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接触电阻率测试仪

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接触电阻率测试仪相关的资讯

  • 绝缘电阻仪器体积电阻表面电阻测试仪使用前都要注意什么?
    绝缘电阻仪器体积电阻表面电阻测试仪使用前都要注意什么?绝缘电阻仪器体积电阻表面电阻测试仪使用前请仔细阅读以下内容,否则将造成仪器损坏或电击情况。1. ◇检查仪器后面板电压量程是否置于10V档,电流电阻量程是否置于104档。2. ◇接通电源调零,(注意此时主机不得与屏蔽箱线路连接)在“Rx”两端开路的情况下,调零使电流表的显示为0000。然后关机。3. ◇应在“Rx”两端开路时调零,一般一次调零后在测试过程中不需再调零。 4. ◇测体积电阻时测试按钮拨到Rv边,测表面电阻时测试按钮拨到Rs边,5. ◇将待测试样平铺在不保护电极正中央,然后用保护电极压住样品,再插入被保护电极(不保护电极、保护电极、被保护电极应同轴且确认电极之间无短路)。6. ◇电流电阻量程按钮从低档位逐渐拨,每拨一次停留1-2秒观察显示数字,当被测电阻大于仪器测量量程时,电阻表显示“1”,此时应继续将仪器拨到量程更高的位置。测量仪器有显示值时应停下,在1min的电化时间后测量电阻,当前的数字乘以档次即是被测电阻。7. ◇测试完毕先将量程拨至(104)档,然后将测量电压拨至10V档, 后将测试按钮拨到中央位置后关闭电源。然后进行下一次测试。8. ◇接好测试线,将测试线将主机与屏蔽箱连接好。量程置于104档,打开主机后面板电源开关按钮。从仪器后面板调电压按钮到所要求的测量电压。(比如:GBT 1692-2008 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 标准中注明要求在500V电压进行测定,那么电压就要升到500V)9. ◇禁止将“RX”两端短路,以免微电流放大器受大电流冲击。10. ◇不得在测试过程中不要随意改动测量电压。11. ◇测量时从低次档逐渐拨往高次档。12. ◇接通电源后,手指不能触及高压线的金属部分。13. ◇严禁在试测过程随意改变电压量程及在通电过程中打开主机。14. ◇在测量高阻时,应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽。15. ◇不得测试过程中不能触摸微电流测试端。16. ◇严禁电流电阻量程未在104档及电压在10V档,更换试样。技术指标1、电阻测量范围 0.01×104Ω~1×1018Ω2、电流测量范围为 2×10-4A~1×10-16A3、仪器尺寸 285mm× 245mm× 120 mm4、内置测试电压 100V、250V、500V、1000V5、基本准确度 1% (*注)6、内置测试电压 100V、250、500、1000V7、质量 约2.5KG8、供电形式 AC 220V,50HZ,功耗约5W9、双表头显示 3.1/2位LED显示安全注意事项1. 使用前务必详阅此说明书,并遵照指示步骤,依次操作。2. 请勿使用非原厂提供之附件,以免发生危险。3. 进行测试时,本仪器测量端高压输出端上有直流高压输出,严禁人体接触 ,以免触电。4. 为避免测试棒本身绝缘泄漏造成误差,接仪器测量端输入的测试棒应尽可 能悬空,不与外界物体相碰。5. 当被测物绝缘电阻值高,且测量出现指针不稳现象时,可将仪器测量线屏 蔽端夹子接 上。 例如: 对电 缆测缆 芯与 缆壳的 绝缘 时,除 将被 测物两 端分 别接于 输入 端与高压 端, 再将电 缆壳 ,芯之 间的 内层绝 缘物 接仪器 “G”,以消 除因 表面漏 电而 引起的测 量误 差。也 可用 加屏蔽 盒的 方法, 即将 被测物 置于 金属屏 蔽盒 内,接 上测 量线。
  • 【新品上线】得利特最新推出液体介质体积电阻率测定仪
    新品推荐——液体介质体积电阻率测定仪01产品介绍产品名称:液体介质体积电阻率测定仪型号:A1153执行标准:DL/T 421-2009《电力用油体积电阻率测定法》A1153液体介质体积电阻率测定仪适用于测定绝缘油和抗燃油体积电阻率。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。02仪器特点1采用双CPU微型计算机控制。反应速度快,抗干扰强。2进样,控温、检测、打印、冷却,清洗自动进行,操作简便。3采用三电极双控温结构,控温精度高,温度波动≤0.5℃,避免因温度波动影响结果。4电极采用特殊工艺加工,表面光滑度Ra≤0.012μm,确保电极间隙2mm,从而使结果更准确。5电极杯绝缘材料选用PTFE高分子材料,受热不变型,且不吸水,既能保证空杯电容又有利于清洗油杯。6同时具有制冷和加热功能,既可以做绝缘油也可做抗燃油。一机两用经济实惠。7具有开盖防触电保护功能,开盖自动切断高压。03技术参数•测量范围:0.5×106~1×1015Ωm •分 辨 率:0.001×107Ωm•重 复 性:>1010 Ωm,≯25% <1010 Ωm,≯15% •再 现 性:≤25%•控温范围:10~100℃ •控温精度:±0.5℃•空杯电容:30pF±1pF •实验电压:DC 500V•显示方式:液晶显示•打 印 机:热敏型、36个字符、汉字输出 •工作电源:AC220V±10%,50Hz•功 率:500W•外形尺寸:500mm×380mm×350mm•重 量:17.5kgEND
  • 材料变温电阻特性测试仪
    成果名称材料变温电阻特性测试仪(EL RT-800)单位名称北京科大分析检验中心有限公司联系人王立锦联系邮箱13260325821@163.com成果成熟度□研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产合作方式□技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介:本仪器专门为材料电阻特性变温测试而设计,采用专用高精度电阻和温度测量仪以及四端测量法减小接触电阻对测量的影响从而提高测量精度,样品采用氮气保护可连续测量-100℃~500 ℃条件下样品电阻随温度的变化。采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,能极大方便用户的使用。主要技术参数:一、信号源模式:大电流模式;小电流模式;脉冲电流模式。二、电阻测量范围: 1&mu &Omega ~3M&Omega 。三、电阻测量精度: ± 0.1%FS。四、变温范围:液氮温度~900 ℃。五、温度测量精度:热电阻0.1%± 0.1℃;热电偶0.5%± 0.5℃。 六、供电电源:220 VAC。七、额定功率:500W。八、数据采集软件在Windows XP、Windows 7操作系统均兼容。应用前景:本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。知识产权及项目获奖情况:本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术,曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。
  • 得利特升级多款液体介质体积电阻率测定仪
    石化产业是国民经济重要的支柱产业,产品覆盖面广,资金技术密集,产业关联度高,对稳定经济增长、改善人民生活、保障国防安全具有重要作用。但仍存在产能结构性过剩、自主创新能力不强、产业布局不合理、安全环保压力加大等问题。石油化工产业作为高污染性产业,面临结构性改革的矛盾,国家政策引导对于促进石化产业持续健康发展具有重要意义。得利特顺应发展研发生产了系列石油产品分析仪器。最近技术人员仍然继续着研发工作并且将原来的产品做了部分升级改造。A1150液体介质体积电阻率测定仪符合DL/T421标准,适用于测定绝缘油和抗燃油体积电阻率,可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。仪器特点采用双CPU微型计算机控制。控温、检测、打印、冷却等自动进行。采用**转换器,实现体积电阻率的高精度测量。具有制冷和加热功能。整机结构合理,安全方便。技术参数测量范围:0.5×108~1×1014Ωcm分辨率:0.001×107Ωcm重复性: ≤15% 再现性: ≤25%控温范围:0~100℃ 控温精度:±0.5℃电极杯参数:极杯类型:Y-18      极杯材料:不锈钢显示方式:液晶显示打印机:热敏型、36个字符、汉字输出环境温度:5℃~40℃ 环境湿度:≤85%工作电源:AC220V±10% ,50Hz功 率:500W外形尺寸:500mm×280mm×330mm重  量:17.5kgA1151油体积电阻率测定仪按DL421.91《绝缘油体积电阻率测定法》的电力行业标准为依据,根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定专用仪器。具有结构简单、线性度好、灵敏度高、测试结果稳定、操作安全等优点,其性能远高于通常的电压电流法。仪器由参数测量系统、油杯加热控温系统两部分组成,具有自动计时、液晶显示功能。可测量绝缘油体积电阻率。 技术参数测试电压:500VDC测试范围: 10 7~10 13Ωcm重复性: >10 12Ωcm ≯25% ,<10 12Ωcm ≯15% 加热功率: 100W 控温范围: 10℃~100℃ 控温精度: ±0.5℃ 测量误差: ≤±10%测试电极杯: 3个环境温度:0~40℃相对湿度:≤85% 工作电源: AC220V±10%,50Hz
  • 得利特升级油体积电阻率测定仪正式投入市场
    石油产品质量分析在其生产、储运和市场流通环节起着重要作用,石油产品分析仪器现已广泛应用于油田、炼油厂、陆海空交通运输、海关及油品质量监督部门。作为中国仪器仪表行业重要组成部分的油品分析仪器,在疫情席卷全球的情况下,仍然在各大行业中起到必不可少的作用。随着各项技术工艺的发展,仪器仪表产品也在不断的更新换代。各大分析仪器品牌如雨后春笋,在市场中同台竞技,用户可选择的产品也更多了。企业不断推出自己的品牌产品。在刚刚过去的半年里,又有不少企业研发出多项仪器仪表新品。 得利特为了跟上油品分析仪器发展大潮,不断积累经验,创新技术,研发升级自产油品分析仪,近日,又有一款升级产品投入市场,它就是油体积电阻率测定仪。下面得利特为大家讲一下它的升级点在哪里?A1151油体积电阻率测定仪按DL421.91《绝缘油体积电阻率测定法》的电力行业标准为依据,根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定专用仪器。技术参数测试电压:500VDC测试范围: 10 7~10 13Ωcm重 复 性:>10 12Ωcm ≯25% ,<10 12Ωcm ≯15% 加热功率: 100W 控温范围: 10℃~100℃ 控温精度: ±0.5℃ 测量误差: ≤±10%测试电极杯: 3个环境温度:0~40℃相对湿度:≤85% 工作电源: AC220V±10%,50Hz 升级点:1.采用双CPU微型计算机控制。2.控温、检测、打印、冷却等自动进行。3.采用**转换器,实现体积电阻率的高精度测量。4.具有制冷和加热功能。5.整机结构合理,安全方便。
  • 【技术指导】油介损及体积电阻率测定仪的油杯三种清洗方法及常见故障
    油介损及体积电阻率测定仪油杯清洗方法、常见故障A1170技术指导产品介绍产品名称:油介损及体积电阻率测定仪产品型号:A1170概 述:油介损及体积电阻率测定仪用于测定在试验温度下呈液态的绝缘材料的介质损耗因数及体积电阻率,包括变压器、电缆及其它电气设备内的绝缘液体。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。适应标准:GB/T5654油杯三种清洗方法测量前,应对油杯进行清洗,这一步骤非常重要。因为绝缘油对极微小的污染都有极为敏感的反应。因此必须严格按照下述方法要点进行。方法一:⑴ 完全拆卸油杯电极;⑵ 用中性擦皂或洗涤剂清洗。磨料颗粒和磨擦动作不应损伤电极表面;⑶ 用清水将电极清洗几次;⑷ 用无水酒精浸泡各零件;⑸ 电极清洗后,要用丝绸类织物将电极各部件的表面擦拭干净,并注意将零件放置在清洁的容器内,不要使其表面受灰尘及潮气的污染;⑹ 将各零部件放入100℃左右的烘箱内,将其烘干。有时由于油样很多,所以在测试中往往会一个接一个油样进行测试。此时电极的清洗可简化。具体做法如下:⑴ 将仪器关闭,将整个油杯都从加热器中拿出,同时将内电极从油杯中取出;⑵ 将油杯中的油倒入废油容器内,用新油样冲洗油杯几次;⑶ 装入新油样;⑷ 用新油样冲洗油杯内电极几次,然后将内电极装入油杯。这种以油洗油的方式可大大提高了测量速度,但如遇到特别脏的油样或长时间不用时,应使用方法一。方法二:⑴ 将电极杯拆开(参见油杯示意图)。⑵ 用化学纯的石油醚和苯彻底清洗油杯的所有部件。⑶ 用丙酮再次清洗油杯,然后用中性洗涤剂漂洗干净。⑷ 用5%的磷酸钠蒸馏水溶液煮沸5分钟,然后,用蒸馏水洗几次。⑸ 用蒸馏水将所有部件清洗几次。⑹ 将部件在温度为105~110℃的烘箱中,烘干60~90分钟。⑺ 各部件洗净后,待温度降至常温时将其组装好。方法三:超声波清洗方法⑴ 拆开油杯。⑵ 用溶剂冲洗所有部件。⑶ 在超声波清洗器中用肥皂水将所有部件振荡20分钟;取出部件,有自来水及蒸馏水清洗;在用蒸馏水振荡20分钟。方法四:溶剂清洗法⑴ 拆开油杯。⑵ 用溶剂冲洗所有部件,更换二次溶剂。⑶ 先用丙酮,再用自来水洗涤所有部件。接着用蒸馏水清洗。⑷ 将部件在温度为105~110℃的烘箱中,烘干60~90分钟。 当试验一组同类没有使用过的液体样品时,只要上次试验过的样品的性能优于待测油的规定值,可使用同一个电极杯而无需中间清洗。如果试验过的前一样品的性能值劣于待测油的规定值,则在做下一个试验之前必须清洗电极杯。常见故障1、屏幕显示“电极杯短路”答:首先查看内电极与外电极的定位槽是否对准,再检查“内电极”安装是否有松动。2、屏幕显示“请进行【空杯校准】”答:空杯电容值不在60±5pF的范围内的时候,需要空杯校准;①油杯的内外电极未放好或内电极未组装好,有放电现象;②油杯不干净,在内外电极之间有杂质需要进行清洗 。3、蜂鸣器响5声后仪器返回到开机界面。答:①检查空杯电容值是否在60±5pF范围之内,②检查油杯是否放 好,有无放电现象。4、在做直流电阻率时,电化60秒时间不变化。答:检查仪器的时钟是否在运转,调整时钟。5、被设电压参数个位显示不为零时,怎么办?答:用【减小】键使被设电压值变为最小,再用【增加】键调整即可。
  • 技术更新|介损及体积电阻率测定仪可测介质损耗因数
    如今市场需求总体继续扩大,但增速下降。一方面,随着城镇化和基础设施建设的不断深入,基本原材料的需求还将保持一定增速,但增速会有所降低,人们日常生活用品也不会有太大的提高;另一方面,人们的消费升级以及生活方式和消费模式的改变,将提高或改变市场需求,促进与经济发展相配套的石化化工产品升级换代。因此,预计“十四五”期间,传统石化化工产品,如成品油、大宗化工产品等,在很长的一段时间内消费保持低速增长态势,甚至有些个别产品还会有略微下降;而在与智能制造、电子通信、中高生活消费品和医药保健等有关的化工产品,主要是电子化学品、纺织化学品、化妆品原材料、快餐用品、快递服务用品、个人防护和具备特殊功能的化工新材料等,都将会有很大增幅。同时安全生产、绿色发展的要求日益提高。石化化工生产“易燃、易爆、有毒、有害”特点突出,尤其是近几年,化工行业事故频发,特大恶性事故连续不断,给人们生命财产造成重大损失,在社会各界造成极其恶劣的影响。随着我国城镇化的快速推进,原来远离城市的石化化工企业已逐渐被新崛起的城镇包围,带来了许多隐患。“十四五”期间,社会各界将更加紧盯各地石化化工企业,石化化工企业进入化工园区,远离城镇布局将成为必然要求,安全生产也将是企业必须加强的一门必修课。绿色发展已经在社会上形成共识,坚持绿色发展是行业必须要强化的理念,一方面要补足以往的环保欠账;另一方面还要针对不断提高环保标准买单,这对行业来说,是一个巨大的挑战。A1170自动油介损及体积电阻率测定仪符合GB/T5654标准,用于测定在试验温度下呈液态的绝缘材料的介质损耗因数及体积电阻率,包括诸如变压器、电缆及其它电气设备内的绝缘液体。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。仪器特点1、采用中频感应加热,室温加热至控温(90℃)并恒温自动测量仅需 15分钟。2、同时测量油介损及体积电阻率或任选一项。3、采用大屏幕液晶显示器,只需按照中文菜单提示,输入指令,仪器即可自动工作。4、具有通讯功能,可配置电脑进行实时监测,动态观察油介损值随油温变化并描绘成图。5、自动显示测量结果,并进行数据打印保存。6、具有过压、过流、短路保护,并具有高压指示,还具有报警提示功能。技术参数体积电阻率测量电压:DC500V±10%体积电阻率范围:2.5×106~2×1013Ω.m精度: 高于±10%电阻测量范围:2M~2TΩ介损测量范围:0.00001~1介损值分辨率:0.00001电容测量范围:10.0pF~200.0pF电容值分辨率:0.01pF空杯电容:60±5pF 介损值测量精度:±(1%读值+0.02%)电容值测量精度:±(1%读值+1pF)工作电源:AC220V±10%,50Hz测控温范围:室温~119.9℃测控温稳定度:±0.5 相对湿度:≤85%介损测量电压:1.5kV、2.0kV、2.5kV(常规使用2.0kV)(正接法) 环境温度:-5℃~50℃外形尺寸:480mm×400mm×420mm重  量:25.7kg
  • 磁电阻特性测试仪
    成果名称磁电阻特性测试仪(EL MR系列)单位名称北京科大分析检验中心有限公司联系人王立锦联系邮箱13260325821@163.com成果成熟度□研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产合作方式□技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介:本仪器专门为材料磁电阻特性测试而设计的,采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,极大地方便了用户的使用。MR-150型采用电磁铁产生强磁场,高精度名牌仪表采集数据,精度高稳定性好适合科研中各类样品的磁电阻特性测试。MR-4型采用亥姆霍兹线圈产生磁场,无剩磁。采用高精度名牌仪表采集数据,精度高稳定性好适合科研中AMR、GMR、TMR各类样品的磁电阻特性测试。MR-2型采用集成化主机和多通道USB接口数据采集卡采集数据,稳定性好适合科研教学中性能较好的磁电阻样品测试。MR-1型采用手动调节磁场和人工读数,适合与大中专院校本科生研究生的专业实验中使用。主要技术参数:一、系统控制主机:内含可1路可调恒流源(0.3mA~50mA)、2路4 1/2数字电压表和1块USB接口24bit数据采集卡;功耗50W。二、自动扫描电源:0~± 5A,扫描周期8~80s。三、亥姆霍兹线圈:0~± 160Gs。四、测量专用检波与放大电路技术参数:输入信号动态范围为± 30 dB;输出电平灵敏度为30mV / dB;,输出电流为8mA;转换速率为25 V /&mu s;相位测量范围为0~180° ;相位输出时转换速率为30MHz;响应时间为40 ns~500 ns;测量夹头间隔10mm。五、计算机为PC兼容机,Windows XP或Windows 7操作系统。 六、数据采集软件在Windows XP和Windows 7操作系统均兼容。应用前景:本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。目前该仪器已经应用在北京科技大学材料学院及哈尔滨工业大学深圳研究生院的研究生实验教学及课题组科研测量中,取得良好的成效。知识产权及项目获奖情况:本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术,曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。
  • 绝缘电阻测试仪测量常见的有哪些问题?
    绝缘电阻测试仪测量常见的有哪些问题?1 为什么在测量同一物体时用不同的电阻量程有不同的读数? 这是因为测量电阻时为防止过电压损坏仪器,如果出现过量程时仪器内保护电路开始工作,将测试电压降下来以保护机内放大器。在不同的电压下测量同一物体会有不同的结果。而且当测量电阻时若读数小于199,既只为三位数且di一位数为1 时,其准确度要下降。所以在测量电阻时当di一次读数从1 变为某一读数时,不应再往更高的量程扭开关以防对仪器造成过大的电流冲击。在实际使用时,即读数位数多的比读数位数少的准确度高。2为什么测量完毕时一定要将量程开关再拨到104档后才能关电源? 这是因为在测量时被测物体及仪器输入端都有一定的电容,这个电容在测量时已被充电到测量电时的电压值,如果仪器不拨到104挡后关电源这个充电后的电容器会对仪器内的放大器放电而造成仪器损坏。当被测量物体电容越大,测试电压越高时,电容器所储藏的电能越大,更容易损坏仪器,特别是在电阻的高量程或电流的低量程时因仪器非常灵敏,仪器过载而损坏的可能性更大。所以一定要将量程开关再拨到104挡后才能关电源。3为什么测量时仪器的读数总是不稳? 一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流,有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律,所以在测量时其读数不稳。 这不是仪器的问题,而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好,对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。4为什么测量一些物体的电流时用不同的量程也会出现测出结果相差较大? 这是因为一般物体输出的电流不是恒定流,而仪器有一定内阻,若在仪器上所选量程的内阻过大以至于在仪器上的电压降影响被测物体的输出电流时会造成测量误差。一般电流越小的量程内阻越高,所以在测量电流时应选用电流大的量程。在实际使用时即只要电流表有读数时,读数位数少的小的比读数位数多的准确度高。 5 为什么测量完毕要将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源? 这是因为机内的电容器充有很高的电压(zui高电压达1200V以上),这些电容器的所带的电能保持较长的时间,如果将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源,则会将机内的高压电容器很快放电,不会在测量的高压端留有很危险的电压造成电击。如果仅拨电源线而不是将电压调至10V档,虽然断了电源,但机内高压电容器还有会因长时间保持很高的电压,将会对人员或其它物体造成电击或损坏。在仪器有问题时也不要随便打开机箱因机内高压造成电击,要将仪器找专业技术人员或寄回厂家修理。6为什么在测量电阻过程中不要改变对被测物的测试电压? 在测量电阻过程中如果改变对被测物的测试电压,无论电压变高或变低时都将会产生大脉冲电流,这个大的电流很有可能使仪器过量程甚至更损坏仪器。另一方面如果电压突然变化也会通过被测量物体的(分布)电容放电或反向放电对测量仪器造成冲击而损坏仪器。有的物体的耐压较低,当您改变测量电压时有右能击穿而产生大电流损坏仪器。如果要改变测量电压,在确保被测量物体不会因电压过高击穿时,要先将量程开关拨到104档后关闭电源,再从仪器后面板调整到所要求的电压。有的材料是非线性的,即电压与电流是不符合欧姆定律,有改变电压时由于电流不是线性变化,所以测量的电阻也会变化。
  • 快速退火工艺在欧姆接触中的应用RTP
    作为新一代半导体的代表材料,氮化镓(GaN)具有大禁带宽度、高临界场强、高热导率、高载流子饱和速率等特性,是制造高功率、高频电子器件中重要的半导体材料。其中,GaN材料与金属电极的欧姆接触对器件性能有着重要的影响,器件利用金属电极与GaN间接触形成的欧姆接触来输入或输出电流。当欧姆接触电阻过高时会产生较多的焦耳热,缩短器件寿命,而良好的欧姆接触可使器件通态电阻低,电流输出大,具有更好的稳定性。退火温度影响欧姆接触质量氮化镓欧姆接触的制备通常需要进行退火处理,退火的目的是通过热处理改变材料的结构和性质,使金属电极与氮化镓之间形成低电阻接触。而金属与GaN之间形成欧姆接触的质量受退火条件的影响,良好的欧姆接触图形边缘应保持平整,电极之间不应存在导致短路的金属粘合,退火完成后不会出现金属的侧流。(a) 退火前欧姆接触形态 (b)退火后欧姆接触形态(图源网络)退火温度作为影响欧姆接触性能的重要参数,温度过高或过低都会导致电阻率的增加和电流的减小。一般来说,退火温度越高,金属电极与氮化镓之间的比接触电阻率则越低。比接触电阻率与退火温度的函数关系(图源:知网)然而,当退火温度过高则可能导致氮化镓材料的损伤或金属电极的熔化,不利于形成好的欧姆接触;当温度过低时会导致金属与半导体之间形成较高的势垒,阻碍载流子的传输。因此在对GaN欧姆接触进行退火处理时,对于退火温度的条件选择尤为重要。快速退火炉(RTP)原理:快速退火炉(RTP)是一种用于半导体器件制造和材料研究的设备,其工作原理是通过快速升温和降温来处理材料,以改变其性质或结构。RTP结构示意图(图源网络)晟鼎快速退火炉(RTP)优势RTP快速退火炉具有温度控制精确、升温速度快等优点,可以满足欧姆接触对温度敏感的材料和结构的需求。晟鼎快速退火炉制程范围覆盖200-1250℃,具有强大的温场管理系统,此外,还能灵活、快速地转换和调节工艺气体,使得其在同一个热处理过程中可以完成多段处理工艺。晟鼎快速退火炉RTP温度控制—1000℃制程半自动快速退火炉RTP-SA-12为半自动立式快速退火炉,工艺时间短,控温精度高,相对于传统扩散炉退火系统和其他RTP系统,其独特的腔体设计、先进的温度控制技术和独有的 RL900软件控制系统,确保了极好的热均匀性。产品优势◎红外卤素灯管加热,冷却采用风冷◎大气与真空处理方式均可选择,进气前气体净化处理◎灯管功率 PID 控温,可精准控制温度升温,保证良好的重现性与温度均匀性全自动双腔退火炉RTP-DTS-8相对于传统扩散炉退火系统和其他 RTP 系统,其独特的腔体设计、先进的温度控制技术和独有的RL900 软件控制系统,确保了极好的热均匀性。产品优势◎红外卤素灯管加热,冷却采用风冷 ◎灯管功率 PID 控温,可精准控制温度升温,保证良好的重现性与温度均匀性 ◎大气与真空处理方式均可选择,进气前气体净化处理 ◎标配两组工艺气体,最多可扩展至 6 组工艺气体桌面型快速退火炉RTP-Table-6 为桌面式 6 英寸晶圆快速退火炉,使用上下两层红外卤素灯管作为热源加热,内部石英腔体保温隔热,腔体外壳为水冷铝合金,使得制品加热 均匀,且表面温度低。 RTP-Table-6 采用 PID 控制,系统能快速调节红外卤素灯管的输出功率,控温更加精准。产品优势◎双层红外卤素灯管加热,氮气快速降温◎自主研发灯管分组排布,使温度均匀性更好 ◎采用PID 算法控制,实时调节灯管功率输出 ◎软件主界面能实时显示气体、温度、真空度等参数◎自动识别错误信息,出现异常时设备自动保护
  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述:四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;真空环境,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数: 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5~2×10^5Ω10^-6~2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□10^-6~2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm10-7~2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围:探针压力可调范围:软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm);方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性:重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:100W 16.选购项目电脑和打印机创新点:仪器采用全自动操作,抽真空处理瑞柯全自动四探针测试仪
  • 全新便携式双通道多参数测试仪上市
    我们很高兴在此隆重宣布:恒奇公司所代理的梅特勒-托利多全新便携式双通道多参数测试仪系列产品于2009年3月正式上市。  全新便携式双通道多参数测试仪系列产品包含三款仪表,可用于测量pH、电导率、溶解氧  和离子浓度。  全新的便携式双通道多参数测试仪系列产品可广泛应用于制药、生物技术、食品饮料、化  妆品、环境、教育、化工、石化、电力等各行各业,其全新的设计概念和更便捷的操作将  大大增加梅特勒-托利多pH产品在便携式仪表市场的竞争力。  我们坚信,全新便携式双通道多参数测试仪系列产品的上市必将为我们赢得更多的用户!  让我们共同努力开创崭新的局面!  仪器说明:  SevenGo Duo (SG23)  • 单通道或双通道快速、简单的测量  • 可同时测量和显示pH/mV和电导率/TDS/电阻率/盐度  • 坚固耐用的IP67防尘防水仪表,适合苛刻环境中使用  • 高分辨率的显示和超大字体,保证操作无比轻松  • 自动、手动终点模式,确保测量的重复性  • 99组数据存储  • ISM智能电极管理,保证使用最新的校准数据  • 丰富的附件,包括双电极夹、橡胶护套、户外便携箱SevenGo Duo pro(SG78/SG68)  • 可同时测量和显示pH/mV/离子和电导率/TDS/电阻率/盐度或pH/mV/离子和溶解氧  • 直观友好的操作界面,包括中文在内的10种菜单语言  • 背光功能,可在光线不足的环境下使用  • 现代化的仪器安全性保证,包括普通与专家模式、校准提醒、密码保护、限值监测  • 支持GLP格式,可存储500组数据  • 红外线无线通讯,连接电脑或打印机  • 自动、手动、定时3种终点模式,适合不同样品测量,确保测量的重复性  • 更丰富的ISM智能电极管理,可直接读取电极的序列号、ID、最近5次校准数据
  • A102点对点测试仪获评“山纺精品仪器”
    经过严格的评选流程,山纺仪器A102点对点测试仪以其市场占有率高、用户好评多、外观精美、质量可靠被评为&ldquo 山纺精品仪器&rdquo 。再次感谢广大用户对该仪器的厚爱,期待更多的厂家在选用本公司的A102点对点测试仪及其使用过程中,能够不断给我们提出宝贵意见,您的每一个不满意,都是我们前进的动力和方向。一、主要用途用于检测防静电服点对点电阻率。二、试验方法本原理是对试样加入测试电压100  V 共15  s,流经试样的微弱电流用标准电阻取样放大后,从高阻计上读出。数字直接显示出电阻值,精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便。三、主要技术参数1、量程范围: 105    &Omega ~1015  &Omega ;2、高阻计示值误差:± 1%,3、输出电压:100V DC四、适用标准 国家标准GB12014- 2009《防静电服》
  • R&S推出全新LCX测试仪,强化高性能阻抗测量产品组合
    R&S LCX系列的LCR表能够用于传统的阻抗测量以及针对特定元件类型的专门测量,并提供研发所需的高精度以及生产测试和质量保证所需的高速度。用于高精度阻抗测量的R&S LCX LCR测量仪。   罗德与施瓦茨推出的新款高性能通用阻抗测试仪系列能够覆盖广泛的应用领域。R&S LCX支持的频率范围为4Hz至10 MHz,不仅适用于大多数传统家用电源的50或60 Hz频率以及飞机电源的400 Hz频率,还适用于从低频震动传感器到工作在几兆赫的高功率通信电路的所有设备。   对于选择合适的电容、电感、电阻和模拟滤波器来匹配设备应用的工程师来说,R&S LCX提供了市场领先的高精度阻抗测量。与此同时,LCX还支持以生产使用精度进行更高速度的质量控制和监控测量。测试方案包含生产环境所需的所有基本软件和硬件,包括远程控制和结果记录,仪器的机架安装,以及用于全系列测试的夹具。   R&S LCX使用的自动平衡电桥技术通过测量被测设备的交流电压和电流(包括相移)来支持传统的阻抗测量。然后用该数据来计算任何给定工作点的复阻抗。作为一种通用LCR测量仪,R&S LCX涵盖了许多应用,如测量电解电容和直流连接电容的等效串联电阻(ESR)和等效串联电感(ESL)。   此外,除了全方位的阻抗测量之外,用户还可以测试变压器及测量直流电阻。为了研究元件的阻抗值在不同频率和电平下的变化,选配装置R&S LCX-K106能支持以频率、电压或电流作为扫描参数,进行动态阻抗测量。   R&S LCX系列推出两个型号:R&S LCX100的频率范围为4 Hz至300 kHz,R&S LCX200的基本配置频率范围为4 Hz至500 kHz,可选配覆盖高达 10 MHz 所有频率的选件。两种型号均配备出色的测量速度、精度和多种测量功能。包括:配备大型电容式触摸屏和虚拟键盘,支持所有主要测量工作的点击测试操作。   用户也可以使用旋钮设置电压、电流和频率值。不常用的功能则可以使用菜单操作。设置、结果和统计数据可以显示在屏幕上,还能导出以便进行自动后处理。用户最多可选择四个测量值并绘制成时间曲线,将最大值和最小值显示在屏幕上,一目了然地进行通过/失败分析。   罗德与施瓦茨的子公司Zurich Instruments AG生产的MFIA阻抗分析仪作为R&S LCX的完美补充,能够支持更多材料的阻抗研究。通过MFIA,研究人员可以表征半导体或进行材料研究,范围包括绝缘体、压电材料、陶瓷和复合材料,组织阻抗分析、细胞生长、食品研究、微流体和可穿戴传感器。
  • 方阻测量仪R50 | 续写KLA产品创新的光辉历史
    薄膜方块电阻和厚度测量 —KLA45年电阻测量技术创新的桌面型解决方案 在半导体芯片等器件工艺中,后道制程中的金属连接是经过金属薄膜沉积,图形化和蚀刻工艺,最后在器件元件之间得到导电连接。对于半导体、PCB、平板显示器、太阳能应用和研发等不同行业,对各种金属层(包括导电薄膜、粘附层和其他导电层)都有各种各样的电阻和厚度的量测需求,KLA Instruments&trade Filmetrics 事业部能够提供先进的薄膜电阻测量解决方案。金属薄膜的电阻测量主要包括两种技术:四探针法和涡流法。两种测量技术各有其优势,适用于不同的应用场景。我们先来了解一下这两种技术的测量原理。问什么是四探针测量技术? 四探针测量技术已经存在了 100 多年,由于其操作简单以及固有的准确性,一直备受青睐。如下图所示,四探针与导电表面接触,电流在两个引脚之间流过,同时测量另外两个引脚之间的电压。标准的(左)和备用的(右)四探针测量原理图。R50具有双配置测量方法,通常用于薄膜边缘出现电流集聚或引脚间距变化需要校正的情况。引脚的排列方式通常是线性排列或方形排列,此处主要讨论 R50 探针使用的线性排列。对于大多数应用而言,使用的是标准测量配置 (上图左)。而备用测量配置(上图右)可作为 R50 双配置测量方法的一部分,用于薄膜边缘电流集聚或需要校正引脚间距变化的情况。此处展示的测量结果仅使用了标准测量配置。问什么是涡流测量技术? 涡流 (EC) 技术是指线圈中的交变电流会在导电层中产生交变涡流。这些交变涡流反过来会产生一个磁场,从而改变驱动线圈的阻抗,这与该层的方块电阻成正比。涡流技术通过施加交变磁场,测量导电层中感应的涡流。线圈中的交变驱动电流会在线圈周围产生交变初级磁场。当探测线圈接近导电表面时,导电材料中会感应出交变电流 (涡流)。这些涡流会产生自己的交变次级磁场并和线圈耦合, 从而产生与样品的方块电阻成正比的信号变化。导电层越导电,涡流的感应越强,驱动线圈的阻抗变化就越大。 自1975年KLA的第一台电阻测试仪问世以来,我们的电阻测试产品已经革 命性地改变了导电薄膜电阻和厚度的测量方式。而R50方块电阻测试仪则是KLA超过45年电阻测量技术发展的创新之作。R50提供了10个数量级电阻跨度范围使用的4PP四探针测试技术,以及高分辨率和高灵敏度的EC涡流技术,续写了KLA在产品创新能力和行业先锋地位的历史。 R50 方块电阻测量数据分析和可视化 无论是四探针法还是涡流法,方块电阻 (Rs) 测量完成后, 用户根据自己需求,可以直接导出方块电阻值,也可以使用 RsMapper 软件中的转换功能,将数据直接转换为薄膜厚度:Rs = ρ/t其中 ρ 是电阻率,t 是薄膜厚度。上图显示了 2μm 标准厚度铝膜的方块电阻分布图和薄膜厚度分布图。根据方块电阻数据(左),利用标准电阻率(中),将数据转换为薄膜厚度分布图(右)。在某些应用中,将数据显示为薄膜厚度分布图可能更有助于观测样品的均匀性。RsMapper 软件还提供差异分布图,即利用两个特定晶圆的测绘数据绘制成单张分布图来显示两者之间的差异。此功能可以用来评估蚀刻或抛光工艺前后的方块电阻变化。问如何选择适当的测量技术?R50 分成2个型号:R50-4PP 是接触式四探针测量系统 ;R50-EC是非接触式涡流测量系统。R50-4PP能测量的最大方块电阻为 200MΩ/sq.,因而非常适合比较薄的金属薄膜。对于非常厚的金属薄膜,电压差值变得非常小,这会限制四探针技术的测量。它只能测量厚度小于几个微米的金属膜,具体还要取决于金属的电阻率。由于非常薄的金属薄膜产生的涡流很小,加上R50-EC 的探头尺寸非常小,所以使用涡流方法测量方块电阻时,金属厚度最薄的极限大约在 100 nm (或约10 Ω/sq.,与金属材料性质有关)。对于非常厚的金属薄膜,涡流信号会增加,因此对可测量的金属薄膜的最大厚度实际上没有限制。在四探针和涡流技术都可使用的情况下,一个决定因素就是避免因引脚接触样品而造成损伤或污染。对于这类样品,建议使用涡流技术。对于可能会产生额外涡流信号的衬底样品,并且在底部有绝缘层的情况下,则建议使用四探针技术。简而言之,Filmetrics R50 系列可以测量大量金属层。对于较薄的薄膜,它们的电阻较大而四探针的测量范围较大,因而推荐使用 R50-4PP(四探针)。对于非常厚的薄膜,或者需要非接触式测量的柔软或易损伤薄膜,推荐使用 R50-EC(涡流技术)。
  • 国缆检测拟募投4大项目,列出超2亿元仪器购置清单
    2022年1月25日,上海国缆检测股份有限公司(简称“国缆检测”)首发申请获创业板上市委员会通过。据招股书显示,国缆检测拟公开发行人民币普通股不超过1,500.00万股,占发行后总股本的比例不低于25%;拟总募资约3亿元,用于超高压大容量试验及安全评估能力建设、高端装备用线缆检测能力建设、设立广东全资子公司、数字化检测能力建设4个项目,并列出了超2亿元的仪器设备购置清单。投资项目情况如下(单位:万元):序号项目名称预计总投资预计投入募资建设周期1超高压大容量试验及安全评估能力建设项目12,02012,0202年2高端装备用线缆检测能力建设项目9,9109,9102年3设立广东全资子公司项目4,0154,0152年4数字化检测能力建设项目4,4704,4703年合计30,41530,415-国缆检测表示,本次募集资金投资项目均围绕主营业务进行,契合公司经营发展战略,是对公司现有主营业务的发展巩固,与公司现有业务模式、核心技术高度关联。募投项目投产后,将进一步拓宽公司检测服务内容,提高研发能力和管理效率,满足检测服务创新需求,增强公司可持续发展能力和综合竞争力。1、超高压大容量试验及安全评估能力建设项目国缆检测针对超高压远距离输电的直流电缆、超高压海上风电电缆及电力设备大容量电缆系统其类似产品的检测、工程模拟试验及安全运行评估进行能力建设。该项目建设超高压大容量实验室,重点针对±800kV及以下的直流电缆、500kV交流海上和陆上用电缆系统的检测及评估能力,可实现全套的型式试验、预鉴定试验、现场试验以及一些工程模拟试验,尤其是针对海底电缆深水区透水试验、张力弯曲等关键项目的检测能力的优化升级。国缆检测为该项目的实施主体,项目建设期为2年,计划总投资12,020万元,其中:建筑工程费160万元,安装工程费381.44万元,设备购置费9,536万元,工程建设其它费用417.56万元,预备费525万元,铺底流动资金1,000万元。国缆检测预计,项目建成达产后可新增销售收入4,500万元/年,净利润1,513万元/年,全部投资回收期7.14年,内部收益率14.19%(税后)。该项目拟新购仪器设备40台/套,购置费为9,456万元。设备投资明细如下:序号设备名称台数单价/万元总价/万元一、高压大厅1高压直流发生器42501,000235kV电缆振荡波测试系统170703TDR定位系统180804高压直流电缆全尺寸空间电荷测量系统11501505高压直流电缆温度控制系统21202406高压直流电缆泄漏电流测量装置145457见证试验用监控仪59458接触电阻率测试仪(阻水带电阻)210209高电压试验高速成像仪1707010高压大厅串联谐振试验系统220040011手持式电动压钳23.006.0012大容量突发试验系统16,0006,00013金具大电流试验系统自动化432.513014交流电阻测试系统110010015直流大电流源212024016现场竣工试验系统1600600小计31-9,196二、露天试验场1复合缆测试工装130302大力值冲击试验机120203特高压导线用振动台(2台)220404消振试验线路工装330.00905大型高压电缆弯曲试验机130306海底电缆张力弯曲试验机15050小计9260总计40-9,4562、高端装备用线缆检测能力建设项目国缆检测针对航天航空、工业互联网、新能源等领域的高端装备用线缆特定要求,提升实验室检测能力。该项目将搭建高端装备用特种电缆检测技术服务平台,建设先进航空线缆检测实验室、通信线缆检测实验室及新能源线缆检测实验室等高端装备用电缆专项实验室,跟踪国际、国内电缆技术发展,加强新产品、新应用的测试技术研究,为电缆行业技术创新和重大工程国产化应用提供准确、真实的数据和服务。国缆检测为该项目的实施主体,项目建设期为2年,计划总投资9,910万元,其中:建筑工程费450万元,安装工程费293.64万元,设备购置费7,341万元,工程建设其它费用401.07万元,预备费424.29万元,铺底流动资金1,000万元。国缆检测预计,项目建成达产后可新增销售收入4,300万元/年,净利润1,368.34万元/年,全部投资回收期6.35年,内部收益率17.19%(税后)。该项目拟新购仪器设备358台/套,购置费为6,961万元。设备投资明细如下:序号设备名称台数单价/万元总价/万元一、航空航天线缆检测实验室1防尘IP试验箱110102循环盐雾箱130303结合温湿度变化的振动台(X/Y/Z三方 向)12002004振动/冲击装置14.54.55无线温湿度测试仪13.23.26连接器性能测试系统15005007高低温冲击箱230608300 °C高温烘箱2582009500 °C高温烘箱202040010微欧计(进口)1252511左右弯曲耐久性试验装置15512扭曲耐久性试验装置15513微细线直径及镀层厚度测试15514材料微观形貌和结构分析1150150小计58-1,597.7二、通信线缆检测实验室1不平衡衰减测试仪19.59.52滚筒跌落试验箱1663电磁半波暗室140040045G线缆测试配套系统1200205台式精密多模光源12.52.56便携式精密单模光源1227台式精密单模光源2248便携式精密光功率计32694通道单模功率计431210单模光纤插回损仪1441150多模光纤插回损仪14.54.51262.5多模光纤插回损仪14.54.513光缆振动舞动机1202014光缆机械性能成套设备(拉压卷)1808015电弧设备1505016加压浸水装置16617耐电痕实验系统1303018高压冲击试验装置的检定系统25010019高压电磁屏蔽室屏蔽效能的测量系统13030小计26-971三、新能源线缆实验室1热循环回路自动测控系统16304802零序大电流发生器8054003高压极端低温环境系统13003004振动试验线路拉力控制系统11201205大电流直流电阻测试仪228566红外温度成像仪140407紫外放电成像仪150508无纸记录仪4531359高速无纸记录仪542010卡尔费休水分测量仪15511绝缘电阻测试仪531512大截面分割导体夹具15513微孔杂质智能测试系统1505014库伦法镀层测厚仪13315导线扭力矩测试仪1101016磁粉无损检测探伤仪1202017绞线扭转试验15518绞线轴向冲击试验110010019绞线模拟雨林气候载流试验11120精密恒温油槽13321进口绝缘电阻测试仪15522电能质量测试仪2204023电缆制样装备4156024电缆安全性能分级及评估测试系统180080025标准电阻20.61.226锥形量热仪120020027风力发电用高端电缆耐扭设备35015028交联样品切片机251029200度烘箱12230削片机15531热老化试验箱3026032天平51.57.533测厚仪50.31.534汽车线刮磨机1303035负载试验柜1151536虹吸试验设备15537汽车线单根试验设备1303038投影仪251039自动绝缘结构测试仪110010040高压试验台2102041高精度微欧计1303042微欧计15543绝缘电阻仪24844绝缘电阻仪ZC90G11145恒温水槽441646大截面电阻测试仪夹具1202047卤酸试验设备13348碳黑试验设备13349ph电导率仪10.50.550FTT烟密度试验箱110010051透光率试验仪18852UL燃烧试验仪1101053高低温湿热试验箱3185454氙灯试验箱1202055净水器23656臭氧试验箱1101057氧弹试验箱251058曲挠试验机291859升温法软化击穿仪1202060盐水针孔试验仪10.60.661焊锡试验仪12262耐溶剂试验仪11163击穿电压仪1202064试验数据采集终端120020065半导电电阻率测试系统2102066大型电缆导线收放系统120020067工程用线束及电缆三相载流量测试系统及工装1303068温度、电磁场软件系统113613669工程服务用通勤车23570小计274-4,392.3总计358-6,9613、设立广东全资子公司项目国缆检测拟在广东设立全资子公司,用于专项实验室、接待、办公、样品仓库等能力建设,以解决公司现有南方市场需要长途运输,检测时间周期长,运输费用高的状况,以满足未来发展的需要。项目建成后,国缆检测将扩大南方地区线缆检测的市场占有率,针对广东省及周边线缆产业基地展开就地化的高水平服务,同时围绕粤港澳大湾区的大规模汽车电子、电子电器产业拓展新的检测业务,并利用广东东莞的地缘优势,探索拓展国际检测认证市场。该项目建设期为2年,计划总投资4,015万元,其中:建筑工程费502.5万元,仪器设备购置费1,691.3万元,安装工程费42.7万元,工程建设其他费825.5万元,预备费153万元,流动资金800万元。国缆检测预计,项目建成达产后可新增销售收入2,500万元/年,净利润564.8万元/年,全部投资回收期6.74年,内部收益率16.19%(税后)。该项目拟新购仪器设备167台/套,拟新购仪器设备价格1,544.1万元。设备投资明细如下:序号设备名称台数预估单价/万元总价/万元一、布电线试验室1电子天平2242绝缘电阻测试仪2243拉力试验机2501004微欧计132325台式投影仪1556测厚仪40.150.67数字多用表10.370.378紫外吸收式臭氧分析器15.55.59电子万能试验机1303010数显千分尺40.020.0811钢直尺40.010.0212焊锡试验仪11.51.513耐刮磨试验机11.51.514电缆曲挠试验机18815耐磨试验机10.80.816低温试验箱291817低温冲击机10.580.5818静态曲挠试验装置10.50.519低温卷绕机10.650.6520低温拉伸试验装置13.43.421老化试验箱101010022电缆结构测试系统110010023纺纤编织层耐热试验装置11124三轮曲挠试验机15525电线弯曲试验机11.81.826电缆荷重断芯试验机10.470.4727橡皮电缆扭绞试验机15528热稳定性试验仪10.670.6729交流耐压试验系统1101030电梯电缆曲挠试验装置15531臭氧老化试验箱1121232高压试验台10.450.4533高温压力试验装置20.5134热冲击试验装置20.5135玻璃恒温水浴20.5136热延伸试验装置20.10.237氧弹空气弹老化试验仪14.64.638单根垂直燃烧试验装置1151539伸率尺60.010.0340哑铃刀20.20.441冲片机10.20.2小计73-481.32二、低压力缆试验室1SevenMulti多功能测试仪110102电子天平1223电导率仪10.40.44PHS-3F酸度计10.20.25国际橡胶硬度计10.80.86精密恒温油浴10.650.657数显小头外径千分尺40.20.88千分尺40.050.29钢直尺40.010.02106305型碳黑测定仪15511烟密度测量系统1202012热老化试验箱12213高压试验台15514恒温水浴11.121.1215CDY冲击电压发生器1404016电线电缆结构参数全自动测量系统1330小计25-118.19三、阻燃耐火电缆试验室1电子天平1222管式炉测试仪(TFT)110103ULTRMAT23气体分析仪130304NOX分析仪125255850IC离子色谱仪11001006环保设备1160160小计6-327四、通信电缆试验室1测厚仪20.150.32数字万用表10.370.373钢直尺20.010.014电子天平1225千分尺20.050.16高频网络分析仪11001007低频网络分析仪144.644.68游标卡尺20.040.08950kN电子万能试验机1303010直流电阻测试仪11.41.411高低温试验箱111.511.512电容耦合测试仪13.63.613对称数据电缆测试系统174.574.514LCR测试仪14.54.515磁阻法测厚仪10.350.3516伸长率试验仪11.41.417电缆弯曲试验机11.31.318耐磨试验机10.80.819扭转试验机11.51.520渗水试验装置10.20.221转移阻抗测量装置13434小计25-312.51五、电器附件1钢卷尺20.010.012钢直尺40.010.023电子秒表20.010.024交变湿热箱110105架盘天平10.050.056千分尺20.050.17电子数显卡尺20.040.088电源负载柜1449电源负载柜1410电源负载柜14411恒定湿热箱18812ul老化试验箱281613高精密高压电容电桥18814ul燃烧试验机16615材料烟密度箱110010016线芯折断试验机11.21.217极低温冲击试验机10.50.518刮磨试验机11.51.519弯曲试验机16620机械强度试验装置10.50.521磨耗测试仪11.21.222耐刮磨试验机1202023UL氙灯试验系统1404024氙灯气候试验箱1202025绝缘线芯印刷标志耐久性试验装置11.21.2小计33-252.38六、线束连接器试验室1电磁兼容测试系统128282台式万用表10.50.53多功能温升试验装置121214盐雾腐蚀试验箱11.61.65精密电阻测试仪11.61.6小计5-52.7合计167-1,544.14、数字化检测能力建设项目国缆检测将对部分检测试验的原有的设备、电力线路进行升级改造,配齐配全必要的数字化检测设备,围绕电线电缆检验检测建成一个先进的、高效的数字化线缆检测实验室。此外,通过建造一座智能化立体仓库,承担检测产品的储存与流通任务,实现产品入库、存放、保管、发放、核查等精细化、流程化的技术性管理,要做到实物取放与单据相符、单据录入及时、有效管理零散物料、追溯物料批次信息等。该项目建设期为3年,计划总投资4,470万元,其中:建筑工程费912万元,设备购置费2,958万元,安装工程费118.32万元,其他费用312.25万元,预备费169.43万元。该项目拟新购仪器设备128台/套,购置费为2,958.00万元。设备投资明细如下:序号设备名称及型号规格数量单价/万元小计/万元一、数字化实验室1机械手及夹具30309002门禁电脑80.32.43车载电脑100.554RFID电子标签系统(射频识别设 备)10111104.1RFID标签(库位、工装容器、栈 板等)20000.00124.2PDA手持机/扫描枪/作业平板120.67.24.3固定式门禁(读写器、天线、线缆、 红外感应器等)11.81.852吨背负式AGV小车10222206AGV无线充电位6167电脑50.428普通条码打印机50.84小计84-1,249.4二、智能化立体仓库1门禁电脑40.31.22车载电脑60.533电脑20.40.84普通条码打印机20.81.65便携式条形码打印机40.526RFID电子标签系统111117货架(重型钢架)14104107.1货位2500 个0.082007.2天地轨600米0.06367.3电缆600米0.04247.4钢制托盘(货箱)25000.061508AGV激光导航调度及控制系统1181892吨叉车式AGV小车63521010AGV无线充电位31311堆叠码垛系统28016012巷道堆垛机57035013输送机系统1787814仓储智能化软件系统112012015自动控制系统118018016无线网络1202017电子监控系统2204018信息安全系统18080小计44-1,688.6合计1282,958关于国缆检测国缆检测创建于2004年,总部位于上海市,是国内领先的电线电缆与光纤光缆及其组器件的独立第三方检验检测服务机构之一,主营业务为电线电缆及光纤光缆的检测、检验服务,涵盖相应的检验检测、设备计量、能力验证等,还包括相关的专业培训、检查监造、标准制定、工厂审查、应用评估等专业技术服务。国缆检测的控股股东是上海电缆所,2019年1月,上海市国资委下发《关于申能(集团)有限公司与上海电缆研究所有限公司联合重组的通知》,上海电缆所股权以划转的方式注入申能集团,上海电缆所成为申能集团控股子公司。申能集团直接持有国缆检测5%的股权,并通过上海电缆所间接控制国缆检测85%的股权,合计控制国缆检测90%的股权,是国缆检测的间接控股股东。上海市国有资产监督管理委员会持有申能集团100%股权,是公司的实际控制人。上海市国资委是根据上海市政府授权代表国家履行国有资产出资人职责的市政府直属特设机构。
  • 揭秘!热电材料研究实验室仪器配置清单
    热电材料能够实现热电转换,具有安全、节能、环保等优点,近年来备受关注,许多学者也围绕其开展了大量的研究工作。在本文,仪器信息网为大家盘点了热电材料研究实验室常用的制备与表征仪器清单。国内研究热电材料的课题组众多,在小编的雷达范围内,整理归纳了其中四个课题组的仪器展示表格:1.中国科学院上海硅酸盐研究所热电转换材料与器件研究课题组;2.中国科学院金属研究所热电材料与器件课题组;3.同济大学材料科学与工程学院热电课题组;4.哈尔滨工业大学(深圳)材料科学与工程学院热电材料课题组。一、中国科学院上海硅酸盐研究所热电转换材料与器件研究课题组(课题组长:史迅研究员;副组长:柏胜强高级工程师;科研队伍:陈立东研究员、姚琴副研究员、瞿三寅副研究员、仇鹏飞副研究员等)该课题组主要从事高性能热电材料的设计、制备与性能优化以及高性能热电器件的设计、制造与集成方面的研究,主要内容包括:1.声子液体电子晶体材料 (类液态材料);2.类金刚石结构;3.笼状化合物;4.有机热电材料和有机/无机复合热电材料;5.热电薄膜与微型热电薄膜器件;6.高性能热电器件设计与制造技术;7.热电空调/发电系统设计与集成技术;8.热电材料与器件测量技术。课题组仪器设备展示Seebeck系数和电阻测试系统(ZEM-3)布劳恩手套箱RS50/500型管式炉纳博热( Nabertherm)LH15/13型箱式炉 放电等离子体快速烧结设备激光导热仪 霍尔系数测试设备电导率及塞贝克系数测试设备 X射线广角/小角衍射设备MSP(Modified Small Punch)试验装置二、中国科学院金属研究所热电材料与器件课题组(课题组长:邰凯平研究员;小组成员:康斯清工程师)该课题组长期从事功能材料设计、制备和性能表征方面的研究工作,以界面性质对材料物理、化学性能调控作用的共性基础科学问题为研究主线,主要研究内容包括:低维热电材料;多物理外场耦合仿真环境原位透射电镜表征;纳米结构抗辐照损伤材料。在原位透射电镜技术领域的成果被Science(350,9886,2015)、Chem Rev(116,11061,2016)、Adv Mater(02519,2016)等期刊评述为近十年来纳米材料原位电镜表征技术领域的关键研究成果,并被编入电子显微学教科书“Transmission Electron Microscopy”(Page 48,Springer,Heidelberg,2016)。课题组仪器设备展示多靶磁控溅射沉积系统-1多靶磁控溅射沉积系统-2热电性能测试设备ALD原子层沉积系统等离子体处理/原位TEM样品杆预抽系统Hall测试系统AFM红外成像显微镜微束/飞秒激光微纳加工系统紫外光刻机电子束/热蒸发镀膜系统3Omega频域法热导率测试系统稳态法热导率测试系统球型焊线机高温管式炉红外快速退火炉自主研制的各种类型原位仿真环境(JEOL/FEI)TEM样品杆三、同济大学材料科学与工程学院热电课题组(课题组长:裴艳中教授;小组成员:李文副教授)该研究小组主要针对当前热电材料转换效率较低这一技术瓶颈,从热电材料所涉及的基本物理及化学问题出发,设计和开发出高转换效率热电材料和器件。立足于前期工作的基础之上,今后具体的研究对象主要集中在半导体材料,研究内容主要包括:1.先进的材料制备方法;2.电、热、光、磁及微观结构的表征方法;3.能源材料性能所隐含的基本物理及化学问题;4.理论指导下的新型能源材料设计和开发;5.其它应用背景的半导体新材料的研究与开发。课题组仪器设备展示自主研制设备霍尔系数/塞贝克系数/电阻率同步测试 2个样品同时测试,300~900K,磁场1.5T塞贝克系数/电阻率同步测试系统 2个样品同时测试,300~1100K室温塞贝克系数测试系统Oxford低温(1.5~400K)与强磁场(12T)综合物理性能(Nernst,Seebeck,Hall系数与电/热导率)测试系统电弧熔炼系统电弧熔炼系统高温热压系统(升温速率>1000C/min)封装系统材料生长炉商业设备台式扫描电镜&能谱XRDFTIR红外光谱仪声速测定仪激光导热仪惰性气氛手套箱高温熔融炉四、哈尔滨工业大学(深圳)材料科学与工程学院热电材料课题组(课题组长张倩教授,学术顾问刘兴军教授)该课题组正式成立于2016年秋。主要研究方向为:热电半导体能源材料的电声输运调控、热电器件的设计与效率提升,柔性可穿戴发电与制冷器件。采用与相图工程和机器学习相结合的手段,优化传统热电材料,开发新型热电材料,促进热电发电与制冷的大规模商业应用进程。课题组仪器设备展示材料制备系统电弧熔炼炉高频悬浮熔炼炉立式真空管式炉微型金属熔炼炉双工位真空手套箱真空封管系统热压烧结系统放电等离子烧结SPS3D打印机多靶磁控溅射镀膜仪电子束蒸发镀膜仪高温箱式炉高能球磨机井式炉金相研磨抛光机金刚石线切割机性能测试系统激光导热仪-LFA 457差示扫描量热仪-DSC 404同步热分析仪-STA 2500热机械分析仪-TMA 457电阻率/温差电动势测试仪-CTAUV-vis-NIR变温霍尔测试系统变温红外光谱仪发电效率特性测定装置接触电阻测试平台焊接平台需要说明的是,以上仪器设备展示仅根据各课题组网站信息整理,并非各课题组实验室仪器的全部配置。因此,小编特整理了热电材料研究实验室常用的制备与表征仪器清单,供君参考。热电材料研究实验室仪器配置清单热电材料制备常用仪器电子天平马弗炉/电阻炉/管式炉/实验炉鼓风/真空干燥箱材料生长炉磁力搅拌器球磨机超声波清洗机放电等离子烧结SPS离心机悬浮熔炼炉/电弧熔炼炉石墨磨具原子层沉积系统真空/惰性气氛手套箱电子束/热蒸发镀膜设备恒温油浴/水浴锅退火炉游标卡尺3D打印机切割机研磨抛光机热电材料表征常用仪器X射线衍射仪赛贝克系数/电阻率测试系统X射线光电子能谱仪霍尔系数测试设备热重分析仪介电性能测试系统扫描电子显微镜热电转换效率测量系统透射电子显微镜电/热导率测试系统电子探针分析仪声速测定仪热膨胀仪红外光谱仪显微硬度仪热机械分析仪激光热导仪焊接平台差热扫描热量仪综合物理性能测试系统【近期网络会议推荐】3月23日“热电材料表征与检测技术”主题网络研讨会免费报名听会链接:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2021RD/
  • 陕西师范大学导入日本ADVANCE-RIKO公司热电特性评价装置ZEM-3已验收完毕
    陕西师范大学导入日本ADVANCE-RIKO公司热电特性评价装置ZEM-3已验收完毕 陕西师范大学导入创元公司代理的日本ADVANCE-RIKO公司热电特性评价装置ZEM-3,已在该大学安装验收完毕。日本ADVANCE-RIKO公司是世界著名材料物性试验装置生产厂家之一。该公司是世界上首次推出这类设备的公司。数据可靠性能稳定。自进入中国以来深受热电领域广大用户喜爱。清华大学和中国科学院硅酸盐研究所等多次导入该装置。该装置主要原理和技术参数见如下彩页。欢迎来电垂询! 电阻率/温差电动势测试系统 型号:zem-3 描述热力发电是一种通过热电效应材料产生电力的方法,由j.t.seebeck德国物理学家在1821年发现的。面对当前的全球由二氧化碳排放以及化学材料消耗而导致的温室效应,热电转变器件引起了注意,因为可以有效利用余热。为了迎合这种急迫的需求,advance riko公司为这些材料和器件开发了特性评估装置 特点●一台仪器可以用来同步测量温差电动势和电阻率。●仪器允许测量6到22mm长的棱柱或圆柱型试样。●试样支架采用独特的接触式平衡机构,保证测量的高重现性●v-i标绘测量能够用来判断引线是否紧密的接触了试样。●系统能够自动检查两个探针是否和试样达到了欧姆级接触,而且能够发现并找出最佳电流用来测定电阻率而不受热传递的影响。●测量由计算机控制,能够实现在等温差的一组温度值下自动测量,并消除有害电动势和接触电阻。●测量原始数据以text文档格式保存。 测量原理 棱柱形或圆柱形试样以垂直方式放置在加热炉的上下底座上,当试样被加热后,保持在一个指定的温度时,由底座的加热器再来加热以提供一个温度梯度,热电系数的测量是通过由挤压在试样侧面的热电偶测量上下温度t1和t2,随后测量同组两根热电偶丝的热电动势de。电阻率由dc四线法测得,一个恒定的电流i流过试样的两端,通过对两根导线之间热电动势值做减法,以测量和判定在同组热电偶丝之间的电压跌落dv。 参数规格●温度范围 -80℃(到100℃(l规格)50℃(到800℃(m8格)50(到1000℃(m10规格)●温度设定范围 测温步数和温度采样测量步数:最大125步●测量方法 温差电动势:静态直流法 电阻率:四电极法●气氛 低压氦气●样品尺寸 2-4mm正方形或直径2-4mm,长6-22mm(最大)●导线间距 4,6,8mm●电源供应 200vac,单相,40a(m8,m10规格) 100vac,单相,20a(l规格,m8和m10规格)●冷却水需求 自来水,水压大于1.5kgf/cm2流量大于7l/min p规格si80ge20烧结块体测试样例
  • QD中国样机实验室引进M91快速霍尔测量仪,极低迁移率材料测量速度提升100倍!
    近期,QD中国样机实验室全新引进Lake Shore公司推出的M91快速霍尔测试仪,该快速霍尔测量系统可以与完全无液氦综合物性测量系统-PPMSDynaCool&trade 无缝连接。全新的M91快速霍尔测量方案采用革新的一体式设计,相比传统的霍尔效应测量解决方案,显著提高了测量的灵敏度、测量速度以及使用便利性。M91将所有必要的测量信号源和锁相等信号处理功能集于一体,在测量低载流子迁移率样品时相比其他测量手段有显著优势。左):完全无液氦综合物性测量系统-PPMSDynaCool&trade ,右):M91快速霍尔测试仪QD中国样机实验室M91快速霍尔测试仪集成于完全无液氦综合物性测量系统 M91快速霍尔测试仪能够检测样品电极接触状况并确保测量始终处于最佳样品条件下进行。尤其在测量低载流子迁移率材料时,M91可以更快、更准确地完成相关测量。得益于仪器特有的FastHall技术,消除了在测量过程中翻转磁场的必要性,测量速度可达传统方法的100倍,几秒钟内即可精确测量流动性极低的材料,使得该选件在PPMS上的测量效率大幅提升, 即便是在范德堡测量法(vdP)几何接线的测量过程中,也可以更快地分析低载流子迁移率材料样品。M91快速霍尔测试仪可以直观判定样品接触电极质量FastHall可以覆盖更低的载流子迁移率测量范围 产品特点:✔ 采用FastHall技术,在测量过程中无需进行磁场翻转✔ 全自动检查样品引线接触质量,提供完整的霍尔分析✔ 计算范德堡接线样品以及Hall Bar样品相关参数✔ FastHall测量技术在采用范德堡接线时可将载流子迁移率测量极限缩小到0.001 cm2/(Vs)✔ 可在显示屏直观显示检测过程,并具有触摸操作功能实时执行相关测量指令标准电阻套件——M91可以通过DynaCool杜瓦LEMO接口连接进行测量PPMS与M91的集成示例 标准测量模式下 PPMS DynaCool 采用自带样品托进行测量PPMS样品托电极接线方案该联用方案支持范德堡vdPauw 4引线连接以及Hall Bar 6引线连接模式,样品引线通过样品托底部针脚与PPMS样品腔连接并通过杜瓦侧面Lemo接口连接到M91测量单元上。该方案可以快速适配PPMS DynaCool系统并具有标准电阻测量范围(最大10 MΩ),使用常见的PPMS电学测量样品托即可完成相关测试。左):M91通过多功能杆顶部的接口直接连接;右):M91高阻模式PPMS多功能样品杆左) 高精度电学输运样品杆样品台 右) 样品杆顶部接口左):样品板;右):样品板插座此外,针对有高阻小信号测量需求的客户,QD中国样机实验室也匹配了LakeShore提供的高阻测量方案。该方案通过专用的多功能样品杆将样品板电极引线通过同轴电缆从样品腔顶部引出,从而获得更好的信噪比和更大的电阻测量范围(最大200 GΩ)。M91组件自带的MeasureLINK软件与PPMS MultiVu深度集成,可以与MultiVu工作在同一台主机上亦或是同一局域网下的任意一台主机上对系统进行控制。2K温度下使用PPMS 0-9T扫场的砷化镓二维电子气薄膜,采用范德堡测量法横向及纵向电输运测量结果准确反应了材料的整数量子霍尔效应 传统的直流场霍尔效应测量适用于具有较高迁移率的简单材料,但伴随着载流子迁移率的降低,测量难度增加,精度降低。在光伏、热电和有机物等前景广阔的新型半导体材料中,测量难度就增加了不少。 交流锁相技术结合先进锁相放大器和更长测量窗口,可以提取更小的霍尔电压信号,目前常用于探索低迁移率材料。然而,延长测量间隔会增加热漂移效应带来的误差,并且需要更长的时间来获得结果,有时甚至需要数小时。FastHall 技术有效解决了这些问题,甚至可以在几秒钟内精确测量极低迁移率的材料,极大的拓宽了材料研究测试的范围。为了便于广大客户全面了解和亲身体验M91快速霍尔测试仪,QD中国样机实验室引进了该设备样机,现已安装于公司样机实验室并调试完毕。即日起,我们欢迎对该设备感兴趣的老师和同学来访,我们在QD中国样机实验室恭候大家的到来。相关产品1、M91快速霍尔测试仪https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C554347.htm2、完全无液氦综合物性测量系统-DynaCoolhttps://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C18553.htm
  • 林赛斯发布TIM - Tester 界面热阻测试系统新品
    随着电池、电子封装等相关设备的普及,功率的增加,废热管理,如何降低热损变得越来越重要。如何管理好这些复杂的热系统并不容易,需要对界面材料有根本的认识。 Linseis的热界面热阻测试系统是优化这些系统的热管理非常好的解决方案。 从液态化合物到固体材料,TIM能够测试各种材料的热阻抗以及热导。这些都符合ASTM D5470测试标准。 电机全自动压力控制 ( 最大8 MPa )LVDT高分辨率全自动测厚符合ASTM D5470测试标准全集成软件控制装置技术参数型号 TIM-TESTER 样品尺寸 圆形: ? 20 mm 至 ? 40 mm 方形: 20 x 20 mm 至 40 x 40 mm 厚度: 0.01 mm 至 15 mm 其他尺寸可定制 样品类型 固体、粉末、糊状物、液体、粘合剂、箔片 样品厚度测试精度 50%行程:+/-0.1% 100%行程:+/-0.25% 电阻范围 0.01 K/W 至 8 K/W 温度范围 RT 至 150°C -20°C 至 150°C (冷却装置) RT 至 300°C (根据需求) 控温精度: 0.1°C 热导率 0.1至50 w/m?k(根据需求可扩展) 接触压力 0 至 8Mpa(根据样品尺寸) 接触压力精度 +/- 1% 尺寸 675 mm H x 550mm W x 680 mm D 冷却系统 外置水机(带加热) 加热系统 电子加热元件 应用Vespel™ (50°C, 1MPa)测试 在50℃ (TH=70℃, TC=30℃)和1 MPa的接触压力下,测量25 x 25mm Vespel™ 样品的热阻抗(和导热系数)。为了确定表观导热系数和热接触电阻,测量了三个厚度在1.1 mm到3.08 mm之间的不同试样(采用线性回归分析)。 不同温度下 Vespel™ 的测量 25mm x 25mm Vespel™ 样品在40℃到150℃之间,接触压力为1Mpa时的表观导热系数随温度变化的曲线图。 Vespel™ 的温度相关测量 在50℃ (TH=70℃, TC=30℃)下测量25 x 25mm导热垫(II型)的热阻抗(导热系数)。为了确定接触热阻,测量了三个厚度在2.01mm到3.02 mm之间的不同试样(采用线性回归)。 可测样品类型 I 型 当施加压力时表现出无限变形的粘性液体。这些包括液体化合物,如油脂、糊状物和相变材料。这些材料没有表现出弹性行为的证据,也没有在消除偏转应力后恢复初始形状的趋势。 II型 粘弹性固体的变形应力最终由内部材料应力平衡,从而限制了进一步的变形。例如凝胶、软橡胶和硬橡胶。这些材料表现出线性弹性特性,相对于材料厚度有较大的偏转。 III型 弹性固体,其偏转可忽略不计。例如陶瓷、金属和一些塑料。创新点:从液态化合物到固体材料,TIM能够测试各种材料的热阻抗以及热导。这些都符合ASTM D5470测试标准。 电机全自动压力控制 ( 最大8 MPa ) LVDT高分辨率全自动测厚 全集成软件控制装置
  • 创元公司代理的日本ADVANCE-RIKO公司热电特性评价装置ZEM-3近期在新奥集团再次中标
    创元公司代理的日本advance-riko公司热电特性评价装置zem-3近期在新奥集团再次中标创元公司代理的日本advance-riko公司热电特性评价装置zem-3近期在新奥集团再次中标,日本advance-riko公司是世界著名材料物性试验装置生产厂家之一。该公司是世界上首次推出这类设备的公司。所得数据非常可靠。自进入中国以来深受热电领域广大用户喜爱。清华大学和中国科学院硅酸盐研究所,武汉大学等多次导入该装置。该装置主要原理和技术参数见如下彩页。欢迎来电垂询! 电阻率/温差电动势测试系统 型号:zem-3 描述热力发电是一种通过热电效应材料产生电力的方法,由j.t.seebeck德国物理学家在1821年发现的。面对当前的全球由二氧化碳排放以及化学材料消耗而导致的温室效应,热电转变器件引起了注意,因为可以有效利用余热。为了迎合这种急迫的需求,advance riko公司为这些材料和器件开发了特性评估装置 特点●一台仪器可以用来同步测量温差电动势和电阻率。●仪器允许测量6到22mm长的棱柱或圆柱型试样。●试样支架采用独特的接触式平衡机构,保证测量的高重现性●v-i标绘测量能够用来判断引线是否紧密的接触了试样。●系统能够自动检查两个探针是否和试样达到了欧姆级接触,而且能够发现并找出最佳电流用来测定电阻率而不受热传递的影响。●测量由计算机控制,能够实现在等温差的一组温度值下自动测量,并消除有害电动势和接触电阻。●测量原始数据以text文档格式保存。 测量原理 棱柱形或圆柱形试样以垂直方式放置在加热炉的上下底座上,当试样被加热后,保持在一个指定的温度时,由底座的加热器再来加热以提供一个温度梯度,热电系数的测量是通过由挤压在试样侧面的热电偶测量上下温度t1和t2,随后测量同组两根热电偶丝的热电动势de。电阻率由dc四线法测得,一个恒定的电流i流过试样的两端,通过对两根导线之间热电动势值做减法,以测量和判定在同组热电偶丝之间的电压跌落dv。 参数规格 ●温度范围 -80℃(到100℃(l规格)50℃(到800℃(m8格)50(到1000℃(m10规格) ●温度设定范围 测温步数和温度采样测量步数:最大125步 ●测量方法 温差电动势:静态直流法 电阻率:四电极法 ●气氛 低压氦气 ●样品尺寸 2-4mm正方形或直径2-4mm,长6-22mm(最大) ●导线间距 4,6,8mm ●电源供应 200vac,单相,40a(m8,m10规格) 100vac,单相,20a(l规格,m8和m10规格) ●冷却水需求 自来水,水压大于1.5kgf/cm2流量大于7l/min p规格si80ge20烧结块体测试样例
  • 十五种分析仪器助力半导体工艺检测
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "半导体器件生产中,从半导体单晶片到制成最终成品,须经历数十甚至上百道工序。为了确保产品性能合格、稳定可靠,并有高的成品率,根据各种产品的生产情况,对所有工艺步骤都要有严格的具体要求。因而,在生产过程中必须建立相应的系统和精确的监控措施,首先要从半导体工艺检测着手。/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "半导体工艺检测的项目繁多,内容广泛,方法多种多样,可粗分为两类。第一类是半导体晶片在经历每步工艺加工前后或加工过程中进行的检测,也就是半导体器件和集成电路的半成品或成品的检测。第二类是对半导体单晶片以外的原材料、辅助材料、生产环境、工艺设备、工具、掩模版和其他工艺条件所进行的检测。第一类工艺检测主要是对工艺过程中半导体体内、表面和附加其上的介质膜、金属膜、多晶硅等结构的特性进行物理、化学和电学等性质的测定。其中许多检测方法是半导体工艺所特有的。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "工艺检测的目的不只是搜集数据,更重要的是要把不断产生的大量检测数据及时整理分析,不断揭示生产过程中存在的问题,向工艺控制反馈,使之不致偏离正常的控制条件。因而对大量检测数据的科学管理,保证其能够得到准确和及时的处理,是半导体工艺检测中的一项重要关键。同时半导体检测也涉及大量的科学仪器,针对于此,对一些半导体检测的仪器进行介绍。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/zc/537.html" target="_self"椭偏仪/a/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "目前,椭偏仪是测量透明、半透明薄膜厚度的主流方法,它采用偏振光源发射激光,当光在样本中发生反射时,会产生椭圆的偏振。椭偏仪通过测量反射得到的椭圆偏振,并结合已知的输入值精确计算出薄膜的厚度,是一种非破坏性、非接触的光学薄膜厚度测试技术。在晶圆加工中的注入、刻蚀和平坦化等一些需要实时测试的加工步骤内,椭偏仪可以直接被集成到工艺设备上,以此确定工艺中膜厚的加工终点。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1677.html" target="_self"span style="text-indent: 2em "四探针测试仪/span/a/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "四探针测试仪是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻等的测量仪器。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "测量半导体电阻率方法的测量方法主要根据掺杂水平的高低,半导体材料的电阻率可能很高。有多种因素会使测量这些材料的电阻率的任务复杂化,包括与材料实现良好接触的问题。特殊的探头设计用于测量半导体晶片和半导体棒的电阻率。这些探头通常由诸如钨的硬质金属制成,并接地到探头。在这种情况下,接触电阻很高,必须使用四点共线探针或四线绝缘探针。两个探针提供恒定电流,另外两个探针测量整个样品一部分的电压降。通过使用所测电阻的几何尺寸来计算电阻率。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "薄膜应力测试仪/spanbr//h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "薄膜应力作为半导体制程、MEMS微纳加工、光电薄膜镀膜过程中性能测试的必检项,其测试的精度、重复性、效率等因素为业界所重点关注。对应产品目前业界有两种主流技术流派:1)以美国FSM、KLA、TOHO为代表的双激光波长扫描技术(线扫模式),尽管是上世纪90年代技术,但由于其简单高效,适合常规Fab制程中进行快速QC,至今仍广泛应用于相关工厂。2)以美国kSA为代表的MOS激光点阵技术,抗环境振动干扰,精于局部区域内应力测量,这在研究局部薄膜应力均匀分布具有特定意义。线扫模式主要测量晶圆薄膜整体平均应力,监控工序工艺的重复性有意义。但在监控或精细分析局部薄膜应力,激光点阵技术具有特殊优势,比如在MEMS压电薄膜的应力和缺陷监控。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "热波系统/spanbr//h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "热播系统主要用来测量掺杂浓度。热波系统通过测量聚焦在硅片上同一点的两束激光在硅片表面反射率的变化量来计算杂质粒子的注入浓度。在该系统内,一束激光通过氩气激光器产生加热的波使硅片表面温度升高,热硅片会导致另一束氦氖激光的反射系数发生变化,这一变化量正比于硅片中由杂质粒子注入而产生的晶体缺陷点的数目。由此,测量杂质粒子浓度的热波信号探测器可以将晶格缺陷的数目与掺杂浓度等注入条件联系起来,描述离子注入工艺后薄膜内杂质的浓度数值。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "ECV设备/span/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "ECV又名扩散浓度测试仪,结深测试仪等,即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布。电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业,是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发,其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "少子寿命测试仪/span/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子(因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来,多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了),所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命,即少数载流子寿命。例如,对n型半导体,非平衡载流子寿命也就是指的是非平衡空穴的寿命。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。少子寿命测试仪可以直接获得长硅的质量参数。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/zc/34.html" target="_self"拉曼光谱/a/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "拉曼光谱是一种散射光谱。拉曼光谱分析法是基于印度科学家C.V.Raman在1928年所发现的拉曼散射效应,对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息并应用于分子结构研究的一种分析方法。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "拉曼光谱在材料科学中是物质结构研究的有力工具,在相组成界面、晶界等课题中可以做很多工作。半导体材料研究中,拉曼光谱可测出经离子注入后的半导体损伤分布,可测出半磁半导体的组分,外延层的质量,外延层混品的组分载流子浓度。span style="text-indent: 2em " /span/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/zc/31.html" target="_self"红外光谱仪/a/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "红外光谱仪是利用物质对不同波长的红外辐射的吸收特性,进行分子结构和化学组成分析的仪器。红外光谱仪通常由光源,单色器,探测器和计算机处理信息系统组成。根据分光装置的不同,分为色散型和干涉型。对色散型双光路光学零位平衡红外分光光度计而言,当样品吸收了一定频率的红外辐射后,分子的振动能级发生跃迁,透过的光束中相应频率的光被减弱,造成参比光路与样品光路相应辐射的强度差,从而得到所测样品的红外光谱。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "红外光谱法操作简单,不破坏样品,使其在半导体分析的应用日趋广泛。半导体材料的红外光谱揭示了晶格吸收、杂质吸收和自由载流子吸收的情况,直接反映了半导体的许多性质,如确定红外透过率和结晶缺陷,监控外延工艺气体组分分布,测载流子浓度,测半导体薄层厚度和衬底表面质量。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "二次粒子质谱/span/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "二次粒子质谱是借助入射粒子的轰击功能,将样品表面原子溅出,由质谱仪测定二次粒子质量,根据质谱峰位的质量数,可以确定二次离子所属的元素和化合物,从而可精确测定表面元素的组成。这是一种常用的表面分析技术。其特点是高灵敏度和高分辨率。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "利用二次离子质谱对掺杂元素的极高灵敏度的特点,对样品的注入条件进行分析,在生产中可以进行离子注入机台的校验,并确定新机台的可以投入生产。同时,二次离子质谱对于CVD沉积工艺的质量监控尤其是硼磷元素的分布和生长比率等方面有不可替代的作用。通过二次离子质谱结果的分析帮助CVD工程师进行生长条件的调节,确定最佳沉积工艺条件。对于杂质污染的分析,可以对样品表面结构和杂质掺杂情况进行详细了解,保证芯片的有源区的洁净生长,对器件的电性质量及可靠性起到至关重要的作用。对掺杂元素退火后的形貌分析研究发现通过改变掺杂元素的深度分布,来保证器件的电学性能达到设计要求。可以帮助LTD进行新工艺的研究对于90nm/65nm/45nm新产品开发起到很大作用。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "X射线光电子能谱仪/spanbr//h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "X射线光电子能谱仪以X射线为激发源。辐射固体表面或气体分子,将原子内壳层电子激发电离成光电子,通过分析样品发射出来的具有特征能量的光电子,进而分析样品的表面元素种类、化学状态和电荷分布等信息,是一种无损表面分析技术。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这种技术分析范围较宽,原则上可以分析除氢以外的所有元素,但分析深度较浅,大约在25~100 Å 范围,不过其绝对灵敏度高,测量精度可达10 nm左右,主要用于分析表面元素组成和化学状态,原子周围的电子密度,特别是原子价态及表面原子电子云和能级结构。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "X射线衍射/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "半导体制造中的大部分材料是多晶材料,比如互连线和接触孔。XRD能够将多晶材料的一系列特性量化。这其中最重要的特性包括多晶相(镍单硅化物,镍二硅化物),平均晶粒大小,晶体织构,残余应力。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "阴极荧光光谱/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "阴极荧光谱是利用电子束激发半导体样品,将价带电子激发到导带,之后由于导带能量高不稳定,被激发电子又重新跳回价带,并释放出能量E≤Eg(能隙)的特征荧光谱。CL谱是一种无损的分析方法,结合扫描电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果,是纳米结构和体材料的独特分析工具。利用阴极荧光谱,可以在进行表面形貌分析的同时,研究半导体材料的发光特性,尤其适合于各种半导体量子肼、量子线、量子点等纳米结构的发光性能的研究。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "例如,对于氮化镓单晶,由于阴极萤光显微镜具有高的空间分辨率并且具有无损检测的优点,因此将其应用于位错密度的检测已经是行业内广泛采用的方法。目前也制定了相应的标准。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1016.html" target="_self"轮廓仪/a/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "轮廓仪是一种两坐标测量仪器,仪器传感器相对被测工件表而作匀速滑行,传感器的触针感受到被测表而的几何变化,在X和Z方向分别采样,并转换成电信号,该电信号经放大和处理,再转换成数字信号储存在计算机系统的存储器中,计算机对原始表而轮廓进行数字滤波,分离掉表而粗糙度成分后再进行计算,测量结果为计算出的符介某种曲线的实际值及其离基准点的坐标,或放大的实际轮廓曲线,测量结果通过显示器输出,也可由打印机输出。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "而利用先进的3D轮廓仪可以实现对硅晶圆的粗糙度检测、晶圆IC的轮廓检测、晶圆IC减薄后的粗糙度检测。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em font-size: 16px "AOI (自动光学检测)/spanbr//h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "AOI的中文全称是自动光学检测,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI是新兴起的一种新型测试技术,但发展迅速,很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时,机器通过摄像头自动扫描PCB,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出PCB上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同贴装错误及焊接缺陷。PCB板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在线检测方案,以提高生产效率,及焊接质量。通过使用AOI作为减少缺陷的工具,在装配工艺过程的早期查找和消除错误,以实现良好的过程控制。早期发现缺陷将避免将坏板送到随后的装配阶段,AOI将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。/ph3 style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "ATE测试机/span/h3p style="text-align: justify text-indent: 2em "广义上的IC测试设备我们都称为ATE(AutomaticTest Equipment),一般由大量的测试机能集合在一起,由电脑控制来测试半导体芯片的功能性,这里面包含了软件和硬件的结合。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "在元器件的工艺流程中,根据工艺的需要,存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品,防止进入下一道的工序,减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握,这些参数可以是现实物理世界中的光,电,波,力学等各种参量,但是,目前大多数常见的是电子信号的居多。ATE设计工程师们要考虑的最多的,还是电子部分的参数比如,时间,相位,电压电流,等等基本的物理参数。就是电子学所说的,信号处理。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "此外,原子力显微镜、俄歇电子能谱、电感耦合等离子体质谱仪、X光荧光分析、气相色谱等都可以用于半导体检测。而随着半导体制程工艺的进步,工艺过程中微小的沾污、晶格缺陷等都可能导致电路的失效等,半导体的工艺检测也凸显的越来越重要。/p
  • 这一千亿级市场主角或“易主”,谁能抢滩布局新风口?
    2020年12月12日,习近平总书记在气候雄心峰会上强调:“到2030年,中国单位国内生产总值二氧化碳排放将比2005年下降65%以上,非化石能源占一次能源消费比重将达到25%左右,森林蓄积量将比2005年增加60亿立方米,风电、太阳能发电总装机容量将达到12亿千瓦以上。”光伏产业市场规模超千亿为实现上述目标,发展可再生能源势在必行。各种可再生能源中,太阳能以其清洁、安全、取之不尽、用之不竭等显著优势,已成为发展最快的可再生能源。光伏产业目前已成为是国内唯一一个全产业链自主可控、技术全球领先、成本优势全球最大、产业链话语权全球第一的行业,也是推动我国能源变革的重要引擎。中国光伏行业协会发布的《中国光伏产业发展路线图(2020版)》数据显示,2020年全国新增光伏并网装机容量48.2GW,同比上升60.1%。累计光伏并网装机容量达到253GW,新增和累计装机容量均为全球第一。预计 2021 年光伏新增装机量超过55GW,累计装机有望达到约308GW。按照1GW40亿元估计,全国市场规模约两千亿元。此外,海关数据显示,2021年太阳能电池板出口额约1800亿元。全球首个钙钛矿光伏地面电站开工在全球气候变化和“双碳”目标下,光伏技术发展受到世界各国的广泛重视。钙钛矿太阳能电池成本低、效率高,被认为是最有希望实现低成本发电的新型光伏技术之一。而就在近日,我国投资的全球首个钙钛矿光伏地面电站开工。此项目的建设单位纤纳光电成立于2015年,创立初期以钙钛矿新材料研发、钙钛矿电池效率提升为研究重点,之后围绕着钙钛矿批量生产、组件稳定性等商业化核心研究展开探索,建有全球首个钙钛矿生产基地,首条100MW规模化产线。相关产品包括大面积高效钙钛矿组件、钙钛矿彩色光伏组件、钙钛矿轻质组件和叠层组件等多个产品系列,应用范围覆盖地面电站、工商业电站、建筑光伏一体化等集中式、分布式和低碳多能互补场景。2017年12月27日,杭州纤纳光电公司宣布其钙钛矿太阳能微组件经过美国Newport认证,效率达到17.4%,这一结果打破了该公司此前保持的效率记录。目前纤纳光电已7次刷新钙钛矿组件光电转换效率的世界纪录,经权威太阳能电池效率测试机构日本电气安全与环境科技研究所(JET)测试认证,纤纳钙钛矿太阳能小组件在稳态功率输出下的效率达到21.4%,19.32cm²。还是全球首家且唯一一家获得钙钛矿组件稳定性测试报告的机构。潜力巨大的钙钛矿材料那么这次开工项目提到的钙钛矿究竟是什么材料?实际上,钙钛矿是一个非常值得研究的体系。钙钛矿是指一类陶瓷氧化物,其分子通式为ABO₃,此类氧化物最早被发现,是存在于钙钛矿石中的钛酸钙(CaTiO₃)化合物,因此而得名。钙钛矿结构的化学通式为ABX₃,由于此类化合物结构上有许多特性,在材料相关方面应用及研究甚广。钙钛矿的第一篇文章是2009年横滨大学宫坂组发布。当时系统的光伏发电效率可以做到2%~3%。而钙钛矿之所以吸引人,是因为钙钛矿的最高效率已经达到29%左右。而传统的硅基电池(以及化合物半导体基太阳能电池),从1960年代到现在做了60年,最高效率也就28%左右。钙钛矿的厉害,就在于不到10年,就走了传统电池60年的路。而这主要得益于钙钛矿电池的分子具有非常好的光吸收性能。更难能可贵的是,钙钛矿所需的原材料储量丰富,制备工艺简单且可以采用低温、低成本的工艺实现高品质的薄膜。此外,反型钙钛矿电池无需使用具有光催化活性的TiO2以及掺杂的有机空穴传输层,光照下的输出稳定性更好,因此更具发展潜力。一旦解决关键问题,钙钛矿电池有望全面取代传统单晶、多晶、异质结电池。全球首个钙钛矿光伏地面电站项目的开工标志着光伏行业最令人期待的新一代钙钛矿技术迈向了成熟,潜力无限,钙钛矿产业化迈出了关键的一步。这些仪器有望受益太阳能电池的研究和生产离不开检测,只有通过对各个生产环节的检测才能不断提高良率和工艺水平。而这也为科学仪器市场注入了新动力,相关仪器有望受益。检测对象检测参数或项目仪器硅料●氧、碳含量;●磷、硼等杂质含量;●P/N型号;●轻重掺;●径向和轴向电阻率;硅材料碳氧含量测试仪、硅料磷、硼杂质含量测试仪、硅料检测分选仪、硅料分选重掺笔(镊)、电阻率型号综合测试仪直拉或铸锭●体电阻率;●材料方块电阻;●非平衡载流子寿命;●缺陷探伤无接触式电阻率型号测试仪、四探头电阻率方阻测试仪、原生多晶电阻率测试仪、少子寿命扫描仪、少子寿命测量仪、红外探伤测试仪切片●硅片的表面线痕深度、●缺陷探伤、●电阻率和方块电阻、●硅片厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度、●非平衡载流子寿命非接触厚度电阻率测试仪、硅材料碳氧含量测试仪、硅片缺陷观测仪、半自动无接触硅片测试仪、硅片表面线痕深度测试仪、原生多晶型号测试仪、硅芯电阻率测试仪、少子寿命测试仪电池片●薄膜厚度和光学常数,光学带宽等;●IV特性(Pmax/Imax/Vmax/ Isc /Voc/FF/ Eff/Rs/Rsh等);●模拟太阳辐照度和频谱;光电转化效率;内部量子效率;反射系数和透射比(光生电流特性在不同波长光照条件下的数值)非接触厚度电阻率测试仪、半自动无接触硅片测试仪、硅片缺陷观测仪、硅材料碳氧含量测试仪、少子寿命测试仪、金属四探针电阻率方阻测试仪、椭偏仪、太阳能电池I-V特性分析系统、太阳能模拟器、太阳能电池量子效率测试仪、太阳能电池和组件在线检测系统、PL光致发光测试系统组件●IV曲线 ●光伏电池组件各类缺陷IV曲线测试仪 EL检测仪(一种太阳能电池或电池组件的内部缺陷检测设备)并网光伏发电系统见下图见下图
  • 聚焦科技 | QD中国引进石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量全新技术
    西班牙Das-Nano公司成立于2012年,是一家专注研发高安全别打印设备、太赫兹无损检测设备以及个人身份安全验证设备的高科技公司。近日,该公司重磅推出了全球可以实现大面积(8英寸wafer)石墨烯和其他二维材料的100%全区域无损非接触快速电学测量系统-ONYX。石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX 设备图ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)弥补了传统接触测量方法(如四探针法- Four-probe Method,范德堡法-Van Der Pauw和电阻层析成像法-Electrical Resistance Tomography)及显微方法(原子力显微镜-AFM, 共聚焦拉曼-Raman,扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM)之间的不足和空白。ONYX可以快速测量从0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二维材料的电学特性,为科研和工业化提供了一种颠覆性的检测手段。与其他大面积测试方法(例如四探针方法)相比,ONYX能够测量样品质量的空间分布信息,并且属于无损测试,在实验过程中不会对样品产生任何损伤。与传统显微方法相比,对大面积的样品可以以微米的空间分辨率快速表征,能够大的节约测量时间,提高效率[1,2]。ONYX参数及特点样品大小: 10x10mm-200x200mm 超快测量速度:12cm2/min样品100%全覆盖测量无需样品制备可定制样品测量面积(m2量)高分辨率:50μm非接触快速测量无损快速测量ONYX主要功能→ 直流电导率(σDC)→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间,τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线目前,ONYX在国际知名研究机构和工业化领域已经安装多套设备,包括:丹麦技术大学(DTU),牛津仪器,德国BOSH公司,LG化学,3M公司,西班牙Graphenea公司等。Quantum Design中国子公司也于2020年正式将该产品引进中国,为中国客户提供高效的技术支持和解决方案,欢迎广大科研工作者垂询。 参考文献[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).
  • 发布热阻测试、热流法导热系数测试仪新品
    DRL-III导热系数测试仪(热流法)一、产品概述 该导热系数仪采用热流法测量不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔。测量参照标准 MIL-I-49456A薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准,D5470-06,ASTM E1530 ,ASTM C 518, ISO 8301, JIS A 1412, DIN EN 12939, DIN EN 13163 与 DIN EN 12667 等相关国际标准。 能够测量 Ф10~30mm 的样品,厚度范围可从0.02~20mm。全部测试功能自动完成;马达控制的平板移动;样品夹在两个热流传感器中间测试,温度梯度固定或可调。使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。自动上板移动与样品厚度测量,所有测试参数与校正数据可存于电脑内。对校正测试与样品测试进行温度程序编制、数据查看与储存。该仪器用于测试高分子材料,陶瓷,绝缘材料,复合材料,非金属材料,玻璃,橡胶,及其它的具有低、中等导热系数的材料。仅需要比较小的样品。薄膜可以使用多层技术准确的得到测量。二、主要技术参数:1:热极温控: 室温~200℃, 测温分辨率0.01℃2:冷极温控:0~99.99℃,分辨率0.01℃3:样品直径:Ф30mm,厚度0.02-20mm;4:热阻范围:0.000005 ~ 0.05 m2K/W5:导热系数测试范围: 0.010-50W/mK, 6:精度 ≤±3%7:压力测量范围:0~1000N8: 位移测量范围:0~30.00mm9:实验方式:a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。d、老化可靠性测试。10:配有完整的测试系统及软件平台。11:操作采用全自动热分析测试软件,快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告打印输出。三、仪器配置:1.测试主机 1台, 2.恒温水槽 1台, 3.测试软件 1套,4.胶体粉体样品框1个,*4.计算机(打印机)用户自备典型测试材料:1、金属材料、不锈钢。2、导热硅脂。3、导热硅胶垫。4、导热工程塑料。5、导热胶带(样品很薄很黏,难以制作规则的单个样品,一边用透明塑料另外一边用纸固定)。 6、铝基板、覆铜板。 7、石英玻璃、复合陶瓷。8、泡沫铜、石墨纸、石墨片等新型材料。创新点:样品夹在两个热流传感器中间测试,温度梯度固定或可调。使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。自动上板移动与样品厚度测量,所有测试参数与校正数据可存于电脑内。对校正测试与样品测试进行温度程序编制、数据查看与储存。
  • 上海今森发布医用口罩阻燃性能测试仪新品
    适用范围口罩阻燃性能测试仪,用于测试医用口罩以一定线速度接触火焰后的燃烧性能,是医用口罩阻燃性能专用测试仪器。符合标准GB 19083-2010《医用防护口罩技术要求》YY 0469-2011《医用外科口罩》GB 2626-2006《呼吸防护用品 自吸过滤式防颗粒物呼吸器 可燃性试验》仪器特点1、7寸威纶触摸液晶显示屏,特制试验数据采集芯片,可进行试验数据的监控和数据输入与计算。2、可进行试验数据打印,替代试验人员的繁琐数据记录。3、脉冲自动点火,安全可靠。4、燃烧器电动控制调整位置,自动定时定位,操作方便。5、燃烧喷灯电动控制移动位置,可根据试验要求调整喷灯与试样的距离。6、配有专门排风系统,废气自动排出。7、试样电机控制水平移动。8、口罩夹具为金属人体头模,能够充分模拟口罩的实际使用状态。主要参数1、试样速度:60±5mm/s。2、火焰高度:火焰高度可调整,标准要求40mm±4mm,并配置火焰高度测量装置。3、计时范围:0.1S-99H99M,可任意设定,分辨率0.1S。4、点火时间:0.1S-99H99M,可任意设定,分辨率0.1S。标准要求12S5、燃烧气源:工业级丙烷。6、工作电源:AC220V 50HZ7、测温系统:可以测试火焰温度,范围0-1100℃。标准温度800±50℃8、重量:50kg 创新点:KS-19083B医用口罩阻燃性能测试仪与市面上的口罩阻燃试验机相比,该仪器采用了7寸威纶触摸液晶显示屏,特制试验数据采集芯片,可进行试验数据的监控和数据输入与计算。可进行试验数据打印,替代试验人员的繁琐数据记录。医用口罩阻燃性能测试仪
  • Das-Nano发布石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统新品
    石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统西班牙Das Nano公司成立于2012年,是一家提供高安全级别打印设备,太赫兹无损检测设备以及个人身份安全验证设备的高科技公司。ONYX是其在全球范围内推出的第一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱专利技术,实现了从科研及到工业级的大面积石墨烯及二维材料的无损和高分辨,快速的电学性质测量,为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。与传统四探针测量法相比,ONYX无损测量样品质量空间分布与拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能够快速表征超大面积样品背景介绍太赫兹辐射( T射线)通常指的是频率在0. 1~10THz、波长在30μm-3mm之间的电磁波,其波段在微波和红外之间,属于远红外和亚毫米波范畴。该频段是宏观经典理论向微观量子理论的过度区,也是电子学向光子学的过渡区。在20世纪80年代中期以前,由于缺乏有效的产生方法和探测手段,科学家对于该波段电磁辐射性质的了解和研究非常有限,在相当长的一段时期,很少有人问津。电磁波谱中的这一波段(如下图) ,以至于形成远红外和亚毫米波空白区,也就是太赫兹空白区(THz gap)。太赫兹波段显著的特点是能够穿透大多数介电材料(如塑料、陶瓷、药品、绝缘体、纺织品或木材),这为无损检测(NDT)开辟了一个可能的新世界。同时,许多材料在太赫兹频率上呈现出可识别的频率指纹特性,使得太赫兹波段能够实现对许多材料的定性和定量研究。太赫兹波的这两个特性结合在一起,使其成为一种全新的材料研究手段。而且其光子能量低,不会引起电离,可以做到真正的无损检测。 ONYX工作原理 ONYX是全球第一套实现石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料全面积无损表征的测量系统,能够满足测试面积从科研级(mm2)到晶元级(cm2)以及工业级(m2)的不同要求。与其他大面积样品的测量方法(如四探针法)相比,ONYX能够直观得到样品导电性能的空间分布。与拉曼、扫描电镜和透射电镜等微观方法相比,微米级的空间分辨率能够实现对大面积样品的快速表征。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱THz-TDS技术,产生皮秒量级的短脉太赫兹冲辐射。穿透性极强的太赫兹辐射穿透进样品达到各个界面,均会产生一个小反射波可以被探测器捕获,获得太赫兹脉冲的电场强度的时域波形。对太赫兹时域波形进行傅里叶变换,就可以得到太赫兹脉冲的频谱。分别测量通过试样前后(或直接从试样激发的)太赫兹脉冲波形,并对其频谱进行分析和处理,就可获得被测样品介电常数,吸收吸收以及载流子浓度等物理信息。再利用步进电机完成其扫描成像,得到其二维的电学测量结果。ONYX主要参数及特点样品大小: 10x10mm-200x200mm 全面的电导率和电阻率分析样品100%全覆盖测量最高分辨率:50μm完全非接触无损无需样品制备载流子迁移率, 散射时间, 浓度分析 可定制样品测量面积(m2量级)超快测量速度: 12cm2/min软件功能丰富,界面友好全自动操作图1 太赫兹光谱范围及信噪比ONYX主要功能→ 直流电导率(σDC)→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间,τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯材料:→ 单层/多层石墨烯 → 石墨烯溶液→ 掺杂石墨烯→ 石墨烯粉末→ 氧化石墨烯→ SiC外延石墨烯其他二维材料: → PEDOT→ Carbon Nanotubes→ ITO→ NbC→ IZO→ ALD-ZnO石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线ONYX测试数据1. 10x10mm CVD制备的石墨烯在不同分辨率下的电导率结果 2.10 x10mm CVD制备的石墨烯不同电学参数测量结果 3.利用ONYX测量ALD沉积在硅基底上的TiN电导率测量结果 ONYX发表文章1. P Bogild et al. Mapping the electrical properties of large-area graphene. 2D Mater. 4 (2017) 042003.2. S Fernández et al. Advanced Graphene-Based Transparent Conductive Electrodes for Photovoltaic Applications. Micromachines 2019, 10, 402.3. David M. A. Mackenzie et al. Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping. OPTICS EXPRESS 9220, Vol. 26, No. 7, 2 Apr 2018. 4. A Cultrera et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Scientific Reports , (2019) 9:10655.ONYX用户单位重要客户合作伙伴参与项目创新点:ONYX是第一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备,采用先进的脉冲太赫兹时域光谱专利技术。与传统四探针测量法相比,ONYX无损测量样品质量空间分布;与拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能够快速表征超大面积样品石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统
  • 锂电池鼓包是怎么回事,如何进行测试?
    锂电池鼓包是由于电池内部化学反应导致的,通常是由于过充或过放引起的,也有可能是因为生产制作工艺的问题导致的。过充会使锂电池内部的化学物质过度反应,导致电池内部压力增大,从而引起电池鼓包。而过放则是因为电池内部的化学反应未能完全进行,导致电池内部的化学物质浓度过低,也会引起电池鼓包。要测试锂电池是否鼓包,可以使用以下方法:1.观察外观:正常的锂电池应该是平坦的,如果电池外包装出现明显的凸起、膨胀或变形,就可能是鼓包的迹象。2.检查密封性:锂电池的外包装应该具有良好的密封性能,如果电池的外包装出现漏液、漏气等现象,也可能是电池鼓包的迹象。3.测量电池电压:使用电压表或多用途测试仪测量电池的电压。如果电池电压异常高或异常低,也可能是电池鼓包的迹象。4.检查电池电极触点:电池的电极触点应该干净、无杂质,如果触点脏污或者接触电阻太大,也可能会导致电池鼓包。5.直接测试:可以通过专业的测试设备测试里面是否有气体,从而得到科学准确的判断。武汉电弛新能源有限公司的GPT-1000M原位产气量测定仪, 可直接将待测气体引入测试单元,流量变化分辨率精确至1μL。相较基于采⽤ 传统的阿基⽶ 德浮⼒ 法、理想⽓ 体计算法等⽅ 法的仪器,GPT-1000M可直接监测⽓ 体的微量体积变化,结果精准可靠,重复性⾼ ,尾⽓ 可直接收集,同时该设备可串联GC-MS、DEMS等多种⽓ 体成分检测⼿ 段,能为为材料研发和锂电池电芯产⽓ 机理的分析研究提供了真实可靠的数据⽀ 持。最后,如果怀疑锂电池鼓包,建议立即停止使用并更换,以避免安全事故的发生。同时,在使用锂电池时,应该遵循正确的使用和充电方法,避免过度充电或过度放电,保持电池的正常状态。
  • 政策扶持,KLA助力大规模仪器设备更新!
    2024一开年,科学仪器行业便迎面而来一大新政策。3月13日国务院印发《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》。其中明确了"推动符合条件的高校、职业院校(含技工院校)更新置换先进教学及科研技术设备,提升教学科研水平。”KLA Instruments&trade 作为仪器行业的优质提供商,我们将积极响应国家政策,助力设备更新与以旧换新行动,为行业专家、学术界和其他创新者提供值得信赖的量测技术,助力中国乃至世界实现科学技术上的突破性发展。探针式轮廓仪KLA Instruments&trade Alpha-Step,TencorP系列和HRP系列探针式台阶仪提供高精度的2D和3D表面形貌量测,可为您的研发和生产提供台阶高度、表面粗糙度、弯曲度和应力等测量,具有良好的稳定性和可靠性。光学轮廓仪我们丰富的光学轮廓仪系列产品涵盖多种光学测量技术,包含白光干涉技术,真彩色成像和ZDot&trade 点阵专利技术,我们可以帮助您找到满足您测量需求的正确解决方案。Profilm3D和Zeta光学轮廓仪可为样品表面测量提供快速,便捷的非接触式3D表面形貌测量解决方案。纳米压痕仪KLA Instruments&trade 的纳米压痕仪可对硬度、杨氏模量和其它力学性能进行精确测量。从发布市场上第一款纳米压痕仪,到将纳米压痕技术扩展到快速、高温和高应变速率测试中,我们一直在开发新的静态与动态测量方案,推动下一代纳米力学测试仪的发展。薄膜厚度仪我们就可以通过分析薄膜的反射光谱来测量薄膜的厚度,通过非可见光的测量,我们可以测量薄至1纳米或厚至3毫米的薄膜。测量结果可在几秒钟显示:薄膜厚度、颜色、折射率甚至是表面粗糙度。方块电阻测试仪KLA方块电阻测试仪能够满足各种测量需求,包括:金属薄膜及背面工艺层厚度测量,衬底电阻率,方块电阻,薄膜厚度或电阻率,薄层和体材料的导电率,等等。对于较薄的金属和离子注入层,建议采用接触式四探针(4PP)测量方法,对于较厚的金属层和柔性或软性的导电表面,建议采用非接触式涡流(EC)测量方法。Candela缺陷检测系统Candela系统对化合物半导体衬底(GaN,GaAs,InP,蓝宝石,SiC等)和硬盘驱动器上的各种关键缺陷进行检测和分类,保证生产过程中检测的高灵敏度和高效率。
  • 追求用户体验--思克WVTR水蒸气透过率测试仪人工智能产品介绍
    思克WVTR系列水蒸气透过率测试仪 济南思克测试技术有限公司生产的WVTR系列水蒸气透过率测试仪应用范围非常广,小编列举了我们最经常接触的两个行业:一方面是食品包装行业会应用到,比如饼干、薯片,酸奶、纯牛奶等固体液体的包装袋,还有就是盒装酸奶,纯牛奶用的包装盒;另一方面就是药品包装用的铝塑板,泡罩包装等,瓶装药品用的塑料瓶等外包装材料都可以用到思克WVTR系列水蒸气透过率测试仪。 为什么食品要控制水分含量呢?我们大家都知道,像是饼干薯片等食品,如果暴露在空气中的时间久了,空气中充满了大量的水蒸气,空气中的水汽就会进入饼干里面导致饼干发绵发软,吃的时候就会觉得不脆不香了,很影响口感。所以饼干薯片等食品在出厂前都会对其进行水分含量的测定,如果水分含量过高就会影响口感。 为什么要测试食品包装的水蒸气透过率呢?测试水蒸气透过率的目的大概是三方面,一是水蒸气透过率过大的话会影响产品的货架期,直接给厂家带来严重的损失;另一方面就是控制成本,如果一层包装的水蒸气透过量过大,有的工厂会在外面再加一层包装,多层包装的成本就高了。还有最重要的一方面,近年来国家相关部门严查食品安全问题,如果包材水蒸气透过量过大,就会导致食品里面的细菌生长从而导致食品变质,从而直接影响消费者的身体健康 为什么要购买思克WVTR系列水蒸气透过率测试仪呢?首先我们先看一下操作系统,思克WVTR系列水蒸气透过率测试仪将AI人工智能技术应用于水蒸气透过率测试仪等阻隔系列检测仪器,以边缘计算为特点的嵌入式人工智能技术赐予了仪器更高的智能性。在对塑料薄膜、薄片、复合膜等软包装材料进行气体透过率测试时,测试过程高度自动化,无需人工干预,测量结果更准确。 其次我们就来看一下思克WVTR系列水蒸气透过率测试仪的技术参数薄膜测试容器测试(选购)测量范围:0.001~52g/m224h(常规) 0.01~1100 g/m224h(可选)0.0001~0.3g/pkg.d分 辨 率:0.001 g/m224h0.00001g/pkg.d控温范围:5℃~95℃另购控温精度:±0.1℃湿腔湿度:0%RH、35%RH~90%RH、百分之一百RH,标准90%RH (标配)控湿精度:±1%RH 试样数量:1 件测试面积:48cm2/试样尺寸:150 mm×94mm更大:Φ180mm*400mm试样厚度:≤3mm/载 气:99.999%高纯氮气 (气源用户自备)载气压力:≥0.16MPa 控温方式:水浴控温载气流量:0~200ml/min气源接口:1/8英寸金属管电 源:AC 220V 50Hz主机尺寸:330mm(L)×600mm(B)×330mm(H)主机净重:28kg 技术参数是衡量仪器的综合能力的重要指标之一,思克WVTR系列水蒸气透过率测试仪无论是从控温范围上还是从控温方式上,都把测试精度提高了一大截。 经过小编的介绍,大家是不是对思克WVTR水蒸气透过率测试仪有一定的了解了,如果各位老板需要更加深入的了解我们的产品,抓紧联系我们吧
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