20°±17°±20°步进响应时间0.36 ms0.37 ms0.36 ms0.55 ms常规工作速度50 rad/s50 rad/s50 rad/s50 rad/s波长选项355nm/532nm/1030-1080nm/9.4-10.6μm 宽带:350nm-12μm重复性1 μrad抖动1 μrad长时间漂移10 μrad温度漂移2 μrad/℃线性度99.9%定位分辨率24-bit数字通讯接口GSBus or XY2-100状态信号反馈Status Signals Position Acknowledge,System Ready指令分辨率24-bit(GSB)or 16-bit(XY2-100)水冷温度20.0 ℃±2.5℃冷却水需求蒸馏水，含缓蚀剂，如Optishield Plus或同等产品电源需求+15V to +48V DC,3A RMS each,6A peak工作温度15°℃ to 35℃增材制造 激光微加工

卓越的速度、精度、分辨率及动态响应范围线激光扫描是一种非接触式、无损测量技术，它使用3D光学传感器以数字方式捕获扑捉线激光照射后的物体大小和形状。这与使用点激光传感器的OGP激光扫描技术完全不同。这两种技术都可以从物体表面创建数据“点云”，但线激光扫描仪的速度要快得多，并且通常具有更高的点密度。传统点激光扫描需要大量时间在物体表面往复移动获得物体表面的数据。然而，使用线激光扫描仪，一次就可以获得整条线的坐标点数据，通过激光线的移动，就可以将多条激光线的坐标点数据整合为物体表面点云。所有ShapeGrabber3D激光扫描仪均需要选择满足测量需求的合适扫描头。

HPLK三轴动态激光扫描系统专为大幅面激光扫描加工设计主要特点：· 最高级的高速应用· 超高精度和稳定性· Z轴焦点动态控制· 快速成型· 超大面积激光加工· 柔性电路板，包装标签等切割主要技术指标：激光类型CO2HPLK1350(-9,-17)CO2HPLK1330(-9,-17)YAGHPLK2330TYH/HeCdHPLK4320DYH/Ar+HPLK5320波长10600nm10600nm1064nm325-355nm488-532nm扫描头孔径(mm)5030302020扫描范围(mmxmm)100~2000100~2000100~3000100~2500100~3000可接受光束直径(mm)9,179,1761.3-3.32.4最大功耗cw(W)200,500+100,200,500+1508080增益漂移(ppm/º C,typ.)25零漂(&mu mR/º C,typ.)3定标打标面积(mmxmm)400焦点大小(&mu m)210350401630重复性(&mu m)12

空区激光扫描仪ZDC3.0采用高性能测量装置与平板计算机结合，能够获得更高的成像解析度。空区激光扫描仪ZDC3.0适用于煤矿井下采掘工作面，回风巷道，机电峒室等工作环境。仪器采用了功能优越、可靠性高的芯片来实现整体的功能，可实现距离、面积、体积、角度的测量。具有体积小、重量轻、便于携带，使用简捷、维护方便，密封性能好、安全可靠等特点。测量终端和配套用的平板计算机通过蓝牙传输数据，两者协同使用，数据测量更便捷、准确、直观。结果可转为各种图纸文档保存转载查看，提供数据测量一体化解决方案。测量装置经国家指定的法定权威机构审查及检验。适用范围煤矿井下采掘工作面回风巷道。机电峒室特点1.蓝牙数据传输空区激光扫描仪ZDC3.0具有采集测量数据并通过蓝牙传输至平板计算机的功能；2.智能绘图具有根据上传数据绘制图纸的功能；3.多参数测量具有距离、面积、体积、角度测量功能；4.测量储存具有储存、查看、删除功能；5.音频功能具有摄像、录音、拍照及音视频播放功能

本设备利用激光、显微镜、精密扫描组件、时间分辨数据采集技术和图像处理技术获得样品不同位置的荧光强度及寿命。利用定点激发技术，可以观测载流子迁移。是一种高性能、高扫描速度、高灵敏度的荧光成像仪器。一、系统主要技术指标1.激光扫描振镜模块1） 激光光纤输入，配电控光阑系统2）激光扫描成像范围∶最高4096x4096像素点3）成像放大倍数（zoom）∶1-32倍4）激光扫描波长范围：400-750nm 2.TCSPC模块1） 时间精度7ps 2） Bin通道数∶40963） 时间窗口50ps-5μs 4） 仪器响应函数（IRF）∶≤:300ps 5） 时间分辨率∶≤50ps 3.高灵敏度单光子检测器模块1） 检测面直径100μm 2） 光谱检测范围400-1000nm 3） 时间分辨率∶50ps（FWHM）4） 量子效率∶45%@550nm 4.稳态光谱检测模块光谱仪（配置可根据客户需求调整）1） 焦长200mm 2） 光谱仪内置两块光栅3） 出口耦合PMT检测器或CCD相机光谱检测模式∶波长扫描采集或CCD采集波长探测范围350-900nm 5.倒置显微镜模块1) 含照明光源、双色片、滤光片等基本配置2) 物镜一套（空气镜）∶100x、60x、20x 3) 最高空间分辨率≤500nm（取决于物镜和激光/荧光波长）6.激光器（可按客户需求选配）1) 单波长皮秒半导体激光器2) 皮秒超连续白光激光器二、应用实例1、荧光强度成像、荧光寿命成像样品：MAPbI3单晶纳米片和MAPbI3纳米线实验条件∶100X objective，pinhole 40μm，Exc∶400 nm，成像模式：共聚焦扫描成像模式样品：二维 SnSe2（微弱荧光材料）实验条件：100X（油镜），激发波长：405nm成像模式：共聚焦激光扫描成像模式 参考文献：Xing Zhou ,et al.,Tianyou Zhai*,Adv. Mater. 2015, 27, 8035–80412、低温舱内的荧光成像样品：MAPbI3 纳米线实验条件：100X，空间分辨率 1μm成像模式：共聚焦激光扫描成像模式 观测到钙钛矿纳米先低温相变过程的空间分布和演化状况3、高压舱内的荧光成像样品：MAPbI3单晶纳米片和MAPbI3纳米线MAPbI3 纳米线不同压力下激光扫描荧光成像 不同压力下荧光动力学曲线 MAPbI3 纳米线不同压力下载流子迁移荧光成像 不同压力下载流子迁移动力学曲线 参考文献：YanfengYin,WenmingTian,*etal.,JimingBian,*andShengyeJin*ACS Energy Lett.2022,7,154&minus 1614、载流子迁移成像实验条件∶100× objective，pinhole 40μm，Exc∶400 nm 样品：钙钛矿纳米片成像模式∶激光定点激发，荧光扫描成像，可获得样品荧光动态演化图5、电致发光成像样品：CdSe量子点LED 6、光电流成像实验条件∶405nm连续激光器，激光强度调至最弱，60x物镜下测量结果2D（ITO/SnO2/QW/Spiro-Au）结构的太阳能电池光电流成像图

Novator系列影像仪激光扫描3d成像智能化和自动化程度高，使测量变得简单。在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取，在保证精度的前提下，可以自动抓取产品的边界和表面，测量效率更高。Novator系列影像仪激光扫描3d成像将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，支持频闪照明和飞拍功能，1-2S自动聚焦速度快，处理去毛刺、弱边界等复杂边界提取能力强，可进行高速测量，并融入中图闪测仪的拼接测量功能，结合可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面，同时测量效率提升5~10倍。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。Novator系列影像仪激光扫描3d成像自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。高度尺寸测量Novator系列影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度尺寸测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

手持式激光三维扫描仪,手持式三维扫描仪,汽车三维扫描仪,汽车钣金CAV检测,汽车四门两盖扫描CAV检测,汽车厂整车三维扫描检测蔡司ZEISS T-SCAN 手持式激光扫描仪产品详情 Product Information 由于手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN CS的应用，使得快速、直观和高度精确的3D扫描在坐标测量技术中进入全新的高度。全面革新且一体化的设计理念，包括完美匹配的辅助装置（跟踪仪、手持式扫描仪和接触式测头），为种类繁多的应用提供了最大的灵活性。高性能的软件平台colin3D能够在整个测量过程中，始终如一地保持高效并始终坚持以项目为导向的操作过程。面向用户的、人性化的系统设计和易于操作的高效数据采集 ZEISS T-SCAN激光扫描仪的设计完全符合人体工学原理。可根据操作者的需求量身定制，保证了扫描过程直观、无疲劳感。由于配备了重量轻、结构紧凑的测头，该系统非常适合于数据捕获，即使最难以到达的区域也不例外。 优秀的技术特性，例如，针对各种对象的表面进行高动态范围内的数据采集，而其所具有的迄今不可见的数据速率可以达到无可比拟的扫描速度并得到精确的测量结果。手持式测头进行快速点测量 ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量点，使其成为在物体区域内进行单点测量的完美解决方案，如（修剪）边缘和规则的几何形状。该装置可与传统的测头一起使用，测头更换更加简单、快速。动态参考 即使在移动的物体上也能得到高精密的三维数据记录，通过采用动态参考功能，在恶劣的环境条件下可以独立执行测量工作，如振动（生产环境中，例如冲压车间或加工部件：对移动车门的密封进行测量）。通用软件接口 从数据采集到数据处理，至数据比较 - ZEISS T-SCAN系统可以通过众多直接的实时接口进行控制。因此，可以轻松集成到现有的工艺流程中。用于不同的测量体积的光学跟踪系统 从小型到大型的物体 - 系统配置“CS+”和“LV”，为您的个人测量应用提供理想解决方案。 ZEISS T- TRACK CS+“plus”体现的灵活性、ZEISS T-TRACK LV大范围跟踪仪 ZEISS T-TRACK CS +光学跟踪系统与所有其他系统组件进行优化匹配，因此开辟了广泛的测量应用领域。 极高的数据处理速率使测量具有最高的速度，有利于最大限度地减少物体扫描过程的时间。通过采用创新型扫描和跟踪相结合的独特大范围测量，您将在光学三维数字化中获得全新的视角。 现在您可以更快、更容易地记录大型物体的3D数据-手持式激光扫描仪的高扫描速度和高达35立方米的跟踪范围，为您进行有效的测量处理提供最大可能的运动自由。主要技术参数测量景深±50mm线宽达到125mm平均工作距离150mm激光线频率达到330Hz数据获取速率210.000点/秒重量1100g测量尺寸300x170x150mm标准电缆长度（扫描仪-PC）10m平均点间距0.075mm每行点数1312激光类型二极管波长658纳米激光等级2M软件ZEISS colin3D

高精度便携式激光扫描系统非接触式测量Cobra™ 2D是一款便携式激光扫描仪，Cobra使用低功率高精度激光，可提供高分辨率的线性轮廓测量，因此非常适合具有关键表面轮廓尺寸测量要求的易碎或柔韧零件可的现场测量。Cobra速度快，可以轻松测量高度、长度、坡度和半径。精确的表面轮廓Cobra™ 使用低功率激光扫描零件表面并提供精确的表面高度信息。可选激光传感器DRS™ 激光器提供可选用的一系列分辨率和距离，以满足各种应用。实时成像可选摄像头，用于对被测部件进行轴上成像。在测量时查看激光光斑在零件表面路径。15×放大倍率下的同轴LED表面照明，可实现完美的图像对比度，并可通过Scan-X软件进行调节。技术参数扫描长度和Z轴调整范围标准扫描长度-X轴NA，Y轴50毫米Z轴调整范围-50毫米激光扫描分辨率标准0.125μm扫描速度标准5毫米/秒。在30μm间距的镜面软件Scan-X® 传感器和附件激光传感器DRSLasers

高精度3D小型激光扫描系统Cobra™ 3D可提供小面积分析从而获取零件的更多信息。Cobra3D可测量X轴和Z轴的轮廓，激光扫描分辨率可达0.125微米。Cobra3D用途广泛，可置于台面或安装在定制系统上。精确的表面轮廓Cobra™ 使用低功率激光扫描零件表面并提供精确的表面高度信息。可选激光传感器DRS™ 激光器提供可选用的一系列分辨率和距离，以满足各种应用。实时成像可选摄像头，用于对被测部件进行轴上成像。在测量时查看激光光斑在零件表面路径。15×放大倍率下的同轴LED表面照明，可实现完美的图像对比度，并可通过Scan-X软件进行调节。技术参数扫描长度和Z轴调整范围标准扫描长度–X轴100毫米，Y轴50毫米Z轴调整范围–50毫米激光扫描分辨率标准0.125μm扫描速度标准5毫米/秒。在30μm间距的镜面软件Scan-X® 传感器和附件激光传感器DRSLasers

仪器简介：适用行业及具体应用: 汽车研发实现整车扫描，逆向，设计，造型。 汽车零部件（内饰件，车灯，发动机及其他零部件）扫描造型。 玩具，五金家电，航空，运动器材，陶瓷等模具及产品开发。 古董，工艺品，雕塑，人像制品等快速原型制作。 机械外形设计，医学整容，人体外形制作，人体形状测量。技术参数：测头重量：小于400克 采样速度：每秒高达26000点 测量景深：100-200mm 测量精度：0.05mm(2&sigma ) 重复精度：0.02mm(3&sigma ) 使用环境：0-45℃，相对湿度70% 结构轻巧，紧密，经久耐用 用于扫描和即时目标捕获提供方便，快捷，舒适，自由的使用方法 确保在恶劣条件下和不同车间环境中的测量精度 轻便耐用可以在任何地方进行测量提供高效的单人操作 多功能性：能在封闭或拥挤车间等恶劣环境下的使用主要特点：柔性激光扫描测量系统基本系统包括Axxis的柔性三维关节臂、Scaner激光扫描测头。主要功能是对物体进行激光扫描测量。目前市场上有多种点云处理软件可与柔性测量系统匹配，如Raindrop Geomagic、Imageware Surfacer、Delcam CopyCAD等。如配以Delcam PowerINSPECT、PowerINSPECT Lite或，柔性测量系统集成了以下主要功能： （1）三坐标测量机（CMM），主要是对物体边界、特征量的测量（一般无法对复杂曲面进行准确测量） （2）三维扫描，主要是对曲面的测量(一般无法对边界进行准确测量) （3）计算机辅助检测（Computer Aided Inspection，即CAI），主要是在某些应用中替代传统检具（比传统的检测方法要快许多） 柔性激光扫描测量系统不仅功能强大、一机多用，而且测量柔性极好，对使用环境和操作技能无特别要求（几乎无测量死角），可用于生产车间和一般设计室，可对小至耳塞大至汽车的测量，可将边界测量（接触式）和复杂曲面测量（激光扫描）结果方便地结合起来，是目前市场上性能价格比最好的三坐标测量和检测系统之一。

非接触式独立激光测量系统Lazer200是一种创新的非接触式测量系统，它使用激光扫描和影像同时进行表面形貌测量。DRS™ 激光器可对关键零件表面进行高质量的非接触式激光扫描。Lazer系统采用创新的“升降桥”设计，在有限的紧凑空间内打造尽可能大量程的系统。基体轴向直线度和垂直度的保证，使DRS激光在整个Z轴行程的扫描过程中保持在捕获范围内。集成的影像系统用于定位零件、设置基准、选择激光扫描起始点和一般测量。技术参数XYZ行程(MM)标准扫描长度-X轴NA，Y轴50毫米Z轴调整范围-50毫米照明标准线性白光LED表面，LED台激光扫描结果标准0.125μm软件ZONE3MeasureMind3DMeasure-X传感器和附件激光传感器DRSLasers

Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire NIR，搭载有685nm和784nm两个固态激光器作为近红外波段激发光源，仪器可选配PI模块用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像），也可选配CCD模块，用于传统化学发光成像。同时，仪器还可选配Q模块，加配520nm通道激光器，升级为Sapphire NIR-Q，用于总蛋白染色成像和绿色荧光通道成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时扫描，也可逐通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire NIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。通过选配CCD模块、PI模块和Q模块，仪器应用范围将拓展到化学发光成像、可见光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像）以及总蛋白染色成像等。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

Sapphire FL 从分子检测到活体成像是专为应用灵活性研发的终极激光扫描成像系统。基于定制化、用户可自主更换的激光器和滤光片模块，Sapphire FL可轻松满足客户多样化、深入的科研需求。Sapphire FL具有定制化的、用户可自主更换的光学模块，5-1000μm的扫描分辨率，-1.0 至+6 mm的Z轴扫描功能，用于活体成像的5个麻醉输出端口以及化学发光检测模块等。 产品特点应用灵活，兼容多种样本类型：高分辨率成像、超大样品仓设计，支持从分子检测到活体成像样品类型。 定制化，可升级，颠覆传统设计理念：可根据需求选择合适的模块。可轻松替换激光器及滤光片，兼容更多种类的荧光染料。可升级化学发光模块配置。 超宽动态范围（EDR）模式分辨细微表达差异：可将动态范围扩展至24bit，在保证强信号不过饱和的前提下，极大提高同时获取强弱信号的能力。 高灵敏荧光检测：支持常规荧光染料的飞克级检测灵度。助力客户获取高质量的定量数据。 应用Sapphire FL激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片，活体成像等等。仪器支持近红外荧光，可见光，磷屏成像（放射性同位素自显影成像），同时可升级化学发光模块。

NS3500L 大面积高速3D激光扫描仪 NS-3500L 是一种准确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Specification(规格）：ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 1宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 2帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg注 1 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（步长1μm）进行100次测量 注 2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（5μm间距）进行100次测量。

Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现2.5D和3D复合测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire RGB，搭载有488nm、520nm和658nm/685nm（选配）三个固态激光器作为RGB可见荧光波段激发光源，仪器可选配PI模块用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像），也可选配CCD模块，用于传统化学发光成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时扫描，也可逐通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGB激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块，用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块，仪器可用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像）。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

FreeScan Trak ProL跟踪式激光扫描系统，延续了FreeScan Trak Pro2高精度且重复性精度稳定、无需贴点、扫描快速等优势，并进一步扩大了测量范围，单站跟踪范围扩大至128m³ ，适用于大型工件的三维测量，在进行完整数据获取时可以减少转站次数，提高效率的同时保证数据准确性，适用于航空航天、汽车工业、轨道交通、能源领域等制造业的大型3D测量场景。产品特点：&bull 动态追踪，无需贴点系统可实时跟踪定位扫描头，扫描过程中无需粘贴标志点。&bull 智能交互，提升体验配置智能屏幕可显示自定义信息，优化算法实现孔位/边界优化功能。&bull 超大范围，高效扫描扩大单站跟踪范围(可达128m³ )，大幅减少大型工件扫描的转站次数。&bull 高精度，且高精密度扫描仪精度可达0.023mm，重复性精度稳定满足测量要求。&bull 快速扫描，高效高质50条交叉蓝色激光线快速扫描，扫描速度最高可达368万点/秒。&bull 精细扫描，还原细节7条平行蓝色激光线精细扫描，轻松获取工件的完整细节数据。&bull 实时网格，所见即所得扫描过程中，数据以实时网格呈现，节省点云封装时间，快速导出stl数据。&bull 智能色谱，简洁明了智能色谱清晰展示数据获取完整度，引导式软件简洁易用且可在线更新。

NS3500G 大型非接触式3D激光扫描仪NS-3500G 是一种准确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。 Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析 Specification(规格）：ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 1宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 2帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~200 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg 注1 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（步长1μm）进行100次测量 注 2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（5μm间距）进行100次测量。

FARO FocusS 350 Focus S 系列是法如受欢迎的,简约轻便且直观的产品线中最新的三维激光扫描仪,这个系列的设备是现在市场上最有远见的三维激光扫描仪,增加了多种以客户为中心的特色功能,如IP防护等级(IP54)扫描精度和范围增加,内部附件接口和内置的现场补偿. Focus S 350 将法如最知名的三维激光扫描仪特色与现今最具创新的特色相结合,在室内和室外环境中扫描都是真正动态,快技术参数技术参数：扫描范围：0.6-350mHDR照片记录：2x/3x/5x测量速度：高达976000点/秒测距误差：±1mm防护等级：IP54级内置补偿功能配件支架测角精度：（垂直/水平角）19 arcsec内置彩色相机：高达1.65亿像素激光等级：1级重量：4.2KG多传感器：GPS、指南针、高度传感器、双轴补偿器尺寸：230x183x103mm扫描仪控制：通过触摸屏或WLAN控制