胶水折射率测定仪

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胶水折射率测定仪相关的厂商

  • 食品 添加剂 发酵产品 食品测量仪器生产销售的产品主要有:德国MN原装进口测试条、糖度计、工业电导率仪、水质检测系列、工业PH计、重金属检测、COD测定仪、氨氮的测定、臭氧比色计、PH试纸、双氧水试纸、过氧乙酸检测试纸、余氯试纸、DPD余氯测试盒、亚硝酸盐试纸、臭氧试纸、COD比色管、水硬度试剂盒 糖度计、切削液、冰点仪、酸度计、PH计、盐度计、折光仪、折射仪。同时代理德国MACHEREY-NAGEL (MN)公司原装进口QUANTOFIXR半定量测试条 系列产品。   广泛应用于城市供水、食品饮料、环境、医疗、化学、制药、热电、造纸、养殖、生物工程、发酵工艺、纺织印染、石油化工、水处理等领域的水质现场快速检测。
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  • 兴化市精泰仪器仪表有限公司是一家专注于水分测定仪事业发展的高科技企业,产品涵盖: 快速水分测定仪、水分仪、水份仪、水份测定仪、水分测试仪、水分检测仪、水分测量仪、卤素|红外线水分测定仪、塑胶水分测定仪、粉体含水率测定仪、制药水分分析仪、玉米水分测定仪、饲料水分测定仪、混凝土含水率测定仪、墙体水分测定仪、纺织原料水分仪、纱线皮革布料水分仪、回潮率测定仪、肉类水分测定仪、树脂|橡胶|尼龙|硅胶水分测定仪、木炭|活性炭|煤炭水分测定仪、污泥含水率检测仪、淀粉水分测定仪、食品水分测定仪、油茶籽水分测定仪、茶叶水分测定仪、碳酸钙水分检测仪、烟草水分测定仪、月饼馅料水分仪、铸造型砂水分仪、金属粉末水分测定仪、电池极片水分测定仪等。 精泰牌水分测定仪具有外观鲜明、结构合理、质量可靠、价格合理等特点。精泰系列水分测定仪广泛应用于各行各业需要快速检测水分的领域,精泰牌水分测定仪既适用于实验室的精确测量,亦适用于现场的快速测定,大大地提高了企业用户的工作效率;精泰产品的运用大大促进了企业生产过程中产品质量的提升。 作为国内水分测定仪行业知名品牌,兴化市精泰仪器仪表有限公司一直致力开发、研制新产品,采用国际先进技术使产品性能不断提高,以适应更精确、更大范围的应用。精泰牌水分测定仪靠着良好的口碑深受用户青睐。在各级政府的关怀和大力支持下,我公司的产品成功地打入澳大利亚、德国、新西兰、越南等国际市场。精泰牌水分测定仪在国内销往全国各地30多个省和地区:江苏省、浙江、安徽、福建、河北、山西、辽宁、吉林、黑龙江、江西、山东、河南、湖北、湖南、广东、海南、四川、贵州、云南、陕西、甘肃、青海、台湾省、内蒙古、宁夏、新疆、西藏等地。
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胶水折射率测定仪相关的仪器

  • 石油产品折射率测定仪(RA-620/RA-600)Automatic Digital Refractometer石油产品折射率测定仪(RA-620/RA-600) 适用标准:GB/T 6488-2022 液体化工产品 折光率的测定。GB/T 614-2021 化学试剂 折光率测定通用方法。GB/T 5527-2010 动植物油脂 折光指数的测定。GB/T 13531.7-2018 化妆品通用检验方法 折光指数的测定。SH/T 0724-2002 液体烃的折射率和折射色散测定法。SH/T 0205-1992 电气绝缘液体的折射率和比色散测定法。SH/T 0729-2004 石油馏分的碳分布和结构族组成计算方法(n-d-M法)。NB/SH/T 0838-2010 未使用过的润滑油基础油及无沥青质石油馏分中稠环芳烃(PCA)含量的测定 二甲基亚砜萃取折光指数法。SN/T 0041-2011 出口石脑油PONA值检验方法 第4部分 比折光度法测定饱和烃馏分中的环烷烃。MH/T 6114-2017 除冰防冰液折射率测定方法。ASTM D1218, D1747, D3321, D4095, D4542, D5006, D524, D542ASTM D1218-21 Standard Test Method for Refractive Index and Refractive Dispersion of Hydrocarbon Liquids(液态烃的折射率和折射分散度的测试方法)。ASTM D1747-09(2019) Standard Test Method for Refractive Index of Viscous Materials(粘性材料折射率的试验方法)。ASTM D4095-97(2020) Standard Practice for Use of the Refractometer for Determining Nonvolatile Matter (Total Solids) in Floor Polishes(测定地板擦亮剂中的不挥发物质(总的固体物质)用折射计的标准实施规程)。ASTM D5006-11(2021) Standard Test Method for Measurement of Fuel System Icing Inhibitors (Ether Type) in Aviation Fuels(测量航空燃料中燃料系统结冰抑制剂(醚型)的试验方法)。石油产品折射率测定仪(RA-620/RA-600) 主要特点:1. 自动折射仪具数字式触摸液晶屏,显示折射率度和浓度。2. 内置自动恒温控制,外形轻巧,操作容易,测定速度快。3. 使用LED光源不需更换灯泡,测量棱镜为蓝宝石耐磨损。4. 自动折射仪符合GLP规范,存储结果、检查和校正纪录。5. 折射仪可输入折射率和温度对照表,自动补偿试样折射率。6. 折射仪可输入折射率和浓度对照表,自动换算试样的浓度。7. 标配防挥发盖板,可防止易挥发性的样品造成检测的影响。8. 中文的操作界面,简单的测试方法,高精度的结果和履历。石油产品折射率测定仪(RA-620/RA-600) 技术参数:数字式折射率测定仪(RA-620)测量范围: 折射率: 1.32000~1.58000nD, 糖度: 0.00~100.00%。准确度: 折射率: ±0.00002nD,糖度(Brix): ±0.014%。重复性: 折射率: ±0.00001nD,糖度(Brix): ±0.01%。分辨率: 折射率: 0.00001nD,糖度(Brix): 0.01 %。温度控制范围: 5~75°C,内置帕尔贴控温装置。温度分辨率: 0.01°C。数字式折射率测定仪(RA-600)测量范围: 折射率: 1.3200~1.7000nD, 糖度: 0.00~100.00%。准确度: 折射率: ±0.0001nD,糖度(Brix): ± 0.1%。重复性: 折射率: ±0.0001nD,糖度(Brix): ±0.1%。分辨率: 折射率: 0.0001nD,糖度(Brix): 0.1 %。温度控制范围: 5~75°C(可选5~100°C),内置帕尔贴控温装置。温度分辨率: 0.1°C。测定方式: 光折射臨界角检出方式。光源: LED钠光谱D线(589.3nm)。最小样品量: 0.2mL。接触样品材质: 蓝宝石棱镜,不锈钢SUS316样品台。显示: 4.7寸彩色背光液晶显示器。控制方式: 触摸屏控制方式。界面: LAN, USB, RS-232C。电源: AC100~240V,50/60HZ, 20W。尺寸: 191(W)x281(D)x161(H)mm。重量: 约5kg。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557
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  • (数显型)阿贝折射仪 DR-A1-Plus 是 ATAGO(爱拓)传统型阿贝折射仪的升级版。采用数字显示屏,读数清晰快速,与ATAGO(爱拓)传统型目镜式阿贝折射仪相比,减少人为读数误差。ATAGO(爱拓) 阿贝折射仪 DR-A1-Plus ,同时显示折射率(nD)、Brix值和温度(℃),视野明亮,更适用于测量非均一性溶液、深色样品等。【产品参数】产品型号 DA-A1-Plus产品货号1311测量范围 折射率(nD ) 1.3000~1.7100 Brix:0.0~100.0%(自动温度补偿)分辨率 折射率(nD ): 0.0001,Brix:0.1%测量精度 折射率(nD ):±0.0002,Brix:±0.1%测量温度5~50℃温度精度±0.2℃环境温度5~40℃输出打印机或计算机(通过RS-232C连接)电源AC适配器(100~240V,50/60Hz,AC输入)功率16VA尺寸与重量13×29×31cm,6.0kg(仅主机)10.5×17.5×4cm,0.7kg(AC适配器)选配件循环恒温水浴 60-C5【货号:1923】数字打印机 DP-63(C)【货号:3136】【ATAGO(爱拓)阿贝折射仪系列(数显型)】ATAGO(爱拓)阿贝折射仪(数显型) DR-A1-Plus ATAGO(爱拓)阿贝折射仪(多波长) DR-M2/M4(最高1,100nm)ATAGO(爱拓)阿贝折射仪(多波长) DR-M2/M4(最高1,550nm)ATAGO(爱拓)阿贝折射仪系列作为ATAGO(爱拓)的经典产品,广泛应用于石油工业、油脂工业、液晶聚合物、制药工业、制漆工业、日用化学工业、制糖工业和新材料检测等部门的检测与分析,更是科研教学、高等院校常用教学设备之一。
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  • PR-RI PALETTE系列数显折射计我们ATAGO产品袖珍型产品中长期畅销商品的PAL系列增加了新产品, 就是测量折射率的PAL-RI.适合在药品及化工制品等以折射率来管理产品质量的过程中使用. 型号PR-RI货号3480测量范围折射指数(nD)1.3306 至 1.4436溶解值折射指数(nD) 0.0001测量准确度折射指数(nD)± 0.0002(在20度摄氏使用水时)环境温度10 至 40° C测量温度5 至 45° C(溶解值 1° C )样本量0.3 毫升测量时间3 秒电源006P 蓄电池 ( 9V )国际保护等级 IP64 无尘且对泼溅的水具防护作用。尺寸重量17× 9× 4公分, 300公克(不含零件的重量)ATAGO(爱拓)全新的PAL-39S双氧水浓度快速测定仪双氧水折光仪使用折光原理快速方便的检测双氧水浓度,只需要0.5ml左右的样品,滴加之后3秒钟显示测量结果,手持便携,易于操作。PR- 50HO双氧水浓度测定仪双氧水折射计具有更高的精度和使用寿命,可快速方便的检测双氧水浓度,只需要0.5ml左右的样品,滴加之后3秒钟显示测量结果,通过电池设计,手持便携,易于操作,测量精准。更多使用与应用信息请联系日本ATAGO(爱拓)种豆浆的Brix值大约 10%4.测量豆浆的浓度1.在做豆腐前测量豆浆的浓度2.在做豆腐前需测量豆浆的浓度,折射计可以快速提供测量结果*由于制造流程或使用的豆子原料的不同,豆浆在制作过程中的糖度( Brix )值会发生变化ATAGO爱拓 中文官网:ATAGO 日本总部官网: 关于爱拓(日本ATAGO)成立于1940年的日本ATAGO(爱拓),半个多世纪以来不断地致力于研究和开发多样化的,应用广泛的光电测试仪器,其主要产品为折射仪,旋光仪及基于折射仪测定各种物质浓度的衍生产品浓度计。ATAGO(爱拓)产品的应用涵盖食品饮料,果蔬加工,糖业,日用化工,生物制药,临床检验,石油化学到金属制造等许多领域,在世界处于领先地位并占据最大市场份额,ATAGO(爱拓)产品的设计与制造过程遵循ISO9000质量体系认证,所有ATAGO(爱拓)产品在离开厂房时均经过严格彻底的检验,产品品质卓越,耐用性超群,长久以来,凭借优秀的品牌知名度,ATAGO(爱拓)产品不断获得来自全世界一百多个国家客户的完全信赖.关于爱拓中国(ATAGO CHINA Ltd.)2011年ATAGO(爱拓)中国分公司的成立和正式运行(全称广州市爱宕科学仪器有限公司),将使广大国内用户能够快速地购买产品,获得使用指导和维修服务。 #ATAGO (爱拓)在线折光仪# ----PRM-100a"荣获&ldquo 2012年度食品工业技术创新奖仪器厂商&rdquo 称号。
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胶水折射率测定仪相关的资讯

  • ATAGO(爱拓)REPO-5 折光旋光一体机新品上市 -----测定香精香料的折射率和旋光度
    一台顶三台,一台仪器三种测量显示参数 由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布的GB/T 14454 《香料通用试验方法》中的第四、第五部分使用折光法和旋光法的方法对香料进行折光指数测定。 各香精生产企业、卷烟生产企业为控制烟用香精的质量,通常需进行相对密度、折光指数、溶混度等物化指标的测定,折光指数是有机化合物的重要物理常数之一,作为液体纯度的标志,折光指数的测定受温度影响较大,若不在20℃恒温检测的情况下,折光指数的检测结果要进行换算,发现换算值与20℃恒温测定值存在较大的差异,折光指数和密度属于凝聚型性能,与分子结构密切相关,且具有相同的结果基础,因此,两者之间必然存在着一定的关系。 香精香料公司生产了一系列的产品以满足不同的应用,如:冰淇淋、饮料、休闲食品、休闲食品、糖果和家庭用品等,几乎所有的香精香料公司都需要对他们的原材料、半成品和成品进行纯度和一致性测试。一种理想的测试技术是密度/折光率,利用折光旋光仪联用测量系统,可以在短时间内完成对一种物质,提高了测量的效率,同时可作为符合HACCP规范的重要安全指标。 RePo-5折光旋光仪可测量仪器显示3种测量结果:折射率,Brix%和旋光度。适合于化工领域任何需要检测上述参数的样品,比如香精香料行业、化工原料行业等。其原理是根据旋光和折射率的检测原理样品。用户只需在样品槽内放置3ML的样品,按下START按钮,即可测量旋光性和折射率。折光旋光仪自动计算折射率、国际标准糖度、比旋光度、浓度。如果预先设定了上限和下限值,当样品超过设定范围,仪器也可以灯光报警。帮助香精香料生产企业、研究行业观察仅靠Brix无法查看的旋光度、折射率的构成成分比例。 国家标准规定中GB/T 14454.4-2008 《香料 折光指数的测定》,GB/T 14454.5-2008 《香料 旋光度的测定》,对香精香料产品既需要测试折光,又需要测试旋光的联用测量方法。 产品参数货号5015型号RePo-5 检测对象 折射率(化工原料) 测量项目旋光度,Brix (%),折射率,温度 主要特点 仪器显示3种测量结果:折射率,Brix%和旋光度。适合于化工领域任何需要检测上述参数的样品,比如香精香料行业、化工原料行业等。 测量范围AR旋光度: -5.00 至 +5.00°Brix (%): 0.0 至 85.0%折射率: 1.3278 至 1.5093温度: 15 至 40℃ 分辨率 AR旋光度: 0.01°Brix (%): 0.1%折射率: 0.0001温度: 0.1℃ 测量精度AR旋光度: ±0.1°(at 20℃)Brix (%):±0.2%折射率: ±0.0003 (1.3330时)温度: ±1℃ 温度补偿范围 Brix (%): 15 至 40℃测量时间12 秒环境温度15 至 40℃存放温度0 至65℃样品量3ml测量波长589nm光源LED电源四节AAA碱性电池防水等级IP 64规格101 x 160 x 38mm, 325g (仅主机) 欢迎用户邮寄样品资料,进行样品测量检测,ATAGO(爱拓)超过200种产品应用解决方案。
  • 什么是brix值及brix值与折射率的换算
    什么是Brix值?折射计测量的是溶液的折射率。Brix标度实际上是表示是蔗糖水溶液的浓度。而在大多数溶液中除蔗糖外,可能还包括盐、矿物质和蛋白质等,Brix值表示溶液中总的可溶性固形物的含量。对于特定的样品,如切削油或其他工业产品,可通过建立Brix值与样品实际浓度的转换关系进行测量。Brix(%)值与折射率(nD)换算表%n 20D%n 20D%n 20D01.33299351.39032701.4654611.33442361.39220711.4679021.33586371.39409721.4703731.33732381.39600731.4728541.33879391.39792741.4753551.34026401.39986751.4778761.34175411.40181761.4804081.34477431.40576781.4855291.34629441.40776791.48811101.34782451.40978801.49071111.34937461.41181811.49333121.35093471.41385821.49597131.35250481.41592831.49862141.35408491.41799841.50129151.35568501.42009851.50398161.35729511.42220861.5067171.35891521.42432871.5094181.36054531.42647881.5122191.36218541.42863891.5149201.36384551.43080901.5177211.36551561.43299911.5205221.36720571.43520921.5234231.36889581.43743931.5262241.37060591.43967941.5291251.37233601.44193951.5320261.37406611.44420 271.37582621.44650 281.37758631.44881 291.37936641.45113 301.38115651.45348 311.38296661.45584 321.38478671.45822 331.38661681.46061 341.38846691.46303 上表所用Brix0-85%与折射率之间的换算值系采用ICUMSA(国际糖分析办法协会,1974年成立)数据。 ATAGO(爱拓)是专业的折光仪/折射仪与旋光仪旋光仪生产厂商,生产多种类型的折光仪/折射仪及旋光仪 旋光仪。提供生产原料及成品的Brix值、折射率、盐度、糖度、物质浓度、旋光度的测量方案!更多折光仪/折射仪/旋光仪旋光仪详情请点击 www.atago-china.com 或致电020-38108256 ATAGO(爱拓)中国分公司 咨询。
  • 如何借助折射率测量技术来提高半导体生产质量
    化学机械研磨/抛光 (CMP) 将化学反应和机械研磨结合在一起,是一项成本高昂且具有挑战性的重要纳米抛光工艺。这一工艺是集成电路制造中关键的使能步骤,对产量和工作效率都会产生影响。CMP 简介抛光工艺使用含氧化剂的浆料完成,氧化剂通常为过氧化氢 (H2O2)。在制造过程中,将晶圆和抛光垫紧密地压在一起,同时使二者各自以略微不同的速度逆时针旋转。将浆料铺在抛光垫的中央,然后结合运用机械操作和化学操作,逐步除去晶圆表面的材料,使晶圆表面局部和整体都顺滑平坦。 使用 CMP 浆料前,先在工厂对其进行混合或稀释。氧化物抛光浆料在购买时通常为浓缩状态,使用前在现场加水稀释,以减少运输和人工成本。一些多组分抛光浆料只能随用随混,因为这些浆料在混合后有效期很短。确保正确地混合至关重要,因为混合效果直接关系到化学反应速率和晶圆抛光速率;混合过程中的任何缺陷都会对可制造性和可靠性产生负面影响。尽管制造点 (POM) 的浆料控制很严格,但后续过程(包括运输、处理和过滤)会影响化学特性,因此需要对浆料进行连续监测,直到抵达使用点 (POU) 为止,以确保实现高产量。这样就需要有效、快速、可靠、准确且经济高效的计量工具和方法,因此许多制造厂选择使用折光仪。如何借助折射率测量技术来提高生产质量折射率 (RI) 测量技术是一种不消耗浆料的连续在线测量方法,可帮助制造厂在传递工艺相关的实时信息时迅速识别出浆料成分错误,从而减少存在风险的晶圆数量。CMP 浆料携带纳米颗粒,其固体含量为 1 - 30%(取决于浆料类型),因此对其中的过氧化氢浓度进行分析极具挑战性。但通过对特定浆料的折射率及温度特性进行标定,RI 测量法可以不惧这些困难条件,成功测量出钨浆料中的过氧化氢浓度并将误差控制在 ±0.03%(重量)以内。此外,与电导率探头测试不同,RI 测量可以监测 H2O2 浆料浓度,该指标可以反映浆料随时间的沉降和降解情况。因此,RI 不仅用于检验产品的质量,也用于监测进厂原始浆料各批次之间的变化,并验证混合 - 添加步骤。部分浆料输送系统拥有一项引人注目的功能,那就是日用槽自动化学品加料功能。维萨拉半导体行业用折光仪的优点维萨拉半导体行业用折光仪为半导体制造环境设计。该仪器尺寸小且不含金属,因此适合在不影响工艺的情况下测量化学物质。维萨拉半导体行业用折光仪适合 CMP 操作,因为:测量数字化,并且不会产生偏差集成了温度测量组件,可确保高精度的 RI 测量可进行直接密度测量设计坚固可靠,可承受过程中的振动,减少测量误差通过内置诊断程序,可即时了解工艺条件拥有流通池(旨在减少甚至消除结垢现象)参考文献多年来, DFS公司一直在 CMP 操作中使用维萨拉半导体行业用折光仪,长期的成功运作证明该设备可靠且准确。“随着工艺节点越来越多地采用 CMP 步骤,我们必须确保输送到抛光工具的浆料的化学特性以及机械特性保持稳定一致,”DFS公司化学技术研发总监Karl Urquhart 解释道,“在线 RI 监测可以评估进料的化学成分,检验混合添加步骤的质量,并且可以通过一次不消耗浆料的实时测量来验证 CMP 浆料是否混合均匀。”针对 CMP 浆料的 H2O2 测量装置于 2013 年在一家大型半导体制造厂中完成安装,用于取代自动滴定法。安装后,该测量设备稳定运行,并且除了正常的冲洗混浆池外,无需进行仪器维护。通常,在安装维萨拉半导体行业用折光仪后,制造厂的晶圆产量可提升约 20%。此外,CMP 浆料受到严格控制,能够提高研磨过程的均匀性。❖ 维萨拉半导体行业用折光仪 PR-33-S适用于半导体液态化学品测量该折光仪外形紧凑,流通池采用改良超纯 PTFE 制成,适用于半导体液态化学品测量。可通过 ¼ 至 1 英寸的皮拉 Pillar 或扩口 Flare 连接。维萨拉半导体行业用折光仪 PR-33-S 用于晶圆洁净室里的化学品浓度监测,通常被安装在混合、清洗、蚀刻和 (CMP) 等机台上。PR-33-S 包含一个超纯改性 PTFE 流通池主体和一根以太网线,不同标准的以太网供电 (PoE) 开关均可通过以太网线向传感器供电,并将数据传输给计算机。PR-33-S 实时监测化学品浓度,当化学品浓度超出规定范围时,立即通过以太网反馈报警。例如,可通过配置低浓度和高浓度警报来控制和延长溶液使用寿命。这里的浓度通过对溶液折射率 nD 和温度测量来确定。PR-33-S 直接通过喇叭形或pillar配件进行安装。PR-33-S 结构紧凑,不含金属,体积小。关键要素:• N.I.S.T. 标准下的可追溯校准及验证,采用标准折射率液体和验证程序进行验证。• 光学核心设计。 • 通过以太网进行数据记录和远程界面操作。• 标准 UDP/IP 通信。• 过程温度范围:-20°C – 85°C (-4°F – 185°F)。• 内置 Pt1000 快速温度测量及自动温度补偿 。

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  • 折射率的问题

    本人新手,最近接手了一台Mastersizer3000激光粒度仪,接到了用干法检测齐多夫定粒度的任务,在马尔文工作站自带的材料库里没有齐多夫定的折射率等参数,后来在网上查到了齐多夫定的折射率为47°(C=1,H20),对C=1,H20这两个参数不理解,不知道该怎么换算成我们平时用到的那种折射率,像水的折射率是1.33,而不是一个折射角角度。望赐教

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    多模光纤跳线,渐变折射率(GRIN)特性集成工业标准级渐变折射率多模光纤窄键FC/PC或LC/PC接头,陶瓷插芯提供?50 μm和?62.5 μm纤芯以供选择?3 mm外部护套长度有1米、2米和5米可选OM1跳线还可以选择3米、10米和20米可以定制跳线Thorlabs的渐变折射率(GRIN)跳线集成了纤芯?62.5μm/包层?125μm或纤芯?50μm/ 包层?125μm的GRIN光纤。根据带宽,这些光纤归类为光学多模(OM)光纤。更多详情,请看光纤规格标签。与阶跃折射率光纤相比,渐变折射率光纤的模态色散较低,非常适合通信应用。而且,它的弯曲损耗也要明显小于传统的多模光纤。纤芯和包层之间的渐变折射率决定了给定波长下的可用带宽。每根跳线包含两个保护帽,以防插芯端收到灰尘污染和其他损害。适合FC/PC终端的其他CAPF塑料光纤帽和CAPFM金属螺纹光纤帽单独提供。如果库存标准跳线不能满足您的应用需求,请看我们的定制跳线网页,定制符合您特殊需求的跳线。In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC光纤规格Item #GIF50CGIF50EGIF625Geometrical and Physical SpecificationsCore Diameter50.0 ± 2.5 μm62.5 ± 2.5 μmCore DiameterCladding Diameter125.0 ± 1.0 μm125 ± 1 μmCladding DiameterCoating Diameter242 ± 5 μm245 ± 10 nmCoating DiameterCore Non-Circularity≤5%≤5%Core Non-CircularityCladding Non-Circularity≤1.0%≤1%Cladding Non-CircularityCoating Non-Circularity-≤5%Coating Non-CircularityCore-Cladding Concentricitya≤1.5 μm≤8 μmCore-Cladding ConcentricityaCoating-Cladding Concentricity-Coating-Cladding ConcentricityCore DopingGermaniumGermaniumCore DopingCoating MaterialAcrylateAcrylateCoating MaterialProof Test≥100 kpsi≥100 kpsiProof TestCore IndexProprietarybProprietarybCore IndexCladding IndexProprietarybProprietarybCladding IndexOperating Temperature-60 to 85 °C-60 to 85 °COperating TemperatureOptical SpecificationsOperating Wavelength800 - 1600 nm800 - 1600 nmNumerical Aperture0.200 ± 0.0150.275 ± 0.015Optical Multimode (OM) TypeOM2OM4OM1BandwidthHigh-Performance EMB (@ 850 nm)c950 MHz?km4700 MHz?km-BandwidthOverfilled Modal Bandwidthd700 MHz?km @ 850 nm500 MHz?km @ 1300 nm4700 MHz?km @ 850 nm500 MHz?km @ 1300 nm≥200 MHz?km @ 850 nm≥500 MHz?km @ 1300 nmAttenuation≤2.3 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @1300 nm≤2.9 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nmMacrobend Attenuation-100 Turns on a ?75 mm Mandrel:≤0.5 dB @ 850 nm and @ 1300 nmEffective Group Index of Refraction1.482 @ 850 nm1.477 @ 1300 nm1.496 @ 850 nm1.491 @ 1300 nmZero Dispersion Wavelength1295 nm (Min)1315 nm (Max)1320 nm (Min)1365 nm (Max)Minimum Zero Dispersion Slope≤0.101 ps/(nm2?km)≤0.11 ps/(nm2?km)也就是所谓的纤芯-包层偏移。非常抱歉,我们无法提供该专利信息。对于高性能的激光系统,每个TIA/EIA 455-220A和IEC 60793-1-49通过minEMBc确保。用于过度充满光纤的LED 。OFL BW, per TIA/EIA 455-220A和IEC 60793-1-41.。更多有关过度充满的信息,请看我们多模光纤教程耦合调节的部分。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制,包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如,接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值,但是,光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南,估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导,用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件;如果有元件并未指定zui大功率,用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该,以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括,但不限于,光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论,请联系技术支持techsupport-cn@thorlabs.com。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时,光会入射到这个界面。如果光的强度很高,就会降低功率的适用性,并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言,高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化,进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件,紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同,与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小,耦合单模(SM)光纤时尤其如此,因此,对于给定的功率密度,入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值:一种理论损伤阈值,一种"实际安全水平"。一般而言,理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下,可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的,但用户必须遵守恰当的适用性说明,并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的,它是光通过光纤的横截面积,包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时,入射光束的直径必须匹配光纤的MFD,才能达到良好的耦合效率。例如,SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm,而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算:SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2= Pi x (1.5μm)2= 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber:Area = Pi x (MFD/2)2= Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平,将功率密度乘以有效面积。请注意,该计算假设的是光束具有均匀的强度分布,但其实,单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状,使得光束中心的密度比边缘处更高,因此,这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源,通过估算的功率密度,就可以确定对应的功率水平:SM400 Fiber:7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71mW(理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18mW(实际安全水平)SMF-28 Ultra Fiber:8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW(理论损伤阈值) 8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210mW(实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果,Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大,降低了光纤端面的功率密度,因此,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤,适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前,必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性,因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下,入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时,没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层,再进入插芯中,而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强,就可以熔化环氧树脂,使其气化,并在接头表面留下残渣。这样,光纤端面就出现了局部吸收点,造成耦合效率降低,散射增加,进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长,出于以下几个原因。一般而言,短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小,且产生更多的散射光,则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险,可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如,光纤跳线),而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如,右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下,两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线),而在1550nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤,有效模场由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的有效模场。因此,其光纤端面上的功率密度更低,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变,这样,多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意,曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是,光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过,这样的应用一般需要专业用户,并在使用之前以较低的功率进行测试,尽量降低损伤风险。但即使如此,如果在较高的功率水平下使用,则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外,光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件,因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射,光在某个区域就会射出光纤,这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高,会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤,允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导,从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角,射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出,从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤,它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象,一般发生在紫外或短波长可见光,尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加,衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知,但可以采取一些列措施来缓解。例如,研究发现,羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化,其它掺杂物比如氟,也能减少光暗化。即使采取了上述措施,所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生,因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品,用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤,损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源,以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前,一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的,没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外,如果是裸纤,使用前应该剪切,用户应该检查光纤末端,确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统,用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好,然后在高功率下使用。熔接质量差,会增加光在熔接界面的散射,从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时,用户应该使用低功率;这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头,有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言,光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作,但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面),光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性,然后再提高输入或输出功率,遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议,有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中,在取得zui佳耦合前,光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时,会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中,可以增大适用的功率,因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备,并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射,或在熔接界面局部形成高热区域,从而损伤光纤。连接光纤或组件之后,应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率,同时周期性地验证所有组件对准良好,耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时,大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出,从而在局部形成产生高热量,进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤,以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如,大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用,因为前者可以提供更佳的光束质量,更大的MFD,且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用,因为这些应用与高空间功率密度相关。GRIN光纤跳线,OM1,纤芯?62.5 μm/包层?125 μm,FC/PC到FC/PCFiberOperatingWavelengthNACoreDiameterCladding DiameterBandwidthAttenuationEGIRaGIF625b800 - 1600nm0.275 ± 0.01562.5 ± 2.5μm125 ±1.0 μm≥220MHz?km@ 850 nm≥500MHz?km@ 1300 nm≤2.9 dB/km@ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nm1.496@ 850 nm1.491 @ 1300 nm有效群折射率如需完整的光纤规格列表,请看上面的光纤规格标签。产品型号公英制通用M31L01渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,1米M31L02渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,2米M31L03渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,3米M31L05渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,5米M31L10渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,10米M31L20渐变折射率光纤跳线,OM1,数值孔径0.275,FC/PC - FC/PC,20米GRIN光纤跳线,OM2,纤芯?50 μm/包层?125 μm,FC/PC到FC/PCFiberOperatingWavelengthNACoreDiameterCladding DiameterBandwidthAttenuationEGIRaGIF50Cb800 - 1600 nm0.200 ± 0.01550.0± 2.5μm125 ± 1.0 μm700MHz?km@ 850 nm500MHz?km@ 1300 nm≤2.3 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nm1.482 @ 850 nm1.477 @ 1300 nm有效群折射率如需完整的光纤规格列表,请看上面的光纤规格标签。产品型号公英制通用M115L01M115L01渐变折射率光纤跳线,OM2,数值孔径0.200,FC/PC - FC/PC,1米M115L02渐变折射率光纤跳线,OM2,数值孔径0.200,FC/PC - FC/PC,2米M115L05渐变折射率光纤跳线,OM2,数值孔径0.200,FC/PC - FC/PC,5米GRIN光纤跳线,OM4,纤芯?50 μm/包层?125 μm,FC/PC到FC/PCFiberOperatingWavelengthNACoreDiameterCladding DiameterBandwidthAttenuationEGIRaGIF50Eb800 - 1600 nm0.200 ± 0.01550.0± 2.5μm125 ± 1.0 μm4700MHz?km@ 850 nm500MHz?km@ 1300 nm≤2.3 dB/km @ 850 nm≤0.6 dB/km @ 1300 nm1.482 @ 850 nm1.477 @ 1300 nm有效群折射率如需完整的光纤规格列表,请看上面的光纤规格标签。产品型号公英制通用M117L01渐变折射率光纤跳线,OM4,数值孔径0.200,FC/PC - LC/PC,1米M117L02渐变折射率光纤跳线,OM4,数值孔径0.200,FC/PC - LC/PC,2米M117L05渐变折射率光纤跳线,OM4,数值孔径0.200,FC/PC - LC/PC,5米
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